JPH0556828B2 - - Google Patents
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- JPH0556828B2 JPH0556828B2 JP60503909A JP50390985A JPH0556828B2 JP H0556828 B2 JPH0556828 B2 JP H0556828B2 JP 60503909 A JP60503909 A JP 60503909A JP 50390985 A JP50390985 A JP 50390985A JP H0556828 B2 JPH0556828 B2 JP H0556828B2
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- Japan
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- probe
- signal
- impedance
- radio frequency
- vector
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/32—Excitation or detection systems, e.g. using radio frequency signals
- G01R33/36—Electrical details, e.g. matching or coupling of the coil to the receiver
- G01R33/3628—Tuning/matching of the transmit/receive coil
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
- G01R27/06—Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
- Input Circuits Of Receivers And Coupling Of Receivers And Audio Equipment (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
Description
請求の範囲
1 直角位相判別フーリエ変換NMR分光計の可
変インピーダンス無線周波プローブを調節する方
法であつて、 (a) 前記可変インピーダンス無線周波プローブの
代わりに既知の特性の成端固定インピーダンス
を含むネツトワークに連続波無線周波信号を送
る工程と、 (b) 前記固定成端インピーダンスにより影響を受
けた前記信号の振幅を得て記録する工程と、 (c) 送信された前記信号に関連して前記影響を受
けた信号の位相を直角位相で検出して記録し、
第1インピーダンスを得て、保持するための工
程と、 (d) 前記固定成端インピーダンスを前記可変イン
ピーダンス無線周波プローブで置き換える工程
と、 (e) 次に、前記可変インピーダンス無線周波プロ
ーブに連続波無線周波信号を送り、前記可変イ
ンピーダンス無線周波プローブにより影響を受
けた前記信号の振幅を得て記録し、適用された
連続波無線周波プローブ信号の位相に関連して
前記可変インピーダンス無線周波プローブの影
響を受けた信号の位相を直角位相で検出して記
録し、前記可変インピーダンスプローブの存在
を特徴付ける第2インピーダンスベルトルを得
る工程と、 (f) 前記プローブの電気的パラメータを変化させ
ることにより前記可変インピーダンス無線周波
プローブにより影響を受ける信号の振幅および
位相を変えて、前記第2インピーダンスベクト
ルから前記第1インピーダンスベクトルへのベ
クトルに係る関数を最小化する工程と、 から成る方法。
変インピーダンス無線周波プローブを調節する方
法であつて、 (a) 前記可変インピーダンス無線周波プローブの
代わりに既知の特性の成端固定インピーダンス
を含むネツトワークに連続波無線周波信号を送
る工程と、 (b) 前記固定成端インピーダンスにより影響を受
けた前記信号の振幅を得て記録する工程と、 (c) 送信された前記信号に関連して前記影響を受
けた信号の位相を直角位相で検出して記録し、
第1インピーダンスを得て、保持するための工
程と、 (d) 前記固定成端インピーダンスを前記可変イン
ピーダンス無線周波プローブで置き換える工程
と、 (e) 次に、前記可変インピーダンス無線周波プロ
ーブに連続波無線周波信号を送り、前記可変イ
ンピーダンス無線周波プローブにより影響を受
けた前記信号の振幅を得て記録し、適用された
連続波無線周波プローブ信号の位相に関連して
前記可変インピーダンス無線周波プローブの影
響を受けた信号の位相を直角位相で検出して記
録し、前記可変インピーダンスプローブの存在
を特徴付ける第2インピーダンスベルトルを得
る工程と、 (f) 前記プローブの電気的パラメータを変化させ
ることにより前記可変インピーダンス無線周波
プローブにより影響を受ける信号の振幅および
位相を変えて、前記第2インピーダンスベクト
ルから前記第1インピーダンスベクトルへのベ
クトルに係る関数を最小化する工程と、 から成る方法。
2 請求の範囲第1項に記載の方法であつて、
前記第1インピーダンスベクトルおよび前記第
2インピーダンスベクトルの差の絶対値を求めて
前記関数を形成する工程から成る方法。
2インピーダンスベクトルの差の絶対値を求めて
前記関数を形成する工程から成る方法。
3 請求の範囲第1項に記載の方法であつて、
前記求められた第1インピーダンスベクトルと
前記求められた第2インピーダンスベクトルとの
ベクトル差から前記関数を形成する工程から成る
方法。
前記求められた第2インピーダンスベクトルとの
ベクトル差から前記関数を形成する工程から成る
方法。
4 請求の範囲第2項または第3項に記載の方法
であつて、 前記第1インピーダンスベクトルおよび前記第
2インピーダンスベクトルの前記関数をデイスプ
レーする工程から成る方法。
であつて、 前記第1インピーダンスベクトルおよび前記第
2インピーダンスベクトルの前記関数をデイスプ
レーする工程から成る方法。
本発明は、フーリエ変換NMR分光学に関し、
特に分光装置の試料プローブの同調及びインピー
ダンス整合に関する。
特に分光装置の試料プローブの同調及びインピー
ダンス整合に関する。
最新のフーリエ変換核磁気共鳴分光計の試料プ
ローブは、無線周波送信器を試料に結合し、さら
に該試料を無線周波受信器に結合する。そのプロ
ーブは、慎重な同調方法によつてカツプリングネ
ツトワークに整合されなければならない。原子核
共鳴の励起及び検出のためのプローブの重要な役
割のため、プローブの性能はしばしば分光計の性
能の制限因子となる。本発明の方法は、第1図及
び第2図によつて最もよく説明される。第1図及
び第2図で、プローブ10は、送受信切換器20
を通じて受信器チヤンネル及び送信器チヤンネル
と連通する。或る一般的装置で、送受信切換器2
0は、逆並列ダイオード対22及び24並びに4
分の1波長伝送線26から成る。通常、4分の1
波長ストリツプの伝送線は、動作周波数で50オー
ムの特有のインピーダンスを示す、前置増幅器2
8が、この入力インピーダンスのために最小の雑
音指数を示す。プローブを正確なインピーダンス
に整合する問題は、従来技術で、プローブへの物
理的接続を変形させることにより解決された。非
常に精密な方法はベクトルインピーダンス分析器
を使用し、或いは他の方法を用いて、方向性結合
器又は定在波ブリツジが、反射電力を最小にする
ためプローブを同調する間、反射電力を監視する
ため装置内に挿入される。さらに他の方法は、プ
ローブのデカツプラーコイルへ信号を注入するこ
とに依つている。そのプローブは、プローブ構造
内の信号コイルで誘導された信号を最大にするた
め同調される。これは、デカツプラーコイルに近
接して配置される。この方法は、前置増幅器がそ
の入力に整合されていない状態の間、信号出力が
前置増幅器を用いて最大とされうるため、装置の
信号対ノイズ性能を最大にはしない。
ローブは、無線周波送信器を試料に結合し、さら
に該試料を無線周波受信器に結合する。そのプロ
ーブは、慎重な同調方法によつてカツプリングネ
ツトワークに整合されなければならない。原子核
共鳴の励起及び検出のためのプローブの重要な役
割のため、プローブの性能はしばしば分光計の性
能の制限因子となる。本発明の方法は、第1図及
び第2図によつて最もよく説明される。第1図及
び第2図で、プローブ10は、送受信切換器20
を通じて受信器チヤンネル及び送信器チヤンネル
と連通する。或る一般的装置で、送受信切換器2
0は、逆並列ダイオード対22及び24並びに4
分の1波長伝送線26から成る。通常、4分の1
波長ストリツプの伝送線は、動作周波数で50オー
ムの特有のインピーダンスを示す、前置増幅器2
8が、この入力インピーダンスのために最小の雑
音指数を示す。プローブを正確なインピーダンス
に整合する問題は、従来技術で、プローブへの物
理的接続を変形させることにより解決された。非
常に精密な方法はベクトルインピーダンス分析器
を使用し、或いは他の方法を用いて、方向性結合
器又は定在波ブリツジが、反射電力を最小にする
ためプローブを同調する間、反射電力を監視する
ため装置内に挿入される。さらに他の方法は、プ
ローブのデカツプラーコイルへ信号を注入するこ
とに依つている。そのプローブは、プローブ構造
内の信号コイルで誘導された信号を最大にするた
め同調される。これは、デカツプラーコイルに近
接して配置される。この方法は、前置増幅器がそ
の入力に整合されていない状態の間、信号出力が
前置増幅器を用いて最大とされうるため、装置の
信号対ノイズ性能を最大にはしない。
これらの同調方法は、プローブの接続に対し一
定の変形を必要とする。その変形は、不便であ
り、よくても正常な動作に確実には対応しない。
定の変形を必要とする。その変形は、不便であ
り、よくても正常な動作に確実には対応しない。
本発明に従つて、プローブの同調が、第1図及
び第2図のネツトワークに送信される信号の位相
及び振幅に関係してその位置で実施される。位相
及び振幅は、在来の直角位相分解FT機器から容
易に測定されるインピーダンスの各関数である。
このように、FT−NMR分光計は、ベクトルイ
ンピーダンスアナライザの役割で全体として機能
する。同調方法は、負荷が50オームの成端
(termination:信号の反射を避けるために伝送線
路に接続する負荷を意味する。今の場合の負荷は
50オームである。以下これを「50オーム成端」と
いう)をプローブと取り替え、そして位相および
振幅の応答をプローブが取り替えられたときの位
相及び振幅の応答と比較することによつて時々修
正される。
び第2図のネツトワークに送信される信号の位相
及び振幅に関係してその位置で実施される。位相
及び振幅は、在来の直角位相分解FT機器から容
易に測定されるインピーダンスの各関数である。
このように、FT−NMR分光計は、ベクトルイ
ンピーダンスアナライザの役割で全体として機能
する。同調方法は、負荷が50オームの成端
(termination:信号の反射を避けるために伝送線
路に接続する負荷を意味する。今の場合の負荷は
50オームである。以下これを「50オーム成端」と
いう)をプローブと取り替え、そして位相および
振幅の応答をプローブが取り替えられたときの位
相及び振幅の応答と比較することによつて時々修
正される。
第1図は、無線周波分光計のためのプローブの
配置の略図である。
配置の略図である。
第2図は、第1図の装置のための送受信切換器
を図示する。
を図示する。
第3図は、フーリエ変換無線周波分光計のサブ
システムのブロツク図である。
システムのブロツク図である。
第4図は、2つのパラメータの最小化が働く対
象を示す。
象を示す。
第3図は、FT−NMR分光計の関係する部分
の代表的ブロツク図である。無線周波発振器30
が変調器32によつて変調され、信号は送受信切
換器36を通じてプローブ10へ向けられる。送
受信切換器36へ送られたプローブの信号出力
は、無線周波増幅器38へ向けられる。位相判別
検出器40が、無線周波発振器30から得られる
基準位相及び無線周波増幅器出力信号で動作し
て、同一の周波数であるが90゜位相が異なる基準
信号を供給される2つの位相検出器を組み入れる
ことによつて直角位相成分に無線周波増幅器信号
を分解する。基準周波数に正確に等しい信号周波
数について、直角位相検出方法は、信号の2つの
直角位相成分の独立した測定をもたらす。アナロ
グ−デジタル変換42が位相判別検出器出力で動
作し、デジタル信号はプロセツサ装置44によつ
てさらに処理するのに利用できる。
の代表的ブロツク図である。無線周波発振器30
が変調器32によつて変調され、信号は送受信切
換器36を通じてプローブ10へ向けられる。送
受信切換器36へ送られたプローブの信号出力
は、無線周波増幅器38へ向けられる。位相判別
検出器40が、無線周波発振器30から得られる
基準位相及び無線周波増幅器出力信号で動作し
て、同一の周波数であるが90゜位相が異なる基準
信号を供給される2つの位相検出器を組み入れる
ことによつて直角位相成分に無線周波増幅器信号
を分解する。基準周波数に正確に等しい信号周波
数について、直角位相検出方法は、信号の2つの
直角位相成分の独立した測定をもたらす。アナロ
グ−デジタル変換42が位相判別検出器出力で動
作し、デジタル信号はプロセツサ装置44によつ
てさらに処理するのに利用できる。
本発明のタイミング方法は、例えば信号のピー
キング(peaking)、反射波ナリング(nulling)
等の従来技術の単一パラメータ技術ではなく、2
つのパラメータである位相及び振幅を測定する。
直角位相分解受信器の2つのチヤンネルは、分光
計のメモリー内の関連の情報及び記憶装置の処理
に理論上適している。
キング(peaking)、反射波ナリング(nulling)
等の従来技術の単一パラメータ技術ではなく、2
つのパラメータである位相及び振幅を測定する。
直角位相分解受信器の2つのチヤンネルは、分光
計のメモリー内の関連の情報及び記憶装置の処理
に理論上適している。
本発明に従つて動作中変調器32は、バイパス
されてもよいことに注意されたい。無線周波搬送
波は、送受信切換器を通じてプローブ10又は標
準50オーム成端という好適形態のプローブ代用品
に印加される。
されてもよいことに注意されたい。無線周波搬送
波は、送受信切換器を通じてプローブ10又は標
準50オーム成端という好適形態のプローブ代用品
に印加される。
まず、プローブを50オーム成端と取り替えるこ
とを検討する。次にベクトルAによつて表される
信号が直角位相検出器の出力から得られる。ベク
トルAは、直角位相成分によつて定まる。成端を
取り去り、プローブを所定の場所に配して、同一
の方法により一般に信号Bが生じる。ベクトルA
は好適に保持され、ベクトル差A−Bは次にプロ
ーブの調節がプローブの同調及び整合静電容量を
通じて実行される間観察される。ベクトル差の絶
対値|A−B|が分光計デイスプレー46によつ
てデイスプレーされるならば、同調方法は、差の
信号を最小化することによつて反射電力を減少さ
せる場合と同様の最小化プロセスによつて行なわ
れる。この非常に簡単な技術は、ナルメーターに
関する手動操作に適切である。
とを検討する。次にベクトルAによつて表される
信号が直角位相検出器の出力から得られる。ベク
トルAは、直角位相成分によつて定まる。成端を
取り去り、プローブを所定の場所に配して、同一
の方法により一般に信号Bが生じる。ベクトルA
は好適に保持され、ベクトル差A−Bは次にプロ
ーブの調節がプローブの同調及び整合静電容量を
通じて実行される間観察される。ベクトル差の絶
対値|A−B|が分光計デイスプレー46によつ
てデイスプレーされるならば、同調方法は、差の
信号を最小化することによつて反射電力を減少さ
せる場合と同様の最小化プロセスによつて行なわ
れる。この非常に簡単な技術は、ナルメーターに
関する手動操作に適切である。
前述の方法はまた、分光計制御プロセツサの制
御下で実行可能である。単一のパラメータ最小化
がコンピユータ制御整合プロセスの場合に効果的
なただ一つの方法であり、ベクトル差A−Bと2
つのパラメータの最小化が第4図で示すようによ
り急速な収束を生じうることは、注目される。簡
単な方法で、或るベクトルAが位相φA任意に特
定され、絶対値がプロセツサによつて蓄積された
50オーム成端データからとられる。絶対値|B|
及び位相差φB−φAは、測定される。次のベクト
ル差の絶対値|A−B|は、デイプレー46を介
してオペレータ相関により手動で、或いは関数最
小化のための適切なサーチ方法により自動で最小
化される。
御下で実行可能である。単一のパラメータ最小化
がコンピユータ制御整合プロセスの場合に効果的
なただ一つの方法であり、ベクトル差A−Bと2
つのパラメータの最小化が第4図で示すようによ
り急速な収束を生じうることは、注目される。簡
単な方法で、或るベクトルAが位相φA任意に特
定され、絶対値がプロセツサによつて蓄積された
50オーム成端データからとられる。絶対値|B|
及び位相差φB−φAは、測定される。次のベクト
ル差の絶対値|A−B|は、デイプレー46を介
してオペレータ相関により手動で、或いは関数最
小化のための適切なサーチ方法により自動で最小
化される。
前述の方法は特定のNMRフーリエ変換分光計
関連に限定されるものではなく、送信器、受信器
及び無線周波信号プローブが本内容に類似の直角
位相判別処理システムと結合して動作可能である
如何なる場合にも使用されうることが、理解され
るであろう。前述の記載は特定の実施例を示して
説明しているが、変更及び変形が当業者に明らか
となり、本発明の思想内のそのようなすべての変
更及び変形が請求の範囲内に含まれることが意図
される。
関連に限定されるものではなく、送信器、受信器
及び無線周波信号プローブが本内容に類似の直角
位相判別処理システムと結合して動作可能である
如何なる場合にも使用されうることが、理解され
るであろう。前述の記載は特定の実施例を示して
説明しているが、変更及び変形が当業者に明らか
となり、本発明の思想内のそのようなすべての変
更及び変形が請求の範囲内に含まれることが意図
される。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US650324 | 1984-09-12 | ||
| US06/650,324 US4593246A (en) | 1984-09-12 | 1984-09-12 | NMR tuning procedure |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62500194A JPS62500194A (ja) | 1987-01-22 |
| JPH0556828B2 true JPH0556828B2 (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=24608416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60503909A Granted JPS62500194A (ja) | 1984-09-12 | 1985-08-26 | Nmr同調方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4593246A (ja) |
| EP (1) | EP0192708B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62500194A (ja) |
| AT (1) | ATE74443T1 (ja) |
| DE (1) | DE3585789D1 (ja) |
| WO (1) | WO1986001905A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0619471B2 (ja) * | 1984-03-30 | 1994-03-16 | 株式会社日立製作所 | 地中物体の識別方法および装置 |
| JPH0657205B2 (ja) * | 1985-07-11 | 1994-08-03 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング方法および装置 |
| US4721901A (en) * | 1986-03-24 | 1988-01-26 | Hercules Incorporated | Method and apparatus for reflection coefficient measurements |
| US4885541A (en) * | 1988-08-19 | 1989-12-05 | General Electric Company | Apparatus and method for enhanced multiple coil nuclear magnetic resonance (NMR) imaging |
| US5317265A (en) * | 1992-09-16 | 1994-05-31 | Weinstock Ronald J | Computerized magnetic resonance analyzer |
| US5592086A (en) * | 1992-09-16 | 1997-01-07 | Weinstock; Ronald J. | Automated computerized magnetic resonance detector and analyzer |
| DE4428579C1 (de) * | 1994-08-12 | 1996-02-01 | Spectrospin Ag | Verfahren und automatische Hilfsvorrichtung zur Abstimmung einer NMR-Empfangsspule |
| WO2016022471A1 (en) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | Dolby Laboratories Licensing Corporation | Method to improve the contrast ratio in a theatre |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3445763A (en) * | 1965-10-06 | 1969-05-20 | Gen Electric | Digital reading impedance measuring arrangement |
| US3919644A (en) * | 1970-02-02 | 1975-11-11 | Gen Dynamics Corp | Automatic antenna coupler utilizing system for measuring the real part of the complex impedance or admittance presented by an antenna or other network |
| GB1347143A (en) * | 1971-04-16 | 1974-02-27 | Newport Instr Ltd | Checking and calibration of apparatus incorporating a resonance circuit |
| US3904959A (en) * | 1974-08-05 | 1975-09-09 | Pacific Measurements Inc | Swept frequency measurement system |
| US4196475A (en) * | 1976-09-02 | 1980-04-01 | Genrad, Inc. | Method of and apparatus for automatic measurement of impedance or other parameters with microprocessor calculation techniques |
| US4300092A (en) * | 1980-03-24 | 1981-11-10 | Sperry Corporation | Phase match measuring system |
| FR2514901A1 (fr) * | 1981-10-15 | 1983-04-22 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Procede et dispositif pour comparer l'amplitude et la phase instantanees de deux signaux electriques sinusoidaux de meme frequence et application a la formation d'image par radar |
-
1984
- 1984-09-12 US US06/650,324 patent/US4593246A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-08-26 JP JP60503909A patent/JPS62500194A/ja active Granted
- 1985-08-26 DE DE8585904378T patent/DE3585789D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-08-26 EP EP85904378A patent/EP0192708B1/en not_active Expired
- 1985-08-26 WO PCT/US1985/001628 patent/WO1986001905A1/en not_active Ceased
- 1985-08-26 AT AT85904378T patent/ATE74443T1/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1986001905A1 (en) | 1986-03-27 |
| EP0192708A1 (en) | 1986-09-03 |
| ATE74443T1 (de) | 1992-04-15 |
| JPS62500194A (ja) | 1987-01-22 |
| US4593246A (en) | 1986-06-03 |
| DE3585789D1 (de) | 1992-05-07 |
| EP0192708A4 (en) | 1988-04-18 |
| EP0192708B1 (en) | 1992-04-01 |
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