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JPH0447275B2 - - Google Patents
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JPH0447275B2 - - Google Patents

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JPH0447275B2
JPH0447275B2 JP59057766A JP5776684A JPH0447275B2 JP H0447275 B2 JPH0447275 B2 JP H0447275B2 JP 59057766 A JP59057766 A JP 59057766A JP 5776684 A JP5776684 A JP 5776684A JP H0447275 B2 JPH0447275 B2 JP H0447275B2
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JP
Japan
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pulse signal
bimetal
circuit
thermostat
contact
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JP59057766A
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Hideaki Takeda
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Uchiya Thermostat Co Ltd
Original Assignee
Uchiya Thermostat Co Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 a 産業上の利用分野 本発明は、温度検知手段としての湾状のバイメ
タルを用いて成るサーモスタツトの良否判定装置
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION a. Field of Industrial Application The present invention relates to a thermostat quality determination device using a bay-shaped bimetal as a temperature detection means.

b 従来の技術 周知の如く、サーモスタツトにおいては、膨張
係数が異なる二枚の金属板を接合して成る湾状の
バイメタルの反転動作により可動接点が固定接点
から離間され、或いは、可動接点が固定接点に当
接され、これによつて、所定の接点切換えが行わ
れるように構成されたものがある。
b. Prior Art As is well known, in a thermostat, a movable contact is separated from a fixed contact by the reversal action of a bay-shaped bimetal formed by joining two metal plates with different coefficients of expansion, or the movable contact is separated from a fixed contact. Some devices are configured so that they are brought into contact with contacts, thereby causing a predetermined switching of the contacts.

第1図はサーモスタツト内のバイメタル駆動系
の概略構成図であつて、板ばね等から成る可動板
1の一端が固定され、その他端には可動接点2が
取付けられている。そして、この可動接点2に対
応する位置に固定接点3が配設されている。ま
た、可動板1の中間部には凸部4が形成されてお
り、この凸部4に対応して湾状のバイメタル5が
配置されている。
FIG. 1 is a schematic diagram of a bimetal drive system in a thermostat, in which one end of a movable plate 1 made of a leaf spring or the like is fixed, and a movable contact 2 is attached to the other end. A fixed contact 3 is disposed at a position corresponding to the movable contact 2. Further, a convex portion 4 is formed in the middle portion of the movable plate 1, and a bay-shaped bimetal 5 is disposed corresponding to the convex portion 4.

しかして、バイメタル5が第1図において実線
で示す如く下方へ湾曲している場合には、可動板
1の弾性復元力によつて可動接点2が固定接点3
に当接されてオン状態となされる。また、周囲温
度の変化に伴つてバイメタル5が第1図において
仮想線で示すように反転した場合には、バイメタ
ル5が可動板1の凸部4を押圧するため、可動接
点2が固定接点3から離間されてオフ状態となさ
れる。
When the bimetal 5 is curved downward as shown by the solid line in FIG.
When it comes into contact with, it is turned on. Furthermore, when the bimetal 5 is inverted as shown by the imaginary line in FIG. It is turned off by being separated from the

なお、バイメタル5の反転動作に関しては、第
2図に示す如く、動作の比較的遅い徐動区間L1
及びL2と、動作がきわめて速く、瞬間的に反転
する速動区間L4及びL5とに分けられる。実際の
製品のスイツチングには、速動区間L4とL5とが
互いに重なり合い、両方向への反転動作で速動の
みの区間となるL3が用いられる。バイメタル5
が下方に湾曲している状態から上方に反転する時
には、徐動区間L1においてゆつくりと徐々に移
動し、区間L4に入ると速連動状態となり瞬間的
に反転する。これとは反対の方向への反転時に
は、徐動区間L2においてゆつくりと徐々に移動
し、区間L5に入ると速連動状態となり、瞬間的
に反転する。
Regarding the reversing operation of the bimetal 5, as shown in FIG.
and L2 , and fast motion sections L4 and L5 in which the motion is extremely fast and instantaneously reverses. In actual product switching, fast motion sections L4 and L5 overlap each other, and L3 is used, which is a section only for fast motion with reversal operations in both directions. bimetal 5
When it reverses upward from a downwardly curved state, it moves slowly and gradually in the slow motion section L1 , and when it enters the section L4 , it enters a fast interlocking state and instantaneously reverses. When reversing in the opposite direction, it moves slowly and gradually in the slow movement section L2 , and when it enters the section L5 , it enters the fast interlocking state and instantaneously reverses.

ところで、このバイメタル5の部品精度が悪か
つたり、或いはバイメタル5と可動板1の凸部4
との相対的な配置関係が悪いと(サーモスタツト
が不良品の場合)、バイメタル5の徐動区間L1
において可動板1の凸部4に当接してしまうこと
がある。この場合、可動板1が徐々に持ち上げら
れる間に、バイメタル5が不均整な動きをするた
め、可動接点2が固定接点3に対して細かく振れ
る。その結果、可動接点2が固定接点に微細時間
間隔で断続的に接離を繰り返すチヤタリング現象
を生じる。このようなチヤタリング現象が生じて
しまうと、これが回路の誤動作の原因になつて温
度制御が不正確になると共に、可動接点2及び固
定接点3の消耗を早めるといつた不都合を来すこ
ととなる。従つて、チヤタリング現象を顕著に生
じるサーモスタツト(徐動区間L1又はL2で接点
切換えがなされるようなサーモスタツト)は不良
品として除外する必要がある。
By the way, the parts precision of this bimetal 5 is poor, or the convex part 4 of the bimetal 5 and the movable plate 1
If the relative positional relationship between the movable plate 1 and the thermostat is poor (if the thermostat is defective), the bimetal 5 may come into contact with the convex portion 4 of the movable plate 1 within the slow movement section L1 . In this case, while the movable plate 1 is gradually lifted, the bimetal 5 moves asymmetrically, so that the movable contact 2 swings slightly relative to the fixed contact 3. As a result, a chattering phenomenon occurs in which the movable contact 2 repeatedly connects and disconnects from the fixed contact at minute time intervals. If such a chattering phenomenon occurs, it will cause malfunction of the circuit, resulting in inaccurate temperature control, and will cause inconveniences such as accelerated wear of the movable contact 2 and fixed contact 3. . Therefore, thermostats that significantly cause the chattering phenomenon (thermostats whose contacts are switched in the slow movement section L1 or L2 ) must be excluded as defective products.

そこで従来では、バイメタル5の反転音を電気
的に増巾して耳で聞き、接点2,3に接続された
メーターの振れと前記反転音との同期状態に基づ
いてサーモスタツトの良否を判定していた。すな
わち、反転音とメーターの振れが完全に同期して
いれば良品と判定し、これらの間にズレがある場
合には不良品であると判定していた。なお、ズレ
がある場合については、反転音がメーターの振れ
よりも先である場合と後である場合とがあり、前
者はバイメタル5が反転しても可動板1の凸部4
に届かない場合であり、後者はバイメタル5の徐
動区間L1において前記凸部4に当接して接点2,
3がチヤタリング現象を生じながら開かれた場合
である。
Conventionally, therefore, the reversal sound of the bimetal 5 is amplified electrically and listened to, and the quality of the thermostat is determined based on the synchronization state between the vibration of the meter connected to contacts 2 and 3 and the reversal sound. was. That is, if the reversal sound and the meter deflection are completely synchronized, it is determined to be a good product, and if there is a discrepancy between them, it is determined to be a defective product. In addition, when there is a deviation, there are cases where the reversal sound comes before and after the deflection of the meter, and in the former case, even if the bimetal 5 is reversed, the convex part 4 of the movable plate 1
In the latter case, the bimetal 5 comes into contact with the protrusion 4 in the slow movement section L 1 and the contact point 2,
3 is opened while causing a chattering phenomenon.

c 発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような判定方法では、音感
によるいわゆる官能検査なので、その判定に熟練
した検査員を必要とし、人件費がかさむと共に、
その判定の正確度も十分ではなかつた。
c Problems to be Solved by the Invention However, since such a judgment method is a so-called sensory test based on the sense of sound, it requires a skilled inspector to make the judgment, which increases personnel costs.
The accuracy of the judgment was also not sufficient.

また、従来より、接点2,3のチヤタリングを
測定するチヤタリング測定器があるが、この測定
器では、徐動区間L1内の作動時に接点2,3が
オン状態とされてもチヤタリングをたまたま生じ
ないような場合には、これを不良品として判定す
ることができなかつた。バイメタル5を用いたい
わゆるスナツプ式駆動系の場合に、速動区間L3
で接点切換えが行われるように温度設定をしてお
いた場合、たとえチヤタリングを生じなくても徐
動区間L1で接点がオフ状態とされることは正確
な温度制御を行なうことができず好ましくない。
Furthermore, conventionally, there is a chattering measuring device that measures the chattering of contacts 2 and 3, but with this measuring device, chattering occurs even if contacts 2 and 3 are in the on state during operation within the slow movement section L1 . In such cases, it was not possible to determine that the product was defective. In the case of a so-called snap drive system using bimetal 5, the fast motion section L 3
If the temperature is set so that the contact switches at do not have.

従つて、徐動区間L1で接点切換えが行われて
しまう場合、換言すれば不良品である場合をひろ
えないことは、非常に大きな問題点であつた。
Therefore, it is a very serious problem that the contact switching occurs in the slow movement section L1 , in other words, it is impossible to eliminate the possibility that the product is defective.

本発明は上述の如き実状に鑑みて発明されたも
のであつて、その目的は、簡単な構成であるにも
拘わらず、サーモスタツトの良否判定を自動的に
しかも客観的にかつ正確に判定し得るような判定
装置を提供することにある。
The present invention was invented in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to automatically, objectively and accurately determine the acceptability of a thermostat, although it has a simple configuration. The purpose of the present invention is to provide a determination device that can obtain the desired results.

d 課題を解決するための手段 上述の目的を達成するために、本発明では、温
度検知手段として湾状のバイメタルを有するサー
モスタツトの良否判定装置において、 (A) 周囲温度の変化に応じて反り返り方向を瞬間
的に反転する湾状のバイメタルの反転動作を非
接触方式にて検出する反転検出手段と、 (B) 前記反転検出手段からの反転検出信号に基づ
いて、所定の判定基準時間巾のパルス信号を出
力する第1のパルス信号出力回路と、 (C) 前記バイメタルの反転に伴つて切換えられる
接点の切換え時に、所定の判定基準時間巾のパ
ルス信号を出力する第2のパルス信号出力回路
と、 (D) 前記第1及び第2のパルス信号出力回路から
それぞれ出力されるパルス信号を互いに比較し
て、これらの間に時間的なオーバーラツプがあ
るか否かを判定する判定回路と、 をそれぞれ具備し、前記第1及び第2のパルス信
号出力回路からそれぞれ出力されるパルス信号が
時間的にオーバーラツプする場合には、前記接点
の切換えが前記湾状のバイメタルの瞬間的な反転
動作を行なう速動区間でなされている旨の判定を
行ない、これらのパルス信号が時間的にオーバー
ラツプしない場合には、前記接点の切換えが前記
速動区間でなされていない旨の判定を行ない、こ
れに基づいてサーモスタツトの良否判定を行なう
ようにしている。
d. Means for Solving the Problems In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a thermostat quality determination device having a bay-shaped bimetal as a temperature detection means. (B) reversal detection means for detecting reversal motion of a bay-shaped bimetal that instantaneously reverses direction in a non-contact manner; a first pulse signal output circuit that outputs a pulse signal; (C) a second pulse signal output circuit that outputs a pulse signal with a predetermined judgment reference time width when switching the contact that is switched in accordance with the reversal of the bimetal; and (D) a determination circuit that compares the pulse signals respectively output from the first and second pulse signal output circuits and determines whether there is a temporal overlap between them. and when the pulse signals respectively output from the first and second pulse signal output circuits overlap in time, switching of the contact point performs an instantaneous reversal operation of the bay-shaped bimetal. It is determined that the switching is being performed in the fast-moving section, and if these pulse signals do not overlap in time, it is determined that the switching of the contact is not being done in the fast-moving section, and based on this, I am trying to judge whether the thermostat is good or bad.

以下、本発明の一実施例に付き第3図〜第8図
を参照して説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 8.

第3図に示すように、本例の良否判定装置7
は、湾状のバイメタル5の反転動作を検出する反
転検出手段8と、この反転検出手段8からの反転
検出信号に基づいて所定巾のパルス信号を出力す
る第1のパルス信号出力回路9と、接点切換えに
基づいて所定巾のパルス信号を出力する第2のパ
ルス信号出力回路10と、第1及び第2のパルス
信号出力回路9,10からそれぞれ出力されるパ
ルス信号を比較する判定回路12とをそれぞれ具
備している。なお、第3図において、接点2,3
は既述の如くバイメタル5の反転動作に伴つて接
離される可動接点及び固定接点である。
As shown in FIG. 3, the quality determination device 7 of this example
a reversal detection means 8 for detecting reversal operation of the bay-shaped bimetal 5; a first pulse signal output circuit 9 for outputting a pulse signal of a predetermined width based on the reversal detection signal from the reversal detection means 8; A second pulse signal output circuit 10 that outputs a pulse signal of a predetermined width based on contact switching, and a determination circuit 12 that compares the pulse signals output from the first and second pulse signal output circuits 9 and 10, respectively. Each is equipped with In addition, in Fig. 3, contacts 2 and 3
As described above, these are the movable contacts and the fixed contacts that are brought into contact and separated as the bimetal 5 reverses.

なお、第3図においては本例の動作の説明上、
室温時に開状態(オフ状態)の接点構成のものに
ついて説明を行なう。
In addition, in FIG. 3, for explaining the operation of this example,
A contact configuration that is in an open state (off state) at room temperature will be explained.

上述の反転検出手段8は環状コイル15及びこ
のコイル15の近傍に配された一対のマグネツト
16から成り、サーモスタツトに内蔵された湾状
のバイメタル5が環状コイル15の中空部15a
内に配置されると共に、このバイメタル5がマグ
ネツト16にて磁化されるように構成されてい
る。この状態の下で、バイメタル5が反転する
と、環状コイル15を横切る磁束が変化するた
め、このコイル15の両端には誘導起電力が反転
検出信号として生じる。
The above-mentioned reversal detection means 8 consists of an annular coil 15 and a pair of magnets 16 disposed near the coil 15.
The bimetal 5 is placed inside the magnet 16, and is configured so that the bimetal 5 is magnetized by a magnet 16. Under this condition, when the bimetal 5 is reversed, the magnetic flux crossing the annular coil 15 changes, so that an induced electromotive force is generated at both ends of the coil 15 as a reversal detection signal.

また、第1のパルス信号出力回路9は、増巾回
路17、絶対値回路18、波形整形回路19及び
ワンシヨツト回路20から構成され、この回路9
からは前記反転検出信号に対応して立ち上り、か
つ所定巾を有する1つのパルス信号が出力される
ようになつている。すなわち、環状コイル15か
らの反転検出信号は増巾回路17にて増巾され、
この増巾回路17からは第4図Aに示す如き増巾
信号aが出力される。そして、増巾信号aが絶対
値回路18に供給され、この回路18からは第4
図Bに示す如き絶対値信号bが出力される。さら
に、絶対値信号bは波形整形回路19に供給さ
れ、この回路19からは第4図Cに示す如きパル
ス信号cが出力される。そして、このパルス信号
cがワンシヨツト回路20に供給され、この回路
20からは第4図Dに示す如く前記パルス信号c
の立ち上りエツジに対応して立ち上り、所定レベ
ルで所定基準時間巾△tを有する1つのパルス信
号dが出力される。
The first pulse signal output circuit 9 is composed of an amplification circuit 17, an absolute value circuit 18, a waveform shaping circuit 19, and a one shot circuit 20.
One pulse signal rising in response to the inversion detection signal and having a predetermined width is output from . That is, the inversion detection signal from the annular coil 15 is amplified by the amplification circuit 17,
The amplification circuit 17 outputs an amplification signal a as shown in FIG. 4A. Then, the amplified signal a is supplied to the absolute value circuit 18, and from this circuit 18 the amplified signal a is supplied to the fourth
An absolute value signal b as shown in FIG. B is output. Furthermore, the absolute value signal b is supplied to a waveform shaping circuit 19, which outputs a pulse signal c as shown in FIG. 4C. Then, this pulse signal c is supplied to a one-shot circuit 20, and from this circuit 20, the pulse signal c is supplied as shown in FIG. 4D.
One pulse signal d which rises in response to the rising edge of and has a predetermined reference time width Δt at a predetermined level is output.

一方、第2のパルス信号出力回路10は、シユ
ミツトトリガー回路22、エツジ検出回路23及
びワンシヨツト回路24から構成され、この回路
10からは接点2,3がオン状態に切換えられる
のに同期して立ち上がり、かつ所定レベル及び所
定巾を有する1つのパルス信号が出力されるよう
になつている。すなわち、バイメタル5の反転に
伴つて可動接点2が固定接点3に当接してオン状
態に切換えられると、シユミツトトリガー回路2
2には第5図Aに示す如きオン信号eが供給され
る。なお第5図Aは接点切換えの際にチヤタリン
グが生じた場合を示しており、オン信号eの立ち
上がり時のチヤタリング信号fが生じている。
On the other hand, the second pulse signal output circuit 10 is composed of a shot trigger circuit 22, an edge detection circuit 23, and a one shot circuit 24, and this circuit 10 outputs signals in synchronization with the switching of contacts 2 and 3 to the on state. One pulse signal having a rising edge, a predetermined level, and a predetermined width is output. That is, when the movable contact 2 comes into contact with the fixed contact 3 and is switched to the on state as the bimetal 5 is reversed, the Schmitt trigger circuit 2
2 is supplied with an ON signal e as shown in FIG. 5A. Note that FIG. 5A shows a case where chattering occurs during contact switching, and a chattering signal f is generated at the rising edge of the ON signal e.

シユミツトトリガー回路22からエツジ検出回
路23には前記オン信号eに対応した出力信号g
が出力され、このエツジ検出回路23からは出力
信号gの立ち上がりエツジに対応して立ち上るパ
ルス信号hが出力される。そして、このパルス信
号hがワンシヨツト回路24に供給され、ワンシ
ヨツト回路24からは前記パルス信号hの立ち上
りエツジに対応して立ち上り、所定レベルで所定
基準時間巾△tを有する1つのパルス信号iが出
力される。
An output signal g corresponding to the on signal e is sent from the shot trigger circuit 22 to the edge detection circuit 23.
The edge detection circuit 23 outputs a pulse signal h that rises in response to the rising edge of the output signal g. This pulse signal h is then supplied to the one shot circuit 24, which rises in response to the rising edge of the pulse signal h and outputs one pulse signal i having a predetermined level and a predetermined reference time width Δt. be done.

従つて、第1及び第2のパルス信号出力回路
9,10からは、バイメタル5の反転に対応した
パルス信号d及び接点切換に対応したパルス信号
iがそれぞれ出力されるが、これらのパルス信号
d,iのレベル及びパルス巾は互いに等しくなる
ように設計されている。
Therefore, the first and second pulse signal output circuits 9 and 10 output a pulse signal d corresponding to the inversion of the bimetal 5 and a pulse signal i corresponding to the switching of the contact, but these pulse signals d , i are designed to be equal in level and pulse width to each other.

また、第1及び第2のパルス信号出力回路9,
10からのパルス信号d,iは第3図に示すよう
にAND回路26及びOR回路27の入力端子にそ
れぞれ供給されると共に、判定回路12に供給さ
れる。なお、この判定回路12は、第1及び第2
のパルス信号出力回路9,10からのパルス信号
d,iと、AND回路26及びOR回路27からの
出力信号とに基づいて、前記パルス信号d,iを
互いに比較し、これにより良否判定を自動的に行
なう回路である。
Further, the first and second pulse signal output circuits 9,
The pulse signals d and i from 10 are supplied to the input terminals of an AND circuit 26 and an OR circuit 27, respectively, as shown in FIG. Note that this determination circuit 12
The pulse signals d and i are compared with each other based on the pulse signals d and i from the pulse signal output circuits 9 and 10 and the output signals from the AND circuit 26 and the OR circuit 27, thereby automatically determining the quality. This is a circuit that performs this purpose.

第6図に示すように、パルス信号d(反転検出
信号)とパルス信号i(接点切換え信号)の立ち
上りが一致した場合には、一致信号j(パルス信
号)が判定回路28内の比較回路(図示せず)か
ら出力ライン29に出力される。この場合には、
バイメタル5の速動区間L4で接点切換え動作が
行われたと判断され、図外の表示装置等にてその
旨が表示される。これによつて、検査員は検査対
象のサーモスタツトが良品であることを確認し得
るようになつている。また第7図に示す如く、パ
ルス信号dとiとが僅かな時間間隔だけずれた場
合であつても、これらの一部がオーバーラツプし
ていればパルス巾の狭い一致信号jに基づいて良
品である旨の表示がなされる。
As shown in FIG. 6, when the rising edges of pulse signal d (inversion detection signal) and pulse signal i (contact switching signal) match, the matching signal j (pulse signal) is detected by the comparison circuit ( (not shown) to an output line 29. In this case,
It is determined that the contact switching operation has been performed in the fast motion section L4 of the bimetal 5, and a display device not shown to that effect is displayed. This allows the inspector to confirm that the thermostat being inspected is of good quality. Furthermore, as shown in Fig. 7, even if the pulse signals d and i deviate by a small time interval, if a portion of them overlaps, a good product can be determined based on the coincidence signal j with a narrow pulse width. A message to that effect is displayed.

一方、第8図に示すように、パルス信号d,i
が大きな時間間隔でずれてオーバーラツプ部分が
生じない場合には、一致信号j,j′が出力されな
い。
On the other hand, as shown in FIG.
If there is no overlap due to a large time interval deviation, no coincidence signals j, j' are output.

この場合には、バイメタル5の速動区間で切点
切換えが行われていないと判断され、判定回路1
2の出力ライン30からの出力信号の基づいて図
外の表示装置にその旨の表示がなされる。これに
よつて、検査員はバイメタルの徐動区間L1にお
いて接点切り換えが行われているためにチヤタリ
ング現象が顕著に生じる状態の製品であることを
確認でき、検査中のサーモスタツトを不良品とし
て判定することができる。
In this case, it is determined that the switching of the switching point is not performed in the fast motion section of the bimetal 5, and the determination circuit 1
Based on the output signal from the output line 30 of No. 2, a display to that effect is displayed on a display device (not shown). This allows the inspector to confirm that the product is in a state where a noticeable chattering phenomenon occurs due to the contact switching being performed in the slow movement section L1 of the bimetal, and to treat the thermostat under inspection as a defective product. can be determined.

なお、本例においては、増巾回路17の出力を
可変抵抗Rを介してモニター用増巾回路31に供
給し、イヤホン又はヘツドホン等にてバイメタル
5の反転音をモニターできるようになつている。
In this example, the output of the amplifying circuit 17 is supplied to a monitoring amplifying circuit 31 via a variable resistor R, so that the inverted sound of the bimetal 5 can be monitored using earphones, headphones, or the like.

また、上述の実施例においては、接点2,3が
オン状態に切換えられるのに同期して立ち上がる
パルス信号hに基づいて、サーモスタツトの良否
判定を行なうようにしているが、接点2,3がオ
フ状態に切換えられる際にもサーモスタツトの良
否判定を行なうことができる。すなわちこの場
合、第9図に示すように、接点出力(オン信号
e)のオフ時にはこれに対応して出力信号gもオ
フとなり、エツジ検出回路23からは出力信号g
の立ち下りエツジの対応して立ち上るパルス信号
h′が出力される。そして、ワンシヨツト回路24
からは前記パルス信号h′の立ち上りエツジに対応
して立ち上り、所定レベルで所定パルス巾△tを
有する1つのパルス信号i′が出力される。しかし
て、このパルス信号i′と、バイメタル5の反転に
伴いワンシヨツト回路20から出力されるパルス
信号dとを互いに比較することにより、オフ状態
への切換え時における良否判定を自動的に行なう
ことができる。
Further, in the above embodiment, the thermostat is judged to be good or bad based on the pulse signal h that rises in synchronization with the switching of the contacts 2 and 3 to the on state. It is possible to determine whether the thermostat is good or bad even when it is switched to the OFF state. That is, in this case, as shown in FIG. 9, when the contact output (on signal e) is turned off, the output signal g is also turned off, and the edge detection circuit 23 outputs the output signal g.
A rising pulse signal corresponding to the falling edge of
h′ is output. And one shot circuit 24
One pulse signal i' rising corresponding to the rising edge of the pulse signal h' and having a predetermined level and a predetermined pulse width Δt is output. By comparing this pulse signal i' with the pulse signal d output from the one-shot circuit 20 as the bimetal 5 is inverted, it is possible to automatically determine whether the switching to the OFF state is good or bad. can.

このようなサーモスタツトの良否判定装置7に
よれば、比較的少ない(十数個)ICにて回路構
成できて簡単であるにも拘わらず、バイメタル5
の徐動区間中において接点切換えがなされるよう
な不良品であるか否かを自動的にしかも客観的に
かつ正確に判定することができる。
According to the device 7 for determining whether the thermostat is good or bad, although the circuit is simple and can be configured with relatively few (more than ten) ICs, the bimetal 5
It is possible to automatically, objectively and accurately determine whether or not the product is a defective product in which the contacts are switched during the slow movement section.

なお、第1及び第2のパルス信号出力回路9,
10からのパルス信号d,iのパルス巾△tを変
えることによつて判定の許容量を変化させること
が可能である。
Note that the first and second pulse signal output circuits 9,
By changing the pulse width Δt of the pulse signals d and i from 10, it is possible to change the allowable amount of determination.

また上述の実施例においては、パルス信号dと
iとのオーバーラツプ部分を検出することにより
これらを比較するようにしたが、これらのパルス
信号d,iの立ち上り又は立ち下りの時間間隔を
検出し、この時間間隔に基づいて判定を行なうよ
うにしてもよい。またパルス信号d,iの差を演
算して判定するようにしてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the overlapping portion between the pulse signals d and i was detected to compare them, but the time interval between the rise or fall of these pulse signals d and i is detected, The determination may be made based on this time interval. Alternatively, the determination may be made by calculating the difference between the pulse signals d and i.

e 発明の効果 以上の如く本発明は、湾状のバイメタルの反転
に伴つて出力されるパルス信号反転検出信号と、
接点切換えに伴つて出力パルス信号接点切換え信
号とを比較することによつて、サーモスタツトの
良否判定を自動的に行なうようにしたものである
から、特別に熟練した検査員を必要とせず、極め
て簡単にしかも客観的にかつ正確にサーモスタツ
トの良否を行なうことができる。
e Effects of the Invention As described above, the present invention provides a pulse signal reversal detection signal outputted as a result of reversal of a bay-shaped bimetal,
Since the thermostat is automatically judged to be good or bad by comparing the output pulse signal with the contact switching signal as the contact switches, it does not require a specially skilled inspector and is extremely simple. It is possible to easily, objectively and accurately judge whether a thermostat is good or bad.

そして、バイメタルの徐動区間中で接点切換え
が行われてしまうような不良品を発見でき、不良
品の市場流出を未然に防止できる。
It is also possible to discover defective products in which contact switching occurs in the slow movement section of the bimetal, and to prevent defective products from leaving the market.

また、バイメタルの反転動作を非接触式方式に
て外部から検出するようにしているので、良否判
定に際してバイメタルに何らの拘束力(負荷)が
作用することがなく、従つて、バイメタルを組込
んで成る製品としてのサーモスタツトを完全に実
使用状態の下で判定作業を行なうことができる。
そのため、サーモスタツトの製品検査を使用時と
同じ条件の下で能率良く行なうことができ、ひい
ては、製品のコストダウンを図ることが可能とな
る。
In addition, since the reversal movement of the bimetal is detected externally using a non-contact method, no restraining force (load) is applied to the bimetal during pass/fail judgment. The thermostat as a product can be evaluated under the conditions of actual use.
Therefore, the product inspection of the thermostat can be carried out efficiently under the same conditions as when it is used, which in turn makes it possible to reduce the cost of the product.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はバイメタルの反転に伴う可動接点と固
定接点との間の接離動作を説明するための概略断
面図、第2図はバイメタルの動作区間を示す概略
図、第3図は本発明の一実施例であるサーモスタ
ツトの良否判定装置の構成を示すブロツク図、第
4図は第1図のパルス信号出力回路の動作を説明
するための波形図、第5図はオン状態切換え時に
おける第2のパルス信号出力回路の動作を説明す
るための波形図、第6図及び第7図はサーモスタ
ツトが良品である場合における判定回路の動作を
それぞれ説明するための波形図、第8図はサーモ
スタツトが不良品である場合における判定回路の
動作を説明するための波形図、第9図はオフ状態
切換え時における第2のパルス信号出力回路の動
作を説明するための波形図である。 5……湾状のバイメタル、7……良否判定装
置、8……反転検出手段、9……第1のパルス信
号出力回路、10……第2のパルス信号出力回
路、12……判定回路、15……環状コイル、1
5a……中空部、16……マグネツト。
Fig. 1 is a schematic sectional view for explaining the contact/separation operation between the movable contact and the fixed contact as the bimetal is reversed, Fig. 2 is a schematic diagram showing the operating section of the bimetal, and Fig. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining the contact/separation operation between the movable contact and the fixed contact as the bimetal is reversed. A block diagram showing the configuration of a thermostat quality determination device according to an embodiment, FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the operation of the pulse signal output circuit of FIG. 1, and FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of the pulse signal output circuit of FIG. Figures 6 and 7 are waveform diagrams for explaining the operation of the pulse signal output circuit in No. 2, Figures 6 and 7 are waveform diagrams for explaining the operation of the determination circuit when the thermostat is good, and Figure 8 is a waveform diagram for explaining the operation of the determination circuit when the thermostat is good. FIG. 9 is a waveform diagram illustrating the operation of the determination circuit in the case where the tattoo is defective. FIG. 9 is a waveform diagram illustrating the operation of the second pulse signal output circuit when switching to the off state. 5... Bay-shaped bimetal, 7... Quality determination device, 8... Reversal detection means, 9... First pulse signal output circuit, 10... Second pulse signal output circuit, 12... Judgment circuit, 15... Annular coil, 1
5a...Hollow part, 16...Magnet.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 温度検知手段として湾状のバイメタルを有す
るサーモスタツトの良否判定装置において、 (A) 周囲温度の変化に応じて反り返り方向を瞬間
的に反転する湾状のバイメタルの反転動作を非
接触方式にて検出する反転検出手段と、 (B) 前記反転検出手段からの反転検出信号に基づ
いて、所定の判定基準時間巾のパルス信号を出
力する第1のパルス信号出力回路と、 (C) 前記バイメタルの反転に伴つて切換えられる
接点の切換え時に、所定の判定基準時間巾のパ
ルス信号を出力する第2のパルス信号出力回路
と、 (D) 前記第1及び第2のパルス信号出力回路から
それぞれ出力されるパルス信号を互いに比較し
て、これらの間に時間的なオーバーラツプがあ
るか否かを判定する判定回路と、 をそれぞれ具備し、前記第1及び第2のパルス信
号出力回路からそれぞれ出力されるパルス信号が
時間的にオーバーラツプする場合には、前記接点
の切換えが前記湾状のバイメタルの瞬間的な反転
動作を行なう速動区間でなされている旨の判定を
行ない、これらのパルス信号が時間的にオーバー
ラツプしない場合には、前記接点の切換えが前記
速動区間でなされていない旨の判定を行ない、こ
れに基づいてサーモスタツトの良否判定を行なう
ようにしたことを特徴とするサーモスタツトの良
否判定装置。
[Scope of Claims] 1. In a thermostat quality determination device having a bay-shaped bimetal as a temperature detection means, (A) a reversing operation of the bay-shaped bimetal that instantaneously reverses the warping direction in response to a change in ambient temperature; (B) a first pulse signal output circuit that outputs a pulse signal having a predetermined determination reference time width based on the reversal detection signal from the reversal detection means; (C) a second pulse signal output circuit that outputs a pulse signal with a predetermined judgment reference time width when switching the contact that is switched in accordance with the reversal of the bimetal; (D) the first and second pulse signals; a determination circuit that compares the pulse signals respectively output from the output circuits and determines whether or not there is a temporal overlap between them; and the first and second pulse signal outputs. If the pulse signals outputted from the circuits overlap in time, it is determined that the switching of the contacts is performed in a fast motion section where the bay-shaped bimetal instantaneously reverses, and these signals are If the pulse signals of the thermostat do not overlap in time, it is determined that the switching of the contact point is not performed in the fast movement section, and the acceptability of the thermostat is determined based on this. A thermostat quality determination device.
JP59057766A 1984-03-26 1984-03-26 Automatic decision device for chattering Granted JPS60201268A (en)

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