JPH028644B2

JPH028644B2 -

Info

Publication number: JPH028644B2
Application number: JP55025355A
Authority: JP
Inventors: Hofuira Rushian; Moaritsuku Jan; Soreru Ibon
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1979-03-02
Filing date: 1980-03-03
Publication date: 1990-02-26
Also published as: EP0015830A1; DE3060839D1; JPS55119037A; FR2450449A1; FR2450449B1; EP0015830B1; US4280765A; CA1126532A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は、フアイバー光学系の伝達関数を測
定するための装置に関するものであつて、可変周
波数の一次電気信号を発生する部分、一次電気信
号を該フアイバー光学系中の伝送に適した、可変
周波数の変調を施した光信号へと変換するレーザ
ー発振部分、この光信号を該可変周波数の二次電
気信号へと変換する光検波部分、更に、二次電気
信号のパワーを変調波の周波数の関数として測定
することによつて、このフアイバー光学系の伝達
関数の直読化を行う、二次電気信号のスペクトル
分析部分より成る。これは、又、この装置を用い
た測定の手順をも扱つている。

掃引回路を、可変周波数の一次電気信号の発生
回路中に含む型の測定装置は、国際電信電話諮問
委員会（CCITT）の第15研究グループによる
1978年10月に発刊された「フアイバー光学系の伝
達特性の測定に関する考察」と題された報告第
208中に記述されている。

一次電気信号は、その周波数が連続又は周期的
に変化させられている信号である。それは、ダイ
オード・レーザーに伝えられ、そこで掃引周波数
で変調された光搬送信号に変換され、測定される
べきフアイバー光学系を経由して、光検波器へ送
り出される。

校正段階ではダイオード・ノーザーが、フアイ
バー光学系を経ずに光検波器に直接に光学的に結
合されている時には、応答曲線は、後に、フアイ
バー光学系の伝達関数を測定する際の参照用に、
スペクトル分析部分中に記憶される。この参照用
の応答曲線は、掃引周波数帯に無関係な一定の関
数ではない：何故ならば、それはダイオード・レ
ーザー及び光検波器の固有の伝達関数に影響され
るからである。従つて、フアイバー光学系が、ダ
イオード・レーザーと光検波器の間に挿入される
測定段階にあつては、光検波器からスペクトル分
析部分に伝えられる二次電気信号について、フア
イバー光学系に固有の変調伝達関数を求めるに
は、記憶された参照用の応答曲線と測定段階で得
られた応答曲線の差をとつてやる必要が生じる。
この測定手順は、測定されるフアイバー光学系中
への光信号の入射の最適条件を考慮に入れていな
い。この入射条件は、フアイバー光学系を長い距
離にわたつて伝播した後に、正常状態で平衡に達
する光信号のモードカツプリングい依存してい
る。従つて、測定されるフアイバー光学系の入射
端に入射された光信号の輻射ダイヤグラムが、フ
アイバ光学系内での輻射ダイヤグラムと等しくな
いということは、前述の手順による測定が、この
フアイバー光学系に固有の伝達関数の正確な知見
を与えていないことを意味している。

更に、掃引による測定手順に従う装置にあつて
は、掃引回路の掃引周波数は、補助電気導体によ
つて、スペクトル分析部分へと伝達される必要が
あることに注意されたい。これは、長大な距離の
フアイバー光学系についての測定を不可能とする
ものであり、例えば、その入射端と出射端が近接
しない又は同一地域内にない架台上に布設された
光フアイバー・ケーブルに関する測定が不可能と
なる。

その他の、既知の、フアイバー光学系の伝達関
数の測定装置及び手順は、フアイバー光学系のイ
ンパルス応答に基いている。この場合、レーザー
輻射を変調する一次電気信号の発生部分は、可変
周波数の短インパルス発生装置を含んでいる。受
信側での測定の手順は、フアイバー光学系によつ
て伝送されたインパルスの波形解析又はスペクト
ル分析によつている。この手順と装置は、1975年
９月に催された、第二回ヨーロツパ光フアイバー
伝送シンポジウムのコミユニケーシヨンV.1の
123頁から134頁に記述されており、スペクトル分
析については、雑誌「光学時報」（Optics
Communication）の1978年４月の第25巻第一号
の43頁から48頁迄の論文又は、同じ内容である
が、仏国特許No.2296842中に述べられている。

波形解析の方法に従えば、測定は弾力性に乏し
くなり、その精度は、フアイバー光学系入射端に
伝えられるインパルスの形の良好さに依存するこ
とになる。この方法では、フアイバー光学系の伝
達関数を比較的粗い精度で求めようとしても、膨
大な計算を必要とすることになる。

各スペクトル線、特にその高周波側に含まれる
パワーの弱さがスペクトル分析の手法によつて測
られる伝達関数の精度を、同様に制限している。

その一方では、インパルス測定手法に使用され
ているある種の装置は、フアイバー光学系の入射
端に於いて、モード・カツプリングの平衡状態を
得ることに意を用いている。この観点から、モー
ド平衡のシミユレーターがダイオード・レーザー
と、フアイバー光学系入射端の間に、光学的に連
結される。このシミユレーターとして、フアイバ
ー光学系の最初の20cm程を、布やすりとエラスト
マー板の間で圧縮し、これによつて、モード間の
強いカツプリングを引きおこす不安定なマイクロ
ベンドをフアイバーに与えたものを使うことがで
きる。他の型のものとして、測定されるフアイバ
ー光学系と同質のダミー光フアイバーを、ダイオ
ード・レーザーと、測定されるフアイバー光学系
の間に光学的につないで、シミユレーターとした
ものもある。ダミー光フアイバーは長大で、キロ
メーター単位のものであり、ダミー光フアイバー
の入射端での、ダイオード・レーザーの先の伝播
モードの不規則さは、その長い区間中を伝わる間
に、次第に一様となるようにしてある。従つて、
ダミー光フアイバーの出射端の前で、言い換えれ
ば、少くとも、測定されるフアイバー光学系の入
射端のレベルでは、平衡状態が実現することにな
る。

この発明は、フアイバー光学系の変調の伝達関
数を測定する装置で、その測定結果が、光信号の
伝達の経路上にある部品の伝達関数にも、測定さ
れるフアイバー光学系の入射端での光信号の入射
の条件にも依存しないものを作ることを目的とし
ている。

この目的のために、本文で定義される測定装置
は、次のことを特徴とする：それは以下のものを
含んでいる、即ち、レーザー発振部分からの光信
号を入射端で受け、伝達される信号が出射端でモ
ード・カツプリングに関しては平衡状態となるの
に充分な長さを持つダミー光フアイバー、その入
力部品がダミー光フアイバーの出射端と結合し、
その出力部品は、校正と呼ばれる段階では第二の
コネクタの入力部品と直列に密着され、又、測定
と呼ばれる段階では、フアイバー光学系の入射端
に接続される第一コネクタ、前述の測定の段階で
は、その入力部品がフアイバー光学系の出射端に
接続され、その出力部品は、前述の光検波器に面
して置かれる前述の第二コネクタ。また、前述の
一次電気信号は、予じめ決められたデイスクリー
トな成分から成つているものとする。

この発明に適合した装置によつて行なわれる測
定の手順は、次のことを特徴とする：校正の段階
では、第一のコネクタの出力部品を、光検波部分
と組み合わさつている第二コネクタの入力部品に
直列に密着し、スペクトル分析部分で直読され、
一次電気信号について予じめ決められている構成
周波数に対応するところのスペクトル線のレベル
を、これも予じめ決められている共通のレベルに
合わせる；測定の段階では、測定されるべきフア
イバー光学系の入射及び出射端を、各々、第一コ
ネクタの出力部品と第二コネクタの入力部品に挿
入し、前述の一次電気信号の発生部分の前述の構
成周波数の予じめ決められた数を選び出すが、そ
の際、一次電気信号は、選択された幾つかの構成
周波数が同時に重畳したものであるか、又は、時
間的に多重化されているものである。

かくして、予じめ決められたデイスクリートな
周波数分布に対応するスペクトル線のレベルが、
校正の過程で、周波数に無関係な直線的な応答曲
線を与えるように、予じめ決められたパワー・レ
ベルに合わされているために、レーザー光源、ダ
ミー光フアイバー、光検波器の伝達関数の影響
は、測定の結果から消去される。フアイバー光学
系の正確な伝達関数は、測定時に、スペクトル分
析器のスクリーン上で直読できるが、これは、従
来の方法によると、求める伝達関数を得るには、
スペクトルの差をとる必要があつたのに対して大
きな違いである。更に、掃引による方式と異な
り、レーザー光源と測定されるべきフアイバー光
学系の入射端との間に、長大なダミー光フアイバ
ーを光学的に連結することにより、モード・カツ
プリングの非平衡の影響も消去されている。

一次電気信号を、デイスクリートな分布の周波
数成分から作る部分は、好都合なことに、予じめ
決められた周波数帯での選択的な測定を可能とす
る。この目的のために、この信号源の部分は、同
調した出力回路に対して、他の発振器の周波数と
は異なる予じめ決められた構成周波数の正弦波電
気信号を各々が送り出す発振器群から成り、レー
ザー光源の輻射をこれで変調するのである。各発
振器には、それに付随した構成・正弦波信号の振
幅を調節する手段が結合され、校正の段階で、対
応するスペクトル線を決められたパワー・レベル
に合わせられるようになつている。分波器が、同
時又は周期的に、これらの発振器の中から、その
電圧を制御して、幾つかを選び出すことができる
ようになつているが、それによつて、レーザー輻
射を変調する一次電気信号は、選ばれた構成周波
数の正弦波信号の同時の重畳から出たものか、又
は、時間的多重化から出たものとなる。

この発明に適合した装置は、実験室内での測定
にも、又、光フアイバー・ケーブルの接続点から
接続点へのレベルでの測定にも適するものであ
る。広範囲の構成周波数について、又、長大なフ
アイバー光学系について測定が可能である。

第１図と２図に表わされるように、この発明に
適合する装置は、ダミー・フアイバーの上流側に
送信部分を持ち、受信と分析の部分は、ダミー・
フアイバーの下流側にある。

送信部分は、多重周波数の発生装置１を含み、
予じめ決められた周波数の正弦波信号を送り出す
のだが、それが同時に働く場合には、周波数は重
畳され、周期的に順に選択される場合には、周波
数は時間的に多重化される。その様子は、第４図
を参照して、以下に説明されるであろう。多重周
波数の一次電圧信号は、発生装置１からレーザー
発振回路２に伝送され、例えば、Ａ級にバイアス
された連続運転のダイオード・レーザーのよう
な、レーザー光源を変調する。

ダイオード・レーザーから輻射された多重周波
数の光信号は、ダミー光フアイバー３の入射端３
０に、従来通り直接に、或いは、場合によつて
は、コリメーシヨンと焦点合わせの光学装置（図
示されていない）を通して、ダイオード・レーザ
ーの光学軸と調心して入射される。ダミー・フア
イバー３の断面は、測定されるフアイバー光学系
のそれと構造的、寸法的に同じ特性を持つ。ダミ
ー・フアイバー３の長さは、充分に長く、約１Km
であり、遅くとも、問題となるフアイバー３の出
射端のレベルで、光信号により送られる伝播モー
ドの平衡状態に到達できるようになつている。こ
のダミー・フアイバー３は、例えば、直径200mm、
長さ100mmのボビン３２に巻きつけられている。

ダミー光フアイバ３の出射端３１は、フアイバ
の第１のコネクタ４１の入力端子４１０に結合さ
れ、その出力端子４１１は、測定される光フアイ
バの入力端に結合する。この発明で使用されるコ
ネクタと端子は、例えば、1979年７月10日に登録
された、米国特許4160580に載つているものであ
る。

測定装置の受信部分は、フアイバー光学系用の
第二のコネクタ４２を持ち、それは校正時に、第
１図に示されるように、多重周波数の光信号を、
P.I.N.ダイオードのような感光部品を持つところ
の光検波器５に、直接に伝達する。光検波器５
は、受信した光信号を、出力である二次電気信号
パワーの入力の光信号パワーに対する比が、二次
の関数であるような法則に従つて、二次電気信号
に変換する。次に、二次電気信号は、スペクトル
分析器６に伝達され、そこでは、伝達関数、即ち
第３図に示されるように、周波数の関数として、
光検波器５で受信される電力の分析と直読が可能
になる。

今度は第４図に移ると、そこでは、この発明に
適合した多重周波数の発生装置１と、レーザー発
振回路２が詳しく描かれている。多重周波数の発
生装置１は本質的には７₁から７_NのＮ個の発振器
と発振器の電源を制御する制御ユニツト８を持
つ。各発振器はその出力端子７０₁から７０_N上
に、他の発振器に与えられた周波数とは異る、予
め決められた振動周波数をもつ正弦波信号を送り
出す。この出力での正弦波信号の伝達は予め決め
られた周波数に同調されたインダクテイヴ及びキ
ヤパシテイヴなカツプリング回路７１₁から７１_N
を通じて行われる。構成信号は発振器の電源入力
端７２₁から７２_Nが、制御ユニツト８の出力端８
０₁から８０_Nにつながれて起動される二段のトラ
ンジスタ電源回路７３₁から７３_Nを介して電圧を
かけられた時に発信される。

電源回路７３₁から７３_Nの制御ユニツト８は、
本質的にはＮ個のバイステーブル・フリツプ・フ
ロツプ８１₁から８１_Nで構成されるシフト・レジ
スターから成る。各フリツプ・フロツプのクロツ
ク入力端Ｈは、クロツク８２に接続され、それ
は、発振器の電源回路を選択する周波数のクロツ
ク信号を出す。このクロツク信号の周期Ｔは、発
振器のシークエンシヤルな発信ESQが選択され
た時、発振器７₁から７_Nの一つに対応する予め決
められた周波数の信号の発信持続時間に相当す
る。

フリツプ・フロツプ８１₁から８１_Nは、装置に
電圧がかかると、その入力端RA２で、再起動回
路８３により、零に復帰される。バイステーブ
ル・フリツプ・フロツプを「１」の状態に復帰さ
せる入力端RA１の状態は、スイツチ８４で命令
される。このスイツチ８４は、装置がシークエン
シヤルな発信段階ESQにある時、入力端RA１を
「１」状態に置き、装置が同時の発信段階ESMに
ある時、入力端RA２を「０」状態に置く。

８１₁から８１_Nの各バイステーブル・フリツ
プ・フロツプの入力端Ｒは、スイツチ８５₁から
８５_Nの固定接点の一つに接続され、各フリツ
プ・フロツプの出力端Ｑは、スイツチ８６₁から
８６_Nの固定接点の一つに接続される。対になつ
たスイツチ８５₁−８６₁から８５_N−８６_Nの残り
の二つの固定接点は、相互間で接続される。一つ
のフリツプ・フロツプ、例えば８１₁の出力端Ｑ
に結ばれたスイツチ、例えば８６₁の可動接点は、
次のフリツプ・フロツプ、例えば８１₂の入力端
Ｒに結ばれたスイツチ、例えば８５₂の可動接点
に接続される。フリツプ・フロツプ８１₁から８
１_N-1の反対側の出力端は、ゲートET８７の
（Ｎ−１）個の入力端に接続され、そのゲートの
出口は、第一のフリツプ・フロツプ８１₁の入力
端Ｒに結ばれたスイツチ８５₁の可動接点に接続
される。更に、フリツプ・フロツプ８１₁から８
１_Nの各々の出力端Ｑは、組合わされた発振器７₁
から７_Nの電源回路７３₁から７３_Nの入力端８０₁
から８０_Nに、単純なスイツチ８８₁から８８_Nを
介して、接続される。

以上の、制御ユニツト８についての記述から、
次のことがわかる。

(a) 第一のスイツチ８８₁から８８_Nは、組合わさ
れた発振器７₁から７_Nの周波数が選択され、発
生装置１の出力端の一次信号の構成部分の中で
選択された他の発振器の周波数と周期的に交互
に、又は重畳されて伝達されなければならない
時に、閉じられる。

(b) スイツチ８４が同時発信段階ESMを選択す
る時、少くとも、閉じられたスイツチ８８₁か
ら８８_Nで選択される周波数に対応するすべて
の組のスイツチ８５₁−８６₁から８５_N−８６_N
は、選択された電源回路７３₁から７３_Nが、組
合わされた発振器に同時に給電するように、フ
リツプ・フロツプ８１₁から８１_Nを短絡させ
る。

(c) スイツチ８４が、シークエンシヤルな発信段
階ESQを選択する時、スイツチ８５₁から８５_N
の可動接点は、フリツプ・フロツプ８１₁から
８１_Nの各々の入力端Ｒに接続され、スイツチ
８６₁から８６_Nの可動接点は、フリツプ・フロ
ツプ８１₁から８１_Nの各々の出力端Ｑに接続さ
れ、クロツクのＮ個の信号周期Ｔの後、閉じら
れたスイツチ８８₁から８８_Nで選択される各発
振器の周波数が、シークエンスNTの持続時間
中に一度は発信されるようになつている。シー
クエンシヤルな発信ESQの側では、選択され
ない発振器に結合された組になつたスイツチ８
５₁−８６₁から８５_N−８６_Nは、組合わされた
バイステーブル・フリツプ・フロツプを短絡す
ることができることに気づくであろう。これ
は、シークエンスを選択された発振器の数に応
じて減らすことを可能にする。

同様に、第４図に於て、７₁から７_Nの各発振器
の電源入力端には、出力端７０₁から７０_Nにより
発信される構成正弦波信号の振幅を調節するため
に、回路７４₁から７４_Nが接続されることがわか
る。この調節回路７４₁から７４_Nは、スイツチ７
４０₁から７４０_Nを含み、それは、ダイオード・
レーザーが正常に機能するように、シークエンシ
ヤルな発信ESQか同時発信ESMかの発信方式に
応じて送り出される構成正弦波信号の振幅を選択
する。各々の発信方式について、この構成正弦波
信号の振幅は、電位差計７４１₁から７４１_N又は
７４２₁から７４２_Nで調節される。

全ての発振器の出力端７０₁から７０_Nは、レー
ザー発信回路２の入力端２０に接続される。この
回路は、既知のように、ダイオード・レーザー２
２の偏極を調節するためのフイード・バツク・ル
ープ２１を持つ。このフイード・バツク・ループ
２１は、少くとも、ダイオード・レーザーの裏面
と光学的に協力し合う一個のフオト・ダイオード
２３と、高周波用の容量型フイードバツク２５と
一緒にコンパレーターとして組込まれた一個のオ
ペレーシヨナル増幅器２４から成る。増幅器２４
のプラス（＋）の入力端は、フオト・ダイオード
２２に接続され、マイナス（−）の入力端は、電
位差計２６に接続される。ダイオード・レーザー
の最適動作点は、ポテンシオメータ２６によつ
て、ダイオード・レーザーがその動作域の平均の
励起電流でＡ級に偏極するように調節される。

再び第１図と２図を参照しつつ、今度は、予じ
め長さの決められたフアイバー光学系９の変調の
伝達関数の測定手法について述べよう。測定は、
布設された光フアイバー・ケーブルのフアイバー
光学系について行なわれるのであつても、又は、
実験室に設けられたフアイバー光学系の伝達特性
の一つを研究するために行なわれるのであつても
よい。

第１図に描かれた校正段階では、第一のコネク
タ４１の出力端４１１のソケツトと、第二のコネ
クタ４２の入力端４２０のソケツトは、突き合わ
せで、光学的に直列になつている。校正とは、多
重周波数発振装置１の各発振器７₁から７_Nによつ
て伝達される電気信号の振幅を調整して、スペク
トル分析器６で観測される線で、その各々が、発
振器の構成周波数に対応するすべての線が、第３
図に示すように、予じめ決められた同一のレベル
PEを持つようにすることである。これを行うた
めに、例えば、制御ユニツト８の予じめ正確に適
合した位置にあるスイツチ８４，８５₁から８５
_Ｎ，８６₁から８６_N及び調節回路７４₁から７４_N
のスイツチ７４０₁から７４０_Nでもつて、シーク
エンシヤルな発信ESQを選択する。ポテンシオ
メータ７４１₁から７４１_Nが、発振器の出力の電
気信号の振幅を調整してくれるし、又、続いて、
構成スペクトル線のレベルを、レベルPEに等し
くしてくれる。同様に、先のスイツチを逆に切換
えて、同時発振ESMを選択し、Ｎ個の構成周波
数のスペクトル線のレベルを、調節回路７４₁か
ら７４_Nのポテンシオメータ７４２₁から７４２_N
を用いて、予じめ決められたレベルPEに等しく
する。又、同様に、対応しているスペクトル線の
レベルの調節中に、８８₁から８８_Nのスイツチの
一個を閉じて、他を開けるというやり方で、各発
振器に対応する構成周波数を順に選択して、レベ
ルの調整を順に行うこともできる。

このように、校正段階に於ては、構成周波数を
もつすべての線のレベルを等しくすることで、ダ
イオード・レーザー２１、ダミー・フアイバー
３、光検波器５の固有の伝達関数の影響から免れ
ることが可能である。

第２図に描かれた測定段階では、測定されるフ
アイバー光学系の入出端は、各々、コネクタ４１
と４２に挿入される。フアイバー光学系９の入射
端９０は、第一のコネクタ４１の出力端４１１の
ソケツトに挿入され、フアイバー光学系９の出力
端９１は、第二のコネクタのソケツト４２０に挿
入される。コネクタ４１と４２の本体へのソケツ
トの取付け法は、例えば、既述の仏国特許申請
PV77−18675に述べられている方法に適合したも
のである。ダイオード・レーザー２１、ダミー・
フアイバー３、コネクタ４１と４２、光検波器５
のような部品の、光信号の伝達に関しての相対的
位置は、第１図の校正段階に於けるのと比較し
て、変わりはない。

フアイバー光学系９の開発の必要に迫られて、
伝達関数の研究にとりかかり、別の言い方をすれ
ば、フアイバー光学系の減衰係数を調べることに
なつた。それは、例えば、発振器７₁から７ｎに
組合わさつたスイツチ８８₁から８８ｎを閉じて、
他のものを開け、そのｎ個に対応する構成周波数
が作るところの予じめ決められた周波数帯に関し
て行うのである。測定は、選択された構成周波数
のシークエンシヤルな発信ESQに於て行うこと
ができる。この場合、ダイオード・レーザー２１
から輻射される光信号は、NT又は、特にnTに
等しいシークエンスを示し、発信される選択され
た構成周波数の時間的多重化によつて、一つの成
分についてはシークエンスNT又はnTの基本周
期Ｔの間だけ、変調される。同様に、同時発信
ESMに於ける測定も行うことができる。この場
合、ダイオード・レーザー２１により輻射される
光信号は、同時に発信されるｎ個の選択された構
成周波数の重畳によつて、変調される。発信方式
の選択は、既述のように、多重周波数発生装置１
のスイツチで行なわれる。

第３図には、スペクトル分析器６のスクリーン
で見られる、フアイバー光学系９の応答曲線Ｃを
表わした。横座標軸は、周波数をメガヘルツで表
わし、縦座標軸は、パワーをデシベルで表わして
いる。Ｘ印は、選択されたｎ個の構成周波数のレ
ベルを示す。曲線Ｃは、フアイバー光学系の伝達
関数の変調の変化を表わし、一方、校正段階で得
られる、予じめ決められたレベルPEと最も低周
波側の曲線Ｃのレベルとの間のひらきＡは、フア
イバー光学系９の減衰係数を表わす。この減衰Ａ
は、変調されていない光に於けるそれと、かなり
等しい。

減衰結果の公式化に於いては、既知のように、
光検波器５の検波の二乗特性を考慮しなくてはな
らない。もしこの特性が不規則を示すようなら
ば、部品４２，４５，４６から成る受信部分を目
盛をつけた減衰器の助けを借りて、あらかじめ校
正して、補正表を作成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、校正段階にある装置のブロツク・ダ
イアグラム略図、第２図は、測定段階にあるブロ
ツク・ダイヤグラム略図、第３図は、校正段階の
後、測定段階に、スペクトル分析器で直読される
応答曲線を示すダイヤグラム、第４図は、多重周
波数の発生装置と、レーザー発振回路のブロツ
ク・ダイヤグラム詳図である。１；多重周波数発生装置、２；レーザ発信回
路、３；ダミー・フアイバー、５；光検出器、
６；スペクトル分析器、８；制御ユニツト。

Claims

【特許請求の範囲】１光フアイバ９の伝達関数を測定するための装
置であつて、可変周波数を有する一次電気信号を
発生させるための手段１と、前記一次電気信号
を、前記可変周波数により変調され測定段階にお
いては前記光フアイバ９を介して伝達される光信
号に変換するためのレーザー発振手段２と、その
入力端３０が前記レーザー発振手段２より送出さ
れた前記光信号を受取り、その出射端３１から送
出される光信号がモード・カツプリングの平衡状
態にあるごとき長さを有するダミー光フアイバ３
と、前記光信号を前記可変周波数を有する二次電
気信号に変換するための光検波手段５と、前記二
次電気信号のパワーを前記変調可変周波数の関数
として測定することにより前記光フアイバ９の伝
達関数を表示するようになされた前記二次電気信
号のスペクトルを解析するための手段６を具備す
る装置において、前記可変周波数を有する一次電気信号を発生す
るための手段１が複数の発振器７を含み、該複数
の発振器７の各々はレーザー発振を変調するため
に他の発振器にあてがわれる周波数とは異なる所
定の構成周波数を有する正弦波信号を前記レーザ
ー発振手段２に伝達し、更に前記手段１が、電圧
によつて制御されかつ前記複数の発振器７の各々
と関連し、該関連する発振器より送出される前記
制限波信号の振幅を、測定される光フアイバ９が
当該装置に含まれていない構成段階において前記
二次電気信号スペクトルを解析する手段６により
解析されたすべての周波数ラインの予め決められ
たレベル（PE）に対応する所定の振幅に調整す
るための手段７４を含んでいることを特徴とする
装置。２前記各発振器７が、前記レーザー発振手段２
に接続されている該各発振器７の出力７０のとこ
ろに、関連する予め決められた周波数に同調する
共振回路７１を有している特許請求の範囲第１項
に記載の装置。３選択された構成周波数を有する前記正弦波信
号を周波数分割多重化により生じた前記一次電気
信号中に同時に混合させるために、前記選択され
た構成周波数に対応する電圧を前記発振器７の電
源７３に印加することにより、所定数の構成周波
数を選択するための第１のスイツチ手段８８を有
している特許請求の範囲第１項または第２項に記
載の装置。４前記電圧を前記発振器７の電源７３に周期的
に順次印加することにより前記構成周波数を周期
的に選択するためのクロツク８２で制御される手
段８１，８７を有し、構成周波数を前記一次電気
信号に時分割多重化することを特徴とする特許請
求の範囲第１項または第２項に記載の装置。５前記選択された構成周波数の同時ミクシング
または時分割多重化より生じる前記一次電気信号
の発振を選択するための手段８４，８５，８６を
有する特許請求の範囲第３項または第４項に記載
の装置。６前記レーザー発振手段２が、前記一次電気信
号を前記光信号に変換するレーザー源２２の帰還
ループ２１中に含まれ、前記レーザー源２２がＡ
級にバイアスされるように前記レーザー源２２の
励起電流を調整するための手段２６を有する特許
請求の範囲第１項〜第５項のうちのいずれか一項
に記載の装置。７当該装置が第１のコネクタ４１及び第２のコ
ネクタ４２を具備し、前記第１のコネクタ４１の
入力端子４１０が前記ダミー光フアイバ３の出射
端３１に接続され、前記第１のコネクタ４１の出
力端子４１１は、構成段階においては前記第２の
コネクタ４２の入力端子４２０と端−端結合さ
れ、測定段階においては、被測定光フアイバ９の
入力端９０に接続され、前記第２のコネクタ４２
の入力端子４２０は、測定段階においては前記光
フアイバ９の出射端９１に接続され、前記第２の
コネクタ４２の出力端子４２１は前記光検波手段
５と面して位置する特許請求の範囲第１項〜第６
項の内のいずれか一項に記載の装置。