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JPH0518149B2 - - Google Patents
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JPH0518149B2 - - Google Patents

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JPH0518149B2
JPH0518149B2 JP59111945A JP11194584A JPH0518149B2 JP H0518149 B2 JPH0518149 B2 JP H0518149B2 JP 59111945 A JP59111945 A JP 59111945A JP 11194584 A JP11194584 A JP 11194584A JP H0518149 B2 JPH0518149 B2 JP H0518149B2
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JP
Japan
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wiring
pattern
holes
wiring pattern
conductor width
Prior art date
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JP59111945A
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Inventor
Masaru Hiraoka
Nobuo Arai
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Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Computer Engineering Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、印刷配線基板のパターンレイアウ
ト装置に用いられる高密度印刷配線方法に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a high-density printed wiring method used in a pattern layout apparatus for printed wiring boards.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

近年、印刷配線板の高密度化に対する要求が高
まつている。そこで、印刷配線の高密度化を図る
ために、次の2つの方法が考えられている。
In recent years, there has been an increasing demand for higher density printed wiring boards. Therefore, the following two methods have been considered in order to increase the density of printed wiring.

信号線の導体幅を細くすることにより、1格
子間(例えば0.1インチ)に配設可能な最大信
号線数を増やす。
By narrowing the conductor width of the signal lines, the maximum number of signal lines that can be arranged in one grid interval (for example, 0.1 inch) is increased.

ランダムスルーホールのランド径を小さくす
ることにより、1格子間に配設可能な最大信号
線数を増やす。
By reducing the land diameter of random through holes, the maximum number of signal lines that can be arranged between one grid is increased.

しかし、このような方法を適用して作られる印
刷配線板には、高度な製造技術が要求されるラン
ド径の小さなランダムスルーホールや導体幅の細
い信号線(以下配線パターンと称す)が極めて多
数存在し、クリアランスも厳しいものに設定され
ているため、印刷配線の高密度化は図れるものの
製造歩留りの低下を招く欠点があつた。このた
め、上記,の方法を採用したDA(Design
Automaion)プログラムによる自動配線では、
配線処理のステツプに続く不要スルーホール削除
処理のステツプにより、配線時にランダム配置さ
れたランダムスルーホールを、配線パターンの経
路改善によつて極力削減することが考慮されてい
る。しかしながら、このようにしても、ランダム
径の小さなランダムスルーホールは多数存在す
る。
However, printed wiring boards made using this method have an extremely large number of random through holes with small land diameters and signal lines with narrow conductor widths (hereinafter referred to as wiring patterns) that require advanced manufacturing technology. Although it is possible to increase the density of printed wiring, it has the disadvantage of lowering manufacturing yield. For this reason, DA (Design
Automation) In automatic wiring using the program,
The step of removing unnecessary through holes, which follows the step of wiring processing, is designed to reduce as much as possible random through holes randomly placed during wiring by improving the route of the wiring pattern. However, even in this case, there are many random through holes with small random diameters.

そこで、特願昭58−201309号、特願昭58−
138842号に示されるような高密度印刷配線方法に
より、自動配線処理に続く不要スルーホールの削
除処理、ランドの大径化処理等により、配線時に
ランダム配置されたランダムスルーホールを、配
線パターンの線路改善によつて極力削減すること
や、第1図に示すようなグリツドオフセツト(配
線時には点線で示す幅をもつて処理され、実線で
示す幅までのオフセツト値がデータベースに記憶
される。製造資料(例えば作画テープ)の作成時
には、オフセツト値が加味されて実線の径路に配
線パターンが設置される)、更には第2図に示す
ようなベンデイング(配線時には点線幅で処理さ
れ、後処理で実線のように径路変更される)によ
り、クリアランスを改善することが考慮されてい
る。
Therefore, Japanese Patent Application No. 58-201309,
Using the high-density printed wiring method shown in No. 138842, random through holes randomly placed during wiring can be used to create lines in the wiring pattern by automatically wiring, removing unnecessary through holes, increasing the diameter of lands, etc. It is important to reduce grid offset as much as possible through improvements, as shown in Figure 1 (during wiring, the width shown by the dotted line is processed, and the offset value up to the width shown by the solid line is stored in the database. When creating materials (for example, drawing tape), the offset value is taken into account and the wiring pattern is placed along the solid line path. The route is changed as shown by the solid line) to improve clearance.

しかしながら、このような処理を行なつても導
体幅の細い配線パターンは多数存在し、製造歩留
りの実質的な低下は避けられなかつた。
However, even with such processing, there are many wiring patterns with narrow conductor widths, and a substantial decrease in manufacturing yield is unavoidable.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は上記事情に鑑みてなされたものでそ
の目的は、製造歩留りを犠牲にすることなく印刷
配線の高密度化が図れる高密度印刷配線方法を提
供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a high-density printed wiring method that can increase the density of printed wiring without sacrificing manufacturing yield.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は予め設定された細線幅の許容配線密度
(ピン間本数)をもつて配線パターンを施した後
に、その各配線パターンが許容配線本数よりも少
ない場合に、そのパターンの線幅を太線化処理し
て、許される範囲内で、配線パターンを太くし、
高密度印刷配線基板の製造歩留りを良好にしたも
のである。
In the present invention, after a wiring pattern is formed with a predetermined allowable wiring density (number of lines between pins) with a thin line width, if each wiring pattern is smaller than the allowable number of lines, the line width of the pattern is changed to a thick line. Process and thicken the wiring pattern within the allowable range,
This improves the manufacturing yield of high-density printed wiring boards.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、第3図乃至第9図を参照して本発明の一
実施例を説明する。第3図は本発明の一実施例に
係る計算機システム(自動配線処理装置)の構成
を示すブロツク図である。図中、30はシステム
の中心をなすCPUで、主メモリ31に格納され
ている自動配線プログラム32に従い、外部記憶
装置33に格納されている設計フアイル(データ
ベース)34を用いて印刷配線基板の自動配線処
理を行なう。35は外部記憶装置33などの入出
力装置とCPU30(主メモリ31)との間のデ
ータ入出力制御を行なう入出力制御装置である。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 9. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a computer system (automatic wiring processing device) according to an embodiment of the present invention. In the figure, 30 is a CPU that forms the center of the system, and according to an automatic wiring program 32 stored in a main memory 31, a printed wiring board is automatically manufactured using a design file (database) 34 stored in an external storage device 33. Perform wiring processing. Reference numeral 35 denotes an input/output control device that performs data input/output control between input/output devices such as the external storage device 33 and the CPU 30 (main memory 31).

第4図は上記第3図の装置で実現される本発明
の一実施例による自動配線処理の手順を示すフロ
ーチヤートである。第4図に於いて、S1は大ま
かな配線を行なうステツプ、S2は配線パターン
層変更によつて不要スルーホールを削除するステ
ツプ、S3は配線パターンの径路変更によつてラ
ンダムスルーホールのランド径を大きくするステ
ツプ、S4は厳しいクリアランスをできるだけ改
善する事を考慮して細かな配線を行なうステツ
プ、S5はS4で細かな径路が決つた配線パターン
を取り出すステツプ、S6は全ての配線パターン
に対して処理したかを調べるステツプ、S7はS5
で取り出した配線パターン周辺の配線情報(禁止
帯、ピン、スルーホールの位置と大きさ、周辺に
走つている配線パターンの位置と太さ)を取り出
すステツプ、S8は導体幅を太くする事ができる
か調べるステツプ、S9は配線パターンの導体幅
を太くするステツプである。
FIG. 4 is a flowchart showing the procedure of automatic wiring processing according to an embodiment of the present invention realized by the apparatus shown in FIG. 3 above. In Figure 4, S1 is a step to perform rough wiring, S2 is a step to delete unnecessary through holes by changing the wiring pattern layer, and S3 is a step to change the land diameter of a random through hole by changing the route of the wiring pattern. step to enlarge, S4 is a step to perform fine wiring in consideration of improving the tight clearance as much as possible, S5 is a step to extract the wiring pattern for which the fine route has been determined in S4, S6 is to process all wiring patterns. Step to check if S7 is S5
Step to extract wiring information around the wiring pattern (position and size of forbidden zone, pin, through hole, position and thickness of wiring pattern running around the area), S8 can increase the conductor width. Step S9 is a step to increase the conductor width of the wiring pattern.

第5図乃至第9図はそれぞれ上記実施例の配線
処理動作を説明するためのもので、第5図は、印
刷配線基板上での配線単位となる基本格子、及び
2種類の準格子を示す図、第6図、及び第8図は
それぞれ導体幅の変更対象となる大まかな自動配
線処理時の配線パターンを示す図、第7図、及び
第9図はそれぞれ上記第6図、及び第8図のパタ
ーンに対して上記第4図に示す太線化のパターン
処理を施したパターン例を示す図である。図中、
51,62,72,83,93はピン、ランダム
スルーホールを設定できる(配線径路として使用
できる)基本格子、52,63,73,84,9
5は基本格子を8等分した準格子で配線径路とし
て使用できる。53,94は基本格子を5等分し
た準格子で配線径路として使用できる。61,7
1,81,91はピンまたは、ピンと同じランド
径のランダムスルーホール、82,92はランド
径を大きくできなかつたランド径の小さいランダ
ムスルーホール、64,85,97は配線時に使
用した導体幅の細い配線パターン、74,96は
第4図のフローチヤートで示されたステツプによ
り、導体幅を太くした(太線化処理された)配線
パターンである。
5 to 9 are for explaining the wiring processing operation of the above embodiment, respectively, and FIG. 5 shows a basic lattice and two types of quasi-lattices, which are wiring units on a printed wiring board. Figures 6 and 8 are diagrams showing the rough wiring patterns during automatic wiring processing where the conductor width is subject to change, and Figures 7 and 9 are the same as those shown in Figures 6 and 8, respectively. FIG. 5 is a diagram showing an example of a pattern obtained by performing the thick line pattern processing shown in FIG. 4 above on the pattern shown in the figure; In the figure,
51, 62, 72, 83, 93 are basic grids in which pins and random through holes can be set (can be used as wiring paths), 52, 63, 73, 84, 9
5 is a quasi-lattice obtained by dividing the basic lattice into eight equal parts, which can be used as a wiring path. Numerals 53 and 94 are quasi-lattices obtained by dividing the basic lattice into five equal parts, which can be used as wiring paths. 61,7
1, 81, 91 are pins or random through holes with the same land diameter as the pins, 82, 92 are random through holes with small land diameters where the land diameter could not be increased, and 64, 85, 97 are the conductor widths used during wiring. The thin wiring patterns 74 and 96 are wiring patterns whose conductor widths have been made thicker (thickened) by the steps shown in the flowchart of FIG.

配線基板上は第5図のように、基本格子51,
及び2種類の準格子52,53で表わすことがで
きる。
On the wiring board, as shown in FIG.
and can be represented by two types of quasi-lattices 52 and 53.

これら各格子51,52,53のうち、第4図
に示すステツプS1,S4の配線時には基本格子5
1、準格子52を配線径路として使用する。又、
ピン及びランダムスルーホール61,71,8
1,82,91,92は基本格子51上に位置す
る。又、ピン、ランド径の大きなランダムスルー
ホール61,71,81,91は基本格子間の準
格子52を2本、準格子53を1本使用できなく
する。又、ランド径の小さなランダムスルーホー
ル82,92は基本格子間の準格子52を1本使
用できなくする。
Among these grids 51, 52, 53, the basic grid 5 is used for wiring steps S1 and S4 shown in FIG.
1. The quasi-lattice 52 is used as a wiring path. or,
Pins and random through holes 61, 71, 8
1, 82, 91, and 92 are located on the basic lattice 51. Furthermore, the random through holes 61, 71, 81, 91 with large pin and land diameters make it impossible to use two quasi-gratings 52 and one quasi-grating 53 between the basic lattices. Furthermore, the random through holes 82 and 92 with small land diameters make it impossible to use one quasi-lattice 52 between the basic lattices.

配線処理は、〔大まかな配線(ステツプS1)を
行つた後、基本格子51、準格子52を用いた細
かな配線(ステツプS4)を行なう〕という条件
で、先ず、ステツプS1にて、ランド径の小さな
ランダムスルーホールと、導体幅の細い配線パタ
ーンを用いた大まかな配線を行なう。その後、ス
テツプS2にて、配線パターンの層変更により不
要スルーホールを削除する。更にステツプS3に
て、配線パターンの径路変更によりランド径を大
きくする処理を行なつた後、ステツプS4にて、
厳しいクリアランスを改善することを考慮した細
かな配線を行なう。このような処理を経した配線
パターンに於いて、第6図、及び第8図に示すよ
うに、配線パターンの導体幅を太く(例えば実績
のあるピン間2本配線で用いる太さ)できる個所
が存在する場合がある。そこでステツプS5にて、
1つの配線パターンの位置情報を取り出す。更
に、ステツプS7でこの配線パターン周辺の配線
情報を取り出す。そして、これらの情報から、ス
テツプS8にて、導体幅を太くできるか否か(ピ
ン間3本で設定した導体幅をピン間2本で設定し
た導体幅に変更できるか否か)を調べる。ステツ
プS8で調べた結果、太線化が可能であれば、ス
テツプS9にて導体幅を太くする。第7図は第6
図のパターンに対し準格子52を用いて導体幅を
太くしたケース、又、第9図は第8図のパターン
に対し、準格子52,53を用いて導体幅を太く
したケースをそれぞれ示している。
In the wiring process, first, in step S1, the land diameter is Perform rough wiring using small random through holes and wiring patterns with narrow conductor widths. Thereafter, in step S2, unnecessary through holes are deleted by changing the wiring pattern layer. Furthermore, in step S3, the land diameter is increased by changing the route of the wiring pattern, and then in step S4,
Perform detailed wiring to improve tight clearances. In the wiring pattern that has undergone such processing, as shown in Figures 6 and 8, there are places where the conductor width of the wiring pattern can be increased (for example, the thickness used in the proven two-pin wiring). may exist. Therefore, in step S5,
Extract position information for one wiring pattern. Furthermore, in step S7, wiring information around this wiring pattern is extracted. Based on this information, it is checked in step S8 whether the conductor width can be increased (whether the conductor width set with three pins between the pins can be changed to the conductor width set with two pins). As a result of checking in step S8, if it is possible to make the conductor thicker, the conductor width is increased in step S9. Figure 7 is the 6th
9 shows a case in which the conductor width is increased by using quasi-gratings 52 in the pattern shown in the figure, and FIG. 9 shows a case in which the conductor width is increased by using quasi-gratings 52 and 53 in the pattern in FIG. 8. There is.

このような太線化処理により、導体幅の細い製
造歩留りの悪い配線パターンを極力少なくするこ
とができる。
By such thickening processing, it is possible to minimize the number of wiring patterns having narrow conductor widths and poor manufacturing yield.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳記したように本発明の高密度印刷配線方
法によれば、配線密度を低下させることなく、製
造技術の難しい細い導体幅を持つた信号線をでき
るだけ少なくし、製造歩留りをより一層向上でき
る。
As detailed above, according to the high-density printed wiring method of the present invention, the number of signal lines with thin conductor widths that are difficult to manufacture can be minimized without reducing the wiring density, and the manufacturing yield can be further improved. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はグリツドオフセツト手段を説明するた
めの図、第2図はベンデイング処理手段を説明す
るための図、第3図は本発明の一実施例に於ける
ハードウエアの構成を示すブロツク図、第4図は
上記実施例に於ける自動配線処理手段を示すフロ
ーチヤート、第5図は上記実施例に於ける格子を
説明するための図、第6図乃至第9図はそれぞれ
上記実施例に於けるパターン処理動作を説明する
ためのパターン例を示す図である。 30……CPU、31……主メモリ、32……
自動配線プログラム、33……外部記憶装置、3
4……設計フアイル(データベース)、35……
入出力制御装置、51……基本格子、52,53
……準格子、64,74,85,96,97……
配線パターン。
FIG. 1 is a diagram for explaining the grid offset means, FIG. 2 is a diagram for explaining the bending processing means, and FIG. 3 is a block diagram showing the hardware configuration in one embodiment of the present invention. 4 is a flowchart showing the automatic wiring processing means in the above embodiment, FIG. 5 is a diagram for explaining the grid in the above embodiment, and FIGS. 6 to 9 are a flow chart showing the automatic wiring processing means in the above embodiment, and FIGS. It is a figure which shows the example of a pattern for demonstrating the pattern processing operation in an example. 30...CPU, 31...Main memory, 32...
Automatic wiring program, 33...external storage device, 3
4...Design file (database), 35...
Input/output control device, 51... Basic grid, 52, 53
... Quasi-lattice, 64, 74, 85, 96, 97...
wiring pattern.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 印刷配線基板の自動配線処理装置に於いて、
一定の格子を単位とした、ランド付・ランドレス
の各スルーホール位置、及びピン間配置本数を含
む予め設定されたパターンレイアウト条件の下に
配線処理されたパターンに対し、配線パターンの
位置情報と、その各配線パターンの周辺情報を各
配線単位で取出し、格子間配線本数が上記パター
ンレイアウト条件で示される許容本数よりも少な
いことを確認した際に、当該配線パターンに対し
て、その導体幅を上記許容本数に対して設定され
た導体幅よりも太い導体幅に変更処理する高密度
印刷配線方法。
1 In automatic wiring processing equipment for printed wiring boards,
Wiring pattern position information and wiring pattern information are provided for patterns that have been wired under preset pattern layout conditions, including the positions of through-holes with land and landless, and the number of pins arranged in a certain grid unit. , the peripheral information of each wiring pattern is extracted for each wiring, and when it is confirmed that the number of inter-lattice wiring is less than the allowable number indicated by the pattern layout conditions above, the conductor width is determined for the wiring pattern. A high-density printed wiring method that changes the conductor width to be thicker than the conductor width set for the above-mentioned allowable number.
JP59111945A 1984-05-31 1984-05-31 High density printed wiring method Granted JPS60254786A (en)

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