JPH0457975B2 - - Google Patents
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- JPH0457975B2 JPH0457975B2 JP57211386A JP21138682A JPH0457975B2 JP H0457975 B2 JPH0457975 B2 JP H0457975B2 JP 57211386 A JP57211386 A JP 57211386A JP 21138682 A JP21138682 A JP 21138682A JP H0457975 B2 JPH0457975 B2 JP H0457975B2
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は超音波顕微鏡に関するものである。[Detailed description of the invention] The present invention relates to an ultrasound microscope.
超音波顕微鏡は従来種々のものが提案されてお
り、例えば第1図に示す構成のものがある。この
超音波顕微鏡においては、高周波パルス発生器1
で超高周波数のバースト波電気信号が発生され、
この電気信号がサーキユレータ2を介して圧電ト
ランスジユーサ3に供給され、ここで電気信号が
超音波に変換され、この超音波が音響レンズ(超
音波集束レンズ)4および超音波伝達媒体である
液体5を介して、走査制御装置6によりX軸およ
びY軸方向に2次元的に移動する試料台7上に載
置された試料8上に微小スポツトとして投射され
る。また、試料8からはその音響特性に応じて超
音波が反射され、この反射波は液体5を介して音
響レンズ4で集音され、圧電トランスジユーサ3
により電気信号に変換される。この電気信号はサ
ーキユレータ2を介してゲート回路9に供給さ
れ、ここで試料の情報以外の不要な信号が除去さ
れる。ゲート回路9の出力信号は増幅・検波回路
10で増幅、検波され、試料からの反射波の強度
に応じた検波信号を得、この検波信号が走査制御
装置6による試料台7の走査と同期されて試料面
上の対応する位置の輝度信号としてスキヤンコン
バータ11に記録され、この記録された輝度信号
が超音波像として陰極線管12上に表示される。
なお、高周波パルス発生器1、走査制御装置6、
ゲート回路9およびスキヤンコンバータ11の動
作は制御回路13により制御される。 Various types of ultrasonic microscopes have been proposed in the past, including one having the configuration shown in FIG. 1, for example. In this ultrasound microscope, a high frequency pulse generator 1
An ultra-high frequency burst wave electrical signal is generated,
This electric signal is supplied to a piezoelectric transducer 3 via a circulator 2, where the electric signal is converted into an ultrasonic wave. 5, the beam is projected as a minute spot onto a sample 8 placed on a sample stage 7 that moves two-dimensionally in the X-axis and Y-axis directions by a scan control device 6. Further, ultrasonic waves are reflected from the sample 8 according to its acoustic characteristics, and the reflected waves are collected by the acoustic lens 4 through the liquid 5 and transmitted to the piezoelectric transducer 3.
is converted into an electrical signal by This electrical signal is supplied to the gate circuit 9 via the circulator 2, where unnecessary signals other than sample information are removed. The output signal of the gate circuit 9 is amplified and detected by the amplification/detection circuit 10 to obtain a detection signal corresponding to the intensity of the reflected wave from the sample, and this detection signal is synchronized with the scanning of the sample stage 7 by the scan control device 6. The brightness signal at the corresponding position on the sample surface is recorded in the scan converter 11, and the recorded brightness signal is displayed on the cathode ray tube 12 as an ultrasonic image.
Note that the high frequency pulse generator 1, the scan control device 6,
The operations of gate circuit 9 and scan converter 11 are controlled by control circuit 13.
上述した超音波顕微鏡においては、圧電トラン
スジユーサ3から音響レンズ4に放出された超音
波は、音響レンズ4の凹面状のレンズ部と圧電ト
ランスジユーサ3との間で多重反射し、これらの
反射波が圧電トランスジユーサ3でそれぞれ電気
信号に変換されてサーキユレータ2を経てゲート
回路9に供給される。 In the ultrasonic microscope described above, the ultrasonic waves emitted from the piezoelectric transducer 3 to the acoustic lens 4 undergo multiple reflections between the concave lens portion of the acoustic lens 4 and the piezoelectric transducer 3, and The reflected waves are each converted into electrical signals by the piezoelectric transducer 3 and supplied to the gate circuit 9 via the circulator 2.
第2図Aは、制御回路13による制御の下で高
周波パルス発生器1からある短期間の間超高周波
のバースト波電気信号を発生せしめた場合に、ゲ
ート回路9に入力する信号の分布を示すもので、
P0は高周波パルス発生器1からサーキユレータ
2を通つて直接ゲート回路9に到達する漏洩信号
を表わし、P1,P2およびP3は圧電トランスジユ
ーサ3と音響レンズ4のレンズ部との間での第
1、第2および第3の反射波信号を表わす。この
ため、この種の超音波顕微鏡においては、例えば
第1反射波信号P1と第2反射波信号P2との間に
試料反射波信号Sが位置するように音響レンズ4
を設計し、制御回路13からゲート回路9に第2
図Bに示すようなゲートコントロール信号を供給
して第2図Cに示すように試料反射波信号Sのみ
を取出すようにしている。 FIG. 2A shows the distribution of signals input to the gate circuit 9 when the high-frequency pulse generator 1 generates an ultra-high frequency burst wave electrical signal for a short period of time under the control of the control circuit 13. Something,
P 0 represents the leakage signal that reaches the gate circuit 9 directly from the high-frequency pulse generator 1 through the circulator 2, and P 1 , P 2 and P 3 represent the leakage signal between the piezoelectric transducer 3 and the lens part of the acoustic lens 4. represents the first, second and third reflected wave signals at . Therefore, in this type of ultrasound microscope, the acoustic lens 4 is arranged such that the sample reflected wave signal S is located between the first reflected wave signal P1 and the second reflected wave signal P2 .
is designed, and a second
A gate control signal as shown in FIG. 2B is supplied to extract only the sample reflected wave signal S as shown in FIG. 2C.
ここでゲート回路9の出力信号(第2図C)に
ついて着目すると、音響レンズの焦点を試料内部
に送り込むと、試料からの反射波はその表面から
の反射波と内部からの反射波とから成つており、
一般には第3図に示すように試料表面からの反射
波S1が内部からの反射波S2よりも強く、増幅・検
波回路10はゲート回路9の出力信号を増幅し、
包絡線検波し、そのピークを検出するものである
為、陰極線管に表示される像は試料の表面からの
超音波像となる。すなわち従来の超音波顕微鏡の
場合、超音波が最も強く反射される試料表面又は
超音波が最も強く反射される内部の位置の像しか
表示することができず、超音波の反射強度に関係
せず試料表面又は内部の任意の位置の像を選択的
に表示することができなかつた。 Now, focusing on the output signal of the gate circuit 9 (Fig. 2C), when the focal point of the acoustic lens is sent into the sample, the reflected wave from the sample consists of the reflected wave from the surface and the reflected wave from inside. It's on,
Generally, as shown in FIG. 3, the reflected wave S 1 from the sample surface is stronger than the reflected wave S 2 from inside, and the amplification/detection circuit 10 amplifies the output signal of the gate circuit 9.
Since the envelope is detected and its peak is detected, the image displayed on the cathode ray tube is an ultrasonic image from the surface of the sample. In other words, conventional ultrasound microscopes can only display images of the sample surface where ultrasound is most strongly reflected or the internal position where ultrasound is most strongly reflected, regardless of the reflected ultrasound intensity. It was not possible to selectively display an image at any arbitrary position on or inside the sample.
本発明の目的は、試料表面および内部の任意の
位置の像を選択的に表示しうるようにした超音波
顕微鏡を提供せんとするにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an ultrasonic microscope capable of selectively displaying images of arbitrary positions on and inside a sample.
本発明超音波顕微鏡は、超音波発生方向におけ
る音響レンズの焦点と試料との相対位置を変え、
前記の音響レンズの焦点を試料の表面上または試
料の内部の所望位置に移動せしめる手段と、前記
の試料から反射された超音波に相当する電気信号
を包絡線検波する手段と、該包絡線検波手段の出
力信号から、前記の音響レンズの焦点が位置する
位置における試料情報に相当する部分のみを自動
的に抽出する手段とを具えたことを特徴とする。 The ultrasound microscope of the present invention changes the relative position between the focus of the acoustic lens and the sample in the direction of ultrasound generation,
means for moving the focal point of the acoustic lens to a desired position on the surface of the sample or inside the sample; means for envelope detection of an electrical signal corresponding to the ultrasonic wave reflected from the sample; and the envelope detection. The present invention is characterized by comprising means for automatically extracting only a portion corresponding to the sample information at the position where the focus of the acoustic lens is located from the output signal of the means.
以下図面につき本発明を説明する。 The invention will be explained below with reference to the drawings.
第4図は本発明超音波顕微鏡の一例を示す。こ
の第4図においては第1図と対応する素子に同一
符号に付し、その詳細な説明を省略する。 FIG. 4 shows an example of the ultrasonic microscope of the present invention. In FIG. 4, elements corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted.
本発明によれば、音響レンズ4をこの音響レン
ズからの超音波放出方向に駆動する機構(図示せ
ず)を設け、この駆動機構によりこの音響レンズ
4の焦点が試料の表面上に位置するこの音響レン
ズの位置を基準としてこの焦点が試料内部の所望
位置となるようにこの音響レンズを移動させ、こ
の移動距離をセンサ装置21により検出し、この
センサ装置がこの移動距離に関連した時間に出力
パルスを発生するようにする。 According to the present invention, a mechanism (not shown) is provided for driving the acoustic lens 4 in the direction in which ultrasonic waves are emitted from the acoustic lens, and this driving mechanism causes the focal point of the acoustic lens 4 to be located on the surface of the sample. This acoustic lens is moved so that the focal point is at a desired position inside the sample based on the position of the acoustic lens, this moving distance is detected by the sensor device 21, and this sensor device outputs an output at a time related to this moving distance. Generate a pulse.
ゲート回路9から生じる信号は前述したように
第3図に示すようになつており、本発明ではこの
信号を増幅・検波回路10′において増幅および
包絡線検波する。この回路10′の出力波形を第
5図Aに示す。本発明によればこの回路10′の
出力信号のうち試料内部反射波S2をサンプル・ホ
ールド回路22においてセンサ装置21の出力パ
ルス(第5図B)によりサンプル・ホールドし、
このサンプル・ホールドした値(第5図C)を試
料内の所望位置の輝度信号としてスキヤンコンバ
ータ11内に記録し、この信号を前述したように
して陰極線管12で表示せしめる。 As mentioned above, the signal generated from the gate circuit 9 is as shown in FIG. 3, and in the present invention, this signal is amplified and envelope-detected in the amplification/detection circuit 10'. The output waveform of this circuit 10' is shown in FIG. 5A. According to the present invention, the sample internal reflection wave S 2 of the output signal of this circuit 10' is sampled and held in the sample and hold circuit 22 by the output pulse of the sensor device 21 (FIG. 5B),
This sampled and held value (FIG. 5C) is recorded in the scan converter 11 as a luminance signal at a desired position within the sample, and this signal is displayed on the cathode ray tube 12 as described above.
増幅・検波回路10′から生じる信号(第5図
A)をセンサ装置21の出力パルス(第5図B)
によりサンプリングすることにより得られる値が
試料内の所望位置(焦点位置)の情報に相当する
ようにする為のセンサ装置21の構成方法を以下
に説明する。 The signal generated from the amplification/detection circuit 10' (FIG. 5A) is converted into an output pulse of the sensor device 21 (FIG. 5B).
A method of configuring the sensor device 21 so that the value obtained by sampling corresponds to information on a desired position (focal position) within the sample will be described below.
第6図Aは、音響レンズ4の焦点が試料の表面
上に位置し、圧電トランスジユーサ3から生じる
超音波が超音波音響レンズ4および超音波伝達媒
体5を通り、試料8の表面で反射され、再び超音
波伝達媒体5および音響レンズ4を通つて圧電ト
ランスジユーサ3で電気信号に変換される場合を
示す。ここにlは音響レンズの長さ、fは音響レ
ンズの焦点距離、c1は音響レンズ内での音速、c2
は超音波伝達媒体内での音速を示す。この場合、
増幅・検波回路10′からサンプル・ホールド回
路22に供給される信号の波形を第6図Cに破線
で示す。この第6図CにおいてS1′は試料表面の
情報であり、Stは制御回路13から生じるスター
トパルスであり、このスタートパルスにより高周
波発生器1から高周波信号を発生させるとともに
センサ装置21における演算処理(後に説明す
る)を開始させる。高周波発生器1で信号を発生
する瞬時から試料の表面情報がサンプル・ホール
ド回路22に到達するまでの時間t1(第6図C)
は、電気回路中での電気信号の伝送時間を無視し
うる為、超音波が圧電トランスジユーサ3から生
じてから再びこの圧電トランスジユーサに入るま
での時間とみなすことができる。従つて次式が満
足される。 In FIG. 6A, the focus of the acoustic lens 4 is located on the surface of the sample, and the ultrasonic waves generated from the piezoelectric transducer 3 pass through the ultrasonic acoustic lens 4 and the ultrasonic transmission medium 5, and are reflected on the surface of the sample 8. A case is shown in which the signal is transmitted through the ultrasonic transmission medium 5 and the acoustic lens 4 again and converted into an electric signal by the piezoelectric transducer 3. Here, l is the length of the acoustic lens, f is the focal length of the acoustic lens, c 1 is the speed of sound within the acoustic lens, and c 2
indicates the speed of sound within the ultrasound transmission medium. in this case,
The waveform of the signal supplied from the amplification/detection circuit 10' to the sample/hold circuit 22 is shown by a broken line in FIG. 6C. In this FIG. 6C, S 1 ' is information on the sample surface, and S t is a start pulse generated from the control circuit 13. This start pulse causes the high frequency generator 1 to generate a high frequency signal and performs calculation in the sensor device 21. Starts processing (described later). Time t 1 from the moment the high frequency generator 1 generates the signal until the sample surface information reaches the sample and hold circuit 22 (Figure 6C)
can be regarded as the time from when the ultrasonic wave is generated from the piezoelectric transducer 3 until it enters the piezoelectric transducer 3 again, since the transmission time of the electric signal in the electric circuit can be ignored. Therefore, the following equation is satisfied.
t1=2l/c1+2f/c2 …(1)
試料の内部の情報を得る為に本発明によれば、
音響レンズ4の焦点が第6図Bに示すように試料
内部の所望位置Xに達するようにこの音響レンズ
4を距離hだけ移動させる。この場合、サンプル
ホールド回路22に供給される信号の波形を第6
図Cに実線波形で示す。この第6図Cにおいて、
S1は試料表面の情報であり、S2は試料内部の点X
の情報である。従つて時間t2は超音波が超音波伝
達媒体5中を距離2hだけ通る時間に等しく、式
t2=2h/c2 …(2)
が満足される。また第6図Bにおいて、試料8の
表面の情報がサンプル・ホールド回路22に到達
する時間から、試料内の点Xの情報がサンプル・
ホールド回路22に到達するまでの時間、すなわ
ち第6図Cにおける情報S1およびS2間の時間t3
は、超音波が試料の表面に入射されてから点Xで
反射してこの表面から出射されるまでの時間に等
しく、試料内の音速をc3とした場合次式が成立す
る。 t 1 = 2l/c 1 + 2f/c 2 ...(1) According to the present invention, in order to obtain information inside the sample,
The acoustic lens 4 is moved by a distance h so that the focal point of the acoustic lens 4 reaches a desired position X inside the sample as shown in FIG. 6B. In this case, the waveform of the signal supplied to the sample and hold circuit 22 is
Figure C shows the solid line waveform. In this Figure 6C,
S 1 is the information on the sample surface, and S 2 is the information on the point X inside the sample.
This is the information. Therefore, the time t 2 is equal to the time it takes for the ultrasound to pass through the ultrasound transmission medium 5 by a distance of 2h, and the formula t 2 =2h/c 2 (2) is satisfied. Also, in FIG. 6B, from the time when the information on the surface of the sample 8 reaches the sample/hold circuit 22, the information on the point
The time until reaching the hold circuit 22, that is, the time t 3 between the information S 1 and S 2 in FIG. 6C
is equal to the time from when the ultrasonic wave is incident on the surface of the sample to when it is reflected at point X and emitted from this surface, and when the sound speed inside the sample is c3 , the following equation holds true.
t3=2h/c3 …(3)
スタートパルスStの発生瞬時から試料内の点X
の情報S2がサンプル・ホールド回路22に到達す
るまでの時間Tは第6図Cから明らかなように
T=t1−t2+t3 …(4)
となり、この式(4)に式(1)、(2)および(3)を代入する
ことにより、次式(5)が得られる。 t 3 = 2h/c 3 …(3) From the moment the start pulse S t occurs to point X in the sample
As is clear from FIG. 6C, the time T until the information S 2 reaches the sample-and-hold circuit 22 is T = t 1 - t 2 + t 3 ...(4), and this equation (4) is replaced by the equation ( By substituting 1), (2) and (3), the following equation (5) is obtained.
T=2(l/c1+f−h/c2+h/c3) …(5)
この式(5)におけるc1、c2、c3、lおよびfは予
め設定しうる為、センサ装置21により既知の方
法で音響レンズ4の移動距離hを測定すれば、こ
のセンサ装置21において式(5)の演算を容易に達
成することができ、この時間Tで第5図Bに示す
ようなサンプリングパルスを発生させればよい。 T=2(l/c 1 +f-h/c 2 +h/c 3 )...(5) Since c 1 , c 2 , c 3 , l and f in this equation (5) can be set in advance, the sensor device If the moving distance h of the acoustic lens 4 is measured by a known method using 21, the calculation of equation (5) can be easily achieved in this sensor device 21, and in this time T, as shown in FIG. All you have to do is generate a sampling pulse.
上述したところから明らかなように本発明によ
れば、音響レンズ4の焦点位置を試料内或いは試
料上の所望位置に合わせることにより、この所望
位置の試料情報を自動的に陰極線管に表示せしめ
ることができる。 As is clear from the above, according to the present invention, by adjusting the focal position of the acoustic lens 4 to a desired position within or on the sample, sample information at this desired position can be automatically displayed on the cathode ray tube. Can be done.
本発明は上述した例のみに限定されず、幾多の
変更を加えうること勿論である。例えば、音響レ
ンズを移動させる代りに、試料台7を同一方向に
移動させるようにすることができる。また、セン
サ装置21が音響レンズの移動量を検出せずに所
望の移動量を外部からこの装置21に与え、この
装置21が前述した演算処理のみを自動的に行な
うようにすることもできる。 It goes without saying that the present invention is not limited to the above-mentioned example, and can be modified in many ways. For example, instead of moving the acoustic lens, the sample stage 7 can be moved in the same direction. Alternatively, the sensor device 21 may not detect the amount of movement of the acoustic lens, but instead may apply a desired amount of movement to the device 21 from the outside, so that the device 21 automatically performs only the arithmetic processing described above.
第1図は従来の超音波顕微鏡を示す説明図、第
2図は第1図の作動を説明する為の波形図、第3
図は第2図Cの波形を詳細に示す波形図、第4図
は本発明超音波顕微鏡の一例を示す説明図、第5
図は第4図の作動を説明する為の波形図、第6図
は本発明の原理を説明する為の線図である。
1……高周波パルス発生器、2……サーキユレ
ータ、3……圧電トランスジユーサ、4……音響
レンズ、5……液体(超音波伝達媒体)、6……
走査制御装置、7……試料台、8……試料、9…
…ゲート回路、10,10′……増幅・検波回路、
11……スキヤンコンバータ、12……陰極線
管、13……制御回路、21……センサ装置、2
2……サンプル・ホールド回路。
Figure 1 is an explanatory diagram showing a conventional ultrasound microscope, Figure 2 is a waveform diagram to explain the operation of Figure 1, and Figure 3 is a waveform diagram to explain the operation of Figure 1.
The figures are a waveform diagram showing the waveform in Figure 2C in detail, Figure 4 is an explanatory diagram showing an example of the ultrasonic microscope of the present invention, and Figure 5 is a waveform diagram showing the waveform of Figure 2C in detail.
The figure is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram for explaining the principle of the present invention. 1... High frequency pulse generator, 2... Circulator, 3... Piezoelectric transducer, 4... Acoustic lens, 5... Liquid (ultrasonic transmission medium), 6...
Scanning control device, 7...sample stage, 8...sample, 9...
...Gate circuit, 10,10'...Amplification/detection circuit,
11...Scan converter, 12...Cathode ray tube, 13...Control circuit, 21...Sensor device, 2
2...Sample/hold circuit.
Claims (1)
試料との相対位置を変え、前記の音響レンズの焦
点を試料の表面上または試料の内部の所望位置に
移動せしめる手段と、 前記の試料から反射された超音波に相当する電
気信号を包絡検波する検波手段と、 前記音響レンズの移動量と、超音波伝搬経路の
距離と、音速とを演算して前記音響レンズの焦点
からの超音波反射時刻に同期した信号を発生する
演算手段と、 該演算手段の出力信号に同期して前記検波手段
の出力信号をサンプルホールドし、音響レンズの
焦点が位置する試料の表面上又は内部の任意の位
置における超音波像のみを抽出するサンプルホー
ルド手段と、 を具えたことを特徴とする超音波顕微鏡。[Scope of Claims] 1. means for changing the relative position between the focal point of the acoustic lens and the sample in the ultrasonic generation direction, and moving the focal point of the acoustic lens to a desired position on the surface of the sample or inside the sample; detection means for envelope-detecting an electric signal corresponding to an ultrasound reflected from a sample; a calculation means for generating a signal synchronized with the ultrasonic reflection time; and a calculation means for sample-holding the output signal of the detection means in synchronization with the output signal of the calculation means, and detecting a signal on the surface or inside of the sample where the focal point of the acoustic lens is located. An ultrasound microscope characterized by comprising: sample holding means for extracting only ultrasound images at arbitrary positions;
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211386A JPS59102156A (en) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | Ultrasonic microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211386A JPS59102156A (en) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | Ultrasonic microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59102156A JPS59102156A (en) | 1984-06-13 |
| JPH0457975B2 true JPH0457975B2 (en) | 1992-09-16 |
Family
ID=16605094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57211386A Granted JPS59102156A (en) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | Ultrasonic microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59102156A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS617465A (en) * | 1984-06-20 | 1986-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | Ultrasonic wave tester |
| FR2602043B1 (en) * | 1986-07-24 | 1990-10-12 | France Etat | NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF SURFACE PROFILE |
-
1982
- 1982-12-03 JP JP57211386A patent/JPS59102156A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59102156A (en) | 1984-06-13 |
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