JPH0476174B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電子機器類に広く利用されている磁
気記録装置における記録再生用の磁気ヘツドの再
生効率を評価する方法に関するものである。

従来の技術 磁気記録は磁気記録媒体上に磁気ヘツドを用い
て信号を記録し、再生するが、この磁気ヘツドの
特性、特に再生効率の評価は研究開発及び製造検
査の段階で重要な項目である。

従来、磁気ヘツドの再生効率の評価を行なうに
は、その一例として第２図に示すように被測定磁
気ヘツド１０１のギヤツプ部１０２の部分に磁気
記録媒体（この場合、テープまたはフロツピデイ
スク）１０４を接触させるべくこの磁気記録媒体
１０４を支持具１０５に取付けた加圧パツド１０
６により押圧している。そして磁気記録媒体１０
４は矢印Ａ方向に走行させ、この磁気記録媒体１
０４に規定信号を記録し、再生時に、被測定磁気
ヘツド１０１のコイル１０３から出力信号を取出
して測定を行なつている。

またヘツド自体の記録や再生効率を知るために
は常に一定の磁気信号がギヤツプ部に与えられな
ければならないので、従来の他の磁気ヘツド評価
法としてこれを利用する方法がある。この評価法
は第３図に示すように被測定磁気ヘツド１１１の
主磁極薄膜１１２に対向して外部励磁コア１１４
を設置し、このコア１１４に巻いたコイル１１５
に信号電流を流し、発生した磁界を被測定磁気へ
ツド１１１のコイル１１３から再生する方式であ
る。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら前者の評価法によると、磁気記録
媒体１０４とギヤツプ部１０２の接触走行状態が
記録再生特性値を大きく支配し、磁気記録媒体１
０４の表面状態が悪いと特に信号特性に悪い影響
を及ぼし、結果的に測定の機械的変動を防止する
ことができず、被測定磁気ヘツド１０１の録再特
性の評価を悪くしてしまう。そのため被測定磁気
ヘツド１０１自体の録再評価を間違つてしまう問
題を有している。

これに対し後者の評価法によると、被測定磁気
ヘツド１１１及びコア１１４を固定しているの
で、再生信号の機械的変動が無く、前者における
測定の変動については除去することができる。し
かしコア１１４から発生する磁界は広く被測定磁
気ヘツド１１１に影響を与え、ヘツド主磁極薄膜
１１２のみでなく、全体への電磁誘導を引き起こ
してしまい、コイル１１３の再生信号からはヘツ
ドギヤツプのみの真の再生効率が得られない問題
を有している。

そこで、本発明は、磁気ヘツドの真の電磁変換
効率、特に再生効率を機械的変動や外部誘導の影
響を受けることなく、正確に測定して評価するこ
とができ、また磁気ヘツドの再生効率を自由に、
且つ容易に測定することができて製造した磁気ヘ
ツドの特性を正確に早く評価することができるよ
うにした磁気ヘツド再生効率の評価法を提供しよ
うとするものである。

問題点を解決するための手段 そして上記問題点を解決するための本発明の技
術的な手段は、透明なセラミツクスよりなる支持
体により薄膜を挾み、この薄膜の回りに少しの間
隔をとつてコイルを巻付けて構成した検査用磁気
ヘツドの前記薄膜を被測定の磁気ヘツドの薄膜に
接触、もしくは近接させ、検査用磁気ヘツドのコ
イルに規準信号電流を印加し、被測定の磁気ヘツ
ドのコイルに発生する出力を測定するものであ
る。

作 用 本発明は、上記構成により、被測定の磁気ヘツ
ドの効率に最も重要なギヤツプ部である薄膜に接
し、若しくは近接して規準信号電流を与えるの
で、出力変動による不正確さやコイルへの悪影響
がなく、再生効率を正確に測定し、評価すること
ができる。また規準信号電流を変えることにより
被測定の磁気ヘツドの再生効率を自由に、且つ容
易に測定することができる。

実施例 以下、本発明の一実施例について図面を用いて
詳細に説明する。第１図に示すように被測定の磁
気ヘツド１の評価を行なうために検査用磁気ヘツ
ド２を用いる。この検査用磁気ヘツド２は透明な
セラミツクス製の支持体２１により挾まれた高透
磁率薄膜２２の回りにコイル２３が少し間隔を明
けて巻かれて構成されている。

被測定の磁気ヘツド１のギヤツプ部の透磁率薄
膜１１に検査用磁気ヘツド２の高透磁率薄膜２２
を接触、もしくは近接させる。これら両ヘツド
１，２の薄膜１１，２２が一致しているかどうか
は、透明なセラミツクスよりなる支持体２１を通
して顕微鏡３により観測することができ、これに
より正確に位置合わせすることができる。しかる
後、検査用磁気ヘツド２のコイル２３に検査の基
準信号電流を印加し、相互誘導により被測定の磁
気ヘツド１のコイル１２に発生する出力を測定す
る。このとき、上記のように両ヘツド１，２の薄
膜１１，２２は透明なセラミツクスよりなる支持
体２１を通して確認し、正確に一致させることが
できるので、ヘツドギヤツプ位置の不整合による
測定データのばらつきはなくなる。また上記実施
例では検査用磁気ヘツド２から発生する磁界の垂
直方向成分を大きくすることができ、被測定の磁
気ヘツドとして検査用磁気ヘツド２と同様な構造
を持つ垂直磁気記録用ヘツドの再生効率を正確に
測定することもできる。

発明の効果 以下の説明より明らかなように本発明によれ
ば、被測定の磁気ヘツドと検査用の磁気ヘツドの
ギヤツプ部の薄膜を検査用磁気ヘツドの透明なセ
ラミツクス製の支持体より確認して正確に互いに
接触させ、もしくは近接させ、検査用磁気ヘツド
のコイルに規準信号電流を印加し、相互誘導によ
り被測定の磁気ヘツドのコイルに発生する出力を
測定するようにしているので、電磁変換特性、特
に再生効率を機械的変動や外部誘導の影響を受け
ることなく、正確に測定して評価することができ
る。また検査用磁気ヘツドに印加する規準信号電
流を種々変えることにより被測定の磁気ヘツドの
再生効率を自由に、且つ容易に測定することがで
きるので、製造した磁気ヘツドの特性を正確に早
く知ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の磁気ヘツド再生効率の評価法
の一実施例を説明するための図、第２図は従来の
磁気ヘツド再生効率の評価法の一例を説明するた
めの図、第３図は従来の磁気ヘツド再生効率の評
価法の例を説明するための図である。 １……被測定の磁気ヘツド、１１……薄膜、１
２……コイル、２……検査用磁気ヘツド、２１…
…コア、２２……薄膜、２３……コイル、３……
顕微鏡。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 透明なセラミツクスよりなる支持体により薄
   膜を挾み、この薄膜の回りに少しの間隔をとつて
   コイルを巻付けて構成した検査用磁気ヘツドの前
   記薄膜を被測定の磁気ヘツドの薄膜に接触させ、
   もしくは近接させ、前記検査用磁気ヘツドのコイ
   ルに規準信号電流を印加し、前記被測定の磁気ヘ
   ツドのコイルに発生する出力を測定することを特
   徴とする磁気ヘツド再生効率の評価法。