JPH0311643B2 - - Google Patents
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- JPH0311643B2 JPH0311643B2 JP59193295A JP19329584A JPH0311643B2 JP H0311643 B2 JPH0311643 B2 JP H0311643B2 JP 59193295 A JP59193295 A JP 59193295A JP 19329584 A JP19329584 A JP 19329584A JP H0311643 B2 JPH0311643 B2 JP H0311643B2
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は例えばトンネル堀進装置のレーザー
応用式掘進方向基準器に適用して好的な中心検出
装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a center detection device suitable for application to, for example, a laser-applied excavation direction reference device of a tunnel excavation device.
トンネル堀進機の進行方向に制御するために、
堀進始点にレーザを設け、堀進機部分に受光面を
設け、レーザ光ビームが受光面のどの位置を照射
しているかを知ることにより堀進機が所期の方向
に進行できるように制御することが行われてい
る。
To control the direction of movement of the tunnel excavation machine,
A laser is installed at the starting point of the digging machine, a light receiving surface is provided in the digging machine part, and by knowing which position on the light receiving surface is irradiated by the laser beam, the machine is controlled so that it can move in the desired direction. things are being done.
この場合、このビームを受光する側には第5図
に示すようにX方向とこれに直交するY方向にシ
リンドリカルレンズ1及び2をそれぞれ配してレ
ーザーピームの照射像をY方向及びX方向に配さ
れたCCDリニアイメージセンサ3,4上に細く
結像させ、これらイメージセンサ3,4からその
結像位置を電気信号の形で得られるようにし、こ
れをデジタル表示させ、あるいはアナログ信号に
変換して受光面上の照射像位置を電気的に把握し
ている。なお、同図で5X及び5Yはビームの
像、6X及び6Yは絵素としての光検出素子Sが
それぞれY方向及びX方向に一列に並ぶセンサー
の受光面である。 In this case, cylindrical lenses 1 and 2 are arranged in the X direction and in the Y direction perpendicular to this, respectively, as shown in FIG. A thin image is formed on the arranged CCD linear image sensors 3 and 4, and the image formation position is obtained from these image sensors 3 and 4 in the form of an electric signal, which is displayed digitally or converted into an analog signal. The position of the irradiated image on the light-receiving surface is electrically determined. In the figure, 5X and 5Y are beam images, and 6X and 6Y are light-receiving surfaces of a sensor in which photodetecting elements S as picture elements are arranged in a row in the Y direction and the X direction, respectively.
ところが、受光面上の照射像は理想的には線と
なるが、実際には、光源と受光面の距離が長くな
ると第6図Aに示すように像5X及び5Yは太い
幅を有するようなものとなり、中心を確実に知る
ことが困難になるほか、同図Bに示すように像5
X及び5Yが受光面6X及び6Yの中心からはず
れて、受光面6X及び6Yの端部が半月状に照射
されたような場合にあつては中心の検出はさらに
難しくなる。
However, although the irradiated image on the light receiving surface ideally becomes a line, in reality, as the distance between the light source and the light receiving surface becomes long, the images 5X and 5Y have a wide width as shown in FIG. 6A. In addition to making it difficult to know the center with certainty, the image 5
If X and 5Y are off the center of the light-receiving surfaces 6X and 6Y and the ends of the light-receiving surfaces 6X and 6Y are irradiated in a half-moon shape, it becomes even more difficult to detect the center.
この発明の目的は、レーザービームが受光面に
おいてかなり太い幅の像をなした場合にあつても
そのビーム中心を的確に演算検出し、かつビーム
中心が受光面の外にはみ出し、像の一部が受光面
にかかつているような場合にあつてもそのビーム
の中心を的確に検出することにより受光面積を小
さく設計させうるとともに、トンネルが彎曲した
工事を施工するときに受光面から中心がはずれる
状態でも、正確な座標を把握できるようにして、
彎曲工事にあつても自動制御用信号が得られるこ
とを目的とする。 An object of the present invention is to accurately calculate and detect the beam center even when a laser beam forms a fairly wide image on the light receiving surface, and to prevent the beam center from protruding outside the light receiving surface and forming a part of the image. By accurately detecting the center of the beam, even when the beam overlaps the light-receiving surface, the light-receiving area can be designed to be smaller, and the center of the beam will be removed from the light-receiving surface when constructing a curved tunnel. Make it possible to know the exact coordinates even in the state of
The purpose is to be able to obtain automatic control signals even during curved construction.
この発明においては、イメージセンサの一列に
配列された光検出素子に対する順次アドレスが設
定されるアドレスカウンタ12と、このアドレス
カウンタ12の計数内容を上記イメージセンサの
一列に配列された光検出素子から読み出された出
力の立ち上がり時点でラツチする第1のラツチ手
段17と、立ち下がり時点でラツチする第2のラ
ツチ手段18とを設け、これら第1及び第2のラ
ツチ手段17,18のラツチ出力から入射光ビー
ムの中心位置を求める。
In the present invention, there is provided an address counter 12 in which addresses are sequentially set for the photodetecting elements arranged in one row of the image sensor, and the count contents of this address counter 12 are read from the photodetecting elements arranged in one row of the image sensor. A first latch means 17 that latches when the output rises and a second latch means 18 that latches when the output falls are provided. Find the center position of the incident light beam.
2個のラツチ手段17,18のラツチ出力の加
算値は入射光ビームの中心位置に相当するイメー
ジセンサ上のアドレス値の2倍の値であり、これ
より中心位置が求められる。また2個のラツチ手
段17,18のラツチ出力の差の値はビーム直径
に相当するので、入射光ビームがイメージセンサ
の受光面よりはみ出して半月状に像を結ぶとき、
その像の端部のアドレス値に上記ビーム直径から
求めた半径の値を加減算することによつて入射ビ
ーム光の中心位置を正確に求めることができる。
The sum of the latch outputs of the two latch means 17 and 18 is twice the address value on the image sensor corresponding to the center position of the incident light beam, and the center position can be determined from this value. Furthermore, since the value of the difference between the latch outputs of the two latch means 17 and 18 corresponds to the beam diameter, when the incident light beam protrudes from the light receiving surface of the image sensor and forms a half-moon image,
By adding or subtracting the radius value determined from the beam diameter to the address value of the edge of the image, the center position of the incident beam can be accurately determined.
第1図はこの発明装置の一実施例を示し、図は
説明の簡単のため、X方向とY方向の両方向のシ
リンドリカルレンズに対するもののうちX方向の
もののみを示すが、実際にはX,Y両方向につい
て同様の処理回路がそれぞれ必要になる。
FIG. 1 shows an embodiment of the inventive device, and for the sake of simplicity, the figure shows only the X-direction of the cylindrical lenses in both the X and Y directions. Similar processing circuitry is required for both directions.
同図において、10はCCDイメージセンサで、
この例では256個の絵素としての光検出素子部S
がX方向に一列に配列されたリニアイメージセン
サである。 In the same figure, 10 is a CCD image sensor,
In this example, the photodetector element S as 256 picture elements
are linear image sensors arranged in a line in the X direction.
また、11はクロツク発生回路で、これよりの
クロツクによつてイメージセンサ10の各光検出
素子部Sより順次ビデオ出力が読み出されるとと
もに、このクロツク発生回路11からのクロツク
がアドレスカウンタ12に供給されてX方向の一
列の光検出素子部のアドレスが「0」,「1」,
「2」……と順次指定される。この場合、このカ
ウンタ12は8ビツトカウンタとされ、第2図に
示すようにイメージセンサ10の受光面10aの
最も左側の光検出素子部Sよりビデオ出力が読み
出されるときのアドレスが「0」で、以下順次右
側に移るに従つてアドレスが「1」ずつ増え、最
も右側の光検出素子部Sではアドレスが「255」
となるようになつている。 Reference numeral 11 denotes a clock generation circuit, and the clock from this circuit sequentially reads the video output from each photodetection element section S of the image sensor 10, and the clock from this clock generation circuit 11 is supplied to the address counter 12. The addresses of the photodetector elements in one row in the X direction are "0", "1",
"2"... are sequentially designated. In this case, the counter 12 is an 8-bit counter, and as shown in FIG. 2, the address when the video output is read out from the leftmost photodetecting element section S of the light receiving surface 10a of the image sensor 10 is "0". , the address increases by "1" as it moves to the right side, and the address is "255" in the rightmost photodetecting element section S.
It is becoming like this.
今、X方向のシリンドリカルレンズを介して受
光面10aに入射した光の像が第2図で6で示す
ようになつているとすると、イメージセンサ10
から読み出されたビデオ信号は波形整形回路13
にて整形されてこれより第3図Aに示すような波
形整形出力SAが得られ、これが演算回路14に
供給される。 Now, assuming that the image of the light incident on the light receiving surface 10a through the cylindrical lens in the X direction is as shown by 6 in FIG. 2, the image sensor 10
The video signal read out from the waveform shaping circuit 13
A waveform-shaped output SA as shown in FIG.
波形整形出力SAは、また、立ち上がり検出回
路15及び立ち下がり検出回路16に供給されて
それぞれ出力SAの立ち上がり及び立ち下がり時
点で検出パルスP1,P2(第3図B,C)が得られ
る。そして、これら検出パルスP1及びP2によつ
てラツチ回路17及び18においてアドレスカウ
ンタ12のカウント値がラツチされる。ラツチ回
路17にラツチされるのは、信号SAの立ち上が
り時点のアドレスカウンタ12のカウント値すな
わちアドレス値Amであり、ラツチ回路18にラ
ツチされるのは信号SAの立ち下がり時点のアド
レスカウンタ12のカウント値すなわちアドレス
値Bmである。 The waveform-shaped output SA is also supplied to a rise detection circuit 15 and a fall detection circuit 16, and detection pulses P 1 and P 2 (FIG. 3 B and C) are obtained at the rise and fall points of the output SA, respectively. . The count value of the address counter 12 is latched in the latch circuits 17 and 18 by these detection pulses P 1 and P 2 . What is latched by the latch circuit 17 is the count value of the address counter 12 at the time of the rise of the signal SA, that is, the address value Am, and what is latched by the latch circuit 18 is the count value of the address counter 12 at the time of the fall of the signal SA. That is, the address value Bm.
そして、これらラツチ回路17及び18の出力
Am,Bmが演算回路14に供給されるとともに
立ち上がり検出回路15の出力P1、立ち下がり
検出回路16の出力P2、さらにアドレスカウン
タ12カウント値出力も演算回路14に供給さ
れ、次のような手順に従つて入射光ビームのX方
向の中心位置が求められる。 The outputs of these latch circuits 17 and 18
Am and Bm are supplied to the arithmetic circuit 14, and the output P 1 of the rise detection circuit 15, the output P 2 of the fall detection circuit 16, and the count value output of the address counter 12 are also supplied to the arithmetic circuit 14, and the following processing is performed. The center position of the incident light beam in the X direction is determined according to the procedure.
第4図はそのフローチヤートで、先ず、ビーム
像の半径が求められたとき「1」となるフラグF
がクリアされる(ステツプ〔101〕)。次に、アド
レスカウンタ12をクリアしてアドレス値を
「0」にし(ステツプ〔102〕)、CCDイメージセ
ンサ10からのビデオ出力の読み出した開始され
る。そして、波形整形回路13の出力SAからア
ドレス「0」のところで出力SAがハイレベルに
なつているかどうか判別される(ステツプ
〔103〕)。これはビームの像が第5図Bに示すよう
に受光面5よりも左側にずれてしまつていないか
どうか判別するものである。このステツプ〔103〕
の判別において、出力SAがハイレベルになつて
いなければクロツクによりイメージセンサ10よ
り順次読み出しがなされるとともにアドレスカウ
ンタ12のカウント値が歩進する。そして、出力
SAがハイレベルに立ち上がることなくアドレス
値が「255」以上に達したときは、入射光ビーム
の像が受光面に結像していないことになるので、
それが判別され(ステツプ〔104〕)、例えばエラ
ー表示される。アドレスカウント値が「255」に
到達する前に波形整形出力SAがハイレベルに立
ち上がるときはそれがパルスP1により判別され
(ステツプ〔105〕)、ラツチ回路17にアドレス値
Amがラツチされ、これが演算回路14に取り込
まれる(ステツプ〔106〕)。 Figure 4 is a flowchart of this process. First, the flag F, which becomes "1" when the radius of the beam image is determined, is
is cleared (step [101]). Next, the address counter 12 is cleared to set the address value to "0" (step [102]), and reading of the video output from the CCD image sensor 10 is started. Then, it is determined from the output SA of the waveform shaping circuit 13 whether the output SA is at a high level at address "0" (step [103]). This is to determine whether the beam image has shifted to the left of the light receiving surface 5 as shown in FIG. 5B. This step [103]
In this determination, if the output SA is not at a high level, the clock sequentially reads data from the image sensor 10 and the count value of the address counter 12 increments. And the output
When the address value reaches "255" or higher without SA rising to a high level, it means that the image of the incident light beam is not formed on the light receiving surface.
It is determined (step [104]) and an error message is displayed, for example. When the waveform shaping output SA rises to a high level before the address count value reaches "255", this is determined by the pulse P1 (step [105]), and the address value is set in the latch circuit 17.
Am is latched and taken into the arithmetic circuit 14 (step [106]).
さらにアドレスカウント値がAmより歩進し、
「255」に到達する前に波形整形出力SAがローレ
ベルに立ち下がつたことが判別されると(ステツ
プ〔107〕,〔108〕)、その立ち下がり時のアドレス
カウント値BmがパルスP2によりラツチされ、演
算回路14に取り込まれる。このようにアドレス
値Am,Bmがともに得られるのは出力SAが第3
図Aに示すようになるときで、受光面10a内に
ビームの像がちようど結ぶ状態である。 Furthermore, the address count value advances from Am,
If it is determined that the waveform shaping output SA falls to a low level before reaching "255" (steps [107], [108]), the address count value Bm at the time of the fall becomes the pulse P2. The signal is latched and taken into the arithmetic circuit 14. In this way, both address values Am and Bm can be obtained because the output SA is the third
This is the state shown in FIG. A, in which the beam image is focused on the light-receiving surface 10a.
このとき、演算回路14では両アドレス値
Am,Bmの差としてビームのX方向の径Φが求
められ(ステツプ〔110〕)、この径Φの値がメモ
リーにストアされる(ステツプ〔111〕)。そして、
フラグFをセツトしてF=「1」とし(ステツプ
〔112〕)、X方向のビーーム像の中心の値がBm−
Φ/2として得られる(ステツプ〔113〕)。 At this time, the arithmetic circuit 14 uses both address values.
The diameter Φ of the beam in the X direction is determined as the difference between Am and Bm (step [110]), and the value of this diameter Φ is stored in the memory (step [111]). and,
Set the flag F to F = "1" (step [112]), and set the value of the center of the beam image in the X direction to Bm-
It is obtained as Φ/2 (step [113]).
なお、この場合、中心の値は(Am+Bm)/
2なる演算によつても求めることができる。 In this case, the center value is (Am+Bm)/
It can also be determined by the following calculation.
波形整形出力SAの立ち上がりは検出されたが、
立ち下がりが検出されずにアドレスカウント値が
「255」に達するときは、入射光ビームの像は受光
面10aの右側よりはずれており、波形整形出力
SAは第3図Dに示すようになつている。このよ
うになつていることが判別されたときは(ステツ
プ〔107〕)、フラグFが「1」になつているかど
うか、つまりビーム径Φがわかつているかどうか
判別され(ステツプ〔201〕)、径Φがわかつてい
るときは、中心の値は、Am+Φ/2として、ビー
ムの像6が受光面10aからはみ出しているにも
かかわらず、正しい中心の位置の値が求められる
(ステツプ〔202〕)。 Although the rising edge of the waveform shaping output SA was detected,
When the address count value reaches "255" without detecting a falling edge, the image of the incident light beam is off the right side of the light receiving surface 10a, and the waveform shaping output is
The SA is as shown in Figure 3D. When it is determined that this is the case (step [107]), it is determined whether the flag F is set to "1", that is, whether the beam diameter Φ is known (step [201]). When the diameter Φ is known, the value of the center is Am + Φ/2, and even though the beam image 6 protrudes from the light receiving surface 10a, the correct value of the center position can be found (step [202] ).
ビーム径Φが不知のときは、この例では中心の
位置の値として立ち下がり位置が丁度アドレス値
「255」であるときの中心値Am+255−Am/2なる
値が求められる(ステツプ〔203〕)。 When the beam diameter Φ is unknown, in this example, the center value Am + 255 - Am / 2 when the falling position is exactly at the address value "255" is calculated as the value of the center position (step [203]) .
次に、ステツプ〔103〕においてアドレス値
「0」のときから波形整形出力SAがハイレベルと
なつていると判別されるときは、アドレスカウン
ト値が「255」に到達するまでに波形整形出力SA
の立ち下がりが検出され(ステツプ〔301〕,
〔302〕)、立ち下がりが検出されたときは、すなわ
ち、ビームの像が受光面10aの左端よりさらに
左にはずれ、波形整形出力SAが第3図Eに示す
ようになるときは、その立ち下がり時点のアドレ
スカウント値Bmがラツチ回路18にラツチされ
(ステツプ〔303〕)、それが演算回路14に取り込
まれる。そして、フラグFが「1」になつている
かどうか、つまりビーム径Φが既知であるかどう
か判別され(ステツプ〔304〕)、既知であれば中
心の位置がBm−Φ/2として、ビームの像6が受
光面10aからはみ出しているにもかかわらず、
正しい中心の位置の値が求められる(ステツプ
〔305〕)。一方、ビーム径Φが不知であるときは、
この例では中心の位置の出力として立ち上がり位
置がアドレスカウント値「0」であるときの中心
値Bm/2なる値が求められる(ステツプ
〔306〕)。 Next, when it is determined in step [103] that the waveform shaping output SA has been at a high level since the address value "0", the waveform shaping output SA is
The falling edge of is detected (step [301],
[302]), when a falling edge is detected, that is, when the beam image shifts further to the left than the left end of the light-receiving surface 10a and the waveform shaping output SA becomes as shown in FIG. The address count value Bm at the time of falling is latched in the latch circuit 18 (step [303]), and taken into the arithmetic circuit 14. Then, it is determined whether the flag F is set to "1", that is, whether the beam diameter Φ is known (step [304]), and if it is known, the center position is set as Bm - Φ/2, and the beam diameter is Although the image 6 protrudes from the light-receiving surface 10a,
The value of the correct center position is determined (step [305]). On the other hand, when the beam diameter Φ is unknown,
In this example, the center value Bm/2 when the rising position is the address count value "0" is obtained as the center position output (step [306]).
また、ステツプ〔103〕においてアドレス値
「0」のときから波形整形出力SAがハイレベルと
なつていると判別され、しかもアドレスカウント
値が「255」に到達するまでに波形整形出力SAが
立ち下がらないときは、すなわち、第3図Fに示
すように入射ビームが非常に太い状態で受光面1
0aから全くはみ出してしまうときは、中心値と
しては受光面の中心の値「128」を便宜上出力す
る(ステツプ〔307〕)。 Furthermore, in step [103], it is determined that the waveform shaping output SA has been at a high level since the address value "0", and furthermore, the waveform shaping output SA has not fallen by the time the address count value reaches "255". In other words, when the incident beam is very thick as shown in Fig. 3F, the light receiving surface 1 is
If it completely exceeds 0a, the value "128" at the center of the light-receiving surface is output as the center value for convenience (step [307]).
こうして得られたビームの中心の位置の値は
D/Aコンバータ19によつてアナログ電圧に変
換され(ステツプ〔100〕)、例えば堀進機の進行
方向の制御用の電圧とされる。そして、このD/
Aコンバータ19によるステツプ〔100〕により
出力電圧が取り出されると、ステツプ〔102〕に
房り、エンド指令が入力されるまで上述した入射
ビームの中心位置の検出のステツプが所定周期で
くり返される。 The value of the position of the beam center thus obtained is converted into an analog voltage by the D/A converter 19 (step [100]), and is used, for example, as a voltage for controlling the advancing direction of the digging machine. And this D/
When the output voltage is taken out in step [100] by the A converter 19, the process moves to step [102], and the above-described steps of detecting the center position of the incident beam are repeated at a predetermined period until an end command is input.
したがつて、ビームの中心位置の検出動作中
に、ビームの受光面上の像がはみ出してしまつて
も、ビームの径がメモリに記憶されているので、
正しい中心位置を常に求めることができる。 Therefore, even if the image on the receiving surface of the beam protrudes during the operation of detecting the center position of the beam, the diameter of the beam is stored in the memory.
The correct center position can always be found.
なお、第1図のブロツク図は原理的なハードウ
エアの構成を示すものであるが、実際にはマイク
ロコンピユータを用いてこの発明は実現でき、そ
の場合には、CCDイメージセンサ10、波形整
形回路13及びD/Aコンバータ19がマイクロ
コンピユータに対して接続されるのみで、他の回
路はマイクロコンピユータにおいて実現できるも
のである。 Although the block diagram in Figure 1 shows the basic hardware configuration, in reality this invention can be realized using a microcomputer, in which case the CCD image sensor 10, waveform shaping circuit 13 and the D/A converter 19 are only connected to the microcomputer, and other circuits can be realized in the microcomputer.
なお、CCDリニアイメージセンサでなく、
CCDエリアイメージセンサを用いてもほぼ同様
にして中心検出を行うことができる。 In addition, it is not a CCD linear image sensor, but
Center detection can be performed in almost the same way using a CCD area image sensor.
この発明によれば入射光ビームの点でなく、あ
る大きさを持つたとしてもその中心の位置を正し
く知ることができる。
According to this invention, it is possible to accurately know the position of the center of the incident light beam, even if it has a certain size, rather than the point.
そして、特に、挟小なる直径のトンネルの堀進
装置の堀進方向基準器に適用した場合、受光面か
ら入射光ビームの像がはみ出したときにもその中
心位置を正確に知ることができる。したがつて、
受光面が小さくても、大きな受光面を有している
のと同様の効果が得られる。 In particular, when applied to a digging direction reference device for a tunnel digging device with a small diameter, the center position of the incident light beam can be accurately determined even when the image of the incident light beam protrudes from the light receiving surface. Therefore,
Even if the light receiving surface is small, the same effect as having a large light receiving surface can be obtained.
また、トンネル堀進が彎曲堀進である場合に、
入射光ビームが受光面内を移動しても中心検出可
能領域が広いため、堀進方向の自動制御用の信号
が、大きい彎曲範囲まで直線性を保ちながら得ら
れるという効果がある。 Also, if the tunnel Hori Susumu is the Curved Hori Susumu,
Even if the incident light beam moves within the light-receiving surface, the area in which the center can be detected is wide, so there is an effect that a signal for automatic control of the digging direction can be obtained while maintaining linearity over a large curved range.
第1図はこの発明装置の一例をブロツク図、第
2図及び第3図はその説明のための図、第4図は
この発明の要部のフローチヤートを示す図、第5
図はレーザビームの受光部の光学系の一例を示す
図、第6図は受光面上のビーム像を説明するため
の図である。
10はCCDイメージセンサ、12はアドレス
カウンタ、13は波形整形回路、15は立ち上が
り検出回路、16は立ち下がり検出回路、17及
び18はラツチ回路である。
FIG. 1 is a block diagram of an example of the device of this invention, FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams, FIG. 4 is a flowchart of the main part of this invention, and FIG.
The figure shows an example of the optical system of the laser beam light receiving section, and FIG. 6 is a diagram for explaining the beam image on the light receiving surface. 10 is a CCD image sensor, 12 is an address counter, 13 is a waveform shaping circuit, 15 is a rising detection circuit, 16 is a falling detection circuit, and 17 and 18 are latch circuits.
Claims (1)
子に対する順次アドレスが設定されるアドレスカ
ウンタと、このアドレスカウンタの計数内容を上
記イメージセンサの一列に配列された光検出素子
から読み出された出力の立ち上がり時点でラツチ
する第1のラツチ手段と、立ち下がり時点でラツ
チする第2のラツチ手段とを有し、上記第1及び
第2のラツチ手段のラツチ内容から上記イメージ
センサに入射する光ビームの中心位置を求めるよ
うにした中心検出装置において、上記第1及び第
2のラツチ手段のラツチ内容から上記入射光ビー
ムの径を求め、これを記憶するメモリーが設けら
れ、上記入射ビームが上記イメージセンサの受光
面からはみ出したときは、上記第1のラツチ手段
又は第2のラツチ手段の内容と上記メモリーから
のビーム径とから入射光ビームの中心位置を求め
るようにした中心検出装置。1. An address counter in which addresses are sequentially set for the photodetecting elements arranged in a line of the image sensor, and the rising edge of the output read out from the photodetecting elements arranged in the line of the image sensor to read out the count contents of this address counter. the center of the light beam incident on the image sensor from the latched contents of the first and second latching means; In the center detecting device for determining the position, a memory is provided for determining the diameter of the incident light beam from the latched contents of the first and second latching means and storing the diameter, and the incident beam is arranged to detect the diameter of the incident light beam on the image sensor. A center detection device for determining the center position of the incident light beam when the incident light beam protrudes from the light receiving surface from the contents of the first latching means or the second latching means and the beam diameter from the memory.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19329584A JPS6171303A (en) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | Center detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19329584A JPS6171303A (en) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | Center detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6171303A JPS6171303A (en) | 1986-04-12 |
| JPH0311643B2 true JPH0311643B2 (en) | 1991-02-18 |
Family
ID=16305536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19329584A Granted JPS6171303A (en) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | Center detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6171303A (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS557677A (en) * | 1978-07-04 | 1980-01-19 | Japan Aviation Electronics Ind Ltd | Detection method of image sensor photo detection position |
-
1984
- 1984-09-14 JP JP19329584A patent/JPS6171303A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6171303A (en) | 1986-04-12 |
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