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JPH0564854B2 - - Google Patents
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JPH0564854B2 - - Google Patents

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JPH0564854B2
JPH0564854B2 JP60049433A JP4943385A JPH0564854B2 JP H0564854 B2 JPH0564854 B2 JP H0564854B2 JP 60049433 A JP60049433 A JP 60049433A JP 4943385 A JP4943385 A JP 4943385A JP H0564854 B2 JPH0564854 B2 JP H0564854B2
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JP
Japan
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lead frame
finger
semiconductor chip
fingers
bump
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Yasuo Yamashita
Masayoshi Suzuki
Eiji Sakata
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Maxell Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/01Manufacture or treatment
    • H10W70/04Manufacture or treatment of leadframes
    • H10W70/048Mechanical treatments, e.g. punching, cutting, deforming or cold welding

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明はIC、LSI等の半導体チツプを固定する
のに用いるリードフレームの製造方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a method for manufacturing a lead frame used for fixing semiconductor chips such as ICs and LSIs.

〔背景技術〕[Background technology]

従来より半導体チツプを樹脂モールドで一体化
して複数ピンを突設した半導体装置の組立てに
は、金属製のリードフレームが用いられている。
このリードフレーム10は薄い金属板をプレスで
打ち抜いたり、エツチングなどによつて形成され
ており、その形状は第6図に示すように、半導体
チツプ1を取り付ける矩形のタブ2をその4隅に
おいて支持するタブリード3と、タブ2の周縁に
内端を臨ませる複数のフインガ4と、これらフイ
ンガ4及びタブリード3の外端を支持する枠部5
と、枠部5の両側縁に沿つて定間隔に設けられた
スプロケツト孔6とからなつている。
2. Description of the Related Art Conventionally, metal lead frames have been used to assemble semiconductor devices in which semiconductor chips are integrated with a resin mold and have a plurality of protruding pins.
This lead frame 10 is formed by punching out a thin metal plate with a press or by etching, and its shape is as shown in FIG. a tab lead 3, a plurality of fingers 4 whose inner ends face the periphery of the tab 2, and a frame portion 5 that supports these fingers 4 and the outer ends of the tab lead 3.
and sprocket holes 6 provided at regular intervals along both side edges of the frame portion 5.

このようなリードフレーム10を用いて半導体
装置を組み立てるには、まずタブ2上に半導体チ
ツプ1を取り付けた後、半導体チツプ1の各電極
とこれに対応するフインガ4の内端をワイヤある
いはワイヤを用いず直接に接続し、その後矩形枠
部5の内側領域を合成樹脂でモールドし半導体チ
ツプ1を被覆し、次いで枠部5を切除し、フラツ
トリードあるいはインライン型の半導体装置を得
るのである。
To assemble a semiconductor device using such a lead frame 10, first, the semiconductor chip 1 is mounted on the tab 2, and then each electrode of the semiconductor chip 1 and the corresponding inner end of the finger 4 are connected with wires or wires. After that, the inner region of the rectangular frame portion 5 is molded with synthetic resin to cover the semiconductor chip 1, and then the frame portion 5 is cut out to obtain a flat lead or in-line type semiconductor device.

ところで、上記の半導体装置にあつてはリード
フレーム10のフインガ4と半導体チツプ1の電
極との接続作業が極めて困難なものである。最近
のように半導体装置のピン数、即ちリードフレー
ム10のフインガ4の数が増加し、しかも小型化
によつて隣接するフインガ4の間隔が小さく、フ
インガ4自身の幅も細くなつてくると、接続作業
の能率、確実性は製品コストに対して無視できな
いものとなつている。そのため、第7図に示すよ
うに、シリコン7上に形成されたアルミニウム電
極8がシリコン表面に形成された保護膜9より薄
く、半導体チツプ1の内方に形成されているもの
に対しては、従来よりこの電極8と接続されるフ
インガ4の先端にはバンプ4aを設けて接触を確
実に行うようにしているのであるが、このバンプ
4aをプレス折曲加工によつて形成するものはフ
インガ4の幅、径等が極めて小さいことから非常
に難しく、またエツチング加工を用いるのはコス
ト上好ましくない。
However, in the above semiconductor device, it is extremely difficult to connect the fingers 4 of the lead frame 10 and the electrodes of the semiconductor chip 1. Recently, the number of pins of semiconductor devices, that is, the number of fingers 4 of the lead frame 10 has increased, and due to miniaturization, the distance between adjacent fingers 4 has become smaller, and the width of the fingers 4 themselves has become narrower. The efficiency and reliability of connection work has become a factor that cannot be ignored in relation to product cost. Therefore, as shown in FIG. 7, when the aluminum electrode 8 formed on the silicon 7 is thinner than the protective film 9 formed on the silicon surface and is formed inside the semiconductor chip 1, Conventionally, a bump 4a is provided at the tip of the finger 4 that is connected to the electrode 8 to ensure contact, but the finger 4 has a bump 4a formed by press bending. This is extremely difficult because the width, diameter, etc. are extremely small, and etching is not preferred in terms of cost.

特にバンプ4aを半導体チツプ1の電極8に接
合する際、その押圧加工時のバンプ潰れ変形量
が、どのバンプにおいても均一でないと、フイン
ガ4が横ずれして隣のフインガ4と異常接近し易
く歩留りの低いものとなる。これを抑制するには
フインガ4を肉厚にしなければならないが、そう
すると押圧加工時のフインガ押し曲げ力を増加せ
ねばならず、半導体チツプ1にとつては好ましく
ない。
In particular, when bonding the bumps 4a to the electrodes 8 of the semiconductor chip 1, if the amount of crushing deformation of the bumps during the pressing process is not uniform for all bumps, the fingers 4 are likely to shift laterally and come abnormally close to the adjacent fingers 4, which will reduce the yield. will be low. In order to suppress this, the fingers 4 must be made thicker, but this requires an increase in the pressing and bending force of the fingers during pressing, which is not preferable for the semiconductor chip 1.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、フイ
ンガの先端に容易にバンプを形成することがで
き、しかも隣のフインガと接触したりすることの
ないリードフレームの製造方法を提供することを
目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a lead frame in which a bump can be easily formed at the tip of a finger without coming into contact with an adjacent finger. That is.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

上記目的を達成するため、本発明は、所望厚み
に成形したリードフレームのフインガ基部側を予
圧した状態で、フインガ中間部のみをプレス成形
し、この中間部を薄肉でかつフインガ基部側なら
びにフインガ先端部よりも幅広にするとともに、
フインガ先端部には半導体チツプの電極と接続す
るためのバンプを形成したことを特徴とするもの
である。
In order to achieve the above object, the present invention press-forms only the middle part of the finger with the finger base side of a lead frame molded to a desired thickness being preloaded. In addition to making it wider than the section,
This device is characterized in that a bump is formed at the tip of the finger for connection to an electrode of a semiconductor chip.

その結果、フインガ先端部のバンプは、プレス
加工された中間部が薄肉部となることにより所望
高さの突出部として形成される。
As a result, the bump at the tip of the finger is formed as a protrusion with a desired height because the pressed middle part becomes a thin part.

また、中間部を押圧して潰すことにより、その
部分にフインガ基部側やフインガ先端部よりも幅
広い領域が形成されるから、フインガの横ずれに
対する耐力が強くなり、隣のフインガと異常接近
することがなく、歩留りの向上が図れる。
In addition, by pressing and crushing the middle part, a wider area is formed in that part than the finger base side and the finger tip part, so the resistance against lateral slippage of the finger is strengthened, and it is possible to prevent the finger from coming into abnormal proximity with the neighboring finger. Therefore, the yield can be improved.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の実施例によつて製造されたリ
ードフレーム10の一部を断面した斜視図であ
る。
FIG. 1 is a partially sectional perspective view of a lead frame 10 manufactured according to an embodiment of the present invention.

リードフレーム10はポリイミド、ポリエステ
ル等の合成樹脂からなるフイルム11上に積層さ
れたニツケルその他の導電性金属薄膜からなり、
従来例と同様に半導体チツプ1を取り付ける矩形
のタブ2と、タブ2を支持する4本のタブリード
3と、タブ2の周縁に内端を臨ませる複数のフイ
ンガ4と、これらフインガ4とタブリード3の外
端を支持する枠部5とを有し、前記フイルム11
のタブ2に対向する位置にはデイバイス孔12を
穿ち、フイルム11の前記枠部5の両側部には、
リードフレーム10の組立、搬送の際の位置決め
孔であるスプロケツト孔6が形成してある。
The lead frame 10 is made of nickel or other conductive metal thin film laminated on a film 11 made of synthetic resin such as polyimide or polyester.
As in the conventional example, a rectangular tab 2 to which a semiconductor chip 1 is attached, four tab leads 3 supporting the tab 2, a plurality of fingers 4 whose inner ends are exposed to the periphery of the tab 2, and these fingers 4 and the tab leads 3. and a frame portion 5 supporting the outer end of the film 11.
A device hole 12 is bored at a position facing the tab 2 of
A sprocket hole 6 is formed as a positioning hole for assembling and transporting the lead frame 10.

第2図はこのリードフレームの成形工程を示す
図で、まずa〜b図に示すようにポリイミド、ポ
リエステル等の合成樹脂からなるフイルム11に
プツシユバツク法によるプレス加工でデイバイス
孔12を設ける。プツシユバツク法はa図の如く
まず押型によつて所望部分を打ち抜き、次いで受
型を再度上昇させてb図の如く切抜片11aを一
度穿つたデイバイス孔12内に嵌合保持させる加
工方法である。従つて、加工後はフイルム11は
デイバイス孔12が開口されないb図の状態で維
持され、一枚のシートとして取扱うことができ
る。尚、このデイバイス孔12の形成時には、そ
の他前記スプロケツト孔6等の窓部も同時に成形
することができる。
FIG. 2 is a diagram showing the molding process of this lead frame. First, as shown in FIGS. a to b, a device hole 12 is formed in a film 11 made of a synthetic resin such as polyimide or polyester by pressing using the pushback method. The pushback method is a processing method in which a desired portion is first punched out using a pressing die as shown in Fig. A, and then the receiving die is raised again to fit and hold the cutout piece 11a in the device hole 12 that has been previously drilled as shown in Fig. B. Therefore, after processing, the film 11 is maintained in the state shown in FIG. b in which the device holes 12 are not opened, and can be handled as a single sheet. Incidentally, when forming the device hole 12, other windows such as the sprocket hole 6 can also be formed at the same time.

次に開口されない前記フイルム11上にはc図
の如く銅などの導電性金属層13が無電解メツ
キ、蒸着などの手段にて形成される。更に導電性
金属層13の上にはd図のようにフオトレジスト
層14が塗布され、フオトマスクをかけて所望パ
ターンに露光した後洗浄することにより、感光し
た部分のみ取り除かれてe図の如きレジスト層1
4が導電性金属層13上に形成される、プツシユ
バツク後のこの導電性金属層やフオトレジスト層
は切抜片11aの不要な脱落を防止する仮止め手
段としての機能を有するもので、フイルムのよう
に薄状物のプツシユバツクされた物のように脱落
し易いものの仮止めに特に有効である。
Next, a conductive metal layer 13 such as copper is formed on the unopened film 11 by means of electroless plating, vapor deposition, etc., as shown in FIG. Furthermore, a photoresist layer 14 is coated on the conductive metal layer 13 as shown in figure d, and by applying a photomask and exposing to light in a desired pattern, cleaning is performed to remove only the exposed areas, resulting in a resist layer 14 as shown in figure e. layer 1
The conductive metal layer 4 formed on the conductive metal layer 13 after pushback and the photoresist layer function as a temporary fixing means to prevent the cutout piece 11a from falling off unnecessarily, and it is similar to a film. It is particularly effective for temporarily fixing thin objects that tend to fall off, such as push-backed objects.

次にこのフインガ11上に亜セレン酸や苛性ソ
ーダ等により剥離処理を施し、ニツケルなどの金
属を電鋳成形すると、f図に示すようにレジスト
層14が形成されていない導電性金属層13の上
に所望パターンのリードフレーム10が形成され
る。
Next, this finger 11 is subjected to a peeling treatment using selenite, caustic soda, etc., and a metal such as nickel is electroformed, so that the resist layer 14 is not formed on the conductive metal layer 13, as shown in figure f. A lead frame 10 having a desired pattern is formed.

ニツケルなどの金属でリードフレームを電鋳す
る際、0.07%以下の光沢剤(カーボンが0.01〜
0.04%、イオウが0.01〜0.04%でこれらの合計が
0.07%以下)が使用される。光沢剤の含有率は通
常0.1%程度であるが、このように含有率が高い
と、ICチツプとの接合時におけるリードフレー
ムの温度上昇により、ニツケルが脆化する。その
ため光沢剤の含有率は0.07%以下に制限する必要
がある。また光沢剤を全く含有しなければ、機械
的強度が十分に得られず、加工時の変形によつて
隣のリードと短絡する恐れがある。
When electroforming lead frames with metals such as nickel, use a brightening agent of 0.07% or less (carbon is 0.01~
0.04%, sulfur 0.01~0.04%, and the total of these is
0.07% or less) is used. The brightener content is usually around 0.1%, but when the content is this high, the temperature of the lead frame increases when it is bonded to an IC chip, causing nickel to become brittle. Therefore, it is necessary to limit the brightener content to 0.07% or less. Furthermore, if no brightener is contained, sufficient mechanical strength cannot be obtained, and deformation during processing may cause short circuits with adjacent leads.

電鋳成形後にレジスト層14を除去し、次いで
デイバイス孔12を含む窓部を閉鎖している切抜
片11aを抜き落せば、g図の如き断面のリード
フレーム10が合成樹脂フイルム11上に形成さ
れるのである。この場合、導電性金属層10は電
鋳のための導電性を確保するために設ける程度の
厚さ例えば5〜10μ程度であるので、抜き落し力
は小さくて済みリードフレーム13を変形させる
ことはない。
After electroforming, by removing the resist layer 14 and then pulling out the cutout piece 11a that closes the window including the device hole 12, a lead frame 10 having a cross section as shown in Fig. g is formed on the synthetic resin film 11. It is. In this case, since the conductive metal layer 10 has a thickness of about 5 to 10 μm, for example, to ensure conductivity for electroforming, the pulling force is small and the lead frame 13 is not deformed. do not have.

尚、上記実施例においては、リードフレーム1
0は合成樹脂フイルム11上に形成したが、合成
樹脂フイルム11の代りに導電性の金属ステンレ
スフイルム等を用いることもできる。
Note that in the above embodiment, the lead frame 1
0 is formed on the synthetic resin film 11, but instead of the synthetic resin film 11, a conductive metal stainless steel film or the like may be used.

この場合は、第2図cに示す如き銅などからな
る導電性金属層13を新たに設けることがなく、
ステンレスフイルム11の上にフオトレジスト層
14を形成し、直接電鋳によつてステンレスフイ
ルム上にニツケルからなるリードフレーム10を
形成することが可能である。
In this case, there is no need to newly provide the conductive metal layer 13 made of copper or the like as shown in FIG.
It is possible to form a photoresist layer 14 on a stainless steel film 11 and form a lead frame 10 made of nickel on the stainless film by direct electroforming.

この状態で得られたリードフレームのフインガ
4は70μ程度の一定の厚みを有している。そこで
第3図に破線に示す位置のみをプレス加工する。
即ち、第4図に示すように上型A及び下型Bによ
つてリードフレーム10の枠部5及びフインガ4
の基部4bに予圧を加えた状態で、上型Aに対し
移動可能に設けられた第2上型Cを微かに下降さ
せる。その結果第5図a,bに示す如き、フイン
ガ4の中間部には薄肉部4cが幾分幅広に形成さ
れるとともに、上型、下型によつて押圧されない
フインガ先端には膨出するバンプ4aが同時に形
成される。このバンプ4aの高さ(薄肉部4c上
面とバンプ4a上面との段差)は一般に12〜15μ
程度あれば良い。
The fingers 4 of the lead frame obtained in this state have a constant thickness of about 70 μm. Therefore, only the positions indicated by broken lines in FIG. 3 are pressed.
That is, as shown in FIG. 4, the frame portion 5 and fingers 4 of the lead frame 10 are
The second upper mold C, which is movably provided with respect to the upper mold A, is slightly lowered while applying a preload to the base portion 4b of the second upper mold C. As a result, as shown in FIGS. 5a and 5b, a thin part 4c is formed in the middle part of the finger 4 to be somewhat wider, and a bulging bump is formed at the tip of the finger which is not pressed by the upper and lower molds. 4a is formed simultaneously. The height of this bump 4a (step difference between the top surface of the thin part 4c and the top surface of the bump 4a) is generally 12 to 15μ.
A certain degree is fine.

バンプ4aを半導体チツプ1の電極に接続する
際は、半導体チツプ1の取付位置とリードフレー
ムの寸法誤差等によつてフインガ4に負荷が加わ
ることになるが、フインガ4は薄肉部4cによつ
て可撓性が十分与えられているため、これらの寸
法誤差等を吸収し、断線することなく電極に接続
され得る。また半導体チツプ1と接続するバンプ
側よりプレスすることにより、プレス後は、薄肉
部4cはバンプ側へ反り状に変形し、このためフ
インガ4よりバンプ部は半導体チツプ側へ突出し
接続をより容易にしている。
When connecting the bumps 4a to the electrodes of the semiconductor chip 1, a load is applied to the fingers 4 due to the mounting position of the semiconductor chip 1 and dimensional errors of the lead frame. Since it is sufficiently flexible, it can absorb these dimensional errors and can be connected to the electrodes without disconnection. Furthermore, by pressing from the side of the bump that connects to the semiconductor chip 1, the thin wall portion 4c is warped toward the bump after pressing, so that the bump portion protrudes from the finger 4 toward the semiconductor chip, making the connection easier. ing.

尚、上記実施例では、リードフレーム全体の成
形を電鋳により行つたが、本発明はこれに限定さ
れることなく、プレス成形、エツチング加工等に
よつて一体成形されたリードフレームにも適用で
きることは明らかである。
In the above embodiment, the entire lead frame was formed by electroforming, but the present invention is not limited to this, but can also be applied to lead frames integrally formed by press molding, etching, etc. is clear.

またニツケルなどの金属でリードフレームを電
鋳する際、光沢剤が含有されない層と光沢剤が含
有された層の二層を重ね合わせたリードフレーム
を作ることもできる。光沢剤を入れないで電鋳す
ると、表面が粗面化され凹凸の著しいものとなり
このためICチツプとの接合時の温度集中、特に
圧接状態で接合する際の温度集中が起こり易く、
接合を確実なものとすることができる。一方、接
合面と反対側に光沢剤入りの層を設ければ、リー
ドフレームとしての機械的強度を確保することが
できる。なお、光沢剤の含有率は前記実施例で述
べたように0.07%以下に制限する方が望ましい。
Furthermore, when electroforming a lead frame from a metal such as nickel, it is also possible to create a lead frame in which two layers, a layer that does not contain a brightening agent and a layer that contains a brightening agent, are superimposed. If electroforming is performed without adding a brightener, the surface will be roughened and have significant irregularities, which will likely cause temperature concentration when bonding with an IC chip, especially when bonding under pressure.
Bonding can be ensured. On the other hand, if a layer containing a brightening agent is provided on the side opposite to the bonding surface, mechanical strength as a lead frame can be ensured. Note that it is preferable to limit the content of the brightener to 0.07% or less, as described in the above example.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は以上の通り、バンプを形成するのにフ
インガ中間部をプレスするようにしたため、成形
が容易で、多数フインガを有するリードフレーム
にも用いることができる。しかも同時にフインガ
中間部が薄肉となるため、フインガの可撓性が増
し、半導体チツプの電極とバンプとの接続作業の
際、互いの位置ずれ等を吸収し、確実に接続する
ことが可能となる。
As described above, in the present invention, since the middle part of the finger is pressed to form the bump, molding is easy and it can be used for a lead frame having a large number of fingers. At the same time, the middle part of the finger becomes thinner, which increases the flexibility of the finger, and when connecting semiconductor chip electrodes and bumps, it is possible to absorb mutual misalignment and ensure a reliable connection. .

また、中間部を押圧して潰すことによりその部
分にフインガ基部側やフインガ先端部よりも幅広
い領域が形成されるから、フインガの横ずれに対
する耐力が強くなり、隣のフインガと異常接近す
ることがなく、歩留りの向上が図れる。
In addition, by pressing and crushing the middle part, a wider area is formed in that part than the finger base side and the finger tip part, so the resistance against lateral displacement of the fingers is stronger, and the fingers do not get abnormally close to the neighboring fingers. , yield can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明実施例のリードフレームを示す
部分斜視図、第2図は実施例のリードフレーム製
造工程の一部を説明する図、第3図は実施例のリ
ードフレーム製造工程におけるバンプ形成の際の
プレス位置を示す平面図、第4図は実施例のリー
ドフレーム製造工程におけるプレス作業を説明す
る断面図、第5図a,bは実施例におけるフイン
ガ形状を示す断面図及び斜視図、第6図は一般的
なリードフレーム形状を示す平面図、第7図はバ
ンプと半導体チツプの電極との関係を示す断面図
である。 1……半導体チツプ、4……フインガ、4a…
…バンプ、4b……基部、4c……薄肉部、8…
…電極、10……リードフレーム。
Fig. 1 is a partial perspective view showing a lead frame according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram illustrating a part of the lead frame manufacturing process of the embodiment, and Fig. 3 is a bump formation in the lead frame manufacturing process of the embodiment. FIG. 4 is a sectional view illustrating the pressing operation in the lead frame manufacturing process of the example, FIGS. 5 a and 5 b are sectional views and perspective views showing the finger shape in the example, FIG. 6 is a plan view showing a general lead frame shape, and FIG. 7 is a sectional view showing the relationship between bumps and electrodes of a semiconductor chip. 1...Semiconductor chip, 4...Finger, 4a...
...Bump, 4b...Base, 4c...Thin wall part, 8...
...electrode, 10...lead frame.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 半導体チツプが配置されるデイバイス孔の内
縁から内方に向かつて延出する複数のフインガを
形成した金属箔からなるリードフレームの製造方
法であつて、 所望厚みに成形したリードフレームのフインガ
基部側を予圧した状態で、フインガ中間部のみを
プレス成形し、この中間部を薄肉でかつフインガ
基部側ならびにフインガ先端部よりも幅広にする
とともに、フインガ先端部には半導体チツプの電
極と接続するためのバンプを形成したことを特徴
とする半導体装置のリードフレーム製造方法。
[Scope of Claims] 1. A method for manufacturing a lead frame made of metal foil having a plurality of fingers extending inward from the inner edge of a device hole in which a semiconductor chip is placed, the lead frame being formed to a desired thickness. With the finger base side of the lead frame preloaded, only the middle part of the finger is press-formed, and this middle part is made thinner and wider than the finger base side and the finger tip part, and the finger tip part is equipped with a semiconductor chip. A method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device, characterized in that a bump is formed for connection to an electrode.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2534251B2 (en) * 1987-02-20 1996-09-11 日東電工株式会社 Semiconductor device

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