JPH0472645B2 - - Google Patents
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- JPH0472645B2 JPH0472645B2 JP60126317A JP12631785A JPH0472645B2 JP H0472645 B2 JPH0472645 B2 JP H0472645B2 JP 60126317 A JP60126317 A JP 60126317A JP 12631785 A JP12631785 A JP 12631785A JP H0472645 B2 JPH0472645 B2 JP H0472645B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- machining
- circuit
- current
- discharge
- wire electrode
- Prior art date
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- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、ワイヤ放電加工におけるワイヤ電極
の断線を防止するワイヤ放電加工用ワイヤ電極断
線防止回路に関するものである。
の断線を防止するワイヤ放電加工用ワイヤ電極断
線防止回路に関するものである。
ワイヤ放電加工においては、加工速度を上げる
ため、供給パルス電流又はパルス周期（パルス
OFF時間）を制御し、放電エネルギを高めて加
工を行つている。
ため、供給パルス電流又はパルス周期（パルス
OFF時間）を制御し、放電エネルギを高めて加
工を行つている。
しかし、ワイヤ放電加工で使用されるワイヤ電
極は0.02〜0.3mmφと極めて細く、このためワイ
ヤ電極に通電できる電流容量は５〜50Aに制限さ
れ、これ以上の電流を流すと断線してしまう。そ
こで、ワイヤ電極の電流容量を越えたときにパル
スOFFとして断線防止することが考られるが、
実際の加工においては、上記電流容量以下であつ
てもワイヤ電極が断線することがあつた。これ
は、加工時に発生する加工屑や気泡などが加工間
隙中に局所的に停帯し、そこに放電の集中が起こ
つて加熱されるからである。
極は0.02〜0.3mmφと極めて細く、このためワイ
ヤ電極に通電できる電流容量は５〜50Aに制限さ
れ、これ以上の電流を流すと断線してしまう。そ
こで、ワイヤ電極の電流容量を越えたときにパル
スOFFとして断線防止することが考られるが、
実際の加工においては、上記電流容量以下であつ
てもワイヤ電極が断線することがあつた。これ
は、加工時に発生する加工屑や気泡などが加工間
隙中に局所的に停帯し、そこに放電の集中が起こ
つて加熱されるからである。
このため従来は、平均加工電流がワイヤ電極の
電流容量より40〜50％以下となるようにパルス条
件を設定し、加工を行つていたが、これでは加工
速度が低下するという新らたな問題が生じた。
電流容量より40〜50％以下となるようにパルス条
件を設定し、加工を行つていたが、これでは加工
速度が低下するという新らたな問題が生じた。
本発明は上記のような問題を解消するためにな
されたもので、加工速度を低下させることなく、
集中放電に起因する電流容量以下の通電時でのワ
イヤ電極断線を的確かつ有効に防止できるワイヤ
放電加工用ワイヤ電極断線防止回路を提供するこ
とを目的とする。
されたもので、加工速度を低下させることなく、
集中放電に起因する電流容量以下の通電時でのワ
イヤ電極断線を的確かつ有効に防止できるワイヤ
放電加工用ワイヤ電極断線防止回路を提供するこ
とを目的とする。
本発明回路は、ワイヤ放電加工において、集中
放電状態にあるか否かを的確に検出すると共に、
加工平均電流が所定値以上になつているか否かを
検出し、集中放電状態にあり、かつ加工平均電流
が所定値以上になつている状態が所定時間以上続
いたときにアーク放電エネルギを減少させるよう
にして上記目的を達成するようにしたものであ
る。
放電状態にあるか否かを的確に検出すると共に、
加工平均電流が所定値以上になつているか否かを
検出し、集中放電状態にあり、かつ加工平均電流
が所定値以上になつている状態が所定時間以上続
いたときにアーク放電エネルギを減少させるよう
にして上記目的を達成するようにしたものであ
る。
以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。第１図は本発明によるワイヤ放電加工用ワイ
ヤ電極断線防止回路の一実施例を示す図で、この
第１図において、１はワイヤ電極、２は被加工
物、３は加工液供給ノズル、４はワイヤ電極１と
被加工物２との間に加工パルスを供給するパルス
電源である。５及び６は上記加工パルスをワイヤ
電極１に供給するための給電子であり、被加工物
２の上方側と下方側にそれぞれ配置してある。７
及び８はワイヤ電極１を案内するためのローラで
あり、このローラ７，８を介してワイヤ電極１は
図示しないワイヤ繰出しボビンから繰出され、か
つ図示しない巻取駆動装置により巻取られる。ま
た、前記被加工物２は、数値制御装置などの駆動
装置によつてXY軸平面上を移動可能のテーブル
（図示せず）に設置されている。９は発振器，１
０は加工パルスのON時間を設定するTON回路、
１１は加工パルスのOFF時間を設定するTOFF回
路であり、これらの回路１０，１１からのON時
間，OFF時間設定信号は前記パルス電源４に与
えられ、パルス電源４は所定のON，OFF時間を
もつ加工パルスを発生する。
る。第１図は本発明によるワイヤ放電加工用ワイ
ヤ電極断線防止回路の一実施例を示す図で、この
第１図において、１はワイヤ電極、２は被加工
物、３は加工液供給ノズル、４はワイヤ電極１と
被加工物２との間に加工パルスを供給するパルス
電源である。５及び６は上記加工パルスをワイヤ
電極１に供給するための給電子であり、被加工物
２の上方側と下方側にそれぞれ配置してある。７
及び８はワイヤ電極１を案内するためのローラで
あり、このローラ７，８を介してワイヤ電極１は
図示しないワイヤ繰出しボビンから繰出され、か
つ図示しない巻取駆動装置により巻取られる。ま
た、前記被加工物２は、数値制御装置などの駆動
装置によつてXY軸平面上を移動可能のテーブル
（図示せず）に設置されている。９は発振器，１
０は加工パルスのON時間を設定するTON回路、
１１は加工パルスのOFF時間を設定するTOFF回
路であり、これらの回路１０，１１からのON時
間，OFF時間設定信号は前記パルス電源４に与
えられ、パルス電源４は所定のON，OFF時間を
もつ加工パルスを発生する。
１２は前記上方側給電子５に流れる加工電流を
測定するための電流検出器、１３はこの電流検出
器１２で検出した微小電流を増幅する増幅器であ
る。この増幅器１３の出力端はフイルタ回路１４
を介して微分回路１５の入力端に接続される。１
６及び１７は比較増幅器であり、比較増幅器１６
の＋側入力端と比較増幅器１７の−側入力端には
前記微分回路１５の出力端が接続されている。ま
た、これらの比較増幅器１６，１７の出力端は、
ORゲート１８の異なる入力端に各別に接続され
る。ORゲート１８の出力端はORゲート１９の
一方の入力端に接続される。なお、上記電流検出
器１２からORゲート１８に至る回路を集中放電
検出回路という。
測定するための電流検出器、１３はこの電流検出
器１２で検出した微小電流を増幅する増幅器であ
る。この増幅器１３の出力端はフイルタ回路１４
を介して微分回路１５の入力端に接続される。１
６及び１７は比較増幅器であり、比較増幅器１６
の＋側入力端と比較増幅器１７の−側入力端には
前記微分回路１５の出力端が接続されている。ま
た、これらの比較増幅器１６，１７の出力端は、
ORゲート１８の異なる入力端に各別に接続され
る。ORゲート１８の出力端はORゲート１９の
一方の入力端に接続される。なお、上記電流検出
器１２からORゲート１８に至る回路を集中放電
検出回路という。
２０は前記上，下方側給電子５，６に流れる全
加工電流を検出する電流検出器、２１はこの電流
検出器２０の出力電流を増幅してフイルタ回路２
２に与える増幅器である。２３は比較増幅器で、
その−側入力端には前記フイルタ回路２２の出力
端が、＋側入力端には設定器２４の出力端が、そ
れぞれ接続され、また、その比較増幅器２３の出
力端は前記ORゲート１９の他方の入力端に接続
される。なお、電流検出器２０から比較増幅器２
３に至る回路を加工平均電流検出回路という。
加工電流を検出する電流検出器、２１はこの電流
検出器２０の出力電流を増幅してフイルタ回路２
２に与える増幅器である。２３は比較増幅器で、
その−側入力端には前記フイルタ回路２２の出力
端が、＋側入力端には設定器２４の出力端が、そ
れぞれ接続され、また、その比較増幅器２３の出
力端は前記ORゲート１９の他方の入力端に接続
される。なお、電流検出器２０から比較増幅器２
３に至る回路を加工平均電流検出回路という。
２５はカウンタで、そのカウント入力端Ｔには
発振器２６のクロツク出力端Ｔが、リセツト入力
端Ｒには前記ORゲート１９の出力端が、それぞ
れ接続されており、また、その出力端Ｑは前記
TON，TOFF回路１０，１１の各制御入力端に接続
される。なお、ORゲート１９からTON，TOFF回
路１０，１１に至る回路を制御回路という。
発振器２６のクロツク出力端Ｔが、リセツト入力
端Ｒには前記ORゲート１９の出力端が、それぞ
れ接続されており、また、その出力端Ｑは前記
TON，TOFF回路１０，１１の各制御入力端に接続
される。なお、ORゲート１９からTON，TOFF回
路１０，１１に至る回路を制御回路という。
２７は比較増幅器で、その＋側入力端は前記増
幅器２１の出力端に、−側入力端は設定器２８の
出力端に、それぞれ接続される。２９はANDゲ
ートで、その一方の入力端は比較増幅器２７の出
力端に、出力端はＤ型フリツプフロツプ３０のセ
ツト入力端Ｓに、それぞれ接続される。３１は
TON回路１０からのパルス信号を遅延させてチエ
ツクパルス発生回路３２に与えるデイレイ回路で
ある。チエツクパルス発生回路３２の出力端は前
記ANDゲート２９の他方の入力端及びＤ型フリ
ツプフロツプ３０のクロツク入力端Ｔにそれぞれ
接続される。Ｄ型フリツプフロツプ３０のデータ
入力端Ｄは接地されて論理値“０”とされてお
り、同出力端Ｑは積分回路３３の入力端に接続さ
れる。積分回路３３の出力端は、差動増幅器３４
の＋側入力端及び差動増幅器３５の−側入力端に
それぞれ接続される。差動増幅器３４は、その−
側入力端が設定器３６の出力端に、出力端が比較
増幅器１６の−側入力端に、それぞれ接続され
る。また差動増幅器３５は、その＋側入力端が設
定器３７の出力端に、出力端が比較増幅器１７の
＋側入力端に、それぞれ接続される。なお、比較
増幅器２７から差動増幅器３４，３５に至る回路
を感度補正回路という。
幅器２１の出力端に、−側入力端は設定器２８の
出力端に、それぞれ接続される。２９はANDゲ
ートで、その一方の入力端は比較増幅器２７の出
力端に、出力端はＤ型フリツプフロツプ３０のセ
ツト入力端Ｓに、それぞれ接続される。３１は
TON回路１０からのパルス信号を遅延させてチエ
ツクパルス発生回路３２に与えるデイレイ回路で
ある。チエツクパルス発生回路３２の出力端は前
記ANDゲート２９の他方の入力端及びＤ型フリ
ツプフロツプ３０のクロツク入力端Ｔにそれぞれ
接続される。Ｄ型フリツプフロツプ３０のデータ
入力端Ｄは接地されて論理値“０”とされてお
り、同出力端Ｑは積分回路３３の入力端に接続さ
れる。積分回路３３の出力端は、差動増幅器３４
の＋側入力端及び差動増幅器３５の−側入力端に
それぞれ接続される。差動増幅器３４は、その−
側入力端が設定器３６の出力端に、出力端が比較
増幅器１６の−側入力端に、それぞれ接続され
る。また差動増幅器３５は、その＋側入力端が設
定器３７の出力端に、出力端が比較増幅器１７の
＋側入力端に、それぞれ接続される。なお、比較
増幅器２７から差動増幅器３４，３５に至る回路
を感度補正回路という。
次に上述本発明回路の動作について説明する。
まず、ワイヤ電極１と被加工物２との間に加工液
供給ノズル３から絶縁性加工液の供給が開始され
る。また、発振器９で発生した所定の周波数の信
号がTON，TOFF回路１０，１１により、第２図及
び第３図中の波形Ａに示すようにON，OFF時間
が設定され、これに基づきパワースイツチング動
作するパルス電源４から、加工液供給されている
前記ワイヤ電極１と被加工物２の間に加工パルス
が与えられ、放電が発生する。このとき、図示し
ないテーブル駆動装置により被加工物２が加工送
りされるもので、これにより被加工物２に所望形
状の放電加工が行われる。
まず、ワイヤ電極１と被加工物２との間に加工液
供給ノズル３から絶縁性加工液の供給が開始され
る。また、発振器９で発生した所定の周波数の信
号がTON，TOFF回路１０，１１により、第２図及
び第３図中の波形Ａに示すようにON，OFF時間
が設定され、これに基づきパワースイツチング動
作するパルス電源４から、加工液供給されている
前記ワイヤ電極１と被加工物２の間に加工パルス
が与えられ、放電が発生する。このとき、図示し
ないテーブル駆動装置により被加工物２が加工送
りされるもので、これにより被加工物２に所望形
状の放電加工が行われる。
ここで、放電が発生すると、極間電圧波形は第
２図中の波形Ｂに示すようにアーク電圧Vaとな
る。いま、その放電が被加工物２の下部で発生す
ると、放電点から下方側給電子６までの距離は短
く、上方側給電子５までの距離は長くなる。この
結果、加工電流（放電電流）は第２図中の波形
Ｃ，ＤのI1，I1′から分かるようにIU＜IDとなる。
ここで、IUは上方側給電子５を通つて流れる加工
電流、IDは下方側給電子６を通つて流れる加工電
流を示す。これらの和電流IU＋IDが全放電エネル
ギとして放電加工に寄与する。以上とは逆に、被
加工物２の上部で放電が発生すると、加工電流は
IU＞IDとなり、第２図中の波形Ｃ，ＤのI2，I2′に
示す大きさをもつて流れる。また、被加工物２の
中央部で放電が発生した場合は、IU＝ID、すなわ
ち第２図中の波形Ｃ，ＤのI3，I3′及びI4，I4′に示
すように両電流は等しくなる。そして、この間の
フイルタ回路１４からの出力信号は第２図中の波
形Ｅに示すようになる。すなわち、放電が一定箇
所で発生している（放電点が一定である）と、電
流I3，I4区間では波形Ｆで示すように、微分回路
１５の出力波形は変動しない。この場合、微分回
路１５から得られる信号は、比較増幅器１６，１
７に与えられて差動増幅器３４，３５からの設定
電圧＋E0，−E0と比較され、それら比較増幅器１
６，１７の出力信号はそれぞれORゲート１８に
与えられるもので、ORゲート１８の出力信号波
形は、第２図中の波形Ｇに示すようになる。この
ORゲート１８の出力信号はORゲート１９を通
つてカウンタ２５のリセツト入力端Ｒに与えら
れ、その論理値“１”のときカウンタ２５をリセ
ツト状態にする。すなわち、前記放電点が一箇所
に集中していない電流I1，I2区間では、ORゲー
ト１８の出力端からは論理値“１”の信号が出力
され、カウンタ２５をリセツト状態にするため、
カウンタ２５からは論理値“１”の出力信号が得
られず、TON，TOFF回路１０，１１には制御信号
が与えられない。このためTON，TOFF回路１０，
１１であらかじめ設定されているON，OFF時間
の加工パルスにより放電加工が行われる。また、
放電点が一箇所に集中している電流I3，I4区間で
は、波形Ｇから分かるようにORゲート１８の出
力端からは論理値“１”なる信号は得られない。
一方、放電加工の全電流が電流検出器２０で検出
され、増幅器２１で電圧増幅された後、フイルタ
回路２２で高周波成分が除去され、上記検出加工
電流を平均化した値として比較増幅器２３に与え
られる。比較増幅器２３は、入力された上記検出
加工電流平均値が設定器２４で設定した値以上に
なると、その出力信号が論理値“０”となつて前
記ORゲート１９の入力端に与えられる。この
際、上述したようにORゲート１８の出力信号も
論理値“０”となつているので、ORゲート１９
の出力信号も論理値“０”となり、カウンタ２５
のリセツト状態を解除する。すなわちORゲート
１９の出力信号は、所定値以上の加工平均電流が
ながれ、かつ放電が一定箇所で持続したときに論
理値“０”となり、カウンタ２５のリセツト状態
を解除する。これにより、カウンタ２５は発振器
２６から発生する所定周波数のクロツクをカウン
トし、所定のカウント数に達すると、その出力信
号が論理値“１”となつて、前記TON，TOFF回路
１０，１１に与えられ、加工パルスON時間TON
を短くするか、加工パルスOFF時間TOFFを長く
するようにそれらTON，TOFF回路１０，１１を制
御する。
２図中の波形Ｂに示すようにアーク電圧Vaとな
る。いま、その放電が被加工物２の下部で発生す
ると、放電点から下方側給電子６までの距離は短
く、上方側給電子５までの距離は長くなる。この
結果、加工電流（放電電流）は第２図中の波形
Ｃ，ＤのI1，I1′から分かるようにIU＜IDとなる。
ここで、IUは上方側給電子５を通つて流れる加工
電流、IDは下方側給電子６を通つて流れる加工電
流を示す。これらの和電流IU＋IDが全放電エネル
ギとして放電加工に寄与する。以上とは逆に、被
加工物２の上部で放電が発生すると、加工電流は
IU＞IDとなり、第２図中の波形Ｃ，ＤのI2，I2′に
示す大きさをもつて流れる。また、被加工物２の
中央部で放電が発生した場合は、IU＝ID、すなわ
ち第２図中の波形Ｃ，ＤのI3，I3′及びI4，I4′に示
すように両電流は等しくなる。そして、この間の
フイルタ回路１４からの出力信号は第２図中の波
形Ｅに示すようになる。すなわち、放電が一定箇
所で発生している（放電点が一定である）と、電
流I3，I4区間では波形Ｆで示すように、微分回路
１５の出力波形は変動しない。この場合、微分回
路１５から得られる信号は、比較増幅器１６，１
７に与えられて差動増幅器３４，３５からの設定
電圧＋E0，−E0と比較され、それら比較増幅器１
６，１７の出力信号はそれぞれORゲート１８に
与えられるもので、ORゲート１８の出力信号波
形は、第２図中の波形Ｇに示すようになる。この
ORゲート１８の出力信号はORゲート１９を通
つてカウンタ２５のリセツト入力端Ｒに与えら
れ、その論理値“１”のときカウンタ２５をリセ
ツト状態にする。すなわち、前記放電点が一箇所
に集中していない電流I1，I2区間では、ORゲー
ト１８の出力端からは論理値“１”の信号が出力
され、カウンタ２５をリセツト状態にするため、
カウンタ２５からは論理値“１”の出力信号が得
られず、TON，TOFF回路１０，１１には制御信号
が与えられない。このためTON，TOFF回路１０，
１１であらかじめ設定されているON，OFF時間
の加工パルスにより放電加工が行われる。また、
放電点が一箇所に集中している電流I3，I4区間で
は、波形Ｇから分かるようにORゲート１８の出
力端からは論理値“１”なる信号は得られない。
一方、放電加工の全電流が電流検出器２０で検出
され、増幅器２１で電圧増幅された後、フイルタ
回路２２で高周波成分が除去され、上記検出加工
電流を平均化した値として比較増幅器２３に与え
られる。比較増幅器２３は、入力された上記検出
加工電流平均値が設定器２４で設定した値以上に
なると、その出力信号が論理値“０”となつて前
記ORゲート１９の入力端に与えられる。この
際、上述したようにORゲート１８の出力信号も
論理値“０”となつているので、ORゲート１９
の出力信号も論理値“０”となり、カウンタ２５
のリセツト状態を解除する。すなわちORゲート
１９の出力信号は、所定値以上の加工平均電流が
ながれ、かつ放電が一定箇所で持続したときに論
理値“０”となり、カウンタ２５のリセツト状態
を解除する。これにより、カウンタ２５は発振器
２６から発生する所定周波数のクロツクをカウン
トし、所定のカウント数に達すると、その出力信
号が論理値“１”となつて、前記TON，TOFF回路
１０，１１に与えられ、加工パルスON時間TON
を短くするか、加工パルスOFF時間TOFFを長く
するようにそれらTON，TOFF回路１０，１１を制
御する。
以上のように、加工平均電流（全加工電流）が
所定値以上に増大し、かつ集中放電が検出され、
その持続が所定時間以上に達したときに放電エネ
ルギを下げるように加工パルスが制御されるもの
で、これによりワイヤ放電加工におけるワイヤ電
極１の断線が集中放電発生時でも有効に防止され
るため、加工速度が向上されることになる。
所定値以上に増大し、かつ集中放電が検出され、
その持続が所定時間以上に達したときに放電エネ
ルギを下げるように加工パルスが制御されるもの
で、これによりワイヤ放電加工におけるワイヤ電
極１の断線が集中放電発生時でも有効に防止され
るため、加工速度が向上されることになる。
次に、集中放電検出における感度補正動作につ
いて述べる。上述説明は、放電自体は正常に発生
している場合について述べたが、ワイヤ電極１と
被加工物２が加工中に短絡すると、第３図中の波
形ＨのIsに示すように加工電流は増大する。この
Isが連続して発生すると、第２図の波形Ｅが変化
し、あたかも放電点が変動したかのように検出さ
れる。したがつて、このような短絡時には集中放
電検出回路の電流検出感度を下げるように補正す
る必要がある。実験によれば、上記短絡時の電流
Isは正常放電時の加工電流Ipに対して約15％増大
するため、この割合で感度を下げればよく、感度
補正回路はこのような感度補正を行うものであ
る。すなわち、第３図の波形Ｈに示した加工電流
Is（又はIp）は、比較増幅器２７に与えられて設定
器２８からの設定値Esと比較され、その結果が
ANDゲート２９の一方の入力端に与えられる。
一方、第３図中の波形Ｊに示すチエツクパルス発
生回路３２からのチエツクパルスがANDゲート
２９の他方の入力端に与えられているため、上記
短絡状態になれば、第３図中の波形Ｋに示すよう
にANDゲート２９の出力信号がチエツクパルス
入力時に論理値“１”となる。これによりＤ型フ
リツプフロツプ３０はセツト状態となり、第３図
中の波形Ｌに示す信号を出力する。この信号Ｌは
積分回路３３により平均化されて差動増幅器３４
の＋側入力端及び差動増幅器３５の−側入力端に
与えられる。これにより、差動増幅器３４から
は、正常時に設定器３６で与えられて出力される
値より15％上昇した設定電圧＋E0が出力され、
比較増幅器１６の−側入力端に与えられると共
に、差動増幅器３５からは、正常時に設定器３７
で与えられて出力される値より15％低下した設定
電圧−E0が出力され、比較増幅器１７の＋側入
力端に与えられる。したがつて、集中放電検出回
路の微分回路１５からの信号Ｆは、＋及び−側に
それぞれ15％補正された設定電圧＋E0，−E0（第
２図Ｆ中の２点鎖線で示す電圧）と比較されるこ
とになり、感度が下げられる。これにより、ワイ
ヤ電極１と被加工物２の短絡時に、誤つてORゲ
ート１８の出力信号Ｇが論理値“１”となること
が防止され、実際に放電点が変動した場合と峻別
され、放電集中検出がより的確になる。
いて述べる。上述説明は、放電自体は正常に発生
している場合について述べたが、ワイヤ電極１と
被加工物２が加工中に短絡すると、第３図中の波
形ＨのIsに示すように加工電流は増大する。この
Isが連続して発生すると、第２図の波形Ｅが変化
し、あたかも放電点が変動したかのように検出さ
れる。したがつて、このような短絡時には集中放
電検出回路の電流検出感度を下げるように補正す
る必要がある。実験によれば、上記短絡時の電流
Isは正常放電時の加工電流Ipに対して約15％増大
するため、この割合で感度を下げればよく、感度
補正回路はこのような感度補正を行うものであ
る。すなわち、第３図の波形Ｈに示した加工電流
Is（又はIp）は、比較増幅器２７に与えられて設定
器２８からの設定値Esと比較され、その結果が
ANDゲート２９の一方の入力端に与えられる。
一方、第３図中の波形Ｊに示すチエツクパルス発
生回路３２からのチエツクパルスがANDゲート
２９の他方の入力端に与えられているため、上記
短絡状態になれば、第３図中の波形Ｋに示すよう
にANDゲート２９の出力信号がチエツクパルス
入力時に論理値“１”となる。これによりＤ型フ
リツプフロツプ３０はセツト状態となり、第３図
中の波形Ｌに示す信号を出力する。この信号Ｌは
積分回路３３により平均化されて差動増幅器３４
の＋側入力端及び差動増幅器３５の−側入力端に
与えられる。これにより、差動増幅器３４から
は、正常時に設定器３６で与えられて出力される
値より15％上昇した設定電圧＋E0が出力され、
比較増幅器１６の−側入力端に与えられると共
に、差動増幅器３５からは、正常時に設定器３７
で与えられて出力される値より15％低下した設定
電圧−E0が出力され、比較増幅器１７の＋側入
力端に与えられる。したがつて、集中放電検出回
路の微分回路１５からの信号Ｆは、＋及び−側に
それぞれ15％補正された設定電圧＋E0，−E0（第
２図Ｆ中の２点鎖線で示す電圧）と比較されるこ
とになり、感度が下げられる。これにより、ワイ
ヤ電極１と被加工物２の短絡時に、誤つてORゲ
ート１８の出力信号Ｇが論理値“１”となること
が防止され、実際に放電点が変動した場合と峻別
され、放電集中検出がより的確になる。
上述本発明回路による効果の具体例を以下に示
す。
す。
ワイヤ電極１：真鍮製，0.3mmφ
被加工物２：SKD11製，60mm厚
パルスON時間TON：4μsec
パルスOFF時間TOFF：12μsec
ピーク電流：500A
発振器２６の発振周波数：1msec
異常過電流及び集中放電が発生してからカウン
タ２８の出力信号が論理値“１”となるカウント
数：10 設定器２４の設定値：40A とした本発明回路を用いてワイヤ放電加工したと
き、加工速度は3.6mm／minとなり、従来のそれ
（加工速度３mm／min）に比べて20％も向上した。
タ２８の出力信号が論理値“１”となるカウント
数：10 設定器２４の設定値：40A とした本発明回路を用いてワイヤ放電加工したと
き、加工速度は3.6mm／minとなり、従来のそれ
（加工速度３mm／min）に比べて20％も向上した。
なお、第１図に示した実施例では、集中放電検出
用の電流検出器１２を上方側給電子５に至る通電
路に設けた場合を示したが、下方側給電子６に至
る通電路に設けてもよく、これによつても上述実
施例と同様の効果が得られる。
用の電流検出器１２を上方側給電子５に至る通電
路に設けた場合を示したが、下方側給電子６に至
る通電路に設けてもよく、これによつても上述実
施例と同様の効果が得られる。
また、集中放電検出回路、加工平均電流検出回
路、制御回路及び感度補正回路など、いずれも上
述実施例に示す構成に限定されない。特に、感度
補正回路に関し、上述実施例では比較増幅器１
６，１７に与える設定電圧＋E0，−E0変化させる
ことで感度補正を行つていたが、これを増幅器１
３の入力感度又は増幅度などを変化させることで
行うようにしてもよい。
路、制御回路及び感度補正回路など、いずれも上
述実施例に示す構成に限定されない。特に、感度
補正回路に関し、上述実施例では比較増幅器１
６，１７に与える設定電圧＋E0，−E0変化させる
ことで感度補正を行つていたが、これを増幅器１
３の入力感度又は増幅度などを変化させることで
行うようにしてもよい。
以上述べたように本発明によれば、集中放電に
起因するワイヤ電極電流容量以下の通電時のワイ
ヤ電極断線を的確かつ有効に防止でき、したがつ
て従来、この場合に行つていた平均加工電流の低
減が不要となり、加工速度を上昇させることがで
き、また、長時間の無人加工も可能になるなどの
効果がある。
起因するワイヤ電極電流容量以下の通電時のワイ
ヤ電極断線を的確かつ有効に防止でき、したがつ
て従来、この場合に行つていた平均加工電流の低
減が不要となり、加工速度を上昇させることがで
き、また、長時間の無人加工も可能になるなどの
効果がある。
第１図は本発明回路の一実施例を示す図、第２
図は同回路の各部信号波形図、第３図は同じく短
絡時の各部信号波形図である。 １……ワイヤ電極、２……被加工物、３……加
工液供給ノズル、４……パルス電源、５，６……
給電子、９，２６……発振器、１０，１１……
TON，TOFF回路、１２，２０……電流検出器、１
３，２１……増幅器、１４，２２……フイルタ回
路、１５……微分回路、１６，１７，２３，２７
……比較増幅器、１８，１９……ORゲート、２
４，２８，３６，３７……設定器、２５……カウ
ンタ、２９……ANDゲート、３０……フリツプ
フロツプ、３１……デイレイ回路、３２……チエ
ツクパルス発生回路、３３……積分回路、３４，
３５……差動増幅器。
図は同回路の各部信号波形図、第３図は同じく短
絡時の各部信号波形図である。 １……ワイヤ電極、２……被加工物、３……加
工液供給ノズル、４……パルス電源、５，６……
給電子、９，２６……発振器、１０，１１……
TON，TOFF回路、１２，２０……電流検出器、１
３，２１……増幅器、１４，２２……フイルタ回
路、１５……微分回路、１６，１７，２３，２７
……比較増幅器、１８，１９……ORゲート、２
４，２８，３６，３７……設定器、２５……カウ
ンタ、２９……ANDゲート、３０……フリツプ
フロツプ、３１……デイレイ回路、３２……チエ
ツクパルス発生回路、３３……積分回路、３４，
３５……差動増幅器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ワイヤ電極と被加工物の間に加工液を供給し
つつ、前記被加工物を挟んで上方側及び下方側に
それぞれ設けた給電子を介してパルス電源からの
加工パルスを与えて間欠的アーク放電を発生さ
せ、前記被加工物に加工を行うワイヤ放電加工に
おいて、 前記給電子の少なくとも一方に流れる加工電流
の波形を検出する回路及びこの回路で検出された
加工電流波形中の加工電流無変動状態を検出する
回路を備え、前記加工電流無変動状態を検出して
いるときに集中放電状態にあるとして集中放電検
出信号を出力する集中放電検出回路と、 前記ワイヤ電極に流れる全加工電流を検出する
検出器、この検出器で検出された全加工電流から
高周波成分を除去し加工平均電流値として出力す
る回路及びこの回路からの加工平均電流値が前記
ワイヤ電極の電流容量以下の任意に設定された所
定値以上になつているときに加工平均電流所定値
以上検出信号を出力する回路を備えてなる加工平
均電流検出回路と、 この加工平均電流検出回路及び前記集中放電検
出回路の出力端が異なる入力端に各別に接続さ
れ、前記集中放電検出信号及び加工平均電流所定
値以上検出信号の同時入力を検出する回路及びこ
の回路による前記同時入力の状態が所定時間以上
持続したことをカウントする回路を備え、前記同
時入力状態が所定時間以上持続したときに前記パ
ルス電源のパルスON，OFF時間のON時間を短
く、又はOFF時間を長くして前記アーク放電の
エネルギを減少させる制御回路とを、 具備することを特徴とするワイヤ放電加工用ワイ
ヤ電極断線防止回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12631785A JPS61288931A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | ワイヤ放電加工用ワイヤ電極断線防止回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12631785A JPS61288931A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | ワイヤ放電加工用ワイヤ電極断線防止回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61288931A JPS61288931A (ja) | 1986-12-19 |
| JPH0472645B2 true JPH0472645B2 (ja) | 1992-11-18 |
Family
ID=14932192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12631785A Granted JPS61288931A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | ワイヤ放電加工用ワイヤ電極断線防止回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61288931A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2532259B2 (ja) * | 1987-10-31 | 1996-09-11 | ファナック株式会社 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
| US5306889A (en) * | 1991-07-05 | 1994-04-26 | Sodick Co., Ltd. | Wire cut electrical discharge machining apparatus |
| FR3083999B1 (fr) * | 2018-07-23 | 2020-06-26 | Thermocompact | Procede et dispositif de prevention des ruptures de fil electrode lors d'un usinage par etincelage erosif |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55137837A (en) * | 1979-04-03 | 1980-10-28 | Mitsubishi Electric Corp | Wire cut type electric discharge machining |
| JPS5930620A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-18 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤカツト放電加工装置 |
-
1985
- 1985-06-12 JP JP12631785A patent/JPS61288931A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61288931A (ja) | 1986-12-19 |
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