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JPH0360149B2 - - Google Patents
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JPH0360149B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0360149B2
JPH0360149B2 JP57152386A JP15238682A JPH0360149B2 JP H0360149 B2 JPH0360149 B2 JP H0360149B2 JP 57152386 A JP57152386 A JP 57152386A JP 15238682 A JP15238682 A JP 15238682A JP H0360149 B2 JPH0360149 B2 JP H0360149B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
video
electron beam
sample image
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57152386A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5942751A (en
Inventor
Masao Kawai
Akio Hori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP57152386A priority Critical patent/JPS5942751A/en
Publication of JPS5942751A publication Critical patent/JPS5942751A/en
Publication of JPH0360149B2 publication Critical patent/JPH0360149B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電子線が照射された試料からの信号
変化量を検出しこの検出に係る信号を映像信号と
して出力する検出器と、この映像信号を映像画面
のX軸およびY軸方向への掃引信号により走査し
て試料映像を映像画面上に表示する映像表示シス
テムとを備える電子線走査形試料像表示装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a detector that detects the amount of signal change from a sample irradiated with an electron beam and outputs the signal related to this detection as a video signal, and a detector that outputs the detected signal as a video signal. The present invention also relates to an electron beam scanning sample image display apparatus comprising: and a video display system that displays a sample image on a video screen by scanning with a sweep signal in the Y-axis direction.

X線マイクロアラナイザや走査形電子顕微鏡で
使用される検出器の中には、ドリフト信号が正規
の信号変化量以上になるものがある。このような
検出器を用いる場合には従来の映像表示システム
のままでは、試料像を明確に表示させることがで
きない。これを解決するために従来では、非常に
高価なロツクインアンプと信号の同期化機構とを
その映像表示システムに組み込むことにより試料
像を表示させている。しかしながら、ロツクイン
アンプにおける同期周波数はせいぜい10kHz程度
しかあげることができないので、滑らかな試料像
を表示させるためにはX軸の掃引周期を同期周波
数の数10分の1ないし数100分の1にまで下げな
ければならない。このため試料像を得るまでに非
常に長時間を費やさなければならないという大き
な不都合があつた。
Some detectors used in X-ray microanalyzers and scanning electron microscopes have drift signals that exceed the normal signal change amount. When using such a detector, a sample image cannot be clearly displayed using a conventional image display system. In order to solve this problem, conventionally, a very expensive lock-in amplifier and a signal synchronization mechanism are incorporated into the image display system to display the sample image. However, the synchronization frequency in a lock-in amplifier can only be raised to about 10 kHz at most, so in order to display a smooth sample image, the X-axis sweep period must be set to several tenths or several hundredths of the synchronization frequency. must be lowered to For this reason, there was a major inconvenience in that a very long time had to be spent before obtaining a sample image.

本発明は、上記不都合を解消し、高価なロツク
インアンプを使用する必要性がなく従来の映像表
示システムに簡単な回路を付加するのみでドリフ
トが大きな映像信号であつても、長時間費やすこ
となく明確に試料像が得られるようにすることを
目的とする。
The present invention eliminates the above-mentioned disadvantages, eliminates the need to use an expensive lock-in amplifier, and simply adds a simple circuit to a conventional video display system, thereby eliminating the need for a long time even when the video signal has a large drift. The purpose is to obtain a clear sample image without any distortion.

本発明は、上記目的を達成するため、X線掃引
用ブランキング信号と検出器からの映像信号とを
混合し、この混合信号中のブランキング信号を常
に一定のレベルにクランプするとともにX軸掃引
周期をドリフト変化時間よりも短くすることによ
り、ドリフト変化量を見かけ上小さく押えて在来
の映像表示システムにおいてドリフトが大きい映
像信号であつても明確な試料像が長時間費やすこ
となく得られるように構成されている。
In order to achieve the above object, the present invention mixes a blanking signal for X-ray sweep with a video signal from a detector, always clamps the blanking signal in this mixed signal to a constant level, and performs X-axis sweeping. By making the period shorter than the drift change time, the amount of drift change can be kept to an apparently small amount, so that a clear sample image can be obtained without spending a long time even if the video signal has a large drift in conventional video display systems. It is composed of

次に、本発明の構成を実施例について図面に基
づき具体的に説明する。
Next, the configuration of the present invention will be specifically explained with reference to the drawings in terms of embodiments.

第1図は本発明の実施例のブロツク回路図であ
る。電子線発生器1からは電子線2が試料3に向
けて照射される。電子線2はX軸(例えば水平走
査方向)とY軸(垂直走査方向)の各偏向コイル
4,5によりそれぞれ偏向される。検出器6(例
えば赤外線用半導体検出器)は作動直前までは液
体窒素で冷却されて使用されるものであつて、電
子線が照射された試料3から発生する組成に応じ
た光量変化を検出するとともにその検出に係る第
2図aに示すような波形の信号を映像信号として
出力する。加算器7はX軸発振器8からの第2図
bに示すような発生周期がドリフト変化時間より
も短かい一定振幅のブランキング信号と前記した
大きなドリフト成分を含む映像信号とを加算混合
するとともに、第2図dに示すような混合信号を
出力する。パルスクランプ回路9はX軸掃引のブ
ランキング信号と混合信号とにより第2図eに示
すように混合信号中に含まれるブランキング信号
が常に一定レベルとなるようにクランプされた信
号を出力する。従つて、第2図aの映像信号と、
第2図eのクランプ化された映像信号とを比較し
て明らかなように第2図aの映像信号に含まれる
大きなドリフトは、前記クランプによりX軸の1
走査以内に小さく押えられることになる。こうし
て、クランプされた映像信号は、映像増幅器10
を介して、映像表示器11の輝度信号入力端子に
入力される。なお、12は倍率調整器であり、1
3は映像表示器11の偏向コイルであり、14は
X軸掃引器であり、15はY軸掃引器であり、1
6はオフセツト調整器である。また、第2図dは
X軸掃引器14の出力波形を示している。こうし
て、ブランキング信号をクランプし、かつドリフ
ト成分の変化が比較的遅く、X軸方向の操作時間
(掃引周期)をドリフト変化時間よりも短くする
ことにより、ドリフトが大きな映像信号をドリフ
トが小さく押さえられて安定した映像に変換し、
この変換に係る映像信号により明確な試料像を表
示させることが可能になる。
FIG. 1 is a block circuit diagram of an embodiment of the present invention. An electron beam 2 is irradiated from an electron beam generator 1 toward a sample 3 . The electron beam 2 is deflected by deflection coils 4 and 5 on the X axis (for example, horizontal scanning direction) and the Y axis (vertical scanning direction), respectively. The detector 6 (for example, an infrared semiconductor detector) is used while being cooled with liquid nitrogen until immediately before activation, and detects changes in the amount of light generated from the sample 3 irradiated with the electron beam depending on the composition. At the same time, a signal having a waveform as shown in FIG. 2a related to the detection is outputted as a video signal. The adder 7 adds and mixes the blanking signal of a constant amplitude whose generation period is shorter than the drift change time as shown in FIG. , outputs a mixed signal as shown in FIG. 2d. The pulse clamp circuit 9 outputs a signal clamped by the X-axis sweep blanking signal and the mixed signal so that the blanking signal included in the mixed signal is always at a constant level, as shown in FIG. 2e. Therefore, the video signal of FIG. 2a,
As is clear from a comparison with the clamped video signal in FIG. 2e, the large drift included in the video signal in FIG.
It will be pressed down to a small size within the scan. In this way, the clamped video signal is transferred to the video amplifier 10.
The brightness signal is input to the luminance signal input terminal of the video display 11 via. In addition, 12 is a magnification adjuster, and 1
3 is a deflection coil of the image display 11, 14 is an X-axis sweeper, 15 is a Y-axis sweeper, 1
6 is an offset adjuster. Further, FIG. 2d shows the output waveform of the X-axis sweeper 14. In this way, by clamping the blanking signal, making the drift component change relatively slow, and making the operation time (sweep period) in the X-axis direction shorter than the drift change time, the video signal with large drift can be suppressed to a small drift. image and convert it to a stable image.
The video signal related to this conversion makes it possible to display a clear sample image.

以上説明したように、本発明によれば、X軸掃
引のブランキング信号と検出器からの映像信号と
を混合し、混合信号中のブランキング信号を常に
一定となるようにクランプするとともに、X軸掃
引周期をドリフト変化時間より短かくして構成し
たので、高価なロツクインアンプを使用すること
なく在来の映像表示システムに簡単な回路を付加
するのみでドリフトが大きな映像信号が検出器か
ら出力されてきても安定した映像信号に変換する
ことができ、したがつて長時間費やすことなく明
確な試料像を安価な構成のものにて得ることがで
きる等の効果が発揮される。
As explained above, according to the present invention, the X-axis sweep blanking signal and the video signal from the detector are mixed, the blanking signal in the mixed signal is clamped to be always constant, and the Since the axis sweep period is configured to be shorter than the drift change time, a video signal with large drift can be output from the detector by simply adding a simple circuit to a conventional video display system without using an expensive lock-in amplifier. It is possible to convert into a stable video signal even when the image quality is low, and therefore it is possible to obtain a clear sample image without spending a long time with an inexpensive configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の実施例のブロツク回路図、第
2図はその動作説明に供する信号波形図である。 1……電子線発生回路、3……試料、6……検
出器、7……加算器、8……X軸発振器、9……
パルスクランプ回路、10……映像増幅器、11
……映像表示器。
FIG. 1 is a block circuit diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a signal waveform diagram for explaining its operation. 1...Electron beam generation circuit, 3...Sample, 6...Detector, 7...Adder, 8...X-axis oscillator, 9...
Pulse clamp circuit, 10...Video amplifier, 11
...Video display.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 電子線が照射された試料からの信号変化量を
検出して映像信号を出力する検出器と、この映像
信号を映像画面のX軸およびY軸方向への掃引信
号により走査して試料像を映像画面上に表示する
映像表示システムとを備える電子線走査形試料像
表示装置において、X軸掃引のブランキング信号
と前記検出器からの映像信号とを混合する手段
と、前記混合手段からの混合信号中に含まれるブ
ランキング信号が常に一定レベルとなるようにク
ランプする手段とを備えるとともにこのクランプ
手段からの出力信号を映像信号とする前記映像表
示システムを有し、X線掃引周期をドリフト変化
時間より短かくなるように構成したことを特徴と
する電子線走査形試料像表示装置。
1 A detector that detects the amount of signal change from a sample irradiated with an electron beam and outputs a video signal, and a detector that scans this video signal with a sweep signal in the X-axis and Y-axis directions of the video screen to create a sample image. In an electron beam scanning sample image display device comprising a video display system for displaying on a video screen, a means for mixing an X-axis sweep blanking signal and a video signal from the detector, and mixing from the mixing means. and means for clamping the blanking signal contained in the signal so that it is always at a constant level, and the video display system uses the output signal from the clamping means as a video signal, and the X-ray sweep period is changed by drift. 1. An electron beam scanning sample image display device, characterized in that the time is shorter than that of an electron beam scanning sample image display device.
JP57152386A 1982-08-31 1982-08-31 Electron beam scanning type sample picture display unit Granted JPS5942751A (en)

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JPS5942751A JPS5942751A (en) 1984-03-09
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