JPH0332247B2 - - Google Patents
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- JPH0332247B2 JPH0332247B2 JP55057395A JP5739580A JPH0332247B2 JP H0332247 B2 JPH0332247 B2 JP H0332247B2 JP 55057395 A JP55057395 A JP 55057395A JP 5739580 A JP5739580 A JP 5739580A JP H0332247 B2 JPH0332247 B2 JP H0332247B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/041—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/04106—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit in field-effect transistor switches
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/74—Simultaneous conversion
- H03M1/742—Simultaneous conversion using current sources as quantisation value generators
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
本発明はデイジタル信号をアナログ信号へ変換
するデイジタルアナログ変換器(以下DACと略
す)に関するものであり、特に集積回路技術又は
超高密度集積回路技術によつて製造するに適した
モノリシツクデイジタルアナログ変換器の回路技
術手段に関するものである。 第1図はアデイビ・アール・ハマデ(Adib
RHamade′)氏により発明され、米国ナシヨナル
セミコンダクター社により出願され、特開昭52−
28851号公報で開示されたMOSモノリシツク集積
回路に適したDAC回路手段の従来例である。こ
の回路手段の詳細はハマデ氏により1976年米国フ
イラデルフイア市で開かれた国際固体回路会議
(Internatioal Solid−Stato Circuit
Conference)でも詳しく報告されDigest of
Technical Papers(P.154〜P.155)に掲載されて
いる。第1図は3ビツトデイジタル入力DACの
例であり、入力A、は最上位ビツト(MSB)
のデイジタル相捕入力であり、入力B、は第2
ビツト、入力C、は最上位ビツト(LSB)の
相捕入力である。基準電圧端子VREFと接地端子間
にシリーズ接続された23個の抵抗器により23−1
個のタツプ電位が得られ、MOS FETスイツチ
で構成されたデコード回路によりデイジタル入力
に対応したタツプ電位がアナログ出力端子OUT
へ導かれる。この構成の変換器は構成が単純であ
ること、MOSモノリシツク集積回路に適した回
路構成となつていること、本質的にモノトニツク
な入出力特性の得られること等を特長としてい
る。しかしながらこの構成の変換回路は電圧出力
型であるにもかかわらずその出力インピーダンス
が高い。よつてこの構成の変換回路は高入力イン
ピーダンスを有する比較器へのDAC出力が印加
され、比較器への未知アナログ入力との比較動作
を行なうアナログデイジタル変換器への応用に適
した回路手段であり、上記公開特許の明細書にも
この応用例が開示されている。一方DACとして
用いる場合には許容される負荷の範囲は著しく狭
く、出力バツフアーアンプがかならず必要とな
る。さらに、NビツトDACに於てはN個のMOS
スイツチが抵抗網のタツプとアナログ出力端間に
シリーズ接続されることになり、この変換回路手
段はスイツチング速度が低下し、高速変換が出来
ないという欠点がある。 以上説明した通り、この従来例の変換器は
MOS集積回路で実現するに適した回路手段では
あるが、負荷を実質上取ることが出来ないこと及
び変換時間が長い等のため一般のDAC応用には
適さない実現手段である。 第2図は他の従来のDACの例を示す回路図で
ある。この構成は、米国のジエイムス ビー セ
シル(James B.Cecil)氏が1974年2月15日米国
ペンシルバニア州フイラデルフイア市で開かれた
国際固体回路会議(International Solid−
StateCircuit Conference)で発表した回路であ
り、「ダイゼスト オブ テクニカル ペイパー
ズ(Digest of Technical Papers)」(第196頁乃
至第197頁)に掲載されたものである。 同図に記載された重み抵抗網20はいわゆるR
−2R・ラダー回路が用いられ、第1群の抵抗2
3(R)として10kΩ、第2群の抵抗24(2R)
として20kΩが使われている。又帰還インピーダ
ンス回路の抵抗25は10kΩのものが使われてい
る。電流スイツチ21及び駆動回路22には相捕
型MOS(以下CMOSと略記する)のFETが使わ
れている。抵抗回路網20の各ビツト毎の出力は
電流スチツチ21の2対のスイツチに接続され、
デイジタル入力26に応じて第1の出力IOUTt1又
は第2の出力IOUT2のどちらかに終端される。この
電流スイツチ21の各々は各入力回路1乃至10
により駆動されており、入力回路26の各々には
デイジタル入力A1〜A10が印加される。A1は最上
位ビツトであり、A10は最下位ビツトであり、こ
れらA10乃至A1で2進化重みビツトを構成し、電
流スイツチ21は2進化重み電流を出力端子へ導
く。 第3図に第2図の入力回路22と電流スチツチ
回路21の任意の1ビツトの回路部分22′,2
1′を示す。電流スイツチ部21′は同一導電型の
FET2個で構成されており、この場合は共にNチ
ヤンネルFETである。この電流スイツチ21′の
導通状態にある一方のFETのゲートには電圧V+
が入力回路22′に印加され、非導通状態にある
他方のFETのゲートには接地電圧が印加されて
いる。よつてR−2Rラダー抵抗回路20の一端
は導通状態にある一方のFETによつて出力端子
IOUT1又はIOUT2へ終端される。 この回路手段では高精度のR−2Rのラダー抵
抗を必要とし、シリコン上に薄幕抵抗網を形成す
る等により回路構成する必要があり、よつて製造
コストが高くなるという欠点がある。又出力端子
IOUT1は仮想接地電位端子とする必要があり、この
ためには演算増幅器を応用上必要としこの演算増
幅のために正負の電源を必要とする。又正の出力
を得るためには負の基準電圧を必要としこの点で
も正負の電源を必要とする回路である。よつてデ
イジタル回路で一般的に使用されている5V単一
電源動作は不可能であり、この回路手段は応用範
囲の限られたDACの達成手段である。 本発明の目的は以下説明した従来のMOSモノ
リシツクDACの欠点を取り除き、応用範囲が広
く安価な製造手段で達成でき、高速性を有し、単
一5V動作可能なMOSモノリシツク集積回路に適
した真補のアナログ信号を得ることのできる新規
なDAC回路を提供することにある。 本発明の他の目的は低電圧動作するモノリシツ
クDACを達成する回路手段を提供する事、DAC
の基本特性の一つである単調増加特性
(Monotonicity)を容易に満足する電流出力型
DACの回路手段を提供する事、高速動作する
MOSモノリシツクDACの回路手段を提供する
事、DACのスイツチング特性の一つであるグリ
ツチ(Glitch)特性の良好なDACの回路手段を
提供する事、及び非常に高い出力コンプライアン
ス特性を有するDACの回路手段を提供する事で
ある。 本発明によれば、行列状に配列され、電流源と
該電流源からの電流を相捕な関係で取り出す第
1、第2のスイツチと、該第1のスイツチを制御
する多入力論理回路と、前記第2のスイツチを該
第1のスイツチとは相捕な関係で制御する手段と
を各各が有する複数の単位電流源スイツチセル
と、該単位電流源スイツチセルの各列毎に設けら
れてその列の前記多入力論理回路に共通に接続さ
れる第1および第2の信号線群と、前記単位電流
源スイツチセルの各行毎に設けられてその行の前
記多入力論理回路に共通に接続される第3の信号
線群と、前記単位電流源スイツチセルのうち前記
第1のスイツチがオンされたものの電流緩和を出
力する第1の出力線と、前記単位電流源スイツチ
セルのうち前記第2のスイツチがオンされたもの
の電流の緩和を出力する第2の出力線と、前記第
1の信号線群のうち入力デイジタル信号の最上位
ビツトから所定数のビツトの信号の意味する数に
対応する順位の信号線に第1の制御信号を生じせ
しめる第1のエンコーダーと、前記第2の信号線
群のうち前記入力デイジタル信号の前記所定数の
ビツトの信号の前記意味する数に対応する順位を
越える全ての順位の信号線に第2の制御信号を生
じせしめる第2のエンコーダーと、前記第3の信
号線群のうち前記入力デイジタル信号の前記最上
位ビツトから前記所定数のビツト以外のビツトの
信号の意味する数に対応する順位以後の全ての順
位の信号線に第3の制御信号を生じせしめる第3
のエンコーダーとを有し、前記多入力論理回路
は、前記第1の制御信号が与えられると前記第3
の制御信号に応じて前記第1のスイツチをオン、
オフし、前記第2の制御信号が与えられると前記
第3の制御信号にかかわらず前記第1のスイツチ
をオフし、前記第1の制御信号および前記第2の
制御信号のいずれも与えられないと前記第1のス
イツチをオンするように構成されていることを特
長とするデイジタルアナログ変換器を得る。 本発明によるDACは非常に高い出力コンプラ
イアンス特性を有し、大きなアナログ出力振幅に
対し精度を保つ事が出来、単一5V動作が可能と
なり一般の論理回路との共存が容易であり、
MOSモノリシツク集積回路に適した回路手段で
有り、本質的にモノトニツクなDACの特性が得
られ、さらに電流出力型であり高速動作すること
が可能である真捕のアナログ値を得ることのでき
るものである。 第4図は本発明のDACの基本構成を示すもの
であり、6ビツトデイジタル入力の変換器の例を
示している。111は最上位ビツト(MSB)デ
イジタル入力端子であり、112,113,11
4,115はそれぞれ第2、第3、第4、第5ビ
ツトデイジタル入力端子であり、116は最下位
ビツト(LSB)デイジタル入力端子である。1
02,103,104はそれぞれエンコード回路
でありROM(リードオンリーメモリー)で構成
される。又100は電流源スイツチセルの行列配
置されたものであり各々の電流源スイツチセルは
同一形状のものが行列状に隣接して配置されてい
る。前述の第1のエンコード回路102はデイジ
タル入力の上位3ビツト信号からA0〜A7なる8
個の第1コンコード信号群を作り、それぞれ信号
源120〜127を通して同一列に属する電流源
スイツチセルに対して対応する信号A0〜A7を供
給する。ここで第0列〜第7列をそれぞれ160
〜167の番号で示した。よつて例えば信号線1
20は第0列160に属する全ての電流源スイツ
チセルへ共通に信号A0を供給する。 第2のエンコード回路103は前述の第1のエ
ンコード信号群A0〜A7の信号をさらにエンコー
ドし第2のエンコード信号群B0〜B7を作り、そ
れぞれ信号線130〜137を通して、同一列に属する
電流源スイツチセルに対して対応する信号B0、
B1……B7を供給する。 一方第3のエンコード回路104は第4、第5
ビツト及び最下位ビツト(LSB)で構成される
下位3ビツトデイジタル入力信号からC0〜C7な
る8個の第3のエンコード信号群を作り、それぞ
れ信号線140〜147を通して同一行に属する
電流源スイツチセルに対して各々対応する信号
C0、C1……C7を供給する。ここで第0行〜第7
行をそれぞれ170〜177の番号で示した。よ
つて例えば信号線143は第3行173に属する全
ての電流源スイツチセルへの共通に信号C3を供
給する。 入力デイジタル信号に応じたアナログ電流は各
電流源スイツチセルからの出力電流は150〜1
57で示した出力線を通して端子105から取り
出す事が出来、入力デジタル信号に応じたアナロ
グ信号の補数となるアナログ電流は各電流源スイ
ツチセルからの出力電流を150′〜157′で示
した出力線を通して端子105′から取り出すこ
とができる。 以上の説明で明らかなように、本発明のDAC
は第1、第2、第3のエンコード回路、各エンコ
ード回路からの第1、第2、第3のエンコード信
号線群、行列状に隣接して配置された電流源スイ
ツチセル群及び電流出力手段をその基本構成要素
としている。 次に本発明のDACの動作原理について説明す
る。第4図の構成例は6ビツトDACであり、上
位3ビツトの信号によりDACの入出力範囲を8
セグメントに等分割する事が出来る。今デイジタ
ル入力コードの上位3ビツトの“000”なるコー
ドに対して第0セグメントを、順に“001”なる
コードから“111”なるコードまで第1〜第7セ
グメントを定義する。第0セグメントには
“000000”から“000111”までの8組のコードが
属し第1セグメントには“001000”から
“001111”までの8組のコードが属し、以下同様
に第7セグメントまで各セグメントには対応する
8組のデイジタル入力コードが各々属する。第4
図の構成例に於ては6ビツトに対応して26=64個
の電流源スイツチセルが8行×8列構成で電流源
スイツチセル群100として行列配置されてお
り、各行160〜167に属する電流源スチツチ
セルが第0〜第7セグメントに対応しており、各
行140〜147に属する、電流源スイツチセルがセグ
メント内の重み付けを決定する下位3ビツトに対
応している。例えば、今デイジタル入力が
“011101”なるコードである時、上位3ビツトの
“011”なるコードに対応して第3セグメントまで
の全電流源スイツチセルを出力状態とし、さらに
第4セグメント中の“101”なる下位ビツトのコ
ードに対応した5個の電流源スイツチセルを出力
単位105への出力状態とし、第4セグメント中
の他の3個の電流源スイツチセル及び第5、第
6、第7セグメントに属する全ての電流源スイツ
チセルを禁止状態として出力端子105′へ電流
を出力することによつて“011101”なるコードに
対応したアナログ出力電流とこれの補数の関係に
あるアナログ出力電流を得る事が可能となる。 第5図は相補電流出力型DACの本発明の構成
を説明するための概念図である。第4図との共通
部分には同一番号を付してある。“011110”なる
デイジタル入力信号がこのDACに印加された場
合を例にとつて説明を行なう。上位3ビツトの
“011”なる信号により第1のエンコーダ102の
出力はA3のみが高レベルとなり出力A0〜A2及び
A4〜A7は全て低レベルとなる。これに対応して
又第2のエンコーダ103の出力は出力B0〜B3
が低レベルとなりB4〜B7は高レベルとなる。 又行列状に配列された電流源スイツチセルアレ
イ100中には相補出力端子105,105に導
かれる領域I0、I0を異なる斜線により区別して
示してある。前述の第2のエンコーダ103の出
力のうち高レベルとなつているB4〜B7が印加さ
れている第4〜第7列に含まれる全ての電流源ス
イツチセルの出力は第3のエンコーダー104の
出力C0〜C7に依存せず全ての出力端子105′へ
導かれる。第2エンコーダー103の出力が低レ
ベルであり、第1エンコーダー102の出力のう
ち高レベルとなつている唯一の信号A3が印加さ
れている第3列に含まれる電流源スイツチセルは
第3のエンコーダー104の出力C0〜C7に依存
しこのうち低レベルとなつているC0〜C5が印加
されている第0〜第5行に含まれる電流源スイツ
チセルの出力は出力端子105へ導かれ、高レベ
ルとなつているC6〜C7が印加されている第6、
第7行に含まれる電流源スイツチセルの出力は出
力端子105′へ導かれる。さらに第1、第2エ
ンコーダーの出力が共に低レベルとなつている
A0〜A2及B0〜B2が印加されている第0〜第2列
に含まれる電流源スイツチセルの出力は、第3の
エンコーダー104の出力に依存せず全てI0端子
へ導かれる。尚、第7行第7列には電流源スイツ
チセルを配置していないが相補出力型DACでは
“111111”ゴードで出力端子105′に導かれる領
域0は零とする必要のある場合があり、このセ
ルを省く例を示した。 又第4図の例に示した本発明のDACの構成例
に於いても第7行第7列の電流源スイツチセルは
オンオフする事はなく省略する事が出来る。 以上回路動作説明を行なつた本発明のDACの
エンコード回路の好適な入出力コード特性を第1
表、第2表に示した。
するデイジタルアナログ変換器(以下DACと略
す)に関するものであり、特に集積回路技術又は
超高密度集積回路技術によつて製造するに適した
モノリシツクデイジタルアナログ変換器の回路技
術手段に関するものである。 第1図はアデイビ・アール・ハマデ(Adib
RHamade′)氏により発明され、米国ナシヨナル
セミコンダクター社により出願され、特開昭52−
28851号公報で開示されたMOSモノリシツク集積
回路に適したDAC回路手段の従来例である。こ
の回路手段の詳細はハマデ氏により1976年米国フ
イラデルフイア市で開かれた国際固体回路会議
(Internatioal Solid−Stato Circuit
Conference)でも詳しく報告されDigest of
Technical Papers(P.154〜P.155)に掲載されて
いる。第1図は3ビツトデイジタル入力DACの
例であり、入力A、は最上位ビツト(MSB)
のデイジタル相捕入力であり、入力B、は第2
ビツト、入力C、は最上位ビツト(LSB)の
相捕入力である。基準電圧端子VREFと接地端子間
にシリーズ接続された23個の抵抗器により23−1
個のタツプ電位が得られ、MOS FETスイツチ
で構成されたデコード回路によりデイジタル入力
に対応したタツプ電位がアナログ出力端子OUT
へ導かれる。この構成の変換器は構成が単純であ
ること、MOSモノリシツク集積回路に適した回
路構成となつていること、本質的にモノトニツク
な入出力特性の得られること等を特長としてい
る。しかしながらこの構成の変換回路は電圧出力
型であるにもかかわらずその出力インピーダンス
が高い。よつてこの構成の変換回路は高入力イン
ピーダンスを有する比較器へのDAC出力が印加
され、比較器への未知アナログ入力との比較動作
を行なうアナログデイジタル変換器への応用に適
した回路手段であり、上記公開特許の明細書にも
この応用例が開示されている。一方DACとして
用いる場合には許容される負荷の範囲は著しく狭
く、出力バツフアーアンプがかならず必要とな
る。さらに、NビツトDACに於てはN個のMOS
スイツチが抵抗網のタツプとアナログ出力端間に
シリーズ接続されることになり、この変換回路手
段はスイツチング速度が低下し、高速変換が出来
ないという欠点がある。 以上説明した通り、この従来例の変換器は
MOS集積回路で実現するに適した回路手段では
あるが、負荷を実質上取ることが出来ないこと及
び変換時間が長い等のため一般のDAC応用には
適さない実現手段である。 第2図は他の従来のDACの例を示す回路図で
ある。この構成は、米国のジエイムス ビー セ
シル(James B.Cecil)氏が1974年2月15日米国
ペンシルバニア州フイラデルフイア市で開かれた
国際固体回路会議(International Solid−
StateCircuit Conference)で発表した回路であ
り、「ダイゼスト オブ テクニカル ペイパー
ズ(Digest of Technical Papers)」(第196頁乃
至第197頁)に掲載されたものである。 同図に記載された重み抵抗網20はいわゆるR
−2R・ラダー回路が用いられ、第1群の抵抗2
3(R)として10kΩ、第2群の抵抗24(2R)
として20kΩが使われている。又帰還インピーダ
ンス回路の抵抗25は10kΩのものが使われてい
る。電流スイツチ21及び駆動回路22には相捕
型MOS(以下CMOSと略記する)のFETが使わ
れている。抵抗回路網20の各ビツト毎の出力は
電流スチツチ21の2対のスイツチに接続され、
デイジタル入力26に応じて第1の出力IOUTt1又
は第2の出力IOUT2のどちらかに終端される。この
電流スイツチ21の各々は各入力回路1乃至10
により駆動されており、入力回路26の各々には
デイジタル入力A1〜A10が印加される。A1は最上
位ビツトであり、A10は最下位ビツトであり、こ
れらA10乃至A1で2進化重みビツトを構成し、電
流スイツチ21は2進化重み電流を出力端子へ導
く。 第3図に第2図の入力回路22と電流スチツチ
回路21の任意の1ビツトの回路部分22′,2
1′を示す。電流スイツチ部21′は同一導電型の
FET2個で構成されており、この場合は共にNチ
ヤンネルFETである。この電流スイツチ21′の
導通状態にある一方のFETのゲートには電圧V+
が入力回路22′に印加され、非導通状態にある
他方のFETのゲートには接地電圧が印加されて
いる。よつてR−2Rラダー抵抗回路20の一端
は導通状態にある一方のFETによつて出力端子
IOUT1又はIOUT2へ終端される。 この回路手段では高精度のR−2Rのラダー抵
抗を必要とし、シリコン上に薄幕抵抗網を形成す
る等により回路構成する必要があり、よつて製造
コストが高くなるという欠点がある。又出力端子
IOUT1は仮想接地電位端子とする必要があり、この
ためには演算増幅器を応用上必要としこの演算増
幅のために正負の電源を必要とする。又正の出力
を得るためには負の基準電圧を必要としこの点で
も正負の電源を必要とする回路である。よつてデ
イジタル回路で一般的に使用されている5V単一
電源動作は不可能であり、この回路手段は応用範
囲の限られたDACの達成手段である。 本発明の目的は以下説明した従来のMOSモノ
リシツクDACの欠点を取り除き、応用範囲が広
く安価な製造手段で達成でき、高速性を有し、単
一5V動作可能なMOSモノリシツク集積回路に適
した真補のアナログ信号を得ることのできる新規
なDAC回路を提供することにある。 本発明の他の目的は低電圧動作するモノリシツ
クDACを達成する回路手段を提供する事、DAC
の基本特性の一つである単調増加特性
(Monotonicity)を容易に満足する電流出力型
DACの回路手段を提供する事、高速動作する
MOSモノリシツクDACの回路手段を提供する
事、DACのスイツチング特性の一つであるグリ
ツチ(Glitch)特性の良好なDACの回路手段を
提供する事、及び非常に高い出力コンプライアン
ス特性を有するDACの回路手段を提供する事で
ある。 本発明によれば、行列状に配列され、電流源と
該電流源からの電流を相捕な関係で取り出す第
1、第2のスイツチと、該第1のスイツチを制御
する多入力論理回路と、前記第2のスイツチを該
第1のスイツチとは相捕な関係で制御する手段と
を各各が有する複数の単位電流源スイツチセル
と、該単位電流源スイツチセルの各列毎に設けら
れてその列の前記多入力論理回路に共通に接続さ
れる第1および第2の信号線群と、前記単位電流
源スイツチセルの各行毎に設けられてその行の前
記多入力論理回路に共通に接続される第3の信号
線群と、前記単位電流源スイツチセルのうち前記
第1のスイツチがオンされたものの電流緩和を出
力する第1の出力線と、前記単位電流源スイツチ
セルのうち前記第2のスイツチがオンされたもの
の電流の緩和を出力する第2の出力線と、前記第
1の信号線群のうち入力デイジタル信号の最上位
ビツトから所定数のビツトの信号の意味する数に
対応する順位の信号線に第1の制御信号を生じせ
しめる第1のエンコーダーと、前記第2の信号線
群のうち前記入力デイジタル信号の前記所定数の
ビツトの信号の前記意味する数に対応する順位を
越える全ての順位の信号線に第2の制御信号を生
じせしめる第2のエンコーダーと、前記第3の信
号線群のうち前記入力デイジタル信号の前記最上
位ビツトから前記所定数のビツト以外のビツトの
信号の意味する数に対応する順位以後の全ての順
位の信号線に第3の制御信号を生じせしめる第3
のエンコーダーとを有し、前記多入力論理回路
は、前記第1の制御信号が与えられると前記第3
の制御信号に応じて前記第1のスイツチをオン、
オフし、前記第2の制御信号が与えられると前記
第3の制御信号にかかわらず前記第1のスイツチ
をオフし、前記第1の制御信号および前記第2の
制御信号のいずれも与えられないと前記第1のス
イツチをオンするように構成されていることを特
長とするデイジタルアナログ変換器を得る。 本発明によるDACは非常に高い出力コンプラ
イアンス特性を有し、大きなアナログ出力振幅に
対し精度を保つ事が出来、単一5V動作が可能と
なり一般の論理回路との共存が容易であり、
MOSモノリシツク集積回路に適した回路手段で
有り、本質的にモノトニツクなDACの特性が得
られ、さらに電流出力型であり高速動作すること
が可能である真捕のアナログ値を得ることのでき
るものである。 第4図は本発明のDACの基本構成を示すもの
であり、6ビツトデイジタル入力の変換器の例を
示している。111は最上位ビツト(MSB)デ
イジタル入力端子であり、112,113,11
4,115はそれぞれ第2、第3、第4、第5ビ
ツトデイジタル入力端子であり、116は最下位
ビツト(LSB)デイジタル入力端子である。1
02,103,104はそれぞれエンコード回路
でありROM(リードオンリーメモリー)で構成
される。又100は電流源スイツチセルの行列配
置されたものであり各々の電流源スイツチセルは
同一形状のものが行列状に隣接して配置されてい
る。前述の第1のエンコード回路102はデイジ
タル入力の上位3ビツト信号からA0〜A7なる8
個の第1コンコード信号群を作り、それぞれ信号
源120〜127を通して同一列に属する電流源
スイツチセルに対して対応する信号A0〜A7を供
給する。ここで第0列〜第7列をそれぞれ160
〜167の番号で示した。よつて例えば信号線1
20は第0列160に属する全ての電流源スイツ
チセルへ共通に信号A0を供給する。 第2のエンコード回路103は前述の第1のエ
ンコード信号群A0〜A7の信号をさらにエンコー
ドし第2のエンコード信号群B0〜B7を作り、そ
れぞれ信号線130〜137を通して、同一列に属する
電流源スイツチセルに対して対応する信号B0、
B1……B7を供給する。 一方第3のエンコード回路104は第4、第5
ビツト及び最下位ビツト(LSB)で構成される
下位3ビツトデイジタル入力信号からC0〜C7な
る8個の第3のエンコード信号群を作り、それぞ
れ信号線140〜147を通して同一行に属する
電流源スイツチセルに対して各々対応する信号
C0、C1……C7を供給する。ここで第0行〜第7
行をそれぞれ170〜177の番号で示した。よ
つて例えば信号線143は第3行173に属する全
ての電流源スイツチセルへの共通に信号C3を供
給する。 入力デイジタル信号に応じたアナログ電流は各
電流源スイツチセルからの出力電流は150〜1
57で示した出力線を通して端子105から取り
出す事が出来、入力デジタル信号に応じたアナロ
グ信号の補数となるアナログ電流は各電流源スイ
ツチセルからの出力電流を150′〜157′で示
した出力線を通して端子105′から取り出すこ
とができる。 以上の説明で明らかなように、本発明のDAC
は第1、第2、第3のエンコード回路、各エンコ
ード回路からの第1、第2、第3のエンコード信
号線群、行列状に隣接して配置された電流源スイ
ツチセル群及び電流出力手段をその基本構成要素
としている。 次に本発明のDACの動作原理について説明す
る。第4図の構成例は6ビツトDACであり、上
位3ビツトの信号によりDACの入出力範囲を8
セグメントに等分割する事が出来る。今デイジタ
ル入力コードの上位3ビツトの“000”なるコー
ドに対して第0セグメントを、順に“001”なる
コードから“111”なるコードまで第1〜第7セ
グメントを定義する。第0セグメントには
“000000”から“000111”までの8組のコードが
属し第1セグメントには“001000”から
“001111”までの8組のコードが属し、以下同様
に第7セグメントまで各セグメントには対応する
8組のデイジタル入力コードが各々属する。第4
図の構成例に於ては6ビツトに対応して26=64個
の電流源スイツチセルが8行×8列構成で電流源
スイツチセル群100として行列配置されてお
り、各行160〜167に属する電流源スチツチ
セルが第0〜第7セグメントに対応しており、各
行140〜147に属する、電流源スイツチセルがセグ
メント内の重み付けを決定する下位3ビツトに対
応している。例えば、今デイジタル入力が
“011101”なるコードである時、上位3ビツトの
“011”なるコードに対応して第3セグメントまで
の全電流源スイツチセルを出力状態とし、さらに
第4セグメント中の“101”なる下位ビツトのコ
ードに対応した5個の電流源スイツチセルを出力
単位105への出力状態とし、第4セグメント中
の他の3個の電流源スイツチセル及び第5、第
6、第7セグメントに属する全ての電流源スイツ
チセルを禁止状態として出力端子105′へ電流
を出力することによつて“011101”なるコードに
対応したアナログ出力電流とこれの補数の関係に
あるアナログ出力電流を得る事が可能となる。 第5図は相補電流出力型DACの本発明の構成
を説明するための概念図である。第4図との共通
部分には同一番号を付してある。“011110”なる
デイジタル入力信号がこのDACに印加された場
合を例にとつて説明を行なう。上位3ビツトの
“011”なる信号により第1のエンコーダ102の
出力はA3のみが高レベルとなり出力A0〜A2及び
A4〜A7は全て低レベルとなる。これに対応して
又第2のエンコーダ103の出力は出力B0〜B3
が低レベルとなりB4〜B7は高レベルとなる。 又行列状に配列された電流源スイツチセルアレ
イ100中には相補出力端子105,105に導
かれる領域I0、I0を異なる斜線により区別して
示してある。前述の第2のエンコーダ103の出
力のうち高レベルとなつているB4〜B7が印加さ
れている第4〜第7列に含まれる全ての電流源ス
イツチセルの出力は第3のエンコーダー104の
出力C0〜C7に依存せず全ての出力端子105′へ
導かれる。第2エンコーダー103の出力が低レ
ベルであり、第1エンコーダー102の出力のう
ち高レベルとなつている唯一の信号A3が印加さ
れている第3列に含まれる電流源スイツチセルは
第3のエンコーダー104の出力C0〜C7に依存
しこのうち低レベルとなつているC0〜C5が印加
されている第0〜第5行に含まれる電流源スイツ
チセルの出力は出力端子105へ導かれ、高レベ
ルとなつているC6〜C7が印加されている第6、
第7行に含まれる電流源スイツチセルの出力は出
力端子105′へ導かれる。さらに第1、第2エ
ンコーダーの出力が共に低レベルとなつている
A0〜A2及B0〜B2が印加されている第0〜第2列
に含まれる電流源スイツチセルの出力は、第3の
エンコーダー104の出力に依存せず全てI0端子
へ導かれる。尚、第7行第7列には電流源スイツ
チセルを配置していないが相補出力型DACでは
“111111”ゴードで出力端子105′に導かれる領
域0は零とする必要のある場合があり、このセ
ルを省く例を示した。 又第4図の例に示した本発明のDACの構成例
に於いても第7行第7列の電流源スイツチセルは
オンオフする事はなく省略する事が出来る。 以上回路動作説明を行なつた本発明のDACの
エンコード回路の好適な入出力コード特性を第1
表、第2表に示した。
【表】
【表】
【表】
第2エンコーダー103は出力端子0へ導く
べきセグメントを選択するエンコード信号群B0
〜B7を出力する。第1表に示す通り例えば
“011”なる上位3ビツトコードに対しB0〜B7の
コードは“00001111”となりB4〜B7までの信号
が1となり第4〜第7セグメントまでのセルの出
力が0へ導かれ、B0〜B3までの信号が0とな
る。 第1エンコーダーの出力するエンコード信号線
群A0〜A7は出力が出力端子105′へ導かれてい
ないセルの属するセグメントのうち最下位セグメ
ントへ“1”なる信号を供給しこのセグメントに
属する電流源スイツチセルのオンオフが下位3ビ
ツトデイジタル入力信号に依存するべく制御し、
残りのセグメントへは“0”なる信号を供給し、
この残りのセグメントに属する全ての電流源スイ
ツチセル下位3ビツトデイジタル入力信号に依存
する事なく常に出力が出力端子105′へ導かれ
る状態に有るべく制御する。第2表に示す通り例
えば“011”なる上位3ビツトコードに対しA0〜
A7のコードは“00010000”となりA3が1となり
第3セグメントが選択される。 第3エンコード回路の出力信号C0〜C7は第2
エンコード回路により選択されたセグメントに属
する電流源スイツチセルのうち下位3ビツトデイ
ジタル信号に依存して所定数のセルの出力を出力
端子105へ導き、残りのセルの出力を出力端子
105′へ導く。第2表に示す通り、例えば
“110”なる下位3ビツトのコードに対しC0〜C7
のコードは“00000011”となりC6,C7の信号が
1となりC0〜C5までが0となる。よつて上位ビ
ツトにより選択されたセグメント(第3列)に属
する電流源スイツチセルのうち第6、第7行に属
する電流源スイツチセルの出力は出力端子105
へ導かれ、第0〜第5に属する電流源スイツチセ
ルの出力は出力端子105′へ導かれる。 以上説明した動作原理に従つて本発明のDAC
は動作するので、デイジタル入力コードの増大に
依存して各電流源スイツチセルの出力電流が加算
されて出力電流が得られるため、本発明は本質的
に単調増加特性(モノトニツクな入出力特性)を
有するモノリシツクDACを構成する好適な回路
手段を提供している。さらにデイジタル入力の全
ての1LSBの変化に対して電流源スイツチセル1
つがスイツチを行なうのみであり、その変化時の
スパイクノイズ(グリツヂ)は小さく、本発明は
グリツヂ特性の良好なモノリシツクDACを構成
する好適な回路手段を提供している。 次に図面に従がつて本発明のDACの基本構成
要素の具体的な実施例について説明する。 第6図は電流源スイツチセルの基本回路構成2
00を示している、この電流源スイツチセルの例
はオンオフするセルの例であり、前述の第4図の
構成図のセル群100に使用する好適な例であ
る。280は電源配線で端子281及び282を
介して隣接して配置される電流源スイツチセルと
自動的に結線される。以下同様に270は接地配
線で端子271,272を介して接続され、26
0は電流源FET290のゲートバイアス電圧を
供給する配線であり端子261,262を介して
FET290のゲートへ接続され、250はアナ
ログ出力配線であり端子251,252を介して
接続されスイツチFET291のドレインが接続
されている。又220は前述の第1のエンコード
回路102の出力信号線で端子221,222を
介して接続され、230は第2のエンコード回路
103の出力信号線で端子231,231を介し
て接続され、240は第3のエンコード回路10
4の出力信号線で端子241,242を介して接
続されている。前述の通りいずれの配線も隣接し
て配置された他の電流源スイツチセルと自動的に
結線される。 290は前述の通り電流源FETであり各電流
源スイツチセルのFETは共通バイアスされてい
る。全てのセルの電流源FETを同一形状にする
事によつて各電流スイツチセルは単位電流をオン
オフし入出力特性が線性形関係に有るDACが構
成される。一方、各セグメント内の電流源FET
の形状は同一とし、第0から第7までのセグメン
トに属する電流源FETに2進化重み付けをする
事によつてPCM用非線形特性を有するDACを構
成する事が可能である。 さらに重み付けを任意とする事も可能であり任
意の非線形特性を有するDACを構成する事も可
能である。電流源FET290のドレインはスイ
ツチFET291のソースへ接続されている。ス
イツチFET291のゲートは多入力論理ゲート
すなわち292及び293で示したアンドノア回
路の出力によりバイアスされる。この多入力論理
ゲートは制御信号の正負論理レベル及びFETが
PチヤンネルがNチヤンネルか等に依存してさま
ざまな組合せが可能であるがここでは一例として
アンドノア(AND NOR)回路構成を示した。
2入力アンド回路293の第1の入力端子は第1
のエンコード回路の出力線号線220へ接続さ
れ、第2の入力端子は第3のエンコード回路の出
力信号線242へ接続され、2入力アンド213
の出力は3入力ノア292の第1の入力端子へ接
続され、3入力ノア292の第2の入力端子は第
2のエンコード回路の出力信号線230へ接続さ
れ、第3の入力端子は前記電流源FETのドレイ
ンとスイツチFETのソース共通接線点へ接続さ
れている。スイツチFET298は3入力ノア2
92の出力と接点295とを受ける2入力ノア2
97で制御され、スイツチFET291とは反対
の動作をする。 次にこの電流源スイツチセルの動作について説
明する。配線230を介してノア292の第2の
入力端子へ印加される第2エンコード回路103
の出力信号のレベルが高レベルに有ると他の入力
端子のレベルのいかんにかかわらずノア292の
出力は低レベルとなり、スイツチFET291は
カツトオフする。よつて第2エンコード回路の出
力信号は禁止信号として動作する。 一方第2のエンコード回路の出力信号のレベル
が低レベルに有る時にはセルの禁止状態は解除さ
れ、第1、第3のエンコード回路の出力信号によ
つてセルの出力状態が制御される。アンド293
の第1の入力端子へ印加される第1のエンコード
回路の出力信号のレベルが低レベルに有る時には
アンド293の第2の入力端子へ印加される第3
のエンコード回路の出力信号のレベルのいかんに
かかわらずアンド293の出力は低レベルとな
り、よつてノア回路292の第1、第2入力端子
は低レベルとなり、よつてノア回路292は端子
295へ接続された第3の入力端子を入力とし、
296を出力とする反転増幅器として動作し、
FET291は帰還バイアスされオン状態となり、
このセルは出力線250へ電流を出力する。 一方、第2のエンコード回路の出力信号のレベ
ルが低レベルに有り、セルの禁止状態が解除され
ていて、アンド293の第1の入力端子へ印加さ
れる第1のエンコード回路の出力信号のレベルが
高レベルへ反転すると、アンド293の第2の入
力端子へ印加される第3のエンコード回路の出力
信号のレベルに依存してセルの出力状態が決ま
る。第2の入力端子のレベルが高レベルである時
にはアンド293の出力は高レベルとなりノア2
92の出力は低レベルとなつてスイツチFET2
91はカツトオフしセルはオフ(禁止)状態とな
る。一方アンド293の第2の入力端子のレベル
が低レベルへ反転すると、アンド293の出力は
低レベルとなり、ノア292は端子295を入力
296を出力とする反転増幅器として動作し、ス
イツチFET291は帰還バイアスされ、オン状
態となり、このセルは出力線250へ電流を出力
する。スイツチFET298もスイツチFET29
1とはオン・オフが逆なだけで同様に動作する。 以上説明した通り、第6図に示した電流源スイ
ツチセルは本発明のDACの基本構成要素として
目的通りの動作を行なう。さらにこの電流源スイ
ツチセルは従来のアナログ電流スイツチの構成を
複雑化する事なく出力インピーダンスを著しく改
善しており、モノリシツク集積回路として出力コ
ンプライアンス特性の著しく良好なDACを実現
する好適な実施例となつている。DACの出力コ
ンプライアンス特性はアナログ電流出力端子の電
圧振幅に対する出力電流変化の抑圧特性であり電
流出力型DACの基本特性の一つであり、出力コ
ンプライアンス特性の不満足なDACでは広範囲
の出力端子電圧振幅に対して精度を満足する事が
できなくなる。 第6図に示した電流源スイツチセルに於いて、
ノアゲート292第1第2入力端子が先に低レベ
ルに有りノア292が反転増幅器として動作して
いる時には、スイツチFET291ソースからゲ
ートに対して閉帰還ループが形成される。今スイ
ツチFET291と電流源FETが同一形状である
と仮定してこれらFETのトランスコンダクタン
スをgn、出力インピーダンスをr0とし、スイツチ
FETのドレイン電位のすなわち出力端子の電位
をV5、スイツチFET291のソースと電流源
FET290のドレインの共通接続端子295の
電位をV295、又出力電流をI5、電流源FETのゲ
ートバイアス電圧をVGとすると出力電流I5は次の
ごとく近似する事が出来る。 I5=(V5−V295)/r0+μ・gn・V295 =V5/r0+(1−μ・gnr0)gnVG/2−μ・gn・r0 出力コンダクタンスは ∂I5/∂V51/μ・(gn・r0)r0 尚(−μ)は反転増幅として動作するノアゲー
ト292のゲインである。従来の単純な差動電流
スイツチ形式で得られる出力インピーダンス(出
力コンダクタンスの逆数)は(gnr0)・r0であり、
第6図に示したセルではさらにμ倍の改善が遂さ
れている。反転増幅器として動作するノアゲート
のゲインμを10倍以上に取る事が容易である事は
同業者に於ては公知である。本発明者が行なつた
実験に於いては出力電圧の10Vの振幅に対して出
力電流の変動は0.00375%であり、変動率は
0.000375%/Vとなつた。 12ビツトDACでの最小ビツト(LSB)の値は
フルスケール値に対して約0.025%であり、1LSB
に相当する誤差を許したとすると本発明の電流源
スイツチセルを使用したDACでは64Vの振幅が
許容される。一方シンプルな差動のアナログ電流
スイツチを使用した場合には特性は1/μだけ悪
化する。実験で使用した反転増幅器のゲインは16
であつたから従来の差動アナログ電流スイツチを
使用した場合には出力許容振幅は4Vへと著しく
減少する。FETスイツチ298も同様である。 次に第7図に従つて第1、第2のエンコード回
路102,103の実施例について説明する。各
各のエンコード回路はROM回路で達成する事が
でき、このROM回路に於ては実線は入出力信号
線を示し、実線と実線との交点にある小円はスイ
ツチFETを示し、1102,1103は負荷回
路を示しスイツチFETの配列により任意のエン
コード出力が得られる。ROM回路のこの記述手
段は公知であり同業者にとつては明白な回路記述
手段であるのでここではより詳しい説明は省略す
る。101なる上位3ビツトのデイジタル入力に
対して、第1のエンコード102の出力信号線1
20〜124及び126,127上に有るスイツ
チFETの少なくとも1個がオンするため出力A0
〜A4及びA6,A7は共に低レベルとなり、又一方
出力線125上のいずれのスイツチFETもオン
しないため出力A5のみが高レベルとなる。 第1のエンコード回路102の出力線120〜
127が入力となる第2のエンコード回路103
の実施例も第7図に示してある。前述と同様に1
01となる上位3ビツトのデイジタル入力に対し
て、信号線125の信号A5のみが高レベルとな
るから第2のエンコード回路の出力信号線130
〜135上に有るスイツチFETがオンするため
出力B0〜B5共に低レベルとなり、一方出力線1
36,137上のいずれものスイツチFETもオ
ンしないためB6、B7が高レベルとなる。以上概
略を説明した第1、第2のエンコード回路の実施
例は表1に示した入出力コードの関係を満足する
ものとなつている。 第8図は下位デイジタル入力信号をエンコード
する第3のエンコード回路104の実施例であり
ROM回路、ROM4A、ROM4Bより構成されて
いる。例えば010なる下位3ビツトデイジタル入
力に対してROM4Aの出力線162のみが高レベ
ルとなる。よつてROM4Bに於いて出力線14
0,141のデータC0、C1のみが低レベルとな
り、このROM4A、ROM4Bで構成されたエンコ
ード回路は第3のエンコード回路の好適な実施例
であり第2表に示した入出力コードの関係を満足
するものとなつている。なお4BL、4ALはそれぞ
れのROM4B、ROM4Aの負荷回路である。 第9図は第6図に示した相補出力型電流源スイ
ツチセルをE/D NMOSで実現する回路例を
示している。デイスプレイツシヨン型負荷MOS
360及びエンハンスメント型駆動MOS FET
351,352は第6図に於けるノアゲート29
7を構成し、エンハンスメント型FET301,
302がノアゲート292を構成し、エンハンス
メント型FET311,312がアンドゲート2
93を構成している。 FET310はデイプレツシヨン型MOS FET
である。ここでは電流源FET290として通常
のエンハンスメント型を使用した例を示しており
バイアス線260とバイアス線接続端子261及
び262を介して隣接セルを通じて外部バイアス
回路よりバイアス電圧が供給される。 第10図は第9図に示した実施例の電流源
FETの外部バイアス手段の実施例である。40
3は電源VDDと接地間に構成された基準電圧源回
路でありDACと同一集積回路チツプ中に構成し
てもかまわないし、外部回路として構成してもか
まわない。400は演算増幅器であり抵抗405
及び基準電流源FET410と共に電圧−電流交
換器を構成している。抵抗407,409は端子
408に安定なバイアス電位を与える分割抵抗で
ある。FET411、ゲート413,412は前
述の基準電流源FET410をセル中の電流源
FET群490と同一のバイアス状態へ置くため
の付加回路であり各セルの出力状態に於いて各セ
ルの電流源FETとこの基準電流源FETはゲート
ソース間電圧、ドレインソース間電圧が同一とな
る様バイアスされるから、セル中の反転増幅器と
して動作するノアゲート292の入力閾値レベル
の温度変動、電源変動に対し前述の基準電流IRef
とDACの出力電流はトラツキングしよつて高安
定なDACを実現する事が出来る。 以上説明した通り本発明のDACはMOS FET
集積回路として構成するに好適なDAC回路手段
を提供しており、特に今後記憶回路用LSIの発展
に併つてより発展すると考えられる超高密度集積
回路(VLSI)技術を用いて製造するに好適な回
路手段を提供しており、多ビツトデイジタル入力
の高精度DACを得るためには基本的に行列状に
配列されたセル数を増加させる事及び入力エンコ
ード回路のROMのビツト数を増加させる事で達
成する事が出来る。 さらに、高い出力コンプライアンス特性の得ら
れる回路手段を提供している事からVLSI技術に
よる高精度DACの実現を可能としている。さら
にCMOS構造あるいはE/D NMOS構造の実
施例で示した通り、低消費電力化及び経済的チツ
プレイアウトを目的とした回路構成を可能として
いる。 又、電流出力型であり高速化を可能とし、スイ
ツチングの際のグリツチ特性の良好な回路手段を
提供し、本質的にモノトニツクな特性を有する回
路手段を提供し、さらに制御回路は従来の通常論
理回路で構成されスイツチ回路部分をも含めた全
回路が単一5V電源で動作し、DAC回路の電源供
給手段を含めて、マイクロコンピユータ等通常デ
イジタル回路とのコンパチビバリテイーを達成し
ている。 以上の説明の通り本発明のモノリシツクデイジ
タルアナログ変換器は新規なDAC構成手段を提
供しており当技術分野の発展に大きく寄与するも
のである。
べきセグメントを選択するエンコード信号群B0
〜B7を出力する。第1表に示す通り例えば
“011”なる上位3ビツトコードに対しB0〜B7の
コードは“00001111”となりB4〜B7までの信号
が1となり第4〜第7セグメントまでのセルの出
力が0へ導かれ、B0〜B3までの信号が0とな
る。 第1エンコーダーの出力するエンコード信号線
群A0〜A7は出力が出力端子105′へ導かれてい
ないセルの属するセグメントのうち最下位セグメ
ントへ“1”なる信号を供給しこのセグメントに
属する電流源スイツチセルのオンオフが下位3ビ
ツトデイジタル入力信号に依存するべく制御し、
残りのセグメントへは“0”なる信号を供給し、
この残りのセグメントに属する全ての電流源スイ
ツチセル下位3ビツトデイジタル入力信号に依存
する事なく常に出力が出力端子105′へ導かれ
る状態に有るべく制御する。第2表に示す通り例
えば“011”なる上位3ビツトコードに対しA0〜
A7のコードは“00010000”となりA3が1となり
第3セグメントが選択される。 第3エンコード回路の出力信号C0〜C7は第2
エンコード回路により選択されたセグメントに属
する電流源スイツチセルのうち下位3ビツトデイ
ジタル信号に依存して所定数のセルの出力を出力
端子105へ導き、残りのセルの出力を出力端子
105′へ導く。第2表に示す通り、例えば
“110”なる下位3ビツトのコードに対しC0〜C7
のコードは“00000011”となりC6,C7の信号が
1となりC0〜C5までが0となる。よつて上位ビ
ツトにより選択されたセグメント(第3列)に属
する電流源スイツチセルのうち第6、第7行に属
する電流源スイツチセルの出力は出力端子105
へ導かれ、第0〜第5に属する電流源スイツチセ
ルの出力は出力端子105′へ導かれる。 以上説明した動作原理に従つて本発明のDAC
は動作するので、デイジタル入力コードの増大に
依存して各電流源スイツチセルの出力電流が加算
されて出力電流が得られるため、本発明は本質的
に単調増加特性(モノトニツクな入出力特性)を
有するモノリシツクDACを構成する好適な回路
手段を提供している。さらにデイジタル入力の全
ての1LSBの変化に対して電流源スイツチセル1
つがスイツチを行なうのみであり、その変化時の
スパイクノイズ(グリツヂ)は小さく、本発明は
グリツヂ特性の良好なモノリシツクDACを構成
する好適な回路手段を提供している。 次に図面に従がつて本発明のDACの基本構成
要素の具体的な実施例について説明する。 第6図は電流源スイツチセルの基本回路構成2
00を示している、この電流源スイツチセルの例
はオンオフするセルの例であり、前述の第4図の
構成図のセル群100に使用する好適な例であ
る。280は電源配線で端子281及び282を
介して隣接して配置される電流源スイツチセルと
自動的に結線される。以下同様に270は接地配
線で端子271,272を介して接続され、26
0は電流源FET290のゲートバイアス電圧を
供給する配線であり端子261,262を介して
FET290のゲートへ接続され、250はアナ
ログ出力配線であり端子251,252を介して
接続されスイツチFET291のドレインが接続
されている。又220は前述の第1のエンコード
回路102の出力信号線で端子221,222を
介して接続され、230は第2のエンコード回路
103の出力信号線で端子231,231を介し
て接続され、240は第3のエンコード回路10
4の出力信号線で端子241,242を介して接
続されている。前述の通りいずれの配線も隣接し
て配置された他の電流源スイツチセルと自動的に
結線される。 290は前述の通り電流源FETであり各電流
源スイツチセルのFETは共通バイアスされてい
る。全てのセルの電流源FETを同一形状にする
事によつて各電流スイツチセルは単位電流をオン
オフし入出力特性が線性形関係に有るDACが構
成される。一方、各セグメント内の電流源FET
の形状は同一とし、第0から第7までのセグメン
トに属する電流源FETに2進化重み付けをする
事によつてPCM用非線形特性を有するDACを構
成する事が可能である。 さらに重み付けを任意とする事も可能であり任
意の非線形特性を有するDACを構成する事も可
能である。電流源FET290のドレインはスイ
ツチFET291のソースへ接続されている。ス
イツチFET291のゲートは多入力論理ゲート
すなわち292及び293で示したアンドノア回
路の出力によりバイアスされる。この多入力論理
ゲートは制御信号の正負論理レベル及びFETが
PチヤンネルがNチヤンネルか等に依存してさま
ざまな組合せが可能であるがここでは一例として
アンドノア(AND NOR)回路構成を示した。
2入力アンド回路293の第1の入力端子は第1
のエンコード回路の出力線号線220へ接続さ
れ、第2の入力端子は第3のエンコード回路の出
力信号線242へ接続され、2入力アンド213
の出力は3入力ノア292の第1の入力端子へ接
続され、3入力ノア292の第2の入力端子は第
2のエンコード回路の出力信号線230へ接続さ
れ、第3の入力端子は前記電流源FETのドレイ
ンとスイツチFETのソース共通接線点へ接続さ
れている。スイツチFET298は3入力ノア2
92の出力と接点295とを受ける2入力ノア2
97で制御され、スイツチFET291とは反対
の動作をする。 次にこの電流源スイツチセルの動作について説
明する。配線230を介してノア292の第2の
入力端子へ印加される第2エンコード回路103
の出力信号のレベルが高レベルに有ると他の入力
端子のレベルのいかんにかかわらずノア292の
出力は低レベルとなり、スイツチFET291は
カツトオフする。よつて第2エンコード回路の出
力信号は禁止信号として動作する。 一方第2のエンコード回路の出力信号のレベル
が低レベルに有る時にはセルの禁止状態は解除さ
れ、第1、第3のエンコード回路の出力信号によ
つてセルの出力状態が制御される。アンド293
の第1の入力端子へ印加される第1のエンコード
回路の出力信号のレベルが低レベルに有る時には
アンド293の第2の入力端子へ印加される第3
のエンコード回路の出力信号のレベルのいかんに
かかわらずアンド293の出力は低レベルとな
り、よつてノア回路292の第1、第2入力端子
は低レベルとなり、よつてノア回路292は端子
295へ接続された第3の入力端子を入力とし、
296を出力とする反転増幅器として動作し、
FET291は帰還バイアスされオン状態となり、
このセルは出力線250へ電流を出力する。 一方、第2のエンコード回路の出力信号のレベ
ルが低レベルに有り、セルの禁止状態が解除され
ていて、アンド293の第1の入力端子へ印加さ
れる第1のエンコード回路の出力信号のレベルが
高レベルへ反転すると、アンド293の第2の入
力端子へ印加される第3のエンコード回路の出力
信号のレベルに依存してセルの出力状態が決ま
る。第2の入力端子のレベルが高レベルである時
にはアンド293の出力は高レベルとなりノア2
92の出力は低レベルとなつてスイツチFET2
91はカツトオフしセルはオフ(禁止)状態とな
る。一方アンド293の第2の入力端子のレベル
が低レベルへ反転すると、アンド293の出力は
低レベルとなり、ノア292は端子295を入力
296を出力とする反転増幅器として動作し、ス
イツチFET291は帰還バイアスされ、オン状
態となり、このセルは出力線250へ電流を出力
する。スイツチFET298もスイツチFET29
1とはオン・オフが逆なだけで同様に動作する。 以上説明した通り、第6図に示した電流源スイ
ツチセルは本発明のDACの基本構成要素として
目的通りの動作を行なう。さらにこの電流源スイ
ツチセルは従来のアナログ電流スイツチの構成を
複雑化する事なく出力インピーダンスを著しく改
善しており、モノリシツク集積回路として出力コ
ンプライアンス特性の著しく良好なDACを実現
する好適な実施例となつている。DACの出力コ
ンプライアンス特性はアナログ電流出力端子の電
圧振幅に対する出力電流変化の抑圧特性であり電
流出力型DACの基本特性の一つであり、出力コ
ンプライアンス特性の不満足なDACでは広範囲
の出力端子電圧振幅に対して精度を満足する事が
できなくなる。 第6図に示した電流源スイツチセルに於いて、
ノアゲート292第1第2入力端子が先に低レベ
ルに有りノア292が反転増幅器として動作して
いる時には、スイツチFET291ソースからゲ
ートに対して閉帰還ループが形成される。今スイ
ツチFET291と電流源FETが同一形状である
と仮定してこれらFETのトランスコンダクタン
スをgn、出力インピーダンスをr0とし、スイツチ
FETのドレイン電位のすなわち出力端子の電位
をV5、スイツチFET291のソースと電流源
FET290のドレインの共通接続端子295の
電位をV295、又出力電流をI5、電流源FETのゲ
ートバイアス電圧をVGとすると出力電流I5は次の
ごとく近似する事が出来る。 I5=(V5−V295)/r0+μ・gn・V295 =V5/r0+(1−μ・gnr0)gnVG/2−μ・gn・r0 出力コンダクタンスは ∂I5/∂V51/μ・(gn・r0)r0 尚(−μ)は反転増幅として動作するノアゲー
ト292のゲインである。従来の単純な差動電流
スイツチ形式で得られる出力インピーダンス(出
力コンダクタンスの逆数)は(gnr0)・r0であり、
第6図に示したセルではさらにμ倍の改善が遂さ
れている。反転増幅器として動作するノアゲート
のゲインμを10倍以上に取る事が容易である事は
同業者に於ては公知である。本発明者が行なつた
実験に於いては出力電圧の10Vの振幅に対して出
力電流の変動は0.00375%であり、変動率は
0.000375%/Vとなつた。 12ビツトDACでの最小ビツト(LSB)の値は
フルスケール値に対して約0.025%であり、1LSB
に相当する誤差を許したとすると本発明の電流源
スイツチセルを使用したDACでは64Vの振幅が
許容される。一方シンプルな差動のアナログ電流
スイツチを使用した場合には特性は1/μだけ悪
化する。実験で使用した反転増幅器のゲインは16
であつたから従来の差動アナログ電流スイツチを
使用した場合には出力許容振幅は4Vへと著しく
減少する。FETスイツチ298も同様である。 次に第7図に従つて第1、第2のエンコード回
路102,103の実施例について説明する。各
各のエンコード回路はROM回路で達成する事が
でき、このROM回路に於ては実線は入出力信号
線を示し、実線と実線との交点にある小円はスイ
ツチFETを示し、1102,1103は負荷回
路を示しスイツチFETの配列により任意のエン
コード出力が得られる。ROM回路のこの記述手
段は公知であり同業者にとつては明白な回路記述
手段であるのでここではより詳しい説明は省略す
る。101なる上位3ビツトのデイジタル入力に
対して、第1のエンコード102の出力信号線1
20〜124及び126,127上に有るスイツ
チFETの少なくとも1個がオンするため出力A0
〜A4及びA6,A7は共に低レベルとなり、又一方
出力線125上のいずれのスイツチFETもオン
しないため出力A5のみが高レベルとなる。 第1のエンコード回路102の出力線120〜
127が入力となる第2のエンコード回路103
の実施例も第7図に示してある。前述と同様に1
01となる上位3ビツトのデイジタル入力に対し
て、信号線125の信号A5のみが高レベルとな
るから第2のエンコード回路の出力信号線130
〜135上に有るスイツチFETがオンするため
出力B0〜B5共に低レベルとなり、一方出力線1
36,137上のいずれものスイツチFETもオ
ンしないためB6、B7が高レベルとなる。以上概
略を説明した第1、第2のエンコード回路の実施
例は表1に示した入出力コードの関係を満足する
ものとなつている。 第8図は下位デイジタル入力信号をエンコード
する第3のエンコード回路104の実施例であり
ROM回路、ROM4A、ROM4Bより構成されて
いる。例えば010なる下位3ビツトデイジタル入
力に対してROM4Aの出力線162のみが高レベ
ルとなる。よつてROM4Bに於いて出力線14
0,141のデータC0、C1のみが低レベルとな
り、このROM4A、ROM4Bで構成されたエンコ
ード回路は第3のエンコード回路の好適な実施例
であり第2表に示した入出力コードの関係を満足
するものとなつている。なお4BL、4ALはそれぞ
れのROM4B、ROM4Aの負荷回路である。 第9図は第6図に示した相補出力型電流源スイ
ツチセルをE/D NMOSで実現する回路例を
示している。デイスプレイツシヨン型負荷MOS
360及びエンハンスメント型駆動MOS FET
351,352は第6図に於けるノアゲート29
7を構成し、エンハンスメント型FET301,
302がノアゲート292を構成し、エンハンス
メント型FET311,312がアンドゲート2
93を構成している。 FET310はデイプレツシヨン型MOS FET
である。ここでは電流源FET290として通常
のエンハンスメント型を使用した例を示しており
バイアス線260とバイアス線接続端子261及
び262を介して隣接セルを通じて外部バイアス
回路よりバイアス電圧が供給される。 第10図は第9図に示した実施例の電流源
FETの外部バイアス手段の実施例である。40
3は電源VDDと接地間に構成された基準電圧源回
路でありDACと同一集積回路チツプ中に構成し
てもかまわないし、外部回路として構成してもか
まわない。400は演算増幅器であり抵抗405
及び基準電流源FET410と共に電圧−電流交
換器を構成している。抵抗407,409は端子
408に安定なバイアス電位を与える分割抵抗で
ある。FET411、ゲート413,412は前
述の基準電流源FET410をセル中の電流源
FET群490と同一のバイアス状態へ置くため
の付加回路であり各セルの出力状態に於いて各セ
ルの電流源FETとこの基準電流源FETはゲート
ソース間電圧、ドレインソース間電圧が同一とな
る様バイアスされるから、セル中の反転増幅器と
して動作するノアゲート292の入力閾値レベル
の温度変動、電源変動に対し前述の基準電流IRef
とDACの出力電流はトラツキングしよつて高安
定なDACを実現する事が出来る。 以上説明した通り本発明のDACはMOS FET
集積回路として構成するに好適なDAC回路手段
を提供しており、特に今後記憶回路用LSIの発展
に併つてより発展すると考えられる超高密度集積
回路(VLSI)技術を用いて製造するに好適な回
路手段を提供しており、多ビツトデイジタル入力
の高精度DACを得るためには基本的に行列状に
配列されたセル数を増加させる事及び入力エンコ
ード回路のROMのビツト数を増加させる事で達
成する事が出来る。 さらに、高い出力コンプライアンス特性の得ら
れる回路手段を提供している事からVLSI技術に
よる高精度DACの実現を可能としている。さら
にCMOS構造あるいはE/D NMOS構造の実
施例で示した通り、低消費電力化及び経済的チツ
プレイアウトを目的とした回路構成を可能として
いる。 又、電流出力型であり高速化を可能とし、スイ
ツチングの際のグリツチ特性の良好な回路手段を
提供し、本質的にモノトニツクな特性を有する回
路手段を提供し、さらに制御回路は従来の通常論
理回路で構成されスイツチ回路部分をも含めた全
回路が単一5V電源で動作し、DAC回路の電源供
給手段を含めて、マイクロコンピユータ等通常デ
イジタル回路とのコンパチビバリテイーを達成し
ている。 以上の説明の通り本発明のモノリシツクデイジ
タルアナログ変換器は新規なDAC構成手段を提
供しており当技術分野の発展に大きく寄与するも
のである。
第1図は従来のDACの実施例を示す図、第2
図は他の従来のDACの実施例を示す図、第3図
は第2図の従来のDACの例の説明図、第4図は
本発明のDACの構成を示す図、第5図は本発明
のDACの構成を説明する図、第6図は本発明の
DACの構成要素である電流源スイツチセル部の
構成例を示す図、第7図は本発明のDACの第1、
第2エンコーダーの実施例を示す図、第8図は本
発明のDACの第3エンコーダーの実施例を示す
図、第9図は電流源スイツチセルのE/D
NMOS集積回路により実施例を示す図、第10
図は本発明のDACの外部バイアス手段の実施例
を示す図である。 A,,B,,C,……デイジタル相補入
力、OUT、IOUT、OUT……アナログ出力、100
……電流源セルアレイ。
図は他の従来のDACの実施例を示す図、第3図
は第2図の従来のDACの例の説明図、第4図は
本発明のDACの構成を示す図、第5図は本発明
のDACの構成を説明する図、第6図は本発明の
DACの構成要素である電流源スイツチセル部の
構成例を示す図、第7図は本発明のDACの第1、
第2エンコーダーの実施例を示す図、第8図は本
発明のDACの第3エンコーダーの実施例を示す
図、第9図は電流源スイツチセルのE/D
NMOS集積回路により実施例を示す図、第10
図は本発明のDACの外部バイアス手段の実施例
を示す図である。 A,,B,,C,……デイジタル相補入
力、OUT、IOUT、OUT……アナログ出力、100
……電流源セルアレイ。
Claims (1)
- 1 行列状に配列され、電流源と該電流源からの
電流を相補な関係で取り出す第1、第2のスイツ
チと、該第1のスイツチを制御する多入力論理回
路と、前記第2のスイツチを該第1のスチツチと
は相補な関係で制御する手段とを各々が有する複
数の単位電流源スイツチセルと、該単位電流源ス
イツチセルの各列毎に設けられてその列の前記多
入力論理回路に共通に接続される第1および第2
の信号線群と、前記単位電流源スイツチセルの各
行毎に設けられてその行の前記多入力論理回路に
共通に接続される第3の信号線群と、前記単位電
流源スイツチセルのうち前記第1のスイツチがオ
ンされたものの電流の総和を出力する第1の出力
線と、前記単位電流源スイツチセルのうち前記第
2のスイツチがオンされたものの電流の総和を出
力する第2の出力線と、前記第1の信号線群のう
ち入力デイジタル信号の最上位ビツトから所定数
のビツトの信号の意味する数に対応する順位の信
号線に第1の制御信号を生じせしめる第1のエン
コーダーと、前記第2の信号線群のうち前記入力
デイジタル信号の前記所定数のビツトの信号の前
記意味する数に対応する順位を越える全ての順位
の信号線に第2の制御信号を生じせしめる第2の
エンコーダーと、前記第3の信号線群のうち前記
入力デイジタル信号の前記最上位ビツトから前記
所定数のビツト以外のビツトの信号の意味する数
に対応する順位以後の全ての順位の信号線に第3
の制御信号を生じせしめる第3のエンコーダーと
を有し、前記多入力論理回路は、前記第1の制御
信号が与えられると前記第3の制御信号に応じて
前記第1のスチツチをオン、オフし、前記第2の
制御信号が与えられると前記第3の制御信号にか
かわらず前記第1のスイツチをオフし、前記第1
の制御信号および前記第2の制御信号のいずれも
与えられないと前記第1のスイツチをオンするよ
うに構成されていることを特徴とするデイジタル
アナログ変換器。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5739580A JPS56153832A (en) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | Digital to analog converter |
| US06/258,711 US4393370A (en) | 1980-04-30 | 1981-04-29 | Digital to analog converter using matrix of current sources |
| EP81103268A EP0043897B1 (en) | 1980-04-30 | 1981-04-30 | Integrated digital-analog converter |
| DE8181103268T DE3172203D1 (en) | 1980-04-30 | 1981-04-30 | Integrated digital-analog converter |
| EP84107718A EP0146674A1 (en) | 1980-04-30 | 1981-04-30 | Integrated circuit, particularly for use as a digital-analog converter |
| US06/477,801 US4490634A (en) | 1980-04-30 | 1983-03-22 | Semiconductor circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5739580A JPS56153832A (en) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | Digital to analog converter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56153832A JPS56153832A (en) | 1981-11-28 |
| JPH0332247B2 true JPH0332247B2 (ja) | 1991-05-10 |
Family
ID=13054430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5739580A Granted JPS56153832A (en) | 1980-04-30 | 1980-04-30 | Digital to analog converter |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4393370A (ja) |
| EP (2) | EP0043897B1 (ja) |
| JP (1) | JPS56153832A (ja) |
| DE (1) | DE3172203D1 (ja) |
Families Citing this family (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
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| US4393370A (en) | 1983-07-12 |
| US4490634A (en) | 1984-12-25 |
| JPS56153832A (en) | 1981-11-28 |
| DE3172203D1 (en) | 1985-10-17 |
| EP0043897A2 (en) | 1982-01-20 |
| EP0043897A3 (en) | 1982-08-04 |
| EP0043897B1 (en) | 1985-09-11 |
| EP0146674A1 (en) | 1985-07-03 |
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