JPH0352816B2 - - Google Patents
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- JPH0352816B2 JPH0352816B2 JP58211732A JP21173283A JPH0352816B2 JP H0352816 B2 JPH0352816 B2 JP H0352816B2 JP 58211732 A JP58211732 A JP 58211732A JP 21173283 A JP21173283 A JP 21173283A JP H0352816 B2 JPH0352816 B2 JP H0352816B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- signal
- sampling
- reference signal
- time
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B8/00—Diagnosis using ultrasonic, sonic or infrasonic waves
- A61B8/08—Clinical applications
- A61B8/0825—Clinical applications for diagnosis of the breast, e.g. mammography
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H5/00—Measuring propagation velocity of ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. of pressure waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S15/00—Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
- G01S15/88—Sonar systems specially adapted for specific applications
- G01S15/89—Sonar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
- G01S15/8906—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques
- G01S15/8909—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration
- G01S15/8913—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration using separate transducers for transmission and reception
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/52046—Techniques for image enhancement involving transmitter or receiver
- G01S7/52049—Techniques for image enhancement involving transmitter or receiver using correction of medium-induced phase aberration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
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- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/5205—Means for monitoring or calibrating
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Measuring Volume Flow (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、(イ) 検査領域を通して超音波パルス
を送信する過程、 (ロ) 超音波パルスが検査領域を通つてから該パル
スを受信し、これより受信電気信号をつくる過
程、 (ハ) 受信信号を所定の割合１／Ｔで周期的にサン
プリングし、かくしてつくられた一連のサンプ
ルを蓄える過程 (ニ) 送信の時間とサンプルされた受信信号が所定
のしきい値に達する時間との間の個々の経過時
間（n*Ｔ）を測定する過程 (ホ) 蓄えられた一連の受信信号のサンプルと個々
の基準信号（S*）の周期的な一連のサンプル
を比較し、基準信号のサンプルを１つのサンプ
ル位置だけ繰返しシフトし、受信信号のサンプ
ルとシフトされた基準信号のサンプル間の最良
の対応を生じる基準信号のシフト位置が決めら
れる迄再び受信信号をシフトされる基準信号と
比較し、次いで、関連の基準信号のシフトを補
正係数として選ぶことによる、補正関数を計算
する過程、 (ヘ) 前記の補正係数を経過時間（n*Ｔ）に適用
して伝播時間を決める過程、 とより成る、超音波送信機と超音波受信機の間に
配された検査領域を通る超音波パルスの伝播時間
を決める方法にに関するものである。
を送信する過程、 (ロ) 超音波パルスが検査領域を通つてから該パル
スを受信し、これより受信電気信号をつくる過
程、 (ハ) 受信信号を所定の割合１／Ｔで周期的にサン
プリングし、かくしてつくられた一連のサンプ
ルを蓄える過程 (ニ) 送信の時間とサンプルされた受信信号が所定
のしきい値に達する時間との間の個々の経過時
間（n*Ｔ）を測定する過程 (ホ) 蓄えられた一連の受信信号のサンプルと個々
の基準信号（S*）の周期的な一連のサンプル
を比較し、基準信号のサンプルを１つのサンプ
ル位置だけ繰返しシフトし、受信信号のサンプ
ルとシフトされた基準信号のサンプル間の最良
の対応を生じる基準信号のシフト位置が決めら
れる迄再び受信信号をシフトされる基準信号と
比較し、次いで、関連の基準信号のシフトを補
正係数として選ぶことによる、補正関数を計算
する過程、 (ヘ) 前記の補正係数を経過時間（n*Ｔ）に適用
して伝播時間を決める過程、 とより成る、超音波送信機と超音波受信機の間に
配された検査領域を通る超音波パルスの伝播時間
を決める方法にに関するものである。
この種の方法は、例えば連続した超音波パルス
の伝播時間によつて検査領域内の音波屈折率分布
または速度分布を復原する超音波CT等に必要で
ある。
の伝播時間によつて検査領域内の音波屈折率分布
または速度分布を復原する超音波CT等に必要で
ある。
この種の方法および装置は、ドイツ公開公報第
2737109号（米国特許第4075883号）およびドイツ
公開公報第2827423号（米国特許第4279157号）に
より公知である。これ等の公知の方法および装置
では、超音波送信機と超音波受信機との間にある
物体の１つの層内の屈折率分布または速度分布の
像がつくられる。この層内の多数の点に対して、
復原ユニツトが、送信機から受信機への超音波パ
ルスの測定伝播時間に基いてそれ等のパラメータ
を決める。復原された分布をできるだけ実際の分
布に対応させるために、特に超音波パルスの伝播
時間を例えば20nsの精度で正確に決めねばならな
い。
2737109号（米国特許第4075883号）およびドイツ
公開公報第2827423号（米国特許第4279157号）に
より公知である。これ等の公知の方法および装置
では、超音波送信機と超音波受信機との間にある
物体の１つの層内の屈折率分布または速度分布の
像がつくられる。この層内の多数の点に対して、
復原ユニツトが、送信機から受信機への超音波パ
ルスの測定伝播時間に基いてそれ等のパラメータ
を決める。復原された分布をできるだけ実際の分
布に対応させるために、特に超音波パルスの伝播
時間を例えば20nsの精度で正確に決めねばならな
い。
伝播時間を決めるために、公知の装置では、超
音波送信時間から、一般には障害レベルのすぐ上
にある所定のしきい値を受信信号が越えた時点迄
の経過時間を決める。このような伝播時間の正確
度は、信号が種々の測定の間少なくとも略々同じ
振巾を有しまたノイズ等による障害が比較的低け
れば、特に問題はない。けれども、このような条
件は実際には満足されないのが普通であり、許容
以上の大きな測定誤差が生じやすい。
音波送信時間から、一般には障害レベルのすぐ上
にある所定のしきい値を受信信号が越えた時点迄
の経過時間を決める。このような伝播時間の正確
度は、信号が種々の測定の間少なくとも略々同じ
振巾を有しまたノイズ等による障害が比較的低け
れば、特に問題はない。けれども、このような条
件は実際には満足されないのが普通であり、許容
以上の大きな測定誤差が生じやすい。
本発明の目的は、必要な正確度でこの伝播時間
を決めることにある。
を決めることにある。
本発明はこの目的を次のようにすることにより
達成したものである、即ち、冒頭記載の超音波パ
ルスの伝播時間を決める方法において、基準信号
を、検査領域を測定するのに用いるのと同一の送
信機と受信機および幾何学的距離を用いて、均質
な媒体を通して伝播された超音波パルスの平均受
信値を測定することによりつくるようにしたもの
である。
達成したものである、即ち、冒頭記載の超音波パ
ルスの伝播時間を決める方法において、基準信号
を、検査領域を測定するのに用いるのと同一の送
信機と受信機および幾何学的距離を用いて、均質
な媒体を通して伝播された超音波パルスの平均受
信値を測定することによりつくるようにしたもの
である。
したがつて本発明では、このように公知の装置
と同様に超音波パルスの送信時点から測定信号が
１つのしきい値に達する時点迄の経過時間の比較
的不正確な測定を用いるが、この不正確な値を補
正する。
と同様に超音波パルスの送信時点から測定信号が
１つのしきい値に達する時点迄の経過時間の比較
的不正確な測定を用いるが、この不正確な値を補
正する。
この補正には、動作中に何等の障害を受けずま
た平均した音波減衰をもつた典型的な測定信号の
時間的変化を表わす基準信号を用いる。この基準
信号は、例えば送信機と受信機の間に均質な媒体
を設け、このため超音波パルスが平均した減衰を
受けるようにすることによつて得られる。この時
得られた測定信号をサンプルし、メモリに蓄え
る。障害（ノイズ等）の影響を除くために、測定
を同一条件下で数多く反復し、同じ時点（超音波
パルスの送信に関して）に現れるサンプリング値
の平均値を形成する。これ等の平均値は基準値を
形成し、一連の基準値は基準信号を形成する。こ
のようにして得られた基準信号はいつ迄もとつて
おかれる。けれども、場合によつては、速度およ
び減衰が互に著しく異なる媒体に対する幾つかの
異なる基準信号を用意しておき、その都度最も適
当な信号を伝播速度の決定に用いるようにするの
も有利である。
た平均した音波減衰をもつた典型的な測定信号の
時間的変化を表わす基準信号を用いる。この基準
信号は、例えば送信機と受信機の間に均質な媒体
を設け、このため超音波パルスが平均した減衰を
受けるようにすることによつて得られる。この時
得られた測定信号をサンプルし、メモリに蓄え
る。障害（ノイズ等）の影響を除くために、測定
を同一条件下で数多く反復し、同じ時点（超音波
パルスの送信に関して）に現れるサンプリング値
の平均値を形成する。これ等の平均値は基準値を
形成し、一連の基準値は基準信号を形成する。こ
のようにして得られた基準信号はいつ迄もとつて
おかれる。けれども、場合によつては、速度およ
び減衰が互に著しく異なる媒体に対する幾つかの
異なる基準信号を用意しておき、その都度最も適
当な信号を伝播速度の決定に用いるようにするの
も有利である。
この補正は、測定信号の蓄えられた範囲のカー
ブの形は適当な時間ずれをもつて基準信号のカー
ブの形に対応する筈であるという考えに基くもの
である。この時間のシフトは、範囲をその都度１
つのサンプリング時点について段階的に互にずら
し、測定信号と基準信号との範囲に最も良い対応
が得られたところでシフトを測定することによつ
て、求めることができる。この場合測定信号の範
囲が遅い時点の方にまた基準信号の範囲が早い時
点の方にシフトされる時には、このシフトを、始
めに測定された時間より差引かねばならない。他
の場合には加えねばならない。場合によつては、
このようにして求めた値に、装置の構成および選
択した方法によつて決まる値を加えることもあ
る。
ブの形は適当な時間ずれをもつて基準信号のカー
ブの形に対応する筈であるという考えに基くもの
である。この時間のシフトは、範囲をその都度１
つのサンプリング時点について段階的に互にずら
し、測定信号と基準信号との範囲に最も良い対応
が得られたところでシフトを測定することによつ
て、求めることができる。この場合測定信号の範
囲が遅い時点の方にまた基準信号の範囲が早い時
点の方にシフトされる時には、このシフトを、始
めに測定された時間より差引かねばならない。他
の場合には加えねばならない。場合によつては、
このようにして求めた値に、装置の構成および選
択した方法によつて決まる値を加えることもあ
る。
基準信号が測定信号と同じサンプリング点密度
で蓄えられると、伝播時間の決定の正確度はサン
プリング速度の逆数に当る。したがつて、必要な
正確度を得るために、測定信号を20nsおきまたは
それ以上の頻度でサンプルすることが必要であ
る。これには非常に高速のデジタル−アナログ変
換器が必要となる。更に、十分に長い範囲を蓄え
るためには、蓄えるべきサンプリング点の数が比
較的多くなり、このため最も適当なシフトを決め
るのに要する時間が長くなる。
で蓄えられると、伝播時間の決定の正確度はサン
プリング速度の逆数に当る。したがつて、必要な
正確度を得るために、測定信号を20nsおきまたは
それ以上の頻度でサンプルすることが必要であ
る。これには非常に高速のデジタル−アナログ変
換器が必要となる。更に、十分に長い範囲を蓄え
るためには、蓄えるべきサンプリング点の数が比
較的多くなり、このため最も適当なシフトを決め
るのに要する時間が長くなる。
したがつて、本発明の好ましい実施例では、基
準信号（S*）は、蓄えられる信号（Ｓ）のサン
プリングよりもフアクタＫだけ大きいサンプリン
グ密度を有し、蓄えられた信号を、基準信号のＫ
番目毎のサンプルより成る一連の信号と比較する
ようにする。測定信号と基準信号の間に起り得る
シフトが小さいので、正確度が増す、即ち、正確
度は、サンプリング速度とフアクタＫの積の逆数
によつて決まる。この場合、測定信号を蓄えるの
に使用されるサンプリングの数は、フアクタＫだ
け小さい。
準信号（S*）は、蓄えられる信号（Ｓ）のサン
プリングよりもフアクタＫだけ大きいサンプリン
グ密度を有し、蓄えられた信号を、基準信号のＫ
番目毎のサンプルより成る一連の信号と比較する
ようにする。測定信号と基準信号の間に起り得る
シフトが小さいので、正確度が増す、即ち、正確
度は、サンプリング速度とフアクタＫの積の逆数
によつて決まる。この場合、測定信号を蓄えるの
に使用されるサンプリングの数は、フアクタＫだ
け小さい。
本発明の方法では、測定信号を発生するトラン
スジユーサにおいて超音波の到達後に生じるサン
プリング値を蓄えることが必要なだけである。も
つぱら障害とノイズによつて形成された、超音波
トランスジユーサの出力信号の始めの部分は、蓄
える必要もサンプルする必要もない。
スジユーサにおいて超音波の到達後に生じるサン
プリング値を蓄えることが必要なだけである。も
つぱら障害とノイズによつて形成された、超音波
トランスジユーサの出力信号の始めの部分は、蓄
える必要もサンプルする必要もない。
以下本発明を図面の実施例を参照して詳細に説
明する。
明する。
第２図は、適当な液体、例えば水、を満たした
円筒状の容器１（平面図）を示す。この容器は、
一直線に近接して配された多数（例えば60）の超
音波送信機を有する。容器１は更に、同様に一直
線に近接して配された対応する数の超音波受信機
３を有し、送信機２の列と受信機３の列とは平行
である。この２つの列の間には検査領域が設けら
れ、被検査物４がこの領域内に配される（この装
置は好適な例としては人間の胸部の検査に用いら
れる）。
円筒状の容器１（平面図）を示す。この容器は、
一直線に近接して配された多数（例えば60）の超
音波送信機を有する。容器１は更に、同様に一直
線に近接して配された対応する数の超音波受信機
３を有し、送信機２の列と受信機３の列とは平行
である。この２つの列の間には検査領域が設けら
れ、被検査物４がこの領域内に配される（この装
置は好適な例としては人間の胸部の検査に用いら
れる）。
伝播時間の決定のために、超音波送信機は短時
間附勢される。超音波パルスは検査領域したがつ
て被検査物４を経て通り、次いで、対向している
超音波受信機で電気信号に変換される。この動作
は、この場合相隣る超音波変換器が受信しそして
受信するとすれば、すべての変換器が１回送信し
そして受信する迄繰り返される。次いで、図示し
ない方法で機械的に結合されている超音波送信機
２と超音波受信機３とは、図面に対して直角な軸
の周りに僅かな角度回転され、しかる後前記の動
作が繰り返される。このようにして、少なくとも
180゜回転された後、超音波送信機２は、図面に対
し直角方向に、超音波受信機３と共にずらされ、
今迄よりも深い（または高い）ところにある層が
やはり検査される。
間附勢される。超音波パルスは検査領域したがつ
て被検査物４を経て通り、次いで、対向している
超音波受信機で電気信号に変換される。この動作
は、この場合相隣る超音波変換器が受信しそして
受信するとすれば、すべての変換器が１回送信し
そして受信する迄繰り返される。次いで、図示し
ない方法で機械的に結合されている超音波送信機
２と超音波受信機３とは、図面に対して直角な軸
の周りに僅かな角度回転され、しかる後前記の動
作が繰り返される。このようにして、少なくとも
180゜回転された後、超音波送信機２は、図面に対
し直角方向に、超音波受信機３と共にずらされ、
今迄よりも深い（または高い）ところにある層が
やはり検査される。
超音波受信機３の出力は、マルチプレクサ５を
経て増幅器６の入力に接続される。その増幅器の
利得は電子的に調整可能であり、またその出力信
号はアナログ−デジタル変換器７に加えられる。
前記の増幅器６の利得は、その出力信号が、少な
くとも略々アナログ−デジタル変換器で処理でき
る増幅範囲内にあるように、選ばれる。この目的
で、利得を、先行の測定のピーク値によつて補正
してもよい、というのは、一般的にいつて減衰は
前記の先行の測定の間本質的に変らないからであ
る。
経て増幅器６の入力に接続される。その増幅器の
利得は電子的に調整可能であり、またその出力信
号はアナログ−デジタル変換器７に加えられる。
前記の増幅器６の利得は、その出力信号が、少な
くとも略々アナログ−デジタル変換器で処理でき
る増幅範囲内にあるように、選ばれる。この目的
で、利得を、先行の測定のピーク値によつて補正
してもよい、というのは、一般的にいつて減衰は
前記の先行の測定の間本質的に変らないからであ
る。
アナログ−デジタル変換器７のクロツク入力
は、例えば60nsの周期をもつパルス形のクロツク
信号を発生するクロツク発生器８の出力に接続さ
れる。このクロツク発生器８の出力はまた、制御
可能なスイツチ９を経て、カウンタ１０の入力に
も接続されている。前記の制御可能なスイツチ９
は比較器１１により制御されるが、この比較器
は、アナログ−デジタル変換器７より供給された
２進数と、大きさが障害レベルよりも僅かに上に
あるサンプリング値に相当するように選ばれた２
進数Spとを比較する。１つのサンプリング値Siが
値Spよりも大きくなると直ちにスイツチ９が開か
れ、伝播時間の検査の終り迄開放状態に保たれ
る。
は、例えば60nsの周期をもつパルス形のクロツク
信号を発生するクロツク発生器８の出力に接続さ
れる。このクロツク発生器８の出力はまた、制御
可能なスイツチ９を経て、カウンタ１０の入力に
も接続されている。前記の制御可能なスイツチ９
は比較器１１により制御されるが、この比較器
は、アナログ−デジタル変換器７より供給された
２進数と、大きさが障害レベルよりも僅かに上に
あるサンプリング値に相当するように選ばれた２
進数Spとを比較する。１つのサンプリング値Siが
値Spよりも大きくなると直ちにスイツチ９が開か
れ、伝播時間の検査の終り迄開放状態に保たれ
る。
クロツク発生器８は更にスタートパルス発生器
１２のトリガ−入力とも接続される。このスター
トパルス発生器１２は、適当な信号がそのスター
ト入力１３に存在しそして同時にクロツクパルス
の立り縁がそのトリガ−入力に現れると、（１個
の）スタートパルスを供給する。このスタートパ
ルスは励起回路１４を附勢し、この励起回路は、
この時点に伝播時間測定を指定された超音波送信
機を励起するパルスを発生する。更に、スタート
パルスはスイツチ９を閉じ、カウンタ１０をリセ
ツトする。したがつて、カウンタ位置は、どの時
点においても、スタートパルスまたは超音波パル
スの送信から経過した時間に比例し、比較器１１
によるスイツチの開放後のカウンタ位置n*は、
超音波パルスの送信からサンプリング値の１つが
値Spに達するかまたはこれを越えた時点迄の時間
に比例する。
１２のトリガ−入力とも接続される。このスター
トパルス発生器１２は、適当な信号がそのスター
ト入力１３に存在しそして同時にクロツクパルス
の立り縁がそのトリガ−入力に現れると、（１個
の）スタートパルスを供給する。このスタートパ
ルスは励起回路１４を附勢し、この励起回路は、
この時点に伝播時間測定を指定された超音波送信
機を励起するパルスを発生する。更に、スタート
パルスはスイツチ９を閉じ、カウンタ１０をリセ
ツトする。したがつて、カウンタ位置は、どの時
点においても、スタートパルスまたは超音波パル
スの送信から経過した時間に比例し、比較器１１
によるスイツチの開放後のカウンタ位置n*は、
超音波パルスの送信からサンプリング値の１つが
値Spに達するかまたはこれを越えた時点迄の時間
に比例する。
アナログ−デジタル変換器７のサンプリング値
Siはデジタル遅延線１５にも加えられる。このデ
ジタル遅延線１５はシフトレジスタとして形成さ
れ、その出力信号は、入力信号に対して、シフト
レジスタ内のサンプリング値を蓄えるメモリ場所
と同じ数のクロツクパルスＴだけ遅延される。以
下詳述するように、デジタル遅延線１５は、或る
種の前提の下では省略することもできる。デジタ
ル遅延線の出力はシフトレジスタ１６のデータ入
力に接続される。このシフトレジスタ１６はＭの
メモリ場所（例えばＭ＝７）を有し、そのクロツ
ク入力（図示せず）はやはりクロツク発生器８の
クロツクパルスで制御可能である。比較器１１の
附勢後（スイツチ９の開放後）更にＭのサンプリ
ング値がデジタル遅延線１５に加えられ、Ｍのサ
ンプリング値がシフトレジスタ１６に書き込まれ
る。したがつて若しデジタル遅延線１５が無いと
すれば、サンプリング値S1…SMは、しきい値Sp
に達したまたはこれを越えた後の最初のＭのサン
プリング値になる。けれども、若しデジタル遅延
線１５を形成するシフトレジスタがＰのサンプリ
ング値Si（Ｐ＜Ｍ）に対するメモリ位置を有すれ
ば、サンプリング値S1…SP-1はしきい値に達する
前の最後のＰ−１サンプリング値であり、一方Sp
はSpよりも大きな最初のサンプリング値であり、
他の値は、直接にこれに続くサンプリング値であ
る。前記のＭのサンプリング値がシフトレジスタ
１６内に蓄えられるとこの動作は終結される。こ
の目的で、例えば、比較器１１の出力信号でリセ
ツトされそして例えばパルス発生器８とデジタル
遅延線１５の間でクロツク線をしや断するカウン
タ（図示せず）を設けてもよい。
Siはデジタル遅延線１５にも加えられる。このデ
ジタル遅延線１５はシフトレジスタとして形成さ
れ、その出力信号は、入力信号に対して、シフト
レジスタ内のサンプリング値を蓄えるメモリ場所
と同じ数のクロツクパルスＴだけ遅延される。以
下詳述するように、デジタル遅延線１５は、或る
種の前提の下では省略することもできる。デジタ
ル遅延線の出力はシフトレジスタ１６のデータ入
力に接続される。このシフトレジスタ１６はＭの
メモリ場所（例えばＭ＝７）を有し、そのクロツ
ク入力（図示せず）はやはりクロツク発生器８の
クロツクパルスで制御可能である。比較器１１の
附勢後（スイツチ９の開放後）更にＭのサンプリ
ング値がデジタル遅延線１５に加えられ、Ｍのサ
ンプリング値がシフトレジスタ１６に書き込まれ
る。したがつて若しデジタル遅延線１５が無いと
すれば、サンプリング値S1…SMは、しきい値Sp
に達したまたはこれを越えた後の最初のＭのサン
プリング値になる。けれども、若しデジタル遅延
線１５を形成するシフトレジスタがＰのサンプリ
ング値Si（Ｐ＜Ｍ）に対するメモリ位置を有すれ
ば、サンプリング値S1…SP-1はしきい値に達する
前の最後のＰ−１サンプリング値であり、一方Sp
はSpよりも大きな最初のサンプリング値であり、
他の値は、直接にこれに続くサンプリング値であ
る。前記のＭのサンプリング値がシフトレジスタ
１６内に蓄えられるとこの動作は終結される。こ
の目的で、例えば、比較器１１の出力信号でリセ
ツトされそして例えばパルス発生器８とデジタル
遅延線１５の間でクロツク線をしや断するカウン
タ（図示せず）を設けてもよい。
次いで、シフトレジスタ１６は循還的に結合さ
れ、このため、クロツクパルスが加えられると、
各サンプリング値は、サンプリングの間直前のサ
ンプリング値によつて占められていたメモリ場所
に動かされる、即ち今度はサンプリング値SMが、
サンプリング値SM-1によつて占められていたメモ
リ場所を占め、サンプリング値S2がサンプリング
値S1のメモリ場所を、サンプリング値S1がサンプ
リング値SMのメモリ場所を占める。このシフト
レジスタ１６をランダムアクセスメモリで形成
し、そのアドレスカウンタを、メモリが外部に対
してシフトレジスタとして働くように公知の方法
で制御するようにしてもよい。けれども、サンプ
リング値はそのメモリ場所を変えない。
れ、このため、クロツクパルスが加えられると、
各サンプリング値は、サンプリングの間直前のサ
ンプリング値によつて占められていたメモリ場所
に動かされる、即ち今度はサンプリング値SMが、
サンプリング値SM-1によつて占められていたメモ
リ場所を占め、サンプリング値S2がサンプリング
値S1のメモリ場所を、サンプリング値S1がサンプ
リング値SMのメモリ場所を占める。このシフト
レジスタ１６をランダムアクセスメモリで形成
し、そのアドレスカウンタを、メモリが外部に対
してシフトレジスタとして働くように公知の方法
で制御するようにしてもよい。けれども、サンプ
リング値はそのメモリ場所を変えない。
信号処理を更に説明するために、先づ第１ａ図
と第１ｂ図を参照する。第１ａ図は増幅器６の出
力における信号Ｓの時間的な変化を示す。破線Sp
は信号に重畳される障害レベルを表わす。この信
号は１／Ｔ（Ｔ＝60ns）の割合でサンプリングさ
れる。このことは、信号Ｓの最初の負の部分が負
のしきい値Spを越える前でもサンプリング値が
60ns毎に得られることを意味する。この場合「越
える」というのは、Ｓの絶対値がS0の絶対値より
も大きいことを意味する。この時点と超音波パル
スの送信の時点との間には時間n*Ｔが経過して
おり、n*はしたがつてカウンタ１０の位置を示
す。次いで更にＭのサンプリング値S1…SMが測
定され、前述のようにしてシフトレジスタ１６に
蓄えられる。この場合遅延線１５は無くてもよ
い。
と第１ｂ図を参照する。第１ａ図は増幅器６の出
力における信号Ｓの時間的な変化を示す。破線Sp
は信号に重畳される障害レベルを表わす。この信
号は１／Ｔ（Ｔ＝60ns）の割合でサンプリングさ
れる。このことは、信号Ｓの最初の負の部分が負
のしきい値Spを越える前でもサンプリング値が
60ns毎に得られることを意味する。この場合「越
える」というのは、Ｓの絶対値がS0の絶対値より
も大きいことを意味する。この時点と超音波パル
スの送信の時点との間には時間n*Ｔが経過して
おり、n*はしたがつてカウンタ１０の位置を示
す。次いで更にＭのサンプリング値S1…SMが測
定され、前述のようにしてシフトレジスタ１６に
蓄えられる。この場合遅延線１５は無くてもよ
い。
サンプリング速度１／Ｔは、零点通過の間信号
Ｓを数回サンプリングできるように、超音波振動
に合わせねばならない。こゝに示したＴ（60ns）
の値に対しては、超音波振動の周波数は例えば
3.5MHzとしてもよい。Ｍ、即ちサンプリングの
数は、信号Ｓの代表的な部分が測定できるように
選ばれる。既に述べたように、Ｍ＝７は適当な値
である。
Ｓを数回サンプリングできるように、超音波振動
に合わせねばならない。こゝに示したＴ（60ns）
の値に対しては、超音波振動の周波数は例えば
3.5MHzとしてもよい。Ｍ、即ちサンプリングの
数は、信号Ｓの代表的な部分が測定できるように
選ばれる。既に述べたように、Ｍ＝７は適当な値
である。
第１ｂ図は基準信号S*の時間的な変化を示す。
この信号についても代表的な部分がサンプリング
され、サンプリング値（こゝでは基準信号と呼
ぶ）はメモリ装置内に蓄えられる。けれども、サ
ンプリング点の密度即ち単位時間当りの基準値の
数はフアクタＫだけ大きく、このＫは例えば４の
ような整数である。これはサンプリング速度Ｋ／
Ｔに当る、即ち基準信号は15ns毎にサンプルされ
る。
この信号についても代表的な部分がサンプリング
され、サンプリング値（こゝでは基準信号と呼
ぶ）はメモリ装置内に蓄えられる。けれども、サ
ンプリング点の密度即ち単位時間当りの基準値の
数はフアクタＫだけ大きく、このＫは例えば４の
ような整数である。これはサンプリング速度Ｋ／
Ｔに当る、即ち基準信号は15ns毎にサンプルされ
る。
測定信号との更に別の相違は、基準値が蓄えら
れる基準信号の時間範囲が測定信号Ｓのこれに相
当する時間よりも大きいということである。基準
値の数はＫ（Ｍ＋Ｎ）になり、この場合Ｎは、補
正の最大値を決める例えば２のような整数であ
る。
れる基準信号の時間範囲が測定信号Ｓのこれに相
当する時間よりも大きいということである。基準
値の数はＫ（Ｍ＋Ｎ）になり、この場合Ｎは、補
正の最大値を決める例えば２のような整数であ
る。
超音波パルスの送信時点からしきい値Spが越さ
れる時点迄に経過した時間を表わす値n*Ｔは、
超音波パルスの伝播時間の近似値でしかない。と
いうのは、一方においては既に述べた理由からで
あり、他方においては比較的長いサンプリング周
期（Ｔ＝60ns）のためである。この比較的不正確
な値を補正するために、基準信号が、測定信号に
対して（またはその逆に）対応する信号範囲が一
致する迄シフトされる。この時値n*Ｔは、この
シフトに応じて補正される。
れる時点迄に経過した時間を表わす値n*Ｔは、
超音波パルスの伝播時間の近似値でしかない。と
いうのは、一方においては既に述べた理由からで
あり、他方においては比較的長いサンプリング周
期（Ｔ＝60ns）のためである。この比較的不正確
な値を補正するために、基準信号が、測定信号に
対して（またはその逆に）対応する信号範囲が一
致する迄シフトされる。この時値n*Ｔは、この
シフトに応じて補正される。
この補正の値の決定は、サンプリング値S1…
SMに可能な限り対応する一連の基準値を実際に
見出すことである。この補正の正確度は値Ｔ／Ｋ
によつて決まる、即ち、測定信号は60ns毎にしか
サンプルされないが、伝播時間はＴ／Ｋ＝15ns迄
正確にきめることができる。
SMに可能な限り対応する一連の基準値を実際に
見出すことである。この補正の正確度は値Ｔ／Ｋ
によつて決まる、即ち、測定信号は60ns毎にしか
サンプルされないが、伝播時間はＴ／Ｋ＝15ns迄
正確にきめることができる。
補正の値を決定するために、先づ関数Ｆ（ａ，
１）が次の関係式に従つて形成される。
１）が次の関係式に従つて形成される。
Ｆ（ａ，１）＝M
〓m=1
（asn−S*Ｋ（ｍ＋Ｎ）＋1−１）2 (1)
Ｆ（ａ，１）の値は、サンプリング値S1…Snで
決められ且つフアクタａを乗じた測定信号の範囲
と、パラメータ１で決められる基準信号の対応し
た長さの範囲との偏差の尺度である。前記のフア
クタａは、１が一定の場合に「合う正確度」は測
定信号の振幅によつても決まるということを考慮
に入れる役目をする。けれども、正の値に限定さ
れる必要がある。
決められ且つフアクタａを乗じた測定信号の範囲
と、パラメータ１で決められる基準信号の対応し
た長さの範囲との偏差の尺度である。前記のフア
クタａは、１が一定の場合に「合う正確度」は測
定信号の振幅によつても決まるということを考慮
に入れる役目をする。けれども、正の値に限定さ
れる必要がある。
見出すべき値は、関数Ｆ（ａ，１）が最小値を
とる値1*である。これは次のように考えることに
よつて得られる、即ち Ｆ（ａ，１）＝a2・Ａ−2a・Ｂ(1)＋Ｃ(1) (2) こゝで、 Ａ＝M 〓m=1 S2 n (3) Ｂ＝M 〓m=1 Sn・S* K(n+N)+1-1 (4) Ｃ＝M 〓m=1 （S* K(n+N)+1-1) 2 (5) １が一定の場合に対しては、Ｆ（ａ，１）は多く
ても δF（ａ，１）／δa＝０ の場合にａの関数として最小になる。
とる値1*である。これは次のように考えることに
よつて得られる、即ち Ｆ（ａ，１）＝a2・Ａ−2a・Ｂ(1)＋Ｃ(1) (2) こゝで、 Ａ＝M 〓m=1 S2 n (3) Ｂ＝M 〓m=1 Sn・S* K(n+N)+1-1 (4) Ｃ＝M 〓m=1 （S* K(n+N)+1-1) 2 (5) １が一定の場合に対しては、Ｆ（ａ，１）は多く
ても δF（ａ，１）／δa＝０ の場合にａの関数として最小になる。
これは
ａ(1)＝Ｂ(1)／Ａ (6)
に対する場合である。
式(2)においてａの代りにこの値ａ(1)を入れ、こ
の時得られる値をＧ(1)とすると、次の式が得られ
る。
の時得られる値をＧ(1)とすると、次の式が得られ
る。
Ｇ(1)＝−B2(1)／Ａ＋Ｃ(1) (7)
したがつて、Ｇ(1)が絶対最小値を有する１の値
を見出せばよい。けれども、Ｇ(1)は副最小値を示
すことがあることに注意せねばならない。しか
し、シフトの生じる範囲は、所望の主最小値の外
にはこの範囲内に１つの副最小値しか含まないよ
うに選ばれる。主最小値はこの場合、ａ＞０また
は(6)式によればＢ(1)＞０という附加条件によつて
特徴づけられる。Ｇ(1)を計算するために、式(3)に
よつてサンプリング値より変数Ａを計算し、式(4)
より、サンプリング値と対応基準値の各１に対し
て変数Ｂ(1)を計算する必要がある。変数Ｃ(1)（式
(5)）は測定信号と無関係であり、したがつてこの
変数は既に適当なメモリに蓄えておいてもよい。
このようにして得られたＡ，Ｂ(1)およびＣ(1)の値
からＧ(1)を式(7)によつて計算することができる。
Ｇ(1)が最小値となる値1*は、値1*Ｔ／Ｋをn*Ｔ
に加えることによつて、補正に用いられる。Ｇ
（1*）の値即ち関数Ｇ(1)の最小値は、サンプリン
グ値と1*で定義される一連の基準値とが合う度合
の尺度である。即ち、連続して負でない値Ｇ（1*
が小さければ小さい程、測定信号がそれだけ良く
合い、またより正しい値1*が求められる。
を見出せばよい。けれども、Ｇ(1)は副最小値を示
すことがあることに注意せねばならない。しか
し、シフトの生じる範囲は、所望の主最小値の外
にはこの範囲内に１つの副最小値しか含まないよ
うに選ばれる。主最小値はこの場合、ａ＞０また
は(6)式によればＢ(1)＞０という附加条件によつて
特徴づけられる。Ｇ(1)を計算するために、式(3)に
よつてサンプリング値より変数Ａを計算し、式(4)
より、サンプリング値と対応基準値の各１に対し
て変数Ｂ(1)を計算する必要がある。変数Ｃ(1)（式
(5)）は測定信号と無関係であり、したがつてこの
変数は既に適当なメモリに蓄えておいてもよい。
このようにして得られたＡ，Ｂ(1)およびＣ(1)の値
からＧ(1)を式(7)によつて計算することができる。
Ｇ(1)が最小値となる値1*は、値1*Ｔ／Ｋをn*Ｔ
に加えることによつて、補正に用いられる。Ｇ
（1*）の値即ち関数Ｇ(1)の最小値は、サンプリン
グ値と1*で定義される一連の基準値とが合う度合
の尺度である。即ち、連続して負でない値Ｇ（1*
が小さければ小さい程、測定信号がそれだけ良く
合い、またより正しい値1*が求められる。
けれども、値Ａは１と無関係であり、また１を
１だけ増加または減少してもＣ(1)は極く僅かしか
変化しないことを考慮すると、前述の計算を更に
簡単にすることができる。即ちこの場合は、附加
的にＢ(1)＞０を条件として、関数Ｇ(1)はＢ(1)が最
大値を有する時に最小値を有するからで、したが
つてこの場合Ｂ(1)の最大値を求めさえすればよ
く、これは僅かな演算操作で可能である。更に変
数Ｂ(1)は、測定信号と基準信号との間の所謂短時
間相互相関関数（short−time cross−
correlation）（VEB−Verlag Techinik Berlin
1976年発行Woschin著「情報技術」
（「Informationstechnik」）第２版161頁参照）の
デジタル表示を示し、これは２つの信号ＳとS*
の相関の尺度である。けれども、最大値Ｂ（1*）
の大きさは、サンプリング値と基準値との対応の
良否を一義的に示すものではない。その理由は、
Ｂ（1*）はこの対応度に依存するだけでなしに、
アナログ−デジタル変換器７の入力のアナログ信
号の振幅の変動にも依存するからである。Ｂ(1)が
最大になる値1*を見出した後に、Ｇ（1*）を計算
し、対応の正確さの良否の尺度として使用するこ
とができる。これは、前以てすべての値Ｇ(1)を計
算するよりも僅かな演算操作である。
１だけ増加または減少してもＣ(1)は極く僅かしか
変化しないことを考慮すると、前述の計算を更に
簡単にすることができる。即ちこの場合は、附加
的にＢ(1)＞０を条件として、関数Ｇ(1)はＢ(1)が最
大値を有する時に最小値を有するからで、したが
つてこの場合Ｂ(1)の最大値を求めさえすればよ
く、これは僅かな演算操作で可能である。更に変
数Ｂ(1)は、測定信号と基準信号との間の所謂短時
間相互相関関数（short−time cross−
correlation）（VEB−Verlag Techinik Berlin
1976年発行Woschin著「情報技術」
（「Informationstechnik」）第２版161頁参照）の
デジタル表示を示し、これは２つの信号ＳとS*
の相関の尺度である。けれども、最大値Ｂ（1*）
の大きさは、サンプリング値と基準値との対応の
良否を一義的に示すものではない。その理由は、
Ｂ（1*）はこの対応度に依存するだけでなしに、
アナログ−デジタル変換器７の入力のアナログ信
号の振幅の変動にも依存するからである。Ｂ(1)が
最大になる値1*を見出した後に、Ｇ（1*）を計算
し、対応の正確さの良否の尺度として使用するこ
とができる。これは、前以てすべての値Ｇ(1)を計
算するよりも僅かな演算操作である。
Ｂ(1)の最大値をどのように求めるかを以下第２
図および第３図を参照して詳細に説明する。
図および第３図を参照して詳細に説明する。
基準値は、シフトレジスタとして形成されたも
のでよい４つのメモリ装置１７，１８，１９およ
び２０に蓄えられるが、これ等のメモリ装置は、
値が連続的に取り出されるようにそのアドレスカ
ウンタが制御されるプログラム可能な読み出し専
用メモリ（PROM）で形成されることが好まし
い。各メモリ１７…２０は少なくともＭ＋Ｎのメ
モリ場所を有し、したがつてこの実施例では少な
くとも９のメモリ場所を有する。メモリ１７には
第１の基準値と以下のＫ番目毎の基準値即ち基準
値S* 1，S* K+1……S* K(n+N-1)+1が蓄えられる。第２の
メモリ１８には基準値S* 2……S* K(n+N-1)+2が、Ｋ番
目のメモリ即ち第４のメモリ２０には基準値S* K
……S* K（ｍ＋Ｎ）が蓄えられる。この代りに１個
のメモリにすべての基準値を蓄えることも可能で
あるが、この場合には、連続したアドレスをもつ
メモリ場所に、連続した基準値ではなくて、Ｋ番
目毎の基準値、したがつて例えばS* K，S* 2K……等
を蓄え、後の処理におけるアドレス指定を簡単に
せねばならない。４個のメモリの出力は、マルチ
プレクサ２２を経て演算ユニツト２１に接続され
る。この演算ユニツト２１はまたシフトレジスタ
１６に蓄えられた値S1……Snを受ける。
のでよい４つのメモリ装置１７，１８，１９およ
び２０に蓄えられるが、これ等のメモリ装置は、
値が連続的に取り出されるようにそのアドレスカ
ウンタが制御されるプログラム可能な読み出し専
用メモリ（PROM）で形成されることが好まし
い。各メモリ１７…２０は少なくともＭ＋Ｎのメ
モリ場所を有し、したがつてこの実施例では少な
くとも９のメモリ場所を有する。メモリ１７には
第１の基準値と以下のＫ番目毎の基準値即ち基準
値S* 1，S* K+1……S* K(n+N-1)+1が蓄えられる。第２の
メモリ１８には基準値S* 2……S* K(n+N-1)+2が、Ｋ番
目のメモリ即ち第４のメモリ２０には基準値S* K
……S* K（ｍ＋Ｎ）が蓄えられる。この代りに１個
のメモリにすべての基準値を蓄えることも可能で
あるが、この場合には、連続したアドレスをもつ
メモリ場所に、連続した基準値ではなくて、Ｋ番
目毎の基準値、したがつて例えばS* K，S* 2K……等
を蓄え、後の処理におけるアドレス指定を簡単に
せねばならない。４個のメモリの出力は、マルチ
プレクサ２２を経て演算ユニツト２１に接続され
る。この演算ユニツト２１はまたシフトレジスタ
１６に蓄えられた値S1……Snを受ける。
前記の演算ユニツト２１はＢ(1)が最大値をもつ
値1*を決める。これは、適当にプログラムされた
マイクロコンピユータで行うことができる。値1*
を得るのにマイクロコンピユータで使用される構
造（Structure）ダイヤグラム（Nassi−
Schneiderman ダイヤグラム）を第３図に示
す。値S1……Snが蓄えられた後、比較値Maxお
よび更に値1*１ステツプ２１０で０にセツトされ
る。第２ステツプ２１１は、Ｌ回（Ｌ＝Ｋ（Ｎ＋
１）＝12）で完了されるループを示す。ループの
第１ステツプ２１２は値Ｂの計算、特に値１＝１
に対する値Ｂの計算である。このステツプは、先
づ値S1がメモリ１６から取り出され、値S* K（ｍ＋
Ｎ）＝S* 3Kがメモリ２０から取り出されるサブルー
チンを表わす。これ等の値は互に乗算される。こ
の積に値S2とS* 4Kの積が加えられ、７番目のステ
ツプにおいてサンプリング値SMと基準値S* K(M+N)
が取り出され、互に乗算され、前記の和に加算さ
れる迄続けられる。この場合すべての基準値がメ
モリ２０より取り出される。
値1*を決める。これは、適当にプログラムされた
マイクロコンピユータで行うことができる。値1*
を得るのにマイクロコンピユータで使用される構
造（Structure）ダイヤグラム（Nassi−
Schneiderman ダイヤグラム）を第３図に示
す。値S1……Snが蓄えられた後、比較値Maxお
よび更に値1*１ステツプ２１０で０にセツトされ
る。第２ステツプ２１１は、Ｌ回（Ｌ＝Ｋ（Ｎ＋
１）＝12）で完了されるループを示す。ループの
第１ステツプ２１２は値Ｂの計算、特に値１＝１
に対する値Ｂの計算である。このステツプは、先
づ値S1がメモリ１６から取り出され、値S* K（ｍ＋
Ｎ）＝S* 3Kがメモリ２０から取り出されるサブルー
チンを表わす。これ等の値は互に乗算される。こ
の積に値S2とS* 4Kの積が加えられ、７番目のステ
ツプにおいてサンプリング値SMと基準値S* K(M+N)
が取り出され、互に乗算され、前記の和に加算さ
れる迄続けられる。この場合すべての基準値がメ
モリ２０より取り出される。
前述のようにして値Ｂが計算されると、この値
はステツプ２１３の間に比較値Maxと比較され
る。若し計算された値Ｂ(1)が比較値Maxよりも
大きければ、計算された値Ｂが比較値Maxに割
当てられ（ステツプ２１４）、その都度の１の値
（したがつてこの場合には１）が値1*に割当てら
れる（ステツプ２１５）。次いで、若しくは若し
テスト２１３によつて計算値Ｂが比較値よりも大
きくないことがわかると、計算はプログラムルー
プ２１１の第１ステツプ２１２に戻されるが、こ
の場合１は２にセツトされる。Ｂの計算のため
に、メモリ１９よりの基準値S* 2K+3……
S* K(M+N-1)+3がメモリ１６よりの関係値S1……SMと
乗算されるが、この場合、マルチプレクサが前記
のメモリ１９の出力と演算ユニツト２１のデータ
入力とを接続することが必要である。この場合質
問２１３が再び行われ、新しい計算値が（場合に
よつては既に変えられた）比較値Maxよりも大
きいか否かによつて値Maxおよび1*が再び変更
されるかまたはされず、この後に次のステツプ
（１＝３）が繰り返される。ステツプ２１２，２
１３および場合によつて２１４，２１５は全部で
12回繰り返される。次いで一般に値Ｂ(1)からＢ(12)
迄の最大値とこれに関係する値1*が決められる。
1*＝０（ステツプ２１０）の場合だけはすべての
Ｂ値は負であろう。けれどもこの結果は何等かの
エラーを意味するもので、したがつて、これを、
この明らかに間違つた値が復原
（reconstruction）に及ぼす影響を除去するのに
用いることができる。
はステツプ２１３の間に比較値Maxと比較され
る。若し計算された値Ｂ(1)が比較値Maxよりも
大きければ、計算された値Ｂが比較値Maxに割
当てられ（ステツプ２１４）、その都度の１の値
（したがつてこの場合には１）が値1*に割当てら
れる（ステツプ２１５）。次いで、若しくは若し
テスト２１３によつて計算値Ｂが比較値よりも大
きくないことがわかると、計算はプログラムルー
プ２１１の第１ステツプ２１２に戻されるが、こ
の場合１は２にセツトされる。Ｂの計算のため
に、メモリ１９よりの基準値S* 2K+3……
S* K(M+N-1)+3がメモリ１６よりの関係値S1……SMと
乗算されるが、この場合、マルチプレクサが前記
のメモリ１９の出力と演算ユニツト２１のデータ
入力とを接続することが必要である。この場合質
問２１３が再び行われ、新しい計算値が（場合に
よつては既に変えられた）比較値Maxよりも大
きいか否かによつて値Maxおよび1*が再び変更
されるかまたはされず、この後に次のステツプ
（１＝３）が繰り返される。ステツプ２１２，２
１３および場合によつて２１４，２１５は全部で
12回繰り返される。次いで一般に値Ｂ(1)からＢ(12)
迄の最大値とこれに関係する値1*が決められる。
1*＝０（ステツプ２１０）の場合だけはすべての
Ｂ値は負であろう。けれどもこの結果は何等かの
エラーを意味するもので、したがつて、これを、
この明らかに間違つた値が復原
（reconstruction）に及ぼす影響を除去するのに
用いることができる。
これ迄は変数Ｂ(1)およびＧ(1)が１のすべての値
即ち１＝１……Ｌ（Ｌ＝Ｋ（Ｎ＋１））に対して形
成されねばならないという前提に立つてきた。け
れども、若し測定信号Ｓの特徴部分の位置、例え
ば最初の正の最大値の位置がわかつていれば（第
１図でいえばS3）、各測定をこの値の範囲に限定
することができる。このためには、一連の最初の
正の最大値を決め、S1からSMの値のどれにこの
最大値があるかによつて、１が変化される範囲を
制限するようにすることが必要なだけである。こ
のようにすれば計算時間を短縮することができ
る。
即ち１＝１……Ｌ（Ｌ＝Ｋ（Ｎ＋１））に対して形
成されねばならないという前提に立つてきた。け
れども、若し測定信号Ｓの特徴部分の位置、例え
ば最初の正の最大値の位置がわかつていれば（第
１図でいえばS3）、各測定をこの値の範囲に限定
することができる。このためには、一連の最初の
正の最大値を決め、S1からSMの値のどれにこの
最大値があるかによつて、１が変化される範囲を
制限するようにすることが必要なだけである。こ
のようにすれば計算時間を短縮することができ
る。
演算ユニツト２１は適当にプログラムされたマ
イクロプロセツサで構成することができる。この
マイクロプロセツサは別の制御作用、例えばメモ
リ１７−２０のアドレス指定やシフトレジスタ１
６およびマルチプレクサ２２の制御を行うことも
できる。ライン１３へのスタートパルスの発生、
サンプリング値Siとしきい値Spとの比較、および
クロツク発生器のパルスの計数もまたこのマイク
ロプロセツサによつて行うことができる。更にこ
のマイクロプロセツサはクロツクパルス自体の供
給さえできる。演算ユニツトが行うべき演算動作
は比較的簡単である（乗算、加算および比較）。
代りに、単一のマイクロプロセツサよりも速い適
当なビツトスライスプロセツサで演算ユニツトを
形成することもできる。
イクロプロセツサで構成することができる。この
マイクロプロセツサは別の制御作用、例えばメモ
リ１７−２０のアドレス指定やシフトレジスタ１
６およびマルチプレクサ２２の制御を行うことも
できる。ライン１３へのスタートパルスの発生、
サンプリング値Siとしきい値Spとの比較、および
クロツク発生器のパルスの計数もまたこのマイク
ロプロセツサによつて行うことができる。更にこ
のマイクロプロセツサはクロツクパルス自体の供
給さえできる。演算ユニツトが行うべき演算動作
は比較的簡単である（乗算、加算および比較）。
代りに、単一のマイクロプロセツサよりも速い適
当なビツトスライスプロセツサで演算ユニツトを
形成することもできる。
Ｂ(1)またはＧ(1)の計算に固定小数点を用いると
（これは計算速度の上から好ましいが）中間結果
に対してオーバーフローが起き易い。これは適当
な所謂スケーリングステツプス（scaling steps）
によつて防ぐことができる。
（これは計算速度の上から好ましいが）中間結果
に対してオーバーフローが起き易い。これは適当
な所謂スケーリングステツプス（scaling steps）
によつて防ぐことができる。
加算段２３において伝播時間Ｚは次の関係式に
従つて形成される。
従つて形成される。
Ｚ＝n*Ｔ＋1*Ｔ／Ｋ−ｄ
こゝでn*はカウンタ１０の内容、ｄは装置常
数（apparatus constant）である。この常数は
１回だけ求めればよいが、次のようにして簡単に
求めることができる、即ち、他は同じ条件とし、
送信機と受信機間の２つの異なる距離に対する伝
播時間を式(8)によつて決め、値ｄが、式(8)によつ
て求めた伝播時間が送信機と受信機間の距離に比
例するように変えられることによつて比較的簡単
に決めることができる。使用される増幅器６のタ
イプによつては、ｄは更にその都度の増幅定数に
依存することがある。けれども、この依存性は前
以てわかるものなので、容易に考慮に入れること
ができる。
数（apparatus constant）である。この常数は
１回だけ求めればよいが、次のようにして簡単に
求めることができる、即ち、他は同じ条件とし、
送信機と受信機間の２つの異なる距離に対する伝
播時間を式(8)によつて決め、値ｄが、式(8)によつ
て求めた伝播時間が送信機と受信機間の距離に比
例するように変えられることによつて比較的簡単
に決めることができる。使用される増幅器６のタ
イプによつては、ｄは更にその都度の増幅定数に
依存することがある。けれども、この依存性は前
以てわかるものなので、容易に考慮に入れること
ができる。
音の速度はその媒体の温度によつて変化する。
水のような液体媒体に対してこの依存性は次のよ
うなものである。即ち、10分の数度の温度変化が
あると、数cmの間の伝播時間が既に値Ｔ／Ｋより
も多く変わり、したがつて、このような温度依存
性によつて測定が既に可なり不正確になる。この
ような不正確な測定を避ける１つの方法は、容器
１内の液温を一定に保つことである。けれども、
これに代えて伝播時間の温度影響を十分に除くこ
ともできる。この目的で、超音波送信機２と受信
機３の各角位置において、被検査物４に影響され
ずまた送信機と受信機間に同じ幾何学的な距離を
有する超音波パルスの伝播時間Zpを決めることが
できる。これは、一般的には、超音波トランスジ
ユーサ列２および３の極超音波送信および受信素
子に対する場合がそうである。このようにして測
定された値n*および1*に基づき式(8)によつて求
められた伝播時間Zpは、被検査物４で影響され且
つその直後に求められた伝播時間Ｚと同じように
温度に依存する。したがつて、商Ｚ／Zpは、温度
に無関係で且つ伝播時間に比例する値である。こ
の商はコンピユータ２４に加えられ、このコンピ
ユータは、被検査物４の１つの層内の種々の点に
おける屈折率分布を計算する。計算された分布は
適当な表示装置２５例えばテレビジヨンモニタ上
に表示される。
水のような液体媒体に対してこの依存性は次のよ
うなものである。即ち、10分の数度の温度変化が
あると、数cmの間の伝播時間が既に値Ｔ／Ｋより
も多く変わり、したがつて、このような温度依存
性によつて測定が既に可なり不正確になる。この
ような不正確な測定を避ける１つの方法は、容器
１内の液温を一定に保つことである。けれども、
これに代えて伝播時間の温度影響を十分に除くこ
ともできる。この目的で、超音波送信機２と受信
機３の各角位置において、被検査物４に影響され
ずまた送信機と受信機間に同じ幾何学的な距離を
有する超音波パルスの伝播時間Zpを決めることが
できる。これは、一般的には、超音波トランスジ
ユーサ列２および３の極超音波送信および受信素
子に対する場合がそうである。このようにして測
定された値n*および1*に基づき式(8)によつて求
められた伝播時間Zpは、被検査物４で影響され且
つその直後に求められた伝播時間Ｚと同じように
温度に依存する。したがつて、商Ｚ／Zpは、温度
に無関係で且つ伝播時間に比例する値である。こ
の商はコンピユータ２４に加えられ、このコンピ
ユータは、被検査物４の１つの層内の種々の点に
おける屈折率分布を計算する。計算された分布は
適当な表示装置２５例えばテレビジヨンモニタ上
に表示される。
以上述べた方法の代りに幾つかの方法が考えら
る。例えば、Ｆ（ａ，１）に対する式(1)において、
フアクタａを基準信号にも加えることができる。
前と同じに考え、Ｂ(1)＞０という副条件をもつて G′(1)＝１−Ｂ(1)2／Ｃ(1) (9) の最小値を求めることになる。これは本質的にＢ
(1)の最大値を求めるのと同じである。この(9)式の
Ａ，Ｂ(1)，Ｃ(1)は式(3)，(4)，(5)に定義された通り
である。式(7)による値Ｇ(1)とちがつて、値Ｇ（1*）
は結果の信頼性を示さない。
る。例えば、Ｆ（ａ，１）に対する式(1)において、
フアクタａを基準信号にも加えることができる。
前と同じに考え、Ｂ(1)＞０という副条件をもつて G′(1)＝１−Ｂ(1)2／Ｃ(1) (9) の最小値を求めることになる。これは本質的にＢ
(1)の最大値を求めるのと同じである。この(9)式の
Ａ，Ｂ(1)，Ｃ(1)は式(3)，(4)，(5)に定義された通り
である。式(7)による値Ｇ(1)とちがつて、値Ｇ（1*）
は結果の信頼性を示さない。
以上述べた方法においては、その絶対値が所定
のしきい値Spを越える最初の負のサンプリング値
がさがされた。けれども、この代りに正のしきい
値S′p（この場合S′pもSpより大きいことがある）を
越える最初の正のサンプリング値をさがす方がよ
り有利なこともある。第１ａ図の例においては例
えばS3がこれに当る。もつとも、この別のやり方
においても、サンプリング値S1……SMを蓄える
ために遅延線１５を用いることができ、この場合
Ｐ＝３である。
のしきい値Spを越える最初の負のサンプリング値
がさがされた。けれども、この代りに正のしきい
値S′p（この場合S′pもSpより大きいことがある）を
越える最初の正のサンプリング値をさがす方がよ
り有利なこともある。第１ａ図の例においては例
えばS3がこれに当る。もつとも、この別のやり方
においても、サンプリング値S1……SMを蓄える
ために遅延線１５を用いることができ、この場合
Ｐ＝３である。
代りに、正および負のしきい値を組合せること
もでき、例えば負のしきい値が矢つぎ早やに次々
と更に負の方向に、または正のしきい値が矢つぎ
早やに次々と更に正の方向に続いた場合にはじめ
て連続した記憶が開始される。
もでき、例えば負のしきい値が矢つぎ早やに次々
と更に負の方向に、または正のしきい値が矢つぎ
早やに次々と更に正の方向に続いた場合にはじめ
て連続した記憶が開始される。
今迄は、基準値により決められた基準信号の範
囲は、サンプリング値により決められた測定値の
範囲よりも大きいという前提に基いてきた。けれ
ども、本発明の方法は、サンプリング値により決
められた測定値の範囲が大きくされ、このため例
えばＭ＋Ｎのサンプリング値が利用でき（第１ｃ
図参照）また対応する基準信号の範囲が小さくさ
れ、したがつてＫ・Ｍ基準値のみが存在する（第
１ｄ図）ような場合にも実施できる。
囲は、サンプリング値により決められた測定値の
範囲よりも大きいという前提に基いてきた。けれ
ども、本発明の方法は、サンプリング値により決
められた測定値の範囲が大きくされ、このため例
えばＭ＋Ｎのサンプリング値が利用でき（第１ｃ
図参照）また対応する基準信号の範囲が小さくさ
れ、したがつてＫ・Ｍ基準値のみが存在する（第
１ｄ図）ような場合にも実施できる。
この場合にも、基準信号と測定信号の選ばれた
範囲の対応は、やはり次の関係を満足する関係Ｆ
（ａ，１）によつて数式的に表わすことができる。
範囲の対応は、やはり次の関係を満足する関係Ｆ
（ａ，１）によつて数式的に表わすことができる。
Ｆ（ａ，１）＝M
〓m=1
（ａ・Sx(n,1)−S* y(n,1)）2 (10)
こゝで
ｘ（ｍ，１）＝ｍ＋int（（１−1）／Ｋ）(11)
ｙ（ｍ，１）＝ｋ・ｍ−（１−1）＋Ｋ
・int（（１−1）／Ｋ） (12)
で、int（ ）は、この関数の独立変数よりも大き
くない最大の整数に対応する関数である。
くない最大の整数に対応する関数である。
この場合も関数Ｆ（ａ，１）は、
Ｇ(1)＝−B2(1)／Ａ(1)＋Ｃ(1)
が最小になる１に対してその最小値をとる。こゝ
で Ａ(1)＝M 〓m=1 （Sx(n,1)）2 (13) Ｂ(1)＝M 〓m=1 Sx(n,1)・S* y(n,1) (14) Ｃ(1)＝M 〓m=1 （S* y(n,1)）2 (15) である。
で Ａ(1)＝M 〓m=1 （Sx(n,1)）2 (13) Ｂ(1)＝M 〓m=1 Sx(n,1)・S* y(n,1) (14) Ｃ(1)＝M 〓m=1 （S* y(n,1)）2 (15) である。
Ｇ(1)の最小化はＢ(1)の最小化と等価であり、最
初の解法と同様にして実行可能である。それ故、
1*の計算は既述の方法に相当するので、これにつ
いての説明は省略する。
初の解法と同様にして実行可能である。それ故、
1*の計算は既述の方法に相当するので、これにつ
いての説明は省略する。
第１ａ図より第１ｄ図は代表的な測定信号と基
準信号の時間的変化、第２図は本発明装置の一実
施例のブロツク回路図、第３図は1*を決めるため
のフローチヤートである。 ２……超音波送信機、３……超音波受信機、４
……被検査物、６……増幅器、７……アナログ−
デジタル変換器、８……クロツク発生器、１０…
…カウンタ、１１……比較器、１５……遅延線、
１６……シフトレジスタ、２４……コンピユー
タ、２５……表示ユニツト。
準信号の時間的変化、第２図は本発明装置の一実
施例のブロツク回路図、第３図は1*を決めるため
のフローチヤートである。 ２……超音波送信機、３……超音波受信機、４
……被検査物、６……増幅器、７……アナログ−
デジタル変換器、８……クロツク発生器、１０…
…カウンタ、１１……比較器、１５……遅延線、
１６……シフトレジスタ、２４……コンピユー
タ、２５……表示ユニツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ (イ) 検査領域を通して超音波パルスを送信す
る過程、 (ロ) 超音波パルスが検査領域を通つてから該パル
スを受信し、これより受信電気信号をつくる過
程、 (ハ) 受信信号を所定の割合１／Ｔで周期的にサン
プリングし、かくしてつくられた一連のサンプ
ルを蓄える過程 (ニ) 送信の時間とサンプルされた受信信号が所定
のしきい値に達する時間との間の個々の経過時
間（n*Ｔ）を測定する過程 (ホ) 蓄えられた一連の受信信号のサンプルと個々
の基準信号（S*）の周期的な一連のサンプル
を比較し、基準信号のサンプルを１つのサンプ
ル位置だけ繰返しシフトし、受信信号のサンプ
ルとシフトされた基準信号のサンプル間の最良
の対応を生じる基準信号のシフト位置が決めら
れる迄再び受信信号をシフトされた基準信号と
比較し、次いで、関連の基準信号のシフトを補
正係数として選ぶことによる、補正関数を計算
する過程、 (ヘ) 前記の補正係数を経過時間（n*Ｔ）に適用
して伝播時間を決める過程、 とより成る、超音波送信機と超音波受信機の間に
配された検査領域を通る超音波パルスの伝播時間
を決める方法において、基準信号を、検査領域を
測定するのに用いるのと同一の送信機と受信機お
よび幾何的条件を用いて、均質な媒体を通して伝
播された超音波パルスの平均受信値を測定するこ
とによりつくることを特徴とする超音波パルスの
伝播時間を決める方法。 ２ 基準信号（S*）は、蓄えられる信号（Ｓ）
のサンプリングよりもフアクタＫだけ大きいサン
プリング密度を有し、蓄えられた信号を、基準信
号のＫ番目毎のサンプルより成る一連の信号と比
較する特許請求の範囲１記載の方法。 ３ 補正係数を選ぶ過程は、 (イ) １を可変の整数とし、 Ａ(1)＝M 〓m=1 S2 n Ｂ(1)＝M 〓m=1 Sn S* y（ｍ，１） Ｃ(1)＝M 〓m=1 S* y(n,1)）2 とし、ここでSnはｍ番目のサンプリング値、
S* y(n,1)はｙ番目の基準値、ｙ（ｍ，１）＝Ｋ（ｍ＋
Ｎ）＋1−１、ＮとＫは整数で、Ｋは基準信号の
サンプリング点の密度を測定信号のサンプリン
グ点の密度で割つた商に等しい整数とした場合
に、関係式 Ｇ(1)＝−Ｂ(1)2／Ａ(1)＋Ｃ(1) によつて幾つかの値Ｇ(1)を形成する過程、 (ロ) 附帯条件Ｂ(1)＞０の下でＧ(1)が最小値をもつ
値1*を決める過程、 とより成り、Ｔをサンプリング速度の逆数としｄ
を所定の装置定数とした場合に関係式 Ｚ＝n*Ｔ＋1*Ｔ／Ｋ−ｄ によつて伝播時間Ｚを補正する特許請求の範囲第
１項または第２項記載の方法。 ４ 測定信号（Ｓ）と基準信号（S*）との短時
間相互相関関数Ｂ(1)を、サンプリング値（Sx）と
基準値（Sy）から形成し、短時間相互相関関数Ｂ
(1)が絶対最大値を有する１の値を求める特許請求
の範囲第３項記載の方法。 ５ 補正係数を選ぶ過程は、 (イ) １を可変の整数とし、 Ａ(1)＝M 〓m=1 （Sx(n,1)）2 Ｂ(1)＝M 〓m=1 Sx(n,1)・S* y(n,1) Ｃ(1)＝M 〓m=1 （S* y(n,1)）2 とし、ここでSxをＸ番目の測定信号サンプリン
グ値、S* yをｙ番目の基準信号サンプリング値
とし、この場合 ｘ（ｍ，１）＝ｍ＋int（１−1）／Ｋ） ｙ（ｍ，１）＝Km＋1−１＋Kint（（１−1）／
Ｋ） で、Ｋは基準信号のサンプリング点の密度を測
定信号のサンプリング点の密度で割つた商に等
しい整数とした場合に、関係式 Ｇ(1)＝−Ｂ(1)2／Ａ(1)＋Ｃ(1) によつて幾つかのＧ(1)を形成する過程、 (ロ) 附帯条件Ｂ(1)＞０の下でＧ(1)が最小値をもつ
値1*を決める過程、 より成り、Ｔをサンプリング速度の逆数とし、ｄ
を所定の装置定数とした場合に関係式 Ｚ＝n*Ｔ＋1*Ｔ／Ｋ−ｄ によつて伝播時間Ｚを補正することを特徴とする
特許請求の範囲第１項または第２項記載の方法。 ６ 測定信号（Ｓ）と基準信号（S*）との短時
間相互相関関数Ｂ(1)を、サンプリング値（Sx）と
基準値（S* y）から形成し、短時間相互相関関数
Ｂ(1)が絶対最大値を有する１の値を求める特許請
求の範囲第５項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823242284 DE3242284A1 (de) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | Verfahren und anordnung zur laufzeitbestimmung eines ultraschallimpulses |
| DE3242284.9 | 1982-11-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59102127A JPS59102127A (ja) | 1984-06-13 |
| JPH0352816B2 true JPH0352816B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=6178219
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58211732A Granted JPS59102127A (ja) | 1982-11-16 | 1983-11-12 | 超音波パルスの伝播時間を決める方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4541279A (ja) |
| EP (1) | EP0109129B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59102127A (ja) |
| AU (1) | AU561990B2 (ja) |
| CA (1) | CA1218742A (ja) |
| DE (2) | DE3242284A1 (ja) |
| IL (1) | IL70234A0 (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8334394D0 (en) * | 1983-12-23 | 1984-02-01 | Czajowski S B | Electrical circuits |
| DE3418486C1 (de) * | 1984-05-18 | 1986-01-02 | Krautkrämer GmbH, 5000 Köln | Ultraschallprüfverfahren und Schaltungsvorrichtung zur automatischen Ermittlung von rückwandnahen Ungänzen |
| DE3442154A1 (de) * | 1984-11-17 | 1986-05-28 | Elektro-Mechanik Gmbh, 5963 Wenden | Verfahren zur positionserfassung der bandkante einer materialbahn |
| DE3620404A1 (de) * | 1986-06-18 | 1988-01-07 | Dieter Dr Dr Edinger | Messvorrichtung zur aufzeichnung und reproduktion von unterkieferbewegungen |
| US4848924A (en) * | 1987-08-19 | 1989-07-18 | The Babcock & Wilcox Company | Acoustic pyrometer |
| YU47190B (sh) * | 1988-02-19 | 1995-01-31 | Institut Za Opštu I Fizičku Hemiju | Uredjaj za neinvazivno akustičko ispitivanje elastičnosti mekih bioloških materijala |
| DE3943226C2 (de) * | 1989-01-13 | 1995-01-05 | Mannesmann Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Ungänzen an langgestreckten Werkstücken |
| FR2655144A1 (fr) * | 1989-11-24 | 1991-05-31 | Centre Techn Ind Mecanique | Appareil de controle par ultrasons du serrage d'une piece. |
| EP0452531B1 (de) * | 1990-04-20 | 1995-01-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrische Messeinrichtung für die Laufzeitmessung eines elektrischen Signals |
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| US5355312A (en) * | 1991-09-24 | 1994-10-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Inverse tomography by matched field processing |
| DE4315794C2 (de) * | 1993-05-13 | 1995-09-21 | Nukem Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung von Gegenständen mit Ultraschall |
| US5604592A (en) * | 1994-09-19 | 1997-02-18 | Textron Defense Systems, Division Of Avco Corporation | Laser ultrasonics-based material analysis system and method using matched filter processing |
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| DE19611233A1 (de) * | 1996-03-21 | 1997-09-25 | Siemens Ag | Verfahren zur Laufzeitmessung eines elektrischen, elektromagnetischen oder akustischen Signals |
| US5724138A (en) * | 1996-04-18 | 1998-03-03 | Textron Systems Corporation | Wavelet analysis for laser ultrasonic measurement of material properties |
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| JPH11295419A (ja) * | 1998-04-15 | 1999-10-29 | Sony Corp | 送受信分離型反射方式の超音波距離測定方法とその装置 |
| DE19824267A1 (de) * | 1998-05-29 | 1999-12-02 | Siemens Ag | Verfahren zur Erkennung von Nutz- und Störechos im Empfangssignal von Abstandssensoren sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
| JP2004193782A (ja) | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Toa Corp | スピーカとマイクロホン間の音波伝搬時間測定方法およびその装置 |
| US7434988B1 (en) | 2006-05-17 | 2008-10-14 | Enertechnix, Inc. | Low pressure acoustic pyrometer signal generator |
| US8475377B2 (en) * | 2009-09-28 | 2013-07-02 | First Sense Medical, Llc | Multi-modality breast cancer test system |
| AT508967B1 (de) * | 2009-10-20 | 2011-07-15 | Riegl Laser Measurement Sys | Vorrichtungen und verfahren zum messen der empfangszeitpunkte von impulsen |
| FR3017042B1 (fr) * | 2014-02-03 | 2017-10-13 | Spineguard | Systeme medical, et procede pour visualiser un point d'entree d'un instrument chirurgical, dans une structure anatomique, et ensemble comprenant un tel systeme medical et un instrument chirurgical |
| CN105698884B (zh) * | 2016-03-07 | 2019-07-09 | 上海电气自动化设计研究所有限公司 | 一种时差式超声波流量计改进的测量方法 |
| US12514455B2 (en) | 2021-12-06 | 2026-01-06 | AngioLytics LLC | Infrared signal capture and analysis |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3332511A (en) * | 1964-06-18 | 1967-07-25 | Pan American Petroleum Corp | Obtaining seismic travel time by crosscorrelating the received signal with various portions of the transmitted signal |
| US4202048A (en) * | 1972-11-05 | 1980-05-06 | United Geophysical Corporation | Seismic prospecting system |
| US4075883A (en) * | 1976-08-20 | 1978-02-28 | General Electric Company | Ultrasonic fan beam scanner for computerized time-of-flight tomography |
| DE2827423C2 (de) * | 1978-06-22 | 1987-04-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Vorrichtung zur Ermittlung der inneren Struktur eines Körpers mit Hilfe von Schallstrahlen |
| US4317369A (en) * | 1978-09-15 | 1982-03-02 | University Of Utah | Ultrasound imaging apparatus and method |
| JPS55140116A (en) * | 1979-04-19 | 1980-11-01 | Chiyouonpa Kogyo Kk | Measuring apparatus for propagation-time of ultrasonic wave |
| DE2919381C2 (de) * | 1979-05-14 | 1980-09-18 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren und Vorrichtung zum Aufzeichnen von Ultraschallechos |
| US4295213A (en) * | 1979-10-09 | 1981-10-13 | Exxon Production Research Company | Composite seismic signal |
-
1982
- 1982-11-16 DE DE19823242284 patent/DE3242284A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-11-10 DE DE8383201606T patent/DE3369565D1/de not_active Expired
- 1983-11-10 EP EP83201606A patent/EP0109129B1/de not_active Expired
- 1983-11-12 JP JP58211732A patent/JPS59102127A/ja active Granted
- 1983-11-14 AU AU21301/83A patent/AU561990B2/en not_active Ceased
- 1983-11-14 US US06/551,613 patent/US4541279A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-11-14 IL IL70234A patent/IL70234A0/xx unknown
- 1983-11-14 CA CA000441061A patent/CA1218742A/en not_active Expired
Also Published As
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|---|---|
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| AU561990B2 (en) | 1987-05-21 |
| DE3369565D1 (en) | 1987-03-05 |
| IL70234A0 (en) | 1984-02-29 |
| EP0109129B1 (de) | 1987-01-28 |
| DE3242284A1 (de) | 1984-05-17 |
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