JPH055083B2 - - Google Patents
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- JPH055083B2 JPH055083B2 JP58108908A JP10890883A JPH055083B2 JP H055083 B2 JPH055083 B2 JP H055083B2 JP 58108908 A JP58108908 A JP 58108908A JP 10890883 A JP10890883 A JP 10890883A JP H055083 B2 JPH055083 B2 JP H055083B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- light
- specimen
- observation
- shutter
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は螢光顕微測光装置に関し、得に螢光標
本を透過光で観察し、標本の位置決めをした後
に、螢光測光をすることができる装置に関する。
本を透過光で観察し、標本の位置決めをした後
に、螢光測光をすることができる装置に関する。
従来、螢光測光をする場合、標本の細胞の観察
及び細胞の位置決めは螢光観察で行なつている。
例えば、第１図に示す落射螢光装置が知られてい
る。第１図において、超高圧水銀灯の光源１より
出た光線は、レンズ２を集光され、チヨツパー３
で変調をかけられた後、レンズ４により、ピンホ
ール５を背後から照明する。
及び細胞の位置決めは螢光観察で行なつている。
例えば、第１図に示す落射螢光装置が知られてい
る。第１図において、超高圧水銀灯の光源１より
出た光線は、レンズ２を集光され、チヨツパー３
で変調をかけられた後、レンズ４により、ピンホ
ール５を背後から照明する。
上記ピンホール５を出た光は、ダイクロイツク
ミラー６で反射され、対物レンズ７により、ステ
ージ上の標本８上にピンホール５の像を結像す
る。上記ピンホール５を通過した励起光により励
起された標本８から発する螢光は、対物レンズ７
により収れんされ、ダイクロイツクミラー６、吸
収フイルター９および測光フイルター１０によ
り、励起光成分を取除かれて、検出器１１で測光
される。上記検出器１１からの出力信号は増幅器
１２によつて増幅されて、演算回路１３により所
定の処理を行ない螢光値として出力される。上記
落射螢光装置を使用して、螢光測光を行なうため
に、標本８の中の細胞を選択し、位置決めをする
場合には、ピンホール５を光路から退避させる
か、大きなピンホール５を使用するこにより、標
本８の視野全体を励起し、観察用プリズム１４を
光路に挿入して、接眼レンズ１５によつて、細胞
の螢光像を観察しながら行なつている。
ミラー６で反射され、対物レンズ７により、ステ
ージ上の標本８上にピンホール５の像を結像す
る。上記ピンホール５を通過した励起光により励
起された標本８から発する螢光は、対物レンズ７
により収れんされ、ダイクロイツクミラー６、吸
収フイルター９および測光フイルター１０によ
り、励起光成分を取除かれて、検出器１１で測光
される。上記検出器１１からの出力信号は増幅器
１２によつて増幅されて、演算回路１３により所
定の処理を行ない螢光値として出力される。上記
落射螢光装置を使用して、螢光測光を行なうため
に、標本８の中の細胞を選択し、位置決めをする
場合には、ピンホール５を光路から退避させる
か、大きなピンホール５を使用するこにより、標
本８の視野全体を励起し、観察用プリズム１４を
光路に挿入して、接眼レンズ１５によつて、細胞
の螢光像を観察しながら行なつている。
しかしながら、上記従来の装置においては次の
ような欠点を有している。即ち、細胞像を観察し
ながら選択し、位置決めをする際に、螢光用の励
起光を標本に照射するので、螢光測光をする前
に、標本８の螢光染色に退色が生じてしまい、正
確な螢光測光をすることができない。又、螢光像
を観察する場合は、従来慣れている透過観察と見
える像が大巾に異なるので、細胞の選択、位置決
めに手間どり、螢光測光をする場合に抵抗を感じ
る。さらに、透過観察による細胞診の時の判断の
ノウハウが生かされないという欠点を有してい
る。
ような欠点を有している。即ち、細胞像を観察し
ながら選択し、位置決めをする際に、螢光用の励
起光を標本に照射するので、螢光測光をする前
に、標本８の螢光染色に退色が生じてしまい、正
確な螢光測光をすることができない。又、螢光像
を観察する場合は、従来慣れている透過観察と見
える像が大巾に異なるので、細胞の選択、位置決
めに手間どり、螢光測光をする場合に抵抗を感じ
る。さらに、透過観察による細胞診の時の判断の
ノウハウが生かされないという欠点を有してい
る。
このため、蛍光そつこうを行う場合は、この蛍
光消光により測光精度が減少するのを防止するた
めに、測光時のみ標本に励起光を照射することが
望ましい。
光消光により測光精度が減少するのを防止するた
めに、測光時のみ標本に励起光を照射することが
望ましい。
そこで、標本を観察する必要性から励起光を含
まない、一般の照明光にて標本を照明するため
に、蛍光照明系の他に透過光観察光学系を設ける
ことにより標本を照明し観察を行う蛍光顕微測光
装置が特開昭53−122471号公報に開示されてい
る。
まない、一般の照明光にて標本を照明するため
に、蛍光照明系の他に透過光観察光学系を設ける
ことにより標本を照明し観察を行う蛍光顕微測光
装置が特開昭53−122471号公報に開示されてい
る。
しかしながら、この蛍光顕微測光装置において
は、蛍光観察及び蛍光測光する際に、コンデンサ
レンズに蛍光測光用光源の励起光が入射して蛍光
を発するため、このコンデンサーレンズの自家蛍
光による悪影響が生じて精度の高い蛍光観察及び
蛍光測光をおこなうことができなくなる恐れがあ
る。
は、蛍光観察及び蛍光測光する際に、コンデンサ
レンズに蛍光測光用光源の励起光が入射して蛍光
を発するため、このコンデンサーレンズの自家蛍
光による悪影響が生じて精度の高い蛍光観察及び
蛍光測光をおこなうことができなくなる恐れがあ
る。
本発明は、上記欠点に鑑みてなされたもので、
螢光測光において、蛍光観察及び蛍光測光時に、
コンデンサーレンズの自家蛍光による影響を防止
して精度の高い蛍光観察及び蛍光測光が行える螢
光顕微測光装置を提供することを目的とする。
螢光測光において、蛍光観察及び蛍光測光時に、
コンデンサーレンズの自家蛍光による影響を防止
して精度の高い蛍光観察及び蛍光測光が行える螢
光顕微測光装置を提供することを目的とする。
本発明は、標本の選択、位置決めをするために
透過照明系を有する透過光観察光学系と、標本に
励起光を照射する落射励起光照明系及び標本から
の蛍光を測光する受光素子を有する蛍光測光光学
系と、上記透過光観察光学系より上記試料に照射
される光を遮断する透過光用シヤツターと、上記
励起光照明系より上記標本に照射される励起光を
遮断する励起用シヤツターとを備えた蛍光顕微測
光装置において、上記透過光用シヤツターを上記
透過光観察光学系のコンデンサーレンズと試料と
の間に設けたことを特徴とする蛍光顕微測光装置
であり、蛍光観察及び蛍光測光時に透過光用シヤ
ツターを閉じることにより透過光観察光学系へ入
射する励起光を遮断し、コンデンサーレンズの自
家蛍光を阻止することができるものである。
透過照明系を有する透過光観察光学系と、標本に
励起光を照射する落射励起光照明系及び標本から
の蛍光を測光する受光素子を有する蛍光測光光学
系と、上記透過光観察光学系より上記試料に照射
される光を遮断する透過光用シヤツターと、上記
励起光照明系より上記標本に照射される励起光を
遮断する励起用シヤツターとを備えた蛍光顕微測
光装置において、上記透過光用シヤツターを上記
透過光観察光学系のコンデンサーレンズと試料と
の間に設けたことを特徴とする蛍光顕微測光装置
であり、蛍光観察及び蛍光測光時に透過光用シヤ
ツターを閉じることにより透過光観察光学系へ入
射する励起光を遮断し、コンデンサーレンズの自
家蛍光を阻止することができるものである。
図面を参照して、本発明の一実施例を説明す
る。第１図の部分と同じ部分については、同じ番
号が付けらている。タングステンランプ、ハロン
ゲンランプ等の透過用光源１６から発する光は、
レンズ１７により集光し、45度に斜設された全反
射ミラー１８によつて反射され、コンデンサーレ
ンズ１９によつてテージ上に載置されちる標本８
を下方から照射する。２０は透過光用シヤツター
で、標本８とコンデンサーレンズ１９の間に配置
されており、透過観察の場合には開放されてい
る。上記標本８を透過した光は、対物レンズ７に
よつて収れんされ、ダイクロイツクミラー６、吸
収フイルター９を通り、観察用プリズム１４によ
り光路が曲げられて、接眼レンズ１５を介して標
本８が観察さる。上記観察用プリズム１４は光路
に挿脱自在に配置されており、標本８を観察する
場合のみ光路に挿入され、螢光測光を行なう場合
には、光路から退けられる。２１は光源１６の制
御電源であり、後述する螢光測光・螢光観察を行
なう場合に検出器１１の保護及び消費電力の低減
のために、光源１６の明るさを制御することがで
きる。
る。第１図の部分と同じ部分については、同じ番
号が付けらている。タングステンランプ、ハロン
ゲンランプ等の透過用光源１６から発する光は、
レンズ１７により集光し、45度に斜設された全反
射ミラー１８によつて反射され、コンデンサーレ
ンズ１９によつてテージ上に載置されちる標本８
を下方から照射する。２０は透過光用シヤツター
で、標本８とコンデンサーレンズ１９の間に配置
されており、透過観察の場合には開放されてい
る。上記標本８を透過した光は、対物レンズ７に
よつて収れんされ、ダイクロイツクミラー６、吸
収フイルター９を通り、観察用プリズム１４によ
り光路が曲げられて、接眼レンズ１５を介して標
本８が観察さる。上記観察用プリズム１４は光路
に挿脱自在に配置されており、標本８を観察する
場合のみ光路に挿入され、螢光測光を行なう場合
には、光路から退けられる。２１は光源１６の制
御電源であり、後述する螢光測光・螢光観察を行
なう場合に検出器１１の保護及び消費電力の低減
のために、光源１６の明るさを制御することがで
きる。
次い、螢光測光の光学系について説明する。超
高圧水銀灯の光源１から発する光線は、励起光用
シヤツター２２を通り、レンズ２によつて集光さ
れ、チヨツパー３で変調をかけられた後、レンズ
４により、標本８上の励起光による照射面を規制
するためのピンホール５を背後から証明する。上
記ピンホール５を出た光線はダイクロイツクミラ
ー６で反射され、対物レンズ７により、ステージ
上に載置されている標本８上にピンホール５の像
を結像する。このピンホール５により励起された
標本８から発する螢光は対物レンズ７により収れ
んされ、ダイクロイツクミラー６によつて反射さ
れて、励起光を遮断する吸収フイルター９を透過
する。この吸収フイルター９を透過した光線は検
出器用シヤツター２３及び測光フイルター１０を
通過して、螢光測光を検出する高感度の検出器１
１に入射する。上記検出器１１の出力信号は増幅
器１２によつて増幅された後、演算回路１３によ
つて、所要の処理が行なわれ、螢光値として出力
される。上記励起光用シヤツター２２は標本８の
後述する螢光観察及び螢光測光を行なう場合は開
放されており、透過光による標本８の観察の場合
は閉じられている。さらに、上記検出器用シヤツ
ター２３は螢光測光を行なう場合のみ開放されて
おり、透過光による標本８の観察及び後述する螢
光観察の場合は閉じられており、高感度の検出器
１１が透過光や外来光の入射によつて破損される
のを防いでいる。さらに、螢光観察を行なう場合
について説明する。上記螢光測光の状態で、観察
用プリズム１４を光路に挿入することによつて、
標本８の螢光像を接眼レンズ１５を介して観察す
ることができる。
高圧水銀灯の光源１から発する光線は、励起光用
シヤツター２２を通り、レンズ２によつて集光さ
れ、チヨツパー３で変調をかけられた後、レンズ
４により、標本８上の励起光による照射面を規制
するためのピンホール５を背後から証明する。上
記ピンホール５を出た光線はダイクロイツクミラ
ー６で反射され、対物レンズ７により、ステージ
上に載置されている標本８上にピンホール５の像
を結像する。このピンホール５により励起された
標本８から発する螢光は対物レンズ７により収れ
んされ、ダイクロイツクミラー６によつて反射さ
れて、励起光を遮断する吸収フイルター９を透過
する。この吸収フイルター９を透過した光線は検
出器用シヤツター２３及び測光フイルター１０を
通過して、螢光測光を検出する高感度の検出器１
１に入射する。上記検出器１１の出力信号は増幅
器１２によつて増幅された後、演算回路１３によ
つて、所要の処理が行なわれ、螢光値として出力
される。上記励起光用シヤツター２２は標本８の
後述する螢光観察及び螢光測光を行なう場合は開
放されており、透過光による標本８の観察の場合
は閉じられている。さらに、上記検出器用シヤツ
ター２３は螢光測光を行なう場合のみ開放されて
おり、透過光による標本８の観察及び後述する螢
光観察の場合は閉じられており、高感度の検出器
１１が透過光や外来光の入射によつて破損される
のを防いでいる。さらに、螢光観察を行なう場合
について説明する。上記螢光測光の状態で、観察
用プリズム１４を光路に挿入することによつて、
標本８の螢光像を接眼レンズ１５を介して観察す
ることができる。
上記標本８は螢光測光及び観察用の染色と透過
光による観察のための染色との二種類の染色を施
しておく必要がある。例えば、フオイルゲン染色
のように、螢光側光及び観察用の染色が、可視域
で吸収を持つ場合は、透過光による観察のために
使用することができる。た、透過光による観察を
位相差検鏡にして透過用の染色を省くことも可能
であう。位相差検鏡としては対物外位相差、コン
デンサ外位相差も可能である。
光による観察のための染色との二種類の染色を施
しておく必要がある。例えば、フオイルゲン染色
のように、螢光側光及び観察用の染色が、可視域
で吸収を持つ場合は、透過光による観察のために
使用することができる。た、透過光による観察を
位相差検鏡にして透過用の染色を省くことも可能
であう。位相差検鏡としては対物外位相差、コン
デンサ外位相差も可能である。
第３図は透過光による観察によつて、標本の選
択、位置決めをしながら、螢光測光に切換える場
合のシヤツター関係の開閉を主としたフローの一
例を示しており、特に高感度の検出器の保護に注
意をしたフローを示している。
択、位置決めをしながら、螢光測光に切換える場
合のシヤツター関係の開閉を主としたフローの一
例を示しており、特に高感度の検出器の保護に注
意をしたフローを示している。
このような構成によれば、透過観察と蛍光測光
及び観察を切換えて使用することができるので、
透過観察で蛍光標本の選択、位置決めを行つた後
に、蛍光測光をすることができるので、蛍光標本
の退色を防ぐことができる。また、蛍光観察だけ
では得られない形態的情報を透過観察によつて得
ることができるので、従来の透過観察による細胞
診のノウハウを蛍光観察のデータと合わせて活用
することができる、 本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が考えられる。観察用プリズムと
して半透過用プリズムを使用すれば、螢光像観察
をしながら、螢光測光も同時に行なうこともでき
る。さらに、励起光用シヤツターもチヨツパー羽
根が光路を遮つた位置で止めるようにすれば、励
起光用シヤツターを省略することもできる。さら
に、螢光用のダイクロイツクミラー及び吸収フイ
ルターを介して透過光による像に色づきが発生す
る場合には、透過光による観察の際には、ダイク
ロイツクミラー及び吸収フイルターを光路から退
けることもできる。さらに本発明の装置は螢光測
光を目的としない場合には、螢光観察と透過観察
を切替えながら観察する目的にも使用できる。さ
らに、上記シヤツターの開閉、光源の制御をマイ
コンを使用して制御するようにすれば、制御も容
易で、誤動作を防ぐこともできる。さらに、ダイ
クロイツクミラーの代りに、光分割部材としてプ
リズムを使用してもよい。
及び観察を切換えて使用することができるので、
透過観察で蛍光標本の選択、位置決めを行つた後
に、蛍光測光をすることができるので、蛍光標本
の退色を防ぐことができる。また、蛍光観察だけ
では得られない形態的情報を透過観察によつて得
ることができるので、従来の透過観察による細胞
診のノウハウを蛍光観察のデータと合わせて活用
することができる、 本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が考えられる。観察用プリズムと
して半透過用プリズムを使用すれば、螢光像観察
をしながら、螢光測光も同時に行なうこともでき
る。さらに、励起光用シヤツターもチヨツパー羽
根が光路を遮つた位置で止めるようにすれば、励
起光用シヤツターを省略することもできる。さら
に、螢光用のダイクロイツクミラー及び吸収フイ
ルターを介して透過光による像に色づきが発生す
る場合には、透過光による観察の際には、ダイク
ロイツクミラー及び吸収フイルターを光路から退
けることもできる。さらに本発明の装置は螢光測
光を目的としない場合には、螢光観察と透過観察
を切替えながら観察する目的にも使用できる。さ
らに、上記シヤツターの開閉、光源の制御をマイ
コンを使用して制御するようにすれば、制御も容
易で、誤動作を防ぐこともできる。さらに、ダイ
クロイツクミラーの代りに、光分割部材としてプ
リズムを使用してもよい。
本発明によれば、蛍光観察及び蛍光測光時に透
過光用シヤツターを閉じることにより、従来問題
とされているコンデンサーレンズの自家蛍光を防
止して精度の高い蛍光観察及び蛍光測光を行うこ
とができる。
過光用シヤツターを閉じることにより、従来問題
とされているコンデンサーレンズの自家蛍光を防
止して精度の高い蛍光観察及び蛍光測光を行うこ
とができる。
第１図は従来例の光学系、第２図は本発明の一
実施例の光学系、第３図は第２図の光学系を使用
した操作のフローチヤートである。
実施例の光学系、第３図は第２図の光学系を使用
した操作のフローチヤートである。
Claims (1)
- １ 標本の選択、位置決めをするために透過照明
系を有する透過光観察光学系と、標本に励起光を
照射する落射励起光照明系及び標本からの蛍光を
測光する受光素子を有する蛍光測光光学系と、上
記透過光観察光学系より上記標本に照射される光
を遮断する透過光用シヤツターと、上記励起光照
明系より上記試料に照射される励起光を遮断する
励起用シヤツターとを備えた蛍光顕微測光装置に
おいて、上記透過光用シヤツターを上記透過光観
察光学系のコンデンサーレンズと試料との間に設
けたことを特徴とする蛍光顕微測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10890883A JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10890883A JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60420A JPS60420A (ja) | 1985-01-05 |
| JPH055083B2 true JPH055083B2 (ja) | 1993-01-21 |
Family
ID=14496680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10890883A Granted JPS60420A (ja) | 1983-06-17 | 1983-06-17 | 螢光顕微測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60420A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144444U (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-06 | ||
| JPS6216911U (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-31 | ||
| JP3699761B2 (ja) * | 1995-12-26 | 2005-09-28 | オリンパス株式会社 | 落射蛍光顕微鏡 |
| CN1112487C (zh) * | 1996-08-28 | 2003-06-25 | 王国奋 | 沉管预制钢砼扩底桩 |
| JP3872856B2 (ja) * | 1997-01-23 | 2007-01-24 | オリンパス株式会社 | 蛍光顕微鏡 |
| JP2003207453A (ja) * | 2002-01-16 | 2003-07-25 | Hitachi High-Technologies Corp | 蛍光，燐光測定装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53122471A (en) * | 1977-04-01 | 1978-10-25 | Olympus Optical Co Ltd | Fluorescent photometric microscope |
| JPS5913697B2 (ja) * | 1977-04-01 | 1984-03-31 | オリンパス光学工業株式会社 | 螢光偏光測光顕微鏡によるガン診断装置 |
-
1983
- 1983-06-17 JP JP10890883A patent/JPS60420A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60420A (ja) | 1985-01-05 |
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