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JPH0562722B2 - - Google Patents
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JPH0562722B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0562722B2
JPH0562722B2 JP60044123A JP4412385A JPH0562722B2 JP H0562722 B2 JPH0562722 B2 JP H0562722B2 JP 60044123 A JP60044123 A JP 60044123A JP 4412385 A JP4412385 A JP 4412385A JP H0562722 B2 JPH0562722 B2 JP H0562722B2
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JP
Japan
Prior art keywords
refractive
optical system
aplanatic
curvature
reflective
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP60044123A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61203419A (en
Inventor
Koichi Matsumoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP60044123A priority Critical patent/JPS61203419A/en
Publication of JPS61203419A publication Critical patent/JPS61203419A/en
Priority to US07/171,169 priority patent/US4812028A/en
Publication of JPH0562722B2 publication Critical patent/JPH0562722B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70225Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

(発明の技術分野) 本発明は、ICやLSI等の集積回路を製造する際
に、フオトレジストを塗布したウエハにマスク
(原板)のパターンを投影露光するための反射光
学系に関する。 (発明の背景) 従来、この種の反射光学系としては、種々の構
成が提案されているが、いずれも単位倍率を有す
るために、投影露光装置の光学系として用いた場
合には、マスク(原板)を実際の集積回路と同一
の大きさに作らねばならず、マスクの製造上の困
難を伴つていた。また、反射面を用いずに屈折系
のみで縮小投影を行う光学系もあるが、これは一
般に十数個のガラス部材にて構成されるため、ガ
ラス部材による光の吸収が大きくなるという問題
点を有している。 このような問題点を解消し得る反射縮小投影光
学系は、本願と同一の発明者により、特願昭59−
152502号として同一の出願人によつて先に出願さ
れている。この先願に開示した反射縮小投影光学
系は、同心構成の反射面と屈折面、及び光学系全
体の光軸上物点位置または光軸上像点位置もしく
はそれらと共役な位置に配置された曲率半径無限
大の屈折面から構成されるものであつた。そし
て、屈折部材として用いられる物質が同一の屈折
率Nであるとするとき、光学系内に空中像を1回
形成するごとに、±1/N倍(又は±N倍)の縮
小(又は拡大)倍率を得ることができるものであ
り、同心反射面による3回反射の部分光学系と1
回反射の部分光学系とを組み合わせることによつ
てペツツバール和を良好に補正し、優れた結像性
能を維持するものであつた。 しかしながら、この先願に開示した構成におい
ては、より高縮小率(拡大率)を得るためには、
部分光学系を何段にも重ねて用いなければなら
ず、構成が複雑化、大型化してしまうという欠点
があつた。 (発明の目的) 本発明の目的は、上述の問題点を解消し、光の
吸収が小さく、しかも比較的簡単で小型な構成で
ありながらより高倍率の縮小投影が可能な反射縮
小投影光学系を提供することにある。 (発明の概要) 本発明による反射縮小投影光学系は、同心状の
反射面に加えて、アプラナチツク面を用いてより
高縮小率(高拡大率)の投影を可能としたもので
ある。 即ち、本発明による反射縮小投影光学系は、基
本的には、複数の反射面及び屈折面がそれらの曲
率中心をそれぞれ同一光軸上に位置して配置され
た共軸光学系において、前記複数の屈折面はアプ
ラナチツクな屈折面を含み、前記複数の反射面の
それぞれに係る見かけの光軸上物点位置が該それ
ぞれの反射面の曲率中心にほぼ一致すると共に、
該アプラナチツクな屈折面以外の屈折面はそれぞ
れの曲率中心が該それぞれの屈折面に係る見かけ
の光軸上物点位置に一致して構成されているか、
または、該光学系の物点位置か像点位置もしくは
それらと共役な位置に配置されている平面屈折面
にて構成されているものである。 尚、本発明におけるある面に係る見かけの軸上
物点とは、その面より前の光学面による軸上像点
に相当し、その面からみた見かけのうえでの軸上
物点を意味する。 そして、本発明における構成の具体的要件は以
下のように要約される。 (要件 1) 反射面に係る倍率が全て−1倍であること。即
ち、各反射面に対する光軸上物点位置と光軸上像
点位置が同一であること。 (要件 2) 屈折面に関しては、次の3つのうちのいずれか
であること。 屈折面その1:該屈折面に係る光軸上物点位
置が、該屈折面の曲率中心と一致しているこ
と。即ち、同心の屈折面を形成していること。 屈折面その2:該屈折面に係る物点距離を
s、像点距離をs′として、該屈折面の光線進行
方向に沿つて手前の空間の屈折面をN、後方の
空間の屈折率をN′とするとき、該屈折面の曲
率半径Rとの間に、 R=Ns/N+N′=N′s′/N+N′ なる関係が満足されること。即ち、アプラナチ
ツクな屈折面を形成していること。 屈折面その3:光学系全体の光軸上物点位置
又は光軸上像点位置、もしくはそれらと共役な
位置に置かれその曲率半径が無限大であるこ
と。 尚、上記の要件において用いられた用語は、広
義の意味にて解釈されるものとする。即ち、アプ
ラナチツクと云えば、ほぼアプラナチツクな状態
も含み、同心と云えば、ほぼ同心なる状態も含む
ものとする。また、本発明において、縮小と拡大
とは像面と物体面との配置を逆に用いた時の差異
に過ぎず、光線逆進の原理からして実質的に等価
であることはいうまでもない。 以下に本発明の基本となる屈折面及び反射面に
おける倍率について説明する。 ガウス光学から容易に分かるように、同心反射
面では倍率は−1であり、曲率半径無限大の屈折
面では倍率は+1である。また、同心屈折面での
倍率βcはその面に入射する光線の進行方向に沿つ
て前側空間の媒質の屈折率をN、後側空間の媒質
の屈折率をN′とするとき、 βc=N/N′ である。即ち、空気中から屈折率nの媒質で形成
された同心屈折面へ入射する場合には、この面で
の倍率は1/nとなり、逆に屈折率nの媒質で形
成された同心屈折面をこの媒質中から空気中へ射
出する場合には、この面での倍率はnとなる。 これに対し、アプラナチツクな屈折面での倍率
βaは、 βa=(N/N′)2 である。 即ち、第2図に示す如く、屈折率Nの媒質と屈
折率N′の媒質との境界面の曲率半径がRである
とし、物体距離s0の軸上物体Qの像Q′が像距離
s0′に形成されるものとするとき、この物体Qに
対してこの境界面がアプラナチツクである場合に
は、 s0=(1+N′/N)R s0′=(1+N/N′)R が成立つ。そして、このアプラナチツク面に関す
る倍率βaは、物体距離と像距離との比であり、 βa=s0′/N′/s0/N と定義されるから、上記の値を代入して、 βa=(N/N′)2 を得る。 換言すれば、アプラナチツク面により像倍率
は、その面の後側空間の媒質の屈折率に対する前
側空間の媒質の屈折率の比の2乗に等しい値とな
る。従つて、空気中から屈折率nの媒質で形成さ
れたアプラナチツク面へ入射する場合には、この
面での媒質は(1/n)2となり、逆に屈折率nの
媒質で形成されたアプラナチツク面をこの媒質中
から空気中へ射出する場合には、この面での倍率
はn2となる。 本発明はこのようなアプラナチツク面の性質に
着目し、アプラナチツク面と同心反射面及び同心
屈折面との組合せによつて、より高縮小率または
より高倍率の反射投影光学系を可能としたもので
ある。 ところで、反射光学系において、光学面を同心
状に配置してその中心を含み光軸に垂直な面内に
物点・像点を配置することの優位性は、古くから
指摘されているが、本発明の構成においてその性
質を概観してみる。特に、収差上の性質を表すの
に、3次収差係数を用いることとする。3次収差
係数の記号としては、“レンズ設計法”(松居吉哉
著 共立出版)に記載されたものに準拠する。即
ち、I:球面収差、:コマ収差、:非点収
差、:球欠像面弯曲、:歪曲収差、P:ペツ
ツバール和として、ここでは、 =+P なる関係がある。 いま、着目する反射面又は屈折面に関する軸上
物点位置が、その面の曲率中心と一致する場合は I==0 である。 また、球欠方向の光束については、その面への
入射角が常に90°であるため、正反射もしくは屈
折を受けないで通過するだけなので、 =0 である。 次に、光学系全体の軸上物点位置または軸上像
点位置もしくはそれらと共役位置にある曲率半径
無限大の屈折面については、近軸マージナル光線
の入射高hが、n=0であることにより、 I===0 また、曲率半径が無限大であることより、 P=0 そして、=+Pより、=0となつてい
る。 従つて、同心状の反射面と屈折面、及び光学系
全体の物点位置または像点位置もしくはそれらと
共役位置にある曲率半径無限大の屈折面から成る
光学系においては、同心の反射面と屈折面との曲
率半径を適切に選んで、P=0になるようにすれ
ば、 I===P==0 なる光学系が実現できる。 以上は前述した先願(特願昭59−152502号)に
て開示した内容である。 さて、次ぎに本発明の特徴であるアプラナチツ
クな屈折面における収差について説明する。アプ
ラナチツクな屈折面においては、 I===0 である。従つて、アプラナチツクな屈折面だけに
依るペツツバール和が相殺してほぼゼロとなるよ
うにアプラナチツクな屈折面の曲率半径を選ぶこ
とにより、P=0とすれば、アプラナチツクな屈
折面だけに依る球欠像面弯曲は、 =+Pであるから、 =0 となる。 そして、本発明の光学系内にアプラナチツクな
屈折面を複数設け、これらのアプラナチツク面だ
けに関するペツツバール和が独立に補正されてい
ることが必要である。即ち、アプラナチツクな屈
折面の曲率半径をRi、光線の進行方向に沿つて前
方の空間の屈折率をNi、後方の空間の屈折率を
Ni′として、光学系全体の中にアプラナチツクな
屈折面がK面あるとするとき、 Ki=1 Ni′−Ni/RiNiNi′=0 の条件を略満足することも本発明の要件である。 また、アプラナチツクな屈折面を除く屈折面及
び反射面だけに関するペツツバール和が補正され
ていることも必要である。即ち、アプラナチツク
な屈折面以外の反射面及び屈折面の曲率半径をri
とし、光学系全体の中にアプラナチツクな屈折面
以外の反射面及び屈折面がL面あるとするとき、
屈折率を上記と同様に決めるとして、 Li=1 Ni′−Ni/riNiNi′=0 の条件を略満足することも本発明の要件となる。 (実施例) 以下、図示した実施例の構成に基づいて、本発
明を詳細に説明する。 尚、以下では、設計上の利便のために物体面を
縮小側に配置し、この物体の像を拡大投影する場
合として説明する。縮小とするか拡大とするか
は、単に光線の進む向きが逆であるだけで、実質
的には等価であることは前述の通りである。 第1A図に示した第1実施例の構成は、本発明
による反射縮小投影光学系の基本的構成からなる
ものであり、第1B図は部分拡大図である。この
第1実施例は、縮小率が約3.4分の1の反射縮小
投影光学系であり、第1の部分光学系K1と第2
の部分光学系K2とを有している。ここでは、第
1部分光学系K1により物体面O上の物体の拡大
像が像面I上に形成され、この拡大された物体像
から第2部分光学系K2によつてその像面I′上にさ
らに拡大された物体像が形成されるものとして説
明する。この場合、第1部分光学系の像面Iが第
2部分光学系の物体面O′に一致する構成となつ
ている。 この第1実施例は、全部で12面の屈折面と反射
面とで構成されており、 第1部分光学系K1は、 軸上物点C0に曲率中心が一致した第1同心
屈折面RC1と該軸上物点C0に対してアプラナチ
ツクな第1アプラナチツク面RA1とを有する第
1アプラナチツクレンズLA1、 該第1アプラナチツク面RA1による軸上像点
C1を曲率中心とする凹面の第1反射面M1、 該第1反射面M1と同一中心をもつ第2同心
屈折面RC2、及び、該第2同心屈折面RC2によ
る軸上像点C1に対してアプラナチツクな第2
アプラナチツク面RA2を有する第2アプラナチ
ツクレンズLA2 からなつている。 また、第2部分光学系K2は、 前記第1部分光学系K1中の第2アプラナチ
ツク面RA2による軸上像点C2を中心とする第3
同心屈折面RC3と第4同心屈折面RC4とを有す
る同心レンズLC、 該同心レンズLCによる軸上像点C2を曲率中
心とする凹面の第2反射面M2、 該第2反射面M2と曲率中心が一致する凸面
の第3反射面M3、 該第3反射面M3と曲率中心が一致する凹面
の第4反射面M4、該第2反射面M2と該第4反
射面M4とに対して該第3反射面M3が対向して
配置されている。 該第4反射面M4と曲率中心が一致する第5
同心屈折面RC5と、該第5同心屈折面による軸
上像点C2に対してアプラナチツクな第3アプ
ラナチツク面RA3とを有する第3アプラナチツ
クレンズLA3 からなつている。 従つて、上記の構成においては、3つのアプラ
ナチツク面RA1,RA2,RA3に関する共役関係を含
めて考えれば、実質的には互いに同心状に構成さ
れた反射面と屈折面とからなる光学系であるとい
える。尚、本実施例では物体O側がテレセントリ
ツクな構成となつている。 第1図に示した第1実施例の構成では、第2反
射面M2と第4反射面M4とが同一曲面上に一致し
ており、簡単な構成となつているが、これに限ら
れるものではない。また、第3反射面M3と同心
レンズLCの射出面RC4とは同一の曲率半径を有し
ているが、これらも特に一致させる必要はない。 上記第1実施例の具体的数値例を下記の表1に
示す。表1を含め以下の表では物体面O側から最
終像面I′へ向かう順序で各曲面の曲率半径、面間
隔及び屈折率を表している。表中、各面の曲率半
径及び屈折率は、図中左から右へ向かう光線の進
行方向を正と定義し、これを基準としてそれらの
正負を定め、面間隔は光線の進行方向が正である
媒質中は正とし、光線の進行方向が負である媒質
中は負とするものとする。従つて、図示した第1
実施例の構成では、例えば、物体面Oからの光線
がまず左から右へ向かつて進むため、物体面Oと
第1同心屈折面RC1との間隔及びこの間の屈折率
は正の値として与えられる。また、表中には各面
における像倍率も併記した。
(Technical Field of the Invention) The present invention relates to a reflective optical system for projecting and exposing a pattern of a mask (original plate) onto a wafer coated with photoresist when manufacturing integrated circuits such as ICs and LSIs. (Background of the Invention) Conventionally, various configurations have been proposed as this type of reflective optical system, but since all of them have unit magnification, when used as an optical system of a projection exposure apparatus, a mask ( The original plate had to be made to the same size as the actual integrated circuit, creating difficulties in mask manufacturing. In addition, there are optical systems that perform reduction projection using only a refractive system without using a reflective surface, but these are generally made up of a dozen or more glass members, which causes the problem that the absorption of light by the glass members increases. have. A catoptric reduction projection optical system capable of solving such problems was proposed in Japanese Patent Application No. 1983-1983 by the same inventor as the present application.
It was previously filed by the same applicant as No. 152502. The catoptric reduction projection optical system disclosed in this prior application has a concentric reflecting surface and a refractive surface, and a curvature arranged at an object point position on the optical axis or an image point position on the optical axis of the entire optical system, or a position conjugate thereto. It was composed of a refracting surface with an infinite radius. Assuming that the materials used as refractive members have the same refractive index N, each time an aerial image is formed in the optical system, it is reduced (or enlarged) by ±1/N times (or ±N times). ) is capable of obtaining magnification, and consists of a partial optical system with 3 reflections by concentric reflecting surfaces and 1
By combining it with a double-reflection partial optical system, the Petzval sum can be corrected well and excellent imaging performance can be maintained. However, in the configuration disclosed in this prior application, in order to obtain a higher reduction ratio (enlargement ratio),
The disadvantage is that the partial optical system must be stacked in several stages, making the configuration complicated and large. (Object of the Invention) An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and to create a catoptric reduction projection optical system that has a relatively simple and compact configuration and is capable of reducing projection at a higher magnification. Our goal is to provide the following. (Summary of the Invention) The catoptric reduction projection optical system according to the present invention uses an aplanatic surface in addition to a concentric reflecting surface to enable projection at a higher reduction ratio (higher magnification ratio). That is, the catoptric reduction projection optical system according to the present invention is basically a coaxial optical system in which a plurality of reflecting surfaces and refractive surfaces are arranged with their centers of curvature located on the same optical axis. The refractive surface includes an aplanatic refractive surface, and the apparent object point position on the optical axis of each of the plurality of reflective surfaces substantially coincides with the center of curvature of each of the reflective surfaces,
Are the refractive surfaces other than the aplanatic refractive surface configured such that the center of curvature of each refractive surface coincides with the apparent position of an object point on the optical axis for each refractive surface,
Alternatively, it is composed of a plane refractive surface disposed at the object point position, image point position, or a position conjugate thereto of the optical system. In addition, the apparent on-axis object point related to a certain surface in the present invention corresponds to the on-axis image point of the optical surface in front of that surface, and means the apparent on-axis object point seen from that surface. . The specific requirements for the configuration of the present invention are summarized as follows. (Requirement 1) All magnifications related to reflective surfaces must be -1x. That is, the position of the object point on the optical axis and the position of the image point on the optical axis for each reflecting surface are the same. (Requirement 2) Regarding the refractive surface, it must be one of the following three types. Refracting surface No. 1: The position of the object point on the optical axis of the refractive surface coincides with the center of curvature of the refractive surface. That is, they form concentric refractive surfaces. Refracting surface 2: Let the object point distance related to the refractive surface be s, the image point distance be s', the refractive surface in the front space along the ray traveling direction of the refractive surface be N, and the refractive index in the rear space be When N', the relationship R=Ns/N+N'=N's'/N+N' is satisfied with the radius of curvature R of the refracting surface. In other words, it forms an aplanatic refractive surface. Refracting surface 3: It is placed at the object point position on the optical axis or the image point position on the optical axis of the entire optical system, or at a position conjugate thereto, and its radius of curvature is infinite. The terms used in the above requirements shall be interpreted in a broad sense. That is, the term "appranatic" includes a state that is almost apranatic, and the term "concentric" includes a state that is almost concentric. Furthermore, in the present invention, reduction and enlargement are only differences when the positions of the image plane and object plane are reversed, and it goes without saying that they are substantially equivalent based on the principle of ray reversal. do not have. The magnifications of the refractive surface and the reflective surface, which are the basis of the present invention, will be explained below. As is easily understood from Gaussian optics, a concentric reflecting surface has a magnification of -1, and a refractive surface with an infinite radius of curvature has a magnification of +1. Also, the magnification β c on a concentric refractive surface is calculated as β c when the refractive index of the medium in the front space is N and the refractive index of the medium in the rear space is N′ along the traveling direction of the light ray incident on the surface. =N/N'. In other words, when light enters a concentric refracting surface made of a medium with a refractive index n from air, the magnification on this surface is 1/n, and conversely, when the concentric refractive surface made of a medium with a refractive index n When ejecting from this medium into the air, the magnification in this plane is n. On the other hand, the magnification β a on an aplanatic refracting surface is β a =(N/N') 2 . That is, as shown in Fig. 2, the radius of curvature of the interface between a medium with a refractive index N and a medium with a refractive index N' is assumed to be R, and the image Q' of an axial object Q at an object distance s 0 has an image distance of
s 0 ′, and if this boundary surface is aplanatic for this object Q, s 0 = (1+N′/N)R s 0 ′=(1+N/N′)R holds true. Then, the magnification β a regarding this aplanatic surface is the ratio of the object distance to the image distance, and is defined as β a = s 0 '/N'/s 0 /N, so by substituting the above value, We obtain β a = (N/N') 2 . In other words, the image magnification of an aplanatic surface is equal to the square of the ratio of the refractive index of the medium in the front space to the refractive index of the medium in the rear space of the surface. Therefore, when the air enters an aplanatic surface made of a medium with a refractive index n, the medium on this surface becomes (1/n) 2 , and conversely, the aplanatic surface made of a medium with a refractive index n When a surface is ejected from this medium into the air, the magnification on this surface is n2 . The present invention focuses on the properties of such an aplanatic surface, and by combining the aplanatic surface with a concentric reflecting surface and a concentric refractive surface, a catoptric projection optical system with a higher reduction ratio or higher magnification is made possible. be. By the way, in reflective optical systems, the advantage of arranging optical surfaces concentrically and arranging object points and image points in a plane that includes the center and is perpendicular to the optical axis has been pointed out for a long time. Let's take a look at its properties in the structure of the present invention. In particular, third-order aberration coefficients will be used to represent aberrational properties. The symbol for the third-order aberration coefficient is based on the one described in "Lens Design Method" (written by Yoshiya Matsui, published by Kyoritsu Shuppan). That is, where I: spherical aberration, : comatic aberration, : astigmatism, : spherical field curvature, : distortion aberration, and P: Petzval sum, here, there is the following relationship: =+P. If the axial object point position of the reflective or refractive surface of interest coincides with the center of curvature of that surface, I==0. Furthermore, since the angle of incidence of the light beam in the direction of the sphere is always 90°, it simply passes through without undergoing regular reflection or refraction, so that =0. Next, for a refractive surface with an infinite radius of curvature located at the axial object point position or axial image point position of the entire optical system, or a position conjugate thereto, the incident height h of the paraxial marginal ray is n=0. Therefore, I===0 Also, since the radius of curvature is infinite, P=0 And, since =+P, =0. Therefore, in an optical system consisting of a concentric reflecting surface and a refractive surface, and a refractive surface with an infinite radius of curvature located at the object point position or image point position of the entire optical system, or at a position conjugate thereto, the concentric reflecting surface and the refractive surface are By appropriately selecting the radius of curvature with respect to the refractive surface so that P=0, an optical system where I===P==0 can be realized. The above is the content disclosed in the aforementioned earlier application (Japanese Patent Application No. 152502/1982). Next, aberrations in the aplanatic refractive surface, which is a feature of the present invention, will be explained. In an aplanatic refractive surface, I===0. Therefore, by selecting the radius of curvature of the aplanatic refracting surface so that the Petzval sum due only to the aplanatic refractive surface cancels out and becomes almost zero, if P=0, the spherical truncated area due only to the aplanatic refractive surface can be reduced. Since the field curvature is =+P, it becomes =0. It is also necessary that a plurality of aplanatic refractive surfaces be provided in the optical system of the present invention, and that the Petzval sums concerning only these aplanatic surfaces be independently corrected. That is, the radius of curvature of the aplanatic refracting surface is R i , the refractive index of the space in front along the direction of propagation of the ray is N i , and the refractive index of the space behind it is
Assuming that there is an aplanatic refractive surface K in the entire optical system as N i ′, the condition of Ki=1 N i ′−N i /R i N i N i ′=0 is approximately satisfied. This is also a requirement of the present invention. It is also necessary that the Petzval sums for only refractive surfaces and reflective surfaces excluding aplanatic refractive surfaces be corrected. That is, the radius of curvature of the reflective and refractive surfaces other than the aplanatic refracting surface is r i
If the entire optical system includes a reflective surface and a refractive surface other than the aplanatic refractive surface, then
Assuming that the refractive index is determined in the same manner as above, it is also a requirement of the present invention that the condition Li=1 N i ′−N i /r i N i N i ′=0 is substantially satisfied. (Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on the configuration of the illustrated example. In the following, a case will be described in which the object plane is placed on the reduction side for convenience in design, and an image of this object is projected in an enlarged manner. As mentioned above, whether it is a reduction or an enlargement, the direction in which the light ray travels is simply reversed, and they are substantially equivalent. The configuration of the first embodiment shown in FIG. 1A is the basic configuration of a catoptric reduction projection optical system according to the present invention, and FIG. 1B is a partially enlarged view. This first embodiment is a reflective reduction projection optical system with a reduction ratio of approximately 1/3.4, and includes a first partial optical system K1 and a second partial optical system K1.
It has a partial optical system K2 . Here, an enlarged image of the object on the object plane O is formed on the image plane I by the first partial optical system K1 , and from this enlarged object image, the image plane I is formed by the second partial optical system K2 . The explanation will be given assuming that a further enlarged object image is formed on . In this case, the configuration is such that the image plane I of the first partial optical system coincides with the object plane O' of the second partial optical system. This first embodiment is composed of a total of 12 refractive surfaces and reflective surfaces, and the first partial optical system K1 includes a first concentric refractive surface whose center of curvature coincides with the on-axis object point C0 . A first applanatic lens L A1 having R C1 and a first applanatic surface R A1 that is applanatic with respect to the on-axis object point C0 ;
A concave first reflecting surface M 1 having the center of curvature at C 1 , a second concentric refractive surface R C2 having the same center as the first reflecting surface M 1 , and an on-axis image by the second concentric refractive surface R C2 The second aplanatic for point C 1
It consists of a second aplanatic lens L A2 having an aplanatic surface R A2 . Further, the second partial optical system K 2 has a third optical system centered on the on-axis image point C 2 formed by the second applanatic surface R A2 in the first partial optical system K 1 .
a concentric lens L C having a concentric refractive surface R C3 and a fourth concentric refractive surface R C4 ; a concave second reflecting surface M 2 having a center of curvature at an axial image point C 2 formed by the concentric lens L C ; a convex third reflective surface M3 whose center of curvature coincides with the reflective surface M2; a concave fourth reflective surface M4 whose center of curvature coincides with the third reflective surface M3 ; The third reflective surface M 3 is arranged to face the fourth reflective surface M 4 . A fifth reflective surface whose center of curvature coincides with the fourth reflective surface M4 .
It consists of a third applanatic lens L A3 having a concentric refractive surface R C5 and a third applanatic surface R A3 that is applanatic with respect to the axial image point C 2 formed by the fifth concentric refractive surface. Therefore, in the above configuration, if we consider the conjugate relationship regarding the three aplanatic surfaces R A1 , R A2 , and R A3 , the optical system consists of a reflecting surface and a refractive surface that are substantially concentric with each other. It can be said that it is a system. In this embodiment, the object O side has a telecentric configuration. In the configuration of the first embodiment shown in FIG. 1, the second reflective surface M 2 and the fourth reflective surface M 4 are on the same curved surface, resulting in a simple configuration, but the configuration is not limited to this. It's not something you can do. Further, although the third reflecting surface M 3 and the exit surface R C4 of the concentric lens L C have the same radius of curvature, it is not necessary that these also match. Specific numerical examples of the first embodiment are shown in Table 1 below. The following tables, including Table 1, show the radius of curvature, surface spacing, and refractive index of each curved surface in the order from the object surface O side toward the final image surface I'. In the table, the radius of curvature and refractive index of each surface are defined as positive in the direction of travel of the ray from left to right in the figure, and their positive and negative values are determined based on this. It is assumed that it is positive in a certain medium, and negative in a medium in which the traveling direction of the ray is negative. Therefore, the illustrated first
In the configuration of the embodiment, for example, since the light ray from the object plane O first proceeds from left to right, the distance between the object plane O and the first concentric refractive surface R C1 and the refractive index therebetween are given as positive values. It will be done. In addition, the image magnification on each surface is also listed in the table.

【表】【table】

【表】 ここでは、光線を逆方向に追跡した順序で表示
したため、拡大倍率となつているが、1/3.375
倍の縮小投影が可能な光学系である。 上記第1実施例の全系の焦点距離は f=243.789であるが、これをf=1.0に正規化
して3次収差係数を計算した結果を下記の表2に
示す。収差計算に必要な近軸マージナル光線の物
体面上での傾角をα0、光軸からの高さをh0とし
て、近軸主光線の物体面での傾角を0、光軸か
らの高さを0とするとき、物体面を第0面と考
えるとh0=0である。また、物体側でテレセント
リツクな状態で使用されるので、α00の値に
ついては、収差係数に対してある定数倍する働き
しか有していないので、ここでは、 α0=−1、h0=0、 0= 0、0=1、 なる初期値で3次収差係数を係数を計算した。表
中、Σは全系の合計を表す。
[Table] Here, the rays are displayed in the order in which they were traced in the opposite direction, so the magnification is 1/3.375.
This is an optical system that can perform double reduction projection. The focal length of the entire system in the first embodiment is f=243.789, which is normalized to f=1.0 and the third-order aberration coefficients are calculated. Table 2 below shows the results. The inclination angle of the paraxial marginal ray on the object plane required for aberration calculation is α 0 and the height from the optical axis is h 0 , and the inclination angle of the paraxial principal ray on the object plane is 0 and the height from the optical axis. When is set to 0 , and the object plane is considered to be the 0th plane, h 0 =0. In addition, since it is used in a telecentric state on the object side, the value of α 0 , 0 only has the function of multiplying the aberration coefficient by a certain constant, so here, α 0 = −1, The third-order aberration coefficient was calculated using the following initial values: h 0 = 0, 0 = 0 , 0 = 1. In the table, Σ represents the total of the entire system.

【表】 上記の3次収差係数の値から、第1実施例の光
学系がザイデル5収差のうち歪曲収差を除き、鮮
鋭度に関する4収差については、良く補正されて
いることが明らかである。 第3A図は、本発明の第2実施例の基本構成を
示す図であり、第3B図は部分拡大図である。上
述した第1実施例のごとき構成に加えて、物体面
に一致または近傍の平面屈折面を持つものであ
る。物体面または像面の近傍に平面屈折面を有す
る反射縮小投影光学系は、先の特願昭59−152502
号にて開示した構成であるが、この第2実施例は
上記の先願に開示した構成にアプラナチツクな屈
折面を加えることによつて、より高縮小率を可能
としたものである。 第3A図及び第3B図中、第1A図及び第1B
図に示した原理的構成と同様の機能を有する部材
には同一の記号を付した。この第2実施例は、縮
小率が約7.6分の1の反射縮小投影光学系である。
この第2実施例も、第1の部分光学系K1と第2
の部分光学系K2とを有している。各部分光学系
は基本的には前記の第1実施例の構成と類似して
いるが、同心屈折面に代わつて、それぞれの系の
物体面とその共役面の近傍に曲率半径無限大、即
ち平面の屈折面を有する屈折部材を有する反射光
学系である。この平面屈折面の位置は各部分光学
系の縮小側の物体面または像面の近傍に配置され
るものであり、第1部分光学系の像面が第2部分
光学系の物体面に一致する構成となつている。こ
こでも、第1部分光学系により物体面O上の物体
の拡大像が像面I上に形成され、この拡大された
物体像から第2部分光学系K2によつてその像面
I′上にさらに拡大された物体像が形成されるもの
として説明する。 第2実施例は、全部で12面の屈折面と反射面と
で構成されており、 第1部分光学系K1は、 物体面に一致した第1平面屈折面RP1と軸上
物点C0に対してアプラナチツクな第1アプラ
ナチツク面RA1とを有する第1屈折部材P1、 該第1屈折部材P1のアプラナチツク面RA1
よる軸上物点C1を曲率中心とする凹面の第1
反射面M1、 該第1反射面M1と同一中心をもつ第1同心
屈折面RC1、及び、該第1同心屈折面RC1によ
る軸上像点C1に対してアプラナチツクな第2
アプラナチツク面RA2を有する第1アプラナチ
ツクレンズLA1 からなつている。 また、第2部分光学系K2は、 前記第1部分光学系K1中の第2アプラナチ
ツク面RA2による軸上像点C2に一致し光軸に垂
直な第2平面屈折面RP2と、該軸上像点C2に曲
率中心が一致した第2同心屈折面RC2を有する
第2屈折部材P2 該第2屈折部材P2による軸上像点C2を曲率
中心とする凹面の第2反射面M2、 該第2反射面M2と曲率中心が一致する凸面
の第3反射面M3、 該第3反射面M3と曲率中心が一致する凹面
の第4反射面M4、該第2反射面M2と該第4反
射面M4とに対して、該第3反射面M3が対向し
て配置されている。 該第4反射面M4と曲率中心が一致する第3
同心屈折面RC3と、該第3同心屈折面による軸
上像点C2に対してアプラナチツクな第3アプ
ラナチツク面RA3とを有する第2アプラナチツ
クレンズLA2 からなつている。 従つて、上記の構成においては、物体面又は像
面にほぼ一致して配置された平面の屈折面を除け
ば、3つのアプラナチツク面RA1,RA2,RA3に関
する共役関係を含めて考えると、実質的には互い
に同心状に構成された反射面と屈折面とからなる
光学系であるといえる。尚、本実施例でも物体O
側がテレセントリツクな構成となつている。 第3図に示した第2実施例の構成において、各
部分光学系の物体面O,O′は、それぞれの屈折
部材P1、P2の入射面に合致した構成となつてい
るが、わずかながら分離することも可能である。
特に光学系の最終像面においては、ウエハを配置
するための作動距離が必要なので、数ミリ程度の
空気間隔を設けことが有効である。 上記第2実施例の具体的数値例を下記の表3に
示す。表3でも設計上の利便に合わせて拡大投影
系として示し、物体面O側から最終像面I′へ向か
う順序で各曲面の曲率半径、面間隔及び屈折率を
表している。
[Table] From the values of the third-order aberration coefficients described above, it is clear that the optical system of the first example is well corrected for the four aberrations related to sharpness, except for distortion among Seidel's five aberrations. FIG. 3A is a diagram showing the basic configuration of a second embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a partially enlarged view. In addition to the configuration of the first embodiment described above, this embodiment has a planar refractive surface that coincides with or is close to the object surface. A catoptric reduction projection optical system having a plane refractive surface near the object plane or image plane is disclosed in the previous patent application No. 59-152502.
However, this second embodiment enables a higher reduction ratio by adding an aplanatic refractive surface to the structure disclosed in the above-mentioned earlier application. Figures 3A and 3B, Figures 1A and 1B
The same symbols are attached to the members having the same functions as those shown in the drawings. This second embodiment is a catoptric reduction projection optical system with a reduction ratio of approximately 1/7.6.
This second embodiment also includes a first partial optical system K1 and a second partial optical system K1.
It has a partial optical system K2 . Each partial optical system is basically similar to the configuration of the first embodiment, but instead of concentric refractive surfaces, each system has an infinite radius of curvature near the object plane and its conjugate surface. This is a reflective optical system having a refractive member having a flat refractive surface. The position of this plane refractive surface is placed near the object plane or image plane on the reduction side of each partial optical system, so that the image plane of the first partial optical system coincides with the object plane of the second partial optical system. It is structured as follows. Here, too, an enlarged image of the object on the object plane O is formed on the image plane I by the first partial optical system, and from this enlarged object image, the image on the image plane is formed by the second partial optical system K2 .
The following explanation assumes that a further enlarged object image is formed on I′. The second embodiment is composed of a total of 12 refractive surfaces and reflective surfaces, and the first partial optical system K1 includes a first plane refractive surface R P1 that coincides with the object plane and an on-axis object point C a first refractive member P 1 having a first applanatic surface R A1 that is applanatic with respect to 0 ;
a reflective surface M 1 , a first concentric refracting surface R C1 having the same center as the first reflective surface M 1 , and a second aplanatic refracting surface R C1 that is aplanatic with respect to the axial image point C 1 by the first concentric refracting surface R C1 ;
It consists of a first aplanatic lens L A1 having an aplanatic surface R A2 . Further, the second partial optical system K 2 has a second planar refractive surface R P2 that coincides with the axial image point C 2 formed by the second aplanatic surface R A2 in the first partial optical system K 1 and is perpendicular to the optical axis. , a second refractive member P2 having a second concentric refractive surface R C2 whose center of curvature coincides with the on-axis image point C2 ; a second reflective surface M2 ; a convex third reflective surface M3 whose center of curvature coincides with the second reflective surface M2; and a concave fourth reflective surface M4 whose center of curvature coincides with the third reflective surface M3 . , the third reflective surface M3 is disposed to face the second reflective surface M2 and the fourth reflective surface M4 . A third reflective surface whose center of curvature coincides with the fourth reflective surface M4 .
It consists of a second applanatic lens L A2 having a concentric refractive surface R C3 and a third applanatic surface R A3 that is applanatic with respect to the axial image point C 2 formed by the third concentric refractive surface. Therefore, in the above configuration, except for the plane refractive surface arranged almost coincident with the object plane or image plane, considering the conjugate relationship regarding the three aplanatic surfaces R A1 , R A2 , R A3 , , it can be said that it is an optical system consisting of a reflective surface and a refractive surface that are substantially concentric with each other. In this example, the object O
The side has a telecentric configuration. In the configuration of the second embodiment shown in FIG. 3, the object planes O and O' of each partial optical system are configured to coincide with the incident planes of the respective refractive members P 1 and P 2 , but only slightly. It is also possible to separate the
Particularly at the final image plane of the optical system, a working distance is required to place the wafer, so it is effective to provide an air gap of several millimeters. Specific numerical examples of the second embodiment are shown in Table 3 below. Table 3 is also shown as an enlarged projection system for convenience of design, and the radius of curvature, interplanar spacing, and refractive index of each curved surface are shown in the order from the object plane O side to the final image plane I'.

【表】 ここでも、光線を逆方向に追跡した順序で表示
したため、拡大倍率となつているが、1/7.5938
倍の縮小投影が可能な光学系である。 この実施例でも、アプラナチツクな屈折面、即
ち第2、第5及び第12面(RA1,RA2,RA3)によ
るペツツバール和PZAは、以下に示すようにゼロ
である。 PZA=Σi1/Ri(1/Ni−1/Ni′) =1/−30(1/1.5−1/1) +1/−40(1/−1.5−1/−1) +1/120(1/1.5−1/1)=0 上記第1実施例の全系の焦点距離は f=−184.051であるが、これをf=1.0に正規
化し、前記の第1実施例の場合と同様に、 α0=−1、h0=0、 0= 0、0=1、 なる初期値で3次収差係数を計算した結果を以下
の表4に示す。表中、Σは全系の合計を表す。
[Table] Here, too, the rays are displayed in the order in which they were traced in the opposite direction, so the magnification is 1/7.5938.
This is an optical system that can perform double reduction projection. In this embodiment as well, the Petzval sum PZA due to the aplanatic refractive surfaces, that is, the second, fifth, and twelfth surfaces (R A1 , R A2 , R A3 ), is zero as shown below. P ZA =Σi1/R i (1/N i -1/N i ') =1/-30 (1/1.5-1/1) +1/-40 (1/-1.5-1/-1) +1/ 120 (1/1.5 - 1/1) = 0 The focal length of the entire system in the first embodiment is f = -184.051, but by normalizing this to f = 1.0, Similarly, Table 4 below shows the results of calculating the third-order aberration coefficients using the following initial values: α 0 =−1, h 0 =0, 0 = 0, 0 =1. In the table, Σ represents the total of the entire system.

【表】 上記の3次収差係数の値から、第2実施例の光
学系もザイデル5収差のうち歪曲収差を除き、鮮
鋭度に関する4収差については、良く補正されて
いることが分かる。 また、上記の3次収差係数の表から、第1実施
例、第2実施例共に、アプラナチツクな屈折面即
ち第2、第5、第12面によるペツツバール和と、
それ以外の面によるペツツバール和が、各々独立
にゼロとなつていることも確認される。 (発明の効果) 以上の様に本発明によれば、集積回路の製造に
有利な縮小投影型の反射光学系としてより縮小率
の高いものを達成することができる。そして、ア
プラナチツクな屈折面についてはそれら独自でペ
ツツバール和を補正すると共に、他の屈折面及び
反射面においても独自にペツツバール和を補正す
ることによつて、光学系全体としてザイデル5収
差のうち歪曲収差を除き像の鮮鋭度に関する他の
4つの収差を良好に補正することが可能である。
また、このような高い縮小率にて投影を行うこと
のできる反射光学系により、集積回路パターンの
マスク(原板)を回路の実寸法より大きく作成す
ることが可能となるため、マスクの製造が極めて
容易になると共に、より微細なパターンを有する
集積回路の製造にも非常に有効である。また、露
光波長として遠紫外領域の光を用いる場合でもガ
ラス等の屈折部材の数が少ないので、これらによ
る吸収のために透過率を悪化させることがないと
いう利点も有している。更に、光学系全体の屈折
力のうちそのほとんどが凸及び凹の反射面に依つ
ているため、色収差を考慮して設計する場合にも
色収差の除去が、屈折系のみからなる光学系の場
合に比較して容易であるという利点もある。 また、本発明におけるアプラナチツクレンズ
は、先の出願に記載した実施例における如き同心
状のメニスカスレンズに比較して、その製造段階
における芯取り工程が容易となる利点も有してい
る。
[Table] From the values of the third-order aberration coefficients above, it can be seen that the optical system of the second example also has well corrected the four aberrations related to sharpness, except for distortion among Seidel's five aberrations. Also, from the table of third-order aberration coefficients above, in both the first and second embodiments, the Petzval sum by the aplanatic refractive surfaces, that is, the second, fifth, and twelfth surfaces,
It is also confirmed that the Petzval sums for other surfaces are independently zero. (Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, it is possible to achieve a reduction projection type reflective optical system with a higher reduction ratio, which is advantageous for manufacturing integrated circuits. Then, by correcting the Petzval sum independently for the aplanatic refractive surfaces, and by correcting the Petzval sum independently for other refractive surfaces and reflective surfaces, the optical system as a whole can eliminate distortion among Seidel's five aberrations. Except for this, it is possible to satisfactorily correct the other four aberrations related to image sharpness.
In addition, by using a reflective optical system that can perform projection at such a high reduction ratio, it is possible to create a mask (original plate) for an integrated circuit pattern larger than the actual size of the circuit, making mask manufacturing extremely difficult. In addition to being easy to manufacture, it is also very effective in manufacturing integrated circuits with finer patterns. Furthermore, even when using light in the far ultraviolet region as the exposure wavelength, there is a small number of refractive members such as glass, so there is an advantage that the transmittance is not deteriorated due to absorption by these members. Furthermore, most of the refractive power of the entire optical system depends on convex and concave reflective surfaces, so when designing with chromatic aberration in mind, it is difficult to remove chromatic aberration in the case of an optical system consisting only of a refractive system. It also has the advantage of being relatively easy. The aplanatic lens of the present invention also has the advantage that the centering process in the manufacturing stage thereof is easier than the concentric meniscus lens as in the embodiment described in the previous application.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1A図は、本発明による反射縮小型投影光学
系の基本構成からなる第1実施例の光学構成図、
第1B図は第1実施例における部分拡大図、第2
図はアプラナチツクな屈折面における倍率の説明
図、第3A図は本発明による第2実施例の構成
図、第3B図は第2実施例における部分拡大図で
ある。 主要部分の符号の説明、RA1,RA2,RA3……ア
プラナチツク屈折面、RC1,RC2,RC3,RC4
RC5,……同心屈折面、O,O′……物体面、I,
I′……像面、M1……凹面の第1反射面、K1……
第1部分光学系、M2……凹面の第2反射面、K2
……第2部分光学系、M3……凸面の第3反射面、
M4……凹面の第4反射面。
FIG. 1A is an optical configuration diagram of a first embodiment consisting of the basic configuration of a catoptric projection optical system according to the present invention;
Figure 1B is a partially enlarged view of the first embodiment;
The figure is an explanatory diagram of magnification on an aplanatic refracting surface, FIG. 3A is a block diagram of a second embodiment according to the present invention, and FIG. 3B is a partially enlarged view of the second embodiment. Explanation of the symbols of the main parts, R A1 , R A2 , R A3 ... Aplanatic refracting surface, R C1 , R C2 , R C3 , R C4 ,
R C5 , ... concentric refractive surface, O, O' ... object surface, I,
I'... Image plane, M 1 ... Concave first reflective surface, K 1 ...
First partial optical system, M 2 ... concave second reflective surface, K 2
...Second partial optical system, M 3 ...Convex third reflective surface,
M 4 ... concave fourth reflective surface.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の反射面及び屈折面がそれらの曲率中心
をそれぞれ同一光軸上に位置して配置された共軸
光学系において、前記複数の屈折面はアプラナチ
ツクな屈折面を含み、前記複数の反射面の曲率中
心が該それぞれの反射面に係る見かけの軸上物点
位置にほぼ一致すると共に、該アプラナチツクな
屈折面以外の屈折面それぞれの曲率中心が該それ
ぞれの屈折面に係る見かけの軸上物点位置に一致
して構成されたことを特徴とする反射縮小投影光
学系。 2 特許請求の範囲第1項記載の反射縮小投影光
学系において、前記アプラナチツクな屈折面にお
けるペツツバール和が複数のアプラナチツクな屈
折面の相互によつて独立にほぼ補正され、かつ該
アプラナチツクな屈折面以外の屈折面と反射面に
おけるペツツバール和がこれらの面の相互によつ
て独立にほぼ補正されていることを特徴とする反
射縮小投影光学系。 3 複数の反射面及び屈折面がそれらの曲率中心
をそれぞれ同一光軸上に位置して配置され、該光
軸に垂直な平面上の物体面と像面とを有する共軸
光学系において、前記複数の屈折面はアプラナチ
ツクな屈折面と、前記像面または前記物体面もし
くはその共役位置の近傍に設けられ該面にほぼ平
行な平面屈折面とを含み、前記複数の反射面の曲
率中心が該それぞれの反射面に係る見かけの軸上
物点位置に一致すると共に、該アプラナチツクな
屈折面以外で前記平面屈折面以外の屈折面それぞ
れの曲率中心が該それぞれの屈折面に係る見かけ
の光軸上物点位置に一致して構成されたことを特
徴とする反射縮小投影光学系。 4 特許請求の範囲第3項記載の反射縮小投影光
学系において、前記アプラナチツクな屈折面にお
けるペツツバール和が複数のアプラナチツクな屈
折面の相互によつて独立にほぼ補正され、かつ該
アプラナチツクな屈折面以外の屈折面と反射面に
おけるペツツバール和がこれらの面の相互によつ
て独立にほぼ補正されていることを特徴とする反
射縮小投影光学系。
[Scope of Claims] 1. In a coaxial optical system in which a plurality of reflective surfaces and refractive surfaces are arranged with their centers of curvature located on the same optical axis, the plurality of refractive surfaces include an aplanatic refractive surface. , the centers of curvature of the plurality of reflecting surfaces substantially coincide with the apparent on-axis object point positions of the respective reflecting surfaces, and the centers of curvature of each of the refractive surfaces other than the aplanatic refractive surface coincide with the respective refractive surfaces. A catoptric reduction projection optical system characterized in that it is configured to match such an apparent on-axis object point position. 2. In the catoptric reduction projection optical system according to claim 1, the Petzval sum at the aplanatic refracting surface is almost independently corrected by a plurality of aplanatic refracting surfaces, and A catoptric reduction projection optical system characterized in that the Petzval sum on a refractive surface and a reflective surface is almost independently corrected by each of these surfaces. 3. In a coaxial optical system in which a plurality of reflective surfaces and refractive surfaces are arranged with their centers of curvature located on the same optical axis, and an object surface and an image surface are on a plane perpendicular to the optical axis, The plurality of refractive surfaces include an aplanatic refractive surface and a planar refractive surface provided near the image plane or the object surface or a conjugate position thereof and substantially parallel to the surface, and the center of curvature of the plurality of reflective surfaces is coincides with the apparent on-axis object point position of each reflecting surface, and the center of curvature of each refractive surface other than the planar refractive surface is on the apparent optical axis of each refractive surface. A catoptric reduction projection optical system characterized in that it is configured to match the position of an object point. 4. In the catoptric projection optical system according to claim 3, the Petzval sum at the aplanatic refracting surface is almost independently corrected by a plurality of aplanatic refracting surfaces, and A catoptric reduction projection optical system characterized in that the Petzval sum on a refractive surface and a reflective surface is almost independently corrected by each of these surfaces.
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