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JPH0585005B2 - - Google Patents
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JPH0585005B2 - - Google Patents

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JPH0585005B2
JPH0585005B2 JP32149287A JP32149287A JPH0585005B2 JP H0585005 B2 JPH0585005 B2 JP H0585005B2 JP 32149287 A JP32149287 A JP 32149287A JP 32149287 A JP32149287 A JP 32149287A JP H0585005 B2 JPH0585005 B2 JP H0585005B2
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JP
Japan
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small
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Takeji Egashira
Masaki Komatsu
Seikichi Ogata
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Nippon Steel Corp
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Nippon Steel Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は棒状体の外径測定装置、特に棒状体
の被測定物の輪郭を光学的にとらえて外径を測定
する装置に関する。
この発明の外径測定装置は、丸鋼、鋼管、鋼線
その他の材質あるいは形状の材料の外径測定に用
いられる。
(従来の技術) 従来、この種の測定技術は数多く提案されてい
る。
たとえば、実公昭40−16377あるいは特開昭52
−119253は、回転板に投光用光源と検出部とを取
り付けて構成した回転光学系を用い、棒材の全周
にわたる直径を連続的に測定する方式を提案して
いる。
また、細物材と太物材とを同一回転板上で測定
する装置として、上下に配置した1組の細物用装
置と左右に配置した2組の太物用装置をそれぞれ
使い分ける回転形寸法測定装置が提案されてい
る。
上記回転形寸法測定装置は、環状の回転板、回
転板を回転駆動する装置、平行な測定光を被測定
物に照射する3組の投光装置、小径用検出装置
(細物材用)および一対の大径用検出装置(太物
材用)を備えている。これら投光装置、小径用検
出装置および一対の大径用検出装置は回転板に取
り付けられており、小径用検出装置および大径用
検出装置は被測定物のエツジを検出する結像光学
系およびリニアイメージセンサとを有している。
そして、回転板を回転させ、被測定物の軸線が回
転板の中心に一致するようにして被測定物を送り
ながら被測定物に投光装置により測定光を投光
し、小径用検出装置により小径の被測定物の両エ
ツジを、また対をなす大径用検出装置により大径
の被測定物の片側エツジをそれぞれ検出して、被
測定物の外径を測定する。
(発明が解決しようとする問題点) 上記従来の装置では、細物材の測定装置は一列
に配列された光電素子群内の影の数を計測するこ
とによつて外径を測定している。この方法におけ
る最小測定可能径は受光素子1個分から可能であ
るが、最大測定可能径には限界がある。すなわ
ち、最大測定可能径は“受光素子1個分(分解
能)×受光素子数”であるので、分解能を大きく
することは精度を悪くすることを意味するので、
精度面からみた限界がある。また、受光素子数を
大きくすると、情報量が多くなるため検出信号の
処理に長時間を要する。さらに、結像レンズの口
径が大きくなる等の制約もある。
つぎに、太物材の測定装置は、2組の光電素子
群により影の発生部の両端を検出することによつ
て外径を測定している。この太物材の測定装置で
は、2組の光電素子群の設置間隔を0にすること
は物理的に不可能であり、また投光部および結像
レンズの設置に空間的な制限があることから、最
小測定可能径にはある限界がある。したがつて、
連続的に細物から太物までの被測定物を測定する
ためには、上記二式以上の装置を使い分ける必要
がある。これより、スペース上の問題、両装置の
2組の投光部が独立しているために光束に相違が
あり、誤差の原因となることおよびコスト高にな
るなどの問題があつた。
そこで、この発明は細物材から太物材まで高い
精度で連続して測定可能であり、構造が簡単、か
つ廉価な棒状体の外径測定装置を提供しようとす
るものである。
(問題点を解決するための手段) この発明の棒状体の外径測定装置は、平行な測
定光を被測定物に照射する1組の投光装置、小径
用検出装置、一対の大径用検出装置、ハーフミラ
ーおよび一対のミラーを備えている。
投光装置は光源および投影光学系を備えてい
る。光源として半導体レーザ、気体レーザ、ある
いはハロゲンランプなどの白熱ランプが用いられ
る。投影光学系は幅広い平行光を作り出すために
コリメータレンズ、放物面鏡などからなり、1組
の投光装置により小径から大径までの被測定物を
連続的に測定することができる。
小径用検出装置および大径用検出装置は、それ
ぞれ被測定物の像を検出する結像光学系およびリ
ニアイメージセンサを有している。リニアイメー
ジセンサは直線状に配列した光電素子群よりな
り、CCD型イメージセンサあるいはMOS型イメ
ージセンサなどが用いられる。
小径用検出装置は測定光の光路の側方に配置さ
れている。また、対をなす大径用検出装置は測定
光の光路の両側で相対するようにして小径用検出
装置よりも後方に、すなわち測定光の進行方向に
沿つて被測定物よりもより遠くに配置されてい
る。
ハーフミラーは、測定光の光路に対し傾斜する
ようにしてが配置されている。傾斜角度は、小径
の被測定物の両エツジ像が小径用検出装置に入射
する角度となつている。また、一対のミラーは測
定光の光路に対して傾斜し、かつハーフミラーの
後方で測定光中心線の両側で相対するようにして
配置されている。ミラーの傾斜角度は、大径の被
測定物の片側エツジ像が対をなす大径用検出装置
のそれぞれに入射する角度となつている。
なお、上記投光装置、小径用検出装置、一対の
大径用検出装置、ハーフミラーおよび一対のミラ
ーを一つの基板に取り付けるようにしてもよい。
この場合、基板は支持スタンドなどに支持され
る。一般に、被測定物は水平姿勢で送られて来る
ので、基板は板面が垂直となる姿勢をしている。
また、基板を回転あるいは揺動可能に支持するよ
うにしてもよい。この場合、基板の回転あるいは
揺動駆動装置として通常のベルト伝動機構、チエ
ーン伝動機構あるいは歯車伝動機構などと電動モ
ータあるいは流体圧シリンダなどとの組合せが用
いられる。
(作 用) 小径の被測定物の場合、被測定物の像はハーフ
ミラーにより反射され、小径用検出装置のリニア
イメージセンサの結像面に結像する。被測定物の
直径は被測定物の像の陰の部分の長さとして検出
される。
また、大径の被測定物の場合、予め両大径用検
出装置のリニアイメージセンサの基準点の間の距
離を求めておく。被測定物の像はハーフミラーを
透過し、後方の一対のミラーのそれぞれにより反
射され、各大径用検出装置のリニアイメージセン
サの結像面に結像する。リニアイメージセンサに
結像する被測定物の像は、片側のエツジを含む被
測定物の一部の像である。直径はリニアイメージ
センサの基準点間の距離およびリニアイメージセ
ンサに対する被測定物のエツジの像の位置により
求めるられる。なお、被測定物の直径がハーフミ
ラーの幅よりも大きい場合には、被測定物の像は
ハーフミラーを経ずに直接ミラーに入射される。
(実施例) 第1図および第2図はこの発明の外径測定装置
の一実施例を示すもので、第1図は縦断面図およ
び第2図は正面図である。この実施例の装置は、
インラインで高温丸鋼の外径を測定する。
第1図に示すように、円筒状ハブ6が軸受3を
介してスタンド1に回転可能に水平姿勢で支持さ
れている。ハブ6の先端寄りには測定光Lが通過
する透過窓7が設けられている。
ハブ6の先端寄りに設けられたフランジ8に環
状の回転板11がボルトにより固定されている。
回転板11には後述の投光装置21、小径用検出
装置31、対をなす大径用検出装置41,42、
ハーフミラー51および一対のミラー54,55
がそれぞれ取り付けられている。また、回転板1
1は回転板駆動装置14により回転駆動される。
回転板駆動装置14は電動モータ15、原動プ
ーリ16、従動プーリ17および歯付ベルト18
よりなつている。原動プーリ16は電動モータ1
5の出力軸に、また従動プーリ17はハブ6のフ
ランジ8にそれぞれ取り付けられている。そし
て、電動モータ15よりこのベルト伝動機構を介
して回転板11は回転駆動される。この実施例で
は、回転板11の回転速度は60rpmである。
投光装置21は第3図および第4図に示すよう
に光源として半導体レーザ22を備えている。投
光装置21の投影光学系は、コリメータレンズ2
3、ミラー24,25、シリンダレンズ26、ス
ペーシヤルフイルタ(絞り)27および放物面鏡
28よりなつている。コリメータレンズ23は半
導体レーザ22からのコヒーレント光を集光し、
そのスポツト点にシリンダレンズ26が位置して
いる。シリンダレンズ26から扇状に拡散された
光を焦点距離の位置に設置した放物面鏡26で反
射させて平行な測定光Lを発生させる。光源22
からの光は扇状に拡散されるので、放物面鏡28
は横に細長の形状となつている。光源22からの
光はコヒーレント光であるため、回折および干渉
現象により雑音が発生するが、上記スペーシヤル
フイルタ(絞り)27はこの雑音を除去する。な
お、従来の装置ではコリメータレンズを使つて平
行光を発生させていたので、幅広い平行光を発生
させるためには大口径のレンズが必要となり、物
理的にもレンズ製作の困難さからしても実用的で
はなかつた。
小径用検出装置31は測定光Lの光路の側方に
配置されている。小径用検出装置31は結像レン
ズ33およびその結像面上に一列に配列された多
数の光電素子よりなるイメージセンサ36とから
なつている。光電素子として配列方向に7μの長
さを有するCCD素子が用いられている。そして、
投光装置21によつて丸鋼Sに照射された測定光
Lによりイメージセンサ36上に丸鋼Sの光学像
が結像される。その結果、イメージセンサ36よ
り得られる前記光学像の大きさに応じた信号より
丸鋼Sの外径が測定される。なお、小径用検出装
置31の設置スペースの関係から結像系の光路は
ミラー34により90度折れ曲つている。
対をなす大径用検出装置41,42は測定光L
の光路の両側で相対するようにして小径用検出装
置31よりも後方に配置されている。検出装置自
体の構成は小径用検出装置31と同じで、結像レ
ンズ43、ミラー44およびイメージセンサ46
を備えている。
ハーフミラー51は、測定光Lの光路に対し45
度傾斜するように配置されている。丸鋼Sの像は
ハーフミラー51により反射され、小径の丸鋼S
の両エツジを含む像が小径用検出装置31に入射
される。小径の丸鋼Sと大径の丸鋼Sとを小径用
検出装置31および大径用検出装置41,42に
共通の光束として照射するために、ハーフミラー
51は1:1の透過率:反射率となつている。
一対のミラー54,55は測定光Lの光路に対
し45度傾斜し、かつハーフミラー51の後方で測
定光中心線の両側で相対するようにして配置され
ている。丸鋼Sの像はミラー54,55により反
射され、大径の丸鋼Sの片側エツジを含む像が大
径用検出装置41,42のそれぞれに入射され
る。
前記ハブ6には回転トランス58の1次コイル
が、スタンド1には2次コイルがそれぞれ取り付
けられている。リニアイメージセンサ36,46
からの信号は、回転トランス58を介して信号処
理装置、表示装置(いずれも図示しない)などに
伝送される。
ハブ6の内側と出側にそれぞれ水冷筒61,6
2が設けられている。これら水冷筒61,62は
内部を冷却水が循環しており、回転トランス58
その他の付属機器が高温の丸鋼Sにより過熱され
るのを防止する。入側の水冷筒61に入側ガイド
64が、また出側の水冷筒62に出側ガイド65
がそれぞれ配置されている。出側水冷筒62の外
側にはエアリングノズル67が取り付けられてい
る。エアリングノズル67は清浄な空気を丸鋼通
路内にリング状に噴出して、測定光Lの光路の空
気の過熱によるゆらぎを防止するとともに、光路
中に浮遊するほこりを除去し、ほこりによる測定
光の散乱を防止する。ハブ6の先端の透過窓7に
投光側クリーナ71および受光側クリーナ72が
設けられている。これらクリーナ71,72は駆
動装置(図示しない)により往復動され、透過窓
面を周期的に摺動してこれを拭き清める。
測定は回転板11を回転駆動しながら行なうの
で、多方向から外径が測定されることになる。し
たがつて、断面形状が円形だけでなく、多角形で
あつても外径を測定することができる。たとえ
ば、正n角形(n:4以上の偶数)については、
最大値(極大値)が外径(最大長対角線)を示す
ことになる。また、丸鋼Sをこれの長手方向に送
りながら測定するので、ら旋状に丸鋼Sを走査し
ながら直径が測定されることになる。
この実施例の装置では、受光素子群を5000個配
列し、レンズ倍率は0.7であつた。小径用検出装
置31では直径35mmまで測定可能であり、それ以
上の外径の場合には大径用検出装置41,42に
より測定する。なお、従来の固定タイプの装置で
は、受光素子群、レンズ倍率がこの実施例のもの
と同じであるとすると、大径用受光素子群では直
径35〜100mmまで測定できる。これに対して、こ
の実施例の装置では150mm以上に拡大可能である。
また、小径用検出装置31による測定誤差は±
20μmであり、大径用検出装置41,42による
測定誤差は±40μmである。
この発明は上記実施例に限られるものではな
く、たとえばハーフミラー51あるいは対となつ
たミラー54,55は、設置スペースの点から測
定光Lに対し45度以外の角度であつてもよい。測
定は回転板11を回転駆動しながら行つたが、投
光装置21、検出装置31,41,42などを固
定した基盤などに取り付けたもであつてもよい。
また、小径用検出装置31および大径用検出装置
41,42はL字形をしているが、これらは直筒
形であつてもよい。さらにまた、伝送装置として
回転トランス58の代わりに無線方式を用いても
よい。
(発明の効果) この発明の装置は、小径の被測定物Sの両エツ
ジ像が小径用検出装置31に入射するように測定
光Lの光路に対し傾斜するようにしてハーフミラ
ー51が配置されている。ハーフミラー51は測
定光Lを二分割する。また、大径の被測定物Sの
片側エツジ像が対をなす大径用検出装置41,4
2のそれぞれに入射するように測定光Lの光路に
対して傾斜し、かつハーフミラー51の後方で測
定光中心線の両側で相対するようにして一対のミ
ラー54,55が配置されている。したがつて、
小径用検出装置31および大径用検出装置41,
42を被測定物Sの直径に応じて使い分けること
ができ、1組の投光装置21により広いレンジに
わたり被測定物Sの外径を測定することができ
る。この結果、検出装置を数組設ける必要はな
く、装置設置のためのスペースは狭くてすむ。ま
た、細物から太物まで共通した一つの測定光Lで
測定するため、被測定物Sの外径あるいは真円度
を精度よく測定することが可能となつた。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すもので、外
径測定装置の縦断面図、第2図は第1図に示す装
置の正面図、第3図は投光装置の平面図、および
第4図は第3図に示す投光装置の側面図である。 1……スタンド、6……ハブ、11……回転
板、14……回転駆動装置、21……投光装置、
22……光源、26……シリンダレンズ、27…
…絞り、28……放物面鏡、31……小径用検出
装置、36……イメージセンサ、41,42……
大径用検出装置、46……イメージセンサ、51
……ハーフミラー、54,55……ミラー、58
……回転トランス、61,62……水冷筒、6
4,65……ガイド、67……エアリングノズ
ル、71,72……クリーナ、S……被測定物、
L……測定光。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 平行な測定光を被測定物に照射する投光装
    置、小径用検出装置および一対の大径用検出装置
    を備え、小径用検出装置および大径用検出装置が
    それぞれ被測定物の像を検出する結像光学系およ
    びリニアイメージセンサを有する装置において、
    小径用検出装置が測定光の光路の側方に配置さ
    れ、対をなす大径用検出装置が測定光の光路の両
    側で相対するようにして小径用検出装置よりも後
    方に配置され、小径の被測定物の両エツジ像が小
    径用検出装置に入射するように測定光の光路に対
    し傾斜させてハーフミラーが設けられており、大
    径の被測定物の片側エツジ像が対をなす大径用検
    出装置のそれぞれに入射するように測定光の光路
    に対し傾斜する一対のミラーが前記ハーフミラー
    の後方で測定光中心線の両側で相対するようにし
    て設けられていることを特徴とする棒状体の外径
    測定装置。
JP32149287A 1987-12-21 1987-12-21 棒状体の外径測定装置 Granted JPH01163602A (ja)

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