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JPH0312685B2 - - Google Patents
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JPH0312685B2 - - Google Patents

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JPH0312685B2
JPH0312685B2 JP8388984A JP8388984A JPH0312685B2 JP H0312685 B2 JPH0312685 B2 JP H0312685B2 JP 8388984 A JP8388984 A JP 8388984A JP 8388984 A JP8388984 A JP 8388984A JP H0312685 B2 JPH0312685 B2 JP H0312685B2
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slit
defect
detection
line
defect inspection
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Yoshitada Sekine
Fumiki Yokota
Wataru Kubota
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    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
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    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は、例えば自動車の塗装面や鏡面に近
い機械加工物などの被検査物の表面の欠陥を検査
する表面欠陥検査装置におけるセンサ配置構造に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a sensor arrangement structure in a surface defect inspection apparatus for inspecting defects on the surface of an object to be inspected, such as a painted surface of an automobile or a machined object close to a mirror surface.

従来技術 上記のような被検査物の表面における傷、突
起、ブツ、汚れ等の欠陥の検査は、非能率で個人
差のある作業員による目視検査から例えば指向性
の強いレーザ光を利用した表面欠陥検査装置によ
る自動検査に移行する動向にある。
Prior Art Inspection of defects such as scratches, protrusions, lumps, dirt, etc. on the surface of an object to be inspected as described above can be carried out from visual inspection by inefficient and individual workers to surface inspection using a highly directional laser beam, for example. There is a trend toward automatic inspection using defect inspection equipment.

このレーザ光を利用した従来の表面欠陥検査装
置の検査原理の一例を第1図を参照して説明す
る。
An example of the inspection principle of a conventional surface defect inspection apparatus using this laser beam will be explained with reference to FIG.

同図において、レーザ発生器1から被検査物の
表面2に照射して正反射させたレーザスリツト光
LSを、検出装置3における集光レンズ4によつ
て光電センサであるラインセンサ5に集光させて
光電変換するようにしておく。
In the figure, a laser slit beam is irradiated from a laser generator 1 onto a surface 2 of an object to be inspected and reflected specularly.
The LS is condensed by a condensing lens 4 in the detection device 3 onto a line sensor 5, which is a photoelectric sensor, for photoelectric conversion.

このようにすれば、レーザ光が非常に指向性が
強いために、被検査物の表面2に傷がブツなどの
欠陥があると、照射されたレーザスリツト光LS
がそこで散乱して、ラインセンサ5の光電変換出
力が変化するため、この出力の大小によつて表面
2の欠陥の有無を検査できる。
In this way, since the laser beam has very strong directionality, if there is a defect such as a scratch on the surface 2 of the object to be inspected, the irradiated laser slit beam LS
is scattered there, and the photoelectric conversion output of the line sensor 5 changes, so the presence or absence of defects on the surface 2 can be inspected based on the magnitude of this output.

しかしながら、このような検査原理に基づく従
来の表面欠陥検査装置では、次のような問題があ
つた。
However, the conventional surface defect inspection apparatus based on such an inspection principle has the following problems.

すなわち、被検査物の表面2からの正反射光を
集光レンズ4を介して直接ラインセンサ5によつ
て検出し得るようにするには、光軸を非常に精度
良く一致させておく必要があるため、通常はレー
ザ発生器1と検査装置3との間の非常に面倒な3
次元レベルで光軸合せをした後、両者を固定設置
するようにしているが、このようにすると検査装
置に対する被検査物の表面2の相対位置関係も常
に一定にする必要がある。
That is, in order to be able to directly detect the specularly reflected light from the surface 2 of the object to be inspected by the line sensor 5 via the condensing lens 4, it is necessary to align the optical axes with high precision. Therefore, there is usually a very troublesome 3
After aligning the optical axes at the dimensional level, both are fixedly installed, but in this case, the relative positional relationship of the surface 2 of the object to be inspected with respect to the inspection apparatus must also be kept constant.

そのため、表面が平担であるものや、軸部材の
外周面のように形状が一定である被検査物の表面
しか検査することができず、被検査物が限られて
しまう問題があつた。
Therefore, it is only possible to inspect the surface of an object to be inspected that has a flat surface or a constant shape such as the outer circumferential surface of a shaft member, resulting in a problem that the objects to be inspected are limited.

また、この問題の解決策として、レーザ発生器
1、被検査物の表面2、及び検出装置3の間の相
対位置関係を3次元のレベルで非常に精度良く検
出すると共に、その検出結果に基づいて光軸をや
はり3次元で非常に精度良く一致させる検出/調
整機構を備えてシステム構成することが考えられ
るが、このような検出/調整機構は大変に複雑で
大型となるばかりか高価であるため、実用的では
なく、特に検査装置と被検査物とを相対移動させ
ながら、被検査物の表面欠陥を検査する検査仕様
には不向であつた。
In addition, as a solution to this problem, the relative positional relationship between the laser generator 1, the surface 2 of the object to be inspected, and the detection device 3 can be detected with high accuracy on a three-dimensional level, and based on the detection results, It is conceivable to construct a system with a detection/adjustment mechanism that aligns the optical axes with high accuracy in three dimensions, but such a detection/adjustment mechanism is not only very complicated and large but also expensive. Therefore, it is not practical, and is particularly unsuitable for inspection specifications in which surface defects of an object to be inspected are inspected while relatively moving the inspection device and the object to be inspected.

さらに、従来装置では、集光レンズ4の焦点調
整を被検査物の表面2と検出装置3との間の相対
位置関係が変わる毎にその都度行なわなければな
らないなどの問題もあつた。
Furthermore, the conventional apparatus has the problem that the focus of the condenser lens 4 must be adjusted every time the relative positional relationship between the surface 2 of the object to be inspected and the detection device 3 changes.

このような様々な問題に鑑み、本出願人は被検
査物の表面に照射して反射させたレーザスリツト
光を一旦拡散スクリーンに投影拡散させ、そのス
リツト状の散乱光をラインセンサによつて検査す
ることで被検査物の表面の欠陥を検査するように
した表面欠陥検査装置を提供しようとしている。
In view of these various problems, the applicant proposed a method in which the laser slit light that is irradiated onto the surface of the object to be inspected and reflected is once projected and diffused onto a diffusion screen, and the slit-shaped scattered light is inspected using a line sensor. The present invention aims to provide a surface defect inspection device that inspects defects on the surface of an object to be inspected.

このような表面欠陥検査装置によれば、ライン
センサが撮影する拡散スクリーン上の所定のライ
ン状の部位にさえ被検査物から反射させたレーザ
スリツト光を投影するように2軸の光軸調整を行
なえば良くなるので、前述の様々な問題を解決す
る端緒となり得る。
According to such a surface defect inspection device, it is possible to perform two-axis optical axis adjustment so that the laser slit light reflected from the object to be inspected is projected even onto a predetermined line-shaped portion on the diffusion screen photographed by the line sensor. This could be the beginning of solving the various problems mentioned above.

ところで、このような表面欠陥検査装置にあつ
ては、反射レーザスリツト光によるスリツト像を
拡散スクリーンのライン状の部位に如何にして合
致させるかが問題である。
However, in the case of such a surface defect inspection apparatus, the problem is how to make the slit image formed by the reflected laser slit light coincide with the line-shaped portion of the diffuser screen.

すなわち、拡散スクリーン上のスリツト像は、
被検査物の表面が平担であれば直線像であまり問
題にならないが、例えば自動車の各種パネルのよ
うに外表面が曲面になつていると、スリツト像が
湾曲するため位置合せが難しくなり、これに如何
に対処するかが重大な課題であつた。
In other words, the slit image on the diffusion screen is
If the surface of the object to be inspected is flat, a straight line image will not cause much of a problem, but if the outer surface is curved, such as various automobile panels, the slit image will be curved, making alignment difficult. How to deal with this was a serious issue.

目 的 この発明は、上記のような背景に鑑みてなされ
たものであり、湾曲したスリツト像の拡散スクリ
ーンにおけるライン状の部位への位置合せを容易
にし得る表面欠陥検査装置におけるセンサ配置構
造を提供することを目的とする。
Purpose This invention has been made in view of the above background, and provides a sensor arrangement structure in a surface defect inspection device that can easily align a curved slit image to a line-shaped portion on a diffusion screen. The purpose is to

構 成 そのため、この発明における表面欠陥検査装置
におけるセンサ配置構造は、拡散スクリーンから
のスリツト状の散乱光をビームスプリツタによつ
て2方向に分光して、一方の第1の分光方向にそ
の第1のスリツト状分光を検出する欠陥検出用の
ラインセンサを配置すると共に、他方の第2の分
光方向に、その第2のスリツト状分光を欠陥検出
用のラインセンサに対する第1のスリツト状分光
の姿勢検出用(云い換えると拡散スクリーン上の
ライン状の部位に対するスリツト像の姿勢検出
用)の分光として検出する複数の姿勢検出用のラ
インセンサを、該各ラインセンサと第2のスリツ
ト状分光とが互いに交差するように配置してなつ
ている。
Configuration Therefore, the sensor arrangement structure in the surface defect inspection apparatus of the present invention is such that the slit-shaped scattered light from the diffusion screen is split into two directions by the beam splitter, and the first split light is split into two directions in one of the first spectral directions. A line sensor for defect detection that detects the first slit-like spectrum is arranged, and the second slit-like spectrum is transmitted to the line sensor for defect detection in the other second spectral direction. A plurality of line sensors for detecting posture as spectra for posture detection (in other words, for detecting the posture of the slit image with respect to a line-shaped portion on the diffusion screen) are connected to each line sensor and a second slit-shaped spectrometer. are arranged so that they cross each other.

実施例 以下、この発明の実施例を図面の第2図以降を
参照しながら説明する。
Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIG. 2 and subsequent drawings.

第2図は、この発明によるセンサ配置構造を適
用した表面欠陥検査装置の制御系を除いた部分の
一実施例を示す斜視構成図である。
FIG. 2 is a perspective configuration diagram showing an embodiment of a surface defect inspection apparatus to which the sensor arrangement structure according to the present invention is applied, excluding a control system.

同図において、6が表面欠陥検査装置であり、
取付盤7を介して移動機械装置としてのロボツト
8の先端部に取り付けてある。
In the figure, 6 is a surface defect inspection device,
It is attached via a mounting plate 7 to the tip of a robot 8 as a mobile mechanical device.

この表面欠陥検査装置6は、取付盤7に固定さ
れた基部9と、この基部9に取り付けた第2の調
整機構10と、基部9に対しブラケツト11,1
1を介して矢示θy方向に首振り可能に取り付け
た可動ステー12と、この可動ステー12の裏面
側に矢示A方向に回動可能に取り付けた第1の調
整機構13と、可動ステー12の前面一端部に軸
14を介して矢示θx方向に首振り可能に取り付
けたレーザ発生器15と、可動ステー12の前面
他端部に固定して取り付けた検出装置16と、可
動ステー12の下端中央付近に取り付けた欠陥マ
ーカ17等とによつて構成されている。
This surface defect inspection device 6 includes a base 9 fixed to a mounting board 7, a second adjustment mechanism 10 attached to the base 9, and brackets 11 and 1 attached to the base 9.
1, a first adjustment mechanism 13 attached to the back side of the movable stay 12 so as to be rotatable in the direction of arrow A, and a movable stay 12 A laser generator 15 is attached to one front end of the movable stay 12 so as to be swingable in the direction of arrow θx via a shaft 14, a detection device 16 is fixedly attached to the other front end of the movable stay 12, It is composed of a defect marker 17 and the like attached near the center of the lower end.

制御系を除く第2の調整機構10は、一端部に
タコジエネレータ18を取り付けた駆動モータ1
9と、連結部20を介して駆動モータ19によつ
て回転される平歯車21と、この平歯車21に噛
合して軸22を矢示θ1方向に回転させる平歯車2
3等とによつて構成され、駆動モータ19の回転
を制御することによつて、軸22に固定したブラ
ケツト11,11を介して可動ステー12を基部
9に対して矢示θy方向に自由に首振らせること
ができる。なお、この首振りの作用に就ては後述
する。
The second adjustment mechanism 10 excluding the control system includes a drive motor 1 having a tachometer generator 18 attached to one end thereof.
9, a spur gear 21 that is rotated by the drive motor 19 via the connecting portion 20, and a spur gear 2 that meshes with the spur gear 21 and rotates the shaft 22 in the direction of arrow θ1 .
By controlling the rotation of the drive motor 19, the movable stay 12 can be freely moved in the direction of arrow θy with respect to the base 9 via the brackets 11, 11 fixed to the shaft 22. It can make you shake your head. The effect of this swing will be described later.

制御系を除く第1の調整機構13は、一端部に
タコジエネレータ24を取り付けた駆動モータ2
5と、この駆動モータ25によつて回転させるボ
ールネジ26と、このボールネジ26の回転によ
つて送られる駒部27と、この駒部27に回転自
在に連結され、レーザ発生器15の軸14に固定
して連結されたレバー28と、タコジエネレータ
24を取り付けた駆動モータ25及び駒部27を
螺合したボールネジ26を支持する支持枠29等
によつて構成され、この支持枠29を可動ステー
12の裏面側に矢示A方向に回転可能に取り付け
てある。
The first adjustment mechanism 13 excluding the control system includes a drive motor 2 with a tachometer generator 24 attached to one end.
5, a ball screw 26 rotated by the drive motor 25, a bridge section 27 that is fed by the rotation of the ball screw 26, and a bridge section 27 rotatably connected to the shaft section 14 of the laser generator 15. It is composed of a lever 28 that is fixedly connected, a support frame 29 that supports a drive motor 25 to which a tachometer generator 24 is attached, and a ball screw 26 to which a piece 27 is screwed. It is attached to the back side so that it can rotate in the direction of arrow A.

そして、駆動モータ25の回転を制御すること
によつて、軸14を矢示θ2方向に回転させ、それ
によつてレーザ発生器15を矢示θx方向に自由
に首振らせることができる。なお、この首振り作
用に就ても後述する。
By controlling the rotation of the drive motor 25, the shaft 14 can be rotated in the direction of arrow θ2 , thereby making it possible to freely swing the laser generator 15 in the direction of arrow θx. Note that this swinging action will also be described later.

レーザ発生器15は、例えばHe−Heレーザ発
生器であり、発生したレーザビーム光をレーザス
リツト光LSに変換して、該レーザスリツト光LS
を被検査物としての自動車用ドア30の塗装外表
面30aに照射するレンズ系を具備している。
The laser generator 15 is, for example, a He-He laser generator, converts the generated laser beam light into laser slit light LS, and converts the generated laser beam light into laser slit light LS.
It is equipped with a lens system that irradiates the painted outer surface 30a of an automobile door 30 as an object to be inspected.

検出装置16は、レーザ発生器15から照射さ
れて塗装外表面30aから正反射したレーザスリ
ツト光LSを投影して拡散するすりガラス等の透
過型の拡散スクリーン31を先端に固着した検出
筒32と、拡散スクリーン31上の予め定めたラ
イン状の部位を撮像する欠陥検出用のラインセン
サ及びこのラインセンサが撮像する拡散スクリー
ン31上のライン状の部位に対する反射レーザス
リツト光による投影像の姿勢を検出する姿勢セン
サを内蔵すると共に検出筒32を一体に取り付け
たカメラ部33等とによつて構成されている。
The detection device 16 includes a detection tube 32 having a transmission type diffusion screen 31 such as ground glass fixed to the tip, which projects and diffuses laser slit light LS emitted from the laser generator 15 and specularly reflected from the painted outer surface 30a; A line sensor for defect detection that images a predetermined line-shaped part on the screen 31, and a posture sensor that detects the attitude of a projected image by reflected laser slit light on the line-shaped part on the diffusion screen 31 that is imaged by this line sensor. It is composed of a camera part 33, etc., which has a built-in camera part 33 and a detection tube 32 integrally attached thereto.

欠陥マーカ17は、レーザスリツト光LSが照
射された塗装外表面30aの位置にブツや傷等の
欠陥があつて、その存在が検出された時にレーザ
スリツト光LSと干渉しない欠陥近傍に拭き取り
可能な塗剤を欠陥の存在を示すマークとして吹き
付ける。
The defect marker 17 is a paint material that can be wiped off in the vicinity of the defect that does not interfere with the laser slit light LS when a defect such as a lump or scratch is present at the position of the painted outer surface 30a irradiated with the laser slit light LS and its presence is detected. is sprayed as a mark to indicate the presence of defects.

次に、ロボツト8及び欠陥マーカ17を除いた
表面欠陥検査装置6の詳細図である第3図乃至第
6図を参照しながら、前述した首振りの作用に就
て説明する。
Next, with reference to FIGS. 3 to 6, which are detailed views of the surface defect inspection apparatus 6 excluding the robot 8 and the defect marker 17, the action of the above-mentioned swing will be explained.

なお、第3図は表面欠陥検査装置6の正面図、
第4図は第3図の右側面図、第5図は、第1の調
整機構13の正面図、第6図は第2の調整機構1
0の下面図である。
In addition, FIG. 3 is a front view of the surface defect inspection device 6,
4 is a right side view of FIG. 3, FIG. 5 is a front view of the first adjustment mechanism 13, and FIG. 6 is a front view of the second adjustment mechanism 1.
0 is a bottom view of FIG.

先ず、第3,第4図に示すように、レーザ発生
器15と検出装置16とは、レーザ発生器15の
光軸L1と検出装置16側の光軸であるカメラ部
33の集光レンズ33aの光軸(後述する欠陥検
出用ラインセンサの光軸)L2が、同一平面内で
交差角δで交差するように可動ステー12に取り
付けてある。
First, as shown in FIGS. 3 and 4, the laser generator 15 and the detection device 16 are connected to the optical axis L1 of the laser generator 15 and the condenser lens of the camera unit 33, which is the optical axis on the detection device 16 side. It is attached to the movable stay 12 so that the optical axis L 2 of 33a (optical axis of a defect detection line sensor to be described later) intersects within the same plane at an intersection angle δ.

そして、第1の調整機構13において、駆動モ
ータ25によつてボールネジ26が回転して駒部
27が矢示B方向に送られると、第5図に示すブ
ラケツト34を介して軸35により可動ステー1
2に対して回動自在に枢支した支持枠29が軸3
5を中心に矢示A方向に回動しつつ、駒部27に
軸36で回動自在に連結され、軸14(第4図)
に固定して連結したレバー28が軸14を中心に
矢示C方向に回動するため、第4図に示すように
可動ステー12の裏面に取り付けたブラケツト3
7に軸受を介して回転自在に取り付けられ、レー
ザ発生器15を固定した固定盤38を一端に固着
した軸14が、矢示θ2方向に回転するようにな
り、それによつてレーザ発生器15が第3図に示
すように矢示θx方向に首を振る。
In the first adjustment mechanism 13, when the ball screw 26 is rotated by the drive motor 25 and the bridge part 27 is sent in the direction of arrow B, the movable stay is moved by the shaft 35 via the bracket 34 shown in FIG. 1
A support frame 29 rotatably supported on the shaft 3
5 in the direction of arrow A, and is rotatably connected to the bridge portion 27 by a shaft 36, and the shaft 14 (FIG. 4)
Since the lever 28 fixedly connected to the lever 28 rotates in the direction of arrow C around the shaft 14, the bracket 3 attached to the back side of the movable stay 12 as shown in FIG.
The shaft 14, which is rotatably attached to the shaft 7 via a bearing and has a stationary plate 38 fixed to one end, which fixes the laser generator 15, rotates in the direction of the arrow θ 2 , and thereby the laser generator 15 shakes his head in the direction of arrow θx, as shown in Figure 3.

そして、レーザ発生器15が矢示θx方向に首
を振ると、その光軸L1と検出装置16側の光軸
L2との交差角δが調整される。なお、この第1
の調整機構13における駆動モータ25は、後述
する姿勢センサの検出結果に基づいて回転制御さ
れるが、その詳細は後述する。
Then, when the laser generator 15 turns its head in the direction of the arrow θx, its optical axis L 1 and the optical axis on the detection device 16 side
The intersection angle δ with L 2 is adjusted. Note that this first
The drive motor 25 in the adjustment mechanism 13 is rotationally controlled based on the detection result of a posture sensor, which will be described later, and the details will be described later.

次に、第2の調整機構10において、駆動モー
タ19によつて平歯車21が回転すると、第6図
に示すように基部9に軸受を介して回転自在に枢
支され、一端に平歯車21に歯合する平歯車23
を、軸まわりにブラケツト11,11を夫々固着
した軸22が矢示θ1方向に回転するため、ブラケ
ツト11,11を取り付けた可動ステー12が第
4図に示すように矢示θy方向に首を振る。
Next, in the second adjustment mechanism 10, when the spur gear 21 is rotated by the drive motor 19, the spur gear 21 is rotatably supported on the base 9 via a bearing as shown in FIG. Spur gear 23 meshing with
Since the shaft 22 around which the brackets 11 and 11 are respectively fixed rotates in the direction of the arrow θ1 , the movable stay 12 to which the brackets 11 and 11 are attached rotates in the direction of the arrow θy as shown in FIG. Shake.

そして、可動ステー12が矢示θy方向に首を
振ると、この可動ステー12に取り付けたレーザ
発生器15と検出装置16がその首振りに同動す
るため、第4図に示すように光軸L1,L2によつ
て形成される平面の塗装外表面30aに対する傾
斜角εが調整される。なお、第2の調整機構10
における駆動モータ19は、傾斜角εがε=90゜、
すなわち光軸L1,L2によつて形成される平面が
塗装外表面30aの法平面となるように、やはり
後述する姿勢センサの検出結果に基づいて回転制
御されるが、この詳細も後述する。
When the movable stay 12 swings in the direction of arrow θy, the laser generator 15 and detection device 16 attached to the movable stay 12 move together with the swing, so that the optical axis The inclination angle ε of the plane formed by L 1 and L 2 with respect to the painted outer surface 30a is adjusted. Note that the second adjustment mechanism 10
The drive motor 19 has an inclination angle ε=90°,
That is, the rotation is controlled based on the detection result of the attitude sensor, which will be described later, so that the plane formed by the optical axes L 1 and L 2 becomes the normal plane of the painted outer surface 30a, but the details of this will also be described later. .

次に、この発明に係わる検出装置16の内部構
造を第7図を参照して説明する。
Next, the internal structure of the detection device 16 according to the present invention will be explained with reference to FIG.

同図において、第2図及び第3図に示すカメラ
部33内に設けたビームスプリツタ44は、塗装
外表面3aからの反射レーザスリツト光が拡散ス
クリーン31上に投影拡散されることによつて得
られるスリツト像SLから、集光レンズ33aを
介して入射されるスリツト状の散乱光を第1の分
光方向u1と第2の分光方向u2との2方向に分光す
る。
In the figure, a beam splitter 44 provided in the camera section 33 shown in FIGS. From the slit image SL, the slit-shaped scattered light incident through the condenser lens 33a is separated into two directions, a first spectral direction u 1 and a second spectral direction u 2 .

そして、このビームスプリツタ44による第1
の分光方向u1に向うセンサ配置面40aには、ビ
ームスプリツタ44からの第1のスリツト状分光
を検出するべく、ビームスプリツタ44及び集光
レンズ33aを介して拡散スクリーン31上の予
め定めたライン状の部位31aを撮像する例えば
2048ビツト(画素)の欠陥検出用のラインセンサ
(CCD又はMOS型のPDA)41を横向きに配置
してある。なお、当然のことではあるが、ライン
センサ41と拡散スクリーン31とは集光レンズ
33aの合焦位置にある。
Then, the first beam splitter 44
In order to detect the first slit-shaped spectral beam from the beam splitter 44, a sensor arrangement surface 40a facing the spectral direction u1 is provided with a predetermined beam on the diffusing screen 31 via the beam splitter 44 and the condensing lens 33a. For example, when imaging a line-shaped region 31a,
A line sensor (CCD or MOS type PDA) 41 for detecting defects of 2048 bits (pixels) is arranged horizontally. Note that, as a matter of course, the line sensor 41 and the diffusion screen 31 are located at the focal position of the condenser lens 33a.

また、ビームスプリツタ44による第2の分光
方向u2に広うセンサ配置面40b(センサ配置面
40a,40bは互いに直交している)には、例
えば2048ビツト(画素)の姿勢センサとしての2
つの姿勢検出用のラインセンサ(CCD又はMOS
型のPDA)42,43を、両センサ42,43
が例えば互いに平行し、且つ両センサ42,43
とビームスプリツタ44からの第2のスリツト状
分光とが互いに交差(この実施例では直交)する
ように配置している。
In addition, a sensor arrangement surface 40b (sensor arrangement surfaces 40a and 40b are orthogonal to each other) extending in the second spectral direction u2 by the beam splitter 44 has, for example, two 2048-bit (pixel) attitude sensors.
Line sensor (CCD or MOS) for attitude detection
type PDA) 42, 43, both sensors 42, 43
are parallel to each other, and both sensors 42, 43
and the second slit-shaped beam from the beam splitter 44 are arranged so that they intersect with each other (orthogonally in this embodiment).

そして、両センサ42,43はビームスプリツ
タ44からの第2のスリツト状分光を欠陥検出用
ラインセンサ41に対する第1のスリツト状分光
の姿勢検出用の分光として検出するように、すな
わち換言するとラインセンサ41が撮像する拡散
スクリーン31上のライン状の部位31aに対す
るスリツト像SLの姿勢を検出するようになつて
いる。
Both sensors 42 and 43 detect the second slit-like spectrum from the beam splitter 44 as a posture-detecting spectrum of the first slit-like spectrum with respect to the defect detection line sensor 41, in other words, the line The sensor 41 detects the attitude of the slit image SL with respect to the linear portion 31a on the diffusion screen 31.

なお、同図中のL2が集光レンズ33a及び欠
陥検出用のラインセンサ41の光軸である。
Note that L2 in the figure is the optical axis of the condenser lens 33a and the line sensor 41 for defect detection.

また、姿勢検出用のラインセンサ42,43と
拡散スクリーンとはやはり集光レンズ33aの合
焦位置にある。
Furthermore, the line sensors 42 and 43 for attitude detection and the diffusion screen are also located at the focal position of the condenser lens 33a.

さらに、ラインセンサ41〜43の相対位置関
係は、ラインセンサ41の受光部の配列に沿つた
基準線Rがラインセンサ42,43の中央画素
(1024)と交差する関係となつている。
Furthermore, the relative positional relationship of the line sensors 41 to 43 is such that the reference line R along the arrangement of the light receiving parts of the line sensor 41 intersects the center pixel (1024) of the line sensors 42 and 43.

さらにまた、ラインセンサ42,43の間隔
は、被検査物である自動車用ドア30の塗装外表
面30aにおける曲面部分の最大曲率に合せて
(曲率大なる程狭く)設定してある。
Furthermore, the interval between the line sensors 42 and 43 is set in accordance with the maximum curvature of the curved surface portion of the painted outer surface 30a of the automobile door 30 that is the object to be inspected (the larger the curvature, the narrower it is).

そして、上記のように構成した検出装置16に
よれば次のように欠陥検出及び姿勢検出/調整を
行なうことができる。
According to the detection device 16 configured as described above, defect detection and posture detection/adjustment can be performed as follows.

先ず、例えば第8図に示すように塗装外表面3
0a上の照射位置にブツや傷などの欠陥Pがある
と、レーザ発生器15から塗装外表面30aに照
射されたレーザスリツト光LSが、そこで散乱す
るため、塗装外表面30aから正反射光を受ける
拡散スクリーン31上には、図示のような欠陥P
に対応するところで切れたスリツト像SLが投影
されるようになる。
First, for example, as shown in FIG.
If there is a defect P such as a spot or a scratch at the irradiation position on 0a, the laser slit light LS irradiated from the laser generator 15 to the painted outer surface 30a is scattered there and receives specularly reflected light from the painted outer surface 30a. On the diffusion screen 31, there is a defect P as shown in the figure.
A cut slit image SL will be projected at a point corresponding to .

そして、このスリツト像SLが第7図に示す欠
陥検出用のラインセンサ41が撮像する拡散スク
リーン31のライン状の部位31aと重なつて一
致していれば、欠陥検出用のラインセンサ41に
よつて塗装外表面30aの欠陥Pを検出すること
ができる。
If this slit image SL overlaps and matches the linear portion 31a of the diffusion screen 31 imaged by the line sensor 41 for defect detection shown in FIG. Therefore, defects P on the painted outer surface 30a can be detected.

しかも、欠陥検出用のラインセンサ41は、集
光レンズ33aの合焦位置に配置した拡散スクリ
ーン31で拡散させた第9図に示すような散乱光
SCを受光することによつて拡散スクリーン31
上のスリツト像SLを撮像しているため、スリツ
ト像SLとライン状の部位31a(第7図)とが機
械系の振動や前述した第1、第2の調整機構1
0,13の調整不良によつて多少ズレても欠陥検
出が可能である。
Moreover, the line sensor 41 for defect detection detects scattered light as shown in FIG.
By receiving the SC, the diffusion screen 31
Since the upper slit image SL is captured, the slit image SL and the line-shaped portion 31a (FIG. 7) may be affected by vibrations of the mechanical system or the first and second adjustment mechanisms 1 described above.
Defects can be detected even if there is some deviation due to poor adjustment of 0 and 13.

また、拡散によつてスリツト像が拡大されるた
め、欠陥Pの検出分解能が向上する。
Furthermore, since the slit image is enlarged by the diffusion, the detection resolution of the defect P is improved.

次に、例えば第10図において、塗装外表面3
0aが実際で示す位置にあつた時に、この塗装外
表面30aに照射されたレーザスリツト光LS1
よる拡散スクリーン31上のスリツト像SL1が、
第7図に示す拡散スクリーン31上のライン状の
部位31aに投影していたとする。
Next, for example, in FIG. 10, the painted outer surface 3
When 0a is at the position shown in the actual figure, the slit image SL 1 on the diffusion screen 31 created by the laser slit light LS 1 irradiated on the painted outer surface 30a is
Assume that the image is projected onto a line-shaped portion 31a on the diffusion screen 31 shown in FIG.

この状態で塗装外表面30aの位置が第10図
に示すように、破線で示す位置まで角度α,βの
回転によつて三次元的に変化すると、塗装外表面
30aに照射されるレーザスリツト光がLS1から
LS2に三次元的に変化し、それに伴つて拡散スク
リーン31上に投影されるスリツト像がSL1から
SL2に二次元的に変化する。
In this state, when the position of the painted outer surface 30a changes three-dimensionally by rotating the angles α and β to the position shown by the broken line as shown in FIG. From LS 1
The slit image projected onto the diffusion screen 31 changes three-dimensionally from SL 1 to LS 2 .
Changes two-dimensionally to SL 2 .

なお、スリツト像SL1とSL2との間では、二次
元的な位置変化のみならず、像の長さも変化して
いるが、この長さの変化に関しては取り扱わな
い。
Note that between the slit images SL 1 and SL 2 , not only a two-dimensional position change but also a change in image length occurs, but this change in length will not be dealt with.

このスリツト像のSL1からSL2への二次元的な
相対位置変化とは、スリツト像の長手方向に直交
する方向への平行移動と、スリツト像自体の回転
とによる位置変化である。
This two-dimensional relative position change of the slit image from SL 1 to SL 2 is a position change due to parallel movement in the direction perpendicular to the longitudinal direction of the slit image and rotation of the slit image itself.

この相対位置変化したスリツト像SL2の前述し
たライン状の部位31aに対する姿勢は、第7図
に示す姿勢検出用のラインセンサ42,43によ
つて第11図に示すように、両ラインセンサ4
2,43上におけるスリツト像SL2の交差結像位
置Q1,Q2をセンシングするとこで検出すること
ができる。
The attitude of the slit image SL 2 whose relative position has changed relative to the above-mentioned line-shaped portion 31a is determined by the line sensors 42 and 43 for attitude detection shown in FIG.
This can be detected by sensing the intersection imaging positions Q 1 and Q 2 of the slit image SL 2 on the slit images SL 2 and 43.

ところで、前述した傾斜角εを90゜で一定に保
つた状態で、交差角δを前述した第1の調整機構
13によつて例えば第12図イに示すようにδ0
らδ1又はδ2に変化させると、塗装外表面30aの
姿勢が一定の場合、拡散スクリーン31上に投影
されるスリツト像SLは、光軸L2を中心に矢示G1
方向に交差角δの変化量に応じて平行移動する。
By the way, while the above-mentioned inclination angle ε is kept constant at 90°, the intersection angle δ is adjusted by the above-mentioned first adjustment mechanism 13 from δ 0 to δ 1 or δ 2 as shown in FIG. 12A, for example. If the attitude of the painted outer surface 30a is constant, the slit image SL projected onto the diffusion screen 31 will move as indicated by the arrow G 1 with the optical axis L 2 as the center.
direction according to the amount of change in the intersection angle δ.

また、交差角δの方を所定値に一定に保つた状
態で、傾斜角εを前述した第2の調整機構10に
よつて例えば第12図ロに示すようにε0=90゜か
らε1に変化させると、塗装外表面30aの姿勢が
一定の場合、破線で示す拡散スクリーン31上に
投影されていた一点鎖線で示すスリツト像SLは、
実線で示す拡散スクリーン31上にやはり実線で
示すように基準線R(第7図参照)に対して矢示
G2方向に傾斜角εの変化量に応じて回転する。
Further, while the intersection angle δ is kept constant at a predetermined value, the inclination angle ε is adjusted from ε 0 =90° to ε 1 as shown in FIG. 12B, for example. When the attitude of the painted outer surface 30a is constant, the slit image SL shown by the dashed-dotted line projected onto the diffusion screen 31 shown by the broken line becomes
On the diffusion screen 31 shown by a solid line, there is an arrow mark relative to the reference line R (see FIG. 7), also shown by a solid line.
G Rotates in two directions according to the amount of change in the tilt angle ε.

この事は、レーザ発生器15、検出装置16、
及び塗装外表面30aの間の相対位置関係が変化
して、拡散スクリーン31上のスリツト像が欠陥
検出用のラインセンサ41が撮像するライン状の
部位31aから相対変位しも、そのスリツト像の
平行移動量及び回転量に基づいて、第1、第2の
調整機構13,10の駆動モータ25,19の回
転量を制御して交差角δ及び傾斜角εを調整すれ
ば、相対変位したスリツト像を欠陥検出用のライ
ンセンサ41が撮像する拡散スクリーン31上の
ライン状の部位31aに戻せることを意味する。
This means that the laser generator 15, the detection device 16,
Even if the relative positional relationship between the outer surface 30a and the painted outer surface 30a changes and the slit image on the diffusion screen 31 is displaced relative to the line-shaped portion 31a imaged by the line sensor 41 for defect detection, the parallelism of the slit image By controlling the amount of rotation of the drive motors 25, 19 of the first and second adjusting mechanisms 13, 10 based on the amount of movement and amount of rotation, and adjusting the crossing angle δ and the angle of inclination ε, a relatively displaced slit image can be obtained. This means that the line sensor 41 for defect detection can return the image to the line-shaped portion 31a on the diffusion screen 31.

そして、相対変位したスリツト像のライン状の
部位31aに対する平行移動量及び回転量は、姿
勢検出用のラインセンサ42,43によつて検出
したスリツト像のライン状の部位31aに対する
姿勢を示す結像位置Q1,Q2に基づいて、第11
図に示すように平行移動量を示す値として1024−
(Q1+Q2)/2を、回転量を示す値としてQ1
Q2を夫々演算することによつて求めることがで
きる。
The amount of translation and rotation of the relatively displaced slit image with respect to the line-shaped portion 31a is determined by the amount of translation and rotation of the slit image with respect to the line-shaped portion 31a. Based on the positions Q 1 and Q 2 , the 11th
As shown in the figure, the value indicating the amount of parallel movement is 1024−
(Q 1 + Q 2 )/2 is the value indicating the amount of rotation Q 1
It can be obtained by calculating each Q 2 .

したがつて、前者の値を所要調整交差角δxに
対応するレーザ発生器15の矢示θx方向の首振
り量に、後者の値を所要調整傾斜角εyに対応す
る可動ステー12の矢示θy方向の首振り量に
夫々対応させ、前者の値に基づいて第1の調整機
構13の駆動モータ25の回転量(回転方向も含
む)を制御すると共に、後者の値に基づいて第2
の調整機構10の駆動モータ19の回転量(やは
り回転方向も含む)を制御すれば、欠陥検出用の
ラインセンサ41が撮像する拡散スクリーン31
上のライン状の部位31aにスリツト像SLを位
置させることができる。
Therefore, the former value is set as the swing amount of the laser generator 15 in the arrow θx direction corresponding to the required adjustment crossing angle δx, and the latter value is set as the arrow θy of the movable stay 12 corresponding to the required adjustment inclination angle εy. The rotation amount (including the rotation direction) of the drive motor 25 of the first adjustment mechanism 13 is controlled based on the former value, and the second adjustment mechanism is controlled based on the latter value.
By controlling the rotation amount (also including the rotation direction) of the drive motor 19 of the adjustment mechanism 10, the diffusion screen 31 imaged by the line sensor 41 for defect detection can be controlled.
The slit image SL can be positioned in the upper line-shaped portion 31a.

また、塗装外表面30aが仮に例えば第13図
に示すような曲面となつていて、しかもスリツト
像がライン状の部位31aに対して位置ずれを起
こしていた場合を想定してみる。
Let us also assume that the coated outer surface 30a is a curved surface as shown in FIG. 13, and the slit image is misaligned with respect to the line-shaped portion 31a.

このような場合、この塗装外表面30aに照射
されたレーザスリツト光SL3による拡散スクリー
ン31上のスリツト像SL3は、図示のように湾曲
する。
In such a case, the slit image SL 3 on the diffusion screen 31 formed by the laser slit light SL 3 irradiated onto the painted outer surface 30a is curved as shown.

そして、この時のスリツト像SL3とラインセン
サ41〜43との関係は、例えば第14図に示す
ようになるが、前述した曲面の最大曲率に合せて
間隔を狭く(ラインセンサ41の受光部の幅より
狭く)設定したラインセンサ42,43によつて
両センサ42,43上のスリツト像SL3の交差結
像位置Q1,Q2を検出すると共に、その検出結果
から前述と同様な演算〔1024−(Q1+Q2)/2,
Q1−Q2〕並びにその演算結果に基づく駆動モー
タ25,19の回転量の制御を行なえば、第15
図に示すように欠陥検出用のラインセンサ41が
撮像する拡散スクリーン31上のライン状の部位
31aに湾曲したスリツト像SL3を重ねることが
できる。
The relationship between the slit image SL 3 and the line sensors 41 to 43 at this time is, for example, as shown in FIG. The line sensors 42 , 43 set (narrower than the width of [1024−(Q 1 +Q 2 )/2,
Q 1 −Q 2 ] and the rotation amount of the drive motors 25, 19 based on the calculation results, the 15th
As shown in the figure, a curved slit image SL 3 can be superimposed on a line-shaped portion 31a on the diffusion screen 31 imaged by the line sensor 41 for defect detection.

次に、第16図を参照して第2図に示す表面欠
陥検査装置6の制御系の一実施例を説明する。
Next, an embodiment of the control system of the surface defect inspection apparatus 6 shown in FIG. 2 will be described with reference to FIG. 16.

同図において、第1の駆動検出回路45は、第
7図に示す姿勢検出用のラインセンサ(2048ビツ
ト)42を、後述する制御部53から計測指令
SAが入力されている間駆動してビデオ信号を遂
次入力すると共に、その入力ビデオ信号を1フレ
ーム毎に次のように処理して例えば第11図ある
いは第14図に示すスリツト像SL2又はSL3の交
差結像位置を示すアドレスデータQ1を遂次出力
する。
In the same figure, a first drive detection circuit 45 operates a line sensor (2048 bits) 42 for attitude detection shown in FIG.
While SA is being input, the video signal is sequentially input by driving, and the input video signal is processed frame by frame as follows to create, for example, the slit image SL 2 or SL shown in FIG. 11 or 14. Address data Q 1 indicating the cross-imaging position of SL 3 is sequentially output.

すなわち、ラインセンサ42から出力される1
フレーム分のビデオ信号を浮動2値化処理する
と、例えば第17図イに示すような2値化ビデオ
データが得られ、この2値化ビデオデータの
“L”から“H”への立ち上り又は“H”から
“L”への立ち下り、あるいは立ち上りと立ち下
りの中心を検出して、それに対応するアドレスデ
ータをスリツト像の交差結像位置を示すアドレス
データQ1として出力する。
That is, 1 output from the line sensor 42
When a frame worth of video signals is subjected to floating binarization processing, binarized video data as shown in FIG. 17A, for example, is obtained. The fall from "H" to "L" or the center of the rise and fall is detected, and the corresponding address data is output as address data Q1 indicating the cross-forming position of the slit images.

同様に第2の駆動検出回路46は、第7図に示
す姿勢検出用のラインセンサ(2048ビツト)43
を、計測指令SAが入力されている間駆動してビ
デオ信号を遂次入力すると共に、その入力ビデオ
信号を1フレーム毎に浮動2値化処理して得た第
17図ロに示すような2値化ビデオデータに基づ
いて、スリツト像の交差結像位置を示すアドレス
データQ2を出力する。
Similarly, the second drive detection circuit 46 includes a line sensor (2048 bits) 43 for posture detection shown in FIG.
is driven while the measurement command SA is being input to sequentially input the video signal, and the input video signal is subjected to floating binarization processing for each frame. Based on the digitized video data, address data Q2 indicating the cross-imaging position of the slit images is output.

第3の駆動検出回路47は、第7図に示す欠陥
検出用のラインセンサ(2048ビツト)41を、後
述する制御部53から計測指令SBが入力されて
いる間駆動してビデオ信号を遂次入力すると共
に、その入力ビデオ信号を1フレーム毎に次のよ
うに処理して例えば第8図に示す塗装外表面30
aにおけるブツ等の欠陥の大きさに応じた数値デ
ータW(欠陥がない場合はW=0)を出力する。
The third drive detection circuit 47 drives the defect detection line sensor (2048 bits) 41 shown in FIG. 7 while a measurement command SB is input from the control section 53, which will be described later, to sequentially generate video signals. At the same time, the input video signal is processed frame by frame as follows to produce, for example, the painted outer surface 30 shown in FIG.
Numerical data W (W=0 if there is no defect) corresponding to the size of defects such as spots in a is output.

すなわち、ラインセンサ41から出力される1
フレーム分のビデオ信号を浮動2値化処理する
と、塗装外表面30aにおけるレーザスリツト光
の照射位置に欠陥Pがあつた場合、例えば第17
図ハに示すような2値化ビデオデータが得られ、
この2値化ビデオデータの“H”から“L”への
立ち下りからそれに続く“L”から“H”への立
ち上りまでの幅を検出して、その幅を示す数値を
欠陥Pの大きさに応じた数値データWとして出力
する。
That is, 1 output from the line sensor 41
When a frame worth of video signals is subjected to floating binary processing, if there is a defect P at the irradiation position of the laser slit light on the painted outer surface 30a, for example, the 17th
Binarized video data as shown in Figure C is obtained,
The width from the fall from "H" to "L" of this binarized video data to the subsequent rise from "L" to "H" is detected, and the value indicating the width is calculated as the size of the defect P. Output as numerical data W according to.

サーボアンプ48は、後述する制御部53から
出力されるレーザ発生器15の首振り量に対応
し、光軸L1,L2の交差角δの調整量に応じた調
整電圧信号Vx(首振り方向に応じて正の場合と負
の場合がある)に基づいて、タコジエネレータ2
4から速度フイードバツクをかけられながら第1
の調整機構13の駆動モータ25を回転駆動す
る。
The servo amplifier 48 generates an adjustment voltage signal Vx (oscillation) corresponding to the amount of oscillation of the laser generator 15 outputted from a control unit 53, which will be described later . (can be positive or negative depending on the direction), the tachogenerator 2
1st while receiving speed feedback from 4th.
The drive motor 25 of the adjustment mechanism 13 is rotationally driven.

同様にサーボアンプ49は、後述する制御部5
3から出力される可動ステー12の首振り量に対
応し、光軸L1,L2によつて形成される平面の塗
装外表面30aに対する傾斜角εの調整量に応じ
た調整電圧信号Vy(やはり首振り方向に応じた正
の場合と負の場合がある)に基づいて、タコジエ
ネレータ18から速度フイードバツクをかけられ
ながら第2の調整機構10の駆動モータ25を回
転駆動する。
Similarly, the servo amplifier 49 is connected to a control section 5 which will be described later.
An adjustment voltage signal Vy ( The drive motor 25 of the second adjustment mechanism 10 is driven to rotate while receiving speed feedback from the tachogenerator 18 based on the positive and negative values depending on the swing direction.

電源回路50は、後述する制御部53から発振
指令SLが入力されている間作動して、レーザ発
生器15からレーザスリツト光が出力されるよう
に作用する。
The power supply circuit 50 operates while an oscillation command SL is input from a control section 53, which will be described later, so that the laser generator 15 outputs laser slit light.

ドライバ51は、後述する制御部53からマー
カ噴射指令SMが入力された時にのみ、電磁弁5
2を駆動してエアを欠陥マーカ17のバネシリン
ダ17aに供給し、それによつて塗剤を微細噴口
から塗装外表面30aに吹き付ける。
The driver 51 operates the solenoid valve 5 only when a marker injection command SM is input from the control section 53, which will be described later.
2 to supply air to the spring cylinder 17a of the defect marker 17, thereby spraying the paint from the fine nozzle onto the painted outer surface 30a.

制御部53は、位置合せ用コントロールユニツ
ト54と、欠陥検査用コントロールユニツト55
と、D/A変換器56,57等とによつて構成さ
れている。
The control unit 53 includes an alignment control unit 54 and a defect inspection control unit 55.
and D/A converters 56, 57, etc.

位置合せ用コントロールユニツト54は、例え
ばマイクロコンピユータによつてシステム構成さ
れ、第1、第2の駆動検出回路45,46からの
アドレスデータQ1,Q2及び図示しないロボツト
制御部からの起動指令SS、停止指令ST、一時停
止指令SE等を遂次後述するプログラムによつて
処理して、計測指令SA、発振指令SL、ロボツト
動作指令SR、交差角調整データDx、傾斜角調整
データDy、及び欠陥検査許可指令SOKを出力す
る。
The alignment control unit 54 is configured by a microcomputer, for example, and receives address data Q 1 , Q 2 from the first and second drive detection circuits 45 and 46 and a start command SS from a robot control unit (not shown). , stop command ST, temporary stop command SE, etc. are sequentially processed by the program described later to obtain measurement command SA, oscillation command SL, robot operation command SR, crossing angle adjustment data Dx, tilt angle adjustment data Dy, and defects. Output inspection permission command SOK.

なお、起動指令SSは、第2図のロボツト8が
自動車用ドア30の塗装外表面30aにおける欠
陥検査開始位置F0に対応するテイーチングポイ
ントに到達した時点で出力され、停止指令STは
ロボツト8が塗装外表面30aにおける欠陥検査
終了位置Fnに到達した時点で出力される。
Note that the start command SS is output when the robot 8 shown in FIG . It is output when the defect inspection end position Fn on the painted outer surface 30a is reached.

また、一時停止指令SEは、ロボツト8が塗装
外表面30aにおける各折り返し位置間、例えば
位置Fmから位置Fm+1までの間を移動してい
る間出力される。
Further, the temporary stop command SE is output while the robot 8 is moving between each turning position on the painted outer surface 30a, for example, from position Fm to position Fm+1.

欠陥検査用コントロールユニツト55は、やは
り例えばマイクロコンピユータによつてシステム
構成され、第3の駆動検出回路47からの欠陥の
大きさを示す数値データW、図示しないロボツト
制御部からの検査起動指令SSSと検査停止指令
SST、及び本表面欠陥検査装置6の図示しない
操作盤からの欠陥検査基準値l、並びに位置合せ
用コントロールユニツト54からの欠陥検査許可
指令SOK等をやはり後述するプログラムによつ
て処理して、計測指令SB及びマーカ噴射指令SM
を出力する。
The defect inspection control unit 55 is also configured as a system by, for example, a microcomputer, and receives numerical data W indicating the size of the defect from the third drive detection circuit 47, an inspection start command SSS from a robot control section (not shown), and the like. Inspection stop command
The SST, the defect inspection reference value l from the operation panel (not shown) of the present surface defect inspection device 6, the defect inspection permission command SOK from the alignment control unit 54, etc. are processed by a program to be described later, and the measurement is performed. Command SB and marker injection command SM
Output.

なお、検査起動指令SSS及び検査停止指令SST
は、例えば前述の起動指令SS及び停止指令STと
同タイミングで図示しないロボツト制御部から出
力される。
In addition, inspection start command SSS and inspection stop command SST
is output from a robot control unit (not shown) at the same timing as the start command SS and stop command ST, for example.

以下、第18図乃至第20図に示すプログラム
処理フローをも参照しながら、位置合せ用コント
ロールユニツト54及び欠陥検査用コントロール
ユニツト55の作用を説明する。
Hereinafter, the functions of the alignment control unit 54 and the defect inspection control unit 55 will be explained with reference to the program processing flows shown in FIGS. 18 to 20.

なお、以下の説明を前提として、第2図のロボ
ツト8が、自動車用ドア30の塗装外表面30a
における欠陥検査開始位置F0に対応するテイー
チングポイントから図示の二点鎖線で示す径路に
対応する軌跡を辿つて欠陥検査終了位置Fnに対
応するテイーチングポイントまでプレーバツク動
作するものとする。
Note that, based on the following explanation, the robot 8 in FIG.
It is assumed that the playback operation is performed from the teaching point corresponding to the defect inspection start position F 0 in FIG.

まず、位置合せ用コントロールユニツト54内
のCPUが実行するプログラムの処理フロー図で
ある第18図において、STEP1ではロボツト制
御部から起動指令SSが入力されたか否かをチエ
ツクし、入力されていなければ入力されるまで待
機し、入力された時点でSTEP2に処理を進める。
First, in FIG. 18, which is a processing flow diagram of a program executed by the CPU in the alignment control unit 54, in STEP 1, it is checked whether or not a start command SS has been input from the robot control section. Wait until it is input, and then proceed to STEP 2.

STEP2では、計測指令SAを第1、第2の駆動
検出回路45,46に出力すると共に、電源回路
50に発振指令SLを出力する。
In STEP 2, the measurement command SA is output to the first and second drive detection circuits 45 and 46, and the oscillation command SL is output to the power supply circuit 50.

それによつて、レーザ発生器15からスリツト
レーザ光LSが自動車用ドア30aの塗装外表面
30aに照射されるようになると共に、第1、第
2の駆動検出回路45,46が夫々姿勢検出用の
ラインセンサ42,43の駆動を開始して、アド
レスデータQ1,Q2を遂次出力するようになる。
As a result, the slit laser beam LS from the laser generator 15 is irradiated onto the painted outer surface 30a of the automobile door 30a, and the first and second drive detection circuits 45 and 46 are connected to the posture detection line. Driving of the sensors 42 and 43 is started, and address data Q 1 and Q 2 are successively output.

次に、STEP3では、第19図に示すプログラ
ムSUBを実行する。
Next, in STEP 3, program SUB shown in FIG. 19 is executed.

第19図のSTEP4では、第1、第2の駆動検
出回路45,46から最新のアドレスデータQ1
Q2を取り込む。
In STEP 4 of FIG. 19, the latest address data Q 1 ,
Import Q 2 .

次のSTEP5では、STEP4で取り込んだアドレ
スデータQ1,Q2に基づいて、前述した平行移動
量を示す値1024−(Q1+Q2)/2を交差角調整デ
ータDxとして演算する。
In the next STEP 5, based on the address data Q 1 and Q 2 taken in in STEP 4, the value 1024-(Q 1 +Q 2 )/2 indicating the amount of parallel movement described above is calculated as the intersection angle adjustment data Dx.

STEP6では、STEP4で取り込んだアドレスデ
ータQ1,Q2に基づいて、前述した回転量を示す
値Q1−Q2を傾斜角調整データDyとして演算す
る。
In STEP 6, based on the address data Q 1 and Q 2 taken in in STEP 4, the value Q 1 - Q 2 indicating the amount of rotation described above is calculated as the tilt angle adjustment data Dy.

なお、拡散スクリーン31上に投影されている
スリツト像SLが、欠陥検査用のラインセンサ4
1が撮像しているライン状の部位31a(第7図)
に位置していて、Q1,Q2がQ1,Q2=1024となつ
ている場合は、Dx,Dyともゼロである。
Note that the slit image SL projected on the diffusion screen 31 is the line sensor 4 for defect inspection.
Line-shaped part 31a imaged by No. 1 (Fig. 7)
, and when Q 1 and Q 2 are Q 1 and Q 2 = 1024, both Dx and Dy are zero.

STEP7では、STEP5,6で演算した交差角調
整データDx及び傾斜角調整データDyを同時に
夫々第16図のD/A変換器56,57に出力す
る。
In STEP 7, the intersection angle adjustment data Dx and inclination angle adjustment data Dy calculated in STEP 5 and 6 are simultaneously output to the D/A converters 56 and 57 shown in FIG. 16, respectively.

それによつて、D/A変換器56,57から前
述した調整電圧信号Vx,Vyが夫々出力されるよ
うになり、サーボアンプ48,49の作用により
第1、第2の調整機構13,10の駆動モータ2
5,19が回転駆動される。そして、これ等の駆
動モータ25,19が回転駆動されることによつ
て、前述した交差角δ及び傾斜角εが調整され
て、塗装外表面30aから正反射されたレーザス
リツト光LSが拡散スクリーン31におけるライ
ン状の部位31a上に結像するようになる。
As a result, the above-mentioned adjustment voltage signals Vx and Vy are outputted from the D/A converters 56 and 57, respectively, and the first and second adjustment mechanisms 13 and 10 are controlled by the action of the servo amplifiers 48 and 49. Drive motor 2
5 and 19 are rotationally driven. By rotationally driving these drive motors 25 and 19, the above-mentioned intersection angle δ and inclination angle ε are adjusted, and the laser slit light LS specularly reflected from the painted outer surface 30a is directed to the diffusion screen 31. The image is formed on a line-shaped portion 31a in .

そして、STEP8で再びアドレスデータQ1,Q2
を取り込んで、次のSTEP9にてQ1,Q2=1024と
なつているか否かをチエツクし、Q1,Q2≠1024
ならSTEP4に戻つてSTEP4〜8までの処理を繰
り返し、Q1,Q2=1024なら第18図のSTEP10
に処理を進める。
Then, in STEP 8, address data Q 1 , Q 2 again
In the next step 9, check whether Q 1 , Q 2 = 1024, and find out that Q 1 , Q 2 ≠ 1024
If so, return to STEP 4 and repeat the processing from STEP 4 to 8. If Q 1 , Q 2 = 1024, proceed to STEP 10 in Figure 18.
Proceed with the process.

なお、ここまでの処理は、第2図のロボツト8
が欠陥検査開始位置F0に到達して一旦停止した
時に行なわれるイニシヤル位置合せである。
Note that the processing up to this point is performed by robot 8 in Figure 2.
This is the initial positioning that is performed when the robot reaches the defect inspection starting position F 0 and once stops.

次に、STEP10ではイニシヤル位置合せが終了
して欠陥検査を開始しても良いと云うことで、図
示しないロボツト制御部にロボツト動作指令SR
を出力して、ロボツト8のプレーバツクを開始さ
せる。
Next, in STEP 10, after the initial alignment is completed, it is possible to start defect inspection, so a robot operation command SR is sent to the robot control section (not shown).
is output and the playback of the robot 8 is started.

STEP11では、再び第19図に示すプログラム
SUBを実行する。
In STEP11, the program shown in Figure 19 again
Execute SUB.

STEP12では、ロボツト制御部から一時停止指
令SEが入力されているか否かをチエツクし、入
力されていなければSTEP13に処理を進め、入力
されていればSTEP11に戻つて第19図のプログ
ラムSUBの実行を繰り返す。
In STEP 12, it is checked whether the temporary stop command SE has been input from the robot control unit. If it has not been input, the process proceeds to STEP 13. If it has been input, the process returns to STEP 11 and executes the program SUB shown in Figure 19. repeat.

このSTEP12のような処理を行なうようにした
のは、前述した塗装外表面30aにおける各折り
返し位置間をロボツト8が移動中は、スリツト像
SLの位置合せのみを行なつて、欠陥検査を行な
わないようにするためである。
The reason for carrying out the process like this STEP 12 is that while the robot 8 is moving between each folding position on the painted outer surface 30a, the slit image is
This is to perform only alignment of the SL and not perform defect inspection.

STEP12で一時停止指令SEが入力されていな
いことがチエツクされたら、次のSTEP13で第1
6図の欠陥検査用コントロールユニツト55に欠
陥検査許可指令SOKを出力した後、STEP14でロ
ボツト制御部から停止指令STが入力されたか否
かをチエツクし、入力されていなければSTEP11
に戻つて第19図のプログラムSUB含めて
STEP11からSTEP13までの処理を繰り返し、入
力されていればSTEP15に処理を進めて第1、第
2の駆動検出回路45,46及び電源回路50に
夫々出力していた計測指令SA及び発振指令SLを
停止し、全ての処理を終了する。
If it is checked in STEP 12 that the temporary stop command SE has not been input, the first
After outputting the defect inspection permission command SOK to the defect inspection control unit 55 shown in Fig. 6, it is checked in STEP 14 whether or not the stop command ST has been input from the robot control unit.
Return to and include the program SUB in Figure 19.
Repeat the processing from STEP 11 to STEP 13, and if they have been input, proceed to STEP 15 and output the measurement command SA and oscillation command SL that were output to the first and second drive detection circuits 45 and 46 and the power supply circuit 50, respectively. Stop and complete all processing.

以上のような処理が位置合せ用コントロールユ
ニツト54においてなされることにより、ロボツ
ト8のプレーバツク中、レーザ発生器15、検出
装置16、及び自動車用ドア30の塗装外表面3
0aの間の相対位置関係が、種々の要因によつて
ズレたり、塗装外表面30aが曲面となつていて
も塗装外表面30aから正反射されたレーザスリ
ツト光LSは、常に拡散スクリーン31における
欠陥検出用のラインセンサ41が撮像するライン
状の部位31a上に結像するようになり、それに
よつて塗装外表面30aの欠陥を検査できる。
By performing the above-mentioned processing in the alignment control unit 54, during the playback of the robot 8, the laser generator 15, the detection device 16, and the painted outer surface 3 of the automobile door 30 are
Even if the relative positional relationship between 0a and 0a deviates due to various factors or the painted outer surface 30a is curved, the laser slit light LS regularly reflected from the painted outer surface 30a always detects defects in the diffusion screen 31. An image is formed on the line-shaped portion 31a to be imaged by the line sensor 41, thereby making it possible to inspect the painted outer surface 30a for defects.

その欠陥検査は次のようにしてなされる。 The defect inspection is performed as follows.

すなわち、欠陥検査用コントロールユニツト5
5内のCPUが実行するプログラムの処理フロー
図である第20図において、STEP16ではロボツ
ト制御部から検査起動指令SSSが入力されたか否
かをチエツクし、入力されていなければ入力され
るまで待機し、入力された時点でSTEP17に処理
を進める。
That is, the defect inspection control unit 5
In FIG. 20, which is a processing flow diagram of the program executed by the CPU in 5, in STEP 16, it is checked whether the inspection start command SSS has been input from the robot control section, and if it has not been input, the robot waits until it is input. , the process advances to STEP 17 when it is input.

STEP17では、計測指令SBを第3の駆動検出
回路47に出力する。
In STEP17, the measurement command SB is output to the third drive detection circuit 47.

そして、次のSTEP18で第16図の位置合せ用
コントロールユニツト54から欠陥検査許可指令
SOKが入力されるのを待つて、該指令SOKが入
力されると、スリツト像LSがライン状の部位3
1aに位置していると云うことで、STEP19に処
理を進めて第3の駆動検出回路47から数値デー
タWを取り込む。
Then, in the next step 18, a defect inspection permission command is issued from the alignment control unit 54 shown in FIG.
Wait for SOK to be input, and when the command SOK is input, the slit image LS will appear at the line-shaped part 3.
Since it is located at position 1a, the process advances to STEP 19 and the numerical data W is fetched from the third drive detection circuit 47.

なお、この数値データWは、ロボツト8のプレ
ーバツク動作によつて走査されるレーザスリツト
光LSの塗装外表面30aにおける照射位置にブ
ツや傷等の欠陥がなければ「0」であり、あつた
場合にはその欠陥の大きさに応じた値である。
Note that this numerical data W is "0" if there is no defect such as a spot or scratch on the irradiation position of the laser slit light LS on the painted outer surface 30a scanned by the playback operation of the robot 8; is a value depending on the size of the defect.

STEP20では、STEP19で取り込んだ数値デー
タWと、予め図示しない操作盤を操作して設定し
た欠陥検査基準値lとを比較して、W≧lなら
STEP21に処理を進め、W<lならSTEP18に戻
つてSTEP18,19の処理を繰り返す。
In STEP 20, the numerical data W imported in STEP 19 is compared with the defect inspection standard value l set in advance by operating the operation panel (not shown), and if W≧l, then
The process advances to STEP21, and if W<l, returns to STEP18 and repeats the processes of STEP18 and STEP19.

STEP21では、W≧lで、検出した欠陥の大き
さが検査しようとしている欠陥の大きさ以上であ
るので、マーカ噴射指令SMをドライバ51に出
力し、それによつて電磁弁52の作用により欠陥
マーカ17のバネシリンダ17が作動して、欠陥
マーカ17から探査した塗装外表面30aの欠陥
の近傍に塗剤が吹き付けられて欠陥の位置がマー
クされる。
In STEP 21, since W≧l and the size of the detected defect is larger than the size of the defect to be inspected, a marker injection command SM is output to the driver 51, and the defect marker is thereby 17 of the spring cylinders 17 are activated, paint is sprayed near the defect on the painted outer surface 30a detected from the defect marker 17, and the position of the defect is marked.

そして、STEP22では、ロボツト制御部から検
査停止指令SSTが入力されたか否かをチエツク
し、入力されていなればSTEP18に戻つて
STEP18からSTEP21までの処理を繰り返し、入
力されていればSTEP23に処理を進めて第3の駆
動検出回路47に出力していた計数指令SBを停
止し、全ての処理を終了する。
Then, in STEP 22, it is checked whether the inspection stop command SST has been input from the robot control unit, and if it has not been input, the process returns to STEP 18.
The processing from STEP 18 to STEP 21 is repeated, and if the input has been received, the processing proceeds to STEP 23, where the counting command SB that has been output to the third drive detection circuit 47 is stopped, and all processing is completed.

以上のような処理が欠陥検査用コントロールユ
ニツト55においてなされることにより、第2図
の自動車用ドア30の塗装外表面30aの全域に
亘る欠陥検査を行なうことができる。
By performing the above processing in the defect inspection control unit 55, it is possible to perform defect inspection over the entire area of the painted outer surface 30a of the automobile door 30 shown in FIG.

そして、以上のような実施例によれば、第7図
の説明のところで述べた効果の他に次のような効
果を奏する。
According to the embodiment described above, in addition to the effects described in the explanation of FIG. 7, the following effects are achieved.

すなわち、拡散スクリーン31上の二次元面を
基準にして、位置ズレの検出及び位置合せを行な
うようにしているため、面倒な焦点調整が不用に
なるばかりか、位置ズレの検出系(姿勢センサ)
及び位置合せの調整系(第1、第2の調整機構)
の構成及び制御内容が比較的簡単になり、しかも
欠陥検出及び位置ズレ検出を同一の光源及び同一
の光学系(集光レンズ)で共用して行なつている
ため、小型化が計れる。
In other words, since the two-dimensional plane on the diffusion screen 31 is used as a reference to detect positional deviations and align the positions, not only is there no need for troublesome focus adjustment, but also a positional deviation detection system (orientation sensor) is required.
and alignment adjustment system (first and second adjustment mechanisms)
The configuration and control contents are relatively simple, and since the same light source and the same optical system (condensing lens) are used for defect detection and positional deviation detection, miniaturization can be achieved.

しかも、何ら特別な機構やセンサを用いなくと
も構成できるので、安価で実用的である。
Moreover, since it can be configured without using any special mechanism or sensor, it is inexpensive and practical.

そして、2軸の検出/調整系によつて、検査装
置と被検査物との間の位置許容差を広げられるの
で、前述したような移動検査態様にも検出の安定
度を損なうことなく容易に対応でき、種々な被検
査物の欠陥検査が可能となる。
Furthermore, the two-axis detection/adjustment system can widen the positional tolerance between the inspection device and the object to be inspected, making it possible to easily perform the above-mentioned mobile inspection mode without compromising detection stability. This makes it possible to inspect various objects for defects.

さらに、ビームスプリツタ44の作用を利用し
て、欠陥検出用のラインセンサ41と姿勢検出用
のラインセンサ42,43等を互いに相異なるセ
ンサ配置面40a,40bに設けて、ラインセン
サ42,43の間隔を自由に設定できるようにし
たので、湾曲したスリツト像でも拡散スクリーン
31のライン状の部位31aに合致させることが
できる。
Furthermore, by utilizing the action of the beam splitter 44, the line sensor 41 for defect detection, the line sensors 42, 43, etc. for posture detection are provided on different sensor placement surfaces 40a, 40b, and the line sensors 42, 43 Since the interval can be freely set, even a curved slit image can be made to match the line-shaped portion 31a of the diffusion screen 31.

なお、上記実施例では、自動車用ドア30を固
定して表面欠陥検査装置6の方をロボツト8によ
つて移物するようにしたが、逆に表面欠陥検査装
置6の方を固定して自動車用ドア30の方を移動
させるようにして表面検査を行なうこともでき
る。
In the above embodiment, the vehicle door 30 is fixed and the surface defect inspection device 6 is transferred by the robot 8, but conversely, the surface defect inspection device 6 is fixed and transferred to the vehicle. Surface inspection can also be performed by moving the door 30.

また、上記実施例では、塗装後の自動車用ドア
を例に採つて説明したが、塗装後の車両ボデイや
鏡面に近ければその他諸々の被検査物の検査をも
行なうことができる。
Further, in the above embodiment, a painted automobile door was used as an example, but it is also possible to inspect various other objects as long as they are close to a painted vehicle body or a mirror surface.

さらに、上記実施例ではレーザ発生器15の方
を動かして光軸L1,L2の交差角δを調整するよ
うにした例に就て述べたが、検出装置16の方を
動かすようにしても良く、又第1、第2の調整機
構13,10としては、実施例に限らず、交差角
δ及び傾斜角εを調整さえできればどのような構
造のものでも良い。
Furthermore, in the above embodiment, the intersecting angle δ of the optical axes L 1 and L 2 is adjusted by moving the laser generator 15, but the detection device 16 is moved. Moreover, the first and second adjustment mechanisms 13 and 10 are not limited to the embodiments, and may have any structure as long as the intersection angle δ and the inclination angle ε can be adjusted.

さらにまた、上記実施例では透過型の拡散スク
リーン31を用いた例に就て述べたが、反射型の
拡散スクリーンを用いることができることは云う
までもない。
Furthermore, although the above embodiment has been described using a transmission type diffusion screen 31, it goes without saying that a reflection type diffusion screen can also be used.

なお、上記実施例において、軸14によつて回
動される部分をレーザビーム光をレーザスリツト
光に変換するレンズ系のみにして、そのレンズ系
まで光フアイバを用いてレーザビーム光を導くよ
うにすれば、ロボツト8に取り付ける部分の表面
欠陥検査装置の構成をさらにコンパクトにするこ
とができる。
In the above embodiment, the part rotated by the shaft 14 is made only of the lens system that converts the laser beam into laser slit light, and the laser beam is guided to the lens system using an optical fiber. For example, the structure of the surface defect inspection device attached to the robot 8 can be made more compact.

効 果 以上述べたように、この発明によれば、拡散ス
クリーンからのスリツト状の散乱光をビームスプ
リツタによつて2方向に分光して、一方の第1の
分光方向にその第1のスリツト状分光を検出する
欠陥検出用のラインセンサを配置すると共に、他
方の第2の分光方向に、その第2のスリツト状分
光を欠陥検出用のラインセンサに対する第1のス
リツト状分光の姿勢検出用の分光として検出する
複数の姿勢検出用のラインセンサを該ラインセン
サと第2のスリツト状分光とが互いに交差するよ
うに配置したので、湾曲したスリツト像であつて
も欠陥検出用のラインセンサが撮像する拡散スク
リーンにおけるライン状の部位にそれを容易に位
置合せすることが可能になる。
Effects As described above, according to the present invention, the slit-shaped scattered light from the diffusion screen is split into two directions by the beam splitter, and the first slit is split in one of the first spectral directions. A line sensor for defect detection that detects a slit-like spectrum is arranged, and the second slit-like spectrum is arranged in the other second spectral direction for detecting the attitude of the first slit-like spectrum with respect to the line sensor for defect detection. Since a plurality of attitude detection line sensors are arranged so that the line sensors and the second slit-shaped spectral lines intersect with each other, the line sensors for detecting defects can be detected even when the slit image is curved. It becomes possible to easily align the line-shaped portion on the diffusion screen to be imaged.

それによつて、この発明を適用した表面欠陥検
査装置を用いれば、例えば自動車の各種パネルの
ように外表面が曲面になつている被検査物の表面
欠陥検査を行なうことがきる。
Accordingly, by using the surface defect inspection apparatus to which the present invention is applied, surface defect inspection can be performed on objects to be inspected whose outer surfaces are curved, such as various types of automobile panels.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来の表面欠陥検出装置の検査原理
の一例を示す模式図、第2図は、この発明による
センサ配置構造を適用した表面欠陥検査装置の制
御系を除いた部分の一実施例を示す斜視構成図、
第3図は、第2図の表面欠陥検出装置6の欠陥マ
ーカ17を除いた部分の詳細を示す正面図、第4
図は、第3図の右側面図、第5図は、第1の調整
機構13の詳細図、第6図は、第2の調整機構1
0の詳細図、第7図は、この発明に係わる検出装
置16の内部構成を示す斜視図、第8図及び第9
図は、夫々検出装置16の検出原理及びその作用
効果の説明に供する模式図、第10図は、塗装外
表面30aの三次的な相対位置変化に基づく拡散
スクリーン31上でのスリツト像の二次元的な位
置変化を示す模式図、第11図は、第7図の姿勢
検出用のラインセンサ42,43によるスリツト
像の検出の様子を示す説明図、第12図は、交差
角δ及び傾斜角εを変化させた時のスリツト像の
位置変化の様子を示す模式図、第13図は、塗装
外表面30aが曲面の場合のレーザスリツト光及
びスリツト像の様子を示す模式図、第14図は、
第7図の姿勢検出用のラインセンサ42,43に
よる第13図に示すスリツト像の検出の様子を示
す説明図、第15図は、第13図に示すスリツト
像をライン状の部位30aに重ねたときの様子を
示す説明図、第16図は、第2図の表面欠陥検査
装置6の制御系の一実施例を示すブロツク図、第
17図は、第16図の第1〜第3の駆動検出回路
45〜47の機能説明に供する波形図、第18図
乃至第20図は、夫々第16図の位置合せ用コン
トロールユニツト54及び欠陥検出用コントロー
ルユニツト55内のCPUが夫々実行するプログ
ラムの処理フロー図である。 6……表面欠陥検査装置、8……ロボツト、9
……基部、10……第2の調整機構、12……可
動ステー、13……第1の調整機構、15……レ
ーザ発生器、16……検出装置、17……欠陥マ
ーカ、19,25……駆動モータ、30……自動
車用ドア(被検査物)、30a……塗装外表面、
31……拡散スクリーン、33……カメラ部、3
3a……集光レンズ、41……欠陥検出用のライ
ンセンサ、42,43……姿勢検出用のラインセ
ンサ、44……ビームスプリツタ、45……第1
の駆動検出回路、46……第2の駆動検出回路、
47……第3の駆動検出回路、48,49……サ
ーボアンプ、50……電源回路、51……ドライ
バ、52……電磁弁、53……制御部、54……
位置合せ用コントロールユニツト、55……欠陥
検出用コントロールユニツト。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the inspection principle of a conventional surface defect detection device, and FIG. 2 is an example of a portion of a surface defect inspection device to which the sensor arrangement structure according to the present invention is applied, excluding the control system. A perspective configuration diagram showing
FIG. 3 is a front view showing details of the surface defect detection device 6 of FIG. 2 excluding the defect marker 17;
The figure is a right side view of FIG. 3, FIG. 5 is a detailed view of the first adjustment mechanism 13, and FIG. 6 is a detailed view of the second adjustment mechanism 1.
0, FIG. 7 is a perspective view showing the internal structure of the detection device 16 according to the present invention, and FIGS. 8 and 9 are
10 is a two-dimensional diagram of a slit image on the diffusion screen 31 based on a tertiary relative position change of the painted outer surface 30a. FIG. 11 is an explanatory diagram showing how the slit image is detected by the line sensors 42 and 43 for attitude detection shown in FIG. 7, and FIG. FIG. 13 is a schematic diagram showing how the position of the slit image changes when ε is changed. FIG.
An explanatory diagram showing how the slit image shown in FIG. 13 is detected by the line sensors 42 and 43 for attitude detection shown in FIG. 7, and FIG. 15 shows the slit image shown in FIG. FIG. 16 is a block diagram showing an embodiment of the control system of the surface defect inspection device 6 shown in FIG. 2, and FIG. The waveform diagrams in FIGS. 18 to 20 used to explain the functions of the drive detection circuits 45 to 47 are the programs executed by the CPUs in the alignment control unit 54 and defect detection control unit 55 in FIG. 16, respectively. It is a process flow diagram. 6... Surface defect inspection device, 8... Robot, 9
... Base, 10 ... Second adjustment mechanism, 12 ... Movable stay, 13 ... First adjustment mechanism, 15 ... Laser generator, 16 ... Detection device, 17 ... Defect marker, 19, 25 ... Drive motor, 30 ... Automobile door (object to be inspected), 30a ... Painted outer surface,
31... Diffusion screen, 33... Camera section, 3
3a...Condenser lens, 41...Line sensor for defect detection, 42, 43...Line sensor for posture detection, 44...Beam splitter, 45...First
drive detection circuit, 46... second drive detection circuit,
47... Third drive detection circuit, 48, 49... Servo amplifier, 50... Power supply circuit, 51... Driver, 52... Solenoid valve, 53... Control unit, 54...
Control unit for alignment, 55... Control unit for defect detection.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 被検査物の表面に照射して反射させたレーザ
スリツト光を拡散スクリーンに投影拡散させて、
そのスリツト状の散乱光を検出することによつて
前記被検査物の表面の欠陥を検査するようにした
表面欠陥検査装置において、 前記拡散スクリーンからのスリツト状の散乱光
をビームスプリツタによつて2方向に分光して、
一方の第1の分光方向にその第1のスリツト状分
光を検出する欠陥検出用のラインセンサを配置す
ると共に、他方の第2の分光方向にその第2のス
リツト状分光を前記欠陥検出用のラインセンサに
対する前記第1のスリツト状分光の姿勢検出用の
分光として検出する複数の姿勢検出用のラインセ
ンサを、該各ラインセンサと前記第2のスリツト
状分光とが互いに交差するように配置したことを
特徴とする表面欠陥検査装置におけるセンサ配置
構造。
[Claims] 1. Laser slit light irradiated onto the surface of the object to be inspected and reflected is projected onto a diffusion screen and diffused,
In a surface defect inspection device that inspects defects on the surface of the object to be inspected by detecting the slit-shaped scattered light, the slit-shaped scattered light from the diffusion screen is detected by a beam splitter. Split into two directions,
A defect detection line sensor for detecting the first slit-like spectrum is arranged in one first spectral direction, and a line sensor for detecting the defect is arranged in the other second spectral direction to detect the second slit-like spectrum. A plurality of attitude detection line sensors are arranged to detect the first slit-shaped spectral spectrum as an attitude detection spectral spectrum with respect to the line sensor, and each of the line sensors and the second slit-shaped spectral spectrum intersect with each other. A sensor arrangement structure in a surface defect inspection device characterized by:
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