JPH0521179B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0521179B2 JPH0521179B2 JP9770084A JP9770084A JPH0521179B2 JP H0521179 B2 JPH0521179 B2 JP H0521179B2 JP 9770084 A JP9770084 A JP 9770084A JP 9770084 A JP9770084 A JP 9770084A JP H0521179 B2 JPH0521179 B2 JP H0521179B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は、薄層クロマトグラフイー（TLC）
等に適用されるデンシトメータに関し、さらに詳
しくはデンシトメータにおけるバツクグラウンド
の補正方法に関する。
等に適用されるデンシトメータに関し、さらに詳
しくはデンシトメータにおけるバツクグラウンド
の補正方法に関する。
(ロ) 従来技術
従来から、タングステンランプまたは重水素ラ
ンプ等の光源からの光を、第１図に示されるよう
に薄層プレートＡに形成される試料スポツトＢに
対してジグザグ（２次元的）走査して照射し、該
薄層プレートＡからの光を一次元ダイオードアレ
ー等の検出器で検出して測光信号を得るデンシト
メータでは、薄層プレートＡ上の汚れあるいは展
開溶媒中の不純物によるバツクグラウンド吸収の
補正のために、第１図に示されるようにジグザグ
走査の周辺のスイング両端の部分Ｃの光を検出
し、試料スポツトＢの部分の測光信号から前記検
出値を減算して補正している。
ンプ等の光源からの光を、第１図に示されるよう
に薄層プレートＡに形成される試料スポツトＢに
対してジグザグ（２次元的）走査して照射し、該
薄層プレートＡからの光を一次元ダイオードアレ
ー等の検出器で検出して測光信号を得るデンシト
メータでは、薄層プレートＡ上の汚れあるいは展
開溶媒中の不純物によるバツクグラウンド吸収の
補正のために、第１図に示されるようにジグザグ
走査の周辺のスイング両端の部分Ｃの光を検出
し、試料スポツトＢの部分の測光信号から前記検
出値を減算して補正している。
ところが、従来のバツクグラウンド補正方法で
は、前記ジグザグ走査のうちのｘ軸方向（第１図
の左右方向）の１つの走査に対して補正のための
測定は１点しかなされておらず、このためノイズ
成分が完全に除去されず、十分なバツクグラウン
ド補正ができないという難点があつた。
は、前記ジグザグ走査のうちのｘ軸方向（第１図
の左右方向）の１つの走査に対して補正のための
測定は１点しかなされておらず、このためノイズ
成分が完全に除去されず、十分なバツクグラウン
ド補正ができないという難点があつた。
(ハ) 目的
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであ
つて、バツクグラウンド補正を確実に行ない、高
いＳ／Ｎ比で試料が測定できるようにすることを
目的とする。
つて、バツクグラウンド補正を確実に行ない、高
いＳ／Ｎ比で試料が測定できるようにすることを
目的とする。
(ニ) 構成
本発明では、上述の目的を達成するために、ジ
グザグ走査のうちのｘ軸方向の走査を、前記試料
スポツトに対応する幅より大なる幅で走査し、こ
の大なる走査幅のうち試料スポツトに対応する検
出領域以外の部分をバツクグラウンドの補正のた
めの補正領域とし、前記ｘ軸方向の１つの走査に
対して該補正領域の複数点で検出された信号の平
均値を前記試料スポツトに対応する検出領域で検
出された測光信号から減算してバツクグラウンド
の補正を行なうようにしている。
グザグ走査のうちのｘ軸方向の走査を、前記試料
スポツトに対応する幅より大なる幅で走査し、こ
の大なる走査幅のうち試料スポツトに対応する検
出領域以外の部分をバツクグラウンドの補正のた
めの補正領域とし、前記ｘ軸方向の１つの走査に
対して該補正領域の複数点で検出された信号の平
均値を前記試料スポツトに対応する検出領域で検
出された測光信号から減算してバツクグラウンド
の補正を行なうようにしている。
(ホ) 実施例
以下、図面によつて本発明の実施例について詳
細に説明する。第２図は、本発明の一実施例を適
用したデンシトメータの光学系の構成図である。
光源としてのタングステンランプ１または重水素
ランプ２からの光は、光源切り換えミラー３によ
つて反射されて分光器の入口スリツト４に入射し
た後、回析格子５によつて分光され、ミラー１４
で反射されて出口スリツト６から単色光が取り出
される。出口スリツト６からの光は、２つのミラ
ー７，８で反射されて第３図に示されるように試
料スポツト１５が形成されている薄層プレート９
に集光される。薄層プレート９を透過した光は、
ミラー１０で反射されて、自己走査型一次元ダイ
オードアレー検出器１１によつて検出される。薄
層プレート９は、図示しない２つのモータによつ
てｘ軸、ｙ軸方向に駆動され、これによつて、第
３図に示されるように２次元的にジグザグ走査さ
れことになる。
細に説明する。第２図は、本発明の一実施例を適
用したデンシトメータの光学系の構成図である。
光源としてのタングステンランプ１または重水素
ランプ２からの光は、光源切り換えミラー３によ
つて反射されて分光器の入口スリツト４に入射し
た後、回析格子５によつて分光され、ミラー１４
で反射されて出口スリツト６から単色光が取り出
される。出口スリツト６からの光は、２つのミラ
ー７，８で反射されて第３図に示されるように試
料スポツト１５が形成されている薄層プレート９
に集光される。薄層プレート９を透過した光は、
ミラー１０で反射されて、自己走査型一次元ダイ
オードアレー検出器１１によつて検出される。薄
層プレート９は、図示しない２つのモータによつ
てｘ軸、ｙ軸方向に駆動され、これによつて、第
３図に示されるように２次元的にジグザグ走査さ
れことになる。
第４図は第２図のダイオードアレー検出器１１
の正面図である。ダイオードアレー検出器１１
は、複数の受光素子がアレー状に配置されて構成
される。本発明では、ジグザグ走査のうちのｘ軸
方向の走査を前記試料スポツト１５に対応する幅
より大なる幅で走査するので、これに伴なつてこ
のダイオードアレー検出器１１も、試料スポツト
１５に対応する幅の検出領域１２と、後述のよう
にバツクグラウンド補正のための補正領域１３
ａ，１３ｂとを備える。この検出領域１２および
補正領域１３は、第３図に示されるようにｘ軸方
向（第３図の左右方向）の走査において、試料ス
ポツト１５の幅１２′の検出領域よび走査幅から
試料スポツトの幅１２′を除いた幅１３′ａ，１
３′ｂの補正領域にそれぞれ対応する。
の正面図である。ダイオードアレー検出器１１
は、複数の受光素子がアレー状に配置されて構成
される。本発明では、ジグザグ走査のうちのｘ軸
方向の走査を前記試料スポツト１５に対応する幅
より大なる幅で走査するので、これに伴なつてこ
のダイオードアレー検出器１１も、試料スポツト
１５に対応する幅の検出領域１２と、後述のよう
にバツクグラウンド補正のための補正領域１３
ａ，１３ｂとを備える。この検出領域１２および
補正領域１３は、第３図に示されるようにｘ軸方
向（第３図の左右方向）の走査において、試料ス
ポツト１５の幅１２′の検出領域よび走査幅から
試料スポツトの幅１２′を除いた幅１３′ａ，１
３′ｂの補正領域にそれぞれ対応する。
本発明のデンシトメータにおけるバツクグラウ
ンド補正方法では、ジグザグ走査のうちのｘ軸方
向の走査を、前記試料スポツト１５に対応する幅
より大なる幅で走査し、この大なる走査幅のうち
試料スポツトに対応する検出領域１２以外の部分
をバツクグラウンドの補正のための補正領域１３
ａ，１３ｂとし、前記ｘ軸方向の１つの走査に対
して該補正領域１３ａ，１３ｂの複数点（この実
施例では12点）で検出された信号の平均値を前記
試料スポツトに対応する検出領域で検生された測
光信号から減算してバツクグラウンドの補正を行
なうようにしている。
ンド補正方法では、ジグザグ走査のうちのｘ軸方
向の走査を、前記試料スポツト１５に対応する幅
より大なる幅で走査し、この大なる走査幅のうち
試料スポツトに対応する検出領域１２以外の部分
をバツクグラウンドの補正のための補正領域１３
ａ，１３ｂとし、前記ｘ軸方向の１つの走査に対
して該補正領域１３ａ，１３ｂの複数点（この実
施例では12点）で検出された信号の平均値を前記
試料スポツトに対応する検出領域で検生された測
光信号から減算してバツクグラウンドの補正を行
なうようにしている。
この実施例では、ｘ軸方向の１つの走査に対し
て、第４図に示されるように、補正領域１３ａ，
１３ｂにおいてそれぞれ６点ずつ16〜21；22〜
27、合計12点検出してその平均値を算出し、試料
スポツト１５に対応する検出領域１２で検出され
た測定値から減算して補正値を得るようにしてい
る。この実施例では、補正された出力信号は、 〓i
（Si−1/1212 〓j=0 Soj）で表わされ、１点だけを補正
点として用いる従来例に比べてバツクグラウンド
ノイズが１／√12倍となり、Ｓ／Ｎ比を向上させ
ることができる。なお、Siは検出領域１２で検出
された信号値であり、1/1212 〓j=0 Sojは補正領域１３
ａ，１３ｂで検出された信号の平均値である。
て、第４図に示されるように、補正領域１３ａ，
１３ｂにおいてそれぞれ６点ずつ16〜21；22〜
27、合計12点検出してその平均値を算出し、試料
スポツト１５に対応する検出領域１２で検出され
た測定値から減算して補正値を得るようにしてい
る。この実施例では、補正された出力信号は、 〓i
（Si−1/1212 〓j=0 Soj）で表わされ、１点だけを補正
点として用いる従来例に比べてバツクグラウンド
ノイズが１／√12倍となり、Ｓ／Ｎ比を向上させ
ることができる。なお、Siは検出領域１２で検出
された信号値であり、1/1212 〓j=0 Sojは補正領域１３
ａ，１３ｂで検出された信号の平均値である。
前述の実施例では、12点の平均値を用いてバツ
クグラウンド補正したけれども、本発明の他の実
施例として６点ずつの平均値を用いてバツクグラ
ウンドを補正をするようにしてもよい。
クグラウンド補正したけれども、本発明の他の実
施例として６点ずつの平均値を用いてバツクグラ
ウンドを補正をするようにしてもよい。
前述の実施例では、薄層プレート９には単色光
が照射されたけれども、本発明の他の実施例とし
て、薄層プレートに白色光を照射し、薄層プレー
トからの光を分光して検出するように構成しても
よい。
が照射されたけれども、本発明の他の実施例とし
て、薄層プレートに白色光を照射し、薄層プレー
トからの光を分光して検出するように構成しても
よい。
前述の実施例では、透過測定の場合について述
べたけれども、本発明の他の実施例として第５図
に示されるように反射測定に適用してもよい。な
お、第５図において、第２図に対応する部分には
同一の参照符を付す。
べたけれども、本発明の他の実施例として第５図
に示されるように反射測定に適用してもよい。な
お、第５図において、第２図に対応する部分には
同一の参照符を付す。
(ヘ) 効果
以上のように本発明によれば、ジグザグ走査の
うちのｘ軸方向の走査を、前記試料スポツトに対
応する幅より大なる幅で走査し、この大なる走査
幅のうち試料スポツトに対応する検出領域以外の
部分をバツクグラウンドの補正のための補正領域
とし、前記ｘ軸方向の１つの走査に対対して該補
正領域の複数点で検出された信号の平均値を前記
試料スポツトに対応する検出領域で検出された測
光信号から減算してバツクグラウンドの補正を行
なうようにしたので、従来技術に比べてバツクグ
ラウンド補正が確実に行なわれることになる。
うちのｘ軸方向の走査を、前記試料スポツトに対
応する幅より大なる幅で走査し、この大なる走査
幅のうち試料スポツトに対応する検出領域以外の
部分をバツクグラウンドの補正のための補正領域
とし、前記ｘ軸方向の１つの走査に対対して該補
正領域の複数点で検出された信号の平均値を前記
試料スポツトに対応する検出領域で検出された測
光信号から減算してバツクグラウンドの補正を行
なうようにしたので、従来技術に比べてバツクグ
ラウンド補正が確実に行なわれることになる。
第１図は従来例のジグザグ走査を説明するため
の薄層プレートＡの平面図、第２図は本発明の一
実施例を適用したデンシトメータの光学系の構成
図、第３図は第２図の薄層プレート９の平面図、
第４図は第２図のダイオードアレー検出器１１の
正面図、第５図は本発明の他の実施例の構成図で
ある。 ９……薄層プレート、１１……ダイオードアレ
ー検出器、１２……検出領域、１３ａ，１３ｂ…
…補正領域。
の薄層プレートＡの平面図、第２図は本発明の一
実施例を適用したデンシトメータの光学系の構成
図、第３図は第２図の薄層プレート９の平面図、
第４図は第２図のダイオードアレー検出器１１の
正面図、第５図は本発明の他の実施例の構成図で
ある。 ９……薄層プレート、１１……ダイオードアレ
ー検出器、１２……検出領域、１３ａ，１３ｂ…
…補正領域。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光源からの光を、試料スポツトが形成された
薄層プレートに対してジグザグ走査し、該薄層プ
レートからの光を検出器で検出して測光信号を得
るデンシトメータにおけるバツクグラウンド補正
方法であつて、 前記ジグザグ走査のうちのｘ軸方向の走査を、
前記試料スポツトに対応する幅より大なる幅で走
査し、この大なる走査幅のうち試料スポツトに対
応する検出領域以外の部分をバツクグラウンドの
補正のための補正領域とし、前記ｘ軸方向の１つ
の走査に対して該補正領域の複数点で検出された
信号の平均値を前記試料スポツトに対応する検出
領域で検出された測光信号から減算してバツクグ
ラウンドの補正を行なうことを特徴とするデンシ
トメータにおけるバツクグラウンド補正方法。 ２ 前記検出器は、一次元ダイオードアレー検出
器であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のデンシトメータにおけるバツクグラウンド
補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9770084A JPS60239650A (ja) | 1984-05-15 | 1984-05-15 | デンシトメ−タにおけるバツクグラウンド補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9770084A JPS60239650A (ja) | 1984-05-15 | 1984-05-15 | デンシトメ−タにおけるバツクグラウンド補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60239650A JPS60239650A (ja) | 1985-11-28 |
| JPH0521179B2 true JPH0521179B2 (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=14199200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9770084A Granted JPS60239650A (ja) | 1984-05-15 | 1984-05-15 | デンシトメ−タにおけるバツクグラウンド補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60239650A (ja) |
-
1984
- 1984-05-15 JP JP9770084A patent/JPS60239650A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60239650A (ja) | 1985-11-28 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |