JPH0516635B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0516635B2 JPH0516635B2 JP60183245A JP18324585A JPH0516635B2 JP H0516635 B2 JPH0516635 B2 JP H0516635B2 JP 60183245 A JP60183245 A JP 60183245A JP 18324585 A JP18324585 A JP 18324585A JP H0516635 B2 JPH0516635 B2 JP H0516635B2
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- JP
- Japan
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- control program
- card
- memory
- terminal
- cpu
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はICカードの試験方法に関し、特に
その制御プログラムの開発効率の向上に関するも
のである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an IC card testing method, and particularly to improving the efficiency of developing a control program for the test method.
ここでICカードとは、従来の磁気ストライプ
付カードに代わつて用いられるものであり、カー
ドの基体内にメモリICやCPUその他の半導体片
を内蔵し、従来の磁気ストライプ付カードに比べ
て数桁以上の大容量の記憶能力を持たせることが
できるほか、任意の演算機能を持たせることがで
きるものである。
Here, an IC card is used in place of a conventional card with a magnetic stripe, and has a memory IC, CPU, and other semiconductor pieces built into the base of the card, and is several orders of magnitude larger than a conventional card with a magnetic stripe. In addition to being able to have the above-mentioned large-capacity storage capacity, it can also be provided with arbitrary arithmetic functions.
このようなICカードにおいて、それを動作さ
せるための制御プログラムは、通常、CPU，
ROM等を有するワンチツプマイコン上にマスク
ROM化されている。 The control program for operating such an IC card is usually a CPU,
Masked on one-chip microcontroller with ROM etc.
It has been converted into ROM.
このように、従来のＩカードにおいては、その
制御プロクラムをワンチツプマイコン上にマスク
ROM化するようにしているので、該制御プログ
ラムの修正等は実際上不可能である。従つて所望
の目的に達成するためのICカードの開発段階に
おいて、その制御プログラムの開発デバツク効率
が非常に悪いという問題があつた。
In this way, in conventional I cards, the control program is masked on the one-chip microcontroller.
Since the control program is stored in ROM, it is practically impossible to modify the control program. Therefore, at the stage of developing an IC card to achieve a desired purpose, there has been a problem in that the development and debugging efficiency of its control program is extremely low.
この発明は、かかる従来の問題を解消するため
になされたもので、制御プログラムの開発デバツ
ク効率を向上することのできるICカードの試験
方法を提供することを目的としている。 The present invention has been made to solve these conventional problems, and an object of the present invention is to provide an IC card testing method that can improve the efficiency of developing and debugging control programs.
この発明に係るICカードの試験方法は、ICカ
ードのモジユール基板上にメモリを直接アクセス
できるよう端子を設け、この端子を介して上記メ
モリに外部より制御プログラムを書込み、その制
御プログラムでICカードを動作させるようにし
たものである。
The IC card testing method according to the present invention includes providing a terminal on the module board of the IC card so that the memory can be directly accessed, writing a control program to the memory from the outside through this terminal, and operating the IC card using the control program. It was designed so that
この発明においては、ICカードのメモリの一
部を制御プログラム領域として使用し、該領域内
にモジユールの状態で外部から書込まれた制御プ
ログラムで動作及びその確認を行なうから、制御
プログラムの修正等が容易になり、開発デバツク
効率が向上する。
In this invention, a part of the memory of the IC card is used as a control program area, and since the control program written in the form of a module from the outside is used to operate and check the area, it is not necessary to modify the control program, etc. This makes development and debugging easier and improves development and debugging efficiency.
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第１図は本発明の一実施例によるICカードの試
験方法を実施するための構成を示す摸式図であ
り、図において、１はモジユール基板、２はこの
基板１上に搭載されたCPU、３は同様に基板１
上に搭載されたEPROM、EEPROM等のメモリ、
４は上記CPU２、メモリ３間に設けられたアド
レス・バス，データ・バス，コントロールバスを
含む信号線、５は各信号線４に接続して設けら
れ、上記メモリ３の一部領域に外部から制御プロ
グラムを書込むための端子、６は基板１の外部接
続端子、７は上記メモリ３に制御プログラムを書
込み、又は修正するためのPROMライタである。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration for implementing an IC card testing method according to an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a module board, 2 is a CPU mounted on this board 1, 3 is the substrate 1 as well.
Memory such as EPROM, EEPROM, etc. installed on the
4 is a signal line including an address bus, a data bus, and a control bus provided between the CPU 2 and the memory 3; 5 is a signal line connected to each signal line 4; A terminal for writing a control program, 6 is an external connection terminal of the board 1, and 7 is a PROM writer for writing or modifying the control program in the memory 3.
次に本実施例の試験方法について説明する。 Next, the test method of this example will be explained.
まず、PROMライタ７の出力を基板１上に設
けられた各端子５に接続する。この状態でメモリ
３はCPU２と切り離され、PROMライタ７と接
続される。そして第２図で示すように、上記メモ
リ３の一部を制御プログラム領域３ａとして使用
し、この領域３ａに上記PROMライタ７により
本ICカードの制御プログラムを直接書込む。そ
してプログラムの書込みが完了すれば、メモリ３
とPROMライタ７とを切り離す。この状態で、
メモリ３は再びCPU２と接続される。 First, the output of the PROM writer 7 is connected to each terminal 5 provided on the board 1. In this state, the memory 3 is disconnected from the CPU 2 and connected to the PROM writer 7. As shown in FIG. 2, a part of the memory 3 is used as a control program area 3a, and the control program for the IC card is directly written into this area 3a by the PROM writer 7. When the program writing is completed, memory 3
and PROM writer 7 are separated. In this state,
Memory 3 is connected to CPU 2 again.
次に本ICカードをカード読取り装置に装着し、
上記メモリ３に書込まれた制御プログラムに従
つて、CPU２、メモリ３のデータ領域３ｂを用
いて所定の動作を行なわせる。 Next, this IC card is inserted into the card reading device, and according to the control program written in the memory 3, the CPU 2 and the data area 3b of the memory 3 are used to perform a predetermined operation.
そして動作等に不具合があり、制御プログラム
を修正する必要がある場合は、図示しないプログ
ラム開発装置により該制御プログラムのデバツク
を行ない、この修正されたプログラムを再び前述
の如くPROMライタ７を用いて上記メモリ３の
制御プログラム領域３に書込む。 If there is a problem with the operation or the like and it is necessary to modify the control program, the control program is debugged using a program development device (not shown), and the modified program is rewritten using the PROM writer 7 as described above. Write to control program area 3 of memory 3.
このような本実施例では、基板１上のメモリ３
と直接アクセスできるような端子５を設け、この
端子５を介してメモリ３に制御プログラムを書込
み、これにより動作及びその確認を行なうように
したので、制御プログラムの修正を簡単に行なう
ことができ、該制御プログラムの開発デバツク効
率を著しく向上できる。 In this embodiment, the memory 3 on the board 1
A terminal 5 is provided that allows direct access to the terminal 5, and the control program is written to the memory 3 through this terminal 5, and the operation and confirmation thereof are performed thereby.The control program can be easily modified, and the control program can be easily modified. The efficiency of developing and debugging control programs can be significantly improved.
以上のように、本発明によれば、基板上にメモ
リを直接アクセスできる端子を設け、この端子を
介して外部より上記メモリの一部領域に制御プロ
グラムを書込み、該制御プログラムでICカード
の動作及びその確認を行なうようにしたので、制
御プログラムの修正を容易に行なうことができ、
ICカードの開発過程における制御プログラムの
デバツク効率を向上できる効果がある。
As described above, according to the present invention, a terminal is provided on the board that allows direct access to the memory, a control program is written into a partial area of the memory from the outside via this terminal, and the control program controls the operation of the IC card. Since this is confirmed, the control program can be easily modified.
This has the effect of improving the debugging efficiency of control programs during the development process of IC cards.
第１図は本発明の一実施例によるICカードの
試験方法を説明するための構成図、第２図はメモ
リの内容を示す図である。
２……CPU、３……メモリ、４……信号線、
５……端子、７……PROMライタ。なお図中同
一符号は同一又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram for explaining an IC card testing method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the contents of a memory. 2...CPU, 3...Memory, 4...Signal line,
5...Terminal, 7...PROM writer. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.
Claims (1)
有してなるICカードの試験方法において、 上記ICカードは制御プログラムを書込むため
のメモリ及び端子を有し、 上記メモリに上記端子を介して制御プログラム
を書込み、 該制御プログラムに従つてICカードの動作及
びその確認を行なうことを特徴とするICカード
の試験方法。[Scope of Claims] 1. A test method for an IC card having an IC module including a CPU in a card base, wherein the IC card has a memory and a terminal for writing a control program, and the above-described information is stored in the memory. A method for testing an IC card, comprising writing a control program through a terminal, and operating the IC card and confirming the operation according to the control program.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60183245A JPS6243789A (en) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Method for testing ic card |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60183245A JPS6243789A (en) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Method for testing ic card |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6243789A JPS6243789A (en) | 1987-02-25 |
| JPH0516635B2 true JPH0516635B2 (en) | 1993-03-04 |
Family
ID=16132314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60183245A Granted JPS6243789A (en) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Method for testing ic card |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6243789A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01131980A (en) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Method for inspecting ic card |
| JP2552757Y2 (en) * | 1991-04-30 | 1997-10-29 | 三菱農機株式会社 | Rotary tilling equipment |
-
1985
- 1985-08-20 JP JP60183245A patent/JPS6243789A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6243789A (en) | 1987-02-25 |
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