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JPH0416953B2 - - Google Patents
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JPH0416953B2 - - Google Patents

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JPH0416953B2
JPH0416953B2 JP58218964A JP21896483A JPH0416953B2 JP H0416953 B2 JPH0416953 B2 JP H0416953B2 JP 58218964 A JP58218964 A JP 58218964A JP 21896483 A JP21896483 A JP 21896483A JP H0416953 B2 JPH0416953 B2 JP H0416953B2
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JP
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sectional
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (ア) 技術分野 この発明は、発光ダイオードやフオトダイオー
ドなどの光素子を収納するための光素子用パツケ
ージに関する。
光素子用パツケージに対して要求される技術的
要請は、 (1) 光に対して透明な光導入用構造を有するこ
と。
(2) 光素子にダイヤボンド及びワイヤボンドなど
の配線を行い、光素子から電極端子をとり出す
こと。
(3) 光素子を気密封止すること。
(4) 光フアイバとの結合効率が高いこと。
発光ダイオードチツプ又はフオトダイオードチ
ツプと光フアイバの端面が十分近接しており、開
口角が広いことである。
本発明は、この内、特に(4)の要請に応えるもの
である。
(イ) 従来技術(上面タイプ) 第15図は従来例に係るフオトダイオード用パ
ツケージの断面図である。これは、上面から光フ
アイバの光を入射させる最も一般的なタイプであ
る。
TO18型パツケージ40は、パツケージ本体4
1と、この上面に被蓋されるキヤツプ42とより
なる。キヤツプ42の上面中央は開口になつてお
り、透明コバールガラスによる窓43が設けてあ
る。
フオトダイオードチツプ44はパツケージ本体
41の底板にダイボンデイングされている。
本体41の底板にはリード45が設けられる。
リード46と、フオトダイオードチツプ44の上
の電極とが金線47によつてワイヤボンドされ
る。光フアイバ48は窓43の外側にフオトダイ
オードチツプ44と対向するように設けられる。
キヤツプ42と本体41は溶接される。このパ
ツケージは既に長い実績を有するハーメチツクシ
ールタイプである。
このパツケージはワイヤボンデイング(金線4
7)の存在する上面から光を入射させるので、フ
オトダイオードチツプ44の上面と窓43の距離
が長くなりすぎる。このため、光フアイバ48と
の結合効率が上らない、という欠点があつた。
第16図は第15図と同じ上面タイプの光素子
用パツケージを示す。透明コバールガラス43の
代わりに、サフアイヤ板43′の窓が設けられて
いる。
これも、ワイヤボンデイングされた金線47の
ため、フオトダイオードチツプとサフアイヤ板4
3′が離隔し、光フアイバ48との結合効率が悪
い、という欠点がある。
(ウ) 従来技術(下面通し穴タイプ) 光フアイバとチツプを近接させるためには、ワ
イヤのある上面では限界があり、下面を使つた方
が良いと考えられる。
そこで、第17図〜第19図に示す下面通し穴
タイプの光素子用パツケージが作製された。
第15図と共通する部材については同じ引用数
字を用いた。第17図に於て、キヤツプ42には
窓がない。フオトダイオードチツプ44の下部に
当る部分のパツケージ本体41には、軸方向の広
い通し穴50が穿たれている。
光フアイバ48はパツケージ本体41の下方の
通し穴50に端面が対向するように設けられる。
光フアイバ48からの光は、通し穴50を通つて
フオトダイオードチツプ44に裏面から入射す
る。
第18図に示す例は、通し穴50を広くして、
光フアイバ48の先端を通し穴50に挿入固定し
たものである。フオトダイオードチツプ44と、
光フアイバ48の端面間距離を狭くすることがで
きる。
しかし、この例は、光フアイバ48の先端を通
し穴50に挿入した時、フオトダイオードチツプ
44に接触して、これを破損する惧れがある。ま
た、光フアイバ48の固定が難しい。
第19図の例は、通し穴50を、コバールガラ
ス51で封止したパツケージを示す。
これら下面通し穴タイプの光素子パツケージの
難点を、第20図、第21図の拡大断面図によつ
て説明する。
フオトダイオードチツプ44のpn接合部が受
光部52となる。通し穴50の下方から、光が受
光部52に入射する。通し穴50のエツジ53に
よつて制限され、僅かな開口角θ内の光線のみが
受光部52に到達する。
光フアイバ48の端面をパツケージ本体41の
下面に接触させても、開口角θの制限を受ける。
次に取付けの困難という問題がある。
通し穴50は丸い孔で、フオトダイオードチツ
プ44は、通し穴50以外の接触部54に於てダ
イボンデイングされる。チツプは小さく、通し穴
50も小さい。このため、位置合わせが難しい。
通し穴50の中心軸と受光部52が横方向にず
れると、第21図に示すように、開口角θが、ず
れた側に於てより狭くなる。この図では右方へチ
ツプがずれており、受光部52の右方の部分には
光が到達しにくくなる。フオトダイオードの入射
光量が減るので、検出感度が低くなる。
受光部52に入射する光の開口角を大きくする
には、通し穴50を短かくし、断面積を広くしな
ければならない。
通し穴50の長さは、パツケージ本体41の底
板の厚みに等しい。これを薄くすると、機械的強
度が不十分になる。本体41は、金属、セラミツ
クであるが、薄くするには限度がある。本体が、
チツプ、リード、キヤツプなどを支持する力学的
中心であるからである。
通し穴50の直径を広くすると、フオトダイオ
ードチツプ44の寸法も大きくしなければならな
い。半導体の寸法が大きくなるとコスト高になる
し、チツプの強度も弱くなる。
(エ) 従来技術(サフアイヤ基板タイプ) そこで本発明者は、サフアイヤ基板上に、欠損
部を有するダイボンド用パツドを設け、パツド上
に光素子をダイボンドし、サフアイヤ基板の裏面
に、光フアイバ端面を対向させるようにした光素
子用パツケージを発明した。
第1図はそのような光素子用パツケージの平面
図、第2図は第1図中の−断面図である。第
3図はフオトダイオードチツプをダイボンデイン
グし、かつ金線などをワイヤボンデイングした状
態の断面図を示している。
サフアイヤ基板1の上に、下枠2を接着してあ
る。下枠2は絶縁体であればよく、ここではアル
ミナ焼結体を用いた。サフアイヤ基板1と下枠2
の接着は、例えばろう付けとする。
サフアイヤ基板1の中央には、欠損部4を有す
る導電性のダイボンデイング用パツド3をメタラ
イズして設ける。ダイボンデイング用パツド3は
下枠2の一辺を越えて、端まで延長している。
欠損部4は光を通す部分で、この例では丸くな
つている。しかし、丸くなくてもよく、角形でも
差支えない。
下枠2の上には、上枠5を接着する。この例で
は上枠5もアルミナとしている。上枠5と下枠2
とは絶縁性の接着剤で接着する。
ダイボンデイング用パツド3の延長辺には、リ
ード6をハンダ付する。
下枠2の対向辺には、ワイヤボンデイング用パ
ツド8がメタライズしてある。ワイヤボンデイン
グ用パツド8の延長辺には、リード7がハンダ付
けしてある。
このようなパツケージに、第3図に示すよう
に、フオトダイオード、発光ダイオードなどの光
素子チツプ9を接着する。
光素子チツプ9は、ダイボンデイング用パツド
3の上に載置する。この時、欠損部4の中心と、
光素子チツプ9の中心とが一致するよう位置合わ
せする。
パツド3は、例えは、AuSnの共晶のようなリ
ングハンダである。光素子チツプ9を押えて超音
波などのエネルギーを加えると、ハンダがとけ
て、チツプ9がパツド3の上に固定される。
さらに、金線などをワイヤボンデイング10し
て、ワイヤボンデイング用パツド8と、光素子チ
ツプ9の電極部とを接続する。
通常は、上枠5の上へ、さらにアルミナキヤツ
プを接着し、内部空間を封止する。
第4図は、ダイボンデイング用パツド3の欠損
部4の近傍のみの拡大平面図である。
第5図は、第4図中の−断面図である。
理想的な場合、ここに示すように、サフアイヤ
基板1は平坦で、ダイボンデイング用パツド3は
平坦である。
パツド3が真に平坦であれば、光素子チツプは
厳密に、定位置へ、安定した状態で固定すること
ができる。
しかしながら、実際には、ダイボンデイング用
パツド3は平坦にはならない。
この理由を考慮したところ、次のような事が分
つた。
第6図は、サフアイヤ基板上に、導電性(例え
ば金)ペーストを印刷した状態の断面図である。
厚膜印刷であるから、パツドの形状に等しい穴が
切り取られた薄いスクリーンをサフアイヤ基板1
の上に重ねて、金ペースト13を塗布する。この
状態では、金ペーストの上面は平坦である。
次に、金ペーストを固化するため、炉の中へサ
フアイヤ基板1を入れて焼成する。
焼成工程に於て、金ペースト13の端部14が
表面張力のために盛り上る。このため、端部14
が高く、その他の部分は低くなる。炉からとり出
した後、そのような不定形のまま固化する。
第7図はこのような焼成後のパツドの状態を示
す断面図である。
第8図はパツドの上に光素子チツプ9をダイボ
ンドした状態を示す断面図である。焼成時のペー
ストの伸縮によつて、ペーストの上面は多くの凹
凸を有する。この上に、平坦な光素子チツプ9を
接着するのは無理がある。チツプ9が弱い振動な
どによつて、剥離するからである。
(オ) 本発明の構成 本発明は、第1図のような光素子用パツケージ
に於て、ダイボンデイング用パツド3のメタライ
ズの問題を解決するものである。焼成によつて、
金ペーストが端部に於て隆起するのであるから、
隆起する分だけ、予め、サフアイヤ基板を浅く削
つておけばよい。
第9図〜第12図のサフアイヤ基板1の断面図
によつて説明する。
第9図はサフアイヤ基板1の断面図である。平
坦で透明である。厚さは、この例では0.2mmであ
る。
第10図は、平坦なサフアイヤ基板1に、浅い
テーパ部16、これに続く窪み17を設ける。テ
ーパ部16、窪み17は、Arレーザによつて加
工する。機械的に加工することもできる。
サフアイヤ基板1の上面15と窪み17の差は
5〜10μmとした。
次に第11図に示すように、ダイボンデイング
用パツド3となるべき形状に金ペーストなど、導
電性ペースト18をスクリーン印刷する。窪み1
7が、パツド3の欠損部4に対応するようにす
る。ペースト18の欠損部4に対応する端部19
は、なだらかに窪み17に向つて傾斜する。
スクリーン印刷したものを乾燥させ、炉の中に
入れて焼成する。第12図は焼成後のサフアイヤ
基板、ペーストの断面図である。
焼成することによつて、ペースト端部19が隆
起する。しかし、隆起の高さは、たかだか5μm
である。テーパ部16にペースト端部がかかつて
いるので、隆起があつても、金ペースト18の他
の部分より高くはならない。
このような、ダイボンデイング用パツド3に、
光素子チツプ9をダイボンドする。端部の隆起は
低くなつているので、チツプ9の底面を不均等に
持ち上げる、ということはない。
これ以後は、既に述べた工程に従つて、第1
図、第2図に示されるような光素子用パツケージ
が作製される。そして、第3図に示されるよう
に、光素子チツプ9がダイボンデイングされ、ワ
イヤボンデイング10して、キヤツプシールする
と、光素子となる。
(カ) 効果 (1) 光素子チツプのダイボンドの安全性が増す。
金ペーストを焼成した時、端部に生ずる隆起
が低くなつており、光素子チツプの面に接触し
ない。金ペーストの平坦な面だけがチツプ裏面
に接触し、平滑な接触面となるからである。
(2) この光素子チツプのパツケージングは、第1
4図に示す下面通し穴タイプのように、開口角
の強い制限を受けない。第15図に示す本発明
のパツケージング構造は、受光部52へ到達す
る光がパツド3の欠損部4を通るようになつて
いる。欠損部4は、チツプ9に接触しており、
しかも極めて薄い。従つて、広い開口角θに含
まれる光を受光部52へ入射させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光素子用パツケージの平面
図。第2図は第1図中の−断面図。第3図は
光素子用パツケージの中に光素子チツプをダイボ
ンデイングした断面図。第4図はダイボンデイン
グ用パツドの部分の拡大平面図。第5図は第4図
中の−断面図。第6図はサフアイヤ基板上に
金ペーストをスクリーン印刷した状態を示す断面
図。第7図は焼成後のサフアイヤ基板上の金ペー
ストの状態を示す断面図。第8図は金ペーストの
上に光素子チツプを載せた状態を示す断面図。第
9図はサフアイヤ基板の断面図。第10図はサフ
アイヤ基板にテーパ部、窪みを設けた状態の断面
図。第11図はテーパ部に端部が位置するよう金
ペーストをスクリーン印刷した状態の断面図。第
12図は焼成後の金ペーストの状態を示す断面
図。第13図は本発明の光素子用パツケージに於
けるチツプの受光部と開口角の関係を説明する断
面図。第14図は従来の下面通し穴タイプのパツ
ケージに於けるチツプ受光部と開口角の関係を説
明する断面図。第15図は公知の上面タイプの光
素子用パツケージの断面図。ガラス窓を有する
例。第16図は公知の上面タイプの光素子用パツ
ケージの断面図。サフアイヤ板窓を有する例。第
17図は従来例の下面通し穴タイプの光素子用パ
ツケージの断面図。第18図は従来例に係る下面
通し穴タイプの光素子用パツケージの断面図。第
19図は従来例に係る下面通し穴タイプの光素子
用パツケージの断面図。第20図は下面通し穴タ
イプの受光部に入射する光の範囲を示すための拡
大断面図。第21図は下面通し穴タイプの光素子
用パツケージに於て、チツプの取付位置がずれた
場合の、受光部に入射する光の範囲を示すための
拡大断面図。 1……サフアイヤ基板、2……下枠、3……ダ
イボンデイング用パツド、4……欠損部、6,7
……リード、8……ワイヤボンデイング用パツ
ド、9……光素子チツプ、10……ボンデイング
ワイヤ、13……金ペースト、14……金ペース
トの端部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 サフアイヤ基板1と、サフアイア基板1上に
    導体ペーストを印刷し焼成した欠損部4を有する
    ダイボンデイング用パツド3と、ダイボンデイン
    グ用パツド3の上にダイボンドされる発光又は受
    光素子よりなる光素子チツプ9と、サフアイヤ基
    板1上に固着される下枠2と、下枠2の上に設け
    られ光素子チツプ9とワイヤボンデイング10さ
    れるワイヤボンデイング用パツド8と、ダイボン
    デイング用パツド3、ワイヤボンデイング用パツ
    ド8に接続されたリード6,7と、下枠2の上に
    固着される上枠5を含み、光はサフアイヤ基板1
    とダイボンデイング用パツド3の欠損部4を通つ
    て光素子チツプ9に出入することとした光素子用
    パツケージに於て、サフアイヤ基板1に予め浅い
    テーパ部16を設け導体ペーストの欠損部4に当
    る端部がテーパ部16の上に存在するようにした
    事を特徴とする光素子用パツケージ。
JP58218964A 1983-11-21 1983-11-21 光素子用パツケ−ジ Granted JPS60110180A (ja)

Priority Applications (18)

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JP58218964A JPS60110180A (ja) 1983-11-21 1983-11-21 光素子用パツケ−ジ
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EP88202641A EP0313174B1 (en) 1983-11-21 1984-11-14 Method for producing optical devices and packages
EP84307870A EP0145316B1 (en) 1983-11-21 1984-11-14 Optical device and package for optical device
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