JPH0336166B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0336166B2 JPH0336166B2 JP59177980A JP17798084A JPH0336166B2 JP H0336166 B2 JPH0336166 B2 JP H0336166B2 JP 59177980 A JP59177980 A JP 59177980A JP 17798084 A JP17798084 A JP 17798084A JP H0336166 B2 JPH0336166 B2 JP H0336166B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sludge
- surface echo
- corroded
- pipeline
- height
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
- G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、パイプラインの内面腐蝕状態を超音
波探査方式により検知する方法の改良に関する。
波探査方式により検知する方法の改良に関する。
従来、パイプラインの内面腐蝕状態を検知する
装置として、実開昭56−117359号公報に記載され
ているものがある。この装置による検知方法は、
第４図に示す如く、パイプライン１内を移動する
超音波探触子２により超音波をパイプライン１の
管体表面に送信し表面エコーを受信して、この表
面エコーの位置変化量から内面腐触状態を検知す
るものである。
装置として、実開昭56−117359号公報に記載され
ているものがある。この装置による検知方法は、
第４図に示す如く、パイプライン１内を移動する
超音波探触子２により超音波をパイプライン１の
管体表面に送信し表面エコーを受信して、この表
面エコーの位置変化量から内面腐触状態を検知す
るものである。
第５図は第４図中符号３で示す健全部のＡス
コープ図であり、第５図は第４図中符号４で示
す腐触部のＡスコープ図である。すなわち、従来
の検知方法は、健全部３の表面エコーＳ１の位置
（伝播時間）Ｔ１と腐触部４の表面エコーＳ２の
位置Ｔ２（伝播時間）とを市販の超音波厚み計に
より求め、Ｔ１とＴ２との変化量ｔからパイプラ
イン１の内面腐触状態を検知するものとなつてい
る。
コープ図であり、第５図は第４図中符号４で示
す腐触部のＡスコープ図である。すなわち、従来
の検知方法は、健全部３の表面エコーＳ１の位置
（伝播時間）Ｔ１と腐触部４の表面エコーＳ２の
位置Ｔ２（伝播時間）とを市販の超音波厚み計に
より求め、Ｔ１とＴ２との変化量ｔからパイプラ
イン１の内面腐触状態を検知するものとなつてい
る。
ところで、第６図に示す如く腐触部４にスラツ
ジ５が貯留している場合には、第７図に示すＡス
コープ図から明らかなように、腐触部表面エコー
Ｓ２の他にスラツジ表面エコーＳ３が探触子２に
て受信される。一方、前記超音波厚み計はスレツ
シホールドレベルを越える複数の表面エコーが存
在する場合には最初の表面エコーの位置を検出す
るものとなつているので、第７図において、スラ
ツジ表面エコーＳ３がスレツシホールドレベル以
上であると、本来測定すべき腐触部表面エコーＳ
２の位置Ｔ２よりもt′だけ小さいスラツジ表面エ
コーＳ３の位置Ｔ３が測定され、上記t′に対応す
る値だけ腐触部の深さが浅いものと判定すること
になる。
ジ５が貯留している場合には、第７図に示すＡス
コープ図から明らかなように、腐触部表面エコー
Ｓ２の他にスラツジ表面エコーＳ３が探触子２に
て受信される。一方、前記超音波厚み計はスレツ
シホールドレベルを越える複数の表面エコーが存
在する場合には最初の表面エコーの位置を検出す
るものとなつているので、第７図において、スラ
ツジ表面エコーＳ３がスレツシホールドレベル以
上であると、本来測定すべき腐触部表面エコーＳ
２の位置Ｔ２よりもt′だけ小さいスラツジ表面エ
コーＳ３の位置Ｔ３が測定され、上記t′に対応す
る値だけ腐触部の深さが浅いものと判定すること
になる。
第８図は、第９図に示す探触子２の中心線と表
面の平らな鋼板６の法線とがなす角度θと、鋼板
表面エコーＳの高さとの関係を示す図である。第
８図に示すように、超音波の当たる鋼板６の表面
が傾けば傾くほど表面エコーＳの高さは次第に低
くなる。一方、腐蝕部４の底面には通常凹凸があ
り、この底面の凹凸により超音波が散乱するの
で、腐蝕部表面エコーＳ２の高さは表面の平坦な
部分すなわち健全部表面エコーＳ１の高さに比べ
て数10dB低くなる。この腐蝕部表面エコーＳ２
の高さが低くなる度合は、腐蝕部４の表面性状に
よつて変わつてくる。今、探蝕子２の中心線と鋼
板６の法線とがなす角度θが10°となつた場合と
同様の表面エコーの高さが得られる表面性状を有
する腐蝕部４の深さを測定するためには、第８図
から明らかなようにスレツシホールドレベルを健
全部表面エコーＳ１の高さよりも少なくとも
40dB低く設定する必要がある。
面の平らな鋼板６の法線とがなす角度θと、鋼板
表面エコーＳの高さとの関係を示す図である。第
８図に示すように、超音波の当たる鋼板６の表面
が傾けば傾くほど表面エコーＳの高さは次第に低
くなる。一方、腐蝕部４の底面には通常凹凸があ
り、この底面の凹凸により超音波が散乱するの
で、腐蝕部表面エコーＳ２の高さは表面の平坦な
部分すなわち健全部表面エコーＳ１の高さに比べ
て数10dB低くなる。この腐蝕部表面エコーＳ２
の高さが低くなる度合は、腐蝕部４の表面性状に
よつて変わつてくる。今、探蝕子２の中心線と鋼
板６の法線とがなす角度θが10°となつた場合と
同様の表面エコーの高さが得られる表面性状を有
する腐蝕部４の深さを測定するためには、第８図
から明らかなようにスレツシホールドレベルを健
全部表面エコーＳ１の高さよりも少なくとも
40dB低く設定する必要がある。
一方、第１０図はスラツジ５が貯留している表
面が比較的平坦な腐蝕部４において、このスラツ
ジ５の厚さｄを変えた場合の腐蝕部表面エコーＳ
２とスラツジ表面エコーＳ３との高さの関係を示
す図である。この場合、探蝕子２はパイプライン
１の表面に対して垂直に対向している。第１０図
に示すようにスラツジ５の厚さｄが増加すると腐
蝕部表面エコーＳ２の高さは次第に低下し、ｄ＝
16mm程度でスラツジ表面エコーＳ３の高さと等し
くなる。またその高さはスラツジ５のない場合す
なわち表面が比較的平坦であるため健全部３とほ
ぼ同様な場合と比べて約30dB低い値となる。
面が比較的平坦な腐蝕部４において、このスラツ
ジ５の厚さｄを変えた場合の腐蝕部表面エコーＳ
２とスラツジ表面エコーＳ３との高さの関係を示
す図である。この場合、探蝕子２はパイプライン
１の表面に対して垂直に対向している。第１０図
に示すようにスラツジ５の厚さｄが増加すると腐
蝕部表面エコーＳ２の高さは次第に低下し、ｄ＝
16mm程度でスラツジ表面エコーＳ３の高さと等し
くなる。またその高さはスラツジ５のない場合す
なわち表面が比較的平坦であるため健全部３とほ
ぼ同様な場合と比べて約30dB低い値となる。
したがつて、従来の内部腐蝕検知装置において
は、スレツシホールドレベルをたとえば40dBま
で低くすると、スラツジ５の厚みｄが20mm程度ま
で貯留している腐蝕部４の状態を検知することが
可能であるが、スラツジ表面エコーＳ３の高さは
健全部３の表面エコーＳ１の高さよりも約30dB
低いだけなので、スラツジ表面エコーＳ３の位置
Ｔ３を誤つて測定してしまうおそれがある。そう
すると、前述したように腐蝕部４の状態を実際の
深さよりも浅く測定してしまうことになる。
は、スレツシホールドレベルをたとえば40dBま
で低くすると、スラツジ５の厚みｄが20mm程度ま
で貯留している腐蝕部４の状態を検知することが
可能であるが、スラツジ表面エコーＳ３の高さは
健全部３の表面エコーＳ１の高さよりも約30dB
低いだけなので、スラツジ表面エコーＳ３の位置
Ｔ３を誤つて測定してしまうおそれがある。そう
すると、前述したように腐蝕部４の状態を実際の
深さよりも浅く測定してしまうことになる。
このように従来のパイプライン内部腐蝕の検知
方法においては、フラツジ５が貯留している腐蝕
部４の状態を高精度に検知することができなかつ
た。
方法においては、フラツジ５が貯留している腐蝕
部４の状態を高精度に検知することができなかつ
た。
本発明の目的は、スラツジが貯留している腐蝕
部の状態をも高精度に検知することが可能なパイ
プライン内面腐蝕の検知方法を提供することにあ
る。
部の状態をも高精度に検知することが可能なパイ
プライン内面腐蝕の検知方法を提供することにあ
る。
本発明は上記目的を達成するために次の如く構
成したことを特徴としている。すなわち、超音波
探査により得られる複数の表面エコーのうち、最
大レベルの表面エコーの位置変化量を求め、この
位置変化量からパイプラインの内面腐蝕状態を検
知するようにしたことを特徴としている。
成したことを特徴としている。すなわち、超音波
探査により得られる複数の表面エコーのうち、最
大レベルの表面エコーの位置変化量を求め、この
位置変化量からパイプラインの内面腐蝕状態を検
知するようにしたことを特徴としている。
第１図ａ，ｂ，ｃは本発明の一実施例を説明す
るための図で、同図ａは健全部３のＡスコープ図
であり、同図ｂはスラツジのない腐蝕部４ａのＡ
スコープ図であり、同図ｃはスラツジのある腐蝕
部４ｂのＡスコープ図である。同図ａ〜ｃにおい
てスレツシホールドレベルは、健全部表面エコー
Ｓ１の高さに対応するＨ線より40dB低いＬ線に
設定する。こうすることにより、同図ｂに示す如
くスラツジのない腐蝕部４ａにおける表面エコー
Ｓ２を検出できるので、健全部表面エコーＳ１の
位置Ｔ１と腐蝕部表面エコーＳ２の位置Ｔ２との
変化量ｔが測定できる。
るための図で、同図ａは健全部３のＡスコープ図
であり、同図ｂはスラツジのない腐蝕部４ａのＡ
スコープ図であり、同図ｃはスラツジのある腐蝕
部４ｂのＡスコープ図である。同図ａ〜ｃにおい
てスレツシホールドレベルは、健全部表面エコー
Ｓ１の高さに対応するＨ線より40dB低いＬ線に
設定する。こうすることにより、同図ｂに示す如
くスラツジのない腐蝕部４ａにおける表面エコー
Ｓ２を検出できるので、健全部表面エコーＳ１の
位置Ｔ１と腐蝕部表面エコーＳ２の位置Ｔ２との
変化量ｔが測定できる。
一方、同図ｃに示す如くスラツジのある腐蝕部
４ｂにおけるスラツジ表面エコーＳ３の高さは、
Ｈ線よりも30bB低いＭ線に対応する。この場合、
第１０図に示すようにスラツジの厚みｄが16mm以
下であれば、腐蝕部表面エコーＳ２はスラツジ表
面エコーＳ３よりも高くなる。したがつて、スレ
ツシホールドレベル以上の複数の表面エコーのう
ち最大レベルの表面エコーの位置を検出すること
により、所定の厚み以下のスラツジ５が貯留され
た腐蝕部４ｂの深さを測定できる。
４ｂにおけるスラツジ表面エコーＳ３の高さは、
Ｈ線よりも30bB低いＭ線に対応する。この場合、
第１０図に示すようにスラツジの厚みｄが16mm以
下であれば、腐蝕部表面エコーＳ２はスラツジ表
面エコーＳ３よりも高くなる。したがつて、スレ
ツシホールドレベル以上の複数の表面エコーのう
ち最大レベルの表面エコーの位置を検出すること
により、所定の厚み以下のスラツジ５が貯留され
た腐蝕部４ｂの深さを測定できる。
第２図は上記実施例を実現するための電子回路
の構成の一例を示すブロツク図であり、第３図は
第２図における各部信号波形図である。第２図に
おいて端子１１には第３図Ａに示す超音波探査に
おけるＡスコープ図に対応するビデオ波形が与え
られる。このビデオ波形はゲート回路１２および
１３に供給される。上記ゲート回路１２の信号入
力端にはクロツクパルス発生器１４にて発生した
第３図Ｂに示す一定周波数のパルスが供給されて
いる。上記ゲート回路１２は第３図Ｃに示す如
く、リセツト時はOFFで前記ビデオ波形（第３
図Ａ）の送信パルスｐの立上がりによつてON動
作するものとなつている。したがつて、上記ゲー
ト回路１２からは第３図Ｄに示すようなパルス信
号がパルスカウンタ１５へ出力される。上記カウ
ンタ１５においては、前記パルス信号（第３図
Ｄ）が計数され、そのパルス計数出力はゲート回
路１６に供給されるものとなつている。
の構成の一例を示すブロツク図であり、第３図は
第２図における各部信号波形図である。第２図に
おいて端子１１には第３図Ａに示す超音波探査に
おけるＡスコープ図に対応するビデオ波形が与え
られる。このビデオ波形はゲート回路１２および
１３に供給される。上記ゲート回路１２の信号入
力端にはクロツクパルス発生器１４にて発生した
第３図Ｂに示す一定周波数のパルスが供給されて
いる。上記ゲート回路１２は第３図Ｃに示す如
く、リセツト時はOFFで前記ビデオ波形（第３
図Ａ）の送信パルスｐの立上がりによつてON動
作するものとなつている。したがつて、上記ゲー
ト回路１２からは第３図Ｄに示すようなパルス信
号がパルスカウンタ１５へ出力される。上記カウ
ンタ１５においては、前記パルス信号（第３図
Ｄ）が計数され、そのパルス計数出力はゲート回
路１６に供給されるものとなつている。
一方、前記ゲート回路１３においては、前記ビ
デオ波形（第３図Ａ）のうち送信パルスｐから所
定時間経過した時点を起点とした所定期間におけ
る第３図Ｅに示すような波形が抽出され、第１の
コンパレータ１７に出力される。上記第１のコン
パレータ１７においては、所定のスレツシホール
ドレベル（第３図Ｅの一点鎖線で示す）以下の電
圧がカツトされ、第３図Ｆに示すような信号が出
力される。上記第１のコンパレータ１７の出力
（第３図Ｆ）はピークピツカ１８を通過すること
により、第３図Ｇに示すようなピーク電圧が抽出
された後、第２のコンパレータ１９の一方の入力
端に供給されるものとなつている。上記第２のコ
ンパレータ１９の他方の入力端には、前記第１の
コンパレータ１７の出力（第３図Ｆ）が直接供給
されており、上記第２のコンパレータ１９におい
て、第３図Ｇに示す波形の電圧と第３図Ｆに示す
波形の電圧とが比較され、両電圧が等しいか、あ
いるは第３図Ｆで示す波形の電圧の方が大きい場
合には、前記ゲート回路１６をON動作させ、第
３図Ｇで示す波形の電圧の方が大きい場合には、
前記ゲート回路１６をOFF動作させるものとな
つている。かくして上記ゲート回路１６は第３図
Ｈで示す如くON／OFFし、その結果、メモリ２
０には第３図で示すようなパルス計数出力が記
憶されるものとなる。
デオ波形（第３図Ａ）のうち送信パルスｐから所
定時間経過した時点を起点とした所定期間におけ
る第３図Ｅに示すような波形が抽出され、第１の
コンパレータ１７に出力される。上記第１のコン
パレータ１７においては、所定のスレツシホール
ドレベル（第３図Ｅの一点鎖線で示す）以下の電
圧がカツトされ、第３図Ｆに示すような信号が出
力される。上記第１のコンパレータ１７の出力
（第３図Ｆ）はピークピツカ１８を通過すること
により、第３図Ｇに示すようなピーク電圧が抽出
された後、第２のコンパレータ１９の一方の入力
端に供給されるものとなつている。上記第２のコ
ンパレータ１９の他方の入力端には、前記第１の
コンパレータ１７の出力（第３図Ｆ）が直接供給
されており、上記第２のコンパレータ１９におい
て、第３図Ｇに示す波形の電圧と第３図Ｆに示す
波形の電圧とが比較され、両電圧が等しいか、あ
いるは第３図Ｆで示す波形の電圧の方が大きい場
合には、前記ゲート回路１６をON動作させ、第
３図Ｇで示す波形の電圧の方が大きい場合には、
前記ゲート回路１６をOFF動作させるものとな
つている。かくして上記ゲート回路１６は第３図
Ｈで示す如くON／OFFし、その結果、メモリ２
０には第３図で示すようなパルス計数出力が記
憶されるものとなる。
このように構成された電子回路を用いれば、送
信パルスｐからスレツシホールドレベルを越える
複数の表面エコーのうち、高さが最大の表面エコ
ーＳ２までの時間が求められる。したがつて、第
４図で示すようなフラツジのない腐蝕部４ａの状
態が測定できるのは勿論、第６図で示すようなス
ラツジ５が貯留している腐蝕部４ｂの状態をも正
確に測定できる。
信パルスｐからスレツシホールドレベルを越える
複数の表面エコーのうち、高さが最大の表面エコ
ーＳ２までの時間が求められる。したがつて、第
４図で示すようなフラツジのない腐蝕部４ａの状
態が測定できるのは勿論、第６図で示すようなス
ラツジ５が貯留している腐蝕部４ｂの状態をも正
確に測定できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の要旨を越えない範囲で種々変
形実施可能であるのは勿論である。
ではなく、本発明の要旨を越えない範囲で種々変
形実施可能であるのは勿論である。
以上詳述したように本発明によれば、超音波探
査により得られる複数の表面エコーのうち、最大
レベルの表面エコーの位置変化量を求め、この位
置変化量からパイプラインの内面腐蝕状態を検知
するようにしたので、スラツジが貯留している腐
蝕部の状態をも高精度に測定することが可能なパ
イプライン内面腐蝕の検知方法を提供できる。
査により得られる複数の表面エコーのうち、最大
レベルの表面エコーの位置変化量を求め、この位
置変化量からパイプラインの内面腐蝕状態を検知
するようにしたので、スラツジが貯留している腐
蝕部の状態をも高精度に測定することが可能なパ
イプライン内面腐蝕の検知方法を提供できる。
第１図ａ，ｂ，ｃは本発明の一実施例を説明す
るための図、第２図は同実施例を実現するための
電子回路の構成例を示すブロツク図、第３図は第
２図における各部信号波形図、第４図〜第１０図
は従来例を説明するための図で、第４図および第
５図は健全部表面エコーおよびスラツジのない腐
蝕部表面エコーを説明するための図、第６図およ
び第７図はスラツジのある腐蝕部における表面エ
コーを説明するための図、第８図および第９図は
鋼板の傾きに対する表面エコーの関係を説明する
ための図、第１０図はスラツジ厚みに対する腐蝕
部表面エコーとスラツジ表面エコーとの関係を説
明するための図である。 １……パイプライン、２……超音波探触子、３
……健全部、４……腐蝕部（４ａ……スラツジな
し腐蝕部、４ｂ……スラツジあり腐蝕部）、５…
…スラツジ。
るための図、第２図は同実施例を実現するための
電子回路の構成例を示すブロツク図、第３図は第
２図における各部信号波形図、第４図〜第１０図
は従来例を説明するための図で、第４図および第
５図は健全部表面エコーおよびスラツジのない腐
蝕部表面エコーを説明するための図、第６図およ
び第７図はスラツジのある腐蝕部における表面エ
コーを説明するための図、第８図および第９図は
鋼板の傾きに対する表面エコーの関係を説明する
ための図、第１０図はスラツジ厚みに対する腐蝕
部表面エコーとスラツジ表面エコーとの関係を説
明するための図である。 １……パイプライン、２……超音波探触子、３
……健全部、４……腐蝕部（４ａ……スラツジな
し腐蝕部、４ｂ……スラツジあり腐蝕部）、５…
…スラツジ。
Claims (1)
- １ パイプラインの内面腐蝕状態を超音波探査方
式により検知する方法において、超音波探査によ
り得られる複数の表面エコーのうち、最大レベル
の表面エコーの位置変化量を求め、この位置変化
量から前記パイプラインの内面腐蝕状態を検知す
るようにしたことを特徴とするパイプライン内面
腐蝕の検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59177980A JPS6154406A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | パイプライン内面腐蝕の検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59177980A JPS6154406A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | パイプライン内面腐蝕の検知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6154406A JPS6154406A (ja) | 1986-03-18 |
| JPH0336166B2 true JPH0336166B2 (ja) | 1991-05-30 |
Family
ID=16040430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59177980A Granted JPS6154406A (ja) | 1984-08-27 | 1984-08-27 | パイプライン内面腐蝕の検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6154406A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2508535C2 (ru) * | 2012-04-05 | 2014-02-27 | Государственное Унитарное Предприятие "Водоканал Санкт-Петербурга" | Способ прогнозирования аварийного технического состояния трубопровода канализационной системы |
| EP3530874B1 (en) * | 2018-02-26 | 2020-10-14 | CCI Italy S.r.l. | Erosion monitoring system |
-
1984
- 1984-08-27 JP JP59177980A patent/JPS6154406A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6154406A (ja) | 1986-03-18 |
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