JPH0563735B2 - - Google Patents
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- JPH0563735B2 JPH0563735B2 JP16138588A JP16138588A JPH0563735B2 JP H0563735 B2 JPH0563735 B2 JP H0563735B2 JP 16138588 A JP16138588 A JP 16138588A JP 16138588 A JP16138588 A JP 16138588A JP H0563735 B2 JPH0563735 B2 JP H0563735B2
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は校正用分銅を内蔵した電子天びんに関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to an electronic balance with a built-in calibration weight.
〈従来の技術〉
電子天びんの校正は、一般に、荷重センサを含
む荷重検出機構にひよう量近傍の質量既知の分銅
を負荷し、その状態での計量表示値が分銅質量に
一致するよう、校正係数を更新する等によつて行
われる。<Prior art> Generally, when calibrating an electronic balance, a weight with a known mass in the vicinity of the weighing capacity is loaded onto a load detection mechanism including a load sensor, and the calibration is performed so that the displayed value in that state matches the mass of the weight. This is done by updating the coefficients, etc.
ところで、このような校正は、電子天びんの設
置時のみならず電子天びんの構成部材の経年変化
等によるスパン変化等を解消すべく、必要に応じ
てもしくは定期的に、ユーザサイドにおいて頻繁
に行なうことが望ましい。 Incidentally, such calibration should be performed frequently by the user, not only when installing the electronic balance, but also as needed or periodically to eliminate span changes due to aging of the components of the electronic balance. is desirable.
そこで、従来、この校正動作を容易にすること
を目的として、天びんハウジング内に専用の校正
用分銅を内蔵させることにより、精密な基準分銅
を別途用意することなく校正を可能にした電子天
びんがある。 Therefore, in order to make this calibration operation easier, there are electronic balances that have a dedicated calibration weight built into the balance housing, making it possible to calibrate without separately preparing a precise reference weight. .
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、校正用の分銅を内蔵するためには、
内蔵分銅とその加除機構を収容するスペースがハ
ウジング内に必要となるが、大ひよう量の電子天
びんでは分銅の体積が大きくなる関係上、実現が
困難であつた。<Problem to be solved by the invention> By the way, in order to incorporate a calibration weight,
A space is required within the housing to accommodate the built-in weight and its adjustment mechanism, but this has been difficult to achieve in large-capacity electronic balances because the volume of the weight is large.
この対策として、従来、レバーを用いて小質量
の分銅で大ひよう量を校正する方法がある。しか
し、この方法では、天びん輸送時におけるレバー
比の変化や、雰囲気温度によるレバー比の変化等
を避け難く、正確さの点で問題がある。 As a countermeasure to this problem, there is a conventional method of calibrating a large weight with a small weight using a lever. However, with this method, it is difficult to avoid changes in the lever ratio during transportation of the balance, changes in the lever ratio due to ambient temperature, etc., and there is a problem in terms of accuracy.
本発明はこの点に鑑みてなされたもので、ハウ
ジング内のスペースを大きくとることなく、従来
よりも大質量の分銅を内蔵させることを可能とし
た電子天びんの提供を目的としている。 The present invention has been made in view of this point, and an object of the present invention is to provide an electronic balance in which a weight having a larger mass than before can be housed without taking up a large space within the housing.
〈課題を解決するための手段〉
上記の目的を達成するため、本発明では、実施
例に対応する第1図に示すように、天びんハウジ
ング1の上面と試料皿2との間に形成された空間
に校正用分銅4を配設するとともに、その校正用
分銅4を試料皿2もしくは受感部材3上端部近傍
に形成された分銅受け5に対して負荷/負荷解除
するための機構(例えば押上げ棒6a,6b)を
設けている。<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, in the present invention, as shown in FIG. A calibration weight 4 is disposed in the space, and a mechanism for loading/unloading the calibration weight 4 with respect to a weight receiver 5 formed near the upper end of the sample pan 2 or sensing member 3 (for example, a pusher) is provided. Raising rods 6a, 6b) are provided.
ここで、校正用分銅4の配設される空間を、前
記したハウジング1の上面と試料皿2の間に形成
される空間に代えて、第5図に示すように、ハウ
ジング1の上面を試料皿2の下面凹部内に突出さ
せて形成されたハウジング1内部上端部の空間と
することもできる。 Here, instead of the space in which the calibration weight 4 is arranged to be the space formed between the upper surface of the housing 1 and the sample plate 2, as shown in FIG. It may also be a space at the upper end of the interior of the housing 1 that is formed to protrude into the recess on the lower surface of the dish 2 .
なお、本明細書でいう試料皿2とは、単一の部
材で一体的に形成されたもののほか、例えば第3
図に示すように皿2aと皿受け2bに分離されて
なるものをも含む。 Note that the sample dish 2 referred to in this specification refers to not only one integrally formed of a single member but also one that is formed integrally with a third plate, for example.
As shown in the figure, it also includes one that is separated into a plate 2a and a plate holder 2b.
〈作用〉
天びんに内蔵する校正用分銅としては、通常の
測定時には荷重検出機構の受感部材およびこれに
接合された試料皿等の感応部に非接触の状態を保
ち、かつ、校正時にはこの感応部以外の部材に非
接触の状態で負荷される必要がある。また、前記
したようにレバー等を介さずに受感部材の中心に
直接負荷されることが望ましい。<Function> During normal measurements, the calibration weight built into the balance maintains a non-contact state with the sensitive member of the load detection mechanism and the sensitive parts of the sample plate connected to it, and during calibration, it The load must be applied without contacting other members. Further, as described above, it is desirable that the load be applied directly to the center of the sensing member without using a lever or the like.
校正用分銅4を例えば環状にして、受感部材3
の略中心線上のハウジング1上面と試料皿2の間
の空間に置くとともに、試料皿2、もしくは受感
部材3上端部近傍の分銅受け5に負荷するよう構
成することで、ハウジング1内の荷重検出機構等
に干渉することなく、かつ、ハウジング1自体の
寸法を大きくすることなく、大体積の校正用分銅
4の使用が可能となる。 The calibration weight 4 is made into a ring shape, for example, and the sensing member 3
The load inside the housing 1 can be reduced by placing the load on the sample pan 2 or the weight receiver 5 near the upper end of the sensing member 3. It is possible to use a large-volume calibration weight 4 without interfering with the detection mechanism or the like and without increasing the dimensions of the housing 1 itself.
なお、第5図のように、ハウジング1の上面を
試料皿2の下面の凹部内に突出させることによつ
て作られたハウジング1内の空間に校正用分銅4
を配置しても、ハウジング1内の他の構成部材と
の干渉を考慮する必要がなく、突出部以外のハウ
ジングペースを大きくすることなく、大体積の校
正用分銅4の使用が可能となる。 As shown in FIG. 5, the calibration weight 4 is placed in the space inside the housing 1 created by protruding the top surface of the housing 1 into the recess on the bottom surface of the sample dish 2.
Even if it is arranged, there is no need to consider interference with other structural members in the housing 1, and a large-volume calibration weight 4 can be used without increasing the housing space other than the protrusion.
〈実施例〉
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明
する。<Example> An example of the present invention will be described below based on the drawings.
第1図は本発明実施例の要部構造を示す中央縦
断面図で、aは通常の測定状態を、bは校正用分
銅4の負荷状態を示している。 FIG. 1 is a central vertical cross-sectional view showing the main structure of an embodiment of the present invention, in which a shows a normal measurement state and b shows a loaded state of the calibration weight 4.
ハウジング1内には、電磁力平衡機構等の荷重
センサを含む公知の荷重検出機構が配設されてお
り、この荷重検出機構は受感部材3に作用する荷
重を検出することができる。 A known load detection mechanism including a load sensor such as an electromagnetic force balance mechanism is disposed within the housing 1, and this load detection mechanism can detect the load acting on the sensing member 3.
受感部材3は鉛直線に沿つて直立する部材であ
つて、その上端部はハウジング1の上面に穿たれ
た孔1aから外部に臨んでいる。そして、この受
感部材3の先端に試料皿2が支承される。受感部
材3の上端部近傍、例えば試料皿2の支承部位の
直下には、カツプ状の分銅受け5が形成されてい
る。 The sensing member 3 is a member that stands upright along a vertical line, and its upper end portion faces the outside through a hole 1a bored in the upper surface of the housing 1. The sample plate 2 is supported at the tip of the sensing member 3. A cup-shaped weight receiver 5 is formed near the upper end of the sensing member 3, for example, directly below the support portion of the sample plate 2.
試料皿2は全体として円盤状をした一体形の皿
であり、その周縁部は下方に屈曲するとともに下
面中央に受感部材3先端を嵌挿するための孔が形
成されている。そして、この試料皿2の下面とハ
ウジング1の上面との間の空間に、受感部材3の
軸心を中心として円環状の校正用分銅4が配設さ
れている。 The sample plate 2 is an integral plate having a disk shape as a whole, the peripheral edge of which is bent downward, and a hole into which the tip of the sensing member 3 is inserted is formed in the center of the lower surface. An annular calibration weight 4 is disposed in a space between the lower surface of the sample plate 2 and the upper surface of the housing 1, with the axis of the sensing member 3 as its center.
ハウジング1の内部には、例えばカム機構やク
ランク機構等の公知の簡単な上下機構によつて互
いに連動して上下動する押上げ棒6a,6bが配
設されている。この押上げ棒6a,6bは、その
上昇端に位置している状態では、第1図aに示す
ように、校正用分銅4の下面に当接してこれを押
し上げ、ハウジング1の上面に配設された分銅当
り7との間で校正用分銅4を挟着保持することが
できる。なお、分銅当り7は下方に開くテーパ面
を有しており、このテーパ面が校正用分銅4の外
周面上方に形成されたテーパ面と当接すること
で、押上げ棒6a,6bによる押し上げ時に校正
用分銅4の中心が受感部材3の軸心と一致するよ
う、位置決めされる。この状態では、校正用分銅
4は試料皿2、受感部材3および分銅受け5のい
ずれにも接触せず、試料皿2上に載せられた荷重
のみが荷重検出機構によつて検出される。 Inside the housing 1, push-up rods 6a and 6b are disposed which are moved up and down in conjunction with each other by a known simple up-and-down mechanism such as a cam mechanism or a crank mechanism. When the push-up bars 6a and 6b are at their rising ends, they come into contact with the bottom surface of the calibration weight 4 and push it up, as shown in FIG. The calibration weight 4 can be sandwiched and held between the weight 7 that has been adjusted. Note that the weight 7 has a tapered surface that opens downward, and when this tapered surface comes into contact with the tapered surface formed above the outer peripheral surface of the calibration weight 4, when it is pushed up by the push-up rods 6a and 6b, The center of the calibration weight 4 is positioned to coincide with the axis of the sensing member 3. In this state, the calibration weight 4 does not come into contact with any of the sample pan 2, sensing member 3, and weight receiver 5, and only the load placed on the sample pan 2 is detected by the load detection mechanism.
押上げ棒6a,6bが下降端に位置している状
態では、第1図bに示すように、校正用分銅4と
の接触が解かれる。すなわち、押上げ棒6a,6
bの先端部の高さは、その下降端においては分銅
受け5の上面よりも低く、従つて、この状態では
校正用分銅4は分銅受け5の上面に乗ることにな
る。この状態において校正用分銅4は、分銅当り
7との接触も解かれ、その全質量が分銅受け5お
よび受感部材3を介して荷重検出機構に伝達され
る。 When the push-up bars 6a, 6b are at the lower end, they are no longer in contact with the calibration weight 4, as shown in FIG. 1b. That is, the push-up rods 6a, 6
The height of the tip of b is lower than the upper surface of the weight receiver 5 at its descending end, so the calibration weight 4 rests on the upper surface of the weight receiver 5 in this state. In this state, the calibration weight 4 is released from contact with the perpendicular weight 7, and its total mass is transmitted to the load detection mechanism via the weight receiver 5 and sensing member 3.
第2図は第1図の実施例に防塵対策を施した例
を示す中央縦断面図である。 FIG. 2 is a central vertical cross-sectional view showing an example in which dustproof measures have been applied to the embodiment of FIG. 1.
すなわち、この例では、分銅当り7を上方に延
長させ、更に内側に延びる防塵カバー7aを一体
形成している。これにより、雰囲気中の防塵やこ
ぼれた試料等による校正用分銅4の汚れを防止す
ることができる。なお、第2図において第1図と
同一の部材については同一の番号を付している。 That is, in this example, the weight per 7 is extended upward and a dustproof cover 7a extending further inward is integrally formed. This makes it possible to prevent the calibration weight 4 from becoming contaminated by dust in the atmosphere or by spilled samples. In FIG. 2, the same members as in FIG. 1 are given the same numbers.
第3図に示す例は、第2図の防塵対策の変形例
で、組立ての作業性等を考慮した極めて実用的な
例である。なお、この例では、試料皿2を皿2a
と皿受け2aに分離したタイプを示している。 The example shown in FIG. 3 is a modification of the dustproof measure shown in FIG. 2, and is an extremely practical example in consideration of ease of assembly and the like. Note that in this example, the sample plate 2 is replaced by the plate 2a.
This shows the type with separate plate support 2a.
この第3図の例では、ハウジング1の上面の孔
1aを大きくし、その孔1aを覆うように下側防
塵カバー10を設けている。更に、その上方には
分銅当りを兼ねる上側防塵カバー71を被せ、こ
の上側防塵カバー71と下側防塵カバー10との
間に形成された空間内に校正用分銅4を配設して
いる。そして、押上げ棒6aは下側防塵カバー1
0を貫通して校正用分銅4を上下動させるように
構成している。なお、60は押上げ棒ガイドであ
る。 In the example shown in FIG. 3, the hole 1a on the upper surface of the housing 1 is enlarged, and the lower dustproof cover 10 is provided to cover the hole 1a. Furthermore, an upper dustproof cover 71 that also serves as a weight is placed above it, and a calibration weight 4 is disposed in a space formed between the upper dustproof cover 71 and the lower dustproof cover 10. The push-up rod 6a is the lower dustproof cover 1.
The calibration weight 4 is configured to move up and down through the 0 point. Note that 60 is a push-up bar guide.
この例においては、校正用分銅4の受感部材3
の軸心に対する位置決めは、校正用分銅4の下面
に、押上げ棒6a,6bの配設位置に対応させて
溝4aを形成することによつて対処している。 In this example, the sensing member 3 of the calibration weight 4 is
The positioning with respect to the axis of the calibration weight 4 is achieved by forming grooves 4a on the lower surface of the calibration weight 4 in correspondence with the positions of the push-up rods 6a and 6b.
上側防塵カバー71のハウジング1に対する組
み付けは、例えばハウジング1の孔1aの周縁を
立ち上がらせ、その外周に数箇所の突起11を設
けておくとともに、カバー71にはL字形の切欠
きを設けておき、カバー71をハウジング1の立
ち上がり部に被せてねじることによつてワンタツ
チで行えるように工夫している。第4図aにカバ
ー側の切欠き71aの例を示し、同図bにハウジ
ング1側の突起11の例を示す。なお、下側防塵
カバー10についても同様の構造を採ることがで
きる。 To assemble the upper dustproof cover 71 to the housing 1, for example, the periphery of the hole 1a of the housing 1 is raised up, several protrusions 11 are provided on the outer periphery, and L-shaped notches are provided in the cover 71. , by placing the cover 71 over the rising portion of the housing 1 and twisting it so that it can be done with one touch. FIG. 4a shows an example of the notch 71a on the cover side, and FIG. 4b shows an example of the protrusion 11 on the housing 1 side. Note that a similar structure can be adopted for the lower dustproof cover 10 as well.
第5図に示す例は、第1図における分銅当り7
と、第2図における防塵カバー7aをそれぞれハ
ウジング1の壁体によつて兼用させた例である。 The example shown in Figure 5 is 7 per weight in Figure 1.
This is an example in which the dustproof cover 7a in FIG. 2 is also used by the wall of the housing 1.
この例では、試料皿2の下面に形成される凹部
内に、孔1aを中心としてハウジング1の上面の
壁体を突出させ、この突出によつて形成されたハ
ウジング1の内部の上端部の空間に、校正用分銅
4を配設している。そして、押上げ棒6a,6b
の上昇端では、校正用分銅4はハウジング1の突
出部12の下面に形成された平坦面17に当接す
る。つまりハウジング1の平坦面17が分銅当り
となる。また、押上げ棒6a,6bの下降端では
第1図と同様に受感部材3の上端部に設けられた
分銅受け5上に校正用分銅4が乗る。なお、校正
用分銅4の受感部材3の軸心に対する位置決め
は、第3図の例と同様、校正用分銅4の下面に押
げ棒6a,6bの配設位置に対応させて溝もしく
は凹所4a,4bを設けることによつて対処して
いる。 In this example, the wall of the upper surface of the housing 1 is projected into the recess formed on the lower surface of the sample dish 2, centering on the hole 1a, and the space at the upper end inside the housing 1 is formed by this projection. A calibration weight 4 is disposed at . And push up rods 6a, 6b
At its rising end, the calibration weight 4 abuts against a flat surface 17 formed on the lower surface of the protrusion 12 of the housing 1 . In other words, the flat surface 17 of the housing 1 serves as the weight. Further, at the descending ends of the push-up bars 6a, 6b, the calibration weight 4 is placed on the weight receiver 5 provided at the upper end of the sensing member 3, as in FIG. Note that the positioning of the calibration weight 4 with respect to the axis of the sensing member 3 is done by forming grooves or recesses on the bottom surface of the calibration weight 4 corresponding to the positions of the push rods 6a and 6b, as in the example shown in FIG. This is dealt with by providing locations 4a and 4b.
この第5図の例では、校正用分銅4はハウジン
グ1内に収容されるものの、その収容位置は試料
皿2下方の凹部内にハウジング1を突出させるこ
とによつて得られる内部上端の空間であるから、
ハウジング1内の荷重検出機構等に対する干渉を
考慮する必要がなく、また、突出部12以外にハ
ウジング1の容積を大きくすることなく大体積の
校正用分銅4を使用できる。また、ハウジング1
自体が分銅当りと校正用分銅4の防塵カバーの機
能を備えることになり、部品点数を削減できる。 In the example shown in FIG. 5, the calibration weight 4 is housed in the housing 1, but its housing position is in the space at the upper end of the interior obtained by protruding the housing 1 into the recess below the sample dish 2. because there is,
There is no need to consider interference with the load detection mechanism or the like within the housing 1, and a large-volume calibration weight 4 can be used without increasing the volume of the housing 1 other than the protrusion 12. Also, housing 1
The weight itself has the functions of a dustproof cover for the weight and the calibration weight 4, and the number of parts can be reduced.
なお、以上説明した各実施例において、押上げ
棒6a,6bの数は3本以上でもよく、また、例
えば第6図に示すように、フオーク状のレバー6
c等を用いることで1本の押上げ棒6によつて校
正用分銅4の上下動が可能である。更に、第3図
に示したようにカバー71と溝4aを有する場合
には、押上げ棒6aが1本であつても分銅4を上
下させることができる。この場合、押上げ棒6a
に対する分銅4の偏心量が大きくなつて上下動し
にくいときには、それに応じて分銅4の形状を半
円環状、ないしは円環の一部を切欠いた形状にす
る等、適宜の対処を採ることができる。 In each of the embodiments described above, the number of push-up rods 6a, 6b may be three or more, and for example, as shown in FIG.
It is possible to move the calibration weight 4 up and down by using one push-up rod 6. Furthermore, when the cover 71 and the groove 4a are provided as shown in FIG. 3, the weight 4 can be moved up and down even with only one push-up bar 6a. In this case, the push-up rod 6a
When the amount of eccentricity of the weight 4 with respect to the weight increases and it becomes difficult to move up and down, appropriate measures can be taken accordingly, such as changing the shape of the weight 4 into a semicircular ring shape or a shape with a part of the ring cut out. .
第7図に示す例は、分銅受け5を試料皿2に設
け、校正用分銅4を試料皿2の内部に収納した例
を示している。この図において中心線より左側は
通常の測定状態を、右側は分銅負荷状態を示して
いる。 The example shown in FIG. 7 shows an example in which the weight receiver 5 is provided on the sample pan 2 and the calibration weight 4 is housed inside the sample pan 2. As shown in FIG. In this figure, the left side of the center line shows the normal measurement state, and the right side shows the weight loaded state.
この例においては、試料皿2の周縁の下方への
屈曲端に、試料皿2の中心部を除いてその下面を
ほぼ全面に亘つて覆うような分銅受け5が固着さ
れており、この分銅受け5と試料皿2との間の空
間に、校正用分銅4を配置している。そして、ハ
ウジング1内にはこの分銅受け5の中央開口部を
介して校正用分銅4を押し上げることのできる押
上げ部材6dが配設されており、通常の測定状態
においては校正用分銅4はこの押上げ部材6dに
のみ接触してその上方に乗る。また、分銅負荷状
態においては押上げ部材6dが下降し、校正用分
銅4は分銅受け5にのみ接触してその上に乗る。
この例によれば、第2図、第3図または第5図に
示した例と同様、校正用分銅4の汚染を防止でき
るという利点がある。 In this example, a weight receiver 5 is fixed to the downwardly bent end of the periphery of the sample dish 2, and covers almost the entire lower surface of the sample dish 2 except for the center. A calibration weight 4 is placed in the space between the sample plate 2 and the sample plate 2 . A push-up member 6d that can push up the calibration weight 4 through the central opening of the weight receiver 5 is provided in the housing 1. In normal measurement conditions, the calibration weight 4 is It contacts only the push-up member 6d and rides above it. Further, in the weight loaded state, the push-up member 6d descends, and the calibration weight 4 contacts only the weight receiver 5 and rides on it.
This example has the advantage that contamination of the calibration weight 4 can be prevented, similar to the example shown in FIG. 2, FIG. 3, or FIG. 5.
第8図に示す例は、校正用分銅4を上下動させ
る機構をよりシンプルなものとし、更にこの機構
をもハウジング1の外部に設けた例を示してい
る。 The example shown in FIG. 8 shows an example in which the mechanism for moving the calibration weight 4 up and down is simpler, and this mechanism is also provided outside the housing 1.
この例においては、ハウジング1の孔1aを中
心にしてその上面に波状端面を持つ円筒上の突起
61を設け、これに嵌合する波状凹部を持つリン
グ状の分銅支え62を設けている。 In this example, a cylindrical protrusion 61 with a wavy end face is provided on the upper surface of the hole 1a of the housing 1, and a ring-shaped weight support 62 with a wavy recess that fits into the protrusion 61 is provided.
第9図に突起61と分銅支え62の分解斜視図
を示す。突起61に形成された波形と分銅支え6
2に形成された波形とは互いに略同一のピツを有
しており、分銅支え62に設けられた把手62a
により分銅支え62を回転させると、分銅支え6
2が上下に動くよう構成されている。 FIG. 9 shows an exploded perspective view of the protrusion 61 and the weight support 62. Waveform formed on protrusion 61 and weight support 6
The waveforms formed in 2 have substantially the same pits, and the handle 62a provided on the weight support 62
When the weight support 62 is rotated, the weight support 6
2 is configured to move up and down.
そして、校正用分銅4はこの分銅支え62の上
方に配置される。また、この例において分銅受け
5は、試料皿2側に固着されている。 The calibration weight 4 is placed above this weight support 62. Further, in this example, the weight receiver 5 is fixed to the sample plate 2 side.
この例において、分銅支え62の上方への変位
端では、第8図に示すように校正用分銅4はこの
分銅支え62の上面に支持され、試料皿2、受感
部材3および分銅受け5のいずれにも接触しな
い。その状態から把手62aによつて分銅支え6
2を回動させて下方に変位させると、校正用分銅
4もそれにつれて下方に変位してゆくが、分銅支
え62が下方の変位端に達するまでに分銅受け5
上に乗り、分銅支え62が下方の変位端にある状
態では校正用分銅4は分銅受け5にのみ接触し、
その全質量が受感部材3に伝達される。 In this example, at the upward displacement end of the weight support 62, the calibration weight 4 is supported on the upper surface of the weight support 62, as shown in FIG. Do not come in contact with any of them. From this state, use the handle 62a to hold the weight support 6.
2 is rotated and displaced downward, the calibration weight 4 is also displaced downward, but by the time the weight support 62 reaches the lower displacement end, the weight receiver 5
When the weight support 62 is at the lower displacement end, the calibration weight 4 contacts only the weight receiver 5,
Its entire mass is transmitted to the sensitive member 3.
第10図乃至第18図に示す例は、校正用分銅
4自体を回すことによつてこの校正用分銅4を上
下動させ、分銅受け5への負荷/負荷解除を実現
しようとするものである。 The examples shown in FIGS. 10 to 18 are intended to move the calibration weight 4 up and down by rotating the calibration weight 4 itself, thereby loading/unloading the weight receiver 5. .
第10図に中央縦断面図を、第11図にその要
部分解斜視図を示す例では、ハウジング1の上面
に孔1aを中心として波状端面を持つ円筒状の固
定型分銅支え63を形成している。この分銅支え
63の山部63aの頂部に1個づつ切欠63bを
形成し、この切欠63b……63bに対応させ
て、校正用分銅4の外周面からピン41〜43を
突出させている。なお、そのうち1本のピン41
は把手を兼ねるべく他よりも長くしてある。 In the example shown in FIG. 10 as a central vertical sectional view and in FIG. 11 as an exploded perspective view of the main part, a cylindrical fixed weight support 63 having a wavy end face is formed on the upper surface of the housing 1 and centered around the hole 1a. ing. One notch 63b is formed at the top of each mountain portion 63a of this weight support 63, and pins 41 to 43 are made to protrude from the outer peripheral surface of the calibration weight 4 in correspondence with the notches 63b...63b. In addition, one of them, pin 41
is longer than the others to serve as a handle.
そして、通常の測定状態においては、第10図
に示すように、ピン41〜43がそれぞれ切欠き
43b……43b上に乗つた状態で分銅支え63
に支承される。その状態から、ピン41を持つて
校正用分銅4を回すことにより、校正用分銅4は
分銅支え63の端面波形に従つて徐々に下降して
ゆき、やがて分銅受け5上に乗る。この状態では
ピン41〜43が分銅支え63に接触しないよう
に、波形の谷部の深さが定められている。 In the normal measurement state, as shown in FIG.
supported by. From this state, by holding the pin 41 and rotating the calibration weight 4, the calibration weight 4 gradually descends according to the waveform of the end face of the weight support 63, and eventually reaches the weight receiver 5. In this state, the depth of the trough of the waveform is determined so that the pins 41 to 43 do not come into contact with the weight support 63.
第12図は上述の例の変形例で、同様に波形端
面を持つ固定型の分銅支え64をハウジング1の
上面に形成し、校正用分銅4の外周面に複数のピ
ン44を突出させている。この例の特徴は、校正
用分銅4を回動させるための専用の把手45を校
正用分銅4に固着するとともに、その先端部45
aをヒンジ等によつて折りたためるようにし、試
料皿2の下方内部に収納できるようにした点にあ
る。この例によれば、校正用分銅4の加除を必要
とする場合に限つて把手45の先端部45aを試
料皿2の外方に引き出せばよく、測定作業が妨げ
られないという利点がある。 FIG. 12 shows a modification of the above-mentioned example, in which a fixed weight support 64 with a similarly corrugated end surface is formed on the upper surface of the housing 1, and a plurality of pins 44 are made to protrude from the outer peripheral surface of the calibration weight 4. . The feature of this example is that a special handle 45 for rotating the calibration weight 4 is fixed to the calibration weight 4, and the tip part 45 is fixed to the calibration weight 4.
A is made foldable using a hinge or the like so that it can be stored inside the sample dish 2 below. According to this example, the tip 45a of the handle 45 need only be pulled out to the outside of the sample dish 2 only when it is necessary to add or remove the calibration weight 4, and there is an advantage that the measurement work is not hindered.
第13図に示す例は、校正用分銅4を回動させ
る手段を更に変形したものである。 In the example shown in FIG. 13, the means for rotating the calibration weight 4 is further modified.
すなわち、固定型の分銅支え64と校正用分銅
4のピン44は先の例と同じであるが、校正用分
銅4を防塵カバー72を介して回動させるよう構
成している。防塵カバー72は、試料皿2の下方
から外部に突出する把手72aを有しているとと
もに、分銅支え64に連接形成された円筒状のカ
バー支え64a上に回動自在に支承されている。
また、この防塵カバー72の下面には第14図に
斜視図を示すようにフオーク72bを突出させて
いる。そして、校正用分銅4に設けられたピン4
4は、このフオーク72bの凹所に嵌め込まれ、
把手72aにより防塵カバー72を回動させるこ
とによつてフオーク72bを介して校正用分銅4
が回動し、上下動するわけである。ピン44およ
びフオーク72bは複数個、例えば3個づつ設け
ることが好ましい。なお、フオーク72bの凹所
の幅は、ピン44の外径よりも広くしておき、校
正用分銅4の分銅受け5上への負荷時には、ピン
44とフオーク72bとの接触を絶つべく、防塵
カバー72を微動反転させる必要がある。 That is, the fixed weight support 64 and the pin 44 of the calibration weight 4 are the same as in the previous example, but the calibration weight 4 is configured to be rotated via the dustproof cover 72. The dustproof cover 72 has a handle 72a that projects outward from below the sample dish 2, and is rotatably supported on a cylindrical cover support 64a that is connected to the weight support 64.
Furthermore, a fork 72b is projected from the lower surface of the dustproof cover 72, as shown in a perspective view in FIG. Then, the pin 4 provided on the calibration weight 4
4 is fitted into the recess of this fork 72b,
By rotating the dustproof cover 72 with the handle 72a, the calibration weight 4 is inserted through the fork 72b.
rotates and moves up and down. It is preferable to provide a plurality of pins 44 and forks 72b, for example three each. The width of the recess of the fork 72b is made wider than the outer diameter of the pin 44, and when the calibration weight 4 is loaded onto the weight receiver 5, a dust-proof It is necessary to turn the cover 72 slightly.
第15図および第16図に示す例は、防塵カバ
ー72と校正用分銅4との係合関係と、校正用分
銅4の回動を上下動に変換する機構とを、それぞ
れ変形させた例を示し、更に、上述した防塵カバ
ー72の微動反転を半自動化した対策をも施した
ものである。なお、第15図は中央縦断面図で、
第16図はその校正用分銅4の上面直上で切断し
て示す要部平面断面図である。 The examples shown in FIGS. 15 and 16 are examples in which the engagement relationship between the dustproof cover 72 and the calibration weight 4 and the mechanism for converting the rotation of the calibration weight 4 into vertical movement are respectively modified. In addition, a countermeasure has also been taken to semi-automate the fine movement and reversal of the dustproof cover 72 mentioned above. In addition, FIG. 15 is a central vertical cross-sectional view,
FIG. 16 is a plan sectional view of the main part of the calibration weight 4 taken just above the top surface.
この例においては、校正用分銅4の外周部に例
えば3箇所程度の切欠き部46を設けるととも
に、防塵カバー72の下面にはこの各切欠き部4
6内に挿入されるピン72cを突出させている。
防塵カバー72は第13図の例と同様にカバー支
え64a上に回動自在に支承されており、把手7
2aによつて防塵カバー72を回動させることに
よつて、ピン72cが切欠き部46の端面に当接
しつつ校正用分銅4を回動させる。 In this example, the outer periphery of the calibration weight 4 is provided with, for example, about three notches 46, and each of the notches 46 is provided on the bottom surface of the dustproof cover 72.
A pin 72c inserted into the pin 72c is made to protrude.
The dustproof cover 72 is rotatably supported on a cover support 64a as in the example shown in FIG.
By rotating the dust-proof cover 72 with 2a, the calibration weight 4 is rotated while the pin 72c contacts the end surface of the notch 46.
この校正用分銅4の回動は、円環状の校正用分
銅4の内周面側に固着された波状板47と、これ
と対偶関係にある分銅支え65によつて上下動に
変換される。すなわち、ハウジング1の上面には
孔1aの周囲に波状端面を有する円筒上の分銅支
え65が配設されており、波状板47の凹凸と共
働して校正用分銅4の回動に応じてこれを上下動
させる。そして、校正用分銅4が下降したときに
は、この波状板47を介して分銅受け5上に載る
ように構成されている。 This rotation of the calibration weight 4 is converted into vertical movement by a corrugated plate 47 fixed to the inner peripheral surface of the annular calibration weight 4 and a weight support 65 in a mating relationship with the corrugated plate 47. That is, a cylindrical weight support 65 having a wavy end surface is disposed around the hole 1a on the upper surface of the housing 1, and works in conjunction with the unevenness of the wavy plate 47 to respond to the rotation of the calibration weight 4. Move this up and down. When the calibration weight 4 is lowered, it is configured to rest on the weight receiver 5 via the corrugated plate 47.
この例では更に、ハウジング1の上面に把手7
2aを介して防塵カバー72を微動反転させるた
めの戻し機構8を設けている。この戻し機構8
は、シリンダ81内に圧縮コイルばね82を介し
てピストン83を設けてなつており、回動時の把
手72aの軌跡上に配設されている。すなわち、
把手72aにより防塵カバー72を回動させ、校
正用分銅4を分銅受け5上に負荷した状態で、把
手72aの側面がピストン83をシリンダ81内
に押し込む位置に戻し機構8を配設している。こ
の状態では、第16図に二点鎖線で示すように、
ピン72cが校正用分銅4の切欠き部46の一側
面に接触している。この状態で把手72aをはな
すと、圧縮コイルばね82の弾性力によつてピス
トン83が突出し、把手72aを介して防塵カバ
ー72がわずかに反転する。これにより、ピン7
2cと校正用分銅4との接触が解かれるわけであ
る。従つて測定者は、校正用分銅4の負荷時に把
手72aピストン83に押し付けた後にはなすだ
けで、自動的に防塵カバー72が微小量反転し、
校正用分銅4は分銅受け5にのみ接触してその全
質量が受感部材3に伝達されることになる。 In this example, a handle 7 is further provided on the top surface of the housing 1.
A return mechanism 8 is provided for slightly moving and reversing the dustproof cover 72 via 2a. This return mechanism 8
A piston 83 is provided within a cylinder 81 via a compression coil spring 82, and is disposed on the trajectory of the handle 72a during rotation. That is,
The mechanism 8 is arranged so that when the dust cover 72 is rotated by the handle 72a and the calibration weight 4 is loaded onto the weight receiver 5, the side surface of the handle 72a returns the piston 83 to the position where it is pushed into the cylinder 81. . In this state, as shown by the two-dot chain line in Figure 16,
The pin 72c is in contact with one side of the notch 46 of the calibration weight 4. When the handle 72a is released in this state, the piston 83 protrudes due to the elastic force of the compression coil spring 82, and the dustproof cover 72 is slightly reversed via the handle 72a. This causes pin 7
2c and the calibration weight 4 are released. Therefore, the measurer can simply press the handle 72a against the piston 83 and release it when the calibration weight 4 is loaded, and the dust cover 72 will automatically turn over by a minute amount.
The calibration weight 4 contacts only the weight receiver 5 and its entire mass is transmitted to the sensing member 3.
第17図および第18図に示す例は、ハウジン
グ1の上面に試料皿2の下面凹部内への突出部1
2を設けて、その突出部12の内側に校正用分銅
4を配設した第5図の例に、校正用分銅4の回動
に基づく上下動で負荷/負荷解除を行なう方式を
適用したものである。 In the example shown in FIG. 17 and FIG.
2 and the calibration weight 4 is placed inside the protruding part 12 of the example shown in FIG. It is.
この例では、ハウジング1の突出部12内の校
正用分銅4に第15図、第16図の例と同様に複
数箇所の切欠き部46を設け、この切欠き部46
内に専用の回動用部材9の爪9aを挿入し、この
爪9aを介して校正用分銅4を回動させるよう構
成している。 In this example, the calibration weight 4 in the protrusion 12 of the housing 1 is provided with multiple notches 46 as in the examples shown in FIGS. 15 and 16.
A claw 9a of a dedicated rotating member 9 is inserted inside, and the calibration weight 4 is rotated via the claw 9a.
また、ハウジング1の内側に波状端面を持つ円
筒上の分銅支え66を配設するとともに、校正用
分銅4には、その下面に円環状の溝48を設け、
その溝48より外側の部分の下面に波状部49を
設けている。そして、この波状部49が分銅支え
66の波状端面の上方に載り、これらの回転位相
関係に応じて校正用分銅4が上下動するよう構成
されている。 Further, a cylindrical weight support 66 with a wavy end surface is provided inside the housing 1, and an annular groove 48 is provided in the lower surface of the calibration weight 4.
A wavy portion 49 is provided on the lower surface of the portion outside the groove 48. The wavy portion 49 rests on the wavy end surface of the weight support 66, and the calibration weight 4 is configured to move up and down in accordance with the rotational phase relationship between these portions.
さて、第19図と第20図にそれぞれ中央縦断
面図で示す例は、校正用分銅4を負荷/負荷解除
する機構として、分銅受け5を上下動させる機構
を採用した例で、それぞれ中心線より左側に通常
の測定状態を、右側に分銅負荷状態を示してい
る。 19 and 20, respectively, are examples in which a mechanism for moving the weight receiver 5 up and down is used as a mechanism for loading/unloading the calibration weight 4. The left side shows normal measurement conditions, and the right side shows weight load conditions.
第19図に示す例では、試料皿2の下面中央の
ボスの外周に雄ねじ21を刻設し、分銅受け5に
はその中心部に雌ねじ51を刻設してこれを試料
皿21の雄ねじ21にねじ込んでいる。分銅受け
5には、また、試料皿2の下方から外側に伸びる
把手52が形成されている。この把手52を持つ
て分銅受け5を回動させることによつて、分銅受
け5が試料皿2に対して上下動するよう構成して
いる。 In the example shown in FIG. 19, a male thread 21 is formed on the outer periphery of the boss at the center of the lower surface of the sample pan 2, and a female thread 51 is formed on the center of the weight receiver 5. It is screwed into. The weight receiver 5 is also formed with a handle 52 that extends outward from below the sample plate 2 . By holding this handle 52 and rotating the weight receiver 5, the weight receiver 5 is configured to move up and down with respect to the sample plate 2.
この例においては、ハウジング1の上面に孔1
aを中心に円筒上の分銅支え1bが形成されてお
り、分銅受け5が下降状態にあるときには、校正
用分銅4はその下面外縁部において分銅支え1b
にのみ接触してその上に乗る。校正用分銅4を負
荷するときには、把手52を持つて皿2を回転さ
せることによつて、分銅受け5を上昇させる。こ
れにより、校正用分銅4は分銅支え1bから外
れ、試料皿2の下面と分銅受け5の間に挟着固定
され、試料皿2と一体化してその全質量が受感部
材3に伝達される。 In this example, there is a hole in the top surface of the housing 1.
A cylindrical weight support 1b is formed around a, and when the weight receiver 5 is in the lowered state, the calibration weight 4 is attached to the weight support 1b at the outer edge of its lower surface.
Only touch and ride on it. When loading the calibration weight 4, the weight receiver 5 is raised by holding the handle 52 and rotating the pan 2. As a result, the calibration weight 4 comes off from the weight support 1b, is clamped and fixed between the lower surface of the sample pan 2 and the weight receiver 5, becomes integrated with the sample pan 2, and transmits its entire mass to the sensing member 3. .
第20図に示す例では、試料皿2の周縁の下方
への屈曲部の内側に雌ねじ22を刻設し、分銅受
け5を円盤状にして外周部に雄ねじ53を刻んで
いる。そしてこの雄ねじ53を試料皿2の雌ねじ
22にねじ込み、分銅受け5の試料皿2に対する
上下動を可能としている。 In the example shown in FIG. 20, a female thread 22 is cut inside the downwardly bent portion of the periphery of the sample dish 2, and a male thread 53 is cut on the outer periphery of the weight receiver 5, which is made into a disk shape. The male screw 53 is screwed into the female screw 22 of the sample pan 2, allowing the weight receiver 5 to move up and down with respect to the sample pan 2.
この例では、分銅支え1bは孔1aの直近に設
けられ、第19図に示した例と同様、分銅受け5
の下降状態において校正用分銅4はこの分銅支え
1b上に乗る。また、分銅受け5の回動による上
昇により、校正用分銅4は試料皿2と分銅受け5
間に挟着固定されて一体化する。 In this example, the weight support 1b is provided in the immediate vicinity of the hole 1a, and the weight support 1b is provided in the immediate vicinity of the hole 1a, similar to the example shown in FIG.
In the descending state, the calibration weight 4 rests on this weight support 1b. In addition, due to the rotation of the weight receiver 5, the calibration weight 4 moves between the sample pan 2 and the weight receiver 5.
They are sandwiched and fixed in between to become integrated.
以上の第19図、第20図に示す例によれば、
校正用分銅4の負荷/負荷解除機構が極めてシン
プルな機構となつて、ハウジング1の外側に配設
されるとともに、部品点数が少なく、かつ、加工
も容易であつて故障しにくいという利点がある。
また、分銅受け5を上昇させた負荷状態において
は、校正用分銅4は試料皿2と分銅受け5間に密
に挟着され、輸送時における分銅ロツク機構とし
ても利用できる。更に、第20図に示す例では、
分銅受け5が防塵カバーとしての機能をも持つ。 According to the examples shown in FIGS. 19 and 20 above,
The loading/unloading mechanism for the calibration weight 4 is an extremely simple mechanism, which is disposed outside the housing 1, and has the advantage of having a small number of parts, being easy to process, and less likely to break down. .
Furthermore, in a loaded state where the weight receiver 5 is raised, the calibration weight 4 is tightly sandwiched between the sample pan 2 and the weight receiver 5, and can also be used as a weight locking mechanism during transportation. Furthermore, in the example shown in FIG.
The weight receiver 5 also functions as a dustproof cover.
なお、第19図、第20図の各例において、ね
じ21と51、ねじ22と53を多条ねじとする
ことによつてあるいはねじに代えてヘリコイドを
採用することによつて、回転角当たりの上下動の
量を増大でき、操作性が向上する。 In each of the examples shown in FIGS. 19 and 20, by making the screws 21 and 51 and the screws 22 and 53 multi-thread screws, or by using a helicoid instead of the screws, the The amount of vertical movement can be increased, improving operability.
第21図乃至第25図に示す例は、試料皿2を
受感部材3に対して上下動させることによつて校
正用分銅4を負荷/負荷解除するよう構成した例
を示している。 The examples shown in FIGS. 21 to 25 show an example in which the calibration weight 4 is loaded/unloaded by moving the sample dish 2 up and down with respect to the sensing member 3.
第21図に示す例では、受感部材3に、外周に
雄ねじ31aを刻設した皿支持体31を支承する
とともに、試料皿2(皿受け2b)の中央部のボ
スには雌ねじ23を設けてこの雄ねじ31aにね
じ込んでいる。つまり、試料皿2は皿支持体31
を介して受感部材3に支承されるわけで、試料皿
2と皿支持体31とを相対的に回動させることに
よつて、試料皿2を受感部材3に対して上下動さ
せ得るよう構成している。また、分銅受け5は試
料皿2のボスの外周に固着されている。 In the example shown in FIG. 21, the sensing member 3 supports a dish support 31 having a male thread 31a carved on its outer periphery, and a female thread 23 is provided in the boss at the center of the sample dish 2 (pan holder 2b). It is screwed into the male thread 31a of the lever. In other words, the sample plate 2 is attached to the plate support 31.
By relatively rotating the sample plate 2 and the plate support 31, the sample plate 2 can be moved up and down with respect to the sensitive member 3. It is configured like this. Further, the weight receiver 5 is fixed to the outer periphery of the boss of the sample plate 2.
この例においては、ハウジング1の上面に孔1
aを中心とする円筒状の分銅支え1bが設けられ
ているとともに、その上面には例えば3箇所の突
起Pが配設されており、試料皿2が受感部材3に
対して下降状態にあるときには、校正用分銅4は
突起P上に載つて支持される。そして、試料皿2
を受感部材3に対して上昇させることにより、校
正用分銅4が分銅受け5上に載り、分銅負荷状態
となる。ここで、例えば3個中2個の突起Pを電
気的に接続しておけば、校正用分銅4の負荷/負
荷解除を電気的に検出することもできる。 In this example, there is a hole in the top surface of the housing 1.
A cylindrical weight support 1b centered at point a is provided, and for example three protrusions P are provided on the top surface of the weight support 1b, and the sample plate 2 is in a downward state relative to the sensing member 3. Sometimes, the calibration weight 4 is supported by resting on the protrusion P. And sample plate 2
By raising the weight relative to the sensing member 3, the calibration weight 4 is placed on the weight receiver 5, and the weight is loaded. Here, for example, if two out of three protrusions P are electrically connected, loading/unloading of the calibration weight 4 can be electrically detected.
第22図に示す例は、第21図の例に防塵対策
を施すとともに、試料皿2の持ち上げ構造等をよ
り実用的にした例を示している。 The example shown in FIG. 22 is an example in which dustproof measures are taken against the example shown in FIG. 21, and the structure for lifting the sample dish 2 is made more practical.
この例においては、ハウジング1の孔1aを大
きくしてその周縁に円筒状のカバー支え1cを形
成し、防塵カバー73を支持している。そして、
校正用分銅4はこの防塵カバー73の下側に配設
され、通常の測定状態では孔1aの内周に突出さ
れた複数個の分銅支え1dによつて支承される。 In this example, the hole 1a of the housing 1 is enlarged and a cylindrical cover support 1c is formed around the periphery of the hole 1a to support the dustproof cover 73. and,
The calibration weight 4 is disposed below the dustproof cover 73, and in normal measurement conditions is supported by a plurality of weight supports 1d protruding from the inner periphery of the hole 1a.
また、受感部材3の先端に雄ねじ3aが刻まれ
ており、この雄ねじ3aに、中心に雌ねじ32a
が刻まれた筒状の皿支持体32がねじ込まれてい
る。試料皿2(皿受け2b)は、そのボスの中央
に孔が穿たれており、この孔に皿支持体32の外
周を挿入した状態で、受感部材3に支承される。
また、分銅受け5は皿支持体32に固着されてい
る。従つて、皿支持体32を回動させて受感部材
3に対して上下動させることによつて、試料皿2
および分銅受け5が受感部材3に対して上下動す
ることになり、その上昇時に校正用分銅4が分銅
受け5上に乗るよう構成されている。 Further, a male thread 3a is carved at the tip of the sensing member 3, and a female thread 32a is formed in the center of the male thread 3a.
A cylindrical dish support 32 with a engraved mark thereon is screwed into it. The sample plate 2 (plate holder 2b) has a hole in the center of its boss, and is supported by the sensing member 3 with the outer periphery of the plate support 32 inserted into the hole.
Further, the weight receiver 5 is fixed to the pan support 32. Therefore, by rotating the plate support 32 and moving it up and down with respect to the sensing member 3, the sample plate 2
The weight receiver 5 moves up and down with respect to the sensing member 3, and the calibration weight 4 is configured to ride on the weight receiver 5 when the weight receiver 5 moves up and down.
なお、この実施例では、受感部材3の上端面に
抜け止め3bを固着することで、皿支持体32の
上昇端を規制し、その抜け落ちを防止することが
できる。 In this embodiment, by fixing the stopper 3b to the upper end surface of the sensing member 3, the rising end of the plate support 32 can be restricted and the plate support 32 can be prevented from falling off.
第23図に示す例は、第22図の例と同様に防
塵対策を施したものであるが、分銅受け5の防塵
カバーを兼用させた例を示している。 The example shown in FIG. 23 is dust-proof like the example shown in FIG. 22, but shows an example in which the dust-proof cover of the weight receiver 5 is also used.
すなわち、第21図の例と同様に試料皿2(皿
受け2b)の中心に雌ねじ23を設けるととも
に、受感部材3の先端部には第22図の例と同様
の雄ねじ3aを刻設して、これらで試料皿2の回
動による受感部材3に対する上下動を可能とした
ものにおいて、第7図と同様に、試料皿2の下面
をその中心部を除いて全面に覆うような分銅受け
5を、試料皿2の外縁の下方への屈曲端に固着し
ている。この場合、通常の測定状態において校正
用分銅4を支承する分銅支え1eは、ハウジング
1の孔1aの周縁を円筒状に立ち上がらせておけ
ばよい。 That is, a female thread 23 is provided at the center of the sample pan 2 (pan holder 2b) as in the example shown in FIG. 21, and a male thread 3a similar to the example shown in FIG. In the case where the sample dish 2 can be moved up and down with respect to the sensing member 3 by rotation, a weight is used that covers the entire bottom surface of the sample dish 2 except for the center, as shown in FIG. A receiver 5 is fixed to the downwardly bent end of the outer edge of the sample dish 2. In this case, the weight support 1e that supports the calibration weight 4 in a normal measurement state may have a cylindrical shape on the periphery of the hole 1a of the housing 1.
第21図に示した試料皿2と皿支持体31、第
22図に示した皿支持体32と受感部材3、もし
くは第23図に示した試料皿2と受感部材3との
上下動機構は、第19図および第20図に示した
例と同様、ねじを多条ねじとし、あるいはヘリコ
イドに置換することができ、更には、第24図に
例示するように、一方側に略L字形のガイド溝G
を形成し、他方にはこのガイド溝G内に嵌り込む
突起を設けて、試料皿2もしくは皿支持体32を
上方に持ち上げて少し回転させることによつて突
起がガイド溝Gの水平部に案内されて下に降りな
くなるよう構成することもできる。 Vertical movement of the sample dish 2 and the dish support 31 shown in FIG. 21, the dish support 32 and the sensitive member 3 shown in FIG. 22, or the sample dish 2 and the sensitive member 3 shown in FIG. Similar to the examples shown in FIGS. 19 and 20, the mechanism can be replaced with a multi-thread screw or a helicoid, and as illustrated in FIG. Shaped guide groove G
The other side is provided with a protrusion that fits into the guide groove G, and by lifting the sample plate 2 or the plate support 32 upward and slightly rotating it, the protrusion is guided to the horizontal part of the guide groove G. It can also be configured so that it does not come down.
更には、上下方向に機能するノツク式ラチエツ
ト機構を採用し、上方に試料皿等の所定高さまで
持ち上げることによつてその位置でロツクされ、
その状態からもう一度持ち上げて放すと試料皿等
が下降するよう構成する等、種々の変形が可能で
ある。 Furthermore, a lock-type ratchet mechanism that functions in the vertical direction is adopted, and by lifting a sample plate, etc. upwards to a predetermined height, it is locked in that position.
Various modifications are possible, such as configuring the sample plate to descend when lifted and released again from that state.
第25図に示す例は、第21図のネジによる皿
部の上下に代えて、試料皿2の受感部材3に対す
る上下動を、受感部材3の皿受軸33を可動にす
ることで達成した例を示している。 In the example shown in FIG. 25, the vertical movement of the sample dish 2 relative to the sensitive member 3 is made by movable the dish bearing shaft 33 of the sensitive member 3, instead of the vertical movement of the dish part using the screw in FIG. Shows examples of what has been achieved.
すなわち、皿受軸33を受感部材3に対して上
下方向に摺動自在に支承し、その皿受軸33を、
受感部材3内に組み込まれたカム9の回動によつ
て上下動させる。この皿受軸33の先端に支承さ
れる試料皿2にはハウジング1の外側において分
銅受け5を固着するとともに、ハウジング1と試
料皿2の間の空間に校正用分銅4を配置してい
る。 That is, the dish support shaft 33 is supported slidably in the vertical direction relative to the sensing member 3, and the dish support shaft 33 is supported as follows.
It is moved up and down by the rotation of a cam 9 built into the sensing member 3. A weight receiver 5 is fixed to the sample plate 2 supported on the tip of the plate support shaft 33 on the outside of the housing 1, and a calibration weight 4 is arranged in the space between the housing 1 and the sample plate 2.
この実施例によると、機構的にはやや複雑とな
るが、カム9をスイツチ操作等によつて電気的に
回動させる等により、校正用分銅4の加除の操作
性を向上させることができる。この方式は第22
図及び第23図にも適用することができる。 According to this embodiment, although the mechanism is somewhat complicated, the operability of adding and removing the calibration weight 4 can be improved by rotating the cam 9 electrically by operating a switch or the like. This method is the 22nd
This can also be applied to FIG.
なお、以上説明した各実施例において、試料皿
2は円形に限らずに角形であつてもよく、その場
合、校正用分銅4は円環状等に代えて角形の環状
とすることが、試料皿2とハウジング1間の空間
を有効に利用できる点で好ましい。 In addition, in each of the embodiments described above, the sample plate 2 is not limited to a circular shape and may be square. In that case, the calibration weight 4 may have a rectangular ring shape instead of an annular shape. This is preferable in that the space between 2 and the housing 1 can be used effectively.
更に、大形の電子天びんの場合は、受感部材を
複数化して試料皿を支承することで、校正用分銅
を環状にすることなく試料皿とハウジング上面と
の間に収納することもできる。その構造例を第2
6図aおよびbに試料皿近傍の縦断面図および平
面図で示す。なお、第26図aは同図bのA−A
断面図である。この例においては、荷重センサ1
00に装着された受感部材3を4本の支柱30a
〜30dに分岐させてそれぞれをハウジング1か
ら突出させ、その先端部で試料皿2を支承してい
る。そして、校正用分銅4をこの支柱30a〜3
0dの内側の試料皿2とハウジング1上面間に収
納し、4本の連動する押上げ棒60a〜60dに
よつて上下動するよう構成している。各支柱30
a〜30dにはそれぞれ分銅受け50a〜50d
が突出形成されており、押上げ棒60a〜60d
が下降端にあるときには、校正用分銅4はその四
隅において分銅受け50a〜50dに支承されて
その全質量が荷重センサ100に伝達される。ま
た、通常の測定状態では押上げ棒60a〜60d
が上昇端に位置し、校正用分銅4はこの押上げ棒
60a〜60dにのみ当接してこれに支承され
る。 Furthermore, in the case of a large-sized electronic balance, by using a plurality of sensing members to support the sample plate, the calibration weight can be stored between the sample plate and the top surface of the housing without having to make it annular. The structure example is shown in the second
Figures 6a and 6b show a longitudinal sectional view and a plan view of the vicinity of the sample dish. In addition, Fig. 26a is A-A in Fig. 26b.
FIG. In this example, load sensor 1
The sensing member 3 attached to the
~30d, each of which protrudes from the housing 1, and supports the sample dish 2 at its tip. Then, the calibration weight 4 is attached to these supports 30a-3.
It is housed between the sample plate 2 on the inside of 0d and the upper surface of the housing 1, and is configured to be moved up and down by four interlocking push-up rods 60a to 60d. 30 pillars each
A to 30d have weight receivers 50a to 50d, respectively.
are formed protrudingly, and the push-up rods 60a to 60d
When the calibration weight 4 is at the lowering end, the calibration weight 4 is supported by the weight receivers 50a to 50d at its four corners, and its entire mass is transmitted to the load sensor 100. In addition, in normal measurement conditions, the push-up rods 60a to 60d
is located at the rising end, and the calibration weight 4 contacts and is supported only by the push-up rods 60a to 60d.
また、本発明は以上の各実施例に限定されるこ
となく、例えば各実施例の構成の一部を互いに置
換し合う等、種々の変化が可能である。 Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes can be made, such as replacing a part of the configuration of each embodiment with each other.
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、校正用
分銅をハウジングの上面と試料皿との間に配置し
て受感部材に対して負荷/負荷解除可能としたか
ら、校正用分銅の収納のためのスペースをハウジ
ング内に設ける必要がなく、大体積の、従つて大
質量の校正用分銅の内蔵が可能となり、天びん全
体をコンパクトにまとめることができる。特に、
大ひよう量の天びんに対しては、ひよう量よりも
大幅に軽い分銅で校正せざるを得なかつた従来の
分銅内蔵型の天びんに比して、校正精度を向上さ
せることができる。<Effects of the Invention> As explained above, according to the present invention, the calibration weight is disposed between the upper surface of the housing and the sample plate to enable loading/unloading of the sensitive member, thereby making it possible to perform calibration. It is not necessary to provide a space in the housing for storing a calibration weight, and it is possible to house a large-volume, therefore large-mass, calibration weight, and the entire balance can be made compact. especially,
For balances with a large capacity, the calibration accuracy can be improved compared to conventional balances with built-in weights, which have to be calibrated using weights that are significantly lighter than the capacity.
また、ハウジングの上面壁体を試料皿の下面凹
部内に突出させて、その突出によつて形成される
ハウジング内部上端の空間に校正用分銅を収納す
ることによつても、ハウジング内部の他の機構と
の干渉を考慮することなく校正用分銅の収容が可
能であり、しかも、校正用分銅収納スペースは実
質的に試料皿下方の無駄な空間であることから、
この構造によつても上記と同等の効果が得られ
る。 In addition, by making the upper wall of the housing protrude into the recess on the lower surface of the sample plate and storing the calibration weight in the space formed by the protrusion at the upper end of the housing, it is possible to Calibration weights can be stored without considering interference with the mechanism, and the storage space for calibration weights is essentially wasted space below the sample plate.
This structure also provides the same effect as above.
更に、分銅受けないしは試料皿を受感部材に対
してねじ等によつて上下動させることで校正用分
銅の負荷/負荷解除を行なうよう構成した場合、
校正用分銅のみならずその加除機構をも実質的に
ハウジング内部から排除できることになり、校正
用分銅を内蔵しない天びんと同等のハウジングに
よつて分銅内蔵型の天びんが得られ、コンパクト
化に寄与するところ大であり、かつ、機構的にも
極めてシンプルとなつて故障削減および低コスト
化を達成できるという利点もある。 Furthermore, if the calibration weight is configured to be loaded/unloaded by moving the weight receiver or sample pan up and down with respect to the sensitive member using a screw, etc.,
This means that not only the calibration weight but also its addition/extraction mechanism can be virtually eliminated from inside the housing, making it possible to obtain a balance with a built-in weight using the same housing as a balance that does not have a built-in calibration weight, contributing to compactness. It is large in size, and has the advantage of being extremely simple mechanically, resulting in fewer failures and lower costs.
このことは、ハウジング上面に波状の分銅支え
を備えるタイプについても同様である。 This also applies to the type with a wavy weight support on the upper surface of the housing.
第1図乃至第25は本発明の実施例の説明図で
あり、第1図は基本的構造例を示す中央縦断面
図、第2図および第3図はその変形例を示す中央
縦断面図、第4図は第3図の要部説明図である。
第5図は校正用分銅4をハウジング突出部12の
空間内に配置した実施例を示す中央縦断面図、第
6図は校正用分銅4の上下動機構の他の実施例の
説明図、第7図は校正用分銅4を試料皿2内に収
納した例の中央縦断面図、第8図は校正用分銅4
の上下動機構を変形した例の中央縦断面図、第9
図はその要部分解斜視図、第10図は校正用分銅
4の上下動機構を更に変形した例の中央断面図、
第11図はその要部分解斜視図、第12図乃至第
15図は更にまたその変形例を示す中央縦断面
図、第16図は第15図の要部平面断面図、第1
7図は更にその変形例を示す中央縦断面図、第1
8図はその要部平面図である。第19図および第
20図は分銅受け5を上下動させる機構を用いた
実施例を示す中央縦断面図である。第21図乃至
第25図は試料皿2を上下動させる機構を用いた
実施例を示す図で、第21図はその基本的構造例
を示す中央縦断面図、第22図および第23図は
その変形例を示す中央縦断面図、第24図は更に
その変形例の要部縦断面図、第25は更にまたそ
の変形例を示す中央縦断面図である。第26図は
環状以外の校正用分銅を使用した実施例の説明図
である。
1……ハウジング、1a……孔、12……突出
部、2……試料皿、2a……皿、2b……皿受
け、3……受感部材、4……校正用分銅、5……
分銅受け、6a,6b……押上げ棒。
1 to 25 are explanatory diagrams of embodiments of the present invention, in which FIG. 1 is a central vertical cross-sectional view showing a basic structural example, and FIGS. 2 and 3 are central vertical cross-sectional views showing modified examples thereof. , FIG. 4 is an explanatory diagram of the main part of FIG. 3.
FIG. 5 is a central vertical sectional view showing an embodiment in which the calibration weight 4 is arranged in the space of the housing protrusion 12, FIG. 6 is an explanatory diagram of another embodiment of the vertical movement mechanism for the calibration weight 4, Figure 7 is a central longitudinal cross-sectional view of an example in which the calibration weight 4 is stored in the sample pan 2, and Figure 8 is a central longitudinal cross-sectional view of the calibration weight 4.
Central vertical sectional view of a modified example of the vertical movement mechanism, No. 9
The figure is an exploded perspective view of the main parts, and FIG. 10 is a central sectional view of a further modified example of the vertical movement mechanism of the calibration weight 4.
FIG. 11 is an exploded perspective view of the main part, FIGS. 12 to 15 are center longitudinal cross-sectional views showing modifications thereof, FIG. 16 is a plan sectional view of the main part of FIG. 15, and FIG.
FIG. 7 is a central vertical cross-sectional view showing a modified example, the first
Figure 8 is a plan view of the main part. 19 and 20 are central longitudinal sectional views showing an embodiment using a mechanism for moving the weight receiver 5 up and down. 21 to 25 are diagrams showing an embodiment using a mechanism for moving the sample dish 2 up and down, FIG. 21 is a central vertical sectional view showing an example of its basic structure, and FIGS. FIG. 24 is a vertical cross-sectional view of a main part of the modified example, and FIG. 25 is a central vertical cross-sectional view of the modified example. FIG. 26 is an explanatory diagram of an embodiment using a calibration weight other than a ring shape. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Housing, 1a... Hole, 12... Protrusion part, 2... Sample plate, 2a... Dish, 2b... Dish holder, 3... Sensing member, 4... Calibration weight, 5...
Weight receiver, 6a, 6b...Pushing rod.
Claims (1)
感部材が、上記ハウジング上面に形成された孔を
介して外部に臨み、その受感部材に、上記ハウジ
ング外部に配設された試料皿が係合されてなる天
びんにおいて、上記ハウジングの上面と上記試料
皿との間に形成された空間に校正用分銅を配設す
るとともに、その校正用分銅を上記試料皿もしく
は受感部材上端部近傍に形成された分銅受けに対
して負荷/負荷解除するための機構を備えたこと
を特徴とする、電子天びん。 2 請求項第1項記載の電子天びんにおいて、上
記校正用分銅を、上記ハウジング上面と試料皿の
間に形成される空間に代えて下記の空間に配設し
たことを特徴とする電子天びん。 上記試料皿の直下のハウジング壁体を、上記試
料皿の下面に形成された凹部内に突出させ、その
突出によつて形成されたハウジング内部上端の空
間。[Scope of Claims] 1. A sensing member of a load detection mechanism disposed inside the housing faces the outside through a hole formed in the upper surface of the housing, and the sensing member is disposed outside the housing. In the balance, a calibration weight is disposed in the space formed between the upper surface of the housing and the sample plate, and the calibration weight is attached to the sample plate or the sensor plate. An electronic balance comprising a mechanism for loading/unloading a weight receiver formed near the upper end of the member. 2. The electronic balance according to claim 1, wherein the calibration weight is disposed in the following space instead of the space formed between the upper surface of the housing and the sample plate. A housing wall directly below the sample plate is made to protrude into a recess formed on the lower surface of the sample plate, and a space at the upper end of the interior of the housing is formed by the protrusion.
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16138588A JPH0210228A (en) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | electronic balance |
| US07/368,850 US4932486A (en) | 1988-06-29 | 1989-06-20 | Electronic balance |
| DE68914521T DE68914521T2 (en) | 1988-06-29 | 1989-06-22 | Electronic scale. |
| EP89111392A EP0348824B1 (en) | 1988-06-29 | 1989-06-22 | Electronic balance |
| CN89104367A CN1016729B (en) | 1988-06-29 | 1989-06-24 | electronic scale |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16138588A JPH0210228A (en) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | electronic balance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210228A JPH0210228A (en) | 1990-01-16 |
| JPH0563735B2 true JPH0563735B2 (en) | 1993-09-13 |
Family
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Family Applications (1)
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| JP16138588A Granted JPH0210228A (en) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | electronic balance |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0210228A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0734353Y2 (en) * | 1990-01-31 | 1995-08-02 | 株式会社島津製作所 | Electronic balance with calibration weight |
| JP6488957B2 (en) * | 2015-09-16 | 2019-03-27 | 株式会社島津製作所 | electronic balance |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP16138588A patent/JPH0210228A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0210228A (en) | 1990-01-16 |
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Legal Events
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