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JPH0442136B2 - - Google Patents
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JPH0442136B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0442136B2
JPH0442136B2 JP60015526A JP1552685A JPH0442136B2 JP H0442136 B2 JPH0442136 B2 JP H0442136B2 JP 60015526 A JP60015526 A JP 60015526A JP 1552685 A JP1552685 A JP 1552685A JP H0442136 B2 JPH0442136 B2 JP H0442136B2
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JP
Japan
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wafer
plate
peeling
index table
wafers
Prior art date
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JP60015526A
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Japanese (ja)
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JPS61178172A (en
Inventor
Hiroshi Komase
Kazuhito Yasukawa
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Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd filed Critical Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、ウエハーの研磨工程後に、そのウエ
ハーをプレートから剥離させ、所定の排出位置に
自動的に送り出す装置に関する。
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for peeling a wafer from a plate after a wafer polishing process and automatically feeding the wafer to a predetermined ejection position.

発明の背景および従来技術 ウエハーの製造過程で、その表面の研磨工程が
存在する。その研磨工程で、複数のウエハーがプ
レートの表面に位置決め状態で置かれ、接着剤に
よつて剥離可能な状態で固定される。そして、研
磨工程の後に、このウエハーは、プレートの表面
から剥がされ、所定のウエハーカセツトケースの
内部に収納される。
Background of the Invention and Prior Art During the manufacturing process of wafers, there is a step of polishing the surface thereof. During the polishing process, a plurality of wafers are placed in position on the surface of the plate and releasably secured by an adhesive. After the polishing process, the wafer is peeled off from the surface of the plate and stored inside a predetermined wafer cassette case.

従来、このようなウエハーの剥離作業は、全て
手作業により行なわれている。すなわち作業員
は、右手でカツターを持ち、この刃先をプレート
とその上面のウエハーとの間に差し入れ、接着状
態のウエハーをプレートの表面から剥離した後、
左手でウエハーをプレートの上面で側方に向けて
ずらし、右手で持ち代えたバキユームパツトによ
つて、ウエハーの裏面側にバキユームパツトを当
てて保持してから、所定の位置まで排出してい
る。このような手作業では、作業能率が悪く、ま
たウエハーの排出時にウエハーが破損したり、あ
るいは汚染しやすい状態になる。このような状況
から、この種のウエハーの剥離作業の自動化が望
まれている。
Conventionally, all such wafer peeling operations have been performed manually. In other words, the worker holds a cutter in his right hand, inserts the cutting edge between the plate and the wafer on the top surface of the plate, peels the adhered wafer from the surface of the plate, and then
With the left hand, the wafer is shifted sideways on the top surface of the plate, and with the vacuum pad transferred to the right hand, the vacuum pad is held against the back side of the wafer, and then the wafer is discharged to a predetermined position. Such manual work is inefficient, and also tends to damage or contaminate the wafers when they are ejected. Under these circumstances, automation of this type of wafer peeling work is desired.

発明の目的およびその解決手段 したがつて、本発明の目的は、ウエハーの研磨
工程の後に、プレート上のウエハーを自動的に剥
離し、その後所定の位置に排出できるようにする
ことである。
OBJECTS OF THE INVENTION AND SOLUTIONS THEREOF The object of the invention is therefore to enable automatic peeling of the wafers on the plate after the wafer polishing process and subsequent ejection to a predetermined position.

そこで、本発明は、多数のプレートを作業位置
にトランスフアー手段によつて搬送し、その位置
でプレート上のウエハーの位置を割り出し、プレ
ート上のウエハーをカツターによつて位置規制し
ながら剥離し、その剥離後のウエハーをハンドリ
ング手段のチヤツキングによつて、所定の排出位
置に自動的に送り出すようにしている。ここでウ
エハーの位置検出手段は、近接センサーなどによ
つて構成されており、プレート上のウエハーの位
置は、インデツクステーブルの回転およびセンサ
ーの出力波形との関連で、正確に検出できる。こ
のため、その後のウエハーの剥離動作、および剥
離後のウエハーの排出動作は、機械的な手段によ
つて、誤動作なく、自動的に行える。
Therefore, the present invention transports a large number of plates to a working position by a transfer means, determines the position of the wafers on the plates at that position, and peels off the wafers on the plates while controlling the position with a cutter. The peeled wafer is automatically delivered to a predetermined discharge position by chucking the handling means. Here, the wafer position detection means is constituted by a proximity sensor or the like, and the position of the wafer on the plate can be accurately detected in relation to the rotation of the index table and the output waveform of the sensor. Therefore, the subsequent wafer peeling operation and the wafer ejection operation after peeling can be performed automatically by mechanical means without malfunction.

発明の構成 以下、本発明の構成を図面に基づいて具体的に
説明する。
Configuration of the Invention Hereinafter, the configuration of the present invention will be specifically explained based on the drawings.

本発明のウエハーの自動剥離装置1は、トラン
スフアー手段2、インデツクステーブル3、割り
出し回転手段4、位置検出手段5、剥離手段6、
ストツパー7、チヤツク8およびハンドリング手
段9によつて構成されている。これらは、いずれ
も機台10の上に設けられている。
The automatic wafer peeling apparatus 1 of the present invention includes a transfer means 2, an index table 3, an indexing rotation means 4, a position detection means 5, a peeling means 6,
It is composed of a stopper 7, a chuck 8 and a handling means 9. All of these are provided on the machine stand 10.

そして、上記トランスフアー手段2は、複数の
プレート11を搬入位置から作業位置へ移動させ
るためのものであり、上下動可能な例えば2列の
ローラーコンベアー12およびこれらの間で搬入
方向に移動可能なバキユームチヤツク13を備え
ている。上記ローラーコンベアー12は、終端部
で一対のストツパ12aを有しており、上記機台
10に対し垂直方向のシリンダーなどによつて、
所定の高さの範囲で、上下動自在に支持されてい
る。また上記バキユームチヤツク13は、長方形
の揺動板14に対し上向きの状態で取り付けられ
ている。そしてこの揺動板14は、そのほぼ中央
部分で、水平方向の支軸15により平面的に見て
コ字状の枠体16に取り付けられている。この枠
体16は、上面に押しピン16aを有しており、
小さなシリンダー17のピストンロツド18に取
り付けられており、またこのシリンダ17は、機
台10の上に水平な状態で取り付けられた大きな
ストロークのシリンダ19のピストンロツド20
に水平な状態で取り付けられている。なお上記揺
動板14はバキユームチヤツク13の偏心荷重に
よつて、バキユームチヤツク13の側で低く傾斜
しているが、下向きに取り付けられたペンシリン
ダ27のピストンロツド28によつて逆の方向に
傾くようになつている。
The transfer means 2 is for moving the plurality of plates 11 from the carry-in position to the work position, and includes, for example, two rows of roller conveyors 12 that are movable up and down, and that are movable in the carry-in direction between them. It is equipped with 13 vacuum chucks. The roller conveyor 12 has a pair of stoppers 12a at its terminal end, and is configured by a cylinder or the like in a direction perpendicular to the machine base 10.
It is supported in a vertically movable manner within a predetermined height range. Further, the vacuum chuck 13 is attached to a rectangular rocking plate 14 in an upward direction. The swing plate 14 is attached to a U-shaped frame 16 in plan view by a horizontal support shaft 15 at approximately the center thereof. This frame 16 has a push pin 16a on the top surface,
It is attached to a piston rod 18 of a small cylinder 17, which in turn is attached to a piston rod 20 of a large stroke cylinder 19, which is mounted horizontally on the machine base 10.
is installed in a horizontal position. The swing plate 14 is inclined low on the side of the vacuum chuck 13 due to the eccentric load of the vacuum chuck 13, but it is tilted in the opposite direction by the piston rod 28 of the pen cylinder 27 mounted downward. It's starting to lean in the direction.

なお上記プレート11の搬入位置には、リフタ
ー21が設けられている。このリフター21は、
台車22によつて運ばれてきたストツカー23を
フオーク24で保持し、プレート11の取り出し
にしたがつて、ストツカー23を順次上昇させ、
一番上段のプレート11の取り出し位置を常に同
じ高さに設定している。この台車22の停止位置
は、案内レール26などによつて設定される。も
ちろん、このプレート11は、その上面で、複数
たとえば4枚のウエハー25を接着剤により、剥
離可能な状態で固定している。
Note that a lifter 21 is provided at the loading position of the plate 11. This lifter 21 is
The stocker 23 carried by the trolley 22 is held by a fork 24, and as the plates 11 are removed, the stocker 23 is raised one by one.
The take-out position of the top plate 11 is always set at the same height. The stopping position of this truck 22 is set by guide rails 26 and the like. Of course, a plurality of, for example, four, wafers 25 are fixed on the upper surface of the plate 11 with an adhesive in a releasable state.

そして、上記インデツクステーブル3は、平面
的に見て、小判状であり、平行なローラコンベア
12の間にあつて、割り出し回転手段4によつて
回転自在に支持されている。このインデツクステ
ーブル3は、第3図に示すように、外周部分で位
置決め用の斜面29を形成し、それらの間の平た
んなチヤツク面30で、複数の吸着孔31を一体
的に形成している。なお上記割り出し回転手段4
は、内部にギヤモータなどを備えており、インデ
ツクステーブル3を例えば一定の速度で1回転さ
せ、また所定の角度だけ間欠的に回転させる。こ
のような回転角度の割り出しは、内部のリミツト
スイツチとドグなど、またはモータ回転量によつ
て、正確に規制できる。
The index table 3 has an oval shape when viewed from above, and is rotatably supported by an index rotation means 4 between parallel roller conveyors 12. As shown in FIG. 3, this index table 3 has a positioning slope 29 formed on its outer periphery, and a plurality of suction holes 31 integrally formed on a flat chuck surface 30 between them. ing. Note that the above-mentioned index rotation means 4
is equipped with a gear motor or the like inside, and rotates the index table 3, for example, once at a constant speed and intermittently by a predetermined angle. Such determination of the rotation angle can be accurately regulated by an internal limit switch and dog, or by the amount of motor rotation.

また、前記位置検出手段5およびストツパー7
は、作業位置、つまり上記インデツクステーブル
3の上方で、支持プレート32によつて進退自在
で、しかも上下動自在に支持されている。すなわ
ち上記位置検出手段5は、光センサーなどによつ
て構成されており、第4図のように、垂直方向の
シリンダ33のピストンロツド34に取り付けら
れている。またストツパ7は、垂直方向のロツド
35およびコイルスプリング36により、連結板
37に対してフローテイング状態で支持されてい
る。この連結板37は、支持プレート32の上面
に取り付けられたシリンダ38のピストンロツド
39に連結されており、左右のガイドロツド40
により支持プレート32のスリーブ41に対し摺
動自在となつている。
Further, the position detecting means 5 and the stopper 7
is supported by a support plate 32 at a working position, that is, above the index table 3, so that it can move forward and backward, and can also move up and down. That is, the position detecting means 5 is constituted by an optical sensor or the like, and is attached to the piston rod 34 of the vertical cylinder 33, as shown in FIG. Further, the stopper 7 is supported in a floating state with respect to a connecting plate 37 by a vertical rod 35 and a coil spring 36. This connecting plate 37 is connected to a piston rod 39 of a cylinder 38 attached to the upper surface of the support plate 32, and is connected to the left and right guide rods 40.
This makes it possible to freely slide on the sleeve 41 of the support plate 32.

さらに、上記支持プレート32は、機枠43に
対し水平な状態で、摺動可能な一対の案内ロツド
42によつて支持されており後端の連結部材44
の部分に取り付けられた送りナツト45により送
りねじ46に螺合している。そして、この送りね
じ46は、一端で送りモータ47に連結されてお
り、他端部分で軸受48により、回転自在に支持
されている。
Further, the support plate 32 is supported by a pair of sliding guide rods 42 in a horizontal state with respect to the machine frame 43, and a connecting member 44 at the rear end is supported by a pair of sliding guide rods 42.
It is screwed into a feed screw 46 by a feed nut 45 attached to the portion. The feed screw 46 is connected to a feed motor 47 at one end, and rotatably supported by a bearing 48 at the other end.

次に、前記剥離手段6は、第5図ないし第7図
により、詳細に示されている。この剥離手段6
は、剥離対象のウエハー25とプレート11との
間に差し入れるためのカツター49を備えてい
る。このカツター49は、ホルダー50の水平な
軸51、長孔およびねじ止め手段により、カツタ
ースタンド52に角度調整可能な状態で取り付け
られている。このカツタースタンド52は、左右
の孔の部分で、一対の垂直なフロート軸53に対
し、上下動自在に支持され、かつスプリング54
によつて、下降方向に付勢されており、フロート
軸53の度当たり55に当たつて停止している。
一対のフロート軸53は、筒軸56の上面に取り
付けられた旋回板57の上面に取り付けられてお
り、またこの筒軸56は、ボールベアリング58
により、ハウジング59に対し旋回可能な状態で
支持されている。またこのハウジング59は、一
対の連結軸60により支持板61に連結されてい
る。一対の連結軸60は、スライドブロツク62
に取り付けられた滑り案内筒63により、上下方
向に摺動自在となつており、かつこの滑り案内筒
63と支持板61との間に設けられた付勢スプリ
ング64によつて、下向きに付勢されている。
Next, the peeling means 6 is shown in detail in FIGS. 5 to 7. This peeling means 6
is equipped with a cutter 49 to be inserted between the wafer 25 to be separated and the plate 11. This cutter 49 is attached to a cutter stand 52 in an angle-adjustable manner by means of a horizontal shaft 51 of a holder 50, a long hole, and screwing means. The cutter stand 52 is supported by a pair of vertical float shafts 53 at the left and right holes so as to be movable up and down, and is supported by a spring 54.
It is urged in the downward direction by the float shaft 53, and stops when it hits the angle 55 of the float shaft 53.
A pair of float shafts 53 are attached to the upper surface of a rotating plate 57 attached to the upper surface of a cylindrical shaft 56, and this cylindrical shaft 56 is attached to a ball bearing 58.
It is rotatably supported by the housing 59. Further, this housing 59 is connected to a support plate 61 by a pair of connecting shafts 60. The pair of connecting shafts 60 are connected to a slide block 62.
It can be slid vertically by a sliding guide tube 63 attached to the slide guide tube 63, and is biased downward by a biasing spring 64 provided between the sliding guide tube 63 and the support plate 61. has been done.

上記スライドブロツク62は、機枠65に架け
渡された一対のガイドバー66によつて、水平方
向に摺動自在に支持されており、かつ中央でボー
ルベアリング67により、スプライン軸68を垂
直方向で回転自在に支持している。このスプライ
ン軸68は、筒軸56のスプライン孔にはまり合
つており、かつ下端に取り付けられたアーム69
のカムローラ70を保持している。このカムロー
ラ70は、スプライン軸68に対し、偏心位置に
あつて、機枠65によつて支持された旋回用カム
71の内部にはまり合つている。この旋回用カム
71は、第6図に示すように、進行方向に行くに
したがつて、一方の側から他方の側に変移してい
る。
The slide block 62 is supported so as to be able to slide in the horizontal direction by a pair of guide bars 66 spanned over a machine frame 65, and is supported vertically by a ball bearing 67 at the center. It is rotatably supported. This spline shaft 68 fits into a spline hole of the cylindrical shaft 56, and an arm 69 is attached to the lower end.
cam roller 70 is held. The cam roller 70 is located at an eccentric position with respect to the spline shaft 68 and fits inside a turning cam 71 supported by the machine frame 65. As shown in FIG. 6, this turning cam 71 shifts from one side to the other side as it goes in the direction of travel.

一方、上記スライドブロツク62は、これに取
り付けられた送りナツト72により送りねじ73
と連結されている。この送りねじ73は機枠65
に対し両端のボールベアリング74により回転自
在に支持されており、カツプリング75により機
枠65に取り付けられた駆動モータ76に連結さ
れている。なお、このスライドブロツク62に、
ドグ77が固定されており、これと対応して機枠
65にセンサー78が取り付けられている。さら
に、前記支持板61に水平方向のローラ軸により
ローラ79が回転自在に支持されている。このロ
ーラ79は、機枠65の底部に取り付けられた直
動カム80の溝の内部に臨んでいる。
On the other hand, the slide block 62 is connected to a feed screw 73 by a feed nut 72 attached thereto.
is connected to. This feed screw 73 is connected to the machine frame 65.
It is rotatably supported by ball bearings 74 at both ends, and is connected to a drive motor 76 attached to the machine frame 65 by a coupling ring 75. In addition, this slide block 62 has
A dog 77 is fixed, and a sensor 78 is attached to the machine frame 65 correspondingly. Further, a roller 79 is rotatably supported on the support plate 61 by a horizontal roller shaft. This roller 79 faces the inside of the groove of a direct-acting cam 80 attached to the bottom of the machine frame 65.

また、上記チヤツク8は、たとえば、バキユー
ムチヤツクであり、ハンドリング手段9のアーム
81の先端に上向きの状態で取り付けられてい
る。このハンドリング手段9は、アーム81の旋
回運動により、剥離後のウエハー25をその剥離
位置から搬送ユニツト82の搬入位置まで移動さ
せる。この搬送ユニツト82は、2本のベルトコ
ンベア83によつて構成させており、ハンドリン
グ手段9によつて運ばれてきたウエハー25をベ
ルトコンベア83の方向に移動させ、複数の収納
カセツト84に移動させる。この収納カセツト8
4は、ウエハー25の大きさごとに設けられてお
り、入口側のコンベア85により、上記ベルトコ
ンベア83と交差している。なおこの搬送ユニツ
ト82の入口側に不良品収納箱86、および投出
用コンベア87が設けられている。
Further, the chuck 8 is, for example, a vacuum chuck, and is attached to the tip of the arm 81 of the handling means 9 in an upward direction. This handling means 9 moves the wafer 25 after separation from the separation position to the carry-in position of the transport unit 82 by the rotational movement of the arm 81. This transport unit 82 is composed of two belt conveyors 83 and moves the wafers 25 carried by the handling means 9 in the direction of the belt conveyor 83 and into a plurality of storage cassettes 84. . This storage cassette 8
4 is provided for each size of wafer 25, and intersects with the belt conveyor 83 by a conveyor 85 on the entrance side. A defective product storage box 86 and a dumping conveyor 87 are provided on the entrance side of the transport unit 82.

発明の作用 次に、発明の作用を上記自動剥離装置1の一連
の動作とともに説明する。
Effects of the Invention Next, the effects of the invention will be explained together with a series of operations of the automatic peeling device 1.

研磨後のウエハー25は、プレート11に固定
されたままの状態で、ストツカー23の内部に整
然と収納され、台車22によつて自動剥離装置1
の搬入位置に送り込まれる。この状態で台車22
は、案内レール26によつて規制され、正しい位
置で停止する。このとき、リフター21は、その
フオーク24をストツカー23の下方に挿入し、
プレート11の取り出し後に、順次上昇させ、最
上段の取り出し位置のプレート11を常に一定の
高さに設定している。
The wafers 25 after polishing are neatly stored inside the stocker 23 while being fixed to the plate 11, and transported to the automatic peeling device 1 by the cart 22.
is sent to the loading position. In this state, the trolley 22
is regulated by the guide rail 26 and stops at the correct position. At this time, the lifter 21 inserts its fork 24 below the stocker 23,
After the plates 11 are taken out, they are raised one after another, and the plate 11 at the topmost take-out position is always set at a constant height.

プレート11の位置決め後、トランスフアー手
段2のローラコンベア12は、垂直方向のシリン
ダなどによつて、所定の高さ、すなわち第2図で
想像線で示す高さまで上昇し、プレート11の取
り出しに備える。この状態で、まず大きなシリン
ダ19が、そのピストンロツド20を前進させる
ことによつて、複数のバキユームチヤツク13を
ローラーコンベアー12の間で、その下方に移動
させる。ピストンロツド20が前進限まで移動し
た時点で、今度は小さなシリンダ17がそのピス
トンロツド18を前進させることによつて、バキ
ユームチヤツク13を枠体16とともにストツカ
ー23の内部の最上段のプレート11の下方まで
移動させる。なお、シリンダ19,17は、重複
動作でもよい。このとき、ペンシリンダ27がそ
のピストンロツド28を後退させているため、揺
動板14は、第2図で示す傾きのまま、最上段の
プレート11の下方まで移動する。この移動後
に、ペンシリンダ27がピストンロツド28を前
進、すなわち下方に移動させ、揺動板14をほぼ
平行な状態にする。このとき、バキユームチヤツ
ク13は、最上段のプレート11の下面に吸着
し、それを引き出せる状態となる。
After positioning the plate 11, the roller conveyor 12 of the transfer means 2 is raised by a vertical cylinder or the like to a predetermined height, that is, the height shown by the imaginary line in FIG. 2, in preparation for taking out the plate 11. . In this state, the large cylinder 19 first moves the plurality of vacuum chucks 13 between and below the roller conveyor 12 by advancing its piston rod 20. When the piston rod 20 has moved to its forward limit, the small cylinder 17 moves the piston rod 18 forward, thereby moving the vacuum chuck 13 together with the frame 16 below the uppermost plate 11 inside the stocker 23. move it to. Note that the cylinders 19 and 17 may operate overlappingly. At this time, since the pen cylinder 27 is retracting its piston rod 28, the swing plate 14 moves to below the uppermost plate 11 while maintaining the inclination shown in FIG. After this movement, the pen cylinder 27 moves the piston rod 28 forward, ie, downward, so that the rocking plate 14 is brought into a substantially parallel position. At this time, the vacuum chuck 13 is attracted to the lower surface of the uppermost plate 11 and becomes ready to be pulled out.

その後、大きなシリンダ19が、そのピストン
ロツド20を後退させるため、最上段のプレート
11は、バキユームチヤツク13に引かれなが
ら、ローラーコンベアー12の上に乗り、ストツ
カー23の内部から引き出され、作業位置まで移
動し、ローラーコンベアー12に設けられたスト
ツパー12aに当たつて停止する。
Thereafter, the large cylinder 19 moves its piston rod 20 backward, so that the uppermost plate 11 is pulled by the vacuum chuck 13, rides on the roller conveyor 12, and is pulled out from inside the stocker 23 to the working position. It moves until it hits a stopper 12a provided on the roller conveyor 12 and stops.

続いて、バキユームチヤツク13が吸引動作を
停止し、またペンシリンダ27が揺動板14を元
の傾斜状態に戻すため、バキユームチヤツク13
は、引き出し後のプレート11の下面から離れ
る。この状態で、小さなシリンダ17は、そのピ
ストンロツド18を後退させることによつて、バ
キユームチヤツク13を退避位置まで移動させ
る。
Subsequently, the vacuum chuck 13 stops its suction operation, and the pen cylinder 27 returns the swing plate 14 to its original tilted state.
is separated from the lower surface of the plate 11 after being pulled out. In this state, the small cylinder 17 moves the vacuum chuck 13 to the retracted position by retracting its piston rod 18.

このようにして搬入動作が完了した時点で、ロ
ーラーコンベアー12が元の高さまで下降するた
め、ローラーコンベアー12の上のプレート11
は、斜面29に案内されながら、インデツクスプ
レート3の上に乗り移る。ここで、インデツクス
プレート3は、そのチヤツク面30の吸着孔31
に負圧空気流を発生させることによつて、プレー
ト11をウエハー25とともにチヤツク状態で保
持することになる。
When the carrying-in operation is completed in this way, the roller conveyor 12 is lowered to its original height, so that the plate 11 on the roller conveyor 12 is
moves onto the index plate 3 while being guided by the slope 29. Here, the index plate 3 has suction holes 31 on its chuck surface 30.
By generating a negative pressure air flow, plate 11 is held in chuck condition along with wafer 25.

この間に送りモータ47は、送りねじ46を回
転させることによつて、支持プレート32を第1
図で示す位置まで前進させている。この前進位置
で、シリンダ33は、そのピストンロツド34を
下降させることによつて、位置検出手段5をプレ
ート11の上のウエハー25に接近させている。
During this time, the feed motor 47 moves the support plate 32 to the first position by rotating the feed screw 46.
It is advanced to the position shown in the figure. In this advanced position, the cylinder 33 brings the position detection means 5 closer to the wafer 25 on the plate 11 by lowering its piston rod 34.

その後、割り出し回転手段4は、インデツクス
テーブル3を回転させる。この位置検出手段5
は、インデツクステーブル3の回転中にウエハー
25の個数およびその大きさを検知し、インデツ
クステーブル3の割り出し回転に必要な情報を発
生している。ここで、ウエハー25の個数は、位
置検出手段5からの信号の数を計数することによ
つつて検出できる。またウエハー25の大きま
は、位置検出手段5からの出力のパルス幅をイン
デツクステーブル3の回転速度との関連で計算で
きる。そして、検出したウエハーの大きさによ
り、モータ47で支持プレート32を移動させ、
ストツパー7の位置を予め設定しておく。このよ
うにして、インデツクステーブル3が1回転した
後に、割り出し回転手段4は、再び、インデツク
ステーブル3を所定の角度だけ間欠的に回転さ
せ、複数のウエハー25について所定の剥離位置
に順次割り出していく。この剥離位置は、第1図
において、一点鎖線によつて示されているウエハ
ー25の位置である。なおこの位置検出手段5
は、インデツクステーブル3の回転中に、ウエハ
ー25の上面の黒色マークなどを検出し、その不
良品の確認をも同時に行つている。
Thereafter, the index rotation means 4 rotates the index table 3. This position detection means 5
detects the number and size of wafers 25 while the index table 3 is rotating, and generates information necessary for indexing rotation of the index table 3. Here, the number of wafers 25 can be detected by counting the number of signals from the position detection means 5. Further, the size of the wafer 25 can be calculated based on the pulse width of the output from the position detecting means 5 in relation to the rotational speed of the index table 3. Then, depending on the detected size of the wafer, the support plate 32 is moved by the motor 47.
The position of the stopper 7 is set in advance. In this way, after the index table 3 has rotated once, the indexing rotation means 4 again intermittently rotates the index table 3 by a predetermined angle, and sequentially indexes a plurality of wafers 25 to predetermined peeling positions. To go. This peeling position is the position of the wafer 25 indicated by the dashed line in FIG. Note that this position detection means 5
While the index table 3 is rotating, a black mark or the like on the upper surface of the wafer 25 is detected, and defective products are also confirmed at the same time.

このようにして、あるウエハー25が所定の剥
離位置に案内されてきた時点で、シリンダ38
は、そのピストンロツド39を下降させることに
よつて、ストツパー7をプレート11の上面に接
触させ、かつその外周部分をウエハー25の外周
面に近接させる。この状態で、剥離手段6による
ウエハーの剥離作業が開始される。
In this way, when a certain wafer 25 is guided to a predetermined peeling position, the cylinder 38
By lowering the piston rod 39, the stopper 7 is brought into contact with the upper surface of the plate 11, and its outer peripheral portion is brought close to the outer peripheral surface of the wafer 25. In this state, the wafer peeling operation by the peeling means 6 is started.

まず最初に、スライドブロツク62が第7図に
示すように、後退位置にあるため、カツター49
は、高い位置にあつて、適当な傾斜角度に設定さ
れている。
First, since the slide block 62 is in the retracted position as shown in FIG.
is located at a high position and set at an appropriate inclination angle.

この状態で、駆動モータ76を所定の回転方向
に起動させると、送りねじ73の回転によつて、
スライドブロツク62が一対のガイドバー66に
よつて、前進方向に案内されるためカツター49
は、高い位置のまま第8図Aのように、ウエハー
25に接近する方向に移動する。
In this state, when the drive motor 76 is started in a predetermined rotational direction, the rotation of the feed screw 73 causes
Since the slide block 62 is guided in the forward direction by the pair of guide bars 66, the cutter 49
moves in a direction approaching the wafer 25, as shown in FIG. 8A, while remaining at a high position.

この移動過程で、支持板61のローラ79が直
動カム80の滑らかな曲線に沿つて下降し、カツ
タースタンド52に同様の運動を与える。この結
果、上記カツター49は、前進しながら直動カム
80の曲線に沿つて下降し、第8図Bのように、
プレート11の上面に接することになる。なお、
プレート11上面へのカツター49の押しつけは
スプリング54にて行つている。その後も、スラ
イドブロツク62が前進するため、カツター49
は、プレート11の上面を滑りながら第8図Cに
示すようにウエハー25の下面に入り込む。
During this movement process, the roller 79 of the support plate 61 descends along the smooth curve of the direct-acting cam 80, imparting a similar movement to the cutter stand 52. As a result, the cutter 49 moves forward and descends along the curve of the linear drive cam 80, as shown in FIG. 8B.
It comes into contact with the upper surface of the plate 11. In addition,
The cutter 49 is pressed against the upper surface of the plate 11 by a spring 54. After that, the slide block 62 moves forward, so the cutter 49
slides on the upper surface of the plate 11 and enters the lower surface of the wafer 25 as shown in FIG. 8C.

一方、この前進過程で、カムローラ70が旋回
用カム71に案内され、第6図に示すように、ス
プライン軸68を中心として、ある角度だけ反時
計方向に回動する。このスプライン軸68の回転
運動は、最終的にカツター49に与えられるた
め、カツター49は第8図C,Dに示すように、
旋回しながら前進し、ウエハー25の下面に深く
入り込む。このとき、カツター49は、最終的に
第8図Eのように旋回する前よりも、広い刃幅で
ウエハー25の下面に入り込むことになる。
On the other hand, during this forward movement, the cam roller 70 is guided by the turning cam 71 and rotates counterclockwise by a certain angle about the spline shaft 68, as shown in FIG. This rotational movement of the spline shaft 68 is ultimately applied to the cutter 49, so the cutter 49 is moved as shown in FIGS. 8C and 8D.
It moves forward while turning and penetrates deeply into the underside of the wafer 25. At this time, the cutter 49 finally enters the lower surface of the wafer 25 with a wider blade width than before turning as shown in FIG. 8E.

このようにしてウエハー25は、プレート11
の上面から確実に剥離される。この剥離状態にあ
るとき、ハンドリング手段9は、そのアーム81
を第1図で反時計方向に回動させ、先端のチヤツ
ク8をプレート11と剥離状態のウエハー25の
間に移動させ、そのチヤツク8の吸引作用によつ
て、剥離状態のウエハー25の裏面を保持する。
その後、アーム81が時計方向に回動するため、
剥離状態のウエハー25は、プレート11の上面
から搬送ユニツト82のベルトコンベア83の上
に乗り移る。この2本のベルトコンベア83は、
常時、またはウエハー25を受け入れた時点で、
搬送方向に移動し、ウエハー25をそれぞれの収
納カセツト84の方向に移動させる。ここで、送
られてくるウエハー25の大きさに応じて、対応
のコンベア85が予め回転しているため、ベルト
コンベア83の上のウエハー25は、ベルトコン
ベア83から回転中のコンベア85に乗り移り、
対応の収納カセツト84に分類分けされながらお
さめられる。もちろん、そのウエハー25が不良
品である場合には、投出用コンベア87が回転し
ているため、そのウエハー25は、不良品収納箱
86の内部に投出される。
In this way, the wafer 25 is transferred to the plate 11.
It is reliably peeled off from the top surface. In this peeling state, the handling means 9 has its arm 81
is rotated in the counterclockwise direction in FIG. Hold.
After that, since the arm 81 rotates clockwise,
The peeled wafer 25 is transferred from the upper surface of the plate 11 onto the belt conveyor 83 of the transport unit 82. These two belt conveyors 83 are
At any time or upon receiving the wafer 25,
The wafers 25 are moved in the transport direction to move the wafers 25 toward their respective storage cassettes 84. Here, since the corresponding conveyor 85 is rotating in advance according to the size of the wafer 25 being sent, the wafer 25 on the belt conveyor 83 is transferred from the belt conveyor 83 to the rotating conveyor 85.
The items are sorted and stored in corresponding storage cassettes 84. Of course, if the wafer 25 is a defective product, the wafer 25 is delivered into the defective product storage box 86 because the delivery conveyor 87 is rotating.

このようにして、1つのウエハー25について
の剥離動作が完了することとなる。その後、新た
なウエハー25がインデツクステーブル3によつ
て所定の剥離位置まで案内され、前記と同様の動
作が繰り返される。
In this way, the peeling operation for one wafer 25 is completed. Thereafter, a new wafer 25 is guided to a predetermined separation position by the index table 3, and the same operation as described above is repeated.

全てのウエハー25が、プレート11の上面か
ら剥がされた時点で、ローラーコンベアー12を
上昇させ、次でシリンダ19が枠体を移動させて
枠体16は、その押しピン16aによつて、プレ
ート11をストツカー23のもとの位置に移動さ
せる。このような一連の順次動作は、可動部分の
動きをリミツトスイツチなどで検出し、シーケン
ス回路などによつて制御することによつて実現で
きる。
When all the wafers 25 have been peeled off from the top surface of the plate 11, the roller conveyor 12 is raised, and then the cylinder 19 moves the frame body, and the frame body 16, by its push pins 16a, moves onto the plate 11. is moved to the original position of the stocker 23. Such a series of sequential operations can be realized by detecting the movement of the movable part using a limit switch or the like and controlling it using a sequence circuit or the like.

発明の変形例 上記実施例は、トランスフアー手段2をローラ
ーコンベアー12および進退可能なバキユームチ
ヤツク13を主要部として構成しているが、この
トランスフアー手段2は、一方向にのみ送る形
式、例えば歩み送り方式の移送機構と昇降可能な
インデツクステーブル3とを組み合わせて構成す
ることもできる。
Modifications of the Invention In the above embodiment, the transfer means 2 is constructed with the roller conveyor 12 and the vacuum chuck 13 that can move back and forth as main parts. For example, it may be configured by combining a step-type transport mechanism and an index table 3 that can be raised and lowered.

また上記実施例は、剥離状態のウエハー25の
チヤツキングをプレート11の上面で行つてい
る。しかし、このチヤツキングは、ストツパー7
により剥離状態のウエハー25をインデツクステ
ーブル3から少しだけ突出させ、この突出部分の
裏面側でチヤツク8によつて吸着するようにして
もよい。この場合、ストツパー7は、剥離状態の
ウエハー25の横方向への動きを阻止するため
に、左右一対として設けられる。
Further, in the embodiment described above, chucking of the wafer 25 in a peeled state is performed on the upper surface of the plate 11. However, this chat is a stopper of 7
The peeled wafer 25 may be slightly protruded from the index table 3, and the chuck 8 may be able to adsorb the wafer 25 on the back side of this protruding portion. In this case, a pair of left and right stoppers 7 are provided in order to prevent the wafer 25 from moving in the lateral direction in a peeled state.

発明の効果 本発明では、下記の特有の効果が得られる。Effect of the invention The present invention provides the following unique effects.

研磨後のウエハーがプレートとともにトランス
フアー手段によつて、所定の作業位置に運ばれ、
かつインデツクテーブルによつて剥離位置へ順次
割り出され、かつその割り出し過程でウエハーの
大きさやプレート上での数が自動的に検出される
ため、プレートおよびウエハーの搬送、割り出
し、および識別などの作業が自動化できる。
The polished wafer is transported together with the plate to a predetermined working position by a transfer means,
The wafers are sequentially indexed to the peeling position by an index table, and the size and number of wafers on the plate are automatically detected during the indexing process. Work can be automated.

プレート上のウエハーがカツターによつて表面
から剥離され、その剥離状態のまま裏面側でチヤ
ツキングされ、ハンドリング手段によつて所定の
位置に排出されるため、剥離作業およびその後の
排出作業が自動化される他、そのチヤツキングお
よび搬送過程でウエハーの破損や汚染などがなく
なり、製品の歩留まりが高くなる。
The wafer on the plate is peeled off from the front surface by the cutter, chucked on the back side in the peeled state, and discharged to a predetermined position by the handling means, so the peeling work and subsequent discharge work are automated. In addition, wafer damage and contamination during the chucking and transportation process are eliminated, resulting in a higher product yield.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のウエハーの自動剥離装置の平
面図、第2図は同装置の正面図、第3図はインデ
ツクステーブルの断面図、第4図は位置検出手段
およびストツパー部分の側面図、第5図は剥離手
段の正面からみた垂直断面図、第6図はカム部分
の平面図、第7図は剥離手段の側面から見た垂直
断面図、第8図は剥離動作を示す平面図である。 1……ウエハーの自動剥離装置、2……トラン
スフアー手段、3……インデツクステーブル、4
……割り出し回転手段、5……位置検出手段、6
……剥離手段、7……ストツパー、8……チヤツ
ク、9……ハンドリング手段、11……プレー
ト、12……ローラーコンベアー、21……リフ
ター、23……ストツカー、25……ウエハー、
49……カツター、82……搬送ユニツト。
Fig. 1 is a plan view of the automatic wafer peeling apparatus of the present invention, Fig. 2 is a front view of the apparatus, Fig. 3 is a sectional view of the index table, and Fig. 4 is a side view of the position detection means and stopper portion. , FIG. 5 is a vertical sectional view of the peeling means seen from the front, FIG. 6 is a plan view of the cam portion, FIG. 7 is a vertical sectional view of the peeling means seen from the side, and FIG. 8 is a plan view showing the peeling operation. It is. 1... Wafer automatic peeling device, 2... Transfer means, 3... Index table, 4
... Index rotation means, 5 ... Position detection means, 6
... Peeling means, 7 ... Stopper, 8 ... Chack, 9 ... Handling means, 11 ... Plate, 12 ... Roller conveyor, 21 ... Lifter, 23 ... Stocker, 25 ... Wafer,
49...Cutter, 82...Transportation unit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 複数のウエハーを接着したプレートを作業位
置に送るトランスフアー手段と、作業位置で上記
プレートをチヤツクするインデツクステーブル
と、上記インデツクステーブルの割り出し回転手
段と、上記インデツクステーブルの回転時にウエ
ハーの位置を検出する位置検出手段と、上記のウ
エハーとプレートとの間に進出するカツターを備
えた剥離手段と、剥離動作時に上記ウエハーの外
周と近接もしくは接触しウエハーの移動を規制す
るストツパーと、剥離したウエハーを保持するチ
ヤツクと、このチヤツクを剥離したウエハー位置
と排出位置とで往復させるハンドリング手段とを
具備することを特徴とするウエハーの自動剥離装
置。
1. A transfer means for transporting a plate on which a plurality of wafers are bonded to a working position, an index table for checking the plate at the working position, a means for indexing and rotating the index table, and a means for rotating the wafers when the index table is rotated. a position detection means for detecting a position; a peeling means having a cutter extending between the wafer and the plate; a stopper that comes close to or comes into contact with the outer circumference of the wafer during a peeling operation to restrict movement of the wafer; An automatic wafer peeling apparatus comprising: a chuck for holding a peeled wafer; and a handling means for reciprocating the chuck between a peeled wafer position and a discharge position.
JP60015526A 1985-01-31 1985-01-31 Automatic exfoliating device for wafer Granted JPS61178172A (en)

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JPH0442136B2 true JPH0442136B2 (en) 1992-07-10

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52151995A (en) * 1976-06-14 1977-12-16 Hitachi Ltd Wafer grinder
JPS58223561A (en) * 1982-06-16 1983-12-26 Disco Abrasive Sys Ltd polishing machine

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