JPH039404B2 - - Google Patents
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- JPH039404B2 JPH039404B2 JP56214100A JP21410081A JPH039404B2 JP H039404 B2 JPH039404 B2 JP H039404B2 JP 56214100 A JP56214100 A JP 56214100A JP 21410081 A JP21410081 A JP 21410081A JP H039404 B2 JPH039404 B2 JP H039404B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被検査物を放射線(例えばX線)透視
として内部欠陥の有無を判定する透視検査装置に
係り、特に複数の被検査物の搬入、放射線透視お
よび欠陥判定後の払出し等を自動的に行なう透視
検査装置に関する。
として内部欠陥の有無を判定する透視検査装置に
係り、特に複数の被検査物の搬入、放射線透視お
よび欠陥判定後の払出し等を自動的に行なう透視
検査装置に関する。
被検査物の透過X線量は被検査物の種類や密度
に応じて異なる。そこで、被検査物から前記性質
に応じて透過されるX線を光に変換し、さらに撮
像化してテレビジヨンモニタに表示すれば、被検
査物の内部状況を容易に知り得、ひいてはその被
検査物の欠陥の有無を判定することができる。
に応じて異なる。そこで、被検査物から前記性質
に応じて透過されるX線を光に変換し、さらに撮
像化してテレビジヨンモニタに表示すれば、被検
査物の内部状況を容易に知り得、ひいてはその被
検査物の欠陥の有無を判定することができる。
ところで、従来かかる性質を利用して多数の被
検査物を検査する場合、釦操作で位置決めされる
円形テーブルを配置し、先ず人為的手段によつて
複数の被検査物を円形テーブルに載置した後、前
記釦を操作して円形テーブルを回転させ、この位
置でX線を放射して被検査物を透視検査する。そ
して、同様に釦操作を行なつて円形テーブルを回
転させ、前記透視検査の結果に基づいて被検査物
を良品と不良品とに分けて所定の場所又は容器へ
持ち運ぶ構成である。
検査物を検査する場合、釦操作で位置決めされる
円形テーブルを配置し、先ず人為的手段によつて
複数の被検査物を円形テーブルに載置した後、前
記釦を操作して円形テーブルを回転させ、この位
置でX線を放射して被検査物を透視検査する。そ
して、同様に釦操作を行なつて円形テーブルを回
転させ、前記透視検査の結果に基づいて被検査物
を良品と不良品とに分けて所定の場所又は容器へ
持ち運ぶ構成である。
しかし、上記装置は、円形テーブルへの被検査
物の載置および検査後の被検査物の搬出等を人為
的に行なつているので、検査作業の能率低下は否
めない。また、釦を操作する者と被検査物を搬出
入する者が異なるので釦操作の誤りから物品搬入
者が回転機械等に手を挾むことがある。さらに、
良品および不良品の取出しは人間が行なうもので
あるが、このとき選別ミスが発生する等の欠点が
ある。
物の載置および検査後の被検査物の搬出等を人為
的に行なつているので、検査作業の能率低下は否
めない。また、釦を操作する者と被検査物を搬出
入する者が異なるので釦操作の誤りから物品搬入
者が回転機械等に手を挾むことがある。さらに、
良品および不良品の取出しは人間が行なうもので
あるが、このとき選別ミスが発生する等の欠点が
ある。
本発明は上記種々の欠点を除去するためになさ
れたもので、複数の被検査物の搬送、テーブルス
テーシヨン部への搬入、透視検査装置の良否の被
検査物の払出し等の総てを機械的に行ない、かつ
被検査物の寸法が変わつて搬送、搬入および払出
し等を容易に行なえる透視検査装置を提供するこ
とを目的とする。
れたもので、複数の被検査物の搬送、テーブルス
テーシヨン部への搬入、透視検査装置の良否の被
検査物の払出し等の総てを機械的に行ない、かつ
被検査物の寸法が変わつて搬送、搬入および払出
し等を容易に行なえる透視検査装置を提供するこ
とを目的とする。
以下、放射線としてX線を用いた場合の本発明
の一実施例について第1図ないし第11図を参照
して説明する。なお、第1図は被検査物の形状を
示し、第2図は装置全体の面図、第3図は第2図
の装置のAOBの線断面を示し、第4図はテーブ
ルステーシヨン部へ被検査物を搬入する部分の拡
大図である。また、第5図は物品搬送部の被検査
物をテーブルステーシヨン部の所定位置に設置す
るための中継ガイド部材等を示し、第6図は第5
図のX−X線断面図、第7図はテーブルステーシ
ヨン部の内部概念図、第8図はX線透視検査系を
示し、第9図ないし第11図はテーブルステーシ
ヨン部から搬出した被検査物の払出し部分の構成
を示す図である。先ず、第1図は被検査物10の
外観形態を示し、その材質としては例えば鋳鋼等
が使用される。即ち、この被検査物10は、幅
W、半径R1(2R1<W)、奥行Hを持つた半円
弧状体であつて、その半円弧部10aの上面幅方
向には陥部10bが形成されている。半円弧部
10aの厚さはtである。
の一実施例について第1図ないし第11図を参照
して説明する。なお、第1図は被検査物の形状を
示し、第2図は装置全体の面図、第3図は第2図
の装置のAOBの線断面を示し、第4図はテーブ
ルステーシヨン部へ被検査物を搬入する部分の拡
大図である。また、第5図は物品搬送部の被検査
物をテーブルステーシヨン部の所定位置に設置す
るための中継ガイド部材等を示し、第6図は第5
図のX−X線断面図、第7図はテーブルステーシ
ヨン部の内部概念図、第8図はX線透視検査系を
示し、第9図ないし第11図はテーブルステーシ
ヨン部から搬出した被検査物の払出し部分の構成
を示す図である。先ず、第1図は被検査物10の
外観形態を示し、その材質としては例えば鋳鋼等
が使用される。即ち、この被検査物10は、幅
W、半径R1(2R1<W)、奥行Hを持つた半円
弧状体であつて、その半円弧部10aの上面幅方
向には陥部10bが形成されている。半円弧部
10aの厚さはtである。
次に、第2図において20は複数個ごとにまと
めて被検査物10を所定位置に搬送する物品搬送
部である。この物品搬送部20は、ベルトコンベ
ア21と、このベルトコンベア21上に所定間隔
ごとに設置され、例えば5個の被検査物10,…
の各半円弧部10aの内側逆U字部10cが嵌合
されるワークガイ22と、このワークガイド22
にガイドされた被検査物10,…がベルトコンベ
ア21の搬送によつて所定位置に達したときワー
ク有りの信号を出力する光電子スイツチ23と、
更にベルトコンベア21の移動によつて物品搬入
位置で停止した複数の被検査物10,…をテーブ
ルステーシヨン部30側に搬入する搬入プツシヤ
24とで構成されている。なお、被検査物10
は、W、H、R、t等の寸法を異にする複数種類
のものがある。通常、同じ寸法のものを5個ずつ
検査するが、一日のうちには寸法の異なる数種類
の被検査物10を検査することがある。そこで、
上記寸法の異なる被検査物10の搬送に対処する
ため、ベルトコンベア21上のワークガイド22
の半径は被検査物10のうち最も小さい半径R1
に合せて作るのが望ましい。また、ワークガイド
22の長さL1は最とも大きな奥行Hをもつた被
検査物10を5個以上密に並べた大きさとするの
が望ましい。
めて被検査物10を所定位置に搬送する物品搬送
部である。この物品搬送部20は、ベルトコンベ
ア21と、このベルトコンベア21上に所定間隔
ごとに設置され、例えば5個の被検査物10,…
の各半円弧部10aの内側逆U字部10cが嵌合
されるワークガイ22と、このワークガイド22
にガイドされた被検査物10,…がベルトコンベ
ア21の搬送によつて所定位置に達したときワー
ク有りの信号を出力する光電子スイツチ23と、
更にベルトコンベア21の移動によつて物品搬入
位置で停止した複数の被検査物10,…をテーブ
ルステーシヨン部30側に搬入する搬入プツシヤ
24とで構成されている。なお、被検査物10
は、W、H、R、t等の寸法を異にする複数種類
のものがある。通常、同じ寸法のものを5個ずつ
検査するが、一日のうちには寸法の異なる数種類
の被検査物10を検査することがある。そこで、
上記寸法の異なる被検査物10の搬送に対処する
ため、ベルトコンベア21上のワークガイド22
の半径は被検査物10のうち最も小さい半径R1
に合せて作るのが望ましい。また、ワークガイド
22の長さL1は最とも大きな奥行Hをもつた被
検査物10を5個以上密に並べた大きさとするの
が望ましい。
次に、テーブルステーシヨン部30は、物品搬
送部20から搬入ステーシヨンAに搬入された被
検査物10を検査ステーシヨンBまで回転搬送
し、ここでテレビジヨンモニタ等を用いてX線透
視して被検査物10の欠陥有無を判定し、更に被
検査物10を搬出ステーシヨンCまで回転搬送し
て搬出する機能をもつている。而して、このテー
ブルステーシヨン部30には、第2図および第3
図に示すように回転駆動源31によつて例えば
120゜づつ回転される回転テーブル32があり、ま
た回転テーブル32を覆うような状態で形成され
特に検査ステーシヨンBを高所とし必要な部分を
X線しやへい材で覆つたU字状のX線しやへい室
33が設けられている。そして、このX線しやへ
い室33において搬入ステーシヨンAおよび搬出
ステーシヨンCに相応するその上部は内部が見え
るように透明板34,35が覆われ、さらに回転
テーブル32の中心0からある半径をもつテーブ
ル中央部分逆に低所としここに搬出プツシヤ36
が設置されている。
送部20から搬入ステーシヨンAに搬入された被
検査物10を検査ステーシヨンBまで回転搬送
し、ここでテレビジヨンモニタ等を用いてX線透
視して被検査物10の欠陥有無を判定し、更に被
検査物10を搬出ステーシヨンCまで回転搬送し
て搬出する機能をもつている。而して、このテー
ブルステーシヨン部30には、第2図および第3
図に示すように回転駆動源31によつて例えば
120゜づつ回転される回転テーブル32があり、ま
た回転テーブル32を覆うような状態で形成され
特に検査ステーシヨンBを高所とし必要な部分を
X線しやへい材で覆つたU字状のX線しやへい室
33が設けられている。そして、このX線しやへ
い室33において搬入ステーシヨンAおよび搬出
ステーシヨンCに相応するその上部は内部が見え
るように透明板34,35が覆われ、さらに回転
テーブル32の中心0からある半径をもつテーブ
ル中央部分逆に低所としここに搬出プツシヤ36
が設置されている。
次に、このテーブルステーシヨン部30におい
て物品搬送部20から搬入ステーシヨンAに被検
査物10を搬入する場合について第4図ないし第
6図を参照して説明する。この場合、物品搬送部
20にある被検査物10は搬入プツシヤ24によ
つて押出されると、中継ガイド37を介して各ス
テーシヨンA〜Cごとに設置されるマスク38上
に嵌合されるように搬入される。このとき、被検
査物10の寸法Hが変わつても被検査物10の最
外端が常に中心0からR2の位置にあるように設
定される。前記中継ガイド37はテーパ状に形成
され、その左端はワークガイド22の右端と同じ
寸法にし、その右端はマスク38の左端と同じ寸
法にする。なお、マスク38の左側入口部分は被
検査物10が嵌合しやすいように少しテーパを付
けてある。このマスク38は被検査物10にX線
エネルギーを均一に透過させるX線補正機能をも
つたものであつて、被検査物10の形状に合せて
作られかつ被検査物10の逆U字部10cの内面
に密着されるものである。故に、マスク38は被
検査物10の寸法に合つた専用のものを用いる。
従つて、中継ガイド37とマスク38とは被検査
物10の寸法に合せて常にペアで使用される。こ
のため、中継ガイド37とマスク38には第5図
および第6図a,bに示すようなインターロツク
機構が施されている。つまり、中継ガイド37の
右端面にインターロツクピン37aが取着され、
一方、このピン37aと対面するマスク38の左
端面にインターロツク溝38aが設けられてい
る。α,βはその位置関係を示す寸法である。従
つて、α,βの数値を適当に選べば、異なる中継
ガイド37とマスク38との組合せが出来ないよ
うになつている。なお、第4図において39はマ
スク38の右端に直接取り付けられまたは独立し
て位置設定可能なストツパ、40は抜け止め機構
であつてこれは被検査物10の左端が中心0から
常にR2の位置にあるので異なる寸法のものでも
被検査物10を容易に固定できる。なお、回転テ
ーブル32およびそのテーブルの外側の底板上に
は第7図のようにX線しやへいのためのしやへい
板41が立設されている。
て物品搬送部20から搬入ステーシヨンAに被検
査物10を搬入する場合について第4図ないし第
6図を参照して説明する。この場合、物品搬送部
20にある被検査物10は搬入プツシヤ24によ
つて押出されると、中継ガイド37を介して各ス
テーシヨンA〜Cごとに設置されるマスク38上
に嵌合されるように搬入される。このとき、被検
査物10の寸法Hが変わつても被検査物10の最
外端が常に中心0からR2の位置にあるように設
定される。前記中継ガイド37はテーパ状に形成
され、その左端はワークガイド22の右端と同じ
寸法にし、その右端はマスク38の左端と同じ寸
法にする。なお、マスク38の左側入口部分は被
検査物10が嵌合しやすいように少しテーパを付
けてある。このマスク38は被検査物10にX線
エネルギーを均一に透過させるX線補正機能をも
つたものであつて、被検査物10の形状に合せて
作られかつ被検査物10の逆U字部10cの内面
に密着されるものである。故に、マスク38は被
検査物10の寸法に合つた専用のものを用いる。
従つて、中継ガイド37とマスク38とは被検査
物10の寸法に合せて常にペアで使用される。こ
のため、中継ガイド37とマスク38には第5図
および第6図a,bに示すようなインターロツク
機構が施されている。つまり、中継ガイド37の
右端面にインターロツクピン37aが取着され、
一方、このピン37aと対面するマスク38の左
端面にインターロツク溝38aが設けられてい
る。α,βはその位置関係を示す寸法である。従
つて、α,βの数値を適当に選べば、異なる中継
ガイド37とマスク38との組合せが出来ないよ
うになつている。なお、第4図において39はマ
スク38の右端に直接取り付けられまたは独立し
て位置設定可能なストツパ、40は抜け止め機構
であつてこれは被検査物10の左端が中心0から
常にR2の位置にあるので異なる寸法のものでも
被検査物10を容易に固定できる。なお、回転テ
ーブル32およびそのテーブルの外側の底板上に
は第7図のようにX線しやへいのためのしやへい
板41が立設されている。
次に、被検査物10は回転テーブル32によつ
て搬入ステーシヨンAから検査ステーシヨンBに
送られる。ここで、被検査物10は第8図に示す
X線透視検査系を用いて透視検査が行なわれる。
即ち、このX線透視検査系は、被検査物10を挾
んでX線発生器43とイムージ増倍管を含む撮像
部44とが対向して設置され、被検査物10から
透過して得られたX線像をイメージ増倍管で光の
像に変換した後、撮像部44で撮像して第1のテ
レビジヨンモニタ45に表示する。また撮像部4
4の出力はひとまず画像メモリ46に格納した
後、被検査物10が払出しステーシヨンDに来た
とき、第2のテレビジヨンモニタ47に表示す
る。オペレータはこの段階で第2のテレビジヨン
モニタ47を見て良否を判定し釦操作等を行なつ
て後述する払出しプツシヤ等を動作させるもので
ある。なお、第1のテレビジヨンモニタ45は例
えばマスク38の位置調整等を行なうために監視
するものであり、その作用がなければ特に必要と
しない。X線発生器43のX線放射口にはX線シ
ヤツタ48が設けられ、回転テーブル32が回転
する際にはX線シヤツタ48が閉じてテーブル回
転中のX線漏洩を少なくしている。
て搬入ステーシヨンAから検査ステーシヨンBに
送られる。ここで、被検査物10は第8図に示す
X線透視検査系を用いて透視検査が行なわれる。
即ち、このX線透視検査系は、被検査物10を挾
んでX線発生器43とイムージ増倍管を含む撮像
部44とが対向して設置され、被検査物10から
透過して得られたX線像をイメージ増倍管で光の
像に変換した後、撮像部44で撮像して第1のテ
レビジヨンモニタ45に表示する。また撮像部4
4の出力はひとまず画像メモリ46に格納した
後、被検査物10が払出しステーシヨンDに来た
とき、第2のテレビジヨンモニタ47に表示す
る。オペレータはこの段階で第2のテレビジヨン
モニタ47を見て良否を判定し釦操作等を行なつ
て後述する払出しプツシヤ等を動作させるもので
ある。なお、第1のテレビジヨンモニタ45は例
えばマスク38の位置調整等を行なうために監視
するものであり、その作用がなければ特に必要と
しない。X線発生器43のX線放射口にはX線シ
ヤツタ48が設けられ、回転テーブル32が回転
する際にはX線シヤツタ48が閉じてテーブル回
転中のX線漏洩を少なくしている。
次に、被検査物10は回転テーブル32の回転
によつて検査ステーシヨンBから搬出ステーシヨ
ンCに回転搬送される。ここで、物品搬送部20
の被検査物10は搬入プツシヤ24で搬入ステー
シヨンAに搬入され、また搬出ステーシヨンCに
到達した被検査物10は抜け止め機構40が図示
しないシリンダによつて解除される。その後、被
検査物10は搬出プツシヤ36により物品払出し
部50の払出しステーシヨンDに送られる。
によつて検査ステーシヨンBから搬出ステーシヨ
ンCに回転搬送される。ここで、物品搬送部20
の被検査物10は搬入プツシヤ24で搬入ステー
シヨンAに搬入され、また搬出ステーシヨンCに
到達した被検査物10は抜け止め機構40が図示
しないシリンダによつて解除される。その後、被
検査物10は搬出プツシヤ36により物品払出し
部50の払出しステーシヨンDに送られる。
次に、物品払出し部5は、第9図ないし第11
図に示すように搬出プツシヤ36によつて搬出さ
れた被検査物10,…載置する良品払出しシユー
ト51と、装置の適宜な個所に取付けられ良品払
出しシユート51に載置される被検査物10,…
の位置規制を行なうストツパ52と、前述した釦
動作による信号で動作して不良品としての被検査
物10,…を不良品シユート53へ払出す払出し
カム54a〜54eおよびシリンダ55a〜55
eよになる払出しプツシヤ56a〜56eとを備
えている。なお、払出しカム54a〜54eの頭
部は回動可能に軸支されている。図中、57は良
品払出しシユート51に載置された被検査物1
0,…を、ストツパ52と反対側で押える押えプ
ツシヤ、58は払出しステーシヨンDに搬入され
る途中で被検査物10,…を位置規制するストツ
パ、59は良品シユート、60は良品払出しシユ
ート51の一端を下降させてシユート51上に残
つた良品の被検査物10,…を良品シユート59
へ移すシリンダである。
図に示すように搬出プツシヤ36によつて搬出さ
れた被検査物10,…載置する良品払出しシユー
ト51と、装置の適宜な個所に取付けられ良品払
出しシユート51に載置される被検査物10,…
の位置規制を行なうストツパ52と、前述した釦
動作による信号で動作して不良品としての被検査
物10,…を不良品シユート53へ払出す払出し
カム54a〜54eおよびシリンダ55a〜55
eよになる払出しプツシヤ56a〜56eとを備
えている。なお、払出しカム54a〜54eの頭
部は回動可能に軸支されている。図中、57は良
品払出しシユート51に載置された被検査物1
0,…を、ストツパ52と反対側で押える押えプ
ツシヤ、58は払出しステーシヨンDに搬入され
る途中で被検査物10,…を位置規制するストツ
パ、59は良品シユート、60は良品払出しシユ
ート51の一端を下降させてシユート51上に残
つた良品の被検査物10,…を良品シユート59
へ移すシリンダである。
なお、回転テーブル32の中心0と払出しステ
ーシヨンDに搬入された被検査物10,…の後端
との距離R3は常に一定となるように工夫されて
いる。以下、その点について述べている。搬出プ
ツシヤ36のストロークは一定であるので、被検
査物10の後端は常にR3の位置で止まる。しか
し、被検査物10の奥行きHが小さくなつてl2>
5H(第9図参照)となつた場合、ストツパ52と
先頭の被検査物10との間に隙間ができる。従つ
て、ストツパ52は常にl2=5Hとなるように動
く構成としてある。
ーシヨンDに搬入された被検査物10,…の後端
との距離R3は常に一定となるように工夫されて
いる。以下、その点について述べている。搬出プ
ツシヤ36のストロークは一定であるので、被検
査物10の後端は常にR3の位置で止まる。しか
し、被検査物10の奥行きHが小さくなつてl2>
5H(第9図参照)となつた場合、ストツパ52と
先頭の被検査物10との間に隙間ができる。従つ
て、ストツパ52は常にl2=5Hとなるように動
く構成としてある。
次に、被検査物10の奥行きHが変わつても同
一場所の払出しプツシヤ56a〜56eで被検査
物10を払出せる例について述べる。今、第9図
においてl1=l3でかつT2<Hであれば被検査物1
0を順調に払出すことができるが、被検査物10
の奥行きHが変わる度に払出しカム54a〜54
eのピツチl3を変えていては時間がかかる。そ
こで、これを解決するためにピツチl3と払出し
カム54a〜54eの幅T2に工夫してある。即
ち、第12図に示すように被検査物10の奥行き
Hが40mm〜60mmに変わつた場合でも各払出しカム
54a〜54eの幅T2=5mm、ピツチl3を
47.5mmにしておけば、払出しカム54a〜54e
の位置をずらしておくだけで同カム54a〜54
eが確実に被検査物10の側面を叩いて払出すこ
とが可能である。
一場所の払出しプツシヤ56a〜56eで被検査
物10を払出せる例について述べる。今、第9図
においてl1=l3でかつT2<Hであれば被検査物1
0を順調に払出すことができるが、被検査物10
の奥行きHが変わる度に払出しカム54a〜54
eのピツチl3を変えていては時間がかかる。そ
こで、これを解決するためにピツチl3と払出し
カム54a〜54eの幅T2に工夫してある。即
ち、第12図に示すように被検査物10の奥行き
Hが40mm〜60mmに変わつた場合でも各払出しカム
54a〜54eの幅T2=5mm、ピツチl3を
47.5mmにしておけば、払出しカム54a〜54e
の位置をずらしておくだけで同カム54a〜54
eが確実に被検査物10の側面を叩いて払出すこ
とが可能である。
次に、以上ように構成された装置の作用を説明
する。先ず、第1図に示す被検査物10は例えば
5個ずつまとめてベルトコンベア21上のワーク
ガイド22に設置する。この状態において図示し
ない駆動源によりベルトコンベア21が移動し被
検査物10,…が光電子スイツチ23の位置に達
すると、同スイツチ23が動作してワーク有りの
信号を出力する。このワーク有りの信号によりワ
ーク有りと判断すると、更にベルトコンベア21
が移動して被検査物10を所定位置まで搬送す
る。ここで、搬入プツシヤ24が動作して被検査
物10,…を押してテーブルステーシヨン部30
の搬入ステーシヨンAへ送り込む。このとき、中
継ガイド37およびマスク38は被検査物10の
寸法および形状に合つたものが使用される。従つ
て、マスク38は被検査物10の逆U字部10c
に確実に密着されている。
する。先ず、第1図に示す被検査物10は例えば
5個ずつまとめてベルトコンベア21上のワーク
ガイド22に設置する。この状態において図示し
ない駆動源によりベルトコンベア21が移動し被
検査物10,…が光電子スイツチ23の位置に達
すると、同スイツチ23が動作してワーク有りの
信号を出力する。このワーク有りの信号によりワ
ーク有りと判断すると、更にベルトコンベア21
が移動して被検査物10を所定位置まで搬送す
る。ここで、搬入プツシヤ24が動作して被検査
物10,…を押してテーブルステーシヨン部30
の搬入ステーシヨンAへ送り込む。このとき、中
継ガイド37およびマスク38は被検査物10の
寸法および形状に合つたものが使用される。従つ
て、マスク38は被検査物10の逆U字部10c
に確実に密着されている。
次に、搬入ステーションA上の被検査物10,
…は回転テーブル32の回転によつて検査ステー
シヨンBに移される。ここで、被検査物10,…
はX線透視検査に付される。即ち、X線発生器4
3から放射されたX線は被検査物10,…を透過
して撮像部44に含まれるイメージ増倍管の入力
面に入射される。この撮像部44では透過X線像
を光像に変換後、更に映像信号として出力する。
この信号は後続の画像メモリ46に一時格納され
る。
…は回転テーブル32の回転によつて検査ステー
シヨンBに移される。ここで、被検査物10,…
はX線透視検査に付される。即ち、X線発生器4
3から放射されたX線は被検査物10,…を透過
して撮像部44に含まれるイメージ増倍管の入力
面に入射される。この撮像部44では透過X線像
を光像に変換後、更に映像信号として出力する。
この信号は後続の画像メモリ46に一時格納され
る。
次に、回転テーブル32の回転によつて、検査
ステーシヨンBの被検査物10は搬出ステーシヨ
ンCに回転搬送される。ここで、搬出プツシヤ3
6が動作して搬出ステーシヨンC上の被検査物1
0,…を払出しステーシヨンDに送り込む。被検
査物10,…が払出しステーシヨンDに来たと
き、画像メモリ46に蓄積された透視像を続出し
て第2のテレビジヨンモニタ47に表示する。そ
して、このモニタ47により被検査物10,…の
良否を判定し、不良品の被検査物10,…に対応
する釦等を操作する。この釦操作により対応する
払出しプツシヤが動作し払出しカム54a〜54
eを回動させる。払出された不良品の被検査物1
0は不良品シユート53を介して所定の場所又は
容器に移される。残つた良品の被検査物10はリ
ンダ60によつて良品払出しシユート51が下降
傾斜され、これにより良品払出しシユート51上
の被検査物10は良品シユート59を介して所定
の場所又は容器へ移される。このようにして、5
個の被検査物10,…は良品と不良品に分けられ
て払出される。
ステーシヨンBの被検査物10は搬出ステーシヨ
ンCに回転搬送される。ここで、搬出プツシヤ3
6が動作して搬出ステーシヨンC上の被検査物1
0,…を払出しステーシヨンDに送り込む。被検
査物10,…が払出しステーシヨンDに来たと
き、画像メモリ46に蓄積された透視像を続出し
て第2のテレビジヨンモニタ47に表示する。そ
して、このモニタ47により被検査物10,…の
良否を判定し、不良品の被検査物10,…に対応
する釦等を操作する。この釦操作により対応する
払出しプツシヤが動作し払出しカム54a〜54
eを回動させる。払出された不良品の被検査物1
0は不良品シユート53を介して所定の場所又は
容器に移される。残つた良品の被検査物10はリ
ンダ60によつて良品払出しシユート51が下降
傾斜され、これにより良品払出しシユート51上
の被検査物10は良品シユート59を介して所定
の場所又は容器へ移される。このようにして、5
個の被検査物10,…は良品と不良品に分けられ
て払出される。
なお、本発明は上記実施例に限定されるもので
はない。上記実施例ではX線透視について述べた
がX線以外の放射線でもよい。また、第1のテレ
ビジヨンモニタ45と第2のテレビジヨンモニタ
47とを備えているが、第1のテレビジヨンモニ
タ45は必ずしも必要ではない。その他、本発明
はその要旨を逸脱しない範囲で種種変形して実施
できる。
はない。上記実施例ではX線透視について述べた
がX線以外の放射線でもよい。また、第1のテレ
ビジヨンモニタ45と第2のテレビジヨンモニタ
47とを備えているが、第1のテレビジヨンモニ
タ45は必ずしも必要ではない。その他、本発明
はその要旨を逸脱しない範囲で種種変形して実施
できる。
本発明は以上のように構成したので、次のよう
な効果を有する。
な効果を有する。
(1) 複数個の被検査物を同時に搬送、テーブルス
テーシヨン部への搬入、透視検物および搬出を
行なうので、検査作業の能率化に寄与し、また
人間が殆んど手を介さずに一連の工程を完了す
るため人体への危険が非常に少なくなる。
テーシヨン部への搬入、透視検物および搬出を
行なうので、検査作業の能率化に寄与し、また
人間が殆んど手を介さずに一連の工程を完了す
るため人体への危険が非常に少なくなる。
(2) また、透視像を画像メモリに一時記憶し、払
出しステーシヨンに到達したとき続出してテレ
ビジヨンモニタで監視できるので、検査結果の
正確性を高めることができる。
出しステーシヨンに到達したとき続出してテレ
ビジヨンモニタで監視できるので、検査結果の
正確性を高めることができる。
(3) 次に、被検査物の寸法が変わつても僅かの部
材を交換するだけでなく、作業の能率化および
簡素化に大きく貢献できる。
材を交換するだけでなく、作業の能率化および
簡素化に大きく貢献できる。
(4) さらに、従来の回転テーブルは第13図およ
び第14図のように4又は6分割方式であつた
が、本装置のように3分割とすればマスクの数
が減少して経費の節減に寄与し、かつ無駄なス
ペースがなくなつてコンパクトに実現できる。
つまり、4分割方式では物品搬入口から検査系
までは遠いが、この検査系から搬出口まで非常
に近くなる。また、6分割方式では検査系まで
は4分割と同じであるが、検査系から搬出口ま
では更に近くなる。従つて、その分だけX線し
やへいを施す必要があり、マスクも多くなる欠
点があり、本装置はかかる不具合を解決でき
る。
び第14図のように4又は6分割方式であつた
が、本装置のように3分割とすればマスクの数
が減少して経費の節減に寄与し、かつ無駄なス
ペースがなくなつてコンパクトに実現できる。
つまり、4分割方式では物品搬入口から検査系
までは遠いが、この検査系から搬出口まで非常
に近くなる。また、6分割方式では検査系まで
は4分割と同じであるが、検査系から搬出口ま
では更に近くなる。従つて、その分だけX線し
やへいを施す必要があり、マスクも多くなる欠
点があり、本装置はかかる不具合を解決でき
る。
第1図a,bないし第11図は本発明に係る透
視検査装置の一実施例を示す図であつて、第1図
a,bは被検査物の正面図および側面図、第2図
は装置全体の平面図、第3図は第2図のAOB矢
視断面図、第4図はテーブルステーシヨン部の物
品搬入部分を拡大して示す図、第5図および第6
図a,bは第4図に示す中継ガイドとマスクとの
関係を説明する図であつて、第5図は上面図、第
6図aは第5図のX−X矢視図、6図bは第5図
のY−Y矢視図、第7図はX線しやへい室の内部
のしやへい状態を示す図、第8図はX線透視検査
系の構成図、第9図は払出しステーシヨンの概略
平面図、第10図は払出しプツシヤの側面図、第
11図は払出しステーシヨンの一部断面として示
す側面図、第12図は被検査物の寸法と払出しカ
ムとの関係を説明する図、第13図および第14
図はそれぞれ従来の回転テーブルの分割方式を説
明する図である。 10……被検査物、20……物品搬送部、21
……ベルトコンベア、22……ワークガイド、2
4……搬入プツシヤ、A……搬入ステーシヨン、
B……検査ステーシヨン、C……搬出ステーシヨ
ン、D……払出しステーシヨン、30……テーブ
ルステーシヨン部、32……回転テーブル、33
……X線しやへい室、36……搬出プツシヤ、3
7……中継ガイド、38……マスク、43……X
線発生器、44……撮像部、46……画像メモ
リ、47……第2のテレビジヨンモニタ、50…
…物品払出し部、51……良品払出しシユート、
56a〜56e……払出しプツシヤ。
視検査装置の一実施例を示す図であつて、第1図
a,bは被検査物の正面図および側面図、第2図
は装置全体の平面図、第3図は第2図のAOB矢
視断面図、第4図はテーブルステーシヨン部の物
品搬入部分を拡大して示す図、第5図および第6
図a,bは第4図に示す中継ガイドとマスクとの
関係を説明する図であつて、第5図は上面図、第
6図aは第5図のX−X矢視図、6図bは第5図
のY−Y矢視図、第7図はX線しやへい室の内部
のしやへい状態を示す図、第8図はX線透視検査
系の構成図、第9図は払出しステーシヨンの概略
平面図、第10図は払出しプツシヤの側面図、第
11図は払出しステーシヨンの一部断面として示
す側面図、第12図は被検査物の寸法と払出しカ
ムとの関係を説明する図、第13図および第14
図はそれぞれ従来の回転テーブルの分割方式を説
明する図である。 10……被検査物、20……物品搬送部、21
……ベルトコンベア、22……ワークガイド、2
4……搬入プツシヤ、A……搬入ステーシヨン、
B……検査ステーシヨン、C……搬出ステーシヨ
ン、D……払出しステーシヨン、30……テーブ
ルステーシヨン部、32……回転テーブル、33
……X線しやへい室、36……搬出プツシヤ、3
7……中継ガイド、38……マスク、43……X
線発生器、44……撮像部、46……画像メモ
リ、47……第2のテレビジヨンモニタ、50…
…物品払出し部、51……良品払出しシユート、
56a〜56e……払出しプツシヤ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 搬送体上に所要の間隔をもつてワークガイド
が配置され、これらのワークガイドに被検査物を
複数個ずつ並置して所定位置まで搬送した後、第
1の押出し体を用いて前記複数個の被検査物を押
出す物品搬送部と、内側にマスクを設置した回転
テーブルが設置され、かつ、この回転テーブル上
の必要な箇所がしやへい材で覆われた放射線しや
へい室と、前記第1の押出し体によつて押出され
た前記ワークガイドに並置された複数個の被検査
物を中継して前記回転テーブルのマスクに導く中
継ガイドと、この中継ガイドを経由してマスクに
設置された複数個の被検査物を、前記回転テーブ
ルの回転によつて検査ステーシヨン位置まで搬送
し、ここで放射線の照射によつて透視像を得る放
射線透視検査系と、この放射線透視後、回転テー
ブルの回転によつて前記複数個の被検査物が搬出
ステーシヨン位置に到達したとき、第2の押出し
体により前記複数個の被検査物を搬出する搬出手
段と、この搬出手段によつて搬出された複数個の
被検査物を、前記放射線透視検査系による被検査
物の欠陥有無に応じて異なる払出し経路に払出す
物品払出し部とを備えたことを特徴とする透視検
査装置。 2 ワークガイドは、複数種類の被検査物のうち
最とも寸法の小さいものに嵌合されるように形成
されている特許請求の範囲第1項記載の透視検査
装置。 3 中継ガイドは被検査物入り側を前記ワークガ
イドの寸法に、被検査物出側を前記マスクの寸法
に合うようにテーパ状に形成されている特許請求
の範囲第1項記載の透視検査装置。 4 中継ガイドとマイクはインタロツク機構によ
つて結合されている特許請求の範囲第1項および
第3項の何れかに記載する透視検査装置。 5 物品払出し部は、各被検査物に対応する複数
の払出しカムおよび複数のシリンダよりなり、不
良品の被検査物に対応するシリンダおよび払出し
カムが動作してその被検査物を払出すようにした
特許請求の範囲第1項記載の透視検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56214100A JPS58113740A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 透視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56214100A JPS58113740A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 透視検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113740A JPS58113740A (ja) | 1983-07-06 |
| JPH039404B2 true JPH039404B2 (ja) | 1991-02-08 |
Family
ID=16650220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56214100A Granted JPS58113740A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 透視検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113740A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02269944A (ja) * | 1989-04-11 | 1990-11-05 | Toyoda Gosei Co Ltd | X線透視検査装置 |
| JPH0488508U (ja) * | 1990-12-13 | 1992-07-31 |
-
1981
- 1981-12-26 JP JP56214100A patent/JPS58113740A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58113740A (ja) | 1983-07-06 |
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