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JPH0534844B2 - - Google Patents
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JPH0534844B2 - - Google Patents

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JPH0534844B2
JPH0534844B2 JP57179402A JP17940282A JPH0534844B2 JP H0534844 B2 JPH0534844 B2 JP H0534844B2 JP 57179402 A JP57179402 A JP 57179402A JP 17940282 A JP17940282 A JP 17940282A JP H0534844 B2 JPH0534844 B2 JP H0534844B2
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Japan
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transistor
transistors
level
input terminal
control
Prior art date
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JP57179402A
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Japanese (ja)
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JPS5967707A (en
Inventor
Takeshi Kimura
Shinya Sano
Kozo Nurya
Minoru Ito
Tatsuro Nagai
Toshikazu Fukuya
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
    • H03G1/0005Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
    • H03G1/0035Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using continuously variable impedance elements
    • H03G1/007Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using continuously variable impedance elements using field-effect transistors [FET]

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本本発明は接合耐圧の低い素子やソース・ドレ
イン間あるいはコレクタ・エミツタ間の耐圧の比
較的低いトランジスタを用いて、これらの耐圧よ
り高いアナログ入力を取扱う電子ボリユームや、
高い電圧を取扱うD/Aコンバータ回路に好適な
信号処理回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention uses elements with low junction breakdown voltages and transistors with relatively low breakdown voltages between source and drain or collector and emitter, and handles analog inputs higher than these breakdown voltages. electronic volume,
The present invention relates to a signal processing circuit suitable for a D/A converter circuit that handles high voltage.

従来例の構成とその問題点 電子ボリユームの従来例を第1図に示す。入力
端子1に入力されたアナログ信号は、出力端子2
に至る間、抵抗R11(抵抗値r)、R12(同2r)、R21
(同r)、R22(同2r)……よりなるr−2r抵抗回
路網とトランジスタQ11,Q12,Q21,Q22……よ
りなる電子スイツチおよびこれらを制御するため
の制御信号入力端子3,4、並びにインバータ
5,6により所定の減衰を与えられ、演算増幅器
7を介して、出力端子2に出力される。すなわ
ち、互に逆相の動作を行なうように構成されたト
ランジスタQ11と同Q12には、減衰量を制御する
制御信号入力端子3の制御信号入力と、それをイ
ンバータ5で反転した信号とが印加される。しか
し、インバータ5の伝播遅延のため、トランジス
タQ11のゲート電圧とQ12のゲート電圧とは完全
には逆相とならず、トランジスタQ12のゲート電
圧に遅れが生じる。したがつて、トランジスタ
Q11のゲートがHレベルからLレベルに変わると
き、トランジスタQ12がLレベルからHレベルに
立上がるまでの間、トランジスタQ11のゲートと
Q12のゲートに共にオフの時間が存在し、この期
間はトランジスタQ11およびQ12のソース・ドレ
イン間には入力端子1の入力と同じ電圧が印加さ
れることになる。トランジスタQ11ないしQ12
ソース・ドレイン間耐圧がこの入力端子より低い
ならば、ブレイクダウンを生じ異常動作を招来す
る。したがつて、トランジスタQ11とQ12は入力
電圧より高い耐圧を有するトランジスタで構成す
る必要があつた。また、トランジスタQ21,Q22
についても同様のことが存在する。
Structure of a conventional example and its problems FIG. 1 shows a conventional example of an electronic volume. The analog signal input to input terminal 1 is output to output terminal 2.
While reaching , resistance R 11 (resistance value r), R 12 (resistance value 2r), R 21
(same r), R 22 (same 2r)... An r-2r resistor network consisting of transistors Q 11 , Q 12 , Q 21 , Q 22 ... and a control signal input for controlling them. It is given a predetermined attenuation by terminals 3 and 4 and inverters 5 and 6, and is output to output terminal 2 via operational amplifier 7. That is, the transistors Q11 and Q12 , which are configured to operate in opposite phases to each other, receive a control signal input from the control signal input terminal 3 that controls the amount of attenuation, and a signal inverted by the inverter 5. is applied. However, due to the propagation delay of the inverter 5, the gate voltage of the transistor Q11 and the gate voltage of the transistor Q12 do not have completely opposite phases, and a delay occurs in the gate voltage of the transistor Q12 . Therefore, the transistor
When the gate of Q11 changes from H level to L level, the gate of transistor Q11 and Q12 change from L level to H level.
Both gates of Q 12 have an off time, and during this period, the same voltage as the input to input terminal 1 is applied between the sources and drains of transistors Q 11 and Q 12 . If the source-drain breakdown voltage of the transistors Q 11 or Q 12 is lower than this input terminal, breakdown occurs and abnormal operation occurs. Therefore, it was necessary for transistors Q11 and Q12 to be constructed of transistors having a withstand voltage higher than the input voltage. Also, transistors Q 21 , Q 22
The same thing exists for .

一般に、電子ボリユーム等の回路構成において
は入力電圧の最大値は40V程度まで配慮されるこ
とが多い。したがつて、トランジスタの耐圧には
それ以上の値が要求され、素子寸法として大きく
なり、集積度向上とは離反する不都合が存在す
る。
Generally, in circuit configurations such as electronic volumes, the maximum input voltage is often considered to be around 40V. Therefore, the breakdown voltage of the transistor is required to be higher than that value, and the element size becomes large, which is a disadvantage that is contrary to the improvement in the degree of integration.

発明の目的 本発明は入力電圧よりも低い耐圧のトランジス
タで構成でき、しかも上述の異常動作をおこすこ
とのない電子ボリユームやD/Aコンバータ回路
に好適な信号処理回路を提供することを目的とす
る。
Purpose of the Invention An object of the present invention is to provide a signal processing circuit suitable for electronic volume and D/A converter circuits, which can be constructed with transistors having a withstand voltage lower than the input voltage, and which does not cause the above-mentioned abnormal operation. .

発明の構成 本発明は、電子ボリユーム等に用いられ、抵抗
回路網と切換えスイツチを有する信号処理回路に
おいて、切換えスイツチとして作用する同極性の
トランジスタ対を切換え制御する時に、トランジ
スタ対の両方を導通状態とする制御回路をトラン
ジスタ対の制御電極側に設けるものである。
Composition of the Invention The present invention is used in an electronic volume, etc., and in a signal processing circuit having a resistor network and a changeover switch, when a pair of transistors of the same polarity acting as a changeover switch is switched and controlled, both of the transistor pair are brought into a conductive state. A control circuit is provided on the control electrode side of the transistor pair.

実施例の説明 第2図は本発明の一実施例の集積化電子ボリユ
ーム回路の一部である。以下、動作を詳細に説明
する。
DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS FIG. 2 is a portion of an integrated electronic volume circuit according to one embodiment of the present invention. The operation will be explained in detail below.

図中、1はアナログ信号の入力端子、2は所定
の減衰を与えられたアナログ信号を出力する出力
端子、3は最大桁の減衰を制御する制御信号入力
端子、4は次桁の減衰を制御する制御信号入力端
子、5,6は第1の制御回路に相当するインバー
タ7は演算増幅器、8は抵抗回路網から演算増幅
器7へつながる電流を出力とする仮想接地線であ
る。9,10,11,12はいずれも第2の制御
回路に相当する2入力NANDゲートである。
R11,R12,R21,R22……は周知のr−2r抵抗
回路網を構成し、R11,R21……が抵抗値rを、
抵抗R12,R22……が抵抗値2rをそれぞれに有
する。Rfはフイードバツク抵抗である。Q11
Q12,Q21,Q22……はいずれもnチヤンネルMOS
トランズスタ(以下トランジスタと記す)であ
る。
In the figure, 1 is an analog signal input terminal, 2 is an output terminal that outputs an analog signal given a predetermined attenuation, 3 is a control signal input terminal that controls the attenuation of the largest digit, and 4 is the control signal input terminal that controls the attenuation of the next digit. Control signal input terminals 5 and 6 correspond to a first control circuit, an inverter 7 is an operational amplifier, and 8 is a virtual ground line that outputs a current connected to the operational amplifier 7 from the resistor network. 9, 10, 11, and 12 are all two-input NAND gates corresponding to the second control circuit.
R 11 , R 12 , R 21 , R 22 ... constitute a well-known r-2r resistance network, and R 11 , R 21 ... have a resistance value r,
Resistors R 12 , R 22 . . . each have a resistance value of 2r. Rf is the feedback resistance. Q11 ,
Q 12 , Q 21 , Q 22 ... are all n-channel MOS
It is a transistor (hereinafter referred to as a transistor).

NANDゲート9と10はラツチ回路を構成し
ており、静止状態では、いずれか一方の出力がH
レベル、他方がLレベルとなつている。したがつ
て、トランジスタQ11とQ12のいずれか一方がオ
ン、他方がオフとなつている。トランジスタQ21
とQ22についても同様である。トランジスタQ11
とQ12のソースは接地又は仮想接地に接続され
る。即ち、接地電位となる。
NAND gates 9 and 10 form a latch circuit, and in a static state, the output of either one is high.
level, and the other is at L level. Therefore, one of transistors Q 11 and Q 12 is on and the other is off. transistor Q 21
The same applies to Q22 . transistor Q 11
The sources of and Q12 are connected to ground or virtual ground. That is, it becomes a ground potential.

本実施例ではトランジスタQ11とQ12のいずれ
か一方がオン状態であることからトランジスタ
Q11とQ12のオン抵抗が2rよりも充分小さければ、
トランジスタQ11とQ12の共通ドレインに生じる
電圧の値は1の入力端子に与えられたアナログ信
号の大きさに比して充分小さくなる。
In this embodiment, one of transistors Q 11 and Q 12 is in the on state, so the transistor
If the on-resistance of Q 11 and Q 12 is sufficiently smaller than 2r, then
The value of the voltage generated at the common drain of transistors Q 11 and Q 12 is sufficiently small compared to the magnitude of the analog signal applied to the input terminal 1.

次に、トランジスタQ11とQ12とが切り替る場
合を考える。初めに制御信号入力端子3がLレベ
ルとすると、NANDゲート9の出力はHレベル、
NANDゲート10の出力はLレベルとなる。し
たがつて、トランジスタQ11はオン、Q12はオフ
状態にある。この状態から制御信号入力端子3が
Hレベルに変わつた瞬間の状態は次の様になる。
すなわち、NANDゲート9の入力の一方は制御
信号入力端子3につながつていてHレベルに移転
するが、他方はNANDゲート10の出力即ちL
レベルであることからトランジスタQ11の出力は
直ちに変化しない。一方、インバータ5の出力は
HレベルからLレベルに変化し、NANDゲート
10の2つの入力の一方がLレベルとなつて出力
がHレベルになる。NANDゲート10の出力が
HレベルになるとトランジスタQ12がオンとな
り、この瞬間、両方のトランジスタQ11とQ12
共にオンとなる。この過渡状態を経てNANDゲ
ート10の出力がHレベルになつたことにより
NANDゲート9の2の入力が共にHレベルとな
り、その出力はLレベルとなつて、トランジスタ
Q11がオフとなる。即ち、NANDゲート9の伝播
遅延に対応する過渡期間にはトランジスタQ11
Q12が共にオンとなり、しかる後にトランジスタ
Q11がオフとなる。
Next, consider the case where transistors Q 11 and Q 12 are switched. Initially, when the control signal input terminal 3 is at L level, the output of NAND gate 9 is at H level,
The output of the NAND gate 10 becomes L level. Therefore, transistor Q 11 is on and Q 12 is off. The state at the moment when the control signal input terminal 3 changes from this state to the H level is as follows.
That is, one of the inputs of the NAND gate 9 is connected to the control signal input terminal 3 and shifts to the H level, while the other input is connected to the output of the NAND gate 10, that is, the L level.
level, so the output of transistor Q11 does not change immediately. On the other hand, the output of the inverter 5 changes from H level to L level, one of the two inputs of NAND gate 10 becomes L level, and the output becomes H level. When the output of the NAND gate 10 becomes H level, the transistor Q12 is turned on, and at this moment both transistors Q11 and Q12 are both turned on. After this transient state, the output of the NAND gate 10 becomes H level, so
The two inputs of the NAND gate 9 both go to H level, and the output goes to L level, so that the transistor
Q 11 is turned off. That is, during the transition period corresponding to the propagation delay of NAND gate 9, transistor Q 11 and
Q 12 are both turned on and then the transistor
Q 11 is turned off.

又、制御信号入力端子3がHレベルからLレベ
ルになるときはNANDゲート9は直ちに出力が
LレベルからHレベルになり、その出力の変化を
うけて初めてNANDゲート10の出力がHレベ
ルからLレベルに変わる。
Also, when the control signal input terminal 3 changes from H level to L level, the output of NAND gate 9 immediately changes from L level to H level, and only after that change in output does the output of NAND gate 10 change from H level to L level. change to the level.

以上、本実施例の場合はいずれの場合において
も、6トランジスタQ11とQ12の一方又は両方が
オンであり、両方のトランジスタが共にオフとな
る期間が存在しないものである。したがつて、こ
れらのトランジスタの共通ドレインは常に接地に
近い電位にあり、従来例のような電子スイツチを
形成するトランジスタに高い耐圧は要求されな
い。又、制御信号入力端子4により制御されるイ
ンバータ6、NANDゲート11,12およびト
ランジスタQ21,Q22についても同様である。
As described above, in the case of this embodiment, one or both of the six transistors Q 11 and Q 12 is on in any case, and there is no period in which both transistors are off. Therefore, the common drains of these transistors are always at a potential close to ground, and the transistors forming the electronic switch are not required to have a high breakdown voltage as in the prior art. The same applies to the inverter 6, NAND gates 11 and 12, and transistors Q 21 and Q 22 controlled by the control signal input terminal 4.

仮想接地線8は、仮想接地でありトランジスタ
Q12,Q22……のうちオンになつているトランジ
スタを通して入力信号が電流としてフイードバツ
ク抵抗Rfに流れ、出力端子2にアナログ電圧出
力として取り出される。以上の説明でトランジス
タQ11,Q12,Q21,Q22……のソース・ドレイン
耐圧が入力端子1のアナログ電圧より低い耐圧で
構成しうることが明らかである。
The virtual ground line 8 is a virtual ground and a transistor.
The input signal flows as a current to the feedback resistor Rf through the transistors Q 12 , Q 22 . . . which are turned on, and is taken out to the output terminal 2 as an analog voltage output. From the above explanation, it is clear that the transistors Q 11 , Q 12 , Q 21 , Q 22 .

さらに、抵抗R11,R12,R21,R22……等のラ
ダー抵抗を絶縁膜上に形成したポリシリコン等の
抵抗体膜で形成することにより、接合部の耐圧よ
り高い入力電圧でも使用できる。又、ポリシリコ
ンはシリコンゲート構造のMOS集積回路におい
てはゲート材料として通常用いられているものを
兼用すればよく、何等新規なプロセスを追加した
りする必要のないものである。
Furthermore, by forming the ladder resistors such as resistors R 11 , R 12 , R 21 , R 22 . . . with a resistor film such as polysilicon formed on an insulating film, it can be used even at an input voltage higher than the withstand voltage of the junction. can. Further, polysilicon may be a material commonly used as a gate material in a MOS integrated circuit having a silicon gate structure, and there is no need to add any new process.

なお、本実施例の構成では出力端子2は入力端
子1とは逆極性の電圧となるため、同一チツプ上
に集積せず、別チツプとして構成することが好し
い。
In the configuration of this embodiment, since the voltage at the output terminal 2 is opposite to that of the input terminal 1, it is preferable that the output terminal 2 is not integrated on the same chip, but is configured as a separate chip.

又、本実施例ではトランジスタQ11,Q12
Q21,Q22……はMOSトランジスタで構成してい
るが、バイポーラトランジスタを用いて構成する
ことももちろん可能であり、この場合、ドレイ
ン、ゲート、ソースがそれぞれ、コレクタ、ベー
ス、エミツタに対応する。
Furthermore, in this embodiment, transistors Q 11 , Q 12 ,
Q 21 , Q 22 ... are constructed using MOS transistors, but they can of course also be constructed using bipolar transistors, in which case the drain, gate, and source correspond to the collector, base, and emitter, respectively. .

さらに本実施例は電子ボリユームについて説明
したが、電子ボリユームに限るものではなく、広
くD/Aコンバータ、パターン発生器等に実施で
きることは言うまでもない。
Furthermore, although this embodiment has been described with respect to an electronic volume, it goes without saying that the present invention is not limited to electronic volumes and can be implemented in a wide variety of applications such as D/A converters and pattern generators.

本発明が特に有効なのは、最上部桁およびその
近傍の桁の切替スイツチ部である。なぜなら、こ
れらの桁において本発明が実施された場合、たと
えばr−2r抵抗回路網においては1桁ごとに入
力は2分の1に減衰するため必要な耐圧も順次2
分の1に低下することに依拠する。
The present invention is particularly effective in the changeover switch portions of the top girder and girders in its vicinity. This is because when the present invention is implemented in these digits, for example in an r-2r resistor network, the input is attenuated by half for each digit, so the required withstand voltage is also sequentially reduced by 2.
It relies on a factor of 1.

発明の効果 以上実施例を用いて説明したごとく、本発明に
よれば、比較的低い接合耐圧、たとえばFETの
ソース・ドレイン間耐圧、あるいはバイポーラト
ランジスタのコレクタ・エミツタ間耐圧の比較的
低い素子を用い、これらの耐圧より高い入力電圧
の電子ボリユームやD/Aコンバータ等の信号処
理回路が構成でき、素子の微細化即ち集積度を向
上せしめ、低コスト化にきわめて有効である。
Effects of the Invention As explained above using the embodiments, according to the present invention, an element having a relatively low junction breakdown voltage, such as a source-drain breakdown voltage of an FET, or a relatively low collector-emitter breakdown voltage of a bipolar transistor, is used. It is possible to construct signal processing circuits such as electronic volumes and D/A converters with input voltages higher than these withstand voltages, and it is extremely effective for miniaturizing elements, that is, improving the degree of integration, and reducing costs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来例に係る信号処理回路図、第2図
は本発明の一実施例に係る信号処理回路図であ
る。 1……入力端子、2……出力端子、3,4……
制御信号入力端子、5,6……インバータ、7…
…演算増幅器、8……仮想接地線、9,10,1
1,12……NANDゲート、Q11,Q12,Q21
Q22……トランジスタ。
FIG. 1 is a signal processing circuit diagram according to a conventional example, and FIG. 2 is a signal processing circuit diagram according to an embodiment of the present invention. 1...Input terminal, 2...Output terminal, 3, 4...
Control signal input terminal, 5, 6... Inverter, 7...
...Operation amplifier, 8...Virtual ground line, 9, 10, 1
1, 12...NAND gate, Q 11 , Q 12 , Q 21 ,
Q 22 ...transistor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 信号入力端子に接続されかつ複数個の分岐点
が設けられた抵抗回路網と、少くとも1つの前記
分岐点に接続される同極性のトランジスタ対と、
前記トランジスタ対のそれぞれの出力電極側の電
位を互いに実質的に同電位に保つ手段と、前記ト
ランジスタ対のそれぞれの制御電極に信号を入力
する制御信号入力端子と、前記制御信号入力端子
と前記トランジスタ対の間に設けられ、かつ前記
トランジスタ対のそれぞれの制御電極に互いに逆
位相の制御信号を印加する第1の制御回路とを有
し、前記第1の制御回路による制御信号の切換え
時において前記トランジスタ対の両方を導通状態
とする第2の制御回路を前記第1の制御回路と前
記トランジスタ対の間に設けたことを特徴とする
信号処理回路。
1. A resistor network connected to a signal input terminal and provided with a plurality of branch points, and a transistor pair of the same polarity connected to at least one of the branch points,
means for maintaining the potentials of the respective output electrodes of the transistor pair at substantially the same potential; a control signal input terminal for inputting a signal to each control electrode of the transistor pair; and the control signal input terminal and the transistor. a first control circuit that is provided between the pair of transistors and applies control signals having mutually opposite phases to the control electrodes of each of the transistor pairs, and when the first control circuit switches the control signal, A signal processing circuit characterized in that a second control circuit that brings both of the transistor pair into a conductive state is provided between the first control circuit and the transistor pair.
JP57179402A 1982-10-12 1982-10-12 Signal processing circuit Granted JPS5967707A (en)

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