Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0423741B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0423741B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0423741B2
JPH0423741B2 JP3733184A JP3733184A JPH0423741B2 JP H0423741 B2 JPH0423741 B2 JP H0423741B2 JP 3733184 A JP3733184 A JP 3733184A JP 3733184 A JP3733184 A JP 3733184A JP H0423741 B2 JPH0423741 B2 JP H0423741B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capsule
cap
twin
circuit
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3733184A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS60183544A (en
Inventor
Yukimasa Tachibana
Masahiro Kishi
Juji Imi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP3733184A priority Critical patent/JPS60183544A/en
Publication of JPS60183544A publication Critical patent/JPS60183544A/en
Publication of JPH0423741B2 publication Critical patent/JPH0423741B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9508Capsules; Tablets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、医療用カプセル検査装置に関するも
のであり、更に詳しくは、薬剤充填前のツインキ
ヤツプと称される不良カプセルを検出するための
カプセル検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to a medical capsule inspection device, and more particularly to a capsule inspection device for detecting defective capsules called twin caps before drug filling. This relates to inspection equipment.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

第1図aは、薬剤充填前の空カプセルにおいて
は、キヤツプ1とボデー2の結合は仮結合状態に
なつていることを示すためのカプセル外観図であ
り、第1図bは充填後のカプセルにおいては、両
者の結合は本結合状態になつていることを示すた
めの外観図、である。なお、3はキヤツプとボデ
ー本結合した場合にパチンと相互にロツクし合う
ためのノツチを示している。
FIG. 1a is an external view of the capsule to show that the cap 1 and body 2 are in a temporary bonded state in an empty capsule before being filled with a drug, and FIG. 1b is an external view of the capsule after being filled. This is an external view showing that the two are in a fully connected state. Note that 3 indicates a notch for locking each other with a snap when the cap and body are combined.

第1図bにおいては、ボデー2の先端がキヤツ
プ1の奥にまで入り込み、ボデーとキヤツプが本
結合されているのに対し、第1図aにおいては、
ボデー2の先端はキヤツプ1の奥にまでは入ら
ず、仮結合状態にあることがわかるであろう。
In Fig. 1b, the tip of the body 2 has penetrated deep into the cap 1, and the body and cap are permanently connected, whereas in Fig. 1a,
It can be seen that the tip of the body 2 does not go all the way into the cap 1 and is in a temporarily connected state.

このように仮結合状態にあるボデーとキヤツプ
は、結合力が弱いので、相互に分離しやすい。従
つて、このような空カプセルを検査装置などにか
けて振動を与えると、キヤツプがボデーから抜
け、他の正常なカプセルのボデーに後から結合
し、第2図に示したような不良カプセル(以下、
ツインキヤツプカプセルともいう。)を作ること
がある。なお、第2図はかかるツインキヤツプカ
プセルを示す外観図である。
The body and cap, which are in this temporary bonded state, have a weak bonding force and are therefore easy to separate from each other. Therefore, when such an empty capsule is subjected to vibrations by an inspection device, the cap comes off from the body and is later joined to the body of another normal capsule, resulting in a defective capsule (hereinafter referred to as
Also called twin cap capsule. ) may be made. Incidentally, FIG. 2 is an external view showing such a twin cap capsule.

このようなツインキヤツプカプセルを目視によ
らず自動的に検出する装置は、既に本出願と同じ
出願人によつて出願されている。(特願昭57−
158178号(特開昭59−48645号公報)参照)。その
発明では、第2図において見られるとおり、ツイ
ンキヤツプカプセルには必ず2個のノツチがある
ことに着目し、これを検出してツインキヤツプの
識別を可能としている。しかし、上記出願の方式
は大部分のカプセルに対しては有効であるが、或
る1部のカプセルに対しては不十分であることが
判明した。すなわち、カプセルのボデーの材質が
不透明で、キヤツプの材質が透明と不透明中間で
ある場合はノツチ部からの信号が微弱で、ボデー
部におけるノイズ信号との差が少なくなり、ノツ
チ部からの信号がノツチ部のないボデー部におけ
る信号より充分大きいことを前提として成り立つ
上記出願の方式では判定が困難になるという点で
ある。
A device for automatically detecting such twin cap capsules without visual inspection has already been filed by the same applicant as the present application. (Special application 1987-
No. 158178 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 59-48645)). In that invention, as seen in FIG. 2, attention is paid to the fact that twin cap capsules always have two notches, and by detecting this, it is possible to identify twin caps. However, although the method of the above application is effective for most capsules, it was found to be insufficient for a certain portion of capsules. In other words, if the material of the capsule body is opaque and the material of the cap is between transparent and opaque, the signal from the notch will be weak and the difference from the noise signal in the body will be small, and the signal from the notch will be weak. The problem is that the method of the above-mentioned application, which is based on the premise that the signal is sufficiently larger than the signal in the body part without the notch part, makes determination difficult.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、前述の如きキヤツプノツチ信号とボ
テー部ノイズ信号との差が少ない場合でも、ツイ
ンキヤツプと良品とを正確に判別することが可能
な新しい検査装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a new inspection device that can accurately discriminate between twin caps and non-defective products even when there is a small difference between the cap notch signal and the bottom noise signal as described above.

〔発明の要点〕[Key points of the invention]

キヤツプのノツチ部からの信号とボデー部のノ
イズ信号を詳細に比較し、次の差に着目した。
We compared the signals from the cap notch and the noise signals from the body in detail, and focused on the following differences.

ノツチはキヤツプに2個設けてある(第2図の
状態を表とすると、その裏側にも設けられてい
る)。このため、カプセルが搬送の過程で1回転
する間に1つのノツチ部からの信号は2個発生す
るので、これを積分して得られる積分出力は、ボ
デー部から普通、1回又はそれ以下しか発生しな
い信号(ノイズ)の積分値より充分大きい。
Two notches are provided on the cap (if the state shown in Figure 2 is the front side, there are also two notches on the back side). For this reason, two signals are generated from one notch while the capsule rotates once during the transportation process, so the integral output obtained by integrating these signals is normally transmitted from the body only once or less. It is sufficiently larger than the integral value of the signal (noise) that does not occur.

つまり、本発明では、上記の差を検出するため
に、ツインキヤツプのノツチ部に対応した2つの
領域でそれぞれ前述の微分信号を整流した後積分
し、その結果をそれぞれ規準値と比較し、規準値
を越えている場合はキヤツプ部、規準値より低い
場合はボデー部とそれぞれ判定するようにしたの
で、ツインキヤツプ(不良品)であればキヤツプ
部が2箇所、それ以外ではキヤツプ部が1個所検
出されるので、それによつてツインキヤツプ(不
良品)を判定するようにしたものである。
That is, in the present invention, in order to detect the above-mentioned difference, the above-mentioned differential signal is rectified and then integrated in two regions corresponding to the notch portion of the twin cap, and the results are compared with the standard value. If the value exceeds the standard value, it is judged as the cap part, and if it is lower than the standard value, it is judged as the body part, so if it is a twin cap (defective product), there are two cap parts, and otherwise, there is one cap part. Since this is detected, twin caps (defective products) are determined based on this detection.

〔発明の実施例〕 次に図を参照して本発明の一実施例を説明す
る。
[Embodiment of the Invention] Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

一般に、カプセルの如き円筒状物体の光学的セ
ンサによる外観検査装置はすでに本発明者等によ
り提案(例えば特願昭57−040183号)されてお
り、光学的センサについては、既提案にかかるも
のを本発明においても使用するので、その概要を
以下に先ず説明する。
Generally, an appearance inspection device using an optical sensor for a cylindrical object such as a capsule has already been proposed by the present inventors (for example, in Japanese Patent Application No. 57-040183), and as for the optical sensor, Since it is also used in the present invention, its outline will first be explained below.

第3図はかかる光学的センサの概要を示す断面
図である。同図において、5は自転しながら進行
するカプセル、6は光源7、コンデンサレンズ
8、ハーフミラー9、レンズ10、アパーチヤ1
1およびフオトダイオード12等からなるセンサ
である。
FIG. 3 is a sectional view showing an outline of such an optical sensor. In the figure, 5 is a capsule that advances while rotating, 6 is a light source 7, a condenser lens 8, a half mirror 9, a lens 10, and an aperture 1.
1, a photodiode 12, and the like.

第3図において、光源7から放射された光はコ
ンデンサレンズ8で集光された後、ハーフミラー
9で光路を45°曲げられ、レンズ10を介してカ
プセル5に照射される。カプセル表面で反射され
た光はレンズ10、ハーフミラー9、アパーチヤ
11を介してフオトダイオード12に入射する。
フオトダイオード12で入射光量は光電変換さ
れ、その出力が後述の判定回路に導かれるわけで
ある。
In FIG. 3, light emitted from a light source 7 is condensed by a condenser lens 8, then its optical path is bent by 45° by a half mirror 9, and is irradiated onto a capsule 5 via a lens 10. The light reflected on the capsule surface enters a photodiode 12 via a lens 10, a half mirror 9, and an aperture 11.
The amount of incident light is photoelectrically converted by the photodiode 12, and its output is guided to a determination circuit to be described later.

第4図は、ノツチの如き凹みにおいては、反射
光量が減じ、従つてセンサ出力も減少することを
示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing that in a depression such as a notch, the amount of reflected light decreases, and therefore the sensor output also decreases.

同図において、平坦領域Aに於いてはセンサか
ら照射された光15はセンサの光軸方向に360°正
反射されるのでフオトダイオードに届く光量は大
きい。しかる傾斜領域Bに於いては、センサの光
軸と異なつた方向に反射光16の如く反射される
ので、フオトダイオードに届く光量は少ない。
In the figure, in the flat region A, the light 15 irradiated from the sensor is specularly reflected 360° in the optical axis direction of the sensor, so that the amount of light reaching the photodiode is large. In such inclined region B, since the reflected light 16 is reflected in a direction different from the optical axis of the sensor, the amount of light reaching the photodiode is small.

次に、自転しながら進行するカプセルを、上記
センサで光学的に走査することにより得られるセ
ンサ出力の波形を第5図を参照して説明してお
く。
Next, the waveform of the sensor output obtained by optically scanning the rotating capsule with the sensor will be described with reference to FIG.

第5図において、カプセルは自転しながら進行
するので、センサによる光学的走査方向は、Y1
Y2で示した如き方向となる。ノツチ3について
は、Y1とY2の二つの走査がなされたものとして
説明する。なお、カプセルの自転の速度は、その
搬送速度に比べてかなり大きく選ばれる。
In FIG. 5, since the capsule advances while rotating, the optical scanning direction by the sensor is Y 1 ,
The direction will be as shown by Y 2 . Notch 3 will be explained assuming that two scans, Y1 and Y2, have been performed. Note that the speed of rotation of the capsule is selected to be considerably larger than its transport speed.

領域は、キヤツプ1の先端部分に当るが、先
端ほど丸みを帯びるのでセンサに達する反射光量
は少なくなる。領域乃至では、キヤツプ1と
ボデー2が重なつている部分なので、領域また
はのように、キヤツプ単独、ボデー単独の場合
よりも、反射光量が多くなる。領域とでは、
それぞれノツチ3による凹みのために、反射光量
は少なくなつている。領域は領域と同様であ
り、領域、は拡散によつて反射光量が殆んど
得られない領域である。
The region corresponds to the tip of the cap 1, and since the tip is more rounded, the amount of reflected light reaching the sensor is smaller. In the area, the cap 1 and the body 2 overlap, so the amount of reflected light is greater than in the case of the cap alone or the body alone, as in the area or. In terms of area,
The amount of reflected light is reduced due to the dents created by the notches 3. A region is similar to a region, and a region is a region where almost no amount of reflected light is obtained due to diffusion.

次に、本発明の判定回路について説明する。 Next, the determination circuit of the present invention will be explained.

第6図は本発明の判定回路を示すブロツク図で
ある。同図において、20は増幅器、21は微分
回路、22は整流回路、23はリセツト用スイツ
チ(SW)付積分器、24はコンパレータ、2
5,26はそれぞれフリツプフロツプ、AN1〜
3はアンドゲートである。積分器23のスイツチ
SWは、通常は閉じられており、マスク信号F−
MASK、R−MASKが発生したときのみ開かれ
て積分動作を行なう。なお、マスク信号F−
MASK、R−MASKは、それぞれ2つのノツチ
に対応して発せられるもので、カプセルの先端部
が検出されてから所定時間後、つまり、ノツチが
存在するであろうと予測される位置で発せられ
る。この種のカプセル検査装置においては、被検
査カプセルが搬送ベルトあるいは搬送ドラム等の
搬送手段に設けられたカプセル収容孔(この収容
孔の長さ寸法はカプセルのサイズに応じてカプセ
ルの長さ寸法より若干大きく設定されている)に
収容された状態で検査位置まで搬送されてくるよ
うに構成されているので、カプセルのキヤツプと
ボデーの種類が決まれば、ツインキヤツプカプセ
ルとなつた場合のノツチ部発生領域もある2つの
範囲に制限される。したがつて、本実施例の如く
ノツチが存在するであろうと予測される2つの位
置でマスク信号F−MASK、R−MASKを発生
させ、不要なノイズ信号を抽出しないようにして
おくことが好ましい。
FIG. 6 is a block diagram showing the determination circuit of the present invention. In the figure, 20 is an amplifier, 21 is a differential circuit, 22 is a rectifier circuit, 23 is an integrator with a reset switch (SW), 24 is a comparator, 2
5 and 26 are flip-flops, AN1~
3 is an and gate. Integrator 23 switch
SW is normally closed and the mask signal F-
It is opened and performs an integral operation only when MASK or R-MASK occurs. Note that the mask signal F-
MASK and R-MASK are emitted in response to two notches, respectively, and are emitted a predetermined time after the tip of the capsule is detected, that is, at a position where the notch is predicted to exist. In this type of capsule inspection device, the capsule to be inspected is placed in a capsule accommodation hole provided in a conveyance means such as a conveyance belt or a conveyance drum (the length of this accommodation hole is larger than the length of the capsule depending on the size of the capsule). Since the structure is such that the capsule is transported to the inspection position while housed in a slightly larger capsule, once the type of cap and body of the capsule is decided, it is possible to avoid notches in the case of a twin-cap capsule. The area is also limited to two ranges. Therefore, it is preferable to generate mask signals F-MASK and R-MASK at two positions where a notch is expected to exist, as in this embodiment, so as not to extract unnecessary noise signals. .

第7A,B図は第6図における各部信号の波形
図であり、特に第7A図は正常なカプセルCAを
走査した場合(正常動作)、第7B図はツインキ
ヤツプカプセルCBを走査した場合(異常動作)
にそれぞれ得られる各部信号の波形図である。
Figures 7A and 7B are waveform diagrams of various signals in Figure 6. In particular, Figure 7A shows the case when normal capsule CA is scanned (normal operation), and Figure 7B shows the case when twin cap capsule CB is scanned (abnormal operation). motion)
FIG. 3 is a waveform diagram of each part signal obtained respectively in FIG.

次に、本発明の動作を第6図、第7A図および
第7B図を参照して説明する。センサ出力である
入力信号aは、増幅器20により適当な電圧レベ
ルまで増幅された後、微分回路21により微分さ
れ、微分出力bとなる。微分信号bは整流回路2
2で整流された後、積分回路23に入る(信号c
参照)。積分回路23のリセツトスイツチSWは、
ノツチ部の位置を示すF−MASKd、R−
MASKeによつて開かれ、これにより積分動作が
行なわれるので、整流された信号cは信号dまた
はeがオンの期間だけ積分される。積分された波
形fは、コンパレータ24で規準電圧VSと比較
され、さらに、この二値化された信号gは、アン
ドゲートAN1,2においてF−MASK、R−
MASK信号と同期化される。フリツプフロツプ
25,26は、アンドゲートAN1,2を介する
信号によつてセツトされ、その出力h,iはアン
ドゲートAN3に与えられる。したがつて、正常
なカプセルを検査した場合は、フリツプフロツプ
25はセツトされるが、フリツプフロツプ26は
セツトされないので、アンドゲートAN3の出力
信号jはオンレベルにならないのに対し、ツイン
キヤツプを検査した場合は第7B図に示された波
形h,i,jから判るように、フリツプフロツプ
25,26ともにセツトされて出力信号jはオン
レベルにセツトされ、これによつてツインキヤツ
プカプセルであることがわかる。
Next, the operation of the present invention will be explained with reference to FIGS. 6, 7A, and 7B. The input signal a, which is the sensor output, is amplified to an appropriate voltage level by the amplifier 20, and then differentiated by the differentiator circuit 21, resulting in a differential output b. Differential signal b is rectifier circuit 2
2 and then enters the integrating circuit 23 (signal c
reference). The reset switch SW of the integrating circuit 23 is
F-MASKd, R- indicating the position of the notch part
It is opened by MASKe and performs an integrating operation, so that the rectified signal c is integrated during the period when the signal d or e is on. The integrated waveform f is compared with the reference voltage V S by the comparator 24, and furthermore, this binarized signal g is input to F-MASK, R- by the AND gates AN1 and AN2.
Synchronized with MASK signal. Flip-flops 25 and 26 are set by signals via AND gates AN1 and AN2, and their outputs h and i are applied to AND gate AN3. Therefore, when a normal capsule is inspected, the flip-flop 25 is set, but the flip-flop 26 is not set, so the output signal j of the AND gate AN3 does not become on level, whereas when a twin cap is inspected, the flip-flop 26 is not set. As can be seen from the waveforms h, i, and j shown in FIG. 7B, flip-flops 25 and 26 are both set and the output signal j is set to the on level, which indicates that it is a twin cap capsule.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば次のような効果を期待すること
ができる。
According to the present invention, the following effects can be expected.

(イ) キヤツプに必ず形成されているノツチを検出
するようにしているので、確実に不良カプセル
であるツインキヤツプカプセルを識別すること
ができる。例えば、ボデーが短い場合、または
キヤツプが長い場合は第2図に於けるツインキ
ヤツプのキヤツプ間スキマΔCが零となるよう
なツインキヤツプカプセルもある。この場合、
キヤツプ間スキマΔCを検出してツインキヤツ
プを判定する方式では確実にツインキヤツプを
検出することは困難であるが、本発明によると
このような場合でも確実に検出することができ
る。
(a) Since the notch that is always formed on the cap is detected, it is possible to reliably identify a twin cap capsule that is a defective capsule. For example, if the body is short or the cap is long, there is also a twin cap capsule in which the gap ΔC between the twin caps in FIG. 2 becomes zero. in this case,
Although it is difficult to reliably detect twin caps with the method of determining twin caps by detecting the inter-cap gap ΔC, the present invention can reliably detect twin caps even in such a case.

(ロ) 第3図を参照して説明した如き同軸反射形セ
ンサーを用いることにより、被検査物の材質が
透明体でも不透明体でもセンサー出力は、第7
Aまたは7B図aの如き波形となるので、全て
のカプセルに対して本発明を適用することがで
きる。
(b) By using a coaxial reflective sensor as explained with reference to FIG.
Since the waveform is as shown in Figure A or 7B, the present invention can be applied to all capsules.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図aは薬剤充填前の空カプセルの外観図、
第1図bは同じく充填後のカプセル外観図、第2
図はツインキヤツプカプセルの外観図、第3図は
光学センサの概要を示す構成図、第4図はノツチ
の如き凹部における反射の態様を説明するための
説明図、第5図は所定軸のまわりで回転しながら
搬送されるカプセルをセンサにて光学的に走査し
て得られるセンサ出力波形を示す波形図、第6図
は本発明の実施例を示すブロツク図、第7A図は
正常動作をするための各部波形図、第7B図は異
常動作を説明するための各部波形図である。 符号説明、1……キヤツプ、2……ボデー、3
……ノツチ、5……カプセル、6……センサ、7
……光源、8……コンデンサレンズ、9……ハー
フミラー、10……レンズ、11……アパーチ
ヤ、12……フオトダイオード、20……増幅
器、21……微分回路、22……整流回路、23
……リセツトスイツチ付積分回路、24……コン
パレータ、25,26……フリツプフロツプ。
Figure 1a is an external view of an empty capsule before drug filling;
Figure 1b is also an external view of the capsule after filling;
The figure is an external view of the twin cap capsule, Figure 3 is a configuration diagram showing an overview of the optical sensor, Figure 4 is an explanatory diagram to explain the mode of reflection in a recess such as a notch, and Figure 5 is around a predetermined axis. FIG. 6 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 7A shows normal operation. FIG. 7B is a waveform diagram of each part for explaining abnormal operation. Code explanation, 1...Cap, 2...Body, 3
...Notsuchi, 5...Capsule, 6...Sensor, 7
... Light source, 8 ... Condenser lens, 9 ... Half mirror, 10 ... Lens, 11 ... Aperture, 12 ... Photodiode, 20 ... Amplifier, 21 ... Differentiation circuit, 22 ... Rectifier circuit, 23
...Integrator circuit with reset switch, 24...Comparator, 25, 26...Flip-flop.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 長手軸を中心として回転しながら該軸方向に
搬送されるカプセルに光を投射し、その反射光量
から前記カプセルがツインキヤツプカプセルであ
るか否かを検査するカプセル検査装置であつて、 反射光を光電変換して得られる電気信号の微分
回路と、該微分回路による微分出力を整流する整
流回路と、前記カプセルの表面における特定2箇
所に対応した第1及び第2のマスク信号発生手段
と、前記第1及び第2のマスク信号発生手段から
それぞれマスク信号が出力されている期間だけ前
記整流回路からの整流出力を積分する積分回路
と、前記第1及び第2のマスク信号に対応する前
記積分回路による積分値がいずれも或る一定値を
超えたとき、当該カプセルはツインキヤツプカプ
セルであると判定する判定手段と、から成ること
を特徴とするカプセル検査装置。
[Scope of Claims] 1. A capsule inspection device that projects light onto a capsule being transported in the direction of the longitudinal axis while rotating around the longitudinal axis, and inspects whether the capsule is a twin-cap capsule based on the amount of reflected light. A differentiating circuit for an electric signal obtained by photoelectrically converting reflected light, a rectifying circuit for rectifying the differentiated output from the differentiating circuit, and first and second circuits corresponding to two specific locations on the surface of the capsule. a mask signal generating means; an integrating circuit that integrates the rectified output from the rectifying circuit only during a period during which mask signals are output from the first and second mask signal generating means, respectively; and the first and second masks. 1. A capsule inspection device comprising: determination means for determining that the capsule is a twin-cap capsule when all of the integral values of the integration circuit corresponding to the signals exceed a certain constant value.
JP3733184A 1984-03-01 1984-03-01 Capsule inspecting device Granted JPS60183544A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3733184A JPS60183544A (en) 1984-03-01 1984-03-01 Capsule inspecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3733184A JPS60183544A (en) 1984-03-01 1984-03-01 Capsule inspecting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60183544A JPS60183544A (en) 1985-09-19
JPH0423741B2 true JPH0423741B2 (en) 1992-04-23

Family

ID=12494648

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3733184A Granted JPS60183544A (en) 1984-03-01 1984-03-01 Capsule inspecting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60183544A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1198770A (en) * 1997-09-19 1999-04-09 Victor Co Of Japan Ltd Stator structure of motor and stator assembling of motor

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60183544A (en) 1985-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2150524A1 (en) Method and system for inspecting packages
US6911653B2 (en) Inspecting method and apparatus for foreign matter
JPH0814544B2 (en) Floppy disk inspection method
JPH0423741B2 (en)
US4896040A (en) Method of inspecting floppy disk casing
JPS5948645A (en) Method and apparatus for inspection of capsule
JP2850031B2 (en) Inspection method and inspection device for pattern members
JPH04295703A (en) Method for detecting position of side edge part of applied film
JPH09133640A (en) Method and equipment for detecting defect
JPH0320766Y2 (en)
JPH0145023B2 (en)
JPH0548557B2 (en)
JP2583540B2 (en) Magnetic disk device
JPH0238903B2 (en) KAPUSERUGAIKANKENSASOCHI
JPS63101717A (en) Color sorting of pearl utilizing blur of image
JPS6388432A (en) Foreign object detection method and device
JPH0675040B2 (en) Defect detection device for transparent plate
JPS60153869A (en) Boundary detector for component blood sampling apparatus
JPS585223Y2 (en) boundary detection device
JPH07110307A (en) Inspection device for color filter and its inspection method
JPS6319542A (en) Optical recording medium checking device
JPS63205867A (en) Magnetic disk inspection method
JPS58159059U (en) Verification device
JPH0472430B2 (en)
JPS62257741A (en) Inspection device for surface of semiconductor substrate