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JPH0549944B2 - - Google Patents
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JPH0549944B2 - - Google Patents

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JPH0549944B2
JPH0549944B2 JP63274306A JP27430688A JPH0549944B2 JP H0549944 B2 JPH0549944 B2 JP H0549944B2 JP 63274306 A JP63274306 A JP 63274306A JP 27430688 A JP27430688 A JP 27430688A JP H0549944 B2 JPH0549944 B2 JP H0549944B2
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JP
Japan
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load
contact needle
sample
vibration
detection means
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Shimadzu Corp
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 この発明は固定表面や薄膜の力学特性を測定す
る装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A. Field of Industrial Application This invention relates to a device for measuring mechanical properties of fixed surfaces or thin films.

B 従来の技術 たとえば真空蒸着法、スパツタ法、プラズマ
CVD法等によつて製造した金属、無機物などの
薄膜について、膜と基板との付着力 特にこの付
着力の指標ともなる摩擦係数、硬度、表面粗さな
どの特性を適確に測定することが要求される。
B. Conventional techniques such as vacuum evaporation method, sputtering method, plasma
For thin films of metals, inorganic materials, etc. manufactured by CVD methods, etc., it is necessary to accurately measure the adhesion between the film and the substrate, especially the properties such as friction coefficient, hardness, and surface roughness, which are indicators of this adhesion. required.

この要求に応える薄膜の付着力測定方法として
引き倒し法があるが、一定強度以上の付着力を持
つ薄膜には適用できない。そのため強付着力の薄
膜試料の測定には圧痕法や引掻き法があるが微小
領域での薄膜測定には不向きである。
The pull-down method is a method for measuring the adhesion of thin films that meets this requirement, but it cannot be applied to thin films that have an adhesion strength above a certain level. For this reason, the indentation method and the scratch method are available for measuring thin film samples with strong adhesion, but these methods are unsuitable for thin film measurements in minute areas.

このようなことから最近、加振される接触針を
試料表面に接触させ、摩擦力に対応する振動の大
きさを検出し、この検出値の大きさ等から表面の
力学特性を測定する方法が提案されている。
For this reason, recently a method has been developed in which a vibrating contact needle is brought into contact with the sample surface, the magnitude of vibration corresponding to the frictional force is detected, and the mechanical properties of the surface are measured from the magnitude of this detected value. Proposed.

C 発明が解決しようとする課題 しかしながら、この新しく提案されている測定
技術は、板ばね等の弾性体や重錘によつて接触針
を試料表面に一定の力で接触させるものであり、
特に摩擦係数などを求めるのに大きな要素となる
押付力については、その精度を高めることが不可
能であり再現性も悪い。
C. Problems to be Solved by the Invention However, this newly proposed measurement technique involves bringing the contact needle into contact with the sample surface with a constant force using an elastic body such as a leaf spring or a weight.
In particular, it is impossible to improve the accuracy of pressing force, which is a major factor in determining the coefficient of friction, and the reproducibility is poor.

D 課題を解決するための手段 この発明が提供する測定装置は、先端が試料表
面に接触する接触針と、この接触針を加振させる
加振機構と、接触針を前記試料表面に所定の負荷
で接触させる負荷機構と、前記負荷機構が前記接
触針に対して及ぼす負荷を測定する負荷検出手段
と、前記負荷検出手段の出力に応じて前記負荷機
構をフイードバツク制御する計測制御部と、加振
時の接触針の試料に対する振動の大きさを検出す
る振動検出手段とを具備し、試料への負荷荷重と
振動検出手段の出力によつて試料表面の摩擦係
数、付着力、硬度等の力学特性を測定することを
特徴とする。
D Means for Solving the Problems The measuring device provided by the present invention includes a contact needle whose tip contacts the sample surface, an excitation mechanism that vibrates the contact needle, and a vibration mechanism that vibrates the contact needle with a predetermined load on the sample surface. a load mechanism brought into contact with the contact needle, a load detection means for measuring the load exerted by the load mechanism on the contact needle, a measurement control section for feedback-controlling the load mechanism according to the output of the load detection means, and an excitation It is equipped with a vibration detection means for detecting the magnitude of vibration of the contact needle against the sample, and the mechanical properties such as the friction coefficient, adhesion force, hardness, etc. of the sample surface are determined based on the load applied to the sample and the output of the vibration detection means. It is characterized by measuring.

E 作用 負荷機構により接触針が所定の負荷値で試料表
面に押圧された状態で、加振機構は接触針を試料
表面と並行に振動させる。この状態で計測制御部
は、負荷検出手段によつて検出された負荷値で前
記負荷機構をフイードバツク制御することによつ
て、接触針への負荷を所定値に保つ。そして、負
荷荷重と振動検出手段の出力によつて、試料表面
の摩擦係数、付着力、硬度等の力学特性が計測さ
れる。
E Effect: With the contact needle being pressed against the sample surface by the load mechanism with a predetermined load value, the vibration mechanism vibrates the contact needle in parallel with the sample surface. In this state, the measurement control section maintains the load on the contact needle at a predetermined value by feedback-controlling the load mechanism using the load value detected by the load detection means. Then, mechanical properties such as the friction coefficient, adhesion force, and hardness of the sample surface are measured based on the applied load and the output of the vibration detection means.

F 実施例 以下、図面に示す実施例にしたがつて この発
明を説明する。
F. Embodiments The present invention will be described below with reference to embodiments shown in the drawings.

第1図はこの発明による測定装置の全体を理解
しやすく模式的に示す図で、Aが測定本体部、C
が計測制御部、Rが記録部である。
FIG. 1 is a diagram schematically showing the entire measuring device according to the present invention in an easy-to-understand manner.
is a measurement control section, and R is a recording section.

まず測定本体部Aについて、その構成を説明す
ると、1は測定本体枠で下方には試料T,Pを載
置する移動台3,4が昇降台2上に載架される形
で設置されている。そして上方枠部には、この発
明の要部である測定負荷部Lと加振部Bはカート
リツジ17を介して接触針20を試料TPに接触
させつつ作動し、測定を行なう部分で詳細は後述
するが、この上方枠部にはまた測定結果の試料
TPを観察するための光学系Kも並設されている。
このSは接眼レンズ、Tは対物レンズである。
First, to explain the structure of the measurement main body part A, 1 is a measurement main body frame, and below there are movable tables 3 and 4 on which samples T and P are placed, which are placed on a lifting table 2. There is. In the upper frame part, a measurement load part L and a vibrating part B, which are the main parts of the present invention, operate while bringing the contact needle 20 into contact with the sample TP via the cartridge 17, and perform measurements, the details of which will be described later. However, this upper frame also contains the measurement result sample.
An optical system K for observing the TP is also installed in parallel.
This S is an eyepiece lens, and T is an objective lens.

さて前記したとおり、接触針20はカートリツ
ジ17に保持されており、このカートリツジ17
が加振部Bと測定負荷部Lによつて一定の負荷で
試料TP側に付勢されつつ加振されるようになつ
ているのである。この場合、この発明はこの測定
負荷部Lに特徴を有するが、図示例では電子天び
んの原理による電磁力方式の負荷機構が示されて
いる。すなわち6は本体側1側に固設された電磁
用コイルで7がコア(鉄心)である。この鉄心7
は支点Eを中心に揺動自在なレバー8の一端に連
結されており、またレバー8の他端には負荷板9
が連結されている。そして、この負荷板9の下方
にはロードセル10を介して加振部Bの固定枠1
1が連接されて構成されている。そして、さらに
この電磁用コイル6には計測制御部Cから所要の
電力が供給されるようになつているとともに、ロ
ードセル10からの負荷値は電気信号として出力
されて、これも計測制御部Cに入力されるように
なつている。この点は第4図からも明らかなとお
りである。
Now, as mentioned above, the contact needle 20 is held in the cartridge 17, and this cartridge 17
is vibrated while being biased toward the sample TP side with a constant load by the vibrating part B and the measurement load part L. In this case, the present invention is characterized by the measurement load section L, and the illustrated example shows an electromagnetic force type load mechanism based on the principle of an electronic balance. That is, 6 is an electromagnetic coil fixedly installed on the main body side 1, and 7 is a core (iron core). This iron core 7
is connected to one end of a lever 8 that can freely swing around a fulcrum E, and a load plate 9 is connected to the other end of the lever 8.
are connected. A fixed frame 1 of the vibrating section B is provided below the load plate 9 via a load cell 10.
1 are connected together. Further, this electromagnetic coil 6 is supplied with the required power from the measurement control section C, and the load value from the load cell 10 is output as an electric signal, which is also supplied to the measurement control section C. It is now being entered. This point is also clear from Figure 4.

したがつてロードセル10からの出力信号によ
りフイードバツク制御しながらコイル6への電力
供給を調整することにより一定の負荷を設定する
ことができるし、また定速で負荷を増減制御する
こともできる。
Therefore, by adjusting the power supply to the coil 6 under feedback control using the output signal from the load cell 10, a constant load can be set, and the load can also be controlled to increase or decrease at a constant speed.

このような負荷機構によつて接触針20を試料
TPに対して一定の負荷を与えながら付勢するよ
うになつているが、接触針20による特性検出機
構は第2図、第3図に示すとおりである。
With such a loading mechanism, the contact needle 20 is
The TP is biased while applying a constant load, and the characteristic detection mechanism using the contact needle 20 is as shown in FIGS. 2 and 3.

第2図は加振機構のみを取り出して模式的に示
しているが、11が前述のとおりロードセル10
に連接される固定枠で、接触針20を保持するカ
ートリツジ17はこの固定枠11の下方部に板バ
ネ(弾性体)13を介して取り付けられている。
この両板バネ13の上端は取付板14で連結され
ているが、この取付板14には連結枠15を介し
てコイル体16が連結されている。このコイル体
16は固定枠11の両側に固定された永久磁石1
2と協働するムービングコイル機構を構成し、し
たがつて、このコイル体16のコイルに対し計測
制御部Cから交流が印加されるとコイル体16に
振動が与えられた取付板14に垂設されたカート
リツジ17も左右に振動する。
FIG. 2 schematically shows only the vibration mechanism, and 11 is the load cell 10 as mentioned above.
A cartridge 17 for holding the contact needle 20 is attached to the lower part of the fixed frame 11 via a leaf spring (elastic body) 13.
The upper ends of both leaf springs 13 are connected by a mounting plate 14, and a coil body 16 is connected to this mounting plate 14 via a connecting frame 15. This coil body 16 consists of permanent magnets 1 fixed on both sides of the fixed frame 11.
2, and therefore, when an alternating current is applied to the coil of this coil body 16 from the measurement control unit C, the coil body 16 is vertically mounted on the mounting plate 14 where the coil body 16 is vibrated. The cartridge 17 also vibrates from side to side.

このようにして接触針20が加振されるわけで
あるが、接触針20が試料TPに一定の負荷で付
勢されつつ加振されるとき、試料TPにおける薄
膜の付着力などの力学特性が測定されるわけであ
るが、それは第3図に示す検出機構により行なわ
れる。すなわち第3図はカートリツジ17の失端
部を模式的でかつ斜視的に示す図で、図において
17がカートリツジでありHはカートリツジ17
を着脱可能に保持する保持杆であり、取付板14
に植設されている。
The contact needle 20 is vibrated in this way, and when the contact needle 20 is vibrated while being urged against the sample TP with a constant load, the mechanical properties such as the adhesion force of the thin film on the sample TP are affected. The measurement is performed by a detection mechanism shown in FIG. That is, FIG. 3 is a diagram schematically and perspectively showing the lost end of the cartridge 17. In the figure, 17 is the cartridge, and H is the cartridge 17.
It is a holding rod that removably holds the mounting plate 14.
It is planted in.

接触針20はカートリツジ17に対し、支持部
Zで揺動自在に支持されたレバー18の先端に保
持されている。このレバー18の他端にはマグネ
ツトMが付設されていて、レバー18が支持部Z
を中心に揺動してマグネツトMが左右に振れる
と、これを検出コイル19が検知し電気信号とし
て出力する。
The contact needle 20 is held at the tip of a lever 18 that is swingably supported by a support part Z with respect to the cartridge 17. A magnet M is attached to the other end of this lever 18, and the lever 18 is attached to the support part Z.
When the magnet M swings from side to side by swinging around the center, the detection coil 19 detects this and outputs it as an electric signal.

さて以上のような構成において試料TPの表面
の摩擦特性とか薄膜の付着力の測定はつぎのとお
り行なわれる。カートリツジ17と接触針20は
加振機構によつて第3図矢印方向に加振される。
この場合カートリツジ17の強制振動に応じて接
触針20は、試料TPに一定の負荷で付勢されて
いるものの引きずられて働く。
Now, in the above configuration, the frictional characteristics of the surface of the sample TP and the adhesion force of the thin film are measured as follows. The cartridge 17 and the contact needle 20 are vibrated in the direction of the arrow in FIG. 3 by the vibrating mechanism.
In this case, in response to the forced vibration of the cartridge 17, the contact needle 20 is dragged by the sample TP, although it is biased with a constant load.

しかし振動の振幅が最大となる点付近では針2
0は動きを止め逆方向に働く復元力が摩擦力を上
回るまでの間停止する。
However, near the point where the vibration amplitude is maximum, the needle 2
0 stops the movement until the restoring force acting in the opposite direction exceeds the frictional force.

他方カートリツジ17は加振をつづけるから、
試料表面との摩擦力の関係で針20が停止または
その動きが制限される場合には、レバー18とカ
ートリツジ17との間に相対的変位が生じ、この
相対的変位はコイル19に生じる誘導起電力によ
つて検出される。この検出信号は第4図にも示す
とおり計測制御部Cに入力されるようになつてお
り、この信号値で特性の測定が行なわれるのであ
る。この場合ロードセル10からの荷重値も重要
な要素となる。
On the other hand, since the cartridge 17 continues to be vibrated,
When the needle 20 is stopped or its movement is restricted due to the frictional force with the sample surface, a relative displacement occurs between the lever 18 and the cartridge 17, and this relative displacement is caused by the induced force generated in the coil 19. Detected by electric power. This detection signal is input to the measurement control section C as shown in FIG. 4, and the characteristics are measured based on this signal value. In this case, the load value from the load cell 10 is also an important factor.

具体的には摩擦係数と付着力はつぎの形で測定
される。
Specifically, the friction coefficient and adhesion force are measured in the following manner.

1 摩擦係数の測定 カートリツジを押しつける荷重Wを徐々に増し
ていくと、所定の荷重Wsで摩擦力(μW)とレバ
ー18の最大復元力(kx0)が釣合状態となり、
接触針20が停止したままでカートリツジのみが
振動するという状態が発生し、この状態でカート
リツジの出力電圧が飽和する。したがつて、カー
トリツジの出力電圧が飽和したときの荷重Wsが
わかれば、摩擦係数は μ=k.x0/Ws x0:カートリツジの振幅 k:保持杆の水平バネ定数で求められる。
1 Measurement of friction coefficient When the load W pressing the cartridge is gradually increased, the friction force (μW) and the maximum restoring force (kx0) of the lever 18 become balanced at a predetermined load Ws.
A state occurs in which only the cartridge vibrates while the contact needle 20 remains stationary, and in this state, the output voltage of the cartridge is saturated. Therefore, if the load Ws when the output voltage of the cartridge is saturated is known, the friction coefficient can be found as μ=kx 0 /Ws x 0 : amplitude of the cartridge k: horizontal spring constant of the holding rod.

2 付着力の測定 薄膜などにこの装置を用いると、付着力を測定
することができる。荷重を増していくと、薄膜に
破壊を生じ、この状態においては、破壊された膜
の破片等によりカートリツジの出力電圧にノイズ
状の信号が発生するため、このノイズ状の信号が
発生したときの荷重を剥離時の荷重Wcとして知
ることができる。
2 Measurement of Adhesive Force When this device is used for thin films etc., it is possible to measure the adhesive force. As the load increases, the thin film breaks down, and in this state, a noise-like signal is generated in the output voltage of the cartridge due to fragments of the broken film. The load can be known as the load Wc at the time of peeling.

付着力の決定には、Benjamin and Weaverの
式を用いる。
The Benjamin and Weaver formula is used to determine the adhesion force.

ここで、Fは付着力、Hはブリネル硬さ、Wc
は剥離の臨界荷重、Rはスタイラスの半径であ
る。なお、付着力は、Benjamin and Weaverの
式のような単純な式あらわせないという指摘もあ
るが、試験条件の異なるデータを比較検討するた
めの便宜としてこの式で求める。
Here, F is adhesion force, H is Brinell hardness, Wc
is the critical load for peeling and R is the radius of the stylus. Although it has been pointed out that adhesion cannot be expressed using a simple formula such as the Benjamin and Weaver formula, this formula is used as a convenience for comparing and examining data from different test conditions.

測定において、試料TPを水平(Y軸)方向に
変位させることによつて時間の経過ごとにおける
摩擦力とか付着力の変化を記録計Rにて記録する
ことができる。この場合、試料TPはY軸移動台
4がモータ5によつて台3に対して変位させられ
る。すなわちモータ5の回転により、ねじ送り機
構が作動し移動台3が紙面垂直方向に変位する。
なお、具体的な測定操作は第5図に示すようなフ
ローチヤートにしたがつて行なわれる。
In the measurement, by displacing the sample TP in the horizontal (Y-axis) direction, changes in frictional force or adhesion force over time can be recorded by the recorder R. In this case, the sample TP is displaced by the Y-axis moving table 4 with respect to the table 3 by the motor 5. That is, the rotation of the motor 5 activates the screw feeding mechanism, and the movable table 3 is displaced in a direction perpendicular to the plane of the paper.
Note that the specific measurement operation is performed according to the flowchart shown in FIG.

この発明の特徴は以上のとおりであるが、上記
ならびに図示例に限定されるものではなく、種々
の変形実施例をも包含するものである。特に負荷
機構について図示例では電子天びんの原理でレバ
ー8を使用し、電磁力にて負荷する方式としたが
天びん方式でなく直接的に電磁力を作用させるよ
うにしてもよいし、電磁力以外の負荷方式でもよ
い。たとえば、電歪素子を使用して負荷力を発生
させるようにしてもよい。また加振機構について
図示例はムービングコイル方式としたが、その他
のあらゆる加振機構を採用でき、たとえば弾性体
支持でスピーカにより加させる方式としてもよい
しあるいは電歪素子を使用してもよい。接触針
(スタイラス)の支持構造、検出機構も図示例に
限定されるものではない。
Although the features of the present invention are as described above, the present invention is not limited to the above-mentioned and illustrated examples, and includes various modified embodiments. In particular, regarding the loading mechanism, in the illustrated example, a lever 8 is used based on the principle of an electronic balance, and the load is applied using electromagnetic force. A loading method may also be used. For example, an electrostrictive element may be used to generate the load force. Further, although the illustrated example uses a moving coil type vibration mechanism, any other type of vibration mechanism may be used, for example, a type in which the vibration is applied by a speaker supported by an elastic body, or an electrostrictive element may be used. The supporting structure of the contact needle (stylus) and the detection mechanism are also not limited to the illustrated example.

さらに、負荷の方式として接触針を上方から付
勢させる形のみでなく、下方の移動台の方を動か
せる形とすることできる。
Furthermore, as a loading method, it is possible to use not only a method in which the contact needle is urged from above, but also a method in which the lower movable table can be moved.

この発明はこれらすべての変形例を包含する。 The invention encompasses all these variations.

G 発明の効果 この発明が提供する表面特性測定装置は、以上
詳述したとおりであるから、負荷機構の採用によ
り接触針による試料への負荷を自由に制御でき、
種々の特性測定が可能となるという大きな特徴を
有する。また負荷機構の採用により負荷値の精度
を高め、再現性を良好ならしめることができる。
G. Effects of the Invention The surface property measuring device provided by the present invention is as described above in detail, so that the load on the sample by the contact needle can be freely controlled by adopting the loading mechanism.
It has the great feature of being able to measure various characteristics. Further, by adopting a load mechanism, it is possible to improve the accuracy of the load value and improve reproducibility.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明による測定装置全体の構成を
模式的に示す図、第2図、第3図は測定装置の構
成要素の一部を拡大して示す図、第4図は電気回
路図、第5図はフローチヤート図である。 A……測定本体部、C……計測制御部、R……
記録部、B……加振部、L……測定負荷部、E…
…支持部、M……マグネツト、1……測定本体
部、3,4……移動台、5……モータ、6……コ
イル、7……鉄心、8……レバー、9……負荷
板、10……ロードセル、11……固定枠、12
……永久磁石、13……板バネ、17……カート
リツジ、18……レバー、19……コイル、20
……接触針。
FIG. 1 is a diagram schematically showing the overall configuration of the measuring device according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are enlarged views of some of the components of the measuring device, and FIG. 4 is an electric circuit diagram. FIG. 5 is a flow chart. A...Measurement main unit, C...Measurement control unit, R...
Recording section, B...excitation section, L...measuring load section, E...
...Support part, M...Magnet, 1...Measurement main unit, 3, 4...Moving table, 5...Motor, 6...Coil, 7...Iron core, 8...Lever, 9...Load plate, 10...Load cell, 11...Fixed frame, 12
... Permanent magnet, 13 ... Leaf spring, 17 ... Cartridge, 18 ... Lever, 19 ... Coil, 20
...Contact needle.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 先端が試料表面に接触する接触針と、この接
触針を加振させる加振機構と、接触針を前記試料
表面に所定の負荷で接触させる負荷機構と、前記
負荷機構が前記接触針に対して及ぼす負荷を測定
する負荷検出手段と、前記負荷検出手段の出力に
応じて前記負荷機構をフイードバツク制御する計
測制御部と、加振時の接触針の試料に対する振動
の大きさを検出する振動検出手段とを具備し、試
料への負荷荷重と振動検出手段の出力によつて試
料表面の摩擦係数、付着力、硬度等の力学特性を
測定することを特徴とする表面特性測定装置。
1. A contact needle whose tip contacts the sample surface, an excitation mechanism that excites the contact needle, a load mechanism that brings the contact needle into contact with the sample surface with a predetermined load, and a load mechanism that causes the contact needle to vibrate. load detection means for measuring the load exerted on the sample; a measurement control section for feedback-controlling the load mechanism according to the output of the load detection means; and a vibration detection means for detecting the magnitude of vibration of the contact needle against the sample during vibration. What is claimed is: 1. A surface property measuring device, comprising: means for measuring mechanical properties such as a friction coefficient, adhesion force, hardness, etc. of a sample surface based on a load applied to the sample and an output from the vibration detection means.
JP27430688A 1988-10-28 1988-10-28 Surface property measuring device Granted JPH02120645A (en)

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JP27430688A JPH02120645A (en) 1988-10-28 1988-10-28 Surface property measuring device

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