JPH0460201B2 - - Google Patents
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- JPH0460201B2 JPH0460201B2 JP15679084A JP15679084A JPH0460201B2 JP H0460201 B2 JPH0460201 B2 JP H0460201B2 JP 15679084 A JP15679084 A JP 15679084A JP 15679084 A JP15679084 A JP 15679084A JP H0460201 B2 JPH0460201 B2 JP H0460201B2
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- pin
- bending
- bent
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
<産業上の利用分野>
本発明はIC素子、ICソケツトなど複数のピン
を有する部品に於ける各ピンの曲りを検出するた
めの方法に関し、特に迅速にピンの曲りを検出す
ることのできる方法に関する。[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a method for detecting bending of each pin in a component having a plurality of pins such as an IC element or an IC socket. The invention relates to a method capable of detecting.
<従来の技術>
近年電子部品を基板に実装するに際して、自動
挿入装置が多用されつつある。自動挿入装置は
種々の電子部品を自動的にしかも高速で基板に挿
入することができる。基板に挿入された電子部品
は、はんだ付され完成することとなるが、ICな
どの電子部品の足、即ちピンが曲つていた場合に
は、ピンが基板に設けられた所定の孔に挿入され
ず、そのままはんだ付されることとなり、基板全
体が不良品となつてしまう。そこで基板に挿入さ
れるべき電子部品のピンの曲りを事前に検査する
ことが望ましいが、自動挿入装置が高速で作動す
るものであり、高価な装置であるため、このよう
なピンの曲りを検出するための装置は、自動挿入
装置の操業率を維持し得るように、高速でピンの
曲りを検査し得るものであるのが好ましい。<Prior Art> In recent years, automatic insertion devices have been increasingly used when mounting electronic components on circuit boards. Automatic insertion devices are capable of inserting various electronic components into boards automatically and at high speed. Electronic components inserted into the board are soldered and completed, but if the legs, or pins, of an electronic component such as an IC are bent, the pins must be inserted into the specified holes in the board. Instead, the board will be soldered as is, and the entire board will be defective. Therefore, it is desirable to inspect the bent pins of electronic components to be inserted into the board in advance, but automatic insertion equipment operates at high speed and is an expensive device, so it is difficult to detect such bent pins. Preferably, the device is capable of inspecting pin bending at high speed so as to maintain the operating rate of the automatic insertion device.
<発明が解決しようとする問題点>
このような要請に鑑み、本発明の主な目的は、
複数のピンを有する素子に於けるピンの曲りを高
速かつ正確に検査し得る方法を提供することにあ
る。<Problems to be solved by the invention> In view of these demands, the main purpose of the present invention is to
It is an object of the present invention to provide a method for quickly and accurately inspecting pin bending in an element having a plurality of pins.
<問題点を解決するための手段>
このような本発明の目的は、ある基準平面上に
延在して互いに平行に整列するべき複数のピンの
曲がりを検出するための方法であつて、前記複数
のピンの整列方向に沿つて延在し、かつ前記基準
平面と交差する所定の平面に沿う光線を前記複数
のピンのそれぞれに照射すると共に、前記基準平
面と対向する受光面を有する視覚センサにて前記
光線の入射角とは異なる角度の反射光にて各ピン
上の光像を捕らえ、前記ピンの整列方向及びまた
は延在方向についての所定の基準位置に対する前
記視覚センサ上に捕らえられた光像の位置ずれに
基づいて良否の判別を行うことを特徴とするピン
の曲がりを検出する方法を提供することによつて
達成される。<Means for Solving the Problems> An object of the present invention is to provide a method for detecting bending of a plurality of pins that extend on a certain reference plane and are to be aligned parallel to each other, A visual sensor that irradiates each of the plurality of pins with a light ray along a predetermined plane that extends along the alignment direction of the plurality of pins and intersects the reference plane, and has a light receiving surface that faces the reference plane. A light image on each pin is captured by reflected light at an angle different from the incident angle of the light beam, and is captured on the visual sensor with respect to a predetermined reference position in the alignment direction and/or extension direction of the pins. This is achieved by providing a method for detecting pin bending, which is characterized by determining pass/fail based on the positional deviation of an optical image.
<作用>
このように、ピンが列設された平面に対してあ
る所定角度をもつて交差する平面に沿う光線を各
ピンに照射し、ピンの延在方向について光源と別
の位置から各ピン上に結んだ光像を視覚センサに
て観測すると、ピンに曲がりがある場合は視覚セ
ンサ上の光像同士の位置にずれが生じるため、こ
のずれを所定の基準範囲と比較すれば、ピンの曲
がりの有無が容易に判別できる。また光を面状に
して照射し、これの反射光を一次元イメージセン
サアレイにて捕捉するものとすれば、光源或いは
イメージセンサを上下に一度スキヤニングするだ
けで2方向の曲がりを同時に検査することができ
る。<Operation> In this way, each pin is irradiated with a light beam along a plane that intersects at a certain angle with the plane on which the pins are arranged, and each pin is illuminated from a position different from the light source in the direction in which the pins extend. When the optical images tied above are observed with a visual sensor, if the pin is bent, there will be a shift in the positions of the optical images on the visual sensor.If you compare this shift with a predetermined reference range, you can determine the position of the pin. The presence or absence of bending can be easily determined. Furthermore, if light is emitted in a planar shape and the reflected light is captured by a one-dimensional image sensor array, bending in two directions can be inspected simultaneously by scanning the light source or image sensor up and down once. I can do it.
<実施例>
以下、本発明の好適実施例を添付の図面につい
て詳しく説明する。<Examples> Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
第1図及び第2図は、本実施例の検査対象とな
るIC素子を示している。このIC素子は左右それ
ぞれに第一の方向である上下方向に延在し、かつ
第二の方向である前後方向に整列した7個のピ
ン、合計14個のピンを有しており、そのうち一つ
のピン2が外向きに曲り、他の一つのピン6が内
向きに曲り、更に他の1つのピン4が前後方向に
曲つている。このようにピンが曲つていると、こ
のIC素子10を基板に挿入しようとする際、こ
のように曲つたピン2,4,6が基板に設けられ
た孔に挿入されず、基板全体が不良品となる原因
となる。 FIGS. 1 and 2 show IC elements to be tested in this embodiment. This IC element has a total of 14 pins, including seven pins extending in the first direction, the up and down direction, and aligned in the second direction, the front and back direction. One pin 2 is bent outward, another pin 6 is bent inward, and still another pin 4 is bent in the front-rear direction. If the pins are bent in this way, when trying to insert this IC element 10 into the board, the bent pins 2, 4, and 6 will not be inserted into the holes provided in the board, and the entire board will be damaged. This causes the product to be of good quality.
そこで、画像認識装置を用いて横方向から検査
することも考えられるが、その場合ピン4のよう
に前後方向に曲つたものは容易に検出し得るもの
の、ピン2,6のように左右方向に曲つたもの
は、一般にその検出が困難である。何故なら、画
像認識装置が奥行きを識別する能力を具備しなけ
ればならないからである。 Therefore, it may be possible to inspect from the side using an image recognition device, but in that case, although pins bent in the front-back direction like pin 4 can be easily detected, items bent in the left-right direction like pins 2 and 6 can be easily detected. Bent objects are generally difficult to detect. This is because the image recognition device must have the ability to discriminate depth.
画像認識装置をもつて素子の端部方向からピン
の曲りを識別することも考えられるが、前記と同
様にピン4のように前後方向に曲つているものは
その識別が困難であり、内向き或いは外向きに曲
つたピンについても、遠近差が大きいためにその
検出が困難である。 It is conceivable to use an image recognition device to identify bent pins from the direction of the end of the element, but as mentioned above, it is difficult to identify pins that are bent in the front-rear direction like pin 4. Alternatively, it is difficult to detect pins that are bent outward because of the large distance difference.
第3図は本発明に基づくピンの曲りを検査する
方法の実施例を示す説明図である。先ずIC素子
10を所定の冶具40により位置決めし、ピン1
〜7の整列方向に対して平行をなす面状光30を
ピンの延在方向に対して斜めに照射する。この面
状光30は、レーザーにより得られる光源を、シ
リンドリカルレンズ等により面状に屈折させたも
のであつて良い。 FIG. 3 is an explanatory diagram showing an embodiment of the method for inspecting pin bending based on the present invention. First, the IC element 10 is positioned using a predetermined jig 40, and pin 1 is
Planar light 30 that is parallel to the alignment direction of ~7 is irradiated obliquely to the extending direction of the pins. This planar light 30 may be obtained by refracting a light source obtained by a laser into a planar shape using a cylindrical lens or the like.
イメージセンサ20が、ピン1〜7が整列して
延在するべき所定の基準平面にその受光面を対向
させる位置、即ちピンの側方に設けられており、
面状光30がピン1〜7に投射されてピン上に結
像する光のスポツトを検出し得るようになつてい
る。このイメージセンサ20は線状に配列された
イメージセンサアレイであつて良い。このイメー
ジセンサ20は図示されていない駆動機構により
矢印Aで示されているようにピンが延在する上記
基準平面に略平行に対向する平面上を上下方向に
駆動される。 The image sensor 20 is provided at a position where its light-receiving surface faces a predetermined reference plane on which the pins 1 to 7 should align and extend, that is, on the side of the pins,
A planar light 30 is projected onto the pins 1 to 7 so that spots of light focused on the pins can be detected. The image sensor 20 may be a linear image sensor array. This image sensor 20 is driven by a drive mechanism (not shown) in the vertical direction on a plane that faces substantially parallel to the reference plane on which the pins extend, as indicated by arrow A.
面状光30がピン1〜7に照射されて形成され
る光のスポツトは、ピンがすべて曲つていない場
合には一列に整列した光のスポツトとして検出さ
れることとなる。即ち第4図に示されているよう
に、これらの光のスポツトは、ピンの長さ方向に
ついて適宜な位置に各ピンを横切る向きに引かれ
た基準の直線Y0と該直線Y0に対して直交する向
きに等間隔に引かれた線X1〜X7即ち各ピンの延
在方向の基準線との交点に検出されることとなる
(スポツト11,12a,13,14a,15,
16a及び17)。即ちピン2のように外側に向
けて曲つたピンについては、光のスポツト12が
直線Y0から上方に離間した場所にスポツト12
として検出され、ピン6のように内側に向けて曲
つたピンについては、光のスポツト16がY0か
ら下方に離間した部分に検出される。更にピン4
のように前後方向に曲つたピンについては、光の
スポツト14が直線X4から前後方向に離間した
点に検出される。 The light spots formed when the pins 1 to 7 are irradiated with the planar light 30 will be detected as light spots aligned in a line if all the pins are not bent. In other words, as shown in Fig. 4, these light spots are located at appropriate positions in the length direction of the pins, relative to the reference straight line Y0 drawn across each pin. The points are detected at the intersections with the lines X 1 to X 7 drawn at equal intervals in the direction orthogonal to each other, that is, the reference line in the extending direction of each pin (spots 11, 12a, 13, 14a, 15,
16a and 17). In other words, for a pin bent outward like pin 2, the light spot 12 will be located at a location spaced upward from the straight line Y0 .
For a pin bent inward like pin 6, a light spot 16 is detected in a portion spaced downward from Y0 . Further pin 4
For a pin bent in the front-rear direction as in the figure, the light spot 14 is detected at a point spaced from the straight line
このようにピンの曲りとイメージセンサ20に
より検出される光のスポツトとは上記したような
対応関係があることから、ピンの曲りの許容範囲
に対応するイメージセンサ20の検出画像に於け
る許容領域を設定し、光のスポツト11〜17が
このようにして設定された許容領域を逸脱したと
きにピンの曲りが許容以上であると判定すること
が可能となる。例えば第4図に於て、光のスポツ
ト11〜17のいずれか一つが直線Y1の上側に
または直線Y2の下側に逸脱したときに各ピンの
左右方向の曲りが許容以上であると判定し、光の
スポツトが直線X1〜X7のそれぞれに重なりあつ
ていないとき、当該ピンの前後方向の曲りが許容
値以上であると判定することができる。 Since there is a correspondence relationship as described above between the bending of the pin and the spot of light detected by the image sensor 20, the allowable area in the detected image of the image sensor 20 that corresponds to the allowable range of the bending of the pin is set, and when the light spots 11 to 17 deviate from the allowable range set in this manner, it becomes possible to determine that the bending of the pin is greater than the allowable range. For example, in Fig. 4, when any one of the light spots 11 to 17 deviates above the straight line Y1 or below the straight line Y2 , the horizontal bending of each pin is greater than the allowable value. When the light spot does not overlap each of the straight lines X1 to X7 , it can be determined that the bending of the pin in the front-rear direction is equal to or greater than the allowable value.
第5図は本発明に基づく別の実施例を示してい
る。前記実施例に於ては、面状光を固定し、イメ
ージセンサ20を上下に平行移動して所定視野を
走査して光のスポツトを検出したのに対して、イ
メージセンサ20を固定し、面状光30を矢印B
で示されるように上下方向に平行移動させること
により、前記実施例と同様にしてピンの曲りを検
出することができる。 FIG. 5 shows another embodiment according to the invention. In the embodiment described above, the image sensor 20 is moved vertically and parallel to scan a predetermined field of view to detect a spot of light, while the image sensor 20 is fixed and the image sensor 20 is Shape light 30 with arrow B
By vertically moving the pin in parallel as shown in the figure, the bending of the pin can be detected in the same manner as in the embodiment described above.
以上本発明を特定の実施例について説明した
が、上記以外にも種々の実施例が可能である。例
えば上記実施例に於ては入射光線として面光線を
用いたが、レーザー光線をそのような面内で走査
することによつても同様の目的を達成することが
できる。またイメージセンサについても、線状イ
メージセンサアレイに限らず、点状のイメージセ
ンサを同じく左右上下方向に走査したり、二次元
的なイメージセンサを用いてそれを電子的に走査
して同様の目的を達成することもできる。 Although the present invention has been described above with reference to specific embodiments, various embodiments other than those described above are possible. For example, in the above embodiments, a surface light beam is used as the incident light beam, but the same purpose can also be achieved by scanning a laser beam within such a surface. In addition, image sensors are not limited to linear image sensor arrays, but also point-like image sensors that scan horizontally, vertically, or two-dimensional image sensors that are electronically scanned to achieve similar purposes. can also be achieved.
<効果>
このように、本発明によれば、レーザー光を一
方向から照射するのみで、ピンの曲りを二方向に
ついて迅速かつ正確に検出することができる。し
かも、検出端は、例えば線状フオトアレイからな
るものであつて良く、検出信号もデイジタル信号
として得ることができるため、検出信号の処理を
効率良く行うことができる。<Effects> As described above, according to the present invention, bending of a pin can be detected quickly and accurately in two directions by only irradiating laser light from one direction. Moreover, the detection end may be made of, for example, a linear photo array, and the detection signal can also be obtained as a digital signal, so that the detection signal can be processed efficiently.
第1図は本発明に基づく実施例の検査対象たる
IC素子の側面図である。第2図は第1図のIC素
子の端面図である。第3図は本発明に基づく方法
の実施例を示す説明図である。第4図は第3図の
イメージセンサにより検出される画像を示す説明
図である。第5図は第4図の実施例に対する変形
実施例を示す第3図と同様の図である。
1〜7…ピン、10…IC素子、11〜17…
スポツト、20…イメージセンサ、30…面状
光、40…冶具。
FIG. 1 is a test target of an embodiment based on the present invention.
FIG. 3 is a side view of an IC element. FIG. 2 is an end view of the IC element of FIG. 1. FIG. 3 is an explanatory diagram showing an embodiment of the method based on the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram showing an image detected by the image sensor of FIG. 3. FIG. 5 is a diagram similar to FIG. 3, showing a modified embodiment of the embodiment of FIG. 4. 1 to 7...pin, 10...IC element, 11 to 17...
Spot, 20... Image sensor, 30... Planar light, 40... Jig.
Claims (1)
するべき複数のピンの曲がりを検出するための方
法であつて、 前記複数のピンの整列方向に沿い、かつ前記基
準平面と交差して延在する所定の平面に沿う光線
を前記複数のピンのそれぞれに照射すると共に、 前記基準平面に対向する受光面を有する視覚セ
ンサにて前記光線の入射角とは異なる角度の反射
光にて各ピン上の光像を捕らえ、 前記ピンの整列方向及びまたは延在方向につい
ての所定の基準位置に対する前記視覚センサ上に
捕らえられた光像の位置ずれに基づいて良否の判
別を行うことを特徴とするピンの曲がりを検出す
る方法。[Scope of Claims] 1. A method for detecting the bending of a plurality of pins that extend on a certain reference plane and are to be aligned parallel to each other, the method comprising: irradiating each of the plurality of pins with a light ray along a predetermined plane extending across the plane; and irradiating a light beam at an angle different from the incident angle of the light ray with a visual sensor having a light-receiving surface facing the reference plane. A light image on each pin is captured by reflected light, and pass/fail is determined based on the positional deviation of the light image captured on the visual sensor with respect to a predetermined reference position in the alignment direction and/or extension direction of the pins. A method for detecting pin bending characterized by performing the following steps.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15679084A JPS6135302A (en) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Method for detecting curvature of pin |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15679084A JPS6135302A (en) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Method for detecting curvature of pin |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6135302A JPS6135302A (en) | 1986-02-19 |
| JPH0460201B2 true JPH0460201B2 (en) | 1992-09-25 |
Family
ID=15635359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15679084A Granted JPS6135302A (en) | 1984-07-27 | 1984-07-27 | Method for detecting curvature of pin |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6135302A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0776754B2 (en) * | 1986-06-25 | 1995-08-16 | 日立テクノエンジニアリング株式会社 | IC lead bending detection method |
| JPS63281007A (en) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | Detecting method for defective anode |
| JP6848425B2 (en) * | 2016-12-27 | 2021-03-24 | 富士通株式会社 | Linear parts inspection equipment and linear parts inspection method |
-
1984
- 1984-07-27 JP JP15679084A patent/JPS6135302A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6135302A (en) | 1986-02-19 |
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