Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0477929B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0477929B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0477929B2
JPH0477929B2 JP63122968A JP12296888A JPH0477929B2 JP H0477929 B2 JPH0477929 B2 JP H0477929B2 JP 63122968 A JP63122968 A JP 63122968A JP 12296888 A JP12296888 A JP 12296888A JP H0477929 B2 JPH0477929 B2 JP H0477929B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
touch
signal
current
block
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63122968A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63304313A (en
Inventor
Deibitsudo Medoozu Robaato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Publication of JPS63304313A publication Critical patent/JPS63304313A/en
Publication of JPH0477929B2 publication Critical patent/JPH0477929B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Position Input By Displaying (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[産業上の利用分野] 本発明は、使用者によるタツチ感応表面上のタ
ツチ位置を測定するタツチ位置測定方法及びタツ
チパネル装置に関する。 本発明は使用者が選択する情報を表示する各種
の表示装置に広く応用し得る。一例として、使用
者がタツチによつて項目を選択するラツプヘルド
(膝のせ)型タブレツトへの応用がある。他の例
として、コンピユータ情報処理システムに接続さ
れた端末等の表示画面上の情報項目を使用者が選
択する装置への応用がある。 [従来の技術] 表示画面上に複数のタツチ区分の設定パターン
を有するタツチパネルを配置したCRT表示端末
装置は周知である。この端末装置では上記パター
ンのどの区分へのタツチにも応答し、その区分の
位置を確認できる。このようなシステムでは静電
容量検出技術を採用しているのが一般的である。
即ち、コントローラは絶えずタツチパネル面に走
査信号を送り続け、タツチを検出するまでタツチ
区分の監視を続ける。使用者がタツチ区分の1つ
にタツチすると、使用者の身体の静電容量が、こ
の回路に加えられる。コントローラはこの静電容
量の変化を検出し、そのタツチ区分を確認する。 このようなタツチ応答型端末装置の一例はユタ
州ソルト・レイク・シテイのRGBダイナミツク
ス社により製造されている。この装置では、タツ
チ感応表面はガラス基板に被着したインジウム・
スズ酸化物より構成されている。この表面被覆は
各タツチ区分が分離するようパターン化して電気
的検出回路と導体により接続している。このよう
にパターン化すると、パターン化したタツチ区分
の寸法でタツチ検出分解能が制限されてしまう。
また、タツチ検出自体、形成したタツチ区分の特
定パターンに制限されてしまう。更に、パターン
化した各タツチ区分と電気的接触をする複雑な配
線も必要である。このような複雑な接続構造では
簡単な構造のものに比べ故障し易く経費もかか
る。 他の周知の実用例としては、画面上に透明な機
械的スイツチを配置したものがある。カリフオル
ニア州シルマーのシエラシン・イントレツクス・
プロダクツ社がこの型のスイツチをトランスフレ
ツクス(Transflex)の商標で販売している。こ
の型の装置では複数の薄膜シートを用い、使用者
がタツチするとシート間を押圧して電気的接触さ
せている。この薄膜シートなる位置を押圧する
と、電流が特定回路に流れて、その押圧位置が確
認される。他の薄膜型タツチパネルはドーマン等
による米国特許第4484038号公報に開示されてい
る。 また、マサチユーセツツ州アンドーバーのドー
マン・ホドノフ社の製品カタログによれば、パタ
ーン化していない薄膜を用いたタツチ・パネル・
スイツチの1000シリーズタツチ・スクリーン装置
の従来技術がある。この1000シリーズタツチ・パ
ネル装置は、タツチ・スクリーンのX及びY軸間
のスイツチング電流によつて透明タツチ・スクリ
ーン上のスイツチの開閉を検出するコントローラ
を具えている。このタツチ・スクリーンの種々の
スイツチを通過した電流は電圧に変換され、次に
アナログX/Y信号更にデジタルX/Y位置座標
に変換される。このような薄膜型スイツチ装置で
は、薄膜はキズかつき易い。また、この装置に用
いられている多層膜により、光の反射率が高くな
り、光の等価率及び分解能が比較的低くなり易い
という欠点がある。 タツチパネルの周囲に光源及び検出器のアレイ
を形成して、タツチパネル上のタツチした位置を
検出する方法も周知である。或は、超音波発振器
及び超音波検出器のアレイをタツチパネルの周囲
に形成することもある。いずれの場合でも、信号
源及び検出器は電気的システムと接続していて、
信号源から検出器に送られる信号がパネルにタツ
チすることにより妨害されるのに応じてその位置
を検出する。 他の静電容量タツチ検出装置はNg等による米
国特許第4476463号公報に開示されている。この
特定装置には導電性タツチ感応被覆表面が用いら
れ、この被覆には4本の細長い導電性バー状電極
が接続されている。このタツチ感応被覆の各辺に
このバー状電極が1本ずつ設けられている。この
特許公報に記載されている如く、静電容量性タツ
チによつてタツチ検出表面を含む抵抗−静電容量
(R−C)回路に起こるインピーダンスの変化が
測定される。このインピーダンス測定をするに
は、2本の交差する直線軸の各端部より繰返し行
われる測定により上記R−C回路の時定数を測定
する。この測定結果を総合してタツチした位置を
検出する。この特許の一実施例では、交流測定信
号が電極に入力し、その信号に応じて発生する電
圧波形がこの電極で監視される。この測定信号の
周波数は監視される電圧波形が選択した条件に達
するまで変化する。この選択した条件と合う測定
信号周波数より、信号の入力した電極上に於ける
タツチ位置を決めることができる。他の実施例で
は、2つの選択した幅の直流信号を連続的に電極
に加えている。この信号の入力した電極上に於け
るタツチ信号は電極に加えた2つの直流信号によ
る電極での電圧から決めることができる。即ち、
第1測定信号はタツチにより生じた静電容量を含
んだタツチ感応被覆の静電容量を既知のレベルま
で充電する。それから、第2測定信号はタツチ感
応被覆の抵抗を介して部分的に放電させる。この
部分的放電後に残る電極電圧により電極上に於け
るタツチの位置を求めることができる。この特許
公報に記載されている回路は入力信号の周波数を
変化させたり、2つの連続した直流信号を入力さ
せたりする必要がある等、相当複雑になるという
欠点があつた。 タツチ感応表面を有する別のタツチ・パネル装
置がペツパー・ジユニアによる米国特許第
4353552号公報に開示されている。この装置によ
れば、使用者は指又は他の身体の部分又は導電性
のスタイラス等でタツチ感応表面にタツチする。
このタツチ感応表面の複数の終端部(即ち、4つ
の角A、B、C、D)は発振器により同じ瞬時レ
ベルに同時に駆動される。タツチ感応表面にタツ
チすると、電流がこれら終端部を介して流れ、使
用者のタツチによるインピーダンス変化とは無関
係に、これらの電流によつてタツチのX及びY座
標が決められる。この方法ではタツチの位置決定
が不正確になるという問題があり、且つある応用
例では有用であるインピーダンス情報がなくなる
という欠点がある。一実施例では、ペツパーはタ
ツチ位置の圧力が閾値を越えると感応する圧力セ
ンサも用いている。このようなタツチ位置決定方
法により、ビデオ・ゲームの遊戯中に銃を発射す
るというような2つの作用を制御し得る。 以上の多くのタツチパネル装置の精度は使用環
境内のノイズの影響により低化する。特に、
CRTフライバツク信号の如き一定周波数の干渉
信号スペクトルによつて起こる。また、表示装置
によつてはフライドバツク信号の周波数は装置の
動作につれて変化するものもある。この事が、そ
のような信号の影響を補償するのを困難にしてい
る。従来斯る欠点を解決したタツチパネル装置が
存在しない。 [発明が解決しようとする課題] 使用者がタツチ感応表面上の指又はスタイラス
等のタツチ位置を一定に維持していたとしても、
タツチ位置の測定値には僅かながら変動が生じる
ことが発見された。これらのタツチ位置の測定値
の変動は、ノイズに起因するもので、正確な動作
に支障を来たすことも有り得る。これと比較し
て、使用者が指でタツチ感応表面上を横切つた
り、或るタツチ位置から別の位置へ指を移動した
場合には、これらのノイズに起因する変動は、余
り問題にならない。後者の場合、タツチ位置の測
定値の変動は、主として指或いはスタイラスの移
動に起因するものである。従つて、この場合のタ
ツチ位置の測定値の変動は必要な情報であり、タ
ツチ信号から除去すべき情報ではない。 使用者の指或いはスタイラスのタツチ位置が一
定の場合、タツチ位置の測定値の変動を補償する
1つの方法は、タツチ位置の測定の際に平均化処
理をするサンプル数を実質的に増加することであ
る。しかし、サンプル数を増加すればタツチ位置
の測定に時間がかかり、タツチパネル・システム
の応答が遅くなつてしまう。更に、使用者が指或
いはスタイラスをタツチ感応表面上で移動した場
合を考えてみよう。この場合、サンプル数を増加
すると、使用者の指又はスタイラスが移動するに
つれて求められるタツチ位置の測定値の数が減少
してしまう。このタツチ位置の測定値の減少によ
り、或る位置から別の位置までの指の移動経路を
正確に測定することが困難となり得る。即ち、指
の移動経路を正確に測定するには、移動経路に沿
つて測定される各タツチ位置の取り込みサンプル
の数を減少して測定されるタツチ位置の数を増加
することが望ましい。従つて、タツチ位置の移動
速度にかかわらず、タツチ位置の測定の際に平均
化するサンプル数を単純に増加するという方法に
は重大な欠点が存在することになる。 [発明の目的] 従つて、本発明の目的は、タツチ感応表面上の
タツチ位置が移動した場合でも最適な測定精度及
び信頼性を得らるタツチ位置測定方法及びタツチ
パネル装置を提供することである。 本発明の他の目的は、タツチ感応表面上のタツ
チ位置が静止している場合、タツチパネル装置の
動作中に発生するノイズの影響を最少にしたタツ
チ位置測定方法及びタツチパネル装置を提供する
ことである。 [発明の概要] 本発明のタツチパネル装置は人間の指等でタツ
チパネルのタツチ感応表面上のどこにタツチして
もそのタツチを検出する。このタツチ感応表面上
のタツチ位置を決める回路が設けられている。こ
のタツチ位置は典型的には針によつて正確にタツ
チしたものしてX−Y座標系により決められる。 このタツチ位置は、交流電圧パネル走査信号を
タツチ感応表面に選択的に印加し、そこから発生
するタツチ信号(即ち電流)により決定される。 一走査方法によれば、これらパネル走査信号は
タツチ感応表面の第1辺から反対側の第2辺まで
第1方向に交流電圧勾配を形成するように印加さ
れる。このように走査され、使用者がタツチ感応
表面にタツチすると、第1タツチ電流が使用者を
介して流れ、検出される。更に、共通の交流電圧
パネル走査信号がタツチ感応表面の第1及び第2
辺の両辺に同時に印加されると、インピーダン
ス・タツチ電流が使用者を介して流れ、検出され
る。この第1方向に関するタツチ位置が検出され
た第1及びインピーダンス・タツチ電流により決
められる。また、交流電圧走査パネル信号がタツ
チ感応表面の第3辺から第4辺まで第2方向に交
流電圧勾配を形成するように印加される。パネル
がタツチされると、第2タツチ電流が流れ、検出
される。一般に、第1及び第2方向は互いに直交
していて、X−Y座標系に対応している。それか
ら、タツチ位置は第1、第2、及びインピーダン
ス・タツチ電流によりこのX−Y座標系に対して
決められる。他の適当な走査法を採用してもよ
い。 本発明によれば、タツチ信号は、タツチ感応表
面上のタツチ位置から次のタツチ位置までの移動
速度の変化量に応じてフイルタリングされる。よ
り具体的に言えば、タツチ信号の低域通過フイル
タによる遮断領域は、タツチの移動速度が減少す
るにつれて拡大する。本発明の実施例によれば、
プロセツサがタツチの移動速度に応じてタツチ位
置のデータをデジタル的にフイルタ処理して修正
することにより、この可変フイルタ処理、即ち適
応フイルタ処理が実行される。また、本発明によ
れば、タツチ位置を測定する為に平均化されるタ
ツチ信号のサンプル数は、この適応フイルタ処理
を施す為に変更される。この方法では、平均化さ
れるサンプル数は、タツチの移動速度が減少する
につれて増加する。本発明の他の実施例では、こ
の移動速度の変化に応じてタツチ信号のフイルタ
処理を調整する為に、プロセツサは、可変アナロ
グ・フイルタを制御する。 タツチ位置は使用者の指と同様に導電性のスタ
イラスでタツチされても求めることができる。ま
た、手袋をしてタツチした場合でも手袋が導電性
物質であるか、或いは導電性でなくとも充分に薄
くてパネル走査信号の周波数で容量性タツチ電流
を測定できれば、正確にタツチ位置を求められ
る。このようなタツチ電流を生じさせるようなも
のであれば、他の方法でタツチしてもよい。ここ
に述べたように、手袋をした指とかスタイラスと
かによるタツチは、タツチ電流を生じさせるよう
な物に限定されると理解されたい。 〔実施例〕 概 説 第1図に示すように、本発明のタツチパネル装
置は表示画面14を有する表示装置12を具えて
いる。図の表示装置はCRTコンピユータ端末装
置を含むので、表示画面14はCRTの表面を含
んでいる。光学的に透明なタツチパネル16が画
面14に重ねられているので、タツチパネル16
を等価して画面14を見ることができる。これは
光学的透明ということであり、画面14上の画像
がタツチパネル16を介して見えるということで
ある。他の応用例では表示装置12を削除する。
例えば、質問及び回答シートのような情報を含ん
だ一枚の用紙をタツチパネル16の下に置き、こ
の質問及び回答シートに関するデータを入力する
ものにタツチパネル16を利用してもよい。別の
応用例では、タツチパネル16は透明でなくても
よい。例えば、タツチパネル16を単にデータ入
力パツドとして用い、タツチした位置によつてコ
ンピユータ或いは他の装置にデータを入力しても
よい。 タツチパネル16はガラス或いは他の光学的透
過性物質の基板を含み、その基板の外側表面上に
は導電性被覆18を被着している。被覆18はタ
ツチ・パネルを施して表示画面14全体を覆つて
もよく、或いは画面の一部をみを覆つて、そこに
使用者の選択項目(メニユ)を表示するようにし
てもよい。 第2図に概要を示しているように、(詳細は後
述する)被覆18は、複数の電気的コンタクト或
いは電極(この場合20個のA乃至Tのコンタク
ト)を有するタツチ感応表面を含んでいる。これ
らのコンタクトの第1組22、即ちP乃至Tのコ
ンタクトはタツチ感応表面18の1辺に1列に配
置している。コンタクトの第2組24、即ちF乃
至Jのコンタクトは第1組22の対向する辺に1
列に配置している。つまり、第1及び第2組22
及び24はタツチ感応表面18の第1方向の両端
に夫々位置する離れた列を形成している。コンタ
クトの第3組28、即ちK乃至Oのコンタクトは
タツチ感応表面18の下側(第3)辺に1列に配
置している。また、コンタクトの第4組26、即
ちA乃至Eのコンタクトはこの面と上側(第4)
辺に1列に配置している。従つて、第3及び第4
組28及び26はタツチ感応表面の第2方向の両
端に互いに離れて位置している。これらコンタク
トは約0.2平方インチの空気乾燥した銀接触塗料
スポツトであつてもよい。各コンタクトには電気
的接触を容易にするため導線が接続されている。
歪を軽減する為、コンタクトとの接続部分、付近
の各導線の一部はエポキシ樹脂などでタツチパネ
ル基板の縁に固定してもよい。 この構成では、コンタクトの第1及び第2組2
2及び24は、タツチパネルの水平方向の対向す
る両端に離れて位置している。別のコンタクトの
組26及び28はタツチパネルの鉛直方向の対向
する両端に夫々離れて位置している。コンタクト
の各組は必ずしも1列に並んでいなくともよい
が、各組が夫々直線上にあり、且つ第1及び第2
方向が互いに垂直であれば、コンタクトにより基
準座標系が定義される。タツチ位置はこの座標系
に従つて、以下に説明する回路により求められ
る。更に、タツチ・パネル固定し、校正しておけ
ば、コンタクトは画面14に関して既知の位置に
ある。従つて、タツチ感応表面18上でのタツチ
位置を求めれば、これに対応する画面14上での
位置を求めることができる。本発明はこの特定の
コンタクトの構成に限定されるものではないこと
に留意されたい。また、タツチ感応表面の各辺に
設けたコンタクトの数は増減してもよい。 第2図のタツチ位置検出システムでは、タツチ
感応表面18上で2つの方向に関してタツチ位置
を求めるには、対向するコンタクトの組のペア2
2,24及び別のペア26,28の2つのペアを
用いている。もし、1方向に関してのみタツチ位
置を求めるのなら、一方のペアのみが使用され
る。即ち、コンタクトの組22及び24は第1
(X)方向のタツチ位置を求めるのに用いられ、
また、組26及び28は第2(Y)方向のタツチ
位置を求めるのに用いられる。 また、第1図及び第2図を参照すると、関数発
生器即ち、可変周波数信号源30は出力端36に
交流電圧タツチパネル走査信号を出力する。パネ
ル駆動増幅器38はパネル走査信号を受け、この
信号を増幅し、出力端40に出力したその信号を
タツチパネル駆動変成器44の1次巻線42に供
給する。これは変成器の2次巻線46の両端、即
ち信号プラス(SIG+)出力端48及び信号マイ
ナス(SIG−)出力端50間に交流電圧を発生さ
せる。マルチプレクサ(即ちスイツチ回路)52
により、2次巻線の出力端48及び50からのパ
ネル走査信号を、以下に説明するように、選択的
にタツチパネル・コンタクトの組に加える。これ
らパネル走査信号に応じて、パネル出力タツチ信
号(即ち、タツチ電流信号)がタツチ感応表面が
タツチされると変成器44の中央タツプ54に発
生する。これらタツチ電流信号は、パネル出力信
号処理回路56で処理され、タツチ位置及び他の
情報が求められる。 このパネル出力信号処理回路56では、中央タ
ツプ54からのタツチ電流信号は線路60を伝わ
り、電流検出演算増幅器のようなタツチ電流検出
器62に送られる。この検出器62の出力は中央
タツプ54からのタツチ電流信号に対応してい
る。この検出器62の出力は出力線64に出力さ
れ、フイルタ66(第3B図)を介してアナロ
グ・マルチプライヤ69の1入力端68へ送られ
る。可変周波数信号源30の交流電圧基準出力は
線路70によつて、マルチプライヤ基準回路72
と接続している。このマルチプライヤ基準回路7
2から出力するマルチプライヤ基準電圧信号は、
線路74を伝わり、アナログ・マルチプライヤ6
9の基準入力端76に入力する。この基準電圧信
号により、アナログ・マルチプライヤ69の乗算
とタツチ感応表面18に入力する交流電圧信号と
が同期する。 この乗算されたタツチ電流信号は線路78を経
て増幅器とフイルタ回路80に送られる。この回
路80は出力は線路82に出力し、積分回路タイ
ミング・スイツチ84を介して、これらの信号を
積分する積分回路86に入力する。この積分回路
タイミング・スイツチ84は積分タイミング信号
INTに応じて、積分期間中に閉じる。この積分
タイミング信号は後述するように発生し、
積分タイミング入力端子88に入力する。このス
イツチ84が閉じると、積分回路86に送られた
信号が、そこで積分される。積分回路86は互い
に並列な積分コンデンサ90及び増幅器92を含
んでいる。これらに加えて、積分コンデンサ放電
スイツチ94も内蔵し、このスイツチは線路96
の放電信号に応じて選択的に積分コンデンサ
90を放電させる。この放電信号、(即ち積
分回路の零化信号)の発生については後述する。
この積分されたタツチ電流信号は線路98を経
て、信号をデジタル化するアナログ・デジタル変
換器回路即ちADC100に入力する。このデジ
タル化された信号はデータ・バス102,104
を経て、MPU108のデータ入力端106に送
られる。MPU108は他の処理の合間に、タツ
チ電流信号からタツチ位置及び他の所望の情報を
計算する。 動的フイルタ、即ち可変周波数低域通過フイル
タ85を、増幅器及びフイルタ回路80と積分回
路86の間に挿入し得る。この実施例の記載の中
で適応フイルタ処理に関連して後述するように、
動的フイルタ85は、タツチ位置の変化速度を表
す変化量に応じてタツチ電流の信号をフイルタ処
理する為に用いられる。この動的フイルタ85
は、使用する場合には、変圧器の中央タツプ54
と積分回路86の間のどこか適当な位置に配置し
ても良い。線路87上のフイルタ制御信号は、動
的フイルタ85のフイルタ処理の制御するが、こ
の信号の発生に関しては後述する。 MPU108は、バス104,110、並列出
力ラツチ112及びバス113を介してコンピユ
ータ114と接続している。このコンピユータ1
14は線路116により表示端末装置12と接続
している。このように接続したことにより、コン
ピユータ114を用いて選択した情報を画面14
上に表示させることができる。また、コンピユー
タ114により、タツチ位置に応じて表示情報を
ソフトウエアに従つて変更してもよい。このよう
に、所望の応用に適合するように従来の手法によ
り実現できる。MPU108はバス118によつ
て周知のRS232型通信インターフエース回路12
0にも接続している。これによつて、タツチパネ
ルで遠方のデータ処理局と通信回線を介して信頼
できる。このインターフエース回路102には典
型的な例として直列データ出力端122を設けて
いる。 MPU108からの制御信号はM0及びM1出力
端から夫々線路124及び126を経てマルチプ
レクサ52へ送られる。これらの制御信号によ
り、マルチプレクサ52はパネル走査信号をコン
タクトの所望の組へと接続する。このようにし
て、タツチ位置を決めるタツチ電流信号が発生す
る。典型的な走査方法については後述する。 第1図のパネル出力信号処理回路56はデコー
ダ・デマルチプレクサ130も含んでいる。デコ
ーダ・デマルチプレクサ130はMPU108か
らの線路132,134及び136の入力信号を
デコードし、それに応じて、タツチパネル回路の
種々の機能を制御する信号を出力する。例えば、
デコーダ・デマルチプレクサ130は線路88に
積分タイミング信号を出力する。この信号
を受けるとスイツチ84が閉じて、タツチ位置の
決定が必要になるとタツチ電流信号の積分が始ま
る。この積分は信号のパルス幅の期間続く。
デコーダ・デマルチプレクサ130は線路96に
積分コンデンサ放電信号も出力する。この信
号によりスイツチ94が閉じて、積分コンデンサ
90は各連続的な積分の前に放電される。MPU
108は信号源30の基準出力から出た線路14
0上の同期信号を受ける同期入力端を有する。従
つて、積分はパネル走査信号のタツチ感応表面1
8への印加と同期している。デコーダ・デマルチ
プレクサ130は線路142でADC100にも
接続している。ADC100は積分されたタツチ
信号をデジタル変換した信号をMPU108に送
る。更に、デコーダ130は、線路87を介して
動的フイルタ85に送られるフイルタ制御信号
FILT.を発生する。このフイルタ制御信号により
動的フイルタ85は、タツチ感応表面上のタツチ
位置の動きに応じてタツチ信号のフイルタ処理を
制御する。 ADC100が所望の範囲内の値の出力を発生
すればより正確なタツチ電流及びタツチ位置の決
定が行える。もしこれが小さすぎると、タツチ電
流の小さな変動が見のがされ、スプリアス信号の
影響がより大きくなる。もし大きすぎればADC
100はオーバーフローして、不正確なタツチ電
流信号の指示を与える。このような可能性を最小
にする為、MPU108はADC100の出力値を
監視している。この値が所望の範囲外のとき、
MPU108はデコーダ・デマルチプレクサ13
0に送る積分タイミング制御信号のパルス幅を調
整する。これに応じて信号のパルス幅、即
ち積分期間が調整され、ADC100の出力が所
望のレベルまで戻される。これによつて、広範囲
にタツチ電流が変化するように条件が広範囲に変
化しても、容易にこのパネル装置を使用できる。
例えば、タツチ感応表面18へのタツチがスタイ
ラスの使用によるものとか、指や他の身体部分と
か、或いはたとえ手袋をした指であつてもよい。 自動零化回路150はタツチ感応表面がタツチ
されない時、変成器44の中央タツプ54のタツ
チ電流信号を0にするように調整する。この零化
後、中央タツプ54に電流が存在すると、(少く
ともノイズ閾値レベル以上の電流があると)、そ
れはタツチ感応表面がタツチされたことを指示す
る。一般に自動零化回路150は、タツチされな
い状況下では中央タツプ54に自動的に適当なオ
フセツト電流を供給し、その中央タツプの電流を
全て打ち消して0にする。 これを実行する為、第1図の自動零化回路で
は、実質的な静電容量性負荷をパネル走査出力の
1つ(この場合、線路152を介してSIG+出力
端48)に選択的に接続している。自動零化回路
150はMPU108からバス104及び154
を介して入力する零化信号に応答する。自動零化
回路150によりSIG+出力端48と接続された
実質的静電容量性負荷の値は零化信号に応じて変
化し、それによつて零化動作に影響する。典型的
に、オフセツト零化コンデンサ158がSIG−パ
ネル走査出力端50と接続し、中央タツプ54に
自動零化回路から供給されるオフセツト電流と逆
の方向に初期オフセツト電流を供給する。その結
果、自動零化回路150によりSIG+パネル走査
出力端48に静電容量が加えられると、コンデン
サ158から流れる初期オフセツト電流と他の周
辺信号とが釣り合う。別のオフセツト・コンデン
サ168がスイツチ170により選択的にSIG−
パネル走査出力端50に接続される。スイツチ1
70はマルチプレクサ52から線路172に出力
する信号に応じて、インピーダンス・タツチ電流
の決定中に閉じられる。コンデンサ158及び1
68が両方共にこの回路に接続されると、インピ
ーダンス・タツチ電流の決定中に生じる典型的な
電流漏れがより大きくなるので、初期オフセツト
電流はより大きくなる。 第1図のパネル出力信号処理回路56は、自動
周波数制御手段も含んでいる。これはタツチパネ
ル装置が使用されている環境での、CRT水平フ
ライバツク信号のような一定周波数の混信スペク
トルによつて影響を受けないレベルまでパネル走
査信号の周波数を変化させるためのものである。
ここで用いた「一定周波数の混信スペクトル」と
は、タツチパネル装置と併用する装置によつて典
型的に発生する周期信号及びそれらの高調波信号
を言う。この用語はCRT表示装置の変動する多
重水平フライバツク信号のように、ある時間一定
で、その後別の一定値に変化するような信号も含
んでいる。これは、またタツチパネル装置のパネ
ル励起周波数の調整可能速度より遅い速度で変化
する周辺ノイズ信号も含んでいる。タツチパネル
装置をこのような一定周波数混信スペクトルの周
波数付近で動作させると、タツチ位置の決定を著
しく損ない、場合によつては決定したタツチ位置
が全く信頼性を欠くものになる。 第1図の構成に於て、信号源30は可変周波数
信号発生器を内蔵している。この信号源30は周
波数制御入力端176を有し、ここに入力する周
波数制御信号に応じて可変の交流電圧出力信号を
線路36,70に出力する手段を内蔵している。
MPU108の制御により、自動周波数制御回路
178は周波数制御信号を出力し、周波数制御入
力端176に線路180を介して送る。より具体
的にはMPU108が周波数調整を必要と判断し
た時点で、デジタル周波数制御信号がバス104
及び182を経て自動周波数制御回路178へ送
られる。デジタル・アナログ変換器(DAC)1
84はデコーダ・デマルチプレクサ130からの
線路186の信号に応じて、バス182から入力
した周波数制御信号を自動周波数制御回路に伝え
る。典型的には、周波数の調整は零化調整の頻度
が高くなり過ぎた時、零化調整の頻度を減少させ
るレベルまで動作周波数を変化させる目的で行わ
れる。MPU108はこの周波数の変化方向(増
加又は減少)も予め定める。 第1図のタツチ・パネル装置は過大なタツチ電
流からパネル出力信号処理回路56及びタツチ感
応表面18を保護するという特徴もある。具体的
に、MPU108はタツチ電流が最大安全閾値を
越え、積分回路86がその信号を最小積分期間積
分していることを判断していると仮定する。この
場合、MPU108により、デコーダ・デマルチ
プレクサ130は線路190のOSC.EN.出力を
打ち切る。これによりスイツチ192が閉じて、
信号源30のデイセーブル・入力端194を接地
する。こうなると、信号源30の出力は停止し、
タツチ感応表面18へのパネル走査信号は遮断さ
れる。保護の為に、MPU108のM0及びM1出
力は、SIG+及びSIG−パネル走査出力端とタツ
チ感応表面との間の接続を断ち切るようにマルチ
プレクサ52を制御するデジタル論理レベルに変
化する。 手動制御スイツチ198が制御線路200によ
りMPU108と接続している。詳細は後述する
が,スイツチ198の設定により、タツチ位置信
号を並列出力端113に送るか或いは直列データ
出力端122に送るかというような処理パラメー
タが選択される。 パネル走査方法及びタツチ位置の決定 より詳細に後述する通り、MPU108はマル
チプレクサ52を制御して、所定の方法でタツチ
感応表面18の辺に変成器44のSIG+及びSIG
−出力端48及び50を夫々接続する。この結果
生じるタツチ電流信号によりタツチ位置及び他の
情報が決められる。 走査方法の第1の具体例として第2図を参照
し、タツチ感応表面がタツチされずに零化回路1
50によりタツチ電流が0に調整されていると仮
定する。また、X−Y座標系の原点をタツチ感応
表面18の中心に設定したものとする。点Pがタ
ツチされたとすると、この点の位置は第2図のX
及びY座標で与えられる。(ここでは、時々Xp、
Ypと表わす。) この第1走査方法の第1モードでは、SIG−出
力端50がコンタクトの組22と、SIG+出力端
48はコンタクトの組24と夫々接続している。
その上、他のコンタクトの組26及び28は(そ
の必要性は特にないが)開路になつている。この
モードでは交流電圧勾配がタツチ感応表面18の
第1方向(即ち、X方向)に形成される。この場
合では、第1方向は水平方向でX軸を含んでい
る。後述するように、マルチプライヤ69の乗算
及びフイルタ通過後、第1(X)方向のタツチ電
流は次式で表わされる。 (a) ix=KxXV/Zt この方程式で、ixは上述の結果によるタツチ電
流で第1(即ちX)タツチ電流を表わす。また、
Vは変成器の中央タツプ54の仮想接地に対する
2次巻線出力端48の電圧である。Ztは使用者が
タツチ感応表面にタツチした時この回路に加えら
れるインピーダンスであり、Kxは定数である。
また、V/Ztは使用者のタツチによつて流れるイ
ンピーダンス・タツチ電流に相当している。Xは
タツチ位置のX座標である。 第1走査方向の第2モードでは、SIG+出力端
48はタツチ感応表面の第1及び第2辺22,2
4の少くとも一方、典型的には同時に両方と接続
する。これにより一様な交流電圧が第1(X)方
向に形成される。このモードでは中央タツプ54
のどのタツチ電流も使用者を介して流れるインピ
ーダンス・タツチ電流に相当する。乗算及びフイ
ルタ通過後のインピーダンス・タツチ電流は次式
で表わされる。 (b) iz=V/ZtKz インピーダンス電流走査モードの他の方法とし
ては、パネル走査出力端の一方(即ち、SIG+出
力端)をタツチ感応表面の1辺だけと接続した
り、隣接する2辺と接続したり、4辺全部と接続
したりする。 上記2つの方程式を連立して解けば、Xタツチ
位置は次式で与えられる。 (c) X=ixKz/izKx Kz/Kxを求める為に、タツチ感応表面18の
既知のX位置にタツチする。例えば、4隅、即ち
X座標の右端及び左端にタツチする。複数の既知
のX座標を上記(c)式に代入して、その結果を平均
すればKz/Kxの値が求められる。一旦Kz/Kx
の値が求まれば、未知のXタツチ位置は第1及び
インピーダンスタツチ電流信号から上記方程式を
使つて計算できる。 2次元のタツチ情報が望ましい場合には、第1
走査方法を第3モードにする。第3モードでは、
SIG+出力端48はタツチ感応表面18の上辺2
6と接続し、SIG−出力端50は底辺28と接続
する。これにより交流電流勾配がタツチ感応表面
18の第2(即ちY)方向に形成される。乗算及
びフイルタ通過後の第2(Y)タツチ電流信号iy
は次式で表わせる。 (d) iy=KyYV/Zt この方程式でYはYタツチ位置、KyはKxと同
様に決まる定数である。第1図ではKx、Ky及び
Kzは夫々略1に等しい。従つて、これら定数を
求める必要がない。方程式(b)及び(d)を連立して解
けば、Yタツチ位置は次式で与えられる。 (e) YiyKz/izKy この方程式で、Kz/KyはKz/Kxと同様に決
まる定数である。 以上述べた3つのモードでタツチ感応表面18
を走査して得たタツチ電流信号から、タツチ位置
PのX及びY座標が求められる。所定の回数走査
サイクルを繰返して、その結果を総合、(即ち平
均)してタツチ位置を正確に求めることができ
る。しかし、精度は及ばないが、多くの応用例で
は、複数の結果を平均しなくても十分な精度でタ
ツチ位置を求めることができる。種々のモード間
の切換えはMPU108からの信号M0及びM1の
制御により、マルチプレクサ52が実行する。タ
ツチパネル16上のタツチ位置より、コンピユー
タ114は表示末端12に表示されたほどの情報
項目を使用者が選択したかを確認する。それから
表示末端は周知の方法で使用者の選択に応答す
る。 タツチ位置の決定に加えて、生じたタツチ電流
から付加的情報が得られる。例えば、X及びY座
標を連続して計算し、その上インピーダンス・タ
ツチ電流izも監視した場合がある。X及びYが不
変でizだけが変化すれば、これは使用者がタツチ
感応表面の特定の位置をタツチし続け、単にタツ
チの仕方が変つたという事を示す。例えば、これ
は使用者がタツチ位置をより強く押えている場合
かも知れない。この場合にはタツチ感応表面のタ
ツチされている面積が変化する。この結果生じる
インピーダンス・タツチ電流の変化は付加的機能
を制御する為コンピユータ114が使用できる。
例えば、タツチ画面が同じ位置で単により強く押
されただけなら、インピーダンス・タツチ電流の
変化は検出され、それはタツチ位置で決まるデー
タ上で動作する特性のサブルーチンを呼び出すの
に用いられる。 所望のX及びYタツチ電流及びインピーダン
ス・タツチ電流を与える他の走査方法を以下に説
明する。この第2の走査方法では前述した3つの
モードの代りに、4つのモードでタツチ感応表面
を走査する。第2図に於て、この走査方法によれ
ばタツチ位置の点PはX1、X2、Y1、Y2の4つで
記述される。即ち、タツチ感応表面のX方向の両
端間の距離は既知で、それがX1及びX2の和に等
しい。また、X1は第2図のパネルの左辺から点
Pまでの水平距離で定義され、他方X2はパネル
の右辺から点Pまでの水平距離で定義される。ま
た、このパネルのY方向の両端の距離は既知で、
それはY1及びY2の和に等しい。Y1及びY2は夫々
タツチ感応表面の底辺及び上辺から点Pまでの距
離として定義される。 この第2走査方法の第1モードでは、マルチプ
レクサ52によりSIG+出力端48はタツチ感応
表面18の右辺と接続し、中央タツプ54はタツ
チ感応表面18の左辺と接続している。これによ
つて、タツチ感応表面のX方向に右端から左端へ
と交流電圧勾配が形成される。タツチ感応表面1
8がタツチされない時零化回路によつてタツチ電
流は0に調整され、またタツチ電流の乗算及びフ
イルタ通過も行われたものと仮定する。これらの
条件で、中央タツプの第1タツプ電流ix1は次式
で与えられる。 (f) ix1=KxX1/X1+X2 V/Zt また、第2モードの時、SIG+出力端48及び
中央タツプ54は夫々タツチ感応表面の左辺及び
右辺に接続される。これによつてタツチ感応表面
のX方向に今度は左端から右端へ交流電圧勾配が
形成される。この場合の第2タツチ電流ix2は次
式で与えられる。 (g) ix2=KxX2/X1+X2 V/Zt 方程式(f)及び(g)を加算すれば、インピーダン
ス・タツチ電流izxは次式で与えられる。 (h) KxV/Zt=(ix1+ix2)=izx 結局、方程式(f)及び(h)により、タツチ位置の点
PのX軸位置X1は次式で与えられる。 (i) X1=ix1(X1+X2)/(ix1+ix2) 以上の方程式でKxは定数で、タツチ感応表面
18の既知の位置にタツチして前述したのと同様
の方法で求めることができる。 また、前述の通り、X1とX2の和は既知である。
従つて上記2測定の結果からタツチ位置(点P)
のX軸位置情報は計算でき、また、インピーダン
ス・タツチ電流izxに関する変化の情報も得られ
る。 Y軸についての位置情報は以下の方法で求めら
れる。この第2走査方法の第3モードに於て、
SIG+出力端48及び中央タツプ54は夫々タツ
チ感応表面18の上辺及び底辺と接続する。その
結果、第3タツチ電流iy1は次式で与えられる。 (j) iy1=KyY1/Y1+Y2 V/Zt 第4モードでは、SIG+出力端48及び中央タ
ツプ54は夫々タツチ感応表面18の底辺及び上
辺と接続する。この場合、第4タツチ電流iy2
次式で与えられる。 (k) iy2=KyY2/Y1+Y2 V/Zt 方程式(j)及び(k)を加算すれば、インピーダン
ス・タツチ電流izYは次式で与えられる。 (l) KyV/Zt=(iy1+iy2)=izy 更に、方程式(j)及び(l)より、Y1は次式で与え
られる。 (m) Y1=iy1(Y1+Y2)/(iy1+iy2) 上述のように、Y1及びY2の和は既知であり、
また定数Kyは定数Kxと同様にして求めることが
できる。よつて、X1及びY1はタツチ電流から求
めることができ、またインピーダンス・タツチ電
流の変化も自在に監視できる。 当業者には明らかなように、タツチ感応表面に
交流電圧勾配を形成する他の走査方法及びモード
を採用することにより、所望の位置情報を求め得
るようなタツチ電流信号を発生させることが可能
である。 タツチ・パネルの構造 再び第2図を参照して、タツチ・パネル16の
全面領域を覆うタツチ感応表面18はタツチ位置
決定回路と接続され、使用者のタツチを検出する
のに用いられる。前述のように、タツチ・パネル
16は導電性フイルムでタツチ感応表面を被覆し
た基板を具えている。このようなフイルムの好適
な一例は、面固有抵抗が200Ω/面、520nmの波
長の光透過率が85%のインジウム・スズ酸化物で
ある。このようなフイルで被覆した基板は、カリ
フオルニア州サンタ・ローザのオプテイカル・コ
ーテイング・ラボラトリ社から市販されている。
このフイルムの面固有抵抗はそれと程厳密でなく
ともよく、50〜2000Ω/面かそれ以上でも好適で
ある。面固有抵抗200Ω/面より相当低い場合に
は特別に低抵抗スイツチを必要とし、比較的大電
力を消費することになるかも知れない。 この基板は特定の形状に限定されるものではな
い。従つて、画面14に適合するように、円形、
凹面、球面、曲面、平面等どんな面でもよい。ま
た、この基板は光学的に透明であれば種々の好適
材料ものもでもよい。背景からの反射光による眩
しさを低減する為、基板は市販の防眩ガラスのも
のでもよい。このガラスも平面或いは表面画面の
曲面に合うような曲面であつてもよい。このよう
な基板の販売元の1つはウエスト・バージニア州
チヤールスバーグのイーグル・コンベツクス・グ
ラス社である。 前述のように、どのようなコンタクト配置構造
を採用するかは上述の例に応じて種々変更し得
る。勿論、具体的なマルチプレクサ(即ちスイツ
チ回路)52は選択したコンタクト配置構造に応
じて変わる。一般に、比較的一様な交流電圧勾配
を所望の方向にタツチ感応表面上に容易に形成し
得るものならどんなコンタクト配置構造を採用し
てもよい。 タツチパネル駆動回路 交流電圧信号を発生し、タツチ感応表面18に
印加する回路の詳細は第3図に示している。 もつと具体的に述べると、図の構成に於て、信
号源30はエグザ・カンパニーのX8038A型集積
回路信号源で代表される周知の正弦波信号源を含
み、第3図のように周知の方法で接続されてい
る。信号源30は正弦波出力をピン2、即ち出力
端36に出力する。決定的条件ではないが、この
信号発生器の典型的出力信号の周波数は15〜
300KHz(好適値200KHz)である。理由は後述す
るが、この周波数はタツチ処理回路によつて自動
的に調整される。この信号源30は矩形基準信号
もピン9(出力端70)に出力する。この基準信
号により同期信号(OSC.SYNCH.)が線路14
0に出力され、またマルチプライヤ基準回路72
を経て、この基準電圧信号がアナログ・マルチプ
ライヤ69に送られる。 図のパネル駆動増幅器38は演算増幅器210
及びデイスクリート型プシユ・プル・フオロア回
路212を含んでいる。パネル駆動増幅器38の
出力は線路40により1μFのセラミツク製DC遮
断コンデンサ213を介して変成器44の1次巻
線42と接続している。コンデンサ213は直流
電流によつて変成器44が飽和するのを防止す
る。典型的に、信号源30及び駆動増幅回路38
により変成器44は2次巻線の出力端48及び5
0間に最高最低(ピーク・トウ・ピーク)電圧値
で約12Vの電圧を出力する。この変成器は1次対
2次の電圧比が1対1のものを用いているので、
同じ電圧が1次巻線42の入力端間に供給されて
いる。 好適実施例では変成器44は環状(トロイダ
ル)コアを有する。この変成器44によつて、タ
ツチ感応表面18を駆動する電流と信号源30の
出力する電流とが隔離される。その結果、中央タ
ツプ54に生じる電流はタツチ電流のみとなる。
このような変成器44の駆動構成により、パネル
走査電流を除いてタツチ電流のみを得る為の複雑
な回路は不必要となる。 信号発生器30及び駆動増幅回路38に好適な
抵抗器及びコンデンサは先の説明にはなかつた
が、この実施例の最後の表1に記載している。 第2図のマルチプレクサ52はパネル走査信号
をタツチ感応表面に供給するスイツチ回路を含ん
でいる。これらのパネル走査信号により、タツチ
感応表面18上に所望の方向で交流電圧勾配を形
成する。図示したタツチ・コンタクトの配置に関
して、マルチプレクサ52は図のように相互接続
した6つの2極双投CMOSアナログ・スイツチ
260乃至270及び状態デコーダ回路272を
含んでいる。具体例として、スイツチ260乃至
270はジー・イー・インターシル社製IH5045
型スイツチを用いてもよく、また状態デコーダ回
路272は周知の74LSO2型NORゲートの回路で
もよい。SIG+出力端48及びSIG−出力端50
のパネル走査信号はマルチプレクサ52の走査入
力端に送られる。一般に、スイツチ260乃至2
70はMPU108から制御線路124,126
を介して状態デコーダ回路272に送られる制御
信号M0及びM1に応じて種々の状態に切換えられ
る。マルチプレクサ52の入力/出力線路274
は第2図に示したようにタツチ感応表面18のコ
ンタクトA乃至Tに夫々接続している。 論理状態“0”(M0)及び論理状態“1”
(M1)の信号がMPU108から制御線路124
及び126に夫々出力されると、スイツチ回路は
第1(X)タツチ電流検出状態(X状態)に入る。
この第1状態のとき、コンタクトの組22のP乃
至Tは電気的に接続し、またコンタクトの組24
のF乃至Jも電気的接続する。それに、コンタク
トA乃至E及びK乃至Oは開路(オーブン)にな
つている。また、この第1状態のとき、SIG+出
力端48の出力はコンタクトの組24に印加し、
SIG−出力端50の出力はコンタクトの組22に
印加する。これらの条件下で、タツチ感応表面1
8の第1(X)方向に交流電圧勾配が形成される。 更に、制御線路124に出力したM0制御信号
が論理状態“1”で、制御線路126のM1制御
信号が論理状態“0”のとき、マルチプレクサ5
2は第2(Y)タツチ電流検出状態(Y状態)と
なる。この第2状態ではコンタクトの組26のA
乃至Eは電気的接続し、SIG+出力端48からの
信号が入力する。また、コタンクトの組28のK
乃至Oも電気的接続し、SIG−出力端50からの
信号が入力する。コンタクトP乃至T及びF乃至
Jは開路となつている。この条件下で、タツチ感
応表面18の上辺及び底辺のコンタクト間に第2
(Y)方向で交流電圧勾配が形成される。 マルチプレクサ52はM0及びM1制御信号が共
に“0”のとき、第3(即ちインピーダンス)タ
ツチ電流検出状態(Z状態)になる。この第3状
態ではコンタクトの組22及び26は夫々電気的
接続し、SIG+出力端48と接続する。また、他
のコンタクトの組24及び28は開路となつてい
る。交流電圧がタツチ感応表面18の2つの隣接
する辺に同時に印加する。その結果、中央タツプ
54に流れるタツチ電流は、タツチ感応表面が使
用者にタツチされた時発生するインピーダンス電
流を直接対応している。前述した型の付加的な
CMOSアナログ・スイツチを追加使用すれば、
タツチ・パネルの総ての辺に同時に同じ信号を加
えることもできる。また、多くの場合、インピー
ダンス電流は、タツチ感応表面の単一の辺のみを
駆動するだけでも検出することができる。勿論、
この辺によつて形成したタツチ表面上の一様な交
流電界によつて他の辺のコンタクトは刺激されて
いる。 最後に、マルチプレクサ52はM0及びM1制御
信号が両方共“1”のとき、第4(オフ)状態と
なる。スイツチ260乃至270がオフ状態にな
ると、タツチ感応表面18へのパネル走査信号の
印加が遮断される。過大出力電流が検出される
と、このオフ状態に切換わるようにし得るので、
これによりタツチ感応表面及び回路は過大電流か
ら保護される。また、回路を保護する為に通常、
スイツチ260乃至270は、X、Y、及びZ状
態間の切換時及び回路のリセツト時にはオフ状態
に切換わる。 次に状態表は上述の4つの状態を示している。
この表で、英文字R、L、T及びBは状態デコー
ダ272の出力信号の論理状態を示し、夫々タツ
チ感応表面18の4辺右辺、左辺、上辺及び底辺
と対応している。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to a touch position measuring method and a touch panel device for measuring the position of a touch on a touch-sensitive surface by a user. The present invention can be widely applied to various display devices that display information selected by a user. One example is a lap-held tablet application where the user selects items by touch. Another example is an application to a device in which a user selects information items on a display screen, such as a terminal connected to a computer information processing system. [Prior Art] A CRT display terminal device in which a touch panel having a plurality of touch classification setting patterns is arranged on a display screen is well known. This terminal device can respond to a touch on any section of the pattern and confirm the location of that section. Such systems typically employ capacitive sensing technology.
That is, the controller continuously sends a scanning signal to the touch panel surface and continues to monitor the touch section until a touch is detected. When the user touches one of the touch segments, the capacitance of the user's body is added to this circuit. The controller detects this change in capacitance and confirms the touch classification. An example of such a touch-responsive terminal is manufactured by RGB Dynamics, Inc. of Salt Lake City, Utah. In this device, the touch-sensitive surface is made of indium deposited on a glass substrate.
It is composed of tin oxide. The surface coating is patterned so that each touch section is separated and connected by a conductor to an electrical sensing circuit. When patterned in this way, the touch detection resolution is limited by the dimensions of the patterned touch sections.
In addition, touch detection itself is limited to a specific pattern of touch divisions that have been formed. Additionally, complex wiring is required to make electrical contact with each patterned touch section. Such a complicated connection structure is more likely to fail and is more expensive than one with a simple structure. Another well-known practical example involves placing a transparent mechanical switch on the screen. Sierrasin Intrex, Sylmar, California
Products, Inc. sells this type of switch under the trademark Transflex. This type of device uses a plurality of thin film sheets that, when touched by the user, press between the sheets to make electrical contact. When this thin film sheet is pressed, a current flows through a specific circuit, and the pressed position is confirmed. Another thin film touch panel is disclosed in Dorman et al., US Pat. No. 4,484,038. Also, according to the product catalog of Dorman-Khodnoff of Andover, Mass., Tatsuchi panels using unpatterned thin films.
There is a prior art for Switch's 1000 series touch screen devices. The 1000 series touch panel device includes a controller that detects the opening and closing of switches on a transparent touch screen by switching current between the X and Y axes of the touch screen. The current passed through the various switches on the touch screen is converted to voltage, which is then converted to an analog X/Y signal and then to digital X/Y position coordinates. In such thin film type switching devices, the thin film is easily scratched. Furthermore, the multilayer film used in this device has a drawback in that the reflectance of light is high, and the light equivalency and resolution tend to be relatively low. It is also well known to form an array of light sources and detectors around a touch panel to detect the location of a touch on the touch panel. Alternatively, an array of ultrasound emitters and ultrasound detectors may be formed around the touch panel. In either case, the signal source and detector are connected to an electrical system,
The position is detected as the signal sent from the signal source to the detector is disturbed by touching the panel. Another capacitive touch sensing device is disclosed in U.S. Pat. No. 4,476,463 to Ng et al. This specific device uses a conductive touch-sensitive coating surface to which four elongated conductive bar electrodes are connected. One bar-shaped electrode is provided on each side of the touch-sensitive coating. As described in this patent publication, a capacitive touch measures the change in impedance that occurs in a resistive-capacitive (R-C) circuit that includes the touch sensing surface. To measure this impedance, the time constant of the R-C circuit is measured by repeated measurements from each end of two intersecting linear axes. The touched position is detected by integrating the measurement results. In one embodiment of this patent, an alternating current measurement signal is input to an electrode, and the voltage waveform generated in response to that signal is monitored at the electrode. The frequency of this measurement signal is varied until the monitored voltage waveform reaches a selected condition. The touch position on the electrode where the signal is input can be determined based on the measurement signal frequency that matches the selected conditions. In other embodiments, two selected width DC signals are sequentially applied to the electrodes. The touch signal on the electrode to which this signal is input can be determined from the voltage at the electrode due to two DC signals applied to the electrode. That is,
The first measurement signal charges the capacitance of the touch-sensitive coating, including the capacitance caused by the touch, to a known level. The second measurement signal then causes a partial discharge through the resistance of the touch-sensitive coating. The electrode voltage remaining after this partial discharge allows the position of the touch on the electrode to be determined. The circuit described in this patent publication has the disadvantage that it is quite complex, as it requires changing the frequency of the input signal and inputting two consecutive DC signals. Another touch panel device with a touch-sensitive surface is disclosed in the US Patent No.
It is disclosed in Publication No. 4353552. According to this device, a user touches a touch-sensitive surface with a finger or other body part, a conductive stylus, or the like.
The multiple ends of this touch-sensitive surface (ie, the four corners A, B, C, D) are simultaneously driven to the same instantaneous level by an oscillator. When a touch sensitive surface is touched, currents flow through these terminations and these currents determine the X and Y coordinates of the touch, independent of impedance changes caused by the user's touch. This method suffers from inaccurate touch position determination and has the drawback of lacking impedance information, which may be useful in some applications. In one embodiment, Pepper also uses a pressure sensor that senses when the pressure at the touch location exceeds a threshold. Such a touch positioning method can control dual actions, such as firing a gun, while playing a video game. The accuracy of many of the touch panel devices described above is degraded by the influence of noise in the environment in which they are used. especially,
This is caused by a constant frequency interference signal spectrum, such as a CRT flyback signal. Furthermore, depending on the display device, the frequency of the flyback signal may change as the device operates. This makes it difficult to compensate for the effects of such signals. Conventionally, there is no touch panel device that solves these drawbacks. [Problems to be Solved by the Invention] Even if the user maintains a constant touch position of a finger or stylus on the touch-sensitive surface,
It has been discovered that there is a slight variation in the measured value of the touch position. These fluctuations in the measured values of the touch positions are caused by noise, and may impede accurate operation. In comparison, if a user moves their finger across a touch-sensitive surface or moves it from one touch location to another, these noise-induced fluctuations are less of a problem. It won't happen. In the latter case, the variation in touch position measurements is primarily due to finger or stylus movement. Therefore, the variation in the measured value of the touch position in this case is necessary information, not information that should be removed from the touch signal. If the touch position of the user's finger or stylus remains constant, one way to compensate for variations in touch position measurements is to substantially increase the number of samples that are averaged when measuring the touch position. It is. However, increasing the number of samples takes more time to measure the touch position and slows down the response of the touch panel system. Further, consider the case where a user moves a finger or stylus across a touch-sensitive surface. In this case, increasing the number of samples reduces the number of touch position measurements that are required as the user's finger or stylus moves. This reduction in touch location measurements can make it difficult to accurately measure the path of a finger's movement from one location to another. That is, to accurately measure the path of finger movement, it is desirable to increase the number of touch positions that are measured by decreasing the number of captured samples for each touch position that is measured along the path of movement. Therefore, regardless of the moving speed of the touch position, there is a serious drawback in the method of simply increasing the number of samples to be averaged when measuring the touch position. OBJECTS OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a touch position measuring method and a touch panel device that provide optimum measurement accuracy and reliability even when the touch position on a touch sensitive surface moves. . It is another object of the present invention to provide a touch position measurement method and touch panel device that minimizes the influence of noise generated during operation of the touch panel device when the touch position on a touch sensitive surface is stationary. . [Summary of the Invention] The touch panel device of the present invention detects a touch anywhere on the touch sensitive surface of a touch panel with a human finger or the like. Circuitry is provided to determine the location of a touch on the touch sensitive surface. The touch position is typically determined by an X-Y coordinate system, with a precise touch made by a needle. The touch position is determined by the touch signal (i.e., current) generated by selectively applying an alternating voltage panel scanning signal to the touch-sensitive surface. According to one scanning method, these panel scanning signals are applied to form an alternating current voltage gradient in a first direction from a first side of the touch-sensitive surface to an opposite second side. When the user touches the touch-sensitive surface while being scanned in this manner, a first touch current flows through the user and is detected. Additionally, a common AC voltage panel scanning signal is applied to the first and second touch-sensitive surfaces.
When applied to both sides simultaneously, an impedance touch current flows through the user and is detected. The touch position in this first direction is determined by the detected first and impedance touch currents. Also, an AC voltage scanning panel signal is applied to form an AC voltage gradient in a second direction from the third side to the fourth side of the touch sensitive surface. When the panel is touched, a second touch current flows and is detected. Generally, the first and second directions are perpendicular to each other and correspond to an X-Y coordinate system. The touch position is then determined relative to this X-Y coordinate system by the first, second, and impedance touch currents. Other suitable scanning methods may also be employed. According to the present invention, the touch signal is filtered according to the amount of change in speed of movement from one touch position to the next touch position on the touch sensitive surface. More specifically, the area in which the touch signal is low-pass filtered increases as the velocity of the touch decreases. According to an embodiment of the invention:
This variable filter processing, or adaptive filter processing, is performed by the processor digitally filtering and modifying the touch position data according to the speed of touch movement. Also, according to the present invention, the number of samples of the touch signal that is averaged to measure the touch position is changed to perform this adaptive filtering. In this method, the number of samples averaged increases as the speed of the touch decreases. In another embodiment of the invention, the processor controls a variable analog filter to adjust the filtering of the touch signal in response to changes in movement speed. The touch position can be determined by touching with a conductive stylus as well as the user's finger. Furthermore, even if you touch a finger while wearing gloves, if the gloves are made of a conductive material, or if they are thin enough to measure the capacitive touch current at the frequency of the panel scanning signal, the touch position can be determined accurately. . Other methods of touching may be used as long as such a touch current is generated. As discussed herein, it is to be understood that touching, such as with a gloved finger or stylus, is limited to objects that produce a touch current. [Embodiment] Overview As shown in FIG. 1, the touch panel device of the present invention includes a display device 12 having a display screen 14. As shown in FIG. Since the illustrated display device includes a CRT computer terminal, display screen 14 includes the surface of the CRT. Since the optically transparent touch panel 16 is overlaid on the screen 14, the touch panel 16
The screen 14 can be viewed by equivalently . This means that it is optically transparent, meaning that the image on the screen 14 is visible through the touch panel 16. In other applications, display device 12 may be eliminated.
For example, a sheet of paper containing information, such as a question and answer sheet, may be placed under the touch panel 16, and the touch panel 16 may be used to enter data regarding the question and answer sheet. In other applications, touch panel 16 may not be transparent. For example, the touch panel 16 may be used simply as a data entry pad to enter data into a computer or other device depending on the location of the touch. Touch panel 16 includes a substrate of glass or other optically transparent material with a conductive coating 18 disposed on the outer surface of the substrate. Covering 18 may include a touch panel and cover the entire display screen 14, or may cover only a portion of the screen for displaying a menu of user selections. As schematically illustrated in FIG. 2 (described in more detail below), the coating 18 includes a touch-sensitive surface having a plurality of electrical contacts or electrodes (in this case twenty A through T contacts). . A first set 22 of these contacts, contacts P through T, are arranged in a row on one side of the touch sensitive surface 18. The second set 24 of contacts, contacts F through J, are located on opposite sides of the first set 22.
arranged in columns. In other words, the first and second sets 22
and 24 form spaced apart rows located respectively at opposite ends of the touch-sensitive surface 18 in the first direction. A third set 28 of contacts, contacts K through O, are arranged in a row on the lower (third) side of the touch-sensitive surface 18. Further, the fourth set 26 of contacts, that is, the contacts A to E are connected to this surface and the upper (fourth)
They are arranged in a row along the sides. Therefore, the third and fourth
The sets 28 and 26 are spaced apart from each other at opposite ends of the touch-sensitive surface in the second direction. These contacts may be approximately 0.2 square inches of air-dried silver contact paint spots. A conducting wire is connected to each contact to facilitate electrical contact.
In order to reduce distortion, the connection portion with the contact and a portion of each nearby conductive wire may be fixed to the edge of the touch panel board using epoxy resin or the like. In this configuration, the first and second sets of contacts 2
2 and 24 are located apart from each other at opposite horizontal ends of the touch panel. Another set of contacts 26 and 28 are spaced apart at opposite vertical ends of the touch panel. Each set of contacts does not necessarily have to be lined up in a line, but each set is on a straight line, and the first and second
If the directions are perpendicular to each other, the contacts define a reference coordinate system. The touch position is determined according to this coordinate system by the circuit described below. Additionally, once the touch panel is secured and calibrated, the contacts are in a known position with respect to the screen 14. Therefore, by determining the touch position on the touch-sensitive surface 18, the corresponding position on the screen 14 can be determined. Note that the invention is not limited to this particular contact configuration. Additionally, the number of contacts on each side of the touch-sensitive surface may be increased or decreased. In the touch position sensing system of FIG.
Two pairs are used: 2, 24 and another pair 26, 28. If the touch position is to be determined in only one direction, only one pair is used. That is, the contact sets 22 and 24 are
Used to find the touch position in the (X) direction,
Further, the sets 26 and 28 are used to determine the touch position in the second (Y) direction. 1 and 2, a function generator or variable frequency signal source 30 outputs an alternating voltage touch panel scanning signal at an output 36. Referring also to FIGS. Panel drive amplifier 38 receives the panel scan signal, amplifies the signal, and provides the signal at output 40 to primary winding 42 of touch panel drive transformer 44. This generates an alternating voltage across the transformer's secondary winding 46, ie, the signal positive (SIG+) output 48 and the signal negative (SIG-) output 50. Multiplexer (i.e. switch circuit) 52
selectively applies panel scanning signals from secondary winding outputs 48 and 50 to a set of touch panel contacts, as described below. In response to these panel scan signals, a panel output touch signal (ie, a touch current signal) is generated at the center tap 54 of transformer 44 when the touch sensitive surface is touched. These touch current signals are processed by panel output signal processing circuitry 56 to determine touch position and other information. In this panel output signal processing circuit 56, the touch current signal from the center tap 54 is passed along line 60 to a touch current detector 62, such as a current sense operational amplifier. The output of this detector 62 corresponds to the touch current signal from the central tap 54. The output of this detector 62 is output on an output line 64 and is sent to one input 68 of an analog multiplier 69 via a filter 66 (FIG. 3B). The AC voltage reference output of variable frequency signal source 30 is connected to multiplier reference circuit 72 by line 70.
is connected to. This multiplier reference circuit 7
The multiplier reference voltage signal output from 2 is
The analog multiplier 6 is transmitted through the line 74.
9 to the reference input terminal 76. This reference voltage signal synchronizes the multiplication of analog multiplier 69 with the alternating voltage signal input to touch-sensitive surface 18. This multiplied touch current signal is sent via line 78 to an amplifier and filter circuit 80. This circuit 80 provides an output on line 82 and, via an integrator timing switch 84, to an integrator circuit 86 which integrates these signals. This integrator circuit timing switch 84 provides an integrator timing signal.
Closes during the integration period, depending on INT. This integral timing signal is generated as described below,
It is input to the integral timing input terminal 88. When this switch 84 is closed, the signal sent to the integration circuit 86 is integrated there. Integrating circuit 86 includes an integrating capacitor 90 and an amplifier 92 in parallel with each other. In addition to these, an integral capacitor discharge switch 94 is also included, which is connected to line 96.
The integrating capacitor 90 is selectively discharged in accordance with the discharge signal. The generation of this discharge signal (ie, the zeroing signal of the integrating circuit) will be described later.
This integrated touch current signal is input via line 98 to an analog-to-digital converter circuit or ADC 100 that digitizes the signal. This digitized signal is connected to data buses 102 and 104.
The data is then sent to the data input terminal 106 of the MPU 108. MPU 108 calculates touch position and other desired information from the touch current signals, in between other processing. A dynamic filter, ie a variable frequency low pass filter 85, may be inserted between the amplifier and filter circuit 80 and the integrator circuit 86. As discussed later in the description of this embodiment in connection with adaptive filter processing,
Dynamic filter 85 is used to filter the touch current signal according to the amount of change representing the rate of change of touch position. This dynamic filter 85
If used, connect the center tap 54 of the transformer.
It may be placed at any suitable position between and the integrating circuit 86. A filter control signal on line 87 controls the filtering of dynamic filter 85, and the generation of this signal will be discussed below. MPU 108 is connected to computer 114 via buses 104 and 110, parallel output latch 112, and bus 113. This computer 1
14 is connected to the display terminal device 12 via a line 116. By connecting in this way, information selected using the computer 114 can be displayed on the screen 14.
It can be displayed on top. Further, the display information may be changed by the computer 114 according to the touch position according to the software. Thus, it can be implemented using conventional techniques to suit the desired application. The MPU 108 is connected to a well-known RS232 type communication interface circuit 12 by a bus 118.
It is also connected to 0. This allows the touch panel to be used reliably with remote data processing stations via communication lines. This interface circuit 102 is typically provided with a serial data output terminal 122. Control signals from MPU 108 are sent from M0 and M1 outputs to multiplexer 52 via lines 124 and 126, respectively. These control signals cause multiplexer 52 to connect the panel scan signals to the desired set of contacts. In this way, a touch current signal is generated that determines the touch position. Typical scanning methods are discussed below. The panel output signal processing circuit 56 of FIG. 1 also includes a decoder/demultiplexer 130. Decoder/demultiplexer 130 decodes input signals on lines 132, 134, and 136 from MPU 108 and outputs signals that control various functions of the touch panel circuitry accordingly. for example,
Decoder and demultiplexer 130 outputs an integrated timing signal on line 88. When this signal is received, switch 84 closes and integration of the touch current signal begins when the touch position needs to be determined. This integration lasts for the pulse width of the signal.
Decoder and demultiplexer 130 also outputs an integral capacitor discharge signal on line 96. This signal closes switch 94 and discharges integrating capacitor 90 before each successive integration. MPU
108 is the line 14 coming out from the reference output of the signal source 30
It has a synchronization input terminal that receives a synchronization signal on 0. Therefore, the integral is the touch-sensitive surface 1 of the panel scan signal.
It is synchronized with the application to 8. Decoder/demultiplexer 130 is also connected to ADC 100 by line 142. The ADC 100 converts the integrated touch signal into a digital signal and sends it to the MPU 108. Additionally, decoder 130 receives a filter control signal sent to dynamic filter 85 via line 87.
Generates FILT. This filter control signal causes dynamic filter 85 to control filtering of the touch signal in response to movement of the touch location on the touch sensitive surface. If the ADC 100 produces an output with a value within the desired range, more accurate touch current and touch position determinations can be made. If this is too small, small variations in the touch current will be missed and the effects of spurious signals will be greater. If too large, ADC
100 will overflow and give an incorrect indication of the touch current signal. In order to minimize such a possibility, the MPU 108 monitors the output value of the ADC 100. When this value is outside the desired range,
MPU 108 is a decoder/demultiplexer 13
Adjust the pulse width of the integral timing control signal sent to 0. The pulse width of the signal, ie, the integration period, is adjusted accordingly, and the output of the ADC 100 is returned to the desired level. This allows the panel device to be easily used even under widely varying conditions such as widely varying touch currents.
For example, a touch on touch-sensitive surface 18 may be by use of a stylus, a finger or other body part, or even a gloved finger. Auto-zero circuit 150 adjusts the touch current signal at center tap 54 of transformer 44 to zero when the touch-sensitive surface is not touched. After this nulling, the presence of current at the central tap 54 (at least above the noise threshold level) indicates that the touch sensitive surface has been touched. Generally, auto-zeroing circuit 150 automatically supplies an appropriate offset current to center tap 54 under untouched conditions, canceling out any current in the center tap to zero. To accomplish this, the automatic nulling circuit of FIG. are doing. The automatic zeroing circuit 150 connects the MPU 108 to buses 104 and 154.
responds to the zeroing signal input via the The value of the substantially capacitive load connected to SIG+ output 48 by auto-zeroing circuit 150 changes in response to the nulling signal, thereby affecting the nulling operation. Typically, an offset nulling capacitor 158 is connected to the SIG-panel scan output 50 to provide an initial offset current to the center tap 54 in the opposite direction of the offset current provided by the auto-nulling circuit. As a result, when a capacitance is added to the SIG+panel scan output 48 by the auto-zeroing circuit 150, the initial offset current flowing from the capacitor 158 balances out other peripheral signals. Another offset capacitor 168 is selectively connected to the SIG−
It is connected to the panel scanning output terminal 50. switch 1
70 is closed during the determination of the impedance touch current in response to the signal output from multiplexer 52 to line 172. Capacitors 158 and 1
68 are both connected to this circuit, the initial offset current will be larger because the typical current leakage that occurs during impedance touch current determination is larger. The panel output signal processing circuit 56 of FIG. 1 also includes automatic frequency control means. This is intended to vary the frequency of the panel scan signal to a level that is not affected by constant frequency interference spectra such as CRT horizontal flyback signals in the environment in which the touch panel device is used.
As used herein, "constant frequency interference spectrum" refers to periodic signals and their harmonics typically generated by devices used in conjunction with touch panel devices. The term also includes signals that are constant for one time and then change to another constant value, such as the fluctuating multiple horizontal flyback signals of a CRT display. This also includes ambient noise signals that vary at a slower rate than the adjustable rate of the touch panel device's panel excitation frequency. Operating a touch panel device near frequencies in such a constant frequency interference spectrum significantly impairs the determination of touch positions, and in some cases renders the determined touch positions completely unreliable. In the configuration of FIG. 1, signal source 30 includes a variable frequency signal generator. The signal source 30 has a frequency control input 176 and includes means for outputting a variable AC voltage output signal to the lines 36, 70 in response to a frequency control signal input thereto.
Under the control of MPU 108, automatic frequency control circuit 178 outputs a frequency control signal and sends it to frequency control input 176 via line 180. More specifically, when the MPU 108 determines that frequency adjustment is necessary, the digital frequency control signal is sent to the bus 104.
and 182 to the automatic frequency control circuit 178. Digital to analog converter (DAC) 1
84 communicates the frequency control signal input from bus 182 to the automatic frequency control circuit in response to the signal on line 186 from decoder/demultiplexer 130. Typically, frequency adjustments are made to change the operating frequency to a level that reduces the frequency of nulling adjustments when the frequency of zeroing adjustments becomes too high. The MPU 108 also predetermines the direction of change (increase or decrease) in this frequency. The touch panel arrangement of FIG. 1 also has the feature of protecting panel output signal processing circuitry 56 and touch sensitive surface 18 from excessive touch currents. Specifically, assume that MPU 108 determines that the touch current exceeds a maximum safe threshold and that integrator circuit 86 is integrating that signal for a minimum integration period. In this case, MPU 108 causes decoder/demultiplexer 130 to terminate the OSC.EN. output on line 190. This closes the switch 192,
Disable input terminal 194 of signal source 30 is grounded. When this happens, the output of the signal source 30 stops,
The panel scan signal to touch sensitive surface 18 is blocked. For protection, the M0 and M1 outputs of MPU 108 are changed to digital logic levels that control multiplexer 52 to break the connection between the SIG+ and SIG- panel scan outputs and the touch-sensitive surface. A manual control switch 198 is connected to MPU 108 by control line 200. As will be described in detail later, processing parameters such as whether the touch position signal is sent to the parallel output terminal 113 or the serial data output terminal 122 are selected by setting the switch 198. Panel Scan Method and Touch Location Determination As will be described in more detail below, MPU 108 controls multiplexer 52 to direct the SIG+ and SIG+ signals of transformer 44 to the sides of touch-sensitive surface 18 in a predetermined manner.
- connect outputs 48 and 50 respectively; The resulting touch current signal determines touch position and other information. Referring to FIG. 2 as a first embodiment of the scanning method, if the touch-sensitive surface is not touched and the zeroing circuit 1
Assume that the touch current is adjusted to zero by 50. It is also assumed that the origin of the X-Y coordinate system is set at the center of the touch-sensitive surface 18. If point P is touched, the position of this point is X in Figure 2.
and Y coordinate. (Here, sometimes Xp,
It is expressed as Yp. ) In the first mode of this first scanning method, the SIG- output 50 is connected to the contact set 22 and the SIG+ output 48 is connected to the contact set 24, respectively.
Additionally, other contact sets 26 and 28 are open circuits (although there is no need for them to be). In this mode, an alternating voltage gradient is created in the first direction (ie, the X direction) of the touch sensitive surface 18. In this case, the first direction is the horizontal direction and includes the X-axis. As will be described later, after multiplication by the multiplier 69 and passing through the filter, the touch current in the first (X) direction is expressed by the following equation. (a) i x =KxXV/Zt In this equation, i x is the touch current according to the above result and represents the first (ie, X) touch current. Also,
V is the voltage at the secondary winding output 48 with respect to virtual ground at the center tap 54 of the transformer. Zt is the impedance applied to this circuit when a user touches the touch-sensitive surface, and Kx is a constant.
Further, V/Zt corresponds to the impedance touch current flowing due to the user's touch. X is the X coordinate of the touch position. In the second mode in the first scanning direction, the SIG+ output terminal 48 is connected to the first and second sides 22, 2 of the touch-sensitive surface.
4, typically both at the same time. As a result, a uniform alternating current voltage is formed in the first (X) direction. In this mode center tap 54
Any touch current corresponds to an impedance touch current flowing through the user. The impedance touch current after multiplication and filtering is expressed by the following equation. (b) i z = V/ZtKz Other methods of impedance current scanning mode include connecting one of the panel scan outputs (i.e., SIG+ output) to only one side of the touch-sensitive surface, or connecting two adjacent sides or all four sides. If the above two equations are solved simultaneously, the X touch position is given by the following equation. (c) Touch the known X position on the touch-sensitive surface 18 to determine X=i x Kz/i z Kx Kz/Kx. For example, touch the four corners, that is, the right and left ends of the X coordinate. By substituting a plurality of known X coordinates into the above equation (c) and averaging the results, the value of Kz/Kx can be obtained. Once Kz/Kx
Once the value of is determined, the unknown X touch position can be calculated from the first and impedance touch current signals using the above equation. If two-dimensional touch information is desired, the first
Set the scanning method to the third mode. In the third mode,
SIG+ output terminal 48 is the upper side 2 of touch sensitive surface 18
6, and the SIG-output end 50 is connected to the bottom side 28. This creates an alternating current gradient in the second (ie, Y) direction of the touch-sensitive surface 18. Second (Y) touch current signal i y after multiplication and filtering
can be expressed by the following formula. (d) i y =KyYV/Zt In this equation, Y is the Y touch position, and Ky is a constant determined in the same way as Kx. In Figure 1, Kx, Ky and
Kz is approximately equal to 1. Therefore, there is no need to find these constants. If equations (b) and (d) are solved simultaneously, the Y touch position is given by the following equation. (e) Yi y Kz/i z Ky In this equation, Kz/Ky is a constant determined similarly to Kz/Kx. Touch sensitive surface 18 in the three modes mentioned above.
The X and Y coordinates of the touch position P are determined from the touch current signal obtained by scanning the touch position P. The touch position can be accurately determined by repeating the scanning cycle a predetermined number of times and integrating (i.e., averaging) the results. However, although not as accurate, in many applications it is possible to determine the touch position with sufficient accuracy without averaging multiple results. Switching between the various modes is performed by multiplexer 52 under control of signals M0 and M1 from MPU 108. Based on the touch position on the touch panel 16, the computer 114 determines whether the user has selected as many information items as are displayed on the display end 12. The display terminal then responds to the user's selections in a well-known manner. In addition to determining the touch location, additional information can be obtained from the resulting touch current. For example, the X and Y coordinates may be calculated continuously and the impedance touch current i z may also be monitored. If X and Y remain unchanged and only i z changes, this indicates that the user continues to touch a particular location on the touch-sensitive surface and simply changes the way he touches. For example, this may be when the user presses the touch location harder. In this case, the touched area of the touch-sensitive surface changes. The resulting changes in impedance touch current can be used by computer 114 to control additional functions.
For example, if the touch screen is simply pressed harder at the same location, a change in impedance touch current is detected and used to call a characteristic subroutine that operates on data determined by the touch location. Other scanning methods that provide the desired X and Y touch currents and impedance touch currents are described below. This second scanning method scans the touch-sensitive surface in four modes instead of the three modes described above. In FIG. 2, according to this scanning method, the touch position point P is described by four points, X 1 , X 2 , Y 1 , and Y 2 . That is, the distance between the ends of the touch-sensitive surface in the X direction is known and is equal to the sum of X 1 and X 2 . Also, X 1 is defined as the horizontal distance from the left side of the panel in FIG. 2 to point P, while X 2 is defined as the horizontal distance from the right side of the panel to point P. Also, the distance between both ends of this panel in the Y direction is known,
It is equal to the sum of Y 1 and Y 2 . Y 1 and Y 2 are defined as the distances from the bottom and top sides of the touch-sensitive surface to point P, respectively. In the first mode of this second scanning method, multiplexer 52 connects SIG+ output 48 to the right side of touch-sensitive surface 18 and central tap 54 to the left side of touch-sensitive surface 18. This creates an AC voltage gradient from the right edge to the left edge in the X direction of the touch sensitive surface. Touch sensitive surface 1
It is assumed that when 8 is not touched, the touch current is adjusted to 0 by a zeroing circuit, and that the touch current is also multiplied and passed through a filter. Under these conditions, the first tap current i x1 of the center tap is given by the following equation. (f) i x1 =KxX 1 /X 1 +X 2 V/Zt Also, in the second mode, the SIG+ output terminal 48 and the center tap 54 are connected to the left and right sides of the touch sensitive surface, respectively. This creates an alternating current voltage gradient in the X direction of the touch-sensitive surface, this time from the left edge to the right edge. The second touch current i x2 in this case is given by the following equation. (g) i x2 =KxX 2 /X 1 +X 2 V/Zt Adding equations (f) and (g), the impedance touch current i zx is given by: (h) KxV/Zt=(i x1 +i x2 )=i zx Finally, from equations (f) and (h), the X-axis position X 1 of the point P at the touch position is given by the following equation. ( i ) X 1 = i x1 (X 1 + You can ask for it. Furthermore, as described above, the sum of X 1 and X 2 is known.
Therefore, from the results of the above two measurements, the touch position (point P)
The X-axis position information of can be calculated, and information on changes in impedance touch current i zx can also be obtained. Position information about the Y axis is obtained by the following method. In the third mode of this second scanning method,
SIG+ output 48 and center tap 54 connect to the top and bottom sides of touch-sensitive surface 18, respectively. As a result, the third touch current i y1 is given by the following equation. (j) i y1 =KyY 1 /Y 1 +Y 2 V/Zt In the fourth mode, the SIG+ output terminal 48 and the center tap 54 are connected to the bottom and top sides of the touch-sensitive surface 18, respectively. In this case, the fourth touch current i y2 is given by the following equation. (k) i y2 =KyY 2 /Y 1 +Y 2 V/Zt By adding equations (j) and (k), the impedance touch current i zY is given by the following equation. (l) KyV/Zt=(i y1 +i y2 )=i zy Furthermore, from equations (j) and (l), Y 1 is given by the following equation. (m) Y 1 = i y1 (Y 1 + Y 2 )/(i y1 + i y2 ) As mentioned above, the sum of Y 1 and Y 2 is known,
Further, the constant Ky can be obtained in the same manner as the constant Kx. Therefore, X 1 and Y 1 can be determined from the touch current, and changes in impedance and touch current can also be monitored freely. It will be apparent to those skilled in the art that other scanning methods and modes that create alternating voltage gradients across the touch-sensitive surface can be used to generate touch current signals from which the desired position information can be determined. be. Touch Panel Structure Referring again to FIG. 2, a touch sensitive surface 18 covering the entire area of the touch panel 16 is connected to touch position determining circuitry and is used to detect a user's touch. As previously mentioned, touch panel 16 includes a substrate having a touch-sensitive surface coated with a conductive film. A suitable example of such a film is indium tin oxide, which has a surface resistivity of 200 Ω/plane and a light transmittance of 85% at a wavelength of 520 nm. Substrates coated with such films are commercially available from Optical Coating Laboratories, Inc. of Santa Rosa, California.
The surface resistivity of this film does not have to be so strict, and 50 to 2000 Ω/surface or more is suitable. If the surface resistivity is considerably lower than 200 Ω/plane, a special low resistance switch may be required and a relatively large amount of power may be consumed. This substrate is not limited to a specific shape. Therefore, to fit the screen 14, a circular shape,
It can be any surface such as concave, spherical, curved, or flat. The substrate may also be of any suitable optically transparent material. In order to reduce glare caused by light reflected from the background, the substrate may be made of commercially available anti-glare glass. This glass may also have a flat surface or a curved surface that matches the curved surface of the surface screen. One vendor of such substrates is Eagle Convex Glass Co. of Charlesburg, West Virginia. As described above, the type of contact arrangement structure to be adopted can be varied in accordance with the above-mentioned example. Of course, the specific multiplexer (or switch circuit) 52 will vary depending on the contact arrangement chosen. In general, any contact arrangement structure that readily creates a relatively uniform alternating current voltage gradient in the desired direction on the touch-sensitive surface may be employed. Touch Panel Drive Circuit Details of the circuit for generating and applying an alternating voltage signal to the touch sensitive surface 18 are shown in FIG. More specifically, in the configuration shown in the figure, the signal source 30 includes a well-known sine wave signal source represented by Exar Company's X8038A integrated circuit signal source, and a well-known sine wave signal source as shown in FIG. connected in a way. Signal source 30 provides a sinusoidal output at pin 2, output 36. Although not critical, the typical output signal frequency of this signal generator is between 15 and
300KHz (preferred value 200KHz). For reasons explained later, this frequency is automatically adjusted by the touch processing circuit. This signal source 30 also outputs a rectangular reference signal on pin 9 (output 70). This reference signal sends a synchronization signal (OSC.SYNCH.) to line 14.
0 and is also output to the multiplier reference circuit 72.
This reference voltage signal is then sent to an analog multiplier 69. The panel drive amplifier 38 in the figure is an operational amplifier 210.
and a discrete push-pull follower circuit 212. The output of panel drive amplifier 38 is connected by line 40 to primary winding 42 of transformer 44 through a 1 μF ceramic DC blocking capacitor 213. Capacitor 213 prevents transformer 44 from becoming saturated with DC current. Typically, a signal source 30 and a driving amplifier circuit 38
transformer 44 connects the outputs 48 and 5 of the secondary windings.
It outputs a voltage of approximately 12V between 0 and the highest and lowest (peak-to-peak) voltage value. This transformer uses a voltage ratio of 1:1 between primary and secondary, so
The same voltage is applied across the input of the primary winding 42. In the preferred embodiment, transformer 44 has a toroidal core. Transformer 44 isolates the current driving touch-sensitive surface 18 from the current output from signal source 30. As a result, the current generated at the center tap 54 is only the touch current.
This driving configuration of the transformer 44 eliminates the need for a complex circuit to obtain only the touch current, excluding the panel scan current. Resistors and capacitors suitable for signal generator 30 and drive amplifier circuit 38 were not discussed above, but are listed in Table 1 at the end of this embodiment. Multiplexer 52 of FIG. 2 includes a switch circuit that provides the panel scan signal to the touch sensitive surface. These panel scan signals create an alternating voltage gradient on the touch sensitive surface 18 in the desired direction. With respect to the illustrated touch contact arrangement, multiplexer 52 includes six two-pole, double-throw CMOS analog switches 260-270 and a state decoder circuit 272 interconnected as shown. As a specific example, switches 260 to 270 are IH5045 manufactured by GE Intersil.
A type switch may be used, and the state decoder circuit 272 may be a well-known 74LSO2 type NOR gate circuit. SIG+ output terminal 48 and SIG- output terminal 50
The panel scan signal is sent to the scan input of multiplexer 52. Generally, switches 260 to 2
70 is the control line 124, 126 from MPU 108
It is switched to various states in response to control signals M0 and M1 sent to state decoder circuit 272 via. Input/output line 274 of multiplexer 52
are connected to contacts A through T, respectively, of touch-sensitive surface 18 as shown in FIG. Logic state “0” (M0) and logic state “1”
(M1) signal is sent from MPU 108 to control line 124
and 126, respectively, the switch circuit enters the first (X) touch current detection state (X state).
In this first state, P to T of the contact set 22 are electrically connected, and the contact set 24 is electrically connected.
F through J are also electrically connected. In addition, contacts A to E and K to O are open circuited (oven). Further, in this first state, the output of the SIG+ output terminal 48 is applied to the contact set 24,
The output of SIG-output 50 is applied to contact set 22. Under these conditions, the touch-sensitive surface 1
An AC voltage gradient is formed in the first (X) direction of 8. Further, when the M0 control signal output to the control line 124 is in the logic state "1" and the M1 control signal on the control line 126 is in the logic state "0", the multiplexer 5
2 is the second (Y) touch current detection state (Y state). In this second state, A of contact set 26
The terminals E to E are electrically connected, and the signal from the SIG+ output terminal 48 is input. Also, K of Cotanct set 28
.about.O are also electrically connected, and a signal from the SIG-output terminal 50 is input. Contacts P to T and F to J are open circuits. Under this condition, a second contact between the top and bottom contacts of the touch-sensitive surface 18
An alternating current voltage gradient is formed in the (Y) direction. Multiplexer 52 is in the third (ie, impedance) touch current detection state (Z state) when both the M0 and M1 control signals are "0". In this third state, contact sets 22 and 26 are electrically connected and connected to SIG+ output terminal 48, respectively. Further, the other contact sets 24 and 28 are open circuits. An alternating current voltage is applied to two adjacent sides of touch-sensitive surface 18 simultaneously. As a result, the touch current flowing through the central tap 54 directly corresponds to the impedance current generated when the touch-sensitive surface is touched by a user. Additional types of
If you use an additional CMOS analog switch,
It is also possible to apply the same signal to all sides of the touch panel at the same time. Also, in many cases impedance current can be detected by driving only a single side of the touch-sensitive surface. Of course,
The contacts on the other sides are stimulated by the uniform alternating electric field on the touch surface formed by this side. Finally, multiplexer 52 is in the fourth (off) state when both the M0 and M1 control signals are "1". When switches 260-270 are turned off, the application of panel scan signals to touch-sensitive surface 18 is interrupted. If excessive output current is detected, it may be possible to switch to this off state.
This protects the touch sensitive surface and circuitry from excessive current. In addition, to protect the circuit,
Switches 260-270 are turned off when switching between the X, Y, and Z states and when resetting the circuit. Next, the state table shows the four states mentioned above.
In this table, the letters R, L, T, and B indicate the logic states of the output signals of the state decoder 272, and correspond to the four sides of the touch-sensitive surface 18, the right side, the left side, the top side, and the bottom side, respectively.

【表】 動作中、MPU108はタツチ感応表面18の
走査を周期的に繰返している。各サイクルについ
てマルチプレクサ52は次の順序で切換わる。即
ち、第3(Z)→オフ→第1(X)→オフ→第2
(Y)→オフ→第3(Z)→オフ…の如くである。
過大電流に関するテストは通常Z状態中に実行さ
れ、この状態切換順序に於ける各走査サイクルの
開始及び終了時点毎にチエツクされる。また、イ
ンピーダンス(Z)電流はX及びY軸上の位置を
決めるのに用いられるので、X及びY電流の検出
の場合より高い周波数でZ電流を検出し直すこと
が望あしい。勿論、他の走査方法を用いてもよ
い。この結果求めたタツチ電流から、前述の方程
式(a)乃至(e)を用いてタツチ位置が決定される。通
常、マルチプレクサ52を3状態間の走査切換サ
イクルは比較的高速で、30〜1000Hzである。一般
に、マルチプレクサ52の切換周波数が遅くなれ
ばなる程、処理回路がタツチ位置を決定するに要
する時間は長くなる。 同様にして、適当なマルチプレクサにより、前
述の方程式(f)乃至(m)に関して説明したよう
に、4つのタツチ電流ix1、ix2、iy1及びiy2を発生
させてもよい。 タツチ検出回路を駆動するのに変成器を用いた
ことにより回路構成が簡単になつた上に他の利点
もあるが、タツチ感応表面18に所望の交流電圧
勾配を形成するのに別の回路を用いてもよい。例
えば、正弦波駆動信号出力端40を利得一定の反
転増幅器を介してSIG−出力端50に接続しても
よい。同時に駆動信号出力端40を直接SIG+出
力端48に接続してもよい。それから、SIG+及
びSIG−出力端48,50の差動電流は差動電流
検出器に入力し、処理されてタツチ位置が決めら
れる。更に、タツチ・パネルがタツチされない時
及び零変回路150により零化調整されている時
には、後述するようにこの差動電流は0になる。 付加的保護装置として、第2図のタツチ・パネ
ル駆動信号印加回路には、タツチ検出回路から高
電圧を放電する付加的手段を具えている。このよ
うな電圧は、例えば使用者の静電気に起因して発
生する。この手段は4組のクランプ・ダイオード
から成り、1組は第2図で280の番号を付して
示している。これらの各組はタツチ感応表面の各
辺と夫々接続している。例えば、組208はパネ
ル上辺と中央コンタクトCと接続している。同様
に他の組もパネルの他の辺の中央コンタクトと
夫々接続している。組280の第1ダイオード2
82はカソードをタツチ感応表面に、アノードを
−12VのDC電源を夫々接続し、第2ダイオード
284はアノードをタツチ感応表面に、カソード
を+12VのDC電源に夫々接続している。パネル
上辺の電圧が+12V越えると、ダイオード284
が順バイアスで導通し、この電圧を放電する。同
様に、この電圧が−12Vより低くなると、ダイオ
ード282が導通してこの電圧を放電させる。従
つて、タツチ感応表面の電圧は±12Vの範囲内の
電圧に有効に制限される。第1ツエナー・ダイオ
ード285はアノードを−12V電源に接続し、カ
ソードを接地している。第2ツエナー・ダイオー
ド286はカソードを+12V電源に接続し、アノ
ードを接地している。これらのツエナー・ダイオ
ードのブレーク・ダウン電圧は供給電圧より高
く、例えば+18Vである。従つて、ダイオードの
組280及び他のダイオードの組を介して放電さ
れた電圧が電源の吸収し得る電圧を越えても、そ
の電圧はツエナー・ダイオードを介して接地端に
流れる。このような高電圧の保護以外にはこれら
クランプ・ダイオード及びツエナー・ダイオード
は通常のタツチ位置検出中に電流を余計に流すこ
とはない。よつて、この保護回路の漏れ電流によ
つてタツチ位置決定精度が影響されるということ
もない。 引き続き第2図を参照すると、第3(Z)タツ
チ電流検出中にオフセツト・コンデンサ168を
SIG−出力端50に接続する回路である。具体的
に言えば、M0及びM1出力がダイオード288,
290及び抵抗器292より成るワイヤードOR
ゲートを介してスイツチ170に接続している。
スイツチ170は制御入力の状態が“0”のとき
閉じる周知の反転スイツチである。このスイツチ
170が閉じるのは、M0及びM1制御入力が共に
“0”、且つパネルが第3(Z)状態、即ちインピ
ーダンス電流検出状態のときである。このオフセ
ツト・コンデンサ168の機能については、自動
零化回路150に関連して後述する。 パネル出力信号処理回路 再び第3図に戻り、電流検出器62は電流・電
圧変換器としての演算増幅器を含み、この増幅器
の反転入力端は変成器44の中央タツプ54と接
続している。また非反転入力端は接地している。
この電流検出増幅器62の両入力端間に並列且つ
逆方向に1対のダイオードを接続している。これ
らのダイオードにより、この増幅器62は過大電
流及び電圧から保護される。220Ωの帰還抵抗器
302が増幅器62の出力端64及び反転入力端
間に接続している。以上の結線の結果、増幅器6
2の出力端64の電圧は、変成器の中央タツプ5
4に流れる電流、即ち第1(X)、第2(Y)、及び
第3(Z)の各タツチ電流に夫々対応している。
これらのタツチ電流信号はフイルタ回路66を通
つてアナログ・マルチプライヤ69の入力端68
に送られる。フイルタ66は受動型高域通過フイ
ルタである。このフイルタ66には、1000pFの
DC遮断コンデンサ304及びアナログ・マルチ
プライヤ入力端68及び接地間に接続した4.7kΩ
の抵抗器302が含まれている。また、−12V電
源も4.7KΩの抵抗器306を介して入力端68に
接続している。 アナログ・マルチプライヤ69は信号源30の
出力軸70から基準信号を受ける。出力端70の
信号は変成器4を駆動するのに用いる正弦波出力
端36の信号と90°位相のずれた矩形波である。
出力端70は4.7KΩの抵抗器310を介して接続
点311と接続し、ここから10KΩの抵抗器31
2を介して+12V電源に接続している。接続点3
11はまた3.9KΩの抵抗器314を介して接地端
にも接続している。この回路によつて、矩形波出
力の電圧がTTLロジツク回路に適合する電圧ま
で分圧される。ダイオード316により矩形波出
力信号の負の半周期がクリツプされて切り取られ
る。この結果、OSC.SYNCH.出力端410の同
期信号として正の半周期が残られる。接続点31
1は1000pFのDC遮断コンデンサ318及び1対
の10KΩの抵抗器320,322を介してアナロ
グ・マルチプライヤ69の入力端76に接続して
いる。150pFのフイルタ用コンデンサ324が抵
抗器320,322間の接続点と接地間に接続し
ている。また、アナログ・マルチプライヤ69の
入力端76は1KΩの抵抗器328を介して接地
している。これらコンデンサ及び抵抗器のフイル
タを通過して、クリツプされた矩形波出力信号は
基準周波数信号としてアナログ・マルチプライヤ
に入力する。アナログ・マルチプライヤ69には
モトローラ社のMC1496型アナログ・マルチプラ
イヤを用いてもよい。この回路に第3B図に示す
ように接続されている周知のバイアス抵抗器は表
1.の中に示している。 後述するように、零化回路によつて使用者がタ
ツチしていないとき、変成器の2次巻線の中央タ
ツプ54の電圧は正確に0Vになる。これは、た
とえ検出回路がなくても実行される。使用者がパ
ネルタツチすると電流がある程度接地端に流れ
る。電荷保存則により、この電流は変成器の中央
タツプのワイヤ54にも流れる。この結果流れる
中央タツプの電流はパネル駆動周波数W0の信号
及び実質的ノイズ成分より成る。X、Y及びZの
タツチ・データは各電流信号の振幅の変化によつ
て表わされる。この振幅のデータのみに注目すれ
ばよいので、同期検出器は振幅変調したタツチ電
流信号を復調するのに使用し得る。アナログ・マ
ルチプライヤ69がこの同期検出の為に用いら
れ、ノイズの除去効果が高まり、それによつてよ
り正確なタツチ位置の決定が行える。復調する為
に中央タツプの電流信号は、信号源30の出力端
70から送られた搬送信号と乗算される。数学的
に示すと、第1(X)タツチ電流検出状態で、タ
ツチによつて接地端に対して一定のインピーダン
スZtが生じているものと仮定すると、次のような
結果が得られる。 パネル電圧 XV0cos w0t 中央タツプ電流 XV0cos(w0t+φ)/Zt+(ノイズ) アナログ・マルチプライヤの出力 cosφXV0/2Zt+cosφXV0cos2w0t/2Zt+(ノイズ) これらの式は信号の処理中に打消される定数も
含んでいる。同様の式がY及びZのタツチ電流検
出状態の場合にも得られる。マルチプライヤの基
準信号に対するタツチ電流の位相のずれφが90°
でなければ、cosφは0にはならず、マルチプラ
イヤの出力は有効なデータを与える。タツチ電流
は通常容量性であるが、信号源30の矩形波出力
信号は正弦波出力信号から90°位相がずれている
ので、結局位相差φは0°に近く、正確な情報が得
られる。マルチプライヤの出力の増幅器及びフイ
ルタ回路80はV0cos2w0tの項及びノイズの殆ど
を効果的に除去する低域通過フイルタを含んでい
る。この結果得られる信号は前述した方程式a、
b及びdで夫々示したix、iy及びizに対応してい
る。タツチ位置はこれらの信号を処理して決定さ
れる。 より具体的に言えば、アナログ・マルチプライ
ヤ69の出力ピン9は47KΩの抵抗器346を介
して演算増幅器348の反転入力端に接続してい
る。アナログ・マルチプライヤ69の出力ピン6
は別の47KΩの抵抗器350を介して演算増幅器
348の非反転入力端に接続している。この増幅
器の非反転入力端は47KΩの抵抗器352を介し
て接地端にも接続している。また、47KΩの帰還
抵抗器354が増幅器348の出力端及び反転入
力端間に接続している。更に、0.022μFのコンデ
ンサ356,358が夫々出力ピン9及び6と接
地端との間に接続している。 Ztは広範囲に変化するので、出力端82の信号
レベルも相当大幅に変化する。出力端82のix
iy及びizの信号を単にデジタル・データに変換し
て前述の方程式a、b及びdに従つて分離するだ
けでは、得られる精度は所謂丸めの誤差の為微小
信号に対して低くなつてしまう。そうならないよ
うに、これらの信号は積分され、夫々txix、tyiy
びtzizのの値を得る。この積分回数tx、ty、tz
MPU108により積分値の大きさを制限範囲内
で最大にし、誤差を最小にするように制御され
る。tx、ty及びtzはMPU108には既知なので、
夫々異なる積分回数がタツチ位置検出中にMPU
108によつて設定される。この積分操作により
更にノイズを除去し得る。 更に、タツチ信号に適応フイルタ処理を施す為
に動的フイルタ85を使用しても良い。後述する
ように、このフイルタ処理はタツタ感応表面上を
タツチが動く速さに応じて変化する。フイルタ8
5の代わりに、デジタル適用フイルタ技術を使用
することも出来る。MPU108は、デコーダ1
30を介して動的フイルタ85の処理を制御す
る。 再び第3B図に戻り、増幅器348の出力端8
2は2.2KΩの抵抗器360を介して積分器スイツ
チ84に接続している。論理「0」の保持信号
INTがMPU108によりデコーダ130から線
路88に入力していれば、スイツチ84は閉じて
いる。このとき、増幅器348の出力端82は積
分コンデンサ90と接続している。出力端82の
信号は保持信号のパルス幅で決まる積分期
間に積分される。積分コンデンサ90は0.02μFの
コンデンサで、積分増幅器92の反転入力端及び
出力端98間に接続している。増幅器92の非反
転入力端は2.2KΩの抵抗器362を介して接地し
ている。積分器放電スイツチ94と390Ωの放電
電流制限抵抗器364の直列回路が積分コンデン
サ90と並列接続している。MPU108の制御
によりデコーダ130からの線路96の論理状態
“0”の信号に応じてスイツチ94が閉じて
コンデンサ90を放電させる。この放電は積分の
直前に行われる。積分回路86の出力端98の信
号は正或いは負のアナログ電圧信号である。この
出力信号は変成器44の中央タツプ54を発生し
たタツチ電流の積分アナログ信号に相当する。 この積分回路出力端98は演算増幅器回路36
6を介してADC100のデータ入力端ピン6に
接続している。回路366により積分回路出力端
98の信号はADC100の入力範囲に合うよう
にレベル・シフト及び減衰される。回路366も
別のフイルタ段を含んでいる。1対のツエナー・
ダイオード388は抵抗器380及び386間の
接続点と接地間に接続している。これらのダイオ
ードによりこの接続点の電圧は約±6.8Vにクラ
ンプされ、演算増幅回路366に印加する電圧範
囲が制限される。 ADC100はナシヨナル・セミコンダクタ社
のADC1001型回路を用いてもよい。この回路の
8本の出力データ線路は線路102及び104に
より、MPU108のデータ入出力ピン32乃至
39に接続している。ADC100の入力ピン
1は線路142を介してデコーダ130と接続し
ており、ADC100はピン2、ピン3及
びピン5を有している。周知のように、こ
れらのピンはMPU108によつて制御され、積
分サイクルが完了し、その積分したタツチ電流信
号をデジタル化すると、このデジタル化されたタ
ツチ電流データがMPU108に送られる。ADC
100及び回路366に接続又は含まれている抵
抗器及びコンデンサの値は表1に載つている。 積分回路86からの負の出力値をデジタル化す
る際に、2つの相補的方法を使用し得る。デジタ
ル化された値の符号からタツチ位置の点Pがどの
象限にあるかが決められる。例えば、タツチ感応
表面18の中央に原点を設定したX−Y座標系に
於て、負のXタツチ電流値はタツチ位置が原点よ
り左側にあることを示している。逆に、正のXタ
ツチ電流値はタツチ位置が原点右側であることを
示す。同様に、負のYタツチ電流値はタツチ位置
が原点より下側であることを示し、正のYタツチ
電流値はタツチ位置が原点より上側であることを
示す。 MPU108によりマルチプレクサ52(第2
図)の状態を切換えて、上記積分サイクルが繰り
返され、連続的にデジタル化した第1(X)、第2
(Y)及びインピーダンス(Z)タツチ電流値が
得られる。これらの値が処理されて、パネルのタ
ツチ位置が求められる。 図のMPU108はインテル社製プログラマブ
ル8751型EPROMマイクロコントローラである。
また、デコーダ130は74LS138型デコーダ/デ
マルチプレクサ回路を含んでいる。更に、通信用
インターフエース120はナシヨナル・セミコン
ダクタ社製DS1489型クワツド・ライン・レシー
バ(Quad Line Receiver)及びDS1488型クワツ
ド・ライン・ドライバ(Quad Line Driver)で
構成してもよい。図の構成に於いて、MPU10
8のピン10は直列入力ボートを含み、ピン9は
論理状態“1”でタツチ検出回路をリセツトする
リセツト入力端を含み、ピン13は外部割込入力
端を含んでいる。MPU108の出力ピン6は送
信要求信号を送るのに用いられ、ピン7はデータ
送信用送信可能信号線であり、ピン11は直列デ
ータ出力端を含んでいる。これらのピンを周知の
方法で制御して、MPU108はインターフエー
ス120を介して通信ネツトワークとデータの送
受信を行う。また、データを直列送受信すること
も可能である。並列出力ラツチ112は8本の並
列データ出力ピン及び対応する入力ピンを有する
74LS377型8D・フリツプ・フロツプでもよい。
MPU108はピン11でこのラツチ112を制
御する。また、ラツチ112のイネーブル入力ピ
ン1はMPU108の入出力ピン8と接続してい
る。MPU108からのイネーブル信号に応じて、
ラツチ112から並列データが送信される。 制御スイツチ198はMPU108の入力ピン
21乃至27に接続した7つの出力端を有する手
動スイツチを含んでもよい。これらの出力端はス
イツチの設定に応じて論理状態“1”又は“0”
になる。通常、この制御スイツチのピン13及び
14の論理状態によりタツチを検出するモードが
決まる。例えば、ピン13及び14が夫々“0”
及び“1”ならば、タツチ接触(on make)モ
ードが指示される。このモードでは、タツチの最
初の検出に応じてタツチ位置データがラツチ11
2或いはインターフエース120を介して送られ
る。また、これらの論理状態が夫々“1”及び
“0”のときはタツチ解除(on break)モードが
指示される。このモードでは、例えば使用者がタ
ツチ感応表面から指を離すというようなタツチ位
置の解除に応じてタツチ位置データが送られる。
更に、ピン13及び14の出力が共に“0”のと
きは連続モードが指示される。このモードでは、
タツチ位置データが連続的に送られ、タツチ感応
表面上での使用者の指の動きが監視される。ま
た、ピン11及び12の論理状態によつて、並列
出力ラツチ112か直列出力のどちらかを用いる
かが決まるほか、通信出力の送信速度(ボー)も
(例えば1200;9600;19200ボーのように)決ま
る。ピン9及び10の論理状態により、これらの
データのパリテイ(奇遇性)が決められる。最後
に、ピン8の状態により、データが8ビツトの2
進形式か又は別の形式で伝送されるかが決まる。
スイツチ198は実際にはどのような形式のもの
でもよく、信号処理の際に指定されたパラメータ
を制御するときの必要に応じてより大きくしても
又は小さくしてもよい。 最後に、MPU108のピン18及び19は
夫々、33pFのコンデンサを介して、接地してい
る。両方のピンの間にMPU108の基準周波数
の発振器となる水晶発振器が接続されている。ま
た、タツチパネル回路56には多くの電源用デカ
ツプリング(減結合)コンデンサ(例えばコンデ
ンサ374)が含まれている。 信号の積分やタツチ位置の決定をしたり、自動
零化制御及び自動周波数制御等を行うMPU10
8の動作については、第9図乃至第16図の流れ
図を参照して後述する。 自動零化回路 本発明の別の側面として、パネル出力信号処理
回路は、第1(X)、第2(Y)及びインピーダン
ス(Z)タツチ電流を0にする自動零化回路15
0を含んでいる。零化の意味はタツチ感応表面1
8がタツチされない時、中央タツプ54のタツチ
電流が効果的に相殺されて0になるということで
ある。この零化を行うことにより、比較的微小な
タツチ電流を発生するような、例えば手袋をした
指によるタツチの場合でも、そのタツチ電流をよ
り正確且つ容易に検出し得る。即ち、タツチ電流
がタツチと関係なく中央タツプ54に発明する潜
在的周囲電流信号に隠されていることがない。従
つて、本発明のタツチパネル装置はエレクトロル
ミネセンス表示器も含んだ比較的ノイズの多い
種々の環境でも広く応用することができる。 一般に、オフセツト電流即ち、零化電流は、非
タツチ状態の条件で変成器の中央タツプ54に実
質的に加えられて、X、Y、及びZのタツチ電流
を相殺して0にする。この零化電流の値はMPU
108に制御され、処理が続くにつれて自動的に
調整される。零化回路の具体例では、実質的な容
量性負荷が零化回路によつて、第1及び第2パネ
ル走査出力端48,50の内の一方に接続され
る。この容量性負荷の静電容量はMPU108か
らの零化制御信号に応じて変化し、それによつて
変成器の中央タツプ54の電流信号を零化する零
化電流を変えている。 自動零化回路の一実施例を第3A図に示してい
る。この場合、零化回路150はラツチ390の
ような零化制御デバイスを含んでいる。ラツチ3
90は並列出力ラツチ112と類似していて、
MPU108のデータ・ピン32乃至39からバ
ス154を介して零化信号を受ける。クロツク信
号もMPU108からラツチ390のピン11に
送られる。MPU108の制御によりデコーダ1
30から線路156を介してラツチ390のピン
1に入力するイネーブル入力信号に応じて、デジ
タル零化制御信号がラツチ390の入力端から出
力端に送られる。流れ図に関連して後述するよう
に、これに通常MPU108がタツチ感応表面1
8がタツチされていないことを検出した時、及び
X、Y及びZタツチ電流のどれかが過大であるこ
とを検出時に起こることである。ラツチ390の
出力端は1対のスイツチ回路392,394の制
御ピン1,8,9及び16に図のように接続して
いる。実施例のスイツチ回路はGEインターシル
社製DG211型CMOS4チヤンネル・アナログ・ス
イツチを含んでいる。これらのスイツチ回路の出
力ピン3,6,11及び14は相互接続してお
り、線路152によつてパネル走査信号出力端の
一方(例えばSIG+出力端48)に接続してい
る。これらのスイツチ回路の入力ピンは夫々コン
デンサ・バンク396,398のコンデンサに接
続している。SIG+パネル走査出力端に接続され
る静電容量の値はラツチ390の出力端の論理状
態に応じて決まる。もつて具体的に言えば、スイ
ツチ回路392のピン2,7,10及び15は
夫々1pF、2pF、4pF及び8pFのコンデンサ群40
0乃至406を介して接地している。同様に、ス
イツチ394のピン2,7,10及び15は夫々
16pF、32pF、64pF及び128pFのコンデンサ群4
08乃至414を介して接地している。コンデン
サのこのような配置により、零化回路150によ
つてSIG+出力端48に加えられる容量性負荷の
値を1pFの分解能で0〜255pFまで可変できる。
所望により、スイツチ回路392,394及びラ
ツチ390をもつて制御能力のある部品に変更し
て、もつと大きなコンデンサ・バンク396,3
98を用いて可変容量範囲を拡大してもよい。 特定のタツチ電流を最も有効に零化するように
SIG+出力端48に与える容量性負荷を決めるの
に種々の方法を利用し得る。この零化の為の容量
性負荷はX,Y及びZタツチ電流の各測定状態に
応じて決められるものと仮定する。この容量性負
荷は通常非タツチ条件下でタツチ感応表面に発生
するタツチ電流が所定の零閾値を越えない限り一
定のままである。タツチ電流がこの零閾値を越え
ると、そのタツチ電流の測定値が閾値以下になる
ように容量性負荷が調整される。 適切な容量性負荷を自動的に選択する1方法と
して、非タツチ条件下でインピーダンス(Z)タ
ツチ電流が零閾値を越えた場合を考える。この場
合、静電容量が最大の零化コンデンサ414が
SIG+出力端に接続し、可変容量範囲の中央の静
電容量を結合しているものとする。その後、非タ
ツチ条件下でZタツチ電流が負になつて、所望の
閾値を越えたとすると、これはコンデンサ414
の値では零化するのに不十分であることを意味す
る。2番目に大きなコンデンサ412がSIG+出
力端に追加され、非タツチ条件下のZタツチ電流
を再検査する。逆に、SIG+出力端にコンデンサ
414が接続していた時、非タツチ条件下でZタ
ツチ電流が正になつて零閾値を越えたとすると、
これはコンデンサ414の値が大き過ぎることに
なる。コンデンサ414は回路から離され、コン
デンサ412に置換される。その後、零化検査が
継続する。その後この手順が繰返され、所望の零
化を達成するように適切な容量性負荷が接続され
る。勿論、容量性負荷を結合するのに他の方法を
用いてもよい。 オフセツト・コンデンサ158(第1図及び第
3B図)は通常120pFのコンデンサから成り、
SIG−出力端50と接地間を接続している。この
コンデンサにより中央タツプ54のタツチ電流に
初期零化オフセツトを与える。この初期オフセツ
トの方向は、典型的にコンデンサ・バンク39
6,398の中央付近の静電容量によつてX及び
Yタツチ電流を0にするようになつている。Zタ
ツチ電流の検出中に、特にタツチ感応表面の全辺
が同時にSIG+出力により駆動されている場合に
は漏れ電流が比較的大きくなる。従つて、この時
付加的なオフセツト静電容量を加えて、零化回路
150の総静電容量の中央付近のどこかで、非タ
ツチ条件下のインピーダンス(Z)タツチ電流に
オフセツトを与えるようにしてもよい。故に、付
加的オフセツト・コンデンサ168がZタツチ電
流検出中にSIG−出力端50に追加される。第2
図に関して前述した通り、スイツチ170はZタ
ツチ電流の測定をしている時のみコンデンサ16
8を接続する。それ以外の時、このコンデンサ1
68は回路から切り離されている。付加的オフセ
ツト・コンデンサ168の代表的な値は各650pF
である。もし自動零化回路150の静電容量の可
変範囲を拡大すれば、コンデンサ168を継続し
て回路に接続しておいてもよい。 非タツチ条件下でインピーダンス(Z)タツチ
電流を測定していると仮定する。この場合、総浮
遊容量及びタツチパネルに接続しているオフセツ
ト静電容量の和が零化回路150による零化静電
容量Czと等しければ、変成器の中央タツプ54
から仮想接地へと電流は流れない。これが零化条
件であり、この時中央タツプの電流はタツチ・イ
ンピーダンスのみの関数となる。この為タツチ位
置が変つてもあまり電圧変化を生じない。X及び
Yタツチ電流の検出中に零化回路150によつて
タツチ感応表面18に接続される零化静電容量
Cx及びCyは、同様に非タツチ条件下で中央タツ
プ54に零化電流を与えるように調整される。3
つの全状態について零化されると、タツチ感応表
面18がタツチされた時のみ中央タツプ54に電
流が流れる。 タツチ感応表面がタツチされない時、タツチ信
号を0にする為MPU108はオフセツト零化信
号を発生するソフトウエアを含んでいる。これら
オフセツト信号は非タツチ条件下のタツチ電流を
事実上0にするように微調整する。この詳細につ
いては第9図乃至第16図の流れ図の説明の中で
後述する。 零化回路150を種々の形式で実現してもよ
い。例えば、第6図に示すように、ラツチ390
を、スイツチ回路392,394の各制御入力端
に接続する出力端を有するループ・カウンタ或い
はシフト・レジスタ422と入れ換えてもよい。
カウンタの場合には、MPU108から線路15
4を介して入力する計数パルスに応じて、カウン
タ422は計数値を増加して、それによつてSIG
+出力端48に接続する容量性負荷を種々切換え
る。この静電容量は、各タツチ電流検出状態に対
して所望の零化静電容量が決まるまで、1ステツ
プずつ連続的に変る。シフト・レジスタに置換し
た場合には、シフト・レジスタ422はMPU1
08に接続したデータ入力端及びMPU108の
ストローブ出力端に接続したストローブ入力端を
有する。ストローブ信号に応じて零化コンデンサ
の特定の組合せを決める零化信号データはMPU
108からシフト・レジスタ422に送られる。
第3図に関連して前述した反復技法を用いてシフ
ト・レジスタ422に入力する適当な零化データ
を決めてもよい。 他の例として、MPU108の制御により乗算
用DAC回路を用いてタツチ感応表面に接続する
容量性負荷を変化させてもよい。第4図に於て、
周知の乗算用DAC回路424はパネル駆動増幅
器38の出力端40に接続した入力端を有する。
この回路424の出力端は演算増幅器426の非
反転入力端に接続している。この演算増幅器の出
力端及び反転入力端間に帰還抵抗器428が接続
している。使用する演算増幅器426の型に応じ
て、零化コンデンサ430は、(a)…演算増幅器の
反転入力端及びSIG−パネル走査出力端50間を
接続(第4図に実線で示す)、或いは(b)…演算増
幅器の出力端及びSIG−出力端間を接続(第4図
に破線で示す)のどちらかの接続になる。第5図
は乗算用DAC回路424を使用する点で第4図
と類似している。しかし、第5図の回路424の
出力端は直接550pFの零化コンデンサ430に接
続している。32KΩの抵抗器431は回路424
の全スケール範囲を減少し、他方22pFのコンデ
ンサ433は回路424のスプリアス発振を防止
する。従つて、零化コンデンサ430は零化回路
の容量性負荷の一形式である。MPU108は線
路154を介して零化制御信号を乗算用DAC回
路424へ送る。この信号に応じて、コンデンサ
430の容量性負荷効果が変化する。上述したよ
うに容量性負荷が変化して、パネルがタツチされ
ない時X、Y及びZタツチ電流が0に調整され
る。 第7図の実施例に於て、信号源30に含まれる
周知の矩形波発振器の第1出力端36はパネル駆
動増増幅器38に接続している。この例では、乗
算用DAC回路424に矩形波発振器30の第2
出力端70から第1出力端36の信号と90°位相
のずれた信号が入力する。この乗算用DAC回路
の出力端は抵抗器432を介してSIG−パネル操
作出力端50に接続している。矩形波発振器の出
力端36及び70の出力信号の位相が90°ずれて
いるので、抵抗器432は実質的にSIG−出力端
に対して容量性負荷の如くふるまう。この実効的
容量性負荷の値はMPU108から線路154を
介して送られる零化信号に応じて変化する。この
値は各タツチ電流に対して零化条件を満たすよう
に調整される。 第8図にはオフセツト電流を電流検出器62の
前の位置で直接中央タツプ54に加える零化回路
の例を開示している。この例では中央タツプ54
は演算増幅器434の反転入力端に接続してい
る。この増幅器434の出力端及び反転入力端間
に帰還抵抗器436が接続している。増幅器43
4の出力端は抵抗器438を介して別の演算増幅
器440の反転入力端に接続している。演算増幅
器440も出力端及び反転入力端間に帰還抵抗器
442を有し、この出力端は電流検出器62の入
力端60に接続している。これら増幅器434及
び440の各非反転入力端は接地している。更に
乗算用DAC回路424の出力端はコデンサ44
4を介して増幅器440の反転入力に接続してい
る。乗算用DAC回路424の第1入力端はパネ
ル駆動増幅器38の出力端40と接続している。
回路424の第2(制御)入力端にはMPU108
から零化信号が入力している。このように接続す
ると、乗算用DAC回路424により中央タツプ
54に生じたタツチ電流に零化電流が加えられ
る。この零化電流の値はMPU108の制御によ
り調整され、パネルがタツチされない時タツチ電
流を0にする。 以上の例により、タツチ・パネル装置に生じる
タツチ電流信号の自動的零化が行われる。また、
タツチ・パネル装置の動作中にタツチ電流を0に
するようにこの零化を行える。 自動周波数制御 第1図及び第3図に於て、タツチ・パネル装置
は、このシステムが使用されている環境内の信号
とパネル走査信号が干渉しないようにパネル走査
信号の周波数を環境信号の周波数スペクトルから
自動的にずらす手段を含んでいる。この手段はタ
ツチ電流検出の際に干渉する周波数スペクトルの
影響を効果的に除去する。このような干渉スペク
トル信号源の主な一例はCRT表示装置の水平フ
ライバツク信号である。このフライバツク信号の
周波数は装置によつて変化し、且つ特定の装置が
動作しても変化する。この干渉周波数スペクトル
からパネル走査周波数を自動的にずらすようにし
たので、予期される種々の干渉周波数スペクトル
に対し、種々のタツチパネル装置を特別に設計す
る必要がない。即ち、本発明のタツチパネル・シ
ステムはこのような周波数変化に対し自動的に補
償されるので干渉周波数スペクトルを避ける為に
遂一作る必要がない。 第1図に於て、信号源30に含まれる可変周波
数信号発生器は制御入力端176に入力する周波
数制御信号に制御された周波数の出力を発生す
る。具体的には、信号源30は自動周波数制御回
路178の信号に応じて可変周波数信号を出力す
る電圧制御発振器VOCを含んでもよい。 MPU108はタツチ電流データにより駆動信
号周波数を変化させるかどうか決める。1つの方
法として、この決定はタツチ電流出力の零化調整
の必要頻度を監視して行われる。もし零化調整頻
度が予め定めた頻度を越えると、駆動周波数が干
渉信号の周波数に近過ぎるレベルにあるものと見
なされる。この場合、MPU108が自動周波数
制御回路178を制御して信号発生器30の出力
するパネル走査信号の周波数を調整する。通常、
最初に調整した周波数は比較的高い。最初の動作
周波数を選択後、動作周波数の更新は通常少しず
つ増加して行われる。また、流れ図に関して後述
するように、この周波数を調整すべき方向を決め
る手段が用意されている。 第3図に於て、MPU108の出力ピン32乃
至39からデジタル周波数制御信号がバス104
及び182を介してDAC184のデータ入力ピ
ン4乃至11に送られる。DAC184は自動周
波数制御回路の一部を構成し、第3B図のように
接続したアナログ・デバイス社製AD7524型DAC
を含んでもよい。この回路に用いたフイルタ用コ
ンデンサ及びバイアス抵抗器は表1に記載されて
いる。DAC184の入力ピン13はMPU1
08の出力ピン16に接続している。また、
DAC184のピン12はデコーダ130に線
路186を介して接続している。MPU108の
制御により及び入力ピン12及び13が
共に論理“0”になると、DAC184はピン4
乃至11のデータ・バス入力信号に応答する。
CS入力信号が論理“1”になると、データ・バ
ス入力信号は遮断される。逆に、入力が
“1”になると、DAC184は又は入力信
号が“1”になつた時データ入力端に最後に存在
するデータを保持する。DAC184の出力ピン
1は演算増幅器460の反転入力端に接続してい
る。増幅器460の出力端はDAC184の帰還
ピン16に接続している。1μFのコンデンサ46
2はDAC184のピン1及び16間を接続し、
増幅器460非反転入力端は接地している。ま
た、増幅器460の出力端は68KΩの抵抗器46
4を介して別の演算増幅器466の反転入力端に
接続している。信号源30のFMバイアス端17
6aは47KΩの抵抗器468を介して増幅器46
6の非反転入力端に接続している。増幅器466
の出力端は信号源30の周波数掃引入力端176
bに接続するほか、10KΩの帰還抵抗器470を
介して自身の反転入力端にも接続している。上述
の構成により、MPU108の周波数制御信号に
応じて信号源出力端36,70の信号の周波数は
約130〜230KHzの範囲で可変できる。この可変範
囲は所望により増減可能である。 タツチパネル装置を過大電流から保護する為、
MPU108は絶えずデジタル化タツチ電流信号
を監視している。典型的なインピーダンス(Z)
タツチ電流信号が特に過大電流になるか監視され
るが、他のタツチ電流を同様に監視してもよい。
Zタツチ電流信号が予め定めた値を越えると、
MPU108によりデコーダ130からOSC.EN.
信号が線路190を介して信号源30用のデイセ
ーブル・スイツチ192の制御入力端に送られ
る。これによつてスイツチ192が閉じると、信
号源30のピン10が接地され、信号出力が遮断
される。同時にパネル走査状態がオフ状態に通常
切換わる。これでパネルのコンタクトとタツチ検
出回路群との接続が離れ、タツチ処理回路群も過
大電流から保護される。 上述したタツチ電流システムは動作するのに比
較的小さな電力(即ち、通常3W以下)しか消費
しない。更に、回路基板の寸法、使用部品点数及
び経費も低減している。また、通常この装置全体
が広範囲に応用できる基準装置であるが、オフセ
ツト・コンデンサ158及び168は実際の環境
に適合させる為に時には変更できる。従つて、使
用者による調整は最小限度となる。また、マルチ
プレクサ52を設計変更せずに1ピンから6ピン
までをタツチ感応表面の各辺に接続するのに使用
できる。これによつて本タツチ・パネル装置の汎
用性は更に拡大される。 タツチ電流処理 第9図乃至第16図の流れ図は第1図のタツ
チ・パネル・システウを動作させる一手順を示し
ている。これら流れ図には自動零化、自動周波数
制御の手順及びデジタル・タツチ電流信号をタツ
チ位置データに処理する手順も含まれている。適
応フイルタ処理の方法に関しては第17図及び第
18図によつて説明する。 第9図では全般的手順を示している。開始ブロ
ツク480(これは装置のリセツトを含んでいて
もよい)から始まり、初期周波数ブロツク482
に至る。ブロツク482は初期タツチ・パネル動
作周波数を選択するサブルーチン及び初期零化サ
ブルーチンを呼び出すサブルーチンにも相当す
る。次のブロツク484ではX及びYが0に設定
される。またZはFFhに設定される。このFFhは
16進数のFF(10進数では255)を示している。こ
れらの値は非タツチ状態に対応している。この
後、この装置はX、Y及びZを出力し、この初期
設定が完了したことを示す。その後、ブロツク4
86では以前のX、Y及びZの値(旧〔X、Y、
Z〕)として〔X、Y、Z〕が設定される。その
後、ブロツク488に達すると新しいX、Y及び
Zの値が決められる。ブロツク488は第13図
及び第14に示したサブルーチン相当する。次
に、ブロツク489に進んでも良い。このブロツ
クに関しては第17図を参照して後述するが、こ
のブロツクではタツチ位置の測定に際し、ノイズ
の影響を低減する為の可変フイルタ処理を行う。
このノイズは、或るタツチ位置から次のタツチ位
置まで指或いはスタイラスが動く速さに応じて変
化する。 ブロツク488から処理はループ490,49
5及び497へ継続していく。これらのループで
はタツチ・パネル装置が特定の動作モードにある
時新しいX、Y及びZの値を新しい値として認め
るかどうかを決める。より詳しく言えば、ループ
490はこの装置が連続モードで動作中であるど
うかを検査する判断ブロツク492を含んでい
る。第3A図に関して上述したように、これは制
御スイツチ198の設定によつて決まる。もし
YESならばタツチ・パネル装置は判断ブロツク
494でX、Y及びZの値の変化を探索する。も
し値の変化がなければ(即ちNOならば)、処理
はブロツク498へ進む。もし値が変化していれ
ば(YESならば)、ブロツク496で新しいX、
Y及びZの値がタツチパネル検出回路群から出力
される。その後処理手段は継続する。 ループ490の処理の後、ループ495では制
御スイツチ198によつてタツチ接触モードが選
択されている場合にはこのモードを評価する。こ
のモードの時には、X、Y及びZの値の最初の変
化に応じて新しい値が出力される。タツチパネル
装置がタツチ接触モードであれば、判断ブロツク
498から判断ブロツク500に処理が進む。も
し、旧Zの値がFFh(非タツチ)であつて、新し
いZの値がFFhに等しくなければ、パネルがタツ
チされていることになる。この場合、ブロツク4
96に進み新しいX、Y及びZの値が出力され
る。その後、ブロツク496から、或いは新しい
タツチが検出されなかつた場合にはブロツク50
0から処理は継続する。 ループ497の判断ブロツク502では、タツ
チ・パネル装置がタツチ解除モードにあるかどう
かが判断される。これは判断スイツチ198の設
定で決まり、もしこのモードにあればタツチパネ
ル装置は使用者がタツチ感応表面からタツチを離
す最初の瞬間を監視する。ブロツク504では旧
Zの値がタツチ状態に対応していて且つ新しいZ
の値が非タツチ状態に対応しているかどうかを判
断する。もしYESならば、タツチ感応表面から
タツチが解除されたことになるので、記憶されて
いた旧X、Y及びZの値が出力される。これらの
値は使用者の指又はスタイラスがタツチ感応表面
から離された位置に対応している。ブロツク50
6又はブロツク504から処理が継続する。 ブロツク508では信号源30がOSC.EN.信
号によつて停止されたかどうかを判断する。もし
停止状態になれば、ブロツク510で任意の遅延
時間(例えば1秒より僅かに長い時間)を加え
て、過大電流源を取り除く時間を与える。この遅
延時間後に処理が継続する。第9図には示してい
ないが、絶えず遅延時間を監視することができ
る。また、累積遅延時間が予め定めた時間を越え
た場合、全処理を停止するようにしてもよい。こ
の場合、MPU108は過大タツチ電流の為に、
所定の最大遅延時間を越えて、信号源30を停止
し続ける。これはシステムを検査する必要がある
ことを意味する。 第10図を参照とすると、第9図から呼出され
た初期周波数サブルーチンはブロツク512から
開始する。ブロツク514では周波数FREQ.は
7Fhに初期設定される。これは信号源30の周波
数制御の為にDAC184に送られた最初の周波
数である。この初期値はDAC184の出力範囲
の略中央値から始まる。後続のブロツク516,
518及び520ではある初期条件が設定され
る。変数Fconstは最初0に設定される。この変
数はタツチが検出されずに走査周波数の設定が一
定のまま走査した走査サイクルの数を表わしてい
る。Fconstの前の値OLDFconstは最初周波数が
安定であると仮定しているので、FFhに設定され
る。変数Foffsetも最初0に設定される。また、
Fmodフラグは1に設定される。このFmodフラ
グは周波数の変化方向を制御する。Fmod=1の
とき周波数の調整は増加方向である。Fmod=−
1のときは周波数調整が減少方向であることを意
味する。ブロツク520から初期零化ブロツク5
22に進む。このブロツクはX、Y及びZタツチ
電流を最初0に設定する初期零化サブルーチンで
ある。このサブルーチンについては第11図に関
連して後述する。 その後、判断ブロツク524ではX、Y及びZ
タツチ電流が十分に零化されているかどうかを判
断する。これは、各電流の値を零化閾値と比較し
て行われる。答がNOであれば、初期周波数が干
渉周波数スペクトルに近過ぎることを意味する。
例えば、初期周波数が、この装置を使用している
CRT表示器の水平フライバツク周波数の高調波
のどれかに近いものかも知れない。この場合に
は、ブロツク526で周波数は大きなステツプ
(即ち、10単位)だけ増加される。これはMPU1
08と自動周波数制御回路178とによつて行わ
れる。判断ブロツク528では全周波数が試験済
かどうかが評価される。答がYESなら、処理は
ブロツク530で停止する。まだ全周波数が試験
済でなければ、処理はブロツク528から信号の
際零化の為ブロツク522へと戻る。 ブロツク524でX、Y及びZタツチ電流が閾
値範囲内と判断されたと仮定する。この場合には
サブループ532に処理が進む。このサブループ
では、タツチ電流(例えばZタツチ電流)が予め
定めたサイクル数の期間十分に一定であつたかど
うか評価する。十分一定であれば、最初の動作周
波数は以下述べるように更新されるまで、そのま
ま保持される。Zタツチ電流がこのサイクル期間
中に一定でなければ、周波数を少しだけ増加して
から初期周波数選択手順が継続する。結局、周波
数を選択した結果Zタツチ電流は所定の測定サン
プル数の期間で略一定となる。そして、この初期
周波数サブルーチンが終了する。 詳しく言えば、ブロツク524からYES分岐
によりブロツク534に進み、ここで測定サンプ
ル数COUNTが設定される。測定サンプル数をい
くつに選んでもよいが、10が好適例である。ブロ
ツク536では旧インピーダンス・タツチ電流
OLDZとしてZの値が記憶され、次のブロツク5
38では新しいインピーダンスタツチ電流Zが測
定される。タツチ電流の測定については第12図
に関連して後述する。ブロツク540では旧Zと
Zとの差の絶対値を閾値(即ち1)と比較する。
もし、閾値より大きければ、ブロツク542に進
み、駆動周波数FREQ.は小さなステツプ(即ち
1単位)だけ増加する。その後処理はブロツク5
24へ継続する。しかも、もしイピーダンス・タ
ツチ電流がこの閾値の許容範囲内で一定であれ
ば、ブロツク540からのブロツク543に進
み、COUNTの値が1減少される。次のブロツク
544では測定サンプル全てが検査されたかどう
かを判断する。まだなら処理はブロツク536に
戻される。全て検査が終れば一定かどうか評価中
のZタツチ電流或いは他のタツチ電流は所定の測
定サンプル数の期間、十分に一定であつたことに
なる。この後、この結果によつて初期動作周波数
が確定する。ブロツク546から処理は第9図の
ブロツク485に戻る。 第10図のブロツク522で呼出された初期零
化サブルーチンは、第11図のブロツク550か
ら開始する。このサブルーチン零化手順によつ
て、各タツチ電流信号を零化する為に必要な零化
静電容量を選択する。第4図乃至第8図に示した
種々の零化回路の例に対しても同様の手順が好適
である。ブロツク552では、積分器の利得
GAINは0に初期設定される。これは最長有効時
間(例えば約30mS)の積分に対応している。ま
た、零化制御信号NULLは0に初期設定される。
その零化制御信号はMPU108からラツチ39
0(第3A図)に送られる信号である。また、最
終零化フラグLAST NULLを論理状態“偽”
(FALSE)に初期設定する。このフラグは、後の
零化を更新する際に用いられる。 ブロツク554では、変数BITが80h(16進数)
に設定される。このBITはラツチ390の出力に
対応し、16進数形式で表わされる。BITが80hに
設定されると、可変範囲の中間値のコンデンサ
(即ち、128pFのコンデンサ414)が選択され、
SIG+走査出力端48に接続される。ブロツク5
56では、零化制御信号NULLとBITの和を新
しいNULLに設定する。このループを最初通過
するとき、零化制御信号NULLは80hに等しい。
もし、Xタツチ電流を零化している時なら、ブロ
ツク558でXタツチ電流が第12図のサブルー
チンに従つて測定される。同様に、Y及びZタツ
チ電流も各零化中には測定される。 ブロツク560では、測定したXタツチ電流の
値(或いはY又はZタツチ電流の値)が0より大
きいかどうかを判断する。答がYESならば、SIG
+出力端に接続した静電容量が大き過ぎることに
なる。この場合、ブロツク562でNULLから
BITを引いた値を新しいNULLとする。これで
自動零化回路150からコンデンサが切離され
る。初期状態ではコンデンサ414がSIG+出力
端に結合していたとする。ブロツク560でもし
測定したタツチ電流が0より大きくなければ、こ
れはSIG+出力端に十分な静電容量が接続してい
ないことを意味する。この場合、ブロツク564
でBITの値が半分になる。次のブロック566で
は、この半分になつたBITの値が0がどうかを判
断する。答えがYESならばコンデンサ選択過程
で完了したことになる。第1回目では答えはNO
で処理はブロツク556に戻ることになる。ブロ
ツク560で、もし自動零化回路の静電容量が不
十分と判断されたら(即ち、NOのとき)、ブロ
ツク562は迂回され、その後ブロツク556に
戻つた時、コンデンサ414及び412が共にこ
の回路に接続する。その後、処理が継続する。反
対に、ブロツク560で自動零化回路の静電容量
が大き過ぎると判断されると、ブロツク556に
戻つた時コンデンサ414がはずされ、コンデン
サ412が加えられる。SIG+出力端に接続した
総静電容量により、零化タツチ電流の値が僅かに
負で0に非常に近づいた時、このコンデンサ選択
手順は停止する。この種々のコンデンサを組合せ
た結果、BIT=0になると、ブロツク568に進
んで非タツチ条件下のX、Y及びZタツチ電流が
測定される。また、ブロツク570にて、X、Y
及びZの零化オフセツトがこれらの測定値に等し
く設定される。これらの測定値は初期零化処理が
完了後の非タツチ条件下に於ける残留X、Y及び
Zタツチ電流に対応している。これら零化オフセ
ツトは零化処理を更新するかどうかの後の判断に
用いられる。即ち、SIG+出力端48に零化回路
150が接続するコンデンサを変更するかどうか
を判断する場合である。ブロツク570からブロ
ツク582へ進み、処理は第10図のブロツク5
24へ戻る。 第12図のタツチ電流の測定サブルーチンはブ
ロツク590から開始する。ブロツク592で
は、マルチブレクサ52を制御して、タツチ電流
検出の為所望の状態に装置を設定する。例えば、
X電流検出中にはSIG+出力端をパネルの右側辺
に接続し、SIG−出力端を左側辺に接続する。ブ
ロツク594では、適当な零化状態を設定する。
換言すれば、特定のタツチ電流(即ちXタツチ電
流)を検出する為以前決めたラツチ390の設定
を用いて、以前決めたコンデンサをSIG+出力端
に接続するのである。ブロツク596では、スイ
ツチ94(第1,3図)を閉じて、積分準備の為
積分用コンデンサ90を放電させる。ブロツク5
98では、アナログ・デジタル(A/D)オフセ
ツトが決められる。具体的には、積分用コンデン
サを放電した時、ADC100から7Eh(中央値)
以外の出力を発生させてもよい。A/Dオフセツ
トは記憶され、データのずれを補償する為に用い
られる。 ブロツク600では、積分期間を、最長積分期
間MAX.TIME割る設定利得値gain(便宜的に
GAINと書くこともある)を指数とする2の累乗
(即ち、MAX.TIME/2)に等しくする。
最初、この利得gainは0である。しかし、後述す
るように、この利得は第13図の位置読込サブル
ーチンで調整される。一般に、丸め誤差を低減す
る為に、タツチ電流をデジタル化した時、ADC
100の出力範囲を逸脱しない範囲で最も長い期
間積分を行うことが望ましい。ブロツク602で
は、X、Y、Zのどれであつても積分回路の出力
をデジタル化した値を測定したタツチ電流の値
(VALUE)とする。ブロツク604では、この
値VALUEからブロツク598で決めたA/Dオ
フセツト(A/D OFFSET)を引いて新たな
値VALUEとする。その後、ブロツク606では
マルチプレクサ52を切換えてスイツチをオフ状
態にする。この手順は測定された各タツチ電流に
ついて繰返される。以上のタツチ電流測定の完了
後、ブロツク608からこの測定サブルーチンを
呼出した元の処理ブロツクへ処理は戻される。 新しいX、Y及びZの値を返すサブルーチンを
第13図及び第14図に示す。このサブルーチン
は第13図のブロツク610から開始する。総て
の場合に不可欠という訳ではないが、通常タツチ
電流信号は平均化され、この平均化によりタツチ
位置が決められる。ブロツク612では平均化処
理する測定サンプルの数を設定する。この数
(N)は積分回路の設定利得GAINの関数f1(即
ち、N=f1(GAIN))に等しく設定される。より
詳しく言えば、f1(GAIN)の値は、設定利得が
0か1の時2に等しく、設定利得が2又は3の時
4に等しく、設定利得が4又は5の時に8に等し
く、設定利得が6又は7の時16に等しい。この制
定サンプル数の選択は、平均化によつてノイズを
有効に除去し、他方妥当な応答時間を維持するよ
うに決められる。他の利得関数も所望により用い
てもよい。更に、第18図の参照して後述するよ
うに、適応フイルタ処理を実行する際に、タツチ
信号のサンプル数を調整しても良い。 ブロツク614では、測定したX、Y及びZタ
ツチ電流をデジタル化したデータを累計するアキ
ユムレータを0に設定する。その後、ブロツク6
16に進み、Zタツチ電流が測定される。この時
X或いはYタツチ電流を測定することもできる
が、通常はZタツチ電流を測定し、これが過大タ
ツチ電流の存在及び設定利得の調整の必要性も判
断する為に評価される。この測定したZタツチ電
流は、ブロツク618で予め定めた最大値MAX.
Zより大きいかどうか判断される。もしYESな
ら、ブロツク620でこの設定利得が、最短積分
時間に対応する値0であるかどうかチエツクされ
る。もし設定利得が0であれば、最短積分時間を
用いても尚Zタツチ電流が所定の最大値を越えて
いることから、過大Zタツチ電流が流れているこ
とを意味する。この場合、ブロツク621で信号
源30の動作を停止し、マルチプレクサ52のス
イツチも遮断される。更に、X及びYの値は夫々
以前の値OLDX及びOLDYに等しく設定され、
Zは0に設定され、停止条件を示す。また、最終
零化フラグLAST.NULLは後の零化の更新に用
いるので論理状態“偽(FALSE)”に設定され
る。その後、処理はブロツク624から元に戻さ
れる。第9図のブロツク508に達すると、停止
状態が指示され、ブロツク510で遅延時間が発
生する。 第13図のブロック620で設定利得GAINが
0でないと判断されると、この利得はブロツク6
22で0に制定される。その後処理はブロツク6
12から継続する。再びブロツク618に達し、
YES分岐に進めば設定利得は0なので停止状態
になる。しかし、Zタツチ電流が所定の最大値
MAX.Z以下ならば、ブロツク626に処理が進
む。このブロツク626ではZタツチ電流が最小
所望値MIN.Zより小さいかどうか判断される。
もし、小さければ、サブルーチン628で利得調
整が行われる。即ち、ブロツク626からブロツ
ク630に進み、利得GAINが最大設定利得
MAX.GAINに等しいかどうか判断される。もし
等しければ、ブロツク632でX、Y及びZは非
タツチ状態を示すように(即ちX、Y=0、Z=
FFh)夫々設定される。換言すれば、微小インピ
ーダンス電流信号は最長積分期間を設定したこと
により検出され、タツチされたことを指示でき
る。ブロツク632からは処理は周波数及び零化
のオフセツト更新サブルーチン634に進む。こ
のサブルーチン実行後、ブロツク636から処理
が戻される。この処理手順では、オフセツト更新
サブルーチン634には非タツチ条件の時以外進
まない。従つて、タツチが検出されている時には
周波数及び零化の調整(即ち更新)は行われな
い。 ブロツク630に於て、設定利得GAINが最大
設定値ではないと判断されるとブロツク638に
進む。ここでは設定利得(即ち積分期間)が1増
加する。また、ここではZを再測定せずに単純に
2倍(2Z)に設定する。その後、ブロツク64
0では、Zが最小所望値MIN.Zより小さいかど
うかが確認される。もし、Zが小さければ
(YESならば)、処理は上記ブロツク630に戻
る。もしZが小さくなければ(NOならば)、処
理はブロツク612に戻り、本タツチ・パネル装
置は前と異なる設定利得にて動作する。 ブロツク626に於て、Zタツチ電流がMIN.
Zの値より小さくないと判断されると(NOなら
ば)、これはZの値が所望のMIN.ZからMAX.Z
の範囲内にあり、タツチが検出されたことを意味
する。ブロツク629では測定したZタツチ電流
を累計し、且つX及びYタツチ電流を測定及び累
計する。ブロツク631では測定サンプル数Nが
1減少する。その後、ブロツク633では、ブロ
ツク612で設定した全ての測定サンプルが得ら
れたかどうかが判断される。もし、まだ全て得ら
れていなければ(NOならば)、処理はブロツク
616から継続する。もし全測定サンプルが揃つ
ていれば(YESならば)、処理はブロツク635
から第14図のブロツク637に進む。その後、
第14図のブロツク639,641及び642に
於て、X、Y及びZの各累計値が調整されて、第
11図のブロツク570で最初設定したX、Y及
びZのオフセツト値或いは第15図のサブルーチ
ンで更新されたX、Y及びZのオフセツト値の影
響を除去している。これらのオフセツト値
(Xoffset、Yoffset、Zoffset)は、積分回路の利
得を0に設定して決められている。しかし、X、
Y及びZの測定値は必ずしも同設定利得で決めら
れてはいない。従つて、この調整の中で、上記オ
フセツト値(Xoffset、Yoffset、Zoffset)は設
定利得gainを指数とした2つの累乗(即ち2
gain)で割算される。更に、このオフセツト値に
累計範囲内の測定サンプルの総数Nを乗算して総
オフセツト値が決められる。従つてMPU108
は残留零化オフセツト電流を補償しているのであ
る。ブロツク644及び646では、X及びYの
タツチ位置(Xp、Yp)が計算される。また、イ
ンピーダンス値Zpは利得GAIN及びZの累計値
ΣZの関数f2に設定される。具体的に言えば、f2
(GAIN、ΣZ)=〔(MAX.GAIN−GAIN〕×16〕+
〔ΣZ/26〕である。この関数は設定利得の基数2
を底とする対数の値が利得の設定範囲に収まるよ
うに選ばれたものである。その後、ブロック65
0で、最終零化フラグLASTNULLが“偽
(FALSE)”に設定され、ブロツク652で処理
が戻る。 第15図を参照して、零化オフセツト及びパネ
ル駆動周波数の更新サブルーチンについて以下に
述べる。このサブルーチンはブロツク660から
開始する。ブロツク662では、零化更新フラグ
UPDATE NULL“偽(FALSE)”に、また旧Z
の値OLDZをZの値と等しく設定する。ブロツク
664では、すぐ前の走査サイクルも非タツチ状
態であつたかどうかの判断がされる。もしYES
であれば、Z、X及びYオフセツト(Zoffset、
Xoffset、Yoffse)が順次オフセツトの更新の必
要性を判断する為に検査される。換言すれば、零
化更新を行う前に少くとも1サイクル期間非タツ
チ状態が継続していなければならない。 零化更新を行う場合には、処理はブロツク66
4からブロツク666へ進む。このブロツク66
6では、Zオフセツト(Zoffset)はZoffsetと旧
Zの値(OLDZ)の関数f1に等しく設定される。
即ち、f1(Zoffset、OLDZ)−〔Zoffse−Zoffset/
25+OLDZ/25〕である。f1は他の関数でもよい
が、この特定の関数はオフセツト値をフイルタ処
置する為に選ばれたものである。その後、ブロツ
ク668でこのZoffsetは評価され、最大Zオフ
セツト値MAX.Zoffsetより大きいかどうかが判
断される。もし、大きければ(YESならば)、自
動零化回路150を調整してSIG+出力端に結合
する静電容量を減少する必要がある。これはブロ
ツク670にて、1ステツプ零化信号(Znull)
を減少して行われる。ブロツク670からブロツ
ク672に進み、ここではZoffsetを0に設定し、
更新零化フラグ(UPDATE NULL)を“真
(TRUE)”に設定する。このフラグは零化更新
が実行されたことを示している。このサブルーチ
ンの処理は、その後位置674から継続する。 ブロツク668に於て、ZoffsetがMAX.
Zoffset以下と判断された場合には、ブロツク6
76に進んでZoffsetが最小Zオフセツト値MIN.
Zoffestより大きいかどうか判断される。もし、
大きければ、自動零化回路が十分な静電容量を
SIG+出力端に結合していないことになる。その
為、ブロツク678では零化信号(Znull)が1
ステツプ増加し、静電容量を付加する。ブロツク
678からブロツク672に進み、ここでは上述
のブロツク672の処理が実行される。もし、ブ
ロツク668及びブロツク676で共にNOの判
断がされて位置674に達した場合、これは
Zoffsetの調整が不用であることを意味する。 XoffsetはZoffsetと同様の手法で評価される。
従つて、Zoffsetの場合に述べたブロツクに対応
するブロツクには同じ番号にaを付加して記入し
ている。同様に、Yoffsetの評価の場合でも、各
対応ブロツクには同じ番号にbを付加して記入し
ている。また、関数f1についてもZoffsetの場合
と同様に、f1(Xoffset、OLDX)−〔Xoffset−
Xoffset/25+OLDX/25〕及びf1(Yof−fset,
OLY)=〔Yoffset−Yoffset/25+OLDY/25〕と
なる。 零化オフセツトを評価し、必要に応じて更新し
てから、処理はブロツク680から継続する。ブ
ロツク680では、Xタツチ電流を測定(第12
図参照)し、旧Xの値(OLDX)のXに等しく
設定する。それからブロツク682ではYタツチ
電流を測定し、旧Yの値(OLDY)をYに等し
く設定する。ブロツク684では最終零化フラグ
(LAST NULL)を“真(TRUE)”に設定す
る。ブロツク686は以下に述べる周波数更新サ
ブルーチン(第16図)が実行される。この周波
数更新サブルーチン終了後、処理はブロツク68
8にて、戻される。 第16図のサブルーチンではパネル駆動周波数
の調整が必要かどうかが判断される。このサブル
ーチンはブロツク690から開始し、ブロツク6
92へ進む。ブロツク692では、変数Foffset
を、Foffsetと零化更新フラグUPDATE NULL
の関数f1に等しく設定する。この関数f1は自動零
化回路がSIG+出力側に接続する容量性負荷の調
整頻度を評価するのに値いる。この零化調整の頻
度が高過ぎると、タツチパネルの駆動周波数が環
境内の固定周波数干渉スペクトルに近過ぎること
を意味する。この場合、MPU108により駆動
周波数が調整される。 具体例として、f1(Foffset、UPDATE
NULL)=〔Foffsest−Foffset/23+(16又は0)〕
(但し、右辺第3項は零化更新フラグUPDATE
NULLが“真”のとき16、UPDATE NULLが
“偽”のとき0である。ブロツク694に於て、
変数FoffsetがFoffsetの所定の最大値MAX.
Foffsetより大きいかどうかが判断される。大き
くない(NOの)場合、零化調整の実行頻度が最
大値を越えていないことを意味する。従つて、ブ
ロツク696に於て、変数FconstをFconst+1
に等しく設定し、次のブロツク698から処理が
戻される。従つて、変数Fconstの値は非タツチ
条件下でFoffsetがMAX.Foffsetを越えない限
り、毎回更新される。換言すれば、変数Focnst
はパネル駆動周波数の調整時点間に於てパネルが
タツチされずに且つ十分に零化されていた期間を
示している。 ブロツク694に於て、FoffstetがMAX.
Foffsetより大きいと判断された場合には、ブロ
ツク700に処理が進み、現在のFconstの値と
旧Fconstの値(OLDFconst)が比較される。即
ち、零化調整を行わない期間が以前の動作周波数
の場合よりも現在の動作周波数の場合の方が長い
かどうか判断している。もし、YESであれば、
以前の周波数変化が適切な方向に行われたことを
意味している。この場合、ブロツク702に於て
旧Fconstの値(OLDFconst)をFocnstの値に等
しく設定する。反対に、ブロツク700に於て現
在の駆動周波数によつて以前の周波数の場合より
も零化調整頻度が高くなつた場合(NOのとき)、
ブロツク704に処理が進む。ブロツク704で
は、フラグFmodの正負符号を逆にして、以前の
誤りの周波数変化方向とは反対の方向に次の周波
数変化を変更する。その後、ブロツク702の処
理後、ブロツク706に進み、Fconst及び
Foffsetと共に0に設定する。更に、ブロツク7
08ではX、Y及びZオフセツト(offset〔X、
Y、Z〕)を全て0に設定する。また、ブロツク
710では周波数FREQ.を1ステツプFmodだけ
適切な方向に調節している。その後、ブロツク7
12からこのサブルーチンは第15図に戻る。 所定のX−Y座標は適当な方法で使用者のコン
ピユータ114(第1図)により利用し得る。例
えば特定の位置に於けるタツチの場合にサブルー
チンを呼出すようにしてもよい。また、上述の説
明で明らかなように、タツチ感応表面上にすべら
せてタツチ位置を連続的に決めてもよい。このよ
うな連続的タツチ位置決定法をコンピユータ11
4で用いて、例えば表示端末画面14上の画像を
トーレスするようにしてもよい。第9図乃至第1
6図の流れ図に示した手順も、他の走査方向に応
用してもよい。即ち、本発明は上述の処理手順に
限定されるものではない。 適応フイルタ処理 タツチパネル・システムに適応フイルタ処理技
術を応用することによりタツチ位置の測定精度を
実質的に改善する方法が発明された。 一般に、この技術ではタツチ感応表面上のタツ
チの移動速度に応じてタツチ信号のフイルタ処理
を調整する。より具体的に言えば、本発明のフイ
ルタ処理の程度は、タツチ位置の移動速度に逆比
例の関係で調整される。即ち、移動速度が0或い
は低速度の場合にフイルタ処理によつて遮断され
る領域が広くなり、移動速度が増加するにつれて
フイルタによる遮断領域が狭くなる。この結果、
移動速度が低速度の場合に特に重要となるノイズ
に起因する測定値の変動が効果的に除去される。
これと対照的に、使用者の指又はスタイラスの移
動に関する、より高周波数のタツチ信号成分は保
存される。この高周波数の成分が保存されること
により、使用者の指又はスタイラスがタツチ感応
表面上で移動される時にタツチ位置の測定精度を
向上することが出来る。 適応フイルタ処理の第1の方法として、第1図
及び第3図の動的フイルタ85を使用しても良
い。MPU108からの信号に基づいてデコーダ
130が線路87を介して入力するフイルタ制御
信号(FILT.)に応じて、フイルタ85の処理が
調整される。具体例として、フイルタ85は、デ
ジタル制御の容量切り換え型動的低域通過フイル
タでも良い。このようなフイルタのタツチ信号の
通過許容帯域は、約0〜1Hzの低周波数からより
高周波数の可変レベルまでに亘るように設計され
ている。タツチ位置の測定の際に、タツチ信号の
低周波数成分が重要なのは、タツチ位置が一定の
場合か、或いは指又はスタイラスが非常にゆつく
り移動する場合である。その反対に、指又はスタ
イラスの移動速度が増加するにつれて、タツチ信
号の高周波数成分が重要になつてくる。従つて、
タツチ位置の移動速度が増加するにつれて、フイ
ルタ制御信号により、フイルタ85の遮断周波数
が増加する。このような応用例に好適なフイルタ
の例として、モデルRF5609A及びモデル
RF5613Aの容量切り換え型低域通過フイルタが
ある。このフイルタ85は、図に示したように増
幅器及びフイルタ回路80と積分回路86の間に
挿入しても良く、或いは積分回路86と変成器4
4の中央タツプ60との間のどこか別の位置に配
置しても良い。 また、アナログ適応フイルタ技術の代わりに、
本発明によればデジタル適応フイルタ処理方法を
利用しても良い。再び、このフイルタ処理では、
タツチ感応表面上のタツチ位置の移動速度の減少
に伴つてフイルタ処理の範囲(除去される範囲)
が拡大される。第9図では、このデジタル・フイ
ルタ処理が施される位置はブロツク489で示さ
れている。このフイルタ処理方法に関して第17
図に詳細に示している。 一般に、第17図に於いてフイルタ処理開始ブ
ロツク489からリセツト・ブロツク720に処
理が進む。この選択ブロツクでは、タツチ感応表
面が予め定めた期間だけタツチされない状態が経
過後に初めてタツチされた場合、適応フイルタを
リセツトしてフイルタ処理を行わないか又は最少
のフイルタ処理範囲の状態に設定して、処理を第
9図のブロツク492に進める。フイルタがリセ
ツトされない場合には、処理がブロツク724に
進み、タツチ位置の移動速度が測定される。この
移動速度は、前回の測定されたタツチ位置と現在
のタツチ位置との間の距離の絶対値を計算するこ
とによつて求められる。これは必須要件ではない
が、タツチ位置の測定が一定な時間間隔で周期的
に実行されている場合を考えてみる。この場合に
は連続的に測定されるタツチ位置の間隔が直ちに
移動速度を表している。タツチ感応表面上に直交
(X−Y)座標系を設けた場合、次のような周知
の公式を用いて距離Dを計算して得る。 D=√(−1)2+(−1)2 この式で、x及びyは現在のタツチ位置のX座
標及びY座標を表し、o1dx及びo1dyは前回測定
されたタツチ位置のX座標及びY座標を表してい
る。 タツチ位置の移動速度に応じて、ブロツク72
6ではタツチ信号に基づくタツチ信号の情報が適
正にフイルタ処理される。一般に、フイルタ処理
の範囲は、移動速度の範囲を複数設けることによ
り可変することが可能であり、各移動速度の範囲
に対してデジタル・タツチ信号が所定の範囲でフ
イルタ処理される。即ち、このようなフイルタ処
理の範囲(遮断される範囲)は、移動速度が低速
度から高速度に変化するにつれて狭くなる。 このデジタル・フイルタが遮断周波数Fc=
1/2πRCを有する単極低域通過フイルタと等価
であると仮定してみよう。この場合、このデジタ
ル・フイルタは次式によつて表される。 Out=Out・(1−K)+K・In ここで、K=1−e−2πFc/Fsで、Fcは遮断
周波数、Fsはサンプリング周波数である。この
式に於いて、Kを制御すればデジタル・フイルタ
の処理を適正に変更することが出来る。 この場合、MPU108はフイルタ制御係数Ki
(i=1、2、…、n)の表を記憶している。Ki
の各値は計算された距離(移動速度)の各範囲と
対応しており、n個の計算された距離の範囲があ
る、MPU108は、計算された距離Dに対応す
るフイルタ制御係数Kiを表から選択し、この選
択されたKiの関数としてタツチ位置の測定値を
修正し、デジタル・タツチ信号のフイルタ処理を
行う。 MPU108は、多数の異なる式に応じてタツ
チ位置の測定値を修正する。これらの式によれ
ば、移動速度が増加するにつれてフイルタ処理の
レベルは減少し、この修正は例えば次式に従う。 X=oldX(1−Ki)+Ki・X Y=oldY(1−Ki)+Ki・Y ここで、oldX及びoldYは前回測定されたタツ
チ位置のX座標及びY座標、X及びYは新しいタ
ツチ位置の修正されたX座標及びY座標である。 フイルタ制御係数Kiの表の具体例は、所望の
結果を得る為に次の表の値を用いても良い。
[Table] During operation, the MPU 108 periodically scans the touch-sensitive surface 18. For each cycle, multiplexer 52 switches in the following order. That is, 3rd (Z) → OFF → 1st (X) → OFF → 2nd
(Y)→off→third (Z)→off, and so on.
Tests for overcurrent are normally performed during the Z state and are checked at the beginning and end of each scan cycle in this state switching sequence. Also, since the impedance (Z) current is used to determine the position on the X and Y axes, it is desirable to redetect the Z current at a higher frequency than when detecting the X and Y currents. Of course, other scanning methods may also be used. From the touch current obtained as a result, the touch position is determined using equations (a) to (e) described above. Typically, the scan switching cycle of multiplexer 52 between the three states is relatively fast, between 30 and 1000 Hz. Generally, the slower the switching frequency of multiplexer 52, the longer it takes for the processing circuitry to determine the touch location. Similarly, by suitable multiplexers, four touch currents i x1 , i x2 , i y1 and i y2 may be generated, as explained with respect to equations (f) to (m) above. Although the use of a transformer to drive the touch-sensing circuit simplifies circuit construction and has other advantages, separate circuitry is required to create the desired AC voltage gradient across the touch-sensitive surface 18. May be used. For example, the sine wave drive signal output terminal 40 may be connected to the SIG- output terminal 50 via an inverting amplifier with constant gain. At the same time, the drive signal output terminal 40 may be directly connected to the SIG+ output terminal 48. The differential currents at the SIG+ and SIG- outputs 48, 50 are then input to a differential current detector and processed to determine the touch position. Furthermore, when the touch panel is not touched and when it is adjusted to zero by the zero adjustment circuit 150, this differential current becomes zero, as will be described later. As an additional protection, the touch panel drive signal application circuit of FIG. 2 includes additional means for discharging high voltage from the touch detection circuit. Such voltage is generated, for example, due to static electricity on the user. This means consists of four sets of clamp diodes, one set numbered 280 in FIG. Each set is connected to each side of the touch-sensitive surface. For example, set 208 connects the top edge of the panel and center contact C. Similarly, the other sets are connected to the center contacts on the other sides of the panel. first diode 2 of set 280
A second diode 82 has a cathode connected to the touch-sensitive surface and an anode connected to the -12V DC power supply, and a second diode 284 has an anode connected to the touch-sensitive surface and a cathode connected to the +12V DC power supply. If the voltage on the top side of the panel exceeds +12V, the diode 284
conducts with forward bias and discharges this voltage. Similarly, when this voltage falls below -12V, diode 282 conducts and discharges this voltage. Therefore, the voltage on the touch sensitive surface is effectively limited to voltages within the range of ±12V. The first Zener diode 285 has an anode connected to the -12V power supply and a cathode connected to ground. A second Zener diode 286 has its cathode connected to the +12V power supply and its anode connected to ground. The breakdown voltage of these Zener diodes is higher than the supply voltage, for example +18V. Therefore, even if the voltage discharged through diode set 280 and other diode sets exceeds the voltage that the power supply can absorb, that voltage will flow through the Zener diodes to ground. Other than for high voltage protection, these clamp diodes and Zener diodes do not conduct any additional current during normal touch position sensing. Therefore, the touch position determination accuracy is not affected by the leakage current of this protection circuit. Continuing to refer to FIG. 2, offset capacitor 168 is connected during third (Z) touch current detection.
This is a circuit connected to the SIG output terminal 50. Specifically, the M0 and M1 outputs are diode 288,
Wired OR consisting of 290 and resistor 292
It is connected to switch 170 via a gate.
Switch 170 is a well-known inverting switch that closes when the state of the control input is "0". This switch 170 closes when both the M0 and M1 control inputs are "0" and the panel is in the third (Z) state, that is, the impedance current detection state. The function of offset capacitor 168 will be discussed below in connection with automatic nulling circuit 150. Panel Output Signal Processing Circuit Returning again to FIG. 3, the current detector 62 includes an operational amplifier as a current-to-voltage converter, the inverting input of which is connected to the center tap 54 of the transformer 44. Also, the non-inverting input terminal is grounded.
A pair of diodes are connected in parallel and in opposite directions between both input terminals of this current detection amplifier 62. These diodes protect this amplifier 62 from excessive currents and voltages. A 220Ω feedback resistor 302 is connected between the output 64 and the inverting input of amplifier 62. As a result of the above wiring, amplifier 6
The voltage at the output 64 of 2 is the voltage at the center tap 5 of the transformer.
4, that is, the first (X), second (Y), and third (Z) touch currents, respectively.
These touch current signals pass through a filter circuit 66 to an input 68 of an analog multiplier 69.
sent to. Filter 66 is a passive high pass filter. This filter 66 has 1000pF.
4.7kΩ connected between DC cutoff capacitor 304 and analog multiplier input 68 and ground
A resistor 302 is included. A -12V power supply is also connected to the input terminal 68 via a 4.7KΩ resistor 306. Analog multiplier 69 receives a reference signal from output shaft 70 of signal source 30 . The signal at output 70 is a square wave that is 90° out of phase with the signal at sinusoidal output 36 used to drive transformer 4.
The output end 70 is connected to a connection point 311 via a 4.7KΩ resistor 310, and from there a 10KΩ resistor 31.
Connected to +12V power supply via 2. Connection point 3
11 is also connected to ground via a 3.9KΩ resistor 314. This circuit divides the voltage of the square wave output to a voltage compatible with the TTL logic circuit. Diode 316 clips the negative half period of the square wave output signal. As a result, a positive half period remains as a synchronization signal at the OSC.SYNCH. output terminal 410. Connection point 31
1 is connected to the input 76 of the analog multiplier 69 via a 1000 pF DC blocking capacitor 318 and a pair of 10 KΩ resistors 320, 322. A 150 pF filter capacitor 324 is connected between the junction between resistors 320 and 322 and ground. Further, the input terminal 76 of the analog multiplier 69 is grounded via a 1KΩ resistor 328. After passing through these capacitor and resistor filters, the clipped square wave output signal is input to an analog multiplier as a reference frequency signal. The analog multiplier 69 may be a Motorola MC1496 analog multiplier. The well-known bias resistor connected to this circuit as shown in Figure 3B is shown in the table below.
Shown in 1. As will be explained below, the nulling circuit ensures that the voltage at the center tap 54 of the transformer secondary winding is exactly 0 volts when not touched by the user. This is done even without detection circuitry. When the user touches the panel, a certain amount of current flows to the ground terminal. Due to the law of conservation of charge, this current also flows in the transformer center tap wire 54. The resulting center tap current consists of a signal at the panel drive frequency W 0 and a substantial noise component. The X, Y and Z touch data are represented by changes in the amplitude of each current signal. Since only this amplitude data is of interest, the synchronous detector can be used to demodulate the amplitude modulated touch current signal. An analog multiplier 69 is used for this synchronization detection, which increases the effectiveness of noise rejection and thereby allows for more accurate touch position determination. For demodulation, the central tap current signal is multiplied by the carrier signal sent from the output 70 of the signal source 30. Mathematically speaking, assuming that in the first (X) touch current detection state, a constant impedance Zt is generated by the touch with respect to the ground terminal, the following result is obtained. Panel voltage XV 0 cos w 0 t Center tap current XV 0 cos (w 0 t + φ) / Zt + (noise) Analog multiplier output cosφXV 0 / 2Zt + cosφ It also includes constants that are canceled out. Similar equations are obtained for the Y and Z touch current detection states. The touch current phase shift φ with respect to the multiplier reference signal is 90°
Otherwise, cosφ will not be zero and the output of the multiplier will give valid data. Although the touch current is normally capacitive, the rectangular wave output signal of the signal source 30 is 90 degrees out of phase with the sinusoidal output signal, so the phase difference φ is close to 0 degrees and accurate information is obtained. The multiplier output amplifier and filter circuit 80 includes a low pass filter that effectively removes the V 0 cos2w 0 t term and most of the noise. The resulting signal is the equation a given above,
They correspond to i x , i y and i z shown in b and d, respectively. The touch position is determined by processing these signals. More specifically, output pin 9 of analog multiplier 69 is connected through a 47KΩ resistor 346 to the inverting input of operational amplifier 348. Output pin 6 of analog multiplier 69
is connected to the non-inverting input of operational amplifier 348 through another 47KΩ resistor 350. The non-inverting input of this amplifier is also connected to ground through a 47KΩ resistor 352. A 47KΩ feedback resistor 354 is also connected between the output and the inverting input of amplifier 348. Additionally, 0.022 μF capacitors 356 and 358 are connected between output pins 9 and 6, respectively, and ground. Since Zt varies over a wide range, the signal level at the output end 82 also varies considerably. i x of the output end 82,
If the i y and i z signals are simply converted to digital data and separated according to equations a, b, and d above, the accuracy obtained will be low for small signals due to so-called rounding errors. Put it away. To avoid this, these signals are integrated to obtain values of t x i x , ty i y and t z i z , respectively. The number of integrations t x , t y , t z are
Control is performed by the MPU 108 to maximize the magnitude of the integral value within a limited range and to minimize the error. Since t x , t y and t z are known to the MPU 108,
The MPU performs different integration times during touch position detection.
108. This integration operation can further remove noise. Additionally, a dynamic filter 85 may be used to apply adaptive filtering to the touch signal. As will be explained below, this filtering varies depending on the speed at which the touch moves over the touch-sensitive surface. Filter 8
5, a digital applied filter technique can also be used. MPU108 is decoder 1
30 to control the processing of the dynamic filter 85. Returning again to FIG. 3B, output terminal 8 of amplifier 348
2 is connected to integrator switch 84 through a 2.2KΩ resistor 360. Logic “0” hold signal
If INT is being input to line 88 from decoder 130 by MPU 108, switch 84 is closed. At this time, the output terminal 82 of the amplifier 348 is connected to the integrating capacitor 90. The signal at the output terminal 82 is integrated during an integration period determined by the pulse width of the holding signal. Integrating capacitor 90 is a 0.02 .mu.F capacitor connected between the inverting input and output 98 of integrating amplifier 92. The non-inverting input terminal of amplifier 92 is connected to ground through a 2.2KΩ resistor 362. A series circuit of an integrator discharge switch 94 and a 390 ohm discharge current limiting resistor 364 is connected in parallel with the integrating capacitor 90. Under the control of MPU 108, switch 94 closes to discharge capacitor 90 in response to a logic state "0" signal on line 96 from decoder 130. This discharge occurs just before integration. The signal at the output 98 of the integrating circuit 86 is a positive or negative analog voltage signal. This output signal corresponds to the integrated analog signal of the touch current that generated center tap 54 of transformer 44. This integrator circuit output terminal 98 is connected to the operational amplifier circuit 36.
6 to the data input terminal pin 6 of the ADC 100. Circuit 366 levels-shifts and attenuates the signal at integrator output 98 to match the input range of ADC 100. Circuit 366 also includes another filter stage. A pair of Zener
A diode 388 is connected between the junction between resistors 380 and 386 and ground. These diodes clamp the voltage at this connection point to approximately ±6.8V, limiting the voltage range applied to operational amplifier circuit 366. The ADC 100 may be a National Semiconductor ADC1001 circuit. The eight output data lines of this circuit are connected by lines 102 and 104 to data input/output pins 32-39 of MPU 108. Input pin 1 of ADC 100 is connected to decoder 130 via line 142, and ADC 100 has pin 2, pin 3, and pin 5. As is well known, these pins are controlled by the MPU 108, which sends the digitized touch current data to the MPU 108 once the integration cycle is completed and the integrated touch current signal is digitized. ADC
The values of resistors and capacitors connected to or included in circuit 100 and circuit 366 are listed in Table 1. Two complementary methods may be used in digitizing the negative output value from integration circuit 86. From the sign of the digitized value, it is determined in which quadrant the point P at the touch position is located. For example, in an X-Y coordinate system with the origin at the center of touch-sensitive surface 18, a negative X-touch current value indicates that the touch position is to the left of the origin. Conversely, a positive X touch current value indicates that the touch position is to the right of the origin. Similarly, a negative Y touch current value indicates that the touch position is below the origin, and a positive Y touch current value indicates that the touch position is above the origin. The MPU 108 uses the multiplexer 52 (second
The above integration cycle is repeated by switching the state shown in Figure), and the first (X) and second
(Y) and impedance (Z) touch current values are obtained. These values are processed to determine the touch position on the panel. The MPU 108 in the figure is an Intel programmable 8751 EPROM microcontroller.
Decoder 130 also includes a 74LS138 type decoder/demultiplexer circuit. Furthermore, the communication interface 120 may be configured with a DS1489 Quad Line Receiver and a DS1488 Quad Line Driver manufactured by National Semiconductor. In the configuration shown in the figure, MPU10
Pin 10 of 8 contains a serial input port, pin 9 contains a reset input that resets the touch detection circuit at logic state "1", and pin 13 contains an external interrupt input. Output pin 6 of MPU 108 is used to send a transmission request signal, pin 7 is a transmit enable signal line for data transmission, and pin 11 includes a serial data output terminal. By controlling these pins in a well-known manner, MPU 108 transmits and receives data to and from a communications network via interface 120. It is also possible to transmit and receive data serially. Parallel output latch 112 has eight parallel data output pins and corresponding input pins.
74LS377 type 8D flip-flop may also be used.
MPU 108 controls this latch 112 at pin 11. Also, enable input pin 1 of latch 112 is connected to input/output pin 8 of MPU 108. Depending on the enable signal from MPU108,
Parallel data is transmitted from latch 112. Control switch 198 may include a manual switch having seven outputs connected to input pins 21-27 of MPU 108. These outputs have a logic state of “1” or “0” depending on the switch settings.
become. Typically, the logic state of pins 13 and 14 of this control switch determines the mode in which a touch is detected. For example, pins 13 and 14 are each “0”
and "1" indicates touch on make mode. In this mode, touch position data is sent to the latch 11 upon the first detection of a touch.
2 or via the interface 120. Further, when these logic states are "1" and "0", respectively, the touch release (on break) mode is instructed. In this mode, touch position data is sent in response to release of a touch position, such as when a user removes a finger from a touch-sensitive surface.
Furthermore, when the outputs of pins 13 and 14 are both "0", continuous mode is indicated. In this mode,
Touch position data is continuously transmitted and the movement of the user's finger on the touch sensitive surface is monitored. The logic state of pins 11 and 12 also determines whether the parallel output latch 112 or the serial output is used, as well as the transmission speed (baud) of the communication output (for example, 1200; 9600; 19200 baud). ) Determined. The logic state of pins 9 and 10 determines the parity of these data. Finally, depending on the state of pin 8, the data is
It is determined whether the data is transmitted in hexadecimal format or in another format.
Switch 198 may be of virtually any type and may be made larger or smaller as needed in controlling specified parameters during signal processing. Finally, pins 18 and 19 of MPU 108 are each connected to ground through a 33 pF capacitor. A crystal oscillator serving as a reference frequency oscillator for the MPU 108 is connected between both pins. Touch panel circuit 56 also includes a number of power supply decoupling capacitors (eg, capacitor 374). MPU10 performs signal integration, touch position determination, automatic zeroing control, automatic frequency control, etc.
The operation of step 8 will be described later with reference to the flowcharts of FIGS. 9 to 16. Automatic Zeroing Circuit As another aspect of the present invention, the panel output signal processing circuit includes an automatic zeroing circuit 15 that zeros the first (X), second (Y) and impedance (Z) touch currents.
Contains 0. The meaning of zeroization is touch sensitive surface 1
This means that when 8 is not touched, the touch current in center tap 54 effectively cancels out to zero. By performing this zeroing, even in the case of a touch with a finger wearing a glove, which generates a relatively small touch current, the touch current can be detected more accurately and easily. That is, the touch current is not hidden by potential ambient current signals that may appear at the center tap 54 independent of touch. Accordingly, the touch panel device of the present invention has wide application in a variety of relatively noisy environments that also include electroluminescent displays. Generally, an offset or nulling current is substantially applied to the center tap 54 of the transformer under non-touch conditions to cancel out the X, Y, and Z touch currents. The value of this zero current is MPU
108 and are automatically adjusted as processing continues. In the embodiment of the nulling circuit, a substantially capacitive load is connected by the nulling circuit to one of the first and second panel scan outputs 48,50. The capacitance of this capacitive load varies in response to a nulling control signal from MPU 108, thereby varying the nulling current that nulls the current signal at transformer center tap 54. One embodiment of an automatic zeroing circuit is shown in FIG. 3A. In this case, nulling circuit 150 includes a nulling control device such as latch 390. Latch 3
90 is similar to parallel output latch 112;
A zero signal is received via bus 154 from data pins 32-39 of MPU 108. A clock signal is also sent from MPU 108 to pin 11 of latch 390. Decoder 1 is controlled by MPU108.
In response to an enable input signal from 30 via line 156 to pin 1 of latch 390, a digital nulling control signal is passed from the input to the output of latch 390. This typically includes an MPU 108 with a touch-sensitive surface 1, as described below in connection with the flowchart.
This is what happens when it is detected that 8 is not touched and when it is detected that any of the X, Y and Z touch currents are excessive. The output of latch 390 is connected to control pins 1, 8, 9 and 16 of a pair of switch circuits 392, 394 as shown. The switch circuit of the embodiment includes a GE Intersil DG211 CMOS four channel analog switch. Output pins 3, 6, 11 and 14 of these switch circuits are interconnected and connected by line 152 to one of the panel scan signal outputs (eg, SIG+ output 48). The input pins of these switch circuits are connected to capacitors in capacitor banks 396 and 398, respectively. The value of the capacitance connected to the SIG+panel scan output is determined by the logic state of the output of latch 390. More specifically, pins 2, 7, 10 and 15 of switch circuit 392 are connected to capacitor groups 40 of 1 pF, 2 pF, 4 pF and 8 pF, respectively.
It is grounded through 0 to 406. Similarly, pins 2, 7, 10 and 15 of switch 394 are
4 capacitor groups of 16pF, 32pF, 64pF and 128pF
It is grounded through 08 to 414. This arrangement of the capacitors allows the value of the capacitive load applied to the SIG+ output terminal 48 by the nulling circuit 150 to be varied from 0 to 255 pF with a resolution of 1 pF.
If desired, switch circuits 392, 394 and latch 390 may be replaced with controllable components to accommodate larger capacitor banks 396, 3.
98 may be used to expand the variable capacitance range. To most effectively zero out a specific touch current
Various methods may be used to determine the capacitive load applied to SIG+ output 48. It is assumed that the capacitive load for this zeroing is determined according to each measurement state of the X, Y, and Z touch currents. This capacitive load normally remains constant unless the touch current generated at the touch sensitive surface under non-touch conditions exceeds a predetermined zero threshold. When the touch current exceeds this zero threshold, the capacitive load is adjusted such that the measured touch current is below the threshold. One way to automatically select an appropriate capacitive load is to consider the case where the impedance (Z) touch current exceeds the zero threshold under non-touch conditions. In this case, the zeroing capacitor 414 with the largest capacitance is
It is assumed that it is connected to the SIG+ output terminal and the capacitance at the center of the variable capacitance range is coupled. If the Z-touch current then becomes negative under non-touch conditions and exceeds the desired threshold, this is caused by capacitor 414
This means that the value of is insufficient for zeroing. A second largest capacitor 412 is added to the SIG+ output to retest the Z touch current under no touch conditions. Conversely, when the capacitor 414 is connected to the SIG+ output terminal, if the Z touch current becomes positive and exceeds the zero threshold under non-touch conditions,
This would result in the value of capacitor 414 being too large. Capacitor 414 is removed from the circuit and replaced with capacitor 412. Thereafter, the zero test continues. This procedure is then repeated and the appropriate capacitive loads are connected to achieve the desired nulling. Of course, other methods may be used to couple capacitive loads. Offset capacitor 158 (Figures 1 and 3B) typically consists of a 120 pF capacitor;
The SIG- output terminal 50 and ground are connected. This capacitor provides an initial zeroing offset to the touch current in center tap 54. The direction of this initial offset is typically relative to capacitor bank 39.
The X and Y touch currents are made zero by the capacitance near the center of 6,398. During sensing of the Z-touch current, the leakage current becomes relatively large, especially if all sides of the touch-sensitive surface are simultaneously driven by the SIG+ output. Therefore, an additional offset capacitance is added at this time to provide an offset to the impedance (Z) touch current under the non-touch condition somewhere around the center of the total capacitance of the nulling circuit 150. It's okay. Therefore, an additional offset capacitor 168 is added to the SIG-output 50 during Z-touch current sensing. Second
As previously discussed with respect to the diagram, switch 170 closes capacitor 16 only when measuring Z-touch current.
Connect 8. At other times, this capacitor 1
68 is disconnected from the circuit. Typical value for additional offset capacitors 168 is 650 pF each.
It is. If the variable range of the capacitance of the automatic zeroing circuit 150 is expanded, the capacitor 168 may continue to be connected to the circuit. Assume that we are measuring the impedance (Z) touch current under non-touch conditions. In this case, if the sum of the total stray capacitance and the offset capacitance connected to the touch panel is equal to the nulling capacitance Cz by the nulling circuit 150, then the central tap 54 of the transformer
No current flows from to virtual ground. This is the zeroing condition, at which point the current in the center tap is a function only of the touch impedance. Therefore, even if the touch position changes, the voltage does not change much. nulling capacitance connected to touch sensitive surface 18 by nulling circuit 150 during detection of X and Y touch currents;
Cx and Cy are similarly adjusted to provide a nulling current to center tap 54 under non-touch conditions. 3
When nulled for all states, current flows through central tap 54 only when touch-sensitive surface 18 is touched. MPU 108 includes software that generates an offset nulling signal to zero the touch signal when the touch sensitive surface is not touched. These offset signals finely adjust the touch current to virtually zero under non-touch conditions. The details will be described later in the explanation of the flowcharts of FIGS. 9 to 16. Zeroing circuit 150 may be implemented in various forms. For example, as shown in FIG.
may be replaced by a loop counter or shift register 422 having an output connected to each control input of switch circuits 392 and 394.
In the case of a counter, from MPU 108 to line 15
In response to the count pulse input through SIG 4, counter 422 increments the count value thereby
+ The capacitive load connected to the output terminal 48 is switched among various types. This capacitance is continuously varied by one step until the desired nulling capacitance is determined for each touch current sensing state. If replaced with a shift register, the shift register 422 will be replaced by MPU1.
08 and a strobe input terminal connected to the strobe output terminal of the MPU 108. The zeroing signal data that determines the specific combination of zeroing capacitors depending on the strobe signal is sent to the MPU.
108 to shift register 422.
The iterative technique described above in connection with FIG. 3 may be used to determine the appropriate zeroed data to input to shift register 422. As another example, a multiplier DAC circuit may be used to vary the capacitive load connected to the touch-sensitive surface under control of the MPU 108. In Figure 4,
A well-known multiplying DAC circuit 424 has an input connected to the output 40 of the panel drive amplifier 38.
The output of this circuit 424 is connected to the non-inverting input of an operational amplifier 426. A feedback resistor 428 is connected between the output terminal and the inverting input terminal of this operational amplifier. Depending on the type of operational amplifier 426 used, the nulling capacitor 430 is connected (a) between the inverting input of the operational amplifier and the SIG-panel scan output 50 (shown in solid line in FIG. 4), or ( b)...Connection is made between the output end of the operational amplifier and the SIG-output end (shown by the broken line in Figure 4). FIG. 5 is similar to FIG. 4 in that a multiplication DAC circuit 424 is used. However, the output of circuit 424 in FIG. 5 is connected directly to a 550 pF nulling capacitor 430. 32KΩ resistor 431 is connected to circuit 424
22 pF capacitor 433 prevents spurious oscillations in circuit 424. Thus, nulling capacitor 430 is one type of capacitive load for the nulling circuit. MPU 108 sends a zeroing control signal to multiplication DAC circuit 424 via line 154. Depending on this signal, the capacitive loading effect of capacitor 430 changes. As described above, the capacitive load changes so that the X, Y and Z touch currents are adjusted to zero when the panel is not touched. In the embodiment of FIG. 7, a first output 36 of a conventional square wave oscillator included in signal source 30 is connected to a panel drive amplifier 38. In the embodiment of FIG. In this example, the multiplication DAC circuit 424 has the second
A signal that is 90° out of phase with the signal at the first output end 36 is input from the output end 70 . The output terminal of this multiplication DAC circuit is connected to the SIG-panel operation output terminal 50 via a resistor 432. Since the output signals at outputs 36 and 70 of the square wave oscillator are 90 DEG out of phase, resistor 432 essentially behaves like a capacitive load to the SIG- output. The value of this effective capacitive load changes in response to the nulling signal sent from MPU 108 via line 154. This value is adjusted to satisfy the zeroing condition for each touch current. FIG. 8 discloses an example of a nulling circuit that applies an offset current directly to the center tap 54 at a location in front of the current detector 62. In this example, the center tap 54
is connected to the inverting input terminal of operational amplifier 434. A feedback resistor 436 is connected between the output terminal and the inverting input terminal of this amplifier 434. Amplifier 43
The output of 4 is connected to the inverting input of another operational amplifier 440 via a resistor 438. Operational amplifier 440 also has a feedback resistor 442 between its output and its inverting input, the output of which is connected to input 60 of current detector 62 . Each non-inverting input terminal of amplifiers 434 and 440 is grounded. Furthermore, the output terminal of the multiplication DAC circuit 424 is connected to the capacitor 44.
4 to the inverting input of amplifier 440. A first input terminal of the multiplication DAC circuit 424 is connected to an output terminal 40 of the panel drive amplifier 38.
The MPU 108 is connected to the second (control) input terminal of the circuit 424.
The zeroing signal is input from. With this connection, a zeroing current is added to the touch current generated at the center tap 54 by the multiplication DAC circuit 424. The value of this zeroing current is adjusted by the control of the MPU 108, and the touch current is set to 0 when the panel is not touched. The above example provides automatic nulling of the touch current signal generated in the touch panel device. Also,
This nulling can be done so that the touch current is zero during operation of the touch panel device. Automatic Frequency Control In Figures 1 and 3, the touch panel device adjusts the frequency of the panel scan signal to the frequency of the environmental signal so that the panel scan signal does not interfere with signals in the environment in which the system is used. Contains means for automatically offsetting the spectrum. This measure effectively eliminates the effects of interfering frequency spectra during touch current detection. A prime example of such an interfering spectrum signal source is the horizontal flyback signal of a CRT display. The frequency of this flyback signal varies from device to device and also changes as the particular device operates. Since the panel scanning frequency is automatically shifted from this interference frequency spectrum, there is no need to specially design different touch panel devices for different expected interference frequency spectra. That is, the touch panel system of the present invention automatically compensates for such frequency variations and does not need to be engineered to avoid interfering frequency spectra. In FIG. 1, a variable frequency signal generator included in signal source 30 produces an output at a frequency controlled by a frequency control signal input to control input 176. In FIG. Specifically, signal source 30 may include a voltage controlled oscillator VOC that outputs a variable frequency signal in response to a signal from automatic frequency control circuit 178. The MPU 108 determines whether to change the drive signal frequency based on the touch current data. In one method, this determination is made by monitoring the required frequency of touch current output nulling adjustments. If the nulling adjustment frequency exceeds a predetermined frequency, the drive frequency is considered to be at a level too close to the frequency of the interference signal. In this case, the MPU 108 controls the automatic frequency control circuit 178 to adjust the frequency of the panel scanning signal output from the signal generator 30. usually,
The initially tuned frequency is relatively high. After selecting an initial operating frequency, updating of the operating frequency is typically done in small increments. Additionally, means are provided for determining the direction in which this frequency should be adjusted, as described below with respect to the flowchart. In FIG. 3, digital frequency control signals are output from output pins 32 to 39 of MPU 108 to bus 104.
and 182 to data input pins 4-11 of DAC 184. DAC184 constitutes a part of the automatic frequency control circuit, and is an AD7524 DAC manufactured by Analog Devices Inc. connected as shown in Figure 3B.
May include. The filter capacitors and bias resistors used in this circuit are listed in Table 1. Input pin 13 of DAC184 is MPU1
It is connected to output pin 16 of 08. Also,
Pin 12 of DAC 184 is connected to decoder 130 via line 186. Under the control of MPU 108 and when input pins 12 and 13 are both logic “0”, DAC 184 outputs pin 4.
-11 data bus input signals.
When the CS input signal becomes a logic "1", the data bus input signal is cut off. Conversely, when the input goes to "1", the DAC 184 retains the data that was last present at the data input when the input signal went to "1". Output pin 1 of DAC 184 is connected to the inverting input of operational amplifier 460. The output of amplifier 460 is connected to feedback pin 16 of DAC 184. 1μF capacitor 46
2 connects between pins 1 and 16 of DAC184,
The non-inverting input of amplifier 460 is grounded. In addition, the output terminal of the amplifier 460 is connected to a 68KΩ resistor 46.
4 to the inverting input of another operational amplifier 466. FM bias end 17 of signal source 30
6a is connected to the amplifier 46 through a 47KΩ resistor 468.
It is connected to the non-inverting input terminal of 6. amplifier 466
The output terminal is the frequency sweep input terminal 176 of the signal source 30.
In addition to being connected to b, it is also connected to its own inverting input terminal via a 10KΩ feedback resistor 470. With the above configuration, the frequency of the signal at the signal source output terminals 36, 70 can be varied in the range of approximately 130 to 230 KHz in accordance with the frequency control signal of the MPU 108. This variable range can be increased or decreased as desired. To protect the touch panel device from excessive current,
MPU 108 constantly monitors the digitized touch current signal. Typical impedance (Z)
Although the touch current signal is specifically monitored for excessive currents, other touch currents may be monitored as well.
When the Z touch current signal exceeds a predetermined value,
OSC.EN from the decoder 130 by the MPU 108.
A signal is sent via line 190 to a control input of a disable switch 192 for signal source 30. When the switch 192 is thereby closed, the pin 10 of the signal source 30 is grounded and the signal output is cut off. At the same time, the panel scanning state normally switches to the off state. This disconnects the panel contacts from the touch detection circuitry and protects the touch processing circuitry from excessive current. The touch current system described above consumes relatively little power (ie, typically less than 3W) to operate. Additionally, the size of the circuit board, number of components used, and cost are reduced. Also, although this entire device is typically a reference device with wide application, offset capacitors 158 and 168 can sometimes be modified to suit the actual environment. Therefore, adjustments by the user are minimal. Also, the multiplexer 52 can be used to connect pins 1 through 6 to each side of the touch-sensitive surface without changing the design. This further expands the versatility of the touch panel device. Touch Current Processing The flowcharts of FIGS. 9-16 illustrate one procedure for operating the touch panel system of FIG. These flowcharts also include procedures for automatic zeroing, automatic frequency control, and processing of digital touch current signals into touch position data. The adaptive filter processing method will be explained with reference to FIGS. 17 and 18. Figure 9 shows the general procedure. Starting with a start block 480 (which may include a reset of the device), starting with an initial frequency block 482.
leading to. Block 482 also corresponds to a subroutine that selects the initial touch panel operating frequency and calls the initial zeroing subroutine. The next block 484 sets X and Y to zero. Also, Z is set to FFh. This FFh is
Shows FF in hexadecimal (255 in decimal). These values correspond to the non-touched state. After this, the device will output X, Y and Z to indicate that this initialization is complete. Then block 4
86, the previous X, Y and Z values (old [X, Y,
[X, Y, Z] is set as Z]). Thereafter, when block 488 is reached, new X, Y and Z values are determined. Block 488 corresponds to the subroutine shown in FIGS. 13 and 14. The process may then proceed to block 489. This block will be described later with reference to FIG. 17, but in this block, variable filter processing is performed to reduce the influence of noise when measuring the touch position.
This noise varies depending on how fast the finger or stylus moves from one touch position to the next. From block 488, processing continues in loops 490 and 49.
5 and 497. These loops determine whether new X, Y, and Z values are accepted as new values when the touch panel device is in a particular mode of operation. More specifically, loop 490 includes decision block 492 that tests whether the device is operating in continuous mode. As discussed above with respect to FIG. 3A, this depends on the setting of control switch 198. if
If YES, the touch panel device searches for changes in the X, Y, and Z values at decision block 494. If there is no change in value (ie, NO), processing continues at block 498. If the value has changed (YES), block 496 indicates the new
Y and Z values are output from the touch panel detection circuit group. The processing means then continues. After processing loop 490, loop 495 evaluates the touch mode if it has been selected by control switch 198. When in this mode, new values are output in response to the first change in the X, Y, and Z values. If the touch panel device is in the touch contact mode, decision block 498 advances to decision block 500. If the old Z value is FFh (not touched) and the new Z value is not equal to FFh, then the panel is touched. In this case, block 4
Proceeding to 96, the new X, Y and Z values are output. Thereafter, from block 496, or from block 50 if no new touch was detected.
Processing continues from 0. Decision block 502 of loop 497 determines whether the touch panel device is in touch release mode. This is determined by the setting of decision switch 198, and if in this mode the touch panel device monitors the first moment the user releases the touch from the touch sensitive surface. In block 504, the old Z value corresponds to the touch state and the new Z value
Determine whether the value of corresponds to the not-touched state. If YES, it means that the touch has been removed from the touch sensitive surface, and the old stored X, Y and Z values are output. These values correspond to the position of the user's finger or stylus away from the touch-sensitive surface. block 50
6 or processing continues from block 504. Block 508 determines whether the signal source 30 has been shut down by the OSC.EN. signal. If a stall condition occurs, block 510 adds an arbitrary delay time (eg, slightly more than 1 second) to allow time to remove the excessive current source. Processing continues after this delay time. Although not shown in FIG. 9, the delay time can be constantly monitored. Furthermore, if the cumulative delay time exceeds a predetermined time, all processing may be stopped. In this case, the MPU 108 is caused by excessive touch current.
The signal source 30 continues to be stopped beyond the predetermined maximum delay time. This means the system needs to be checked. Referring to FIG. 10, the initial frequency subroutine called from FIG. 9 begins at block 512. In block 514, the frequency FREQ.
Defaults to 7Fh. This is the initial frequency sent to DAC 184 for frequency control of signal source 30. This initial value begins approximately at the midpoint of the output range of the DAC 184. Subsequent block 516,
At 518 and 520 certain initial conditions are set. The variable Fconst is initially set to 0. This variable represents the number of scan cycles during which no touch was detected and the scan frequency setting remained constant. The previous value of Fconst, OLDFconst, is initially set to FFh since it is assumed that the frequency is stable. The variable Foffset is also initially set to 0. Also,
The Fmod flag is set to 1. This Fmod flag controls the direction of frequency change. When Fmod=1, the frequency adjustment is in the increasing direction. Fmod=-
When it is 1, it means that the frequency adjustment is in the decreasing direction. Initial zeroing block 5 from block 520
Proceed to step 22. This block is an initial zeroing subroutine that initially sets the X, Y, and Z touch currents to zero. This subroutine will be described later in connection with FIG. Then, at decision block 524, X, Y, and Z
Determine whether the touch current has been sufficiently reduced to zero. This is done by comparing the value of each current to a nulling threshold. If the answer is NO, it means that the initial frequency is too close to the interference frequency spectrum.
For example, the initial frequency is using this device
It may be close to one of the harmonics of the horizontal flyback frequency of a CRT display. In this case, the frequency is increased by large steps (ie, 10 units) at block 526. This is MPU1
08 and automatic frequency control circuit 178. Decision block 528 evaluates whether all frequencies have been tested. If the answer is YES, processing stops at block 530. If all frequencies have not been tested, the process returns from block 528 to block 522 for zeroing the signal. Assume that block 524 determines that the X, Y, and Z touch currents are within the threshold range. In this case, processing proceeds to subloop 532. This subloop evaluates whether the touch current (eg, Z touch current) has been sufficiently constant for a predetermined number of cycles. If constant enough, the initial operating frequency will remain until updated as described below. If the Z touch current is not constant during this cycle, the frequency is increased slightly and the initial frequency selection procedure continues. After all, as a result of selecting the frequency, the Z touch current becomes approximately constant during a period of a predetermined number of measurement samples. This initial frequency subroutine then ends. Specifically, the YES branch from block 524 leads to block 534, where the number of measurement samples COUNT is set. Although any number of measurement samples may be selected, 10 is a preferred example. In block 536, the old impedance touch current
The value of Z is memorized as OLDZ, and the next block 5
At 38 the new impedance touch current Z is measured. Measurement of touch current will be discussed below in connection with FIG. Block 540 compares the absolute value of the difference between old Z and Z to a threshold (ie, 1).
If it is greater than the threshold, proceed to block 542, where the drive frequency FREQ. is increased by a small step (ie, one unit). The subsequent processing is block 5.
Continue to 24. Moreover, if the impedance touch current is constant within this threshold tolerance, block 540 proceeds to block 543, where the value of COUNT is decreased by one. The next block 544 determines whether all measurement samples have been tested. If not, processing returns to block 536. When all tests are completed, the Z touch current or other touch current being evaluated for stability has been sufficiently constant for a period of a predetermined number of measurement samples. After this, the initial operating frequency is determined based on this result. From block 546, processing returns to block 485 of FIG. The initial zeroing subroutine called at block 522 of FIG. 10 begins at block 550 of FIG. This subroutine zeroing procedure selects the zeroing capacitance required to zero each touch current signal. A similar procedure is suitable for the various nulling circuit examples shown in FIGS. 4-8. In block 552, the integrator gain
GAIN is initialized to 0. This corresponds to integration for the longest valid time (for example, about 30 mS). Further, the zeroing control signal NULL is initialized to 0.
The zero control signal is sent from the MPU 108 to the latch 39.
0 (Figure 3A). Also, the final zeroing flag LAST NULL is set to the logical state “false”.
Default to (FALSE). This flag is used when updating subsequent zeroizations. In block 554, the variable BIT is 80h (hexadecimal)
is set to This BIT corresponds to the output of latch 390 and is represented in hexadecimal format. When BIT is set to 80h, the middle value capacitor of the variable range (i.e. 128pF capacitor 414) is selected;
It is connected to the SIG+ scan output terminal 48. Block 5
At 56, the sum of the zeroing control signal NULL and BIT is set to a new NULL. The first time through this loop, the zeroing control signal NULL is equal to 80h.
If the X-touch current is zeroing, then at block 558 the X-touch current is measured according to the subroutine of FIG. Similarly, the Y and Z touch currents are also measured during each nulling. Block 560 determines whether the measured X touch current value (or Y or Z touch current value) is greater than zero. If the answer is YES, SIG
The capacitance connected to the + output terminal will be too large. In this case, from NULL in block 562
The value minus BIT becomes the new NULL. This disconnects the capacitor from the automatic zeroing circuit 150. Assume that the capacitor 414 is coupled to the SIG+ output terminal in the initial state. If the touch current measured at block 560 is not greater than zero, this means that there is not enough capacitance connected to the SIG+ output. In this case, block 564
The value of BIT will be halved. In the next block 566, it is determined whether the value of the halved BIT is 0 or not. If the answer is YES, you have completed the capacitor selection process. The answer is no for the first time.
Processing then returns to block 556. If block 560 determines that the auto-zeroing circuit has insufficient capacitance (i.e., NO), then block 562 is bypassed and then when returning to block 556, capacitors 414 and 412 are both removed from this circuit. Connect to. Processing then continues. Conversely, if block 560 determines that the capacitance of the auto-nulling circuit is too large, then upon returning to block 556 capacitor 414 is removed and capacitor 412 is added. This capacitor selection procedure stops when the total capacitance connected to the SIG+ output causes the value of the nulling touch current to be slightly negative and very close to zero. When the combination of the various capacitors results in BIT=0, block 568 is entered to measure the X, Y and Z touch currents under non-touch conditions. Also, at block 570,
and Z nulling offsets are set equal to these measurements. These measurements correspond to the residual X, Y, and Z touch currents under non-touch conditions after the initial nulling process is completed. These zeroing offsets are used later to determine whether to update the zeroing process. That is, this is a case of determining whether to change the capacitor connected to the zeroing circuit 150 to the SIG+ output terminal 48. Block 570 advances to block 582, and processing continues to block 5 of FIG.
Return to 24. The touch current measurement subroutine of FIG. 12 begins at block 590. Block 592 controls multiplexer 52 to set the device to the desired state for touch current sensing. for example,
During X current detection, connect the SIG+ output terminal to the right side of the panel, and connect the SIG- output terminal to the left side. Block 594 sets the appropriate zeroing state.
In other words, a previously determined capacitor is connected to the SIG+ output using the previously determined setting of latch 390 to detect a particular touch current (ie, the X touch current). Block 596 closes switch 94 (FIGS. 1 and 3) to discharge integration capacitor 90 in preparation for integration. Block 5
At 98, an analog-to-digital (A/D) offset is determined. Specifically, when the integrating capacitor is discharged, ADC100 to 7Eh (median value)
Other outputs may also be generated. The A/D offset is stored and used to compensate for data shifts. In block 600, the integration period is divided by the maximum integration period MAX.TIME to the set gain value gain (for convenience,
GAIN) is a power of 2 (i.e., MAX.TIME/2).
Initially, this gain is 0. However, as will be described later, this gain is adjusted in the position reading subroutine of FIG. In general, to reduce rounding errors, when the touch current is digitized, the ADC
It is desirable to perform integration for the longest period within a range that does not deviate from the output range of 100. In block 602, the value obtained by digitizing the output of the integrating circuit, regardless of whether it is X, Y, or Z, is set as the measured touch current value (VALUE). In block 604, the A/D offset (A/D OFFSET) determined in block 598 is subtracted from this value VALUE to obtain a new value VALUE. Block 606 then toggles multiplexer 52 to turn the switch off. This procedure is repeated for each touch current measured. After the touch current measurement is completed, the process returns from block 608 to the original processing block that called this measurement subroutine. A subroutine that returns new X, Y, and Z values is shown in FIGS. 13 and 14. This subroutine begins at block 610 in FIG. Although not necessary in all cases, the touch current signals are typically averaged and this averaging determines the touch position. Block 612 sets the number of measurement samples to be averaged. This number (N) is set equal to the function f 1 of the set gain GAIN of the integrating circuit (ie, N=f 1 (GAIN)). More specifically, the value of f 1 (GAIN) is equal to 2 when the set gain is 0 or 1, equal to 4 when the set gain is 2 or 3, equal to 8 when the set gain is 4 or 5, Equal to 16 when the set gain is 6 or 7. The selection of this established sample number is determined to effectively remove noise through averaging while maintaining reasonable response times. Other gain functions may also be used if desired. Furthermore, as will be described later with reference to FIG. 18, the number of samples of the touch signal may be adjusted when performing adaptive filter processing. In block 614, an accumulator that accumulates the digitized data of the measured X, Y, and Z touch currents is set to zero. Then block 6
Proceeding to step 16, the Z touch current is measured. Although the X or Y touch current can be measured at this time, the Z touch current is usually measured and evaluated to determine the presence of excessive touch current and also the need for adjustment of the set gain. This measured Z touch current reaches the maximum value MAX. predetermined in block 618.
It is determined whether it is greater than Z. If YES, block 620 checks whether this set gain is the value 0, which corresponds to the shortest integration time. If the set gain is 0, even if the shortest integration time is used, the Z touch current still exceeds the predetermined maximum value, which means that an excessive Z touch current is flowing. In this case, block 621 stops the operation of signal source 30 and also switches off multiplexer 52. Furthermore, the values of X and Y are set equal to the previous values OLDX and OLDY, respectively;
Z is set to 0 to indicate a stop condition. Further, the final zeroing flag LAST.NULL is set to the logical state "FALSE" because it is used for later updating of zeroing. Processing then resumes at block 624. When block 508 of FIG. 9 is reached, a stop condition is indicated and a delay time occurs at block 510. If the set gain GAIN is determined to be non-zero in block 620 of FIG.
It is set to 0 in 22. The subsequent processing is block 6.
Continued from 12. Reaching block 618 again,
If the process proceeds to the YES branch, the set gain is 0, so the process is stopped. However, if the Z touch current is at a predetermined maximum value
If it is less than or equal to MAX.Z, processing proceeds to block 626. Block 626 determines whether the Z touch current is less than the minimum desired value MIN.Z.
If it is smaller, a gain adjustment is performed in subroutine 628. That is, the process proceeds from block 626 to block 630, where the gain GAIN reaches the maximum set gain.
Determined whether it is equal to MAX.GAIN. If they are equal, block 632 sets X, Y, and Z to indicate the untouched state (i.e., X, Y=0, Z=
FFh) are set respectively. In other words, the minute impedance current signal is detected by setting the longest integration period, and can indicate that it has been touched. From block 632, processing continues to an update frequency and nulling offset subroutine 634. After execution of this subroutine, processing returns from block 636. In this processing procedure, the offset update subroutine 634 is not proceeded to unless there is a non-touch condition. Therefore, no frequency and nulling adjustments (i.e., updates) are made when a touch is detected. If it is determined in block 630 that the set gain GAIN is not at the maximum set value, the process proceeds to block 638. Here, the set gain (ie, the integration period) is increased by 1. Also, here, Z is simply set to double (2Z) without re-measuring. Then block 64
At 0, it is checked whether Z is less than the minimum desired value MIN.Z. If Z is small (YES), processing returns to block 630 above. If Z is not smaller (NO), processing returns to block 612 and the touch panel device operates at a different gain setting than before. In block 626, the Z touch current reaches MIN.
If it is determined that the value of Z is not less than the value of Z (if NO), this means that the value of Z
is within the range of , which means that a touch was detected. Block 629 accumulates the measured Z touch currents and measures and accumulates the X and Y touch currents. In block 631, the number of measurement samples N is decreased by one. Thereafter, in block 633, it is determined whether all the measurement samples set in block 612 have been obtained. If all have not yet been obtained (NO), processing continues at block 616. If all the measurement samples are available (YES), the process goes to block 635.
The process then proceeds to block 637 in FIG. after that,
In blocks 639, 641, and 642 of FIG. 14, the cumulative values of X, Y, and Z are adjusted to the offset values of X, Y, and Z initially set in block 570 of FIG. The influence of the X, Y, and Z offset values updated in the subroutine is removed. These offset values (Xoffset, Yoffset, Zoffset) are determined by setting the gain of the integrating circuit to zero. However, X,
The measured values of Y and Z are not necessarily determined by the same set gain. Therefore, in this adjustment, the above offset values (Xoffset, Yoffset, Zoffset) are calculated using two powers (i.e., 2
gain). Furthermore, the total offset value is determined by multiplying this offset value by the total number N of measurement samples within the cumulative range. Therefore MPU108
This compensates for the residual zero offset current. In blocks 644 and 646, the X and Y touch positions (Xp, Yp) are calculated. Further, the impedance value Zp is set to a function f 2 of the gain GAIN and the cumulative value ΣZ of Z. Specifically, f 2
(GAIN, ΣZ) = [(MAX.GAIN-GAIN] x 16) +
[ΣZ/2 6 ]. This function is the base 2 of the set gain.
The value of the logarithm with the base is chosen so that it falls within the gain setting range. Then block 65
0, the final zeroing flag LASTNULL is set to "FALSE" and the process returns to block 652. The zeroing offset and panel drive frequency updating subroutine will be described below with reference to FIG. The subroutine begins at block 660. In block 662, the zero update flag
UPDATE NULL “FALSE” and old Z
Set the value OLDZ equal to the value of Z. At block 664, a determination is made as to whether the immediately previous scan cycle was also a non-touch condition. If YES
If Z, X and Y offset (Zoffset,
Xoffset, Yoffse) are sequentially examined to determine the necessity of updating the offset. In other words, the non-touched state must continue for at least one cycle before performing the zero update. When performing a zero update, the process proceeds to block 66.
4, proceed to block 666. This block 66
6, the Zoffset (Zoffset) is set equal to the function f 1 of Zoffset and the old Z value (OLDZ).
That is, f 1 (Zoffset, OLDZ) − [Zoffse − Zoffset/
2 5 + OLDZ/2 5 ]. Although f 1 could be any other function, this particular function was chosen to filter the offset value. This Zoffset is then evaluated at block 668 to determine if it is greater than the maximum Z offset value MAX.Zoffset. If it is large (YES), it is necessary to adjust the automatic nulling circuit 150 to reduce the capacitance coupled to the SIG+ output terminal. This is done in block 670 by setting the 1-step nulling signal (Znull).
This is done by reducing the Proceed from block 670 to block 672, where Zoffset is set to 0,
Set the update zero flag (UPDATE NULL) to “TRUE”. This flag indicates that a zero update has been executed. Processing of this subroutine then continues at location 674. In block 668, Zoffset is MAX.
If it is determined that it is less than Zoffset, block 6
Proceed to step 76 and Zoffset is set to the minimum Z offset value MIN.
It will be determined whether it is larger than Zoffest. if,
If it is large, the automatic zeroing circuit will generate enough capacitance.
This means that it is not connected to the SIG+ output terminal. Therefore, in block 678, the zero signal (Znull) is 1.
Increases steps and adds capacitance. Block 678 leads to block 672, where the processing of block 672 described above is performed. If block 668 and block 676 both return NO and reach position 674, then this
This means that Zoffset adjustment is not necessary. Xoffset is evaluated using the same method as Zoffset.
Therefore, the blocks corresponding to the blocks mentioned in the case of Zoffset are written with the same number plus a. Similarly, in the case of Yoffset evaluation, each corresponding block is written with the same number plus b. Also, for the function f 1 , as in the case of Zoffset, f 1 (Xoffset, OLDX) − [Xoffset −
Xoffset/2 5 +OLDX/2 5 ] and f 1 (Yof−fset,
OLY)=[Yoffset−Yoffset/2 5 +OLDY/2 5 ]. After the zeroing offset is evaluated and updated as necessary, processing continues at block 680. Block 680 measures the X touch current (12th
(see figure) and set it equal to the old X value (OLDX). Block 682 then measures the Y touch current and sets the value of old Y (OLDY) equal to Y. Block 684 sets the last zero flag (LAST NULL) to "TRUE". Block 686 executes the frequency update subroutine (FIG. 16) described below. After completing this frequency update subroutine, the process proceeds to block 68.
Returned at 8. In the subroutine of FIG. 16, it is determined whether adjustment of the panel drive frequency is necessary. This subroutine begins at block 690 and begins at block 690.
Proceed to 92. Block 692 sets the variable Foffset
, Foffset and zero update flag UPDATE NULL
Set the function f equal to 1 . This function f 1 is useful for evaluating the adjustment frequency of the capacitive load connected to the SIG+ output side by the automatic zeroing circuit. If this nulling occurs too frequently, it means that the touch panel drive frequency is too close to the fixed frequency interference spectrum in the environment. In this case, the driving frequency is adjusted by the MPU 108. As a specific example, f 1 (Foffset, UPDATE
NULL) = [Foffsest−Foffset/2 3 + (16 or 0)]
(However, the third term on the right side is the zero update flag UPDATE
It is 16 when NULL is “true” and 0 when UPDATE NULL is “false”. In block 694,
The variable Foffset is set to the predetermined maximum value of Foffset MAX.
It is determined whether it is greater than Foffset. If it is not large (NO), it means that the execution frequency of zeroing adjustment does not exceed the maximum value. Therefore, in block 696, the variable Fconst is set to Fconst+1.
and processing returns from the next block 698. Therefore, the value of the variable Fconst is updated every time under non-touch conditions unless Foffset exceeds MAX.Foffset. In other words, the variable Focnst
indicates a period during which the panel was not touched and the frequency was sufficiently reduced to zero during the adjustment of the panel drive frequency. In block 694, Foffstet reaches MAX.
If it is determined that it is greater than Foffset, processing proceeds to block 700, where the current Fconst value and the old Fconst value (OLDFconst) are compared. That is, it is determined whether the period during which zero adjustment is not performed is longer at the current operating frequency than at the previous operating frequency. If YES,
It means that the previous frequency change was made in the proper direction. In this case, block 702 sets the value of old Fconst (OLDFconst) equal to the value of Focnst. Conversely, in block 700, if the current drive frequency causes the zero adjustment frequency to be higher than the previous frequency (NO),
Processing continues at block 704. In block 704, the sign of the flag Fmod is reversed to change the next frequency change in the direction opposite to the frequency change direction of the previous error. Then, after processing block 702, the process proceeds to block 706, where Fconst and
Set to 0 along with Foffset. Furthermore, block 7
In 08, X, Y and Z offset (offset [X,
Y, Z]) are all set to 0. Block 710 also adjusts the frequency FREQ. by one step Fmod in the appropriate direction. Then block 7
From step 12, this subroutine returns to FIG. The predetermined X-Y coordinates may be utilized by the user's computer 114 (FIG. 1) in any suitable manner. For example, a subroutine may be called in response to a touch at a specific location. Also, as is clear from the above description, the touch position may be determined continuously by sliding it over a touch-sensitive surface. The computer 11 performs this continuous touch position determination method.
4 may be used to trace an image on the display terminal screen 14, for example. Figures 9 to 1
The procedure shown in the flowchart of FIG. 6 may also be applied to other scanning directions. That is, the present invention is not limited to the above-described processing procedure. Adaptive Filtering A method has been devised to substantially improve the accuracy of touch position measurements by applying adaptive filtering techniques to touch panel systems. Generally, this technique adjusts the filtering of the touch signal depending on the speed of movement of the touch on the touch-sensitive surface. More specifically, the degree of filtering of the present invention is adjusted in inverse proportion to the speed of movement of the touch position. That is, when the moving speed is 0 or low, the area blocked by the filter process becomes wider, and as the moving speed increases, the area blocked by the filter becomes narrower. As a result,
Fluctuations in the measured values due to noise, which are particularly important at low travel speeds, are effectively eliminated.
In contrast, higher frequency touch signal components related to movement of the user's finger or stylus are preserved. Preservation of this high frequency component can improve the accuracy of measuring touch position as the user's finger or stylus is moved over the touch-sensitive surface. As a first method of adaptive filtering, dynamic filter 85 of FIGS. 1 and 3 may be used. The processing of the filter 85 is adjusted in response to a filter control signal (FILT.) inputted to the decoder 130 via the line 87 based on the signal from the MPU 108 . As a specific example, filter 85 may be a digitally controlled capacitance switching type dynamic low pass filter. The allowable pass band of the touch signal of such a filter is designed to range from a low frequency of approximately 0 to 1 Hz to a variable level of a higher frequency. When measuring touch position, the low frequency component of the touch signal is important when the touch position is constant or when the finger or stylus moves very slowly. Conversely, as the speed of finger or stylus movement increases, the high frequency components of the touch signal become more important. Therefore,
As the speed of movement of the touch position increases, the filter control signal causes the cutoff frequency of filter 85 to increase. Examples of filters suitable for such applications include model RF5609A and model
There is a RF5613A capacitance switching type low pass filter. This filter 85 may be inserted between the amplifier and filter circuit 80 and the integrator circuit 86 as shown, or alternatively between the integrator circuit 86 and the transformer 4.
It may be placed at any other position between the center tap 60 of 4. Also, instead of analog adaptive filter technology,
According to the invention, a digital adaptive filtering method may be used. Again, with this filtering,
Filtering range (area removed) as the speed of movement of the touch position on the touch-sensitive surface decreases
is expanded. In FIG. 9, the location where this digital filtering is applied is indicated by block 489. Regarding this filter processing method, the 17th
This is shown in detail in the figure. In general, processing proceeds from filter start block 489 to reset block 720 in FIG. This selection block resets the adaptive filter to either no filtering or a minimum filtering range when the touch-sensitive surface is touched for the first time after a predetermined period of inactivity. , processing proceeds to block 492 of FIG. If the filter is not reset, processing continues at block 724 where the speed of movement of the touch location is measured. This speed of movement is determined by calculating the absolute value of the distance between the last measured touch position and the current touch position. Although this is not a necessary requirement, consider the case where touch position measurements are performed periodically at regular time intervals. In this case, the interval between successively measured touch positions immediately represents the moving speed. If an orthogonal (X-Y) coordinate system is provided on the touch-sensitive surface, the distance D can be calculated using the following well-known formula. D=√(-1) 2 +(-1) 2In this formula, x and y represent the X and Y coordinates of the current touch position, and o1dx and o1dy represent the X and Y coordinates of the previously measured touch position. It represents the coordinates. Depending on the moving speed of the touch position, the block 72
6, the touch signal information based on the touch signal is properly filtered. Generally, the range of filter processing can be varied by providing a plurality of moving speed ranges, and the digital touch signal is filtered within a predetermined range for each moving speed range. That is, the range of such filter processing (range that is blocked) becomes narrower as the moving speed changes from low speed to high speed. This digital filter has a cutoff frequency Fc=
Let us assume that it is equivalent to a single pole low pass filter with 1/2πRC. In this case, this digital filter is expressed by the following equation. Out=Out・(1−K)+K・In Here, K=1−e−2πFc/Fs, where Fc is the cutoff frequency and Fs is the sampling frequency. In this equation, if K is controlled, the processing of the digital filter can be changed appropriately. In this case, the MPU 108 controls the filter control coefficient Ki
A table of (i=1, 2, . . . , n) is stored. Ki
Each value corresponds to each range of the calculated distance (traveling speed), and there are n calculated distance ranges.The MPU 108 displays the filter control coefficient Ki corresponding to the calculated distance D. , modify the touch position measurements as a function of the selected Ki, and filter the digital touch signal. MPU 108 modifies the touch position measurements according to a number of different formulas. According to these equations, as the speed of movement increases, the level of filtering decreases, and this modification follows, for example: X=oldX(1-Ki)+Ki・X Y=oldY(1-Ki)+Ki・Y Here, oldX and oldY are the X and Y coordinates of the previously measured touch position, and X and Y are the new touch position. These are the corrected X and Y coordinates. As a specific example of a table of filter control coefficients Ki, values in the following table may be used to obtain desired results.

【表】 ここで、Dは前回測定されたタツチ位置とその
後に測定されたタツチ位置との間の距離の絶対値
である。 タツチ位置の測定値を修正後、処理ブロツク
726からブロツク492へ戻り、後の処理を継続す
る。 上記応用例で使用したデジタル・フイルタは、
好適な無限インパルス応答形(IIR)フイルタの
例である。単極フイルタで充分であるが、所望に
より多極フイルタ及び多数のデジタル等価式を使
用することも可能である。 第17図にも示すように、動的アナログ・フイ
ルタ85を使用した場合、ブロツク724で移動速
度を測定後、処理はブロツク730に進み、フイル
タ85は調整される。この調整はフイルタ制御信
号によつて行われ、フイルタ処理は所望のレベル
に変更される。このフイルタ処理は、デジタル・
フイルタ処理の場合に説明したのと同様に調整さ
れる。 別の適応フイルタ処理の方法として、タツチ位
置の測定の際の平均化処理されるサンプル数を移
動速度に応じて変化させることも出来る。例え
ば、移動速度が低速の場合、平均化処理されるサ
ンプル数は増加される。反対に、移動速度が高く
なるにつれて、平均化処理されるサンプル数は減
少される。この移動速度は、ブロツク724に関連
して前述したのと同様にして計算することが出来
る。しかし、平均化処理されるサンプル数を変化
することによつて、タツチ位置の測定間隔を調整
することが出来る。即ち、より多くのサンプルを
取り込む程、タツチ位置の測定間隔はより長くな
る。この結果、タツチ位置の移動速度は、計算さ
れた距離Dに直接対応しなくなる。しかし普通の
状態では、この距離Dは移動速度に十分に対応し
ていると考えられるので、平均化処理をするサン
プル数を変化させたとしても、距離Dを移動速度
として使用する事が可能である。 特定実施例として第18図を参照する。取り込
みサンプル数を設定する第13図のブロツク61
2は第18図に示すように修正することが出来
る。即ち、タツチ位置の移動速度が測定され、こ
の測定値からKの値が選択される。上述のよう
に、Kの値を選択するのにルツク・アツプ・テー
ブルを使用しても良い。その後、サンプル数Nを
1/Dに比例するように調整する。(Dは連続的
に測定されたタツチ位置間を距離である。)換言
すれば、この距離Dが長くなればサンプル数Nが
減少する。特定の実施例として、サンプル数Nを
以下の式のように設定することも出来る。 N=[f1(GAIN)(1/K)] ここで、f1(GAIN)は第13図のブロツク6
12に関して述べた関数である。タツチ位置の測
定の際に平均化するサンプル数を適宜変化させる
方法は、有限インパルス応答フイルタを使用する
のと同等である。 同様に、サンプル数を変更するのではなく、サ
ンプルの平均重みをタツチ位置の移動速度と関数
として変化させることも出来る。即ち、移動速度
が増加すると、その後のサンプルは以前のサンプ
ルより高い重み付けがされる。反対に、使用者の
指又はスタイラスがタツチ感応表面上で止まつて
いる場合には、各サンプルの重み付けは一定とな
り、1に設定しても良い。 以上の適応フイルタの用いた方法によつて、タ
ツチ位置の測定が改善された。即ち使用者の指又
はスタイラスが止まつている時、タツチ位置の測
定値に対するノイズの影響を最少にすることが出
来る。その上、使用者の指又はスタイラスがタツ
チ感応表面上を素早く移動した場合にもタツチ位
置の重要な情報を失うことがなくなる。
[Table] Here, D is the absolute value of the distance between the previously measured touch position and the subsequently measured touch position. After correcting the measured value of the touch position, the processing block
726 returns to block 492 to continue processing. The digital filter used in the above application example is
1 is an example of a suitable infinite impulse response (IIR) filter. Although a single pole filter is sufficient, it is also possible to use multipole filters and multiple digital equivalents if desired. If dynamic analog filter 85 is used, as also shown in FIG. 17, after measuring the speed of movement at block 724, processing continues at block 730, where filter 85 is adjusted. This adjustment is made by a filter control signal, which changes the filtering to the desired level. This filtering process is a digital
Adjustments are made in the same way as described for filter processing. As another adaptive filter processing method, the number of samples to be averaged when measuring the touch position can be changed depending on the moving speed. For example, if the moving speed is slow, the number of samples to be averaged is increased. Conversely, as the moving speed increases, the number of samples to be averaged decreases. This speed of movement can be calculated in a manner similar to that described above in connection with block 724. However, by changing the number of samples to be averaged, the measurement interval of the touch position can be adjusted. That is, the more samples taken, the longer the touch position measurement interval becomes. As a result, the moving speed of the touch position no longer directly corresponds to the calculated distance D. However, under normal conditions, this distance D is considered to sufficiently correspond to the moving speed, so even if the number of samples to be averaged is changed, it is possible to use the distance D as the moving speed. be. Reference is made to FIG. 18 for a specific example. Block 61 in Figure 13 for setting the number of acquired samples.
2 can be modified as shown in FIG. That is, the moving speed of the touch position is measured, and the value of K is selected from this measured value. As mentioned above, a lookup table may be used to select the value of K. Thereafter, the number of samples N is adjusted to be proportional to 1/D. (D is the distance between successively measured touch positions.) In other words, as this distance D becomes longer, the number of samples N decreases. As a particular embodiment, the number of samples N can also be set as follows. N=[f1(GAIN)(1/K)] Here, f1(GAIN) is block 6 in Figure 13.
This is the function described with respect to No. 12. The method of appropriately changing the number of samples to be averaged when measuring the touch position is equivalent to using a finite impulse response filter. Similarly, rather than changing the number of samples, the average weight of the samples can be changed as a function of the speed of movement of the touch position. That is, as the speed of movement increases, subsequent samples are weighted higher than earlier samples. Conversely, if the user's finger or stylus is resting on the touch-sensitive surface, the weighting of each sample will be constant and may be set to 1. The method using the adaptive filter described above improves the measurement of touch position. That is, when the user's finger or stylus is stationary, the influence of noise on the measured value of the touch position can be minimized. Furthermore, important information about the touch location is not lost when the user's finger or stylus moves quickly over the touch-sensitive surface.

【表】 以上、本発明の原理についていくつかの好適実
施例を用いて説明したが、本発明の要旨を変更す
ることはなく、種々の変形及び変更が可能である
ことは当業者に明らかであろう。 [発明の効果] 上述のように、適応フイルタ処理技術を利用す
ることにより、タツチ位置の移動速度の増加又は
減少に応じて適宜タツチ信号を処理する低減通過
フイルタの遮断周波数を上げる又は下げるように
夫々調整するので、タツチ位置の移動速度が低速
の時にはタツチ位置の測定値の変動の原因になる
ノイズを除去するように低域通過フイルタの遮断
周波数を下げて遮断領域を広くし、タツチ位置の
移動速度が増加するにつれて遮断周波数を上げて
遮断領域を狭くして精度を維持するのに必要な情
報を確保し得る。従つて、タツチ位置の測定値に
対するノイズの影響を最少にし、且つタツチ位置
の移動速度に応じて最適の情報が得られるので、
タツチ位置の測定精度及び信頼性を格段に向上し
たタツチ位置測定方法及びタツチパネル装置を実
現出来る。
[Table] Although the principle of the present invention has been explained above using several preferred embodiments, it is clear to those skilled in the art that various modifications and changes can be made without changing the gist of the present invention. Probably. [Effects of the Invention] As described above, by using the adaptive filter processing technology, the cutoff frequency of the reduced pass filter that processes the touch signal can be increased or decreased as appropriate in response to an increase or decrease in the moving speed of the touch position. Since the movement speed of the touch position is slow, the cutoff frequency of the low-pass filter is lowered and the cutoff area is widened to remove noise that causes fluctuations in the measured value of the touch position. As the speed of movement increases, the cutoff frequency may be increased to narrow the cutoff region to ensure the information necessary to maintain accuracy. Therefore, the influence of noise on the measured value of the touch position can be minimized, and optimal information can be obtained according to the moving speed of the touch position.
It is possible to realize a touch position measuring method and a touch panel device with significantly improved touch position measurement accuracy and reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明によるタツチパネル装置全体の
ブロツク図、第2図は第1図のマルチプレクサ5
2及びタツチパネル16を詳細に示す回路図、第
3A図及び第3B図は第1図から第2図の部分を
除いた部分を詳細に表す回路図、第4図乃至第8
図は第1図及び第3A図の自動零化回路150の
他の実施例を夫々示す回路図、第9図は第1図の
MPUの全体的処理を示す流れ図、第10図は初
期パネル走査周波数を決定する処理手順を示す流
れ図、第11図は初期零化処理手順を示す流れ
図、第12図はタツチ電流信号の測定処理手順を
示す流れ図、第13図及び第14図はタツチ位置
を測定する処理手順を示す流れ図、第15図は非
タツチ状態時にタツチ電流信号を零化する処理手
順を示す流れ図、第16図はパネル走査信号の周
波数を変更する処理手順を示す流れ図、第17図
は、本発明によるフイルタ処理手順を示す流れ
図、第18図は、本発明の為に修正したタツチ位
置測定の際のサンプル数の設定ブロツクの流れ図
である。 18:タツチ感応表面、56:タツチ信号処理
手段、85:フイルタ処理手段(動的フイルタ)、
108:調整手段(MPU)。
Fig. 1 is a block diagram of the entire touch panel device according to the present invention, and Fig. 2 shows the multiplexer 5 of Fig. 1.
2 and the touch panel 16; FIGS. 3A and 3B are circuit diagrams showing the parts of FIG.
The figures are circuit diagrams showing other embodiments of the automatic zeroing circuit 150 of FIGS. 1 and 3A, respectively, and FIG. 9 is a circuit diagram of the automatic zeroing circuit 150 of FIG.
A flowchart showing the overall processing of the MPU. Fig. 10 is a flowchart showing the processing procedure for determining the initial panel scanning frequency. Fig. 11 is a flowchart showing the initial zeroing processing procedure. Fig. 12 is a flowchart showing the processing procedure for measuring the touch current signal. 13 and 14 are flowcharts showing the processing procedure for measuring the touch position, Fig. 15 is a flowchart showing the processing procedure for zeroing out the touch current signal in the non-touch state, and Fig. 16 is a flowchart showing the processing procedure for measuring the touch position. FIG. 17 is a flowchart showing a processing procedure for changing the frequency of a signal. FIG. 17 is a flowchart showing a filter processing procedure according to the present invention. FIG. 18 is a block for setting the number of samples during touch position measurement modified for the present invention. This is a flowchart. 18: touch sensitive surface, 56: touch signal processing means, 85: filter processing means (dynamic filter),
108: Adjustment means (MPU).

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 タツチ感応表面上のタツチに応じてタツチ信
号を発生する手段と、上記タツチ信号から上記タ
ツチ感応表面上のタツチ位置を測定する信号処理
手段とを有するタツチパネル装置のタツチ位置測
定方法において 上記タツチ感応表面上のタツチ位置の移動速度
を測定し、 上記タツチ位置の移動速度の増加又は減少に応
じて上記タツチ信号を処理する低域通過フイルタ
の遮断周波数を上げる又は下げるように夫々調整
することを特徴とするタツチ位置測定方法。 2 タツチ感応表面上のタツチに応じてタツチ信
号を発生する手段と、上記タツチ信号から上記タ
ツチ感応表面上のタツチ位置を測定する信号処理
手段とを有するタツチパネル装置において、 上記タツチ信号をフイルタ処理する低域通過フ
イルタ手段と、 上記タツチ感応表面上のタツチ位置の移動速度
の増加又は減少に応じて上記低域通過フイルタ手
段の遮断周波数を上げる又は下げるように夫々調
整する調整手段とを具えることを特徴とするタツ
チパネル装置。
[Scope of Claims] 1. Touch position of a touch panel device having means for generating a touch signal in response to a touch on a touch-sensitive surface, and signal processing means for determining a touch position on the touch-sensitive surface from the touch signal. The measuring method includes measuring the speed of movement of the touch position on the touch-sensitive surface, and increasing or decreasing the cutoff frequency of a low-pass filter processing the touch signal according to an increase or decrease in the movement speed of the touch position. A touch position measuring method characterized by adjusting each touch position. 2. A touch panel device comprising means for generating a touch signal in response to a touch on a touch-sensitive surface, and signal processing means for measuring a touch position on the touch-sensitive surface from the touch signal, wherein the touch signal is filtered. comprising low-pass filter means and adjustment means for adjusting the cut-off frequency of the low-pass filter means to increase or decrease, respectively, in response to an increase or decrease in the speed of movement of the touch position on the touch-sensitive surface. A touch panel device featuring:
JP63122968A 1987-06-04 1988-05-19 Touch position measuring method and touch panel device Granted JPS63304313A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US5832087A 1987-06-04 1987-06-04
US058320 1987-06-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63304313A JPS63304313A (en) 1988-12-12
JPH0477929B2 true JPH0477929B2 (en) 1992-12-09

Family

ID=22016092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63122968A Granted JPS63304313A (en) 1987-06-04 1988-05-19 Touch position measuring method and touch panel device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63304313A (en)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09325860A (en) * 1996-06-04 1997-12-16 Alps Electric Co Ltd Coordinate input device
JPH11184630A (en) 1997-12-22 1999-07-09 Nec Corp Liquid crystal display device provided with touch panel
JP2004287473A (en) * 2001-10-30 2004-10-14 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Information processor and program
JP4564904B2 (en) * 2005-08-29 2010-10-20 パイオニア株式会社 Coordinate position detection apparatus, control method therefor, and control program
JP4820267B2 (en) * 2006-10-23 2011-11-24 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Signal conversion method, speed signal conversion device, and touch panel type input device
US8975900B2 (en) 2010-04-08 2015-03-10 Disney Enterprises, Inc. System and method for sensing human activity by monitoring impedance
JP5490828B2 (en) * 2012-01-10 2014-05-14 シャープ株式会社 Linear system coefficient estimation method, integrated circuit using the same, touch panel system, and electronic device
JP5854928B2 (en) 2012-05-25 2016-02-09 京セラ株式会社 Electronic device having touch detection function, program, and control method of electronic device having touch detection function
JP5845204B2 (en) 2013-03-29 2016-01-20 株式会社ジャパンディスプレイ Electronic device and control method of electronic device
JP6082799B2 (en) * 2015-11-16 2017-02-15 株式会社ジャパンディスプレイ Electronic device, detection circuit control method, and detection circuit

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6029964B2 (en) * 1982-01-25 1985-07-13 日本電信電話株式会社 Coordinate detection device
JPS6189717A (en) * 1984-10-08 1986-05-07 Sony Corp Touch panel type control data input device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63304313A (en) 1988-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0448247B2 (en)
JPH0448245B2 (en)
JPH0448246B2 (en)
US5053757A (en) Touch panel with adaptive noise reduction
JPS62222328A (en) Decision of touch position and touch panel apparatus
AU718499B2 (en) Reduced noise touch screen apparatus and method
US10318066B2 (en) Capacitive-based touch apparatus and method with reduced interference
EP2013694B1 (en) Multipoint touch surface controller
US7920134B2 (en) Periodic sensor autocalibration and emulation by varying stimulus level
US4623757A (en) Method and apparatus for electronic touch mapping
US20070074913A1 (en) Capacitive touch sensor with independently adjustable sense channels
US9092100B2 (en) Multitouch touch-sensitive device with multifrequency capacitive detection
JPH0231218A (en) Position measuring apparatus for touch panel system
WO2015102977A1 (en) Capacitive touch systems and methods using differential signal techniques
KR20070011224A (en) Anisotropic Touch Screen Devices
WO2004019258A2 (en) Method and apparatus of position location
EP0712090B1 (en) Touch sensor input system for a computer display
JPH0477929B2 (en)
TW201530406A (en) Touch panels for wide aspect ratio applications
JP2000047808A (en) Capacitance coordinate detection device that also serves as pressure detection
JP4608328B2 (en) Coordinate detection device and signal processing method for coordinate detection in coordinate detection device
JP3864306B2 (en) Touch panel device
JPS61250719A (en) Touch panel unit