JPH0573585B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0573585B2 JPH0573585B2 JP60033972A JP3397285A JPH0573585B2 JP H0573585 B2 JPH0573585 B2 JP H0573585B2 JP 60033972 A JP60033972 A JP 60033972A JP 3397285 A JP3397285 A JP 3397285A JP H0573585 B2 JPH0573585 B2 JP H0573585B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- optical sensor
- picture
- difference
- sensor head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
(発明の技術分野)
この発明は、紙、アルミニユーム及びプラスチ
ツク等の包装材料に対し絵柄が周期的に連続して
印刷される際に、インキの飛散、ドクターすじ等
の欠陥及びゴミの付着を自動的に印刷稼動中でも
検知できるようにした方法に関する。
(発明の技術的背景とその問題点)
一般に絵柄等を印刷する際のスポツト的に現わ
れる欠陥に対しては、検知は難かしい。このた
め、巻き始めや巻き終り時に装置を停止させて、
ごく一部のみの目視検査が行なわれている。しか
し全数検査でないことから、場合によつては欠陥
品が混入することもあり、しばしば問題が生じて
いた。この問題を解決するため最近、第5図のよ
うに同一の連続した絵柄を印刷したシートN上の
1対の絵柄N1及びN2(この場合、隣接した絵
柄とは限らない)を1対の光センサヘツドA及び
Bで同時に測光し、光電変換した後に1対の光セ
ンサヘツドA及びBの出力電圧の差を制御ボツク
ス14で演算処理することにより、絵柄上の欠陥
を求める装置が提案されている。
この具体的実施例を第6図に示して説明する。
図示のように絵柄N1及びN2からの反射光は、
光フアイバ等の受光素子15A及び15Bを通じ
て光センサ素子16A及び16Cに入力され電圧
に変換された後、増幅器16B及び16Dにより
適正にゲイン調整され、それらの出力電圧は差動
増幅器17に入力される。ここで、受光素子15
A及び15Bは同じ絵柄N1及びN2上に位置し
ているので、絵柄が正常であればその反射光は等
しく、差動増幅器17の出力は零となるはずであ
る。しかし、全く等しくなるということは物理的
に不可能であるので、許容範囲内でその量を予め
設定しておき、この設定値をここでは上限を
dmaxとおくと共に下限をdminとおき、コンパレ
ータ18に差動増幅器17の出力と共に入力す
る。もし、片方の絵柄にインキが飛散してしま
い、これが設定された許容範囲を超えるものだと
すると、コンパレータ18の出力は“NO”とな
り、例えば“1”信号を出力してエラーを示すこ
とになる。上限、下限の範囲内であれば良品の
“GO”となり、“0”信号が出力されることにな
る。このようにして印刷物等の欠陥を求める方法
が実現されている。
しかしながら上述の方法では、1対の光センサ
ヘツドの光学的検知条件を常に一定に保つことが
必要である。このため種々の準備作業を必要と
し、装置の製作時には特性一致のための光センサ
素子の選別、出力特性の良い差動増幅器の利用
や、検知稼動時には光センサ素子の経年変化によ
る劣化、センサヘツドの汚れ及び差動増幅器のド
リフト等による特性不一致に対する補正を、予め
人為的に行なう必要がある。これが煩雑な上に熟
練を要し、これを軽減するため検知精度を犠牲に
して前記上限dmax、下限dminの許容範囲である
不感帯幅を拡大する必要を生じなければならない
といつた欠点があつた。従つて、1対の光センサ
ヘツドを用いるために生じるこれら安定性を除去
できる上に、上記製作時及び稼動時の光学的検知
条件を常に自動的に一定にでき、更に1対の光セ
ンサヘツドに比して安価で構成できるシングルの
光センサヘツドを用いた印刷物の欠陥検知方法の
開発が要望されていた。
(発明の目的)
この発明は、上述のような事情からなされたも
のであり、この発明の目的は、ドリフトや経時変
化等で検知特性上不一致が生じた場合でも、自動
的に光学的検知条件を補償して一定にするシング
ルの光センサヘツドを用いた印刷物の欠陥検知方
法を提供することにある。
(発明の概要)
この発明は、同一の絵柄が周期的に連続して印
刷されている印刷物の欠陥を検知する印刷物の欠
陥検知方法に関するもので、同一の絵柄が周期的
に連続して印刷される印刷物の欠陥を検知する印
刷物の欠陥検知方法において、シングルの光セン
サヘツドを1対の絵柄に対向して使用するように
し、版胴の駆動部に連結されたパルス発生器から
パルスを出力するようにし、前記光センサヘツド
から得られる1つの絵柄と次に搬送される1周期
分ずれた絵柄との各アナログ信号の出力電圧の差
を、前記絵柄が1周期搬送される毎に前記版胴の
1シリンダ分の1回転に相当する前記パルス及び
その分周パルスに対応させて処理し、前記アナロ
グ信号の出力差をデイジタル化した後、先に搬送
された1つの絵柄のデイジタル信号を1周期分だ
け記憶し、次の絵柄の1周期分のデイジタル信号
と前記記憶したデイジタル信号との差を求め、こ
の差を周期的に搬送させる絵柄に対応して連続的
にパターン化して抽出し、予め登録してあるパタ
ーンとの符号判定と比率判定を行ない、欠陥と判
定された場合には欠陥箇所の前記パルス又は分周
パルスの数を計数することによつて欠陥の種類を
識別すると共に、前記符号判定、前記比率判定及
び前記欠陥の種類を表示するようにしたものであ
る。
(発明の実施例)
第1図はこの発明方法を実現する装置の一例を
示すブロツク図であり、全体にコンピユータ化さ
れており、キーボード1の所定キーを操作すると
開始信号SS1に基づく情報がCRT2に映出される
と共に、メインCPU4に信号SS2が入力される。
これにより、同一の連続した絵柄N1,N2…が
印刷されたシートNを所定のピツチで巻上げるた
めのモータ等から成る駆動部6が駆動され、絵柄
N1,N2…を印刷したシートNの巻上げが開始
される。所定量巻上げられると検知スタートを指
示する見当マークがスキヤニングヘツド5で検出
され、見当マーク信号SS3が出力されると共に、
駆動部6に連動したパルスエンコーダ等より成る
パルス発生器7から、1周期分の絵柄に対応して
駆動部6に連結された版胴の1シリンダ分の1回
転に相当するパルスと、それを分周したパルス信
号SS5がメインCPU4に入力され、更に記憶部
3に記憶されることになる。一方、絵柄N1に対
向したシングルの光センサヘツド内の光センサA
1(絵柄の大きさに応じて光センサA1,A2…
ANまである)は、絵柄N1内の相当検出エリア
が正常か否かを検知するため、絵柄からの反射光
を集光し電圧信号SS8に光電変換する。その後、
IC等から成る増幅器8に入力され適正にゲイン
調整されたアナログ信号SS9となり、A/D変
換器9でそのアナログ量がこれに相当するデイジ
タル量のデイジタル信号SS10に変換され、ロ
ーカルCPU11に入力されて内部処理された後、
信号SS11を記憶部10に出力すると共にメイ
ンCPU4に処理信号SS12が入力され、総括処
理されることになる。この場合、前記デイジタル
信号を1絵柄の1周期分(1シリンダ分)記憶し
ておき、常に次の1絵柄の1周期分遅れたデイジ
タル信号同士の差、例えば絵柄N1と次に送られ
る絵柄N2との信号差をとり、この差の時間的パ
ターンを最終的にメインCPU4で認識処理する
ことにより、絵柄の検知情報(例えばある箇所の
濃度・色彩はどの程度の欠陥か等)を得ることが
できる。又、シングルの光センサヘツドA内には
絵柄N1の大きさに応じて光センサA1〜ANが
多数まとめられており、これらの印刷物の絵柄N
1及びN2に対する検知情報をローカルCPU1
1で一旦処理した後、メインCPU4で総括処理
することにより不測の事態、例えば稼動中に何ら
かの原因で光センサヘツドAの出力が変動した場
合でも、この方法を用いることで常に検知でき、
CRT2でその内容を映像化し逐一監視できるシ
ステムになつている。
このような構成において、その動作を第2図〜
第5図を参照して説明する。
第2図はその動作例を示すフローチヤートであ
り、第3図はこのフローチヤートに従つて絵柄が
検知されている状況を示すタイミングチヤートで
ある。稼動前は第3図Aのように周期的に連続す
る同一の絵柄N1,N2,N3,…を印刷したシ
ートNが、モータ等で成る駆動部6のシリンダに
連結され1絵柄の周期(1シリンダ)毎に搬送さ
れる状態で置かれている。このような状態で、始
めにキーボード1の所定のキーを操作して駆動部
6が駆動されてシートNが巻取られ、絵柄N1,
N2,N3,…がS方向に逐次1絵柄の1周期分
移動し、検知開始を指示する見当マークが識別さ
れるとパルスがカウントされ、図示のように最初
の絵柄N1上に位置付けされた光センサヘツドA
により検知が開始される(ステツプS1)。この場
合、光センサヘツドAの検知エリアを1絵柄の1
周期分で設定できるように光センサA1〜ANを
1絵柄分に対向して使用することにより、隣接す
る絵柄、例えばN1及びN2の出力波形も同様に
1絵柄の1周期分だけ位相がずれることになる。
従つて、常に1つの絵柄の情報が記憶し、これと
隣接する他の絵柄情報とを比較処理すれば、両者
の相違情報が簡単に得られることになる(この場
合、絵柄の搬送速度とセンサヘツドAからの出力
処理との同期を一定に保てば、必ずしも比較され
る1対の絵柄の位置関係は隣接するものではなく
ても良い)。この発明方法はこの点に着眼したも
のである。ところで、一般に絵柄が絵柄N1の如
く良品であればその被検出面の濃淡に応じ、例え
ば第3図Bのt0〜t1間A(t)のような標準波形が出
力されるが、絵柄N2の如く一部にスポツト的な
欠陥箇所a及びbがあれば、良品に比して明るい
部分aでは同図Bのt1〜t2間のA(t)の如く凸形
に、暗い部分bは凹形に出力される(第3図A及
びB,C参照)。
以下、任意のi番目の絵柄Niに対して数式を
参照して説明する。
このようにして、光センサヘツドA上にi番目
の絵柄Niが送られ、1対の光センサAiで反射光
が光電変換され(ti−ti−1)間の出力波形ai(t)
が求められる(ステツプS2、第3図B)。次に1
絵柄を1周期としてこれをn分割し(従つて1パ
ルスの大きさは時間単位でなく、長さの単位とな
る)、分割区間毎にサンプリングを行ない(ステ
ツプS3)、上記アナログ量である出力波形をデイ
ジタル化し(ステツプS4)、i番目の絵柄Niのn
分割中のj分割区間としてデイジタル量C=Cij
(Pj)を求める(ステツプS5、第3図C)。これ
を一旦、次の演算に使用するため記憶部10の
RAMに書込んで記憶し、これ
をD=−1,(Pj)(以下、記憶された後再
生される場合は を付ける)とした状態で(ス
テツプS6,S7、第3図D)、次に1絵柄の1周期
分だけシートNが搬送され、光センサヘツドA上
に次の絵柄Ni+1が配置されると、上述と同様
にデイジタル量の差C=Cij(Pj)が計算されて記
憶部10に記憶され、再生されたD(ステツプ
S8)とこの記憶値CとをローカルCPU11内で
演算処理し、差C−D=dij(Pj)=Cij(Pj)−
(i−1)j(Pj)が求められることになる(ス
テツプS9、第3図E)。次に、絵柄が正常かの許
容範囲の上限値を不感帶上限値dmaxとして決
め、E:eij(Pj)=|dij(Pj)|−dmax≧0ならば
処理対象として続行し、≦0ならば対象外として
ステツプS5にリターンして−1,をdijとす
る(ステツプS10,S11,S12)。その後、絵柄N
1に対してシングルの光センサヘツドAで同一の
検知を行なつた結果が等しいか否か、各々j番目
のパルス数の比較してパルス番号の判定を行な
う。即ちPi=ならば処理を続行し、Pj≠なら
ば検知の位置ずれ等が生じたとして繰越す(ステ
ツプS13)。このようにして絵柄Niが良品かもし
くはどの程度の欠陥品かを調べるため、符号判定
と比率判定を行なう。即ち欠陥品ならば必ず正負
の符号が入れ違いに出力されるため、例えば下表
のパターン判定が行なわれる(ステツプS14,
S15)。
(Technical Field of the Invention) This invention automatically eliminates defects such as ink scattering, doctor streaks, and dust when patterns are periodically and continuously printed on packaging materials such as paper, aluminum, and plastic. This invention relates to a method that enables detection even when printing is in progress. (Technical background of the invention and its problems) Generally, it is difficult to detect defects that appear in spots when printing a pattern or the like. For this reason, the device must be stopped at the beginning or end of winding.
Only a limited number of visual inspections have been carried out. However, since it is not a 100% inspection, sometimes defective products may be mixed in, which often causes problems. In order to solve this problem, recently a pair of patterns N1 and N2 (in this case, not necessarily adjacent patterns) on a sheet N printed with the same continuous pattern as shown in Fig. An apparatus has been proposed in which a control box 14 calculates the difference between the output voltages of a pair of photosensor heads A and B after photometry is carried out by sensor heads A and B at the same time and photoelectric conversion is performed, thereby determining defects on a pattern. A concrete example of this will be explained with reference to FIG.
As shown in the figure, the reflected light from the patterns N1 and N2 is
After being input to optical sensor elements 16A and 16C through light receiving elements 15A and 15B such as optical fibers and converted into voltage, the gain is appropriately adjusted by amplifiers 16B and 16D, and the output voltage is input to differential amplifier 17. . Here, the light receiving element 15
Since A and 15B are located on the same patterns N1 and N2, if the patterns are normal, their reflected lights should be equal and the output of the differential amplifier 17 should be zero. However, it is physically impossible for them to be exactly equal, so we set the amount in advance within the allowable range, and here we set this value as the upper limit.
dmax and the lower limit is set as dmin, and input to the comparator 18 together with the output of the differential amplifier 17. If ink is scattered on one of the patterns and this exceeds the set tolerance range, the output of the comparator 18 will be "NO" and, for example, will output a "1" signal to indicate an error. If it is within the range of the upper and lower limits, it will be a "GO" of a good product and a "0" signal will be output. In this way, a method for determining defects in printed matter, etc. is realized. However, the method described above requires that the optical sensing conditions of the pair of optical sensor heads remain constant. For this reason, various preparation work is required, such as selecting optical sensor elements to match their characteristics when manufacturing the device, using a differential amplifier with good output characteristics, and preventing deterioration of the optical sensor element due to aging and damage to the sensor head during detection operation. It is necessary to manually correct for characteristic mismatches due to dirt, differential amplifier drift, etc. in advance. This is complicated and requires skill, and in order to reduce this, it is necessary to sacrifice detection accuracy and expand the dead band width, which is the allowable range of the upper limit dmax and lower limit dmin. . Therefore, the stability caused by using a pair of optical sensor heads can be eliminated, and the optical sensing conditions mentioned above during manufacturing and operation can be automatically kept constant, and furthermore, compared to a pair of optical sensor heads, There has been a demand for the development of a method for detecting defects in printed matter using a single optical sensor head that can be constructed at low cost. (Object of the invention) This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the invention is to automatically adjust the optical detection conditions even if there is a discrepancy in the detection characteristics due to drift or changes over time. It is an object of the present invention to provide a method for detecting defects in printed matter using a single optical sensor head that compensates for and keeps the defects constant. (Summary of the Invention) The present invention relates to a method for detecting defects in printed matter in which the same pattern is periodically and continuously printed. In a method for detecting defects in printed matter, a single optical sensor head is used facing a pair of patterns, and pulses are output from a pulse generator connected to the drive section of the plate cylinder. The difference in the output voltage of each analog signal between one pattern obtained from the optical sensor head and the next pattern that is shifted by one period is determined by one of the output voltages of the plate cylinder every time the pattern is transported one period. After processing the pulse corresponding to one rotation of the cylinder and its frequency divided pulse, and digitizing the output difference of the analog signal, the digital signal of one picture conveyed earlier is converted into a digital signal for one cycle. The difference between the digital signal for one cycle of the next pattern and the stored digital signal is determined, and this difference is extracted in a continuous pattern corresponding to the pattern to be conveyed periodically, and is registered in advance. If it is determined to be a defect, the type of defect is identified by counting the number of the pulses or frequency-divided pulses at the defective location, and the sign determination is performed with respect to a certain pattern. , the ratio determination and the type of defect are displayed. (Embodiment of the Invention) FIG. 1 is a block diagram showing an example of a device for realizing the method of this invention, which is entirely computerized, and when a predetermined key on a keyboard 1 is operated, information based on a start signal SS1 is transferred to a CRT 2. At the same time, the signal SS2 is input to the main CPU 4.
As a result, the drive unit 6 consisting of a motor etc. is driven to wind up the sheet N on which the same continuous patterns N1, N2... are printed at a predetermined pitch, and the sheet N on which the patterns N1, N2... are printed is driven. is started. When the winding is completed by a predetermined amount, the scanning head 5 detects the register mark that instructs the start of detection, and outputs the register mark signal SS3.
A pulse generator 7 consisting of a pulse encoder etc. linked to the drive unit 6 generates pulses corresponding to one rotation of one cylinder of the plate cylinder connected to the drive unit 6 in correspondence with one period of the image, and The frequency-divided pulse signal SS5 is input to the main CPU 4 and is further stored in the storage section 3. On the other hand, the optical sensor A in the single optical sensor head facing the pattern N1
1 (optical sensors A1, A2, etc. depending on the size of the picture)
In order to detect whether the corresponding detection area within the pattern N1 is normal or not, the reflected light from the pattern is collected and photoelectrically converted into a voltage signal SS8. after that,
The analog signal SS9 is input to the amplifier 8, which is made up of an IC, etc., and the gain is properly adjusted.The A/D converter 9 converts the analog amount into a digital signal SS10, which is an equivalent digital amount, and is input to the local CPU 11. After internal processing,
The signal SS11 is output to the storage unit 10, and the processed signal SS12 is input to the main CPU 4, where it is collectively processed. In this case, the digital signal is stored for one cycle of one picture (one cylinder), and the difference between the digital signals delayed by one cycle of the next picture is always calculated, for example, picture N1 and picture N2 to be sent next. By taking the signal difference between the two and finally recognizing and processing the temporal pattern of this difference in the main CPU 4, it is possible to obtain pattern detection information (for example, how defective is the density and color of a certain area, etc.). can. In addition, a large number of optical sensors A1 to AN are grouped together in a single optical sensor head A according to the size of the pattern N1, and the pattern N of these printed matter
The detection information for 1 and N2 is sent to local CPU 1.
After processing in step 1, the main CPU 4 performs overall processing, so that even if the output of the optical sensor head A fluctuates due to some reason during operation, this method can always be detected.
The system uses CRT2 to visualize the content and monitor it step by step. In such a configuration, its operation is shown in Figure 2~
This will be explained with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart showing an example of the operation, and FIG. 3 is a timing chart showing a situation in which a pattern is detected according to this flowchart. Before operation, a sheet N on which the same patterns N1, N2, N3, etc. are printed periodically as shown in FIG. It is placed in a state where it is transported by cylinder. In this state, first, by operating a predetermined key on the keyboard 1, the drive unit 6 is driven and the sheet N is wound up, and the patterns N1,
N2, N3, ... sequentially move in the S direction for one cycle of one pattern, and when the register mark instructing the start of detection is identified, pulses are counted, and the light is positioned on the first pattern N1 as shown in the figure. Sensor head A
Detection is started (step S1). In this case, the detection area of optical sensor head A is set to 1 of 1 pattern.
By using the optical sensors A1 to AN facing one picture so that the settings can be made in cycles, the output waveforms of adjacent pictures, for example N1 and N2, will also be out of phase by one cycle of one picture. become.
Therefore, if information about one pattern is always stored and this information is compared with other adjacent patterns, information on the differences between the two can be easily obtained (in this case, the speed of transport of the pattern and the sensor head As long as the synchronization with the output processing from A is maintained constant, the positional relationship of the pair of pictures to be compared does not necessarily have to be adjacent). The method of this invention focuses on this point. By the way, in general, if the pattern is good like pattern N1, a standard waveform such as A(t) between t0 and t1 in FIG. If there are spot defects a and b in some parts, compared to the good product, the bright part a will have a convex shape as shown in A(t) between t1 and t2 in the same figure B, and the dark part b will have a concave shape. (See Figure 3 A, B, and C). Hereinafter, an arbitrary i-th pattern Ni will be explained with reference to a mathematical formula. In this way, the i-th picture Ni is sent onto the optical sensor head A, and the reflected light is photoelectrically converted by a pair of optical sensors Ai, and the output waveform ai(t) between (ti-ti-1)
(Step S2, Figure 3B). Next 1
The pattern is divided into n parts (therefore, the size of one pulse is not a unit of time but a unit of length), and sampling is performed for each divided section (step S3), and the output is the analog quantity described above. The waveform is digitized (step S4), and the n of the i-th pattern Ni is
Digital quantity C=Cij as j division interval during division
(Pj) is determined (Step S5, Figure 3C). This is temporarily stored in the storage unit 10 in order to use it for the next calculation.
Write it to RAM and store it, and set it to D=-1, (Pj) (hereinafter, if it will be played back after being stored, mark it) (Steps S6 and S7, Fig. 3 D), then next step. When the sheet N is conveyed for one cycle of one picture and the next picture Ni+1 is placed on the optical sensor head A, the difference in digital amount C=Cij (Pj) is calculated in the same way as described above and stored in the storage unit 10. D (step) stored and played back
S8) and this stored value C are processed in the local CPU 11, and the difference C−D=dij(Pj)=Cij(Pj)−
(i-1)j(Pj) is obtained (step S9, FIG. 3E). Next, the upper limit of the allowable range for determining whether the pattern is normal is determined as the dead image upper limit dmax, and if E: eij (Pj) = | dij (Pj) | - dmax ≧ 0, continue processing, and if ≦ 0, continue processing. If so, the process returns to step S5 and -1 is set as dij (steps S10, S11, S12). After that, pattern N
The pulse numbers are determined by comparing the j-th pulse numbers to determine whether the results obtained by performing the same detection with the single optical sensor head A are the same. That is, if Pi=, the process is continued, and if Pj≠, it is assumed that a positional shift in detection has occurred, and the process is carried forward (step S13). In this way, in order to check whether the pattern Ni is a good product or how defective it is, sign determination and ratio determination are performed. In other words, if it is a defective product, the positive and negative signs are always output with the wrong signs, so for example, the pattern judgment shown in the table below is performed (step S14,
S15).
【表】
ここで、種々の欠陥に対応するパターンをメイ
ンCPU4の内部記憶部にあらかじめ登録してお
き、どのパターンに該当するか否かを判定する
(ステツプS16)。これにより、絵柄Niにどのよう
な欠陥があるか識別することができる。該当なし
の場合、繰越し分の記憶更新準備をする(ステツ
プS17)。該当する場合(ステツプS18)は判定に
不必要な部分、例えば表1の符号判定における
a,−a,0の出力パターンの最後の0は判定に
不必要であり、誤処理をなくすためにこれを消去
して記憶部10のRAMをクリアし、次の絵柄
(Ni+1)に対する記憶更新準備をする(ステツ
プS19)。次に、この欠陥検知システム全体が正
常に稼動しているか否かを調べるため、一定数の
絵柄N1〜Niを検知した後、欠陥の発生件数がど
の位かを検出する。即ち|ei|のトータル量Σ|
ei|を求め(ステツプS20)、あらかじめメイン
CPU4の内部記憶部に登録し設定しておいたト
ータル上限値eとの比較処理Σ|ei|−eを行な
い(ステツプS21)、Σ|ei|−e≧0ならば欠陥
の異常発生であり、これは印刷ミスでなく、シー
トNの位置ずれ或いは蛇行等に起因すると判断さ
れ、機械の再点検が行なわれる(ステツプS22)。
また、Σ|ei|−e<0ならば通常の印刷ミスと
判断されてメインCPU4に伝達され、この情報
がCRT2に映し出されることになる(ステツプ
S23)。これと並行して、絵柄N1,N2…の欠
陥が商品として許される範囲なのか、いわゆる大
ヤレ、中ヤレ、小ヤレのどの種類なのか、即ち欠
陥が連続しているか或いは単発なのかを判断する
ため、上記絵柄をn分割したj分割区間を中心に
隣接する区間のパルス…Pj−1,Pj,Pj+1…に
ついて欠陥箇所のチエツクを行ない(ステツプ
S24)、欠陥があればその隣接するパルス数をカ
ウントし(ステツプS25)、スポツト的欠陥、例
えばゴミ等の付着によりPjのみがカウントされる
場合(ステツプS27)か、又は狭域的欠陥、例え
ばドクターすじ等によりPj−1,Pj,Pj+1がカ
ウントされる場合(ステツプS28)なのか、或い
は、広域的欠陥、例えばインキ等のしみが広範囲
に及び、…Pj−1,Pj,Pj+1…が連結して多数
カウントされる場合(ステツプS29)なのか等の
いずれの種類に属する欠陥かを判別し(ステツプ
S26)、絵柄の1周期分で欠陥の発生件数をカウ
ントし(ステツプ30,S31,S32)、欠陥箇所及び
種類をCRT2に表示して絵柄の欠陥情報を知ら
せる(ステツプS33)。
更に、次の絵柄(Ni+1)を検知するためメ
インCPU4に信号を送つて総括処理をし(ステ
ツプS34)、駆動部6が1シリンダ分回転するこ
とになる。ところで、これと並行して上述の記憶
更新準備をした後(ステツプS19)の処理は、1
絵柄の1周期分連続して行なうことになるが、途
中で異常が発生して処理できないときは、リター
ンしてサンプリング分割(ステツプS3)に戻り、
処理できたときは絵柄Niの繰越し分・消去のデ
ータを記憶部3のRAMからクリアし、次の絵柄
(Ni+1)を検知するために見当マークの識別
(ステツプS1)にリターンし、絵柄Niと同一の処
理が行なわれることになる。このようにしてすべ
ての絵柄N1,N2,N3…,NNについて各々
第2図A〜CのフローチヤートのステツプS1か
らステツプS36迄を繰返し処理することにより、
即ち光センサヘツドAで次々に1絵柄の1周期分
記憶して比較・更新処理することにより、シート
Nに連続して印刷された絵柄N1,N2,…NN
の欠陥情報がCRT2等により表示されることに
なる。
さて上述の検知の場合は、光センサヘツドAの
検知出力が変動しない場合であるが、装置の稼動
中に増幅器8のドリフト或いは光センサA1〜
ANの経年化等により検知特性の変動があつた場
合でも、上記方法を用いることで自動的に変動を
補正し、正確な検知出力が得られることになる。
即ち第4図はこの状況を説明するためのタイミン
グチヤートであり、図示のように仮に光センサヘ
ツドAが基準量に対してfだけ持ち上がつたとす
ると、通常次々に演算していくことによりこのず
れfが誤差として蓄積され拡大されるので、従来
の方法では過大評価の原因となつていた。
しかしながら、この発明の方法によると第2図
のフローチヤートによりステツプS9の(C−D)
の演算処理を行なうことにより、この差動増幅器
8のドリフト或いは光センサA1〜ANの経年変
化等によるずれfが打消され、自動的に補正され
絵柄の欠陥(第4図Eのa,b及びc等)だけが
抽出されることになる。即ち、
光センサヘツドA:出力波形A(t)
…(ステツプS2)
D:(t) …(ステツプS8)
C−D:(t)−A(t) …(ステツプS9)
であり、ここでずれfが生じて
A(t)→A(t)+f,A(t)→(t)+f
となり
C−D={A(t)+f}−{(t)+f}=A(t)−(
t)
…(ステツプS9)
であるから、どんな要因のずれfで検知特性が変
動しても演算処理過程で打消され、所望の絵柄の
欠陥a,b及びc等だけが求められることにな
る。
これを第4図のタイミングチヤートを参照して
説明すれば、例えばt1〜t2間では、ずれf分だけ
出力波形は全体に各々A(t)+fだけ変動し、図示
の通りA/D変換後はデイジタル化され、上述と
同様にずれfだけ変動しても(第4図C,D)、
演算処理C−D(ステツプS9)で第4図Eのよう
に前述の変動のない場合の第3図Eと同一の絵柄
の欠陥情報だけが得られることになる。従つて、
装置の稼動中に増幅器8のドリフト或いは光セン
サA1…ANの経年変化等により、検知特性の変
動があつた場合でも、この発明の方法によれば内
部処理で自動的に補正されるので、常に正確な検
知が行われることになる。
このように1対の光センサヘツドAを上記2ケ
ースの場合のいずれも使用することにより、演算
処理中に、変動等によるノイズ成分が混入して
も、最終的に絵柄の欠陥情報だけが得られるの
で、印刷物の欠陥検知方法として高精度化が計れ
ることになる。
(発明の効果)
以上のようにこの発明の方法によれば、同一の
絵柄が周期的に連続して印刷されている印刷物の
欠陥を検知する印刷物の欠陥検知方法において、
安価な構成で稼動時のメンテナンスも要せず、自
動的に印刷物の欠陥の種類を精度良く検知し、視
覚的にカラー表示することができるといつた極め
て多くの長所を有する。[Table] Here, patterns corresponding to various defects are registered in advance in the internal storage section of the main CPU 4, and it is determined which pattern corresponds to the defect (step S16). This makes it possible to identify what kind of defects exist in the pattern Ni. If not applicable, preparations are made to update the memory of the carryover portion (step S17). If applicable (step S18), parts that are unnecessary for the determination, such as the last 0 of the output pattern of a, -a, 0 in the sign determination in Table 1, are unnecessary for the determination, and are removed to avoid incorrect processing. is deleted to clear the RAM of the storage unit 10, and preparations are made to update the memory for the next pattern (Ni+1) (step S19). Next, in order to check whether the entire defect detection system is operating normally, after detecting a certain number of patterns N1 to Ni, the number of defects is detected. That is, the total amount Σ| of |ei|
Find ei | (step S20) and set the main
Comparison processing Σ|ei|-e with the total upper limit e registered and set in the internal storage of the CPU 4 is performed (step S21), and if Σ|ei|-e≧0, a defect has occurred. It is determined that this is not a printing error but is caused by a misalignment or meandering of the sheet N, and the machine is re-inspected (step S22).
Furthermore, if Σ|ei|-e<0, it is determined to be a normal printing error and is transmitted to the main CPU 4, and this information is displayed on the CRT 2 (step
S23). At the same time, it is determined whether the defects in the patterns N1, N2, etc. are within the acceptable range for the product, and whether they are major, medium, or minor defects; in other words, whether the defects are continuous or one-off. In order to do this, the above pattern is divided into n, and the defective parts are checked for the pulses in the adjacent sections centered around the j-divided section...Pj-1, Pj, Pj+1... (step
S24), if there is a defect, count the number of adjacent pulses (step S25), and if only Pj is counted due to a spot defect, such as dust, etc. (step S27), or if there is a narrow defect, e.g. Is this a case where Pj-1, Pj, Pj+1 are counted due to doctor's lines etc. (step S28), or is it a case where a wide area defect, for example, a stain of ink, etc., spreads over a wide area and...Pj-1, Pj, Pj+1... are connected? If a large number of defects are counted (step S29), it is determined to which type the defect belongs (step S29).
S26), the number of defects occurring in one period of the pattern is counted (steps 30, S31, S32), and the location and type of defects are displayed on the CRT 2 to notify defect information of the pattern (step S33). Furthermore, in order to detect the next pattern (Ni+1), a signal is sent to the main CPU 4 for general processing (step S34), and the drive unit 6 rotates by one cylinder. By the way, in parallel with this, the process after the above-mentioned memory update preparation (step S19) is 1.
This will be performed continuously for one cycle of the pattern, but if an error occurs during the process and processing is not possible, return to sampling division (step S3).
When the process is completed, the carried over/erased data of the pattern Ni is cleared from the RAM of the storage unit 3, and the process returns to register mark identification (step S1) to detect the next pattern (Ni+1), and the pattern Ni and The same processing will be performed. In this way, by repeatedly processing steps S1 to S36 in the flowchart of FIGS. 2A to C for all the patterns N1, N2, N3, . . . , NN,
That is, by sequentially storing one period of one pattern in the optical sensor head A and performing comparison/update processing, the patterns N1, N2,...NN consecutively printed on the sheet N are stored.
Defect information will be displayed on a CRT2 or the like. Now, in the case of the above-mentioned detection, the detection output of the optical sensor head A does not fluctuate, but the drift of the amplifier 8 or the optical sensor A1 to
Even if the detection characteristics change due to aging of the AN, by using the above method, the changes can be automatically corrected and accurate detection output can be obtained.
That is, FIG. 4 is a timing chart for explaining this situation. As shown in the figure, if the optical sensor head A is lifted by f relative to the reference amount, this can be calculated by performing calculations one after another. Since the deviation f is accumulated as an error and magnified, the conventional method causes overestimation. However, according to the method of the present invention, steps S9 (C-D) are performed according to the flowchart of FIG.
By performing the arithmetic processing, the deviation f due to the drift of the differential amplifier 8 or aging of the optical sensors A1 to AN is canceled out, and the pattern defects (a, b and b in Fig. 4E) are automatically corrected. c, etc.) will be extracted. That is, Optical sensor head A: Output waveform A(t)
...(Step S2) D:(t) ...(Step S8) C-D:(t)-A(t) ...(Step S9) Here, a deviation f occurs and A(t)→A(t )+f, A(t)→(t)+f, so C-D={A(t)+f}-{(t)+f}=A(t)-(
t) ... (Step S9) Therefore, even if the detection characteristics vary due to the deviation f due to any factor, it is canceled out in the arithmetic processing process, and only the defects a, b, c, etc. of the desired pattern are found. To explain this with reference to the timing chart in Figure 4, for example, between t1 and t2, the output waveform varies by A(t) + f for the shift f, and as shown in the figure, after A/D conversion, is digitized, and even if the deviation f changes as described above (Fig. 4 C, D),
In the arithmetic processing C-D (step S9), only the defect information of the same pattern as shown in FIG. 3E without the above-mentioned variation as shown in FIG. 4E is obtained. Therefore,
Even if there is a change in the detection characteristics due to the drift of the amplifier 8 or the aging of the optical sensor A1...AN during operation of the device, the method of the present invention automatically corrects it through internal processing, so it always remains the same. Accurate detection will be performed. By using a pair of photosensor heads A in both of the above two cases, even if noise components due to fluctuations etc. are mixed in during the calculation process, only the image defect information can be obtained in the end. Therefore, high accuracy can be achieved as a method for detecting defects in printed matter. (Effects of the Invention) As described above, according to the method of the present invention, in a method for detecting defects in printed matter in which the same pattern is periodically and continuously printed,
It has many advantages such as being inexpensive, requiring no maintenance during operation, automatically detecting the types of defects in printed matter with high accuracy, and visually displaying them in color.
第1図はこの発明方法を実現する装置の一例を
示すブロツク図、第2図はこの発明方法を説明す
るためのフローチヤート、第3図及び第4図はこ
の発明方法を説明するためのタイミングチヤー
ト、第5図A,B及び第6図は同一の絵柄を連続
して印刷する場合の印刷物の欠陥を検知する印刷
物の欠陥検知方法を説明するための図である。
1……キーボード、2……CRT、3……記憶
部、4……メインCPU、5……スキヤニングヘ
ツド、6……駆動部、7……パルス発生器、A
1,A2,〜AN……光センサ、8……増幅器、
9……A/D変換器、10……記憶部、11……
ローカルCPU、N1,N2,〜NN……絵柄、N
……絵柄が印刷されたシート、A……光センサヘ
ツド、14……制御ボツクス、15A及び15B
……受光素子、16A及び16C……光センサ素
子、16B及び16D……増幅器、17……差動
増幅器、18……コンパレータ。
Fig. 1 is a block diagram showing an example of an apparatus for realizing the method of this invention, Fig. 2 is a flowchart for explaining the method of this invention, and Figs. 3 and 4 are timing diagrams for explaining the method of this invention. The chart, FIGS. 5A and 5B, and FIG. 6 are diagrams for explaining a method for detecting defects in printed matter for detecting defects in printed matter when the same pattern is continuously printed. 1...Keyboard, 2...CRT, 3...Storage unit, 4...Main CPU, 5...Scanning head, 6...Drive unit, 7...Pulse generator, A
1, A2, ~AN... optical sensor, 8... amplifier,
9...A/D converter, 10...Storage unit, 11...
Local CPU, N1, N2, ~NN...Picture, N
...Sheet with a pattern printed on it, A... Optical sensor head, 14... Control box, 15A and 15B
...Photodetector, 16A and 16C...Photosensor element, 16B and 16D...Amplifier, 17...Differential amplifier, 18...Comparator.
Claims (1)
る印刷物の欠陥を検知する印刷物の欠陥検知方法
において、シングルの光センサヘツドを1対の絵
柄に対向して使用するようにし、版胴の駆動部に
連結されたパルス発生器からパルスを出力するよ
うにし、前記光センサヘツドから得られる1つの
絵柄と次に搬送される1周期分ずれた絵柄との各
アナログ信号の出力電圧の差を、前記絵柄が1周
期搬送される毎に前記版胴の1シリンダ分の1回
転に相当する前記パルス及びその分周パルスに対
応させて処理し、前記アナログ信号の出力差をデ
イジタル化した後、先に搬送された1つの絵柄の
デイジタル信号を1周期分だけ記憶し、次の絵柄
の1周期分のデイジタル信号と前記記憶したデイ
ジタル信号との差を求め、この差を周期的に搬送
される絵柄に対応して連続的にパターン化して抽
出し、予め登録してあるパターンとの符号判定と
比率判定を行ない、欠陥と判定された場合には欠
陥箇所の前記パルス又は分周パルスの数を計数す
ることによつて欠陥の種類を識別すると共に、前
記符号判定、前記比率判定及び前記欠陥の種類を
表示するようにしたことを特徴とする印刷物の欠
陥検知方法。1. In a method for detecting defects in printed matter in which the same pattern is periodically and continuously printed, a single optical sensor head is used facing a pair of patterns to drive the plate cylinder. A pulse is output from a pulse generator connected to the optical sensor head, and the difference in output voltage of each analog signal between one picture obtained from the optical sensor head and a picture shifted by one cycle to be conveyed next is determined by the output voltage difference of each analog signal. Each time the pattern is conveyed one cycle, the pulse corresponding to one rotation of one cylinder of the plate cylinder and its frequency division pulse are processed, and the output difference of the analog signal is digitized, and then The digital signal of one carried picture is stored for one period, the difference between the digital signal of one cycle of the next picture and the stored digital signal is calculated, and this difference is applied to the periodically carried picture. Correspondingly, the pulses are continuously patterned and extracted, and the sign and ratio are determined with respect to the pre-registered pattern. If it is determined to be a defect, the number of the pulses or frequency-divided pulses at the defective location is counted. 1. A method for detecting defects in printed matter, characterized in that the type of defect is identified by displaying the sign determination, the ratio determination, and the type of defect.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60033972A JPS61193054A (en) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | How to detect defects in printed matter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60033972A JPS61193054A (en) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | How to detect defects in printed matter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61193054A JPS61193054A (en) | 1986-08-27 |
| JPH0573585B2 true JPH0573585B2 (en) | 1993-10-14 |
Family
ID=12401397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60033972A Granted JPS61193054A (en) | 1985-02-22 | 1985-02-22 | How to detect defects in printed matter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61193054A (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6387238A (en) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | Apparatus for inspecting printed matter |
| JP2597370B2 (en) * | 1987-10-14 | 1997-04-02 | 株式会社ヒューテック | Method for detecting significant differences in sheet-like test materials |
| JPH01263050A (en) * | 1988-04-15 | 1989-10-19 | Nec Corp | Examining device for printed matter |
| JP2561951B2 (en) * | 1989-02-28 | 1996-12-11 | 大和製罐株式会社 | Mist detection method and device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59198156A (en) * | 1983-04-27 | 1984-11-09 | Konan Camera Kenkyusho:Kk | Method and apparatus for detection of inferior printing part in rotary printing |
-
1985
- 1985-02-22 JP JP60033972A patent/JPS61193054A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61193054A (en) | 1986-08-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA2058242C (en) | Print monitoring apparatus | |
| US5058175A (en) | Quality inspection method for a printed matter | |
| JPH0143347B2 (en) | ||
| JPH11248641A (en) | Surface defect inspection apparatus and surface defect inspection method | |
| JPH02143240A (en) | Method and apparatus for positioning original drawing of photosensitive material for printing mechanism | |
| EP0477037A2 (en) | A print evaluation apparatus | |
| JPH0573585B2 (en) | ||
| KR890001932B1 (en) | Recorder | |
| JPH0573584B2 (en) | ||
| JPH05177826A (en) | Method and apparatus for detecting color unevenness of printed matter | |
| JPS5928856B2 (en) | How to identify printed matter | |
| JPH0666633A (en) | Lightness correcting apparatus | |
| JPH07200792A (en) | Print inspection device | |
| JPS63135252A (en) | Apparatus for inspecting printing quality | |
| JPH0257772B2 (en) | ||
| JP3053333B2 (en) | Printing paper surface inspection equipment | |
| JPH07276612A (en) | Quality inspection method | |
| JPH05188009A (en) | Inspection device for running printed matter | |
| JPS63222244A (en) | Surface inspector | |
| EP0584637A2 (en) | Method and apparatus for recognizing meandering in printed matter test system and method and apparatus for correcting image pickup position in this system | |
| JPH08290553A (en) | Printing defect inspection device | |
| JP2996868B2 (en) | Printing paper surface inspection equipment | |
| KR100277277B1 (en) | How to Check the Print Characters of a Tape Cassette | |
| JPS63191003A (en) | Web position measuring apparatus | |
| JP2749037B2 (en) | Method and apparatus for determining color boundary of sheet-like test material |