JPH0527126B2 - - Google Patents
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- JPH0527126B2 JPH0527126B2 JP59274305A JP27430584A JPH0527126B2 JP H0527126 B2 JPH0527126 B2 JP H0527126B2 JP 59274305 A JP59274305 A JP 59274305A JP 27430584 A JP27430584 A JP 27430584A JP H0527126 B2 JPH0527126 B2 JP H0527126B2
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- furnace
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- processed
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
- G05D23/22—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature the sensing element being a thermocouple
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1917—Control of temperature characterised by the use of electric means using digital means
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- Control Of Temperature (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、相互に熱的干渉がある複数のゾーン
を有する熱処理炉に対する干渉対応形のパターン
自動切換式温度制御装置に関する。更に詳しく
は、本発明は、長手方向熱分布を一定パターンに
維持した熱処理炉の一端から他端へ処理品をコン
ベア等により移動させながら熱処理を行ない、炉
の他端より被処理品を取出すいわゆるトンネル炉
の温度を、処理品の種類の変化に応じゾーンごと
に自動的に切換える形式の干渉対応形パターン自
動切換式温度制御装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an interference-compatible automatic pattern switching temperature control device for a heat treatment furnace having a plurality of zones that thermally interfere with each other. More specifically, the present invention is a heat treatment furnace in which the heat treatment is carried out by moving the treated product from one end of the furnace to the other end using a conveyor or the like while maintaining the longitudinal heat distribution in a constant pattern, and the workpiece is taken out from the other end of the furnace. The present invention relates to an interference-compatible pattern automatic switching temperature control device that automatically switches the temperature of a tunnel furnace for each zone in response to changes in the type of product to be processed.
従来の技術
コンベア炉、プツシヤ炉等のトンネル形加熱炉
においては、炉内の温度分布パターンを加熱され
る処理品に適合した適正な温度分布とした上で処
理品を適正な搬送速度で送り、所要の熱処理を行
なう。Conventional technology In tunnel-type heating furnaces such as conveyor furnaces and pusher furnaces, the temperature distribution pattern in the furnace is set to an appropriate temperature distribution that matches the processed product to be heated, and the processed product is fed at an appropriate conveyance speed. Perform the necessary heat treatment.
第2図は、これらの炉において所望の温度分布
を得るための従来技術による手法を示す。同図に
おいて、炉1は、複数のゾーンZ1−Znに分割さ
れ各ゾーンに設けられた加熱素子2又は加熱部の
温度が、熱電対などの温度検出素子4によつて各
調節計28A−28Nに入力される。調節計28
A−28Nは、内蔵された設定素子27によつて
設定された温度と入力値が一致するように演算器
27Aで演算された操作信号5を発生する。この
操作信号5は、例えばサイリスタ或いは電磁開閉
器などで構成される操作部3へ印加され、電源そ
の他のエネルギー源2Aからのエネルギー供給の
調整による各ゾーンZ1−Znの温度制御に用いら
れる。 FIG. 2 shows a prior art approach to obtaining the desired temperature distribution in these furnaces. In the figure, a furnace 1 is divided into a plurality of zones Z1-Zn, and the temperature of a heating element 2 or a heating section provided in each zone is determined by a temperature detection element 4 such as a thermocouple using a controller 28A-28N. is input. Controller 28
A-28N generates the operation signal 5 calculated by the calculator 27A so that the input value matches the temperature set by the built-in setting element 27. This operation signal 5 is applied to an operation section 3 composed of, for example, a thyristor or an electromagnetic switch, and is used to control the temperature of each zone Z1-Zn by adjusting the energy supply from the power supply or other energy source 2A.
その結果、炉全体として、カーブPa又はPbな
どに示される温度分布パターンが生成される。処
理品6を矢印30で示される様に炉1の一端から
搬入し他端から搬出し、所要の熱処理を行なう。 As a result, a temperature distribution pattern shown by curve Pa or Pb is generated in the entire furnace. The processed product 6 is carried in from one end of the furnace 1 and taken out from the other end as shown by arrow 30, and subjected to the required heat treatment.
この場合、加熱素子2により炉内に所望の温度
分布パターンが得られたか否かを確認するため、
即ち炉内温度及び温度分布を確認するため、図示
例では可動式の炉内温度検出器31が用いられ
る。この炉内温度検出器31は、炉1の中を移動
し炉内温度を連続的に記録器32へ入力し、記録
器32が炉内温度分布を記録・表示する。 In this case, in order to check whether the desired temperature distribution pattern has been obtained in the furnace by the heating element 2,
That is, in order to check the furnace temperature and temperature distribution, a movable furnace temperature detector 31 is used in the illustrated example. The furnace temperature detector 31 moves inside the furnace 1 and continuously inputs the furnace temperature to the recorder 32, and the recorder 32 records and displays the furnace temperature distribution.
従来方式では、記録器32に記録された温度及
び温度分布が所望のものでないときは、所望ゾー
ンの調節計28A−28Nにおける設定素子27
の設定値を手動により変更し、炉1内の温度が安
定するのを待つて後温度分布を再度測定しなけれ
ばならない。しかし、炉1は、ゾーン分割とはい
え隣接ゾーンが完全に分離独立しているのではな
く、しかも炉内に処理品6を通過させることが不
可欠であるから、制御する部分即ち加熱部と炉内
部即ち処理品6の通過部では温度が相違する。こ
のため、特定ゾーンに対する温度設定値を単独に
所望値に変更しても、当該ゾーンの両側隣接ゾー
ンからの影響を受け、所望の温度分布は必ずしも
得られない。 In the conventional method, when the temperature and temperature distribution recorded on the recorder 32 are not desired, the setting element 27 in the controller 28A-28N of the desired zone
It is necessary to manually change the set value of , wait for the temperature inside the furnace 1 to stabilize, and then measure the temperature distribution again. However, although the furnace 1 is divided into zones, the adjacent zones are not completely separate and independent, and it is essential that the processed product 6 passes through the furnace. The temperature inside, ie, the part through which the processed product 6 passes, is different. For this reason, even if the temperature setting value for a specific zone is changed to a desired value independently, the desired temperature distribution is not necessarily obtained due to the influence of zones adjacent on both sides of the zone.
現実に、各加熱素子2に対する上記の温度設定
値変更の際には、最初の設定値変更の後炉1の内
部が熱的にバランスするのを待つて炉内温度検出
器31を移動して炉内温度及び温度分布パターン
を確認し、所望値との差に応じた設定値の再調整
をした上で炉内温度分布パターン確認をする操作
を数回以上行なうことにより所望の温度分布パタ
ーンを得ていたのが実状である。 In reality, when changing the above-mentioned temperature set value for each heating element 2, after changing the first set value, wait until the inside of the furnace 1 is thermally balanced and then move the furnace temperature detector 31. The desired temperature distribution pattern can be achieved by checking the furnace temperature and temperature distribution pattern, readjusting the set value according to the difference from the desired value, and then performing the operation of checking the furnace temperature distribution pattern several times or more. The reality is what we were getting.
従つて、炉内に所望の温度分布パターンを得る
までに相当の時間と労力を要する欠点があつた。
とくに、最近の様に多品種少量生産の時代におい
ては、温度分布パターンも多様化しており、上記
の調整手続きを頻繁に行なわざるを得ない。 Therefore, there is a drawback that it takes a considerable amount of time and effort to obtain a desired temperature distribution pattern within the furnace.
Particularly in the recent era of high-mix, low-volume production, temperature distribution patterns are diversifying, and the above adjustment procedure has to be performed frequently.
さらに、ある処理品6に対する所望温度分布パ
ターンが得られる様な安定値を求めこれらを調節
計28A−28Nに設定した後、処理品6の品種
が変る度に多数の設定値を上記の反復調整により
求めることは非常に煩雑であるだけでなく、可成
りの経験と熟練を要する。 Furthermore, after finding stable values that will provide the desired temperature distribution pattern for a certain product 6 and setting these in the controllers 28A-28N, the above-mentioned repeated adjustments are made to a large number of set values each time the type of product 6 changes. Not only is it extremely complicated, but it also requires considerable experience and skill.
発明が解決しようとする問題点
「従つて、本発明が解決しようとする問題点
は、トンネル形炉の炉内温度切換時における隣接
ゾーン間の熱的干渉に対する対応、炉内温度分布
パターン切換の自動化、とくに炉内処理品の進行
に同期化した自動化、並びに温度分布パターン切
換の迅速化にある。Problems to be Solved by the Invention ``Therefore, the problems to be solved by the present invention are how to deal with thermal interference between adjacent zones when switching the furnace temperature in a tunnel furnace, and how to change the temperature distribution pattern in the furnace. Automation, especially automation that is synchronized with the progress of products being processed in the furnace, and speeding up temperature distribution pattern switching.
問題点を解決するための手段
上記問題点の解決手段を、その原理と構成とに
分けて説明する。Means for Solving the Problems The means for solving the above problems will be explained in terms of its principle and configuration.
[原理]
第1図は、本発明の一実施例の概略構成のブロ
ツク図及びトンネル形炉内の温度分布パターンを
示す。同図において、トネル形炉1は複数のゾー
ンZ1−Znを有し、各ゾーンの加熱素子2は操作
部31−3nを介してデイジタル形の温度制御装
置15により制御される。炉内温度分布パターン
測定のため、可動形の炉内温度検出器31が炉内
を移動する。炉内温度検出器31は、可動形でな
く各ゾーンに取付けられたものでもよい。同図は
また、異なる種類の処理品6に対する温度分布パ
ターンの例として3種類のパターンP1,P2,P3
を示す。[Principle] FIG. 1 shows a block diagram of a schematic configuration of an embodiment of the present invention and a temperature distribution pattern in a tunnel furnace. In the figure, a tunnel furnace 1 has a plurality of zones Z1-Zn, and the heating elements 2 in each zone are controlled by a digital temperature control device 15 via operating units 31-3n . A movable furnace temperature detector 31 moves within the furnace to measure the furnace temperature distribution pattern. The furnace temperature detector 31 may not be movable but may be attached to each zone. The figure also shows three types of patterns P1, P2, P3 as examples of temperature distribution patterns for different types of processed products 6.
shows.
本発明装置においては、各ゾーンZ1−Znの加
熱部温度に対して設定される温度制御装置15の
温度設定素子40(第5図)の設定値を、所要温
度分布パターンの炉内部温度(以下、「内部温度」
という。)を与えそうな値に設定して制御動作を
開始する。各ゾーンZ1−Znの内部温度が安定し
た後、炉内温度検出器31を炉1の一端のゾーン
Z1から他端のゾーンZnへ移動させて各ゾーンの
内部温度を順次測定し記憶装置20に記憶してゆ
く。 In the apparatus of the present invention, the set value of the temperature setting element 40 (FIG. 5) of the temperature control device 15, which is set for the heating part temperature of each zone Z1-Zn, is set to the furnace internal temperature of the required temperature distribution pattern (hereinafter referred to as , "internal temperature"
That's what it means. ) is set to a value that is likely to give, and the control operation is started. After the internal temperature of each zone Z1-Zn has stabilized, the furnace temperature detector 31 is connected to the zone at one end of the furnace 1.
It is moved from Z1 to zone Zn at the other end, and the internal temperature of each zone is sequentially measured and stored in the storage device 20.
通常、炉内部を処理品6が矢印30で示される
様に通過するのであるから、炉1の外部から制御
される加熱素子2近傍の加熱部の温度と処理品6
が通過する炉内部の温度とは相違する。これらの
温度を区別するため、以下の説明において、炉1
の外部から制御される加熱素子2近傍の加熱部の
温度を「外部温度」x、処理品6が通過する炉内
部の温度を上記の様に「内部温度」yと呼ぶ。簡
単のため、制御が良好に行なわれ安定に達した
後、外部温度xは、温度制御装置15の温度設定
素子40に設定された設定値と一致するものとす
る。 Normally, the processed product 6 passes through the furnace as shown by the arrow 30, so the temperature of the heating section near the heating element 2 and the processed product 6 are controlled from the outside of the furnace 1.
This is different from the temperature inside the furnace through which it passes. To distinguish between these temperatures, in the following description furnace 1
The temperature of the heating section near the heating element 2, which is controlled from the outside, is called the "external temperature" x, and the temperature inside the furnace through which the processed product 6 passes is called the "internal temperature" y, as described above. For the sake of simplicity, it is assumed that the external temperature x matches the set value set in the temperature setting element 40 of the temperature control device 15 after the control is performed well and stability is reached.
各ゾーンZi内における外部温度xiから内部温度
yiへの伝達ゲインをgiiとし、ゾーンZjの外部温度
xjからゾーンZiの内部温度yiへの伝達ゲインをgij
とすれば、外部温度xと内部温度yとの関係は次
式で与えられる。 Internal temperature from external temperature x i in each zone Zi
The transfer gain to y i is g ii , and the external temperature of zone Zj is
The transfer gain from x j to the internal temperature y i of zone Zi is g ij
Then, the relationship between external temperature x and internal temperature y is given by the following equation.
y1=g11x1+g12x2+g13x3 +…+g1oxo y2=g21x1+g22x2+g23x3 +…+g2oxo 〓 yo=go1x1+go2x2+go3x3 +…+gooxo …(1) これを行列式で表わせば、次式の様になる。 y 1 = g 11 x 1 + g 12 x 2 + g 13 x 3 + … + g 1o x o y 2 = g 21 x 1 + g 22 x 2 + g 23 x 3 + … + g 2o x o 〓 y o = g o1 x 1 + g o2 x 2 + g o3 x 3 + … + g oo x o …(1) If this is expressed as a determinant, it becomes as follows.
y1
y2
〓
yo=g11g12g13…g1o
g21g22g23…g2o
〓 〓
go1go2go3…goox1
x2
〓
xo …(2)
ここで、内部温度y1,y2,…yoは、炉内温度検
出器31で測定される温度であり、外部温度x1,
x2…xoは、温度設定素子40における設定値とし
て既知であるか又は温度検出素子4により測定さ
れる温度である。 y 1 y 2 〓 y o =g 11 g 12 g 13 …g 1o g 21 g 22 g 23 …g 2o 〓 〓 g o1 g o2 g o3 …g oo x 1 x 2 〓 x o …(2) Here , internal temperatures y 1 , y 2 ,...y o are temperatures measured by the furnace temperature detector 31, and external temperatures x 1 ,
x 2 . . .
各ゾーンの伝達ゲインgはn個あるから、gを
すべて求めるには測定をn回行なう必要がある。
外部温度xを一定にしたまま測定しても同じ等式
が得られるだけで意味がなく、異なる任意の値の
外部温度xに設定しなおした上で測定する必要が
ある。こうしてn回の測定により求めた測定値は
次式を満足する。ただし、yijはj回目に測定した
i番目のゾーンZiの内部温度の測定値、xijはj回
目に設定又は測定したi番目のゾーンZiの外部温
度である。 Since there are n transfer gains g for each zone, it is necessary to perform measurements n times to obtain all g.
Even if the measurement is performed while the external temperature x is kept constant, the same equation will be obtained, which is meaningless, and it is necessary to reset the external temperature x to a different arbitrary value and then perform the measurement. The measured value obtained by measuring n times in this way satisfies the following equation. However, y ij is the measured value of the internal temperature of the i-th zone Zi measured j-th time, and x ij is the external temperature of the i-th zone Zi set or measured j-th time.
y11y12y13…y1o
y21y22y23…y2o
〓 〓
yo1yo2yo3…yoo=g11g12g13…g1o
g21g22g23…g2o
〓 〓
go1go2go3…goox11x12x13…x1o
x21x22x23…x2o
〓 〓
xo1xo2xo3…xoo (3)
(3)式をgについて解けば、すべてのゾーンの外
部・内部間及びゾーン相互間の伝達ゲインgが得
られる。すべての伝達ゲインgが得られれば、任
意の内部温度分布|y1′y2′…y3′|′を生じさせる
外部温度分布|x1′x2′…x3′|′が、(3)式から計算
により定められる。 y 11 y 12 y 13 …y 1o y 21 y 22 y 23 …y 2o 〓 〓 y o1 y o2 y o3 …y oo =g 11 g 12 g 13 …g 1o g 21 g 22 g 23 …g 2o 〓 〓 g o1 g o2 g o3 …g oo x 11 x 12 x 13 …x 1o x 21 x 22 x 23 …x 2o 〓 〓 x o1 x o2 x o3 …x oo (3) Solving equation (3) for g , the transfer gains g between the outside and inside of all zones and between zones are obtained. Once all the transfer gains g are obtained, any external temperature distribution |x 1 ′x 2 ′…x 3 ′|′ that gives rise to an arbitrary internal temperature distribution |y 1 ′y 2 ′…y 3 ′| 3) Determined by calculation from formula.
本発明は、所要の炉内温度分布パターンを、上
記の測定と計算とにより決定した外部温度の分布
|x1′x2′…x3′|′を用いて達成する。ゾーン数が
少ない場合には、(3)式をそのまま使えるが、現実
には10ゾーンを越える炉も稀ではないので、(3)を
直接使つたのでは測定回数が多く、演算が非常に
複雑になる。 The present invention achieves the required temperature distribution pattern inside the furnace using the outside temperature distribution |x 1 ′x 2 ′...x 3 ′|′ determined by the above measurements and calculations. When the number of zones is small, equation (3) can be used as is, but in reality, furnaces with more than 10 zones are not rare, so using equation (3) directly would require a large number of measurements and the calculations would be extremely complicated. Become.
実用的には、次に説明する簡略法を使うことが
できる。i番目のゾーンZiとその隣接ゾーンZi−
1及びZi+1とを拡大して示す第3図並びに自己
伝達ゲインgii及び相互伝達ゲインgijの説明図であ
る第4図において、直接に隣接するゾーン間の伝
達ゲインgi,i+1等は有意であるが、直接には隣接し
ない他のゾーンとの間の伝達ゲインgi-1,i+1等は無
視できる程小さいと仮定する。さらに、第3図に
示される以上に離れたゾーン相互間の伝達ゲイン
gは全て無視できるものと仮定する。 In practice, the following simplified method can be used. i-th zone Zi and its adjacent zone Zi−
1 and Zi+1 are enlarged, and FIG. 4 is an explanatory diagram of the self-transfer gain g ii and mutual transfer gain g ij , the transfer gains g i,i+1 , etc. between directly adjacent zones are shown in FIG. is significant, but it is assumed that the transfer gains g i-1, i+1, etc. between zones that are not directly adjacent are negligibly small. Furthermore, it is assumed that any transfer gains g between zones further apart than shown in FIG. 3 are negligible.
この仮定の下では、上記(1)式及び(2)式は次の様
に書直せる。 Under this assumption, equations (1) and (2) above can be rewritten as follows.
y1=g11x1+g12x2
y2=g21x1+g22x2+g23x3
y3= g32x2+g33x3+g34x4
〓
y= go,o-1xo-1+gooxo (4)
従つて、
y1
y2
y3
〓
yo=g11
g21
0
〓
0g12
g22
g32
・0
g23
g33
・・
0
g34
0・
・
0
go・
・
・
o-1
0
0
0
〓
goox1
x2
x3
〓
xo (5)
yo 0…0go,o-1goo xo (5)
(5)式において求めるべき伝達ゲイン数は、両端
のゾーンの外側隣接分に対するものがないので合
計(3n−2)個となる。従つて、上記仮定の下
で必要な伝達ゲインのみを求めるには、炉内温度
検出器31を炉1内で3回移動させて測定すれば
足りるので、測定及び計算が簡略化される。3回
の測定により求められる内部温度の分布yは次式
により表わされる。 y 1 = g 11 x 1 + g 12 x 2 y 2 = g 21 x 1 + g 22 x 2 + g 23 x 3 y 3 = g 32 x 2 + g 33 x 3 + g 34 x 4 〓 y = g o,o-1 x o-1 +g oo x o (4) Therefore, y 1 y 2 y 3 〓 y o =g 11 g 21 0 〓 0g 12 g 22 g 32・0 g 23 g 33・・ 0 g 34 0・ ・0 g o・ ・・o-1 0 0 0 〓 g oo x 1 x 2 x 3 〓 x o (5) y o 0...0g o,o-1 g oo x o (5) Calculated using equation (5) The number of power transmission gains is (3n-2) in total since there is no one for the outer adjacent portions of the zones at both ends. Therefore, in order to obtain only the necessary transfer gain under the above assumption, it is sufficient to move the furnace temperature detector 31 within the furnace 1 three times and measure it, thereby simplifying the measurement and calculation. The internal temperature distribution y determined by three measurements is expressed by the following equation.
y11y12y13
y21y22y23
y31y32y33
〓
yo1yo2yo3=g11
g12
0
〓
0g12
g22
g32
00
g23
g33
0・・・・
0・・・
g34 0・
・・0・・
・・
・・
go,o-10
0x11x12x13
x21x22x23
x31x32x33 (6)
(6)式より第i番目のゾーンZiの内部温度yiの3
回の測定値に関する部分を抜出せば、次の様に書
ける。 y 11 y 12 y 13 y 21 y 22 y 23 y 31 y 32 y 33 〓 y o1 y o2 y o3 =g 11 g 12 0 〓 0g 12 g 22 g 32 00 g 23 g 33 0・・・・ 0・・・ g 34 0・ ・・0・・ ・・・ g o,o-1 0 0x 11 x 12 x 13 x 21 x 22 x 23 x 31 x 32 x 33 (6) From equation (6), the i-th 3 of the internal temperature y i of the th zone Zi
If we extract the part related to the measured value of times, we can write it as follows.
yi1
yi2
yi3=xi-1,1xi1xi+1,1
xi-1,2xi2xi+1,2
xi-1,3xi3xi+1,3gi,i-1
gi,i
gi,i+1 …(7)
(7)式の外部温度マトリクスをAとおけば、
A≡xi-1,1xi1xi+1,1
xi-1,2xi2xi+1,2
xi-1,3xi3xi+1,3
このゾーンZiに関する伝達ゲインは次式で与え
られる。y i1 y i2 y i3 = x i-1,1 x i1 x i+1,1 x i-1,2 x i2 x i+1,2 x i-1,3 x i3 x i+1,3 g i,i-1 g i,i g i,i+1 …(7) If the external temperature matrix in equation (7) is A, then A≡x i-1,1 x i1 x i+1,1 x i-1,2 x i2 x i+1,2 x i-1,3 x i3 x i+1,3The transfer gain for this zone Zi is given by the following equation.
gi,i-1=1/Ayi1xi1xi+1,1
yi2xi2xi+1,2
yi3xi3xi+1,3 …(8)
gi,i=1/Axi-1,1yi1xi+1,1
xi-1,2yi2xi+1,2
xi-1,3yi3xi+1,3 …(9)
gi,i+1=1/Axi-1,1xi1yi1
xi-1,2xi2yi2
xi-1,3xi3yi3 …(10)
(8),(9),(10)式の計算を炉1の全ゾーンZ1−Zn
について行なうことにより、所要の伝達ゲインg
が全て求まる。(6)式ないし(10)式の方法によれば、
たとえゾーン数が多くなつても、異なる外部温度
を3回設定しその設定値ごとに1回づつ合計3回
の炉内温度検出器31の移動による内部温度測定
で、(6)式の伝達ゲインgを全て求めることができ
る。g i,i-1 =1/Ay i1 x i1 x i+1,1 y i2 x i2 x i+1,2 y i3 x i3 x i+1,3 …(8) g i,i =1/ Ax i-1,1 y i1 x i+1,1 x i-1,2 y i2 x i+1,2 x i-1,3 y i3 x i+1,3 …(9) g i,i +1 = 1/Ax i-1,1 x i1 y i1 x i-1,2 x i2 y i2 x i-1,3 x i3 y i3 …(10) (8), (9), (10) Calculate the formula for all zones Z1−Zn of furnace 1
By doing this, the required transfer gain g
are all found. According to the method of equations (6) to (10),
Even if the number of zones increases, by setting different external temperatures three times and measuring the internal temperature by moving the furnace temperature detector 31 a total of three times, once for each set value, the transfer gain of equation (6) can be obtained. All g can be found.
こうして求めた伝達ゲインgを温度制御装置1
5の記憶装置20に記憶しておく。所要の内部温
度マトリクス|y1′y2′…y3′|′を与えるに必要な
外部温度分布|x1′x2′…x3′|′は、伝達ゲインg
に関する次式を満足しなければならない。 The transfer gain g obtained in this way is
5 in the storage device 20. The external temperature distribution required to give the required internal temperature matrix |y 1 ′ y 2 ′ …y 3 ′|′ is the transfer gain g
The following equation regarding .
y'1
y'2
y'3
〓
y'o=g11
g21
0
〓
0g12
g22
g32
・0
g23
g33
・・ ・
0・・
g340・
0go,o-10
0
0
〓
goox'1
x'2
x'3
〓
x'o (11)
(11)式は階段状方程式であるから、所要の温度
分布パターンを与える、即ち上記の内部温度マト
リクス|y1′y2′…y3′|′を与えるに必要な外部温
度分布|x1′x2′…x3′|′は、消去法により容易に
順次求めることができる。y' 1 y' 2 y' 3 〓 y' o =g 11 g 21 0 〓 0g 12 g 22 g 32・0 g 23 g 33・・ ・ 0・・ g 34 0・ 0g o,o-1 0 0 0 〓 g oo x' 1 x' 2 x' 3 〓 x' o (11) Since equation (11) is a step-like equation, it gives the required temperature distribution pattern, that is, the above internal temperature matrix | y 1 ′ The external temperature distribution |x 1 ′ x 2 ′...x 3 ′|′ required to give y 2 ′...y 3 ′|′ can be easily found sequentially by the process of elimination.
従つて、ゾーン間の干渉を考慮した炉内温度の
パターン切換式制御を(6)式又は(8)−(11)式を用い
た加熱部温度、即ち外部温度の制御により達成す
ることができる。 Therefore, pattern switching control of the furnace temperature that takes into account the interference between zones can be achieved by controlling the heating section temperature, that is, the external temperature, using equations (6) or (8)-(11). .
温度分布パターンの切換を、炉1内を進行する
処理品6の種類の変化に同期させるには、例えば
次の様にすることができる。即ち、特定温度分布
パターンで処理すべき種類の処理品6の数量(以
下、「処理予定数」という。)Usを処理品設定素
子41(第5図)に設定しておき、炉1内を進行
する処理品6の数を計数する計数手段45(第5
図)を設け、計数手段45の計数値と前記予定処
理数Usとの一致を検出し、この一致検出に同期
して温度分布パターンを切換えればよい。 In order to synchronize the switching of the temperature distribution pattern with the change in the type of the processed product 6 progressing in the furnace 1, the following can be done, for example. That is, the quantity (hereinafter referred to as "planned number of processing") of the type of products 6 to be processed in a specific temperature distribution pattern is set in the product setting element 41 (FIG. 5), and the number of products 6 to be processed in the furnace 1 is Counting means 45 (fifth
), detect the coincidence between the count value of the counting means 45 and the scheduled processing number U s , and switch the temperature distribution pattern in synchronization with this coincidence detection.
[構成]
第5図を参照するに、本発明による干渉対応形
パターン自動切換式温度制御装置15は、加熱部
温度検出素子4が設けられた複数のゾーンZ1−
Zn及び各ゾーンの内部温度検出用の炉内温度検
出器31を有する炉1の温度制御をするため、特
定温度分布パターンPsに対する前記ゾーン別の外
部温度設定値列xis又は前記異なる値の設定値列
xirが選択的に設定される温度設定素子40及び
処理品6の処理予定数Usが設定される処理品設
定素子41を有する。[Configuration] Referring to FIG. 5, the interference compatible pattern automatic switching type temperature control device 15 according to the present invention has a plurality of zones Z1- in which the heating section temperature detection elements 4 are provided.
In order to control the temperature of the furnace 1 which has an internal temperature detector 31 for detecting Zn and the internal temperature of each zone, the external temperature set value series x is or the different values for each zone for a specific temperature distribution pattern P s is determined. Setting value column
It has a temperature setting element 40 in which x ir is selectively set, and a processed product setting element 41 in which the scheduled number of processed products 6 U s is set.
処理品6の種類S、複数の処理品6に対する処
理品種類別処理予定数Us、制御対象となる複数
の温度分布パターンPs、異なる値の前記設定値列
xir、及び前記の炉内温度検出器31により検出
される各ゾーンの内部温度yirを記憶するための
記憶装置20を設ける。また、前記の異なる値の
設定値列xirと当該設定値列に対する各ゾーン内
部温度yirとから前記(3)式又は(6)式により熱伝達
ゲインのマトリクスgijを求めるための演算手段8
0を設ける。 The type S of the product 6 to be processed, the number U s to be processed by product type for the plurality of products 6, the plurality of temperature distribution patterns P s to be controlled, and the set value series of different values.
A storage device 20 is provided for storing x ir and the internal temperature y ir of each zone detected by the furnace temperature detector 31. Further, calculation means for calculating the heat transfer gain matrix g ij from the above-mentioned equation (3) or (6) from the setting value string x ir of different values and the internal temperature y ir of each zone for the setting value string. 8
Set 0.
前記演算手段80は、こうして求められた伝達
ゲインのマトリクスを用い、前記温度分布パター
ンPisを与えるべき前記設定値列xisを当該温度分
布パターンと前記熱伝達マトリクスとから算出し
前記記憶装置20に記憶する機能をも有する。 The calculation means 80 uses the transfer gain matrix obtained in this way to calculate the set value sequence x is that should give the temperature distribution pattern P is from the temperature distribution pattern and the heat transfer matrix, and calculates the set value sequence x is that should give the temperature distribution pattern P is from the temperature distribution pattern and the heat transfer matrix. It also has the function of storing data.
記憶装置20内にこうして記憶された前記設定
値列を炉1の動作に応じ選択的に前記温度設定素
子40に設定する設定手段60を設ける。前記設
定手段60はまた、処理品6の処理予定数Usを
記憶装置20から読出し前記処理品設定素子41
の設定する機能をも有する。処理品6の種類S
は、前記処理予定数によつて区別できるので、種
類Sに対し格別の信号を設けなくてもよい。しか
し、種類信号Sを独立に設けた場合には、これを
前記処理品設定素子41に設定することもでき
る。 A setting means 60 is provided for selectively setting the set value series stored in the storage device 20 in the temperature setting element 40 according to the operation of the furnace 1. The setting means 60 also reads out the scheduled number of processing items U s of the processing items 6 from the storage device 20 and sets the processing item setting element 41 .
It also has a function to set. Processed product 6 type S
It is not necessary to provide a special signal for type S, since it can be distinguished based on the number of scheduled processes. However, if the type signal S is provided independently, it can also be set in the processed product setting element 41.
例えば、炉1がゾーンとしてZ1,Z2,Z3,Z4,
Z5の5ゾーンを有する場合には、第7図に示さ
れる様に、前記温度パターンP1が、各ゾーンに
対する合計5つの部分P11,P12,P13,P14,P15
を有し、前記温度パターンP2が、各ゾーンに対
する合計5つの部分P21,P22,P23,P24,P25を
有する。処理品検出器7が、炉1に対する処理品
6の進行に同期して、各処理品6ごとに1つの処
理品信号8を温度制御装置15に与える。計数手
段45がこの処理品信号8を計数する。ある炉内
温度分布パターン、例えばP1で処理する処理品
6に対する計数手段45の計数値が、前記記憶装
置20に記憶された当該炉内温度分布パターンに
より処理される処理品の予定数と一致したとき
に、設定手段60が、次の後続炉内温度分布パタ
ーンP2に対応する外部温度設定値列xi2を、処理
品6の炉1内進行に同期して前記記憶装置20か
ら温度設定素子40へ各ゾーンごとに読出す。 For example, furnace 1 has zones Z1, Z2, Z3, Z4,
In the case of having five zones of Z5 , as shown in FIG .
, and the temperature pattern P 2 has a total of five portions P2 1 , P2 2 , P2 3 , P2 4 , P2 5 for each zone. A workpiece detector 7 provides a workpiece signal 8 for each workpiece 6 to the temperature control device 15 in synchronization with the progress of the workpiece 6 through the furnace 1 . A counting means 45 counts this processed product signal 8. The count value of the counting means 45 for the products 6 to be processed in a certain furnace temperature distribution pattern, for example P 1 , matches the planned number of products to be processed according to the furnace temperature distribution pattern stored in the storage device 20. At this time, the setting means 60 stores the external temperature setting value sequence x i2 corresponding to the next subsequent furnace temperature distribution pattern P 2 from the storage device 20 in synchronization with the progress of the processed product 6 in the furnace 1. Each zone is read out to the element 40.
各ゾーンZ1ないしZnの前記温度検出素子4が
検出した検出温度と当該ゾーンに対し前記温度設
定素子40へ読出された外部温度設定値xisとの
差に応じ、当該ゾーンの前記加熱素子2を操作す
る調節手段50を温度制御装置15に含める。 The heating element 2 of each zone is adjusted according to the difference between the detected temperature detected by the temperature detection element 4 of each zone Z1 to Zn and the external temperature set value x is read to the temperature setting element 40 for the zone. Control means 50 for operation are included in the temperature control device 15 .
温度変化の時定数が大きい炉1に対しては、処
理温度が異なる処理品6の種類Aと種類Bとの間
にダミー体14(第7図)を適当数挿入し、時定
数に見合つた時間だけダミー体14を通過させた
後、新しい処理温度に対する処理品6を炉1内へ
送入することも可能である。ダミー体14を使う
場合には、処理品ライン11(第7図)とダミー
ライン12とを選択的に駆動する選択駆動手段7
0を温度制御装置15に含めてもよい。 For the furnace 1 where the time constant of temperature change is large, an appropriate number of dummy bodies 14 (Fig. 7) are inserted between type A and type B of the processed products 6, which are treated at different temperatures, so as to match the time constant. After passing through the dummy body 14 for an amount of time, it is also possible to introduce the processed product 6 for a new processing temperature into the furnace 1. When using the dummy body 14, a selection driving means 7 for selectively driving the processed product line 11 (FIG. 7) and the dummy line 12
0 may be included in the temperature control device 15.
作 用
第5図及び第6図を参照して作用を説明する。
動作が開始すると、まずステツプ301でカウント
値rを1とし、ステツプ302で適当な温度設定値
の列xi1を温度設定素子40に設定すると共に記
憶装置20に記憶し、ステツプ303で炉1の制御
及び内部温度の測定を開始する。ステツプ304で
内部温度が安定したか否かを検出し、安定であれ
ば、ステツプ305で内部温度yi1を記憶装置20に
記憶する。論理ステツプ306による上記カウント
値rの監視の下に、ステツプ307でカウント値r
を変更し上記温度設定素子40の設定値をステツ
プ308で変更し上記制御、測定及び記憶を反覆す
るループ動作を行い、異なる外部温度に対する3
回の内部温度の測定と記憶を実行する。Function The function will be explained with reference to FIGS. 5 and 6.
When the operation starts, first, in step 301, the count value r is set to 1, in step 302, a sequence of appropriate temperature setting values x i1 is set in the temperature setting element 40 and stored in the storage device 20, and in step 303, the sequence of temperature setting values Start control and measurement of internal temperature. In step 304, it is detected whether or not the internal temperature has become stable. If it is stable, the internal temperature y i1 is stored in the storage device 20 in step 305. Under the monitoring of the count value r by the logic step 306, the count value r is determined in step 307.
is changed, and the set value of the temperature setting element 40 is changed in step 308, and a loop operation is performed in which the above control, measurement, and storage are repeated.
Perform internal temperature measurement and storage.
次に、ステツプ309でカウント値rをリセツト
し、(8)式ないし(10)式による伝達ゲインgの算出及
び記憶ステツプ310へ進む。ステツプ311で所要の
温度分布パターンPisに対する内部温度マトリク
スを(11)式のy′iマトリクスとして演算手段80へ
入力する。ステツプ312で(11)式による外部温度
x′iに相当する設定温度xisの算出が行われ、ステ
ツプ313でそれらの設定温度が記憶装置20に記
憶されると共に温度設定素子40に設定される。 Next, in step 309, the count value r is reset, and the process proceeds to step 310 for calculating and storing the transfer gain g using equations (8) to (10). In step 311, the internal temperature matrix for the required temperature distribution pattern Pis is input to the calculation means 80 as the y' i matrix of equation (11). In step 312, calculate the external temperature using equation (11).
A set temperature x is corresponding to x' i is calculated, and in step 313 these set temperatures are stored in the storage device 20 and set in the temperature setting element 40.
ステツプ314では、調節手段50による制御、
即ち温度検出素子4の出力と温度設定素子40に
おける設定値との差を無くす様な操作信号5の発
生とその操作信号5による制御が行なわれる。同
時に、炉内温度検出器31による内部温度の測定
が行なわれる。 In step 314, control by the adjusting means 50;
That is, the operation signal 5 is generated to eliminate the difference between the output of the temperature detection element 4 and the set value of the temperature setting element 40, and control is performed using the operation signal 5. At the same time, the internal temperature is measured by the furnace temperature detector 31.
炉内温度の安定がステツプ315で確認されると、
ステツプ316において炉内温度yiを測定・記憶し、
所要温度分布パターンと測定された炉内温度との
差Δyiがステツプ317で温度比較手段46により算
出される。この温度差Δyiが一定の値Kよりも大
きいことがステツプ318で検出されると、外部温
度の補正量Δxiが(11)式によりステツプ319で算出
され、ステツプ320においてその補正数が温度設
定素子40の設定値にたいして代数的に加算され
る。こうして補正された設定値によるステツプ
314の制御操作が、上記温度差Δyiが一定値K以下
になるまで繰返される。本発明によれば、上記補
正量が伝達ゲインを利用して算出されるので炉内
温度を迅速に収束させることができる。 Once the stability of the furnace temperature is confirmed in step 315,
In step 316, the furnace temperature y i is measured and stored,
The difference Δy i between the required temperature distribution pattern and the measured furnace temperature is calculated by the temperature comparison means 46 in step 317. When it is detected in step 318 that this temperature difference Δy i is larger than a certain value K, the correction amount Δx i of the external temperature is calculated in step 319 using equation (11), and in step 320, the correction number is It is added algebraically to the setting value of the setting element 40. Steps using the set values corrected in this way
The control operation of 314 is repeated until the temperature difference Δy i becomes equal to or less than a certain value K. According to the present invention, since the correction amount is calculated using the transfer gain, the temperature in the furnace can be quickly converged.
第6図の例では、特定の温度分布パターンに対
する外部温度の設定値が求まると、ステツプ321
でその設定値を記憶した後、他の温度分布パター
ンに対する外部温度設定値の算出を行なう。 In the example of FIG. 6, once the set value of the external temperature for a specific temperature distribution pattern is determined, step 321
After storing the set value, external temperature set values for other temperature distribution patterns are calculated.
ステツプ322が外部温度設定値算出の完了を検
出すると、制御は、処理品の熱処理制御へ進む。 When step 322 detects completion of the external temperature setpoint calculation, control proceeds to control the heat treatment of the processed product.
実際の炉においては、温度設定値が変更された
後、炉内温度が新しい設定値に到達し安定な制御
が行なわれるまでにある程度の時間遅れが避けら
れない。この時間遅れの期間中に処理品を炉内へ
搬入するのは不都合であるので、例えば、第7図
に示される様にダミー体14を温度移行期間中に
使用する。同図の場合、先行ロツトの処理品が通
過したゾーンの温度が、次の後続ロツトの処理品
に対する温度に到達するのをダミー体送入によつ
て待ち、その温度到達後直ちに後続ロツト処理品
をそのゾーンへ送入する様にする。 In an actual furnace, after the temperature setting value is changed, a certain amount of time delay is inevitable until the temperature inside the furnace reaches the new setting value and stable control is performed. Since it is inconvenient to carry the processed product into the furnace during this time delay period, for example, a dummy body 14 is used during the temperature transition period as shown in FIG. 7. In the case of the same figure, the dummy body is fed until the temperature of the zone through which the products from the preceding lot have passed reaches the temperature for the products to be processed from the next subsequent lot. is sent to that zone.
制御においてはまず、ステツプ323で、特定種
類Sの処理品6の熱処理温度分布パターンに対し
先に算出された外部温度設定値列xisが記憶装置
20から読出され温度設定素子40に設定され、
さらにその処理品種類Sの処理予定数Usが記憶
装置20から処理品設定素子41へ読込まれる。
このとき、計数手段45における処理品信号8の
カウント値Vcがリセツトされ0となる。 In the control, first, in step 323, the external temperature set value sequence x is previously calculated for the heat treatment temperature distribution pattern of the processed product 6 of the specific type S is read out from the storage device 20 and set in the temperature setting element 40,
Further, the scheduled processing number U s of the processing product type S is read from the storage device 20 into the processing product setting element 41 .
At this time, the count value Vc of the processed product signal 8 in the counting means 45 is reset to zero.
処理品検出器7からの処理品信号8の入力に応
じて前記カウント値Vcがステツプ324で1づつ増
大する。図示例では、種類Sがステツプ325で判
定され、ダミー体であれば、選択駆動手段70の
ダミーライン側Dが駆動される。ステツプ326で、
上記カウント値Vcが前記処理品設定素子41の
処理予定数Us未満であるか否か判断される。 In response to the input of the processed product signal 8 from the processed product detector 7, the count value V c is increased by 1 at step 324. In the illustrated example, the type S is determined in step 325, and if it is a dummy body, the dummy line side D of the selection drive means 70 is driven. In step 326,
It is determined whether or not the count value V c is less than the number U s scheduled to be processed by the processing item setting element 41 .
処理予定数が終つていない場合には、選択駆動
手段70の処理品ライン側Wが駆動されると共
に、ステツプ327で各ゾーンZiごとに処理品6の
種類Sが変化しているか否か判断される。すべて
のゾーンZ1−Znにおいて処理品6の種類Sの変
化がなない場合には、ステツプB328で前記ステ
ツプ303と同様な制御と測定が行なわれる。 If the number of items scheduled to be processed has not been completed, the product line side W of the selection drive means 70 is driven, and at step 327 it is determined whether the type S of the product 6 to be processed has changed for each zone Zi. be done. If there is no change in the type S of the processed product 6 in all zones Z1-Zn, the same control and measurement as in step 303 is performed in step B328.
この処理品種類Sの変化の情況を、第5図、第
6図、及び第7図を参照して説明する。第7図の
グラフaにおいて、温度分布パターンP1は種類
Aの処理品6に適するものであり、温度分布パタ
ーンP2は種類Bの処理品6に適するものである
とする。 The situation of this change in the processed product type S will be explained with reference to FIGS. 5, 6, and 7. In the graph a of FIG. 7, it is assumed that the temperature distribution pattern P 1 is suitable for the type A processed product 6, and the temperature distribution pattern P 2 is suitable for the type B processed product 6.
ある温度分布パターンに対し、ステツプ326及
び327において、計数手段45による処理品信号
8の計数値が前記記憶装置20に記憶された当該
温度分布パターンにより処理される処理品6の予
定数以下であり、しかもゾーンZ1ないしZ5の何
れのゾーンにおいても処理品の進行に伴う処理品
種類の変化がないと判断される場合には、設定手
段60は全く動作せず、選択駆動手段70も選択
の切換を行なわず、調節手段50が、第6図ステ
ツプ328に示される様に温度設定素子40に既に
設定されている外部温度設定値列と温度検出素子
4の検出温度とにより作動する。 For a certain temperature distribution pattern, in steps 326 and 327, the counted value of the processed product signal 8 by the counting means 45 is less than or equal to the planned number of processed products 6 to be processed according to the temperature distribution pattern stored in the storage device 20. In addition, if it is determined that there is no change in the type of product to be processed as the product progresses in any of zones Z1 to Z5, the setting means 60 does not operate at all, and the selection drive means 70 also switches the selection. Instead, the adjusting means 50 operates based on the external temperature set value series already set in the temperature setting element 40 and the temperature detected by the temperature sensing element 4, as shown in step 328 in FIG.
他方、ステツプ326及び330において、計数手段
45による処理品信号8の計数値Vcと前記処理
品設定素子41に設定された処理予定数Usとの
一致が認められしかも後続処理品6がある場合に
は、ステツプ323に示される様に、設定手段6
0が、当該温度分布パターンの次に後続する温度
分布パターンPs+1に対応する外部温度設定値列
xi(s+1)を記憶装置20から温度設定素子40へ読
出す。同時に、後続処理品6の処理予定数Us+1
の読出し及び計数手段45の計数値Vcのリセツ
トも行われる。 On the other hand, in steps 326 and 330, it is recognized that the count value V c of the processed product signal 8 by the counting means 45 matches the scheduled processing number U s set in the processed product setting element 41, and furthermore, there is a subsequent processed product 6. In this case, as shown in step 323, the setting means 6
0 is the external temperature set value string corresponding to the temperature distribution pattern P s+1 that follows the temperature distribution pattern in question.
x i (s+1) is read from the storage device 20 to the temperature setting element 40. At the same time, the planned processing number of subsequent processing products 6 is U s+1
reading and resetting of the count value Vc of the counting means 45 are also carried out.
例えば、第7図のダミー体14の予定数を計数
手段45が数え終り、種類Bの処理品6が初めて
処理品検出器7に検出されたとすると、種類Bの
処理品6に対する温度分布パターンP2のうちゾ
ーンZ1に対する部分の温度P12に対応する外部設
定値x12がステツプ329で記憶装置20から設定素
子40へ読出される。こうして、設定素子40に
新しく読出された設定値を用いて、調節手段50
が作動する。 For example, if the counting means 45 has finished counting the planned number of dummy bodies 14 in FIG. In step 329, the external setpoint value x12 corresponding to the temperature P12 of the portion of zone Z1 of zone Z1 is read out from the storage device 20 to the setting element 40. In this way, the adjustment means 50 uses the newly read setting value to the setting element 40.
is activated.
ステツプ326で処理予定数の処理が終つていな
いとされ、しかもステツプ327で何れかのゾーン
における処理品の種類の変化が認められる場合に
つて説明する。第7図に示される種類Bの処理品
6列の先頭のものがゾーンZ2に到達する時点を、
例えば、当該先頭処理品6が処理品検出器7によ
り検出された後一定数、例えばm個の種類Bの処
理品6が処理品検出器7を通過したことを計数手
段45が計数した時点として間接的に検出するこ
とができる。この個数mは、ゾーンZ1及び各処
理品6の寸法により定まる。 A case will be explained in which it is determined in step 326 that the processing of the planned number of products has not been completed, and furthermore, a change in the type of products to be processed in one of the zones is recognized in step 327. The time point when the first item in the six rows of processed items of type B shown in Fig. 7 reaches zone Z2 is
For example, the time point when the counting means 45 counts that a certain number, for example m, of type B processed products 6 have passed through the processed product detector 7 after the first processed product 6 has been detected by the processed product detector 7 is set as the point in time. Can be detected indirectly. This number m is determined by the dimensions of zone Z1 and each processed product 6.
こうして検出された時点において、ゾーンZ2
のみで進入処理品と送出処理品とが異なる。即ち
種類Bの処理品6が進入しダミー体14が送出さ
れるものとすれば、種類Bの処理品6に対する温
度分布パターンP2のうちゾーンZ2に対する部分
P22に対応する外部温度設定値x22がステツプ329
で記憶装置20から設定素子40へ読出され、第
7図カーブbに示される設定値中のゾーンZ2に
対する部分が設定素子40中の対応位置に設定さ
れ、この設定値の下で調節手段50が調節動作を
する。 At the time of detection in this way, zone Z2
The only difference is that the incoming processed product and the outgoing processed product are different. In other words, if the type B processed product 6 enters and the dummy body 14 is sent out, then the temperature distribution pattern P 2 for the type B processed product 6 corresponds to the part corresponding to zone Z2.
External temperature setpoint x 22 corresponding to P 22 is step 329
The setting value is read out from the storage device 20 to the setting element 40, and the part corresponding to zone Z2 in the setting value shown in curve b in FIG. Make adjustment movements.
処理品6及びダミー体14の列が第5図の処理
ライン30上で1ステツプ進行すると、処理品検
出器7は、前回検出した処理品6又はダミー体1
4の次に続く処理品6又はダミー体14を検出す
る。こうして、温度制御装置15の動作の1サイ
クルが完了する。その後、処理品信号8の温度制
御装置15のバス25への印加に続き上記と同様
な動作が繰返される。 When the row of processed products 6 and dummy bodies 14 advances one step on the processing line 30 in FIG.
The processed product 6 or dummy body 14 subsequent to 4 is detected. In this way, one cycle of operation of the temperature control device 15 is completed. Thereafter, the process signal 8 is applied to the bus 25 of the temperature control device 15, and the same operation as described above is repeated.
種類Sの処理品6について所定の処理予定数
Usの処理が終ると、ステツプ330で後続処理品の
有無が判断され、後続処理品がある場合には、制
御は前記ステツプ323へ還り、全ての処理品の熱
処理が終つて後続処理品がない場合には、制御は
終了する。 Predetermined number of processing plans for type S processing product 6
When the processing of U s is completed, it is determined in step 330 whether there are any subsequent processed products, and if there are any subsequent processed products, control returns to step 323, where the heat treatment of all processed products is completed and the subsequent processed products are processed. If not, control ends.
温度分布パターンだけでなく、制御パラメータ
をも処理品6の種類Sに応じゾーンごとに記憶装
置20に記憶した場合には、温度分布パターン読
出しの際にその制御パラメータを記憶装置20か
ら調節手段50へ読出し、読出された制御パラメ
ータによる調節動作を行なうことができる。 If not only the temperature distribution pattern but also the control parameters are stored in the storage device 20 for each zone according to the type S of the processed product 6, the control parameters are transferred from the storage device 20 to the adjustment means 50 when reading out the temperature distribution pattern. It is possible to perform adjustment operations based on the read control parameters.
処理品6の種類及び個数並びにダミー体14の
個数からなる情報の列を記憶装置20に記憶し、
さらに処理品6及びダミー体14をその情報列の
通りの列に並べた場合には、前記選択駆動手段7
0を省略することができる。 storing in the storage device 20 a string of information consisting of the type and number of processed products 6 and the number of dummy bodies 14;
Further, when the processed products 6 and the dummy bodies 14 are arranged in a row according to the information string, the selection driving means 7
0 can be omitted.
選択駆動手段70を設けた場合には、さらに次
の構成を用いることができる。即ち、ある炉内温
度分布パターンに対する外部温度の設定値を前記
設定手段60が設定した時点から、炉1の処理品
進入端末ゾーンZ1の内部温度y1と当該設定時に
指定された前記温度分布パターンPsの当該端末ゾ
ーンZ1部分の温度P1sとの温度差Δtを検出する温
度比較手段46(第5図)を設け、前記温度差
Δtが一定値以下になるまで前記選択駆動手段7
0によりダミー体14を炉1へ送入し続けること
ができる。 When the selection drive means 70 is provided, the following configuration can be further used. That is, from the time when the setting means 60 sets the external temperature setting value for a certain furnace temperature distribution pattern, the internal temperature y 1 of the processed product entrance terminal zone Z1 of the furnace 1 and the temperature distribution pattern specified at the time of the setting are changed. Temperature comparing means 46 (FIG. 5) for detecting a temperature difference Δt between P s and the temperature P 1s of the terminal zone Z1 portion is provided, and the selection driving means 7 is provided until the temperature difference Δt becomes equal to or less than a certain value.
0 allows the dummy body 14 to continue to be fed into the furnace 1.
また、使用する温度分布パターンの変化範囲が
十分小であり熱伝達ゲインが変化しない範囲であ
る場合には、特定の加熱部温度設定値パターンだ
けを記憶しておき、記憶されたパターン以外の設
定値を要する温度分布パターンが要求されたとき
に内〓又は外〓により比例演算で加熱部温度設定
値を求め設定する様にしてもよい。 In addition, if the variation range of the temperature distribution pattern to be used is small enough that the heat transfer gain does not change, it is possible to memorize only a specific heating section temperature setting value pattern and use settings other than the memorized pattern. When a temperature distribution pattern requiring a value is required, the heating section temperature setting value may be determined and set by proportional calculation using inside or outside.
制御速度を速めるため、必要に応じ、炉内温度
検出器31を可動形でなく各ゾーンごとに取付け
た固定形としてもよい。この場合には、炉内温度
とくに前記内部温度の分布の測定を、固定形の炉
内温度検出器31の出力切換によつて行ない、可
動形のものを炉内で移動させる時間を節約するこ
とができる。 In order to increase the control speed, if necessary, the furnace temperature detector 31 may be of a fixed type installed in each zone instead of a movable type. In this case, the temperature inside the furnace, especially the distribution of the internal temperature, can be measured by switching the output of the fixed furnace temperature detector 31, thereby saving time for moving the movable type inside the furnace. I can do it.
実施例
第9図は、第1図に示した本発明による温度制
御装置の一実施例の要部を詳細に示すブロツク図
であり、第1図及び第2図と同一部品は同一記
号、同一番号で示す。マルチプレクサ16は、炉
内温度検出器31及びゾーンZ1ないしZnの温度
検出素子4からの温度信号をアナログ/デイジタ
ル(A/D)コンバータ17を介してバス25へ
順次加える。各ゾーンに対応するデイジタル/ア
ナログ(D/A)コンバータ181ないし18n
は、バス25上の操作信号51ないし5nをデイ
ジタル信号に変換して操作部31ないし3nへ加
える。Embodiment FIG. 9 is a block diagram showing in detail the essential parts of an embodiment of the temperature control device according to the present invention shown in FIG. Indicate by number. The multiplexer 16 sequentially applies temperature signals from the furnace temperature detector 31 and the temperature detection elements 4 of zones Z1 to Zn to the bus 25 via an analog/digital (A/D) converter 17. Digital/analog (D/A) converter 18 1 to 18n corresponding to each zone
converts the operation signals 5 1 to 5n on the bus 25 into digital signals and applies them to the operation units 3 1 to 3n.
バス25には、温度制御装置15の動作を司る
マイクロプロセツサ(CPU)19及び記憶装置
20が接続されると共に表示器21の表示インタ
フエース21aが接続される。また、記憶装置2
0への入力などに使われるキーボード22がキー
ボード・インタフエース22aを介してバス25
へ接続される。処理品6を計数する処理品検出器
7からの処理品信号8及び温度分布パターンの切
換スイツチ34からの信号線33上の信号が入出
力インタフエース23を介してバス25に加えら
れる。切換スイツチ34は、例えば、その一の切
換位置が一の温度分布パターンに対応する。 A microprocessor (CPU) 19 that controls the operation of the temperature control device 15 and a storage device 20 are connected to the bus 25, as well as a display interface 21a of a display 21. In addition, storage device 2
A keyboard 22 used for inputting 0, etc. is connected to a bus 25 via a keyboard interface 22a.
connected to. A processed product signal 8 from a processed product detector 7 for counting processed products 6 and a signal on a signal line 33 from a temperature distribution pattern changeover switch 34 are applied to a bus 25 via an input/output interface 23. For example, one switching position of the changeover switch 34 corresponds to one temperature distribution pattern.
第9図の実施例の動作を説明する。炉1の各ゾ
ーンZ1ないしZnの温度検出素子4からの外部温
度信号が一定時間毎にマルチプレクサ16で切換
えられ、A/Dコンバータ17で変換後、外部温
度xの入力値としてバス25に加えられ記憶装置
20に記憶される。炉内温度検出器31からの内
部温度測定値信号は、マルチプレクサ16により
同様にデイジタル化された後、内部温度yとして
記憶装置20に記憶される。温度分布パターン信
号Pisは、切換スイツチ34から信号線33及び
入出力インタフエース23を介してバス25に加
えられるか、又はキーボード22からキーボー
ド・インタフエース22aを介してバス25に加
えられ、記憶装置20に記憶される。 The operation of the embodiment shown in FIG. 9 will be explained. External temperature signals from the temperature detection elements 4 of each zone Z1 to Zn of the furnace 1 are switched at fixed time intervals by a multiplexer 16, converted by an A/D converter 17, and then added to a bus 25 as an input value of external temperature x. It is stored in the storage device 20. The internal temperature measurement value signal from the furnace temperature detector 31 is similarly digitized by the multiplexer 16 and then stored in the storage device 20 as the internal temperature y. The temperature distribution pattern signal P is is applied to the bus 25 from the changeover switch 34 via the signal line 33 and the input/output interface 23, or is applied from the keyboard 22 to the bus 25 via the keyboard interface 22a, and is stored. It is stored in the device 20.
CPU19は、キーボード22から設定された
又は切換スイツチ34により指定された温度分布
パターンPisに対応する伝達ゲイン算出用の外部
温度設定値xir(第6図ステツプ302)を、この場
合記憶装置20の一部である温度設定素子40に
設定する。CPU19は、次いで上記入力値と上
記設定値とを比較し、演算を加え、入力値が設定
値と一致する様に操作信号51ないし5nを発生
する。操作信号51ないし5nは、D/Aコンバ
ータ181ないし18nを経由して操作部31ない
し3nへ加えられ、加熱素子2を制御する。 The CPU 19 stores the external temperature set value x ir (step 302 in FIG. 6) for calculating the transfer gain corresponding to the temperature distribution pattern P is set from the keyboard 22 or specified by the changeover switch 34 in the storage device 20 in this case. temperature setting element 40, which is a part of the temperature setting element 40. The CPU 19 then compares the input value with the set value, performs arithmetic operations, and generates operation signals 51 to 5n so that the input value matches the set value. The operating signals 5 1 to 5n are applied to the operating units 3 1 to 3n via the D/A converters 18 1 to 18n to control the heating elements 2 .
その後、CPU19は、第6図を参照して既に
説明した伝達ゲインgの算出、所要温度分布パタ
ーンPに対する外部温度設定値xsの算出・設定、
処理品6に対する熱処理の制御等を行なう。 Thereafter, the CPU 19 calculates the transfer gain g already explained with reference to FIG. 6, calculates and sets the external temperature set value xs for the required temperature distribution pattern P,
The heat treatment for the processed product 6 is controlled.
第9図の実施例において、キーボード22又は
切換スイツチ34が第5図の設定手段60の一部
の作用をし、CPU19が計数手段45、温度比
較手段46、調節手段50、設定手段60の他の
一部の作用、選択駆動手段70、及び演算手段8
0の作用をしている。 In the embodiment shown in FIG. 9, the keyboard 22 or the changeover switch 34 functions as a part of the setting means 60 shown in FIG. , the selection drive means 70, and the calculation means 8
It has the effect of 0.
表示器21は、キーボード22から温度分布パ
ターンを入力する際等に信号をモニターするため
に使われる。 The display 21 is used to monitor signals when inputting a temperature distribution pattern from the keyboard 22, for example.
第9図の実施例は、複数のループを単一制御装
置で制御する形式のいわゆるマルチループ形制御
装置を用いるが、最近はいわゆるシングルループ
又はワンループなどの分散形調節計が多く使われ
る。第10図は、分散形調節計を用いた本発明の
実施例を示す。炉1のゾーンZ1ないしZnは、そ
れぞれ単一ループ調節計1011ないし101n
によつて制御されるが、これらの単一ループ調節
計は、伝送線102を介してコンピユータ103
に接続されている。この実施例では、処理品検出
器7からの処理品信号8及びパターン切換スイツ
チ34の出力が、コンピユータ103へ直接イン
タフエースされているが、調節計1011−10
1nがデイジタルインタフエース可能なものであ
るときは、その中の何れかの調節計へインタフエ
ース入力してもよい。 The embodiment shown in FIG. 9 uses a so-called multi-loop control device in which a plurality of loops are controlled by a single control device, but recently, so-called single-loop or one-loop distributed controllers are often used. FIG. 10 shows an embodiment of the invention using a distributed controller. Zones Z1 to Zn of furnace 1 are connected to single loop controllers 101 1 to 101n, respectively.
These single loop controllers are controlled by a computer 103 via transmission line 102.
It is connected to the. In this embodiment, the processed product signal 8 from the processed product detector 7 and the output of the pattern changeover switch 34 are directly interfaced to the computer 103, and the controller 101 1 -10
If 1n is capable of digital interface, the interface may be input to any of the controllers.
炉内温度検出器31は、信号線104を介して
温度分布測定ユニツト105に接続され、同ユニ
ツト105は伝送線102を経由してコンピユー
タ103に接続される。 The furnace temperature detector 31 is connected to a temperature distribution measuring unit 105 via a signal line 104, and the unit 105 is connected to a computer 103 via a transmission line 102.
第10図の構成においては、炉内温度検出器3
1で検出器31で検出された内部温度yによる熱
伝達ゲインgの算出、所要温度分布パターンPを
得るに要する外部温度の設定値xsの算出等をコン
ピユータ103によつて行なう。コンピユータ1
03の記憶装置20の容量は、通常の調節計のそ
れよりも可成り大であるから、多くの温度分布パ
ターン、処理品の種類と数量等を記憶できる利点
がある。 In the configuration of FIG. 10, the furnace temperature detector 3
1, the computer 103 calculates the heat transfer gain g based on the internal temperature y detected by the detector 31, calculates the set value xs of the external temperature required to obtain the required temperature distribution pattern P, etc. computer 1
Since the capacity of the storage device 20 of No. 03 is considerably larger than that of a normal controller, it has the advantage of being able to store many temperature distribution patterns, types and quantities of processed items, etc.
各調節計1011ないし101nは、伝送線1
02を介してコンピユータ103から各種設定値
及び制御パラメータ等を受信し、これらの設定値
及び制御パラメータ等に基づいて制御を行ない、
測定結果をコンピユータ103へ伝送する。温度
分布パターンを変更する際には、全部又は一部の
調節計1011ないし101nがコンピユータ1
03から新しい温度パターンに対応する加熱部温
度の設定値及び制御パラメータを順次受信し、そ
の時点以降新しい温度設定値及び制御パラメータ
の下で制御をする。この様にして、第9図の実施
例と同様な温度制御を行なうことができる。 Each controller 101 1 to 101n has a transmission line 1
It receives various setting values, control parameters, etc. from the computer 103 via 02, performs control based on these setting values, control parameters, etc.
The measurement results are transmitted to the computer 103. When changing the temperature distribution pattern, all or some of the controllers 1011 to 101n are connected to the computer 1.
From 03 onwards, the heating section temperature set value and control parameters corresponding to the new temperature pattern are sequentially received, and from that point onwards, control is performed under the new temperature set value and control parameters. In this manner, temperature control similar to that of the embodiment shown in FIG. 9 can be performed.
発明の効果
以上説明した如く、本発明による干渉対応形の
パターン自動切換式温度制御装置は、所要温度分
布パターンに対する炉の制御部温度、即ち外部温
度の設定値を、ゾーン間干渉を考慮の上定め、さ
らに炉内を進行する処理品種類の変化に同期して
炉内温度分布パターンをゾーンごとに自動的に切
換えるので、次の顕著な効果を奏する。Effects of the Invention As explained above, the interference-compatible automatic pattern switching type temperature control device according to the present invention adjusts the set value of the furnace control part temperature, that is, the external temperature, for the required temperature distribution pattern, taking into account interference between zones. Furthermore, the temperature distribution pattern in the furnace is automatically switched for each zone in synchronization with the change in the type of product being processed inside the furnace, resulting in the following remarkable effects.
(イ) 炉内温度分布パターン切換の迅速化と自動化
とを同時に達成することができる。(a) It is possible to simultaneously achieve rapid and automated switching of the temperature distribution pattern in the furnace.
(ロ) 炉内温度分布パターンの切換を正確に行な
い、切換後のパターンを正確に維持することが
できる。(b) The temperature distribution pattern in the furnace can be switched accurately, and the pattern after switching can be maintained accurately.
(ハ) 多品種少量生産などの場合において、ダミー
体の自動送り及び処理品との自動切換等によ
り、炉内温度が所要値に達するのを待ちしかも
その後遅滞なく処理品を炉内へ送入し、処理工
程の効率化及び炉利用率の向上を図ることがで
きる。(c) In the case of high-mix, low-volume production, etc., automatic feeding of dummy bodies and automatic switching between processed products can be used to wait for the temperature inside the furnace to reach the required value, and then feed the processed products into the furnace without delay. Therefore, it is possible to improve the efficiency of the treatment process and the furnace utilization rate.
(ニ) 温度設定パターンの切換に従来必要とされた
煩雑な手動操作を省略し、労力、時間のみなら
ず電力の節約を図ることができる。(d) The complicated manual operations conventionally required for switching temperature setting patterns can be omitted, saving not only labor and time but also power.
(ホ) 手動切換えに付随する設定値変更のタイミン
グのずれを除き、高精度の温度制御システムを
構成することができる。(E) A highly accurate temperature control system can be constructed by eliminating the timing deviation of setting value changes that accompanies manual switching.
(ヘ) コンピユータ併用システムとして温度分布パ
ターン等を大量に記憶し、温度調整点が多い大
規模システムに適用することができる。(f) As a computer-combined system, it can store a large amount of temperature distribution patterns, etc., and can be applied to large-scale systems with many temperature adjustment points.
第1図はトンネル炉に適用した本発明による温
度制御装置の説明図、第2図は従来技術による温
度調節計の説明図、第3図は隣接ブロツクの説明
図、第4図は伝達ゲインの説明図、第5図は本発
明装置の構成の説明図、第6図は本発明装置の動
作を示す流れ図、第7図は本発明の動作説明に使
われるグラフ及び説明図、第8図はダミーライン
及び処理品ラインの説明図、第9図は本発明の一
実施例の要部詳細ブロツク図、第10図は本発明
の他の実施例の要部詳細ブロツク図である。
1……炉、2……加熱素子、3……操作部、4
……温度検出素子、5……操作信号、6……処理
品、7……処理品検出器、8……処理品信号、1
1……処理品ライン、12……ダミーライン、1
3……プツシヤ、14……ダミー体、15……温
度制御装置、16……マルチプレクサ、17……
A/Dコンバータ、18……D/Aコンバータ、
19……CPU、20……記憶装置、21……表
示器、22……キーボード、23……入出力イン
タフエース、25……バス、27……設定素子、
28A−28N……調節計、30……処理ライ
ン、31……炉内温度検出器、32……記録器、
33……信号線、34……切換スイツチ、40…
…温度設定素子、41……処理品設定素子、45
……計数手段、46……温度比較手段、50……
調節手段、60……設定手段、70……選択駆動
手段、80……演算手段、101……単一ループ
調節計、102……伝送線、103……コンピユ
ータ、104……信号線、105……温度分布測
定ユニツト。
Fig. 1 is an explanatory diagram of a temperature control device according to the present invention applied to a tunnel furnace, Fig. 2 is an explanatory diagram of a temperature controller according to the prior art, Fig. 3 is an explanatory diagram of an adjacent block, and Fig. 4 is an explanatory diagram of a transfer gain. 5 is an explanatory diagram of the configuration of the device of the present invention, FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the device of the present invention, FIG. 7 is a graph and explanatory diagram used to explain the operation of the present invention, and FIG. FIG. 9 is a detailed block diagram of a main part of one embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a detailed block diagram of a main part of another embodiment of the present invention. 1...Furnace, 2...Heating element, 3...Operation unit, 4
...Temperature detection element, 5...Operation signal, 6...Processed product, 7...Processed product detector, 8...Processed product signal, 1
1...Processed product line, 12...Dummy line, 1
3... pusher, 14... dummy body, 15... temperature control device, 16... multiplexer, 17...
A/D converter, 18...D/A converter,
19... CPU, 20... Storage device, 21... Display, 22... Keyboard, 23... Input/output interface, 25... Bus, 27... Setting element,
28A-28N...controller, 30...processing line, 31...furnace temperature detector, 32...recorder,
33... Signal line, 34... Changeover switch, 40...
...Temperature setting element, 41...Processed product setting element, 45
... Counting means, 46 ... Temperature comparison means, 50 ...
Adjustment means, 60... Setting means, 70... Selection driving means, 80... Calculating means, 101... Single loop controller, 102... Transmission line, 103... Computer, 104... Signal line, 105... ...Temperature distribution measurement unit.
Claims (1)
ンZi及び各ゾーンの内部温度検出用の炉内温度検
出器を有する炉に対する温度制御装置において、
特定処理品の処理予定数が設定される処理品設定
素子;ゾーン別の加熱部温度の設定値列xiが設定
される温度設定素子;処理品の種類別処理予定
数、前記温度設定素子に設定されるべき異なる値
の加熱部温度設定値列の組xir、複数の温度分布
パターンPis、及び前記組の加熱部温度設定値列
の下で前記炉内検出器により検出された内部温度
の組yirを記憶する記憶装置;前記異なる値の設
定値列の組xirと前記内部温度の組yirとの間の熱
伝達マトリクスgijを算出し、前記熱伝達マトリク
スgijにより前記温度分布パターンPisに対する前
記設定値列の組xisを算出して前記記憶装置に記
憶する演算手段;熱処理される処理品の数を計数
する計数手段;並びに前記計数手段の計数値が前
記処理品設定素子における処理予定数設定値と一
致したときに、次の後続処理品の処理予定数を前
記記憶装置から前記処理品設定素子へ読出すと共
に、次の後続炉内温度分布パターンに対する前記
加熱部温度設定値列を処理品の炉内進行に同期し
て前記記憶装置から前記温度設定素子へ各ゾーン
ごとに読出す設定手段を備えてなる干渉対応形パ
ターン自動切換式温度制御装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の自動切換式温度
制御装置において、前記異なる値の設定値列の組
xirの加熱部温度設定値の下で前記加熱部温度検
出素子により検出される測定値の組と、前記加熱
部温度設定値の下で前記炉内温度検出器により検
出される内部温度の組yirとから、前記演算手段
が、熱伝達マトリクスgijを算出してなる干渉対応
形パターン自動切換式温度制御装置。 3 特許請求の範囲第1項記載の自動切換式温度
制御装置において、前記記憶装置の温度分布パタ
ーンを選択する切換スイツチ手段を備えてなる干
渉対応形パターン自動切換式温度制御装置。 4 特許請求の範囲第1項記載の自動切換式温度
制御装置において、各ゾーンの前記温度検出素子
の検出温度と当該ゾーンに対し前記温度設定素子
へ読出された設定値列の温度との差に応じ、当該
ゾーンの前記加熱素子を操作する調節手段を備え
てなる干渉対応形パターン自動切換式温度制御装
置。 5 特許請求の範囲第4項記載の自動切換式温度
制御装置において、各種類の処理品に対する制御
パラメータを各ゾーンごとに前記記憶装置に記憶
し、前記設定手段による前記設定値列の読出し時
に、前記制御パラメータを前記設定手段により前
記調節手段へ読出してなる干渉対応形パターン自
動切換式温度制御装置。 6 特許請求の範囲第4項記載の自動切換式温度
制御装置において、前記処理予定数の列にダミー
体の処理予定数を加えてなる干渉対応形パターン
自動切換式温度制御装置。 7 特許請求の範囲第6項記載の自動切換式温度
制御装置において、前記各処理品又はダミー体の
前記処理予定数が前記係数手段により計数された
時に、後続ダミー体又は処理品を選択的に炉へ送
入する選択駆動手段を備えてなる干渉対応形パタ
ーン自動切換式温度制御装置。 8 特許請求の範囲第7項記載の自動切換式温度
制御装置において、前記設定手段による前記設定
値列の読出し時に、前記炉の処理品進入端末ゾー
ンの前記内部温度と、前記後続炉内温度分布パタ
ーン中の当該端末ゾーン温度との温度差を検出す
る温度比較手段を備え、前記温度差が一定値以下
になるまで前記選択駆動手段によりダミー体を炉
へ送入してなる干渉対応形パターン自動切換式温
度制御装置。 9 特許請求の範囲第4項又は第5項記載の自動
切換式温度制御装置において、前記調節手段が前
記各ゾーンの加熱手段に対する操作信号を発生す
るマルチループ調節手段である干渉対応形パター
ン自動切換式温度制御装置。 10 特許請求の範囲第4項又は第5項記載の自
動切換式温度制御装置において、前記調節手段
が、前記各ゾーンごとに設けられ当該ゾーンに対
する温度設定素子及び制御パラメータ素子を有す
る複数の単一ループ調節計、前記温度分布パター
ン及び前記制御パラメータの記憶装置と伝送手段
とを有するコンピユータ、並びに前記複数の単一
ループ調節計と前記コンピユータとを結合する伝
送線により構成されてなる干渉対応形パターン自
動切換式温度制御装置。[Scope of Claims] 1. A temperature control device for a furnace having a plurality of zones Z i provided with heating section temperature detection elements and a furnace temperature detector for detecting the internal temperature of each zone,
A processing product setting element in which the scheduled number of processing products for a specific processing product is set; a temperature setting element in which a set value string x i of the heating section temperature for each zone is set; a set x ir of heating section temperature set value sequences of different values to be set, a plurality of temperature distribution patterns P is , and an internal temperature detected by the in-furnace detector under the heating section temperature set value sequence of the set A storage device for storing the set y ir of the set value sequence of different values; calculates the heat transfer matrix g ij between the set x ir of the set value string of different values and the set y ir of the internal temperature, and uses the heat transfer matrix g ij to Arithmetic means for calculating the set x is of the set value sequence for the temperature distribution pattern P is and storing it in the storage device; Counting means for counting the number of processed products to be heat-treated; and the count value of the counting means When the number of items to be processed matches the set value of the number of items to be processed in the item setting element, the number of items to be processed for the next subsequent item to be processed is read from the storage device to the item setting element, and the heating is performed for the next subsequent furnace temperature distribution pattern. 1. An interference compatible pattern automatic switching type temperature control device, comprising a setting means for reading out a series of temperature setting values for each zone from the storage device to the temperature setting element in synchronization with the progress of the processed product in the furnace. 2. In the automatic switching temperature control device according to claim 1, the set value sequence of different values is
a set of measured values detected by the heating section temperature detection element under the heating section temperature setting value of x ir ; and a set of internal temperatures detected by the furnace temperature detector under the heating section temperature setting value. y ir , in which the calculation means calculates a heat transfer matrix g ij . 3. An automatic pattern switching temperature control device according to claim 1, comprising a switching switch means for selecting the temperature distribution pattern of the storage device. 4. In the automatic switching temperature control device according to claim 1, the difference between the temperature detected by the temperature detection element in each zone and the temperature in the set value string read out to the temperature setting element for that zone. an interference-compatible automatic pattern switching temperature control device, comprising adjusting means for operating said heating element of said zone according to said interference-compatible pattern automatic switching temperature control device; 5. In the automatic switching temperature control device according to claim 4, control parameters for each type of processed product are stored in the storage device for each zone, and when the setting value string is read by the setting means, An interference compatible pattern automatic switching type temperature control device, wherein the control parameters are read out to the adjustment means by the setting means. 6. The automatic pattern switching temperature control device according to claim 4, wherein the planned number of dummy bodies to be processed is added to the column of the planned processing number. 7. In the automatic switching temperature control device according to claim 6, when the planned number of each processed product or dummy body is counted by the coefficient means, the subsequent dummy body or processed product is selectively An interference compatible pattern automatic switching type temperature control device that is equipped with a selective drive means for feeding the feed into the furnace. 8. In the automatic switching temperature control device according to claim 7, when the setting value string is read by the setting means, the internal temperature of the processed product entry terminal zone of the furnace and the temperature distribution in the subsequent furnace are determined. An automatic interference compatible pattern is provided with a temperature comparison means for detecting a temperature difference between the terminal zone temperature and the temperature of the terminal zone in the pattern, and the dummy body is fed into the furnace by the selection drive means until the temperature difference becomes below a certain value. Switchable temperature control device. 9. The automatic switching temperature control device according to claim 4 or 5, wherein the adjustment means is a multi-loop adjustment means that generates an operation signal for the heating means of each zone, and an interference compatible pattern automatic switching device is provided. temperature control device. 10. In the automatic switching temperature control device according to claim 4 or 5, the adjustment means comprises a plurality of units provided for each zone and having a temperature setting element and a control parameter element for the zone. An interference compatible pattern comprising a loop controller, a computer having a storage device and a transmission means for the temperature distribution pattern and the control parameters, and a transmission line connecting the plurality of single loop controllers and the computer. Automatic switching temperature control device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274305A JPS61156316A (en) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | Temperature controller of interference corresponding type pattern automatic switching type |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274305A JPS61156316A (en) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | Temperature controller of interference corresponding type pattern automatic switching type |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61156316A JPS61156316A (en) | 1986-07-16 |
| JPH0527126B2 true JPH0527126B2 (en) | 1993-04-20 |
Family
ID=17539789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59274305A Granted JPS61156316A (en) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | Temperature controller of interference corresponding type pattern automatic switching type |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61156316A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2551361B1 (en) * | 2010-03-25 | 2019-02-27 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Method for heat treating longer-length product, method for manufacturing longer-length product, and heat treatment furnace used for said method |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5935212A (en) * | 1982-08-20 | 1984-02-25 | Daido Steel Co Ltd | Temperature control device for furnaces with multiple heating zones |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59274305A patent/JPS61156316A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61156316A (en) | 1986-07-16 |
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| JPH0328488B2 (en) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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