JPH0330834B2 - - Google Patents
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- JPH0330834B2 JPH0330834B2 JP57129868A JP12986882A JPH0330834B2 JP H0330834 B2 JPH0330834 B2 JP H0330834B2 JP 57129868 A JP57129868 A JP 57129868A JP 12986882 A JP12986882 A JP 12986882A JP H0330834 B2 JPH0330834 B2 JP H0330834B2
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- G01R29/0807—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
- G01R29/0814—Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電子機器の放射干渉感度試験(以下
「RS試験」と呼ぶ、RSはRadiated
Susceptabilityの略)を行うRS試験装置におい
て、上記電子機器に浴びせかける電磁波の電界強
度を正確にかつ安全に制御することのできる機能
を備えたRS試験装置を提供するものである。[Detailed description of the invention] This invention is a radiation interference sensitivity test (hereinafter referred to as "RS test", RS is Radiated
The purpose of the present invention is to provide an RS test device that performs susceptability (abbreviation for susceptability), which is equipped with a function that can accurately and safely control the electric field strength of electromagnetic waves that are applied to the electronic equipment.
この種RS試験は電磁適合性(以下「EMC」と
呼ぶ)試験の一つであつて、供試体である電子機
器が電波干渉に対してどの程度の耐性を有するか
を試験するものである。 This type of RS test is one of the electromagnetic compatibility (hereinafter referred to as "EMC") tests, and tests the degree of resistance of electronic equipment under test to radio wave interference.
まず従来のこの種装置について図を用いて簡単
に説明する。 First, a conventional device of this type will be briefly explained using figures.
第1図は従来のRS試験装置を示す構成ブロツ
ク図であり、図中1は供試体、2は送信アンテ
ナ、3は受信アンテナ、4は処理プログラム、測
定データ、及び試験条件などを記憶する記憶装
置、5は中央処理装置へ情報を入力する入力装
置、6は、上記処理プログラムに従つて演算や処
理を行う中央処理装置(以下「CPU」と呼ぶ)、
7は上記CPU6の制御命令によつて高周波信号
(以下「RF信号」と呼ぶ)を所定の出力レベルと
周波数で発生する信号発生器、8は上記信号発生
器7に接続され、そのRF信号出力のレベルを
CPU6の制御命令に従つて調節する減衰器、9
は上記減衰器8でレベル調節されたRF信号の電
力増幅を行う増幅器、10は上記増幅器9の出力
端に接続され、電力増幅されたRF信号を一方向
のみ通過させ反射を阻止して上記増幅器9を保護
すると共にその出力を安定にする非可逆回路(例
えばアイソレータやサーキユレータなど)でRF
伝送路16経由送信アンテナ2へ接続される。 FIG. 1 is a configuration block diagram showing a conventional RS test device, in which 1 is a specimen, 2 is a transmitting antenna, 3 is a receiving antenna, and 4 is a memory for storing processing programs, measurement data, test conditions, etc. 5 is an input device that inputs information to the central processing unit; 6 is a central processing unit (hereinafter referred to as "CPU") that performs calculations and processing according to the processing program;
7 is a signal generator that generates a high frequency signal (hereinafter referred to as "RF signal") at a predetermined output level and frequency according to the control command of the CPU 6; 8 is connected to the signal generator 7 and outputs the RF signal; the level of
an attenuator adjusted according to control instructions of the CPU 6;
is an amplifier that amplifies the power of the RF signal whose level has been adjusted by the attenuator 8, and 10 is connected to the output terminal of the amplifier 9, and passes the power-amplified RF signal in only one direction and prevents reflection. RF with a non-reciprocal circuit (such as an isolator or circulator) that protects the
It is connected to the transmitting antenna 2 via a transmission line 16.
11は受信アンテナ3で受信した上記RF信号
がRF伝送路16経由入力されたときCPU6の制
御命令に従つて上記RF信号の強度を計測し、そ
の強度値をCPU6ヘインターフエースバスケー
ブル17経由送出する受信機、1は上記CPU6
と入力装置5、信号発生器7、減衰器8、受信機
11、表示装置及び印字装置14との中継を行う
入出力インタフエース、13は入力装置5によつ
て入力された情報や試験結果を表示する表示装置
(例えばCRTデイスプレイ)、14は出力印字や
グラフイツクプロツトを行う印字装置、15は上
記供試体1、送信アンテナ2及び受信アンテナ3
を収納して送信アンテナ2から放射される電波が
外部へ漏洩しないよう電磁遮蔽を行う遮蔽室であ
る。 11 measures the intensity of the RF signal received by the receiving antenna 3 and inputs it via the RF transmission path 16 according to the control command of the CPU 6, and sends the intensity value to the CPU 6 via the interface bus cable 17. receiver, 1 is the above CPU6
An input/output interface 13 relays between the input device 5, signal generator 7, attenuator 8, receiver 11, display device and printing device 14; A display device (for example, a CRT display) for display, 14 a printing device for output printing and graphic plotting, 15 the above-mentioned specimen 1, a transmitting antenna 2, and a receiving antenna 3.
This is a shielding room that houses the transmitting antenna 2 and performs electromagnetic shielding to prevent radio waves radiated from the transmitting antenna 2 from leaking to the outside.
このような構成において供試体1に電波を浴び
せかけようとするとき、まず送信アンテナ2と受
信アンテナ3を互いに向き合わせ、所定の位置関
係に設定した後、送信アンテナ2から放射される
電磁波の電界強度の校正を行う。この作業はRS
試験を行う周波数帯(一般に10KHz〜40GHz)で
使用する送信アンテナ2及び受信アンテナ3の種
類(通常は6種〜7種)の数だけ送信アンテナ2
及び受信アンテナ3を取り替えながら繰返し実施
されるのであるが、この校正における従来装置の
動作は次のようになる。 When attempting to bombard the specimen 1 with radio waves in such a configuration, first the transmitting antenna 2 and the receiving antenna 3 are faced to each other and set in a predetermined positional relationship, and then the electric field strength of the electromagnetic waves radiated from the transmitting antenna 2 is adjusted. Perform proofreading. This work is RS
The number of transmitting antennas 2 equal to the number of transmitting antennas 2 and receiving antennas 3 (usually 6 to 7 types) used in the frequency band to be tested (generally 10KHz to 40GHz)
The calibration is repeated while replacing the receiving antenna 3. The operation of the conventional apparatus in this calibration is as follows.
校正を実施するための処理プログラムは記憶装
置4は記憶されているが、入力装置5から操作者
が命令を入力すると、CPU6は上記処理プログ
ラムを呼びだし取り入れた後これを実行する。 A processing program for carrying out the calibration is stored in the storage device 4, but when an operator inputs a command from the input device 5, the CPU 6 calls and imports the processing program, and then executes it.
処理プログラムに従つて信号発生器7から所定
周波数とレベルの高周波信号(以下「RF信号」
と呼ぶ)を発生させ、これを減衰器8に入力して
レベル調節したのち増幅器9に入力して増幅す
る。増幅されたRF信号は非可逆回路10経由送
信アンテナ2に入力され電波となつて放射され
る。 A high frequency signal (hereinafter referred to as "RF signal") of a predetermined frequency and level is generated from the signal generator 7 according to the processing program.
) is input to an attenuator 8 to adjust the level, and then input to an amplifier 9 for amplification. The amplified RF signal is input to the transmitting antenna 2 via the irreversible circuit 10 and is radiated as a radio wave.
この電波の電界成分が受信アンテナ3によつて
受信され受信機11へ入力され、その強度が計測
される。この放射電界強度値は受信機11内でデ
イジタル信号に変換されて入出力インタフエース
12経由CPU6へ送られる。処理プログラムは
上記放射電界強度値を所定の電界強度規格と比較
して、両者を一致させるため誤差分を修正するよ
うに減衰器8へ命令を出して、この減衰量を調節
する。 The electric field component of this radio wave is received by the receiving antenna 3, inputted to the receiver 11, and its intensity is measured. This radiated field strength value is converted into a digital signal within the receiver 11 and sent to the CPU 6 via the input/output interface 12. The processing program compares the radiation field strength value with a predetermined field strength standard and issues a command to the attenuator 8 to correct the error in order to make the two match, thereby adjusting the amount of attenuation.
上記減衰量の調節値は記憶装置4に記憶され
る。 The adjustment value of the amount of attenuation is stored in the storage device 4.
以上の校正処理は送信アンテナ2と受信アンテ
ナ3の周波数範囲において所定の周波数区間でそ
れぞれ繰り返され、上記周波数範囲において校正
処理が終了した後、受信アンテナ3を取り除き、
送信アンテナ2を供試体1方向に向けるように設
定変更する。 The above calibration process is repeated at predetermined frequency intervals in the frequency range of the transmitting antenna 2 and the receiving antenna 3, and after the calibration process is completed in the frequency range, the receiving antenna 3 is removed,
The settings are changed so that the transmitting antenna 2 is directed toward the specimen 1.
次にRS試験を行うため、上述の校正処理で得
られた減衰器8の調節量を記憶装置4から呼び出
し、上記所定の周波数区間に対応した上記調節値
を用いて減衰器8を調節しながら、上述と同様に
送信アンテナ2から所定の放射電界強度を有する
電波を放射して供試体1に浴びせかける。 Next, in order to perform the RS test, the adjustment amount of the attenuator 8 obtained in the above-mentioned calibration process is read from the storage device 4, and while adjusting the attenuator 8 using the adjustment value corresponding to the predetermined frequency section. Similarly to the above, a radio wave having a predetermined radiated electric field strength is emitted from the transmitting antenna 2 and showered on the specimen 1.
このようにして送信アンテナ2の周波数範囲に
おいて、放射電界強度を所定の値に制御してい
る。 In this way, the radiated electric field strength is controlled to a predetermined value in the frequency range of the transmitting antenna 2.
ところが、上記放射電界強度の制御には次のよ
うな欠点がある。 However, the above control of the radiation field strength has the following drawbacks.
すなわち、送信アンテナ2と受信アンテナ3を
対向させて電界校正を行うので供試体1まわりの
電界がどのようになつているのか不明であるこ
と、さらに、RS試験は遮蔽室で行われるため、
この室内に存在する共振現象によつて大きな電界
分布の変動がある。この電界分布は送信アンテナ
2の室内における設定位置及び周波数に関係して
いるため、この変動を予測することは困難であ
り、上述のような電界校正と電界レベル制御を行
つている限り最適な電界を生成することは不可能
である。そして、例えば100V/mもの高電界を
生成しようとする場合、電界レベル制御が不適当
で異常に高い電界レベルに達することがあり、供
試体1を破壊するに至る。さらにまた、送信アン
テナ2の周波数範囲に応対した受信アンテナ3を
用い校正を行うため、作業が煩雑となり時間が長
くかかること、などの欠点がある。 That is, since the electric field calibration is performed with the transmitting antenna 2 and the receiving antenna 3 facing each other, it is unclear what the electric field around the specimen 1 is like, and furthermore, since the RS test is conducted in a shielded room,
There is a large fluctuation in the electric field distribution due to the resonance phenomenon that exists in this room. This electric field distribution is related to the indoor setting position and frequency of the transmitting antenna 2, so it is difficult to predict this variation.As long as the electric field calibration and electric field level control described above are performed, It is impossible to generate . When attempting to generate an electric field as high as 100 V/m, for example, the electric field level may be inappropriately controlled and reach an abnormally high electric field level, leading to destruction of the specimen 1. Furthermore, since the calibration is performed using the receiving antenna 3 that corresponds to the frequency range of the transmitting antenna 2, there is a drawback that the work is complicated and takes a long time.
この発明はこのような従来のRS試験装置にお
ける問題点を解決し、安全で正確なRS試験装置
を提供するもので以下図を用いてこの発明を詳述
する。 The present invention solves the problems in the conventional RS test device and provides a safe and accurate RS test device.The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
以下、この発明の一実施例を第2図から第7図
にわたつて示す。第2図はこの発明の一実施例の
構成図、第3図は電界強度計測装置及び電界セン
サの構成図、第4図は処理の流れを示す流れ図、
第5図は計測、制御、処理の処理を示す信号系統
図、第6図は時間領域における電界強度と制御量
との関係を示す図、第7図は周波数領域における
減衰器の調節値と制御量の最終値との関係を示す
図である。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be shown in FIGS. 2 to 7. FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a configuration diagram of an electric field strength measuring device and an electric field sensor, and FIG. 4 is a flowchart showing the flow of processing.
Figure 5 is a signal system diagram showing measurement, control, and processing processing; Figure 6 is a diagram showing the relationship between electric field strength and control amount in the time domain; Figure 7 is a diagram showing the attenuator adjustment value and control in the frequency domain. It is a figure which shows the relationship with the final value of quantity.
図中、1,2,4〜10,12〜17は第1図
に同じである。18は非可逆回路10の出力端に
接続され、RF信号の一部を取出しRF電力計19
へ出力し、上記RF信号の主要部分を送信アンテ
ナ2側へ出力する結合器である。 In the figure, 1, 2, 4 to 10, and 12 to 17 are the same as in FIG. 18 is connected to the output terminal of the irreversible circuit 10 and takes out a part of the RF signal and sends it to an RF power meter 19
This is a coupler that outputs the main part of the RF signal to the transmitting antenna 2 side.
上記RF電力計19は上記結合器18によつて
取り出されたRF信号の一部の電力をCPU6の制
御命令に従つて計測し、この計測値を入出力イン
タフエース12を介してCPU6へ導入するもの
である。 The RF power meter 19 measures the power of a part of the RF signal extracted by the coupler 18 according to the control command of the CPU 6, and introduces this measured value to the CPU 6 via the input/output interface 12. It is something.
20は送信アンテナ2から放射される電波の電
界強度を検出する電界センサ、21は上記電界セ
ンサ20と電界強度計測装置22との間で光信号
を電送するフアイバケーブルである。 20 is an electric field sensor that detects the electric field strength of radio waves radiated from the transmitting antenna 2; 21 is a fiber cable that electrically transmits optical signals between the electric field sensor 20 and the electric field strength measuring device 22;
この電界強度計測装置22は上記電界センサ2
0から得られる電界検出信号をCPU6の制御命
令に従つて処理し放射電界強度値として、これを
CPU6へ送出するようになつている。 This electric field strength measuring device 22 is the electric field sensor 2
The electric field detection signal obtained from
It is configured to be sent to CPU6.
第3図は電界強度計測装置及び電界センサの構
成図であり、図中、23はフアイバケーブル21
を内蔵する誘電体、24〜38は上記電界強度計
測装置22の構成要素であり、24はインタフエ
ースバスケーブル17経由CPU6に接続され、
CPU6に接続され、CPU6と授受する信号の中
継を行うインタフエース回路、25はCPU6の
命令を解読するデコーダ、26は上位放射電界強
度値などを記憶するレジスタ、27は上記放射電
界強度値を誤差検出回路37から取出しアナログ
信号をデイジタル信号に変換するA/D変換回
路、28は光束29を発光する光源、30は光束
29を集束する第1のレンズ、31は光束29を
分配する光分配器、32は光束29を集束する第
2のレンズ、33は光束29を集束する第3のレ
ンズ、34は上記第3のレンズ33で集束された
光束29が入射する第1の光電変換素子、35は
上記光分配器31で分配された光束29の一部を
反射しかつ集束させる反射鏡、36は上記反射鏡
35で集束された光束29を受光する第2の光電
変換素子、37は上記第1の光電変換素子34と
第2の光電変換素子36の電気信号の比較を行う
誤差検出回路、38はレジスタ26に記憶された
電界強度データなどを整えインタフエース回路2
4へ送出するエンコーダである。 FIG. 3 is a configuration diagram of an electric field strength measuring device and an electric field sensor, and in the figure, 23 is a fiber cable 21.
24 to 38 are the components of the electric field strength measuring device 22, and 24 is connected to the CPU 6 via the interface bus cable 17.
An interface circuit connected to the CPU 6 and relaying signals exchanged with the CPU 6; 25 a decoder that decodes instructions from the CPU 6; 26 a register that stores upper-level radiation field strength values; and 27 an error in the radiation field strength values. 28 is a light source that emits the light beam 29; 30 is a first lens that focuses the light beam 29; and 31 is a light splitter that distributes the light beam 29. , 32 is a second lens that focuses the light beam 29, 33 is a third lens that focuses the light beam 29, 34 is a first photoelectric conversion element on which the light beam 29 focused by the third lens 33 is incident, 35 36 is a reflecting mirror that reflects and focuses a part of the luminous flux 29 distributed by the optical distributor 31; 36 is a second photoelectric conversion element that receives the luminous flux 29 focused by the reflecting mirror 35; An error detection circuit 38 compares the electric signals of the first photoelectric conversion element 34 and the second photoelectric conversion element 36, and 38 is an interface circuit 2 that arranges electric field strength data stored in the register 26.
This is an encoder that sends data to 4.
次に、この発明の一実施例の動作を第2図から
第7図を用いて説明する。第4図のAで入力装置
5から入出力インタフエース12を介してCPU
6へ試験条件を入力する。この試験条件にはRS
試験の周波数範囲と所要電界強度及び周波数掃引
ステツプ、処理の初期状態、制御の領界値、サン
プリング区間での繰り返し数、最初の最適化区間
における初期試行データ及び初期設定データが含
まれる。 Next, the operation of one embodiment of the present invention will be explained using FIGS. 2 to 7. At A in FIG. 4, the input device 5 connects the CPU via the input/output interface 12.
Enter the test conditions in step 6. This test condition requires RS
It includes the frequency range of the test, the required electric field strength and the frequency sweep step, the initial state of the process, the control boundary value, the number of repetitions in the sampling interval, the initial trial data and the initial setting data in the first optimization interval.
第4図のBの信号発生器7、減衰器8、RF電
力計19及び電界強度計測装置22の初期設定を
上記初期設定データを用い、処理プログラムの働
らきによつてCPU6から入出力インターフエー
ス12経由制御命令を送出することによつて行
う。 The initial settings of the signal generator 7, attenuator 8, RF power meter 19, and field strength measuring device 22 shown in B of FIG. This is done by sending a control command via No. 12.
第4図のCで上記RS試験の周波数範囲におけ
る第1の周波数掃引ステツプに相当する周波数を
出力するようCPU6から信号発生器7へ駆動命
令を送出する。 At C in FIG. 4, the CPU 6 sends a drive command to the signal generator 7 to output a frequency corresponding to the first frequency sweep step in the frequency range of the RS test.
さらに上記最初の最適化区間における初期試行
データに基づいてCPU6から減衰器8へ所定の
減衰量に設定するよう駆動命令が送出される。 Furthermore, a drive command is sent from the CPU 6 to the attenuator 8 to set it to a predetermined amount of attenuation based on the initial trial data in the first optimization section.
さらにまた、RF電力計19及び電界強度計測
装置22へ駆動命令が送出され、これらを準備状
態に設定する。 Furthermore, a drive command is sent to the RF power meter 19 and the field strength measuring device 22 to set them in a ready state.
第4図のDで測定、制御、及び処理が行われる
のであるが、Dについて第2図、第3図、第5
図、第6図及び第7図を用いて説明する。 Measurement, control, and processing are performed at D in Figure 4.
This will be explained using FIGS. 6 and 7.
第5図において、の計測ではRF電力計19
により、電力増幅されたRF信号の電力が計測さ
れ、かつ電界センサ20及び電界強度計測装置2
2により送信アンテナ2によつて放射された電波
の供試体1近傍電界強度が計測される。この動作
をさらに詳しくみると第3図において、上記電波
が電界センサ20の誘電体23へ入射すると誘電体
損によつて誘電体23が発熱する。この熱は誘電
体23内に埋設されているフアイバケーブル21
に伝わり、この光伝送損失を変化させる。 In Figure 5, in the measurement of RF power meter 19
The power of the power-amplified RF signal is measured, and the electric field sensor 20 and the electric field strength measuring device 2
2, the electric field strength near the specimen 1 of the radio waves radiated by the transmitting antenna 2 is measured. Looking at this operation in more detail, in FIG. 3, when the radio wave is incident on the dielectric 23 of the electric field sensor 20, the dielectric 23 generates heat due to dielectric loss. This heat is transferred to the fiber cable 21 buried in the dielectric 23.
and changes this optical transmission loss.
一方、CPU6とインタフエースバスケーブル
17によつて接続されるインターフエース回路2
4はCPU6の制御命令を受信してデコーダ25
へ送り、ここで上記制御命令が解読されレジスタ
26及びA/D変換回路27へ送られる。 On the other hand, an interface circuit 2 connected to the CPU 6 by an interface bus cable 17
4 receives the control command from the CPU 6 and sends it to the decoder 25.
Here, the control command is decoded and sent to the register 26 and A/D conversion circuit 27.
さて、光源28から放射された光束29は第1
のレンズ30によつて集束されて光分配器31へ
入射し、ここで分配され一部の光束29が直進し
て第2のレンズ32経由フアイバケーブル21へ
入射する。この光束29はフアイバケーブル21
で伝送さて電界センサ20を通つて電界強度計測
装置22へ戻つてくる。そして第3のレンズ33
へ入射し、集束されて第1の光電変換素子34へ
入射して第1の電気信号に変換される。 Now, the luminous flux 29 emitted from the light source 28 is the first
The light beam 29 is focused by the lens 30 and enters the light splitter 31, where it is divided and a part of the light beam 29 travels straight and enters the fiber cable 21 via the second lens 32. This light beam 29 is transmitted through the fiber cable 21
Then, it passes through the electric field sensor 20 and returns to the electric field strength measuring device 22. and the third lens 33
The light enters the photoelectric conversion element 34, is focused, and enters the first photoelectric conversion element 34, where it is converted into a first electrical signal.
一方、先に分配された光束29の他の一方は反
射鏡35により経路変更かつ集束され第2の光電
変換素子36へ入射し、ここで第2の電気信号に
変換される。 On the other hand, the other part of the previously distributed luminous flux 29 is rerouted and focused by the reflecting mirror 35 and enters the second photoelectric conversion element 36, where it is converted into a second electrical signal.
上記第1と第2の電気信号は誤差検出回路37
によつて比較され、これらの差分がとりだされて
A/D変換回路27へ入力される。ここでデイジ
タル信号に変換されてレジスタ26に保持され
る。 The first and second electrical signals are transmitted to the error detection circuit 37.
These differences are extracted and input to the A/D conversion circuit 27. Here, it is converted into a digital signal and held in the register 26.
そしてCPU6の命令に従つてエンコーダ38
経由インターフエース回路24を通つてCPU6
へ放射電界強度値として送出される。 Then, according to the instructions of the CPU 6, the encoder 38
CPU 6 via interface circuit 24
It is sent as a radiated field strength value.
次に第5図において、Jで制御が行われる。こ
こでは放射電界規格値に上記放射電界強度値が合
致するようKでCPU6により最適化制御の計算
が行われ、この結果、制御量が求められて、この
制御量が処理Mへ入力される。 Next, in FIG. 5, control is performed at J. Here, optimization control calculations are performed by the CPU 6 at K so that the radiation electric field intensity value matches the radiation electric field standard value, and as a result, a control amount is determined and this control amount is input to the process M.
Mでは上記制御量に基づいて、CPU6が減衰
器8へ命令を送り、その減衰量を調節して送信ア
ンテナ2から放射される電波の放射電界強度を調
節する。 In M, the CPU 6 sends a command to the attenuator 8 based on the control amount, and adjusts the amount of attenuation to adjust the radiated electric field strength of the radio waves radiated from the transmitting antenna 2.
次にIで、電界センサ20及び電界強度計測装
置22へCPU6が命令を与え、上記放射電界強
度を計測させる。この結果得られた放射電界強度
値はインタフエースバス17及び入出力インタフ
エース経由CPU6へ送られる。 Next, at I, the CPU 6 gives a command to the electric field sensor 20 and the electric field strength measuring device 22 to measure the radiated electric field strength. The radiation field strength value obtained as a result is sent to the CPU 6 via the interface bus 17 and the input/output interface.
次にLで、CPU6によつて状態推定及び識別
が行われる。状態推定とは外乱、すなわち増幅器
9の増幅度の変動や遮蔽室15の共振による放射
電界強度の変化が生じたとき、これら外乱と制御
量とのベクトル和で表わされる状態変数を測定す
ることである。状態変数の推定にはカルマンフイ
ルター(Kalmanfilter)の理論を用いることが
できる。 Next, at L, state estimation and identification are performed by the CPU 6. State estimation is the process of measuring the state variable expressed as the vector sum of these disturbances and the control amount when a disturbance occurs, that is, a change in the amplification degree of the amplifier 9 or a change in the radiated electric field intensity due to resonance of the shielding chamber 15. be. Kalman filter theory can be used to estimate the state variables.
また、Lの識別とは上記状態変数の推定におい
て過去の制御量データ、具体的には減衰器8の調
節量をCPU6の計算によつて例えば指数関数状
に重み付けすることであつて、現在に近い制御量
データほど重要な要素として上記状態変数の推定
を行うものである。 In addition, the identification of L means weighting the past control amount data, specifically the adjustment amount of the attenuator 8, in an exponential manner by calculation of the CPU 6 in estimating the state variable. The closer the control amount data is, the more important the state variable is estimated.
次にKで、Lで推定された状態変数を基に
CPU6が最適化制御の計算を上述のように行う。 Next, in K, based on the state variables estimated in L,
The CPU 6 performs optimization control calculations as described above.
なお、Jに示された動作、すなわちKとLは第
6図に示されているように、サンプリング区間△
Tの間に行われ、制御量Qは△毎に変化し、この
動作がCPU6によつて繰返され、放射電界強度
Pが放射電界規格値に合致するよう制御される。 Note that the operation shown in J, that is, K and L, is within the sampling interval △, as shown in FIG.
The control amount Q changes every time T, and this operation is repeated by the CPU 6 to control the radiated electric field strength P so that it matches the radiated electric field standard value.
次に、第4図において、EでCPU6が上記サ
ンプリング区間△Tの繰返しが終了したかどうか
を判定し、終了しないとき、Gへ移りサンプリン
グ区間△Tを1ステツプ進めて再びDを実行し、
終了したときはHへ移り、第7図における周波数
ステツプ△Fを1ステツプ進めて再びC、D、
E、F、Gを繰り返す。 Next, in FIG. 4, at E, the CPU 6 determines whether or not the repetition of the sampling interval ΔT has ended, and if it has not, it moves to G, advances the sampling interval ΔT by one step, and executes D again.
When finished, move to H, advance frequency step △F in Fig. 7 by one step, and repeat C, D,
Repeat E, F, G.
以上の動作をRS試験の全周波数範囲で繰り返
すことによつて、第7図に示されるように制御量
Qの△T終端における最終値O及び減衰器8の調
節量Nが得られ放射電界強度は所定の放射電界強
度規格に合致するよう全周波数範囲にわたり制御
される。 By repeating the above operation over the entire frequency range of the RS test, the final value O of the control amount Q at the ΔT terminal and the adjustment amount N of the attenuator 8 are obtained, as shown in FIG. is controlled over the entire frequency range to meet predetermined radiated field strength standards.
このような動作をするからその効果としては、
まず、供試体1近傍におかれた電界センサ20に
よつて放射電界強度が検出されるから、常に供試
体1に浴びせかけられる電波の放射電界強度を正
確に知ることができる。 The effect of this kind of action is,
First, since the radiated electric field intensity is detected by the electric field sensor 20 placed near the specimen 1, it is possible to accurately know the radiated electric field intensity of the radio waves bombarding the specimen 1 at all times.
さらにCPU6によつて最適化制御を行つて、
遮蔽室15の共振による放射電界強度の変動や増
幅器9の増幅度変動による放射電界強度の変動な
どを最小に抑えることができるから正確な試験を
行うことができかつ供試体1に対して安全な試験
を行うことができる。 Furthermore, the CPU 6 performs optimization control,
Fluctuations in the radiated electric field intensity due to the resonance of the shielding chamber 15 and fluctuations in the radiated electric field intensity due to variations in the amplification degree of the amplifier 9 can be minimized, making it possible to conduct accurate tests and ensure safety for the specimen 1. Tests can be conducted.
さらにまた放射電界強度の検出は1種類の電界
センサ20だけで行えるため従来のように受信ア
ンテナ3取替えの手間がかからず省力化や高速化
が実現されることがある。 Furthermore, since the intensity of the radiated electric field can be detected using only one type of electric field sensor 20, there is no need to replace the receiving antenna 3 as in the conventional case, and labor saving and speeding up can be realized.
次にこの発明の他の実施例について第8図を用
いて説明する。 Next, another embodiment of the present invention will be described using FIG. 8.
第8図はこの発明の他の実施例を示す構成図で
あり、1から22は第1図と同じで、結合器18
とRF電力計19を取り除いた構成となつている。
すなわち結合器8とRF電力計19を除き電界セ
ンサ20で検出した電波の放射電界強度値のみで
放射電界強度を所定の値に設定するようになつて
いる。このような構成においても先に説明した一
実施例と同様の効果が得られる。 FIG. 8 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, in which numerals 1 to 22 are the same as in FIG. 1, and a coupler 18
The configuration is such that the RF power meter 19 is removed.
That is, excluding the coupler 8 and the RF power meter 19, the radiated field strength is set to a predetermined value only by the radiated field strength value of the radio wave detected by the electric field sensor 20. Even in such a configuration, the same effects as in the embodiment described above can be obtained.
また次にこの発明のさらに他の実施例について
第9図を用いて説明する。 Next, still another embodiment of the present invention will be described using FIG. 9.
第9図はこの発明のさらに他の実施例を示す構
成図で、1から22は第2図と同じで電界センサ
20を複数個、遮蔽室15内に配置したものであ
る。 FIG. 9 is a block diagram showing still another embodiment of the present invention, in which numerals 1 to 22 are the same as in FIG. 2, and a plurality of electric field sensors 20 are arranged in the shielding chamber 15.
このような構成において上記電界センサ20に
よつて遮蔽室15内の共振による電界分布を検出
することができ、このことによつて上記電界分布
がもたらす供試体1へ浴びせかける電波の放射電
界強度の変動をより正確に予測することができ
る。 In such a configuration, the electric field sensor 20 can detect the electric field distribution due to resonance within the shielding chamber 15, and thereby the electric field distribution causes fluctuations in the radiated electric field intensity of the radio waves bombarding the specimen 1. can be predicted more accurately.
なお上述の実施例では各構成要素を一つずつ分
離した形で示したが、いくつかの構成要素を一つ
にまとめて前記した各構成要素の機能を持たせる
こともできるなど装置の構成についてはこの発明
の要旨とする点を逸脱しない範囲において各種の
変形がある。また第8図に示すこの発明の他の実
施例において、電界センサを複数個用いた場合で
も同様の効果を有するものである。 In the above embodiment, each component was shown separated one by one, but several components may be combined into one to provide the functions of each of the components described above. Various modifications may be made without departing from the gist of the invention. Further, in another embodiment of the present invention shown in FIG. 8, similar effects can be obtained even when a plurality of electric field sensors are used.
この発明は以上のようになつているから放射干
渉度試験を正確にかつ安全に行うことができる。 Since the present invention is configured as described above, a radiation interference test can be performed accurately and safely.
第1図は従来の放射干渉感度試験装置の構成を
示すブロツク図、第2図はこの発明に係る装置の
一実施例の構成図、第3図は電界強度計測装置2
2と電界センサ20の構成図、第4図は処理の流
れを示す流れ図、第5図は計測、制御、処理の処
理を示す信号系統図、第6図は時間領域における
電界強度と制御量との関係を示す図、第7図は周
波数領域における減衰器8の調節量と制御量の最
終値との関係を示す図、第8図はこの発明に係る
装置の他の実施例の構成図、第9図は、この発明
に係る装置のさらに他の実施例の構成図である。
図中、1は供試体、2は送信アンテナ、3は受
信アンテナ、4は記憶装置、5は入力装置、6は
中央処理装置、7は信号発生器、8は減衰器、9
は増幅器、10は非可逆回路、11は受信機、1
2は入出力インタフエース、13は表示装置、1
4は印字装置、15は遮蔽室、16は高周波伝送
路、17はインタフエースバスケーブル、18は
結合器、19は高周波電力計、20は電界セン
サ、21はフアイバケーブル、22は電界強度計
測装置、23は誘電体、24はインタフエース回
路、25はデコーダ、26はレジスタ、27は
A/D変換回路、28は光源、29は光束、30
は第1のレンズ、31は光分配器、32は第2の
レンズ、33は第3のレンズ、34は第1の光電
変換素子、35は反射鏡、36は第2の光電変換
素子、37は誤差検出回路、38はエンコーダで
ある。なお図中、同一又は相当部分は同一符号を
付して示してある。
Fig. 1 is a block diagram showing the configuration of a conventional radiation interference sensitivity test device, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of the device according to the present invention, and Fig. 3 is a block diagram showing the configuration of a conventional radiation interference sensitivity test device.
2 and a configuration diagram of the electric field sensor 20, FIG. 4 is a flowchart showing the flow of processing, FIG. 5 is a signal system diagram showing measurement, control, and processing processing, and FIG. 6 shows electric field strength and control amount in the time domain. FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the adjustment amount of the attenuator 8 and the final value of the control amount in the frequency domain, FIG. 8 is a configuration diagram of another embodiment of the device according to the present invention, FIG. 9 is a block diagram of still another embodiment of the apparatus according to the present invention. In the figure, 1 is a specimen, 2 is a transmitting antenna, 3 is a receiving antenna, 4 is a storage device, 5 is an input device, 6 is a central processing unit, 7 is a signal generator, 8 is an attenuator, 9
is an amplifier, 10 is an irreversible circuit, 11 is a receiver, 1
2 is an input/output interface, 13 is a display device, 1
4 is a printing device, 15 is a shielded room, 16 is a high frequency transmission line, 17 is an interface bus cable, 18 is a coupler, 19 is a high frequency power meter, 20 is an electric field sensor, 21 is a fiber cable, and 22 is an electric field strength measuring device , 23 is a dielectric, 24 is an interface circuit, 25 is a decoder, 26 is a register, 27 is an A/D conversion circuit, 28 is a light source, 29 is a luminous flux, 30
31 is a first lens, 31 is a light distributor, 32 is a second lens, 33 is a third lens, 34 is a first photoelectric conversion element, 35 is a reflecting mirror, 36 is a second photoelectric conversion element, 37 38 is an error detection circuit, and 38 is an encoder. In the drawings, the same or corresponding parts are indicated by the same reference numerals.
Claims (1)
号発生器に接続され上記高周波信号の強度を調節
する減衰器と、この減衰器に接続され強度調節さ
れた上記高周波信号を増幅する増幅器と、この増
幅器と出力端に接続され、増幅された上記高周波
信号を一方向にのみ通過させる非可逆回路と、こ
の非可逆回路に接続され、増幅された上記高周波
信号を電波として放射する送信アンテナと、この
送信アンテナで放射された電波を受信し、放射電
界強度を計測する手段を備えた放射干渉感度試験
装置において、上記送信アンテナで送信された電
波を吸収する誘電体及びこの誘電体に設けられ
た、光の往復路を有するフアイバケーブルとで構
成され上記電波の放射電界強度を検出する電界セ
ンサと、この電界センサに設けられた上記フアイ
バーケーブルに光を入射し、上記誘電体内を通過
した光の強度を検出することによつて、上記誘電
体へ上記電波が吸収されたときに生ずる熱を計測
し、上記電波の放射電界強度値を得る機構を有す
る電界強度計測装置と、上記信号発生器、上記減
衰器及び上記電界強度計測装置を制御するに必要
なプログラム、試験条件などを記憶する記憶装置
と、この記憶装置との間で情報の授受を行うと共
に上記電界強度計測装置から得られる電波の放射
電界強度値を収集し、この計測値を基に上記電波
の放射電界強度を所定の値に設定するように所定
の処理と制御を行う中央処理装置と、試験条件な
どを上記中央処理装置へ入力する入力装置とを備
えたことを特徴とする放射干渉感度試験装置。 2 上記電界センサを複数個備え、これら電界セ
ンサから得られる上記電波の放射電界強度値をも
つて上記放射電界強度を所定の値に設定すること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の放射干
渉感度試験装置。 3 高周波信号を発生する信号発生器と、この信
号発生器に接続され上記高周波信号の強度を調節
する減衰器と、この減衰器に接続され強度調節さ
れた上記高周波信号を増幅する増幅器と、この増
幅器の出力端に接続され、増幅された上記高周波
信号を一方向にのみ通過させる非可逆回路と、こ
の非可逆回路に接続され、増幅された上記高周波
信号を電波として放射する送信アンテナと、この
送信アンテナで放射された電波を受信し、放射電
界強度を計測する手段を備えた放射干渉感度試験
装置において、上記増幅器の出力端子に接続さ
れ、増幅された上記高周波信号の主要部分を送信
アンテナへ出力する結合器と、この結合器に接続
され、増幅された上記高周波信号の一部の電力を
計測する高周波電力計と、上記電波を吸収する誘
電体及びこの誘電体に設けられた、光の往復路を
有するフアイバケーブルとで構成され上記電波の
放射電界強度を検出する電界センサと、この電界
センサに設けられた上記フアイバケーブルに光を
入射し、上記誘電体内を通過した光の強度を検出
することによつて、上記誘電体へ上記電波が吸収
されたときに生ずる熱を計測し、上記電波の放射
電界強度値を得る機構を有する電界強度計測装置
と、上記信号発生器、上記減衰器及び上記電界強
度計測装置を制御するに必要なプログラム、試験
条件などを記憶する記憶装置と、この記憶装置と
の間で情報の授受を行うと共に上記信号発生器、
上記減衰器、上記高周波電力計及び上記電界強度
計測装置から得られる上記高周波信号の電力値と
上記電波の放射電界強度値とを収集し、これらの
計測値を基に上記電波の放射電界強度を所定の値
に設定するよう所定の処理と制御を行う中央処理
装置と、試験条件などを上記中央処理装置へ入力
する入力装置とを備えたことを特徴とする放射干
渉感度試験装置。 4 上記電界センサを複数個備え、これら電界セ
ンサから得られる上記電波の放射電界強度値をも
つて上記放射電界強度を所定の値に設定すること
を特徴とする特許請求の範囲第3項記載の放射干
渉感度試験装置。[Claims] 1. A signal generator that generates a high-frequency signal, an attenuator connected to the signal generator that adjusts the intensity of the high-frequency signal, and an attenuator that adjusts the intensity of the high-frequency signal that is connected to the attenuator. an amplifier for amplification; a non-reciprocal circuit connected to the amplifier and the output terminal to allow the amplified high-frequency signal to pass in only one direction; and a non-reciprocal circuit connected to the non-reciprocal circuit to radiate the amplified high-frequency signal as radio waves. A radiation interference sensitivity test device comprising a transmitting antenna and a means for receiving the radio waves radiated by the transmitting antenna and measuring the radiated electric field strength, the dielectric material absorbing the radio waves transmitted by the transmitting antenna and the dielectric An electric field sensor is configured with a fiber cable provided in the body and has a reciprocating path for light, and detects the intensity of the radiated electric field of the radio wave, and light is incident on the fiber cable provided in the electric field sensor, and the fiber cable is connected to the dielectric body. an electric field strength measuring device having a mechanism for measuring the heat generated when the radio waves are absorbed by the dielectric by detecting the intensity of the light that has passed through the dielectric, and obtaining a radiated electric field strength value of the radio waves; Information is exchanged between a storage device that stores programs, test conditions, etc. necessary for controlling the signal generator, attenuator, and electric field strength measuring device, and the electric field strength measuring device. A central processing unit that collects the radiated electric field strength values of the radio waves obtained from the radio waves, and performs predetermined processing and control to set the radiated electric field strength of the radio waves to a predetermined value based on the measured values, and test conditions etc. A radiation interference sensitivity testing device comprising: an input device for inputting to the central processing unit. 2. The device according to claim 1, wherein a plurality of the electric field sensors are provided, and the radiated electric field intensity is set to a predetermined value based on the radiated electric field intensity value of the radio waves obtained from these electric field sensors. Radiation interference sensitivity test equipment. 3. A signal generator that generates a high frequency signal, an attenuator connected to this signal generator that adjusts the intensity of the high frequency signal, an amplifier that is connected to this attenuator and amplifies the intensity adjusted high frequency signal, and a non-reciprocal circuit connected to the output end of the amplifier and allowing the amplified high-frequency signal to pass in only one direction; a transmitting antenna connected to the non-reciprocal circuit and radiating the amplified high-frequency signal as a radio wave; In a radiation interference sensitivity test device equipped with means for receiving radio waves radiated by a transmitting antenna and measuring the radiated electric field strength, the main part of the amplified high-frequency signal is connected to the output terminal of the amplifier and sent to the transmitting antenna. An output coupler, a high frequency power meter connected to the coupler and measuring the power of a part of the amplified high frequency signal, a dielectric body that absorbs the radio waves, and an optical an electric field sensor configured with a fiber cable having a reciprocating path and detecting the radiated electric field intensity of the radio wave; light is incident on the fiber cable provided in the electric field sensor, and the intensity of the light passing through the dielectric body is detected. An electric field strength measuring device having a mechanism for measuring heat generated when the radio wave is absorbed by the dielectric material and obtaining a radiated electric field strength value of the radio wave, the signal generator, and the attenuator. and a storage device that stores programs, test conditions, etc. necessary for controlling the electric field strength measurement device, and the signal generator that exchanges information between the storage device and the storage device;
The power value of the high frequency signal and the radiated field strength value of the radio wave obtained from the attenuator, the high frequency wattmeter, and the field strength measuring device are collected, and the radiated field strength of the radio wave is calculated based on these measured values. A radiation interference sensitivity testing device comprising: a central processing unit that performs predetermined processing and control to set a predetermined value; and an input device that inputs test conditions and the like to the central processing unit. 4. The device according to claim 3, wherein a plurality of the electric field sensors are provided, and the radiated electric field intensity is set to a predetermined value using the radiated electric field intensity value of the radio waves obtained from these electric field sensors. Radiation interference sensitivity test equipment.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57129868A JPS5919874A (en) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | Testing device of radiation interference sensitivity |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57129868A JPS5919874A (en) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | Testing device of radiation interference sensitivity |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5919874A JPS5919874A (en) | 1984-02-01 |
| JPH0330834B2 true JPH0330834B2 (en) | 1991-05-01 |
Family
ID=15020273
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57129868A Granted JPS5919874A (en) | 1982-07-26 | 1982-07-26 | Testing device of radiation interference sensitivity |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919874A (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6385372A (en) * | 1986-09-29 | 1988-04-15 | Fujitsu Ltd | Electromagnetic wave measuring apparatus |
| JPH0252261A (en) * | 1988-08-17 | 1990-02-21 | Erena Denshi Kk | Automatic correction instrument for internal electric field of tem cell |
| US5302960A (en) * | 1992-07-20 | 1994-04-12 | Digital Equipment Corporation | Multi-element susceptibility room |
| US8577631B2 (en) | 2010-01-26 | 2013-11-05 | Power Survey Llc | Method and apparatus for discrimination of sources in stray voltage detection |
| JP5499919B2 (en) * | 2010-06-07 | 2014-05-21 | 日本電気株式会社 | Microwave irradiation test apparatus, irradiation test method and irradiation test program used in the test apparatus |
-
1982
- 1982-07-26 JP JP57129868A patent/JPS5919874A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5919874A (en) | 1984-02-01 |
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