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JPH0449903B2 - - Google Patents
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JPH0449903B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0449903B2
JPH0449903B2 JP60036682A JP3668285A JPH0449903B2 JP H0449903 B2 JPH0449903 B2 JP H0449903B2 JP 60036682 A JP60036682 A JP 60036682A JP 3668285 A JP3668285 A JP 3668285A JP H0449903 B2 JPH0449903 B2 JP H0449903B2
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JP
Japan
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coexistence
aperture
parametric data
particles
error correction
Prior art date
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Expired
Application number
JP60036682A
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Japanese (ja)
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JPS61196135A (en
Inventor
Ooaa Robaato
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KUURUTAA CORP
Original Assignee
KUURUTAA CORP
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Publication date
Application filed by KUURUTAA CORP filed Critical KUURUTAA CORP
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Publication of JPH0449903B2 publication Critical patent/JPH0449903B2/ja
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  • Error Detection And Correction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアパーチヤを利用して粒子を電子的に
計数したり、分析したりする装置、特にアパーチ
ヤ内に複数個の粒子が共存することによる粒子数
の計数及び分析時における誤差を補正する方法及
びそのための装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus for electronically counting and analyzing particles using an aperture, and particularly for counting and analyzing particles when a plurality of particles coexist within an aperture. The present invention relates to a method for correcting errors in and an apparatus therefor.

アパーチヤを利用する粒子分析装置は周知であ
り、例えば米国特許第2656508号にも開示されて
いる。斯種分析装置のアパーチヤは、単体粒子を
毎秒当り1000個以上の非常に速い速度で通過させ
て、これらの粒子を検出し、計数し、かつ分析す
るための微小な走査アパーチヤ(孔)か、走査領
域か、又は検出領域を成すものである。走査アパ
ーチヤ及び粒子濃度の物理的パラメータにより斯
かる走査領域内に2つの粒子が共存することが実
際上屡々生ずる。そのために2個以上の粒子が検
出領域に実際上同時に位置する場合に、それらの
粒子が1個の粒子として検出され、計数されて分
析されることになる。
Particle analyzers that utilize apertures are well known and are disclosed, for example, in US Pat. No. 2,656,508. The aperture of such an analyzer may be a tiny scanning aperture that allows single particles to pass through at a very high rate of 1000 particles per second or more for detection, counting, and analysis of these particles; It forms the scanning area or the detection area. In practice, the physical parameters of scan aperture and particle concentration often result in the coexistence of two particles within such a scan region. Therefore, if two or more particles are located in the detection area at virtually the same time, they will be detected, counted and analyzed as one particle.

斯様な粒子共存によつて生ずる計数誤差に対す
る補正は種々の方法で成されている。その1つの
方法は計数装置によつて得られる極めて多数の選
択計数値に対して適当に誤差補正した計数値を表
わす共存補正チヤートをオペレータが参照する方
法である。このようにすれば正確な結果が得られ
るも、この方法は時間がかり、しかも誤差補正計
数値を完全に自動的に記録したり、処理すること
はできない。
Correction for counting errors caused by such coexistence of particles can be accomplished in various ways. One method is for the operator to refer to a coexistence correction chart representing appropriately error-corrected counts for a large number of selected counts obtained by a counting device. While this provides accurate results, this method is time consuming and does not allow for fully automatic recording and processing of error correction counts.

実際の計数値を電気的に接続したり、又は実際
の計数値を得てから誤差補正計数値を提供する他
の方法も開発されている。米国特許第3626164号
(米国特許分類235/151.3)には検出した計数値
に或る計数値を加えて真の粒子計数値に非常に近
い補正計数値を発生させる回路が開示されてい
る。米国特許第3936740号(米国特許分類324/
71CP)にはクールタ(Couter)式のアパーチヤ
から受信されるパルスをデイジタル的に遅延させ
る回路が開示されている。米国特許第3949197号
(米国特許分類235/92PC)には検出粒子による
計数パルス列に対して統計的な補正をして、実際
上のランダムな共存粒子の増減が最終的に計数誤
差とならないようにする回路が開示されている。
また、米国特許第4009443号(米国特許分類328/
11)には粒子パルスを計数する時間周期を変更す
る回路が開示されている。クールター式アパーチ
ヤの範囲で共存粒子による計数誤差補正をする他
の例もあるが、これらはいずれも上述したような
米国の特許分類に属するものである。
Other methods have been developed to electrically connect the actual counts or to obtain the actual counts and then provide error-corrected counts. US Pat. No. 3,626,164 (US Patent Classification 235/151.3) discloses a circuit that adds a certain count to a detected count to generate a corrected count that is very close to the true particle count. U.S. Patent No. 3936740 (U.S. Patent Classification 324/
71CP) discloses a circuit for digitally delaying pulses received from a Couter-type aperture. U.S. Patent No. 3,949,197 (U.S. Patent Classification 235/92PC) statistically corrects the counting pulse train of detected particles so that the actual random increase or decrease of coexisting particles does not ultimately result in a counting error. A circuit is disclosed.
Also, U.S. Patent No. 4009443 (U.S. Patent Classification 328/
11) discloses a circuit that changes the time period for counting particle pulses. There are other examples of compensating for counting errors due to coexisting particles within the range of the Coulter aperture, but all of these belong to the above-mentioned US patent classification.

従つて、アパーチヤ周辺にて得られる粒子計数
値の共存(同時計数)補正は、アパーチヤから得
た電気信号を何等かの統計的理論に基ずく操作に
よつて達成している。アパーチヤ内に複数の粒子
が共存することにより生ずる誤差が共存する時点
を直接決定する試みは従来成されていなかつた。
Therefore, coexistence (coincidence) correction of particle counts obtained around the aperture is achieved by manipulating electrical signals obtained from the aperture based on some statistical theory. No attempt has been made to directly determine the point at which errors caused by the coexistence of multiple particles within an aperture coexist.

アパーチヤ内における粒子の共存は計数誤差を
まねく以外に、1個当りの粒子容積の如き他のパ
ラメータを分析するのにも誤差をまねくことにな
る。粒子の容積は、その粒子がアパーチヤを通過
する際にそのアパーチヤに流れている電流の変化
量によつて分析することができる。アパーチヤ内
に2つの粒子が共存すると、その際にアパーチヤ
に流れる電流量は、粒子が単独でアパーチヤを通
過する場合における電流量の変化とは異なる変化
を呈する。これにより粒子容積の決定に誤差をま
ねくことになるので、真の粒子容積を決定するの
には斯かる誤差を補正する必要がある。このよう
な粒子共存により生ずる誤差が存在する時点を直
接決定する試みも従来は成されていなかつた。
Coexistence of particles within the aperture not only leads to counting errors, but also leads to errors in analyzing other parameters such as particle volume per particle. The volume of a particle can be analyzed by the amount of change in current flowing through the aperture as the particle passes through the aperture. When two particles coexist within an aperture, the amount of current flowing through the aperture changes differently from the change in the amount of current when a particle passes through the aperture alone. This introduces an error in the determination of particle volume, and it is necessary to correct for such error in order to determine the true particle volume. Until now, no attempt has been made to directly determine the point at which an error caused by the coexistence of particles exists.

そこで、アパーチヤ内に粒子共存がある場合
に、そのことを直接測定する方法及び装置は非常
に有利である。この直接測定による結果は、所要
に応じ粒子共存による誤差を含むデータを補正し
たり、有効データが存在する時点を決定したりす
る種々の目的に用いることができる。
Therefore, a method and apparatus for directly measuring the presence of particles within an aperture would be very advantageous. The results of this direct measurement can be used for various purposes, such as correcting data containing errors due to particle coexistence or determining the point in time when valid data exists, as required.

従つて、本発明は、パラメトリツクデータを発
生するタイプの粒子分析装置により得られる粒子
からのパラメトリツクデータ中に生ずる共存誤差
を補正する方法にあつて、前記パラメトリツクデ
ータの内の1個のパラメトリツクデータは少なく
とも1個の粒子分析パラメータを表わし、かつ前
記共存誤差はデータの測定時に前記1つのデータ
に導入されるもので、しかも前記粒子が測定アパ
ーチヤを通過する際に該測定アパーチヤの長さ方
向に少なくとも2個の粒子が共存することにより
生ずるものとして、前記補正を実質上前記1個の
パラメトリツクデータに共存誤差が生ずる時点に
行うようにする共存誤差補正方法において、該方
法が: A 少なくとも1個の粒子が前記測定アパーチヤ
の長さ方向を通過する際に、前記アパーチヤの
長さ方向での測定に応答して前記1個のパラメ
トリツクデータを発生せしめる工程にあつて、
前記アパーチヤ内に粒子が共存かるか、否かを
区別することはできない工程と; B 前記アパーチヤの長さ方向以外で前記アパー
チヤ内の個々の粒子の存在を検出する粒子検出
工程と; C 前記アパーチヤ内の個々の粒子の存在を検出
するのに応答して検出信号を発生させる工程
と; D 前記1個のパラメトリツクデータ及び前記検
出信号の発生後に該検出信号に応答させて前記
1個のパラメトリツクデータを変調して、前記
共存誤差のない補正されたパラメトリツクデー
タを得る変調工程; とを含むことを特徴とする共存誤差補正方法にあ
る。
Therefore, the present invention provides a method for correcting coexistence errors occurring in parametric data from particles obtained by a particle analyzer of the type that generates parametric data. The parametric data represents at least one particle analysis parameter, and the coexistence error is introduced into the one data when the data is measured, and the coexistence error is such that the length of the measurement aperture as the particle passes through the measurement aperture. A coexistence error correction method in which the correction is performed substantially at the time when a coexistence error occurs in the one parametric data, the method comprising: A. Generating the one piece of parametric data in response to a measurement along the length of the aperture when at least one particle passes through the length of the measurement aperture,
A step in which it is not possible to distinguish whether particles coexist within the aperture; B. A particle detection step of detecting the presence of individual particles within the aperture in a direction other than the length direction of the aperture; C. D. generating a detection signal in response to detecting the presence of individual particles within the particle; The present invention provides a coexistence error correction method characterized by comprising: a modulation step of modulating the trick data to obtain corrected parametric data free of the coexistence error.

さらに本発明は、パラメトリツクデータを発生
する粒子分析装置により得られる粒子からのパラ
メトリツクデータ中に生ずる共存誤差を補正する
装置にあつて、前記パラメトリツクデータの内の
1個のパラメトリツクデータは少なくとも1個の
粒子分析パラメータを表わし、かつ前記共存誤差
はデータの測定時に前記1つのデータに導入され
るもので、しかも前記粒子が測定アパーチヤを通
過する際に該測定アパーチヤの長さ方向に少なく
とも2個の粒子が共存することにより生ずるもの
として、前記補正を実質上前記1個のパラメトリ
ツクデータに共存誤差が生ずる時点に行なうよう
にする共存誤差補正装置において、該補正装置
が; A 少なくとも1個の粒子が前記測定アパーチヤ
の長さ方向を通過する際に、前記アパーチヤの
長さ方向での測定に応答して前記1個のパラメ
トリツクデータを発生せしめる手段にあつて、
前記アパーチヤ内に粒子が共存するか、否かを
区別することができない手段と; B 前記アパーチヤの長さ方向以外で個々の粒子
の存在を検出し、このアパーチヤ内での個々の
粒子の存在を検出するのに応答して検出信号を
発生せしめる粒子検出手段と; C 前記1個のパラメトリツクデータ及び前記検
出信号の発生後に該検出信号に応答させて前記
1個のパラメトリツクデータを変調して、前記
共存誤差のない補正されたパラメトリツクデー
タを得る補正手段; とを具えるようにしたことを特徴とする共存誤差
補正装置にある。
Furthermore, the present invention provides an apparatus for correcting coexistence errors occurring in parametric data from particles obtained by a particle analyzer that generates parametric data, wherein one of the parametric data represents at least one particle analysis parameter, and the coexisting error is introduced into the one data during measurement of the data, and the coexistence error is at least in the longitudinal direction of the measurement aperture as the particle passes through the measurement aperture. A coexistence error correction device that performs the correction at a point in time when a coexistence error substantially occurs in the one parameter data as caused by the coexistence of two particles, the correction device comprising: A at least 1 The means for generating the one piece of parametric data in response to measurement in the length direction of the aperture when the particles pass in the length direction of the measurement aperture,
B. means that cannot distinguish whether particles coexist within the aperture; B. means for detecting the presence of individual particles in a direction other than the length direction of the aperture; particle detection means for generating a detection signal in response to the detection; C. modulating the one parametric data in response to the detection signal after the generation of the one parametric data and the detection signal; , a correction means for obtaining the corrected parametric data free of the coexistence error;

さらに本発明は、アパーチヤを流れる粒子の方
向に対して直角に放射エネルギーの扁平ビームが
アパーチヤを通過するようにする。扁平ビームを
通過する個々の粒子は、アパーチヤを形成してあ
るフローチヤンバを出る放射エネルギーの分布を
十分に変化させるため、この変化に応答させて電
気的な検出信号を発生させることができる。アパ
ーチヤ内における扁平ビームの寸法は、そのビー
ムがアパーチヤの断面全体を網羅して、そのビー
ムが粒子を1個づつ検出し得るような寸法とす
る。
Additionally, the invention provides for a flat beam of radiant energy to pass through the aperture at right angles to the direction of particles flowing through the aperture. Individual particles passing through the flat beam change the distribution of radiant energy exiting the apertured flow chamber sufficiently to generate an electrical detection signal in response to this change. The dimensions of the flat beam within the aperture are such that the beam covers the entire cross-section of the aperture so that the beam can detect particles one by one.

その後上記検出信号を用いて、所要に応じ慣例
のアパーチヤ検出原理による如き放射エネルギー
ビーム以外の手段によつてアパーチヤから得られ
るデータ中の共存誤差を補正する。例えば、電気
的な容積信号の持続期間中に現われる単一の検出
信号はアパーチヤ内に共存粒子がないことを示
し、従つて斯かる容積信号は有効な信号であるこ
とを示す。容積信号の発生期間中に2つ以上の検
出信号があると言うことは、アパーチヤ内に共存
粒子が存在し、その容積信号が誤りであることを
示す。本来、本発明は光学的検出領域としてのア
パーチヤの断面を小さくし、そのアパーチヤの長
さ方向の領域は大きくして有効なデータを得るこ
とにある。
The detection signal is then used to correct for coexisting errors in data obtained from the aperture by means other than a beam of radiant energy, such as by conventional aperture detection principles, as desired. For example, a single detection signal appearing during the duration of an electrical volume signal indicates that there are no coexisting particles within the aperture, and thus indicates that the volume signal is a valid signal. The presence of two or more detection signals during the period of volume signal generation indicates that coexisting particles are present within the aperture and the volume signal is erroneous. Essentially, the present invention aims to obtain effective data by reducing the cross-section of the aperture as an optical detection area and increasing the lengthwise area of the aperture.

以下図面につき本発明を説明する。 The invention will be explained below with reference to the drawings.

第1図には粒子分析装置を符号10にて総称し
て示してある。この装置は周知の如くフローチヤ
ンバ12を具えており、このチヤンバは入口チヤ
ンバ16と出口チヤンバ18との間にアパーチヤ
14を有している。分析すべき粒子は粒子源20
からフローチヤンバ12におけるアパーチヤ14
を経て粒子シンク22へと通過させる。シース
(sheath)流体源24からもシース流体をアパー
チヤ14を経てシース流体シンク26へと通過さ
せる。シース流体は粒子源20からの粒子をアパ
ーチヤ14の軸心に維持させる手助けをする。
In FIG. 1, a particle analyzer is generally designated by the reference numeral 10. The device includes a flow chamber 12, as is well known, having an aperture 14 between an inlet chamber 16 and an outlet chamber 18. Particles to be analyzed are from particle source 20
Aperture 14 in flow chamber 12 from
and to the particle sink 22. Sheath fluid is also passed from a sheath fluid source 24 through the aperture 14 to a sheath fluid sink 26 . The sheath fluid helps maintain particles from the particle source 20 in the axis of the aperture 14.

粒子及びシース流体はチユーブ又は他の導管の
如き任意の所望手段によつてそれらの各発生源か
らフローチヤンバを経て各シンクへと通すことが
できる。従つて、リード線28は粒子源20から
の粒子をフローチヤンバ12に搬送する手段を示
し、リード線32はフローチヤンバ12からの粒
子を粒子シンク22へと搬送する手段を示し、ま
たリード線30はシース流体源24からのシース
流体をフローチヤンバ12に搬送する手段を、、
リード線34はフローチヤンバ12からのシース
流体をシース流体シンク26へと搬送する手段を
示す。
The particles and sheath fluid can be passed from their respective sources through the flow chambers to their respective sinks by any desired means, such as tubes or other conduits. Thus, lead 28 represents a means for transporting particles from source 20 to flow chamber 12, lead 32 represents a means for transporting particles from flow chamber 12 to particle sink 22, and lead 30 represents a means for transporting particles from flow chamber 12 to particle sink 22, and lead 30 represents a means for transporting particles from flow chamber 12 to particle sink 22, and lead 30 represents a means for transporting particles from flow chamber 12 to particle sink 22. Means for conveying sheath fluid from fluid source 24 to flow chamber 12 includes:
Lead 34 represents a means for conveying sheath fluid from flow chamber 12 to sheath fluid sink 26 .

粒子分析装置は一対の電極36及び38も具え
ており、これらの電極はフローチヤンバ12の入
口チヤンバ及び出口チヤンバにそれぞれ設ける。
この一対の電極はリード線42及び44を介して
容積検出回路40に接続する。容積検出回路40
はリード線42及び44と電極36及び38とに
よりアパーチヤ14の長さ方向に電流を発生させ
る。アパーチヤによる粒子分析装置では周知のよ
うに、アパーチヤ14を通過する粒子は、そのア
パーチヤを流れる電流を変化させ、この電流変化
は容積検出回路40にて測定することができ、こ
れからアパーチヤ14を通過する粒子の容積又は
他のパラメータを示す電気信号を得ることができ
る。アパーチヤ14を通過する粒子の容積を示す
信号はリード線43に出力させる。しかし、この
リード線43に出力される容積信号は、前記した
ように種々の手段によつて予じめ補正してある共
存誤差を含んでいる。
The particle analyzer also includes a pair of electrodes 36 and 38 located in the inlet and outlet chambers of flow chamber 12, respectively.
This pair of electrodes is connected to a volume detection circuit 40 via lead wires 42 and 44. Volume detection circuit 40
generates an electric current along the length of the aperture 14 through leads 42 and 44 and electrodes 36 and 38. As is well known in aperture-based particle analyzers, particles passing through the aperture 14 change the current flowing through the aperture, and this current change can be measured by the volume sensing circuit 40, and particles passing through the aperture 14 from this point change the current flowing through the aperture. An electrical signal can be obtained indicative of particle volume or other parameters. A signal indicating the volume of particles passing through the aperture 14 is output to the lead wire 43. However, the volume signal output to this lead wire 43 includes coexistence errors that have been corrected in advance by various means as described above.

本発明によれば、フローチヤンバ12の光学的
に透明な壁部、特にアパーチヤ14に通す粒子の
流れ方向に対し直角にアパーチヤ14を経て放射
エネルギーの扁平ビームを通すことにより上記共
存誤差を補正する。斯かる放射エネルギーの扁平
ビームの寸法は、その扁平ビームがアパーチヤの
少なくとも壁部から壁部まで延在し、かつ粒子が
流れる方向に対する斯かるビームの高さが、アパ
ーチヤを流れる粒子の直径にほぼ等しくなるよう
な寸法とする。アパーチヤ14内の光ビームを通
過する粒子がない場合には、放射エネルギービー
ムはフローチヤンバの反対側の壁部を通り抜けて
ビームストツプに当る。フローチヤンバの壁部又
はシース流体の欠陥により偏向されたり、又は回
折されたりして分散したり、又は散乱したりする
ビームの放射エネルギーもフローチヤンバから出
て、ビームストツプの範囲を越して曲げられ、光
センサの表面に当る。従つて、光センサはその表
面に当る放射エネルギーの量を示す検出信号を発
生する。
According to the present invention, this coexistence error is corrected by passing a flat beam of radiant energy through the optically transparent wall of the flow chamber 12, specifically through the aperture 14 at right angles to the flow direction of the particles passing through the aperture 14. The dimensions of such a flat beam of radiant energy are such that the flat beam extends at least from wall to wall of the aperture and the height of such beam relative to the direction of particle flow is approximately the diameter of the particle flowing through the aperture. The dimensions shall be equal. If no particles pass through the light beam in aperture 14, the radiant energy beam passes through the opposite wall of the flow chamber and hits the beam stop. The radiant energy of the beam that is deflected or diffracted by imperfections in the flow chamber wall or sheath fluid also exits the flow chamber and is bent beyond the beam stop, resulting in light Hits the surface of the sensor. Accordingly, the optical sensor generates a detection signal indicative of the amount of radiant energy impinging on its surface.

アパーチヤ14及び放射エネルギーの扁平ビー
ムの箇所を通過する粒子がない場合には光センサ
による検出信号は直流レベル値、即ち一定の値を
呈する。アパーチヤ14及び扁平ビームの箇所を
粒子が通過すると、その粒子が扁平ビームからの
光を回折させたり偏向させたりすることにより、
光センサの表面に当る放射エネルギーの分布を変
化させる。ここのように放射エネルギー分布が変
化すると、光センサによる検出信号の値が変化
し、この検出信号はパルスのような交流値を呈す
るようになる。
If no particles pass through the aperture 14 and the flat beam of radiant energy, the detection signal from the optical sensor assumes a DC level value, ie, a constant value. When a particle passes through the aperture 14 and the flat beam, the particle diffracts or deflects the light from the flat beam.
Change the distribution of radiant energy hitting the surface of the optical sensor. When the radiant energy distribution changes like this, the value of the detection signal from the optical sensor changes, and this detection signal comes to exhibit a pulse-like alternating current value.

検出信号のパルスはアパーチヤ14内における
扁平ビームの箇所に個々のパルスが存在すること
を示すのに用いられる。アパーチヤ内における扁
平ビームは前述したような寸法とするため、検出
信号の各パルスはアパーチヤ内における単一粒子
の存在を示す。従つて、リード線43に単一溶積
信号が出力されている期間中に発生する検出信号
の多重パルスは粒子共存による誤つた容積値を示
すことになる。その後は斯かる誤り容積信号を所
要に応じ無視するように用いて、得られた粒子容
積信号の加算時に共存誤差をなくすことができ
る。
The pulses of the detection signal are used to indicate the presence of individual pulses at the location of the flat beam within the aperture 14. The flat beam within the aperture is dimensioned as described above, so that each pulse of the detection signal indicates the presence of a single particle within the aperture. Therefore, multiple pulses of the detection signal generated during the period when a single molten signal is output to the lead wire 43 will indicate an erroneous volume value due to the coexistence of particles. Thereafter, such erroneous volume signals can be used to ignore them if desired to eliminate coexisting errors when adding the resulting particle volume signals.

再度第1図を着目するに、レーザの如き放射エ
ネルギー源50は光の如きコヒーレントな放射エ
ネルギービーム52を発生する。斯かるビーム5
2はビーム整形光学系54を通過し、これにてビ
ーム52は前述したような所望寸法を有する扁平
ビーム56に整形される。その後扁平ビーム56
はフローチヤンバ12の光学的に透明な壁部58
及び60と、アパーチヤ14を通過する。フロー
チヤンバ12を出る放射エネルギーは第2及び3
図に示すように、扁平ビーム56の回折又は偏光
による如き光の分散又は散乱から成る一次ビーム
と、扁平ビーム56そのもののゼロ次ビームとの
2つのビーム態形をとる。斯かるゼロ次ビームは
扁平ビーム56が分散又は散乱されない扁平ビー
ム56の放射エネルギーから成ることは勿論であ
る。フローチヤンバ12を出る放射エネルギーは
光センサ66(第1図)に向けられ、この光セン
サ66は第2図に示すようにゼロ次ビームストツ
プ68及びフエース部70を具えている。ゼロ次
ビームはビームストツプ68に向けられ、このビ
ームはこのビームストツプにより完全に吸収され
る。一次ビームは殆ど光センサ66のフエース部
70に向けられ、この一次ビームの放射エネルギ
ーはリード線72に検出信号を発生するのに用い
られる。斯かる検出信号は共存誤差補正回路74
に供給される。その後共存誤差補正回路74の出
力をリード線76を介して粒子分析器78に供給
する。
Returning to FIG. 1, a radiant energy source 50, such as a laser, generates a coherent radiant energy beam 52, such as light. Such beam 5
2 passes through beam shaping optics 54, which shapes beam 52 into a flat beam 56 having the desired dimensions as described above. Then the flat beam 56
is the optically transparent wall 58 of the flow chamber 12.
and 60, passing through the aperture 14. The radiant energy leaving the flow chamber 12 is
As shown, there are two beam configurations: a primary beam consisting of dispersion or scattering of light, such as by diffraction or polarization of the flattened beam 56, and a zero-order beam of the flattened beam 56 itself. Such a zero order beam, of course, consists of the radiant energy of the flattened beam 56 that is not dispersed or scattered by the flattened beam 56. Radiant energy exiting flow chamber 12 is directed to optical sensor 66 (FIG. 1), which includes a zero order beam stop 68 and a face 70 as shown in FIG. The zero order beam is directed to beam stop 68, where it is completely absorbed. The primary beam is directed mostly toward the face 70 of the optical sensor 66, and the radiant energy of the primary beam is used to generate a detection signal on a lead 72. Such a detection signal is sent to the coexistence error correction circuit 74.
supplied to Thereafter, the output of the coexistence error correction circuit 74 is supplied to a particle analyzer 78 via a lead wire 76.

第2図はフローチヤンバ12の部分を拡大して
示す断面図であるが、図面の明瞭化のためにフロ
ーチヤンバ12の透明壁部58及び60にハツチ
ングを省いてある。粒子源チユーブ80は82,
84,86及び88の如き粒子を矢印92で示す
方向に入口チヤンバ16、アパーチヤ14及び出
口チヤンバ18を経てチユーブ90へと供給す
る。シース流体源24からのシース流体も入口チ
ヤンバ16、アパーチヤ14及び出口チヤンバ1
8を経てシース流体シンク26へと供給する。従
つて入口チヤンバ16は、粒子をアパーチヤ14
の軸心に維持する目的のシース流体でアパーチヤ
14を経て出口チヤンバ18と流体連通するた
め、アパーチヤからは良好な容積信号が得られ
る。
Although FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a portion of the flow chamber 12, hatching on the transparent walls 58 and 60 of the flow chamber 12 is omitted for clarity of the drawing. The particle source tube 80 is 82,
Particles such as 84, 86 and 88 are fed into tube 90 through inlet chamber 16, aperture 14 and outlet chamber 18 in the direction indicated by arrow 92. Sheath fluid from sheath fluid source 24 also flows through inlet chamber 16, aperture 14 and outlet chamber 1.
8 to a sheath fluid sink 26. The inlet chamber 16 thus directs the particles to the aperture 14.
A good volumetric signal is obtained from the aperture because it is in fluid communication with the outlet chamber 18 through the aperture 14 with the desired sheath fluid being maintained on the axis of the aperture.

機械的及び動作的の両面からして、アパーチヤ
の大きさは測定すべき粒子の直径よりも多数倍大
きくする。従つて、いずれかの時点にアパーチヤ
14内に多数の粒子が現われると、これは粒子の
共存現象として知らされる。このような粒子が共
存する例をアパーチヤ14内に同時に存在する粒
子84と86にとによつて示してある。
For both mechanical and operational reasons, the aperture size is many times larger than the diameter of the particle to be measured. Therefore, if a large number of particles appear within the aperture 14 at any time, this is known as a particle coexistence phenomenon. An example of the coexistence of such particles is illustrated by particles 84 and 86 coexisting within aperture 14.

第2図に示すように、矢印92で示す粒子の流
れ方向に沿う扁平ビーム56の厚さは粒子の直径
にほぼ等しくする。第3図に示すように、ビーム
56の幅はアパーチヤ14の幅にほぼ等しくする
ようにする。即ち、ビーム56はほぼアパーチヤ
14の壁部から壁部まで延在するようにする。こ
のようにしてアパーチヤ14内の粒子が必ず出さ
れるようにする。
As shown in FIG. 2, the thickness of the flat beam 56 along the direction of particle flow indicated by arrow 92 is approximately equal to the diameter of the particle. As shown in FIG. 3, the width of the beam 56 is approximately equal to the width of the aperture 14. That is, beam 56 extends approximately from wall to wall of aperture 14. In this way, particles within the aperture 14 are ensured to be ejected.

第3図の例は断面が方形状をしているアパーチ
ヤを示しているが、本発明には後述するように断
面が丸いアパーチヤを用いることもできる。
Although the example of FIG. 3 shows an aperture with a rectangular cross section, the present invention can also use an aperture with a round cross section, as will be described later.

扁平ビーム56の高さ(厚さ)は個々の粒子の
直径にほぼ等しくするため、アパーチヤ14を通
過する個々の粒子は、たとえこれらの粒子が互い
に密に離間していてもそれぞれ1つづつ検出され
る。従つて、扁平ビーム56及び光センサ66
は、アパーチヤ14をその長さ方向に通過する粒
子の容積を決定する以外にアパーチヤ14を通過
する粒子を1個づつ検出し得る手段を成す。
Since the height (thickness) of the flat beam 56 is approximately equal to the diameter of each individual particle, each individual particle passing through the aperture 14 is detected one by one even if these particles are closely spaced from each other. be done. Therefore, the flat beam 56 and the optical sensor 66
In addition to determining the volume of particles passing through the aperture 14 along its length, it provides a means by which particles passing through the aperture 14 can be detected one by one.

第5図の上側の波形グラフ94は容積検出回路
40から得られる容積信号を示したものである。
第5図の下側の波形グラフは光センサ66によつ
て出力される検出信号のパルスを示したものであ
る。波形96にて示す第1パルスは光ビーム56
を通過する第2図の粒子86に対応するパルスで
あり、波形98にて示すパルスはビーム56をい
ずれ通過する粒子84により発生される検出信号
のパルスを表わたものである。なお、第5図は各
波形94,96及び98の相対値を正確に示した
ものではなく、この第5図では上記波形信号が発
生する相対的時間関係のみを示したに過ぎない。
従つて、容積信号の1度の発生期間中に発生する
検出信号の2つのパルスはアパーチヤ14内での
粒子の共存を指示するのに用いることができる、
波形96で表されるような僅か1個の検出信号だ
けが発生する場合には、それはアパーチヤ14内
に単一粒子しか存在しないことを指示する。この
後者の場合は、第2図の粒子84がアパーチヤ1
4内に存在しなくて、これが粒子86と一致しな
い場合であり、従つてこの場合には容積信号波形
94の発生期間中に波形信号98は発生しなくな
る。第5図の破線波形99は、粒子84と86が
アパーチヤ内に共存する場合の容積信号の拡張部
を示したものである。
The upper waveform graph 94 in FIG. 5 shows the volume signal obtained from the volume detection circuit 40.
The lower waveform graph in FIG. 5 shows the pulses of the detection signal output by the optical sensor 66. The first pulse, shown at waveform 96, is the light beam 56.
The pulses corresponding to particles 86 of FIG. Note that FIG. 5 does not accurately show the relative values of the waveforms 94, 96, and 98, but merely shows the relative time relationships in which the waveform signals are generated.
Thus, two pulses of the detection signal occurring during one period of volumetric signal generation can be used to indicate the coexistence of particles within the aperture 14.
If only one detection signal occurs, as represented by waveform 96, it indicates that only a single particle is present within aperture 14. In this latter case, particles 84 in FIG.
4, which does not coincide with the particle 86, and therefore, in this case, the waveform signal 98 will not be generated during the generation of the volume signal waveform 94. Dashed waveform 99 in FIG. 5 shows the expansion of the volume signal when particles 84 and 86 coexist within the aperture.

第4図には容積検出回路40からの未処理デー
タを含んでいる共存粒子容積信号を変調して、前
記共存誤差のない補正データを得るための電気回
路の一例を示してある。この回路には光センサか
らの検出信号のパルスを用いて、有効容積データ
の粒子分析器78への通過をゲートさせるのが効
果的である。
FIG. 4 shows an example of an electrical circuit for modulating a coexisting particle volume signal containing unprocessed data from the volume detection circuit 40 to obtain corrected data free of the coexistence error. Advantageously, this circuit uses pulses of the detection signal from the optical sensor to gate the passage of valid volume data to the particle analyzer 78.

電極36及び38からのリード線42及び44
は容積信号用増幅器100に対するツイン入力と
して示してある。増幅器100の出力は本来容積
検出回路40からリード線43に出力される出力
信号である。この信号は第5図に示す波形94で
示すように実質的にはスムースな波形をしてい
る。このような容積信号をピーク検出兼保持回路
102と、雑音弁別器として構成した比較器10
4の一方の入力端子との双方に供給する。比較器
104の他方の入力端子は雑音限界電圧レベルを
提供する可変抵抗VRIに接続する。
Leads 42 and 44 from electrodes 36 and 38
are shown as twin inputs to volumetric signal amplifier 100. The output of the amplifier 100 is originally an output signal output from the volume detection circuit 40 to the lead wire 43. This signal has a substantially smooth waveform, as shown by waveform 94 in FIG. A peak detection and holding circuit 102 and a comparator 10 configured as a noise discriminator detect such a volume signal.
4 and one input terminal of 4. The other input terminal of comparator 104 connects to a variable resistor VRI that provides a noise-limited voltage level.

リード線43に現われる信号の値が可変抵抗
VRIによつて選択される雑音限界値以上になる
と、比較器104はそれ相当の信号をリード線1
06に出力し、以後“変換信号”と称するこの信
号は2個のD形フリツプ・フロツプ108及び1
10と、アナログ/デイジタル変換器112とに
供給される。アナログ/デイジタル変換器112
の出力はリード線76に現われ、斯かる変換器1
12はリード線114と116とによつてピーク
検出兼保持回路102に接続する。リード線11
4は“引伸しパルス”と称する信号をアナログ/
デイジタル(A/D)変換器112に供給し、リ
ード線116は“クリヤ”信号をピーク検出兼保
持回路102に供給する。
The value of the signal appearing on the lead wire 43 is the variable resistance.
Once the noise limit selected by VRI is exceeded, comparator 104 sends the corresponding signal to lead 1.
This signal, hereinafter referred to as the "conversion signal", is output to two D-type flip-flops 108 and 1.
10 and an analog/digital converter 112. Analog/digital converter 112
The output of such transducer 1 appears on lead 76.
12 is connected to peak detection and holding circuit 102 by leads 114 and 116. Lead wire 11
4 is a signal called “enlarger pulse” as an analog/
A digital (A/D) converter 112 is provided, and a lead 116 provides a "clear" signal to the peak detect and hold circuit 102.

共存誤差補正回路74に光センサ66からリー
ド線72を経て供給される信号もスムースな波形
をしている。この検出信号は増幅器118にて増
幅されてからリード線120を経て雑音弁別器と
して構成した比較器122の一方の入力端子に供
給される。比較器122の他方の入力端子は雑音
限界電圧レベルを提供する可変抵抗VR2に接続
する。
The signal supplied from the optical sensor 66 to the coexistence error correction circuit 74 via the lead wire 72 also has a smooth waveform. This detection signal is amplified by an amplifier 118 and then supplied via a lead wire 120 to one input terminal of a comparator 122 configured as a noise discriminator. The other input terminal of comparator 122 is connected to a variable resistor VR2 that provides a noise-limited voltage level.

リード線120に現われる信号値が上記雑音限
界レベル以上になると、比較器122はそれ相当
の信号をリード線124に出力する。このリード
線124に現われる信号は第5図の下側に示した
検出信号波形に対応する。これらの信号又はパル
スはフリツ・フロツプ108及び110のクロツ
ク入力端子に供給される。フリツプ・フロツプ1
10のQ出力はリード線126を介してA/D変
換器112と共存率測定計128との双方に供給
される。
When the signal value appearing on lead 120 exceeds the noise threshold level, comparator 122 outputs a corresponding signal on lead 124. The signal appearing on this lead wire 124 corresponds to the detection signal waveform shown at the bottom of FIG. These signals or pulses are applied to the clock input terminals of flip-flops 108 and 110. flip flop 1
The 10 Q output is supplied to both the A/D converter 112 and the coexistence meter 128 via a lead 126.

作動に当り、増幅器100及び118は有効レ
ベルを有する論理信号を発生させるために用い
る。増幅器100及び118からの容積信号及び
検出信号はいずれも雑音限界電圧レベルと比較さ
れて雑音とは区別される。比較器104及び12
2として表わされる弁別器の出力信号はいずれも
方形波形状をしており、これらの信号の持続時間
は各弁別器に供給されるパルスの長さに相当す
る。比較器104の出力は2個のD形フリツプ・
フロツプ108及び110をエネイブルさせるの
に用いられる。フリツプ・フロツプ108及び1
10は比較器104からの出力パルスがなくなる
場合にクリヤされる。これがため、両フリツプ・
フロツプのQ出力は論理ゼロの“0”状態にな
る。容積信号の持続期間中、増幅器122からの
検出パルスは2個のフリツプ・フロツプを同時に
クロツクする。このように両フリツプ・フロツプ
がクロツクされると、フリツプ・フロツプ108
のQ出力は論理1の“1”状態となり、フリツ
プ・フロツプ110のQ出力は論理ゼロの“0”
状態に留まる。容積信号の発生期間中に検出信号
中に第2パルスが発生する場合には、リード線1
26に接続されるフリツプ・フロツプ110のQ
出力も論理1の“1”状態となる。フリツプ・フ
ロツプ108及び110が動作すると同時に容積
信号は検出され、かつ保持されて、粒子の容積が
得られる。容積信号弁別器の出力信号である“変
換信号”の立下り縁は、A/D変換器112がピ
ーク検出兼保持回路102からの引伸しパルスを
デイジタル値に変換せしめる指示をする。“変換
信号”の立下り縁が発生する際に、リード線12
6における“変換禁止信号”が高レベル、即ち論
理1の“1”状態にある場合には、A/D変換器
112は前記引伸しパルスをデイジタル的に変換
しなくなり、従つてA/D変換器112はリード
線116に“クリヤ信号”を発生して、ピーク検
出兼保持回路102に保持されている信号をクリ
ヤする。“変換信号”の立下り縁が発生する際に、
リード線126における信号が低レベル、即ち論
理ゼロの“0”状態にある場合には、A/D変換
器112が回路102による検出兼保持値をデイ
ジタル値に変換し、これを出力してからリード線
116に“クリヤ信号”を発生する。リード線1
26に現われる信号を共存率測定計128に供給
して、共存回数を総計することもできる。
In operation, amplifiers 100 and 118 are used to generate logic signals having valid levels. Both the volume and detection signals from amplifiers 100 and 118 are compared to a noise threshold voltage level to distinguish them from noise. Comparators 104 and 12
The output signals of the discriminators, denoted as 2, all have a square wave shape, and the duration of these signals corresponds to the length of the pulses supplied to each discriminator. The output of comparator 104 is connected to two D-type flips.
Used to enable flops 108 and 110. flip-flop 108 and 1
10 is cleared when the output pulse from comparator 104 disappears. Because of this, both flip
The Q output of the flop goes to a logic zero "0" state. During the duration of the volume signal, the detection pulse from amplifier 122 clocks two flip-flops simultaneously. When both flip-flops are clocked in this manner, flip-flop 108
The Q output of the flip-flop 110 is in the logic 1 state, and the Q output of the flip-flop 110 is in the logic zero state, 0.
Stay in state. If the second pulse occurs in the detection signal during the generation period of the volume signal, lead wire 1
Q of flip-flop 110 connected to 26
The output is also in the "1" state of logic 1. As flip-flops 108 and 110 operate, the volume signal is detected and held to obtain the volume of the particle. The falling edge of the output signal of the volumetric signal discriminator, the "conversion signal," instructs the A/D converter 112 to convert the stretched pulse from the peak detect and hold circuit 102 to a digital value. When the falling edge of the “conversion signal” occurs, lead 12
When the "conversion inhibit signal" at 6 is at a high level, i.e., in a logic 1 "1" state, the A/D converter 112 does not digitally convert the enlarged pulse, and therefore the A/D converter 112 does not digitally convert the enlarged pulse. 112 generates a "clear signal" on lead wire 116 to clear the signal held in peak detection and holding circuit 102. When the falling edge of the “conversion signal” occurs,
When the signal on lead 126 is at a low level, i.e., a logic zero "0" state, A/D converter 112 converts the sensed and held value by circuit 102 to a digital value and outputs it. A "clear signal" is generated on the lead wire 116. Lead wire 1
The signal appearing at 26 can also be fed to a coexistence rate meter 128 to total the number of coexistences.

従つて、共存補正回路74は容積信号の持続期
間中に1個の検出パルスが発生する場合にだけ
A/D変換器112への容積信号をゲートするも
のと見なすことができる。
Therefore, coexistence correction circuit 74 can be considered to gate the volume signal to A/D converter 112 only if one detection pulse occurs during the duration of the volume signal.

本発明の特定例では分析すべき粒子の直径を約
1〜20マイクロメータとする。粒子が流れる方向
に沿うアパーチヤの流さは約76マイクロメータと
し、また粒子の流れる方向に沿う扁平ビームの高
さは約5マイクロメータとする。
In a particular embodiment of the invention, the particles to be analyzed have a diameter of about 1 to 20 micrometers. The aperture flow along the particle flow direction is about 76 micrometers, and the flat beam height along the particle flow direction is about 5 micrometers.

前述したように、光センサ66はゼロ次ビーム
ストツプ及び一次分散光用のセンサを具えてい
る。斯種のセンサは米国特許第4038556号に開示
されているようなものとすることができる。この
ようなセンサによつて、扁平ビーム56を通過す
る粒子により生ずるゼロ次ビームのエネルギー変
化を検出し、一次ビームの分散光は無視するよう
にして検出信号を発生せしめることもできる。
As previously mentioned, optical sensor 66 includes a zero order beam stop and a sensor for first order dispersion. Such a sensor may be as disclosed in US Pat. No. 4,038,556. Such a sensor may also generate a detection signal by detecting energy changes in the zero-order beam caused by particles passing through the flat beam 56, while ignoring the scattered light of the first-order beam.

第3図には断面が方形状をしているアパーチヤ
を示してあるが、アパーチヤ14の断面は前述し
たように円形状としても同様な作用をする。その
理由は、扁平ビーム56を通過する粒子に応答し
て発生する電気的な検出信号をフローチヤンバ1
2を出てから光センサによつて検出されるエネル
ギー分布の変化によつて得られるものであり、斯
かる検出信号は光センサに当る光の絶対量の関数
とはならないからである。実際上、検出信号のパ
ルスは光センサに当る光分布の変化によるもので
あり、従つて、シース流体の反射率、流体チヤン
パの光学的明瞭度及びアパーチヤの断面構造は本
来検出信号には無関係である。
Although FIG. 3 shows an aperture having a rectangular cross section, the same effect can be achieved even if the cross section of the aperture 14 is circular as described above. The reason for this is that the electrical detection signals generated in response to particles passing through the flat beam 56 are transferred to the flow chamber 1.
This is because such a detection signal is not a function of the absolute amount of light hitting the optical sensor. In practice, the pulses of the detection signal are due to changes in the light distribution impinging on the optical sensor, and therefore the reflectivity of the sheath fluid, the optical clarity of the fluid damper, and the cross-sectional structure of the aperture are essentially irrelevant to the detection signal. be.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による装置を利用する粒子検出
兼分析装置の一例を示すブロツク線図;第2図は
フローチヤンバにおけるアパーチヤ部分及びその
アパーチヤを流れる粒子の方向に対して直角に該
アパーチヤを通過する放射エネルギービームをそ
れぞれ拡大して示す側面図;第3図はフローチヤ
ンバの拡大頂面図;第4図は共存誤差に対するデ
ータ補正のために本発明に使用し得る回路の一例
を示すブロツク線図;第5図はアパーチヤを通過
する2個の粒子の共存により発生する検出信号と
容積信号との時間関係を示す波形図である。 10……粒子分析装置、12……フローチヤン
バ、14……アパーチヤ、16……入口チヤン
バ、18……出口チヤンバ、20……粒子源、2
2……粒子シンク、24……シース流体源、26
……シース流体シンク、28〜34……導管、3
6,38……電極、40……容積検出回路、4
2,43,44……リード線、50……放射エネ
ルギー源、52……放射エネルギービーム、54
……ビーム整形光学系、56……扁平ビーム、5
8,60……フローチヤンバ壁部、66……光セ
ンサ、68……ビームストツプ、70……フエー
ス部、72……リード線、74……共存誤差補正
回路、78……粒子分析器、80……粒子源、8
2〜88……粒子、90……チユーブ、100…
…容積信号用増幅器、102……ピーク検出兼保
持回路、104……容積信号用比較器(雑音弁別
器)、108,110……フリツプ・フロツプ、
112……A/D変換器、118……検出信号用
増幅器、122……検出信号用比較器(雑音弁別
器)、VR1,VR2……可変抵抗、128……共
存率測定計。
FIG. 1 is a block diagram showing an example of a particle detection and analysis device utilizing the device according to the invention; FIG. 2 shows an aperture portion in a flow chamber and a particle passing through the aperture at right angles to the direction of the particles flowing through the aperture; FIG. 3 is an enlarged top view of the flow chamber; FIG. 4 is a block diagram showing an example of a circuit that can be used in the present invention for data correction for coexistence errors; FIG. 5 is a waveform diagram showing the time relationship between a detection signal and a volume signal generated by the coexistence of two particles passing through an aperture. 10... Particle analyzer, 12... Flow chamber, 14... Aperture, 16... Inlet chamber, 18... Outlet chamber, 20... Particle source, 2
2... Particle sink, 24... Sheath fluid source, 26
... sheath fluid sink, 28-34 ... conduit, 3
6, 38...electrode, 40...volume detection circuit, 4
2, 43, 44...Lead wire, 50...Radiant energy source, 52...Radiant energy beam, 54
... Beam shaping optical system, 56 ... Flat beam, 5
8, 60... Flow chamber wall portion, 66... Optical sensor, 68... Beam stop, 70... Face portion, 72... Lead wire, 74... Coexistence error correction circuit, 78... Particle analyzer, 80... ...particle source, 8
2-88...Particle, 90...Tube, 100...
... Volume signal amplifier, 102 ... Peak detection and holding circuit, 104 ... Volume signal comparator (noise discriminator), 108, 110 ... Flip-flop,
112...A/D converter, 118...Detection signal amplifier, 122...Detection signal comparator (noise discriminator), VR1, VR2...Variable resistor, 128...Coexistence rate measuring meter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 パラメトリツクデータを発生するタイプの粒
子分析装置により得られる粒子からのパラメトリ
ツクデータ中に生ずる共存誤差を補正する方法に
あつて、前記パラメトリツクデータの内の1個の
パラメトリツクデータは少なくとも1個の粒子分
析パラメータを表わし、かつ前記共存誤差はデー
タの測定時に前記1つのデータに導入されるもの
で、しかも前記粒子が測定アパーチヤを通過する
際に該測定アパーチヤの長さ方向に少なくとも2
個の粒子が共存することにより生ずるものとし
て、前記補正を実質上前記1個のパラメトリツク
データに共存誤差が生ずる時点に行うようにする
共存誤差補正方法において、該方法が: A 少なくとも1個の粒子が前記測定アパーチヤ
の長さ方向を通過する際に、前記アパーチヤの
長さ方向での測定に応答して前記1個のパラメ
トリツクデータを発生せしめる工程にあつて、
前記アパーチヤ内に粒子が共存かるか、否かを
区別することはできない工程と; B 前記アパーチヤの長さ方向以外で前記アパー
チヤ内の個々の粒子の存在を検出する粒子検出
工程と; C 前記アパーチヤ内の個々の粒子の存在を検出
するのに応答して検出信号を発生させる工程
と; D 前記1個のパラメトリツクデータ及び前記検
出信号の発生後に該検出信号に応答させて前記
1個のパラメトリツクデータを変調して、前記
共存誤差のない補正されたパラメトリツクデー
タを得る変調工程; とを含むことを特徴とする共存誤差補正方法。 2 前記粒子検出工程が、前記アパーチヤを粒子
が通過する第1方向に対して直角に前記アパーチ
ヤを経て放射エネルギービームを通過させる工程
を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に
記載の共存誤差補正方法。 3 前記放射エネルギービームを扁平にして、前
記アパーチヤを通過する前記粒子のすべてが該扁
平ビームを通過するようにしたことを特徴とする
特許請求の範囲第1又は2項のいずれかに記載の
共存誤差補正方法。 4 前記放射ビームの前記第1方向における高さ
を少なくとも前記粒子の直径にほぼ等しくし、か
つ前記ビームの幅を前記アパーチヤの幅にほぼ等
しくしたことを特徴とする特許請求の範囲第3項
に記載の共存誤差補正方法。 5 前記粒子検出工程が、前記アパーチヤを通過
した前記放射エネルギービームから受光した放射
エネルギーを光学的に検出する工程を含み、該光
学的検出工程が、前記放射エネルギービームを前
記粒子が通過することにより前記受光放射エネル
ギー分布を変化させることに応答して前記検出信
号を発生せしめる工程を含むようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の共存誤差
補正方法。 6 前記光学的検出工程が、前記放射エネルギー
ビームそのもののゼロ次ビームを殆どすべて受光
するビームストツプ及び前記放射エネルギービー
ムが分散した放射エネルギーから成る一次ビーム
を殆どすべて受光するフエース部を設ける工程を
含むようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第5項に記載の共存誤差補正方法。 7 前記検出信号発生工程が、前記放射エネルギ
ービームを粒子が通過するのに応答してパルスを
発生せしめる工程を含むようにしたことを特徴と
する特許請求の範囲第6項に記載の共存誤差補正
方法。 8 前記パラメトリツクデータを変調する工程
が、前記検出信号に応答して各パラメトリツクデ
ータをゲートさせて、前記共存誤差のない正しい
パラメトリツクデータを通過させるようにするゲ
ート工程を含むようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項に記載の共存誤差補正方法。 9 前記検出信号が個々の検出粒子を表わすパル
スを含み、かつ前記パラメトリツクデータを変調
する工程が、各パラメトリツクデータの値を検出
して保持すると共に各パラメトリツクデータの発
生期間中に生ずる検出信号パルスの個数を計数す
る工程を含み、前記ゲート工程が、前記各パラメ
トリツクデータの発生期間中に計数される検出信
号パルスの個数に応答して前記検出して保持した
各パラメトリツクデータをゲートする工程を含む
ようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第8
項に記載の共存誤差補正方法。 10 前記各パラメトリツクデータ及び検出信号
の発生後直ちに前記検出信号に応答して各パラメ
トリツクデータを変調するようにしたことを特徴
とする特許請求の範囲第1項に記載の共存誤差補
正方法。 11 パラメトリツクデータを発生する粒子分析
装置により得られる粒子からのパラメトリツクデ
ータ中に生ずる共存誤差を補正する装置にあつ
て、前記パラメトリツクデータの内の1個のパラ
メトリツクデータは少なくとも1個の粒子分析パ
ラメータを表わし、かつ前記共存誤差はデータの
測定時に前記1つのデータに導入されるもので、
しかも前記粒子が測定アパーチヤを通過する際に
該測定アパーチヤの長さ方向に少なくとも2個の
粒子が共存することにより生ずるものとして、前
記補正を実質上前記1個のパラメトリツクデータ
に共存誤差が生ずる時点に行なうようにする共存
誤差補正装置において、該補正装置が: A 少なくとも1個の粒子が前記測定アパーチヤ
の長さ方向を通過する際に、前記アパーチヤの
長さ方向での測定に応答して前記1個のパラメ
トリツクデータを発生せしめる手段にあつて、
前記アパーチヤ内に粒子が共存するか、否かを
区別することができない手段40,42,44
と; B 前記アパーチヤの長さ方向以外で個々の粒子
の存在を検出し、このアパーチヤ内での個々の
粒子の存在を検出するのに応答して検出信号を
発生せしめる粒子検出手段56と; C 前記1個のパラメトリツクデータ42及び前
記検出信号72の発生後に該検出信号72に応
答させて前記1個のパラメトリツクデータ42
を変調して、前記共存誤差のない補正されたパ
ラメトリツクデータ76を得る補正手段74; とを具えるようにしたことを特徴とする共存誤差
補正装置。 12 前記粒子が前記測定アパーチヤの第1軸方
向にて該アパーチヤを通過し、前記粒子検出手段
が前記第1方向に対し直角に前記アパーチヤを通
過する放射エネルギービームを含むようにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第11項に記載の
共存誤差補正装置。 13 前記放射エネルギービームを扁平ビームと
し、該ビームの寸法を、前記アパーチヤを通過す
る前記粒子のすべてが前記扁平ビームを必ず通過
するような寸法としたことを特徴とする特許請求
の範囲第12項に記載の共存誤差補正装置。 14 前記放射エネルギービームを扁平ビームと
し、該ビームの寸法を、前記アパーチヤを通過す
る前記粒子のすべてが前記扁平ビームを必ず通過
するような寸法とし、前記放射ビームの前記第1
方向における高さを少なくとも前記粒子の直径に
ほぼ等しくし、かつ前記ビームの幅を前記アパー
チヤの幅にほぼ等しくしたことを特徴とする特許
請求の範囲第12項に記載の共存誤差補正装置。 15 前記粒子検出手段が、前記アパーチヤを通
過する前記放射エネルギービームから放射エネル
ギーを受取る光学的センサ手段を含み、該センサ
手段が、前記放射エネルギービームを前記粒子が
通過することにより前記受光放射エネルギー分布
を変化させるのに応答して前記検出信号を発生さ
せるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第12〜14項のいずれか1つに記載の共存誤差
補正装置。 16 前記放射ビームを通過する前記粒子が、該
ビームから分散した放射エネルギーから成る一次
ビームと、前記放射ビームの放射エネルギーその
ものから成るゼロ次ビームとして作用し、かつ前
記光学的センサ手段が、前記ゼロ次ビームを殆ど
すべて受光するビームストツプと、前記一次ビー
ムを殆どすべて受光するフエース部を含むように
したことを特徴とする特許請求の範囲第15項に
記載の共存誤差補正装置。 17 前記検出信号が、前記放射エネルギービー
ムを粒子が通過するのに応答して発生するパルス
を含むようにしたことを特徴とする特許請求の範
囲第15項に記載の共存誤差補正装置。 18 前記補正手段が、前記検出信号に応答して
各パラメトリツクデータをゲートさせて、前記共
存誤差のない補正されたパラメトリツクデータを
通過させるゲート手段を含むようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第11項に記載の共存誤
差補正装置。 19 前記補正手段が、前記検出信号に応答して
各パラメトリツクデータをゲートさせて、前記共
存誤差のない補正されたパラメトリツクデータを
通過させるゲート手段を含むようにし、前記検出
信号が個々の検出粒子を表わすパルスを含み、前
記補正手段が、各パラメトリツクデータの値を検
出して保持する検出兼保持手段と、各パラメトリ
ツクデータの発生期間中に生ずる検出信号パルス
の個数を計数する計数手段とを含み、前記ゲート
手段が前記パラメトリツクデータの発生期間中に
前記計数手段によつて計数される検出信号パルス
の個数に応答して前記検出兼保持手段からの各パ
ラメトリツクデータをゲートするようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第11項〜17項の
いずれか1つに記載の共存誤差補正装置。 20 前記各パラメトリツクデータの発生期間中
に計数される1個の検出信号パルスに応答して前
記ゲート手段が前記検出兼保持手段から各パラメ
トリツクデータを通過させるようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第11項に記載の共存誤
差補正装置。 21 前記各パラメトリツクデータの発生期間中
に計数される1個の検出信号パルスを計数する前
記計数手段に応答して前記ゲート手段が前記検出
兼保持手段から各パラメトリツクデータを通過さ
せるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第11項に記載の共存誤差補正装置。 22 前記各パラメトリツクデータ及び前記検出
信号の発生後直ちに前記補正手段が前記検出信号
に応答して前記パラメトリツクデータを変調し得
るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
11〜21項のいずれか1つに記載の共存誤差補
正装置。
[Scope of Claims] 1. In a method for correcting coexistence errors occurring in parametric data from particles obtained by a particle analyzer of a type that generates parametric data, one of the parametric data The parametric data represents at least one particle analysis parameter, and the coexistence error is introduced into the one data when the data is measured, and the coexistence error is such that the length of the measurement aperture as the particle passes through the measurement aperture. at least 2 in the horizontal direction
A coexistence error correction method in which the correction is performed at a point in time when a coexistence error occurs substantially in the one parameter data, the method comprising: A coexistence error caused by the coexistence of at least one particle; In the step of generating the one piece of parametric data in response to a measurement in the length direction of the aperture when particles pass through the length direction of the measurement aperture,
A step in which it is not possible to distinguish whether particles coexist within the aperture; B. A particle detection step of detecting the presence of individual particles within the aperture in a direction other than the length direction of the aperture; C. D. generating a detection signal in response to detecting the presence of individual particles within the particle; A coexistence error correction method comprising: a modulation step of modulating trick data to obtain corrected parametric data free of the coexistence error. 2. The method of claim 1, wherein the step of detecting particles comprises passing a beam of radiant energy through the aperture at right angles to a first direction in which particles pass through the aperture. Coexistence error correction method. 3. Coexistence according to claim 1 or 2, characterized in that the radiant energy beam is flattened so that all of the particles passing through the aperture pass through the flattened beam. Error correction method. 4. The height of the radiation beam in the first direction is at least approximately equal to the diameter of the particle, and the width of the beam is approximately equal to the width of the aperture. Coexistence error correction method described. 5. The particle detection step includes the step of optically detecting radiant energy received from the radiant energy beam that has passed through the aperture, and the optical detecting step includes the step of optically detecting radiant energy received from the radiant energy beam that has passed through the aperture, and the optical detecting step includes the step of optically detecting radiant energy received from the radiant energy beam that has passed through the aperture, The coexistence error correction method according to claim 1, further comprising the step of generating the detection signal in response to changing the received radiation energy distribution. 6. The optical detection step includes the step of providing a beam stop that receives almost all of the zero-order beam of the radiant energy beam itself and a face portion that receives almost all of the primary beam consisting of dispersed radiant energy of the radiant energy beam. A coexistence error correction method according to claim 5, characterized in that: 7. Coexistence error correction according to claim 6, wherein the detection signal generation step includes a step of generating a pulse in response to particles passing through the radiant energy beam. Method. 8. The step of modulating the parametric data includes a gating step of gating each parametric data in response to the detection signal so that correct parametric data free from the coexistence error is passed. A coexistence error correction method according to claim 1, characterized in that: 9. said detection signal includes pulses representative of individual detected particles, and said step of modulating said parametric data detects and holds the value of each parametric data and detects the detection occurring during the generation of each parametric data. counting the number of signal pulses, the gating step gating each of the detected and held parametric data in response to the number of detection signal pulses counted during the generation period of each of the parametric data; Claim 8 includes the step of
The coexistence error correction method described in Sec. 10. The coexistence error correction method according to claim 1, wherein each parametric data is modulated in response to the detection signal immediately after the respective parametric data and detection signal are generated. 11. In a device for correcting coexistence errors occurring in parametric data from particles obtained by a particle analyzer that generates parametric data, one of the parametric data has at least one represents a particle analysis parameter, and the coexistence error is introduced into the one data when measuring the data;
Furthermore, when the particle passes through the measurement aperture, it is assumed that at least two particles coexist in the length direction of the measurement aperture, so that the correction essentially causes a coexistence error in the one parametric data. A coexistence error correction device for performing a coexistence error correction at a time point, wherein the correction device: The means for generating the one piece of parametric data,
means 40, 42, 44 that cannot distinguish whether particles coexist within the aperture;
B. Particle detection means 56 for detecting the presence of individual particles other than along the length of said aperture and generating a detection signal in response to detecting the presence of individual particles within said aperture; C. After the one parametric data 42 and the detection signal 72 are generated, the one parametric data 42 is generated in response to the detection signal 72.
A coexistence error correction apparatus comprising: a correction means 74 for modulating the parameter data 76 to obtain corrected parameter data 76 free of the coexistence error. 12. The particles pass through the aperture in a first axial direction of the measurement aperture, and the particle detection means includes a beam of radiant energy passing through the aperture at right angles to the first direction. A coexistence error correction device according to claim 11. 13. Claim 12, characterized in that the radiant energy beam is a flat beam, and the dimensions of the beam are such that all of the particles passing through the aperture always pass through the flat beam. coexistence error correction device described in . 14 the beam of radiant energy is a flat beam, the dimensions of the beam are such that all of the particles passing through the aperture pass through the flat beam;
13. The coexistence error correction device according to claim 12, wherein the height in the direction is at least approximately equal to the diameter of the particle, and the width of the beam is approximately equal to the width of the aperture. 15. The particle detection means includes optical sensor means for receiving radiant energy from the radiant energy beam passing through the aperture, and the sensor means detects the received radiant energy distribution by the passage of the particles through the radiant energy beam. 15. The coexistence error correction device according to claim 12, wherein the detection signal is generated in response to a change in the coexistence error correction device. 16 the particles passing through the radiation beam act as a primary beam of radiant energy dispersed from the beam and a zero-order beam consisting of the radiant energy itself of the radiation beam, and the optical sensor means 16. The coexistence error correction device according to claim 15, further comprising a beam stop that receives almost all of the secondary beam and a face portion that receives almost all of the primary beam. 17. The coexistence error correction device of claim 15, wherein the detection signal includes a pulse generated in response to a particle passing through the radiant energy beam. 18. A claim characterized in that the correction means includes gate means for gating each parametric data in response to the detection signal and passing the corrected parametric data free of the coexistence error. The coexistence error correction device according to item 11. 19. The correction means includes gate means for gating each parametric data in response to the detection signal to allow the corrected parametric data free of the coexistence error to pass, and the detection signal a detection/holding means that includes a pulse representing a particle and in which the correction means detects and holds the value of each parametric data; and a counting means that counts the number of detection signal pulses occurring during a generation period of each parametric data. and wherein the gating means gates each parametric data from the detecting and holding means in response to the number of detection signal pulses counted by the counting means during the generation period of the parametric data. A coexistence error correction device according to any one of claims 11 to 17. 20 A patent characterized in that the gate means passes each parametric data from the detection and holding means in response to one detection signal pulse counted during the generation period of each of the parametric data. A coexistence error correction device according to claim 11. 21. The gate means passes each parametric data from the detection and holding means in response to the counting means for counting one detection signal pulse counted during the generation period of each parametric data. A coexistence error correction device according to claim 11, characterized in that: 22. Claims 11 to 21, characterized in that, immediately after the respective parametric data and the detection signal are generated, the correction means can modulate the parametric data in response to the detection signal. The coexistence error correction device according to any one of .
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