JPH029308B2 - - Google Patents
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- JPH029308B2 JPH029308B2 JP53111022A JP11102278A JPH029308B2 JP H029308 B2 JPH029308 B2 JP H029308B2 JP 53111022 A JP53111022 A JP 53111022A JP 11102278 A JP11102278 A JP 11102278A JP H029308 B2 JPH029308 B2 JP H029308B2
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明はガスクロマト分析法およびその装置
に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a gas chromatography analysis method and an apparatus thereof.
空気液化分離工程中のガス、大気、不活性ガス
等のガス体中の微量成分を検出する場合は、これ
まで第1図に示すようなガスクロマト分析装置を
用い、つぎのようにして検出を行つていた。 When detecting trace components in gases such as gas, air, or inert gas during the air liquefaction separation process, a gas chromatography analyzer like the one shown in Figure 1 has been used until now, and detection has been carried out as follows. I was gone.
すなわち、まず試料導入口1から試料ガスを注
入して固定剤を充填した濃縮管2内に送り込み、
そこで試料ガスを固定剤に固定して濃縮する。こ
の濃縮管2は、寒剤槽3内の寒剤4中に浸漬さ
れ、試料ガスを冷却して、その状態で固定剤に保
持、固定するようになつている。つぎに、濃縮完
了後、寒剤4による濃縮管2の冷却を止め適当に
加温する。その結果、液化された試料が瞬間的に
気化膨張してその一部が放出口5から矢印Aのよ
うに放出される。この状態では、キヤリヤガスの
送入パイプ6および送出パイプ7が切換弁8によ
つて閉回路を構成している。そして、濃縮器2内
の試料ガスの圧力とガスクロマト分析器(図示せ
ず)の圧力が平衡に達した後、切換コツク9を図
示の矢印Bのように押し上げると、第2図に示す
ように、キヤリヤガスの送入パイプ6および送出
パイプ(ガスクロマト分析器に接続している)7
がそれぞれ濃縮管2の一端2aおよび他端26と
連結するため、キヤリヤガスによつて試料ガスが
ガスクロマト分析器へ送り込まれ分析される。こ
のようにして、試料ガス中の微量成分が検出され
ていた。 That is, first, a sample gas is injected from the sample inlet 1 and sent into the concentrating tube 2 filled with a fixative.
Therefore, the sample gas is fixed in a fixative and concentrated. The concentrating tube 2 is immersed in a cryogen 4 in a cryogen tank 3 to cool the sample gas and hold and fix it in the fixative in that state. Next, after the concentration is completed, the cooling of the concentrating tube 2 by the cryogen 4 is stopped and the concentrating tube 2 is heated appropriately. As a result, the liquefied sample instantaneously evaporates and expands, and a portion of it is discharged from the discharge port 5 as shown by arrow A. In this state, the carrier gas inlet pipe 6 and outlet pipe 7 form a closed circuit via the switching valve 8. After the pressure of the sample gas in the concentrator 2 and the pressure in the gas chromatograph analyzer (not shown) reach equilibrium, push up the switching knob 9 in the direction of arrow B in the figure, as shown in Figure 2. , a carrier gas inlet pipe 6 and an outlet pipe (connected to the gas chromatograph analyzer) 7
are connected to one end 2a and the other end 26 of the concentrating tube 2, respectively, so that the sample gas is sent to the gas chromatography analyzer by the carrier gas and analyzed. In this way, trace components in the sample gas were detected.
ところが、この場合において、試料ガス中の微
量成分の保持時間が、試料ガスの殆んどを占める
主成分ガスの保持時間と近接しているときには、
ガスクロマト分析の際に、そのピークが主成分ガ
ス体によつて隠されてしまうために、微量成分を
検出することができなかつた。これを回避するた
めに、ガスクロマト分析器のカラム(充填剤が充
填された状態のもの)を、主成分ガス体の保持時
間と微量成分の保持時間の差を拡大することがで
きるようなカラムに取替えて微量成分のピークと
主成分ガスのピークを分離することが行われてい
る。しかしながら、そのようにすると、微量成分
のピークを分離することはできるものの、試料ガ
ス中の各成分の保持時間が長くなるため、各成分
のピークが低くなつて鋭さを失いその確認が困難
になり、かつ分析に長時間を要するという問題が
生じていた。また、従来は、濃縮完了後に、寒剤
4による冷却の中止と加温に起因する濃縮液化試
料の気化膨張の高圧力を、放出口5から濃縮試料
ガスの一部を放出することにより低下させ、濃縮
管2内の圧力とガスクロマト分析器内の圧力が平
衡に達したのちに濃縮試料ガスをガスクロマト分
析器に送り込んでいた。そのため、分析誤差が発
生する恐れがあつた。また、その圧力が平衡に達
したか否かの確認および圧力を平衡に調節するこ
とは煩雑であり、かつ圧力調節を誤まつて高圧濃
縮試料ガスをガスクロマト分析器に送り込むと分
析器内の圧力がその分析器の最大使用圧力を超え
危険な状態になるという問題も生じていた。 However, in this case, when the retention time of the trace component in the sample gas is close to the retention time of the main component gas that occupies most of the sample gas,
During gas chromatography analysis, trace components could not be detected because their peaks were hidden by the main component gas. In order to avoid this, the column of the gas chromato analyzer (filled with packing material) should be changed to a column that can expand the difference between the retention time of the main component gas and the retention time of the trace component. Instead, the peaks of trace components and the peaks of main component gases are separated. However, in this case, although it is possible to separate the peaks of trace components, the retention time of each component in the sample gas increases, making the peaks of each component lower, losing their sharpness, and making it difficult to confirm them. , and the analysis required a long time. Conventionally, after the completion of concentration, the high pressure of vaporization expansion of the concentrated liquefied sample caused by stopping cooling with the cryogen 4 and heating is reduced by discharging a part of the concentrated sample gas from the discharge port 5. After the pressure in the concentrating tube 2 and the pressure in the gas chromato analyzer reached equilibrium, the concentrated sample gas was sent to the gas chromato analyzer. Therefore, there was a risk that analysis errors would occur. In addition, it is troublesome to check whether the pressure has reached equilibrium and to adjust the pressure to equilibrium, and if the pressure is incorrectly adjusted and the high-pressure concentrated sample gas is sent to the gas chromatograph analyzer, the There was also the problem that the pressure exceeded the maximum working pressure of the analyzer, creating a dangerous situation.
この発明は、このような問題を全て解消するた
めになされたもので、固定剤を充填した濃縮器に
微量成分を含む試料を送り込んで固定剤により濃
縮して保持させ、キヤリヤガスを濃縮器中に供給
することにより、この濃縮試料を固定剤から脱離
させて分離管内に送り込み、この分離管により濃
縮試料中の各成分を分離して順次溶出させ、、こ
の溶出成分を検出器によつて検出するガスクロマ
ト分析法であつて、キヤリヤガスを濃縮器中に供
給する前に、内部に固定剤が充填され寒剤で冷却
されている浄化ガス精製管を通つて精製された浄
化ガスを、寒剤で冷却されている濃縮器中に供給
して目的成分検出の妨害となる濃縮試料中の妨害
成分を固定剤から脱離させて除去することを特徴
とするガスクロマト分析法を第1の要旨とし、試
料を濃縮する濃縮器と、この濃縮器によつて濃縮
された濃縮試料中の各成分を分離して順次溶出す
る分離管と、この分離管から溶出した成分を検出
する検出器を備えたガスクロマト分析装置におい
て、上記濃縮器を冷却する第一の寒剤槽と、浄化
ガス供給源と、この浄化ガス供給源から供給され
た浄化ガスを精製する浄化ガス精製器と、上記浄
化ガス精製器を冷却する第二の寒剤槽とこの浄化
ガス精製器によつて浄化された浄化ガスを上記濃
縮器に供給する供給パイプとこの供給パイプを開
閉する開閉弁とをさらに設けたことを特徴とする
ガスクロマト分析装置を第2の要旨とするもので
ある。 This invention was made to solve all of these problems.A sample containing trace components is sent to a concentrator filled with a fixative, concentrated and held by the fixative, and a carrier gas is transferred into the concentrator. By supplying this concentrated sample, it is desorbed from the fixative and sent into a separation tube, and each component in the concentrated sample is separated and sequentially eluted using this separation tube, and this eluted component is detected by a detector. This is a gas chromatography analysis method in which the purified gas is cooled with a cryogen through a purified gas purification pipe filled with a fixative and cooled with a cryogen before supplying the carrier gas to the concentrator. The first gist is a gas chromatographic analysis method that is characterized by removing interfering components in the concentrated sample that interfere with the detection of the target component by desorbing it from a fixative by supplying it to a concentrator that is A gas chromatograph equipped with a concentrator that concentrates the sample, a separation tube that separates and sequentially elutes each component in the concentrated sample concentrated by the concentrator, and a detector that detects the components eluted from the separation tube. In the analyzer, a first cryogen tank that cools the concentrator, a purified gas supply source, a purified gas purifier that purifies the purified gas supplied from the purified gas supply source, and a purified gas purifier that cools the purified gas purifier. A gas chromatograph further comprising: a second cryogen tank, a supply pipe for supplying the purified gas purified by the purified gas purifier to the concentrator, and an on-off valve for opening and closing the supply pipe. The second gist is the analysis device.
すなわち、この発明は、浄化ガス供給源と、こ
の浄化ガス供給源から供給される浄化ガスを精製
する浄化ガス精製器と、この浄化ガス精製器によ
つて浄化された浄化ガスを濃縮器に供給する供給
パイプと、それの開閉弁とを備えた濃縮器付ガス
クロマト分析装置を用い、キヤリヤガスを濃縮器
中に供給する前に浄化ガスを濃縮器中に供給して
目的成分(通常は微量成分)検出の妨害となる試
料中の妨害成分を除去するものである。 That is, the present invention provides a purified gas supply source, a purified gas purifier that purifies the purified gas supplied from the purified gas supply source, and a purified gas purified by the purified gas purifier that supplies the purified gas to the concentrator. Using a gas chromatography analyzer equipped with a concentrator, which is equipped with a supply pipe and an on-off valve for the supply pipe, purification gas is supplied into the concentrator before the carrier gas is supplied into the concentrator, and the target components (usually trace components) are ) It removes interfering components in the sample that interfere with detection.
つぎに、この発明を詳しく説明する。 Next, this invention will be explained in detail.
この発明は、濃縮器の固定剤に濃縮状態で保
持、固定されている試料のうち、目的成分検出の
妨害となる妨害成分を浄化ガスにより脱離させて
除去したのち、残存成分をキヤリヤガスによつて
固定剤から脱離させて分離管内に送り込むことに
より各成分に分離し、ついで、これを検出器に送
り込んで目的成分を検出するものである。例え
ば、空気中の炭酸ガス、メタンをガスクロマト分
析装置で従来の方法によつて検出する場合には、
微量成分である炭酸ガス、メタンのピークは、主
成分である空気のピークに隠されてしまい検出す
ることは不可能である。しかし、そのようなとき
に浄化ガスによつて予め濃縮器中の試料から空気
を除去しておき、残つたものについて各成分の分
離・検出を行うと、炭酸ガス、メタンを精度よ
く、迅速に、かつ容易に検出することができるよ
うになるのである。通常、浄化ガスとしては、キ
ヤリヤガスと同種類のガスが用いられる。これ
は、浄化ガスとしてキヤリヤガスと異なるものを
用いると、その成分が濃縮器の固定剤に保持さ
れ、それによつて微量成分の検出が阻害された
り、精度が悪くなることがあるからである。 This invention uses a purifying gas to desorb and remove interfering components that interfere with the detection of target components from a sample held and fixed in a concentrated state in a fixative of a concentrator, and then the remaining components are removed using a carrier gas. The target component is then separated into each component by being separated from the fixative and sent into a separation tube, and then sent to a detector to detect the target component. For example, when detecting carbon dioxide and methane in the air using a gas chromatography analyzer using conventional methods,
The peaks of carbon dioxide and methane, which are trace components, are hidden by the peak of air, which is the main component, and are impossible to detect. However, in such cases, if the air is removed from the sample in the concentrator using purified gas in advance and the remaining components are separated and detected, carbon dioxide and methane can be detected quickly and accurately. , and can be easily detected. Usually, the same type of gas as the carrier gas is used as the purifying gas. This is because if a purifying gas different from the carrier gas is used, its components may be retained in the fixative of the concentrator, which may impede detection of trace components or impair accuracy.
浄化ガスによつて濃縮器中の固定剤から妨害成
分のみを脱離させて除去するには、妨害成分に対
する保持力が小さく、それ以外の成分に対する保
持力が大きい固定剤を選択することにより行うこ
とができる。また、ある温度における、固定剤の
妨害成分に対する保持力とそれ以外の成分に対す
る保持力との差を利用して固定剤から妨害成分の
みを脱離させて除去することもできる。この場合
には、通常、濃縮器を寒剤によつて冷却し、妨害
成分とそれ以外の成分とに対する固定剤の低温時
における保持力の差を利用して行われる。 In order to desorb and remove only the interfering components from the fixative in the concentrator using purified gas, select a fixative that has a small holding power for the interfering components and a large holding power for other components. be able to. Further, it is also possible to desorb and remove only the interfering components from the fixative by utilizing the difference between the holding power of the fixative for the interfering components and the retaining power for other components at a certain temperature. In this case, the concentrator is usually cooled with a cryogen, and the difference in the holding power of the fixative for interfering components and other components at low temperatures is utilized.
このように、この発明によれば、試料ガス中に
多量の妨害成分が存在していて、それがガスクロ
マト分析の際に大きなピークとなつて表われ、目
的成分(通常は微量成分)がそのピークのなかに
隠されてしまうような場合に、多量の妨害成分を
浄化ガスによつて除去してから、目的成分の検出
を行うため、目的成分を精度よく、かつ容易に検
出することができる。また、従来のように、妨害
成分と目的成分のピーク間を拡大するようなカラ
ム(保持時間差を大きくする)を用いる必要がな
いため、分析時間が長くなることもなく、かつ数
多くの目的成分のピークも鋭く表われ、その確認
が容易になる。さらに、妨害成分が試料中に多量
に存在するときは、ガスクロマト分析に先立つて
それが浄化ガスによつて除去されるため、濃縮器
中の圧力がそれ程上昇せず、したがつて濃縮器内
とガスクロマト分析器内の圧力調節をする必要が
ない。また、ガスクロマト分析器内の圧力が使用
最大圧力を超えることもなく安全である。 According to the present invention, a large amount of interfering components are present in the sample gas, which appear as large peaks during gas chromatography analysis, and the target component (usually a trace component) is If the target component is hidden in a peak, the target component is detected after removing a large amount of interfering components with purification gas, making it possible to detect the target component with high accuracy and ease. . In addition, unlike conventional methods, there is no need to use a column that expands the peaks of the interfering component and the target component (increasing the retention time difference), so analysis time does not become long, and a large number of target components can be detected. The peak also appears sharp, making it easier to confirm. Furthermore, when interfering components are present in large quantities in the sample, they are removed by the purifying gas prior to gas chromatography analysis, so the pressure in the concentrator does not increase as much, and therefore the concentration inside the concentrator is reduced. There is no need to adjust the pressure inside the gas chromato analyzer. Moreover, the pressure inside the gas chromato analyzer does not exceed the maximum operating pressure, making it safe.
つぎに、この発明のガスクロマト分析法を実現
する分析装置の一例について説明する。 Next, an example of an analyzer that implements the gas chromatographic analysis method of the present invention will be described.
すなわち、この分析装置は、第3図に示すよう
に、切換コツク9付の濃縮管2を備えた公知のガ
スクロマト分析装置に、浄化ガス精製管10、浄
化ガスボンベ11および切換コツク12をもつ切
換弁13をさらに取付け、切換コツク12の操作
により浄化ガスボンベ11内の浄化ガスを矢印の
ように浄化ガス精製管10へ送つて精製し、それ
を切換弁13経由で濃縮管2に矢印のように送る
ようになつている。この濃縮管2は、前述のとお
り、内部に通常のガスクロマト分析カラムに充填
される充填剤が固定剤として充填されていて、寒
剤槽3内の寒剤4によつて冷却されるようになつ
ている。この寒剤槽3は移動自在になつていて、
所望の時期に移動して濃縮管2の冷却を中止する
ようになつている。また、浄化ガス精製管10も
内部に充填剤が詰められていて、寒剤槽14の寒
剤15によつて冷却されるようになつている。 That is, as shown in FIG. 3, this analyzer is a known gas chromatography analyzer equipped with a concentrating tube 2 with a switching pot 9, and a switching device with a purified gas purification tube 10, a purified gas cylinder 11, and a switching pot 12. The valve 13 is further installed, and by operating the switching knob 12, the purified gas in the purified gas cylinder 11 is sent to the purified gas purification pipe 10 as shown by the arrow for purification, and then sent to the concentration pipe 2 via the switching valve 13 as shown by the arrow. I'm starting to send it. As mentioned above, this concentrating tube 2 is filled with the packing material used in ordinary gas chromatography analysis columns as a fixing agent, and is cooled by the cryogen 4 in the cryogen tank 3. There is. This cryogen tank 3 is movable,
The cooling of the concentrating tube 2 is stopped at a desired time. Furthermore, the purified gas purification pipe 10 is also filled with a filler and is cooled by the cryogen 15 in the cryogen tank 14.
この装置を用いて、妨害成分と共存する微量成
分を検出し定量するには、第4図に示すように、
まず切換コツク12を操作して浄化ガスボンベ1
1中の浄化ガスを浄化ガス精製管10を経由して
濃縮管2に送り込み、ついで放出口5から放出す
るようにする。このようにすることにより、浄化
ガスは、寒剤15によつて冷却されている浄化ガ
ス精製管10内で不純物を除去され殆んど純粋な
状態になつて濃縮管2内に送り込まれ、濃縮管2
内を清掃する。この状態を数分間続けることによ
り濃縮管2内が浄化される。通常は、浄化ガスと
してHeガスが用いられ、寒剤15としては液化
窒素が用いられ、浄化ガス精製管10内の充填剤
としてはモレキユラーシーブスが用いられる。 To detect and quantify trace components coexisting with interfering components using this device, as shown in Figure 4,
First, operate the switching knob 12 to connect the purified gas cylinder 1.
The purified gas in 1 is sent to a concentrating tube 2 via a purified gas purification tube 10, and then released from a discharge port 5. By doing this, the purified gas has impurities removed in the purified gas purification tube 10 which is cooled by the cryogen 15, becomes almost pure, and is sent into the concentrating tube 2. 2
Clean inside. By continuing this state for several minutes, the inside of the concentrating tube 2 is purified. Usually, He gas is used as the purification gas, liquefied nitrogen is used as the cryogen 15, and molecular sieves are used as the filler in the purification gas purification pipe 10.
つぎに、第4図の状態から濃縮器2を第5図に
示すように徐々に寒剤4に浸漬して冷却する。こ
の場合、濃縮管2を急激に浸漬すると浄化ガスが
流れなくなるため、放出口5より空気が濃縮管2
内に流入して汚染する。つぎに、濃縮管2を寒剤
4中に浸漬した状態において、切換コツク12を
操作して図示の状態にし、試料注入口16より試
料を注入して濃縮管2内へ送り込み濃縮する。こ
の切換コツク12の操作により浄化ガスボンベ1
1内の浄化ガスは浄化ガス放出口17から放出さ
れるようになる。このようにして、試料の一定量
を濃縮した後は、直ちに切換コツク12を元の状
態に戻す。その結果、第6図に示すように、精製
浄化ガスが濃縮管2内に流れ込み、濃縮管2内の
固定剤によつて保持された妨害成分を脱離させて
放出口5から放出する。その状態を数分間継続す
ると妨害成分は殆んど追い出され、微量成分が残
る。 Next, from the state shown in FIG. 4, the concentrator 2 is gradually immersed in the cryogen 4 as shown in FIG. 5 to be cooled. In this case, if the concentrating tube 2 is suddenly immersed, the purified gas will no longer flow, so air will flow into the concentrating tube 2 from the discharge port 5.
into the interior and contaminate it. Next, with the concentrating tube 2 immersed in the cryogen 4, the switching knob 12 is operated to bring it into the state shown in the figure, and the sample is injected from the sample inlet 16 and sent into the concentrating tube 2 to be concentrated. By operating this switching knob 12, the purified gas cylinder 1
The purifying gas in 1 is released from the purifying gas discharge port 17. After concentrating a certain amount of the sample in this way, the switching pot 12 is immediately returned to its original state. As a result, as shown in FIG. 6, purified purified gas flows into the concentrating tube 2, desorbs interfering components held by the fixative in the concentrating tube 2, and is discharged from the discharge port 5. If this state continues for several minutes, most of the interfering components will be expelled, leaving a trace amount of components.
つぎに、濃縮管2を冷却していた寒剤槽3に代
えて、第7図に示すように、温水槽18を配置し
て濃縮管2を温水19に浸漬して加温する。そし
て、この加温と同時に切換コツク9を操作してキ
ヤリヤガス送入パイプ6からキヤリヤガスを濃縮
管2内に流し、それによつて微量成分を固定剤か
ら脱離させてガスクロマト分析器に送り込む。そ
の結果、微量成分がガスクロマト分析器によつて
分析される。 Next, in place of the cryogen tank 3 that used to cool the concentrating tube 2, a hot water tank 18 is arranged as shown in FIG. 7, and the concentrating tube 2 is immersed in hot water 19 to warm it. Simultaneously with this heating, the switching knob 9 is operated to flow the carrier gas from the carrier gas inlet pipe 6 into the concentrating tube 2, whereby trace components are separated from the fixative and sent to the gas chromatography analyzer. As a result, trace components are analyzed by a gas chromatography analyzer.
このようにして、妨害成分を除去して、微量成
分のみを簡単に分離・検出することができる。 In this way, interfering components can be removed and only trace components can be easily separated and detected.
なお、以上の説明では、切換コツク9,12と
して手動式のものを用いるが、それを電磁弁に
し、切換コツク9,12の切換えを自動で行つて
もよい。また、コツクのの形式は、2方弁でも多
方弁でもよい。 In the above description, manual switching tabs 9 and 12 are used, but electromagnetic valves may be used to automatically switch the switching tabs 9 and 12. Further, the type of the kettle may be a two-way valve or a multi-way valve.
以上のように、この装置によれば、試料中に多
量の妨害成分が含まれていて、微量成分の分離・
検出が困難な場合であつても、妨害成分を除去し
て微量成分を簡単に分離・検出することができ
る。また、この装置は、妨害成分を予め除去し、
微量成分のみを分離管および検出器に送つて分
離・検出するため、従来のようにキヤリヤガスに
多量の妨害成分ガスが加わり、その状態で分離・
検出することによるガスクロマトグラムのベース
ラインの変動が起らない。 As described above, according to this device, when a sample contains a large amount of interfering components, it is possible to separate trace components.
Even in cases where detection is difficult, interfering components can be removed and trace components can be easily separated and detected. In addition, this device removes interfering components in advance,
Since only trace components are sent to the separation tube and detector for separation and detection, unlike conventional methods, a large amount of interfering component gas is added to the carrier gas, and separation and detection are performed in that state.
The baseline of the gas chromatogram does not change due to detection.
また、妨害成分除去用の浄化ガスを精製し不純
物が存在しない状態にして用いるため、浄化ガス
による妨害成分の除去の際に浄化ガス中の不純物
が固定剤に固定され、それが分析に供されるとい
う事態が起らない。特に、多少の不純物を含む低
価格の浄化ガスを精製して用いることにより、高
価な純ガスを浄化ガスとして使用する場合に比べ
て割安になり、かつその入手も容易になる。 In addition, since the purified gas for removing interfering components is purified and used in a state free of impurities, when the interfering components are removed by the purified gas, the impurities in the purified gas are fixed on the fixative, which is then used for analysis. There will be no such situation. In particular, by purifying and using a low-cost purification gas that contains some impurities, it becomes cheaper and easier to obtain than when using expensive pure gas as the purification gas.
つぎに、第3図のガスクロマト測定装置を用い
て下記の試料を分析した。この場合におけるガス
クロマト測定装置の濃縮管、ガスクロマト分析器
の詳細および測定条件をそれぞれ下記に示す。 Next, the following sample was analyzed using the gas chromatography apparatus shown in FIG. Details of the concentrating tube of the gas chromatometry device, the gas chromatograph analyzer, and measurement conditions in this case are shown below.
濃縮管:6φ×4φ×300mm
固定剤:耐火レンガ粉末(60〜80メツシユ)
濃縮用寒剤:液化酸素
浄化ガス:He,50ml/分
浄化ガス精製管:6φ×4φ×1m
充 填 剤:モレキユラーシーブス5A(60〜80
メツシユ)
浄化ガス精製用寒剤:液化窒素
〔ガスクロマト分析器〕
カラム:ホーラパツクT×1m
恒温槽:80℃
検出器:80℃
キヤリヤガス:He,30ml/分
熱電導検出器(TCD):ブリツジ電流140mA
水素炎検出器(FID):水素ガス30ml/分
:空気ガス900ml/分
記録計:感度1mV×1/1
ペンスピード30cm巾/sec
Zペン式(チヤンネル1TCD,チヤン
ネル2FID)
記録紙送り1cm/分
〔分析例1:液化酸素中の炭化水素、炭酸ガスの
測定〕
液化酸素を気化させて気化ガス試料をつくり、
これを100ml採取してガスクロマト分析した。こ
の場合、TCDの感度は1/1、FIDは1/20、
1/1に設定して行つた。その結果を第8図に示
す。図において、曲線AはFIDによるガスクロマ
トグラムであり、曲線BはTCDによるガスクロ
マトグラムである。曲線Aにおいてピークaは
CH4、ピークbは感度を1/20から1/2に切換
えたときのシヨツク、ピークcはC2H6、ピーク
dはC3H8のピークである。また、曲線Bにおい
て、ピークeは空気、ピークfはCO2である。こ
れらの結果より、CH4は約100p.p.m、C2H6は
0.02p.p.m,C3H8は0.01p.p.m、Co2は1p.p.m以下
と定量された。この場合、従来のガスクロマト分
析法では空気のピークに隠されてしまうCO2のピ
ークが、明確に検出されている。
Concentration tube: 6φ x 4φ x 300mm Fixing agent: Firebrick powder (60 to 80 mesh) Concentrating cryogen: Liquefied oxygen Purified gas: He, 50ml/min Purified gas purification tube: 6φ x 4φ x 1m Filling agent: Molekyu Rahshibus 5A (60~80
Cryogen for purified gas purification: Liquefied nitrogen [Gas chromatography analyzer] Column: Holapack T x 1m Constant temperature chamber: 80℃ Detector: 80℃ Carrier gas: He, 30ml/min Thermal conductivity detector (TCD): Bridge current 140mA Hydrogen flame detector (FID): Hydrogen gas 30ml/min: Air gas 900ml/min Recorder: Sensitivity 1mV x 1/1 Pen speed 30cm width/sec Z pen type (channel 1TCD, channel 2FID) Recording paper advance 1cm/min [Analysis example 1: Measurement of hydrocarbons and carbon dioxide in liquefied oxygen] Vaporize liquefied oxygen to create a vaporized gas sample,
100ml of this was sampled and analyzed by gas chromatography. In this case, the sensitivity of TCD is 1/1, the FID is 1/20,
I set it to 1/1. The results are shown in FIG. In the figure, curve A is a gas chromatogram by FID, and curve B is a gas chromatogram by TCD. In curve A, peak a is
CH 4 , peak b is the shock when the sensitivity is switched from 1/20 to 1/2, peak c is the peak of C 2 H 6 , and peak d is the peak of C 3 H 8 . Further, in curve B, peak e is air and peak f is CO2 . From these results, CH 4 is about 100 p.pm, and C 2 H 6 is
It was quantified as 0.02ppm, C 3 H 8 as 0.01ppm, and Co 2 as less than 1p.pm. In this case, the CO 2 peak, which would be hidden by the air peak in conventional gas chromatography, was clearly detected.
〔分析例2:アルゴン中のメタンの測定〕
アルゴン100mlを採取してガスクロマト分析し
た。この場合、TCDおよびFIDの感度はそれぞ
れ1/1に設定して行つた。その結果を第9図に
示す。図において、曲線CはFIDによるガスクロ
マトグラムであり、曲線DはTCDによるガスク
ロマトグラムである。曲線Cにおいて、ピークg
はCH4のピークである。曲線Dにおいて、hは空
気のピークである。これらの結果より、CH4は
0.04p.p.mと定量された。CO2が存在すると、そ
のピークは空気のピークの左側に隣接して表われ
るのであるが、今回はCO2は認められなかつた。[Analysis Example 2: Measurement of methane in argon] 100 ml of argon was collected and analyzed by gas chromatography. In this case, the sensitivities of TCD and FID were each set to 1/1. The results are shown in FIG. In the figure, curve C is a gas chromatogram by FID, and curve D is a gas chromatogram by TCD. In curve C, peak g
is the CH 4 peak. In curve D, h is the air peak. From these results, CH 4 is
It was determined to be 0.04ppm. When CO 2 is present, its peak appears adjacent to the left side of the air peak, but this time no CO 2 was observed.
〔分析例3:空気中のメタンおよび炭酸ガスの測
定〕
空気40mlを採取してガスクロマト分析した。[Analysis Example 3: Measurement of methane and carbon dioxide gas in air] 40 ml of air was sampled and analyzed by gas chromatography.
この場合、TCDの感度は1/2、FIDの感度
は1/1に設定した。その結果を第10図に示
す。図において、曲線EはFIDによるガスクロマ
トグラムであり、曲線FはTCDによるガスクロ
マトグラムである。曲線Eにおいて、ピークiは
CH4のピークであり、曲線Fにおいて、ピークj
は注入シヨツク、ピークkは空気、ピークlは
CO2のピークである。これらの結果よりCO2は約
250p.p.m、CH4は約1p.p.mと定量された。 In this case, the sensitivity of TCD was set to 1/2, and the sensitivity of FID was set to 1/1. The results are shown in FIG. In the figure, curve E is a gas chromatogram by FID, and curve F is a gas chromatogram by TCD. In curve E, peak i is
is the peak of CH4 , and in curve F, peak j
is the injection shock, peak k is air, and peak l is
This is the peak of CO2 . From these results, CO 2 is approximately
250 p.pm, and CH 4 was determined to be approximately 1 p.pm.
〔分析例4:汚染空気中の炭化水素および炭酸ガ
スの測定〕
汚染された空気を40ml採取してガスクロマト分
析した。この場合、TCDおよびFIDの感度はそ
れぞれ1/1に設定して行つた。その結果を第1
1図に示す。図において、曲線GはFIDによるガ
スクロマトグラムであり、曲線HはTCDによる
ガスクロマトグラムである。曲線Gにおいて、ピ
ークmはCH4、ピークnはC2H6のピークである。
また、曲線Hにおいて、ピークoは空気、ピーク
pはCO2のピークである。これらの結果、CH4は
約1p.p.m、C2H6は約0.9p.p.m、CO2は約300p.p.m
と定量された。この場合、CO2のピークは空気の
ピークと完全に分離され明確に表われていた。[Analysis Example 4: Measurement of hydrocarbons and carbon dioxide in contaminated air] 40 ml of contaminated air was sampled and analyzed by gas chromatography. In this case, the sensitivities of TCD and FID were each set to 1/1. The result is the first
Shown in Figure 1. In the figure, curve G is a gas chromatogram by FID, and curve H is a gas chromatogram by TCD. In curve G, peak m is a CH 4 peak, and peak n is a C 2 H 6 peak.
Furthermore, in curve H, peak o is the air peak, and peak p is the peak of CO2 . As a result, CH 4 is about 1 p.pm, C 2 H 6 is about 0.9 ppm, and CO 2 is about 300 p.pm.
was quantified. In this case, the CO 2 peak was completely separated from the air peak and clearly appeared.
分析例4で用いた汚染空気40mlを試料として、
従来の装置により従来のようにしてガスクロマト
分析した。その結果を第12図に示す。図におい
て、曲線はFIDによるガスクロマトグラムであ
り、曲線JはTCDによるガスクロマトグラムで
ある。曲線において、ピークqはCH4、ピーク
rはC2H6のピークである。曲線Jにおいて、ピ
ークsは空気のピークである。これらの結果、
CH4は約1p.p.m、C2H6は約1.3p.p.mと定量され
た。しかしながら、CO2のピークは空気のピーク
sと重なつているため、検出も定量もできなかつ
た。
Using 40ml of contaminated air used in analysis example 4 as a sample,
Gas chromatographic analysis was performed in a conventional manner using conventional equipment. The results are shown in FIG. In the figure, the curve is a gas chromatogram by FID, and the curve J is a gas chromatogram by TCD. In the curve, peak q is a CH 4 peak, and peak r is a C 2 H 6 peak. In curve J, peak s is the peak of air. These results
CH 4 was determined to be about 1 p.pm, and C 2 H 6 was determined to be about 1.3 ppm. However, since the CO 2 peak overlaps with the air peak s, it could not be detected or quantified.
第1図および第2図はそれぞれ従来例の欠点を
説明する説明図、第3図はこの発明のガスクロマ
ト分析装置の一例の構成図、第4図ないし第7図
はそれぞれその動作状態説明図、第8図ないし第
11図はそれぞれ第3図の装置を用いた分析例1
〜4のチヤート、第12図は比較例のチヤートで
ある。
2……濃縮管、3……寒剤槽、4……寒剤、
8,13……切換弁、9,12……切換コツク、
10……浄化ガス精製管、11……浄化ガスボン
ベ。
FIG. 1 and FIG. 2 are explanatory diagrams each explaining the drawbacks of the conventional example, FIG. 3 is a configuration diagram of an example of the gas chromatography analyzer of the present invention, and FIGS. 4 to 7 are explanatory diagrams, respectively, of its operating state. , Figures 8 to 11 are analysis example 1 using the apparatus shown in Figure 3, respectively.
Charts 4 to 4 and FIG. 12 are charts of comparative examples. 2...Concentration tube, 3...Cryogen tank, 4...Cryogen,
8, 13...Switching valve, 9,12...Switching valve,
10...Purified gas purification pipe, 11...Purified gas cylinder.
Claims (1)
試料を送り込んで固定剤により濃縮して保持さ
せ、キヤリヤガスを濃縮器中に供給することによ
り、この濃縮試料を固定剤から脱離させて分離管
内に送り込み、この分離管により濃縮試料中の各
成分を分離して順次溶出させ、この溶出成分を検
出器によつて検出するガスクロマト分析法であつ
て、キヤリヤガスを濃縮器中に供給する前に、内
部に固定剤が充填され寒剤で冷却されている浄化
ガス精製管を通つて精製された浄化ガスを、寒剤
で冷却されている濃縮器中に供給して目的成分検
出の妨害となる濃縮試料中の妨害成分を固定剤か
ら脱離させて除去することを特徴とするガスクロ
マト分析法。 2 試料を濃縮する濃縮器と、この濃縮器によつ
て濃縮された濃縮試料中の各成分を分離して順次
溶出する分離管と、この分離管から溶出した成分
を検出する検出器を備えたガスクロマト分析装置
において、上記濃縮器を冷却する第一の寒剤槽
と、浄化ガス供給源と、この浄化ガス供給源から
供給された浄化ガスを精製する浄化ガス精製器
と、上記浄化ガス精製器を冷却する第二の寒剤槽
と、この浄化ガス精製器によつて浄化された浄化
ガスを上記濃縮器に供給する供給パイプとこの供
給パイプを開閉する開閉弁とをさらに設けたこと
を特徴とするガスクロマト分析装置。[Scope of Claims] 1. A sample containing trace components is sent into a concentrator filled with a fixative, concentrated and held by the fixative, and a carrier gas is supplied into the concentrator, so that the concentrated sample is filled with a fixative. This is a gas chromatography analysis method in which the carrier gas is desorbed from the carrier gas and sent into a separation tube, and each component in the concentrated sample is separated and sequentially eluted using the separation tube, and the eluted components are detected by a detector. Before supplying the purified gas to the container, the purified gas is passed through the purified gas purification pipe, which is filled with a fixative and cooled with a cryogen, and then fed into the concentrator, which is cooled with a cryogen, to extract the target components. A gas chromatography analysis method characterized by removing interfering components in a concentrated sample that interfere with detection by detaching them from a fixative. 2. Equipped with a concentrator to concentrate the sample, a separation tube to separate and sequentially elute each component in the concentrated sample concentrated by the concentrator, and a detector to detect the components eluted from the separation tube. In the gas chromatography analyzer, a first cryogen tank that cools the concentrator, a purified gas supply source, a purified gas purifier that purifies the purified gas supplied from the purified gas supply source, and the purified gas purifier The method further includes a second cryogen tank for cooling the purified gas, a supply pipe for supplying the purified gas purified by the purified gas purifier to the concentrator, and an on-off valve for opening and closing the supply pipe. Gas chromatography analyzer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11102278A JPS5537945A (en) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | Method and device for gas chromatography |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11102278A JPS5537945A (en) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | Method and device for gas chromatography |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5537945A JPS5537945A (en) | 1980-03-17 |
| JPH029308B2 true JPH029308B2 (en) | 1990-03-01 |
Family
ID=14550398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11102278A Granted JPS5537945A (en) | 1978-09-08 | 1978-09-08 | Method and device for gas chromatography |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5537945A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014059204A (en) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Taiyo Nippon Sanso Corp | Gas sampling device |
| CN104122183B (en) * | 2014-07-04 | 2017-04-26 | 北京精微高博科学技术有限公司 | Micropore analyzer using secondary adsorption technology and application method thereof |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4929189A (en) * | 1972-07-07 | 1974-03-15 | ||
| JPS5751064B2 (en) * | 1973-10-08 | 1982-10-30 |
-
1978
- 1978-09-08 JP JP11102278A patent/JPS5537945A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5537945A (en) | 1980-03-17 |
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