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JPH0447971B2 - - Google Patents
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JPH0447971B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0447971B2
JPH0447971B2 JP7718585A JP7718585A JPH0447971B2 JP H0447971 B2 JPH0447971 B2 JP H0447971B2 JP 7718585 A JP7718585 A JP 7718585A JP 7718585 A JP7718585 A JP 7718585A JP H0447971 B2 JPH0447971 B2 JP H0447971B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plunger
resin
mold
pot
cull
Prior art date
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Expired
Application number
JP7718585A
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English (en)
Other versions
JPS61234537A (ja
Inventor
Kojiro Shibuya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP7718585A priority Critical patent/JPS61234537A/ja
Publication of JPS61234537A publication Critical patent/JPS61234537A/ja
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Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/02Transfer moulding, i.e. transferring the required volume of moulding material by a plunger from a "shot" cavity into a mould cavity

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、リードフレームに搭載された半導体
集積回路素子(以下ICと称す)を樹脂封止する
樹脂封止方法に関する。
〔従来の技術〕
通常、リードフレーム上に搭載されたICを樹
脂封止する手段として第2図に示すような樹脂封
止装置が用いられる。第2図において、上型1は
型締めシリンダーヘツド8に固定され、上下動作
が可能で、下型2はテーブル7に固定される。下
型2の中央部には、上型1と下型2とのキヤビテ
イ10内に樹脂を圧入するためのプランジヤー4
とポツト3が設けられている。プランジヤー4は
シリンダヘツド5に固定され、射出シリンダー6
によつて上下動作が可能で、プランジヤー4が上
昇することによつて溶融した樹脂がランナー1
2、ゲート11を通り、キヤビテイ10に圧入さ
れICの樹脂封止が行われる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
圧入された樹脂が硬化した後、型締めシリンダ
ーヘツド8が上昇し、上型1より、ICを封止し
た樹脂封止部10a、カル13、リードフレーム
9が離型される。射出シリンダー6が樹脂圧入完
了後の位置よりさらに約2mm上昇すると共に、樹
脂封止部10aの下部に設けられた下型エジエク
ターピン14が連動して上昇し、下型2から樹脂
封止部10aをノツクアウトする。そして成形さ
れたリードフレーム9、カル13、樹脂封止部1
0aは自動ハンドリングによつて次工程に搬送さ
れる。この時、カル13とプランジヤー4との付
着力が大きいため、自動ハンドリングする際に、
樹脂封止部10aよりカル13が切り離れ、カル
13が金型面に残る場合がしばしば起こり、自動
運転に支障をきたすばかりでなく、そのカル13
を上型1と下型2で挾み、金型を破壊する危険性
があつた。
また、成形されたリードフレーム9を自動ハン
ドリングした後、上下型1,2のそれぞれのキヤ
ビテイ10、ランナー12、ポツト3付近に発生
した樹脂バリや、プランジヤー4の上端面に付着
した樹脂バリは金型近傍に設けられた集塵機構に
より取り除かれる。このとき、プランジヤー4の
上端面がクリーニングされやすいように、プラン
ジヤー4はノツクアウトした状態、つまりプラン
ジヤー4のヘツド上面が下型2の表面と同一面か
表面からわずか出た状態でクリーニングされる。
クリーニング後、プランジヤー4は下降し、次の
タブレツト状の樹脂が投入される位置までもど
る。通常ポツト3とプランジヤー4の滑合をよく
するため、そのクリアランスは径で0.01〜0.02mm
にしてある。そのため、プランジヤー4が下降す
る際にポツト3あるいはプランジヤー4のヘツド
の周囲に付着した樹脂バリが剥離し、プランジヤ
ー4のヘツド上面にたまることがある。そして、
次の樹脂注入時タブレツト状の樹脂とプランジヤ
ー4のヘツド上面にたまつた樹脂バリを同時に注
入し、これをキヤビテイ10内に混入させ、IC
の電極と外部リードを接続するワイヤーを変形さ
せたり、切断したりして歩留りや品質を低下させ
る等の問題があつた。
本発明は前記問題点を解消した方法を提供する
ものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上下型のキヤビテイ内に、リードフレ
ームに搭載された半導体素子を収容し、プランジ
ヤーにてポツトよりキヤビテイ内に圧入した樹脂
をもつて半導体素子を封止する方法において、圧
入樹脂の硬化を待つて上型を開いた後、プランジ
ヤーを一旦後退させ、硬化した樹脂封止部の一部
に形成されるカルからプランジヤーを引き離す工
程と、型のクリーニングを行うに先立つてプラン
ジヤーを往復動させてポツト及びプランジヤーに
付着した樹脂バリを剥離、除去する工程とを行う
ことを特徴とする半導体樹脂封止方法である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に
説明する。
第1図のa〜gに本発明の一実施例を示し、a
から順次説明する。aはICを搭載したリードフ
レーム9を上型1と下型2で挾持し、プランジヤ
ー4でキヤビテイ10内に樹脂を注入した状態で
ある。キヤビテイ10は上型1と下型2によつて
形成され、キヤビテイ10に連通するランナー1
2は上型1に形成されている。ポツト3内に投入
されるタブレツト状の樹脂は重量にばらつきがあ
るため、そのばらつきを考慮し、カル13がポツ
ト3内に1〜2mm残るように設定される。プラン
ジヤー4の上部先端形状は円筒形であり、上部先
端から5〜10mmの部分はポツト3の内径より径で
0.01〜0.02mmのクリアランスをもつて作られ、そ
れ以外の部分はポツト3の内径より2〜3mm小さ
い径で作られている。圧入された樹脂が硬化完了
したら、bに示すように上型1が上昇して開く。
上型1には、樹脂封止部10a、カル13を上型
1から完全に離型させるための上型エジエクター
ピン15が設けられている。
次にcに示すように上型1が上昇した後、プラ
ンジヤー4を約10mm下降させ、プランジヤー4を
カル13から完全に分離させる。
次にdに示すように、プランジヤー4がaの注
入完了停止位置よりさらに約2mm上昇し、カル1
3をポツト3外にノツクアウトすると同時に、下
型エジエクターピン14がプランジヤーの注入完
了停止位置より約1mm上部付近からプランジヤー
4と連動上昇し、樹脂封止部10aをノツクアウ
トする。そして成形されたリードフレーム9とカ
ル13を自動ハンドリングし、次工程に搬送す
る。次にeに示すように、樹脂バリが発生しやす
いポツト3上部から約10mm間でプランジヤー4を
数回上下動させ、ポツト3内面及びプランジヤー
4の上端部周辺に付着した樹脂バリをはく離させ
る。はく離した樹脂バリをポツト3外にプランジ
ヤー4にて押し上げた状態、つまりfの状態で、
金型の近傍に設けられた集塵機構で樹脂バリ等を
取り除く。次のgに示すようにプランジヤー4は
タブレツト状態の樹脂が投入される位置に戻る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、第1図cの工程で示すように
自動ハンドリング前に、前もつてプランジヤーを
カルより完全に分離させておくため、金型へのカ
ル残し、それによる金型破壊等の問題を解決でき
スムーズに成形後のリードフレームとカルを自動
ハンドリングできる。
また第1図eの工程で示すように、クリーニン
グ前にプランジヤーを往復動させることにより、
ポツト内面及びプランジヤーの上端部周辺に付着
した樹脂バリをはく離させ、取り除くことがで
き、次の樹脂注入時、キヤビテイへ樹脂バリが混
入することがなく、ワイヤーの変形、断線の心配
がなくなり、歩留り及び品質の向上が期待できる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図aは本発明において上型と下型で型締め
し、プランジヤーで樹脂注入完了した様子を示す
断面図、bは上型が上昇した様子を示す断面図、
cはプランジヤーが下降し、プランジヤーとカル
を離型している様子を示す断面図、dは成形後の
リードフレーム及びカルをプランジヤー及び下型
エジエクターピンでノツクアウトしている様子を
示ず断面図、eはプランジヤーを上下動させて樹
脂バリをはく離させている様子を示す断面図、f
は図示しない集塵機構が働く位置を示す断面図、
gはタブレツト樹脂が投入される位置を示す断面
図、第2図は樹脂封止を行う様子を示す断面図で
ある。 1……上型、2……下型、3……ポツト、4…
…プランジヤー、5……シリンダヘツド、6……
射出シリンダー、7……テーブル、8……型締め
シリンダーヘツド、9……リードフレーム、10
a……樹脂封止部、11……ゲート、12……ラ
ンナー、13……カル、14……下型エジエクタ
ーピン、15……上型エジエクターピン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 上下型のキヤビテイ内に、リードフレームに
    搭載された半導体素子を収容し、プランジヤーに
    てポツト内よりキヤビテイ内に圧入した樹脂をも
    つて半導体素子を封止する方法において、圧入樹
    脂の硬化を待つて上型を開いた後、プランジヤー
    を一旦後退させ、硬化した樹脂封止部の一部に形
    成されるカルからプランジヤーを引き離す工程
    と、型のクリーニングを行うに先立つてプランジ
    ヤーを往復動させてポツト及びプランジヤーに付
    着した樹脂バリを剥離、除去する工程とを行うこ
    とを特徴とする半導体樹脂封止方法。
JP7718585A 1985-04-11 1985-04-11 半導体樹脂封止方法 Granted JPS61234537A (ja)

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JP7718585A JPS61234537A (ja) 1985-04-11 1985-04-11 半導体樹脂封止方法

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