JPH0442711B2 - - Google Patents
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- JPH0442711B2 JPH0442711B2 JP60230151A JP23015185A JPH0442711B2 JP H0442711 B2 JPH0442711 B2 JP H0442711B2 JP 60230151 A JP60230151 A JP 60230151A JP 23015185 A JP23015185 A JP 23015185A JP H0442711 B2 JPH0442711 B2 JP H0442711B2
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- matching
- pattern
- reference point
- point
- image pattern
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- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、たとえば、IC部品を回路基板に
搭載するときに必要となる、撮像装置から得られ
る画像パターン中に存在する特定パターンの位置
を高速に検出する、2次元位置検出方法等に使用
するパターンマツチング方法に関するものであ
る。[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention provides a method for quickly determining the position of a specific pattern present in an image pattern obtained from an imaging device, which is necessary when mounting IC components on a circuit board, for example. The present invention relates to a pattern matching method used in a two-dimensional position detection method and the like.
従来の技術
従来のパターンマツチングによる位置検出方法
を大別すると、
1 撮像装置から得た画像パターン1フレーム分
を半導体メモリなどの画像パターン記憶装置に
格納した後、標準パターンとの照合処理を行う
方法。 BACKGROUND TECHNOLOGY Conventional position detection methods using pattern matching can be broadly classified as follows: 1. After storing one frame of an image pattern obtained from an imaging device in an image pattern storage device such as a semiconductor memory, matching processing with a standard pattern is performed. Method.
と、
2 撮像装置を走査している位置の座標を発生す
る装置と、標準パターンとの照合処理に必要な
最少限度の容量を持つた半導体メモリなどの画
像パターン記憶装置によつて、標準パターンと
の照合処理を画像パターンを取り込みながら行
う方法。2. A device that generates the coordinates of the position where the imaging device is scanning, and an image pattern storage device such as a semiconductor memory that has the minimum capacity necessary for matching with the standard pattern. A method to perform the matching process while importing image patterns.
の2つの分類できる。It can be classified into two types.
そこでこれら2つのパターンマツチング方法に
ついて、処理速度・処理の拡張性、コストの3項
目について検討してみる。 Therefore, we will examine three items regarding these two pattern matching methods: processing speed, processing scalability, and cost.
まず処理速度であるが、第1の方法は画像パタ
ーン1フレーム分を記憶装置に取り込んだ後で照
合処理を行うため、一般的に処理時間を要しリア
ルタイム処理には向いていない。画像パターン1
フレーム分を記憶装置に取り込むのに要する時間
をTi、記憶装置に取り込んだ画像パターンと標準
パターンとの照合処理に要する時間をTpとする
と、第1の方法によるパターンマツチングに要す
る時間Tn1は、TiとTpの和によつて(1)式のように
表わされる。 First, regarding the processing speed, the first method performs the matching process after capturing one frame of the image pattern into the storage device, which generally requires processing time and is not suitable for real-time processing. Image pattern 1
Assuming that the time required to import frames into the storage device is T i and the time required to match the image pattern imported to the storage device with the standard pattern is T p , the time required for pattern matching using the first method is T. n1 is expressed as the sum of T i and T p as in equation (1).
Tn1=Ti+Tp ……(1)
(1)式において、画像取り込みに要する時間Tiは
一定であるが、画像パターンと標準パターンの照
合処理に要する時間Tpは処理方法によつて大き
く異なり、照合処理を粗い照合と詳しい照合にわ
けて階層化した高速手法を用いることにより、リ
アルタイム処理が可能となる程度にまで短縮する
ことができる。第2の方法は画像パターンを取り
込みながら照合処理を行うため、処理時間は短く
リアルタイム処理に向いている。第2の方法によ
るパターンマツチングに要する時間Tn2は、Tiに
等しく、(2)式のように表わされる。 T n1 = T i + T p ...(1) In equation (1), the time T i required to capture the image is constant, but the time T p required to match the image pattern with the standard pattern varies depending on the processing method. They are very different, and by using a high-speed method in which the matching process is hierarchically divided into coarse matching and detailed matching, it is possible to shorten the matching process to the extent that real-time processing is possible. The second method performs the matching process while capturing the image pattern, so the processing time is short and it is suitable for real-time processing. The time T n2 required for pattern matching by the second method is equal to T i and is expressed as in equation (2).
Tn2=Ti ……(2)
次に処理の拡張性について述べる。第1の方法
は撮像装置より得た画像パターンを記憶装置に保
持しているため、標準パターンとの照合処理の前
処理であるフイルタリングなどの処理において演
算子の重みづけを自由に設定したり、照合処理の
終了後その結果によつて画像パターンの特定領域
をもう一度取り出して確認処理を施すといつたこ
とが選択的にできる。また照合処理を行う際に
も、照合基準点を、撮像装置の走査する方向と直
角の方向に走査させることも可能である。第2の
方法においてもフイルタリングなどの前処理や照
合処理後の確認処理は可能であるが、前処理に関
しては固定でフイルタリング処理時の演算子の重
みなどを容易に変更することはできないし、また
照合処理後の確認処理も照合結果を得た同一画面
に対して行うことはできない。 T n2 = T i ...(2) Next, we will discuss the extensibility of processing. In the first method, the image pattern obtained from the imaging device is stored in the storage device, so the weighting of operators can be freely set in processing such as filtering, which is preprocessing for matching with standard patterns. After the matching process is completed, it is possible to selectively extract a specific area of the image pattern again and perform the confirmation process based on the result. Furthermore, when performing the matching process, it is also possible to scan the matching reference point in a direction perpendicular to the scanning direction of the imaging device. In the second method, preprocessing such as filtering and confirmation processing after collation processing are possible, but preprocessing is fixed and operator weights during filtering processing cannot be easily changed. Also, the confirmation process after the matching process cannot be performed on the same screen where the matching result was obtained.
最後にこれら2つの方法によつてパターンマツ
チング装置を実現した時の価格について述べる。
第1の方法は画像パターンを1フレーム分記憶す
るために、第2の方法に比べて半導体ICメモリ
などの記憶素子を多く必要とする。この時の画像
パターンと標準パターンとの照合処理は、マイク
ロコンピユータとマイクロコンピユータの制御プ
ログラムによつて、上述の処理の拡張性を検討す
る中で述べたような柔軟な処理が行われる。一方
第2の方法では、リアルタイムで送られてくる画
像パターンを標準パターンと照合処理するため、
第1の方法のように画像パターンを記憶するため
に大量の半導体ICメモリを必要としないが、画
像パターンと標準パターンの照合を映像信号をデ
ジタル化した画像パターンを表わす信号が流れる
速さで行うため、第1の方法に比べて論理ICを
多く必要とする。従来、半導体ICメモリが高価
であり第1の方法を安価に実現することは難しか
つたが、近年半導体ICメモリの集積度が急速に
高まり、単位記憶容量あたりの価格は低下して第
2の方法を実現するための論理ICの価格よりも
安価になつてきている。したがつて現在では、第
1の方法を採用した方が安価にパターンマツチン
グ装置を実現できる。 Finally, we will discuss the cost of realizing a pattern matching device using these two methods.
The first method requires more storage elements such as semiconductor IC memories than the second method in order to store one frame of image patterns. The process of comparing the image pattern with the standard pattern at this time is performed by the microcomputer and the control program of the microcomputer in a flexible process as described in the discussion of the extensibility of the above-mentioned process. On the other hand, in the second method, the image pattern sent in real time is compared with the standard pattern, so
Unlike the first method, a large amount of semiconductor IC memory is not required to store the image pattern, but the image pattern is compared with the standard pattern at the speed at which the signal representing the image pattern obtained by digitizing the video signal flows. Therefore, this method requires more logic ICs than the first method. In the past, semiconductor IC memories were expensive and it was difficult to realize the first method at a low cost, but in recent years the degree of integration of semiconductor IC memories has increased rapidly, and the price per unit storage capacity has decreased, making it difficult to realize the first method at a low cost. The price is becoming cheaper than the logic IC used to implement the method. Therefore, at present, it is possible to realize a pattern matching device at a lower cost by adopting the first method.
本発明は上記の第1の方法によつて、2次元の
位置検出をリアルタイムで行うためのパターンマ
ツチング方法に関するものである。高速処理に不
向きな第1の方法をあえて採用したのは、上述し
たようにパターンマツチング処理の拡張性が高く
柔軟な処理ができることと、第2の方法より安価
に実現できることによる。本発明では、第1の方
法によるパターンマツチング方法において、画像
パターンと標準パターンの照合処理に要する時間
Tp短縮するために、粗い照合と詳しい照合から
成る階層化パターンマツチング法を取り入れてい
る。特に本発明では、画像パターン上に数画素毎
に粗く設けられた、第1の照合基準点において照
合を行い、第1の合格基準値以上の一致度が得ら
れた場合には、即座に合格となつた第1の照合基
準点を基準として1画素毎に第2の照合基準点を
発生させ、第2の照合を行つて認識点を探し、以
上の過程をあらかじめ定められた点数の認識点が
検出されるまで続けるという方法をとつている。 The present invention relates to a pattern matching method for performing two-dimensional position detection in real time using the first method described above. The reason why the first method, which is unsuitable for high-speed processing, was intentionally adopted is because the pattern matching process is highly scalable and flexible, as described above, and it can be realized at a lower cost than the second method. In the present invention, in the pattern matching method according to the first method, the time required for matching processing of an image pattern and a standard pattern is
In order to shorten T p , we adopt a hierarchical pattern matching method consisting of coarse matching and detailed matching. In particular, in the present invention, matching is performed at first matching reference points that are roughly provided every few pixels on the image pattern, and if a degree of matching equal to or higher than the first passing reference value is obtained, the result is immediately passed. A second matching reference point is generated for each pixel based on the first matching reference point, which has become a reference point, and a second matching is performed to find a recognition point. The method is to continue until it is detected.
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では、ある1つ
の認識点が複数個の第1の照合基準点から複数回
にわたつて検出されてしまい、認識点が検出され
るたびに過去に検出された認識点と同じ点である
かどうかの判定を行う必要が生じる。Problems to be Solved by the Invention However, in the above configuration, one recognition point is detected multiple times from a plurality of first reference points, and each time a recognition point is detected, It becomes necessary to determine whether the point is the same as a recognition point detected in the past.
第2図は、画像パターン上に4画素ごとに設け
られた2つの第1の照合基準点21,22と、第
2の照合を行う一辺が5画素の大きさを持つ正方
形小領域23,24、およびこれら2つの小領域
に含まれる認識点25を表わしている。認識点の
検出もれを無くすため、隣り合う第1の照合基準
点に対応して設定される第2の照合を行う小領域
は、第2図に示すようにたがいに少しずつ重なり
合うように設けられる。このため認識点が第2図
の場合のように、第2の照合を行う2つの小領域
の共通部分に含まれる場合には、第1の照合基準
点21における第1の照合処理に合格した後、第
1の照合基準点21を基準として小領域23が設
定され、その小領域23内に1画素おきに設けら
れた第2の照合基準点において第2の照合処理が
行われ、認識点25がまず検出される。次に処理
は第1の照合基準点22に移つて、前に行つた第
1の照合基準点21における第1の照合処理に始
まる一連の照合処理が行われ、認識点25が再び
検出される。第2図の例では、認識点の位置によ
つて最大4個の第1の照合基準点から4回に渡つ
て同一認識点が検出される可能性がある。この場
合には2回目以降に検出された認識点が、最初に
検出された認識点と同一の点であるかどうか判定
しなければならない。また、パターンマツチング
処理を行つている過程においては、正確な認識点
数がわからないので処理を所望の認識点数が得ら
れた時点で終了させることができない。 FIG. 2 shows two first matching reference points 21 and 22 provided every four pixels on the image pattern, and square small areas 23 and 24 each having a size of 5 pixels on one side where the second matching is performed. , and the recognition points 25 included in these two small areas. In order to avoid missing recognition points, the small areas for the second comparison set corresponding to the adjacent first reference points are set so as to overlap each other little by little, as shown in Figure 2. It will be done. Therefore, if the recognition point is included in the common part of the two small areas where the second verification is performed, as in the case of FIG. 2, the first verification process at the first verification reference point 21 is passed. After that, a small area 23 is set based on the first matching reference point 21, and a second matching process is performed at second matching reference points provided every other pixel within the small area 23, and the recognition point is 25 is detected first. Next, the process moves to the first matching reference point 22, and a series of matching processes starting from the first matching process performed previously at the first matching reference point 21 is performed, and the recognition point 25 is detected again. . In the example of FIG. 2, depending on the position of the recognition point, there is a possibility that the same recognition point will be detected four times from a maximum of four first reference points. In this case, it must be determined whether the recognition point detected for the second time or later is the same as the recognition point detected first. Further, in the process of performing pattern matching processing, since the exact number of recognition points is not known, the processing cannot be terminated when the desired number of recognition points is obtained.
本発明は上記問題点に鑑み、画像パターン上に
n画素おきに設けられた第1の照合基準点に対応
するフラグを設け、ある第1の照合基準点から認
識点が検出された場合には、その第1の照合基準
点のまわりの第1の照合基準点に対するフラグ
“1”にすることによつて、複数個の第1の照合
基準点から複数回にわたつて同一の認識点が検出
されることを避けることによつて、検出される認
識点の数を正確に数え、所望の点数の認識点が得
られた場合には処理をその時点で終了させてしま
うことにより、処理の高速化を図るパターンマツ
チング方法を提供するものである。 In view of the above-mentioned problems, the present invention provides a flag corresponding to a first matching reference point provided every n pixels on an image pattern, and when a recognition point is detected from a certain first matching reference point, , by setting the flag to "1" for the first matching reference points around the first matching reference point, the same recognition point is detected multiple times from a plurality of first matching reference points. The number of detected recognition points can be accurately counted, and when the desired number of recognition points has been obtained, the process can be terminated at that point, thereby speeding up the processing. The present invention provides a pattern matching method that aims to achieve
問題点を解決するための手段
本発明は、二段階以上のマツチングを行う階層
化されたパターンマツチング方法を用いる際に、
前記画像パターン全域を対象として数画素毎に設
定された前記第1の照合基準点に対して1点につ
き1ビツトの初期値“0”を持つフラグ記憶領域
を設け、第1の照合基準点における第1の照合に
合格し第2の照合において認識点が検出された場
合には、前記認識点を検出するに至つた第1の照
合基準点とその近傍に存在する複数個の第1の照
合基準点に対応する前記フラグ記憶領域のビツト
を“0”から“1”に書きかえ、以後の処理にお
いては前記フラグ記憶領域の“1”になつている
ビツトに対応する前記第1の照合基準点において
は第1の照合を行わないようにするものである。Means for Solving the Problems The present invention provides the following advantages when using a hierarchical pattern matching method that performs matching in two or more stages.
A flag storage area having an initial value "0" of 1 bit per point is provided for the first matching reference point set every several pixels over the entire area of the image pattern. If the first verification is passed and a recognition point is detected in the second verification, the first verification reference point that led to the detection of the recognition point and a plurality of first verification points existing in the vicinity thereof The bit in the flag storage area corresponding to the reference point is rewritten from "0" to "1", and in subsequent processing, the first matching standard corresponding to the bit set to "1" in the flag storage area is rewritten. At this point, the first verification is not performed.
このような方法は、撮像手段より得られる映像
信号をデジタル化して画像パターンとするアナロ
グ・デジタル変換手段、デジタル化された画像パ
ターンを保持しておくフレームメモリなどの記憶
手段、画像パターン中に存在する特徴的なパター
ンをあらかじめ標準パターンとして保持しておく
レジスタなどの記憶手段、画像パターン上に数画
素おきに設けられた第1の照合基準点に対応する
フラグ記憶手段、フラグ記憶領域を制御するフラ
グ制御手段、画像パターンと標準パターンの照合
を行う照合処理手段、照合の結果得られる一致度
を算出する一致度算出手段、上記の各手段を総合
的に制御するマイクロコンピユータなどの中東処
理手段により実現されるものである。 Such a method consists of an analog-to-digital conversion means that digitizes the video signal obtained from the imaging means into an image pattern, a storage means such as a frame memory that holds the digitized image pattern, and a method that converts the image signal into an image pattern. control a storage means such as a register that stores in advance a characteristic pattern to be used as a standard pattern; a flag storage means corresponding to first matching reference points provided every few pixels on the image pattern; and a flag storage area. Middle East processing means such as a flag control means, a matching processing means for matching the image pattern and the standard pattern, a matching degree calculation means for calculating the degree of matching obtained as a result of matching, and a microcomputer that comprehensively controls each of the above means. It will be realized.
作 用
上記方法により、1つの認識点を検出するに至
つた第1の照合基準点とその近傍に存在する複数
個の第1の照合基準点において第1の照合を行わ
ないため、ある1つの認識点が複数個の第1の照
合基準点から複数回にわたつて検出されることを
防ぐことになる。Effect: With the above method, the first matching is not performed between the first matching reference point that led to the detection of one recognition point and the plurality of first matching reference points that exist in the vicinity of the first matching reference point. This prevents the recognition point from being detected multiple times from multiple first reference points.
また、上記技術手段による作用についても図面
を参照しながら説明する。 Further, the effects of the above technical means will also be explained with reference to the drawings.
第3図は、M×Mの大きさを持つた標準パター
ン31、標準パターン側の照合基準点32、N×
Nの大きさを持つた画像パターン33(ただしパ
ターンは図示されていない)、画像パターン上に
n画素おきに設けられた第1の照合基準点34を
示している。画像パターン33上に存在する第1
の照合基準点34の数は次の(3)式で与えられる。 FIG. 3 shows a standard pattern 31 having a size of M×M, a matching reference point 32 on the standard pattern side, and a standard pattern 31 having a size of M×M.
It shows an image pattern 33 having a size of N (however, the pattern is not shown) and first matching reference points 34 provided every n pixels on the image pattern. The first image existing on the image pattern 33
The number of reference points 34 is given by the following equation (3).
〔N−N/n+1〕2 ……(3)
〔a〕はガウスの記号でaを越えない最大の整
数を表わしている。この第1の照合基準点の数
は、たとえば、M=16,N=512,n=4とすれ
ば、約15600となり、このビツト数だけフラグ記
憶領域が必要となる。第4図に示すように、フラ
グ記憶領域41は画像パターン上に設けられた第
1の照合基準点の並びと一対一に対応するよう
に、xとyのアドレスで選択されるようになつて
おり、初期値“0”が与えられている。パターン
マツチング処理は第1の照合処理を行う前に、対
象としている第1の照合基準点に対応するフラグ
を調べ、フラグが“0”であればその照合基準点
において第1の照合処理を行い、フラグ“1”に
なつていれば第1の照合処理を行わずに次の第1
の照合基準点に移つて同様の処理を続けることに
なる。 [N-N/n+1] 2 ...(3) [a] is a Gaussian symbol and represents the largest integer not exceeding a. For example, if M=16, N=512, and n=4, the number of first matching reference points is approximately 15,600, and a flag storage area corresponding to this number of bits is required. As shown in FIG. 4, the flag storage area 41 is selected by x and y addresses in one-to-one correspondence with the array of first matching reference points provided on the image pattern. The initial value "0" is given. In the pattern matching process, before performing the first matching process, the flag corresponding to the target first matching reference point is checked, and if the flag is "0", the first matching process is performed at that matching reference point. If the flag is set to "1", the first verification process is not performed and the next first verification process is performed.
The same process will be continued by moving to the matching reference point.
第5図は、パターンマツチング処理を撮像装置
の走査方向と同じ方向で行つて認識点が検出され
た場合に、フラグ記憶領域51中でビツトを
“1”にセツトする領域52を示している。ビツ
トを“1”にセツトする領域52は、認識点を検
出するに至つた第1の照合基準点に対応するフラ
グ53を中心にして、1つの認識点に収束する第
1の照合基準点が存在する範囲と、隣り合う認識
点が存在する最小距離を基にして設定されるが、
この時に既に処理を終えた領域54に対してはフ
ラグを操作する必要はない。またフラグを“1”
にセツトする時、そのビツトにおいて以前フラグ
が“0”であつたか、“1”であつたかにかかわ
らず、常に“1”にセツトされる。先に、画像パ
ターン上に設ける第1の照合基準点の数が約
15600になると述べたが、これだけの第1の照合
基準点に対し1ビツトのフラグを設けるとその時
に必要な記憶領域は、およそ2Kバイトにもなつ
てしまう。そこで次のようにしてフラグ記憶領域
の容量を大幅に削減することにした。第6図はフ
ラグ記憶領域61中で、現在処理を行つている第
1の照合基準点が存在している行62から4行分
のフラグ記憶領域63を示している。画像パター
ン上に存在する多数の第1の照合基準点に対応す
るフラグ記憶領域61において、処理上必要なの
はこの4行分のフラグ記憶領域63だけである。
現在処理を行つている第1の照合基準点が存在し
ている第0行62は、処理対象となつている第1の
照合基準点に対応するフラグが“0”であるか
“1”であるか調べるために必要であり、第0行
から第3行までの4行分のフラグ記憶領域63
は、認識点が検出された時に第5図に示した小領
域52において、フラグを“1”にセツトするた
めに必要となる。したがつて、既に処理を済ませ
た領域63や今後処理を行おうとしている領域6
4に対応するフラグ記憶領域を同時に設ける必要
はない。そこで、第7図に示すように、上記の4
行分のフラグ記憶領域を行ごとにブロツク化し、
ブロツク化された各記憶領域71の先頭アドレス
72を別に設けた4ワードの記憶領域73に保持
しておき、ブロツク化された記憶領域71をスク
ロールする代りに、各ブロツクの先頭アドレスを
保持している記憶領域73の内容をスクロールす
ることによつて、フラグ記憶領域の節約とフラグ
処理の高速化を図つている。第8図は、第7図の
状態が1回スクロールされたフラグ記憶領域の各
ブロツク81と各ブロツクの先頭アドレス82、
およびブロツク先頭アドレス記憶領域83を示し
ている。ブロツク先頭アドレス記憶領域83で
は、1番上にあつた“adr0”が1番下になり、
残りのアドレスが1つずつ上に上つている。この
操作によりそれまで第1行目だつた“adr1”か
ら始まるフラグ記憶領域が、第0行目フラグ記憶
領域となり、第0行目だつた“adr0”から始ま
るフラグ記憶領域は第3行目フラグ記憶領域とな
る。この新たに第3行目フラグ記憶領域となつた
ブロツクは、第6図では4行分のフラグ記憶領域
63の下に存在する行に対応するものであり、上
記のスクロール終了時に全てのビツトが“0”に
リセツトされる。 FIG. 5 shows an area 52 in which a bit is set to "1" in the flag storage area 51 when a recognition point is detected by performing pattern matching processing in the same direction as the scanning direction of the imaging device. . The area 52 where the bit is set to "1" is centered around the flag 53 corresponding to the first matching reference point from which the recognition point was detected, and the first matching reference point converging to one recognition point is It is set based on the existing range and the minimum distance between adjacent recognition points,
At this time, there is no need to operate the flag for the area 54 that has already been processed. Also set the flag to “1”
When a flag is set to ``1'', it is always set to ``1'' regardless of whether the flag for that bit was previously ``0'' or ``1''. First, the number of first matching reference points provided on the image pattern is approximately
15,600, but if a 1-bit flag is provided for this many first reference points, the storage area required at that time will be approximately 2K bytes. Therefore, we decided to significantly reduce the capacity of the flag storage area as follows. FIG. 6 shows a flag storage area 63 for four lines in the flag storage area 61, starting from the line 62 where the first collation reference point currently being processed exists. In the flag storage area 61 corresponding to a large number of first matching reference points existing on the image pattern, only the flag storage area 63 for four lines is necessary for processing.
In the 0th row 62 where the first matching reference point currently being processed exists, the flag corresponding to the first matching reference point being processed is “0” or “1”. It is necessary to check whether there is a flag storage area 63 for four lines from line 0 to line 3.
is necessary to set the flag to "1" in the small area 52 shown in FIG. 5 when a recognition point is detected. Therefore, the area 63 that has already been processed and the area 6 that will be processed in the future
It is not necessary to provide flag storage areas corresponding to 4 at the same time. Therefore, as shown in Figure 7, the above 4
Block the flag storage area for each line,
The start address 72 of each block storage area 71 is held in a separate 4-word storage area 73, and instead of scrolling through the block storage area 71, the start address 72 of each block is held. By scrolling the contents of the storage area 73, the flag storage area is saved and the speed of flag processing is increased. FIG. 8 shows each block 81 of the flag storage area after the state of FIG. 7 has been scrolled once, the start address 82 of each block,
and a block start address storage area 83. In the block start address storage area 83, "adr0" which was at the top becomes the bottom,
The remaining addresses move up one by one. With this operation, the flag storage area starting from "adr1", which was the first line, becomes the 0th line flag storage area, and the flag storage area starting from "adr0", which was the 0th line, becomes the 3rd line flag storage area. becomes. This block that has newly become the third line flag storage area corresponds to the line that exists below the flag storage area 63 for four lines in FIG. Reset to “0”.
本発明の特徴である、第1の照合基準点に対応
するフラグ記憶領域を設けてそのフラグの値によ
つて照合処理を行うことは、そもそも1点の認識
点が複数回検出された場合の後処理を無くし処理
を高速化することが目的であつた。したがつて、
上記のようなフラグ操作に要する時間が、1点の
認識点が複数回検出された場合の後処理に要する
時間を上まわつてはならない。そこで本発明で
は、フラグ記憶領域のアドレスを計算するために
専用の回路を設け処理時間の節約を図つている。
第9図は、10進数“368”の2進化表現91を示
している。第1の照合基準点が4画素毎に設定さ
れ、フラグ記憶領域が16ビツト単位で構成され
ていたとすると、画像パターン上のx座標値
“368”に対応するフラグ記憶領域中のビツトは、
2進数で表現した時の下位2ビツトを削減した後
の2つのデイジツト“0101”92と“1100”93
によつて指定することができる。フラグ記憶領域
は現在処理中の第1の照合基準点が常に第0行に
なるように設定されるため、第1の照合基準点に
対応するフラグ記憶領域中のビツトを指定するた
めには、第1の照合基準点のx座標だけを指定す
ればよい。第9図の例では、“368”というx座標
値に対して“0101”すなわち“5”という値と
“1100”を反転した“0011”すなわち“3”とい
う値が得られるが、第10図に示すように前者は
第0行フラグ記憶領域101中のワードポジシヨ
ン(以下、WPと略す)5102を表わし、後者は
WP5の中のビツトポジシヨン(以下、BPと略
す)3103を表わしている。またWPとBPで指定
されたビツトを抽出するためには、WPで指定さ
れた1ワードのデータをBPで指定された数だけ
右にシフトして、BP=0のビツト内容を判定す
ることによつて一般化することができる。 The feature of the present invention is that a flag storage area corresponding to the first reference point is provided and the matching process is performed based on the value of the flag. The purpose was to speed up processing by eliminating post-processing. Therefore,
The time required for the flag operation as described above must not exceed the time required for post-processing when one recognition point is detected multiple times. Therefore, in the present invention, a dedicated circuit is provided to calculate the address of the flag storage area in order to save processing time.
FIG. 9 shows a binary representation 91 of the decimal number "368". Assuming that the first matching reference point is set every 4 pixels and the flag storage area is configured in units of 16 bits, the bit in the flag storage area that corresponds to the x-coordinate value "368" on the image pattern is
Two digits “0101”92 and “1100”93 after removing the lower two bits when expressed in binary numbers
It can be specified by The flag storage area is set so that the first matching reference point currently being processed is always the 0th row, so in order to specify the bit in the flag storage area that corresponds to the first matching reference point, It is only necessary to specify the x-coordinate of the first matching reference point. In the example shown in Figure 9, for the x-coordinate value "368", the value "0101", or "5", and the value "0011", or "3", which is the inversion of "1100", are obtained, but as shown in Figure 10. As shown in , the former represents word position (hereinafter abbreviated as WP) 5102 in the 0th row flag storage area 101, and the latter represents
It represents bit position (hereinafter abbreviated as BP) 3103 in WP5. In addition, in order to extract the bit specified by WP and BP, one word of data specified by WP is shifted to the right by the number specified by BP, and the bit content of BP = 0 is determined. Therefore, it can be generalized.
以上のようにして、画像パターン上に数画素毎
に設けられた第1の照合基準点に対応するフラグ
記憶領域を設け、このフラグに基づいて第1の照
合処理を行うことによつて認識点が重複すること
なく順次検出され、認識点の座標を検定する後処
理を無くすだけでなく、あらかじめ定められた点
数の認識点が検出された時点でパターンマツチン
グ処理を中断することにより、パターンマツチン
グ処理を高速化することができる。 As described above, by providing a flag storage area corresponding to the first matching reference point provided every few pixels on the image pattern, and performing the first matching process based on this flag, the recognition point is are detected sequentially without duplication, and not only eliminates post-processing to verify the coordinates of recognition points, but also interrupts pattern matching processing when a predetermined number of recognition points are detected. The processing speed can be increased.
実施例
以下本発明の一実施例のパターンマツチング方
法について、図面を参照しながら説明する。Embodiment A pattern matching method according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例であるパターンマツ
チング方法のブロツク図を示すものである。第1
図において、テレビカメラなどの撮像手段1より
得られた映像信号は、2値化手段2により2値化
され画像パターンとなつて画像パターン記憶手段
3に格納される。標準パターンは、パターンマツ
チング処理に先だつて、教示時に画像パターン記
憶手段3より画像パターンの特徴的な部分が切り
出され、標準パターン記憶手段4に保持される。
中央処理手段5は、照合基準点の制御や照合結果
の合否判定をはじめ、第1図の各ブロツクを制御
する役割を持つている。パターンマツチング処理
は、中央処理手段5が定めた第1の照合基準点に
おけるフラグの判定から始まる。まず第1の照合
基準点のx座標をフラグ制御手段6へ送ると記憶
手段7より上記の第1の照合基準点に対応するフ
ラグが得られる。このフラグを中央処理手段5で
判定して、フラグが“0”であれば上記の第1の
照合基準点において第1の照合処理を行い、フラ
グが“1”あれば上記の第1の照合基準点の隣の
照合基準点において同様の処理を行うことにな
る。画像パターンと標準パターンとの照合処理
は、2つのパターンの対応するパターンデータが
それぞれの記憶手段から読み出されるように、中
央処理手段5から画像パターン制御手段8と標準
パターン制御手段9に対して読み出し信号が送ら
れる。2つのパターンの対応するデータは、画像
パターン記憶手段3と標準パターン記憶手段4か
ら照合処理手段10へ入力され、そこで2つのパ
ターンデータの対応するビツトごとに排他的論理
和の否定がとられる。そして対応する画素のデー
タが一致する場合にビツトが“1”となり、この
データが一致度算出手段11へ送られて、そこで
“1”になつているビツトの数が算出され一致度
が求められる。求められた一致度は中央処理手段
5において、第1の照合、第2の照合に応じた合
格基準値と比較され、第1の照合処理に合格とな
つた場合には処理は第2の照合処理へ移り、第2
の照合処理に合格となつた場合には合格となつた
照合基準点の座標値を認識点の座標値として保持
しておき、全ての処理が終つた段階で必要な認識
点の座標値をメインコントローラ12へ送ること
になる。 FIG. 1 shows a block diagram of a pattern matching method according to an embodiment of the present invention. 1st
In the figure, a video signal obtained from an imaging means 1 such as a television camera is binarized by a binarization means 2 and stored in an image pattern storage means 3 as an image pattern. Prior to the pattern matching process, a characteristic part of the standard pattern is cut out from the image pattern storage means 3 at the time of teaching and is stored in the standard pattern storage means 4.
The central processing means 5 has the role of controlling each block in FIG. 1, including controlling the comparison reference points and determining pass/fail of the comparison results. The pattern matching process begins with determination of the flag at the first matching reference point determined by the central processing means 5. First, when the x-coordinate of the first reference point is sent to the flag control means 6, a flag corresponding to the first reference point is obtained from the storage means 7. This flag is determined by the central processing means 5. If the flag is "0", the first verification process is performed at the first verification reference point, and if the flag is "1", the first verification process is performed. Similar processing will be performed at the matching reference point next to the reference point. The matching process between the image pattern and the standard pattern is performed by reading out the pattern data from the central processing means 5 to the image pattern control means 8 and the standard pattern control means 9 so that the corresponding pattern data of the two patterns are read out from the respective storage means. A signal is sent. Corresponding data of the two patterns are inputted from the image pattern storage means 3 and the standard pattern storage means 4 to the matching processing means 10, where exclusive OR is performed for each corresponding bit of the two pattern data. When the corresponding pixel data match, the bit becomes "1", and this data is sent to the matching degree calculation means 11, where the number of bits that are "1" is calculated and the matching degree is determined. . The obtained degree of matching is compared in the central processing means 5 with the pass standard value corresponding to the first matching and the second matching, and if the first matching process is passed, the process is performed on the second matching process. Moving on to processing, the second
If the matching process passes, the coordinate values of the matching reference point that passed are retained as the coordinate values of the recognition point, and when all processing is completed, the coordinate values of the necessary recognition point are used as the main It will be sent to the controller 12.
第11図は、第1図のフラグ制御手段6とフラ
グ記憶手段7を詳しく説明した図である。中央処
理手段5より送られた第1の照合基準点のx座標
値は、座標値格納用のレジスタ111にセツトさ
れる。第1の照合基準点が4画素毎に設けられる
場合には、レジスタ111の下位2ビツトを除い
て下から4ビツトの“0”,“1”を反転してレジ
スタ112に、その上の4ビツトをレジスタ11
3に格納する。レジスタ112に格納されたデー
タは第9図に示した4ビツトデータ93の“0”,
“1”を反転したものでBPを表わしており、レジ
スタ113に格納されたデータは第9図に示した
WPを表わす4ビツトデータ92である。したが
つて、フラグ記憶領域114から読み出すべきフ
ラグを含んだデータは、レジスタ113に格納さ
れたWPの値と、フラグ0記憶領域の先頭アドレ
スが格納されたレジスタ115の内容を、加算機
116によつて加算し、そのアドレスをアドレス
選択用レジスタ117に格納することによつて読
み出され、シフトレジスタ118に格納される。
シフトレジスタ118ではセツトされたフラグデ
ータを、レジスタ112に格納されているBPの
数だけ右にシフトさせる。そして、BP0に格納さ
れている値が1ビツトのフラグ用レジスタ119
にセツトされ、中央処理手段はこのレジスタ11
9の内容が“0”であるか、“1”であるかによ
つて第1の照合を行うかどうか判定するようにな
つている。 FIG. 11 is a diagram illustrating in detail the flag control means 6 and flag storage means 7 of FIG. 1. The x-coordinate value of the first comparison reference point sent from the central processing means 5 is set in the register 111 for storing the coordinate value. When the first comparison reference point is provided every four pixels, excluding the lower two bits of the register 111, the bottom four bits "0" and "1" are inverted and stored in the register 112, and the four bits above it are inverted. Bit register 11
Store in 3. The data stored in the register 112 is "0" of the 4-bit data 93 shown in FIG.
The inverted version of “1” represents BP, and the data stored in register 113 is shown in Figure 9.
This is 4-bit data 92 representing WP. Therefore, data including flags to be read from the flag storage area 114 is obtained by inputting the value of WP stored in the register 113 and the contents of the register 115 storing the start address of the flag 0 storage area to the adder 116. Therefore, the added address is read out by storing the address in the address selection register 117, and is stored in the shift register 118.
The shift register 118 shifts the set flag data to the right by the number of BPs stored in the register 112. Then, the value stored in BP0 is a flag register 119 whose value is 1 bit.
and the central processing means registers this register 11.
It is determined whether the first verification is to be performed depending on whether the content of 9 is "0" or "1".
以上のように構成されたパターンマツチング方
法について、以下第12図、第13図、第14図
を用いて、認識点が検出された付近の第1の照合
基準点が回避される様を説明する。第12図にお
いてn画素毎に設けられた第1の照合基準点12
1に対して、撮像装置が走査する方向で順次第1
の照合処理を行うものとする。第1の照合処理は
第1の照合基準点に対応するフラグが“0”のと
きに行われるが、最初の認識点が検出されるまで
はフラグ記憶領域は“0”に初期化されているの
で、第1の照合処理はA1の位置から次々と行わ
れて行く。次に、第1の照合基準点122から認
識点123が検出されたとすると、この第1の照
合基準点122を基準として小領域124が設定
され、この小領域124に含まれる第1の照合基
準点対するフラグが“1”にセツトされ、フラグ
記憶領域は第13図のようになる。次に第1の照
合処理は、第1の照合基準点122の隣の照合基
準点125に移るが、照合基準点125から照合
基準点126までは、フラグが“1”になつてい
るのでこの間第1の照合処理は行われず、結局第
1の照合処理は第1の照合基準点127において
再開される。第1の照合処理が1段下の行に移る
と、フラグ記憶領域は第14図のように一番上の
行が削除され、一番下に全ビツトが“0”に初期
化された行が追加される。そして、第1の照合処
理は第1の照合基準点128,129において行
われた後、小領域124を間にはんで照合基準点
130において行われ、このようにして認識点1
23を検出するに至つた第1の照合基準点122
のまわりに存在する他の第1の照合基準点から、
認識点123が再び検出することがないようにし
ている。 Regarding the pattern matching method configured as described above, how the first matching reference point near the detected recognition point is avoided will be explained below using FIGS. 12, 13, and 14. do. In FIG. 12, the first matching reference point 12 provided every n pixels
1, sequentially 1 in the scanning direction of the imaging device.
The verification process shall be performed. The first matching process is performed when the flag corresponding to the first matching reference point is "0", but the flag storage area is initialized to "0" until the first recognition point is detected. Therefore, the first verification process is performed one after another starting from the position A1. Next, if the recognition point 123 is detected from the first matching reference point 122, a small area 124 is set based on this first matching reference point 122, and the first matching reference included in this small area 124 is set as a reference point. The flag corresponding to the point is set to "1", and the flag storage area becomes as shown in FIG. Next, the first matching process moves to the matching reference point 125 next to the first matching reference point 122, but since the flag is set to "1" from the matching reference point 125 to the matching reference point 126, during this time The first matching process is not performed, and the first matching process is eventually restarted at the first matching reference point 127. When the first matching process moves to the row one row below, the flag storage area is deleted from the top row as shown in Figure 14, and the bottom row is a row in which all bits are initialized to "0". will be added. After the first matching process is performed at the first matching reference points 128 and 129, it is performed at the matching reference point 130 with the small area 124 in between.
The first comparison reference point 122 that led to the detection of 23
From other first reference points that exist around
This prevents the recognition point 123 from being detected again.
以上のように本実施例によれば、画像パターン
上に複数個存在する認識点を点数を正確に数えな
がら検出することができ、所望の点数の認識点が
得られた時点で処理を終了するたとにより、パタ
ーンマツチング処理を高速化することができる。 As described above, according to this embodiment, it is possible to detect a plurality of recognition points on an image pattern while accurately counting the number of points, and the process ends when the desired number of recognition points is obtained. As a result, pattern matching processing can be sped up.
発明の効果 第15図は本発明の効果を説明する図である。Effect of the invention FIG. 15 is a diagram illustrating the effects of the present invention.
画像パターン151上にn画素毎に設けられた第
1の照合基準点152に対して、撮像装置が走査
する方向に順次照合処理を行つていくと、第1の
照合基準点153からの照合処理によつて上から
1本目の足に対する認識点154が検出され、そ
して第1の照合基準点153付近の他の第1の照
合基準点から、この認識点154が再び検出され
ないように、第1の照合基準点153付近に存在
する他の第1の照合基準点に対応するフラグ記憶
領域のビツトが“1”にセツトされる(フラグを
処理する領域は図示されていない)。そして第1
の照合処理を続けると第1の照合基準点155か
らの照合処理によつて、上から2本目の足に対す
る認識点156が検出される。仮に上から2本目
の足に対する認識点156が検出されるまで処理
を行うという条件があらかじめ与えられていたと
すると、パターンマツチング処理は、認識点15
6を検出した時点で終了させることがきる。つま
り、本発明の方法によつて認識点の点数を正確に
数えながら処理を行うと、複数個の認識点の検出
を目的とするパターンマツチング処理を、所望の
点数の認識点が得られた段階で終了させ、処理時
間を大幅に短縮することができる。When the matching process is performed sequentially in the scanning direction of the imaging device on the first matching reference points 152 provided every n pixels on the image pattern 151, the matching process starts from the first matching reference point 153. The recognition point 154 for the first foot from the top is detected by A bit in a flag storage area corresponding to another first reference point existing near the reference reference point 153 is set to "1" (the area for processing the flag is not shown). and the first
Continuing the matching process, the recognition point 156 for the second leg from the top is detected by the matching process from the first matching reference point 155. Assuming that a condition is given in advance to perform the process until the recognition point 156 for the second leg from the top is detected, the pattern matching process
The process can be terminated when 6 is detected. In other words, when processing is performed while accurately counting the number of recognition points using the method of the present invention, the pattern matching process aimed at detecting a plurality of recognition points can be performed without obtaining the desired number of recognition points. It can be completed in stages, significantly reducing processing time.
第1図は本発明の一実施例であるパターンマツ
チング方法の構成を示すブロツク図、第2図は1
つの認識点が複数個の第1の照合基準点から検出
されることを示す図、第3図は標準パターン画像
パターンに設けられた第1の照合基準点を示す
図、第4図は画像パターンに設けられた第1の照
合基準点に対応するフラグ記憶領域を示す図、第
5図は認識点が検出された時にビツトが“1”に
セツトされるフラグ記憶領域を示す図、第6図は
フラグ記憶領域の中で最低限必要な領域を示す
図、第7図はフラグ記憶領域の構成を示す図、第
8図はフラグ記憶領域がスクロールされるようす
を示す図、第9図はフラグ記憶領域のアドレスを
決定するため与えられた座標値から2つの数値が
抽出されることを示す図、第10図は第9図に示
された2つの数値からフラグ記憶領域中の特定の
ビツトが選ばれることを示す図、第11図はフラ
グ制御手段の構成を示す図、第12図はフラグが
“1”になつている小領域を含む領域内の第1の
照合基準点がどのように選ばれて処理されるかを
示す図、第13図は第12図に対応するフラグ記
憶領域の内容を示す図、第14図も第12図に対
応するフラグ記憶領域の内容を示す図、第15図
は本発明の効果を示す図である。
3……画像パターン記憶手段、4……標準パタ
ーン記憶手段、5……中央処理手段、6……フラ
グ制御手段、7……フラグ記憶手段、8……画像
パターン制御手段、9……標準パターン制御手
段、21,22……第1の照合基準点、23,2
4……第2の照合処理領域、25……認識点、3
1……標準パターン、32……標準パターン側照
合基準点、33……画像パターン、34……第1
の照合基準点、41……フラグ記憶領域、52…
…フラグを“1”にする領域、63……処理上必
要なフラグ記憶領域、71……フラグ記憶領域、
72……フラグ記憶領域先頭アドレス、73……
先頭アドレス記憶領域、83……スクロールされ
た先頭アドレス記憶領域、91……画像パターン
x座標、102……フラグ記憶領域ワードポジシ
ヨン、103……フラグ記憶領域ビツトポジシヨ
ン、104……フラグ記憶領域先頭アドレス、1
05……先頭アドレス記憶領域、111……画像
パターンx座標、112……ビツトポジシヨン格
納レジスタ、113……ワードポジシヨン格納レ
ジスタ、114……フラグ記憶領域、116……
加算機、117……フラグ記憶領域アドレス指定
レジスタ、118……シフトレジスタ、119…
…フラグレジスタ、121……第1の照合基準
点、123……認識点、124……フラグを
“1”にする領域、152……第1の照合基準点、
154,156……認識点。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a pattern matching method which is an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a diagram showing the first matching reference points provided on the standard pattern image pattern, and FIG. 4 is the image pattern. FIG. 5 is a diagram showing a flag storage area corresponding to the first comparison reference point provided in FIG. is a diagram showing the minimum required area in the flag storage area, Figure 7 is a diagram showing the configuration of the flag storage area, Figure 8 is a diagram showing how the flag storage area is scrolled, and Figure 9 is a diagram showing the flag storage area. A diagram showing that two numerical values are extracted from the given coordinate values to determine the address of the storage area. Figure 10 shows how a specific bit in the flag storage area is extracted from the two numerical values shown in Figure 9. FIG. 11 is a diagram showing the configuration of the flag control means, and FIG. 12 is a diagram showing how the first comparison reference point in the area including the small area where the flag is set to "1" is selected. FIG. 13 is a diagram showing the contents of the flag storage area corresponding to FIG. 12. FIG. 14 is also a diagram showing the contents of the flag storage area corresponding to FIG. 12. FIG. 15 is a diagram showing the effect of the present invention. 3... Image pattern storage means, 4... Standard pattern storage means, 5... Central processing means, 6... Flag control means, 7... Flag storage means, 8... Image pattern control means, 9... Standard pattern Control means, 21, 22...first reference point, 23, 2
4...Second verification processing area, 25...Recognition point, 3
1...Standard pattern, 32...Standard pattern side matching reference point, 33...Image pattern, 34...First
Verification reference point, 41...Flag storage area, 52...
...area for setting the flag to "1", 63...flag storage area necessary for processing, 71...flag storage area,
72... Flag storage area start address, 73...
Start address storage area, 83...Scrolled start address storage area, 91...Image pattern x coordinate, 102...Flag storage area word position, 103...Flag storage area bit position, 104...Flag storage area start address ,1
05...Start address storage area, 111...Image pattern x coordinate, 112...Bit position storage register, 113...Word position storage register, 114...Flag storage area, 116...
Adder, 117... Flag storage area addressing register, 118... Shift register, 119...
...Flag register, 121...First matching reference point, 123...Recognition point, 124...Area where the flag is set to "1", 152...First matching reference point,
154,156...Recognition point.
Claims (1)
し、画像パターンとして記憶手段に保持してお
き、前記画像パターンの部分をあらかじめ記憶手
段に保持しておいた標準パターンと照合し、照合
の結果得られる一致度の高い標準パターンの特定
位置の画素、すなわち認識点を上記画像パターン
中より1個以上検出するパターンマツチング処理
において、前記画像パターンと前記標準パターン
との照合時の位置合せ点となる照合基準点を前記
画像パターン全域を対象とした領域に数画素毎に
設定してこれらを第1の照合基準点とし、前記標
準パターンの特定位置の画素を前記第1の照合基
準点と一致させて、前記標準パターンと前記画像
パターンとの第1の照合を順次行い、前記第1の
照合を行うごとに得られる第1の一致度をあらか
じめ定められた第1の合格基準値と比較し、前記
第1の一致度が前記第1の合格基準値より大きく
なつたときにはその第1の照合基準点を基準とし
て小領域を設定し、前記小領域内に1画素毎に第
2の照合基準点を設定して前記第2の照合基準点
において第2の照合を行い、その結果得られる複
数個の第2の一致度のうち最大になつた一致度の
値をあらかじめ定められた第2の合格基準値と比
較し、前記最大となつた第2の一致度の値が前記
第2の合格基準値より大きくなつた時に前記最大
となつた第2の一致度を与えた前記第2の照合基
準点を認識点とする階層化されたパターンマツチ
ング法を用いる時、前記画像パターン全域を対象
として数画素毎に設定された前記第1の照合基準
点に対して1点につき1ビツトの初期値“0”を
持つフラグ記憶領域を設け、第1の照合基準点に
おける第1の照合に合格し第2の照合において認
識点が検出された場合には、前記認識点を検出す
るに至つた第1の照合基準点とその近傍に存在す
る複数個の第1の照合基準点に対応する前記フラ
グ記憶領域のビツトを“0”から“1”に書きか
え、以後の処理においては前記フラグ記憶領域の
“1”になつているビツトに対応する前記第1の
照合基準点においては第1の照合を行わないよう
にすることを特徴とするパターンマツチング方
法。1 A video signal obtained from an imaging device is digitized and stored as an image pattern in a storage means, and a portion of the image pattern is compared with a standard pattern previously stored in the storage means, and a match obtained as a result of the comparison is obtained. In pattern matching processing that detects one or more pixels at a specific position of a standard pattern with a high degree of accuracy, that is, one or more recognition points from the image pattern, a matching reference is used as a matching point when matching the image pattern with the standard pattern. Points are set every few pixels in a region covering the entire image pattern, and these are used as first matching reference points, and pixels at specific positions of the standard pattern are matched with the first matching reference points, A first match between the standard pattern and the image pattern is performed sequentially, and a first match degree obtained each time the first match is compared with a predetermined first acceptance criterion value. When the degree of matching of 1 becomes greater than the first pass reference value, a small area is set based on the first matching reference point, and a second matching reference point is set for each pixel within the small area. A second matching is performed at the second matching reference point, and the value of the maximum matching degree among the plurality of second matching degrees obtained as a result is set as a predetermined second passing standard value. , and when the value of the second matching degree that became the maximum becomes larger than the second acceptance standard value, the second matching reference point that gave the second matching degree that became the maximum is determined. When using a hierarchical pattern matching method using recognition points, an initial value of 1 bit per point is set to ``0'' for the first matching reference point, which is set every several pixels over the entire image pattern. ”, and if the first verification at the first verification reference point is passed and a recognition point is detected in the second verification, the first verification point that led to the detection of the recognition point is The bits in the flag storage area corresponding to the matching reference point and a plurality of first matching reference points existing in the vicinity thereof are rewritten from "0" to "1", and in subsequent processing, the bits in the flag storage area are written as "1". A pattern matching method characterized in that the first matching is not performed at the first matching reference point corresponding to the bit that is 1''.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60230151A JPS6290787A (en) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | Pattern matching method |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP60230151A JPS6290787A (en) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | Pattern matching method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPS6290787A JPS6290787A (en) | 1987-04-25 |
| JPH0442711B2 true JPH0442711B2 (en) | 1992-07-14 |
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| JP60230151A Granted JPS6290787A (en) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | Pattern matching method |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0634233B2 (en) * | 1987-05-26 | 1994-05-02 | 株式会社安川電機 | Hierarchical structural template matching method |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP60230151A patent/JPS6290787A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6290787A (en) | 1987-04-25 |
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