JPH0577259B2 - - Google Patents
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- JPH0577259B2 JPH0577259B2 JP62105270A JP10527087A JPH0577259B2 JP H0577259 B2 JPH0577259 B2 JP H0577259B2 JP 62105270 A JP62105270 A JP 62105270A JP 10527087 A JP10527087 A JP 10527087A JP H0577259 B2 JPH0577259 B2 JP H0577259B2
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 16
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/36—Devices characterised by the use of optical means, e.g. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01P3/40—Devices characterised by the use of optical means, e.g. using infrared, visible, or ultraviolet light using stroboscopic means
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Power Engineering (AREA)
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- Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は運動する物体の断層方向での動きを実
時間で計測し、その解析を可能にする物体運動計
測装置に関するものである。
時間で計測し、その解析を可能にする物体運動計
測装置に関するものである。
本出願人は、ストリークカメラを使用して3次
元物体の表面形状、内部構造を明らかにすること
のできる3次元物体計測装置を既に提案している
(特願昭61−121810号、特願昭61−170654号)。
元物体の表面形状、内部構造を明らかにすること
のできる3次元物体計測装置を既に提案している
(特願昭61−121810号、特願昭61−170654号)。
第5図は上記3次元物体計測装置の一例を示す
図で、図中、1はパルスレーザ、2,4はビーム
スプリツタ、3はビームエキスパンダ、5は全反
射鏡、6は固定反射鏡、7は可動反射鏡、8,9
はシヤツタアパーチヤ、10,11は全反射鏡、
12は被測定物体、13は結像レンズ、14は入
力スリツト、15はストリークカメラ、16は検
出器、17は増幅器、18は遅延回路、19は読
み取り装置、20はモニタである。
図で、図中、1はパルスレーザ、2,4はビーム
スプリツタ、3はビームエキスパンダ、5は全反
射鏡、6は固定反射鏡、7は可動反射鏡、8,9
はシヤツタアパーチヤ、10,11は全反射鏡、
12は被測定物体、13は結像レンズ、14は入
力スリツト、15はストリークカメラ、16は検
出器、17は増幅器、18は遅延回路、19は読
み取り装置、20はモニタである。
図において、パルスレーザ1からのパルス光
は、ビームスプリツタ2で分割され、一部は反射
されて検出器16により電気信号に変換され、遅
延回路を18を介してゲートトリガ信号として利
用される。一方、ビームスプリツタ2の透過光
は、ビームエキスパンダ3で拡大され、ビームス
プリツタ4で分割される。ビームスプリツタ4の
透過光は全反射鏡5,10を介して被測定物体1
2を上方から照射する。一方、ビームスプリツタ
の反射光は、光学遅延系を形成する固定反射鏡
6、可動反射鏡7で反射され、全反射鏡11を介
して被測定物体12を下方から照射する。被測定
物体12を上方、下方から照射し、物体表面で反
射した光は逆の経路を辿り、また物体を透過した
光は入射経路とは別の経路を辿り結像レンズ13
を介してストリークカメラ15に導かれる。この
場合、結像レンズ13は、目的に応じて物体の表
又は裏に焦点を合わせ、またズームレンズにして
物体の任意部分の拡大倍率を変えられるようにす
る。こうしてストリークカメラ15で得られたス
トリーク像は、読みだし装置16で読みだし、モ
ニタ17で観測されると共に、解析等の処理が行
われる。
は、ビームスプリツタ2で分割され、一部は反射
されて検出器16により電気信号に変換され、遅
延回路を18を介してゲートトリガ信号として利
用される。一方、ビームスプリツタ2の透過光
は、ビームエキスパンダ3で拡大され、ビームス
プリツタ4で分割される。ビームスプリツタ4の
透過光は全反射鏡5,10を介して被測定物体1
2を上方から照射する。一方、ビームスプリツタ
の反射光は、光学遅延系を形成する固定反射鏡
6、可動反射鏡7で反射され、全反射鏡11を介
して被測定物体12を下方から照射する。被測定
物体12を上方、下方から照射し、物体表面で反
射した光は逆の経路を辿り、また物体を透過した
光は入射経路とは別の経路を辿り結像レンズ13
を介してストリークカメラ15に導かれる。この
場合、結像レンズ13は、目的に応じて物体の表
又は裏に焦点を合わせ、またズームレンズにして
物体の任意部分の拡大倍率を変えられるようにす
る。こうしてストリークカメラ15で得られたス
トリーク像は、読みだし装置16で読みだし、モ
ニタ17で観測されると共に、解析等の処理が行
われる。
このような装置において、例えば第6図に示す
ような物体12からの反射光は、物体の凹凸の深
さの2倍の時間的遅延となつてストリークカメラ
に入射する。したがつて、図示するような物体寸
法の場合、凹凸深さd1は、光速をC、ストリーク
像における時間遅れをtとすると、 d1=C・t/2 で与えられることになり、物体の外形を求めるこ
とができる。
ような物体12からの反射光は、物体の凹凸の深
さの2倍の時間的遅延となつてストリークカメラ
に入射する。したがつて、図示するような物体寸
法の場合、凹凸深さd1は、光速をC、ストリーク
像における時間遅れをtとすると、 d1=C・t/2 で与えられることになり、物体の外形を求めるこ
とができる。
また透過光は、屈折率が均一にnであるとする
と、透過時間差tは、 t=(n/C)(W2−W1) で与えられる。ストリーク像からtを測定するこ
とにより、(W2−W1)が既知であればnの値を
求めることができる。
と、透過時間差tは、 t=(n/C)(W2−W1) で与えられる。ストリーク像からtを測定するこ
とにより、(W2−W1)が既知であればnの値を
求めることができる。
第7図は上記物体内部構造の計測装置の例を示
す図で、第5図と同一番号は同一内容を示してい
る。なお、図中、21は光フアイバ、22は結像
光学系、23はレンズ、24はハーフミラー、2
5は全反射鏡である。
す図で、第5図と同一番号は同一内容を示してい
る。なお、図中、21は光フアイバ、22は結像
光学系、23はレンズ、24はハーフミラー、2
5は全反射鏡である。
この例においては、光フアイバ21を介してパ
ルスレーザ1からの光パルスを被計測物体12の
内部に導入して適当な立体角で放射し、被計測物
体12を透過して外部に放出された透過光を、結
像光学系22によりストリークカメラ15のスト
リーク管の光電陰極に結像する。この場合、結像
光学系22はハーフミラー24、全反射鏡25、
レンズ23で構成し、ハーフミラー24を介して
結像される像と、全反射鏡25を介して結像され
る2つの像を分析するように構成されている。
ルスレーザ1からの光パルスを被計測物体12の
内部に導入して適当な立体角で放射し、被計測物
体12を透過して外部に放出された透過光を、結
像光学系22によりストリークカメラ15のスト
リーク管の光電陰極に結像する。この場合、結像
光学系22はハーフミラー24、全反射鏡25、
レンズ23で構成し、ハーフミラー24を介して
結像される像と、全反射鏡25を介して結像され
る2つの像を分析するように構成されている。
光フアイバ21の被計測物体12内部の端部か
ら出射したパルス光は球面波となっており、その
ため、ストリークカメラ15のストリーク像は、
物体内部の構造の変化が球面波状の光パルス像に
重畳された像となって現れる。したがつて、分析
装置20で予め光フアイバ21の出射光の球面波
の曲率を計算しておいて、ストリーク像からこの
曲率を取り除くことで物体の内部構造を明らかに
することができる。
ら出射したパルス光は球面波となっており、その
ため、ストリークカメラ15のストリーク像は、
物体内部の構造の変化が球面波状の光パルス像に
重畳された像となって現れる。したがつて、分析
装置20で予め光フアイバ21の出射光の球面波
の曲率を計算しておいて、ストリーク像からこの
曲率を取り除くことで物体の内部構造を明らかに
することができる。
ところで、上記3次元物体計測装置により運動
物体を計測しようとすると、物体の運動の全ての
像がストリークカメラの出力像として積分されて
しまい物体の運動を評価することができない。
物体を計測しようとすると、物体の運動の全ての
像がストリークカメラの出力像として積分されて
しまい物体の運動を評価することができない。
従来、物体の断層方向の動きを光によりモニタ
する装置としてはモアレ縞や、スリツトパターン
投影によるものが使用されている。
する装置としてはモアレ縞や、スリツトパターン
投影によるものが使用されている。
第8図はモアレ縞の形成を説明するための図、
第9図は回折格子読み取り光学系の例を示す図
で、図中、G1,G2は格子、L1,L2はレンズ、Q
は光源用ランプ、Pは光電変換素子、Sは絞りで
ある。
第9図は回折格子読み取り光学系の例を示す図
で、図中、G1,G2は格子、L1,L2はレンズ、Q
は光源用ランプ、Pは光電変換素子、Sは絞りで
ある。
図において、格子間隔の等しい2つの格子G1,
G2を互いに僅かな角θだけ傾けて重ね合わせる
とモアレ縞が形成される。G2を固定し、G1を格
子と直角方向に格子間隔dだけ移動すればモアレ
縞も1縞移動する。この距離(ピツチ)をlとす
れば、l=d/θと表される。したがつて、縞の
移動を検出することにより格子G1の動きを知る
ことができる。
G2を互いに僅かな角θだけ傾けて重ね合わせる
とモアレ縞が形成される。G2を固定し、G1を格
子と直角方向に格子間隔dだけ移動すればモアレ
縞も1縞移動する。この距離(ピツチ)をlとす
れば、l=d/θと表される。したがつて、縞の
移動を検出することにより格子G1の動きを知る
ことができる。
第10図は物体上にスリツトパターンを投影す
る場合の例を示す図である。
る場合の例を示す図である。
図において、物体の上にピツチsの平行直線格
子(不透明)を置き、格子の上方lの距離にある
点光源Sからの光で格子を通して物体を照射す
る。いま、同じく格子上方lの距離に瞳を置いて
観測するものとする。格子を通して見える範囲は
図の破線で示した扇状の部分のみである。従つ
て、明るく観測されるのは、物体表面上で照明さ
れた部分と、見える部分とが合致したところだけ
である。このような部分(明点)は図のように深
さ方向に層状に現れる。図のN(明点の次数)=i
は格子面の下でi番目に上の2つの部分が合致す
ることを示し、N次の明点の格子面からの距離hN
は、N次の明点が互いにN個離れた格子間隔を通
る実線と破線との交点で与えられることから、格
子面に平行に測つた光源と瞳の距離dとして、 hN/hN+l=Ns/d より、 hN=Nls/(d−Ns) で与えられる。物体上にはN(=1、2、…)次
の明点を連結する線、即ち格子面から一定の深さ
の明点が集まってできた等高線が得られる。
子(不透明)を置き、格子の上方lの距離にある
点光源Sからの光で格子を通して物体を照射す
る。いま、同じく格子上方lの距離に瞳を置いて
観測するものとする。格子を通して見える範囲は
図の破線で示した扇状の部分のみである。従つ
て、明るく観測されるのは、物体表面上で照明さ
れた部分と、見える部分とが合致したところだけ
である。このような部分(明点)は図のように深
さ方向に層状に現れる。図のN(明点の次数)=i
は格子面の下でi番目に上の2つの部分が合致す
ることを示し、N次の明点の格子面からの距離hN
は、N次の明点が互いにN個離れた格子間隔を通
る実線と破線との交点で与えられることから、格
子面に平行に測つた光源と瞳の距離dとして、 hN/hN+l=Ns/d より、 hN=Nls/(d−Ns) で与えられる。物体上にはN(=1、2、…)次
の明点を連結する線、即ち格子面から一定の深さ
の明点が集まってできた等高線が得られる。
この例においても、明点の動きを検出すること
により物体の動きを求めることができる。
により物体の動きを求めることができる。
しかしながら、モアレ縞で物体の運動方向を検
出しようとする場合は、モアレ縞に平行にピツチ
lの1/4の間隔で2つの窓を置き、それぞれ光電
変換素子でその点の明るさを電気信号に変換し、
一方に対して他方の位相が進んでいるか遅れてい
るかにより検出しなければならず、任意の方向の
運動を検出しようとすると、さらに直交方向に2
ケの窓を通して位相検出を行わなければならず、
構成が複雑になつてしまう欠点がある。
出しようとする場合は、モアレ縞に平行にピツチ
lの1/4の間隔で2つの窓を置き、それぞれ光電
変換素子でその点の明るさを電気信号に変換し、
一方に対して他方の位相が進んでいるか遅れてい
るかにより検出しなければならず、任意の方向の
運動を検出しようとすると、さらに直交方向に2
ケの窓を通して位相検出を行わなければならず、
構成が複雑になつてしまう欠点がある。
また、物体上にスリツトパターンを投影する方
法では、前述の説明から明らかなように3角法で
しか運動を計測できず、高速運動している物体の
運動を任意の時刻に検出して解析することは困難
である。
法では、前述の説明から明らかなように3角法で
しか運動を計測できず、高速運動している物体の
運動を任意の時刻に検出して解析することは困難
である。
本発明は上記問題点を解決するためのもので、
高速運動している物体の運動に応じた任意の時刻
での運動解析を可能とする物体運動計測装置を提
供することを目的とする。
高速運動している物体の運動に応じた任意の時刻
での運動解析を可能とする物体運動計測装置を提
供することを目的とする。
そのために本発明の物体運動計測装置は、パル
ス光源と、パルス光源からの光で被計測物体を照
射する照射光学系と、ストリークカメラと、被計
測物体からの反射光または透過光をストリークカ
メラのストリーク管光電陰極面に結像する結像レ
ンズ系と、被計測物体の動きを検出して動きに同
期した同期信号を発生する動作モニタと、動作モ
ニタからの同期信号によりストリークカメラへの
ゲートトリガ信号を発生するゲートトリガ信号発
生器とを備えたことを特徴とする。
ス光源と、パルス光源からの光で被計測物体を照
射する照射光学系と、ストリークカメラと、被計
測物体からの反射光または透過光をストリークカ
メラのストリーク管光電陰極面に結像する結像レ
ンズ系と、被計測物体の動きを検出して動きに同
期した同期信号を発生する動作モニタと、動作モ
ニタからの同期信号によりストリークカメラへの
ゲートトリガ信号を発生するゲートトリガ信号発
生器とを備えたことを特徴とする。
本発明の物体運動計測装置は、動作モニタによ
り被計測物体の動きを検出し、動きに同期した信
号でストリークカメラをゲートすることにより高
速運動している物体の運動に応じた任意の時刻で
の運動を画像化して解析することができる。
り被計測物体の動きを検出し、動きに同期した信
号でストリークカメラをゲートすることにより高
速運動している物体の運動に応じた任意の時刻で
の運動を画像化して解析することができる。
第1図は本発明による物体運動計測装置の基本
的構成を示す図である。図中、31はパルス光
源、32は全反射鏡、33はハーフミラー、34
は被計測物体、35は結像レンズ系、36は動作
モニタ、37はゲートトリガ発生器、38はスト
リークカメラ、39はSITカメラ、40は解析装
置である。
的構成を示す図である。図中、31はパルス光
源、32は全反射鏡、33はハーフミラー、34
は被計測物体、35は結像レンズ系、36は動作
モニタ、37はゲートトリガ発生器、38はスト
リークカメラ、39はSITカメラ、40は解析装
置である。
本発明における物体運動計測装置は、短パルス
光とこれに同期して掃引されるストリークカメラ
を用いた第5図、第7図に示した構成のものを使
用し、以下ではこれと重複する部分の説明は省略
する。
光とこれに同期して掃引されるストリークカメラ
を用いた第5図、第7図に示した構成のものを使
用し、以下ではこれと重複する部分の説明は省略
する。
図において、パルス光源31からの高速繰返し
光は、全反射鏡32、ハーフミラー33を介して
被計測物体34へ照射される。被計測物体34の
反射像または透過像は、第5図、または第7図に
示したと同様にして結像レンズ系35によりスト
リーク管の光電陰極面上に結像し、このストリー
ク像をSITカメラ39で撮像して電気信号に変換
し、解析装置40で解析することにより、前述し
たように物体の表面形状や内部構造等が得られ
る。また、ストリークカメラ38はゲート機能を
有し、ゲートトリガ信号があったときの光電陰極
面上の像を出力として取り出すように構成されて
いる。
光は、全反射鏡32、ハーフミラー33を介して
被計測物体34へ照射される。被計測物体34の
反射像または透過像は、第5図、または第7図に
示したと同様にして結像レンズ系35によりスト
リーク管の光電陰極面上に結像し、このストリー
ク像をSITカメラ39で撮像して電気信号に変換
し、解析装置40で解析することにより、前述し
たように物体の表面形状や内部構造等が得られ
る。また、ストリークカメラ38はゲート機能を
有し、ゲートトリガ信号があったときの光電陰極
面上の像を出力として取り出すように構成されて
いる。
このような構成において、運動している被計測
物体34の断面方向の表面形状と断層像を得よう
とすると、物体の運動の全ての像がストリークカ
メラ38の出力像として積分されてしまい、物体
の運動速度に比して高速の繰返し光で照射した場
合、物体の運動を評価することができない。そこ
で、第1図においては、動作モニタ36で被計測
物体34の動きを検知し、この検知信号を同期信
号としてゲートトリガ信号発生器37でゲートト
リガ信号を発生させ、これをストリークカメラ3
8へのゲート信号とする。また物体が動くことに
より光電面上の像がボケないように、動作モニタ
信号により得られた被計測物体34の動きに応じ
て焦点合わせ信号を発生させ、この信号で結像レ
ンズ系35を制御する。この場合、被計測物体の
運動方向に対する焦点深度が物体の運動距離の範
囲におさまるような結像レンズ系であれば、必ず
しも焦点合わせ信号で制御する必要はない。
物体34の断面方向の表面形状と断層像を得よう
とすると、物体の運動の全ての像がストリークカ
メラ38の出力像として積分されてしまい、物体
の運動速度に比して高速の繰返し光で照射した場
合、物体の運動を評価することができない。そこ
で、第1図においては、動作モニタ36で被計測
物体34の動きを検知し、この検知信号を同期信
号としてゲートトリガ信号発生器37でゲートト
リガ信号を発生させ、これをストリークカメラ3
8へのゲート信号とする。また物体が動くことに
より光電面上の像がボケないように、動作モニタ
信号により得られた被計測物体34の動きに応じ
て焦点合わせ信号を発生させ、この信号で結像レ
ンズ系35を制御する。この場合、被計測物体の
運動方向に対する焦点深度が物体の運動距離の範
囲におさまるような結像レンズ系であれば、必ず
しも焦点合わせ信号で制御する必要はない。
また、動作モニタは、被計測物体が周期運動す
る場合は、物体の運動周期を検出するようにすれ
ばよい。この場合、ゲートトリガ信号発生器は、
物体の運動周期と一致していなくても、その整数
倍または整数分の1であればよく、さらに、ゲー
トトリガ信号は、位相シフト回路により物体の運
動周期に対して少しづつ位相をずらせるようにす
れば、少しづつ違った部位の運動を検出すること
ができる。
る場合は、物体の運動周期を検出するようにすれ
ばよい。この場合、ゲートトリガ信号発生器は、
物体の運動周期と一致していなくても、その整数
倍または整数分の1であればよく、さらに、ゲー
トトリガ信号は、位相シフト回路により物体の運
動周期に対して少しづつ位相をずらせるようにす
れば、少しづつ違った部位の運動を検出すること
ができる。
こうして、ストリークカメラの出力面上には、
ゲートにより切り出されたタイミング毎の時間分
割像を得ることができ、物体の運動をゲート動作
の繰返し速さで切り出すことができる。
ゲートにより切り出されたタイミング毎の時間分
割像を得ることができ、物体の運動をゲート動作
の繰返し速さで切り出すことができる。
第2図は第1図の装置による被計測物体の例を
示す図で、4枚羽根のプロペラの例を示してい
る。
示す図で、4枚羽根のプロペラの例を示してい
る。
第3図は第2図のプロペラの回転時の断面方向
の運動解析を第1図の装置により行つた例を示す
図で、縦方向は羽根の断層方向(紙面に垂直方
向)に対応し、横方向は第2図の空間方向に対応
している。
の運動解析を第1図の装置により行つた例を示す
図で、縦方向は羽根の断層方向(紙面に垂直方
向)に対応し、横方向は第2図の空間方向に対応
している。
図から分かるように、ゲート信号のタイミング
とプロペラがどのように動いていくかが明確に示
される。
とプロペラがどのように動いていくかが明確に示
される。
第4図は本発明による物体運動計測装置の他の
実施例を示す図で、第1図と同一番号は同一内容
を示している。なお、図中、41は掃引信号発生
器、42,43はステツプ電圧発生器、44はカ
ウンタ、45は垂直偏向電極板、46は水平偏向
電極板である。
実施例を示す図で、第1図と同一番号は同一内容
を示している。なお、図中、41は掃引信号発生
器、42,43はステツプ電圧発生器、44はカ
ウンタ、45は垂直偏向電極板、46は水平偏向
電極板である。
本実施例においては、被計測物体の表面形状が
変わらず、内部構造のみが変化する場合にゲート
により切りだされた各断層像が、螢光面上に2次
元的に配列され、重畳してしまうことになるので
これを避けるようにしたものである。
変わらず、内部構造のみが変化する場合にゲート
により切りだされた各断層像が、螢光面上に2次
元的に配列され、重畳してしまうことになるので
これを避けるようにしたものである。
動作モニタ36からの同期信号をカウンタ44
でカウントし、このカウント値に応じたステツプ
電圧をステツプ電圧発生器42,43により発生
させる。ステツプ電圧発生器42の出力電圧を掃
引信号発生器41の掃引電圧に重ねて垂直偏向電
極板45に加え、同時にステツプ電圧発生器43
の出力電圧を水平偏向電極板46に加えることに
より、水平、垂直方向の位置をずらしてストリー
ク像を得ることができ、内部構造の時間的変化を
観察することができる。
でカウントし、このカウント値に応じたステツプ
電圧をステツプ電圧発生器42,43により発生
させる。ステツプ電圧発生器42の出力電圧を掃
引信号発生器41の掃引電圧に重ねて垂直偏向電
極板45に加え、同時にステツプ電圧発生器43
の出力電圧を水平偏向電極板46に加えることに
より、水平、垂直方向の位置をずらしてストリー
ク像を得ることができ、内部構造の時間的変化を
観察することができる。
なお、偏向電極板へのステツプ電圧の印加は、
必ずしも水平偏向板、垂直偏向板の両方でなくて
もよく、少なくともどちらか一方へ印加するよう
にすれば各ゲート毎の像をストリーク管の螢光面
の異なる位置に表示することが可能となる。
必ずしも水平偏向板、垂直偏向板の両方でなくて
もよく、少なくともどちらか一方へ印加するよう
にすれば各ゲート毎の像をストリーク管の螢光面
の異なる位置に表示することが可能となる。
以上のように本発明によれば、断層方向で高速
に運動している物体の運動、時間的変化に応じた
任意の時刻での解析が可能となり、例えば従来不
可能であつたプロペラの高速回転中の運動や回転
体内部の物質の運動等を明らかにでき、新しい運
動解析方法を提供することができる。
に運動している物体の運動、時間的変化に応じた
任意の時刻での解析が可能となり、例えば従来不
可能であつたプロペラの高速回転中の運動や回転
体内部の物質の運動等を明らかにでき、新しい運
動解析方法を提供することができる。
第1図は本発明による物体運動計測装置の基本
的構成を示す図、第2図は被計測物体の例を示す
図、第3図はプロペラの回転時の断面方向の運動
解析を行つた例を示す図、第4図は本発明による
物体運動計測装置の他の実施例を示す図、第5図
は3次元物体計測装置の一例を示す図、第6図は
表面形状の計測の例を示す図、第7図は物体内部
構造を計測する装置の例を示す図、第8図はモア
レ縞の形成を説明するための図、第9図は回折格
子読み取り光学系の例を示す図、第10図は物体
上にスリツトパターンを投影する場合の例を示す
図である。 31……パルス光源、32……全反射鏡、33
……ハーフミラー、34……被計測物体、35…
…結像レンズ系、36……動作モニタ、37……
ゲートトリガ発生器、38……ストリークカメ
ラ、39……SITカメラ、40……解析装置、4
1……掃引信号発生器、42,43……ステツプ
電圧発生器、44……カウンタ、45……垂直偏
向電極板、46……水平偏向電極板。
的構成を示す図、第2図は被計測物体の例を示す
図、第3図はプロペラの回転時の断面方向の運動
解析を行つた例を示す図、第4図は本発明による
物体運動計測装置の他の実施例を示す図、第5図
は3次元物体計測装置の一例を示す図、第6図は
表面形状の計測の例を示す図、第7図は物体内部
構造を計測する装置の例を示す図、第8図はモア
レ縞の形成を説明するための図、第9図は回折格
子読み取り光学系の例を示す図、第10図は物体
上にスリツトパターンを投影する場合の例を示す
図である。 31……パルス光源、32……全反射鏡、33
……ハーフミラー、34……被計測物体、35…
…結像レンズ系、36……動作モニタ、37……
ゲートトリガ発生器、38……ストリークカメ
ラ、39……SITカメラ、40……解析装置、4
1……掃引信号発生器、42,43……ステツプ
電圧発生器、44……カウンタ、45……垂直偏
向電極板、46……水平偏向電極板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パルス光源と、パルス光源からの光で被計測
物体を照射する照射光学系と、ストリークカメラ
と、被計測物体からの反射光または透過光をスト
リークカメラのストリーク管光電陰極面に結像す
る結像レンズ系と、被計測物体の動きを検出して
動きに同期した同期信号を発生する動作モニタ
と、動作モニタからの同期信号によりストリーク
カメラへのゲートトリガ信号を発生するゲートト
リガ信号発生器とを備えた物体運動計測装置。 2 前記ゲートトリガ信号発生器は、物体の運動
周期の整数倍または整数分の1の周期の時系列パ
ルスを発生する特許請求の範囲第1項記載の物体
運動計測装置。 3 前記ゲートトリガ信号発生器は、物体の運動
に対して少しづつ位相を時間的に変える位相シフ
ト回路を内蔵している特許請求の範囲第2項記載
の物体運動計測装置。 4 前記動作モニタは、結像レンズ系に焦点合わ
せ信号を送出する特許請求の範囲第1項記載の物
体運動計測装置。 5 前記結像レンズ系は、物体の運動方向に対す
る焦点深度が物体の運動距離の範囲におさまる結
像レンズを備えている特許請求の範囲第1項記載
の物体運動計測装置。 6 前記動作モニタは、物体の運動周期を検出す
る特許請求の範囲第1項記載の物体運動計測装
置。 7 前記ストリークカメラは、物体の表面形状が
変わらず、内部構造が時間的に変わる場合に、前
記ゲート・トリガ信号発生器に同期してストリー
ク管の水平偏向電極または垂直偏向電極の少なく
とも一方にステツプ電圧が印加され、各ゲート毎
の像をストリーク管の螢光面の異なる位置に表示
する特許請求の範囲第1項記載の物体運動計測装
置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62105270A JPS63271166A (ja) | 1987-04-28 | 1987-04-28 | 物体運動計測装置 |
| US07/187,009 US4902135A (en) | 1987-04-28 | 1988-04-27 | Object movement measuring apparatus |
| GB8809952A GB2205155B (en) | 1987-04-28 | 1988-04-27 | Object movement measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62105270A JPS63271166A (ja) | 1987-04-28 | 1987-04-28 | 物体運動計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63271166A JPS63271166A (ja) | 1988-11-09 |
| JPH0577259B2 true JPH0577259B2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=14402972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62105270A Granted JPS63271166A (ja) | 1987-04-28 | 1987-04-28 | 物体運動計測装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4902135A (ja) |
| JP (1) | JPS63271166A (ja) |
| GB (1) | GB2205155B (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4798152A (en) * | 1987-07-27 | 1989-01-17 | Celanese Fibers, Inc. | Dynamic test system for sewing threads |
| JPH0670612B2 (ja) * | 1989-03-08 | 1994-09-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | ストリークカメラ装置 |
| US5401978A (en) * | 1993-06-24 | 1995-03-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Laser-optic missile control surface monitor |
| WO1995006388A1 (en) * | 1993-08-20 | 1995-03-02 | Intevac, Inc. | Life extender and bright light protection for cctv camera system with image intensifier |
| JP5336841B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2013-11-06 | 三菱重工業株式会社 | 異物除去装置及び石炭中の異物除去方法 |
| US20170336431A1 (en) * | 2016-05-19 | 2017-11-23 | Purdue Research Foundation | System and method for measuring exhaust flow velocity of supersonic nozzles |
| US11265076B2 (en) * | 2020-04-10 | 2022-03-01 | Totum Labs, Inc. | System and method for forward error correcting across multiple satellites |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4238148A (en) * | 1980-01-14 | 1980-12-09 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Three-dimensional photographic technique |
-
1987
- 1987-04-28 JP JP62105270A patent/JPS63271166A/ja active Granted
-
1988
- 1988-04-27 GB GB8809952A patent/GB2205155B/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-04-27 US US07/187,009 patent/US4902135A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4902135A (en) | 1990-02-20 |
| GB8809952D0 (en) | 1988-06-02 |
| GB2205155B (en) | 1990-12-12 |
| GB2205155A (en) | 1988-11-30 |
| JPS63271166A (ja) | 1988-11-09 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |