JPH0311099B2 - - Google Patents
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- JPH0311099B2 JPH0311099B2 JP61285469A JP28546986A JPH0311099B2 JP H0311099 B2 JPH0311099 B2 JP H0311099B2 JP 61285469 A JP61285469 A JP 61285469A JP 28546986 A JP28546986 A JP 28546986A JP H0311099 B2 JPH0311099 B2 JP H0311099B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- tray
- wafers
- lock chamber
- processed
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、ウエハのエツチング処理のためにウ
エハを搬送するウエハ搬送装置のトレー収納方法
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for storing trays in a wafer transport device that transports wafers for etching processing.
(従来の技術)
一般に、ウエハのエツチング処理のためにはウ
エハをロードロツク室に入れ、次いで真空室でエ
ツチング処理をし、処理済のウエハをアンロード
室に移し、その後に大気中に取出すようにしてい
る。(Prior art) Generally, for etching processing of a wafer, the wafer is placed in a load lock chamber, then etched in a vacuum chamber, the processed wafer is transferred to an unload chamber, and then taken out into the atmosphere. ing.
このように、ウエハはそのエツチング処理のた
めに一定の手順で搬送する必要があるが、従来は
ウエハ1枚を単独で処理室へ入れているので、処
理室内のエツチング生成物により汚染や電極のダ
メージ等の問題があつた。 In this way, wafers need to be transported according to a certain procedure for the etching process, but conventionally, each wafer is put into the processing chamber individually, so there is a risk of contamination or damage to the electrodes due to etching products in the processing chamber. There were problems such as damage.
そこで本件出願人は、昭和61年11月22日付で処
理前の積層ウエハを一枚ずつ移送するウエハの繰
り出し装置と、この繰り出されたウエハを一旦受
けてトレー上の所定位置に載置するウエハ載置装
置と、ウエハが載置されたトレーをウエハ処理室
へ搬送する第1ウエハ搬送装置と、処理の済んだ
ウエハをトレーとともに搬送する第2ウエハ搬送
装置と、前記第2ウエハ搬送装置によつて送られ
た処理済ウエハをトレーから取上げるウエハ分離
装置と、トレーから取上げた処理済ウエハを積層
載置せしめるウエハ収納装置と、前記ウエハ載置
装置とウエハ分離装置間を連絡し両装置間におい
てトレーを搬送するトレー搬送装置からなるウエ
ハ搬送装置を提案した。 Therefore, as of November 22, 1985, the applicant proposed a wafer feeding device that transfers unprocessed stacked wafers one by one, and a wafer feeding device that once receives the fed wafers and places them on a predetermined position on a tray. a mounting device, a first wafer transport device that transports a tray on which a wafer is mounted to a wafer processing chamber, a second wafer transport device that transports a processed wafer together with the tray, and the second wafer transport device. A wafer separating device picks up the processed wafers sent from the tray, a wafer storage device stacks and stacks the processed wafers picked up from the tray, and a wafer storage device connects the wafer mounting device and the wafer separating device to connect the two devices. proposed a wafer transport device consisting of a tray transport device for transporting trays.
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、かかるウエハ搬送装置においては、
トレーが真空処理室内に持ち込まれるので、真空
処理室に用いられるガスの影響でトレーを大気中
に放置するとトレーに付着したガスの影響でトレ
ーが腐食するという問題があつた。(Problems to be solved by the invention) However, in such a wafer transfer device,
Since the tray is brought into the vacuum processing chamber, there is a problem that if the tray is left in the atmosphere due to the influence of the gas used in the vacuum processing chamber, the tray will corrode due to the influence of the gas adhering to the tray.
そこで本発明は、ウエハをトレー上において加
工を行なう装置において、前記トレーの腐食を有
効に防止できる方法を提供することを目的とす
る。 SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a method for effectively preventing corrosion of the tray in an apparatus in which wafers are processed on a tray.
(問題点を解決するための手段)
本発明は、処理前の積層ウエハを一枚ずつ移送
するウエハの繰り出し装置と、この繰り出された
ウエハを一旦受けてトレー上の所定位置に載置す
るウエハ載置装置と、ウエハが載置されたトレー
をロードロツク室を経てウエハ処理室へ搬送する
第1ウエハ搬送装置と処理の済んだウエハをトレ
ーとともにアンロードロツク室を経て搬送する第
2ウエハ搬送装置と、前記第2ウエハ搬送装置に
よつて送られた処理済ウエハをトレーから取上げ
るウエハ分離装置と、トレーから取上げた処理済
ウエハを積層載置せしめるウエハ収納装置と、前
記ウエハ載置装置とウエハ分離装置間を連絡し両
装置間においてトレーを搬送するトレー搬送装置
とを設け、少なくとも1つの前記トレーをウエハ
載置装置、ロードロツク室、ウエハ処理室、アン
ロードロツク室およびウエハ分離装置間を循環せ
しめ、装置の非使用状態において前記トレーを真
空状態のロードロツク室、ウエハ処理室、アンロ
ードロツク室のいずれかに収納しておくようにし
た。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides a wafer feeding device that transfers stacked wafers one by one before processing, and a wafer feeding device that once receives the fed wafers and places them on a predetermined position on a tray. A loading device, a first wafer transfer device that transfers the tray on which the wafer is placed to the wafer processing chamber via the load lock chamber, and a second wafer transfer device that transfers the processed wafer together with the tray via the unload lock chamber. a wafer separation device that picks up the processed wafers sent by the second wafer transfer device from the tray; a wafer storage device that stacks and stacks the processed wafers picked up from the tray; and the wafer placement device and the wafers. A tray transport device is provided that communicates between the separation devices and transports the tray between both devices, and at least one of the trays is circulated between the wafer loading device, the load lock chamber, the wafer processing chamber, the unload lock chamber, and the wafer separation device. Furthermore, when the apparatus is not in use, the tray is stored in a vacuumed load lock chamber, wafer processing chamber, or unload lock chamber.
(作用)
装置の非状態において、トレーを真空状態のロ
ードロツク室、ウエハ処理室、アンロードロツク
室のいずれかに収納しておくと、トレーに付着し
た反応ガスによるトレーの腐食が有効に防止でき
る。(Function) When the tray is stored in a vacuumed load lock chamber, wafer processing chamber, or unload lock chamber when the apparatus is not in use, corrosion of the tray due to reaction gas adhering to the tray can be effectively prevented. .
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例について
説明する。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1,2図において、大気圧の室R1には処理
前のウエハWを積層せしめ、その一枚を次々に繰
り出すウエハWの繰り出し装置1が設けられ、こ
の繰り出し装置1から送られたウエハWは、隣接
室R2内に設けられたウエハ載置装置2に送られ
る。前記室R2も大気圧であり、前記ウエハ載置
装置2は前記繰り出し装置1から送られたウエハ
Wをトレー上の所定位置に載置するためのもので
ある。トレー上に載置せられたウエハWはウエハ
搬送装置3によつてロードロツク室R3に運ばれ、
更に向きを変えて真空処理室R4に搬送される。 In FIGS. 1 and 2, a chamber R 1 at atmospheric pressure is provided with a wafer W feeding device 1 that stacks unprocessed wafers W and feeds out one wafer W one after another, and the wafers sent from this feeding device 1 are W is sent to the wafer mounting device 2 provided in the adjacent room R2 . The chamber R2 is also at atmospheric pressure, and the wafer mounting device 2 is for mounting the wafer W sent from the feeding device 1 at a predetermined position on the tray. The wafer W placed on the tray is transported to the load lock chamber R3 by the wafer transport device 3 ,
It is further turned around and transported to vacuum processing chamber R4 .
前記処理室R4でエツチング処理されたウエハ
Wは搬送装置4によつてアンロードロツク室R5
内に設けられ処理済ウエハをトレー上から分離す
るウエハ分離装置5に移送され、分離されたウエ
ハWは室R6のウエハ収納装置6に搬送される。
そして、前記ウエハ分離装置5でウエハが除かれ
た後のトレーはトレー搬送装置7によつて前記ウ
エハ載置装置2に移される。 The wafer W that has been etched in the processing chamber R4 is transferred to the unloading lock chamber R5 by the transfer device 4.
The separated wafers W are transferred to a wafer separation device 5 provided in the chamber for separating processed wafers from the tray, and the separated wafers W are transferred to a wafer storage device 6 in a chamber R6 .
Then, the tray from which the wafers have been removed by the wafer separating device 5 is transferred to the wafer mounting device 2 by the tray conveying device 7.
前記繰り出し装置1は、第2図、第3図に示す
ように、左右に間隔を配して設けられキヤリアス
テージ10a,10a上に載置されたウエハキヤ
リア11a,11aを有し、このウエハキヤリア
11aにはウエハWが上下に積層されている。前
記キヤリアステージ10aの中央にはフレーム1
2aが設けられ、このフレーム12aの左右には
2対の搬送ベルト13a,13aが設けられ、こ
の搬送ベルト13aによつてウエハキヤリア11
aの最下位に位置するウエハWが遂次前記ウエハ
載置装置2に送られる。 As shown in FIGS. 2 and 3, the feeding device 1 has wafer carriers 11a and 11a placed on carrier stages 10a and 10a, which are spaced apart from each other on the left and right sides. Wafers W are stacked one above the other in 11a. A frame 1 is provided at the center of the carrier stage 10a.
2a, and two pairs of conveyor belts 13a, 13a are provided on the left and right sides of this frame 12a, and the wafer carrier 11 is conveyed by this conveyor belt 13a.
The wafer W located at the lowest position in a is sequentially sent to the wafer mounting device 2.
前記ウエハ載置装置2はフレーム12aと同一
平面上において左右に開閉したウエハを支持する
一対の支持装置14a,14aを備え、各支持装
置14aは第4図に示すように、水平支持板15
aと、この水平支持板15a内側端面に設けられ
た搬送ベルト16aを備え、前記水平支持板15
aは垂直フレーム17aによつて水平に保持さ
れ、この垂直フレーム17aは駆動スクリユー1
8aを備え、この駆動スクリユー18aを回転さ
せることによつて左右一対の支持装置14aがガ
イド19aに沿つて左右に開閉する。 The wafer mounting device 2 includes a pair of support devices 14a, 14a that support the wafer opened and closed to the left and right on the same plane as the frame 12a, and each support device 14a has a horizontal support plate 15, as shown in FIG.
a, and a conveyor belt 16a provided on the inner end surface of the horizontal support plate 15a.
a is held horizontally by a vertical frame 17a, which is connected to the drive screw 1.
8a, and by rotating this drive screw 18a, the pair of left and right support devices 14a open and close left and right along the guide 19a.
前記支持装置14aの下方には第5図に示すよ
うな形状のウエハ持上装置20aが設けられ、こ
のウエハ支持装置20aの外側にはトレー持上装
置21aが設置されている。これら両装置20
a,21aはコ字状の枠22a,23aと、これ
ら枠上に立設された支持ピン24a,25aと、
これら枠22a,23aを上下動させる駆動シリ
ンダ26a,27aからなる。前記ウエハ持上装
置20aの支持ピン24aは、第6図に示すよう
なトレーTの中心支持部27の貫通穴28,2
8,……28に挿通されるようになつており、前
記トレーTの中心支持部27にはウエハWが載置
される(第7図)。 A wafer lifting device 20a having a shape as shown in FIG. 5 is provided below the supporting device 14a, and a tray lifting device 21a is installed outside of this wafer supporting device 20a. Both these devices 20
a, 21a are U-shaped frames 22a, 23a, support pins 24a, 25a erected on these frames,
It consists of drive cylinders 26a and 27a that move these frames 22a and 23a up and down. The support pins 24a of the wafer lifting device 20a are inserted into the through holes 28, 2 of the center support portion 27 of the tray T as shown in FIG.
8, . . . 28, and a wafer W is placed on the center support portion 27 of the tray T (FIG. 7).
前記支持装置20aとほぼ同一平面においてそ
の近傍にウエハ位置決め装置30aが設けられ、
このウエハ位置決め装置30aは、前記一対の支
持装置20aが開いている状態でウエハWの下に
入り込んでそれを支持し、ウエハWを所定角度回
転せしめてトレーTのオリフラ対応位置に整合せ
しめるように位置決めする。前記ウエハ位置決め
装置30aは水平動する支持棒31aと、これに
支持されモータによつて回転する回転テーブル3
2aと、ウエハWの位置を検知するセンサ33a
を有し、このセンサ33aはウエハのオリフラが
トレーTの中心支持部27に対応する位置に整合
したときに回転テーブル32aの停止せしめる。 A wafer positioning device 30a is provided in the vicinity of the support device 20a on substantially the same plane,
The wafer positioning device 30a is configured to fit under the wafer W and support it when the pair of supporting devices 20a are open, and rotate the wafer W by a predetermined angle to align it with the orientation flat corresponding position of the tray T. Position. The wafer positioning device 30a includes a support rod 31a that moves horizontally, and a rotary table 3 that is supported by the support rod 31a and rotated by a motor.
2a, and a sensor 33a that detects the position of the wafer W.
This sensor 33a causes the rotary table 32a to stop when the orientation flat of the wafer is aligned with the position corresponding to the center support portion 27 of the tray T.
前記ウエハ載置装置2によつてトレーTの所定
位置に載置されたウエハWはトレーTとともに第
8,9図に示すような搬送体3によつてロードロ
ツク室R3に運ばれる。 The wafer W placed on a predetermined position on the tray T by the wafer placement device 2 is transported together with the tray T to the load lock chamber R3 by a carrier 3 as shown in FIGS.
すなわち、ロードロツク室の底面中心には、こ
の底面を貫通する外側回転軸105が回転自在に
取付けられており、この外側回転軸105の内部
には、同心状に中央回転軸106が回転自在に挿
通されている。上記外側回転軸105のロードロ
ツク室R3内上方には、同心状に固定ホイール1
07が固着されており、該下方には、支持板10
8が固着されている。上記中央回転軸106の上
端は、上記外側回転軸105より突出し、この上
端には、第1アーム100が取付けられるととも
に、上記支持板108には、この第1アーム10
0と対称に他の第1アーム100が回転自在に取
付けられている。これら各第1アーム100,1
00の回転中心部分には、互いに噛合う歯車10
9,109が取付けられ、上記中央回転軸106
の回転駆動により各第1アーム100,100が
対称的に回転するようになされている。また、各
第1アーム100,100の先端部には、先端に
歯車110,110が取付けられた第2アーム1
02,102がそれぞれ回転自在に取付けられて
おり、これら各第2アーム102,102の先端
部には、各第2アーム102,102を上記各歯
車110,110が噛合うように回転自在に連結
するウエハの載置板103が設けられている。さ
らに、上記一方の第2アーム102の回転軸下端
には、回転ホイール111が取付けられ、上記固
定ホイール107と回転ホイール111との間に
は、ベルト112が掛けられており、各ホイール
107,111径の比は2:1とされている。ま
た、上記チヤンバ104の下面側には、上記中央
回転軸106を回転させるモータ113および上
記外側回転軸105をベルト114を介して回転
させるモータ115がそれぞれ設けられており、
上記外側回転軸105には、昇降駆動装置として
のボールねじ116が螺合されている。 That is, an outer rotating shaft 105 is rotatably attached to the center of the bottom of the load lock chamber, passing through the bottom, and a central rotating shaft 106 is rotatably inserted concentrically into the outer rotating shaft 105. has been done. A fixed wheel 1 is arranged concentrically above the load lock chamber R3 of the outer rotating shaft 105.
07 is fixed, and a support plate 10 is attached below the support plate 10.
8 is fixed. The upper end of the central rotating shaft 106 protrudes from the outer rotating shaft 105, and the first arm 100 is attached to the upper end, and the first arm 100 is attached to the supporting plate 108.
Another first arm 100 is rotatably attached symmetrically to the first arm 100. Each of these first arms 100,1
At the center of rotation of 00, there are gears 10 that mesh with each other.
9,109 are attached, and the central rotating shaft 106
The first arms 100, 100 are rotated symmetrically by the rotational drive of the first arms 100, 100. Further, a second arm 1 having gears 110, 110 attached to the tip end of each of the first arms 100, 100.
02, 102 are respectively rotatably attached, and each second arm 102, 102 is rotatably connected to the tip of each of these second arms 102, 102 so that the gears 110, 110 mesh with each other. A mounting plate 103 for wafers is provided. Further, a rotating wheel 111 is attached to the lower end of the rotating shaft of one of the second arms 102, and a belt 112 is hung between the fixed wheel 107 and the rotating wheel 111. The diameter ratio is 2:1. Furthermore, a motor 113 for rotating the central rotating shaft 106 and a motor 115 for rotating the outer rotating shaft 105 via a belt 114 are provided on the lower surface side of the chamber 104, respectively.
A ball screw 116 serving as an elevating drive device is screwed onto the outer rotating shaft 105.
本実施例においては、第9図に実線で示すよう
に、載置板103のほぼ中心が外側回転軸5の中
心に位置する状態が待機状態(静止状態)とさ
れ、中心回転軸106をモータ113により回転
駆動すると各第1アーム100,100が対称に
回転するとともに、上記ベルト112により回転
ホイール111が回転し各第2アーム102,1
02が上記第1アーム100,100と反対方向
に回転し、これら各アーム100,102の動作
により載置板103が直線的に移動する。そし
て、装置を回転させる場合は、上記待機状態でモ
ータ115を駆動して所定の角度、外側回転軸1
05を支持板108とともに回転させることによ
り行なわれる。これにより、ウエハおよびトレー
を真空処理室へ搬送することができる。 In this embodiment, as shown by the solid line in FIG. 9, a state in which the center of the mounting plate 103 is approximately located at the center of the outer rotating shaft 5 is considered to be a standby state (stationary state), and the center rotating shaft 106 is connected to the motor. 113, each of the first arms 100, 100 rotates symmetrically, and the belt 112 rotates the rotary wheel 111, so that each of the second arms 102, 1
02 rotates in the opposite direction to the first arms 100, 100, and the movement of these arms 100, 102 causes the mounting plate 103 to move linearly. When rotating the device, drive the motor 115 in the above-mentioned standby state to rotate the outer rotating shaft 1 at a predetermined angle.
05 together with the support plate 108. Thereby, the wafer and tray can be transferred to the vacuum processing chamber.
前記真空のウエハ処理室R4で処理されたウエ
ハはトレーTと一緒に、第10図に示すような搬
送体40aによつてアンロードロツク室R5に運
ばれる。前記搬送体40aはトレー台41aと支
持フレーム42aとローラ43aからなり、前記
ローラ43aはレール44a上を転動する。ま
た、前記搬送装置4によつて移送されたトレーT
と処理済のウエハWはウエハWをトレーTから分
離するウエハ分離装置5によつて処理されるが、
このウエハ分離装置5は前記ウエハ載置装置2と
ほぼ同一構造を有している。すなわち、一対の支
持装置14b,14b、この支持装置14bの内
側に設けられた搬送ベルト16b、ガイド19
b、前記ウエハ載置装置2のウエア持上装置20
a、トレー持上装置21aに対向して設けられた
ウエハ持上装置20b、トレー持上げ装置21
b、更にそれらの駆動シリンダ26b,27bを
備えている。前記ウエハ持上装置20bはコ字状
の枠22bと支持ピン24b,24b,……24
bを有し、前記トレー持上げ装置21bはコ字状
の枠23bと支持ピン25b,25b,……25
bを有している。 The wafers processed in the vacuum wafer processing chamber R4 are transported together with the tray T to the unloading lock chamber R5 by a carrier 40a as shown in FIG. The conveyor 40a includes a tray stand 41a, a support frame 42a, and rollers 43a, and the rollers 43a roll on rails 44a. Also, the tray T transported by the transport device 4
The processed wafer W is processed by a wafer separation device 5 that separates the wafer W from the tray T.
This wafer separating device 5 has almost the same structure as the wafer mounting device 2 described above. That is, a pair of support devices 14b, 14b, a conveyor belt 16b provided inside this support device 14b, and a guide 19.
b. Wafer lifting device 20 of the wafer mounting device 2
a, a wafer lifting device 20b provided opposite the tray lifting device 21a, and a tray lifting device 21
b, and further includes drive cylinders 26b and 27b. The wafer lifting device 20b includes a U-shaped frame 22b and support pins 24b, 24b, . . . 24.
b, and the tray lifting device 21b has a U-shaped frame 23b and support pins 25b, 25b, . . . 25
It has b.
前記両ウエハ支持装置20a,20b間にはト
レー搬送装置7が設けられ、この装置7はレール
50とこの上を移行する搬送体51からなり、こ
の搬送体51は転動ローラ52を有している。 A tray conveying device 7 is provided between the two wafer supporting devices 20a and 20b, and this device 7 consists of a rail 50 and a conveying body 51 that moves on the rail, and this conveying body 51 has rolling rollers 52. There is.
前記ウエハ分離装置5に隣接して設けられたウ
エハ収納装置6は前記繰り出し装置1と同様の構
造を有し、処理済のウエハWが一枚ずつ積層され
る。前記ウエハ収納装置6はキヤリアステージ1
0b,10b,ウエハキヤリア11b,11b、
フレーム12bおよび搬送ベルト13b,13b
を有している。 A wafer storage device 6 provided adjacent to the wafer separating device 5 has a structure similar to that of the feeding device 1, and processed wafers W are stacked one by one. The wafer storage device 6 is a carrier stage 1.
0b, 10b, wafer carrier 11b, 11b,
Frame 12b and conveyor belts 13b, 13b
have.
前記繰り出し装置1上の未処理のウエハWは搬
送ベルト13aによつていウエハWの両端部分を
支持するように間隔が閉じられた一対の支持装置
14a上に送られる。このときには、トレーTは
第3図に示すようにウエハ載置装置2内に位置し
たトレー搬送装置7の搬送体51上にある。次い
で、駆動シリンダ26aがウエハ持上装置20a
を持ち上げる。このとき、その支持ピン24aは
トレーTの貫通穴28を通つて上方に突き抜け支
持装置14a上からウエハWを浮かせる。この状
態において、ウエハ位置決め装置30aがウエハ
Wの下に入り込み、これと同時に前記支持装置1
4aが開放する。次いで、支持ピン24aが若干
下降し、ウエハWが回転テーブル32a上に載
る。回転テーブル32aが回転し、センサ33a
がウエハWのオリフラを検出すると回転テーブル
32aが停止する。 The unprocessed wafer W on the feeding device 1 is sent by a conveyor belt 13a onto a pair of support devices 14a spaced apart from each other so as to support both end portions of the wafer W. At this time, the tray T is on the carrier 51 of the tray carrier 7 located inside the wafer mounting device 2, as shown in FIG. Next, the drive cylinder 26a is connected to the wafer lifting device 20a.
lift up. At this time, the support pins 24a penetrate upward through the through holes 28 of the tray T and float the wafer W above the support device 14a. In this state, the wafer positioning device 30a enters under the wafer W, and at the same time the supporting device 1
4a opens. Next, the support pins 24a are slightly lowered, and the wafer W is placed on the rotary table 32a. The rotary table 32a rotates, and the sensor 33a
When detecting the orientation flat of the wafer W, the rotary table 32a stops.
その後、再び支持ピン24aが上昇しウエハW
を回転テーブル32a上から浮かせて前記ウエハ
位置決め装置30aを待機位置まで戻す。次いで
前記支持ピン24aを大きく下降せしめウエハW
を搬送体51上のトレーTの中心支持部27に整
合した位置に載置する。 After that, the support pin 24a rises again and the wafer W
The wafer positioning device 30a is lifted from above the rotary table 32a, and the wafer positioning device 30a is returned to the standby position. Next, the support pins 24a are lowered greatly to lower the wafer W.
is placed on the carrier 51 at a position aligned with the center support portion 27 of the tray T.
次いで、トレー持上装置21aを上昇せしめて
トレーTを若干搬送体51から浮かせる。この状
態で搬送体51を前記ウエハ分離装置5のウエハ
持上装置20b側に移行せしめ空のトレーを受取
りにいくと同時に搬送装置3の載置板103をト
レーTの下側に移行させ、トレー持上げ装置21
aを下降させてトレーTを載置板103上に載置
せしめる。こうして、ウエハWはトレーT上に載
置されたまゝロードロツク室R3に移され、更に
処理室R4に搬送されて真空処理される。 Next, the tray lifting device 21a is raised to lift the tray T slightly above the conveyor 51. In this state, the carrier 51 is moved to the wafer lifting device 20b side of the wafer separating device 5 to receive an empty tray, and at the same time the mounting plate 103 of the carrier 3 is moved to the lower side of the tray T. Lifting device 21
a is lowered to place the tray T on the placing plate 103. In this way, the wafer W placed on the tray T is transferred to the load lock chamber R3 , and further transferred to the processing chamber R4 , where it is subjected to vacuum processing.
真空処理されたウエハWは前記搬送体40a上
に移され、この搬送体40aはウエハ分離装置内
に入る。次いで、トレー持上装置21b上を上昇
させトレーTを持ち上げ、この状態で搬送体40
bを元の位置に戻す。次いで、ウエハ持上装置2
0bを上昇させてウエハWを支持装置14b上方
まで持ち上げる。このとき、支持装置14bはウ
エハWが通り抜けることができるように開いてお
り、ウエハWが上方に通り抜けると支持装置14
bの間隔が狭まり、ウエハ持上装置20bが下降
するとウエハWの両端部分がウエハ支持装置14
bに載置される。前記ウエハ持上装置20bの下
降が終了すると前記搬送体51がウエハ持上装置
20b内に入つてくる。次いで、トレー持上装置
21bが下降し空のトレーTが搬送体51上に載
置され、空のトレーTは前記ウエハ搬送装置2内
に送られる。処理済のウエハWは搬送ベルト16
bの駆動によりウエハ収納装置6上へ送られる。
この動作が次々に繰り返され、トレーTは第2図
の矢印Aのように移動する。 The vacuum-processed wafer W is transferred onto the carrier 40a, and this carrier 40a enters the wafer separation apparatus. Next, the tray lifting device 21b is raised to lift the tray T, and in this state, the transport body 40
Return b to its original position. Next, the wafer lifting device 2
0b is raised to lift the wafer W above the support device 14b. At this time, the support device 14b is open so that the wafer W can pass through, and when the wafer W passes upward, the support device 14b
When the distance b becomes narrower and the wafer lifting device 20b descends, both end portions of the wafer W are lifted up by the wafer support device 14.
It is placed on b. When the lowering of the wafer lifting device 20b is completed, the carrier 51 enters into the wafer lifting device 20b. Next, the tray lifting device 21b is lowered to place the empty tray T on the carrier 51, and the empty tray T is sent into the wafer carrier 2. The processed wafer W is transferred to the conveyor belt 16
The wafer is sent onto the wafer storage device 6 by the drive of the wafer b.
This operation is repeated one after another, and the tray T moves as indicated by arrow A in FIG.
前記トレーTは通常3個使用され、このトレー
Tは順次各室を循環する。そして、装置が未使用
のときには、各トレーTをウエハ搬送装置3,4
およびトレー搬送装置7を作動せしめて、真空状
態のロードロツク室R3、ウエハ処理室R4、アン
ロードロツク室R5に収納せしめておく。更に、
装置の操作を開始するときには空のトレーTを順
次真空状態の室から出してきてその上にウエハを
載置する。 Three trays T are normally used, and these trays T are circulated through each chamber in sequence. When the device is not in use, each tray T is transferred to the wafer transfer devices 3 and 4.
Then, the tray transfer device 7 is operated to store the trays in the load lock chamber R 3 , wafer processing chamber R 4 , and unload lock chamber R 5 in a vacuum state. Furthermore,
When starting the operation of the apparatus, empty trays T are sequentially taken out of the vacuum chamber and wafers are placed on them.
本発明は、以上のように構成したので、トレー
Tの反応ガスの影響による腐食を有効に防止でき
るという効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it is possible to effectively prevent corrosion of the tray T due to the influence of the reaction gas.
第1図は本装置の概略全体構成図、第2図は本
装置の概略全体平面構成図、第3図は同側面図、
第4図はウエハ支持装置の斜視図、第5図はウエ
ハ持上装置の斜視図、第6図はトレーの平面図、
第7図はトレーの側面図、第8図はウエハ搬送装
置の正面図、第9図は同平面図、第10図はウエ
ハ搬送装置の斜視図である。
1……ウエハの繰り出し装置、2……ウエハ載
置装置、3,4……ウエハ搬送装置、5……ウエ
ハ分離装置、6……ウエハ収納装置、7……トレ
ー搬送装置、20a,20b……ウエハ持上装
置、21a,21b……トレー持上装置。
FIG. 1 is a schematic overall configuration diagram of this device, FIG. 2 is a schematic overall plan configuration diagram of this device, and FIG. 3 is a side view of the same.
FIG. 4 is a perspective view of the wafer support device, FIG. 5 is a perspective view of the wafer lifting device, and FIG. 6 is a plan view of the tray.
7 is a side view of the tray, FIG. 8 is a front view of the wafer transfer device, FIG. 9 is a plan view thereof, and FIG. 10 is a perspective view of the wafer transfer device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Wafer feeding device, 2...Wafer mounting device, 3, 4...Wafer transfer device, 5...Wafer separation device, 6...Wafer storage device, 7...Tray transfer device, 20a, 20b... ...Wafer lifting device, 21a, 21b...Tray lifting device.
Claims (1)
ハの繰り出し装置と、この繰り出されたウエハを
一旦受けてトレー上の所定位置に載置するウエハ
載置装置と、ウエハが載置されたトレーをロード
ロツク室を経てウエハ処理室へ搬送する第1ウエ
ハ搬送装置と処理の済んだウエハをトレーととも
にアンロードロツク室を経て搬送する第2ウエハ
搬送装置と前記第2ウエハ搬送装置によつて送ら
れた処理済ウエハをトレーから取上げるウエハ分
離装置と、トレーから取上げた処理済ウエハを積
層載置せしめるウエハ収納装置と、前記ウエハ載
置装置とウエハ分離装置間を連絡し両装置間にお
いてトレーを搬送するトレー搬送装置とを設け、
少なくとも1つの前記トレーをウエハ載置装置、
ロードロツク室、ウエハ処理室、アンロードロツ
ク室およびウエハ分離装置間を循環せしめ、装置
の非使用状態において前記トレーを真空状態のロ
ードロツク室、ウエハ処理室、アンロードロツク
室のいずれかに収納しておくことを特徴とするウ
エハ搬送装置のトレー収納方法。1. A wafer feeding device that transfers the stacked wafers one by one before processing, a wafer mounting device that receives the fed wafers and places them on a predetermined position on the tray, and a tray on which the wafers are placed. A first wafer transport device transports the processed wafer to the wafer processing chamber via the load lock chamber, a second wafer transport device transports the processed wafer together with the tray through the unload lock chamber, and the wafer is transported by the second wafer transport device. A wafer separation device that picks up processed wafers from the tray, a wafer storage device that stacks the processed wafers picked up from the tray, and a wafer storage device that communicates between the wafer placement device and the wafer separation device and transports the tray between both devices. A tray conveying device is provided,
at least one of the trays is a wafer mounting device;
The tray is circulated between a load lock chamber, a wafer processing chamber, an unload lock chamber, and a wafer separation device, and when the device is not in use, the tray is stored in one of the load lock chamber, wafer processing chamber, and unload lock chamber in a vacuum state. A tray storage method for a wafer transfer device characterized by the following:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61285469A JPS63138749A (en) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | Tray housing in wafer conveyor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61285469A JPS63138749A (en) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | Tray housing in wafer conveyor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63138749A JPS63138749A (en) | 1988-06-10 |
| JPH0311099B2 true JPH0311099B2 (en) | 1991-02-15 |
Family
ID=17691921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61285469A Granted JPS63138749A (en) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | Tray housing in wafer conveyor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63138749A (en) |
-
1986
- 1986-11-29 JP JP61285469A patent/JPS63138749A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63138749A (en) | 1988-06-10 |
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