JPH0465571B2 - - Google Patents
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- JPH0465571B2 JPH0465571B2 JP58240104A JP24010483A JPH0465571B2 JP H0465571 B2 JPH0465571 B2 JP H0465571B2 JP 58240104 A JP58240104 A JP 58240104A JP 24010483 A JP24010483 A JP 24010483A JP H0465571 B2 JPH0465571 B2 JP H0465571B2
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は簡素化した多入力CMOSゲート回路
を提供することを目的とするものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention aims to provide a simplified multi-input CMOS gate circuit.
従来例の構成とその問題点
一般に多入力CMOSゲート回路は、入力数n
に対して2n個の最小素子数を必要とする。この
ため集積回路IC化する場合のチツプ面積が増大
するのは否めず、単に2進カウンタの計数値を検
出すデコーダとして用いるには極めて不向きであ
つた。係る欠点を解消すべく本発明者は特願昭57
−79537号により構成素子数を(n+2)個にな
し得る多入力CMOSゲート回路を提供した。Conventional configuration and its problems In general, a multi-input CMOS gate circuit has n inputs.
requires a minimum number of 2n elements for For this reason, it cannot be denied that the chip area increases when integrated circuit IC is used, and it is extremely unsuitable for use as a decoder that simply detects the count value of a binary counter. In order to eliminate such drawbacks, the present inventor filed a patent application in 1983.
No. 79537 provided a multi-input CMOS gate circuit that can have (n+2) constituent elements.
第1図にその1回路構成を例示する。 FIG. 1 illustrates one circuit configuration thereof.
第1図において、AはNANDゲート回路、B
はNORゲート回路である。 In Figure 1, A is a NAND gate circuit, B
is a NOR gate circuit.
NANDゲート回路Aは、入力数nに対応した
n個の直列接続されたエンハンスメントタイプの
NチヤネルMOSトランジスタ(N形トランジス
タ)QN1,QN2,QN3……QNoと1個のエンハ
ンスメントタイプのPチヤネルMOSトランジス
タOP1及び負荷素子QL1の合計(n+2)個の素
子で構成され、直列接続されたN形トランジスタ
群の一端は出力端子bに他端は第1電源VSSに接
続され、夫々のゲートを入力端子a1,a2,a3……
aoとしている。P形トランジスタQP1は一端が第
2電源VDDに他端が出力端子bに接続され、ゲー
トがN形トランジスタQN1のゲートと接続され
ている。負荷素子QL1は第2電源VDDと出力端子
bとの間に接続されている。 NAND gate circuit A consists of n enhancement type N-channel MOS transistors (N-type transistors) QN 1 , QN 2 , QN 3 . . . QN o and one enhancement type transistor connected in series corresponding to the number of inputs n. It is composed of a total of (n+2) elements including a P-channel MOS transistor OP 1 and a load element QL 1 , and one end of a group of N-type transistors connected in series is connected to an output terminal b and the other end is connected to a first power supply V SS , The respective gates are connected to input terminals a 1 , a 2 , a 3 ...
It's a o . The P-type transistor QP1 has one end connected to the second power supply VDD, the other end to the output terminal b, and its gate connected to the gate of the N-type transistor QN1 . The load element QL 1 is connected between the second power supply V DD and the output terminal b.
一方、NORゲート回路Bは、n個の直列接続
されたP形トランジスタQP1,QP2,QP3……
QPoと1個のN形トランジスタQN1及び負荷素子
QL1とで構成され、直列接続されたP形トランジ
スタ群の一端は出力端子bに他端は第1電源VDD
に接続され、夫々のゲートを入力端子a1,a2,a3
……aoとしている。N形トランジスタQN1は一端
が第2電源VSSに他端が出力端子bに接続されゲ
ートがP形トランジスタQP1のゲートと接続され
ている。負荷素子QL1は第2電源VSSと出力端子
bとの間に接続されている。 On the other hand, NOR gate circuit B includes n P-type transistors QP 1 , QP 2 , QP 3 . . . connected in series.
QP o and one N-type transistor QN 1 and load element
QL 1 , one end of a group of P-type transistors connected in series is connected to the output terminal b, and the other end is connected to the first power supply V DD
connected to the respective gates input terminals a 1 , a 2 , a 3
...it's a o . The N-type transistor QN1 has one end connected to the second power supply VSS , the other end to the output terminal b, and its gate connected to the gate of the P-type transistor QP1 . The load element QL 1 is connected between the second power supply V SS and the output terminal b.
即ち、回路Aと回路Bは丁度対称回路になつて
おり、入力のうちの少なくとも1つがコンプリメ
ンタリ構成となつている。AではQN1とQP1が、
BではQP1とQN1がそれぞれコンプリメンタリ構
成である。 That is, circuit A and circuit B are exactly symmetrical circuits, and at least one of the inputs has a complementary configuration. In A, QN 1 and QP 1 are
In B, QP 1 and QN 1 each have a complementary configuration.
ここで、負荷素子QL1は能動素子、例えばP形
トランジスタ、N形トランジスタで構成しても構
わない。 Here, the load element QL 1 may be composed of an active element, such as a P-type transistor or an N-type transistor.
以上説明した多入力CMOSゲート回路をIC化
すると第2図に示す如く各接続点に浮遊容量C1,
C2,C3……Coがつき、これによるデコード誤動
作が発生する。第3図はその様子を示した波形図
である。 When the multi-input CMOS gate circuit explained above is integrated into an IC, as shown in Fig. 2, stray capacitance C 1 ,
C 2 , C 3 . . . C o is attached, and this causes a decoding malfunction. FIG. 3 is a waveform diagram showing this situation.
以下第2図,第3図による従来例の回路動作を
説明する。ここでは説明を簡単にするために入力
数が4つ(n=4)のNANDゲート回路の場合
について、フリーカウントするアツプカウンタの
Q出力またはダウンカウンタの出力をデコード
する1例を示す。なお浮遊容量C1,C2,C3,C4
は全て等しく、直列接続したN形トランジスタ
QN1,QN2,QN3,QN4のオン抵抗は十分低く、
かつバツクゲートバイアス効果等を無視して説明
する。 The circuit operation of the conventional example will be explained below with reference to FIGS. 2 and 3. To simplify the explanation, an example will be shown in which the Q output of a free counting up counter or the output of a down counter is decoded for a NAND gate circuit having four inputs (n=4). In addition, stray capacitance C 1 , C 2 , C 3 , C 4
are all equal, N-type transistors connected in series
The on-resistance of QN 1 , QN 2 , QN 3 , and QN 4 is sufficiently low.
The explanation will be given while ignoring back gate bias effects and the like.
第3図に示すカウンタのLSB(a1)〜MSB(a4)
を第2図のa1〜a4の入力とする。まず、計数値が
15の場合、即ち、15〜0の期間ではa1〜a4は全て
HでN形トランジスタQN1〜QN4が全て“ON”
し、出力端子bの電位はVLとなる。VLの大きさ
は、QN1〜QN4の合成ON抵抗と負荷素子QL1の
抵抗との分圧比で決まるので、次段の回路が誤動
作しないレベルに設定すればよい。即ち、期間15
〜0ではQN1〜QN4が全て“ON”するための容
量C1〜C4の電荷は全て放電されて、各接続点の
電位は0である(実際にはVL〜Oの範囲にあ
る)。次に期間0〜1ではa1〜a4は全てLで、P
形トランジスタQP1のみがONして、QN1〜QN4
は全てOFFする。従つて、C1にはQP1とQL1によ
り電荷が充電されて出力端子bはVDDになる。こ
こで、QP1のON抵抗に対するQL1の抵抗は十分
大きいので以降の説明では無視する。但し、C2
〜C4の電荷は0である。次に期間1〜2ではa1が
Hでa2〜a4がLであるためQN1だけONして、C1
の電荷がC2に分配される現象が起り、出力端子
bの電位はVDD/2になる。次に期間2〜3では
a2がHでa1,a3,a4がLであるためQP1とQN2と
がONして、QP1によりC1は再びVDDに充電され
る。一方、QN2もONしているためC2からC3への
電荷分配が起り、VDD/4となる。次に期間3〜
4ではa1,a2がHでa3,a4がLであるためQN1と
QN2とがONして、C1からC2,C3への電荷分配が
起り、VDD/2となる。以降同様の電荷分配を各
容量間で繰返し、結局出力端子bは第3図に示す
電位の変化を起す。ちなみにa1がLの期間では必
ずOP1がONするのでVDDとなり、期間5〜6,
7〜8,9〜10,11〜12,13〜14では3VDD/4,
27VDD/48,75VDD/96,450VDD/576,
1026VDD/1152となる電位になる。即ち、浮遊容
量C1,C4での電荷分配現象により出力端子bの
HレベルがVDD一定とならず、次段回路の誤動作
を引き起す問題点があつた。 LSB (a 1 ) to MSB (a 4 ) of the counter shown in Figure 3
are the inputs a 1 to a 4 in Fig. 2. First, the count value is
In the case of 15, that is, in the period from 15 to 0, a 1 to a 4 are all H and all N-type transistors QN 1 to QN 4 are “ON”.
However, the potential of output terminal b becomes VL . The magnitude of V L is determined by the voltage division ratio of the combined ON resistance of QN 1 to QN 4 and the resistance of the load element QL 1 , so it may be set to a level that does not cause the next stage circuit to malfunction. i.e. period 15
~0, the charges in the capacitors C1 ~ C4 for all QN1 ~ QN4 to turn on are discharged, and the potential at each connection point is 0 (actually in the range of VL ~ O). be). Next, in period 0 to 1, a 1 to a 4 are all L, and P
Only type transistor QP 1 is ON, QN 1 ~ QN 4
are all turned off. Therefore, C1 is charged with charge by QP1 and QL1 , and the output terminal b becomes VDD . Here, the resistance of QL 1 with respect to the ON resistance of QP 1 is sufficiently large, so it will be ignored in the following explanation. However, C 2
The charge on ~ C4 is 0. Next, in period 1 to 2, since a 1 is H and a 2 to a 4 are L, only QN 1 is turned on and C 1
A phenomenon occurs in which the charge of is distributed to C 2 , and the potential of output terminal b becomes V DD /2. Next, in period 2-3
Since a 2 is H and a 1 , a 3 , and a 4 are L, QP 1 and QN 2 are turned ON, and QP 1 charges C 1 to V DD again. On the other hand, since QN 2 is also ON, charge distribution from C 2 to C 3 occurs, resulting in V DD /4. Next period 3~
In 4, a 1 and a 2 are H and a 3 and a 4 are L, so QN 1 and
QN 2 is turned on, and charge distribution from C 1 to C 2 and C 3 occurs, resulting in V DD /2. Thereafter, similar charge distribution is repeated between each capacitor, and eventually the potential at the output terminal b changes as shown in FIG. By the way, during the period when a 1 is L, OP 1 is always turned on, so it becomes V DD , and the period 5 to 6,
3V DD /4 for 7-8, 9-10, 11-12, 13-14,
27V DD /48, 75V DD /96, 450V DD /576,
The potential becomes 1026V DD /1152. That is, due to the charge distribution phenomenon in the stray capacitances C 1 and C 4 , the H level of the output terminal b does not become constant at V DD , causing a problem that malfunction of the next stage circuit occurs.
なお、実際にはカウンタ出力が伝播遅延τP・
Dを伴なう、N形トランジスタQN1〜QN2にバ
ツクゲートバイアスがあるなどの種々の要因によ
り、複雑な動作を呈し、浮遊容量C1に対してC2
〜C4が大なる場合は、さらに出力端子bの電位
はLレベルに接近し、最早や使用不能となる。 Note that in reality, the counter output has a propagation delay τP・
Due to various factors such as the presence of back gate bias in the N- type transistors QN 1 to QN 2 with
When ~ C4 becomes large, the potential of the output terminal b approaches the L level, and the output terminal b becomes unusable.
発明の目的
本発明は、係る従来例の電荷分配による問題点
を一掃した多入力ゲート回路を提供するものであ
る。OBJECTS OF THE INVENTION The present invention provides a multi-input gate circuit that eliminates the problems caused by charge distribution in the conventional example.
発明の構成
本発明は、従来例の回路構成に新たに1つの負
荷素子を追加するだけの極めて簡単な構成で問題
点を解消し得るものである。Configuration of the Invention The present invention can solve the problems with an extremely simple configuration that only requires adding one new load element to the conventional circuit configuration.
即ち、直列接続された複数の同極性MOSトラ
ンジスタの一端を出力端子に他端を第1電源に接
続すると共に夫々のゲートを入力端子とし、前記
MOSトランジスタ群のトランジスタと逆極性の
MOSトランジスタの一端を第2電源に他端を前
記出力端子に接続すると共に前記MOSトランジ
スタ群の少なくとも1つとコンプリメタリ構成と
なるようにゲートを接続し、前記出力端子と前記
第2電源との間に第1負荷素子を接続し、コンプ
リメタリ構成した前記MOSトランジスタ群のト
ランジスタの前記第1電源側の接続点と前記第2
電源との間に第2負荷素子を接続した構成とする
ものである。係る構成において、第1,第2負荷
素子は能動素子(N形またはP形トランジスタ
等)で構成しても良く、また第2負荷素子を前記
逆極性MOSトランジスタと同期性のトランジス
タで構成し、そのゲートを前記逆極性MOSトラ
ンジスタのゲートに接続しても良い。 That is, one end of a plurality of serially connected MOS transistors of the same polarity is connected to an output terminal, the other end is connected to a first power supply, and each gate is used as an input terminal.
of opposite polarity to the transistors in the MOS transistor group.
One end of the MOS transistor is connected to a second power supply, the other end is connected to the output terminal, and a gate is connected so as to have a complementary configuration with at least one of the MOS transistors, and between the output terminal and the second power supply. A first load element is connected to the connection point on the first power supply side of the transistors of the MOS transistor group configured in a complementary manner, and the second
The configuration is such that a second load element is connected between the power source and the power source. In such a configuration, the first and second load elements may be constituted by active elements (N-type or P-type transistors, etc.), and the second load element is constituted by a transistor synchronous with the reverse polarity MOS transistor, Its gate may be connected to the gate of the reverse polarity MOS transistor.
実施例の説明
第4図A,Bに本発明の基本構成を示す。Aは
NANDゲート回路、BはNORゲート回路であ
り、第1図従来例と異なるのは、第2負荷素子
QL2を追加した点である。DESCRIPTION OF EMBODIMENTS FIGS. 4A and 4B show the basic configuration of the present invention. A is
The NAND gate circuit, B is a NOR gate circuit, and what is different from the conventional example in Figure 1 is the second load element.
This is the addition of QL 2 .
即ち、回路AにおいてはQN1〜QNoが同極性
MOSトランジスタであり、QP1が逆極性トラン
ジスタ、QL1,QL2が第1,第2負荷素子、VSS
が第1電源、VDDが第2電源である。また、回路
BにおいてはQP1〜QPoが同極性MOSトランジ
スタであり、QN1が逆極性トランジスタ、QL1,
QL2が第1,第2負荷素子、VDDが第1電源,VSS
が第2電源である。 That is, in circuit A, QN 1 to QN o have the same polarity.
It is a MOS transistor, QP 1 is a reverse polarity transistor, QL 1 and QL 2 are the first and second load elements, and V SS
is the first power supply, and V DD is the second power supply. In addition, in circuit B, QP 1 to QP o are the same polarity MOS transistors, QN 1 is the opposite polarity transistor, QL 1 ,
QL 2 is the first and second load elements, V DD is the first power supply, V SS
is the second power supply.
次に、各接続点に浮遊容量C1〜Coがいたとき
の動作を、第5図に示す4入力(n=4)の
NANDゲート回路を例に第5図の波形図を参照
して説明する。 Next, we will explain the operation when there are stray capacitances C 1 to C o at each connection point using the 4-input (n = 4) shown in Figure 5.
This will be explained using a NAND gate circuit as an example with reference to the waveform diagram in FIG.
第6図に示すカウンタ出力のLSB(a1)〜MSB
(ao)を第5図のa1〜a4に入力する。まず、計数
値が15の場合、即ち、15〜0の期間ではa1〜a4は
全てHでN形トランジスタQN1〜QN4が全て
“ON”し、出力端子bの電位はVLとなる。VLの
大きさは、QN1〜QN4の合成ON抵抗と第1負荷
素子QL1の抵抗との分圧比及びQN2〜QN4の合成
ON抵抗と第2負荷素子QL2の抵抗との分圧比と
で決まり、第1負荷素子QL1の抵抗値に比べて第
2負荷素子QL2の抵抗値を小さく設定するので、
実際には後者の分圧比でVLの大きさが決まる。
この場合も次段回路が誤動作しないレベルに設定
しなければならない制約条件がある。 LSB (a 1 ) to MSB of the counter output shown in Figure 6
(a o ) is input into a 1 to a 4 in FIG. First, when the count value is 15, that is, in the period from 15 to 0, a 1 to a 4 are all H, all N-type transistors QN 1 to QN 4 are "ON", and the potential of the output terminal b is equal to V L. Become. The magnitude of V L is determined by the voltage division ratio of the combined ON resistance of QN 1 to QN 4 and the resistance of the first load element QL 1 , and the combination of QN 2 to QN 4 .
It is determined by the voltage division ratio between the ON resistance and the resistance of the second load element QL 2 , and the resistance value of the second load element QL 2 is set smaller than the resistance value of the first load element QL 1 .
In reality, the magnitude of V L is determined by the latter partial pressure ratio.
In this case as well, there is a constraint that the level must be set to prevent the next stage circuit from malfunctioning.
次に、期間0〜1ではa1〜a4が全てLでP形ト
ランジスタQP1のみが“ON”し、QN1〜QN4は
全てOFFする。従つて、C1にはQP1により電荷が
充電されて出力端子bはVDDになる。一方、C2に
は比較的低抵抗である第2負荷素子QL2により電
荷の充電がなされる。このとき、少なくとも0〜
1の期間内で充電が完了できれば、C2はVDDまで
充電される。従つて、次の期間1〜2でa1がHと
なりQN1が“ON”したときのC1からC2への電荷
分配は起らない。期間2〜3,4〜5,6〜7,
8〜9,10〜11,12〜13,14〜15ではa1がLであ
り、QP1が“ON”して出力端子bの電位はVDD
になるので従来例同様問題はない。次に、期間3
〜4では期間2〜3でQN2が“ON”となり、C3
への充電が第2負荷素子QL2によりなされ、C2は
既に充電しているから同じく電荷分配は起らな
い。以下、期間5〜6,7〜8,9〜10,11〜
12,13〜14において何れも電荷分配を防止でき、
従来例の問題点を解消することができる。なお、
第1,第2負荷素子QL1,QL2は能動素子(N形
またはP形トランジスタ等)で構成できることは
言うまでもない。 Next, in periods 0 to 1, a 1 to a 4 are all L, only the P-type transistor QP 1 is turned on, and all of QN 1 to QN 4 are turned off. Therefore, C1 is charged with charge by QP1 , and the output terminal b becomes VDD . On the other hand, C 2 is charged with electric charge by the second load element QL 2 having a relatively low resistance. At this time, at least 0~
If charging can be completed within a period of 1, C 2 will be charged to V DD . Therefore, when a 1 becomes H and QN 1 is turned "ON" in the next period 1 to 2, charge distribution from C 1 to C 2 does not occur. Period 2-3, 4-5, 6-7,
At 8 to 9, 10 to 11, 12 to 13, and 14 to 15, a1 is L, QP1 is “ON”, and the potential of output terminal b is V DD
Therefore, there is no problem as in the conventional example. Next, period 3
~4, QN 2 is “ON” in periods 2 and 3, and C 3
Since charging is done by the second load element QL 2 and C 2 has already been charged, no charge distribution occurs either. Below, periods 5-6, 7-8, 9-10, 11-
12, 13 to 14 can prevent charge distribution,
The problems of the conventional example can be solved. In addition,
It goes without saying that the first and second load elements QL 1 and QL 2 can be constructed from active elements (N-type or P-type transistors, etc.).
ここで、第2負荷素子QL2を抵抗または常時
“ON”している能動素子で構成する場合には、
VLの大きさを次段回路が誤動作しない値以下に
する必要があり、制約を受ける欠点がある。 Here, when the second load element QL 2 is configured with a resistor or an active element that is always “ON”,
It is necessary to keep the magnitude of V L below a value that does not cause the next stage circuit to malfunction, which has the disadvantage of being subject to restrictions.
第7図は係る制約条件を解消した本発明の1実
施例である。 FIG. 7 shows an embodiment of the present invention that eliminates such restrictive conditions.
第7図A,Bは、本発明の基本構成第4図A,
Bに対応して示した実施例であり、第4図との差
異は、第2負荷素子NL2に逆極性トランジスタ
QP1,QN1と同極性のQP2,QN2を用い、そのゲ
ートを逆極性トランジスタQP1,QN2のゲートに
接続したものである。 7A and 7B are the basic configuration of the present invention.
This is an embodiment shown corresponding to B, and the difference from FIG. 4 is that the second load element NL 2 has a reverse polarity transistor.
QP 2 and QN 2 having the same polarity as QP 1 and QN 1 are used, and their gates are connected to the gates of opposite polarity transistors QP 1 and QN 2 .
係る構成にすれば、回路AではQN1が“ON”
のときQP1と同様QP2OFFとすることができるた
め、VLのレベルを決めるのに関与しない構成が
採れ、かつQN1が“OFF”のときQP1と同様
“ON”するため、浮遊容量C1の充電にはQP1の
みで、C2〜Coの充電にはQP2のみで行なうことが
可能であり、VLに制約されないON抵抗とするこ
とができ、確実な動作ができるものである。 With such a configuration, QN 1 is “ON” in circuit A.
Since QP 2 can be OFF like QP 1 when Capacity C 1 can be charged using only QP 1 , and C 2 to C o can be charged using only QP 2. The ON resistance is not restricted by V L , and reliable operation is possible. It is something.
発明の効果
以上説明した如く、本発明によれば、構成素子
数の少ない(n+2)多入力CMOSゲート回路
に1つの第2負荷素子を追加するだけの構成で入
力構成を全く変更せずに浮遊容量による電荷分配
現象を解消でき、確実な動作を具現し得ると共
に、構成素子数2n個の完全CMOS多入力ゲート
回路に比べて集積回路化したときのチツプサイズ
は小さくでき、その動作特性は同等で、消費電流
も比較的小さくできる等の効果を合せ持つてい
る。Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, by simply adding one second load element to a (n+2) multi-input CMOS gate circuit with a small number of constituent elements, floating can be achieved without changing the input configuration at all. It can eliminate the charge distribution phenomenon caused by capacitance and realize reliable operation, and when integrated, the chip size can be smaller than a complete CMOS multi-input gate circuit with 2n components, and its operating characteristics are the same. This also has the advantage of relatively low current consumption.
第1図は従来の多入力CMOSゲート回路の構
成図、第2図は従来の多入力CMOSゲート回路
の動作説明に供する4入力NANDゲート回路の
構成図、第3図は第2図の動作波形図、第4図は
本発明の多入力CMOSゲート回路の基本構成図、
第5図は本発明の多入力CMOSゲート回路の動
作説明に供する4入力NANDゲート回路の構成
図、第6図は第5図の動作波形図、第7図は本発
明の一実施例である多入力CMOSゲート回路の
構成図である。
VDD,VSS……電源、QN1〜QNo……Nチヤネ
ルMOSトランジスタ、QP1〜QPo……Pチヤネ
ルMOSトランジスタ、QL1……第1負荷素子、
QL2……第2負荷素子、a1〜ao……ゲート入力ま
たはゲート入力端子、b……出力端子。
Fig. 1 is a block diagram of a conventional multi-input CMOS gate circuit, Fig. 2 is a block diagram of a 4-input NAND gate circuit to explain the operation of a conventional multi-input CMOS gate circuit, and Fig. 3 is the operating waveform of Fig. 2. 4 is a basic configuration diagram of a multi-input CMOS gate circuit of the present invention,
Fig. 5 is a configuration diagram of a 4-input NAND gate circuit to explain the operation of the multi-input CMOS gate circuit of the present invention, Fig. 6 is an operation waveform diagram of Fig. 5, and Fig. 7 is an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of a multi-input CMOS gate circuit. V DD , V SS ... power supply, QN 1 - QN o ... N channel MOS transistor, QP 1 - QP o ... P channel MOS transistor, QL 1 ... first load element,
QL 2 ... second load element, a 1 to a o ... gate input or gate input terminal, b ... output terminal.
Claims (1)
あつて、出力端子と第1電源との間に接続した複
数の直列接続された同極性MOSトランジスタか
らなり、かつ、前記同極性MOSトランジスタの
ゲートには前記カウンタの出力が接続されるもの
であり、前記カウンタの下位ビツト側の出力ほど
前記出力端子側に接続されたトランジスタに入力
し、上位ビツト側の出力ほど前記第1電源側に接
続されたトランジスタに入力するMOSトランジ
スタ群と、 第2電源と前記出力端子との間に接続し、か
つ、前記MOSトランジスタ群のうちの前記出力
端子に接続されたトランジスタとコンプリメンタ
リ構成となるようにゲートを接続した前記MOS
トランジスタ群とは逆極性の逆極性MOSトラン
ジスタと、 前記出力端子と前記第2電源との間に接続した
第1負荷素子と、 前記MOSトランジスタ群のうちの前記出力端
子に接続されたトランジスタの前記第1電源側の
接続点と前記第2電源との間に接続した第2負荷
素子と、 を備えた多入力CMOSゲート回路。 2 第1負荷素子を能動素子で構成した特許請求
の範囲第1項記載の多入力CMOSゲート回路。 3 第2負荷素子を能動素子で構成した特許請求
の範囲第1項、または第2項記載の多入力
CMOSゲート回路。 4 第2負荷素子を逆極性MOSトランジスタと
同じ極性のトランジスタで構成すると共に、その
ゲートを前記逆極性MOSトランジスタのゲート
に接続した特許請求の範囲第1項、または第2項
記載の多入力CMOSゲート回路。[Scope of Claims] 1. A gate circuit for decoding the output of a counter, comprising a plurality of series-connected same-polarity MOS transistors connected between an output terminal and a first power supply, and comprising a plurality of series-connected same-polarity MOS transistors. The output of the counter is connected to the gate of the transistor, and the output of the counter on the lower bit side is input to the transistor connected to the output terminal side, and the output on the higher bit side is input to the transistor connected to the first power supply side. A group of MOS transistors input to the transistor connected to the transistor connected to the transistor connected between the second power source and the output terminal and a transistor connected to the output terminal of the group of MOS transistors have a complementary configuration. The MOS with the gate connected to
a reverse polarity MOS transistor having a polarity opposite to that of the transistor group; a first load element connected between the output terminal and the second power source; and a first load element connected to the output terminal of the MOS transistor group. A multi-input CMOS gate circuit comprising: a second load element connected between a connection point on the first power supply side and the second power supply. 2. The multi-input CMOS gate circuit according to claim 1, wherein the first load element is an active element. 3. Multiple inputs according to claim 1 or 2, in which the second load element is composed of an active element.
CMOS gate circuit. 4. The multi-input CMOS according to claim 1 or 2, wherein the second load element is composed of a transistor of the same polarity as the reverse polarity MOS transistor, and its gate is connected to the gate of the reverse polarity MOS transistor. gate circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58240104A JPS60130921A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Multi-input CMOS gate circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58240104A JPS60130921A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Multi-input CMOS gate circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60130921A JPS60130921A (en) | 1985-07-12 |
| JPH0465571B2 true JPH0465571B2 (en) | 1992-10-20 |
Family
ID=17054546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58240104A Granted JPS60130921A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Multi-input CMOS gate circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60130921A (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56107644A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-26 | Toshiba Corp | Logical circuit |
| JPS58196729A (en) * | 1982-05-11 | 1983-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | C-MOS multi-input gate circuit |
-
1983
- 1983-12-20 JP JP58240104A patent/JPS60130921A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60130921A (en) | 1985-07-12 |
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