JPH0472161B2 - - Google Patents
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- JPH0472161B2 JPH0472161B2 JP4759581A JP4759581A JPH0472161B2 JP H0472161 B2 JPH0472161 B2 JP H0472161B2 JP 4759581 A JP4759581 A JP 4759581A JP 4759581 A JP4759581 A JP 4759581A JP H0472161 B2 JPH0472161 B2 JP H0472161B2
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- JP
- Japan
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- hologram
- light
- optical
- interference fringes
- optical system
- Prior art date
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 81
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001093 holography Methods 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はホログラフイーを利用した直線計や
回転角度計等の変位計に関するものである。
回転角度計等の変位計に関するものである。
例えば工作機械等においては、刃物台等が案内
に沿つて直線運動するようになつており、その運
動の直線性の良否が加工精度の良否を決定する重
要な要因となつている。したがつて、このような
工作機械等においては、組立てや精度検査の時に
刃物台等の横振れ(運動方向に垂直な平面内での
変位二成分)や回転変位を検査する必要がある。
また加工中に刃物台等の横振れや回転変位を常時
検出して運動を直線状に制御して加工精度の向上
をはかろうとする試みもあり、刃物台等の部材の
これら直線変位や回転変位を検出するためには直
線計や回転角度計等の変位計が使用される。その
ような変位計のうち光学的な変位計としては従来
オート・コリメーター等が利用されているが、オ
ート・コリメーターは反射光による像と元の像を
重ね合わせて求める方法で、反射鏡がθ傾いてい
る場合には、対物レンズの焦点距離をfとする
と、2fθによつて与えられる。また読み取り精度
がレンズのF値によつて決定され、焦点距離が長
く、かつ、F値の小さいレンズを得ることは困難
であるところから、その測定精度に限度がある。
に沿つて直線運動するようになつており、その運
動の直線性の良否が加工精度の良否を決定する重
要な要因となつている。したがつて、このような
工作機械等においては、組立てや精度検査の時に
刃物台等の横振れ(運動方向に垂直な平面内での
変位二成分)や回転変位を検査する必要がある。
また加工中に刃物台等の横振れや回転変位を常時
検出して運動を直線状に制御して加工精度の向上
をはかろうとする試みもあり、刃物台等の部材の
これら直線変位や回転変位を検出するためには直
線計や回転角度計等の変位計が使用される。その
ような変位計のうち光学的な変位計としては従来
オート・コリメーター等が利用されているが、オ
ート・コリメーターは反射光による像と元の像を
重ね合わせて求める方法で、反射鏡がθ傾いてい
る場合には、対物レンズの焦点距離をfとする
と、2fθによつて与えられる。また読み取り精度
がレンズのF値によつて決定され、焦点距離が長
く、かつ、F値の小さいレンズを得ることは困難
であるところから、その測定精度に限度がある。
一方、最近ホログラフイー技術が干渉計測い応
用され、生ずる干渉縞の性質も明らかにされてき
つつあるところから、ホログラフイー干渉法を変
位計に応用することが考えられている。この発明
者等も、ホログラフイーを利用した新たな変位計
を開発し、高精度の測定を可能にした。(昭和55
年特許願第39476号、昭和55年特許願第168996号
等参照) これら新たに開発された変位計のうち、直線計
の一列を簡単に説明すると、第1図に示す如く、
固定体上に位置する光学素子群10の構成素子た
るレーザー発光装置2を発光させ、ビームスプリ
ツタ3によつて光F1と光F2とに分割し、光F2を
移動体上に位置するホログラム4に照射し、ホロ
グラム4から物体光を再生(再生物体光)し、ま
た、光F1で拡散板5を照明し、拡散板5からの
物体光をホログラム4に照明し、この物体光を前
述の再生物体光と干渉させる。この干渉によつて
生ずる干渉縞はスクリーン6上に観測可能に投影
される。この干渉縞を観測することによつて物体
光の光軸に垂直な平面内での移動体の変位一成分
若しくは変位二成分を同時に検出することができ
る。
用され、生ずる干渉縞の性質も明らかにされてき
つつあるところから、ホログラフイー干渉法を変
位計に応用することが考えられている。この発明
者等も、ホログラフイーを利用した新たな変位計
を開発し、高精度の測定を可能にした。(昭和55
年特許願第39476号、昭和55年特許願第168996号
等参照) これら新たに開発された変位計のうち、直線計
の一列を簡単に説明すると、第1図に示す如く、
固定体上に位置する光学素子群10の構成素子た
るレーザー発光装置2を発光させ、ビームスプリ
ツタ3によつて光F1と光F2とに分割し、光F2を
移動体上に位置するホログラム4に照射し、ホロ
グラム4から物体光を再生(再生物体光)し、ま
た、光F1で拡散板5を照明し、拡散板5からの
物体光をホログラム4に照明し、この物体光を前
述の再生物体光と干渉させる。この干渉によつて
生ずる干渉縞はスクリーン6上に観測可能に投影
される。この干渉縞を観測することによつて物体
光の光軸に垂直な平面内での移動体の変位一成分
若しくは変位二成分を同時に検出することができ
る。
ところで、ここで用いられているホログラフイ
は、オフアクシスホログラフイー、または2光束
ホログラフイーであるが、オフアクシスホログラ
フイーは、参照光束F2が物体光束F1に対して傾
きを持つているため、光路は長くなるとホログラ
ムのできる領域及び再生する領域が小さくなり、
光路長がさらに長くなると、ついには両光束が分
離されてしまう。つまり、このオフアクシスホロ
グラフイーを利用した直線計では、移動台の移動
距離が大きい場合には、移動台の横方向変位の検
出が不可能になるという問題を提起する。
は、オフアクシスホログラフイー、または2光束
ホログラフイーであるが、オフアクシスホログラ
フイーは、参照光束F2が物体光束F1に対して傾
きを持つているため、光路は長くなるとホログラ
ムのできる領域及び再生する領域が小さくなり、
光路長がさらに長くなると、ついには両光束が分
離されてしまう。つまり、このオフアクシスホロ
グラフイーを利用した直線計では、移動台の移動
距離が大きい場合には、移動台の横方向変位の検
出が不可能になるという問題を提起する。
このことは、直線移動すべき移動台等の回転変
位を検出するための、回転角度計についても同様
であつて、移動台の直線移動距離が大きい場合に
は、その移動台の回転変位を検出することができ
なくなる。
位を検出するための、回転角度計についても同様
であつて、移動台の直線移動距離が大きい場合に
は、その移動台の回転変位を検出することができ
なくなる。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたも
のであつて、直線運動する物体の移動距離の大き
い場合の変位測定をも可能にするホログラム変位
計を提供することを目的とするものである。
のであつて、直線運動する物体の移動距離の大き
い場合の変位測定をも可能にするホログラム変位
計を提供することを目的とするものである。
この目的に対応して、この発明のインラインホ
ログラム直線計は、物体光と参照光を発生させる
光学系と、前記光学系から出射する光の光路上に
おいて前記参照光により再生可能に置かれたホロ
グラムにして、該ホログラムは該光路の基準位置
において前記物体光と前記参照光により形成され
た干渉縞を記録したものと、前記ホログラムから
の再生像の波面と前記光学系からの物体光により
干渉縞を生ぜしめ、かつ該干渉縞の変化を測定す
る検出系と、から成り、更に、前記物体光の光軸
と前記参照光の光軸を平行にし、かつ、前記光路
に対する平行を保ちつつ前記光学系に対して前記
ホログラムが相対変位するように設けられたこと
を特徴としている。また、この発明のインライン
ホログラム回転計は、物体光と参照光を発生させ
る光学系と、前記光学系から出射する光の光路上
において前記参照光により再生可能に置かれたホ
ログラムにして、該ホログラムは該光路の基準位
置において前記物体光と前記参照光により形成さ
れた干渉縞を記録したものと、前記ホログラムか
らの再生像の波面と前記光学系からの物体光によ
り干渉縞を生ぜしめ、かつ該干渉縞の変化を測定
する検出系と、から成り、更に、前記物体光の光
軸と前記参照光の光軸を平行にし、かつ、前記光
学系及び前記ホログラムに対して相対回転変位
し、該変位により前記光路を該ホログラムに対し
て平行にシフトさせる光学要素が設けられたこと
を特徴としている。
ログラム直線計は、物体光と参照光を発生させる
光学系と、前記光学系から出射する光の光路上に
おいて前記参照光により再生可能に置かれたホロ
グラムにして、該ホログラムは該光路の基準位置
において前記物体光と前記参照光により形成され
た干渉縞を記録したものと、前記ホログラムから
の再生像の波面と前記光学系からの物体光により
干渉縞を生ぜしめ、かつ該干渉縞の変化を測定す
る検出系と、から成り、更に、前記物体光の光軸
と前記参照光の光軸を平行にし、かつ、前記光路
に対する平行を保ちつつ前記光学系に対して前記
ホログラムが相対変位するように設けられたこと
を特徴としている。また、この発明のインライン
ホログラム回転計は、物体光と参照光を発生させ
る光学系と、前記光学系から出射する光の光路上
において前記参照光により再生可能に置かれたホ
ログラムにして、該ホログラムは該光路の基準位
置において前記物体光と前記参照光により形成さ
れた干渉縞を記録したものと、前記ホログラムか
らの再生像の波面と前記光学系からの物体光によ
り干渉縞を生ぜしめ、かつ該干渉縞の変化を測定
する検出系と、から成り、更に、前記物体光の光
軸と前記参照光の光軸を平行にし、かつ、前記光
学系及び前記ホログラムに対して相対回転変位
し、該変位により前記光路を該ホログラムに対し
て平行にシフトさせる光学要素が設けられたこと
を特徴としている。
以下、この発明の詳細を一実施例を示す図面に
ついて説明する。
ついて説明する。
第2図において、100は直線計である。直線
計100はブロツクAで示される構成部材とブロ
ツクBで示される構成部材とから成つている。ブ
ロツクAに含まれる構成部材は刃物台等の移動体
8に取り付けられ、またブロツクBに含まれる構
成部材は基礎等の固定体に取り付けられている。
計100はブロツクAで示される構成部材とブロ
ツクBで示される構成部材とから成つている。ブ
ロツクAに含まれる構成部材は刃物台等の移動体
8に取り付けられ、またブロツクBに含まれる構
成部材は基礎等の固定体に取り付けられている。
ブロツクAに含まれる構成部材としては、ホロ
グラム4、集光レンズ7及びスクリーン6があ
り、これらのホログラム4、集光レンズ7及びス
クリーン6は同一光軸上に移動体8上に取り付け
られている。移動体8は本来光軸方向に移動し得
るように構成されたものである。
グラム4、集光レンズ7及びスクリーン6があ
り、これらのホログラム4、集光レンズ7及びス
クリーン6は同一光軸上に移動体8上に取り付け
られている。移動体8は本来光軸方向に移動し得
るように構成されたものである。
一方、ブロツクBに含まれる構成部材として
は、レーザー発光装置2、ビームスプリツター
3、ビームスプリツター11、コリメーターレン
ズ12、ミラー13、顕微鏡対物レンズ14、ピ
ンホール15、顕微鏡対物レンズ16、ピンホー
ル17、ミラー18、コリメーターレンズ19及
びミラー21を含んでいる。
は、レーザー発光装置2、ビームスプリツター
3、ビームスプリツター11、コリメーターレン
ズ12、ミラー13、顕微鏡対物レンズ14、ピ
ンホール15、顕微鏡対物レンズ16、ピンホー
ル17、ミラー18、コリメーターレンズ19及
びミラー21を含んでいる。
ホログラム4を作成する場合には、この第2図
に示す構成において、次のようにする。まず感光
材4′をホログラム4の位置に置き、次にレーザ
ー発光装置2を発光させる。レーザー発光装置2
からの光をビームスプリツター3で2分割し、一
方の光F1を顕微鏡対物レンズ16とコリメータ
ーレンズ19で拡げ、平行光束にしてすりガラス
から成る拡散板5を照明し、コリメーターレンズ
12を通過後物体光として使用し、ホログラム4
の位置にある感光材4′を露光させる。他の光F2
は顕微鏡対物レンズ14及びコリメーターレンズ
12で平行光束にし、参照光として使用する。こ
のようにしてホログラム4の位置に置かれた感光
材4′に拡散板5からの物体光を平面波の参照光
でホログラムとして記録し、写真処理してホログ
ラムが完成する。
に示す構成において、次のようにする。まず感光
材4′をホログラム4の位置に置き、次にレーザ
ー発光装置2を発光させる。レーザー発光装置2
からの光をビームスプリツター3で2分割し、一
方の光F1を顕微鏡対物レンズ16とコリメータ
ーレンズ19で拡げ、平行光束にしてすりガラス
から成る拡散板5を照明し、コリメーターレンズ
12を通過後物体光として使用し、ホログラム4
の位置にある感光材4′を露光させる。他の光F2
は顕微鏡対物レンズ14及びコリメーターレンズ
12で平行光束にし、参照光として使用する。こ
のようにしてホログラム4の位置に置かれた感光
材4′に拡散板5からの物体光を平面波の参照光
でホログラムとして記録し、写真処理してホログ
ラムが完成する。
ここで特に重要なこととして注意すべき点は、
参照光と物体光の位置である。すなわち、この発
明では、参照光と物体光とは接近した位置にあつ
て平行をなし、最適な場合では参照光と物体光は
共通光路をとつている。つまり、ここで使用され
るホログラフイーはインラインホログラフイー若
しくは単光束ホログラフイーであつて、最適な場
合では両光束の中心は一致する、すなわち、拡散
板5の像面において物体光束の中心に参照光束が
くるが、そうでない場合にも、参照光束と物体光
束は拡散板5の像面において部分的に重なつてい
る。
参照光と物体光の位置である。すなわち、この発
明では、参照光と物体光とは接近した位置にあつ
て平行をなし、最適な場合では参照光と物体光は
共通光路をとつている。つまり、ここで使用され
るホログラフイーはインラインホログラフイー若
しくは単光束ホログラフイーであつて、最適な場
合では両光束の中心は一致する、すなわち、拡散
板5の像面において物体光束の中心に参照光束が
くるが、そうでない場合にも、参照光束と物体光
束は拡散板5の像面において部分的に重なつてい
る。
このように構成された直線計100による移動
体8の横方向変位の測定は次のようにする。ま
ず、レーザー発光装置2を発光させて、2光束
F1,F2を得て、このうち、光束F1を拡散板5を
通して物体光とし、また、光束F2は拡散板5を
通さずに参照光とするが、ビームスプリツター1
1の出口側で、物体光F1と参照光F2とは光軸が
一致し、共通光路をとつてホログラム4を照明す
る。このうち参照光はホログラム4に記録されて
いる物体光を再生させて再生物体光が発生し、こ
の再生物体光を前述の物体光と干渉させる。この
干渉によつて生ずる干渉縞はスクリーン上に観測
可能に投影される。
体8の横方向変位の測定は次のようにする。ま
ず、レーザー発光装置2を発光させて、2光束
F1,F2を得て、このうち、光束F1を拡散板5を
通して物体光とし、また、光束F2は拡散板5を
通さずに参照光とするが、ビームスプリツター1
1の出口側で、物体光F1と参照光F2とは光軸が
一致し、共通光路をとつてホログラム4を照明す
る。このうち参照光はホログラム4に記録されて
いる物体光を再生させて再生物体光が発生し、こ
の再生物体光を前述の物体光と干渉させる。この
干渉によつて生ずる干渉縞はスクリーン上に観測
可能に投影される。
今仮に、光軸と一致し若しくは平行な移動方向
を持つ移動体8が横変位した場合には、ホログラ
ムが横変位し、このため再生物体光の波面が横方
向へ変位して生ずる。このように横変位の場合に
は、スクリーン上に局在する直線上の干渉縞にな
る。これまでのホログラフイーによる干渉縞の解
析から、干渉縞の線方向に対して垂直方向が可動
体の変位方向になることがわかる。
を持つ移動体8が横変位した場合には、ホログラ
ムが横変位し、このため再生物体光の波面が横方
向へ変位して生ずる。このように横変位の場合に
は、スクリーン上に局在する直線上の干渉縞にな
る。これまでのホログラフイーによる干渉縞の解
析から、干渉縞の線方向に対して垂直方向が可動
体の変位方向になることがわかる。
(1) 第3図には典型的な3つの干渉パターンと変
位方向が示されており、このようにして光軸に
垂直な2次元面内の変位を計測することができ
る。この場合、移動体8の移動方向を光学系の
光軸(ミラー21からホログラム6に到達する
平行光の中心線)に一致または平行に調整せね
ばならない。そのために、ミラー21はミラー
面内の2軸まわりの回転機構とコリメーターレ
ンズ12の光軸方向への移動機構を取り付けて
ある。また、ミラー21の前方に平行平面板か
らなる偏光板を置き、この偏向板を光軸に垂直
2軸のまわりに回転することにより、波面を上
下、左右方向に変位して微調整を行う。
位方向が示されており、このようにして光軸に
垂直な2次元面内の変位を計測することができ
る。この場合、移動体8の移動方向を光学系の
光軸(ミラー21からホログラム6に到達する
平行光の中心線)に一致または平行に調整せね
ばならない。そのために、ミラー21はミラー
面内の2軸まわりの回転機構とコリメーターレ
ンズ12の光軸方向への移動機構を取り付けて
ある。また、ミラー21の前方に平行平面板か
らなる偏光板を置き、この偏向板を光軸に垂直
2軸のまわりに回転することにより、波面を上
下、左右方向に変位して微調整を行う。
(2) 可動体変位方向の正負の判定:以上の操作に
より可動体が左右の方向に変位したか、上下方
向に変位したかを判定することができるが、次
に変位の方向の正負の判定について述べる。い
ま、ホログラム4を例えば右方向に移動させて
おき、スクリーン6に干渉縞を生じさせてお
く。この時、可動体が右方向に変位した場合に
は、干渉縞の本数が増加し、左方向に変位した
場合には本数が減少する。このように干渉縞の
本数の増減によつて、方向の正負の判定をする
ことができる。
より可動体が左右の方向に変位したか、上下方
向に変位したかを判定することができるが、次
に変位の方向の正負の判定について述べる。い
ま、ホログラム4を例えば右方向に移動させて
おき、スクリーン6に干渉縞を生じさせてお
く。この時、可動体が右方向に変位した場合に
は、干渉縞の本数が増加し、左方向に変位した
場合には本数が減少する。このように干渉縞の
本数の増減によつて、方向の正負の判定をする
ことができる。
(3) 精度:空気のゆらぎや外部振動のない理想的
な場合を求めよう。いま、移動体8の横変位量
を光軸に対して垂直面内でΔx,Δy、スクリー
ン6上の座標をξ,ηとすると干渉縞の最大強
度の軌跡はΔx・η+Δy・ξ=nλf(但し、n=
0、±1、±2、……、fは集束レンズ7の焦点
距離)によつて表わされる。簡単にするために
横変位だけが生じた場合には、Δy=0として
Δx=nλ・f/η、視野の中にはn本の干渉縞
が生ずる場合にはΔx=nλF(但し、Fはレンズ
のF数)。いま、視野の中に1本の干渉縞が増
加するための移動量をΔxlとすると、 Δxl=λF、λ=0.633μm、F=15とするとλxl
≒9.5μmとなる。干渉縞の増加が1/10フリンジ
まで読める場合には、 約1μmの横移動まで検出される。
な場合を求めよう。いま、移動体8の横変位量
を光軸に対して垂直面内でΔx,Δy、スクリー
ン6上の座標をξ,ηとすると干渉縞の最大強
度の軌跡はΔx・η+Δy・ξ=nλf(但し、n=
0、±1、±2、……、fは集束レンズ7の焦点
距離)によつて表わされる。簡単にするために
横変位だけが生じた場合には、Δy=0として
Δx=nλ・f/η、視野の中にはn本の干渉縞
が生ずる場合にはΔx=nλF(但し、Fはレンズ
のF数)。いま、視野の中に1本の干渉縞が増
加するための移動量をΔxlとすると、 Δxl=λF、λ=0.633μm、F=15とするとλxl
≒9.5μmとなる。干渉縞の増加が1/10フリンジ
まで読める場合には、 約1μmの横移動まで検出される。
このように、この発明のホログラム変位計にお
いては、物体光と参照光が平行な光路ないし共通
光路をとるから、両光束が遠方においても分離す
ることがなく、したがつてホログラムを遠方に置
くことができ、換言すれば、ホログラムを取り付
けた移動体の移動距離が大きくても、ホログラフ
イー干渉による横方向変位の検出が可能である。
また、光学系が単純となるほか、共通光路のため
に、空気のゆらぎや、外部振動による影響が両光
束について同一であるから、これらの影響に対す
る補正の問題も生じない。
いては、物体光と参照光が平行な光路ないし共通
光路をとるから、両光束が遠方においても分離す
ることがなく、したがつてホログラムを遠方に置
くことができ、換言すれば、ホログラムを取り付
けた移動体の移動距離が大きくても、ホログラフ
イー干渉による横方向変位の検出が可能である。
また、光学系が単純となるほか、共通光路のため
に、空気のゆらぎや、外部振動による影響が両光
束について同一であるから、これらの影響に対す
る補正の問題も生じない。
以上の説明は、この発明を直線計に適用した実
施例についてのものであるが、この発明を回転角
度計に適用した場合にも同様である。すなわち、
この発明を回転角度計に適用した一例は第3図に
示す通りである。
施例についてのものであるが、この発明を回転角
度計に適用した場合にも同様である。すなわち、
この発明を回転角度計に適用した一例は第3図に
示す通りである。
第4図において、100′は回転角度計である。
回転角度計100′はブロツクCで示される構成
部材とブロツクDで示される構成部材となら成つ
ている。ブロツクCに含まれる構成部材は刃物台
等の回転角度を検出しようとする移動体8に取り
付けられ、また、ブロツクDに含まれる構成部材
は基礎等の固定部に取り付けられている。
回転角度計100′はブロツクCで示される構成
部材とブロツクDで示される構成部材となら成つ
ている。ブロツクCに含まれる構成部材は刃物台
等の回転角度を検出しようとする移動体8に取り
付けられ、また、ブロツクDに含まれる構成部材
は基礎等の固定部に取り付けられている。
ブロツクCに含まれる構成部材としては、反射
素子24があり、反射素子24は移動体8上に取
り付けられている。
素子24があり、反射素子24は移動体8上に取
り付けられている。
一方、ブロツクDに含まれる構成部材として
は、光素子群10、ホログラム4、集光レンズ7
及びスクリーン6がある。光学素子群10は第2
図に示す光学素子群10と同じ構成である。
は、光素子群10、ホログラム4、集光レンズ7
及びスクリーン6がある。光学素子群10は第2
図に示す光学素子群10と同じ構成である。
反射素子24は第4図に示す如く、2枚のミラ
ー22,23を備えている。ミラー22,23は
反射面を平行に、かつ、対向させて位置させてお
り、光学素子群10からホログラム4までの光路
の途中に位置している。ミラー22,23の光学
素子群10からの光束の光軸に対して所定の角度
(この実施例においては、光軸に対して45°)をな
しており、光学素子群10からの光束はミラー2
2によつて光路を変更してミラー23に入射し、
更にミラー23で反射して光路を変更してホログ
ラム4を照射する。
ー22,23を備えている。ミラー22,23は
反射面を平行に、かつ、対向させて位置させてお
り、光学素子群10からホログラム4までの光路
の途中に位置している。ミラー22,23の光学
素子群10からの光束の光軸に対して所定の角度
(この実施例においては、光軸に対して45°)をな
しており、光学素子群10からの光束はミラー2
2によつて光路を変更してミラー23に入射し、
更にミラー23で反射して光路を変更してホログ
ラム4を照射する。
このような構成の回転角度計においては、まず
反射素子24の回転前の基準位置における拡散板
5に関するホログラム4を作成する必要がある。
ホログラム4の作成は次の通りである。まず感光
材をホログラム4の位置に置き、次にレーザー発
光装置2を発光させる。レーザー発光装置2から
の光をビームスプリツタ3で二分割し、一方の光
F1を顕微鏡対物レンズ16とコリメータレンズ
19で拡げ、平行光束にして拡散板5を照明し、
コリメータレンズ11を通過後、物体光として使
用し、反射素子24を介してホログラム4の位置
にある感光材を露光させる。他方、光F2は顕微
鏡対物レンズ14及びコリメータレンズ11で平
行光束にし、参照光として使用する。このように
してホログラム4の位置におかれた感光材に拡散
板5からの物体光を平面波の参照光でホログラム
として記録し、写真処理後、元のホログラム4の
位置に配置する。これにより回転角度計100′
が完成する。
反射素子24の回転前の基準位置における拡散板
5に関するホログラム4を作成する必要がある。
ホログラム4の作成は次の通りである。まず感光
材をホログラム4の位置に置き、次にレーザー発
光装置2を発光させる。レーザー発光装置2から
の光をビームスプリツタ3で二分割し、一方の光
F1を顕微鏡対物レンズ16とコリメータレンズ
19で拡げ、平行光束にして拡散板5を照明し、
コリメータレンズ11を通過後、物体光として使
用し、反射素子24を介してホログラム4の位置
にある感光材を露光させる。他方、光F2は顕微
鏡対物レンズ14及びコリメータレンズ11で平
行光束にし、参照光として使用する。このように
してホログラム4の位置におかれた感光材に拡散
板5からの物体光を平面波の参照光でホログラム
として記録し、写真処理後、元のホログラム4の
位置に配置する。これにより回転角度計100′
が完成する。
ここで特に重要なこととして注意すべき点は、
参照光と物体光の位置である。すなわち、この発
明では、参照光と物体光とは接近した位置にあつ
て平行をなし、最適な場合では参照光と物体光は
共通光路をとつている。つまり、ここで使用され
るホログラフイーはインラインホログラフイー若
しくは単光束ホログラフイーであつて、最適な場
合では両光束の中心は一致する、すなわち、拡散
板5の像面において物体光束の中心に参照光束が
くるが、そうでない場合にも、参照光束と物体光
光束は拡散板5の像面において部分的に重なつて
いる。
参照光と物体光の位置である。すなわち、この発
明では、参照光と物体光とは接近した位置にあつ
て平行をなし、最適な場合では参照光と物体光は
共通光路をとつている。つまり、ここで使用され
るホログラフイーはインラインホログラフイー若
しくは単光束ホログラフイーであつて、最適な場
合では両光束の中心は一致する、すなわち、拡散
板5の像面において物体光束の中心に参照光束が
くるが、そうでない場合にも、参照光束と物体光
光束は拡散板5の像面において部分的に重なつて
いる。
このようにして準備が完了した回転角度計10
0′による移動体8の回転角度(ブロツクCの回
転角度)の測定は次のようにする。まず、ブロツ
クDのレーザー発光装置2を発光させ、ビームス
プリツタ3によつて光F1と光F2とに分割し、光
F2を反射素子24を介してホログラム4に照射
し、ホログラム4から物体光を再生(再生物体
光)し、また、光F1で拡散板5に証明し、拡散
板5からの物体光を反射素子24を介してホログ
ラム4に照射し、この物体光を前述の再生物体光
と干渉させる。この干渉によつて生ずる干渉縞は
スクリーン6上に観測可能に投影される。この干
渉縞を観測することによつてy軸(紙面垂直な
軸)のまわりの移動体の回転角度を検出すること
ができる。
0′による移動体8の回転角度(ブロツクCの回
転角度)の測定は次のようにする。まず、ブロツ
クDのレーザー発光装置2を発光させ、ビームス
プリツタ3によつて光F1と光F2とに分割し、光
F2を反射素子24を介してホログラム4に照射
し、ホログラム4から物体光を再生(再生物体
光)し、また、光F1で拡散板5に証明し、拡散
板5からの物体光を反射素子24を介してホログ
ラム4に照射し、この物体光を前述の再生物体光
と干渉させる。この干渉によつて生ずる干渉縞は
スクリーン6上に観測可能に投影される。この干
渉縞を観測することによつてy軸(紙面垂直な
軸)のまわりの移動体の回転角度を検出すること
ができる。
今仮に、移動体がy軸のまわりにθだけ回転し
たとすると、第5図に示すように、移動体に取り
付けられているミラー22,23も鎖線22′,
23′で示す位置にy軸を中心として回転する。
このミラーの回転により、光学素子群10からの
拡散板5の物体光の光束が回転前にはミラー2
2,23においてa点、b点で反射していたのに
対し、回転後においてはa′点、b′点で反射するこ
ととなり、反射素子24の出射側において横方向
にΔだけシフトし、このため再生物体光の波面が
横方向にシフトする結果、スクリーン6上に、第
6図に示く如く、直線状の干渉縞が生じる。
たとすると、第5図に示すように、移動体に取り
付けられているミラー22,23も鎖線22′,
23′で示す位置にy軸を中心として回転する。
このミラーの回転により、光学素子群10からの
拡散板5の物体光の光束が回転前にはミラー2
2,23においてa点、b点で反射していたのに
対し、回転後においてはa′点、b′点で反射するこ
ととなり、反射素子24の出射側において横方向
にΔだけシフトし、このため再生物体光の波面が
横方向にシフトする結果、スクリーン6上に、第
6図に示く如く、直線状の干渉縞が生じる。
干渉縞の縞間隔Δξ、移動体の回転角度θ、光
の波長をλ、レンズの焦点距離F、ミラー22,
23の間隔をDとすると、 Δξ=(λ・f)/〔D{−1√2sin(θ+(π/4
))}〕……(1) から移動体の回転角θをスクリーン上の縞間隔
Δξの測定によつて検出することができる。
の波長をλ、レンズの焦点距離F、ミラー22,
23の間隔をDとすると、 Δξ=(λ・f)/〔D{−1√2sin(θ+(π/4
))}〕……(1) から移動体の回転角θをスクリーン上の縞間隔
Δξの測定によつて検出することができる。
なお、光学素子群10は、他のホログラムでお
き換えることができる。その光学素子群10と他
のホログラムとのおき換えの技術については前記
の昭和55年特許願第168996号「ホログラム回転角
度計」に詳細に述べられている。
き換えることができる。その光学素子群10と他
のホログラムとのおき換えの技術については前記
の昭和55年特許願第168996号「ホログラム回転角
度計」に詳細に述べられている。
すなわち、第7図に示すように感光材10″を
光学素子群10の光路出口側に置き、レーザー発
光装置2を発光させて感光材10″を露光し、写
真処理して完成する。これによつて光学上無限遠
若しくは無限遠と等価の距離に位置する物体(拡
散板5)の物体光と参照光とを記録したホログラ
ム10′が得られる。ホログラム10′は光学素子
10の発した物体光と参照光を記録したものであ
るから、第8図に示すように、レーザー発光装置
30からホログラム10′に平行光束を照射した
場合には、物体光と参照光を生じさせる機能にお
いて光学素子群10と等価のものである。こうし
て光学素子群10は他のホログラム10′でおき
換えることができる。
光学素子群10の光路出口側に置き、レーザー発
光装置2を発光させて感光材10″を露光し、写
真処理して完成する。これによつて光学上無限遠
若しくは無限遠と等価の距離に位置する物体(拡
散板5)の物体光と参照光とを記録したホログラ
ム10′が得られる。ホログラム10′は光学素子
10の発した物体光と参照光を記録したものであ
るから、第8図に示すように、レーザー発光装置
30からホログラム10′に平行光束を照射した
場合には、物体光と参照光を生じさせる機能にお
いて光学素子群10と等価のものである。こうし
て光学素子群10は他のホログラム10′でおき
換えることができる。
第1図は従来のホログラム直線計を示す構成説
明図、第2図はこの発明の一実施例に係る直線計
を示す構成説明図、第3図な干渉縞と変位方向を
示す説明図、第4図はこの発明の他の実施例に係
る回転角度計を示す構成説明図、第5図は反射素
子を示す説明図、第6図は干渉縞を示す説明図、
第7図は光学素子群を示す構成説明図、及び第8
図は光学素子群を他のホログラムで置き換えた状
態を示す構成説明図である。 4……ホログラム、5……拡散板、6……スク
リーン、F1……物体光束、F2……参照光束。
明図、第2図はこの発明の一実施例に係る直線計
を示す構成説明図、第3図な干渉縞と変位方向を
示す説明図、第4図はこの発明の他の実施例に係
る回転角度計を示す構成説明図、第5図は反射素
子を示す説明図、第6図は干渉縞を示す説明図、
第7図は光学素子群を示す構成説明図、及び第8
図は光学素子群を他のホログラムで置き換えた状
態を示す構成説明図である。 4……ホログラム、5……拡散板、6……スク
リーン、F1……物体光束、F2……参照光束。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 物体光と参照光を発生させる光学系と、前記
光学系から出射する光の光路上において前記参照
光により再生可能に置かれたホログラムにして、
該ホログラムは該光路の基準位置において前記物
体光と前記参照光により形成された干渉縞を記録
したものと、前記ホログラムからの再生像の波面
と前記光学系からの物体光により干渉縞を生ぜし
め、かつ該干渉縞の変化を測定する検出系と、か
ら成り、更に、前記物体光の光軸と前記参照光の
光軸を平行にし、かつ、前記光路に対する平行を
保ちつつ前記光学系に対して前記ホログラムが相
対変位するように設けられたことを特徴とするイ
ンラインホログラム直線計。 2 物体光と参照光を発生させる光学系と、前記
光学系から出射する光の光路上において前記参照
光により再生可能に置かれたホログラムにして、
該ホログラムは該光路の基準位置において前記物
体光と前記参照光により形成された干渉縞を記録
したものと、前記ホログラムからの再生像の波面
と前記光学系からの物体光により干渉縞を生ぜし
め、かつ該干渉縞の変化を測定する検出系と、か
ら成り、更に、前記物体光の光軸と前記参照光の
光軸を平行にし、かつ、前記光学系及び前記ホロ
グラムに対して相対回転変位し、該変位により前
記光路を該ホログラムに対して平行にシフトさせ
る光学要素が設けられたことを特徴とするインラ
インホログラム回転計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4759581A JPS57161606A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Inline homogram displacement gauge |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4759581A JPS57161606A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Inline homogram displacement gauge |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57161606A JPS57161606A (en) | 1982-10-05 |
| JPH0472161B2 true JPH0472161B2 (ja) | 1992-11-17 |
Family
ID=12779594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4759581A Granted JPS57161606A (en) | 1981-03-31 | 1981-03-31 | Inline homogram displacement gauge |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57161606A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6244607A (ja) * | 1985-08-22 | 1987-02-26 | Tokyo Optical Co Ltd | ホログラフイツク干渉計 |
| JPH04282414A (ja) * | 1991-03-12 | 1992-10-07 | Hitachi Zosen Corp | レーザビームの位置および角度制御装置 |
-
1981
- 1981-03-31 JP JP4759581A patent/JPS57161606A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57161606A (en) | 1982-10-05 |
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