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JPH0566963B2 - - Google Patents
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JPH0566963B2 - - Google Patents

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JPH0566963B2
JPH0566963B2 JP29039885A JP29039885A JPH0566963B2 JP H0566963 B2 JPH0566963 B2 JP H0566963B2 JP 29039885 A JP29039885 A JP 29039885A JP 29039885 A JP29039885 A JP 29039885A JP H0566963 B2 JPH0566963 B2 JP H0566963B2
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laser
speckle
laser beam
filter
light
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Masayoshi Murata
Seiichi Nishida
Ichiro Yamaguchi
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
RIKEN
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
RIKEN
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、セラミツクスやCFRP等の新素材に
ついての強度実験における歪計測、タービン翼や
エンジン等についての強度実験における歪計測、
ボイラや橋梁さらには船舶等の各種構造物におけ
る歪計測などに用いられるレーザスペツクル歪計
測装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention is applicable to strain measurement in strength experiments on new materials such as ceramics and CFRP, strain measurement in strength experiments on turbine blades, engines, etc.
The present invention relates to a laser speckle strain measuring device used for measuring strain in various structures such as boilers, bridges, and ships.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図は従来のレーザスペツクスル歪計測装置
の構成を示す図である。第2図中、1は試験片で
あり、上端を固定治具2により固定されている。
3は上記試験片1の下端に取付けられ上記試験片
1に荷重をかけるための重りである。4はコンピ
ユータなどの演算制御器であり、後述するイメー
ジセンサ13の出力信号を受信し相互関関数を算
出し、スペツクル移動などを演算制御するもので
ある。5は入出力装置であり、演算制御器4の操
作および演算結果の表示などを行なう装置であ
る。6,7は第1、第2のレーザ光源であり、こ
れらは通常0.6328μmの波長のレーザ光を発生す
るHe−Neレーザなどが用いられる。8,9は第
1、第2の平面鏡であり、前記レーザ光源6,7
から発したレーザ光線を試験片1上の測定点Pに
対し法線とθなる角度をもつて照射するものとな
つている。10はレーザ用電源であり、一対の固
体素子リレー11,12を介して前記レーザ光源
6,7へ電力を供給する。固体素子リレー11,
12は演算制御器4により制御されて電源10か
らの電力の通電、しや断を行なうスイツチング機
能を有している。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a conventional laser speckle distortion measuring device. In FIG. 2, 1 is a test piece, and its upper end is fixed by a fixing jig 2.
Reference numeral 3 denotes a weight attached to the lower end of the test piece 1 for applying a load to the test piece 1. Reference numeral 4 denotes an arithmetic controller such as a computer, which receives an output signal from an image sensor 13 to be described later, calculates a correlation function, and arithmetic controls the speckle movement. Reference numeral 5 denotes an input/output device, which is a device for operating the arithmetic controller 4 and displaying arithmetic results. Reference numerals 6 and 7 indicate first and second laser light sources, which are typically He-Ne lasers that generate laser light with a wavelength of 0.6328 μm. 8 and 9 are first and second plane mirrors, and the laser light sources 6 and 7
The laser beam emitted from the test piece 1 is irradiated with a laser beam at an angle θ with respect to the normal line to the measurement point P on the test piece 1. Reference numeral 10 denotes a laser power source, which supplies power to the laser light sources 6 and 7 via a pair of solid-state relays 11 and 12. solid state relay 11,
Reference numeral 12 has a switching function that is controlled by the arithmetic controller 4 to turn on and off the power from the power source 10.

イメージセンサ13は測定点Pの法線上であつ
て、かつ測定点PからLpなる距離だけ離れた位置
に設置されている。
The image sensor 13 is installed on the normal line of the measurement point P and at a distance L p from the measurement point P.

第3図は第2図に示した装置による測定原理を
示す図である。第3図において、Sはレーザ光
源、Mは物体面、Nはスペツクル観測面、を示し
ている。上記物体面Mはx−y面上にあり、レー
ザ光線入射面はx−z面上にあり、スペツクル観
察面NはX−Y面上にある。
FIG. 3 is a diagram showing the principle of measurement by the apparatus shown in FIG. 2. In FIG. 3, S indicates a laser light source, M indicates an object plane, and N indicates a speckle observation plane. The object plane M is on the x-y plane, the laser beam incidence plane is on the x-z plane, and the speckle observation plane N is on the X-Y plane.

第3図に示すように、レーザ光源Sから発した
光は測定点Pでz方向に反射し、その反射光のビ
ーム径に対し十分大きな距離Lpだけ離れた位置に
ある観測面Nに達する。観測面N上に生じたスペ
ツクルはイメージセンサ13で検出される。測定
点Pの並進ベクトルを(ax、ay、az)、回転ベク
トルを(Ωx、Ωy、Ωz)、歪をεxxとすれば、上記
観察面NでのX方向のスペツクル移動Axは次式
で与えられる。
As shown in Figure 3, the light emitted from the laser light source S is reflected in the z direction at the measurement point P, and reaches the observation plane N, which is located a distance L p that is sufficiently large relative to the beam diameter of the reflected light. . Speckles generated on the observation plane N are detected by the image sensor 13. If the translation vector of measurement point P is (a x , a y , a z ), the rotation vector is (Ω x , Ω y , Ω z ), and the strain is ε xx , then the spectrum in the X direction on the observation plane N is The movement A x is given by the following formula.

Ax=ax(Lp/Lscos2θ+1)−azLp/Lscosθ・s
inθ−Lp〔εxxsinθ−Ωy(cosθs+1)〕……(1) ただし、Lsは入射ビームの波面の曲率半径、θ
はレーザ光線の入射角である。
A x = a x (L p /L s cos 2 θ+1) − a z L p /L s cos θ・s
inθ−L pxx sinθ−Ω y (cosθ s +1)]……(1) where L s is the radius of curvature of the wavefront of the incident beam, θ
is the incident angle of the laser beam.

なお、スペツクル移動Axは、例えば観測面N
のX方向に置いた一次元イメージセンサにより測
定した物体変形前後のスペツクル模様の相互相関
関数のピーク位置から容易に求めることができ
る。
Note that the speckle movement A x is, for example, the observation plane N
It can be easily determined from the peak position of the cross-correlation function of speckle patterns before and after object deformation measured by a one-dimensional image sensor placed in the X direction of the object.

歪εxxを求めるには、次のようにする。上記(1)
式の関係よりレーザ光線の入射角θおよび(−
θ)について、スペツクル移動Ax(θ)とAx(−
θ)を測定し、その差ΔAxすなわち ΔAx=Ax(θ)−Ax(−θ) =−2Lpεxxsinθ ……(2) を算出する。そうすると、 εxx=−ΔAx/2Lpsinθ ……(3) となる。したがつて、スペツクル移動の差ΔAx
求めて、第(3)式より歪を算出すればよい。
To find the strain ε xx , proceed as follows. Above (1)
From the relationship of the formula, the incident angle θ and (−
θ), the speckle movements A x (θ) and A x (−
θ) is measured, and the difference ΔA x, that is, ΔA x =A x (θ)−A x (−θ) = −2L p ε xx sin θ (2) is calculated. Then, ε xx = −ΔA x /2L p sinθ ...(3). Therefore, it is sufficient to find the difference ΔA x in speckle movement and calculate the distortion using equation (3).

次に測定の手順を第2図について具体的に説明
する。
Next, the measurement procedure will be specifically explained with reference to FIG.

試験片1の変形前のスペツクル模様の光強度
分布測定を行うべく、先ず、演算制御器4によ
り第1の固体素子リレー11を通電状態とな
し、第1のレーザを光源6だけを作動させ、レ
ーザ光線を平面鏡8を介して測定点Pに照射す
る。スペツクル模様をイメージセンサ13で検
出し、演算制御器4に記憶させる。この場合の
スペツクル模様を1(X)とする。
In order to measure the light intensity distribution of the speckle pattern before deformation of the test piece 1, first, the first solid-state relay 11 is energized by the arithmetic controller 4, and only the light source 6 of the first laser is activated. The measurement point P is irradiated with a laser beam through the plane mirror 8. The speckle pattern is detected by the image sensor 13 and stored in the arithmetic controller 4. Let the speckle pattern in this case be 1 (X).

次に、演算制御器4により、第2の固定素子
リレー12を通電状態とし、第2のレーザ光源
7だけを作動させ、レーザ光線を平面鏡9を介
して測定点Pに照射する。そして、スペツクル
模様をイメージセンサ13で検出し、演算制御
装置4に記憶させる。この場合のスペツクル模
様をI′1(X)とする。
Next, the second fixed element relay 12 is energized by the arithmetic controller 4, and only the second laser light source 7 is operated to irradiate the measurement point P with a laser beam via the plane mirror 9. Then, the speckle pattern is detected by the image sensor 13 and stored in the arithmetic and control unit 4. Let the speckle pattern in this case be I′ 1 (X).

試験片1の変形後のスペツクル模様の光強度
分布測定を行なうべく試験片1が変形したあ
と、上記と同様にして、スペツクル模様I2(X)
を演算制御器4に記憶させる。
After the test piece 1 is deformed in order to measure the light intensity distribution of the speckle pattern after the deformation of the test piece 1, the speckle pattern I 2 (X) is created in the same manner as above.
is stored in the arithmetic controller 4.

上記と同じ状態にある試験片1について、
上記と同様にして、スペツクル模様I′2(X)を
演算制御器4に記憶させる。
Regarding test piece 1 in the same condition as above,
In the same manner as above, the speckle pattern I' 2 (X) is stored in the arithmetic controller 4.

上記ないしで測定した試験片1の変形前
後でのスペツクル模様1(X)とI′(X)、およびI2(X)
とI′2(X)を用いて、それぞれの相互相関関数を
演算制御器4で算出させ、そのピーク値より、
スペツクル移動Ax(θ)およびAx(−θ)を求
める。
Speckle pattern 1 (X), I′(X), and I 2 (X) before and after deformation of test piece 1 measured as above
The arithmetic controller 4 calculates each cross-correlation function using I′ 2 (X) and the peak value.
Find the speckle movements A x (θ) and A x (−θ).

上記のスペツクル移動Ax(θ)およびAx
(−θ)から、スペツクル移動の差ΔAxおよび
第(3)式のεxxすなわち、 εxx=−ΔAx/2Lpsinθ を演算制御器4に計算させ、その結果を入出力
装置5にて表示する。
The above speckle movements A x (θ) and A x
(−θ), the arithmetic controller 4 calculates the difference in speckle movement ΔA x and ε xx of equation (3), that is, ε xx = −ΔA x /2L p sinθ, and the results are sent to the input/output device 5. Display.

以上述べたように、第2図の装置によれば試験
片1にストレンゲージや格子などを貼りつけるこ
となく、レーザ光線を照射することにより自然に
発生するスペツクルを利用して、歪を非接触方法
で計測可能な特徴がある。
As mentioned above, according to the apparatus shown in Fig. 2, strain is removed non-contact by utilizing the speckles naturally generated by laser beam irradiation without attaching strain gauges or gratings to the test piece 1. There are characteristics that can be measured using methods.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかるに上述した従来のレーザスペツクル歪計
測装置では、歪を測定するのに、物体の変形前後
でレーザ光線を交互に切換えて照射する必要があ
る。したがつて振動歪など高速度で変化する歪の
計測への適用が困難であるという問題があつた。
However, in the conventional laser speckle distortion measuring device described above, in order to measure the distortion, it is necessary to alternately switch and irradiate the object with a laser beam before and after the object is deformed. Therefore, there was a problem in that it was difficult to apply to the measurement of strains that change at high speed, such as vibration strains.

そこで本発明は、振動歪などの高速度で変化す
る歪をも計測可能なレーザスペツクル歪計測装置
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a laser spectral distortion measuring device capable of measuring strains that change at high speed, such as vibrational strains.

〔問題点を解決するための手段および作用〕[Means and actions for solving problems]

本発明は上記問題点を解決し目的を達成するた
めに、次の如き手段を講じたことを特徴としてい
る。
In order to solve the above problems and achieve the objects, the present invention is characterized by taking the following measures.

(1) 第1、第2の二つのレーザ光源から、例えば
赤色と青色といつた波長の異なる第1、第2の
レーザ光線を出射させ、これを物体の表面へ、
正負同一の入射角θ、−θで照射する。
(1) Emit first and second laser beams with different wavelengths, for example red and blue, from two laser light sources, and direct them onto the surface of an object,
Irradiation is performed at the same positive and negative incident angles θ and -θ.

(2) 物体表面から法線方向へ反射した第1のレー
ザ光線と第2のレーザ光線との合成レーザ反射
光をビームスプリツタで二方向に分割する。
(2) The combined laser reflected light of the first laser beam and the second laser beam reflected from the object surface in the normal direction is split into two directions by a beam splitter.

(3) 分割された一方の光に含まれる前記第1のレ
ーザ光線のみを第1のフイルタで透過抽出す
る。
(3) Only the first laser beam included in one of the divided lights is transmitted and extracted by a first filter.

(4) 第1のフイルタで透過抽出した第1のレーザ
光線のスペツクルを、第1のスペツクル検出器
で検出する。
(4) A first speckle detector detects the speckle of the first laser beam transmitted and extracted by the first filter.

(5) 前記ビームスプリツタで分割された他方の光
に含まれる前記第2のレーザ光線のみを、第2
のフイルタで透過抽出する。
(5) Only the second laser beam included in the other beam split by the beam splitter is
Transparent extraction is performed using a filter.

(6) 第2のフイルタで透過抽出した第2のレーザ
光を、測定点からの距離が前記第1のスペツク
ル検出器と等距離に配置された第2のスペツク
ル検出器で検出する。
(6) The second laser beam transmitted and extracted by the second filter is detected by a second speckle detector disposed at the same distance from the measurement point as the first speckle detector.

(7) 第1、第2のスペツクル検出器で検出したス
ペツクルの移動の差に基いて前記物体における
歪の変化を演算手段により算出する。
(7) A calculation means calculates a change in distortion in the object based on a difference in movement of speckles detected by the first and second speckle detectors.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例を示す図である。な
お第2図と同一部分には同一符号を付してある。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. Note that the same parts as in FIG. 2 are given the same reference numerals.

第1図において、21,22は第1、第2のレ
ーザ光線である。第1のレーザ光源21は、例え
ばHe−Neレーザであり、赤色(波長0.6328μm)
の第1のレーザ光線を発生する。この第1のレー
ザ光線は平面鏡8を介して試験片1上の測定点P
へ入射角度θで照射する。第2のレーザ光源22
は、例えばArレーザであり、青色(波長0.4880μ
m)の第2のレーザ光線を発生する。この第2の
レーザ光線は平面鏡9を介して試験片1上の測定
点Pへ入射角度−θで照射する。
In FIG. 1, 21 and 22 are first and second laser beams. The first laser light source 21 is, for example, a He-Ne laser, and is red (wavelength: 0.6328 μm).
A first laser beam is generated. This first laser beam is transmitted through a plane mirror 8 to a measuring point P on the specimen 1.
irradiate at an incident angle θ. Second laser light source 22
is, for example, an Ar laser, with blue (wavelength 0.4880μ)
m) generating a second laser beam; This second laser beam irradiates the measuring point P on the test piece 1 through the plane mirror 9 at an incident angle of −θ.

30はビームスプリツタであり、測定点Pの法
線上に設置され、測定点Pからの合成されたレー
ザ反射光の一部を透過し、他の一部を直角方向に
反射することにより、二分割する。31は第1の
フイルタであり、上記ビームスプリツタ透過光の
うち、例えば赤色の第1のレーザ光のみを透過抽
出し、第1のスペツクル検出器であるイメージセ
ンサ41へ入射させる。32は第2のフイルタで
あり、上記ビームスプリツタ反射光のうち、例え
ば青色の第2のレーザ光のみを透過抽出し、第2
のスペツクル検出器であるイメージセンサ42へ
入射させる。第1、第2のイメージセンサ41,
42は測定点PからいずれもLpだけ離れた位置に
配置され、スペツクル模様の光強度分布を検出
し、それぞれ演算制御器4へ送信する。
A beam splitter 30 is installed on the normal line of the measurement point P, and transmits a part of the combined laser reflected light from the measurement point P and reflects the other part in the right angle direction. To divide. A first filter 31 transmits and extracts, for example, only the first laser beam of red color out of the light transmitted through the beam splitter, and makes it enter the image sensor 41, which is a first speckle detector. 32 is a second filter, which transmits and extracts, for example, only the blue second laser beam out of the light reflected by the beam splitter;
The light is incident on the image sensor 42, which is a speckle detector. first and second image sensors 41,
42 are placed at a distance of L p from the measuring point P, detect the light intensity distribution of the speckle pattern, and transmit the detected light intensity distribution to the arithmetic controller 4.

このように構成された本装置は次のように作動
する。
The device configured as described above operates as follows.

(1) 試験片1の変形前のスペツクル模様の光強度
分布測定を行なうべく、第1のレーザ光源すな
わちHe−Neレーザ光源21を作動させ、発生
した赤色の第1のレーザ光線を平面鏡8を介し
て測定点Pに照射すると同時に、第2のレーザ
光源すなわちArレーザ光源22を作動させ、
発生した第2のレーザ光源を平面鏡9を介して
測定点Pに照射する。そうすると測定点Pから
赤色と青色とが混つた合成レーザ反射光が法線
方向に反射する。この反射光はビームスプリツ
タ30で二分割される。二分割された一方の光
つまりビームスプリツタ透過光は、第1のフイ
ルタ31により赤色光だけつまり第1のレーザ
光線だけが透過抽出され、第1のイメージセン
サ41に到達する。かくしてそのスペツクル模
様すなわち赤色レーザ光のスペツクルの光強度
分布が検出され、演算制御器4に記憶される。
この場合のスペツクル模様をI1(X)とする。前記
二分割された他方の光つまりビームスプリツタ
反射光は、第2のフイルタ32により青色光だ
けつまり第2のレーザ光線だけ透過抽出され、
第2のイメージセンサ42に到達する。かくし
てそのスペツクル模様すなわち青色レーザ光の
スペツクルの光強度分布が検出され、演算制御
器4に記憶される。この場合のスペツクル模様
をI′1(X)とする。
(1) In order to measure the light intensity distribution of the speckle pattern before deformation of the test piece 1, the first laser light source, that is, the He-Ne laser light source 21 is activated, and the generated red first laser beam is directed through the plane mirror 8. At the same time, the second laser light source, that is, the Ar laser light source 22 is activated,
The generated second laser light source is irradiated onto the measurement point P via the plane mirror 9. Then, the combined laser reflected light in which red and blue are mixed is reflected from the measurement point P in the normal direction. This reflected light is split into two by a beam splitter 30. One of the two divided lights, that is, the light transmitted through the beam splitter, passes through and extracts only the red light, that is, only the first laser beam, by the first filter 31, and reaches the first image sensor 41. In this way, the speckle pattern, that is, the light intensity distribution of the red laser light speckle is detected and stored in the arithmetic controller 4.
Let the speckle pattern in this case be I 1 (X). The other split light, that is, the beam splitter reflected light, is transmitted and extracted by a second filter 32, in which only the blue light, that is, only the second laser beam is transmitted.
The second image sensor 42 is reached. In this way, the speckle pattern, that is, the light intensity distribution of the blue laser light speckle is detected and stored in the arithmetic controller 4. Let the speckle pattern in this case be I′ 1 (X).

(2) 試験片1の変形後のスペツクル模様の光強度
分布を測定すべく試験片1が変形したあと、上
記(1)と同様にして、第1のイメージセンサ41
により、検出した赤色レーザ光のスペツクル模
様I2(X)を演算制御器4に記憶させるのと同時
に、第2のイメージセンサ42により検出した
青色レーザ光のスペツクル模様I′2(X)を演算制
御器4に記憶させる。
(2) After the test piece 1 is deformed in order to measure the light intensity distribution of the speckle pattern after the test piece 1 is deformed, the first image sensor 41 is
As a result, the speckle pattern I 2 (X) of the detected red laser beam is stored in the arithmetic controller 4, and at the same time, the speckle pattern I' 2 (X) of the blue laser beam detected by the second image sensor 42 is calculated. It is stored in the controller 4.

(3) 上記(1)及び(2)で測定した試験片1の変形前後
でのスペツクル模様I1(X)とI′1(X)、およびI2(X)と
I′2(X)を用いて、それぞれの相互相関関数を演
算制御器4で算出し、そのピーク値より、スペ
ツクル移動Ax(θ)及びAx(−θ)を求める。
(3) Speckle patterns I 1 (X), I′ 1 (X), and I 2 (X) before and after deformation of test specimen 1 measured in (1) and ( 2 ) above.
Using I′ 2 (X), each cross-correlation function is calculated by the arithmetic controller 4, and speckle movements A x (θ) and A x (−θ) are determined from the peak values.

(4) 上記(3)のスペツクル移動Ax(θ)及びAx(−
θ)から、スペツ クル移動の差ΔAx及び第(3)
式のεxxすなわち εxx=−ΔAx/2Lpsinθ を演算制御器4で計算して、その結果を入出力
装置5に表示する。
(4) Speckle movement A x (θ) and A x (−
θ), the speckle movement difference ΔA x and the (3)
The arithmetic controller 4 calculates the equation ε xx , that is, ε xx =−ΔA x /2L p sinθ, and displays the result on the input/output device 5 .

以上の如く、本装置によれば、従来の装置のよ
うに、2方向からのレーザ光線照射を交互に変え
る必要がない。
As described above, according to the present device, unlike conventional devices, there is no need to alternately change the laser beam irradiation from two directions.

なお、本発明は前記実施例に限定されるもので
はない。たとえば前記実施例ではスペツクル移動
測定にイメージセンサを用いたが、空間フイルタ
検出器を用いて測定するようにしてもよい。この
ほか本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実
施可能であるのは勿論である。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the embodiment described above, an image sensor is used to measure speckle movement, but a spatial filter detector may also be used for measurement. It goes without saying that various other modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、二方向からのレーザ光線の照
射切換えが不要なので、従来のレーザスペツクル
歪計測装置では計測できなかつた振動歪などの高
速度で変化する歪を計測することができ、適用範
囲が広く産業上の利用価値の高いレーザスペツク
ル歪計測装置を提供できる。
According to the present invention, since it is not necessary to switch the irradiation of laser beams from two directions, it is possible to measure strains that change at high speed, such as vibrational strain, which could not be measured with conventional laser spectral strain measuring devices. It is possible to provide a laser spectral distortion measurement device that has a wide range of applications and is of high industrial value.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成を示す図であ
る。第2図は従来例の構成を示す図、第3図は第
2図に示す装置の歪計測原理を示す図である。 1……試験片、2……固定治具、3……重り、
4……演算制御器(コンピユータ)、5……入出
力装置、6,7……レーザ光源、8,9……平面
鏡、21,22……第1、第2のレーザ光源、3
0……ビームスプリツタ、31,32……第1、
第2のフイルタ、41,42……第1、第2のイ
メージセンサ(スペツクル検出器)。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a conventional example, and FIG. 3 is a diagram showing the strain measurement principle of the apparatus shown in FIG. 2. 1... Test piece, 2... Fixing jig, 3... Weight,
4... Arithmetic controller (computer), 5... Input/output device, 6, 7... Laser light source, 8, 9... Plane mirror, 21, 22... First and second laser light sources, 3
0... Beam splitter, 31, 32... 1st,
Second filter, 41, 42...first and second image sensors (spectacle detectors).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 物体の表面へ正、負同一の入射角で二方向か
ら波長の異なる第1、第2のレーザ光線をそれぞ
れ照射する第1、第2のレーザ光源と、この第
1、第2のレーザ光源から発した第1、第2のレ
ーザ光線による前記物体表面から法線方向に反射
した合成レーザ反射光を二方向に分割するビーム
スプリツタと、このビームスプリツタにて分割さ
れた一方の光に含まれる前記第1のレーザ光線の
みを透過する第1のフイルタと、この第1のフイ
ルタを透過した第1のレーザ光線のスペツクルを
検出する第1のスペツクル検出器と、前記ビーム
スプリツタにて分割された他方の光に含まれる前
記第2のレーザ光線のみを透過する第2のフイル
タと、この第2のフイルタを透過した第2のレー
ザ光線のスペツクルを検出する第2のスペツクル
検出器と、前記第1、第2のスペツクル検出器で
それぞれ検出された光のスペツクル移動量の差に
基いて前記物体における歪の変化を算出する演算
手段とを具備したことを特徴とするレーザスペツ
クル歪計測装置。
1. First and second laser light sources that respectively irradiate the surface of an object with first and second laser beams of different wavelengths from two directions at the same positive and negative incident angles, and the first and second laser light sources. a beam splitter that splits into two directions the combined laser reflected light reflected in the normal direction from the object surface by the first and second laser beams emitted from the object; and one of the lights split by the beam splitter. a first filter that transmits only the included first laser beam; a first speckle detector that detects speckles of the first laser beam that has passed through the first filter; and a beam splitter. a second filter that transmits only the second laser beam included in the other divided light; and a second speckle detector that detects speckles of the second laser beam that has passed through the second filter. , a calculation means for calculating a change in distortion in the object based on a difference in the amount of speckle movement of light detected by the first and second speckle detectors, respectively. Measuring device.
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