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JPH0558319B2 - - Google Patents
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JPH0558319B2 - - Google Patents

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JPH0558319B2
JPH0558319B2 JP245086A JP245086A JPH0558319B2 JP H0558319 B2 JPH0558319 B2 JP H0558319B2 JP 245086 A JP245086 A JP 245086A JP 245086 A JP245086 A JP 245086A JP H0558319 B2 JPH0558319 B2 JP H0558319B2
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JP
Japan
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wiring capacitance
inverters
lines
ground wiring
line
Prior art date
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JP245086A
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Kunio Nagashima
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は高速デイジタル信号の交換を行なう集
積化マトリクススイツチに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an integrated matrix switch for exchanging high-speed digital signals.

(従来の技術) 現在、音声・データを中心とする各種通信サー
ビスを一元的に提供するデイジタル総合サービス
網(ISDN)の構築が進められている。しかしな
がら近年情報化社会の進展に伴い、従来の音声・
データに加えて動画、高精細動画を中心とする広
帯域、高速サービスに対する要求が高まりつつあ
る。このような信号をデイジタル符号化すると従
来の音声・データの64Kb/sに比し数10Mb/s
以上800Mb/s程度までと極めて高速なビツト
レートとなり、このため、上記の高速デイジタル
信号を交換する交換機には主として空間分割形通
話路が用いられる。
(Prior Art) Currently, construction of an integrated digital service network (ISDN) that centrally provides various communication services centered on voice and data is underway. However, with the progress of the information society in recent years, traditional voice
In addition to data, demand is increasing for broadband, high-speed services centered on video and high-definition video. When such a signal is digitally encoded, it is several 10 Mb/s compared to 64 Kb/s for conventional voice/data.
The bit rate is extremely high, up to about 800 Mb/s, and therefore space-division communication channels are mainly used in exchanges for exchanging the above-mentioned high-speed digital signals.

このような高速デイジタル通話路に用いられる
集積化マトリクススイツチとしては例えばインタ
ーナシヨナル スイツチング シンポジウム 84
コンフアレンス レコード(International
Switching Symposium ′84 Conference
Record) Session 24C Paper 1「アン イク
シベリメンタル デイジタル ビデオ スイツチ
ング アーキテクチヤ(An Experimental
Digital Video Switching Architecture)」デ
ー.ブラツク エイチ アール レーマン(D.
Vlack,H.R.Lehman)著に記載されているもの
が知られている。
An example of an integrated matrix switch used in such a high-speed digital communication path is the International Switching Symposium 84
Conference Records (International
Switching Symposium ’84 Conference
Record) Session 24C Paper 1 “An Experimental Digital Video Switching Architecture”
Digital Video Switching Architecture)” day. Black H.R. Lehman (D.
Vlack, HR Lehman) is known.

第4図は従来技術による集積化マトリクススイ
ツチの一例を示している。
FIG. 4 shows an example of an integrated matrix switch according to the prior art.

第4図に示した集積化マトリクススイツチは入
線400〜407と、この入線400〜407と
交差する出線408〜415と、入線400〜4
07と出線408〜415の各交点に設けられ必
要に応じて入線400〜407を出線408〜4
15に接続する複数のNANDゲート回路を含む。
The integrated matrix switch shown in FIG.
07 and the outgoing lines 408 to 415, and connect the incoming lines 400 to 407 to the outgoing lines 408 to 4 as necessary.
It includes a plurality of NAND gate circuits connected to 15.

第4図においては一方の入力端子を入線400
に接続されるNANDゲート回路416〜423
と出力端子を出線415に接続されるNANDゲ
ート回路423〜430のみが記載されており他
のNANDゲート回路は省略されている。
In Figure 4, one input terminal is connected to the input line 400.
NAND gate circuits 416 to 423 connected to
Only NAND gate circuits 423 to 430 whose output terminals are connected to the output line 415 are shown, and other NAND gate circuits are omitted.

第4図においてNANDゲート回路423〜4
30の出力はそれぞれ出線415上でワイアード
ORがとられており、例えばNANDゲート回路4
25の入力431に論理レベル“1”を加えるこ
とによつて入線402に加えられた高速デイジタ
ル信号を出線415に導く。
In FIG. 4, NAND gate circuits 423 to 4
30 outputs are each wired on output line 415.
OR is taken, for example, NAND gate circuit 4
By applying a logic level "1" to input 431 of 25, the high speed digital signal applied to incoming line 402 is directed to outgoing line 415.

第5図は第4図に示したNANDゲート回路4
23,424,430の具体例を示す図である。
Figure 5 shows the NAND gate circuit 4 shown in Figure 4.
23, 424, and 430. FIG.

図中第4図と同一番号を付いたものは第4図と
同一の構成要素を示す。
In the figure, the same numbers as in FIG. 4 indicate the same components as in FIG. 4.

第5図によれば第4図に示したNAND回路4
23,424,430はそれぞれ負荷抵抗500
を共用する2つのノーマリオフ型MES FET50
1,502,503,504,505,506に
よつて構成されている。
According to FIG. 5, the NAND circuit 4 shown in FIG.
23, 424, 430 are each load resistance 500
Two normally-off MES FET50 that share
1,502,503,504,505,506.

第5図において例えばFET504のゲート端
子507に電源電圧VSSと閾値電圧VTとの和VSS
tVT以上の電圧が加えられるとFET504は導
通状態となり、これによつてFET503のゲー
トに加えられた入線401上の通話信号はその極
性が反転されてFET503のコレクタすなわち
出線415に出入される。
In FIG. 5, for example, the sum V SS of the power supply voltage V SS and the threshold voltage V T is applied to the gate terminal 507 of the FET 504 .
When a voltage equal to or higher than tV T is applied, the FET 504 becomes conductive, and the polarity of the speech signal applied to the gate of the FET 503 on the incoming line 401 is reversed and sent to and from the collector of the FET 503, that is, the outgoing line 415. .

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら通話信号のビツトレートが高速に
なつてくると例えば第4図に示した入線400、
出線430に付随する対地配線容量432,43
3、入線400,401間並びに出線414,4
15間の配線間容量434,435の影響が無視
し得なくなり波形歪によるデユーテイ比の変動や
漏話によるビツト誤り等を生ずるため1つのチツ
プ内に集積化し得るマトリクスサイズを制限する
要因の1つとなつていた。
(Problems to be Solved by the Invention) However, as the bit rate of call signals becomes faster, for example, the input line 400 shown in FIG.
Ground wiring capacitance 432, 43 associated with outgoing line 430
3. Between incoming lines 400 and 401 and outgoing lines 414 and 4
The influence of the inter-wiring capacitance 434, 435 between 15 and 15 cannot be ignored, causing fluctuations in the duty ratio due to waveform distortion and bit errors due to crosstalk, which is one of the factors that limit the matrix size that can be integrated into one chip. was.

本発明の目的は対地配線容量や配線間容量の影
響を軽減し大きなマトリクスサイズを実現するこ
とのできる集積化マトリクススイツチを提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide an integrated matrix switch that can realize a large matrix size by reducing the influence of ground wiring capacitance and inter-wiring capacitance.

(問題点を解決するための手段) 本発明によれば対地配線容量および配線間容量
を有する複数の入線と、前記複数の入線と交差す
る、対地配線容量および配線間容量を有する複数
の出線と、前記複数の入線と前記複数の出線の各
交点に設けられた1個のゲート回路とからなる集
積化マトリクススイツチにおいて、前記複数の入
線および前記複数の出線の少なくとも一方に、対
地配線容量および配線間容量を分割するように、
インバータを間隔をおいて複数個挿入したことを
特徴とする集積化マトリクススイツチが得られ
る。
(Means for Solving Problems) According to the present invention, a plurality of incoming lines having a ground wiring capacitance and an inter-wiring capacitance, and a plurality of outgoing lines having a ground wiring capacitance and an inter-wiring capacitance that intersect the plurality of incoming lines and one gate circuit provided at each intersection of the plurality of incoming lines and the plurality of outgoing lines, wherein at least one of the plurality of incoming lines and the plurality of outgoing lines has a ground wiring. To divide the capacitance and inter-wiring capacitance,
An integrated matrix switch characterized in that a plurality of inverters are inserted at intervals is obtained.

(作用) 本発明は入線および出線の少なくとも一方に複
数のインバータを挿入することによつて入線およ
び出線を複数に分割し分割された入線および出線
の配線容量をそれぞれ挿入された複数のインバー
タによつて駆動することによつて波形歪によるデ
ユーテイ比の変動や漏話によつビツト誤りなどを
防ごうとするものである。
(Function) The present invention divides the incoming line and the outgoing line into a plurality of parts by inserting a plurality of inverters into at least one of the incoming line and the outgoing line, and the wiring capacitance of the divided incoming line and the outgoing line is calculated by inserting a plurality of inverters into at least one of the incoming line and the outgoing line. By driving with an inverter, it is possible to prevent fluctuations in duty ratio due to waveform distortion and bit errors due to crosstalk.

(実施例) 次にこの発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
(Example) Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の実施例を示す図である。 FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

第1図において第4図と同一番号を付したもの
は第4図と同一の構成要素を示す。
In FIG. 1, the same numbers as in FIG. 4 indicate the same components as in FIG.

第1図に示した本発明の実施例においては、入
線400にインバータ100〜102が挿入され
ておりこれによる出線での極性の反転を防ぐため
に出線410,411,414並びに415にイ
ンバータ107〜110が設けられている。
In the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, inverters 100 to 102 are inserted in the incoming line 400, and inverters 107 are inserted in the outgoing lines 410, 411, 414, and 415 to prevent polarity reversal in the outgoing lines. ~110 are provided.

さらに、第1図の出線415にインバータ10
3〜106が挿入されている。また前記インバー
タの中でインバータ104並びに106の出力は
それぞれNANDゲート回路426,427,4
28並びに429,430の出力とワイアード
ORがとられている。
Furthermore, the inverter 10 is connected to the output line 415 in FIG.
3 to 106 are inserted. Further, among the inverters, the outputs of inverters 104 and 106 are NAND gate circuits 426, 427, and 4, respectively.
28 and 429,430 outputs and wired
OR is taken.

第2図は第1図に示したインバータ100〜1
03,105,107〜110の具体例を示す図
である。
Figure 2 shows the inverters 100 to 1 shown in Figure 1.
It is a figure which shows the specific example of 03,105,107-110.

第2図によれば第1図に示したインバータ10
0〜103,105,107〜110は負荷抵抗
200を有するノーマリオフ型 MES FET20
1によつて構成されておりゲート端子202に加
えられる入力電圧がVT+VSS以上の時にはFET2
01は導通状態となりドレイン端子203の電位
はほぼVSSに、また入力電圧がVT+VSS以下のと
きにはFET201は非導通状態となりドレイン
端子203はほぼアース電位となる。
According to FIG. 2, the inverter 10 shown in FIG.
0-103, 105, 107-110 are normally-off type MES FET20 with load resistance 200
1, and when the input voltage applied to the gate terminal 202 is higher than V T +V SS , the FET 2
01 is in a conductive state and the potential of the drain terminal 203 is approximately at V SS , and when the input voltage is below V T +V SS , the FET 201 is in a non-conductive state and the drain terminal 203 is approximately at ground potential.

第3図はまた第1図に示したインバータ106
並びにNANDゲート回路429,430の具体
例を示す図である。
FIG. 3 also shows the inverter 106 shown in FIG.
4 is a diagram showing a specific example of NAND gate circuits 429 and 430. FIG.

第3図において第4図並びに第5図と同一番号
を付したものは第4図並びに第5図と同一の構成
要素を示す。
In FIG. 3, the same numbers as in FIGS. 4 and 5 indicate the same components as in FIGS. 4 and 5.

第3図によれば第1図に示したインバータ10
6並びにNANDゲート回路429,430は負
荷抵抗500を共用し、それぞれノーマリオフ型
MES FET300,301,302,505,
506によつて構成されFET300のゲート端
子303には第1図に示したインバータ105の
出力電圧が加えられる。
According to FIG. 3, the inverter 10 shown in FIG.
6 and NAND gate circuits 429 and 430 share a load resistor 500, and are each normally-off type.
MES FET300, 301, 302, 505,
The output voltage of the inverter 105 shown in FIG. 1 is applied to the gate terminal 303 of the FET 300.

第1図に示したNANDゲート回路423〜4
28のいずれかが開かれると入線からの信号は
FET300のゲート303に加えられ、この信
号は出線415に伝えられる。一方、例えば
FET302のゲート端子304にVSS+VT以上の
電圧が加えられるとFET302は導通状態とな
り入線406の信号はFET301によつてその
極性が反転され、インバータ110の入力に加え
られる。
NAND gate circuits 423 to 4 shown in FIG.
When any of 28 is opened, the signal from the incoming line is
This signal is applied to the gate 303 of the FET 300 and is transmitted to the output line 415. On the other hand, for example
When a voltage equal to or higher than V SS +V T is applied to the gate terminal 304 of the FET 302, the FET 302 becomes conductive, and the polarity of the signal on the input line 406 is inverted by the FET 301 and applied to the input of the inverter 110.

第1図に示した対地配線容量111は入線40
0の対地配線容量をインバータ100〜102に
よつて4分割されたものの1つであり、対地配線
容量112は出線415の対地配線容量をインバ
ータ103〜106,110によつて3分割され
たものの1つであり、第4図に示した対地配線容
量432並びに433に比し小さく且つそれぞれ
例えばインバータ100並びに104によつて駆
動される。例えば、インバータ100の出力端に
は歪みのとれたデイジタル信号が出力されるが、
インバータ100の出力信号の立ち上がり立ち下
がり時の出力インピーダンスをそれぞれRr,Rf
対地配線容量111の値をCとすると、インバー
タ101の入力端には立ち上がり立ち下がり時間
が0.7CRr,0.7CRrで表される歪んだデイジタル
信号が入力される。このため、例えば、第4図に
示した入線400に立ち上がり立ち下がり時の出
力インピーダンスが、それぞれ、Rr,Rfの図示
していないインバータによつてデイジタル信号が
加えられた場合を想定し、対地配線容量432の
値をCTとすると、デイジタル信号は、この対地
配線容量432の影響により、0.7CTRr,0.7CTRf
の立ち上がり時間、立ち下がり時間、立ち下がり
時間を有する歪んだ波形になるのに対し、第1図
に示したインバータ100〜102が入線400
の配線にそつて等間隔で挿入されたものとする
と、接地配線容量111の値Cは、対地配線容量
432の値CTの4分の1になり、したがつて、
立ち上がり時間および立ち下がり時間も4分の1
になり、波形の歪みが改善され、デユーテイ比の
変動等を防ぐことができ、高速信号のスイツチン
グが可能となる。
The ground wiring capacitance 111 shown in FIG.
The ground wiring capacity 112 is one of the ground wiring capacitance of 0 divided into four by inverters 100 to 102, and the ground wiring capacity 112 is one of the ground wiring capacitance of output line 415 divided into three by inverters 103 to 106, 110. This is smaller than the ground wiring capacitances 432 and 433 shown in FIG. 4, and is driven by, for example, inverters 100 and 104, respectively. For example, an undistorted digital signal is output at the output end of the inverter 100;
The output impedance at the time of rising and falling of the output signal of the inverter 100 is R r , R f ,
Assuming that the value of the ground wiring capacitance 111 is C, a distorted digital signal whose rise and fall times are expressed as 0.7CR r and 0.7CR r is input to the input terminal of the inverter 101 . For this reason, suppose, for example, that digital signals are applied to the input line 400 shown in FIG. 4 by inverters (not shown) whose output impedances are R r and R f at the time of rising and falling, respectively. If the value of the ground wiring capacitance 432 is C T , the digital signal will be 0.7C T R r and 0.7C T R f due to the influence of this ground wiring capacitance 432.
However, when the inverters 100 to 102 shown in FIG.
Assuming that they are inserted at equal intervals along the wiring of
Rise time and fall time are also 1/4th
This improves waveform distortion, prevents fluctuations in duty ratio, and enables high-speed signal switching.

更に配線間容量113並びに114によつて入
線400や出線415に混入した漏話成分はそれ
ぞれインバータ101並びに105は閾値以下で
は動作しないので、漏話成分は除去することがで
きる。
Further, the crosstalk components mixed into the incoming line 400 and the outgoing line 415 due to the inter-wiring capacitances 113 and 114 can be removed since the inverters 101 and 105 do not operate below the threshold.

(発明の効果) 以上述べたように本発明による集積化マトリク
ススイツチによれば対地配線容量によるデユーテ
イ比の変動や、配線間容量によるビツト誤り等を
軽減し大きなマトリクスサイズを実現し得る集積
化マトリクススイツチが得られる。
(Effects of the Invention) As described above, the integrated matrix switch according to the present invention reduces fluctuations in duty ratio due to ground wiring capacitance and bit errors due to inter-wire capacitance, and realizes a large matrix size. You can get a switch.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の実施例を示す図、第2図は第
1図に示したインバータ100〜103,10
5,107〜110の具体例を示す図、第3図は
第1図に示したインバータ106、NAND回路
429,430の具体例を示す図、第4図は従来
技術による集積化マトリクススイツチの一例を示
す図、第5図は第1図に示したインバータ42
3,424,430の具体例を示す図である。 図において100〜110はインバータ、41
6〜430はNANDゲート回路、201,30
0〜302,501〜506は、ノーマリオフ型
MES FETをそれぞれ表わす。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows inverters 100 to 103, 10 shown in FIG.
5, 107 to 110, FIG. 3 is a diagram showing a concrete example of the inverter 106 and NAND circuits 429, 430 shown in FIG. 1, and FIG. 4 is an example of an integrated matrix switch according to the prior art. Figure 5 shows the inverter 42 shown in Figure 1.
3,424,430 is a diagram showing a specific example. In the figure, 100 to 110 are inverters, 41
6 to 430 are NAND gate circuits, 201, 30
0-302, 501-506 are normally off type
Each represents a MES FET.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 対地配線容量および配線間容量を有する複数
の入線と、前記複数の入線と交差する、対地配線
容量および配線間容量を有する複数の出線と、前
記複数の入線と前記複数の出線の各交点に設けら
れた1個のゲート回路とからなる集積化マトリク
ススイツチにおいて、前記複数の入線および前記
複数の出線の少なくとも一方に、対地配線容量お
よび配線間容量を分割するように、インバータを
間隔をおいて複数個挿入したことを特徴とする集
積化マトリクススイツチ。
1. A plurality of incoming lines having ground wiring capacitance and inter-wiring capacitance, a plurality of outgoing lines having ground wiring capacitance and inter-wiring capacitance that intersect the plurality of incoming lines, and each of the plurality of incoming lines and the plurality of outgoing lines. In an integrated matrix switch consisting of one gate circuit provided at an intersection, inverters are spaced so as to divide ground wiring capacitance and inter-wiring capacitance into at least one of the plurality of incoming lines and the plurality of outgoing lines. An integrated matrix switch characterized in that a plurality of switches are inserted at the same time.
JP245086A 1986-01-09 1986-01-09 Integrated matrix switch Granted JPS62159998A (en)

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