JPH0477871B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0477871B2 JPH0477871B2 JP59221011A JP22101184A JPH0477871B2 JP H0477871 B2 JPH0477871 B2 JP H0477871B2 JP 59221011 A JP59221011 A JP 59221011A JP 22101184 A JP22101184 A JP 22101184A JP H0477871 B2 JPH0477871 B2 JP H0477871B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adapter
- adapters
- inspection
- board
- printed circuit
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は、プリント基板の回路パターンの接続
状態を検査する2アダプタ式基板検査機に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (A) Field of Industrial Application The present invention relates to a two-adapter type board inspection machine for inspecting the connection state of circuit patterns on a printed circuit board.
(ロ) 従来技術
従来、この種検査機は、基板に配設された複数
のランド部にコンタクトプローブを接触させ、電
圧を印加することで該コンタクトプローブ間の抵
抗値を測定し、断線・短絡等の有無を判別するも
のであるが、該コンタクトプローブが配設される
アダプタによつて次の3タイプに分類することが
できる。(b) Conventional technology Conventionally, this type of inspection machine measures the resistance value between the contact probes by bringing contact probes into contact with a plurality of lands arranged on a board and applying a voltage to detect disconnections and short circuits. The contact probe can be classified into the following three types depending on the adapter in which the contact probe is installed.
即ち、複数のランド部に対応すべく基板毎に
コンタクトプローブを配設したアダプタを使用す
る所謂専用形検査機、格子の全交点上にコンタ
クトプローブを配設したアダプタを使用する所謂
汎用形検査機、1つの細長い汎用形アダプタを
使用し、該アダプタをステツプ送りして基板の検
査全領域を検査する所謂分割汎用形検査機であ
る。 In other words, there are so-called dedicated type inspection machines that use adapters with contact probes arranged on each board to accommodate multiple lands, and so-called general-purpose inspection machines that use adapters with contact probes arranged on all intersections of a grid. This is a so-called split general-purpose inspection machine that uses one elongated general-purpose adapter and feeds the adapter step by step to inspect the entire inspection area of the board.
ところが、のものは個別にアダプタを作成す
るため費用が嵩むという問題があつた。また、
のものは多数のコンタクトプローブが必要で高価
になると共に、コンタクトプローブの接触圧を大
きくする必要があり、そのため加圧側の構造が複
雑となり、検査ソフトウエアに問題があつた。さ
らに、のものは例えば斜め配線の場合、アダプ
タの面積内に中継ランドを必要とするなど基板設
計上の制約が多く、且つ、検査全領域を検査する
ためには基板の向きを90度変えて2回検査しなけ
ればならず非常に手間がかかるという問題があつ
た。 However, there was a problem in that the cost was high because adapters had to be made individually. Also,
This method required a large number of contact probes and was expensive, and the contact pressure of the contact probes had to be increased, which made the structure on the pressure side complicated and caused problems with the inspection software. Furthermore, in the case of diagonal wiring, for example, there are many constraints on the board design, such as requiring a relay land within the area of the adapter, and in order to inspect the entire inspection area, the direction of the board must be changed by 90 degrees. There was a problem in that the test had to be performed twice, which was extremely time-consuming.
(ハ) 目的
本発明はこのような問題点を解決し、基板を1
回セツトするのみで容易迅速に検査全領域に亙つ
て検査することができると共に、加圧側の構造の
簡素化を図ることができ、低価格で且つ高精度の
2アダプタ式基板検査機を提供することを目的と
する。(c) Purpose The present invention solves these problems and makes it possible to
To provide a low-cost, high-precision two-adapter type board inspection machine that can easily and quickly inspect the entire inspection area by simply setting it up once, and can simplify the structure on the pressure side. The purpose is to
(ニ) 構成
本願発明の2アダプタ式基板検査機は、検査機
本体のベースプレートに設けられたテーブルにプ
リント基板をセツトし、該プリント基板に配設さ
れた複数のランド部にコンタクトプローブを接触
させて回路パターンの接続状態を検査するそれぞ
れ別個に移動可能に構成された固定側アダプタと
移動側アダプタからなる一対のアダプタを備え、
これらの一対のアダプタが種々移動して基板の検
査を行う2アダプタ式基板検査機において、前記
固定側アダプタが停止し、前記移動側アダプタが
一定方向に一定量移動する毎に検査が行われ、検
査の進行中においては前記固定側アダプタは、前
記移動側アダプタと隣接した状態でかつ前記移動
側アダプタとともに前記一定方向にのみ移動し、
かつ双方のアダプタが隣接した際には、該隣接部
の前記コンタクトプローブ間隔が双方のアダプタ
のコンタクトプローブ間隔と略同一寸法に設定さ
れていることを特徴としている。(d) Structure The two-adapter type board inspection machine of the present invention is configured by setting a printed circuit board on a table provided on the base plate of the inspection machine body, and bringing contact probes into contact with a plurality of lands arranged on the printed circuit board. It is equipped with a pair of adapters consisting of a fixed side adapter and a movable side adapter, each of which is configured to be movable separately.
In a two-adapter type board inspection machine in which a pair of these adapters moves in various ways to inspect a board, an inspection is performed every time the fixed side adapter stops and the movable side adapter moves a certain amount in a certain direction, While the inspection is in progress, the fixed side adapter is adjacent to the movable side adapter and moves only in the certain direction together with the movable side adapter,
Further, when both adapters are adjacent to each other, the contact probe spacing of the adjacent portion is set to be approximately the same dimension as the contact probe spacing of both adapters.
(ホ) 実施例
以下、図示の実施例に基づき本発明を詳説す
る。(e) Examples The present invention will be explained in detail below based on illustrated examples.
第1図乃至第3図において、1は検査機本体2
の上面に設けられた平面矩形のベースプレートで
あり、該ベースプレート1の略中央部右寄りには
テーブル3が昇降可能に配置されている。 In Figures 1 to 3, 1 is the inspection machine main body 2.
The table 3 is a rectangular base plate provided on the upper surface of the base plate 1, and a table 3 is disposed on the right side of the substantially center portion of the base plate 1 so as to be movable up and down.
4,5は一対のアダプタであり、ベースプレー
ト1の上部に配設されたリニアウエイ6に、裏面
に固着したガイド部材8が嵌合し、該リニアウエ
イ6をガイドとしてそれぞれ別個に移動可能に構
成されている。そして、アダプタ4,5は、前記
テーブル3に基板ベース14を介してセツトした
プリント基板7の上方に移動して、該プリント基
板7に配設された複数のランド部にコンタクトプ
ローブ9を接触させて回路パターンの接続状態を
検査する。 Reference numerals 4 and 5 designate a pair of adapters, in which a guide member 8 fixed to the back side is fitted into a linear way 6 disposed on the upper part of the base plate 1, and each adapter can be moved independently using the linear way 6 as a guide. has been done. Then, the adapters 4 and 5 move above the printed circuit board 7 set on the table 3 via the board base 14, and bring the contact probes 9 into contact with a plurality of lands arranged on the printed circuit board 7. to inspect the connection status of the circuit pattern.
具体的には、前記テーブル3は支柱10を介し
てシリンダ11のロツド12の先端に連結され、
該ロツド12の往復動に伴つて昇降可能に構成さ
れている。また、前記ベースプレート1には、テ
ーブル3の外周縁部に対応して複数の逆L字状の
ストツパ13が固着され、該ストツパ13に対応
して設けられたテーブル3の切欠部3aが該スト
ツパ13に当接してテーブル3の上昇が所定高さ
に規制される。このテーブル3の上昇動作は、前
記アダプタ4,5が所定の位置に水平移動(ステ
ツプ送り)された後行われる。 Specifically, the table 3 is connected to the tip of the rod 12 of the cylinder 11 via the support 10,
It is configured to be able to move up and down as the rod 12 reciprocates. Further, a plurality of inverted L-shaped stoppers 13 are fixed to the base plate 1 in correspondence with the outer peripheral edge of the table 3, and the notches 3a of the table 3 provided in correspondence with the stoppers 13 are fixed to the stoppers 13. 13, the rise of the table 3 is regulated to a predetermined height. This lifting operation of the table 3 is performed after the adapters 4 and 5 have been horizontally moved (step fed) to predetermined positions.
15,16はテーブル3の裏面に突設された一
対のガイドピンであり、該ガイドピン15,16
がそれぞれ前記ベースプレート1に穿設された孔
部17,18に摺動自在に嵌挿され、テーブル3
の周方向への回動を防止している。19は前記テ
ーブル3の昇降高さ位置を検出するためのスイツ
チであり、一方のガイドピン15に関連して設け
られている。なお、前記テーブル3の対向辺部に
は切欠部20が形成され、テーブル3への基板ベ
ース14の搭載を容易となす。また、前記テーブ
ル3にはコの字状のクランパ22が支軸23廻り
に揺動自在に枢着され、テーブル3にセツトした
プリント基板7をずれないように固定する。 15 and 16 are a pair of guide pins protruding from the back surface of the table 3;
are slidably inserted into the holes 17 and 18 formed in the base plate 1, respectively, and the table 3
This prevents rotation in the circumferential direction. Reference numeral 19 denotes a switch for detecting the vertical position of the table 3, and is provided in association with one of the guide pins 15. Note that a notch 20 is formed on the opposite side of the table 3 to facilitate mounting of the substrate base 14 on the table 3. Further, a U-shaped clamper 22 is pivotally attached to the table 3 so as to be swingable around a support shaft 23, and fixes the printed circuit board 7 set on the table 3 so that it does not shift.
また、前記ベースプレート1には、前記リニア
ウエイ6に平行してボールネジ24が設けられる
と共に、対向辺部に位置決めバー25が設けられ
ている。該位置決めバー25には所定間隔(アダ
プタ4,5の1ステツプ当たりの移動距離)をも
つて複数の孔部25aが凹設されている。 Further, the base plate 1 is provided with a ball screw 24 parallel to the linear way 6, and a positioning bar 25 is provided on the opposite side. A plurality of holes 25a are formed in the positioning bar 25 at predetermined intervals (the moving distance of the adapters 4 and 5 per one step).
一方、前記アダプタ4,5は、それぞれ短冊板
状の本体26の裏面に補強板27を介して絶縁材
31に固着された複数の前記コンタクトプローブ
9と、本体26の裏面上部に設けられ、前記ボー
ルネジ24に螺合するナツト21と、該ナツト2
1をボールネジ24に対して螺進退自在に移動さ
せるパルスモータ28と、本体26の裏面下部に
設けられ、前記位置決めバー25の孔部25aに
ロツド29が嵌脱自在に嵌合するシリンダ30と
を備えている。このロツド29の嵌合動作の後、
テーブル3の上昇が開始する。なお、前記ロツド
29が垂直下降し、正確に孔部25aに嵌合する
ようにガイド片42が設けられている。 On the other hand, the adapters 4 and 5 are provided with a plurality of contact probes 9 fixed to the insulating material 31 on the back surface of the main body 26 in the form of a strip plate through a reinforcing plate 27, and on the upper back surface of the main body 26, respectively. A nut 21 screwed into the ball screw 24, and the nut 2
1 with respect to the ball screw 24, and a cylinder 30 provided at the bottom of the back surface of the main body 26, into which the rod 29 is removably fitted into the hole 25a of the positioning bar 25. We are prepared. After this fitting operation of the rod 29,
Table 3 begins to rise. Note that a guide piece 42 is provided so that the rod 29 vertically descends and fits accurately into the hole 25a.
具体的には、前記コンタクトプローブ9はガラ
スエポキシ等の絶縁材31に固着され、該絶縁材
31を前記補強板27に取り付けることで本体2
6に配設されている。また、該コンタクトプロー
ブ9は所定間隔(例えば2.54mm間隔)をもつて配
設されると共に、スプリング(図示省略)にて常
時下方に付勢され、所定の接触圧が確保される。
なお、アダプタ4,5が隣接する際、本体26同
志が先に衝突し隣接プローブ間隔が所定寸法から
逸脱するのを防止するために、前記絶縁材31の
対向端縁側はそれぞれ本体26より僅かに突出し
ている。 Specifically, the contact probe 9 is fixed to an insulating material 31 such as glass epoxy, and the main body 2 is attached by attaching the insulating material 31 to the reinforcing plate 27.
It is located at 6. Further, the contact probes 9 are arranged at predetermined intervals (for example, 2.54 mm intervals) and are always urged downward by a spring (not shown) to ensure a predetermined contact pressure.
Note that when the adapters 4 and 5 are adjacent to each other, in order to prevent the main bodies 26 from colliding with each other first and the distance between the adjacent probes deviating from a predetermined dimension, the opposing edge sides of the insulating material 31 are slightly smaller than the main body 26. It stands out.
また、前記パルスモータ28及びナツト21の
プーリ32,33にはタイミングベルト34が懸
架され、前記パルスモータ28の動力をナツト2
1に伝達し、アダプタ4,5を左右に移動可能と
する。 Further, a timing belt 34 is suspended between the pulse motor 28 and the pulleys 32 and 33 of the nut 21, and the power of the pulse motor 28 is transferred to the nut 21.
1, and the adapters 4 and 5 can be moved left and right.
さらに、前記本体26のシリンダ30側の端部
には、L字状のガイド片35が垂設され、前記位
置決めバー25の側外方に突出したガイド部25
bにガイド片35の折曲部35aが係合して、前
記テーブル3の上昇によつてアダプタ4,5が押
し上げられるのを規制する。 Further, an L-shaped guide piece 35 is vertically provided at the end of the main body 26 on the cylinder 30 side, and the guide portion 25 projects outward from the side of the positioning bar 25.
The bent portion 35a of the guide piece 35 engages with the portion b to prevent the adapters 4 and 5 from being pushed up as the table 3 rises.
しかして、36及び37はスローダウン用及び
停止用のフオトインタラプタであり、一対の該フ
オトインタラプタ36,37が、前記ボールネジ
24の下方所定位置の2箇所及び一方の前記アダ
プタ5にそれぞれブラケツト38を介して取り付
けられている。図例では、右側からアダプタ5
用、アダプタ4用、双方のアダプタ4,5の接触
防止用のものであり、それぞれのフオトインタラ
プタ36,37に対応してアダプタ4,5側に遮
光板39が配設されている。これらのフオトイン
タラプタ36,37によつて、アダプタ4,5が
検査開始位置Xに待機する。 36 and 37 are photo interrupters for slowing down and stopping, and the pair of photo interrupters 36 and 37 connect brackets 38 to two predetermined positions below the ball screw 24 and one of the adapters 5, respectively. It is attached through. In the example shown, adapter 5 is inserted from the right side.
For the photo interrupter 36, 37, a light shielding plate 39 is provided on the adapter 4, 5 side corresponding to the photo interrupter 36, 37, respectively. These photo interrupters 36 and 37 cause the adapters 4 and 5 to stand by at the test start position X.
また、本体26のフオトインタラプタ40に関
連して前記パルスモータ28の駆動軸28aにデ
イスク41が設けられ、図外のパソコン・シーケ
ンサの制御信号に基づきパルスモータ28・シリ
ンダ30のロツド29・シリンダ11のロツド1
2を作動させ、前記アダプタ4,5及びテーブル
3を予め設定されたプログラム通りに移動させる
ことでプリント基板7の検査全領域を検査する。
なお、前記アダプタ4,5の動作は、前記ボール
ネジ24のバツクラツシユを考慮してプリント基
板7のランド部間の検査直前には検査領域を一方
向(図中、右方向)に移動するように設定されて
いる。また、コンタクトプローブ9は双方のアダ
プタ4,5が隣接した際、該隣接部の前記コンタ
クトプローブ9間隔が他のコンタクトプローブ9
間隔と略同一寸法(2.54±0.05mm)に設定される
ように配設されている。 Further, a disk 41 is provided on the drive shaft 28a of the pulse motor 28 in association with the photo interrupter 40 of the main body 26, and the drive shaft 28a of the pulse motor 28, the rod 29 of the cylinder 30, and the cylinder 11 are controlled based on control signals from a personal computer/sequencer (not shown). Rod 1
2 is activated and the adapters 4, 5 and table 3 are moved according to a preset program, thereby inspecting the entire inspection area of the printed circuit board 7.
Note that the operation of the adapters 4 and 5 is set to move the inspection area in one direction (to the right in the figure) immediately before the inspection between the land portions of the printed circuit board 7, taking into consideration the backlash of the ball screw 24. has been done. Further, when both adapters 4 and 5 are adjacent to each other, the distance between the contact probes 9 in the adjacent portions is smaller than that of the other contact probes 9.
They are arranged so that the dimensions are approximately the same as the spacing (2.54±0.05mm).
次に、本発明の2アダプタ式基板検査機の使用
例を第4図に基づき説明する。 Next, an example of the use of the two-adapter type board inspection machine of the present invention will be explained based on FIG. 4.
(1) アダプタ4,5は、テーブル3にプリント基
板7をセツトするために第1図のように左側に
退避している。(1) The adapters 4 and 5 are retracted to the left side as shown in FIG. 1 in order to set the printed circuit board 7 on the table 3.
(2) プリント基板7のセツト完了後、まず、アダ
プタ4,5は検査開始位置Xに移動し、テーブ
ル3を上昇させてコンタクトプローブ9をラン
ド部に接触させ、電圧を印加することで最初の
検査が行われる(第4図a)。(2) After setting the printed circuit board 7, first, the adapters 4 and 5 move to the inspection starting position An examination is performed (Figure 4a).
(3) 検査終了の信号に基づきテーブル3が下降
し、アダプタ4は(2)の位置に待機した状態で、
アダプタ5がワンステツプずつ図中右側に移動
していき、その都度検査が行われる(第4図
b)。(3) Based on the inspection completion signal, the table 3 is lowered, and the adapter 4 is in a waiting state at the position (2).
The adapter 5 is moved one step at a time to the right in the figure, and an inspection is performed each time (FIG. 4b).
(4) アダプタ5がプリント基板7の最右端部の検
査を終了すると、該アダプタ5が戻つて(2)の状
態となる(第4図c)。(4) When the adapter 5 finishes inspecting the rightmost end of the printed circuit board 7, the adapter 5 returns to the state shown in (2) (FIG. 4c).
(5) アダプタ5がワンステツプ右側に移動した
後、アダプタ4が追随して双方のアダプタ4,
5が近接した状態で且つ(2)の状態からワンステ
ツプ右側に移動した位置にくる。この状態で検
査が行われる(第4図d)。(5) After the adapter 5 moves one step to the right, the adapter 4 follows and both adapters 4,
5 is close to each other and moved one step to the right from state (2). An inspection is performed in this state (Fig. 4d).
(6) この状態から、アダプタ4が待機のままで、
アダプタ5が右側にワンステツプずつ移動し、
その都度検査が行われる(第4図e)。前記同
様アダプタ5が最右端部の検査を終了すると、
該アダプタ5が戻つて(5)の状態となる(第4図
f)。(6) From this state, adapter 4 remains on standby,
Adapter 5 moves one step to the right,
Inspections are carried out each time (Fig. 4e). Similar to the above, when the adapter 5 finishes inspecting the rightmost part,
The adapter 5 returns to the state (5) (FIG. 4f).
(7) 上記の動作を繰り返すことで、アダプタ4,
5によつてプリント基板7の検査全領域の検査
が行われ(第4図g)、アダプタ4,5は第1
図の状態に退避し、次のプリント基板7の検査
に備える。(7) By repeating the above operation, adapter 4,
5 inspects the entire inspection area of the printed circuit board 7 (Fig. 4g), and the adapters 4 and 5
It retreats to the state shown in the figure and prepares for the next inspection of the printed circuit board 7.
なお、本発明のアダプタ4,5をインサーキツ
トテスタのユニバーサルヘツド部に応用し、部品
搭載後の基板検査も同様の動作にて検査すること
も可能である。また、コンタクトプローブ9の代
わりに視覚センサを取り付け、フイルム原版など
の検査を行うことも可能である。 It is also possible to apply the adapters 4 and 5 of the present invention to the universal head section of an in-circuit tester, and to inspect the board after mounting components in the same manner. Furthermore, it is also possible to install a visual sensor in place of the contact probe 9 to inspect film originals and the like.
(ヘ) 効果
本発明は上述のように構成したので、基板を1
回セツトするのみで検査全領域に亙つて容易迅速
に検査することができると共に、低価格で、且つ
従来の汎用機に比べコンタクトプローブの数が少
なくプリント基板への接触圧が小くてすみ、加圧
側の構造の簡素化を図ることができる。(f) Effects Since the present invention is configured as described above, the substrate is
In addition to being able to easily and quickly perform inspections over the entire inspection area by simply setting up the machine once, it is also inexpensive and has fewer contact probes compared to conventional general-purpose machines, requiring less contact pressure to the printed circuit board. The structure on the pressure side can be simplified.
第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2
図は同断面側面図、第3図はアダプタの断面正面
図、第4図は検査手順説明図である。
1……ベースプレート、2……検査機本体、3
……テーブル、4,5……アダプタ、7……プリ
ント基板、9……コンタクトプローブ。
FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of the present invention, and FIG.
3 is a cross-sectional side view of the same, FIG. 3 is a cross-sectional front view of the adapter, and FIG. 4 is an explanatory diagram of the inspection procedure. 1...Base plate, 2...Inspection machine body, 3
...Table, 4, 5...Adapter, 7...Printed circuit board, 9...Contact probe.
Claims (1)
ーブルにプリント基板をセツトし、該プリント基
板に配設された複数のランド部にコンタクトプロ
ーブを接触させて回路パターンの接続状態を検査
するそれぞれ別個に移動可能に構成された固定側
アダプタと移動側アダプタからなる一対のアダプ
タを備え、これらの一対のアダプタが種々移動し
て基板の検査を行う2アダプタ式基板検査機にお
いて、前記固定側アダプタが停止し、前記移動側
アダプタが一定方向に一定量移動する毎に検査が
行われ、検査の進行中においては前記固定側アダ
プタは、前記移動側アダプタと隣接した状態でか
つ前記移動側アダプタとともに前記一定方向にの
み移動し、かつ双方のアダプタが隣接した際に
は、該隣接部の前記コンタクトプローブ間隔が双
方のアダプタのコンタクトプローブ間隔と略同一
寸法に設定されていることを特徴とする2アダプ
タ式基板検査機。1. A printed circuit board is set on the table provided on the base plate of the inspection machine main body, and contact probes are brought into contact with multiple lands arranged on the printed circuit board to inspect the connection state of the circuit pattern. Each can be moved separately. A two-adapter board inspection machine comprising a pair of adapters consisting of a fixed side adapter and a movable side adapter configured to move in various ways to inspect a board, wherein the fixed side adapter stops; An inspection is performed every time the movable adapter moves a certain amount in a certain direction, and while the inspection is in progress, the fixed adapter is adjacent to the movable adapter and moves in the fixed direction together with the movable adapter. and when both adapters are adjacent to each other, the contact probe spacing of the adjacent portion is set to approximately the same dimension as the contact probe spacing of both adapters. Machine.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221011A JPS6199873A (en) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 2 adapter type board inspection machine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59221011A JPS6199873A (en) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 2 adapter type board inspection machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199873A JPS6199873A (en) | 1986-05-17 |
| JPH0477871B2 true JPH0477871B2 (en) | 1992-12-09 |
Family
ID=16760075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59221011A Granted JPS6199873A (en) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 2 adapter type board inspection machine |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199873A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH083023Y2 (en) * | 1991-05-21 | 1996-01-29 | 株式会社四国総合研究所 | Photovoltaic module mount |
| KR100609852B1 (en) | 2004-05-04 | 2006-08-08 | 삼성전자주식회사 | Display device |
| KR100997932B1 (en) | 2004-06-15 | 2010-12-03 | 삼성전자주식회사 | Display device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5623470U (en) * | 1979-07-31 | 1981-03-03 |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP59221011A patent/JPS6199873A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199873A (en) | 1986-05-17 |
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