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JPH0263306B2 - - Google Patents
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JPH0263306B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0263306B2
JPH0263306B2 JP59005778A JP577884A JPH0263306B2 JP H0263306 B2 JPH0263306 B2 JP H0263306B2 JP 59005778 A JP59005778 A JP 59005778A JP 577884 A JP577884 A JP 577884A JP H0263306 B2 JPH0263306 B2 JP H0263306B2
Authority
JP
Japan
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gas
dielectric film
processed
workpiece
hole
Prior art date
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Expired
Application number
JP59005778A
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English (en)
Other versions
JPS60150632A (ja
Inventor
Tsunemasa Tokura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Original Assignee
Tokuda Seisakusho Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0263306B2 publication Critical patent/JPH0263306B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P50/00Etching of wafers, substrates or parts of devices

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は被処理物の離脱装置に係り、特に静電
チヤツクにより固定された被処理物の離脱装置に
関する。
〔発明の技術的背景〕
近年、半導体の製造工程におけるドライ化およ
び自動化が進むにつれて、被処理物の電極への固
定手段が、被処理物の汚染を防ぐため機械的手段
に代わり静電的に固定する手段が用いられつつあ
る。
第1図は従来の静電チヤツクを用いたRIE(反
応性イオンエツチング)装置を示したもので、真
空容器1の上部には、電極2がテフロン絶縁板3
を介して取付けられており、上記電極2の下面に
は、カプトン(ポリイミド)等の誘電体膜4が貼
着されている。さらに、上記電極2の内部には、
水冷パイプを兼ねた導管5が挿通されており、こ
の導管5には高周波電源6がマツチング回路7を
介して接続されるとともに、直流電源8が高周波
をカツトするチヨークコイル9を介して接続され
ている。また、上記電極2の中心部には、上記誘
電体膜4の上面に達する孔部10が穿設されてお
り、この孔部10には、ガス供給管11およびガ
ス排気管12がそれぞれ電磁弁13a,13bを
介して接続されている。
上記真空容器1の下面には、ガス導入口14お
よび排気口15が設けられるとともに、上記真空
容器1の下方に配設されたエアシリンダ16のシ
ヤフト17が、真空容器1の下面中央に貫通され
ており、このシヤフト17の上端部には支持台1
8が設けられている。
上記装置の場合、真空容器1の内部空気を排気
口15から真空ポンプ等により排気して真空に
し、かつ、ガス導入口14からAr等のガスを送
り、真空容器1の内部をガス雰囲気にする。そし
て、支持台18上の被処理物Aをエアシリンダ1
6により上昇させて、誘電体膜4の下面に静電チ
ヤツクにより固定する。この静電チヤツクは直流
電源8をONにすることにより作動する。この状
態において、高周波電源6をONにすることによ
り、被処理物Aの下面側のエツチングが行なわ
れ、導管5の内部を流れる冷却水により電極2お
よび被処理物Aの冷却が行なわれる。エツチング
終了後高周波電源6をOFFにし、かつ、直流電
源8をOFFにした後、接地電位状態の支持台1
8をエアシリンダ16により上昇させて被処理物
Aに接触させ、被処理物Aに蓄積された電荷を支
持台18を通して逃がす。その後、電磁弁13a
を開いてガス供給管11から孔部10にN2等の
ガス(0.3〜0.5Kg/cm2)を送り、誘電体膜4をわ
ずかに膨出させることにより、被処理物Aを離脱
させる。この被処理物Aは支持台18上に載置さ
れ、エアシリンダ16により下降させられ、同時
に、上記電磁弁13aを閉じ他方の電磁弁13b
を開いてガス排気管12から排気を行ない、上記
膨出した誘電体膜4を元の状態に戻すようになさ
れる。
〔背景技術の問題点〕
上記装置においては、エツチング時間が長くな
つたり、自動運転により連続的に多数枚の被処理
物をエツチングした場合に、誘電体膜4の表面に
電荷が蓄積してしまい、上記誘電体膜4の膨出に
よつては被処理物Aを離脱させることができなく
なるという欠点を有している。
そのため、N2等のガス圧を高くして(0.9Kg/
cm2以上)誘電体膜4の膨出を行なう手段が考えら
れるが、このような手段では、電極2と誘電体膜
4との貼着がはがれ、必要以上に誘電体膜4が膨
出してしまい、被処理物Aが支持台18にたたき
つけられて損傷を受けるという問題がある。
〔発明の目的〕
本発明は上記した点に鑑みてなされたもので、
静電チヤツクにより固定された被処理物を確実に
離脱させることができる被処理物の離脱装置を提
供することを目的とするものである。
〔発明の概要〕
上記目的達成のため本発明の被処理物の離脱装
置は、被処理物を静電的に固定する静電チヤツク
の電極と、この電極の上記被処理物固定側面に貼
着された誘電体膜とを貫通する孔部を上記被処理
物の固定位置に設け、上記孔部にガス供給管およ
びガス排気管を接続してなり、上記静電チヤツク
に固定された被処理物の裏面に、上記ガス供給管
から送られるガスを上記孔部から吹き付けること
により上記誘電体膜に蓄積する電荷を放電させて
被処理物を離脱させるようにして構成されてお
り、誘電体膜を膨出させることなく被処理物を離
脱させるようになされている。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第2図を参照して説明
し、第1図と同一部分には同一符号を付してその
説明を省略する。
本実施例においては、ガス供給管11およびガ
ス排気管12が接続された孔部10は、誘電体膜
4を貫通して真空容器1の内部に開口するように
なされ、さらに、上記孔部10への接続配管の中
途部には、ガスの流速を制御するリザーバタンク
19が設けられている。
本実施例の場合、直流電源8をONにすること
により被処理物Aを誘電体膜4の下面に吸着さ
せ、このとき、上記孔部10は被処理物Aにより
塞がれるとともに、電磁弁13bを開いてガス排
気管12から真空排気し、被処理物Aの裏面にお
ける放電を防ぐようになされている。
そして、被処理物Aのエツチングが終了した
後、各電源6,8をOFFにしかつエアシリンダ
16の作動により支持台18を上昇させ、支持台
18が上昇した後、電磁弁13bを閉じ他方の電
磁弁13aを一定時間開いて、N2等のガスをガ
ス供給管11から被処理物Aの裏面に直接吹き付
けるようになされる。これにより、被処理物Aの
裏面部分の誘電体膜4に蓄積された電荷がガス中
に放電するので、被処理物Aは誘電体膜4から容
易に離脱して支持台18上に載置される。
なお、本実施例においては被処理物の離脱装置
をRIE装置に適用した場合についてのみ説明した
が、スパツタリング装置、プラズマCVD装置、
イオン注入装置、電子ビーム描画装置等真空容器
内で静電チヤツクを用いる装置であれば、いずれ
の装置にも適用できる。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明に係る被処理物の離脱
装置は、静電チヤツクの電極と、この電極に貼着
された誘電体膜を貫通する孔部にガス供給管およ
びガス排気管を接続してなり、上記静電チヤツク
に上記孔部を塞ぐように固定された被処理物の固
定面に、上記ガス供給管により孔部からガスを吹
き付けて上記誘電体膜に蓄積される電荷をガス中
に放電させるように構成したので、誘電体膜に電
荷が蓄積した場合でも、容易にかつ確実に被処理
物を離脱させることができる。また、誘電体膜を
膨出させないので被処理物が損傷を受けることが
なく、さらに、有機誘電体膜のみならず種々の誘
電体膜を使用することができ、被処理物の冷却効
果の向上および誘電体膜の寿命の向上を図ること
ができる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の離脱装置をRIE装置に適用した
例を示す正面断面図、第2図は本発明の一実施例
を示す正面断面図である。 1……真空容器、2……電極、3……絶縁板、
4……誘電体膜、5……導管、6……高周波電
源、7……マツチング回路、8……直流電源、9
……チヨークコイル、10……孔部、11……ガ
ス供給管、12……ガス排気管、13……電磁
弁、14……ガス導入管、15……排気管、16
……エアシリンダ、17……シヤフト、18……
支持台、19……リザーバタンク。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被処理物を静電的に固定する静電チヤツクの
    電極と、この電極の上記被処理物固定側面に貼着
    された誘電体膜とを貫通する孔部を上記被処理物
    の固定位置に設け、上記孔部にガス供給管および
    ガス排気管を接続してなり、上記静電チヤツクに
    固定された被処理物の固定面に、上記ガス供給管
    から送られるガスを上記孔部から吹き付けること
    により上記誘電体膜に蓄積する電荷を放電させて
    被処理物を離脱させるようにしたことを特徴とす
    る被処理物の離脱装置。
JP59005778A 1984-01-18 1984-01-18 被処理物の離脱装置 Granted JPS60150632A (ja)

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JP59005778A JPS60150632A (ja) 1984-01-18 1984-01-18 被処理物の離脱装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP59005778A JPS60150632A (ja) 1984-01-18 1984-01-18 被処理物の離脱装置

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JPS60150632A JPS60150632A (ja) 1985-08-08
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JP4786693B2 (ja) 2008-09-30 2011-10-05 三菱重工業株式会社 ウェハ接合装置およびウェハ接合方法

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