JPH0560562B2 - - Google Patents
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- JPH0560562B2 JPH0560562B2 JP22612085A JP22612085A JPH0560562B2 JP H0560562 B2 JPH0560562 B2 JP H0560562B2 JP 22612085 A JP22612085 A JP 22612085A JP 22612085 A JP22612085 A JP 22612085A JP H0560562 B2 JPH0560562 B2 JP H0560562B2
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- JP
- Japan
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- semiconductor laser
- automatic focusing
- photomask
- amplifier
- chrome
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は自動焦点装置に関し、特にホトマスク
顕微鏡自動焦点装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to an automatic focusing device, and more particularly to a photomask microscope automatic focusing device.
従来、ホトマスク顕微鏡自動焦点装置には、光
源に半導体レーザを用いた分割デイテクト方式光
学系、ホトマスク上のクロム面、またはガラス面
からの反射半導体レーザ光から得られた電気信号
をもとに遂次制御信号を発生する自動焦点回路が
設けられていた。
Conventionally, photomask microscope automatic focusing devices have a split detection optical system that uses a semiconductor laser as a light source, and sequential detection based on electrical signals obtained from reflected semiconductor laser light from the chrome surface or glass surface of the photomask. An autofocus circuit was provided to generate a control signal.
上述した従来のホトマスク顕微鏡自動焦点装置
は、光源に半導体レーザ光を用いているが、半導
体レーザ光のホトマスク面上でのビーム径は、焦
点が合つていた場合で5μm程度、焦点がぼける
に従つて10μm以上となつていたので、焦点がぼ
けた場合の半導体レーザ光のビームがホトマスク
面上のクロム面とガラス面の境界線上にある場合
には、分割デイテクト方式による2つのデイテク
タから得られる電気信号が安定せず、自動焦点が
振動するという欠点がある。
The conventional photomask microscope automatic focusing device described above uses a semiconductor laser beam as a light source, but the beam diameter of the semiconductor laser beam on the photomask surface is about 5 μm when it is focused, and when it is out of focus, it has a diameter of about 5 μm. Therefore, since it was 10 μm or more, if the semiconductor laser beam is out of focus and is on the boundary line between the chrome surface and the glass surface on the photomask surface, it can be obtained from two detectors using the split detector method. The drawback is that the electrical signal is unstable and the autofocus oscillates.
本発明のホトマスク顕微鏡自動焦点装置は、ホ
トマスク上のクロム面とガラス面上の境界線上に
半導体レーザ光が当たつて、デイテクタから得ら
れた信号を自動焦点用モーターを動かすのに必要
なゲインにまで増幅する幅幅器のゲイン切換えが
微小時間内に所定回数以上行なわれたときに、前
記、自動焦点用モーターのアツプ/ダウン信号を
強制的に停止させるホールド回路を備えたことを
特徴とする。
The photomask microscope automatic focusing device of the present invention shines a semiconductor laser beam on the boundary line between the chrome surface and the glass surface of the photomask, and converts the signal obtained from the detector into the gain necessary to operate the automatic focusing motor. The present invention is characterized by comprising a hold circuit that forcibly stops the up/down signal of the automatic focusing motor when the gain switching of the width amplifier for amplifying up to .
したがつて、半導体レーザ光がクロム面とガラ
ス面の境界線上にある場合に自動焦点が振動する
のが防止される。 Therefore, when the semiconductor laser beam is on the boundary line between the chrome surface and the glass surface, the autofocus is prevented from oscillating.
次に、本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明のホトマスク顕微鏡自動焦点装
置の一実施例の光学系の構成図、である。ただ
し、差動アンプも記載されている。 FIG. 1 is a block diagram of an optical system of an embodiment of the photomask microscope automatic focusing device of the present invention. However, differential amplifiers are also listed.
連続もしくはパルス点灯された半導体レーザ光
1は、コリメータ2を通過した後ビームスピリツ
タ3から対物レンズ4に照射され、被測定物であ
るホストマスク5の面と対物レンズ4との距離に
比例して、ホトマスク5からの反射半導体レーザ
光は分割ミラー6により、分割デイテクタ7と分
割デイテクタ8に当る反射半導体レーザ光の光量
が分割させられる。分割デイテクタ7と分割デイ
テクタ8に当たる反射半導体レーザ光の光量差は
差動アンプ9により電気信号で示され、この差動
アンプ9の電気的出力が0になるように顕微鏡焦
点の位置は自動的に補正される。 After passing through a collimator 2, a continuous or pulsed semiconductor laser beam 1 is irradiated from a beam spiriter 3 to an objective lens 4. Then, the reflected semiconductor laser light from the photomask 5 is divided by the splitting mirror 6 so that the amount of the reflected semiconductor laser light hitting the splitting detector 7 and the splitting detector 8 is divided. The difference in light intensity between the reflected semiconductor laser beams hitting the split detector 7 and the split detector 8 is indicated by an electrical signal by a differential amplifier 9, and the position of the microscope focus is automatically adjusted so that the electrical output of the differential amplifier 9 becomes 0. Corrected.
第2図は自動焦点回路のクロツク図である。 FIG. 2 is a clock diagram of the autofocus circuit.
反射半導体レーザ光は分割ミラー6により、焦
点位置に対応して、分割デイテクタ7,8にレー
ザ光を照射する。焦点が合つた時には分割デイテ
クタ7,8が受ける光量は等しいが、焦点が合つ
ていない時は分割デイテクタ7,8が受ける光量
は異なる。分割デイテクタ7,8で照射された光
量は電気信号に変換され、プリアンプ11a,1
1bにより各々増幅される。クロム/ガラスアン
プ12a,12bは半導体レーザ光がクロム面上
にある時またガラス面上にある時各々に対して、
適当な出力を得るためにアンプのゲインが2種類
ある。クロム/ガラスアンプ12a,12bのア
ンプゲイン値はアンプ選択回路13により決定さ
れる。クロム/ガラスアンプ12a,12bの出
力はアンプ14a,14bで各々増幅された後コ
ンパレータ15により、分割デイテクタ7,8が
受ける光量差に対応する電気信号を発生する。こ
の電気信号の正負信号を基に、遂次制御の自動焦
点がモーター駆動回路17により行なわれる。半
導体レーザ光がクロム面とガラス面の境界線にあ
る時はアンプ選択回路13の信号が不安定とな
り、クロム/ガラスアンプ12a,12bのアン
プゲイン値が一定せず自動焦点用モーターのモー
ター駆動回路17のアツプ/ダウン信号が振動す
る。ホールド回路16はクロム/ガラスアンプ1
2a,12bのゲイン切換えが頻発する場合に限
り、強制的にモーター駆動回路17のアツプ/ダ
ウン信号をホールドして焦点位置を動かさないよ
うにする。 The reflected semiconductor laser light is irradiated by a split mirror 6 onto split detectors 7 and 8 in accordance with the focal position. When the light is in focus, the divided detectors 7 and 8 receive the same amount of light, but when the light is out of focus, the divided detectors 7 and 8 receive different amounts of light. The amount of light irradiated by the divided detectors 7 and 8 is converted into an electric signal, and the preamplifiers 11a and 1
1b, respectively. The chromium/glass amplifiers 12a and 12b operate when the semiconductor laser beam is on the chrome surface or on the glass surface, respectively.
There are two types of amplifier gain to obtain the appropriate output. The amplifier gain values of the chrome/glass amplifiers 12a and 12b are determined by the amplifier selection circuit 13. The outputs of the chrome/glass amplifiers 12a and 12b are amplified by amplifiers 14a and 14b, respectively, and then a comparator 15 generates an electric signal corresponding to the difference in the amount of light received by the split detectors 7 and 8. Based on the positive and negative signals of this electrical signal, sequentially controlled automatic focusing is performed by the motor drive circuit 17. When the semiconductor laser beam is on the boundary line between the chrome surface and the glass surface, the signal of the amplifier selection circuit 13 becomes unstable, and the amplifier gain values of the chrome/glass amplifiers 12a and 12b are not constant, causing the motor drive circuit of the autofocus motor to become unstable. 17 up/down signals vibrate. Hold circuit 16 is chrome/glass amplifier 1
Only when gain switching between 2a and 12b occurs frequently, the up/down signal of the motor drive circuit 17 is forcibly held to prevent the focal position from moving.
ここで、ホールド回路16はクロムアンプ12
aとガラスアンプ12bの切換えが少なくとも3
回切換わる場合にモーター駆動回路17の信号を
強制的に禁止し、クロムアンプ12aとガラスア
ンプ12bの切換えが一定時間行なわれない場合
には解除するように構成されている。 Here, the hold circuit 16 is the chrome amplifier 12
A and glass amplifier 12b are switched at least 3 times.
The signal from the motor drive circuit 17 is forcibly inhibited when the switching occurs twice, and the signal is canceled when the switching between the chrome amplifier 12a and the glass amplifier 12b is not performed for a certain period of time.
以上説明したように本発明は、自動焦点回路中
にホールド回路を設けることにより、半導体レー
ザ光がクロム面とガラス面の境界線上にある場合
に自動焦点が振動するのを防ぐことができる効果
がある。
As explained above, the present invention has the effect of preventing the autofocus from vibrating when the semiconductor laser beam is on the boundary line between the chrome surface and the glass surface by providing a hold circuit in the autofocus circuit. be.
第1図は、本発明のホトマスク顕微鏡自動焦点
装置の一実施例の光学系の構成図、第2図は自動
焦点回路のブロツク図である。
1……レーザ光、2……コリメータ、3……ビ
ームスピリツタ、4……対物レンズ、5……ホト
マスク、6……分割ミラー、7,8……分割デイ
テクタ、9……差動アンプ、11a,11b……
プリアンプ、12a,12b……クロム/ガラス
アンプ、13……アンプ選択回路、14a,14
b……アンプ、15……コンパレータ、16……
ホールド回路、17……モーター駆動回路。
FIG. 1 is a block diagram of an optical system of an embodiment of the photomask microscope automatic focusing apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of the automatic focusing circuit. 1...Laser light, 2...Collimator, 3...Beam spirititter, 4...Objective lens, 5...Photomask, 6...Divided mirror, 7, 8...Divided detector, 9...Differential amplifier, 11a, 11b...
Preamplifier, 12a, 12b...Chrome/glass amplifier, 13...Amplifier selection circuit, 14a, 14
b...Amplifier, 15...Comparator, 16...
Hold circuit, 17...Motor drive circuit.
Claims (1)
方式光学系と、ホトマスクのクロム面からの反射
半導体レーザ光とガラス面からの反射半導体レー
ザ光によつて得られた電気信号により遂次制御を
行なう自動焦点回路を有するホトマスク顕微鏡自
動焦点装置において、 前記ホトマスク上のクロム面とガラス面上の境
界線上に半導体レーザ光が当たつて、デイテクタ
から得られた信号を自動焦点用モーターを動かす
のに必要なゲインにまで増幅する増幅器のゲイン
切換えが微小時間内に所定回数以上行なわれたと
きに、前記、自動焦点用モーターのアツプ/ダウ
ン信号を強制的に停止させるホールド回路を備え
たことを特徴とするホトマスク顕微鏡自動焦点装
置。[Claims] 1. A split detection optical system that uses a semiconductor laser as a light source, and electrical signals obtained by the reflected semiconductor laser light from the chrome surface of the photomask and the reflected semiconductor laser light from the glass surface. In a photomask microscope automatic focusing device that has an automatic focusing circuit that controls A hold circuit is provided that forcibly stops the up/down signal of the autofocus motor when the gain of the amplifier that amplifies the gain to the gain necessary for the movement is performed more than a predetermined number of times within a minute time. A photomask microscope automatic focusing device characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60226120A JPS6285211A (en) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | Automatic focus device for photomask microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60226120A JPS6285211A (en) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | Automatic focus device for photomask microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6285211A JPS6285211A (en) | 1987-04-18 |
| JPH0560562B2 true JPH0560562B2 (en) | 1993-09-02 |
Family
ID=16840150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60226120A Granted JPS6285211A (en) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | Automatic focus device for photomask microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6285211A (en) |
-
1985
- 1985-10-09 JP JP60226120A patent/JPS6285211A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6285211A (en) | 1987-04-18 |
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