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JPH0457462B2 - - Google Patents
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JPH0457462B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0457462B2
JPH0457462B2 JP60262504A JP26250485A JPH0457462B2 JP H0457462 B2 JPH0457462 B2 JP H0457462B2 JP 60262504 A JP60262504 A JP 60262504A JP 26250485 A JP26250485 A JP 26250485A JP H0457462 B2 JPH0457462 B2 JP H0457462B2
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JP
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foreign object
object detection
mirror
light
rotating
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Tadao Totsuka
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  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、NC機器等の産業機械における作業
テーブル並びにその周辺の異物を検出するために
用いて好適な光学式異物検出装置に関するもので
ある。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an optical foreign object detection device suitable for use in detecting foreign objects on and around work tables in industrial machines such as NC equipment. .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来より、NC機器等の自動化装置の一部にお
いては、その作業テーブル上の異物を検出するた
めに、発光素子と受光素子とを作業テーブルを挟
んで複数個対向配置し、異物検出装置を構成して
いる。
Conventionally, in some automation equipment such as NC equipment, in order to detect foreign objects on the work table, a foreign object detection device is configured by arranging multiple light emitting elements and light receiving elements facing each other with the work table in between. are doing.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、このような異物検出装置による
と、隣接する一対の発光素子および受光素子の間
隔によつて異物検出性能が決まり、この異物検出
性能を高めようとすると、多数の発・受光素子を
細かい間隔で配置しなければならず、極めて高価
な検出装置となるものであつた。
However, according to such a foreign object detection device, the foreign object detection performance is determined by the spacing between a pair of adjacent light emitting elements and light receiving elements. This resulted in an extremely expensive detection device.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明はこのような問題点に鑑みてなされたも
ので、ハーフミラーを透過して照射される光の反
射方向を回転ミラーを回転させながら可変すると
共に、被異物検出板面に隣接して、この板面上を
横断して照射される前記回転ミラーの反射光を反
射し前記回転ミラーおよびハーフミラーの鏡面を
経由して検出器に導く反射面を配置し、ハーフミ
ラーの鏡面に回転ミラーの反射光が直接照射され
る時点を原点位置とし、前記反射面を経由して間
接的に照射される範囲を異物検出範囲として、こ
の異物検出範囲を前記原点位置を基準にして記憶
するようにしたものである。
The present invention has been made in view of these problems, and it changes the reflection direction of the light transmitted through the half mirror and irradiated by rotating the rotating mirror. A reflecting surface is arranged to reflect the reflected light of the rotating mirror that is irradiated across the plate surface and guide it to the detector via the mirror surfaces of the rotating mirror and the half mirror. The point at which the reflected light is directly irradiated is defined as an origin position, the range indirectly irradiated via the reflective surface is defined as a foreign object detection range, and this foreign object detection range is stored with reference to the origin position. It is something.

〔作用〕[Effect]

したがつてこの発明によれば、原点位置を基準
にした異物検出範囲の初期設定が可能となる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to initialize the foreign object detection range based on the origin position.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明に係る光学式異物検出装置を詳細
に説明する。第1図はこの光学式異物検出装置の
一実施例を示す構成図である。同図において、1
はNC機器等の産業機械における作業テーブル、
2aおよび2bは投光源、3aおよび3bは投光
源2aおよび2bより出射される光を集束する凸
レンズ、4aおよび4bはレンズ3aおよび3b
の集束する光(以下、スポツトビームと呼ぶ)を
透過するハーフミラー、5aおよび5bはハーフ
ミラー4aおよび4bを透過して照射されるスポ
ツトビームを反射する回転ミラー、6aおよび6
bはこの回転ミラー5aおよび5bを回転しこの
ミラーにおいて反射するスポツトビームの反射方
向を反時計方向に回転するパルスモータ、7aお
よび7bは作業テーブル1を挟んで対向配置され
た反射面である。反射面7aおよび7bはプリズ
ムあるいはガラス玉を集めて構成されており、回
転ミラー5aおよび5bにて回転しながら反射す
るスポツトビームがθなる範囲角においてこの反
射面7aおよび7bに照射されるようになつてい
る。そして、反射面7aおよび7bに照射される
スポツトビームは、この反射面において反射し、
回転ミラー5aおよび5bの鏡面を経由してハー
フミラー4aおよび4bの鏡面に導びかれて反射
し、凸レンズ8aおよび8bを介して受光素子9
aおよび9bにおいて受光されるようになつてい
る。そして、受光素子9aおよび9bにて受光さ
れる光は、この素子においてその光の強さに応じ
た電圧値に変換され、それぞれ同一構成の異物検
出ユニツト10,10に入力されるようになつて
いる。尚、反射面7aと7bとは段違いに対向配
置され、回転ミラー5aの反射するスポツトビー
ムが反射面7aに、回転ミラー5bの反射するス
ポツトビームが反射面7bに交叉することなく照
射されるようになつている。
Hereinafter, the optical foreign object detection device according to the present invention will be explained in detail. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of this optical foreign object detection device. In the same figure, 1
is a work table for industrial machinery such as NC equipment,
2a and 2b are light projection sources, 3a and 3b are convex lenses that converge the light emitted from the light projection sources 2a and 2b, and 4a and 4b are lenses 3a and 3b.
Half mirrors 5a and 5b transmit the focused light (hereinafter referred to as a spot beam), rotating mirrors 6a and 6 reflect the spot beams transmitted through the half mirrors 4a and 4b.
b is a pulse motor which rotates the rotary mirrors 5a and 5b in a counterclockwise direction so that the direction of reflection of the spot beam reflected by the mirrors is counterclockwise; The reflective surfaces 7a and 7b are composed of a collection of prisms or glass beads, and the spot beams reflected while rotating on the rotating mirrors 5a and 5b are irradiated onto the reflective surfaces 7a and 7b at an angle of θ. It's summery. The spot beams irradiated onto the reflective surfaces 7a and 7b are reflected at the reflective surfaces,
It is guided and reflected by the mirror surfaces of half mirrors 4a and 4b via the mirror surfaces of rotating mirrors 5a and 5b, and is transmitted to the light receiving element 9 via convex lenses 8a and 8b.
The light is received at points a and 9b. The light received by the light-receiving elements 9a and 9b is converted into a voltage value according to the intensity of the light in these elements, and is input into foreign object detection units 10 and 10, respectively, which have the same configuration. There is. The reflective surfaces 7a and 7b are arranged opposite to each other at different levels, so that the spot beam reflected by the rotary mirror 5a is irradiated onto the reflective surface 7a, and the spot beam reflected by the rotary mirror 5b is irradiated without crossing the reflective surface 7b. It's getting old.

第2図は、この異物検出ユニツト10の内部構
成を示すブロツク図であり、受光素子9aあるい
は9bを介して入力される電気信号は、コンパレ
ータ11および12の非反転入力端に入力される
ようになつており、コンパレータ11および12
の反転入力端には比較電圧V1およびV2(V1>V2
が設定されている。また、コンパレータ11の出
力はカウンタ13のクリア端子13aおよびシー
ケンスロジツク14の第1の入力端子14aに入
力されるようになつており、コンパレータ12の
出力はシーケンスロジツク14の第2の入力端子
14bに入力されるようになつている。カウンタ
13はパルス発生器15の作るパルス数をカウン
トするようになつており、モード切替スイツチ1
8が閉成状態にある時(初期設定モードにある
時)、シーケンスロジツク14の入力端子14b
にコンパレータ12を介して「H」レベルの信号
が入力された時点で、カウンタ13のカウント数
がメモリ16に記憶されるようになつている。ま
た、シーケンスロジツク14の入力端子14bに
入力される信号が「H」レベルより「L」レベル
に切り替わる時、その時点のカウント数がメモリ
17に記憶されるようになつている。このメモリ
16および17に記憶されるカウント値は入力端
子14aにコンパレータ11を介して「H」レベ
ルの信号が入力された時点でリセツトされるよう
になつている。
FIG. 2 is a block diagram showing the internal configuration of this foreign object detection unit 10, and the electric signal inputted via the light receiving element 9a or 9b is inputted to the non-inverting input terminals of the comparators 11 and 12. comparators 11 and 12
The comparison voltages V 1 and V 2 (V 1 > V 2 ) are present at the inverting input of
is set. Further, the output of the comparator 11 is input to the clear terminal 13a of the counter 13 and the first input terminal 14a of the sequence logic 14, and the output of the comparator 12 is input to the second input terminal of the sequence logic 14. 14b. The counter 13 is designed to count the number of pulses generated by the pulse generator 15, and the counter 13 is designed to count the number of pulses generated by the pulse generator 15.
8 is in the closed state (in the initial setting mode), the input terminal 14b of the sequence logic 14
The count number of the counter 13 is stored in the memory 16 at the time when an "H" level signal is inputted through the comparator 12. Furthermore, when the signal input to the input terminal 14b of the sequence logic 14 switches from the "H" level to the "L" level, the count number at that time is stored in the memory 17. The count values stored in the memories 16 and 17 are reset when an "H" level signal is input to the input terminal 14a via the comparator 11.

一方、モード切替スイツチ18が開放状態にあ
る時(動作モードにある時)は、比較器19にお
いてカウンタ13におけるカウント数とメモリ1
6および17に記憶されたカウント数とが比較さ
れその比較結果がシーケンスロジツク14に送ら
れるようになつている。すなわち、比較器19は
カウンタ13におけるカウント値がメモリ16に
記憶されたカウント値よりも大きくなつた時、シ
ーケンスロジツク14に異物検出開始時期を知ら
せる信号を送り、カウンタ13におけるカウント
値がメモリ17に記憶されたカウント値よりも大
きくなつた時、異物検出終了時期を知らせる信号
をシーケンスロジツク14に送るようになつてい
る。そして、シーケンスロジツク14は、異物検
出開始時期を知らせる信号が入力されてから異物
検出終了時期を知らせる信号が入力されるまでの
間に、入力端子14bに入力される信号が「L」
レベルとなつた時、出力端子14cを介して異物
検出信号を送出するようになつている。尚、20
は増幅器であり、パルス発生器15の作るパルス
を増幅してパルスモータ6aあるいは6bに供給
するようになつている。
On the other hand, when the mode selector switch 18 is in the open state (in the operating mode), the comparator 19 compares the count number in the counter 13 with the memory 1.
The counts stored in 6 and 17 are compared and the comparison result is sent to the sequence logic 14. That is, when the count value in the counter 13 becomes larger than the count value stored in the memory 16, the comparator 19 sends a signal to the sequence logic 14 informing the time to start foreign object detection, and the count value in the counter 13 becomes larger than the count value stored in the memory 16. When the count value becomes larger than the count value stored in the count value, a signal is sent to the sequence logic 14 to notify the end time of foreign object detection. Then, in the sequence logic 14, the signal input to the input terminal 14b becomes "L" from the input of the signal informing the start time of foreign object detection until the input of the signal informing the end time of foreign object detection.
When the level is reached, a foreign object detection signal is sent out through the output terminal 14c. In addition, 20
is an amplifier, which amplifies the pulses generated by the pulse generator 15 and supplies the amplified pulses to the pulse motor 6a or 6b.

次に、このように構成された光学式異物検出装
置の動作を説明する。まず、回転ミラー5a側の
動作を説明する。第1図に示す投光源2aの出射
する光はレンズ3aによつて集束されてスポツト
ビームとなり、ハーフミラー4aを透過して回転
ミラー5aに照射される。今、この回転ミラー5
aがパルスモータ6aにより回転駆動されている
ものとすると、回転ミラー5aにおいて反射する
スポツトビームはその反射方向を刻々と変えなが
ら反時計方向に回転する。第3図は、回転ミラー
5aの回転に伴つて受光素子9aにて受光される
光の強さを示す波形図である。すなわち、回転ミ
ラー5aの反射面が入射されるスポツトビームに
対して第4図aに示す如く略直角となつた時点で
(以下、この位置を原点位置と呼ぶ)、強い光が受
光素子9aにて受光され(第3図のa点)、その
後回転ミラー5aの回転に伴つて受光素子9aに
照射される光が一時途絶える(第3図のb点)。
そして、回転ミラー5aが第4図bに示す様な位
置まで回転した時、回転ミラー5aの反射するス
ポツトビームが反射面7aに照射され始め、回転
ミラー5aおよびハーフミラー4aの鏡面を経由
して受光素子9aにて受光されるようになる(第
3図のc点)。この時、受光素子9aにて受光さ
れる光の強さは、回転ミラー5aの反射するスポ
ツトビームが反射面7aを経由して間接的に入射
されるので、回転ミラー5aにおいて直接反射し
受光される光(第4図a)よりも弱く、この光は
回転ミラー5aがさらに回転しそのスポツトビー
ムが第4図cに示す如く反射面7aの終端に移動
するまで継続して受光される(第3図のd点)。
Next, the operation of the optical foreign object detection device configured as described above will be explained. First, the operation of the rotating mirror 5a will be explained. The light emitted from the light projection source 2a shown in FIG. 1 is focused by a lens 3a to become a spot beam, passes through a half mirror 4a, and is irradiated onto a rotating mirror 5a. Now, this rotating mirror 5
Assuming that a is rotationally driven by a pulse motor 6a, the spot beam reflected by the rotating mirror 5a rotates counterclockwise while changing its reflection direction every moment. FIG. 3 is a waveform diagram showing the intensity of light received by the light receiving element 9a as the rotating mirror 5a rotates. That is, at the point when the reflective surface of the rotating mirror 5a becomes approximately perpendicular to the incident spot beam as shown in FIG. Then, as the rotating mirror 5a rotates, the light irradiated onto the light receiving element 9a is temporarily interrupted (point b in FIG. 3).
When the rotating mirror 5a rotates to the position shown in FIG. 4b, the spot beam reflected by the rotating mirror 5a begins to be irradiated onto the reflecting surface 7a, and passes through the mirror surfaces of the rotating mirror 5a and the half mirror 4a. The light is now received by the light receiving element 9a (point c in FIG. 3). At this time, the intensity of the light received by the light receiving element 9a is such that the spot beam reflected by the rotating mirror 5a is incident indirectly via the reflecting surface 7a, so the intensity of the light is directly reflected and received by the rotating mirror 5a. This light is received continuously until the rotating mirror 5a rotates further and its spot beam moves to the end of the reflecting surface 7a as shown in FIG. 4c (Fig. 4c). (point d in Figure 3).

つまり、回転ミラー5aの回転に伴い受光素子
9aを介して第3図と略同一波形の電圧信号が異
物検出ユニツト10のコンパレータ11および1
2に入力されるようになる。そして、異物検出ユ
ニツト10は前記原点位置において、高いレベル
の電圧信号(以下、原点信号と呼ぶ)が入力され
た時、コンパレータ11および12より「H」レ
ベルの信号を送出し、低いレベルの電圧信号が入
力された時、コンパレータ12のみより「H」レ
ベルの信号を送出する。すなわち、コンパレータ
11の反転入力端に設定される電圧V1は、第3
図のa点において入力される電圧値よりも低く且
つc点において入力される電圧値よりも高く設定
されており、コンパレータ12の反転入力端に設
定される電圧V2は第3図のc点において入力さ
れる電圧値よりも低く設定されている。ここで、
今、モード切替スイツチ18を初期設定モードに
すると、コンパレータ11の出力が「H」レベル
となつた時点(第3図のa点)でカウンタ13に
おけるカウント値およびメモリ16,17の記憶
内容がリセツトされる。そして、コンパレータ1
1の出力が「L」レベルとなつた時点から(第3
図のb点)カウンタ13がそのカウントを開始し
時める。そして、第3図のc点に達してコンパレ
ータ12が「H」レベルの信号の送出を開始する
と、カウンタ13のカウント値がメモリ16に記
憶される。しかして、第3図のd点に達するとコ
ンパレータ12の出力が「H」レベルより「L」
レベルに変わり、その時のカウンタ13のカウン
ト値がメモリ17に記憶される。つまり、原点位
置を基準とする異物検出範囲角θがメモリ16お
よび17にパルスカウント数として記憶され異物
検出範囲の初期設定が行なわれる。この異物検出
範囲の初期設定は、作業テーブル1上に何の異物
もない状態において行なわれ、第1図に示すよう
に異物21が異物検出開始線e上にあるときの検
出に有効である。
That is, as the rotating mirror 5a rotates, a voltage signal having substantially the same waveform as that shown in FIG.
2 will be input. When a high level voltage signal (hereinafter referred to as the origin signal) is input at the origin position, the foreign object detection unit 10 sends out an "H" level signal from the comparators 11 and 12, and outputs a low level voltage signal. When a signal is input, only the comparator 12 sends out an "H" level signal. That is, the voltage V 1 set at the inverting input terminal of the comparator 11 is
It is set lower than the voltage value input at point a in the figure and higher than the voltage value input at point c, and the voltage V 2 set at the inverting input terminal of the comparator 12 is set at point c in Figure 3. It is set lower than the voltage value input in . here,
Now, when the mode changeover switch 18 is set to the initial setting mode, the count value in the counter 13 and the contents stored in the memories 16 and 17 are reset when the output of the comparator 11 reaches the "H" level (point a in Fig. 3). be done. And comparator 1
From the point when the output of the first
Point b in the figure) The counter 13 starts counting. Then, when the point c in FIG. 3 is reached and the comparator 12 starts sending out an "H" level signal, the count value of the counter 13 is stored in the memory 16. When the point d in FIG. 3 is reached, the output of the comparator 12 goes from the "H" level to the "L" level.
The count value of the counter 13 at that time is stored in the memory 17. That is, the foreign object detection range angle θ with respect to the origin position is stored in the memories 16 and 17 as a pulse count number, and the foreign object detection range is initialized. This initial setting of the foreign object detection range is performed when there is no foreign object on the work table 1, and is effective for detection when the foreign object 21 is on the foreign object detection start line e as shown in FIG.

すなわち、モード切替スイツチ18を動作モー
ドにして異物の検出を行なうと、回転ミラー5a
が原点位置を通過した時点よりカウンタ13にお
ける零からのカウントが始まる。そして、このカ
ウンタ13におけるカウント値が比較器19にお
いて常に比較され、メモリ16に記憶されたカウ
ント値と等しくなると、シーケンスロジツク14
に異物検出開始時期を知らせる信号が送られる。
したがつて、回転ミラー5aの反射するスポツト
ビームが異物21に照射されて散乱し受光素子9
aに異物検出開始時期を知らせる反射光が入射さ
れなくとも、その時点を異物検出開始時期である
と判定することができ、この時のコンパレータ1
2の出力によりシーケンスロジツク14はその出
力端子14cより異物検出信号を送出し、この異
物検出信号を用いて異物が有ることが認識され
る。つまり、このような原点位置を基準とした異
物検出範囲の初期設定を行なうことにより、異物
検出開始線e上の異物を間違いなく異物として認
識することができ、誤認事故等の生ずる虜れがな
くなる。
That is, when the mode changeover switch 18 is set to the operation mode and foreign object detection is performed, the rotating mirror 5a
The counter 13 starts counting from zero at the time when the point passes the origin position. The count value of this counter 13 is constantly compared in the comparator 19, and when it becomes equal to the count value stored in the memory 16, the sequence logic 14
A signal is sent to notify the time to start detecting foreign objects.
Therefore, the spot beam reflected by the rotating mirror 5a is irradiated onto the foreign object 21 and scattered, and the spot beam is reflected by the light receiving element 9.
Even if the reflected light indicating the time to start detecting a foreign object is not incident on a, it is possible to determine that the time is the time to start detecting a foreign object, and the comparator 1 at this time
2, the sequence logic 14 sends out a foreign object detection signal from its output terminal 14c, and the presence of a foreign object is recognized using this foreign object detection signal. In other words, by initially setting the foreign object detection range based on the origin position, a foreign object on the foreign object detection start line e can be definitely recognized as a foreign object, eliminating the possibility of misidentification accidents. .

さらに、本実施例による異物検出装置において
は、作業テーブル1の長さに応じて異物検出範囲
の初期設定をその都度自動的に変更することがで
き、種々の長さの作業テーブル上の異物検出に簡
便に対応することができるという優れた効果があ
る。つまり、第5図に示すように回転ミラー5a
の中心から反射面7aまでの距離l1が例えば長く
なりl2となると、異物検出範囲角θが小さくなつ
てθ1となる。このため、第2図の異物検出ユニツ
ト10に設定した異物検出範囲が変わつてしまう
が、モード切替スイツチ18を初期設定モードに
すれば、異物検出範囲の初期設定が再度行なわ
れ、メモリ16および17に原点位置を基準とす
る新たなパルス数が記憶され異物検出角θ1に応じ
た異物検出範囲の初期設定が自動的に行なわれる
ようになる。
Furthermore, in the foreign object detection device according to this embodiment, the initial setting of the foreign object detection range can be automatically changed each time according to the length of the work table 1, and foreign object detection on work tables of various lengths can be performed. It has the excellent effect of being able to easily respond to. That is, as shown in FIG.
When the distance l 1 from the center of the reflection surface 7a to the reflective surface 7a increases, for example, to l 2 , the foreign object detection range angle θ becomes smaller to θ 1 . For this reason, the foreign object detection range set in the foreign object detection unit 10 shown in FIG. A new number of pulses based on the origin position is stored in , and the foreign object detection range is automatically initialized according to the foreign object detection angle θ 1 .

尚、本実施例においては、回転ミラー5aのみ
の動作について説明したが、回転ミラー5bの動
作についても回転ミラー5aと同一動作を行なう
ことは言うまでもなく、第1図の斜線で示した範
囲が本実施例における被異物検出板面となる。ま
た、本実施例においては、作業テーブル1の一部
の領域を被異物検出板面としたが全ての領域を被
異物検出板面にするように構成してもよく、作業
テーブル1の周辺部までをも異物検出範囲に含む
ように構成してもよいことは言うまでもない。
In this embodiment, the operation of only the rotary mirror 5a has been described, but it goes without saying that the operation of the rotary mirror 5b is the same as that of the rotary mirror 5a, and the shaded area in FIG. This is the surface of the foreign object detection plate in the example. Further, in this embodiment, a part of the work table 1 is used as the foreign object detection plate surface, but the entire area may be configured as the foreign object detection plate surface, and the peripheral area of the work table 1 It goes without saying that the foreign object detection range may also include the above.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明による光学式異物検
出装置によると、ハーフミラーを透過して照射さ
れる光の反射方向を回転ミラーを回転させながら
可変すると共に、被異物検出板面に隣接して、こ
の板面上を横断して照射される前記回転ミラーの
反射光を反射し前記回転ミラーおよびハーフミラ
ーの鏡面を経由して検出器に導く反射面を配置
し、ハーフミラーの鏡面に回転ミラーの反射光が
直接照射される時点を原点位置とし、前記反射面
を経由して間接的に照射される範囲を異物検出範
囲として、この異物検出範囲を前記原点位置を基
準にして記憶するようにしたので、原点位置を基
準にした異物検出範囲の初期設定が可能となり、
従来の如く多数の発・受光素子を細かい間隔で配
置せずとも、被異物検出板面上の異物の検出を簡
便な方法で精度良く行なうことができる。
As explained above, according to the optical foreign object detection device according to the present invention, the reflection direction of the light transmitted through the half mirror is varied while rotating the rotary mirror, and the A reflecting surface is arranged to reflect the reflected light of the rotating mirror that is irradiated across the plate surface and guide it to the detector via the mirror surfaces of the rotating mirror and the half mirror. The point at which the reflected light is directly irradiated is defined as an origin position, the range indirectly irradiated via the reflective surface is defined as a foreign object detection range, and this foreign object detection range is stored with reference to the origin position. Therefore, it is possible to initialize the foreign object detection range based on the origin position.
Foreign matter on the foreign matter detection plate surface can be detected with high accuracy in a simple manner without arranging a large number of light emitting/light receiving elements at close intervals as in the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る光学式異物検出装置の一
実施例を示す構成図、第2図はこの異物検出器に
用いる異物検出ユニツトの内部構成を示すブロツ
ク図、第3図はこの異物検出装置の受光素子にて
受光される光の強さを示す波形図、第4図は回転
ミラーの回転位置と該回転ミラーにおいて反射す
るスポツトビームの反射方向との関係を示す平面
図、第5図は回転ミラーの中心から反射面までの
距離が変化した時の異物検出範囲角の変化を示す
平面図である。 1……作業テーブル、2a,2b……投光源、
4a,4b……ハーフミラー、5a,5b……回
転ミラー、6a,6b……パルスモータ、7a,
7b……反射面、9a,9b……受光素子、10
……異物検出ユニツト。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the optical foreign object detection device according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the internal configuration of a foreign object detection unit used in this foreign object detector, and FIG. 3 is a block diagram showing the internal configuration of a foreign object detection unit used in this foreign object detector. FIG. 4 is a waveform diagram showing the intensity of light received by the light receiving element of the device; FIG. 4 is a plan view showing the relationship between the rotational position of the rotating mirror and the direction of reflection of the spot beam reflected by the rotating mirror; FIG. FIG. 2 is a plan view showing changes in the foreign object detection range angle when the distance from the center of the rotating mirror to the reflecting surface changes. 1...Work table, 2a, 2b...Light source,
4a, 4b...half mirror, 5a, 5b...rotating mirror, 6a, 6b...pulse motor, 7a,
7b... Reflective surface, 9a, 9b... Light receiving element, 10
...Foreign object detection unit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 ハーフミラーを透過して照射される光の反射
方向を回転しながら可変する回転ミラーと、被異
物検出板面に隣接して配置され該板面上を横断し
て照射される前記回転ミラーの反射光を反射し前
記回転ミラーおよびハーフミラーの鏡面を経由し
て検出器に導く反射面とを備え、前記ハーフミラ
ーの鏡面に前記回転ミラーの反射光が直接照射さ
れる時点を原点位置とし前記反射面を介して間接
的に照射される範囲を異物検出範囲としこの異物
検出範囲を前記原点位置を基準にして記憶するよ
うにしたことを特徴とする光学式異物検出装置。
1. A rotating mirror that changes the direction of reflection of light transmitted through the half mirror while rotating, and a rotating mirror that is placed adjacent to a foreign object detection plate surface and that irradiates across the plate surface. and a reflecting surface that reflects the reflected light and guides it to the detector via the mirror surfaces of the rotating mirror and the half mirror, and the origin position is defined as the point in time when the mirror surface of the half mirror is directly irradiated with the reflected light of the rotating mirror. An optical foreign object detection device characterized in that an area indirectly irradiated via a reflective surface is defined as a foreign object detection range, and this foreign object detection range is stored with reference to the origin position.
JP60262504A 1985-11-25 1985-11-25 Optical foreign-object detecting device Granted JPS62124859A (en)

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