JPH0548866B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0548866B2 JPH0548866B2 JP60279716A JP27971685A JPH0548866B2 JP H0548866 B2 JPH0548866 B2 JP H0548866B2 JP 60279716 A JP60279716 A JP 60279716A JP 27971685 A JP27971685 A JP 27971685A JP H0548866 B2 JPH0548866 B2 JP H0548866B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- resistance
- patterns
- disconnection
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は布線検査方式、特に、プリント配線板
等の回路パターンの短絡および断線の検出を行な
う布線検査方式に関する。
等の回路パターンの短絡および断線の検出を行な
う布線検査方式に関する。
従来の布線検査方式は、被試験物内の回路パタ
ーン及び２つのパターン間の抵抗値を測定するた
めの抵抗計と、抵抗計を試験すべき回路パターン
の２点に接続するためのリレー回路部とを含んで
構成されていた。
ーン及び２つのパターン間の抵抗値を測定するた
めの抵抗計と、抵抗計を試験すべき回路パターン
の２点に接続するためのリレー回路部とを含んで
構成されていた。
次に従来の布線検査方式について図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第２図は従来の布線検査方式の一例を示すブロ
ツク図である。第２図に示す布線検査方式は、被
試験物１内の各パターン端点に接続されるリレー
回路部４と、リレー回路部４により選択された２
点間の抵抗を測定するための抵抗計２とを含んで
いる。ここで被試験物１内のパターンＡ，Ｂ，Ｃ
は、第３図に示す様なプリント配線板等の回路パ
ターンＡ，Ｂ，Ｃを簡略化し、直線として表現し
たものである。
ツク図である。第２図に示す布線検査方式は、被
試験物１内の各パターン端点に接続されるリレー
回路部４と、リレー回路部４により選択された２
点間の抵抗を測定するための抵抗計２とを含んで
いる。ここで被試験物１内のパターンＡ，Ｂ，Ｃ
は、第３図に示す様なプリント配線板等の回路パ
ターンＡ，Ｂ，Ｃを簡略化し、直線として表現し
たものである。
まず、パターンＡの断線を検査するために、リ
レー回路部４はａ−ｄ間及びa′−ｅ間を閉じ、抵
抗計２は、パターンＡの両端ａ−a′の抵抗値を測
定する。このときパターンＡ内に断線がなければ
測定される抵抗値は微小な値となり、逆に断線が
あれば抵抗値は大きくなる。同様にしてｂ−ｄ
間、b′−ｅ間の接続によりパターンＢの断線検査
ができ、ｃ−ｄ間、c′−ｅ間の接続によりパター
ンｃの断線検査ができる。次に、リレー回路部４
がａ−ｄ間及びb′−ｅ間を閉じることにより抵抗
計２はパターンＡとパターンＢに含まれる２点間
の抵抗を測定する。ここでパターンＡ，Ｂに断線
がなくパターンＡとパターンＢ間に短絡があれ
ば、測定される抵抗値は微小なものとなり、逆に
短絡がない場合には抵抗値は大きくなる。
レー回路部４はａ−ｄ間及びa′−ｅ間を閉じ、抵
抗計２は、パターンＡの両端ａ−a′の抵抗値を測
定する。このときパターンＡ内に断線がなければ
測定される抵抗値は微小な値となり、逆に断線が
あれば抵抗値は大きくなる。同様にしてｂ−ｄ
間、b′−ｅ間の接続によりパターンＢの断線検査
ができ、ｃ−ｄ間、c′−ｅ間の接続によりパター
ンｃの断線検査ができる。次に、リレー回路部４
がａ−ｄ間及びb′−ｅ間を閉じることにより抵抗
計２はパターンＡとパターンＢに含まれる２点間
の抵抗を測定する。ここでパターンＡ，Ｂに断線
がなくパターンＡとパターンＢ間に短絡があれ
ば、測定される抵抗値は微小なものとなり、逆に
短絡がない場合には抵抗値は大きくなる。
同様にして、ｂ−ｄ間、c′−ｅ間の接続により
パターンＢ−Ｃ間の短絡検査ができ、ａ−ｄ間、
c′−ｅ間の接続によりパターンＡ−Ｃ間の短絡検
査ができる。一方、パターンＡ内に断線がある場
合、パターンＡと他のパターンとの短絡を検査す
るためには、パターンＡの２つの端点ａ，a′につ
いてそれぞれ独立に他のパターンとの短絡を調べ
る必要が生じる。従つて、全パターンの内、正常
パターンの数をN1とし、断線のあるパターンの
数をN2とすると、断線検査にN1＋N2回、短絡検
査にN1＋2N2 C2回で合計N1＋N2＋
（N1＋2N2）！／２（N1＋2N2−２）！回の検査が必要と
なる。
パターンＢ−Ｃ間の短絡検査ができ、ａ−ｄ間、
c′−ｅ間の接続によりパターンＡ−Ｃ間の短絡検
査ができる。一方、パターンＡ内に断線がある場
合、パターンＡと他のパターンとの短絡を検査す
るためには、パターンＡの２つの端点ａ，a′につ
いてそれぞれ独立に他のパターンとの短絡を調べ
る必要が生じる。従つて、全パターンの内、正常
パターンの数をN1とし、断線のあるパターンの
数をN2とすると、断線検査にN1＋N2回、短絡検
査にN1＋2N2 C2回で合計N1＋N2＋
（N1＋2N2）！／２（N1＋2N2−２）！回の検査が必要と
なる。
上記３パターンの例では、各パターンに断線の
ない場合で６回全パターン断線の場合には３＋
6C2＝18回の検査を要する。
ない場合で６回全パターン断線の場合には３＋
6C2＝18回の検査を要する。
上述した従来の布線検査方式は、被試験物内の
回路パターンの１つ１つを独立に試験するため、
抵抗計とパターンとの接続を切換えるためのリレ
ー回路部が、パターンの数と共に複雑化すると共
に、測定回数も増加し、検査時間が長くなるとい
う欠点があつた。
回路パターンの１つ１つを独立に試験するため、
抵抗計とパターンとの接続を切換えるためのリレ
ー回路部が、パターンの数と共に複雑化すると共
に、測定回数も増加し、検査時間が長くなるとい
う欠点があつた。
本発明の布線検査方式は、互いに異なる抵抗値
をもつ複数の抵抗器を有する抵抗器部と、前記抵
抗器部に接続された抵抗計とを含んで構成され
る。
をもつ複数の抵抗器を有する抵抗器部と、前記抵
抗器部に接続された抵抗計とを含んで構成され
る。
次に、本発明の実施例について、図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
ある。第１図に示す布線検査方式は、被試験物１
の各パターンに接続される異なる抵抗値をもつ抵
抗器R1，R2，R3，R4，R5が直列接続された抵抗
器部３と抵抗計２とを含んで構成される。ここで
被試験物１は第２図に示す様な、プリント配線板
等の回路パターンＡ，Ｂ，Ｃを簡略化して表現し
たものである。
ある。第１図に示す布線検査方式は、被試験物１
の各パターンに接続される異なる抵抗値をもつ抵
抗器R1，R2，R3，R4，R5が直列接続された抵抗
器部３と抵抗計２とを含んで構成される。ここで
被試験物１は第２図に示す様な、プリント配線板
等の回路パターンＡ，Ｂ，Ｃを簡略化して表現し
たものである。
第１図において、抵抗器R1，R3，R5はそれぞ
れパターンＡ，Ｂ，Ｃに並列接続され、R2，R4
はそれぞれパターンＡ−Ｂ間及びＢ−Ｃ間を接続
している。また抵抗計２の測定端子ｄ，ｅはそれ
ぞれパターンＡの端点ａ及びパターンＣの端点
C′に接続している。ここで、抵抗計２により抵抗
値を測定することにより、各パターンの断線及び
短絡の状態に応じて、以下の様な値が得られる。
れパターンＡ，Ｂ，Ｃに並列接続され、R2，R4
はそれぞれパターンＡ−Ｂ間及びＢ−Ｃ間を接続
している。また抵抗計２の測定端子ｄ，ｅはそれ
ぞれパターンＡの端点ａ及びパターンＣの端点
C′に接続している。ここで、抵抗計２により抵抗
値を測定することにより、各パターンの断線及び
短絡の状態に応じて、以下の様な値が得られる。
断線・短絡なし……Ｒ＝R2＋R4（Ｒ：測定抵抗
値） パターンＡ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R1 パターンＢ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R1 パターンＣ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R5 Ａ−Ｂ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R2 Ｂ−Ｃ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R4 Ｃ−Ａ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R2−R4 従つて、１回の測定により、正常な抵抗値と、
測定された抵抗値との比較することで、各パター
ンの断線及び短絡の検出を行なうことができる。
値） パターンＡ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R1 パターンＢ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R1 パターンＣ断線……Ｒ＝R2＋R4＋R5 Ａ−Ｂ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R2 Ｂ−Ｃ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R4 Ｃ−Ａ間短絡……Ｒ＝R2＋R4−R2−R4 従つて、１回の測定により、正常な抵抗値と、
測定された抵抗値との比較することで、各パター
ンの断線及び短絡の検出を行なうことができる。
ここで、抵抗器R1〜R5の抵抗値は、不良場所
を明らかにするために、異なる値でなければなら
ないが、R1の抵抗値に対し、例えばR2＝2R1、
R3＝4R1、R4＝8R1、R5＝16R1とすることによ
り、測定値Ｒの値により、以下の様な不良診断が
できる。
を明らかにするために、異なる値でなければなら
ないが、R1の抵抗値に対し、例えばR2＝2R1、
R3＝4R1、R4＝8R1、R5＝16R1とすることによ
り、測定値Ｒの値により、以下の様な不良診断が
できる。
Ｒ＝10R1……断線・短絡なし。
Ｒ＝11R1……パターンＡ断線。
Ｒ＝14R1……パターンＢ断線。
Ｒ＝26R1……パターンＣ断線。
Ｒ＝8R1……Ａ−Ｂ間短絡。
Ｒ＝2R2……Ｂ−Ｃ間短絡。
Ｒ＝０……Ｃ−Ａ間短絡。
本発明の布線検査方式は、被試験物内の各布線
パターンと、抵抗計とを接続するためのリレー回
路部を設ける代りに、異なる値の複数の抵抗器を
設けることにより、パターンの数の増加と共に複
雑化するリレー回路部を簡素化できると共に、１
回の抵抗値測定で、パターンの短絡・断線が検出
できるため、検査時間の大巾な短絡が可能になる
という効果がある。
パターンと、抵抗計とを接続するためのリレー回
路部を設ける代りに、異なる値の複数の抵抗器を
設けることにより、パターンの数の増加と共に複
雑化するリレー回路部を簡素化できると共に、１
回の抵抗値測定で、パターンの短絡・断線が検出
できるため、検査時間の大巾な短絡が可能になる
という効果がある。
第１図は本発明の一実施例を含むブロツク図、
第２図は従来の布線検査方式を示すブロツク図、
第３図は第１図及び第２図に示す被試験物の布線
パターンである。 １……被試験物、２……抵抗計、３……抵抗器
部、４……リレー回路部、Ａ，Ｂ，Ｃ……布線パ
ターン、R1，R2，R3，R4，R5……抵抗器。
第２図は従来の布線検査方式を示すブロツク図、
第３図は第１図及び第２図に示す被試験物の布線
パターンである。 １……被試験物、２……抵抗計、３……抵抗器
部、４……リレー回路部、Ａ，Ｂ，Ｃ……布線パ
ターン、R1，R2，R3，R4，R5……抵抗器。
Claims (1)
- １ 互いに異なる抵抗値をもつ複数の抵抗器が直
列接続され各接続点に被検査回路パターンが接続
される抵抗部と、前記抵抗器部の両端に接続され
た抵抗計とを有し、前抵抗器の抵抗値と前記被検
査回路パターンの回路状態との組合せにより計算
上求められる複数推定合成抵抗値と前記抵抗計の
実測抵抗値とを比較することにより前記被検査回
路パターンの良否を判定することを特徴とする布
線検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60279716A JPS62137571A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 布線検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60279716A JPS62137571A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 布線検査方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62137571A JPS62137571A (ja) | 1987-06-20 |
| JPH0548866B2 true JPH0548866B2 (ja) | 1993-07-22 |
Family
ID=17614884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60279716A Granted JPS62137571A (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 布線検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62137571A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0242368A (ja) * | 1988-08-02 | 1990-02-13 | Nec Corp | 布線検査方式 |
| JP2548395B2 (ja) * | 1989-09-04 | 1996-10-30 | シャープ株式会社 | 異方性導電膜の貼付装置 |
-
1985
- 1985-12-11 JP JP60279716A patent/JPS62137571A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62137571A (ja) | 1987-06-20 |
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