JPH0456672B2

JPH0456672B2 -

Info

Publication number: JPH0456672B2
Application number: JP24784484A
Authority: JP
Inventors: Eiichi Konuma; Yoji Kawamura; Hiroshi Obana; Takemi Aizawa; Motomi Tamai; Tsuguya Inagaki; Minoru Tokita
Original assignee: Sankyo Dengyo Corp
Current assignee: Sankyo Dengyo Corp
Priority date: 1984-11-22
Filing date: 1984-11-22
Publication date: 1992-09-09
Also published as: JPS61125451A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕この発明は粉砕系の運転制御装置に係り、特に
その粉砕系詰まり現象による運転不能状態を未然
に回避し得るようにすると共に、同一系統で運転
される複数の粉砕系の設定値を自動的に最適化し
得るように改良したものに関する。

〔発明の背景およびその問題点〕

一般に、例えばボールミル等の粉砕系の運転制
御装置は、その粉砕系に対する被粉砕物の送入量
制御としていわゆるコンスタント・フイード・ウ
エイア（以下CFWと記す）等によるCFW流量一
定制御方式が採用されていた。しかるに、この方
式では粉砕系の運転条件の変化を考慮していない
ために、必ずしも満足すべき制御結果を得ること
ができないものであつた。

このため近時、粉砕系の運転条件に従つて変化
する物理量を検出しそれが一定となるように
CFW流量を可変制御する如くしたCFW流量可変
制御方式が採用されている。

ところで、特にはボールミルを用いる粉砕系に
あつては、その運転中においていわゆるミル詰ま
りと称される不所望な粉砕系の詰まり現象により
被粉砕物がミル内に滞留してミル外に粉砕物とし
て排出されなくなつてしまうようなことが生じ、
遂には運転不能状態に陥ることがしばしば発生す
る。特に、後者の方式においていわゆるバケツ
ト・エレベータ負荷値を物理量として制御してい
る場合には、ミル詰まり傾向にある状態で検出さ
れるバケツト・エレベータ負荷値が小さくなるた
めに被粉砕物の送入量を増加させる如くしたフイ
ードバツクが掛かつてしまうことになり、逆にミ
ル詰まりを助長してしまう。また、ミル音圧を物
理量として制御する場合には、上述のような逆動
作にはならないまでも、回避動作が遅く、手遅れ
になつてしまうことが多い。このような傾向は他
の物理量による制御でも同様なことが言える。

そして、粉砕系詰まり現象が発生しその回復に
手間どると、粉砕系の運転効率が著しく低下する
ばかりでなく、得られる粉砕物製品の品質も不安
定となる如くした大きな損失を招いてしまう。

また、上記CFW流量可変制御方式は、予めミ
ルの粉砕量が最大となるときのバケツト・エレベ
ータ（BE）電流値やミル音圧値等を求め、これ
を設定値として与えることにより、ミルの運転条
件を最適条件に保持する方式である。しかし、給
鉱の性状変化、ミル内ボールの経時変化、その他
種々の外乱（第１種の外乱）により、BE電流及
び音圧の最適値がシフトすることが多く、このた
め常時ボールミルを最適条件で運転することは不
可能であつた。

そこで最近、音圧制御においては、隣接ミルの
止起動による影響を回避するための発明が提案さ
れている（特開昭57−194054号）。また、BE電流
や音圧等の設定値を可変し、最適点を自動的に探
し出す方法も提案されている（特願昭56−80508
号）。

しかしながら、この種の方法にあつては次のよ
うな問題があつた。すなわち、制御方式何如に拘
らず生じるプロセス変動（第２種の外乱）、或い
は制御方式に関係していても制御系で追随するに
要する時間より短い外乱に対しては無効であるだ
けでなく、誤つた方向に設定値を変える可能性が
あつた。

なお、前記第１種の外乱とは、給鉱量を制御す
るのに用いられる制御設定値の最適点を第６図に
示す如くずらすものである。また、前記第２種の
外乱とは、第７図に示す如く制御設定値がどこに
置かれていても粉砕量を増減させるものであり、
この外乱は同一系統で複数のミルが並列運転され
ている場合全ミルの共通外乱としてかかるのが通
常である。

〔発明の目的〕

そこで、この発明は以上のような点に鑑みてな
されたもので、粉砕系詰まり現象による運転不能
状態を未然に回避し得るようにするか、万一その
ような傾向になつても可及的短時間で回復し得る
ようにすることにより、運転効率を可及的に向上
し得るようにすると共に、得られる粉砕物製品の
品質を可及的に向上し得るようにし、さらには同
一系統の複数の粉砕系の各制御設定値を可変して
運転条件を最適化する場合に特に有害な第２種の
外乱を消去することができ、設定値の最適点探索
を正確にかつ迅速に行い得るように改良した極め
て良好な粉砕系の運転制御装置を提供することを
目的としている。

〔発明の概要〕

すなわち、この発明は上記目的を達成するため
に、粉砕系の運転条件によつて変化する物理量を
被制御信号として検出する検出手段と、この検出
手段からの被制御信号が一定となるように前記粉
砕系に供給すべき被粉砕物供給量を目標値に基い
て可変制御する定値制御モード用の制御信号を前
記粉砕系に送出する制御系とを具備し、同一系統
として並列的に運転される複数の粉砕系の各粉砕
量がそれぞれ最大となるようミルの各設定値を可
変制御する粉砕系の運転制御装置において、前記
検出手段からの被制御信号が前記目標値より低い
第１のレベルL₁以下に低下した状態を前記粉砕
系が詰まり傾向にある状態であると判断するため
に必要となるL₁レベルデータおよび前記粉砕系
が詰まり傾向にある状態であると判断された状態
で前記被粉砕物送入量を所定の低レベルF₁に設
定するために必要となるF₁レベルデータならび
に前記検出手段からの被制御信号が少なくとも前
記第１のレベルL₁より高い第２のレベルL₂以上
に回復した状態を前記粉砕系が詰まり傾向にある
状態から回復した状態であると判断するために必
要となるL₂レベルデータとが予め記憶されてい
る記憶手段と、前記検出手段からの被制御信号が
前記記憶手段から読み出される前記L₁レベルデ
ータより低下したことを判断する第１の判断手段
と、この第１の判断手段による判断結果に応じて
前記定値制御モードを一時停止状態とする指令を
前記制御系から前記粉砕系に送出せしめると共
に、前記記憶手段から読み出されるF₁レベルデ
ータに基いて設定した粉砕系詰まりモード時用の
送入量を与える制御信号を前記制御系から前記粉
砕系に送出せしめる粉砕系詰まり処理モード時用
の送入量設定手段と、前記検出手段からの被制御
信号が前記記憶手段から読み出される前記L₂レ
ベルデータ以上に回復したことを判断する第２の
判断手段と、この第２の判断手段による判断結果
に応じて前記定値制御モードに復帰せしめる指令
を前記制御系から前記粉砕系に送出する指令手段
と、前記複数の粉砕系のそれぞれの粉砕系の各設
定値を当該粉砕系の単位時間当り粉砕量F_Aおよ
びこれに隣接する粉砕系の単位時間当り粉砕量
F_Bとの差（F_A−F_B）が最大となるよう可変制御
する制御手段とを具備したことを特徴としてい
る。

〔発明の実施例〕

以下図面を参照してこの発明の一実施例につき
詳細に説明する。

先ず基本例について説明すると、第１図におい
て１０は粉砕系であり、ボールミル１１、バケツ
ト・エレベータ１２、セパレータ１３、ベルト・
スケール１４およびマイクロホンの如き音圧検出
器１５ａ，１５ｂ等から構成されている。そし
て、前記ボールミル１１から排出された被粉砕物
であるクリンカを粉砕した粉砕クリンカは、バケ
ツト・エレベータ１２を介してセパレータ１３に
移送される。このセパレータ１２に移送された粉
砕クリンカはここで分級されることによつて、一
部がその排出口１３１から粉砕物製品として排出
され、残分がリターン・パス１３２を介して再度
ボールミル１１内に投入される。

また、被粉砕物であるクリンカは、ベルト・ス
ケール１４により後述する制御系としてのコント
ロール・ユニツト３０から出力される制御信号に
よる指令に応じた量だけボールミル１１内に投入
されるものとなつている。

なお、前記バケツト・エレベータ１２には、そ
の駆動源である図示しないモータの駆動負荷（例
えばバケツト・エレベータ電流または電力等）を
検出するための検出器１６が設けられている。

また、前記ボールミル１１にはミル駆動負荷
（例えば電力原単位Ｅ）を検出するための検出器
１７が設けられ、且つ前記リターン・パス１３２
には粉砕クリンカのリターン量を検出するための
検出器１８が設けられている。

そして、前記各検出器１５ａ，１５ｂ，１６，
１７，１８からの各検出出力はそれぞれコントロ
ール・ユニツト３０のアナログ・デジタル・コン
バータ（以下ADCと記す）３１に上記粉砕系１
０の運転条件に従つて変化する物理量を与える被
制御信号成分として供給されている。

一方、前記制御系としてのコントロール・ユニ
ツト３０は上記ADC３１の外にデジタル・イン
プツト・ユニツト（以下DIと記す）３２、中央
演算処理装置（以下CPUと記す）３３、リー
ド・オンリ・メモリ（以下ROMと記す）３４
ａ、ランダム・アクセス・メモリ（以下RAMと
記す）３４ｂ、インターフエイス３５およびデジ
タル・アナログ・コンバータ（以下DACと記す）
３６等から構成されている。

そして、前記ADC３１に入力された上記各検
出出力つまり被制御信号および粉砕系詰まり検出
信号成分はデジタル化された後、DI３２を介し
てCPU３３に供給される。

ここで、CPU３３はROM３４ａに格納されて
いるプログラム内容に従つて上記入力信号として
の被制御信号および粉砕系詰まり検出信号成分と
RAM３４ｂに予めに登録されている通常の自動
制御による定値制御モードのための目標設定値デ
ータおよび後述する粉砕系詰まり処理モードにお
いて必要となる各データとに基いていわゆるPID
演算やその他の必要な演算を行なつていわゆる
CFW流量可変制御方式によつた前記通常の定値
制御モード用および粉砕系詰まり処理モード用の
各制御信号をインターフエイス３５、DAC３６
を介してアナログ化して前記粉砕系１０における
ベルト・スケール１４に供給する如くなされてい
る。

なお、CPU３３にはDI３２を介して運転スイ
ツチ３７からの運転オンまたはオフ信号が供給さ
れる如くなされている。

また、RAM３４ｂには被粉砕物送入量に関す
る通常の自動制御による定値制御モード時用の目
標設定値データの外に、粉砕系詰まり処理モード
用に必要となる前記各検出器１５ａ，１５ｂ，１
６，１７，１８からの粉砕系詰まり検出信号が前
記通常の定値制御モード時用の目標値設定データ
より低い第１のレベルL₁以下に低下した状態を
前記粉砕系１０が詰まり傾向にある状態であると
判断するために必要となるL₁レベルデータおよ
び前記粉砕系１０が詰まり傾向にある状態である
と判断された状態すなわち粉砕系詰まり処理モー
ド時に前記被粉砕物送入量を所定の低レベルF₁
に設定するために必要となるF₁データならびに
前記各検出器１５ａ，１５ｂ，１６，１７，１８
からの粉砕系詰まり検出信号が少なくとも前記第
１のレベルL₁より高い第２のレベルL₂以上に回
復した状態を前記粉砕系１０が詰まり傾向にある
状態からの回復した状態であると判断するために
必要となるL₂レベルデータとが書き込まれてい
る。

次に、以上のような構成をとる粉砕系の運転制
御装置の動作について第２図に示すフローチヤー
トにより説明する。

すなわち、ステツプS₁において運転スイツチ３
７がオンされると、CPU３３はその運転オン信
号を取り込んで、ROM３４ａから運転制御動作
のためのプログラムを読み出す。そして、先ずス
テツプS₂の起動処理モードか開始される。次ぎ
に、ステツプS₃に進んで前記起動処理モードが安
定した時点で通常の自動制御による定値制御モー
ドに移行せしめる。次ぎに、ステツプS₄に進んで
粉砕系１０が詰まり傾向にある状態であるか否か
を判断する。このステツプS₄での判断はCPU３
３がRAM３４ｂからL₁レベルデータを読み出し
て各検出器１５ａ，１５ｂ，１６，１７，１８
（特には音圧検出器１５ａ，１５ｂ）からの粉砕
系詰まり検出信号が該L₁（例えば定値制御モード
時の目標設定データの60％）レベル以下に低下し
たか否かを判断することによつてなされる。そし
て、このステツプS₄での判断がNOであればステ
ツプS₄に戻つて定値制御モードを継続し遂次上述
と同様の判断をなさしめるが、YESであれば粉
砕系１０が詰まり傾向にある状態であると判断し
て次ぎのステツプS₅に進んで定値制御モードを一
時停止状態として以下のような粉砕系詰まり処理
モードを遂行する。

すなわち、先ずステツプS₆においてCPU３３
はRAM３４ｂからF₁データを読み出して被粉砕
物送入量をF₁（例えば上記目標値設定データの０
乃至50％）レベル以下に低下せしめる制御信号を
制御系３０から粉砕系１０に送出する。次ぎに、
ステツプS₇に進んでRAM３４ｂからL₂レベルデ
ータを読み出して粉砕系詰まり検出信号が該L₂
（例えば上記目標値設定データの80％）レベル以
上に回復したか否かを判断する。このステツプS₇
での判断がNOであれば上記ステツプS₆に戻つて
送入量をF₁レベル以下に保持せしめるが、YES
であれば粉砕系１０が詰まり状態から回復したと
判断して次ぎのステツプS₈に進んで定値制御モー
ドに復帰せしめた後、上記ステツプS₄に戻つて上
述と同様な粉砕系詰まり傾向にある状態であるか
否かの判断を繰り返しながら定値制御モードを継
続せしめることになる。そして、このような定値
制御モードを所望時間遂行した後、ステツプS₉で
運転スイツチがオフされると、CPU３３はDI３
２を介してその運転オフ信号を取り込んで運転制
御動作を停止せしめる指令を制御系３０から粉砕
系１０に送出する。これによつて、一連の運転制
御動作が終了することになる。

なお、以上において起動処理モードとは、運転
開始時に必要な初期送入量を設定して実際にその
量だけの被粉砕物を送入して運転制御動作を開始
するに必要な処理を遂行するモードである。ま
た、定値制御モードとは、前述したようにCPU
３３によつて各検出器１５ａ，１５ｂ，１６，１
７，１８（特には音圧力検出器１５ａ，１５ｂ）
から検出される被制御信号がRAM３４ｂから読
み出される目標値設定データに基いて一定となる
ようにCFW流量可変制御方式によつて遂行され
る通常の自動制御によつたモードである。

ところで、以上の基本例においては、被制御信
号と粉砕系詰まり検出信号とがいずれも音圧検出
器１５ａ，１５ｂから検出されるものである場合
が望ましいとして説明したが、これに限るもので
なく例えば一方をバケツト・エレベータ１２の負
荷値を検出するための検出器１６からのものと
し、且つ他方を音圧検出器１５ａ，１５ｂからの
ものとする如く互いに異なる検出器からのものと
してもよい。そして、前者の場合上記L₁、L₂お
よびF₁の各レベルは前述したようにそれぞれ通
常の定値制御モードにおける目標値設定データに
予め定められた一定比率を乗じた値に設定される
が、後者の場合のL₁、L₂およびF₁の各レベルに
ついてはそれぞれ単に定められた一定値に設定し
てよい。

すなわち、以上のような基本例に係る粉砕系の
運転制御装置にあつては、通常の定値制御モード
時において常に粉砕系詰まり検出信号（被制御信
号）を監視して粉砕系の詰まり傾向を早めに検出
し、被粉砕物の送入量を強制的に減少させること
により、粉砕系が詰まり状態には至らせないよう
にするか、万一粉砕系が詰まり状態に至つてしま
つた場合でも早めに回復し得るようにすることが
できる。これによつて、粉砕系詰まり状態に起因
して運転不能状態になつてしまうことを未然に確
実に防止することができるので、運転効率を可及
的に向上し得ると共に、得られる粉砕物製品の品
質を可及的に向上せしめることが可能となる。

第３図は以上のような基本例を同一系統の複数
の粉砕系に適用した粉砕装置システムの一実施例
を示す概略構成図であり、説明にない部分は第１
図のそれと同様になされているものとする。図中
１０，２０は粉砕系であり、第１の粉砕系１０は
ボール・ミル１１、バケツト・エレベータ（以下
BEと略記する）は、セパレータ１３、ベルト・
スケール１４及びマイクロホン１５ａ，１５ｂ等
から構成されている。ボール・ミル１１より排出
される粉砕された被粉砕物である粉砕クリンカ
は、BE１２によりセパレータ１３に移送される。
セパレータ１３に移送された粉砕クリンカは分級
され、一部は製品として排出され、残分はリター
ン回路を介して再度ミル１１内に投入される。ま
た、被粉砕物であるクリンカは、ベルト・スケー
ル１４により後述するコントロール・ユニツト３
０からの指令に応じた量だけミル１１内に投入さ
れるものとなつている。なお、BE１２には、そ
の駆動源であるモータ（図示せず）の駆動電流
（BE電流）を検出するための電流検出器１６が設
けられている。

一方、前記第２の粉砕系２０は、上述した第１
の粉砕系と同様にボール・ミル２１、BE２２、
セパレータ２３、ベルト・スケール２４、マイク
ロホン２５ａ，２５ｂ及び電流検出器２６等から
構成されている。そして、マイクロホン１５ａ，
１５ｂ，２５ａ，２５ｂの各検出出力（音圧信
号）及び電流検出器１６，２６の各検出出力
（BE電流信号）は、コントロール・ユニツト３０
に供給される。

コントロール・ユニツト３０は、アナログ・デ
ジタル・コンバータ（以下ADCと略記する）３
１、デジタル・インプツト・ユニツト（以下DI
と略記する）３２、中央演算処理装置（以下
CPUと略記する）３３、メモリ３４ａ，３４ｂ
及びインターフエース３５等から構成されてい
る。前記入力した信号はADCによりデジタル化
されDIを介してCPU３３に供給される。CPU３
３は上記入力した信号とメモリ３４ａ，３４ｂに
登録された設定値とに基づきPID演算等の各種演
算を行うものであり、CPU３３からはCFW流量
制御信号が送出される。そして、このCFW流量
制御信号はインターフエース３５を介して前記ベ
ルト・スケール１４，２４に与えられるものとな
つている。

ところで、上記構成のシステムを用いた粉砕系
の運転制御装置において、粉砕系詰まり処理モー
ドは基本例と同様であるので、ここではそれ以外
の動作について第４図のフローチヤートを参照し
て説明する。

まず、コントロール・ユニツト３０のメモリ３
４ａには上記基本例のそれのように粉砕系詰まり
処理モード用のプログラムに加えて後述する設定
値最適化モード用のプログラムが登録されてい
る。またメモリ３４ｂにも上記粉砕系詰まり処理
モード用の各データに加えて第１ミル１１の制御
設定値（BE電流値若しくは音圧値）が登録され
ていると共に第２ミル２１の制御設定値が登録さ
れているものとする。ミル１１，２１に対しBE
電流や音圧等の特性値（マイクロホン１５ａ，１
５ｂ，２５ａ，２５ｂや電流検出器１６，２６等
による検出値）が被制御信号としてコントロー
ル・ユニツト３０に入力されると、CPU３３で
は上記設定値及び特性値に基づきPID演算が行わ
れ、CFW流量制御信号が出力される。この制御
信号は、ミル１１，２１の各特性値がそれぞれの
設定値と等しくなるようミル１１，２１へのクラ
ンカ供給量を制御するためのものである。また、
CPU３３ではミル１１，２１の各粉砕量が一定
時間積算される。積算時間が終了すると、それぞ
れのミル１１，２１の平均粉砕量（単位時間当り
の粉砕量）F_A，F_Bが算出される。

次いで、上記平均粉砕量F_A，F_Bが比較され、
その差が算出される。ここで、制御対象とするミ
ルを例えば第１ミル１１とすると、CPU３３で
は（F_A−F_B）が算出され、この差が前回の平均
粉砕量の差と比較される。そして、上記差（F_A
−F_B）の変化量が規定の値より大きいか否かが
判定される。変化量が規定の値より大きい場合、
第１ミル１１の前記設定値が変更されて最初の処
理に戻る。つまり、上記設定値は前記差（F_A−
F_B）が大きくなるよう変更される。また、変化
量が規定の値より小さい場合、規定の回数まで同
一設定で上記処理が繰り返される。変化量が規定
の値より小さいことが規定回数以上続いた場合、
第１ミル１１の設定値は最適化したと見做され、
制御対象ミルが第１ミル１１から第２ミル２１に
切り換えられる。そして、上記と同様にして第２
ミル２１の設定値が最適化されるまで該設定値の
変更が続けられる。この場合、前記平均粉砕量の
差は（F_B−F_A）として算出される。

第２ミル２１の設定値が最適化されると、再び
制御対象ミルが第１ミル１１に切り換えられる。
以後、この操作を繰り返すことにより、ミル１
１，２１の各設定値の最適化制御が行われ、ミル
１１，２１は常に最適条件で運転されることにな
る。

かくして本実施例によれば、基本例における粉
砕系詰まり処理モードに加えて複数のミル１１，
２１の設定値の最適点を正確に、かつ迅速に探索
できるので、ミル１１，２１を高効率で安定に運
転することができる。この効果を第５図を参照し
て具体的に説明すると次の通りである。

すなわち、ある時点t₀まで音圧最適点x₁でミル
を運転していたが、この最適点が給鉱の変化によ
り大幅に変化しx₂になつたとする。このとき、全
てのミル粉砕量が増加すると云う第２種外乱が同
時に入つたとすると、従来方法ではこの増加をた
またま音圧を低めに変えた結果と解釈することが
ある。この場合、外乱が十勾配の期間中音圧設定
値を継続して下げる処理をとることになり、音圧
設定値が真の最適点x₂より大きくずれる。このた
め、真の最適点x₂を探し出すのに手間どつてしま
う。この様子を第５図中破線Ｐで示す。これに対
し、隣接ミルとの差を評価する本実施例では、各
ミルに等しくかかる不要な第２種外乱を消去して
いるため、第５図中実線Ｑに示す如く新たな最適
点x₂を迅速に探し出すことができる。また、サン
プリング周期程度の周波数のランダムな外乱に対
しても、本実施例の方が最適点探索速度が速いの
も確認されている。

なお、本発明は上述した実施例に限定されるも
のではない。例えば、前記粉砕系としてはボー
ル・ミルに限るものではなく、各種のミルを用い
ることが可能である。さらに、ミルの個数は２個
に限らず、３個以上に適宜変更できるのは勿論の
ことである。この場合、対象とするミルの設定値
を該ミルに隣接するミルとの粉砕量差に基づき変
更し、かつ対象ミルを順次他のミルに切り換える
ようにすればよい。また、設定値として定める物
理量はBE電流や音圧等に限るものではなく、ミ
ルの運転条件によつて変化する値であればよい。
また、評価のための値としては、粉砕量の代りに
電力原単位Ｅを用いることが可能である。この場
合、前記（F_A−F_B）を最大にする代りに（E_A−
E_B）を最小にするように制御すればよい。その
他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々変形
して実施することができる。

〔発明の効果〕

したがつて、以上詳述したようにこの発明によ
れば、粉砕系詰まり現象による運転不能状態を未
然に回避し得るようにするか、万一そのような傾
向になつても可及的短時間で回復し得るようにす
ることにより、運転効率を可及的に向上し得るよ
うにすると共に、得られる粉砕物製品の品質を可
及的に向上し得るようにし、さらには同一系統に
ある複数の粉砕系の各制御設定値を可変して運転
条件を最適化する場合に特に有害な第２種の外乱
を消去することができ、設定値の最適点探索を正
確にかつ迅速に行い得るように改良した極めて良
好な粉砕系の運転制御装置を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る粉砕系の運転制御装置
の基本例を示す構成説明図、第２図は第１図の動
作を説明するためのフローチヤート、第３図は上
記基本例を適用した本発明の一実施例に係わる粉
砕装置システムを示す概略構成図、第４図は上記
システムの運転制御方法を説明するためのフロー
チヤート、第５図は上記方法による効果を説明す
るための模式図、第６図及び第７図は各種外乱に
よる設定値の最適点変化を説明するための模式図
である。１０，２０……粉砕系、１１，２１……ボール
ミル、１２，２２……バケツト・エレベータ、１
３，２３……セパレータ、１４，２４……ベル
ト・スケール、１５ａ，１５ｂ，２５ａ，２５ｂ
……音圧検出器（マイクロホン）、１３１……排
出口、１３２……リターン・パス、１６，１７，
１８，２６……検出器、３０……コントロール・
ユニツト（制御系）、３１……ADC、３２……
DI、３３……CPU、３４ａ……ROM、３４ｂ…
…RAM、３５……インターフエイス、３６……
DAC、３７……運転スイツチ。

Claims

【特許請求の範囲】

１粉砕系の運転条件によつて変化する物理量を
被制御信号として検出する検出手段と、この検出
手段からの被制御信号が一定となるように前記粉
砕系に供給すべき被粉砕物供給量を目標値に基い
て可変制御する定値制御モード用の制御信号を前
記粉砕系に送出する制御系とを具備し、同一系統
として並列的に運転される複数の粉砕系の各粉砕
量がそれぞれ最大となるようミルの各設定値を可
変制御する粉砕系の運転制御装置において、前記
検出手段からの被制御信号が前記目標値より低い
第１のレベルL₁以下に低下した状態を前記粉砕
系が詰まり傾向にある状態であると判断するため
に必要となるL₁レベルデータおよび前記粉砕系
が詰まり傾向にある状態であると判断された状態
で前記被粉砕物送入量を所定の低レベルF₁に設
定するために必要となるF₁レベルデータならび
に前記検出手段からの被制御信号が少なくとも前
記第１のレベルL₁より高い第２のレベルL₂以上
に回復した状態を前記粉砕系が詰まり傾向にある
状態から回復した状態であると判断するために必
要となるL₂レベルデータとが予め記憶されてい
る記憶手段と、前記検出手段からの被制御信号が
前記記憶手段から読み出される前記L₁レベルデ
ータより低下したことを判断する第１の判断手段
と、この第１の判断手段による判断結果に応じて
前記定値制御モードを一時停止状態とする指令を
前記制御系から前記粉砕系に送出せしめると共
に、前記記憶手段から読み出されるF₁レベルデ
ータに基いて設定した粉砕系詰まりモード時用の
送入量を与える制御信号を前記制御系から前記粉
砕系に送出せしめる粉砕系詰まり処理モード時用
の送入量設定手段と、前記検出手段からの被制御
信号が前記記憶手段から読み出される前記L₂レ
ベルデータ以上に回復したことを判断する第２の
判断手段と、この第２の判断手段による判断結果
に応じて前記定値制御モードに復帰せしめる指令
を前記制御系から前記粉砕系に送出する指令手段
と、前記複数の粉砕系のそれぞれの粉砕系の各設
定値を当該粉砕系の単位時間当り粉砕量F_Aおよ
びこれに隣接する粉砕系の単位時間当り粉砕量
F_Bとの差（F_A−F_B）が最大となるよう可変制御
する制御手段とを具備したことを特徴とする粉砕
系の運転制御装置。