JPH044543B2 - - Google Patents
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- JPH044543B2 JPH044543B2 JP3166183A JP3166183A JPH044543B2 JP H044543 B2 JPH044543 B2 JP H044543B2 JP 3166183 A JP3166183 A JP 3166183A JP 3166183 A JP3166183 A JP 3166183A JP H044543 B2 JPH044543 B2 JP H044543B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 2
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
- G01D18/008—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00 with calibration coefficients stored in memory
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は標準添加法を適用し得る分析計に係
り、特に検量線をグラフ表示する表示部を備えた
分析計に関する。
り、特に検量線をグラフ表示する表示部を備えた
分析計に関する。
標準添加法は、試料の組成が不明確で、測定時
の化学干渉あるいは物理干渉の影響を除去するこ
とが難しく、通常の検量線法では精度良く定量で
きない場合に、有効な定量法として知られてい
る。この方法はまた試料に含まれる物質の量が測
定限界程度に微量で、直接測定ではSN比が小さ
すぎて精度良く測定できない時の間接測定として
利用しても有効である。
の化学干渉あるいは物理干渉の影響を除去するこ
とが難しく、通常の検量線法では精度良く定量で
きない場合に、有効な定量法として知られてい
る。この方法はまた試料に含まれる物質の量が測
定限界程度に微量で、直接測定ではSN比が小さ
すぎて精度良く測定できない時の間接測定として
利用しても有効である。
標準添加法による定量の手順を説明すると、等
量に分けられた分析試料複数個に、異なる濃度の
標準物質溶液を添加し、それぞれの溶液について
測定した後、横軸に添加した標準物質溶液の濃
度、縦軸に測定値（例えば吸光度）をとつたグラ
フ用紙上で各試料のデータをプロツトし、それら
の点を平均的に通る直線を引く。この状態を示し
たのが第１図であるが、この図において点Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄが測定点であり、これらの点を平均的
に通るように引かれた直線ｌが横軸に交わる点と
原点との距離x0から試料の濃度が読み取られる。
x0はグラフ上では負の値として読み取られるが、
これを正に置き換えて求める試料の濃度とする。
また間接測定として利用する場合は、信頼性の低
い点Ａの測定を行わず、測定点Ｂ，Ｃ，Ｄから外
挿して点Ａおよび濃度x0を読み取る。
量に分けられた分析試料複数個に、異なる濃度の
標準物質溶液を添加し、それぞれの溶液について
測定した後、横軸に添加した標準物質溶液の濃
度、縦軸に測定値（例えば吸光度）をとつたグラ
フ用紙上で各試料のデータをプロツトし、それら
の点を平均的に通る直線を引く。この状態を示し
たのが第１図であるが、この図において点Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄが測定点であり、これらの点を平均的
に通るように引かれた直線ｌが横軸に交わる点と
原点との距離x0から試料の濃度が読み取られる。
x0はグラフ上では負の値として読み取られるが、
これを正に置き換えて求める試料の濃度とする。
また間接測定として利用する場合は、信頼性の低
い点Ａの測定を行わず、測定点Ｂ，Ｃ，Ｄから外
挿して点Ａおよび濃度x0を読み取る。
この方法は、試料毎にグラフ上に点をプロツト
して直線を引かなければならないという面倒さが
ある上に、データの点をプロツトする時、直線を
引く時、距離を読み取る時に入る誤差の個人差の
ために結果の信頼度がある程度以上高くなり得な
いという大きな欠点をもつている。さらにグラフ
の目盛の選び方によつて、プロツトされる点およ
び濃度x0の位置が変わり、精度が落ちたり、紙面
からはみ出したりするためにグラフの作り直しが
必要になる場合もある。
して直線を引かなければならないという面倒さが
ある上に、データの点をプロツトする時、直線を
引く時、距離を読み取る時に入る誤差の個人差の
ために結果の信頼度がある程度以上高くなり得な
いという大きな欠点をもつている。さらにグラフ
の目盛の選び方によつて、プロツトされる点およ
び濃度x0の位置が変わり、精度が落ちたり、紙面
からはみ出したりするためにグラフの作り直しが
必要になる場合もある。
このような欠点を改良したのが第２図に示した
検量線表示装置で、マイクロコンピユータによる
記憶・演算部とCRTによる表示部によつて構成
される。
検量線表示装置で、マイクロコンピユータによる
記憶・演算部とCRTによる表示部によつて構成
される。
第２図における定量分析の手順を説明する。ま
ず用意された各試料を順に分析計１０で測定し、
その結果をオンラインで接続された測定値入力端
子１から記憶部３に送ると共に、数値キーなどの
手段によつて濃度値入力端子２へ標準物質の添加
量を送り、相互の入力値を一対のデータとして記
憶部３に記憶させていく。全部の試料を測定し終
るまでこれを繰返し、測定終了と共に記憶部３の
データを検量線作成部５、座標軸目盛作成部４へ
送つてそれぞれ検量線、座標軸の位置および目盛
の値を決定して表示部６で合成して表示する。こ
の時の表示画面は第１図のようになる。
ず用意された各試料を順に分析計１０で測定し、
その結果をオンラインで接続された測定値入力端
子１から記憶部３に送ると共に、数値キーなどの
手段によつて濃度値入力端子２へ標準物質の添加
量を送り、相互の入力値を一対のデータとして記
憶部３に記憶させていく。全部の試料を測定し終
るまでこれを繰返し、測定終了と共に記憶部３の
データを検量線作成部５、座標軸目盛作成部４へ
送つてそれぞれ検量線、座標軸の位置および目盛
の値を決定して表示部６で合成して表示する。こ
の時の表示画面は第１図のようになる。
このような方式によれば、分析者がグラフ紙面
上にプロツトしたり直線を引く手間が省け、計算
精度や個人差の問題も解決されているが、次のよ
うな欠点が残されている。すなわち、測定試料を
全部測定した後でないと縦軸、横軸の目盛が決定
せず、グラフ化することができないため、測定の
途中に異常データが含まれていても全部の試料が
測定されてグラフ化されるまで発見できない。ま
た、測定データに従つて画面上の座標軸の位置を
決めるので、測定毎に縦軸の位置が変わり、見づ
らい。
上にプロツトしたり直線を引く手間が省け、計算
精度や個人差の問題も解決されているが、次のよ
うな欠点が残されている。すなわち、測定試料を
全部測定した後でないと縦軸、横軸の目盛が決定
せず、グラフ化することができないため、測定の
途中に異常データが含まれていても全部の試料が
測定されてグラフ化されるまで発見できない。ま
た、測定データに従つて画面上の座標軸の位置を
決めるので、測定毎に縦軸の位置が変わり、見づ
らい。
本発明の目的は、測定値をプロツトしたのと同
じ象限内で未知試料の成分濃度をグラフ表示でき
る標準添加法を適用し得る分析計を提供すること
にある。
じ象限内で未知試料の成分濃度をグラフ表示でき
る標準添加法を適用し得る分析計を提供すること
にある。
本発明は、標準物質を添加した複数試料の測定
によつて演算される検量線における外挿入部分を
反転させることにより、測定値が表示されている
象限と同じ象限内に外挿部分を画面表示すること
を特徴とする。
によつて演算される検量線における外挿入部分を
反転させることにより、測定値が表示されている
象限と同じ象限内に外挿部分を画面表示すること
を特徴とする。
本発明の望ましい実施例によれば、最初に設定
された目盛（縦軸および横軸）の範囲内でグラフ
化が可能になるので各試料の測定毎に測定点を
CRTなどの表示画面上にプロツトできる。それ
故、途中での異常データの発見もやり易く、かつ
画面の広さを有効に利用できる。
された目盛（縦軸および横軸）の範囲内でグラフ
化が可能になるので各試料の測定毎に測定点を
CRTなどの表示画面上にプロツトできる。それ
故、途中での異常データの発見もやり易く、かつ
画面の広さを有効に利用できる。
本発明の望ましいのは検量線グラフの第１象限
の範囲だけを表示有効範囲として選択し、第２象
限の部分を座標軸のところから折り曲げて第１象
限の表示画面の中に同時に表示させる。このよう
にすることにより、第２象限の内容が確定する前
に座標軸を引くことができ、画面の目盛も最も添
加量の多い試料を測定した時点で決めることにな
り、最初にこの試料を測定すれば以後の試料の測
定毎に各測定点を画面上にプロツトさせることが
可能で、測定作業を能率的に行うことができる。
完成された検量線も画面の折り曲げによつて重複
部分が発生せず、求める濃度値を示す位置を座標
軸上で正の値で読み取れるので、読み取り間違い
が生じ難い。また、第１、２象限の両方を表示す
る従来の方式に比べて、プロツトされた点相互の
表示分解能が高くなる。
の範囲だけを表示有効範囲として選択し、第２象
限の部分を座標軸のところから折り曲げて第１象
限の表示画面の中に同時に表示させる。このよう
にすることにより、第２象限の内容が確定する前
に座標軸を引くことができ、画面の目盛も最も添
加量の多い試料を測定した時点で決めることにな
り、最初にこの試料を測定すれば以後の試料の測
定毎に各測定点を画面上にプロツトさせることが
可能で、測定作業を能率的に行うことができる。
完成された検量線も画面の折り曲げによつて重複
部分が発生せず、求める濃度値を示す位置を座標
軸上で正の値で読み取れるので、読み取り間違い
が生じ難い。また、第１、２象限の両方を表示す
る従来の方式に比べて、プロツトされた点相互の
表示分解能が高くなる。
以下、図面によつて本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第３図は本発明の一実施例を示す図である。原
子吸光光度計などの試料測定部１０からの測定値
および操作パネル１１の数値キーなどからの濃度
値が、入力端子１，２から入つて記憶部３に記憶
される。最初に測定される最も標準物質添加量の
多い試料のデータが確立した時点で、このデータ
を基に座標軸・目盛作成部４で座標軸と目盛を作
成し、その結果座標軸表示データ４１をCRTか
らなる表示部６に送つて、その時のプロツトデー
タ３１と共に表示する。その後被検成分と同種の
標準物質を添加した試料の測定が行われる毎に各
測定点を画面の中にプロツトして行き、最後のデ
ータが確立した時点で全データを検量線作成部５
に送つて、すべての点を平均的に通る直線を作
る。その検量線を反転合成部７で第２象限の部分
を第１象限の中り折り返した形に加工し、表示部
６の既にプロツトされているデータの上に重ねて
表示させる。この時の反転合成部７で作られる検
量線７１は、元の検量線の式を(1)式とした時(2)式
で与えられる。
子吸光光度計などの試料測定部１０からの測定値
および操作パネル１１の数値キーなどからの濃度
値が、入力端子１，２から入つて記憶部３に記憶
される。最初に測定される最も標準物質添加量の
多い試料のデータが確立した時点で、このデータ
を基に座標軸・目盛作成部４で座標軸と目盛を作
成し、その結果座標軸表示データ４１をCRTか
らなる表示部６に送つて、その時のプロツトデー
タ３１と共に表示する。その後被検成分と同種の
標準物質を添加した試料の測定が行われる毎に各
測定点を画面の中にプロツトして行き、最後のデ
ータが確立した時点で全データを検量線作成部５
に送つて、すべての点を平均的に通る直線を作
る。その検量線を反転合成部７で第２象限の部分
を第１象限の中り折り返した形に加工し、表示部
６の既にプロツトされているデータの上に重ねて
表示させる。この時の反転合成部７で作られる検
量線７１は、元の検量線の式を(1)式とした時(2)式
で与えられる。
ｘ＝ay＋ｂ ……(1)
ｘ＝｜ay＋ｂ｜ ……(2)
ここでｘは濃度、ｙは測定値、ａ，ｂは係数を
示す。
示す。
第４図はこのようにして作成された画面の例で
ある。第４図から明らかなように、x0の値がこの
画面の範囲内で読み取れるためには点Ａの測定値
が縦軸の半分の位置より下にないといけない。こ
のことは外挿によつて求められるx0の精度を維持
する上で必要であり、一般の標準添加法における
条件とも一致する。点Ａが縦軸の上方に位置し、
x0がこの画面よりはみ出すような場合には目盛を
修正して再プロツトするのでなく、標準物質の添
加量を増した試料を作り直して測定をやり直す。
このように本実施例によれば先にあげた特徴を有
する上に添加量の適否の判断が測定の途中で適格
にでき、無駄な測定を回避することの可能な標準
添加法用の検量線表示ができる。
ある。第４図から明らかなように、x0の値がこの
画面の範囲内で読み取れるためには点Ａの測定値
が縦軸の半分の位置より下にないといけない。こ
のことは外挿によつて求められるx0の精度を維持
する上で必要であり、一般の標準添加法における
条件とも一致する。点Ａが縦軸の上方に位置し、
x0がこの画面よりはみ出すような場合には目盛を
修正して再プロツトするのでなく、標準物質の添
加量を増した試料を作り直して測定をやり直す。
このように本実施例によれば先にあげた特徴を有
する上に添加量の適否の判断が測定の途中で適格
にでき、無駄な測定を回避することの可能な標準
添加法用の検量線表示ができる。
第５図はマイクロコンピユータを用いて検量線
を作成する場合の実施例の動作フローを示す図で
ある。
を作成する場合の実施例の動作フローを示す図で
ある。
〔発明の効果〕
以上の説明から理解されるように、本発明によ
れば、標準物質を添加した試料の測定値を画面上
にプロツトしたのと同じ象限内で、未知試料の成
分濃度をグラフ表示できるので、測定の都度画面
上のグラフの横軸又は縦軸を移動させなくても標
準添加法の検量線の作成が可能となる。
れば、標準物質を添加した試料の測定値を画面上
にプロツトしたのと同じ象限内で、未知試料の成
分濃度をグラフ表示できるので、測定の都度画面
上のグラフの横軸又は縦軸を移動させなくても標
準添加法の検量線の作成が可能となる。
第１図は従来の標準添加法を説明するための
図、第２図は第１図の方法をCRT画面上で実行
する場合に予想される図、第３図は本発明の一実
施例を説明するための図、第４図は実施例の
CRT画面上に表示される検量線例を示す図、第
５図は検量線を画面表示する場合の動作フロー図
である。 ３……記憶部、４……座標軸・目盛作成部、５
……検量線作成部、６……表示部、７……反転合
成部、１０……試料測定部、x0……横軸上の交点
から原点までの距離。
図、第２図は第１図の方法をCRT画面上で実行
する場合に予想される図、第３図は本発明の一実
施例を説明するための図、第４図は実施例の
CRT画面上に表示される検量線例を示す図、第
５図は検量線を画面表示する場合の動作フロー図
である。 ３……記憶部、４……座標軸・目盛作成部、５
……検量線作成部、６……表示部、７……反転合
成部、１０……試料測定部、x0……横軸上の交点
から原点までの距離。
Claims (1)
- １ 試料測定部と、この試料測定部からの試料の
被検成分の測定値に基づいて検量線を演算する演
算部と、濃度値と複数の測定値の関係を検量線と
して画面上にグラフ表示する表示部とを備えた標
準添加法を適用し得る分析計において、上記検量
線の外挿部分を反転させ、測定値が表示されてい
る象限と同じ象限内に外挿部分を表示せしめるよ
うに上記表示部に信号を入力する手段を設けたこ
とを特徴とする標準添加法を適用し得る分析計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166183A JPS59157538A (ja) | 1983-02-25 | 1983-02-25 | 標準添加法を適用し得る分析計 |
| DE19843406223 DE3406223A1 (de) | 1983-02-25 | 1984-02-21 | Analysengeraet fuer die standardadditionsmethode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3166183A JPS59157538A (ja) | 1983-02-25 | 1983-02-25 | 標準添加法を適用し得る分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59157538A JPS59157538A (ja) | 1984-09-06 |
| JPH044543B2 true JPH044543B2 (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=12337325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3166183A Granted JPS59157538A (ja) | 1983-02-25 | 1983-02-25 | 標準添加法を適用し得る分析計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59157538A (ja) |
| DE (1) | DE3406223A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3439761A1 (de) * | 1984-10-31 | 1986-05-07 | Klaus-Peter 6800 Mannheim Becker | Verfahren zur bestimmung von endotoxinkonzentrationen |
| GB2243211A (en) * | 1990-04-20 | 1991-10-23 | Philips Electronic Associated | Analytical instrument and method of calibrating an analytical instrument |
| DE19610855A1 (de) * | 1996-03-07 | 1997-09-11 | Geesthacht Gkss Forschung | Verfahren und Anordnung zur Kalibrierung von Einrichtungen zur Analyse chemischer Elemente und/oder Verbindungen in Lösungen und/oder flüssigen Gemischen |
| DE102014106916A1 (de) | 2013-05-28 | 2014-12-04 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Vorrichtung zur automatisierten Bestimmung von mindestens zwei unterschiedlichen Prozessparametern |
| KR101999260B1 (ko) * | 2016-09-30 | 2019-07-12 | 삼성전자주식회사 | 검체 분석 장치 및 그 측정방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3912456A (en) * | 1974-03-04 | 1975-10-14 | Anatronics Corp | Apparatus and method for automatic chemical analysis |
| US3909203A (en) * | 1974-08-04 | 1975-09-30 | Anatronics Corp | Analysis system having random identification and labeling system |
-
1983
- 1983-02-25 JP JP3166183A patent/JPS59157538A/ja active Granted
-
1984
- 1984-02-21 DE DE19843406223 patent/DE3406223A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59157538A (ja) | 1984-09-06 |
| DE3406223A1 (de) | 1984-08-30 |
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