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JPH0416749B2 - - Google Patents
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JPH0416749B2 - - Google Patents

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JPH0416749B2
JPH0416749B2 JP57112447A JP11244782A JPH0416749B2 JP H0416749 B2 JPH0416749 B2 JP H0416749B2 JP 57112447 A JP57112447 A JP 57112447A JP 11244782 A JP11244782 A JP 11244782A JP H0416749 B2 JPH0416749 B2 JP H0416749B2
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voltage
display
circuit
resistor
battery
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Kosuraaru Manfureeto
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Original Assignee
Siemens Corp
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Publication date
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Publication of JPH0416749B2 publication Critical patent/JPH0416749B2/ja
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    • G01R31/54Testing for continuity

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ケーブルにより接続されており接触
テイツプを備えておりかつ接触テイツプの後に接
続された各1つの高抵抗の直列抵抗器を含んでい
る2つのグリツプから成り、これらのグリツプの
一方が、電圧範囲(たとえば6、12、24、50、
110、220、380、660V)に割当てられた表示ステ
ツプの光表示素子と、場合によつては設けられて
いる音響信号発生器を駆動し得る発振器と、両直
列抵抗器により制限された入力電流を増幅し内蔵
の電池をスイツチオンし電池からの表示電流によ
り試験対象電圧のステツプ表示および場合によつ
てはその極性の表示ならびに音響信号発生器のス
イツチオンを可能にする緩衝増幅器とを含んでい
る電圧およびその極性の表示および導通試験用の
試験装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The invention consists of two grips connected by a cable and provided with a contact tape and each containing a high resistance series resistor connected after the contact tape, One of these grips has a voltage range (e.g. 6, 12, 24, 50,
110, 220, 380, 660 V) and an oscillator capable of driving the optical display element of the display step assigned to the display step and an optionally provided acoustic signal generator and an input current limited by both series resistors. a buffer amplifier which amplifies the voltage and switches on the built-in battery and allows step display of the voltage under test and possibly its polarity as well as switching on of the acoustic signal generator by means of the display current from the battery. and a test device for its polarity display and continuity test.

このような試験装置は“Weidmuller UlT”と
いう名称で市販されており、Weidmuller社のカ
タログ“U1T Sicherheix X7”に記載されてい
る。このカタログは1980年のHannover−Messe
で初めて一般に配布された(雑誌“etz”第102巻
(1981年)第14号、第747頁をも参照)。
Such a test device is commercially available under the name "Weidmuller UlT" and is described in the Weidmuller catalog "U1T Sicherheix X7". This catalog is from the 1980 Hannover-Messe
It was distributed to the public for the first time (see also the magazine “etz”, Vol. 102 (1981), No. 14, p. 747).

この公知の試験装置は上記の(ただし660Vを
除く)電圧範囲内の試験対象電圧をステツプ状に
表示する。両グリツプ内におさめられた接触テイ
ツプの後に接続されている直列抵抗器は各5MΩ
の抵抗値、すなわち合計して10MΩの抵抗値を有
する。試験対象電圧により流れる電流(試験電
流)と試験対象電圧のステツプ表示のため表示素
子に流される電流(表示電流)とは緩衝増幅器に
より隔てられている。試験対象電圧により生じ両
直列抵抗器により制限された試験電流が緩衝増幅
器に与えられる。表示素子に流される表示電流は
試験装置に内蔵の電池(12V)から供給され、緩
衝増幅器内のトランジスタによりスイツチオンさ
れる。
This known test device displays the voltage to be tested within the above voltage range (excluding 660V) in steps. The series resistors connected after the contact tapes housed in both grips are each 5MΩ.
, or a total resistance of 10 MΩ. A buffer amplifier separates the current flowing due to the voltage under test (test current) from the current flowing through the display element for step display of the voltage under test (display current). A test current generated by the voltage under test and limited by both series resistors is applied to the buffer amplifier. The display current flowing through the display element is supplied from a battery (12V) built into the test equipment, and is switched on by a transistor in a buffer amplifier.

公知の試験装置は1980年4月10日付ドイツ連邦
共和国特許出願第3013788号(ヨーロツパ特許出
願第0038043号と同一)明細書に記載されている
信号発生器を含んでいる。この信号発生器(ブザ
ー)は3つの電極を有する圧電セラミツク板を含
んでいる。2つの励振電極に励振電圧が与えら
れ、また第3の電極(帰還電極)で発生信号が音
響的に取出され抵抗を介して増幅器の入力側に与
えられる。こうして電気−音響的帰還による可聴
周波数信号発生器が構成され、その基本周波数は
圧電セラミツク板の振動パラメータにより定めら
れる。この信号発生器と接続されているコイルは
音の強さを高める役割をする。
A known test device includes a signal generator as described in German Patent Application No. 3013788 (identical to European Patent Application No. 0038043) of April 10, 1980. This signal generator (buzzer) includes a piezoceramic plate with three electrodes. An excitation voltage is applied to the two excitation electrodes, and a generated signal is acoustically extracted at the third electrode (return electrode) and applied to the input side of the amplifier via a resistor. An audio frequency signal generator with electro-acoustic feedback is thus constructed, the fundamental frequency of which is determined by the vibration parameters of the piezoceramic plate. A coil connected to this signal generator serves to increase the intensity of the sound.

公知の試験装置では、個々の表示ステツプが3
つの群に分割されている。6V以上、12V未満の
試験対象電圧を表示する表示ステツプは同時に直
流電圧の極性を表示する役割をする。交流電圧の
場合には、負極性表示用の発光ダイオードも正極
性表示用の発光ダイオードも同時に発光する。
In the known test device, the individual display steps are
divided into two groups. The display step for displaying the test voltage of 6V or more and less than 12V also serves to display the polarity of the DC voltage. In the case of AC voltage, both the light emitting diode for negative polarity display and the light emitting diode for positive polarity display emit light at the same time.

12V以上、24V未満;24V以上、50V未満およ
び50V以上、110V未満の電圧範囲に対する表示
ステツプは1つの縦続回路を構成し、また110V
以上、220V未満;220V以上、380V未満および
380V以上の電圧範囲に対する表示ステツプは他
の1つの縦続回路を構成している。
12V or more, less than 24V; display steps for voltage ranges of 24V or more, less than 50V and 50V or more, less than 110V constitute one cascade circuit, and 110V
220V or more, less than 220V; 220V or more, less than 380V and
The display step for voltage ranges above 380V constitutes another cascade circuit.

これらの電圧表示用縦続回路内には分圧器、ト
ランジスタおよび発光ダイオードがドイツ連邦共
和国特許出願第2846675号(米国特許出願第
4301407号およびヨーロツパ特許出願第0011711号
と同一)明細書に記載されているように接続され
ている。この場合、複数個の抵抗から成る分圧器
の個々の分圧点が各表示ステツプに対応づけられ
ているトランジスタのベースと接続されており、
これらのトランジスタのエミツタは発光ダイオー
ドとして構成された光表示素子を介して隣接トラ
ンジスタのエミツタと接続されており、またこれ
らのトランジスタのコレクタは一括して共通の電
圧源に接続されている。
Voltage dividers, transistors and light-emitting diodes are included in these cascade circuits for voltage indication as described in German Patent Application No. 2846675 (U.S. Patent Application No.
4301407 and European Patent Application No. 0011711). In this case, the individual voltage dividing points of the voltage divider consisting of a plurality of resistors are connected to the base of the transistor associated with each display step,
The emitters of these transistors are connected to the emitters of adjacent transistors via a light display element configured as a light emitting diode, and the collectors of these transistors are collectively connected to a common voltage source.

公知の試験装置は1つの押ボタン・スイツチを
有し、その休止装置では試験装置は電圧試験の役
割をする。この押ボタン・スイツチが動作位置に
切換えられた状態では、ドイツ連邦共和国特許第
2756830号明細書(米国特許第4210862号明細書の
第7図および第8図も参照)によるケース内にお
さめられて電池がスイツチオンされるので、接触
テイツプの間に試験対象導体が存在する場合には
その導通試験が行なわれ得る。また、両接触テイ
ツプを互いに直接接触させた場合には、電池(定
格電圧は12V)、信号発生器および極性表示用表
示素子の健全性に関する試験装置の点検が行なわ
れ得る。それ以外の機能の健全性に関する自己点
検は公知の試験装置では可能でない。
The known test device has one pushbutton switch, in which the test device serves as a voltage test. When this pushbutton switch is switched to the operating position, it is
2,756,830 (see also FIGS. 7 and 8 of U.S. Pat. No. 4,210,862), the battery is switched on when placed in a case, so that the battery is switched on when the conductor under test is present between the contact tapes. can be tested for continuity. Furthermore, when both contact tapes are brought into direct contact with each other, the testing device can be inspected for the health of the battery (rated voltage is 12V), signal generator, and polarity display element. Self-checks regarding the soundness of other functions are not possible with known test equipment.

冒頭に記載した種類の試験装置、すなわち2つ
のグリツプから成る高抵抗の試験装置では、第一
に試験装置の使用者の安全を確保するため、第二
に一義的な表示を行ないかつ取扱いを容易とする
ため、下記のような多くの必要条件が満足されな
ければならない。
Test devices of the type mentioned at the outset, i.e. high-resistance test devices consisting of two grips, require, firstly, the safety of the user of the test device and, secondly, a unique marking and ease of handling. For this to happen, a number of requirements must be met, such as:

(1) 試験装置の内部抵抗が、一方の接触テイツプ
に使用者が接触しても安全であるように、十分
に高い(500kΩ以上の)値を有すること。
500kΩ以上の内部抵抗を有する試験装置では、
対地交流電圧が220Vの場合、一方の接触テイ
ツプに電圧が印加されている状態で他方の接触
テイツプに使用者が接触しても安全であるとい
う利点が得られる(接触安全性)。
(1) The internal resistance of the test device shall be sufficiently high (500 kΩ or more) so that it is safe for the user to touch one of the contact tapes.
For test equipment with an internal resistance of 500kΩ or more,
When the AC voltage to ground is 220 V, the advantage is that it is safe for the user to touch one contact tape while the other contact tape is energized (touch safety).

(2) 内部抵抗を高くすれば試験電流が微小になる
が、それにもかかわらず電圧の存在を一義的に
明るく表示し得ること。内部抵抗が高いこと
は、電圧源が高抵抗の場合にも測定誤差がほと
んど生じないことを保証し、また(1)にあげた接
触安全性を保証する。
(2) If the internal resistance is increased, the test current becomes minute, but the presence of voltage can be clearly and clearly displayed regardless of this. The high internal resistance ensures that there are almost no measurement errors even when the voltage source has high resistance, and also guarantees the contact safety listed in (1).

(3) 試験装置の内部抵抗が高いことから、表子素
子に対して試験対象電圧とは別の電圧源が用意
されていること、すなわち試験電流そのものを
表示電流として利用していないこと。
(3) Since the internal resistance of the test equipment is high, a voltage source separate from the voltage to be tested must be provided for the front element, that is, the test current itself must not be used as the display current.

(4) 内部抵抗が高くかつ場合によつては高耐電圧
の抵抗を使用しており、試験対象回路に尖頭電
圧が生起した際にも絶縁破壊により使用者を危
険にさらさないこと。
(4) Resistors with high internal resistance and, in some cases, high withstand voltage, are used so that even if a peak voltage occurs in the circuit under test, the user will not be endangered by dielectric breakdown.

(5) 高抵抗の直列抵抗器が表示素子を含むグリツ
プにも他のグリツプにも配置されており、両グ
リツプを接続しているケーブルがなんらかの原
因で断線した場合にも、使用者の安全を保証し
得ること。
(5) High-resistance series resistors are placed in both the grip containing the display element and other grips to ensure the safety of the user even if the cable connecting both grips breaks for some reason. What can be guaranteed.

(6) 十分に明るい光による表示と十分に大きな音
による表示とが行なわれること。
(6) Display with sufficiently bright light and sufficiently loud sound.

(7) 考えられる誤操作に対して安全であること。
誤操作としては、先に(1)にあげたように、一方
の接触テイツプに電圧が印加されている状態で
他方の接触テイツプに使用者が接触する場合が
考えられる。このような場合にも、使用者の安
全を保てるように試験装置の内部抵抗が高くな
ければならないことは前記のとおりである。さ
らに、誤操作としては、接触テイツプに高電圧
(たとえば配電電圧)が印加されている状態で
導通試験または自己点検用の押ボタンスイツチ
が押される場合が考えられる。このような場合
にも、試験装置および使用者に危険を及ぼさ
ず、しかも印加電圧を一義的に表示し得なけれ
ばならない。
(7) Be safe against possible erroneous operation.
As mentioned in (1) above, an erroneous operation may occur when a user contacts one contact tape while voltage is being applied to the other contact tape. Even in such a case, as described above, the internal resistance of the test device must be high so as to maintain the safety of the user. Furthermore, an erroneous operation may occur when a push button switch for continuity testing or self-inspection is pressed while a high voltage (eg, power distribution voltage) is being applied to the contact tape. Even in such a case, it must be possible to unambiguously display the applied voltage without posing any danger to the test equipment or the user.

(8) 電池を内蔵する試験装置では、電池電圧の自
己点検が可能であること。
(8) Test equipment with a built-in battery must be capable of self-checking the battery voltage.

(9) 電池電圧の自己点検とならんで、導通試験モ
ードで両接触テイツプを互いに直接接触させれ
ば、極性表示素子および電池電圧に対応する電
圧表示素子の健全性に関する点検も可能である
こと。
(9) In addition to self-checking the battery voltage, it is also possible to check the health of the polarity display element and the voltage display element corresponding to the battery voltage by bringing both contact tapes into direct contact with each other in continuity test mode.

(10) 電池のスイツチオンが自動的に行なわれ、使
用者がスイツチオンを忘れて試験装置を使用す
るおそれが回避されていること。
(10) The battery is automatically switched on to avoid the risk of the user forgetting to switch it on and using the test equipment.

(11) 電圧試験の前またはその最中に各表示ステ
ツプの機能の点検が可能であること。
(11) It shall be possible to check the functionality of each display step before or during the voltage test.

(12) 表示機能(光によるステツプ表示および音
による信号発生)の点検だけでなく、両グリツ
プを接続するケーブルの健全性および表示機能
なしの試験グリツプ内の回避の健全性の点検も
可能であること。
(12) In addition to checking the display function (light step display and sound signal generation), it is also possible to check the integrity of the cable connecting both grips and the integrity of the avoidance in the test grip without display function. thing.

(13) 電圧範囲380Vの上側にもう1つの電圧範囲
としてたとえば660Vの表示が可能であること。
(13) It is possible to display another voltage range, for example 660V, above the voltage range of 380V.

(14) 高い(600kΩ以上の)入力内部抵抗を一時
的に低くすることも可能であること。
(14) It must be possible to temporarily lower the high (600kΩ or more) input internal resistance.

英国特許第1562578号、米国特許第4210862号お
よびドイツ連邦共和国特許第2734833号の明細書
などから、電圧および導通試験用の低抵抗の試験
装置において、休止装置では電圧試験、または動
作位置では導通試験を可能にする押ボタンスイツ
チにゼナダイオードを並列に接続することは公知
であり、この対策によれば、上記の必要条件(7)の
うち、電圧印加状態で押ボタンスイツチを誤つて
押した場合に対する安全性は保証される。
From the specifications of British Patent No. 1562578, US Patent No. 4210862 and German Patent No. 2734833, etc., in a low resistance test device for voltage and continuity testing, voltage testing in the rest device or continuity testing in the operating position It is known to connect a Zena diode in parallel with a pushbutton switch to enable Safety against is guaranteed.

また、上記の必要条件のうち(1)ないし(4)および
(8)ないし(10)は、ドイツ連邦共和国特許出願第
3004734号明細書に記載されているねじ回わしの
形態の試験装置によつても満足される。しかし、
この試験装置は単極形であり、ステツプ表示に適
しておらず、また他の必要条件を満足していな
い。
In addition, among the above requirements (1) to (4) and
(8) to (10) are patent applications of the Federal Republic of Germany.
This is also satisfied by the test device in the form of a screwdriver, as described in document No. 3004734. but,
This test device is monopolar, not suitable for step display, and does not meet other requirements.

上記および公知の試験装置は上記必要条件の(1)
ないし(10)しか満足していない。すなわち、必要条
件(13)(電圧範囲380Vの上側に表示ステツプを
追加すること)を満足することは不可能であり、
また必要条件(11)、(12)および(14)を満足す
るのに適していない。
The above and known test equipment meet the requirements (1) above.
I am only satisfied with (10). In other words, it is impossible to satisfy requirement (13) (adding a display step above the voltage range of 380V).
Also, it is not suitable to satisfy requirements (11), (12), and (14).

本発明の目的は、上記の必要条件のすべてを満
足し得るように、冒頭に記載した種類の試験装置
を改良することである。
The aim of the invention is to improve a test device of the type mentioned at the outset in such a way that it is able to meet all of the above requirements.

この目的は本発明によれば、冒頭に記載した試
験装置において、 (イ) 発振器により給電されて、電池により制限さ
れた発振器電圧を高める役割をする昇圧回路が
設けられており、 (ロ) 開閉要素を介して昇圧回路の出力側に接続さ
れており、この開閉要素が休止位置にある間は
昇圧回路の出力電圧により充電されるエネルギ
ー蓄積装置特にコンデンサの形態のエネルギー
蓄積装置が設けられており、 (ハ) エネルギー蓄積装置の充電の際に休止位置に
あり開閉要素が、エネルギー蓄積装置内に存在
する電荷を緩衝増幅器の入力側に与えそれによ
り試験装置のすべての表示機能の健全性を順次
に点検するため動作位置に切換可能であり、 (ニ) 発振器が、上側電圧範囲(110V以上)内の
試験対象電圧の表示素子に与える表示電流も下
側電圧測定範囲(6V以上、110V未満)内の試
験対象電圧の表示素子に与える表示電流も短時
間間欠的にスイツチする(すなわちチヨツプす
る)トランジスタのベースと接続されており、 (ホ) 休止装置ではゼナダイオードを橋絡している
別の開閉要素が設けられており、この開閉要素
を動作位置に切換えた状態で電池のスイツチオ
ンにより、両接触テイツプの間に試験対象導体
が存在する場合にはその導通試験が行なわれ、
または両接触テイツプを互いに直接接触させた
場合には電池、音響信号発生器、極性表示用光
表示素子および電池電圧に対応する電圧表示用
光表示素子の健全性に関する試験装置の点検と
エネルギー蓄積装置内のコンデンサの充電とが
行なわれることを特徴とする電圧およびその極
性の表示および導通試験用の試験装置により達
成される。
According to the invention, this purpose is achieved by providing the test device mentioned at the beginning, (a) a step-up circuit that is supplied with power by the oscillator and serves to increase the oscillator voltage limited by the battery; An energy storage device, in particular in the form of a capacitor, is provided which is connected via an element to the output side of the booster circuit and which is charged by the output voltage of the booster circuit while this switching element is in the rest position. (c) The switching element, which is in the rest position during charging of the energy storage device, transfers the charge present in the energy storage device to the input side of the buffer amplifier, thereby sequentially verifying the integrity of all display functions of the test device. (d) The display current that the oscillator gives to the display element of the voltage under test within the upper voltage range (110 V or more) also falls within the lower voltage measurement range (6 V or more, less than 110 V). The display current applied to the display element of the voltage under test is also connected to the base of a transistor that switches (that is, chops) intermittently for a short period of time. A switching element is provided, and with this switching element switched to the operating position, a continuity test is performed on the conductor to be tested, if present, by switching on the battery between the two contact tapes;
Or, if both contact tapes are brought into direct contact with each other, inspection of the test equipment for the health of the battery, acoustic signal generator, optical display element for polarity indication, and optical display element for voltage indication corresponding to the battery voltage, and the energy storage device. This is achieved by a test device for displaying the voltage and its polarity and for continuity testing, characterized in that the charging of the capacitor within is carried out.

本発明による試験装置の1つの好ましい実施態
様は、 (イ) 入力回路としての役割をする緩衝増幅器の前
に2つの高抵抗かつ高耐電圧性の直列抵抗器が
接続されており、そのうち一方は一方のグリツ
プ内に、また他方はシールドを施されたケーブ
ルを介して隔てられて他方のグリツプ内におさ
められており、これらの両直列抵抗器が試験対
象電圧により生ずる電流を制限して、トランジ
スタから成るエミツタホロワと入力分圧器とを
含む緩衝増幅器を与えており、前記トランジス
タは試験対象電圧の極性に応じて、前記トラン
ジスタおよびゼナダイオードから形成されてい
る全波整流回路を介して導通状態になり、従つ
てまた極性に応じて極性表示用トランジスタが
導通状態になり、正極性表示用光表示素子もし
くは負極性表示用光表示素子の電流回路が、ま
たは交流電圧では両方の光表示素子の電流回路
が形成され、また同時に極性表示用トランジス
タの導通に伴い電池回路スイツチング用トラン
ジスタのベースが電池の正電位に対して電位差
を得ることによつて電池回路がスイツチオンさ
れ、極性表示用光表示素子の発光に必要な電流
が電池から供給され、 (ロ) 発振器が発振用トランジスタと抵抗とインダ
クタンスと公知のように3電極付きセラミツク
振動子から成る音響信号発生器とから構成され
ており、 (ハ) 昇圧回路が4つのダイオードと3つの結合コ
ンデンサと1つのインダクタンスとから成る電
圧増幅回路(Villard式)であり、発振器を介
して給電され、 (ニ) エネルギー蓄積装置がコンデンサと波高値整
流の役割をするダイオードと休止位置でこれら
のコンデンサおよびダイオードを相互に接続し
ている開閉要素とから成り、昇圧回路からの電
圧パルスが波高値整流によりコンデンサに蓄積
されることによりコンデンサが電圧パルスの波
高値まで充電され、 (ホ) エネルギー蓄積装置の開閉要素の動作位置側
端子と緩衝増幅器の一方の入力端との間の接続
路に保護ダイオードおよび電流制御用抵抗が設
けられていることを特徴とする。
One preferred embodiment of the test device according to the present invention is as follows: (a) Two high-resistance, high-withstand-voltage series resistors are connected in front of a buffer amplifier serving as an input circuit, one of which is Housed in one grip and the other separated by a shielded cable, both series resistors limit the current produced by the voltage under test and A buffer amplifier is provided that includes an emitter follower and an input voltage divider, the transistor being rendered conductive via a full-wave rectifier circuit formed by the transistor and a Zener diode depending on the polarity of the voltage under test. Therefore, depending on the polarity, the polarity display transistor becomes conductive, and the current circuit of the optical display element for positive polarity display or the optical display element for negative polarity display, or in the case of alternating current voltage, the current circuit of both optical display elements. is formed, and at the same time, as the polarity display transistor becomes conductive, the base of the battery circuit switching transistor obtains a potential difference with respect to the positive potential of the battery, and the battery circuit is switched on, causing the polarity display light display element to emit light. (b) The oscillator is composed of an oscillation transistor, a resistor, an inductance, and an acoustic signal generator consisting of a three-electrode ceramic resonator as is well known, and (c) the voltage is boosted. The circuit is a voltage amplification circuit (Villard type) consisting of four diodes, three coupling capacitors, and one inductance, and is supplied with power via an oscillator, and (d) the energy storage device functions as a capacitor and peak value rectifier. It consists of a diode and a switching element that interconnects these capacitors and diodes in the rest position, and the voltage pulse from the booster circuit is stored in the capacitor through peak value rectification, so that the capacitor is charged to the peak value of the voltage pulse. (e) A protection diode and a current control resistor are provided in the connection path between the operation position side terminal of the switching element of the energy storage device and one input terminal of the buffer amplifier.

本発明による試験装置の他の好ましい実施態様
は、個々の電圧範囲をステツプ表示するための電
圧表示回路が互いに別個の表示電流を供給される
2つの電圧表示用縦続回路に分割されており、下
側電圧範囲(6V超過、110V未満)に対する縦続
回路は電池からスイツチング用トランジスタを介
して給電され、上側電圧範囲(110V以上)に対
する縦続回路は昇圧回路から給電され、また両縦
続回路が電流節減のため発振器の周波数で間欠的
に開閉(すなわちチヨツプ)されることを特徴と
する。
A further preferred embodiment of the test device according to the invention is characterized in that the voltage display circuit for step displaying the individual voltage ranges is divided into two voltage display cascade circuits which are supplied with mutually separate display currents, The cascade circuit for the side voltage range (above 6V, below 110V) is powered from the battery via the switching transistor, the cascade circuit for the top voltage range (above 110V) is powered by the boost circuit, and both cascade circuits Therefore, it is characterized by being intermittently opened and closed (ie, chopped) at the frequency of the oscillator.

公知の試験装置で得られる利点とならんで、本
発明の試験装置では、380Vの上側にもう1つの
電圧範囲たとえば660Vが表示されるという利点
が得られる。さらに、特別な利点として、本発明
の試験装置では、電圧試験の前またはその最中に
すべての表示ステツプの機能の点検が可能であ
る。たとえば、電圧試験の際に220V以下のすべ
ての表示ステツプの表示素子が発光し、380Vお
よび表示ステツプの表示素子は発光しなかつたと
する。この場合に380Vまたは66Vが印加されて
いないことを確認するためには、開閉要素S2を
動作位置に切換えて380Vおよび660V表示用の表
示素子が発光することを確認すればよい。すなわ
ち、開閉要素S2が動作位置に切換えられれば、
エネルギー蓄積装置が放電し、放電電流が緩衝増
幅器により増幅されて380Vおよび660V表示用の
表示素子をスイツチオンするので、これらの表示
素子は発光するはずである。もしも380Vおよび
660V表示用の表示素子の一方または双方が発光
しなければ、その表示素子は故障していること、
換言すれば、その表示素子により表示されるべき
電圧が実際には印加されているかもしれないこと
が知られる。
In addition to the advantages obtained with known test devices, the test device according to the invention has the advantage that above 380V, another voltage range, for example 660V, is displayed. Furthermore, as a particular advantage, the test device according to the invention makes it possible to check the functionality of all display steps before or during the voltage test. For example, assume that during a voltage test, display elements of all display steps below 220V emit light, and display elements of 380V and display steps do not emit light. In this case, in order to confirm that 380V or 66V is not applied, it is sufficient to switch the opening/closing element S2 to the operating position and confirm that the display elements for displaying 380V and 660V emit light. That is, if the opening/closing element S2 is switched to the operating position,
These display elements should emit light as the energy storage device discharges and the discharge current is amplified by the buffer amplifier to switch on the display elements for the 380V and 660V displays. If 380V and
If one or both of the display elements for 660V display does not emit light, that display element is malfunctioning.
In other words, it is known that the voltage to be displayed by the display element may actually be applied.

こうして、本発明による試験装置では、誤操作
および誤表示のおそれが完全に回避されている。
In this way, with the test device according to the invention, the possibility of erroneous operation and erroneous display is completely avoided.

さらに、本発明による試験装置では、電圧試験
の際に、電圧源が低抵抗であるか高抵抗であるか
を判別し得るように、試験装置の内部抵抗を一時
的に低くすることができる。
Further, in the test device according to the present invention, the internal resistance of the test device can be temporarily lowered so that it can be determined whether the voltage source is low resistance or high resistance during a voltage test.

一般には、試験対象回路が高抵抗であつても測
定誤差を生じないように、また一方の接触テイツ
プに高い電圧が印加されている状態で使用者が他
方の接触テイツプに接触しても危険を生じないよ
うに、試験装置の内部抵抗は十分に高い値でなけ
ればならず、本発明による試験装置ではたとえば
600kΩ以上に選定されている。入力内部抵抗が
660kΩであれば、印加電圧とそれにより流れる電
流との関係は 110 220 380 660 〔Veff〕 0.17 0.33 0.58 1 〔mAeff〕 となるので、上記の接触安全性が保たれる。
In general, it is necessary to avoid measurement errors even when the circuit under test has high resistance, and to prevent the user from touching one contact tape while a high voltage is applied to the other. The internal resistance of the test device must be of a sufficiently high value so that
It is selected to be 600kΩ or more. Input internal resistance
If it is 660 kΩ, the relationship between the applied voltage and the current flowing therefrom is 110 220 380 660 [V eff ] 0.17 0.33 0.58 1 [mA eff ], so the above contact safety is maintained.

他方、試験装置をたとえば開閉キユービクルの
試験、大規模設備の配線の試験などに使用する場
合には、試験装置の内部抵抗が高いために、静電
誘導または電磁誘導作用により試験装置が試験対
象電圧源以外の電圧源にも感応するという問題が
生じ得る。
On the other hand, when the test equipment is used, for example, to test opening/closing cubicles or the wiring of large-scale equipment, the internal resistance of the test equipment is high, so that the test equipment is lowered by the voltage under test due to electrostatic induction or electromagnetic induction. Problems can arise in that they are sensitive to voltage sources other than the voltage source.

電圧源の内部抵抗が高いか低いかは、後で詳細
に説明するように、試験装置の内部抵抗か高い時
の表示電圧と低い時の表示電圧との差の有無によ
り判別することができる。この判別にあたり、試
験装置の内部抵抗は一時的に低くされ、判別に必
要な時間の後に再び高くされることが望ましい。
Whether the internal resistance of the voltage source is high or low can be determined by the presence or absence of a difference between the display voltage when the internal resistance of the test device is high and the display voltage when it is low, as will be explained in detail later. In making this discrimination, it is desirable that the internal resistance of the test device is temporarily lowered and then raised again after a period of time necessary for the discrimination.

本発明の1つの実施態様では、高い内部抵抗を
一時的に低くする目的で、一方のグリツプ内の回
路全体と両方のグリツプ内におさめられている高
抵抗の直列抵抗器とに、200Ωと5kΩとの間の定
格抵抗RNを有し少なくとも1秒の自己加熱の時
定数(作動停止時間taB)を保証するPTC抵抗が
選択的にスイツチオン可能に並列に接続されてい
る。この場合のさらに詳細な実施態様は特許請求
の範囲第6項ないし第8項にあげられている。
In one embodiment of the invention, the entire circuit in one grip and a high resistance series resistor in both grips are connected to 200Ω and 5kΩ in order to temporarily reduce the high internal resistance. A PTC resistor is selectively switchable in parallel and has a rated resistance R N between 1 and 2 and guarantees a self-heating time constant (deactivation time t aB ) of at least 1 second. Further detailed embodiments in this case are given in claims 6 to 8.

それにより、高い内部抵抗を有する試験装置に
選択的に、たとえば押ボタン操作により、低い抵
抗たとえば2ないし10kΩの抵抗を並列に接続す
ることができる。
Thereby, a test device with a high internal resistance can be selectively connected in parallel, for example by actuation of a push button, with a low resistance, for example a resistance of 2 to 10 kΩ.

内部抵抗を低くすると、試験装置の消費電力が
大きくなる。たとえば印加電圧が500V、内部抵
抗が4kΩの場合、消費電力は63Wとなる。それに
より試験装置すなわち回路を内蔵するグリツプ内
の温度が上昇するという問題が派生する。抵抗の
かわりにリアクタンスを並列に接続する方法も考
えられるが、安全上の理由からリアクタンスの使
用はVDE規格により許されていない。
Lowering the internal resistance increases the power consumption of the test equipment. For example, if the applied voltage is 500V and the internal resistance is 4kΩ, the power consumption will be 63W. This creates a problem in that the temperature inside the test device, ie, the grip containing the circuit, increases. It is also possible to connect a reactance in parallel instead of a resistor, but for safety reasons, the use of reactance is not allowed by the VDE standard.

本発明によりPTC抵抗を使用すれば、特定の
時間の後には自己加熱に伴い抵抗が自動的に高く
なり、電流従つてまた電力を制限するので、温度
上昇の問題を回避することができる。
Using a PTC resistor according to the invention avoids the problem of temperature rise, since the resistance automatically increases after a certain time due to self-heating, limiting the current and thus also the power.

PTC抵抗の特性たとえば定格抵抗値RNおよび
自己加熱時定数taBはドイツ規格VDE44080(1976
年12月)に規定されている。
The characteristics of PTC resistors, such as the rated resistance value R N and self-heating time constant t aB, are determined by the German standard VDE44080 (1976
(December 2015).

自己加熱過程の時定数を適当に設定するため、
PTC抵抗に一定抵抗すなわち温度に実際上関係
しない抵抗値を有する抵抗を直列に接続すること
は有利である。それにより、スイツチオンの瞬間
に電力をPTC抵抗と一定抵抗とに分配して、
PTC抵抗が自己加熱により高抵抗になり電流を
減ずるまでの時間を変更することができる。
In order to appropriately set the time constant of the self-heating process,
It is advantageous to connect in series with the PTC resistor a resistor having a constant resistance, ie a resistance value which is virtually independent of temperature. As a result, power is distributed between the PTC resistor and the constant resistor at the moment of switch-on,
You can change the time it takes for the PTC resistor to self-heat and become highly resistant and reduce the current.

自己加熱過程の時定数はPTC抵抗の体積によ
り影響される。時定数を望ましい値にするために
は、PTC抵抗は比較的大形、たとえば10mmの直
径で20mmの厚さを有するものでなければならな
い。
The time constant of the self-heating process is influenced by the volume of the PTC resistor. To obtain the desired time constant, the PTC resistor must be relatively large, eg, 10 mm in diameter and 20 mm thick.

体積が小さい(たとえば直径5mm、厚さ1mm)
市販のPTC抵抗は安価であり品質もすぐれてい
るが、あまりに速く(数msのうちに)高抵抗に
なるので、使用者が電圧源の内部抵抗の高低を判
別するのに十分な時間が得られない。本発明の有
利な実施態様では、PTC抵抗と直列に一定抵抗
を接続することにより、使用者に数秒の読取り時
間を与えるように自己加熱過程の時定数を設定す
ることができる。
Small volume (for example, 5 mm in diameter and 1 mm in thickness)
Commercially available PTC resistors are cheap and of good quality, but they build up a high resistance so quickly (within a few milliseconds) that the user has not had enough time to determine whether the internal resistance of the voltage source is high or low. I can't do it. In an advantageous embodiment of the invention, by connecting a constant resistor in series with the PTC resistor, the time constant of the self-heating process can be set to give the user a reading time of several seconds.

PTC抵抗のみから成る負荷抵抗またはPTC抵
抗および一定抵抗を直列接続した負荷抵抗の値を
一層減ずるためには、このような負荷抵抗をいく
つか並列に接続して用いればよい。
In order to further reduce the value of a load resistor consisting only of a PTC resistor or a load resistor in which a PTC resistor and a constant resistor are connected in series, several such load resistors may be connected in parallel.

本発明の1つが好ましい実施態様では、内部抵
抗が600または660kΩの場合、定格抵抗(RN
1.5kΩのPTC抵抗と少なくとも1つの一定抵抗と
を合計12kΩになるように直列に接続したものが
用いられる。
In one preferred embodiment of the invention, if the internal resistance is 600 or 660 kΩ, the rated resistance (R N )
A PTC resistor of 1.5 kΩ and at least one constant resistor connected in series for a total resistance of 12 kΩ is used.

以下、図面により本発明を一層詳細に説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to the drawings.

第1図で、グリツプ1とグリツプ2とはケーブ
ル3により接続されている。グリツプ1は接触テ
イツプ4を、またグリツプ2は接触テイツプ5を
備えている。第3図では、グリツプ1および2は
破線の枠内に示されている。ケーブル3はシール
ド6を施されている。
In FIG. 1, grip 1 and grip 2 are connected by a cable 3. Grip 1 has a contact tape 4 and grip 2 has a contact tape 5. In FIG. 3, grips 1 and 2 are shown within a dashed box. The cable 3 is provided with a shield 6.

グリツプ1は接触テイツプ4の後に接続された
高抵抗の直列抵抗器R30のみを内蔵しており、以
下では試験グリツプ1と呼ぶことにする。他方、
接触テイツプ5を備えたグリツプ2はその内部に
高抵抗の直列抵抗器R0および全体回路18を含
んでおり、また表示素子LED1ないしLED9なら
びに2つの押ボタンスイツチS1およびS2を設
けられており、以下では表示グリツプ2と呼ぶこ
とにする。表示グリツプ2は、さらに、電池B1
をおさめたケースGを含んでいる。このケースに
ついてはドイツ連邦共和国特許第2756830号明細
書に記載されている(米国特許第4210862号明細
書も参照)。
Grip 1 contains only a high-resistance series resistor R30 connected after contact tape 4 and will be referred to below as test grip 1. On the other hand,
The grip 2 with the contact tape 5 contains in its interior a high-resistance series resistor R0 and the overall circuit 18 and is also provided with display elements LED1 to LED9 and two pushbutton switches S1 and S2, as follows: Let's call it display grip 2. The display grip 2 further includes a battery B1.
Contains case G containing . This case is described in German Patent No. 2756830 (see also US Pat. No. 4,210,862).

試験グリツプ1も表示グリツプ2も試験装置の
規格に従つてつば7および8を設けられている。
これらのつばは、試験装置の使用者が試験対象回
路と接触するのを防止するためのものである。表
示グリツプ2の凹み9は、使用者がこの凹みで表
示グリツプをつかんだ状態で表示器を見やすい位
置に設けられている。
Both the test grip 1 and the display grip 2 are provided with collars 7 and 8 in accordance with the specifications of the test equipment.
These collars are intended to prevent the user of the test equipment from coming into contact with the circuit under test. The recess 9 of the display grip 2 is provided at a position where the user can easily view the display while grasping the display grip with this recess.

スイツチS1およびS2の押ボタンは、右手で
表示グリツプ2をつかんだ際に親指により操作し
やすい位置に配置されている。また、表示素子
LED1ないしLED9は表示グリツプ2の表面に、
指または指球によりおおわれないように配置され
ている。
The pushbuttons of the switches S1 and S2 are arranged at positions where they can be easily operated with the thumb when the display grip 2 is grasped with the right hand. In addition, the display element
LED1 to LED9 are on the surface of display grip 2,
It is placed so that it is not covered by the fingers or the balls of the fingers.

表示グリツプ2は第1図にその広幅の面を示さ
れている。表示グリツプ2は平形であり、その厚
みは幅の約1/3に過ぎない。
The display grip 2 is shown in its wide side in FIG. The display grip 2 is flat and its thickness is only about 1/3 of its width.

試験グリツプ1は丸棒(第1図)として構成さ
れていてもよいし、特に第6図の回路による部品
を内蔵する場合には表示グリツプ2と同様に平形
として構成されていてもよい。
The test grip 1 may be constructed as a round bar (FIG. 1), or, like the display grip 2, may be flat, especially if it incorporates components according to the circuit of FIG.

第2図は試験装置のブロツク回路図であり、入
力端を形成する接触テイツプ4および5はそれぞ
れ1つの高抵抗の直列抵抗器R30およびR0を介
して緩衝増幅器Dと接続されている。この緩衝増
幅器を示すブロツクのなかに極性および最も下側
の電圧範囲の表示のための回路も含めてある。
FIG. 2 shows a block circuit diagram of the test device, in which the contact tapes 4 and 5 forming the inputs are each connected to a buffer amplifier D via one high resistance series resistor R30 and R0. The buffer amplifier block also includes circuitry for polarity and lowest voltage range indication.

試験対象電圧により生じ高抵抗の直列抵抗器
R30およびR0により制限された電流は緩衝増幅
器で増幅され、電池回路Bをスイツチオンし、極
性および最小電圧範囲の表示を行なう。緩衝増幅
器Dは電圧表示用縦続回路EおよびFに接続され
ており、また電池回路Bは電圧表示用縦続回路E
および発振器C(場合によつては音響信号発生器
を含む)と接続されている。発振器Cは昇圧回路
A1に給電する。昇圧回路A1からエネルギー蓄
積装置A2が、中間のスイツチS2が第2図に示
されている休止位置にある間は充電される。
Series resistor with high resistance caused by the voltage under test
The current limited by R30 and R0 is amplified by a buffer amplifier to switch on battery circuit B and provide polarity and minimum voltage range indication. Buffer amplifier D is connected to voltage display cascade circuits E and F, and battery circuit B is connected to voltage display cascade circuit E.
and an oscillator C (possibly including an acoustic signal generator). Oscillator C supplies power to booster circuit A1. From the booster circuit A1, the energy storage device A2 is charged while the intermediate switch S2 is in the rest position shown in FIG.

スイツチS2が休止位置から動作位置へ切換え
られると、エネルギー蓄積装置A2に蓄えられた
電荷はダイオードD14を経て緩衝増幅器Dの入力
側に与えられる。それにより緩衝増幅器Dの入力
側に、試験装置が表示すべき最大値電圧により生
ずる電流よりも大きい電流が流れるので、すべて
の表示ステツプが発光し、放電電流の減衰につれ
て順次に消える。
When the switch S2 is switched from the rest position to the operating position, the charge stored in the energy storage device A2 is applied to the input of the buffer amplifier D via the diode D14. As a result, a current flows at the input of the buffer amplifier D that is greater than the current caused by the maximum value voltage that the test device is to display, so that all display steps illuminate and disappear one after another as the discharge current decays.

回路部分A3はスイツチS1を含んでいる。ス
イツチS1は図示の休止位置ではゼナダイオード
D18を橋絡している。スイツチS1が休止位置か
ら動作位置へ切換えられると、電池回路Bがスイ
ツチオンされる。この状態で、両接触ステツプ4
および5の間に試験対象導体が存在する場合には
その導通試験が行なわれ、または両接触テイツプ
4および5を互いに直接接触させた場合には電
池、音響信号発生器Bu、極性表示用光表示素子
および電池電圧に対応する電圧表示用光表示素子
の健全性に関する試験装置の点検と、エネルギー
蓄積装置内のコンデンサC1の充電とが行なわれ
る。スイツチS1を動作位置から休止位置へ戻し
てから、スイツチS2を休止位置から動作位置へ
切換えれば、再びすべての表示ステツプの健全性
に関する点検が行なわれる。このようにして自己
点検が完全に行なわれ得ることは本発明による試
験装置の重要な利点である。
Circuit portion A3 includes switch S1. Switch S1 is a zener diode in the rest position shown.
It bridges D18. When switch S1 is switched from the rest position to the operating position, battery circuit B is switched on. In this state, both contact step 4
If a conductor to be tested is present between The test equipment is inspected for the health of the optical display element for voltage display corresponding to the element and battery voltage, and the capacitor C1 in the energy storage device is charged. By returning switch S1 from the operating position to the rest position and then switching switch S2 from the rest position to the operating position, all display steps are again checked for health. It is an important advantage of the test device according to the invention that a complete self-check can be carried out in this way.

第3図には、本発明による試験装置の好ましい
実施例の全体回路が示されている。試験グリツプ
1および表示グリツプ2はそれぞれ破線の枠内に
示されており、シールド6を施されたケーブル3
により互いに接続されている。表示グリツプ2の
回路はそれぞれ破線の枠内に示す部分回路Aない
しFにわけられている。部分回路Aは第4図では
さらに3つの部分回路A1,A2およびA3にわ
けられている。
FIG. 3 shows the overall circuit of a preferred embodiment of the test device according to the invention. A test grip 1 and a display grip 2 are each shown within a dashed box, and a cable 3 with a shield 6
are connected to each other by. The circuits of the display grip 2 are divided into partial circuits A to F shown within the dashed lines. Subcircuit A is further divided into three subcircuits A1, A2 and A3 in FIG.

入力回路として試験グリツプ1の接触テイツプ
4の後および表示グリツプ2の接触テイツプ5の
後にそれぞれ高抵抗でしかも高耐電性の直列抵抗
器R30およびB0が接続されている。
High-resistance and high-withstand series resistors R30 and B0 are connected as input circuits after the contact tape 4 of the test grip 1 and after the contact tape 5 of the display grip 2, respectively.

試験対象電圧により生ずる電流は高抵抗の直列
抵抗器R30およびR0により制限されている。こ
の電流は緩衝増幅器Dに与えられる。緩衝増幅器
Dはエミツタホロワとして接続されたトランジス
タT1およびT2を含んでいる。これらのエミツタ
ホロワに高抵抗の直列抵抗器R30およびR0によ
り制限された電流が入力分圧抵抗R1およびR2ま
たはR3およびR4を経て与えられるので、試験対
象電圧の極性に応じてトランジスタT1もしくは
T2が、トランジスタT1およびT2ならびにゼナダ
イオードD1およびD2から成る全波整流回路を経
て導通する。
The current produced by the voltage under test is limited by high resistance series resistors R30 and R0. This current is applied to buffer amplifier D. Buffer amplifier D includes transistors T1 and T2 connected as emitter followers. A current limited by high-resistance series resistors R30 and R0 is applied to these emitter followers via input voltage divider resistors R1 and R2 or R3 and R4, so that depending on the polarity of the voltage under test, transistors T1 or
T2 conducts through a full-wave rectifier circuit consisting of transistors T1 and T2 and Zena diodes D1 and D2.

それにより、試験対象電圧の極性に応じてトラ
ンジスタT3もしくはT4が導通し、+6V表示用発
光ダイオードLED2もしくは−6V表示用発光ダイ
オードLED1の電流回路が、または交流電圧では
両方の発光ダイオードの電流回路が形成され、ま
た同時にトランジスタT3またはT4の導通に伴い
電池回路スイツチング用トランジスタT6のベー
スが電池B1の正電位に対して電位差を得ること
によつて電池回路Bがスイツチオンされ、発光ダ
イオードLED1、LED2の発光に必要な電流が電
池B1から供給される。
As a result, transistor T3 or T4 becomes conductive depending on the polarity of the voltage to be tested, and the current circuit of +6V display light emitting diode LED2 or -6V display light emitting diode LED1, or for AC voltage, the current circuit of both light emitting diodes. At the same time, as the transistor T3 or T4 becomes conductive, the base of the battery circuit switching transistor T6 obtains a potential difference with respect to the positive potential of the battery B1, so that the battery circuit B is switched on, and the light emitting diodes LED1 and LED2 are switched on. The current necessary for light emission is supplied from battery B1.

トランジスタT6のベースは抵抗R7を介して電
池B1に、また抵抗R8を介して発光ダイオード
LED1、LED2に接続されている。トランジスタ
T3およびT4のベースの前にはそれぞれ抵抗R5お
よびR6が接続されている。
The base of transistor T6 is connected to battery B1 through resistor R7 and to the light emitting diode through resistor R8.
Connected to LED1 and LED2. transistor
Resistors R5 and R6 are connected in front of the bases of T3 and T4, respectively.

緩衝増幅器により制限されて、トランジスタ
T3またT4の導通と同時に導通したトランジスタ
T6と抵抗R9およびR10とを介して発振器トラン
ジスタT5がスイツチオンされ、回路部分A1の
インダクタンス内にスイツチオン過程を通じて蓄
積されたエネルギーがトランジスタT5を経て接
地点に向けて放出される。
Transistor, limited by buffer amplifier
Transistor conducts at the same time as T3 or T4 conducts
Via T6 and resistors R9 and R10, the oscillator transistor T5 is switched on, and the energy stored in the inductance of the circuit part A1 during the switching process is released via the transistor T5 towards ground.

その際に生ずる電圧パルスにより音響信号発生
器Bu(ブザー)の圧電セラミツク振動板10が励
振電極11および12を介して励振される。圧電
セラミツク振動板の弾性復帰により音響的帰還電
極13を介して発振器トランジスタT5のベース
は再び阻止される。
The piezoelectric ceramic diaphragm 10 of the acoustic signal generator Bu (buzzer) is excited via the excitation electrodes 11 and 12 by the voltage pulses generated at this time. Due to the elastic return of the piezoceramic diaphragm, the base of the oscillator transistor T5 is blocked again via the acoustic return electrode 13.

発振器Cは能動四端子回路(トランジスタT5)
により非線形的に圧電セラミツク振動板10の電
極11および12に作用し、電気−音響的帰還に
より発振器Cは圧電セラミツク振動板10の固有
振動数で作動し、その際にインダクタンスLはエ
ネルギー蓄積装置としての役割をする。
Oscillator C is an active four-terminal circuit (transistor T5)
acts non-linearly on the electrodes 11 and 12 of the piezoceramic diaphragm 10, and due to the electro-acoustic feedback the oscillator C operates at the natural frequency of the piezoceramic diaphragm 10, with the inductance L acting as an energy storage device. play the role of

ここに記載した種類の音響信号発生器はドイツ
連邦共和国特許出願第3013788号の対象である。
An acoustic signal generator of the type described here is the subject of German Patent Application No. 3013788.

接触テイツプ4および5に印加された入力電圧
が6V以上、12V未満であれば、電圧極性表示用
発光ダイオードLED1およびLED2がスイツチオ
ンされ、それに伴い電池回路Bが、さらに音響信
号発生器Buがスイツチオンされる。
If the input voltage applied to the contact tapes 4 and 5 is 6V or more and less than 12V, the voltage polarity indicating light emitting diodes LED1 and LED2 are switched on, and accordingly the battery circuit B and the acoustic signal generator Bu are switched on. Ru.

ダイオードD10およびD11は入力電圧が低い場
合に、抵抗R1およびR2またはR3およびR4から
成る入力分圧器の分圧比を減少させるためのもの
である。
Diodes D10 and D11 are for reducing the voltage division ratio of the input voltage divider consisting of resistors R1 and R2 or R3 and R4 at low input voltages.

入力電圧が高い場合には、エミツタホロワとし
てのトランジスタT1およびT2とこれらのトラン
ジスタの阻止電圧を高める役割をするダイオード
D12およびD13を経て電流が、抵抗R13、R14お
よびR15から成る分圧器に流れる。
For high input voltages, transistors T1 and T2 as emitter followers and diodes serve to increase the blocking voltage of these transistors.
Current flows through D12 and D13 to a voltage divider consisting of resistors R13, R14 and R15.

この入力電圧に比例する電流はトランジスタ
T10のベースに、トランジスタT10を定電流源
T15を経て導通させるのに十分な電位を考える。
The current proportional to this input voltage is the transistor
Transistor T10 is a constant current source at the base of T10
Consider the potential sufficient to cause conduction through T15.

電流を節減するため、発振器Cから給電コンデ
ンサC4を介して取出されゼナダイオードD4によ
り振幅を制限された電圧パルスが定電流源T15の
ベースに与えられ、それにより発振器Cと同一の
周波数で一定の振幅のパルス状電流が形成され、
それぞれスイツチオンされたトランジスタT10、
T9またはT8(たとえば12Vではトランジスタ
T10)を介しての発光ダイオードLED3、LED4
またはLED5(たとえば12Vでは発光ダイオード
LED3)の発光を断続的に行なわせることもでき
る。
To save current, a voltage pulse taken from the oscillator C via the supply capacitor C4 and limited in amplitude by the zener diode D4 is applied to the base of a constant current source T15, thereby providing a constant voltage pulse at the same frequency as the oscillator C. A pulsed current of amplitude is formed,
Transistor T10, respectively switched on,
T9 or T8 (e.g. transistor at 12V)
Light emitting diode LED3, LED4 via T10)
or LED5 (e.g. light emitting diode at 12V)
It is also possible to cause the LED3) to emit light intermittently.

入力電圧がさらに高い場合には、分圧抵抗R15
における電圧降下が大きくなり、トランジスタ
T9がスイツチオンされ、トランジスタT9とT10
との間の差増幅作用によりトランジスタT10が再
びスイツチオフされるので、発光ダイオード
LED4がスイツチオンされる。
For higher input voltages, divider resistor R15
The voltage drop at the transistor increases
T9 is switched on and transistors T9 and T10
The transistor T10 is switched off again due to the differential amplification effect between the light emitting diode
LED4 is switched on.

トランジスタT9および10と同様に電圧表示用
のトランジスタであるトランジスタT8のスイツ
チオンは、同様にして、入力電圧がさらに高い場
合に抵抗R14を介して行なわれる。
The switching on of the transistor T8, which, like the transistors T9 and 10, is a transistor for voltage indication is likewise effected via the resistor R14 at higher input voltages.

全波整流回路のゼナダイオードD1およびD2は
電圧制限の役割をもする。
Zena diodes D1 and D2 in the full-wave rectifier circuit also serve as voltage limiting.

ゼナダイオードD5またはD6は、それぞれ対応
するトランジスタT9またはT10のベースがいつ
たんしきい電圧に到達した後に入力電圧の増大と
共に電圧降下が増大するのを防ぎ、トランジスタ
の動作範囲をできるかぎり多数の表示ステツプ
(図示の例ではトランジスタT8、T9およびT10に
よる表示ステツプ)に利用し得るようにする役割
をする。
The zener diode D5 or D6 prevents the voltage drop from increasing with increasing input voltage after the base of the corresponding transistor T9 or T10 reaches the threshold voltage, respectively, and limits the operating range of the transistor to as many indications as possible. It serves to make it available for the display step (in the example shown, the display step by transistors T8, T9 and T10).

12V、24Vおよび50Vの表示ステツプは1つの
縦続回路Eにまとめられており、電池B1から電
流を供給される。
The 12V, 24V and 50V display steps are combined into one cascade E and are powered by battery B1.

110V、220V、380Vおよび660Vの表示ステツ
プはもう1つの縦続回路Fにまとめられている。
The 110V, 220V, 380V and 660V display steps are combined in another cascade F.

縦続回路Fの各表示ステツプの発光ダイオード
LED6ないしLED9は、入力電圧が110以上の場合
に、ダイオードD8およびD9ならびにゼナダイオ
ードD1およびD2から成る全波整流回路とゼナダ
イオードD3から成るしきい回路とを介して、縦
続回路Eと同様な原理で、入力電圧がそれぞれの
電圧範囲に達する時にスイツチオンされる。
Light emitting diode of each display step of cascade circuit F
When the input voltage is 110 or more, LED6 to LED9 are connected through a full-wave rectifier circuit consisting of diodes D8 and D9 and Zena diodes D1 and D2, and a threshold circuit consisting of Zena diode D3, similar to the cascade circuit E. In principle, they are switched on when the input voltage reaches the respective voltage range.

縦続回路Fの分圧器は分圧抵抗R16、R17、
R18およびR19から成つている。
The voltage divider of cascade circuit F is voltage dividing resistors R16, R17,
Consists of R18 and R19.

ゼナダイオードD7の機能はゼナダイオードD5
およびD6の機能に相当する。
The function of Zena diode D7 is Zena diode D5
and functions equivalent to D6.

コンデンサC3、C5およびC6は交流電圧試験の
場合に必要な平滑コンデンサである。
Capacitors C3, C5 and C6 are smoothing capacitors required in case of AC voltage testing.

抵抗R20は定電流源T16のエミツタおよびトラ
ンジスタT14のベースと接続されている。
Resistor R20 is connected to the emitter of constant current source T16 and the base of transistor T14.

抵抗R21は定電流源T16のベースの前に接続さ
れている。
Resistor R21 is connected in front of the base of constant current source T16.

縦続回路Fでは、発光ダイオードの発光に必要
な電流が昇圧回路A1から電池電圧よりも高い電
圧により与えられ、また発振器Cの周波数で断続
される。
In the cascade circuit F, the current necessary for the light emitting diode to emit light is supplied from the booster circuit A1 with a voltage higher than the battery voltage, and is intermittent at the frequency of the oscillator C.

こうして、発振器Cは発光ダイオードを発光さ
せるために電池から取り出される電流を節減する
ためのチヨツパ発振器としても作用する。
Thus, oscillator C also acts as a chopper oscillator to conserve the current drawn from the battery to make the light emitting diode emit light.

さらに、発振器Cは結合コンデンサC2を介し
てダイオードD16、D17、D19およびD20ならび
にコンデンサC7およびC8から成る電圧増倍回路
に給電して、電池電圧12Vよりも高い40ないし
50Vの電圧を発生させる役割をする。こうして昇
圧された電圧はエネルギー蓄積装置A2内のコン
デンサC1に与えられる。スイツチS2が休止位
置から動作位置へ切換えられると、コンデンサ
C1に蓄積された電荷は抵抗R12およびダイオード
D14を経て緩衝増幅器Dの入力側に与えられる。
Furthermore, oscillator C feeds a voltage multiplier circuit consisting of diodes D16, D17, D19 and D20 and capacitors C7 and C8 via coupling capacitor C2 to
It plays the role of generating 50V voltage. The thus boosted voltage is applied to capacitor C1 within energy storage device A2. When switch S2 is switched from the rest position to the operating position, the capacitor
The charge stored in C1 is transferred to resistor R12 and diode
It is applied to the input side of buffer amplifier D via D14.

第4図に破線の枠内に示されている抵抗R12は
第5図に示す回路により置換され得る。この場
合、コンデンサC1に蓄積された電荷は結合コン
デンサC9を介して発振器Cによりその周波数で
チヨツプされるトランジスタT7を経て緩衝増幅
器Dの入力側に与えられる。それにより、コンデ
ンサC1が放電を完了するまでの時間が延長され
る。
The resistor R12 shown within the dashed box in FIG. 4 may be replaced by the circuit shown in FIG. In this case, the charge stored in the capacitor C1 is applied via the coupling capacitor C9 to the input of the buffer amplifier D via the transistor T7 which is chopped at its frequency by the oscillator C. This extends the time it takes for capacitor C1 to complete discharging.

いずれの場合にも、最大表示ステツプに相当す
る接触テイツプ間印加電圧により緩衝増幅器の入
力側に流れる電流よりも大きな電流がコンデンサ
C1の放電により緩衝増幅器の入力側に流れる。
従つて、スイツチS2の切換により放電が開始さ
れてから放電が完了するまでの間に、すべての表
示ステツプの機能の健全性が点検され得る。この
点検の際には、音響信号発生器により音響が発せ
られる。
In either case, a current greater than the current flowing into the input side of the buffer amplifier due to the voltage applied across the contact tapes corresponding to the maximum display step will flow into the capacitor.
Due to the discharge of C1, it flows to the input side of the buffer amplifier.
Therefore, the functional soundness of all the display steps can be checked from when the discharge is started by switching the switch S2 until the discharge is completed. During this inspection, a sound is emitted by an acoustic signal generator.

抵抗R22およびR23が縦続回路EまたはFの後
に接続されている。
Resistors R22 and R23 are connected after the cascade E or F.

スイツチS1は休止位置ではゼナダイオード
D18により橋絡されている。この状態で試験装置
は電圧試験モードにある。
Switch S1 is a Zena diode in the rest position
Bridged by D18. In this state the test device is in voltage test mode.

スイツチS1が休止側端子16から動作側端子
17に切換えられると、電池B1が保護ダイオー
ドD15に介してスイツチオンされる。接触テイツ
プ4および5の間に導体が存在すれば、その導体
試験が行なわれる。
When the switch S1 is switched from the inactive terminal 16 to the active terminal 17, the battery B1 is switched on via the protection diode D15. If a conductor is present between contact tapes 4 and 5, that conductor is tested.

接触テイツプ4および5を互いに直接接触させ
た場合には、前記のように自己点検が行なわれ
る。この自己点検の際にもエネルギー蓄積装置は
充電される。
If the contact tapes 4 and 5 are brought into direct contact with each other, a self-inspection is carried out as described above. The energy storage device is also charged during this self-check.

放電時定数を小さくするため、スイツチS2に
より抵抗R11がコンデンサC1に並列に接続され
る。
To reduce the discharge time constant, switch S2 connects resistor R11 in parallel to capacitor C1.

第4図には、部分回路Aがさらに鎖線の枠で囲
んだ3つの部分にわけて示されており、また部分
回路Aの入出力端が他の回路のどの部分と接続さ
れているかが示されている。
In Fig. 4, partial circuit A is further divided into three parts surrounded by dashed lines, and it also shows which part of the other circuits the input/output terminals of partial circuit A are connected to. has been done.

回路に用いられる部品(インダクタンス、抵
抗、コンデンサ、ダイオード、ゼナダイオード、
トランジスタ、発光ダイオード)の選定は所望の
電圧範囲に関係する。その選定は、本発明の開示
に基づいて、当業者により困難なしに行なわれ得
よう。
Components used in circuits (inductance, resistance, capacitor, diode, Zena diode,
The choice of transistor (transistor, light emitting diode) depends on the desired voltage range. Its selection can be made without difficulty by a person skilled in the art based on the disclosure of the present invention.

次に、第6図により、入力抵抗を一時的に低く
するための回路を説明する。接触テイツプ4を備
えた試験グリツプ1と接触テイツプ5を備えた表
示グリツプ2とは、シールド6を施されたケーブ
ルにより互いに接続されている。試験グリツプ内
の高抵抗の直列抵抗器R30と表示グリツプ内の高
抵抗の直列抵抗器R0および全体回路18とが高
抵抗の直列回路を形成している。
Next, a circuit for temporarily lowering the input resistance will be explained with reference to FIG. Test grip 1 with contact tape 4 and display grip 2 with contact tape 5 are connected to each other by a shielded cable 6. The high resistance series resistor R30 in the test grip, the high resistance series resistor R0 in the display grip and the overall circuit 18 form a high resistance series circuit.

接触テイツプ間に試験対象電圧が印加されかつ
押ボタンスイツチ27が押されると、上記の直列
回路に少なくとも1つのPTC抵抗19が並列に
接続される。このPTC抵抗19と直列に一定抵
抗23が接続されており、それにより自己加熱過
程の時定数が定められる。
When the voltage under test is applied between the contact tapes and the pushbutton switch 27 is pressed, at least one PTC resistor 19 is connected in parallel to the series circuit described above. A constant resistor 23 is connected in series with this PTC resistor 19, thereby determining the time constant of the self-heating process.

必要に応じて負荷抵抗を一層低くするために
は、PTC抵抗19に他のPTC抵抗20,21お
よび22が並列に接続され、かつ一定抵抗23に
他の一定抵抗24,25および26が並列に接続
される。
In order to lower the load resistance even further if necessary, other PTC resistors 20, 21 and 22 are connected in parallel to the PTC resistor 19, and other constant resistors 24, 25 and 26 are connected in parallel to the constant resistor 23. Connected.

第7図には、種々の印加電圧における負荷電流
Iと時間tとの関係が示されている。
FIG. 7 shows the relationship between load current I and time t at various applied voltages.

曲線Xは印加電圧が380Vの場合であり、PTC
抵抗の有効時間が約4秒であることを示してい
る。すなわち、押ボタンスイツチ27(第6図)
を押した際に約4秒間にわたり4.2kΩの抵抗がス
イツチオンされ、従つて有効であり、それにより
89mAの電流が流れる。4.2kΩの抵抗はたとえば
3つの抵抗の並列接続により得られる。
Curve X is when the applied voltage is 380V, and PTC
It shows that the effective time of the resistance is about 4 seconds. That is, pushbutton switch 27 (FIG. 6)
When pressed, a 4.2 kΩ resistor is switched on for approximately 4 seconds and is therefore active, thereby
A current of 89mA flows. A resistance of 4.2 kΩ can be obtained, for example, by connecting three resistors in parallel.

曲線Yは印加電圧が220Vの場合であり、同じ
く4.2kΩの抵抗がスイツチオンされた際に有効時
間が18秒間にわたることを示している。
Curve Y is for an applied voltage of 220 V and shows that the effective time is 18 seconds when the same 4.2 kΩ resistor is switched on.

曲線Zは印加電圧が110Vの場合であり、同じ
く4.2kΩの抵抗がスイツチオンされた際に有効時
間が20秒以上であることを示している。
Curve Z is for an applied voltage of 110 V and shows that the effective time is more than 20 seconds when the same 4.2 kΩ resistor is switched on.

一般に電圧源の起動力UOを電圧計により測定
する場合、電圧源の内部抵抗がRI、電圧計の内
部抵抗がREであれば、電圧計により示されるの
はUOではなくUO・RE/(RI+RE)である。電圧
源の内部抵抗RIが電圧計の内部抵抗REにくらべ
て十分に小さければ、電圧計により示される電圧
はほぼUOに等しく、REの値が異なつても、大き
く変化することはない。すなわち、このような電
圧源はほぼ定電圧源であるとみなすことができ
る。それに対して、電圧源の内部抵抗RIが電圧
計の内部抵抗REにくらべて十分に小さくなけれ
ば、電圧計により示される電圧はUOよりも小さ
く、たとえばRI=REであればUO/2であり、し
かもREの値によつて大きく変化する。また、測
定の対象である電圧源は一般に内部抵抗が低いと
考えてよい。それに対して、静電誘導または電磁
誘導により電圧計に感応を生じさせる電圧源(測
定対象以外の電圧源)は一般に内部抵抗が著しく
高いと考えてよい。従つて、電圧計の内部抵抗が
高い時に示される電圧と電圧計の内部抵抗が低い
時に示される電圧との相違が小さいか大きいかに
よつて、示された電圧が測定対象電圧源によるも
のであるか、それ以外の電圧源によるものである
かを判別することができる。このことが本発明に
よる試験装置に利用されている。すなわち、下記
の過程で電圧源の判別が行なわれる。
Generally, when measuring the starting force U O of a voltage source with a voltmeter, if the internal resistance of the voltage source is R I and the internal resistance of the voltmeter is R E , the voltmeter will indicate U O instead of U O.RE /( RI + RE ). If the internal resistance R I of the voltage source is sufficiently smaller than the internal resistance R E of the voltmeter, the voltage indicated by the voltmeter will be approximately equal to U O and will not change significantly even if the value of R E differs. do not have. That is, such a voltage source can be considered to be a substantially constant voltage source. On the other hand, if the internal resistance R I of the voltage source is not sufficiently small compared to the internal resistance R E of the voltmeter, the voltage indicated by the voltmeter will be less than U O , for example, if R I = R E U O /2, and it changes greatly depending on the value of R E . Further, it can be considered that the voltage source to be measured generally has a low internal resistance. On the other hand, a voltage source (voltage source other than the object to be measured) that causes a voltmeter to respond due to electrostatic induction or electromagnetic induction can generally be considered to have a significantly high internal resistance. Therefore, depending on whether the difference between the voltage indicated when the internal resistance of the voltmeter is high and the voltage indicated when the internal resistance of the voltmeter is low is small or large, it can be determined whether the indicated voltage is due to the voltage source being measured. It is possible to determine whether the voltage source is present or due to some other voltage source. This is utilized in the test device according to the invention. That is, the voltage source is determined in the following process.

たとえば220Vの交流配電電圧を試験する場合、
220Vまでのすべての発光ダイオードが発光する。
そこで押ボタンスイツチ27を押して試験装置の
内部抵抗を一時的に低くした時に上記の発光ダイ
オードが発光し続けていれば、220Vの電圧は実
際に交流配電系統によるものであると判断され
る。それに対して、最初は220Vが表示されたの
に、押ボタンスイツチ27を押した時にたとえば
24Vまでの発光ダイオードしか発光しなくなれ
ば、220Vの電圧は内部抵抗の高い電圧源すなわ
ち交流配電系統以外の電圧源により惹起されたも
のであると判断される。
For example, when testing 220V AC distribution voltage,
All light emitting diodes up to 220V will emit light.
If the above-mentioned light emitting diode continues to emit light when the pushbutton switch 27 is pressed to temporarily lower the internal resistance of the test device, it is determined that the 220V voltage is actually due to the AC power distribution system. On the other hand, although 220V was initially displayed, when pushbutton switch 27 was pressed, for example,
If only light emitting diodes up to 24V emit light, it is determined that the voltage of 220V is caused by a voltage source with high internal resistance, that is, a voltage source other than the AC power distribution system.

好ましい実施例における部品 C1 エネルギー蓄積装置A2内のコンデンサ
(22μF/50V) C2 結合コンデンサ(3.3μF/50V) C3 平滑コンデンサ(1μF/35V) C4 結合コンデンサ(330pF/100V) C5 平滑コンデンサ(1μF/35V) C6 平滑コンデンサ(1.8nF) C7 結合コンデンサ(47nF) C8 結合コンデンサ(47nF) C9 結合コンデンサ(選択的、第5図参照)
(330pF) D1 全波整流回路のゼナダイオード(51V) D2 全波整流回路のゼナダイオード(51V) D3 しきい電圧形成用ゼナダイオード(13V) D4 パルス高さ制限用ゼナダイオード(2.4V) D5 電圧降下制限用ゼナダイオード(5.1V) D6 電圧降下制限用ゼナダイオード(3.3V) D7 電圧降下制限用ゼナダイオード(6.8V) D8 全波整流回路のダイオード(1N4148) D9 全波整流回路のダイオード(1N4148) D10 R1/R2の分圧比の減少用のダイオード
(1N4148) D11 R3/R4の分圧比の減少用のダイオード
(1N4148) D12 T1の阻止電圧の増大用のダイオード
(1N4148) D13 T2の阻止電圧の増大用のダイオード
(1N4148) D14 S2/15の後のダイオード(1N4148) D15 B1の前の保護ダイオード(1N4148) D16 D17,D19,D20と共に昇圧に用いられる
ダイオード(たとえば1N4148) D17 D16,D19,D20と共に昇圧に用いられる
ダイオード(たとえば1N4148) D18 回路部分A3のゼナダイオード(24V) D19 D16,D17,D20と共に昇圧に用いられる
ゼナダイオード(16V) D20 D16,D17,D19と共に昇圧に用いられる
ダイオード(1N4148) L 回路部分A1内のインダクタンス(100mH) LED1 6Vおよび負極性用発光ダイオード(たと
えばSiemens CQV 10−5/LD30) LED2 6Vおよび正極性用発光ダイオード(たと
えばSiemens CQV 10−5/LD30) LED3 12V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED4 24V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED5 50V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED6 110V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED7 220V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED8 380V用発光ダイオード(たとえば
Siemens CQV 10−5/LD30) LED9 660V用発光ダイオード(たとえば
Biemens CQV 10−5/LD30) R0 高抵抗の直列抵抗器(330kΩ) R1 入力分圧抵抗(100kΩ) R2 入力分圧抵抗(180kΩ) R3 入力分圧抵抗(100kΩ) R4 入力分圧抵抗(180kΩ) R5 T3の前の抵抗(47kΩ) R6 T4の前の抵抗(47kΩ) R7 T6の前の抵抗(100kΩ) R8 T8の前の抵抗(3.9kΩ) R9 発振器CのR10の前の抵抗(150kΩ) R10 発振器CのT5の前の抵抗(15kΩ) R11 抵抗(150kΩ) R12 抵抗(選択的、第4図参照)(5.6kΩ) R13 表示ステツプ50Vの分圧抵抗(6.8kΩ) R14 表示ステツプ24Vの分圧抵抗(8.2kΩ) R15 表示ステツプ12Vの分圧抵抗(100kΩ) R16 表示ステツプ660Vの分圧抵抗(6.8kΩ) R17 表示ステツプ380Vの分圧抵抗(2.4kΩ) R18 表示ステツプ220Vの分圧抵抗(5.1kΩ) R19 表示ステツプ110Vの分圧抵抗(10kΩ) R20 T14とT16との間の抵抗(15kΩ) R21 T16の前の抵抗(7.5kΩ) R22 抵抗(51Ω) R23 抵抗(68Ω) R30 高抵抗の直列抵抗器(330kΩ) R31 抵抗(選択的、第5図参照)(100kΩ) T1 緩衝増幅器内のエミツタホロワのトランジ
スタ(BC237) T2 緩衝増幅器内のエミツタホロワのトランジ
スタ(BC237) T3 LED2用トランジスタ(BC237) T4 LED1用トランジスタ(BC237) T5 発振器トランジスタ(BC546) T6 電池回路B内のスイツチオン用トランジス
タ(BC556) T7 緩衝トランジスタ(選択的、第5図参照)
(BC556) T8 表示ステツプ50Vのトランジスタ(BC237) T9 表示ステツプ24Vのトランジスタ(BC237) T10 表示ステツプ12Vのトランジスタ
(BC237) T11 表示ステツプ660Vのトランジスタ
(BC546) T12 表示ステツプ380Vのトランジスタ
(BC546) T13 表示ステツプ220Vのトランジスタ
(BC546) T14 表示ステツプ110Vのトランジスタ
(BC546) T15 縦続回路E用の定電流源(BC237) T16 縦続回路F用の定電流源(BC237)
Components in the preferred embodiment C1 Capacitor in energy storage device A2 (22μF/50V) C2 Coupling capacitor (3.3μF/50V) C3 Smoothing capacitor (1μF/35V) C4 Coupling capacitor (330pF/100V) C5 Smoothing capacitor (1μF/35V) ) C6 Smoothing capacitor (1.8nF) C7 Coupling capacitor (47nF) C8 Coupling capacitor (47nF) C9 Coupling capacitor (selective, see Figure 5)
(330pF) D1 Zena diode for full-wave rectifier circuit (51V) D2 Zena diode for full-wave rectifier circuit (51V) D3 Zena diode for threshold voltage formation (13V) D4 Zena diode for pulse height limitation (2.4V) D5 Voltage Zena diode for voltage drop limitation (5.1V) D6 Zena diode for voltage drop limitation (3.3V) D7 Zena diode for voltage drop limitation (6.8V) D8 Full-wave rectifier circuit diode (1N4148) D9 Full-wave rectifier circuit diode (1N4148) ) D10 Diode for reducing the voltage division ratio of R1/R2 (1N4148) D11 Diode for decreasing the voltage division ratio of R3/R4 (1N4148) D12 Diode for increasing the blocking voltage of T1 (1N4148) D13 Diode for increasing the blocking voltage of T2 Boosting diode (1N4148) D14 Diode after S2/15 (1N4148) D15 Protection diode before B1 (1N4148) D16 Diode used for boosting together with D17, D19, D20 (for example 1N4148) D17 D16, D19, D20 Diode (1N4148 for example) used for boosting together with D18 Zena diode (24V) in circuit part A3 D19 Zena diode (16V) used for boosting together with D16, D17, D20 D20 Diode (1N4148) used for boosting together with D16, D17, D19 ) L Inductance in circuit part A1 (100 mH) LED1 6V and light emitting diode for negative polarity (e.g. Siemens CQV 10-5/LD30) LED2 6V and light emitting diode for positive polarity (e.g. Siemens CQV 10-5/LD30) LED3 for 12V Light emitting diodes (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED4 24V light emitting diode (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED5 50V light emitting diode (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED6 110V light emitting diode (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED7 220V light emitting diode (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED8 380V light emitting diode (e.g.
Siemens CQV 10-5/LD30) LED9 660V light emitting diode (e.g.
Biemens CQV 10-5/LD30) R0 High resistance series resistor (330kΩ) R1 Input voltage divider resistor (100kΩ) R2 Input voltage divider resistor (180kΩ) R3 Input voltage divider resistor (100kΩ) R4 Input voltage divider resistor (180kΩ) R5 Resistor before T3 (47kΩ) R6 Resistor before T4 (47kΩ) R7 Resistor before T6 (100kΩ) R8 Resistor before T8 (3.9kΩ) R9 Resistor before R10 of oscillator C (150kΩ) R10 Resistor before T5 of oscillator C (15kΩ) R11 Resistor (150kΩ) R12 Resistor (selective, see Figure 4) (5.6kΩ) R13 Display step 50V voltage division resistor (6.8kΩ) R14 Display step 24V voltage division Resistor (8.2kΩ) R15 Display step 12V voltage dividing resistor (100kΩ) R16 Display step 660V voltage dividing resistor (6.8kΩ) R17 Display step 380V voltage dividing resistor (2.4kΩ) R18 Display step 220V voltage dividing resistor (5.1 kΩ) R19 Display step 110V voltage division resistor (10kΩ) R20 Resistor between T14 and T16 (15kΩ) R21 Resistor before T16 (7.5kΩ) R22 Resistor (51Ω) R23 Resistor (68Ω) R30 High resistance series Resistor (330kΩ) R31 Resistor (selective, see Figure 5) (100kΩ) T1 Transistor of the emitter follower in the buffer amplifier (BC237) T2 Transistor of the emitter follower in the buffer amplifier (BC237) T3 Transistor for LED2 (BC237) T4 LED1 (BC237) T5 Oscillator transistor (BC546) T6 Switch-on transistor in battery circuit B (BC556) T7 Buffer transistor (selective, see Figure 5)
(BC556) T8 Display step 50V transistor (BC237) T9 Display step 24V transistor (BC237) T10 Display step 12V transistor (BC237) T11 Display step 660V transistor (BC546) T12 Display step 380V transistor (BC546) T13 Display Step 220V transistor (BC546) T14 Display step 110V transistor (BC546) T15 Constant current source for cascade E (BC237) T16 Constant current source for cascade F (BC237)

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は試験装置全体の外観をほぼ1:1の尺
度で示す図、第2図は試験装置の動作原理を説明
するためのブロツク回路図、第3図は試験装置の
好ましい実施例の全体回路図、第4図は第3図の
回路の一部分を示す回路図、第5図は第4図の回
路の一部分に対する代替的な実施例を示す回路
図、第6図は入力抵抗を一時的に低くするための
回路を示す図、第7図は入力抵抗を一時的に低く
する場合の負荷電流と印加電圧との関係を示すグ
ラフである。 1……試験グリツプ、2……表示グリツプ、3
……ケーブル、4,5……接触テイツプ、6……
シールド、7,8……つば、9……凹み、10…
…圧電セラミツク振動板、11,12……励振電
極、13……帰還電極、14……S2の休止側端
子、15……S2の動作側端子、16……S1の休
止側端子、17……S1の動作側端子、18……
表示グリツプ内の回路全体、19〜22……
PTC抵抗、23〜26……一定抵抗、27……
押ボタンスイツチ、A……部分回路、B……電池
回路、C……発振器、D……緩衝増幅器、E,F
……電圧表示用縦続回路、G……電池ケース、A
1……昇圧回路、A2……エネルギー蓄積装置、
A3……導通試験および自己点検用回路、B1…
…電池(12V)、Bu……音響信号発生器(ブザ
ー)、S1,S2……開閉要素。
Fig. 1 is a diagram showing the external appearance of the entire test equipment on an approximately 1:1 scale, Fig. 2 is a block circuit diagram for explaining the operating principle of the test equipment, and Fig. 3 is an overall view of a preferred embodiment of the test equipment. 4 is a circuit diagram showing a portion of the circuit of FIG. 3; FIG. 5 is a circuit diagram showing an alternative embodiment to the portion of the circuit of FIG. 4; FIG. 6 is a circuit diagram showing a portion of the circuit of FIG. FIG. 7 is a graph showing the relationship between load current and applied voltage when temporarily lowering the input resistance. 1...Test grip, 2...Display grip, 3
... Cable, 4, 5 ... Contact tape, 6 ...
Shield, 7, 8...Brim, 9...Dent, 10...
...Piezoelectric ceramic diaphragm, 11, 12...Excitation electrode, 13...Return electrode, 14...S2 rest side terminal, 15...S2 operating side terminal, 16...S1 rest side terminal, 17... Operating side terminal of S1, 18...
The entire circuit in the display grip, 19-22...
PTC resistance, 23-26... Constant resistance, 27...
Push button switch, A... partial circuit, B... battery circuit, C... oscillator, D... buffer amplifier, E, F
... Voltage display cascade circuit, G ... Battery case, A
1... Booster circuit, A2... Energy storage device,
A3...Continuity test and self-inspection circuit, B1...
...battery (12V), Bu...acoustic signal generator (buzzer), S1, S2...opening/closing elements.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ケーブル3により接続されており接触テイツ
プ4,5を備えておりかつ接触テイツプ4,5の
後に接続された各1つの高抵抗の直列抵抗器
(R30、R0)を含んでいる2つのグリツプ1,2
から成り、これらのグリツプの一方2が、電圧範
囲(たとえば6、12、24、50、110、220、380、
660V)に割当てられた表示ステツプの光表示素
子(LED1〜9)と、音響信号発生器Buを駆動し
得る発振器Cと、両直列抵抗器(R30、R0)に
より制限された入力電流を増幅し内蔵の電池B1
をスイツチオンし電池からの表示電流により試験
対象電圧のステツプ表示およびその極性の表示な
らびに音響信号発生器のスイツチオンを可能にす
る緩衝増幅器Dとを含んでいる試験装置におい
て、 (イ) 発振器Cにより給電されて、電池により制限
された発振器電圧を高める役割をする昇圧回路
A1が設けられており、 (ロ) 開閉要素S2を介して昇圧回路A1の出力側
に接続されており、この開閉要素S2が休止位
置にある間は昇圧回路A1の出力電圧により充
電されるエネルギー蓄積装置A2(たとえばコ
ンデンサC1の形態のエネルギー蓄積装置)が
設けられており、 (ハ) エネルギー蓄積装置A2の充電の際に休止位
置にある開閉要素S2が、エネルギー蓄積装置
A2内に存在する電荷を緩衝増幅器Dの入力側
に与えそれにより試験装置のすべての表示機能
の健全性を順次に点検するため動作位置に切換
可能であり、 (ニ) 発振器Cが、上側電圧範囲(110V以上)内
の試験対象電圧の表示素子(LED6ないし
LED9)に与える表示電流も下側電圧測定範囲
(6V以上、110V未満)内の試験対象電圧の表
示素子(LED3ないしLED5)に与える表示電
流も短時間間欠的にスイツチオンする(すなわ
ちチヨツプする)トランジスタ(T15、T16)
のベースと接続されており、 (ホ) 休止位置ではゼナダイオードD18を橋絡し
ている別の開閉要素S1が設けられており、こ
の開閉要素S1を動作位置に切換えた状態で電
池B1のスイツチオンにより、両接触テイツプ
4および5の間に試験対象導体が存在する場合
にはその導通試験が行われ、両接触テイツプ4
および5を互いに直接接触させた場合には電池
B1、音響信号発生器Bu、極性表示用光表示
素子(LED1およびLED2)および電池電圧に
対応する電圧表示用光表示素子(LED3)の健
全性に関する試験装置の点検とエネルギー蓄積
装置内のコンデンサ(C1)の充電とが行なわ
れることを特徴とする電圧およびその極性の表
示および導通試験用の試験装置。 2 (イ) 入力回路としての役割をする緩衝増幅器
Dの前に2つの高抵抗かつ高耐電圧性の直列抵
抗器が接続されており、そのうち一方(R0)
は一方のグリツプ2内に、また他方(R30)は
シールド6を施されたケーブル3を介して隔て
られて他方のグリツプ1内におさめられてお
り、これらの両直列抵抗器(R0、R30)が試
験対象電圧により生ずる電流を制限して、入力
分圧器(抵抗R1およびR2またはR3およびR4)
およびこれに続くトランジスタ(T1および
T2)から成るエミツタホロワを含む緩衝増幅
器Dに与えており、前記トランジスタ(T1ま
たはT2)は試験対象電圧の極性に応じて、前
記トランジスタ(T1およびT2)およびゼナダ
イオード(D1およびD2)から形成されている
全波整流回路を介して導通状態になり、従つて
また極性に応じて極性表示用トランジスタ
(T3またはT4)が導通状態になり、正極性表
示用光表示素子(LED2)もしくは負極性表示
用光表示素子(LED1)の電流回路が、または
交流電圧では両方の光表示素子(LED1および
LED2)の電流回路が形成され、また同時に極
性表示用トランジスタ(T3またはT4)の導通
に電池回路スイツチング用トランジスタ(T6)
のベースが電池B1の正電位に対して電位差を
得ることによつて電池回路Bがスイツチオンさ
れ、極性表示用光表示素子の発光に必要な電流
が電池B1から供給され、 (ロ) 発振器Cが発振用トランジスタ(T5)と抵
抗(R9およびR10)とインダクタンスLと3
電極付きセラミツク振動子10から成る音響信
号発生器Buとから構成されており、 (ハ) 昇圧回路A1が4つのダイオード(D16、
D17、D19、およびD20)と3つの結合コンデ
ンサ(C2、C7およびC8)と1つのインダクタ
ンスLとから成るビルラード(Villard)式電
圧増幅回路であり、発振器Cを介して給電さ
れ、 (ニ) エネルギー蓄積装置A2がコンデンサ(C1)
と波高値整流の役割をするダイオード(D17)
と休止位置でこれらのコンデンサ(C1)およ
びダイオード(D17)を相互に接続している開
閉要素S2とから成り、昇圧回路A1からの電
圧パルスが波高値整流(ダイオードD17)によ
りコンデンサ(C1)に蓄積されることにより
コンデンサ(C1)が電圧パルスの波高値まで
充電され、 (ホ) エネルギー蓄積装置の開閉要素S2の動作位
置側端子と緩衝増幅器Dの一方の入力端との間
の接続路に保護ダイオード(D14)および電流
制限用抵抗(R12)が設けられている ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の試
験装置。 3 個々の電圧範囲をステツプ表示するための電
圧表示回路が互いに別個の表示電流を供給される
2つの電圧表示用縦続回路E,Fに分割されてお
り、下側電圧範囲(6V超過、110V未満)に対す
る縦続回路Eは電池B1からスイツチング用トラ
ンジスタ(T6)を介して給電され、上側電圧範
囲(110V以上)に対する縦続回路Fは昇圧回路
A1から給電され、また両縦続回路E,Fが電流
節減のため発振器Cの周波数で間欠的に開閉(す
なわちチヨツプ)されることを特徴とする特許請
求の範囲第1項または第2項記載の試験装置。 4 エネルギー蓄積装置の開閉要素S2の動作位
置側端子と保護ダイオード(D14)との間の電流
制限用抵抗(R12)が抵抗(R31)、緩衝トラン
ジスタ(T7)および結合コンデンサ(C9)から
成る回路により置換されており、緩衝トランジス
タ(T7)のコレクタが保護ダイオード(D14)
と、そのエミツタおよび抵抗31の一方の端子が
開閉要素S2の動作位置側端子15と、また緩衝
トランジスタ(T7)のベースが抵抗31の他方
の端子および結合コンデンサ(C9)の一方の極
と、さらに該結合コンデンサ(C9)の他方の極
は音響信号発生器Buと接続されていることを特
徴とする特許請求の範囲第2項または第3項記載
の試験装置。 5 高い(600kΩ以上の)入力抵抗を一時的に低
くする目的で、グリツプ2内の回路全体18とグ
リツプ2および1内におさめられている高抵抗の
直列抵抗器(R0およびR30)とに、200Ωと5kΩ
との間の定格抵抗RNを有し少なくとも1秒の自
己加熱の時定数(作動停止時間taB)を保証する
PTC抵抗19,20,21,22が選択的にス
イツチオン可能に並列に接続されていることを特
徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項のい
ずれかに記載の試験装置。 6 各PTC抵抗19,20,21,22と、実
際上一定の抵抗値を有する抵抗23,24,2
5,26が直列に接続されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第5項記載の試験装置。 7 試験装置の入力抵抗(R0+R30)が660kΩの
場合に、選択的にスイツチオン可能なPTC抵抗
19,20,21,22が200kΩから5kΩまでの
範囲の定格抵抗値を有することを特徴とする特許
請求の範囲第5項または第6項記載の試験装置。 8 少なくとも1つの一定抵抗23,24,2
5,26が1kΩと15kΩとの間の抵抗値を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第7項記載の試
験装置。
Claims: 1 connected by a cable 3 and comprising contact tapes 4, 5 and each including one high resistance series resistor (R30, R0) connected after the contact tapes 4, 5; Two grips 1 and 2
and one of these grips 2 has a voltage range (e.g. 6, 12, 24, 50, 110, 220, 380,
660V), an oscillator C that can drive the acoustic signal generator Bu, and an input current limited by both series resistors (R30, R0). Built-in battery B1
(a) A buffer amplifier D that is powered by an oscillator C, and a buffer amplifier D that enables step display of the voltage to be tested and its polarity as well as switch-on of an acoustic signal generator by switching on the display current from the battery. A booster circuit A1 is provided which serves to increase the oscillator voltage limited by the battery, and (b) is connected to the output side of the booster circuit A1 via a switching element S2, and this switching element S2 is An energy storage device A2 (e.g. in the form of a capacitor C1) is provided which is charged by the output voltage of the booster circuit A1 while in the rest position; The switching element S2 in the position can be switched into the operating position in order to transfer the charge present in the energy storage device A2 to the input side of the buffer amplifier D, thereby sequentially checking the health of all display functions of the test device. Yes, (d) Oscillator C connects the display element (LED6 or
The display current given to LED9) and the display current given to the display elements (LED3 to LED5) of the voltage under test within the lower voltage measurement range (6V or more, less than 110V) are switched on (that is, chopped) intermittently for short periods of time. (T15, T16)
(e) Another switching element S1 is provided which bridges the Zena diode D18 in the rest position, and when this switching element S1 is switched to the operating position, the switch of the battery B1 is switched on. Accordingly, if there is a conductor to be tested between both contact tapes 4 and 5, a continuity test is performed on it, and both contact tapes 4 and 5 are tested for continuity.
and 5 in direct contact with each other, the health of the battery B1, the acoustic signal generator Bu, the optical display element for polarity display (LED1 and LED2), and the optical display element for voltage display (LED3) corresponding to the battery voltage. A test device for displaying voltage and its polarity and for continuity testing, characterized in that the test device is inspected and a capacitor (C1) in an energy storage device is charged. 2 (a) Two high-resistance, high-withstand-voltage series resistors are connected in front of the buffer amplifier D, which serves as an input circuit, and one of them (R0)
is housed in one grip 2, and the other (R30) is housed in the other grip 1, separated by a cable 3 with a shield 6, and both series resistors (R0, R30) limits the current produced by the voltage under test and connects the input voltage divider (resistors R1 and R2 or R3 and R4)
and the following transistors (T1 and
The transistor (T1 or T2) is formed from the transistor (T1 and T2) and the Zener diode (D1 and D2) depending on the polarity of the voltage under test. The transistor (T3 or T4) for polarity display becomes conductive depending on the polarity, and the light display element (LED2) for positive polarity display or negative polarity display becomes conductive through the full-wave rectifier circuit. The current circuit of the light display element (LED1) for use, or the AC voltage for both light display elements (LED1 and
The current circuit for LED2) is formed, and at the same time the polarity display transistor (T3 or T4) is made conductive by the battery circuit switching transistor (T6).
By obtaining a potential difference between the base of the battery B1 and the positive potential of the battery B1, the battery circuit B is switched on, and the current necessary for light emission of the light display element for polarity display is supplied from the battery B1, and (b) the oscillator C is activated. Oscillation transistor (T5), resistor (R9 and R10), inductance L and 3
(c) The booster circuit A1 consists of four diodes (D16,
D17, D19, and D20), three coupling capacitors (C2, C7, and C8), and one inductance L, which is powered via an oscillator C and (d) energy Storage device A2 is a capacitor (C1)
and a diode (D17) that plays the role of peak value rectification.
and a switching element S2 that interconnects these capacitors (C1) and diodes (D17) in the rest position, and voltage pulses from the booster circuit A1 are applied to the capacitors (C1) by peak value rectification (diode D17). As a result, the capacitor (C1) is charged to the peak value of the voltage pulse, and (e) the connection path between the operating position side terminal of the switching element S2 of the energy storage device and one input terminal of the buffer amplifier D is charged. 2. The test device according to claim 1, further comprising a protection diode (D14) and a current limiting resistor (R12). 3. The voltage display circuit for step displaying the individual voltage ranges is divided into two voltage display cascade circuits E and F that are supplied with display currents separate from each other. ) is fed from the battery B1 via the switching transistor (T6), the cascade F for the upper voltage range (above 110 V) is fed from the booster circuit A1, and both cascades E and F are supplied with current saving power. 3. The test device according to claim 1, wherein the test device is intermittently opened and closed (that is, chopped) at the frequency of the oscillator C. 4 A circuit in which the current limiting resistor (R12) between the operating position side terminal of the switching element S2 of the energy storage device and the protection diode (D14) is composed of a resistor (R31), a buffer transistor (T7), and a coupling capacitor (C9). The collector of the buffer transistor (T7) is replaced by a protection diode (D14).
, its emitter and one terminal of the resistor 31 are connected to the operating position side terminal 15 of the switching element S2, and the base of the buffer transistor (T7) is connected to the other terminal of the resistor 31 and one pole of the coupling capacitor (C9), 4. The test device according to claim 2, wherein the other pole of the coupling capacitor (C9) is further connected to an acoustic signal generator Bu. 5. For the purpose of temporarily lowering the high (600 kΩ or more) input resistance, the entire circuit 18 in grip 2 and the high resistance series resistors (R0 and R30) housed in grips 2 and 1, 200Ω and 5kΩ
and guarantee a self-heating time constant (stopping time t aB ) of at least 1 second.
5. The test device according to claim 1, wherein the PTC resistors 19, 20, 21, and 22 are connected in parallel so that they can be selectively switched on. 6. Each PTC resistor 19, 20, 21, 22 and a resistor 23, 24, 2 having a practically constant resistance value.
5. The test device according to claim 5, wherein the test devices 5 and 26 are connected in series. 7. A patent claim characterized in that the selectively switchable PTC resistors 19, 20, 21, 22 have a rated resistance value in the range from 200 kΩ to 5 kΩ when the input resistance (R0 + R30) of the test device is 660 kΩ. The test device according to the scope of item 5 or 6. 8 At least one constant resistance 23, 24, 2
8. Test device according to claim 7, characterized in that 5, 26 have a resistance value between 1 kΩ and 15 kΩ.
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