JPH036220B2 - - Google Patents
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- JPH036220B2 JPH036220B2 JP8915985A JP8915985A JPH036220B2 JP H036220 B2 JPH036220 B2 JP H036220B2 JP 8915985 A JP8915985 A JP 8915985A JP 8915985 A JP8915985 A JP 8915985A JP H036220 B2 JPH036220 B2 JP H036220B2
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Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 技術分野
この発明は、フアイバ等の細い線材の外周面に
対し、スパツタリング法により薄膜を形成するた
めのスパツタリングカソードに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Technical Field The present invention relates to a sputtering cathode for forming a thin film on the outer peripheral surface of a thin wire such as a fiber by a sputtering method.
(ロ) 従来技術()及びその問題点
一般に、スパツタリング法は以下のようにして
基板に薄膜の形成を行なつている。即ち、第2図
において、10-1〜10-2Torrのガス圧に制御され
た真空槽(図示せず)内の真空雰囲気中には平板
状に成形されたターゲツト31がターゲツトホル
ダ32の表面に装着され、ターゲツトホルダ32
の内側には永久磁石又は電磁コイル33が設けら
れている。ターゲツトホルダ32の側面、即ちタ
ーゲツト31が装着されて無い表面は放電を防止
するためにシールド板34が配設されている。そ
してターゲツト31から所定距離の前期真空雰囲
気中には薄膜を形成するための基板35が配置さ
れる。(b) Prior art () and its problems Generally, in the sputtering method, a thin film is formed on a substrate in the following manner. That is, in FIG. 2, a flat target 31 is placed on the surface of a target holder 32 in a vacuum atmosphere in a vacuum chamber (not shown) controlled at a gas pressure of 10 -1 to 10 -2 Torr. attached to the target holder 32
A permanent magnet or electromagnetic coil 33 is provided inside. A shield plate 34 is provided on the side surface of the target holder 32, that is, the surface on which the target 31 is not mounted, to prevent discharge. A substrate 35 on which a thin film is to be formed is placed in the vacuum atmosphere at a predetermined distance from the target 31.
基板35に薄膜を形成するためには、前記真空
槽を接地状態に保ち、前記ターゲツト31に負の
直流電圧又は高周波の高電圧を印加する。する
と、ターゲツト31から電子が発生しグロー放電
を生じる。この電子は電磁コイル33による磁界
により螺線運動を生じ、前記真空雰囲気中のガス
(例えばアルゴンガス)と衝突してプラズマを発
生させる。このとき生成した陽イオンはターゲツ
ト31に吸引されて衝突し、ターゲツト31を構
成する原子を飛び出させる。この原子は前記ガス
と反応して基板35上に堆積して薄膜を形成す
る。 In order to form a thin film on the substrate 35, the vacuum chamber is kept in a grounded state, and a negative DC voltage or a high frequency high voltage is applied to the target 31. Then, electrons are generated from the target 31 and a glow discharge is generated. These electrons generate spiral motion due to the magnetic field of the electromagnetic coil 33, collide with gas (for example, argon gas) in the vacuum atmosphere, and generate plasma. The positive ions generated at this time are attracted to the target 31 and collide with it, causing atoms constituting the target 31 to fly out. The atoms react with the gas and deposit on the substrate 35 to form a thin film.
一般に、ターゲツトの材料として所望の材料を
選択でき、しかも形状も自由に製造できるため、
スパツタリング法は複雑な表面形状をもつ基板に
対しても均一な厚さの薄膜を形成することができ
る有効な方法である。 In general, the desired material can be selected as the target material, and the shape can be manufactured freely.
The sputtering method is an effective method that can form a thin film of uniform thickness even on a substrate with a complicated surface shape.
しかし、基板がフアイバ等のように断面形状が
円形で、しかもその直径が5mm以下と細い線材に
対する薄膜の形成を行う場合には、第2図に示す
2極型のスパツタリング装置のような欠点があつ
た。 However, when forming a thin film on a thin wire with a circular cross-sectional shape, such as a fiber, and a diameter of 5 mm or less, the two-pole sputtering device shown in Figure 2 has drawbacks. It was hot.
(a) ターゲツト31が1枚であるため、細い線材
からなる基板35の外周面全体に均一な膜を形
成するためには、この基板35を回転しなけれ
ばならず、回転機構を必要とするため装置が複
雑化し、高価になる。さらに、基板35は細い
線材であるから回転を加えることは困難が伴
う。この結果、第2図の装置では均一な膜を形
成することが困難である。(a) Since there is only one target 31, in order to form a uniform film on the entire outer peripheral surface of the substrate 35 made of a thin wire, the substrate 35 must be rotated, and a rotation mechanism is required. Therefore, the equipment becomes complicated and expensive. Furthermore, since the substrate 35 is a thin wire, it is difficult to rotate it. As a result, it is difficult to form a uniform film using the apparatus shown in FIG.
(b) ターゲツト31の面積に対して基板35の表
面積が小さ過ぎるからターゲツト31から飛び
出す薄膜原料となる原子の大部分が無駄になり
効果が悪い。(b) Since the surface area of the substrate 35 is too small relative to the area of the target 31, most of the atoms that become the raw material for the thin film that fly out from the target 31 are wasted, resulting in poor effectiveness.
従来技術()及びその問題点
第3図は対向ターゲツト型のスパツタリング装
置の要部概略構成図を示し、一定間隔を隔てて平
板ターゲツト41,41が対向配置されている。
第3図において、42あターゲツトホルダ、43
は電磁コイル、44はシールド板、45は前記細
い線材からなる基板であり、これらは真空槽(図
示せず)内の真空雰囲気中に配設されている。前
記基板45はターゲツト41,41の間に配置さ
れ、このため両側から膜が形成される。スパツタ
リングの方法は第2図の実施例の場合と同様であ
り、ターゲツト41,41と真空槽間の放電を利
用する。この場合、スパツタリングの特徴である
回り込みにより、ターゲツト41,41に面して
いない基板45の表面にも膜が形成されるため、
回転機構が不必要になる。また、両側から膜が形
成されるため、成膜速度が速くなる。Prior Art () and Problems Therein FIG. 3 shows a schematic diagram of the main parts of a facing target type sputtering apparatus, in which flat targets 41, 41 are arranged facing each other at a constant interval.
In FIG. 3, 42a target holder, 43
1 is an electromagnetic coil, 44 is a shield plate, and 45 is a substrate made of the thin wire, which are placed in a vacuum atmosphere in a vacuum chamber (not shown). The substrate 45 is placed between the targets 41, 41, so that films are formed from both sides. The sputtering method is the same as in the embodiment shown in FIG. 2, and utilizes electrical discharge between the targets 41, 41 and the vacuum chamber. In this case, due to wraparound, which is a characteristic of sputtering, a film is also formed on the surface of the substrate 45 that does not face the targets 41, 41.
A rotation mechanism becomes unnecessary. Furthermore, since the film is formed from both sides, the film formation rate becomes faster.
しかし、第3図の対向ターゲツト型のスパツタ
リング装置においても以下の問題は解消されな
い。即ち、
(a) 基板45の膜厚分布は、その断面において、
短軸と長軸との比で4対6の楕円となり、ター
ゲツト41,41な面した方向が厚くなり、膜
が不均一となる。 However, even in the facing target type sputtering apparatus shown in FIG. 3, the following problems cannot be solved. That is, (a) the film thickness distribution of the substrate 45 is as follows in its cross section:
It becomes an ellipse with a ratio of short axis to long axis of 4:6, and the film becomes thicker in the direction facing the targets 41, 41, making the film non-uniform.
(b) ターゲツト41の面積に対して基板45の表
面積が小さ過ぎるから、膜形成の効率が悪く、
したがつて、ターゲツト材料歩留りが悪い。(b) Since the surface area of the substrate 45 is too small compared to the area of the target 41, the efficiency of film formation is poor;
Therefore, the target material yield is poor.
従来技術()及びその問題点
第4図はホローカソード型のスパツタリング装
置の要部概略構成図を示し、円筒形の真空槽52
の内壁全面にはターゲツト51が接着されてい
る。このため、真空槽全体がターゲツトホルダと
して機能する。基板55は真空槽52の中心に配
置される。この装置は円形の外面をもつ基板へ膜
を形成するために有利な構造である。符号53は
電磁コイルを示し、スパツタリングの方法は、基
板55とターゲツト51間に電圧を印加して放電
を励起して行う。この装置において使用される基
板55は直径50mm以上の太い線材であり、装置も
大型に構成されている。Prior art () and its problems FIG. 4 shows a schematic diagram of the main parts of a hollow cathode type sputtering device, in which a cylindrical vacuum chamber 52
A target 51 is adhered to the entire inner wall of the target. Therefore, the entire vacuum chamber functions as a target holder. The substrate 55 is placed at the center of the vacuum chamber 52. This apparatus is an advantageous structure for forming films on substrates with circular external surfaces. Reference numeral 53 indicates an electromagnetic coil, and the sputtering method is performed by applying a voltage between the substrate 55 and the target 51 to excite discharge. The substrate 55 used in this device is a thick wire with a diameter of 50 mm or more, and the device is also large-sized.
第4図のホローカソード型のスパツタリング装
置を5mm以下の細い線材の膜形成に使用するには
次の欠点を有する。 The use of the hollow cathode type sputtering apparatus shown in FIG. 4 for forming a film on a thin wire of 5 mm or less has the following drawbacks.
(a) 装置が大きいため、ターゲツト51の面から
基板面までの距離が大きくなり、ターゲツト面
から飛び出した原子が不都合なガスと結合する
こともあり、基板表面に形成される膜の純度が
低くなる。さらに、基板に対する膜の密着性が
悪くなる。(a) Since the device is large, the distance from the surface of the target 51 to the substrate surface is large, and atoms ejected from the target surface may combine with undesirable gases, resulting in a low purity film formed on the substrate surface. Become. Furthermore, the adhesion of the film to the substrate deteriorates.
(b) ターゲツトの有効面積に対する基板の表面積
が小さいことから膜形成の効率が悪く、従つて
ターゲツト材料の歩留りも悪い。(b) Since the surface area of the substrate is small relative to the effective area of the target, the efficiency of film formation is poor, and the yield of target material is therefore poor.
(c) 基板を一方の電極として電圧を印加する方式
のため、基板が絶縁材料によつて構成されてい
る場合は膜形成が行えない。(c) Since this method applies voltage using the substrate as one electrode, film formation cannot be performed if the substrate is made of an insulating material.
(ハ) 発明の目的
この発明の目的は、直径5mm以下の細い線材に
薄膜を均一にしかも効率良く形成できるスパツタ
リングカソードを提供することである。(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to provide a sputtering cathode that can uniformly and efficiently form a thin film on a thin wire having a diameter of 5 mm or less.
この発明の他の目的は、既製のスパツタリング
装置に簡単に取り付けることができ、この既製の
スパツタリング装置を利用してスパツタリングを
行えるスパツタリングカソードを提供することで
ある。 Another object of the present invention is to provide a sputtering cathode that can be easily attached to a ready-made sputtering device and can perform sputtering using the ready-made sputtering device.
(ニ) 問題点を解決するための手段
この発明のスパツタリングカソードは、真空雰
気において円筒状のターゲツトに電圧を印加して
この円筒内部に放電を励起し、このターゲツト内
に配置されたスパツタリング用に電圧の印加され
て無い5mm以下の細い線材(中空の管材を含む)
に薄膜を形成する。このため、スパツタリングカ
ソードは前記線材の薄膜形成に適した小型に構成
される。(d) Means for Solving the Problems The sputtering cathode of the present invention applies a voltage to a cylindrical target in a vacuum atmosphere to excite a discharge inside the cylinder. Thin wire material (including hollow tube material) of 5 mm or less to which no voltage is applied for sputtering
Form a thin film on the surface. For this reason, the sputtering cathode is constructed in a small size suitable for forming a thin film of the wire.
さらに、前記スパツタリングカソードは、前記
ターゲツトが内周壁面に設けられると共に前記タ
ーゲツトを冷却する流体の流路が内部に設けられ
たターゲツトホルダ、このターゲツトホルダを包
囲し、当該ターゲツトホルダと共に囲まれた室が
大気と連通しているシールドボツクス、前記室内
の大気状態と前記真空雰囲気とを遮断するシール
手段、および前記ターゲツトが貫通した状態で前
記室に配置される円筒状の電磁コイル又は永久磁
石を含む。 Further, the sputtering cathode includes a target holder in which the target is provided on an inner circumferential wall surface and a flow path for a fluid for cooling the target is provided therein; a shield box having a chamber communicating with the atmosphere; a sealing means for blocking the atmospheric condition in the chamber from the vacuum atmosphere; and a cylindrical electromagnetic coil or permanent magnet disposed in the chamber with the target passing through it. including.
また、この発明の好適な実施例によれば、前記
シールドボツクスには既製のスパツタリングカソ
ードは当該スパツタリング装置の真空槽内の真空
雰囲気中に配置される。 According to a preferred embodiment of the present invention, a ready-made sputtering cathode is placed in the shield box in a vacuum atmosphere within a vacuum chamber of the sputtering apparatus.
(ホ) 実施例
第1図はこの発明のスパツタリングカソードの
縦断面図を示している。第1図において、符号1
は既製のスパツタリング装置の真空槽壁のフラン
ジであり、このフランジ1にはシールドボツクス
2がボルト3,3によつて取付けられている。シ
ールドボツクス2はターゲツトホルダ4、電磁コ
イル5等のカソード部品が収納可能となるように
収納空間が形成され、さらにこの収納空間と外部
とを連通する円孔2aの軸方向が前記フランジ1
と平行に、円筒2bの軸方向がフランジ1と垂直
に夫々設けられ、この他の部分は収納空間と外部
とはシールドボツクスの壁面によつて隔離されて
いる。前記収納空間には中心磁束密度が100G(ガ
ウス)以上のリング状の電磁コイル5,5又は永
久磁石が収納される。次に、ターゲツトホルダ4
を前記収納空間に収納する。ターゲツトホルダ4
は円孔2aよりもやや小径の円筒状に形成された
ターゲツト装着部4aと、このターゲツト装着部
4aと一体に形成され円筒2bよりも断面径が小
径に成形されたターゲツト支柱部4bとからな
る。ターゲツト装着部4aの外周面両端部にはO
リング6,6が装着され、またターゲツト装着部
4aの内周壁面にはターゲツト7が装着されてい
る。さらに、ターゲツト装着部4aには装着部内
周壁面を囲んで円筒状に流路8が設けられ、この
流路8はターゲツト支柱部4b内に連通して設け
られている。ターゲツト支柱部4bはフランジ1
に設けられている円孔1aを通り真空槽外部へ延
出する。前記流路8には水又は液体窒素等の液体
又は気体が流入され、ターゲツト7に発生する発
熱を防止する。(E) Embodiment FIG. 1 shows a longitudinal sectional view of a sputtering cathode of the present invention. In Figure 1, reference numeral 1
1 is a flange on the wall of a vacuum chamber of a ready-made sputtering device, and a shield box 2 is attached to this flange 1 by bolts 3, 3. A storage space is formed in the shield box 2 so that cathode parts such as a target holder 4 and an electromagnetic coil 5 can be stored therein, and the axial direction of a circular hole 2a that communicates this storage space with the outside is aligned with the flange 1.
The axial direction of the cylinder 2b is provided perpendicularly to the flange 1, and the other portions are separated from the storage space by the wall surface of the shield box. A ring-shaped electromagnetic coil 5, 5 or a permanent magnet having a center magnetic flux density of 100 G (Gauss) or more is housed in the storage space. Next, target holder 4
is stored in the storage space. Target holder 4
The target mounting portion 4a is formed into a cylindrical shape with a diameter slightly smaller than that of the circular hole 2a, and the target support portion 4b is formed integrally with the target mounting portion 4a and has a cross-sectional diameter smaller than that of the cylinder 2b. . At both ends of the outer circumferential surface of the target attachment part 4a, there are O.
Rings 6, 6 are attached, and a target 7 is attached to the inner peripheral wall surface of the target attachment portion 4a. Furthermore, a cylindrical channel 8 is provided in the target mounting section 4a surrounding the inner peripheral wall surface of the mounting section, and this channel 8 is provided in communication with the inside of the target support column 4b. The target support portion 4b is the flange 1
It extends to the outside of the vacuum chamber through a circular hole 1a provided in the vacuum chamber. A liquid or gas such as water or liquid nitrogen flows into the flow path 8 to prevent heat generation in the target 7.
シールドボツクス2とターゲツトホルダ4との
間の間隙には絶縁材質の円筒状のシール部材9,
9が夫々円孔2a,2aを通りターゲツトホルダ
4の装着部4aの両端に嵌合される。ここで、シ
ールド部材9,9のフランジ9a,9aにシール
ドボツクス2が当接する箇所にはOリング10,
10が取付けられている。さらに、シールド部材
9,9は押えキヤツプ11,11によつて押圧さ
れ、シールドボツクス2にボルト12によつて固
定される。押えキヤツプ11,11はその中心に
ターゲツト7の径よりもやや小さい円孔11a,
11aがあり、ターゲツト7内に放電によつて発
生する過剰の電子をこの円孔を通じて接地する役
割を備えている。前記シールドボツクス2の上面
にはOリング13が装着され、さらに蓋体14が
ボルト15,15およびナツトによつて固定され
る。ターゲツト支柱部4bの外周壁面とシールド
ボツクス2の基部内壁との間には絶縁リング16
が介在され、この絶縁リング16を通り電磁コイ
ル5,5のリード線が延出する。シールドボツク
ス2、ターゲツトホルダ4およびシールド部材
9,9によつて囲まれた室17、換言すれば前記
収納空間の一部は電磁コイル5,5の収納部とな
り、この室17は前記絶縁リング16を介して真
空槽外部の大気と連通する。 A cylindrical seal member 9 made of an insulating material is provided in the gap between the shield box 2 and the target holder 4.
9 pass through the circular holes 2a, 2a, respectively, and are fitted to both ends of the mounting portion 4a of the target holder 4. Here, an O-ring 10,
10 is installed. Further, the shield members 9, 9 are pressed by presser caps 11, 11 and fixed to the shield box 2 with bolts 12. The presser caps 11, 11 have a circular hole 11a, which is slightly smaller in diameter than the target 7, in the center.
11a, which has the role of grounding excess electrons generated in the target 7 by discharge through this circular hole. An O-ring 13 is attached to the upper surface of the shield box 2, and a lid 14 is further fixed with bolts 15, 15 and nuts. An insulating ring 16 is provided between the outer peripheral wall surface of the target support column 4b and the inner wall of the base of the shield box 2.
is interposed therebetween, and the lead wires of the electromagnetic coils 5, 5 extend through this insulating ring 16. A chamber 17 surrounded by the shield box 2, the target holder 4, and the shield members 9, 9, in other words, a part of the storage space serves as a storage section for the electromagnetic coils 5, It communicates with the atmosphere outside the vacuum chamber through.
上記構成のスパツタリングカソードは既製のス
パツタリング装置の真空槽内の真空雰囲気中に取
付けられる。しかして、上記スパツタリングカソ
ードを囲む空間及びターゲツト7に接する空間は
真空雰囲気中におかれる。この真空雰囲気の空間
と室17内の大気圧の空間との間は前記Oリング
6,6,10,10、シール部材9,9のシール
手段によつて気密に離隔されている。ターゲツト
7の中心軸線上には直径5mm以下の細い線材から
なる基板18が配置される。この基板18には連
続運転用の送り巻取装置(図示せず)が取り付け
られている。 The sputtering cathode configured as described above is installed in a vacuum atmosphere in a vacuum chamber of a ready-made sputtering device. Thus, the space surrounding the sputtering cathode and the space in contact with the target 7 are placed in a vacuum atmosphere. This vacuum atmosphere space and the atmospheric pressure space in the chamber 17 are airtightly separated by the sealing means of the O-rings 6, 6, 10, 10 and seal members 9, 9. A substrate 18 made of a thin wire with a diameter of 5 mm or less is placed on the central axis of the target 7. A feeding and winding device (not shown) for continuous operation is attached to this substrate 18.
スパツタリングを行うには真空槽を接地すると
共に、ターゲツト7に負の直流又は高周波電圧を
印加する。このとき基板18にはスパツタリング
用の電圧は印加されない。一方、電磁コイル5,
5を通過すると共に流路8に水を流入してターゲ
ツト7を冷却する。ターゲツト7の円筒内部には
放電が励起され、これによつて生成された電子は
電磁コイル5,5の働きにより螺線運動を行い、
一方側のキヤツプ11の円孔11aの方向へと移
動してアースされる。この放電により生成される
陽子はターゲツト7に衝突して原子を発生させ、
この原子は基板18に堆積して薄膜を形成する。
この発生した原子が基板18に運動する距離は短
かく、しかも円筒状のターゲツト7により基板1
8の全面に均一に原子が堆積されるから、見掛け
上のスパツタリング速度も速くなり、純度の高い
薄膜が形成される。 To perform sputtering, the vacuum chamber is grounded and a negative direct current or high frequency voltage is applied to the target 7. At this time, no sputtering voltage is applied to the substrate 18. On the other hand, the electromagnetic coil 5,
5 and flows into the flow path 8 to cool the target 7. A discharge is excited inside the cylinder of the target 7, and the electrons generated thereby perform a spiral motion due to the action of the electromagnetic coils 5, 5.
It moves toward the circular hole 11a of the cap 11 on one side and is grounded. The protons generated by this discharge collide with the target 7 and generate atoms,
The atoms are deposited on substrate 18 to form a thin film.
The distance that these generated atoms move toward the substrate 18 is short, and the cylindrical target 7 allows them to move toward the substrate 18.
Since the atoms are uniformly deposited over the entire surface of the substrate 8, the apparent sputtering speed becomes faster and a highly pure thin film is formed.
また、この実施例のように、既製のスパツタリ
ング装置にも自由に取り付け可能に構成すると、
既製のスパツタリング装置の真空層、電気系統等
の設備をそのまま利用することができて安価であ
り、細い線材に薄膜を形成する場合に本スパツタ
リングカソードを取り付け、それ以外の用途には
そのまま既製の装置を利用できる。 In addition, if it is configured so that it can be freely attached to a ready-made sputtering device as in this example,
It is inexpensive because the equipment such as the vacuum layer and electrical system of an off-the-shelf sputtering device can be used as is, and this sputtering cathode can be attached when forming a thin film on a thin wire, and for other purposes, it can be used as is. equipment is available.
(ヘ) 効果
この発明のスパツタリングカソードは、直径5
mm以下の細い線材に薄膜を形成する場合に、効率
良くしかも均一に高い純度で形成でき、薄膜が形
成される見掛けのスパツタリング速度も速くな
る。しかも、線材には電圧を印加しない状態で放
電が励起されるから、線材が絶縁材料である場合
も薄膜形成を支障なく行うことができる。また、
電磁コイルが配置された室は大気圧に保たれるか
ら、電磁コイル通電による発熱、コイルからのガ
ス発生を放生でき、しかもこの室は真空雰囲気の
空間と気密にシールされている。また、スパツタ
リングカソード全体が細い線材に適合するために
小型に構成されるから運搬に便利である。(F) Effect The sputtering cathode of this invention has a diameter of 5
When forming a thin film on a thin wire of mm or less, it can be formed efficiently and uniformly with high purity, and the apparent sputtering speed at which the thin film is formed becomes faster. Moreover, since the discharge is excited in a state where no voltage is applied to the wire, thin film formation can be performed without any problem even when the wire is made of an insulating material. Also,
Since the chamber in which the electromagnetic coil is placed is maintained at atmospheric pressure, the heat generated by energizing the electromagnetic coil and the gas generated from the coil can be released, and this chamber is hermetically sealed from the vacuum atmosphere space. In addition, since the entire sputtering cathode is constructed in a small size to fit a thin wire, it is convenient to transport.
第1図はこの発明の実施例を示す縦断面図、第
2図、第3図および第4図は夫々従来のスパツタ
リング装置の概略要部構成図である。
1……フランジ、2……シールドボツクス、4
……ターゲツトホルダ、5……電磁コイル、6,
10,13……Oリング、7……ターゲツト、8
……流路、9……シール部材、11……押えキヤ
ツプ、14……蓋体、16……絶縁リング、17
……室、18……基板。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing an embodiment of the present invention, and FIGS. 2, 3, and 4 are schematic views of the main parts of a conventional sputtering apparatus. 1...flange, 2...shield box, 4
...Target holder, 5...Electromagnetic coil, 6,
10, 13...O-ring, 7...Target, 8
... Channel, 9 ... Seal member, 11 ... Presser cap, 14 ... Lid body, 16 ... Insulation ring, 17
...Chamber, 18...Substrate.
Claims (1)
圧を印加してこの円筒内部に放電を励起し、この
ターゲツト内に配置されたスパツタリング用に電
圧の印加されて無い線材に薄膜を形成するスパツ
タリングカソードにおいて、 前記ターゲツトが内周壁面に設けられると共に
前記ターゲツトを冷却する流体の流路が内部に設
けられたターゲツトホルダと、このターゲツトホ
ルダを包囲し当該ターゲツトホルダと共に囲まれ
た室が大気と連通しているシールドボツクスと、
前記室内の大気状態と前記真空雰囲気とを遮断す
るシール手段と、前記ターゲツトが貫通した状態
で前記室に配置される円筒状の電磁コイル又は永
久磁石とを備え、直径5mm以下の前記線材の薄膜
形成に適合した大きさに構成されてなるスパツタ
リングカソード。 2 前記シールドボツクスには既製のスパツタリ
ング装置に取付けられる取付手段が設けられ、以
つて当該スパツタリング装置の真空槽内の真空雰
囲気中に配置されることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のスパツタリングカソード。[Claims] 1. Applying a voltage to a cylindrical target in a vacuum atmosphere to excite a discharge inside the cylinder, and forming a thin film on a wire rod for sputtering placed within the target to which no voltage is applied. A sputtering cathode comprising: a target holder in which the target is provided on an inner circumferential wall surface and a flow passage for a fluid for cooling the target is provided therein; and a chamber surrounding the target holder and enclosed together with the target holder. A shield box that communicates with the atmosphere,
A thin film of the wire rod having a diameter of 5 mm or less, comprising a sealing means for blocking the atmospheric condition in the room from the vacuum atmosphere, and a cylindrical electromagnetic coil or permanent magnet disposed in the chamber with the target passing through. A sputtering cathode configured to a size suitable for forming. 2. The shield box according to claim 1, wherein the shield box is provided with a mounting means to be attached to a ready-made sputtering device, and is placed in a vacuum atmosphere in a vacuum chamber of the sputtering device. Sputtering cathode.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8915985A JPS61250164A (en) | 1985-04-25 | 1985-04-25 | Sputtering cathode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8915985A JPS61250164A (en) | 1985-04-25 | 1985-04-25 | Sputtering cathode |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61250164A JPS61250164A (en) | 1986-11-07 |
| JPH036220B2 true JPH036220B2 (en) | 1991-01-29 |
Family
ID=13963051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8915985A Granted JPS61250164A (en) | 1985-04-25 | 1985-04-25 | Sputtering cathode |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61250164A (en) |
-
1985
- 1985-04-25 JP JP8915985A patent/JPS61250164A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61250164A (en) | 1986-11-07 |
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Legal Events
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